KR20140148103A - 이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치 - Google Patents

이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20140148103A
KR20140148103A KR1020130071589A KR20130071589A KR20140148103A KR 20140148103 A KR20140148103 A KR 20140148103A KR 1020130071589 A KR1020130071589 A KR 1020130071589A KR 20130071589 A KR20130071589 A KR 20130071589A KR 20140148103 A KR20140148103 A KR 20140148103A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pixels
pixel
green
photo
conversion region
Prior art date
Application number
KR1020130071589A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102105284B1 (ko
Inventor
이명원
설상철
히로시게고토
김세영
이귀덕
이시이마사루
추교진
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020130071589A priority Critical patent/KR102105284B1/ko
Priority to US14/310,305 priority patent/US9287327B2/en
Publication of KR20140148103A publication Critical patent/KR20140148103A/ko
Priority to US15/004,494 priority patent/US20160142630A1/en
Priority to US15/233,383 priority patent/US9905615B2/en
Priority to US15/630,571 priority patent/US9954034B2/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102105284B1 publication Critical patent/KR102105284B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/80Camera processing pipelines; Components thereof
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/10Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming different wavelengths into image signals
    • H04N25/11Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics
    • H04N25/13Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/80Constructional details
    • H10K30/81Electrodes
    • H10K30/82Transparent electrodes, e.g. indium tin oxide [ITO] electrodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic radiation-sensitive element covered by group H10K30/00
    • H10K39/30Devices controlled by radiation
    • H10K39/32Organic image sensors
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/10Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from different wavelengths
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/745Circuitry for generating timing or clock signals
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/75Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/549Organic PV cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)

Abstract

본 발명의 이미지 센서는 n*n (n은 1보다 큰 자연수) 픽셀들과, 상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되도록 배치된 그린 픽셀을 포함한다. 상기 그린 픽셀은 유기 물질의 제1광-전 변환 영역과, 상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되고 상기 제1광-전 변환 영역에서 생성된 전기 전하들을 수집하는 제1픽셀 전극과, 상기 제1광-전 변환 영역으로 바이어스 전압을 공급하는 공통 전극을 포함한다.

