KR20140147730A

KR20140147730A - 배향 독립형 측정기

Info

Publication number: KR20140147730A
Application number: KR1020140074436A
Authority: KR
Inventors: 제임스 이아인 로저스; 로렌스 리치; 안나 츠비카체프스카야; 요나단 넬손; 케로스 모랄레스
Original assignee: 시락 게엠베하 인터내셔날
Priority date: 2013-06-19
Filing date: 2014-06-18
Publication date: 2014-12-30
Also published as: US20140374278A1; CA2854125C; CA2854125A1; EP2816349B1; AU2014203272B2; BR102014015043A2; US9354194B2; AU2014203272A1; CN104237321A; HK1205263A1; JP2015004676A; RU2014124928A; EP2816349A1; AU2019201087A1; TW201516403A

Abstract

내부에 삽입된 검사 스트립의 배향을 검출하는 검사 스트립 포트를 갖는 분석물 측정기가 개시된다. 검사 측정기의 제어 회로는 검사 스트립의 제1 배향의 검출에 응답하여 검사 스트립 전극에 제1 사전결정된 분석물 측정 신호를 인가하고 검사 스트립의 제2 배향의 검출에 응답하여 동일하거나 상이한 전극에 제2 사전결정된 분석물 측정 신호를 인가하도록 구성된다.

Description

배향 독립형 측정기{ORIENTATION INDEPENDENT METER}

본 출원은 일반적으로 혈액 분석물 측정 시스템(blood analyte measurement system)의 분야에 관한 것으로, 더 구체적으로는 내부에 삽입된 검사 스트립(test strip)의 배향을 검출하고 검출된 배향에 응답하여 검사 스트립에 인가되는 검사 신호를 정확하게 조절하도록 구성되는 휴대용 분석물 측정기(analyte meter)에 관한 것이다.

혈당 측정 시스템은 전형적으로, 보통은 검사 스트립의 형태인 생체센서(biosensor)를 수용하도록 구성되는 분석물 측정기를 포함한다. 이들 시스템들 중 많은 것이 휴대 가능하고 검사가 짧은 시간량 내에 완료될 수 있기 때문에, 환자들은 그들의 일상에 큰 방해를 받지 않고 그들의 하루 일과의 통상적인 과정에서 그러한 장치들을 사용할 수 있다. 당뇨병이 있는 개인은 목표 범위 내에서의 그들의 혈당의 혈당 제어를 확실하게 하기 위해 자가 관리 과정의 일부로서 하루에 몇 번 그들의 혈당 레벨을 측정할 수 있다. 목표 혈당 제어를 유지하는 것의 실패는 심혈관질환, 신장병, 신경손상 및 실명을 포함한 심각한 당뇨병 관련 합병증을 초래할 수 있다.

현재, 검사 스트립의 삽입 시 자동적으로 작동되도록 설계된 많은 입수 가능한 휴대용 전자 분석물 측정 장치들이 존재한다. 측정기 내의 전기 접촉부들 또는 프롱(prong)들이 검사 스트립 상의 접촉 패드들과의 접속을 확립하는 반면, 측정기 내의 마이크로컨트롤러는 검사 스트립이 적절하게 삽입되었는지 여부를 검사 스트립으로부터의 전기 신호들을 기초로 하여 판단한다. 그러나, 검사 스트립이 적당한 배향으로 적절하게 삽입되지 않으면, 장치는 작동하지 않을 것이거나, 게다가 검사 스트립이 적절하게 재삽입될 때까지 에러 메시지를 표시할 수 있다. 이러한 노력은 특히 검사 스트립이 작은 경우에, 삽입 전 검사 스트립을 정확하게 배향시키려고 애쓸 수도 있는 일부 사용자들에게 어려움을 줄 수 있다.