Description

이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치{IMAGE SENSOR, MANUFACTURING THE SAME, AND IMAGE PROCESSING DEVICE HAVING THE IMAGE SENSOR}
본 발명의 개념에 따른 실시 예는 이미지 센서에 관한 것으로, 특히 픽셀 전극의 구현 위치에 따라 픽셀의 크기를 줄이지 않고도 상기 픽셀의 크기를 줄인 것 같은 형태의 고해상도 이미지를 생성할 수 있는 이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치에 관한 것이다.
CMOS 이미지 센서의 해상도가 꾸준히 증가함에 따라, 액티브 픽셀 어레이에 포함된 픽셀의 크기도 작아져야 한다.
상기 픽셀의 크기가 작아짐에 따라 상기 픽셀에 포함된 광전 변환 소자, 예컨대 포토다이오드의 크기가 작아지고 상기 광전 변환 소자의 출력 신호를 리드하기 위한 리드아웃 회로가 구현될 공간을 확보하기 어렵다.
또한, 수광 면적이 작아짐에 따라 입사광에 상응하는 전기 전하들을 생성하는 것이 어려워진다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적인 과제는 픽셀의 크기를 줄이지 않고도 상기 픽셀의 크기를 줄인 것 같은 형태의 고해상도 이미지를 생성할 수 있는 이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 이미지 센서는 n*n (n은 1보다 큰 자연수) 픽셀들과 상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되도록 배치된 그린 픽셀을 포함한다.
상기 그린 픽셀은 유기 물질의 제1광-전 변환 영역과, 상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되고 상기 제1광-전 변환 영역에서 생성된 전기 전하들을 수집하는 제1픽셀 전극과, 상기 제1광-전 변환 영역으로 바이어스 전압을 공급하는 공통 전극을 포함한다.
상기 이미지 센서는 각각이 상기 제1픽셀 전극에 인접하게 배치되고 상기 제1픽셀 전극의 크기와 동일한 크기를 갖는 복수의 제2픽셀 전극들을 더 포함한다.
상기 n*n 픽셀들 각각은 상기 픽셀 전극에 부분적으로 중첩된 컬러 필터와, 상기 컬러 필터를 투과한 빛에 응답하여 전기 전하들을 생성하는 무기 물질의 제2광-전 변환 영역을 포함한다.
상기 n*n 픽셀들의 일부는 그린 픽셀이고, 상기 n*n 픽셀들의 나머지 일부는 블루 픽셀이다. 상기 n은 2일 수 있다.
상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 상기 그린 픽셀의 중첩 영역들 각각의 크기는 서로 동일하거나, 상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 상기 그린 픽셀의 중첩 영역들 중에서 적어도 n개의 크기는 서로 다를 수 있다.
실시 예들에 따라, 상기 이미지 센서는 표면 조사(frontside illumination(FSI)) CMOS 이미지 센서 또는 후면 조사(backside illumination(BSI)) CMOS 이미지 센서로 구현될 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 이미지 센서를 제조하는 방법은 n*n ((n은 1보다 큰 자연수)) 픽셀들을 형성하는 단계와, 상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 그린 픽셀을 형성하는 단계를 포함한다.
상기 n*n 픽셀들을 형성하는 단계는 반도체 기판의 내부에 무기 물질의 제1광-전 변환 영역들을 형성하는 단계와, 상기 반도체 기판의 외부에 상기 그린 픽셀을 통과한 빛이 상기 무기 물질의 제1광-전 변환 영역들 각각으로 입사될 수 있도록 컬러 필터들 각각을 형성하는 단계를 포함한다.
상기 그린 픽셀을 형성하는 단계는 상기 컬러 필터들 각각에 부분적으로 중첩된 픽셀 전극을 형성하는 단계와, 상기 픽셀 전극의 위에 유기 물질의 제2광-전 변환 영역을 형성하는 단계와, 상기 제2광-전 변환 영역으로 바이어스 전압을 공급하는 공통 전극을 형성하는 단계를 포함한다.
상기 그린 픽셀을 형성하는 단계는 상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 픽셀 전극을 형성하는 단계와, 상기 픽셀 전극의 위에 유기 물질의 광-전 변환 영역을 형성하는 단계와, 상기 광-전 변환 영역으로 바이어스 전압을 공급하는 공통 전극을 형성하는 단계를 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 이미지 처리 장치는 이미지 센서와, 상기 이미지 센서로부터 출력된 신호를 처리하는 이미지 신호 프로세서를 포함한다. 상기 이미지 센서는 n*n (n은 1보다 큰 자연수)) 픽셀들과, 상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 그린 픽셀을 포함하고, 상기 이미지 신호 프로세서는 상기 n*n(n은 자연수) 픽셀들 각각의 출력 신호와 상기 그린 픽셀의 출력 신호를 보간하고 보간 결과에 따라 RGB 신호들을 생성한다.
본 발명의 실시 예에 따른 휴대용 전자 장치는 이미지 센서와, 상기 이미지 센서로부터 출력된 신호를 처리하는 애플리케이션 프로세서를 포함한다. 상기 이미지 센서는 n*n (n은 1보다 큰 자연수)) 픽셀들과, 상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 그린 픽셀을 포함하고, 상기 애플리케이션 프로세서는 상기 n*n(n은 자연수) 픽셀들 각각의 출력 신호와 상기 그린 픽셀의 출력 신호를 보간하고 보간 결과에 따라 RGB 신호들을 생성한다.
상기 그린 픽셀은 유기 물질의 제1광-전 변환 영역과, 상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되고 상기 제1광-전 변환 영역에서 생성된 전기 전하들을 수집하는 픽셀 전극과, 상기 제1광-전 변환 영역으로 바이어스 전압을 공급하는 공통 전극을 포함한다.
상기 n*n 픽셀들 각각은 상기 픽셀 전극에 부분적으로 중첩된 컬러 필터와, 상기 컬러 필터를 투과한 빛에 응답하여 전기 전하들을 생성하는 무기물의 제2광-전 변환 영역을 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 이미지 센서는 픽셀 전극의 구현 위치를 변경함에 따라 픽셀의 크기를 줄이지 않고도 상기 픽셀의 크기를 줄인 것 같은 형태의 고해상도 이미지를 생성할 수 있는 효과가 있다.
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 상세한 설명이 제공된다.
도 1a와 도 1b은 본 발명의 실시 예에 따른 이미지 센서의 구조를 설명하기 위한 개념도이다.
도 2부터 도 4는 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되도록 배치된 그린 픽셀을 포함하는 이미지 센서의 구조들을 개념적으로 나타낸다.
도 5는 표면 조사(frontside illumination(FSI)) 방식으로 구현된 도 2의 이미지 센서를 V-V' 방향으로 절단한 단면도(cross-sectional view)이다.
도 6은 서로 부분적으로 중첩된 그린 픽셀과 레드 픽셀 또는 서로 부분적으로 중첩된 그린 픽셀과 블루 픽셀의 평면도(top view)이다.
도 7은 도 5에 도시된 반도체 기판과 회로 영역의 상세도이다.
도 8은 후면 조사(backside illumination(BSI)) 방식으로 구현된 도 2의 이미지 센서를 V-V' 방향으로 절단한 단면도이다.
도 9는 그린 픽셀과 레드 픽셀을 포함하는 리드아웃 회로의 일 실시예이다.
도 10은 그린 픽셀과 레드 픽셀을 포함하는 리드아웃 회로의 다른 실시예이다.
도 11은 본 발명의 실시 예에 따른 이미지 센서를 제조하는 방법을 설명하는 플로우차트이다.
도 12는 도 1a 또는 도 1b의 이미지 센서 구조를 포함하는 이미지 처리 장치의 블록도를 나타낸다.
도 13은 도 1a 또는 도 1b의 이미지 센서의 구조로부터 출력된 이미지 신호들을 처리하는 이미지 신호 프로세서의 동작을 설명하는 플로우차트이다.
도 14는 도 1a 또는 도 1b의 이미지 센서 구조를 포함하는 이미지 처리 장치를 포함하는 휴대용 전자 장치의 블록도이다.
본 명세서에 개시되어 있는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들에 대해서 특정한 구조적 또는 기능적 설명은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로서, 본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 형태들로 실시될 수 있으며 본 명세서에 설명된 실시 예들에 한정되지 않는다.
본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 변경들을 가할 수 있고 여러 가지 형태들을 가질 수 있으므로 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서에서 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 특정한 개시 형태들에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함한다.
제1 또는 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만, 예컨대 본 발명의 개념에 따른 권리 범위로부터 벗어나지 않은 채, 제1구성 요소는 제2구성 요소로 명명될 수 있고 유사하게 제2구성 요소는 제1구성 요소로도 명명될 수 있다.
어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성 요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성 요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는 중간에 다른 구성 요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성 요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로서, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 본 명세서에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 나타낸다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 본 명세서에 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시 예들을 상세히 설명한다.
도 1a와 도 1b은 본 발명의 실시 예에 따른 이미지 센서의 구조를 설명하기 위한 개념도이다.
도 1a을 참조하면, 이미지 센서(특히, 픽셀 어레이(pixel array); 100A)는 복수의 픽셀들(B와 R)을 포함하는 제1층(100BT)과, 복수의 그린 픽셀들(G)을 포함하는 제2층(100TP)을 포함한다.
제2층(100TP)은 제1층(100BT)의 위에 부분적으로(partially) 오버랩되고, 제2층(100TP)은 제1층(100BT)을 기준으로 일정한 방향, 예컨대 x-축 방향, y-축 방향, 또는 대각선 방향, 등으로 이동되어 있다.
제1층(100BT)은 오버랩된 면(overlapped plane)으로, 제2층(100TP)는 오버래핑 면(overlapping plane)으로 불릴 수 있다.
복수의 그린 픽셀들(G) 각각은 복수의 픽셀들(B와 R) 중에서 n*m(n=m 또는 n≠m) 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된다. n=m일 때, n은 1보다 큰 자연수로서 n=2일 수 있다.
여기서, 'R'은 레드 파장들(또는 레드 컬러 범위(red color range))에 상응하는 전기 신호를 생성할 수 있는 레드 픽셀을 나타내고, 'B'는 블루 파장들(또는 블루 컬러 범위)에 상응하는 전기 신호를 생성할 수 있는 블루 픽셀을 나타내고, 'G'는 그린 파장들(또는 그린 컬러 범위)에 상응하는 전기 신호를 생성할 수 있는 그린 픽셀을 나타낸다.
도 1b에 도시된 바와 같이, 이미지 센서(특히, 픽셀 어레이(pixel array); 100A-1)는 제1층(100BT)과 제2층(100TP)을 포함한다. 도 1b에 도시된 바와 같이, 제1층(100BT)과 중첩되지 않는 제2층(100TP)의 가장 자리 부분은 생성되지 않거나 또는 제거될 수 있다. 다른 실시 예에 따라, 제2층(100TP)과 중첩되지 않는 제층 (100BT)의 가장 자리 부분은 생성되지 않거나 또는 제거될 수 있다.
또 다른 실시 예에 따라, 제1층(100BT)과 제2층(100TP)에서 서로 중첩되지 않은 가장 자리 부분은 제거될 수 있다.
도 1a와 도 1b에서는 설명의 편의를 위해, 제2층(100TP)이 복수의 그린 픽셀들(G)을 포함하고 제1층(100BT)이 복수의 픽셀들(B와 R)을 포함하는 것으로 도시되어 있으나, 실시 예에 따라 제2층(100TP)이 복수의 레드 픽셀들(R)을 포함할 때, 제1층(100BT)은 복수의 픽셀들(G와 B)을 포함할 수 있다.
다른 실시 예에 따라, 제2층(100TP)이 복수의 블루 픽셀들(B)을 포함할 때, 제1층(100BT)은 복수의 픽셀들(R과 G)을 포함할 수 있다. 상술한 바와 같이, 제2층 (100TP)에는 유기 픽셀들(G, R, 또는 B)이 배열될 수 있다. 상기 유기 픽셀들은 특성에 따라 그린 유기 픽셀, 레드 유기 픽셀, 및 블루 유기 픽셀을 포함할 수 있다.
실시 예에 따라, 제1층(100BT)에 유기 픽셀들이 구현될 수도 있다.
도 2부터 도 4는 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되도록 배치된 그린 픽셀을 포함하는 이미지 센서의 구조들을 개념적으로 나타낸다.
도 1a, 도 1b, 및 도 2를 참조하면, 이미지 센서(100A)의 일부분에 해당되는 이미지 센서(100B)는 제1층(100BT)에 배치된 2*2 픽셀들(B1, R1, R2, 및 B2)과 제2층(100TP)에 배열된 그린 픽셀(G)을 포함한다.
도 1a의 제1층(100BT)에 배열된 복수의 픽셀들(B와 R)은 반복적으로 배치된 2*2 픽셀들(B1, R1, R2, 및 B2)을 포함한다. 복수의 픽셀들(B와 R) 중에서 일부는 2*2 픽셀들(B1, R1, R2, 및 B2)로 표현될 수 있다.
2*2 픽셀들(B1, R1, R2, 및 B2) 각각과 그린 픽셀(G)은 부분적으로 (partially) 중첩된다.
2*2 픽셀들(B1, R1, R2, 및 B2) 각각에 부분적으로 중첩된 그린 픽셀(G)의 중첩 영역들(11, 12, 13, 및 14) 각각은 서로 동일하게 구현될 수도 있고 서로 다르게 구현될 수도 있다.
부분적으로 중첩된 중첩 영역들(11, 12, 13, 및 14) 각각의 크기의 합은 그린 픽셀(G)의 크기와 동일할 수 있고 서로 다를 수 있다.
예컨대, 2*2 픽셀들(B1, R1, R2, 및 B2) 각각에 부분적으로 중첩된 그린 픽셀(G)의 4개의 중첩 영역들(11, 12, 13, 및 14) 중에서 적어도 2개의 영역은 서로 동일하게 구현될 수 있다.
두 개의 픽셀들(G+B1)이 오버랩된 부분(11)에서 그린 파장들(또는 가시광의 그린 영역)에 상응하는 신호와 블루 파장들(또는 가시광의 블루 영역)에 상응하는 신호가 생성된다.
두 개의 픽셀들(G+R1)이 오버랩된 부분(12)에서 그린 파장들에 상응하는 신호와 레드 파장들(또는 가시광의 레드 영역)에 상응하는 신호가 생성된다.
두 개의 픽셀들(G+R2)이 오버랩된 부분(13)에서 그린 파장들에 상응하는 신호와 레드 파장들에 상응하는 신호가 생성된다.
두 개의 픽셀들(G+B2)이 오버랩된 부분(14)에서 그린 파장들에 상응하는 신호와 블루 파장들에 상응하는 신호가 생성된다.
도 1a과 도 3을 참조하면, 이미지 센서(100A)의 일부분에 해당되는 이미지 센서(100C)는 제1층(100BT)에 배치된 레드 픽셀(R)과 제2층(100TP)에 배치된 2*2 그린 픽셀들(G1, G2, G3, 및 G4)을 포함한다.
도 1a의 제2층(100TP)에 배열된 복수의 그린 픽셀들은 반복적으로 배치된 2*2 그린 픽셀들(G1, G2, G3, 및 G4)을 포함한다. 도 1a의 복수의 그린 픽셀들 중에서 일부는 2*2 그린 픽셀들(G1, G2, G3, 및 G4)로 표현될 수 있다.
2*2 그린 픽셀들(G1, G2, G3, 및 G4) 각각과 레드 픽셀(R)은 부분적으로 중첩된다.
레드 픽셀(R)에 부분적으로 중첩된 2*2 그린 픽셀들(G1, G2, G3, 및 G4) 각각의 중첩 영역(21, 22, 23, 및 24)은 서로 동일하게 구현될 수도 있고 서로 다르게 구현될 수도 있다.
부분적으로 중첩된 중첩 영역들(21, 22, 23, 및 24) 각각의 크기의 합은 레드 픽셀(R)의 크기와 동일할 수 있다.
두 개의 픽셀들(R+G1)이 오버랩된 부분(21)에서 레드 파장들에 상응하는 신호와 그린 파장들에 상응하는 신호가 생성된다.
두 개의 픽셀들(R+G2)이 오버랩된 부분(22)에서 레드 파장들에 상응하는 신호와 그린 파장들에 상응하는 신호가 생성된다.
두 개의 픽셀들(R+G3)이 오버랩된 부분(23)에서 레드 파장들에 상응하는 신호와 그린 파장들에 상응하는 신호가 생성된다.
두 개의 픽셀들(R+G4)이 오버랩된 부분(24)에서 레드 파장들에 상응하는 신호와 그린 파장들에 상응하는 신호가 생성된다.
도 1a과 도 4를 참조하면, 이미지 센서(100A)의 일부분에 해당되는 이미지 센서(100D)는 제1층(100BT)에 배치된 블루 픽셀(B)과 제2층(100TP)에 배치된 2*2 그린 픽셀들(G1, G2, G3, 및 G4)을 포함한다.
도 1a의 제2층(100TP)에 배열된 복수의 그린 픽셀들은 반복적으로 배치된 2*2 그린 픽셀들(G1, G2, G3, 및 G4)을 포함한다. 도 1a의 복수의 그린 픽셀들(G) 중에서 일부는 2*2 그린 픽셀들(G1, G2, G3, 및 G4)로 표현될 수 있다.
2*2 그린 픽셀들(G1, G2, G3, 및 G4) 각각과 블루 픽셀(B)은 부분적으로 중첩된다.
블루 픽셀(B)에 부분적으로 중첩된 2*2 그린 픽셀들(G1, G2, G3, 및 G4) 각각의 중첩 영역(31, 32, 33, 및 34)은 서로 동일하게 구현될 수도 있고 서로 다르게 구현될 수도 있다.
부분적으로 중첩된 중첩 영역들(31, 32, 33, 및 34) 각각의 크기의 합은 블루 픽셀(B)의 크기와 동일할 수 있다.
두 개의 픽셀들(B+G1)이 오버랩된 부분(31)에서 블루 파장들에 상응하는 신호와 그린 파장들에 상응하는 신호가 생성된다.
두 개의 픽셀들(B+G2)이 오버랩된 부분(32)에서 블루 파장들에 상응하는 신호와 그린 파장들에 상응하는 신호가 생성된다.
두 개의 픽셀들(B+G3)이 오버랩된 부분(33)에서 블루 파장들에 상응하는 신호와 그린 파장들에 상응하는 신호가 생성된다.
두 개의 픽셀들(B+G4)이 오버랩된 부분(34)에서 블루 파장들에 상응하는 신호와 그린 파장들에 상응하는 신호가 생성된다.
도 1a부터 도 4를 참조하여 설명한 바와 같이, 제1층(100BT)에는 2*2 픽셀들이 반복적으로 배치된다.
도 5는 표면 조사(frontside illumination(FSI)) 방식으로 구현된 도 2의 이미지 센서를 V-V' 방향으로 절단한 단면도이다.
도 1a, 도 2, 및 도 5를 참조하면, 반도체 기판(또는 실리콘 기판(silicon substrate); 200) 내에 블루 광전 변환 영역(201), 레드 광전 변환 영역(202), 및 복수의 그린 저장 영역들(203, 205, 및 207)이 형성된다.
복수의 그린 저장 영역들(203, 205, 및 207) 각각은 각 메탈 또는 각 컨택 플러그(311, 313, 및 315)를 통해 전송된 전기 전하들을 축적 또는 저장하는 기능을 수행한다.
도 7에 도시된 바와 같이 반도체 기판(200) 내에, 각 영역(201, 202, 203, 205, 및 207)에 대응되는 각 플로팅 디퓨전 영역(floating diffusion region)이 형성될 수 있다.
회로 영역(300)이 반도체 기판(200)의 위(on or over)에 형성될 수 있다.
회로 영역(300)에는, 각 영역(201, 202, 203, 205, 및 207)에 축적된 전하들을 각 플로팅 디퓨전 영역으로 전송하기 위한 각 전송 트랜지스터의 게이트 전극이 구현될 수 있다.
즉, 회로 영역(300)에는, 각 영역(201, 202, 203, 205, 및 207)에 축적된 전하들을 리드아웃 회로로 전송하기 위해 필요한 메탈 인터커넥터들(matal interconnects) 또는 메탈들(MC)이 구현된다.
컬러 필터들(321과 323)이 회로 영역(300)의 위(on or over)에 형성될 수 있다.
블루 컬러 필터(321)는 픽셀 전극들(331과 333)을 통과한 블루 파장들을 블루 광전 변환 영역(201)으로 통과시킨다. 블루 광전 변환 영역(201)은 상기 블루 파장들에 기초하여 광전 변환 동작을 수행한다.