본 명세서에 포함되고 이 명세서의 일부를 구성하는 첨부 도면은 본 발명의 현재 바람직한 실시예들을 예시하고, 상기 제공된 일반적인 설명 및 아래 제공된 상세한 설명과 함께, 본 발명의 특징을 설명하는 역할을 한다(여기서, 동일한 도면부호는 동일한 요소를 나타낸다).
<도 1a>
도 1a는 예시적인 검사 스트립 기반의 분석물 측정 시스템의 다이어그램.
<도 1b>
도 1b는 도 1a의 검사 스트립 기반의 분석물 측정 시스템의 예시적인 처리 시스템의 다이어그램.
<도 2a 내지 도 2c>
도 2a 내지 도 2c는 예시적인 검사 스트립의 다양한 도면들.
<도 3a 및 도 3b>
도 3a 및 도 3b는 다른 예시적인 검사 스트립의 다양한 도면들.
<도 4a 내지 도 4e>
도 4a 내지 도 4e는 다른 예시적인 검사 스트립의 다양한 도면들.
<도 5a 및 도 5b>
도 5a 및 도 5b는 다른 예시적인 검사 스트립의 다양한 도면들.
<도 6a 내지 도 6c>
도 6a 내지 도 6c는 다른 예시적인 검사 스트립의 다양한 도면들.
<도 7a 내지 도 7c>
도 7a 내지 도 7c는 다른 예시적인 검사 스트립의 다양한 도면들.
<도 8a 내지 도 8c>
도 8a 내지 도 8c는 다른 예시적인 검사 스트립의 다양한 도면들.
<도 9a 내지 도 9c>
도 9a 내지 도 9c는 다른 예시적인 검사 스트립의 다양한 도면들.
<도 10>
도 10은 도 8a 내지 도 8c 및 도 9a 내지 도 9c에 도시된 검사 스트립의 전극들에서 측정된 예시적인 전압 전위 파형들을 도시하는 도면.
<도 11a 및 도 11b>
도 11a 및 도 11b는 검사 스트립의 결정된 배향에 따라 검사 스트립 내의 샘플에 인가된 분석물 전류 측정 전압들을 도시하는 도면.
<도 12>
도 12는 도 1a 및 도 1b의 분석물 측정 시스템의 작동 방법의 플로우차트.

다음의 상세한 설명은 상이한 도면들에서 동일 요소가 동일 도면 부호로 표기되는 도면들을 참조하여 이해되어야 한다. 도면(이는 반드시 축척대로인 것은 아님)은 선택된 실시예들을 도시하고, 본 발명의 범주를 한정하는 것으로 의도되지 않는다. 상세한 설명은 본 발명의 원리를 제한적이 아닌 예시적으로 설명한다. 이러한 설명은 명백하게 당업자가 본 발명을 제조 및 사용하도록 할 것이고, 현재 본 발명을 수행하는 최선의 모드로 여겨지는 것을 비롯한, 본 발명의 몇몇 실시예들, 개작, 변형, 대안 및 사용을 기술한다.

본 명세서에 사용되는 바와 같이, 용어 "환자" 또는 "사용자"는 임의의 사람 또는 동물 대상을 지칭하며 본 시스템 또는 방법을 사람에 대한 용도로 제한하고자 하는 것은 아니지만, 사람 환자에 대한 본 발명의 사용이 바람직한 실시예를 나타낸다.

용어 "샘플"은 성분의 유무, 성분의 농도와 같은 임의의 특성들의 정성적 또는 정량적 판정을 받는 것이 의도되는 소정량의 액체, 용액 또는 현탁액, 예를 들어 분석물 등을 의미한다. 본 발명의 실시예들은 사람과 동물의 전혈 샘플에 적용 가능하다. 본 명세서에서 설명된 바와 같은 본 발명의 맥락에서의 전형적인 샘플들은 혈액, 혈장, 적혈구, 혈청 및 그 현탁액들을 포함한다.

설명과 특허청구범위 전반에 걸쳐 수치 값과 관련하여 사용되는 용어 "약"은 당업자에게 익숙하고 허용 가능한 정확도 구간을 나타낸다. 이 용어를 지배하는 구간은 바람직하게는 +10%이다. 달리 명시되지 않는다면, 위에서 설명된 용어들은 본 명세서에서 설명되고 특허청구범위에 따르는 본 발명의 범주를 좁히는 것으로 의도되지 않는다.