블루 컬러 필터(321)의 위에, 서로 분리된 픽셀 전극들(331과 333)이 형성된다.
도 5에서는 설명의 편의를 위해, 블루 컬러 필터(321)와 픽셀 전극(331)이 서로 중첩되는 제1영역(또는 제1길이)과 블루 컬러 필터(321)와 픽셀 전극(333)이 서로 중첩되는 제2영역(또는 제2길이)이 서로 동일하게 도시되어 있으나, 실시 예에 따라 상기 제1영역과 상기 제2영역은 서로 다르게 구현될 수 있다.
갭(gap)을 제외하고 대응되는 두 개의 전극들(331과 333, 및 331과 335)은 대응되는 컬러 필터(321과 323)를 실질적으로 덮고(cover) 있다.
레드 컬러 필터(323)는 픽셀 전극들(331과 335)을 통과한 레드 파장들을 레드 광전 변환 영역(202)으로 통과시킨다. 레드 광전 변환 영역(202)은 상기 레드 파장들에 기초하여 광전 변환 동작을 수행한다.
레드 컬러 필터(323)의 위에 서로 분리된 픽셀 전극들(331과 335)이 형성된다.
도 5에서는 설명의 편의를 위해, 레드 컬러 필터(323)와 픽셀 전극(331)이 서로 중첩되는 제3영역(또는 제3길이)과 레드 컬러 필터(323)와 픽셀 전극(335)이 서로 중첩되는 제4영역(또는 제4길이)이 서로 동일하게 도시되어 있으나, 실시 예에 따라 상기 제3영역과 상기 제4영역은 서로 다르게 구현될 수 있다.
각 컬러 필터(321과 323)의 위에 서로 분리된 각 픽셀 전극(331, 333, 및 335)이 형성된다.
도 5에 도시된 바와 같이, 픽셀 전극(331)의 시작 위치와 각 컬러 필터(321과 323)의 시작 위치는 서로 일치하지 않는다.
예컨대, 픽셀 전극(331)의 시작 위치와 컬러 필터(321)의 시작 위치가 수직선을 기준으로 일치할 때를 스큐(skew) 0%라고 할 때, 도 5에 도시된 픽셀 전극 (331)의 시작 위치는 대략 컬러 필터(321)의 중간에 위치한다. 이때의 픽셀 전극 (331)은 50% 스큐를 갖는다.
픽셀 전극(331)은 픽셀 피치(pixel pitch)를 기준으로 할 때 50%까지 이동될 수 있다.
각 픽셀 전극(331, 333, 및 335)의 위에 유기 물질(organic material)의 광전 변환 영역(340)이 형성된다.
예컨대, 유기 물질의 광전 변환 영역(340)은 그린 파장들에 기초하여 광전 변환 동작을 수행하고, 전기 전하들을 생성하고, 블루 파장들과 레드 파장들을 통과시킨다.
유기 물질의 광전 변환 영역(340)은 전자 공여 유기 물질(electron donating organic material)과 전자 수용 유기 물질(electron accepting organic material)을 포함할 수 있다. 예컨대, 유기 물질의 광전 변환 영역(340)을 포함하는 픽셀은 유기 픽셀로 불릴 수도 있다.
예컨대, 각 픽셀 전극(331, 333, 및 335)의 위에 제1유기 층(organic layer)이 형성되고, 상기 제1유기 층 위에 제2유기 층이 형성될 수 있다.
상기 제1유기 층이 전자 공여 유기 물질과 전자 수용 유기 물질 중에서 어느 하나를 포함하는 층으로 형성될 때, 상기 제2유기 층은 상기 전자 공여 유기 물질과 상기 전자 수용 유기 물질 중에서 다른 하나를 포함하는 층으로 형성될 수 있다.
예컨대, 상기 제1유기 층이 p-타입 유기 물질과 n-타입 유기 물질 중에서 어느 하나(예컨대, n-타입 유기 물질로 구현될 때), 상기 제2유기 층은 상기 p-타입 유기 물질과 상기 n-타입 유기 물질 중에서 다른 하나(예컨대, p-타입 유기 물질)로 구현될 수 있다.
따라서 상기 제1유기 층과 상기 제2유기 층은 헤테로 p-n 접합(hetero p-n junction)을 형성할 수 있다.
여기서, 상기 전자 공여 유기 물질은 빛에 응답하여 도우너 이온(donor ion)을 생성할 수 있는 물질이고, 상기 전자 수용 물질은 상기 빛에 응답하여 액셉트 이온(acceptor ion)을 생성할 수 있는 물질이다.
다른 실시 예에 따라, 유기 물질의 광전 변환 영역(340)은 전자 공여 유기 물질과 전자 수용 유기 물질이 서로 혼합된 유기 물질로 구현될 수 있다.
각 픽셀 전극(331, 333, 및 335)은 유기 물질의 광전 변환 영역(340)에서 그린 파장들에 기초하여 생성된 전기 전하들을 수집하는 기능과 블루 파장들과 레드 파장들을 통과시키는 기능을 수행한다.
각 픽셀 전극(331, 333, 및 335)은 투명 전극(transparent electrode)으로 구현될 수 있다. 예컨대, 각 픽셀 전극(331, 333, 및 335)은 ZnO(zinc oxide) 또는 ITO(Indium tin oxide or tin-doped indium oxide)로 구현될 수 있다.
각 픽셀 전극(331, 333, 및 335)은 픽셀 전극 필름(pixel electrode film)으로 구현될 수 있다.
각 픽셀 전극(331, 333, 및 335)에 의해 수집된 전기 전하들은 각 배선 또는 각 컨택 플러그(contact plug; 311, 313, 및 315)를 통해 각 그린 저장 영역(203, 205, 및 207)으로 전송된다.
유기 물질의 광전 변환 영역(340) 위에 공통 전극(common electrode; 350)이 형성된다. 공통 전극(350)은 유기 물질의 광전 변환 영역(340)으로 바이어스 전압을 공급한다.
공통 전극(350)은 투명 전극으로 구현될 수 있고, ZnO 또는 ITO로 구현될 수 있다. 공통 전극(350)은 픽셀 전극 필름(pixel electrode film)으로 구현될 수 있다.
그린 픽셀(G)은 픽셀 전극(331), 유기 물질의 광전 변환 영역(340), 및 공통 전극(350)을 포함한다. 픽셀 전극(331)에 의해 그린 픽셀(G)이 정의된다.
도 6은 서로 부분적으로 중첩된 그린 픽셀과 레드 픽셀 또는 서로 부분적으로 중첩된 그린 픽셀과 블루 픽셀의 평면도(top view)이고, 도 7은 도 5에 도시된 반도체 기판과 회로 영역의 상세도이다.
도 6에서 OPD는 유기 물질의 광전 변환 영역(340) 또는 유기 물질의 포토다이오드를 의미한다. B_PD는 블루 광전 변환 영역(201) 또는 블루 광전 변환 영역 (201)에 의해 정의된 포토다이오드를 의미하고, R_PD는 레드 광전 변환 영역(202) 또는 레드 광전 변환 영역(202)에 의해 정의된 포토다이오드를 의미한다.
FD는 플로팅 디퓨전 영역을 의미하고, TG1, TG2, TG3, 및 TG4는 전송 트랜지스터(transfer transistor) 또는 전송 게이트(transfer gate)의 게이트 전극(gate electrode)을 나타낸다. RG는 리셋 트랜지스터 또는 리셋 게이트의 게이트 전극을 나타낸다.
예컨대, OPD를 포함하는 그린 픽셀과 B_PD를 포함하는 블루 픽셀은 플로팅 디퓨전 영역(FD)을 공유할 수 있다. 또한, OPD를 포함하는 그린 픽셀과 R_PD를 포함하는 레드 픽셀은 플로팅 디퓨전 영역(FD)을 공유할 수 있다.
플로팅 디퓨전 영역(FD)은 반도체 기판(200)의 내부에 구현될 수 있고, TG1, TG2, TG3, 및 TG4는 회로 영역(300)에 구현될 수 있다.
도 8은 후면 조사(backside illumination(BSI)) 방식으로 구현된 도 2의 이미지 센서를 V-V' 방향으로 절단한 단면도이다.
도 1a, 도 2, 및 도 8을 참조하면, 반도체 기판(400) 내에 블루 광전 변환 영역(401), 레드 광전 변환 영역(402), 및 복수의 그린 저장 영역들(406, 407, 및 408)이 형성된다.
복수의 그린 저장 영역들(406, 407, 및 408) 각각은 각 메탈 또는 각 컨택 플러그(403, 404, 및 405)를 통해 전송된 전기 전하들을 축적 또는 저장하는 기능을 수행한다.
반도체 기판(400) 내에 각 영역(401, 402, 406, 407, 및 408)에 대응되는 각 플로팅 디퓨전 영역이 형성될 수 있다.
회로 영역(410)이 반도체 기판(400)의 아래에 형성될 수 있다.
회로 영역(410)에는 각 영역(401, 402, 406, 407, 및 408)에 축적된 전하들을 각 플로팅 디퓨전 영역으로 전송하기 위한 각 전송 트랜지스터의 게이트 전극이 구현될 수 있다.
즉, 회로 영역(410)에는 각 영역(401, 402, 406, 407, 및 408)에 축적된 전하들을 리드아웃 회로로 전송하기 위해 필요한 메탈 인터커넥터들(MC) 또는 메탈들 (MC)이 구현된다.
컬러 필터들(421과 423)이 반도체 기판(400)의 위(on or over)에 형성될 수 있다. 컬러 필터들(421과 423)은 반도체 기판(400)을 기준으로 회로 영역(410)의 반대쪽에 구현된다.
블루 컬러 필터(421)는 픽셀 전극들(431과 433)을 통과한 블루 파장들을 블루 광전 변환 영역(401)으로 통과시킨다. 블루 광전 변환 영역(401)은 상기 블루 파장들에 기초하여 광전 변환 동작을 수행한다.
블루 컬러 필터(421)의 위에 서로 분리된 픽셀 전극들(431과 433)이 형성된다.
도 8에서는 설명의 편의를 위해, 블루 컬러 필터(421)와 픽셀 전극(431)이 서로 중첩되는 제5영역(또는 제5길이)과 블루 컬러 필터(421)와 픽셀 전극(433)이 서로 중첩되는 제6영역(또는 제6길이)이 서로 동일하게 도시되어 있으나, 실시 예에 따라 상기 제5영역과 상기 제6영역은 서로 다르게 구현될 수 있다.
레드 컬러 필터(423)는 픽셀 전극들(431과 435)을 통과한 레드 파장들을 레드 광전 변환 영역(402)으로 통과시킨다. 레드 광전 변환 영역(402)은 상기 레드 파장들에 기초하여 광전 변환 동작을 수행한다.
레드 컬러 필터(423)의 위에 서로 분리된 픽셀 전극들(431과 435)이 형성된다.
도 8에서는 설명의 편의를 위해, 레드 컬러 필터(423)와 픽셀 전극(431)이 서로 중첩되는 제7영역(또는 제7길이)과 레드 컬러 필터(423)와 픽셀 전극(435)이 서로 중첩되는 제8영역(또는 제8길이)이 서로 동일하게 도시되어 있으나, 실시 예에 따라 상기 제7영역과 상기 제8영역은 서로 다르게 구현될 수 있다.
각 컬러 필터(421과 423)의 위에 서로 분리된 각 픽셀 전극(431, 433, 및 435)이 형성된다.
각 픽셀 전극(431, 433, 및 435)의 위에 유기 물질의 광전 변환 영역(440)이 형성된다.
도 5의 유기 물질의 광전 변환 영역(340)의 구성과 물질은 도 8의 유기 물질의 광전 변환 영역(440)의 구성과 물질과 실질적으로 동일하다.