도 1a는 분석물 측정기(10)를 포함하는 분석물 측정 시스템(100)을 도시한다. 분석물 측정기(10)는 데이터 관리 유닛(data management unit, "DMU")(140)을 보유하는 하우징(11)에 의해 한정되고, 생체센서를 수용하도록 크기 설정된 포트(22)를 추가로 포함한다. 일 실시예에 따르면, 분석물 측정기(10)는 핸드헬드(hand held) 혈당 측정기일 수 있고, 생체센서는 혈당 측정을 수행하기 위해 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입되는 검사 스트립(24)의 형태로 제공된다. 분석물 측정기(10)는 도 1a에 도시된 바와 같은 복수의 사용자 인터페이스 버튼(16)들 및 디스플레이(14)를 추가로 포함한다. 미리 결정된 개수의 포도당 검사 스트립들이 하우징(11)에 저장되고 혈당 검사에서의 사용을 위해 접근 가능하게 되어 있을 수 있다. 복수의 사용자 인터페이스 버튼(16)들은 DMU(140)와 관련되고, 데이터의 입력을 허용하고, 데이터의 출력을 프롬프트(prompt)하며, 디스플레이(14) 상에 제시되는 메뉴들을 탐색하고, 명령을 실행시키도록 구성될 수 있다. 출력 데이터는 디스플레이(14) 상에 제시되는 분석물 농도를 나타내는 값들을 포함할 수 있다. 입력 정보는 개인의 음식 섭취, 의약 사용, 건강 검진 실시, 전반적인 건강 상태 및 운동 수준과 같은, 개인의 매일의 생활양식과 관련되는 정보를 포함할 수 있다. 이들 입력은 디스플레이(14) 상에 제시되는 프롬프트를 통해 요청될 수 있고 분석물 측정기(10)의 메모리 모듈에 저장될 수 있다. 구체적으로 그리고 예시적인 본 실시예에 따르면, 사용자 인터페이스 버튼(16)들은, 사용자가 디스플레이(14) 상에 제시되는 사용자 인터페이스를 통해 탐색하게 하는, 마킹(marking)들, 예를 들어 상향-하향 화살표들, 텍스트 문자들 "OK" 등을 포함한다. 본 명세서에서는 버튼(16)들이 별개의 스위치들로 도시되지만, 가상 버튼들을 갖는 디스플레이(14) 상의 터치 스크린 인터페이스가 또한 이용될 수 있다.

분석물 측정 시스템(100)의 전자 구성요소들은, 예를 들어 하우징(11) 내에 위치되는 인쇄 회로 기판 상에 배치되고, 본 명세서에 설명되는 시스템의 DMU(140)를 형성할 수 있다. 도 1b는 본 실시예의 목적을 위해 하우징(11) 내에 배치되는 전자 서브시스템(subsystem)들 중 몇몇을, 단순화된 개략적인 형태로 도시한다. DMU(140)는 마이크로프로세서 형태의 프로세싱 유닛(122), 마이크로컨트롤러, 주문형 집적회로(application specific integrated circuit, "ASIC"), 혼합 신호 프로세서(mixed signal processor, "MSP"), 필드 프로그램 가능 게이트 어레이(field programmable gate array, "FPGA"), 또는 이들의 조합을 포함하고, 후술되는 바와 같이, 인쇄 회로 기판 상에 포함되거나 인쇄 회로 기판에 접속된 다양한 전자 모듈들에 전기 접속된다. 프로세싱 유닛(122)은 예를 들어 아날로그 전방 단부(analog front end, AFE) 서브시스템(125)을 통해 검사 스트립 포트 커넥터(104)(strip port connector, "SPC")에 전기 접속된다. AFE(125)는 혈당 검사 동안에 스트립 포트 커넥터(104)에 전기 접속된다. 선택된 분석물 농도를 측정하기 위해, AFE(125)는 일정 전위기(potentiostat)를 사용하여, 혈액 샘플이 분석물 검사 스트립에 인가되었음을 나타내는, 분석물 검사 스트립(24)의 전극들을 가로지른 저항 크기 변화를 검출한다. 혈액 샘플이 검사 스트립(24)에 인가된 후 사전결정된 시간에, 사전설정된 전압 파형이 전극들을 통해 샘플을 가로질러 인가되고, 이는 샘플을 통해 전류를 생성한다. AFE(125)는 전류 측정치를 디스플레이(14) 상에 제시하기 위한 디지털 형태로 변환한다. 프로세싱 유닛(122)은 스트립 포트 커넥터(104), 아날로그 전방 단부 서브시스템(125)으로부터 입력을 수신하도록 구성될 수 있고, 또한 일정 전위기 기능 및 전류 측정 기능의 일부를 수행할 수 있다.

분석물 검사 스트립(24)은 전기화학적 포도당 검사 스트립의 형태일 수 있으며, 그의 다양한 실시예들이 후술된다. 검사 스트립(24)은 하나 이상의 작동 전극들을 포함할 수 있는 비다공성 기재(nonporous substrate)에 의해 한정된다. 검사 스트립(24)은 또한 복수의 전기 접촉 패드들을 포함할 수 있는데, 여기서 각각의 전극은 도 2a 내지 도 9c와 관련하여 후술되는 바와 같이 적어도 하나의 전기 접촉 패드와 전기적 연통 상태에 있을 수 있다. 스트립 포트 커넥터(104)는 프롱들의 형태의 전기 접촉부들을 사용하여 전기 접촉 패드들에 전기적으로 인터페이싱하고 전극들과의 전기적 연통을 형성하도록 구성될 수 있다. 검사 스트립(24)은 검사 스트립(24) 내에서 작업 전극과 같은 하나 이상의 전극들 위에 배치된 시약 층을 포함할 수 있다. 시약 층은 효소 및 매개 물질을 포함할 수 있다. 시약 층에 사용하기에 적합한 예시적인 효소는 포도당 산화 효소, (피롤로퀴놀린 퀴논 보조인자 "PQQ"를 갖는) 포도당 탈수소 효소, 및 (플라빈 아데닌 다이뉴클레오티드 보조인자 "FAD"를 갖는) 포도당 탈수소 효소를 포함한다. 시약 층에 사용하기에 적합한 예시적인 매개 물질은 페리시안화물(이 경우에, 산화된 형태임)을 포함한다. 시약 층은 인가된 샘플 내의 포도당을 효소 부산물로 물리적으로 변환시키고 이 과정에서 샘플의 포도당 농도에 비례하는 소정량의 환원된 매개 물질(예컨대, 페로시안화물)을 생성하도록 구성될 수 있다. 그리고 나서, 작동 전극은 사전설정된 전압 파형을 샘플에 인가하고 환원된 매개 물질의 농도를 전류의 형태로 측정하는 데 사용될 수 있다. 이어서, 마이크로컨트롤러(122)는 전류 크기를 디스플레이(14) 상에 제시하기 위한 포도당 농도로 변환시킬 수 있다. 그러한 전류 측정을 수행하는 예시적인 분석물 측정기가, 마치 본 출원 내에 완전히 기재된 것처럼 본 명세서에 참고로 포함된, 발명의 명칭이 "샘플 내의 분석물을 측정하기 위한 시스템 및 방법(System and Method for Measuring an Analyte in a Sample)"인 미국 특허 출원 공개 제2009/0301899 A1호에 기술되어 있다.

디스플레이 프로세서 및 디스플레이 버퍼를 포함할 수 있는 디스플레이 모듈(119)은, 출력 데이터를 수신하여 표시하기 위한 그리고 프로세싱 유닛(122)의 제어 하에서 사용자 인터페이스 입력 옵션들을 표시하기 위한 전기 인터페이스(123)를 거쳐 프로세싱 유닛(122)에 전기 접속된다. 그러한 메뉴 옵션들과 같은 사용자 인터페이스의 구조는 사용자 인터페이스 모듈(103)에 저장되고, 혈당 측정 시스템(100)의 사용자에게 메뉴 옵션들을 제시하기 위해 프로세싱 유닛(122)에 의해 접근 가능하다. 오디오 모듈(120)은 DMU(140)에 의해 수신되거나 저장된 오디오 데이터를 출력하기 위한 스피커(121)를 포함한다. 오디오 출력들은, 예를 들어 통지, 리마인더(reminder), 및 경고를 포함할 수 있거나, 디스플레이(14)에 제시되는 디스플레이 데이터와 관련하여 재생되어지는 오디오 데이터를 포함할 수 있다. 그러한 저장된 오디오 데이터는 프로세싱 유닛(122)에 의해 접근될 수 있고 적절한 시기들에서 재생 데이터로서 실행될 수 있다. 소정량의 오디오 출력이 프로세싱 유닛(122)에 의해 제어되고, 상기 양 설정은 프로세서에 의해 결정되거나 사용자에 의해 조절되는 바대로 설정 모듈(105)에 저장될 수 있다. 사용자 입력 모듈(102)은 사용자 인터페이스 버튼(16)들을 통해 입력들을 수신하고, 입력들은 처리되어 전기 인터페이스(123)를 거쳐 프로세싱 유닛(122)으로 전송된다. 프로세싱 유닛(122)은, 이후에 필요한 대로 나중에 접근, 업로드 또는 표시될 수 있는 혈당 측정치들의 날짜 및 시간을 기록하기 위해 인쇄 회로 기판에 접속된 디지털 시각 계시기(digital time-of-day clock)에의 전기적 접근을 가질 수 있다.

디스플레이(14)는 대안적으로, 광원 제어 모듈(115)을 통해 프로세싱 유닛(122)에 의해 광도가 제어될 수 있는 백라이트를 포함할 수 있다. 유사하게, 사용자 인터페이스 버튼(16)들은 또한 버튼들의 광 출력을 제어하기 위해 프로세싱 유닛(122)에 전기 접속된 LED 광원들을 사용하여 조명될 수 있다. 광원 모듈(115)은 디스플레이 백라이트 및 프로세싱 유닛(122)에 전기 접속된다. 모든 광원들의 디폴트 휘도 설정들뿐만 아니라 사용자에 의해 조절된 설정들은 설정 모듈(105)에 저장되고, 프로세싱 유닛(122)에 의해 접근 가능하고 조절 가능하다.