각 픽셀 전극(431, 433, 및 435)은 유기 물질의 광전 변환 영역(440)에서 그린 파장들에 기초하여 생성된 전기 전하들을 수집하는 기능과 블루 파장들과 레드 파장들을 통과시키는 기능을 수행한다.
각 픽셀 전극(431, 433, 및 435)은 ZnO 또는 ITO와 같은 투명 전극으로 구현될 수 있다. 각 픽셀 전극(431, 433, 및 435)은 픽셀 전극 필름으로 구현될 수 있다.
각 픽셀 전극(431, 433, 및 435)에 의해 수집된 전기 전하들은 각 배선 또는 각 컨택 플러그(403, 404, 및 405)를 통해 각 그린 저장 영역(406, 407, 및 408)으로 전송된다.
유기 물질의 광전 변환 영역(440) 위에 공통 전극(450)이 형성된다. 공통 전극(450)은 유기 물질의 광전 변환 영역(440)으로 바이어스 전압을 공급한다.
공통 전극(450)은 ZnO 또는 ITO와 같은 투명 전극으로 구현될 수 있다. 공통 전극(450)은 픽셀 전극 필름으로 구현될 수 있다.
그린 픽셀(G)은 픽셀 전극(431), 유기 물질의 광전 변환 영역(440), 및 공통 전극(450)을 포함한다. 픽셀 전극(431)에 의해 그린 픽셀(G)이 정의된다.
도 6과 도 7에 도시된 구성은 도 8의 구성에도 적용될 수 있다.
도 9는 그린 픽셀과 레드 픽셀을 포함하는 리드아웃 회로의 일 실시 예를 나타낸다.
도 5부터 도 9를 참조하면, OPD와 R_PD는 하나의 플로팅 디퓨전 영역(FD)을 공유한다. 또한, 다른 예에서, OPD와 B_PD는 하나의 플로팅 디퓨전 영역(FD)을 공유한다. 플로팅 디퓨전 영역(FD)은 플로팅 디퓨전 노드로 불릴 수 있다.
픽셀 관점에서 보면, 그린 픽셀과 레드 픽셀은 하나의 플로팅 디퓨전 영역 (FD)을 공유한다.
리드아웃 회로는 두 개의 전송 트랜지스터들(TG1과 TG2), 플로팅 디퓨전 영역(FD), 리셋 트랜지스터(RX)와, 드라이브 트랜지스터(DX), 및 선택 트랜지스터 (SX)를 포함한다.
제1전송 트랜지스터(TG1)는 제1전송 제어 신호(TS1)에 응답하여 동작하고, 제2전송 트랜지스터(TG2)는 제2전송 제어 신호(TS2)에 응답하여 동작하고, 리셋 트랜지스터(RX)는 리셋 제어 신호(RS)에 응답하여 동작하고, 선택 트랜지스터(SX)는 선택 신호(SEL)에 응답하여 동작한다.
제1전송 제어 신호(TS1)의 활성화 시간과 제2전송 제어 신호(TS2)의 활성화 시간이 적절히 제어되면, OPD에 의해 생성된 전기 전하들에 상응하는 신호와 R_PD에 의해 생성된 전기 전하들에 상응하는 신호는 각 트랜지스터(DX, 및 SX)의 동작에 따라 컬럼 라인(COL)으로 전송될 수 있다.
여기서, OPD, R_PD, 또는 B_PD는 포토 트랜지스터(photo transistor), 포토 게이트(photo gate), 핀드 포토 다이오드(pinned photo diode(PPD)), 또는 이들의 조합으로 구현될 수 있다.
도 10은 그린 픽셀과 레드 픽셀을 포함하는 리드아웃 회로의 다른 실시 예를 나타낸다.
도 5, 도 8, 및 도 10을 참조하면, R_PD에 의해 생성된 전기 전하들을 리드아웃하는 제1리드아웃 회로와 OPD에 의해 생성된 전기 전하들을 리드아웃하는 제2리드아웃 회로는 서로 분리되어 있다.
픽셀 관점에서 표현하면, 그린 픽셀과 레드 픽셀은 서로 분리되어 있다.
제1리드아웃 회로는 제1전송 트랜지스터(TGA), 제1플로팅 디퓨전 영역(FD1), 제1리셋 트랜지스터(RX1), 제1드라이브 트랜지스터(DX1), 및 제1선택 트랜지스터 (SX1)를 포함한다.
제1전송 트랜지스터(TGA)는 제1전송 제어 신호(TS1)에 응답하여 동작하고, 제1리셋 트랜지스터(RX1)는 제1리셋 제어 신호(RS1)에 응답하여 동작하고, 제1선택 트랜지스터(SX1)는 제1선택 신호(SEL1)에 응답하여 동작한다.
제2리드아웃 회로는 제2전송 트랜지스터(TGB), 제2플로팅 디퓨전 영역(FD2), 제2리셋 트랜지스터(RX2), 제2드라이브 트랜지스터(DX2), 및 제2선택 트랜지스터 (SX2)를 포함한다.
제2전송 트랜지스터(TGB)는 제2전송 제어 신호(TS2)에 응답하여 동작하고, 제2리셋 트랜지스터(RX2)는 제2리셋 제어 신호(RS2)에 응답하여 동작하고, 제2선택 트랜지스터(SX2)는 제2선택 신호(SEL2)에 응답하여 동작한다.
제1전송 제어 신호(TS1)의 활성화 시간과 제2전송 제어 신호(TS2)의 활성화 시간이 적절히 제어되면, OPD에 의해 생성된 전기 전하들에 상응하는 신호와 R_PD에 의해 생성된 전기 전하들에 상응하는 신호는 각 트랜지스터(DX1과 SX1, 및 DX2와 SX2)의 동작에 따라 컬럼 라인(COL)으로 전송될 수 있다.
도 11은 본 발명의 실시 예에 따른 이미지 센서를 제조하는 방법을 설명하는 플로우차트이다.
본 발명의 실시 예에 따른 FSI 방식 이미지 센서를 제조하는 방법은 도 1a부터 도 7, 및 도 11을 참조하여 개념적으로 설명된다.
반도체 기판(200) 내에 블루 광전 변환 영역(201), 레드 광전 변환 영역 (202), 및 복수의 그린 저장 영역들(203, 205, 및 207)이 형성된다 (S110).
회로 영역(300)이 반도체 기판(200)의 위에 형성된다(S120).
컬러 필터들(321과 323)이 회로 영역(300)의 위에 형성된다(S130).
컬러 필터들(321과 323) 각각에 부분적으로 중첩되도록 서로 분리된 픽셀 전극들(331, 333, 및 335)이 형성된다(S140).
각 픽셀 전극(331, 333, 및 335)의 위에 유기 물질의 광전 변환 영역(340)이 형성된다(S150).
유기 물질의 광전 변환 영역(340) 위에 공통 전극(350)이 형성된다(S160).
본 발명의 실시 예에 따른 BSI 방식 이미지 센서를 제조하는 방법은 도 1a부터 도 4, 도 6, 도 7, 도 8, 및 도 11을 참조하여 개념적으로 설명된다.
반도체 기판(400) 내에 블루 광전 변환 영역(401), 레드 광전 변환 영역 (402), 및 복수의 그린 저장 영역들(406, 407, 및 408)이 형성된다(S110).
회로 영역(410)이 반도체 기판(400)의 아래에 형성된다(S120).
컬러 필터들(421과 423)이 회로 영역(410)의 반대쪽의 반도체 기판(400)의 위에 형성된다(S130).
컬러 필터들(421과 423) 각각에 부분적으로 중첩되도록 서로 분리된 픽셀 전극들(431, 433, 및 435)이 형성된다(S140).
각 픽셀 전극(431, 433, 및 435)의 위에 유기 물질의 광전 변환 영역(440)이 형성된다(S150).
유기 물질의 광전 변환 영역(440) 위에 공통 전극(450)이 형성된다(S160).
도 12는 도 1a 또는 도 1b의 이미지 센서 구조를 포함하는 이미지 처리 장치의 블록도를 나타낸다.
도 1a, 도 1b, 및 도 12를 참조하면, 이미지 처리 장치(500)는 휴대용 전자 장치, 예컨대 디지털 카메라, 캠코더, 이동 전화기, 스마트폰(smart phone), 또는 태블릿 PC (tablet personal computer)로 구현될 수 있다.
이미지 처리 장치(500)는 광학 렌즈(503), CMOS 이미지 센서(510), 디지털 신호 프로세서(600), 및 디스플레이(640)를 포함한다. 실시 예에 따라 이미지 처리 장치(500)는 광학 렌즈(503)를 포함하지 않을 수 있다.
CMOS 이미지 센서(510)는 광학 렌즈(503)를 통하여 입사된 피사체(501)에 대한 이미지 데이터(IDATA)를 생성한다.
CMOS 이미지 센서(510)는 픽셀 어레이(100), 로우 드라이버(520), 타이밍 생성기(530), 상관 이중 샘플링(correlated double sampling(CDS)) 블록(540), 비교 블록(542), 및 아날로그-디지털 변환(analog-to-digital conversion(ADC)) 블록(544), 제어 레지스터 블록(550), 램프 신호 생성기 (560), 및 버퍼(570)를 포함한다. 픽셀 어레이(100)는 도 1a부터 도 4를 참조하여 설명된 이미지 센서(100A, 100B, 100C, 및 100D)를 집합적으로 포함한다.
도 12의 CMOS 이미지 센서(510)의 구조는 본 발명의 실시 예에 따른 이미지 처리 장치를 설명하기 위한 일 실시 예이다.
픽셀 어레이(100)는 매트릭스(matrix) 형태로 배열된 픽셀들(10)을 포함한다. 도 1a부터 도 11을 참조하여 설명한 바와 같이, 픽셀 어레이(100)는 복수의 픽셀들(R과 B)을 포함하는 제1층(100BT)과, 복수의 그린 픽셀들(G)을 포함하는 제2층 (100TP)을 포함한다.
로우 드라이버(520)는 타이밍 생성기(530)의 제어에 따라 픽셀들(10) 각각의 동작을 제어하기 위한 제어 신호들(TS1, TS2, RS, RS1, RS2, SEL, SEL1, 및/또는 SEL2 중 적어도 2개)을 픽셀 어레이(100)로 드라이빙한다.
타이밍 생성기(530)는 제어 레지스터 블록(550)의 제어에 따라 로우 드라이버(520), CDS 블록(540), ADC 블록(542), 및 램프 신호 생성기(560)의 동작을 제어한다.
CDS 블록(540)은 픽셀 어레이(100)에 구현된 복수의 컬럼 라인들 각각으로부터 출력된 픽셀 신호(P1~Pm; m은 자연수)에 대해 상관 이중 샘플링을 수행한다.
비교 블록(542)은 CDS 블록(540)으로부터 출력된 복수의 상관 이중 샘플된 픽셀 신호들 각각과 램프 신호 생성기(560)로부터 출력된 램프 신호를 서로 비교하고 복수의 비교 신호들을 출력한다.
ADC 블록(544)은 비교 블록(542)으로부터 출력된 복수의 비교 신호들 각각을 디지털 신호로 변환하고 복수의 디지털 신호들을 버퍼(570)로 출력한다.
제어 레지스터 블록(550)은, 디지털 신호 프로세서(600)의 제어에 따라, 타이밍 생성기(530), 램프 신호 생성기(560), 및 버퍼(570)의 동작을 제어한다.
버퍼(570)는 ADC 블록(544)으로부터 출력된 복수의 디지털 신호들에 대응되는 이미지 데이터(IDATA)를 디지털 신호 프로세서(600)로 전송한다.
디지털 신호 프로세서(600)는 이미지 신호 프로세서(610), 센서 컨트롤러 (620), 및 인터페이스(630)를 포함한다.
이미지 신호 프로세서(610)는 제어 레지스터 블록(550)을 제어하는 센서 컨트롤러(620), 및 인터페이스(630)를 제어한다.
실시 예에 따라, CMOS 이미지 센서(510)와 디지털 신호 프로세서(600)는 하나의 패키지, 예컨대 멀티-칩 패키지(multi-chip package)로 구현될 수 있다.
다른 실시 예에 따라, CMOS 이미지 센서(510)와 이미지 신호 프로세서(610)는 하나의 패키지, 예컨대 멀티-칩 패키지로 구현될 수 있다.