휘발성 랜덤 액세스 메모리(random access memory, "RAM")(112), 판독 전용 메모리(read only memory, "ROM") 또는 플래시 메모리를 포함할 수 있는 비휘발성 메모리(113); 및 예를 들어 USB 데이터 포트를 통해 외부 휴대용 메모리 장치에 접속하기 위한 회로(114)를 포함하지만 이로 한정되지 않는 메모리 모듈(101)이 전기 인터페이스(123)를 거쳐 프로세싱 유닛(122)에 전기 접속된다. 외부 메모리 장치들은 썸드라이브(thumb drive)에 내장된 플래시 메모리 장치, 휴대용 하드 디스크 드라이브, 데이터 카드, 또는 임의의 다른 형태의 전자 저장 장치들을 포함할 수 있다. 온보드 메모리는, 이하에서 설명되는 바와 같이, 분석물 측정기(10)의 작동을 위해 프로세싱 유닛(122)에 의해 실행되는 프로그램들 형태의 다양한 내장된 애플리케이션들 및 저장된 알고리즘들을 포함할 수 있다. 온보드 메모리는 또한 사용자의 혈당 측정치와 관련된 날짜 및 시간을 포함하는 사용자의 혈당 측정치의 이력을 저장하는 데 사용될 수 있다. 이하 설명되는 바와 같이, 분석물 측정기(10) 또는 데이터 포트(13)의 무선 전송 성능을 사용하여, 그러한 측정 데이터는 접속된 컴퓨터들 또는 다른 처리 장치들로 유선 또는 무선 전송을 통해 전송될 수 있다.

무선 모듈(106)은 하나 이상의 내부 디지털 안테나(107)들을 통한 무선 디지털 데이터 전송 및 수신을 위한 송수신기 회로를 포함할 수 있고, 전기 인터페이스(123)를 거쳐 프로세싱 유닛(122)에 전기 접속된다. 무선 송수신기 회로들은 집적된 회로 칩, 칩셋, 프로세싱 유닛(122)을 거쳐 동작 가능한 프로그램 가능 기능, 또는 이들의 조합의 형태일 수 있다. 무선 송수신기 회로들 각각은 상이한 무선 전송 표준과 호환적이다. 예를 들어, 무선 송수신기 회로(108)는 와이파이(WiFi)로서 공지된 무선 근거리 통신망(Wireless Local Area Network) IEEE 802.11과 호환 가능할 수 있다. 송수신기 회로(108)는 분석물 측정기(10) 부근에서 와이파이 액세스 지점을 감지하고 그러한 감지된 와이파이 액세스 지점으로부터 데이터를 전송 및 수신하도록 구성될 수 있다. 무선 송수신기 회로(109)는 블루투스 프로토콜과 호환적일 수 있고, 분석물 측정기(10) 부근에서 블루투스 비콘(beacon)으로부터 전송된 데이터를 감지 및 처리하도록 구성된다. 무선 송수신기 회로(110)는 근거리 무선통신(near field communication, "NFC") 표준과 호환 가능할 수 있고, 예를 들어 분석물 측정기(10) 부근의 다른 NFC 순응성 장치와의 무선 통신을 확립하도록 구성된다. 무선 송수신기 회로(111)는 셀룰러 네트워크(cellular network)와의 셀룰러 통신을 위한 회로를 포함할 수 있고, 이용 가능한 셀룰러 통신 타워를 감지하여 이에 연결하도록 구성된다.

전원 모듈(116)은 하우징(11) 내의 모든 모듈들 및 프로세싱 유닛(122)에 전기 접속되어 이들에 전력을 공급한다. 전원 모듈(116)은 표준형 또는 충전식 배터리(118)를 포함할 수 있거나, 분석물 측정기(10)가 AC 전력의 공급원에 접속될 때 AC 전원(117)이 작동될 수 있다. 전원 모듈(116)이 또한 프로세싱 유닛에 전력을 공급하기 위해 그리고 프로세싱 유닛(122)이 전원 모듈(116)의 배터리 전력 모드에서 잔류 전력 수준을 모니터링할 수 있도록 전기 인터페이스(123)를 거쳐 프로세싱 유닛(122)에 전기 접속된다.

도 2a 내지 도 9c는 실질적으로 평평한(평탄한) 긴 검사 스트립(200) 및 검사 스트립(200)이 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로 적어도 2개의 배향들 중 어느 하나로 삽입될 때 분석물 측정에 사용될 수 있는 스트립 포트 커넥터(104)의 실시예들을 예시한다. 도 2a 및 도 2b에 관하여, 검사 스트립(200)은 본 명세서에서 검사 스트립(200)의 상부면(202)과 하부면(204)으로 지칭되는 반대편 면들에 의해 한정된다. 구체적으로 도 2c를 참조하면, 검사 스트립(200)은 검사 스트립(200)의 대향 단부들에 배치되는 전도성 접촉 패드(206, 208)들을 구비하며, 여기서 접촉 패드(206)는 상부면(202) 상에 제공되고, 접촉 패드(208)는 검사 스트립(200)의 하부면(204) 상에 제공된다. 화살표(210)는 검사 스트립(200)의 어느 한 면(202, 204)이 위를 향하는 상태로 삽입될 수 있는, 검사 스트립 포트(22) 내로의 검사 스트립(200)의 삽입 방향을 가리킨다. 검사 스트립(200)은 샘플 챔버(212)를 포함하고, 샘플 챔버는 샘플 챔버(212)의 일 단부(213)에서 사용자에 의해 제공되는 샘플을 내부에 수용하기 위한 것이다. 전극(207, 209)들이 각각의 접촉 패드(206, 208)로부터 샘플 챔버(212)까지 각각 연장되며, 여기서 내부에 제공된 샘플은 전극(207, 209)들과 물리적으로 접촉하여, 이에 의해 검사 스트립(200)의 반대편 면(202, 204)들과 대향 단부들 상의 접촉 패드(206, 208)들 사이에서 전기 연통 경로를 확립한다.

검사 스트립(200)을 검사 스트립 포트(22) 내에 수용하는 분석물 측정기(100)는 검사 스트립(200)의 접촉 패드(206, 208)들과 맞닿는 프롱(220, 222)들과 같은 접촉부들을 각각 사용하여 접촉 패드(206, 208)들의 쌍과의 전기 접속을 이루도록 스트립 포트 커넥터(104)를 사용한다. 검사 스트립(200)이 제1 배향으로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때, 프롱들 중 하나의 프롱(222)이 하부면 접촉 패드(208)와 접촉하도록 배치되는 반면, 다른 프롱(220)이 상부면 접촉 패드(206)와 전기 접속하도록 구성된다. 검사 스트립(200)이 제2 배향으로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때, 프롱(222)은 상부면 접촉 패드(206)와 전기 접속하고, 프롱(220)은 하부면 접촉 패드(208)와 전기 접속한다.

도 2a 내지 도 2c의 예시는 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로의 삽입 시 그 배향(즉, 제1 배향 또는 제2 배향)이 검출되는 검사 스트립(200)을 도시한다. 이 실시예에 따르면, 검사 스트립(200)의 길이방향 에지를 따라 배치되는 돌출부 또는 러그(lug)(214)가 검사 스트립의 배향을 결정하도록, 예를 들어 제1 배향 및 제2 배향을 각각 나타내는, 상부 접촉 패드(206)가 위를 향하는지 또는 하부 접촉 패드(208)가 위를 향하는지 여부를 결정하도록 분석물 측정기(100)에 의해 감지될 수 있다. 제1 배향, 즉 상부 접촉 패드(206)가 위를 향하는 배향이 본 명세서에서 디폴트 배향으로 지칭될 수 있다. 일 실시예에서, 돌출부(214)는 검사 스트립(200)이 일 배향으로, 예컨대 "상부면이 위를 향하는" 상태로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때 돌출부(214)에 의해 편향될 시에 신호를 전송하는 그리고 검사 스트립(200)이 제2 배향으로, 예컨대 "하부면이 위를 향하는" 상태로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입되는 경우에 편향되지 않는, 전도성 스위치와 같은, 분석물 측정기 내의 편향가능한 전도성 요소와 함께 작동할 수 있다. 대안적으로, 기계식 마이크로스위치, 포토다이오드, 커패시턴스 센서, 또는 임의의 다른 종류의 검출기와 같은 감지 장치가 돌출부(214)의 유무를 검출하기 위해 사용될 수 있다. 도 3a 및 도 3b는, 검사 스트립(200)의 돌출부(214)가 검사 스트립(300) 내의 만입부(216)로 대체되는 것을 제외하고는, 도 2a 내지 도 2c에 관하여 방금 기술된 검사 스트립(200)과 모든 면에서 유사한 검사 스트립(300)을 예시한다. 만입부(216)는 예를 들어 검사 스트립(300)의 삽입 시에 검사 스트립(300)의 만입부(216)의 유무를 검출하는 전술된 감지 장치들 중 임의의 감지 장치를 사용함으로써, 검사 스트립을 화살표(210)로 표시된 방향으로 분석물 측정기(100) 내로 삽입할 때 검사 스트립(300)의 배향을 검출하기 위해 사용될 수 있거나, 돌출부(214)에 관하여 전술된 바와 같이, 전도성 스위치와 같은, 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내의 전도성 편향가능 요소가 만입부(216)를 검출하기 위해 사용될 수 있으며, 여기서 편향가능 요소 위에 위치된 만입부(216)는 편향가능 요소를 편향시키지 못한다.

도 4a 내지 도 4e는 실질적으로 평평한(평탄한) 긴 검사 스트립(400) 및 검사 스트립(400)이 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로 적어도 2개의 배향들 중 어느 하나로 삽입될 때 분석물 측정에 사용될 수 있는 스트립 포트 커넥터(104)의 다른 실시예를 예시한다. 도 4a 및 도 4b에 관하여, 검사 스트립(400)은 본 명세서에서 검사 스트립(400)의 상부면(402)과 하부면(404)으로 지칭되는 반대편 면들에 의해 한정된다. 구체적으로 도 4c를 참조하면, 검사 스트립(400)은 검사 스트립(400)의 일 단부에 전도성 접촉 패드(406, 428)들을 그리고 검사 스트립(400)의 대향 단부에 접촉 패드(408, 426)들을 구비하는데, 여기서 접촉 패드(406, 426)들은 상부면(402) 상에 제공되고, 접촉 패드(408, 428)들은 검사 스트립(400)의 하부면(404) 상에 제공된다. 화살표(210)는 검사 스트립(400)의 어느 한 면(402, 404)이 위를 향하는 상태로 삽입될 수 있는, 검사 스트립 포트(22) 내로의 검사 스트립(400)의 삽입 방향을 가리킨다. 검사 스트립(400)은 샘플 챔버(412)를 포함하고, 샘플 챔버는 샘플 챔버(412)의 일 단부(413)에서 사용자에 의해 제공되는 샘플을 내부에 수용하기 위한 것이다. 전극(407, 427, 409, 429)들이 각각의 접촉 패드(406, 426, 408, 428)로부터 샘플 챔버(412)까지 각각 연장되며, 여기서 내부에 제공된 샘플은 전극(407, 427, 409, 429)들과 물리적으로 접촉하여, 이에 의해 검사 스트립(400)의 반대편 면(402, 404)들과 대향 단부들 상의 접촉 패드(406, 426, 408, 428)들 사이에서 전기 연통 경로를 확립한다.

도 4a 내지 도 4c에 예시된 일 실시예에서, 검사 스트립(400)을 검사 스트립 포트(22) 내에 수용하는 분석물 측정기(100)는, 검사 스트립 포트(22) 내에서의 검사 스트립(400)의 배향에 따라, 검사 스트립(400)의 동일한 면(402, 404) 상의 대응 쌍의 접촉 패드(406-426 또는 408-428)들과 각각 맞닿는, 본 명세서에서 프롱(420, 424)(도 4c)들로 지칭되는 적어도 한 쌍의 전기 접촉부들을 구비하는 스트립 포트 커넥터를 사용하여, 한 쌍의 접촉 패드(406, 426 또는 408, 428)들과의 전기 접속을 이루도록 스트립 포트 커넥터(104)를 사용할 수 있다. 프롱(420, 424)들은 아래를 향하는 상태로 도시되어 있지만, 또한 본 명세서에 기술된 방식으로 동일한 쌍들의 접촉 패드(406-426 또는 408-428)들과 접속하도록 위를 향할 수 있다.