이미지 신호 프로세서(610)는 버퍼(570)로부터 전송된 이미지 데이터(IDATA)를 처리하고, 처리된 이미지 데이터를 인터페이스(630)로 전송한다.
센서 컨트롤러(620)는, 이미지 신호 프로세서(610)의 제어에 따라, 제어 레지스터 블록(550)을 제어하기 위한 다양한 제어 신호들을 생성한다.
인터페이스(630)는 이미지 신호 프로세서(610)에서 처리된 이미지 데이터를 디스플레이(640)로 전송한다.
디스플레이(640)는 인터페이스(630)로부터 출력된 이미지 데이터를 디스플레이한다. 디스플레이(300)는 TFT-LCD(thin film transistor-liquid crystal display), LED(light emitting diode) 디스플레이, OLED(organic LED) 디스플레이, AMOLED(active-matrix OLED) 디스플레이, 또는 플렉시블 디스플레이로 구현될 수 있다.
도 13은 도 1a 또는 도 1b의 이미지 센서의 구조로부터 출력된 이미지 신호들을 처리하는 이미지 신호 프로세서의 동작을 설명하는 플로우차트이다.
도 1a부터 도 13을 참조하면, 이미지 신호 프로세서(610)는 두 번의 처리를 수행한다. 도 2, 도 12, 및 도 13을 참조하여 그린 신호(GS'과 GS")를 얻기 위한 방법이 설명된다.
각 중첩 영역(11, 12, 13, 및 14)에서 출력되는 그린 이미지 신호는 PVT 변화(PVT variation, 공정(process), 전압(voltage), 및 온도(temperature))에 따라 서로 다를 수 있으나, 설명의 편의를 위해 각 중첩 영역(11, 12, 13, 및 14)에서 출력되는 그린 이미지 신호(GS)는 서로 동일하다고 가정한다.
첫 번째 처리에서, 이미지 신호 프로세서(610)는 제1중첩 영역(11)으로부터 출력된 그린 이미지 신호(GS)와 블루 이미지 신호(B1S)를 처리(예컨대, 순차적 출력)하고, 제2중첩 영역(12)으로부터 출력된 그린 이미지 신호(GS)와 레드 이미지 신호(R1S)를 처리하고, 제3중첩 영역(13)으로부터 출력된 그린 이미지 신호(GS)와 레드 이미지 신호 (R2S)를 처리하고, 제4중첩 영역(14)으로부터 출력된 그린 이미지 신호(GS)와 블루 이미지 신호(B2S)를 처리한다.
각 중첩 영역(11, 12, 13, 및 14)의 출력 신호(들)에 대한 첫 번째 처리는 동시에 또는 서로 다른 시점에 수행될 수 있다.
두 번째 처리에서, 이미지 신호 프로세서(610)는 그린 이미지 신호(GS)와 블루 이미지 신호(B1S)를 인터폴레이션하여 그린 신호(G'1)를 계산하고, 그린 이미지 신호(GS)와 레드 이미지 신호(R1S)를 인터폴레이션하여 그린 신호(G'2)를 계산하고, 그린 이미지 신호(GS)와 레드 이미지 신호(R2S)를 인터폴레이션하여 그린 신호(G'3)를 계산하고, 그린 이미지 신호(GS)와 블루 이미지 신호(B2S)를 인터폴레이션하여 그린 신호(G'4)를 계산한다.
각 중첩 영역(11, 12, 13, 및 14)의 출력 신호(들)에 대한 두 번째 처리, 예컨대 인터폴레이션은 동시에 또는 서로 다른 시점에 수행될 수 있다.
도 3, 도 12, 및 도 13을 참조하여 레드 신호(RS'와 RS")를 얻기 위한 방법이 설명된다.
각 중첩 영역(21, 22, 23, 및 24)에서 출력되는 그린 이미지 신호는 PVT 변화에 따라 서로 다를 수 있으나, 설명의 편의를 위해 각 중첩 영역(21, 22, 23, 및 24)에서 출력되는 레드 이미지 신호(RS)는 서로 동일하다고 가정한다.
첫 번째 처리에서, 이미지 신호 프로세서(610)는 제5중첩 영역(21)으로부터 출력된 레드 이미지 신호(RS)와 그린 이미지 신호(G1S)를 처리하고, 제6중첩 영역 (22)으로부터 출력된 레드 이미지 신호(RS)와 그린 이미지 신호(G2S)를 처리하고, 제7중첩 영역(23)으로부터 출력된 레드 이미지 신호 (RS)와 그린 이미지 신호(G3S)를 처리하고, 제8중첩 영역(24)으로부터 출력된 레드 이미지 신호(RS)와 그린 이미지 신호(G4S)를 처리한다.
각 중첩 영역(21, 22, 23, 및 24)의 출력 신호(들)에 대한 첫 번째 처리는 동시에 또는 서로 다른 시점에 수행될 수 있다.
두 번째 처리에서, 이미지 신호 프로세서(610)는 레드 이미지 신호(RS)와 그린 이미지 신호(G1S)를 인터폴레이션하여 레드 신호(R'1)를 계산하고, 레드 이미지 신호(RS)와 그린 이미지 신호(G2S)를 인터폴레이션하여 레드 신호(R'2)를 계산하고, 레드 이미지 신호(RS)와 그린 이미지 신호(G3S)를 인터폴레이션하여 레드 신호(R'3)를 계산하고, 레드 이미지 신호(RS)와 그린 이미지 신호(G4S)를 인터폴레이션하여 레드 신호(R'4)를 계산한다.
각 중첩 영역(21, 22, 23, 및 24)의 출력 신호(들)에 대한 두 번째 처리, 예컨대 인터폴레이션은 동시에 또는 서로 다른 시점에 수행될 수 있다.
도 4, 도 12, 및 도 13을 참조하여 블루 신호(BS'와 BS")를 얻기 위한 방법이 설명된다.
각 중첩 영역(31, 32, 33, 및 34)에서 출력되는 블루 이미지 신호는 PVT 변화에 따라 서로 다를 수 있으나, 설명의 편의를 위해 각 중첩 영역(31, 32, 33, 및 34)에서 출력되는 블루 이미지 신호(BS)는 서로 동일하다고 가정한다.
첫 번째 처리에서, 이미지 신호 프로세서(610)는 제9중첩 영역(31)으로부터 출력된 블루 이미지 신호(BS)와 그린 이미지 신호(G1S)를 처리하고, 제10중첩 영역(32)으로부터 출력된 블루 이미지 신호(BS)와 그린 이미지 신호(G2S)를 처리하고, 제11중첩 영역(33)으로부터 출력된 블루 이미지 신호 (BS)와 그린 이미지 신호 (G3S)를 처리하고, 제12중첩 영역(34)으로부터 출력된 블루 이미지 신호(BS)와 그린 이미지 신호(G4S)를 처리한다.
각 중첩 영역(31, 32, 33, 및 34)의 출력 신호(들)에 대한 첫 번째 처리는 동시에 또는 서로 다른 시점에 수행될 수 있다.
두 번째 처리에서, 이미지 신호 프로세서(610)는 블루 이미지 신호(BS)와 그린 이미지 신호(G1S) 인터폴레이션하여 블루 신호(B'1)를 계산하고, 블루 이미지 신호(BS)와 그린 이미지 신호(G2S) 인터폴레이션하여 블루 신호(B'2)를 계산하고, 블루 이미지 신호(BS)와 그린 이미지 신호(G3S) 인터폴레이션하여 블루 신호(B'3)를 계산하고, 블루 이미지 신호(BS)와 그린 이미지 신호(G4S) 인터폴레이션하여 블루 신호(B'4)를 계산한다.
각 중첩 영역(31, 32, 33, 및 34)의 출력 신호(들)에 대한 두 번째 처리, 예컨대, 인터폴레이션은 동시에 또는 서로 다른 시점에 수행될 수 있다.
예컨대, 도 2에서, G'=GS/4, B'=B1S/4, R'=ave(R2S/4+R1S/4)로 계산될 수 있다.
도 14는 도 1a 또는 도 1b의 이미지 센서 구조를 포함하는 이미지 처리 장치를 포함하는 휴대용 전자 장치의 블록도이다.
도 1a, 도 1b, 및 도 14를 참조하면, 이미지 처리 장치(200)는 MIPI®(mobile industry processor interface)를 사용 또는 지원할 수 있는 휴대용 전자 장치로 구현될 수 있다.
상기 휴대용 전자 장치는 랩탑 컴퓨터, PDA(personal digital assistant), PMP(portable media player ), 이동 전화기, 스마트폰(smartphone), 태블릿 PC (tablet computer) 또는 디지털 카메라로 구현될 수 있다.
이미지 처리 장치(700)는 애플리케이션 프로세서(application processor (AP); 710), 이미지 센서(120), 및 디스플레이(730)를 포함한다.
AP(710)에 구현된 CSI(camera serial interface) 호스트(713)는 카메라 시리얼 인터페이스(CSI)를 통하여 이미지 센서(100)의 CSI 장치(101)와 시리얼 통신할 수 있다.
실시 예에 따라, CSI 호스트(713)에는 디시리얼라이저(DES)가 구현될 수 있고, CSI 장치(101)에는 시리얼라이저(SER)가 구현될 수 있다.
이미지 센서(100)는 도 1a부터 도 6을 참조하여 설명된 이미지 센서(100A)를 의미할 수 있다.
AP(710)에 구현된 DSI(display serial interface(DSI)) 호스트(711)는 디스플레이 시리얼 인터페이스를 통하여 디스플레이(730)의 DSI 장치(731)와 시리얼 통신할 수 있다.
실시 예에 따라, DSI 호스트(711)에는 시리얼라이저(SER)가 구현될 수 있고, DSI 장치(731)에는 디시리얼라이저(DES)가 구현될 수 있다. 디시리얼라이저 (DES)와 시리얼라이저(SER) 각각은 전기적인 신호 또는 광학적인 신호를 처리할 수 있다.
이미지 처리 장치(700)는 AP(710)와 통신할 수 있는 RF(radio frequency) 칩 (740)을 더 포함할 수 있다. AP(710)의 PHY(physical layer; 715)와 RF 칩(740)의 PHY(741)는 MIPI DigRF에 따라 데이터를 주고받을 수 있다.
이미지 처리 장치(700)는 GPS(750) 수신기, DRAM(dynamic random access memory)과 같은 메모리(751), NAND 플래시 메모리와 같은 불휘발성 메모리로 구현된 데이터 저장 장치(753), 마이크(755), 또는 스피커(757)를 더 포함할 수 있다.
이미지 처리 장치(700)는 적어도 하나의 통신 프로토콜(또는 통신 표준), 예컨대, WiMAX(worldwide interoperability for microwave access; 759), WLAN (Wireless LAN; 761), UWB(ultra-wideband; 763), 또는 LTETM(long term evolution; 765) 등을 이용하여 외부 장치와 통신할 수 있다.
이미지 처리 장치(700)는 블루투스 또는 WiFi를 이용하여 외부 장치와 통신할 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
100A, 100B, 100C, 및 100D; 이미지 센서
200, 400; 반도체 기판
300, 410; 회로 영역
201, 401; 블루 광전 변환 영역
202, 402; 레드 광전 변환 영역
321, 323, 421, 423; 컬러 필터
331, 333, 335, 431, 433, 435; 픽셀 전극
340; 440; 유기 물질의 광전 변환 영역
350, 450; 공통 전극

Claims (20)

  1. n*n (n은 1보다 큰 자연수) 픽셀들; 및
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되도록 배치된 그린 픽셀을 포함하는 이미지 센서.
  2. 제1항에 있어서, 상기 그린 픽셀은,
    유기 물질의 제1광-전 변환 영역;
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되고 상기 제1광-전 변환 영역에서 생성된 전기 전하들을 수집하는 제1픽셀 전극; 및
    상기 제1광-전 변환 영역으로 바이어스 전압을 공급하는 공통 전극을 포함하는 이미지 센서.
  3. 제2항에 있어서, 상기 이미지 센서는,
    각각이 상기 제1픽셀 전극에 인접하게 배치되고 상기 제1픽셀 전극의 크기와 동일한 크기를 갖는 복수의 제2픽셀 전극들을 더 포함하는 이미지 센서.
  4. 제2항에 있어서, 상기 n*n 픽셀들 각각은,
    상기 픽셀 전극에 부분적으로 중첩된 컬러 필터; 및
    상기 컬러 필터를 투과한 빛에 응답하여 전기 전하들을 생성하는 무기 물질의 제2광-전 변환 영역을 포함하는 이미지 센서.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 n*n 픽셀들의 일부는 그린 픽셀이고, 상기 n*n 픽셀들의 나머지 일부는 블루 픽셀인 이미지 센서.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 상기 그린 픽셀의 중첩 영역들 각각의 크기는 서로 동일한 이미지 센서.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 상기 그린 픽셀의 중첩 영역들 중에서 적어도 n개의 크기는 서로 다른 이미지 센서.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 이미지 센서는 표면 조사(frontside illumination(FSI)) CMOS 이미지 센서 또는 후면 조사(backside illumination(BSI)) CMOS 이미지 센서인 이미지 센서.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 n은 2인 이미지 센서.
  10. n*n ((n은 1보다 큰 자연수)) 픽셀들을 형성하는 단계; 및
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 그린 픽셀을 형성하는 단계를 포함하는 이미지 센서를 제조하는 방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 n*n 픽셀들을 형성하는 단계는,
    반도체 기판의 내부에 무기 물질의 제1광-전 변환 영역들을 형성하는 단계; 및
    상기 반도체 기판의 외부에 상기 그린 픽셀을 통과한 빛이 상기 무기 물질의 제1광-전 변환 영역들 각각으로 입사될 수 있도록 컬러 필터들 각각을 형성하는 단계를 포함하고,
    상기 그린 픽셀을 형성하는 단계는,
    상기 컬러 필터들 각각에 부분적으로 중첩된 픽셀 전극을 형성하는 단계;
    상기 픽셀 전극의 위에 유기 물질의 제2광-전 변환 영역을 형성하는 단계; 및
    상기 제2광-전 변환 영역으로 바이어스 전압을 공급하는 공통 전극을 형성하는 단계를 포함하는 이미지 센서를 제조하는 방법.
  12. 제10항에 있어서, 상기 그린 픽셀을 형성하는 단계는,
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 픽셀 전극을 형성하는 단계;
    상기 픽셀 전극의 위에 유기 물질의 광-전 변환 영역을 형성하는 단계; 및
    상기 광-전 변환 영역으로 바이어스 전압을 공급하는 공통 전극을 형성하는 단계를 포함하는 이미지 센서를 제조하는 방법.
  13. 이미지 센서; 및
    상기 이미지 센서로부터 출력된 신호를 처리하는 이미지 신호 프로세서를 포함하며,
    상기 이미지 센서는,
    n*n (n은 1보다 큰 자연수)) 픽셀들; 및
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 그린 픽셀을 포함하고,
    상기 이미지 신호 프로세서는,
    상기 n*n(n은 자연수) 픽셀들 각각의 출력 신호와 상기 그린 픽셀의 출력 신호를 보간하고 보간 결과에 따라 RGB 신호들을 생성하는 이미지 처리 장치.
  14. 제13항에 있어서, 상기 그린 픽셀은,
    유기 물질의 제1광-전 변환 영역;
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되고 상기 제1광-전 변환 영역에서 생성된 전기 전하들을 수집하는 픽셀 전극; 및
    상기 제1광-전 변환 영역으로 바이어스 전압을 공급하는 공통 전극을 포함하는 이미지 처리 장치.
  15. 제14항에 있어서, 상기 n*n 픽셀들 각각은,
    상기 픽셀 전극에 부분적으로 중첩된 컬러 필터; 및
    상기 컬러 필터를 투과한 빛에 응답하여 전기 전하들을 생성하는 무기물의 제2광-전 변환 영역을 포함하는 이미지 처리 장치.
  16. 제13항에 있어서,
    상기 n*n 픽셀들의 일부는 그린 픽셀이고, 상기 n*n 픽셀들의 나머지 일부는 블루 픽셀인 이미지 처리 장치.
  17. 제13항에 있어서,
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 상기 그린 픽셀의 중첩 영역들 중에서 적어도 n개의 크기는 서로 동일한 이미지 처리 장치.
  18. 이미지 센서; 및
    상기 이미지 센서로부터 출력된 신호를 처리하는 애플리케이션 프로세서를 포함하며,
    상기 이미지 센서는,
    n*n (n은 1보다 큰 자연수)) 픽셀들; 및
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩된 유기 픽셀을 포함하고,
    상기 애플리케이션 프로세서는,
    상기 n*n 픽셀들 각각의 출력 신호와 상기 유기 픽셀의 출력 신호를 보간하고 보간 결과에 따라 이미지 신호들을 생성하는 휴대용 전자 장치.
  19. 제18항에 있어서, 상기 유기 픽셀은,
    유기 물질의 제1광-전 변환 영역;
    상기 n*n 픽셀들 각각에 부분적으로 중첩되고 상기 제1광-전 변환 영역에서 생성된 전기 전하들을 수집하는 픽셀 전극; 및
    상기 제1광-전 변환 영역으로 바이어스 전압을 공급하는 공통 전극을 포함하며,
    상기 유기 픽셀은 유기 레드 픽셀, 유기 그린 픽셀, 또는 유기 블루 픽셀인 휴대용 전자 장치.
  20. 제21항에 있어서, 상기 n*n 픽셀들 각각은,
    상기 픽셀 전극에 부분적으로 중첩된 컬러 필터; 및
    상기 컬러 필터를 투과한 빛에 응답하여 전기 전하들을 생성하는 무기물의 제2광-전 변환 영역을 포함하는 휴대용 전자 장치.
KR1020130071589A 2013-06-21 2013-06-21 이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치 KR102105284B1 (ko)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130071589A KR102105284B1 (ko) 2013-06-21 2013-06-21 이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치
US14/310,305 US9287327B2 (en) 2013-06-21 2014-06-20 Image sensor, method for manufacturing the same, and image processing device having the image sensor
US15/004,494 US20160142630A1 (en) 2013-06-21 2016-01-22 Image sensor, method for manufacturing the same, and image processing device having the image sensor
US15/233,383 US9905615B2 (en) 2013-06-21 2016-08-10 Image sensor, method for manufacturing the same, and image processing device having the image sensor
US15/630,571 US9954034B2 (en) 2013-06-21 2017-06-22 Image sensor, method for manufacturing the same, and image processing device having the image sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130071589A KR102105284B1 (ko) 2013-06-21 2013-06-21 이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140148103A true KR20140148103A (ko) 2014-12-31
KR102105284B1 KR102105284B1 (ko) 2020-04-28