도 4a 및 도 4b와 도 4d 및 도 4e에 예시된 다른 실시예에서, 검사 스트립(400)을 검사 스트립 포트(22) 내에 수용하는 분석물 측정기(100)는, 검사 스트립(400)이 검사 스트립 포트(22)에서 제1(디폴트) 배향으로 삽입될 때, 검사 스트립(400)의 면(402, 404)들 상의 접촉 패드(406-426, 408-428)들의 대응하는 쌍과 각각 맞닿는, 본 명세서에서 프롱(420, 424 및 421, 425)(도 4d)들로 지칭되는 적어도 2개 세트의 전기 접촉부들을 구비하는 스트립 포트 커넥터를 사용하여, 접촉 패드(406, 426, 408, 428)들과의 전기 접속을 이루도록 스트립 포트 커넥터(104)를 사용할 수 있다. 검사 스트립(400)은 본 명세서에 기술된 방식으로, 프롱(420, 424 및 421, 425)들이 검사 스트립(400)의 면(404, 402)들 상의 대응 쌍들의 접촉 패드(408-428, 426-406)들과 각각 맞닿는 제2 배향으로 삽입될 수 있다. 도 4e는 2개 세트의 프롱(420, 424 및 421, 425)들의 일 실시예의 단부면도를 예시하는데, 여기서 상부 프롱(424)과 하부 프롱(425)은 도 4e와 관련하여 볼 수 있는 반면, 상부 프롱(420)과 하부 프롱(421)은 유사하게 구조화되며 도 4e의 도면에서 프롱(424, 425)들의 후방에 각각 위치된다. 프롱(420, 424, 421, 425)들은 가요성 스프링 아암(flexible spring arm)들을 포함하며, 이들 중 프롱(424, 425)들에 각각 대응하는 스프링 아암(410, 411)들을 도 4와 관련하여 볼 수 있다. 그러한 프롱들은 검사 스트립이 화살표(210)로 표시된 방향으로 사용자에 의해 프롱들 사이에 삽입될 때 검사 스트립(400)으로부터 멀어지는 방향으로 휘어지는 전도성 금속성 재료로부터 제조될 수 있다. 프롱(424, 425)들은 선택적 전기 커넥터(423)에 의해서, 뿐만 아니라 프롱(420, 421)들은 대응하는 전기 커넥터에 의해 전기적으로 함께 단락됨으로써, 전기 커넥터와 함께 공통 전압의 단일 회로 노드를 형성할 수 있다. 가요성 스프링 아암(410, 411)들은, 본 명세서에 기술된 바와 같이, 검사 스트립이 삽입될 때 그리고 분석물 측정 과정이 측정기(100)에 의해 착수될 때, 접촉 패드(426, 408)들과의 전기 접촉을 각각 이루도록(뿐만 아니라 프롱(420, 421)들에 대응하는 스프링 아암들이 접촉 패드(406, 428)들과 각각 전기 접촉을 이룸) 그리고 검사 스트립(400)을 이들 사이에 고정시키기에 충분한 압축력을 제공한다.

도 4a 내지 도 4e의 예시는 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로의 삽입 시 검사 스트립(400)의 배향(즉, 제1 배향 또는 제2 배향)이 검출되는 시스템을 도시한다. 이 실시예에 따르면, 검사 스트립(400)의 길이방향 에지를 따라 배치되는 돌출부 또는 러그(414)가 검사 스트립의 배향을 결정하도록, 예를 들어 제1 및 제2 배향들을 각각 나타내는, 상부 접촉 패드(406, 426)들이 위를 향하는지 또는 하부 접촉 패드(408, 428)들이 위를 향하는지 여부를 결정하도록 분석물 측정기(100)에 의해 감지될 수 있다. 제1 배향, 즉 상부 접촉 패드(406, 426)들이 위를 향하는 배향이 본 명세서에서 디폴트 배향으로 지칭될 수 있다. 일 실시예에서, 돌출부(414)는 검사 스트립(400)이 일 배향으로, 예컨대 "상부면이 위를 향하는" 상태로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때 돌출부(414)에 의해 편향될 시에 신호를 전송하는 그리고 검사 스트립(400)이 제2 배향으로, 예컨대 "하부면이 위를 향하는" 상태로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입되는 경우에 편향되지 않는, 전도성 스위치와 같은, 분석물 측정기 내의 감지 요소(415)와 함께 작동할 수 있다. 감지 장치(415)는 돌출부(414)의 유무를 검출하기 위해 기계식 마이크로스위치, 편향가능한 전도성 요소, 포토다이오드, 커패시턴스 센서, 또는 임의의 다른 적합한 검출기로서 구현될 수 있다.

도 5a 및 도 5b는 검사 스트립(400)의 돌출부(414)가 검사 스트립(500) 내의 만입부(416)로 대체되는 것을 제외하고는, 도 4a 내지 도 4e에 관하여 방금 기술된 검사 스트립(400)과 모든 면에서 유사한 검사 스트립(500)을 예시한다. 만입부(416)는, 예를 들어 검사 스트립(500)의 만입부(416)의 유무를 감지하는 기계식 마이크로스위치, 포토다이오드, 커패시턴스 센서, 또는 임의의 다른 종류의 검출기와 같은 감지 장치(415)를 사용하여, 검사 스트립을 화살표(210)로 표시된 방향으로 분석물 측정기(100) 내로 삽입할 때 검사 스트립(500)의 배향을 검출하기 위해 사용될 수 있거나, 돌출부(414)에 관하여 전술된 바와 같이, 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내의 편향가능 요소가 만입부(416)를 검출하기 위해 사용될 수 있는데, 여기서 편향가능 요소 위에 위치된 만입부(416)는 편향가능 요소를 편향시키지 못한다. 돌출부(414)와 만입부(416)가 검사 스트립(24)의 배향을 검출하기 위해 사용될 수 있는 예시적인 물리적 특징으로서 