Family

ID=52110609

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130071589A KR102105284B1 (ko) 2013-06-21 2013-06-21 이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치

Country Status (2)

Country Link
US (4) US9287327B2 (ko)
KR (1) KR102105284B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170058096A (ko) * 2015-11-18 2017-05-26 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이를 포함하는 전자 장치
KR20190138199A (ko) * 2018-06-04 2019-12-12 삼성전자주식회사 유기 이미지 센서

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102105284B1 (ko) 2013-06-21 2020-04-28 삼성전자 주식회사 이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치
KR102282493B1 (ko) * 2014-08-12 2021-07-26 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이를 포함하는 전자 장치
CN107210311B (zh) * 2015-01-29 2020-10-27 索尼半导体解决方案公司 固态成像器件和电子设备
KR102369594B1 (ko) * 2015-03-18 2022-03-04 삼성디스플레이 주식회사 유기발광 표시패널 및 그 제조방법
KR102491580B1 (ko) 2015-12-15 2023-01-25 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 그 제조 방법
CN107615010B (zh) * 2016-01-22 2021-11-16 索尼公司 光接收器件、控制方法和电子设备
US10355051B2 (en) 2016-11-28 2019-07-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor device
US10644073B2 (en) * 2016-12-19 2020-05-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensors and electronic devices including the same
KR102576338B1 (ko) 2017-01-04 2023-09-07 삼성전자주식회사 이미지 센서
FR3076082B1 (fr) * 2017-12-21 2020-01-24 Isorg Capteur d'image
KR102514047B1 (ko) * 2018-02-20 2023-03-24 삼성전자주식회사 복수의 기능이 통합된 이미지 센서 및 이를 포함하는 이미지 센서 모듈
CN108983872B (zh) * 2018-06-04 2021-07-13 Oppo广东移动通信有限公司 电子装置及其控制方法
KR102129453B1 (ko) * 2018-06-08 2020-07-02 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이를 포함하는 전자 장치
KR102553314B1 (ko) 2018-08-29 2023-07-10 삼성전자주식회사 이미지 센서
JP7442990B2 (ja) 2018-11-07 2024-03-05 三星電子株式会社 信号処理装置及び信号処理方法
US11317068B2 (en) 2018-11-07 2022-04-26 Samsung Electronics Co., Ltd. Signal processing apparatuses and signal processing methods
US10825990B2 (en) 2019-02-01 2020-11-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensor and methods of fabricating and measuring image sensor
CN110108283B (zh) * 2019-05-10 2020-11-17 成都四相致新科技有限公司 一种基于多二维码视觉的高精度定位方法
KR102649560B1 (ko) * 2019-05-24 2024-03-19 삼성전자주식회사 광학 무선 통신 시스템
US11515437B2 (en) * 2019-12-04 2022-11-29 Omnivision Technologies, Inc. Light sensing system and light sensor with polarizer

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003332551A (ja) * 2002-05-08 2003-11-21 Canon Inc カラー撮像素子及びカラー受光素子
JP2006203457A (ja) * 2005-01-19 2006-08-03 Fuji Photo Film Co Ltd カラー画像生成方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6642962B1 (en) 1999-09-01 2003-11-04 Neomagic Corp. Merged pipeline for color interpolation and edge enhancement of digital images
JP4700947B2 (ja) 2004-10-20 2011-06-15 富士フイルム株式会社 光電変換膜積層型単板式カラー固体撮像装置
JP4681853B2 (ja) 2004-11-11 2011-05-11 富士フイルム株式会社 積層型固体撮像装置
JP4621484B2 (ja) 2004-11-19 2011-01-26 富士フイルム株式会社 固体撮像素子
US20060119724A1 (en) 2004-12-02 2006-06-08 Fuji Photo Film Co., Ltd. Imaging device, signal processing method on solid-state imaging element, digital camera and controlling method therefor and color image data generating method
KR100717281B1 (ko) 2005-09-22 2007-05-15 삼성전자주식회사 이미지 센서의 형성 방법 및 그에 의해 형성된 이미지 센서
JP4866656B2 (ja) 2006-05-18 2012-02-01 富士フイルム株式会社 光電変換膜積層型カラー固体撮像装置
US8054355B2 (en) * 2008-10-16 2011-11-08 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor having multiple sensing layers
KR101625209B1 (ko) * 2009-12-11 2016-05-30 삼성전자주식회사 다이크로익 필터를 이용한 컬러 필터 어레이
JP5117523B2 (ja) 2010-03-09 2013-01-16 株式会社東芝 固体撮像装置
JP5534927B2 (ja) 2010-05-06 2014-07-02 株式会社東芝 固体撮像装置
KR102105284B1 (ko) 2013-06-21 2020-04-28 삼성전자 주식회사 이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003332551A (ja) * 2002-05-08 2003-11-21 Canon Inc カラー撮像素子及びカラー受光素子
JP2006203457A (ja) * 2005-01-19 2006-08-03 Fuji Photo Film Co Ltd カラー画像生成方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170058096A (ko) * 2015-11-18 2017-05-26 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이를 포함하는 전자 장치
KR20190138199A (ko) * 2018-06-04 2019-12-12 삼성전자주식회사 유기 이미지 센서

Also Published As

Publication number Publication date
US9287327B2 (en) 2016-03-15
US20160142630A1 (en) 2016-05-19
US9954034B2 (en) 2018-04-24
US20160351630A1 (en) 2016-12-01
US9905615B2 (en) 2018-02-27
KR102105284B1 (ko) 2020-04-28
US20170294487A1 (en) 2017-10-12
US20140375826A1 (en) 2014-12-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102105284B1 (ko) 이미지 센서, 이의 제조 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 이미지 처리 장치
KR101774491B1 (ko) 유기 포토다이오드를 포함하는 유기 픽셀, 이의 제조 방법, 및 상기 유기 픽셀을 포함하는 장치들
KR102263042B1 (ko) 픽셀, 상기 픽셀을 포함하는 이미지 센서, 및 상기 픽셀을 포함하는 이미지 처리 시스템
US9780130B2 (en) Image sensor and image processing system including the same
US9966407B2 (en) Unit pixels, image sensors including the same, and image processing systems including the same
KR102136852B1 (ko) Tfa 기반의 시모스 이미지 센서 및 그 동작방법
US20160043119A1 (en) Image pixel, image sensor including the same, and image processing system including the same
KR102155480B1 (ko) 이미지 센서, 이를 포함하는 이미지 처리 시스템, 및 이를 포함하는 휴대용 전자 장치
US20160049429A1 (en) Global shutter image sensor, and image processing system having the same
US9860467B2 (en) Image sensor having different substrate bias voltages
US20130188085A1 (en) Image sensors having reduced dark current and imaging devices having the same
US10009564B2 (en) Solid-state image capturing element, manufacturing method therefor, and electronic device
KR102132351B1 (ko) 이미지 센서와 이를 포함하는 장치
US9549140B2 (en) Image sensor having pixels each with a deep trench isolation region as a photo gate for outputting image signals in response to control signals from a row driver and method of operating the image sensor
KR20150123088A (ko) 스큐드 픽셀 구조를 갖는 이미지 센서를 포함하는 이미지 데이터 처리 장치
US9960201B2 (en) Image sensor and pixel of the image sensor
US10340298B2 (en) Semiconductor device having negative fixed charge, positive fixed charge and electronic apparatus capable of reducing a leaking current of a PN junction region
US8952475B2 (en) Pixel, pixel array, and image sensor
KR20140069932A (ko) 열적 리셋을 수행할 수 있는 이미지 센서, 이의 동작 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 장치들
US20240007768A1 (en) Solid-state imaging device and electronic apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
X091 Application refused [patent]
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant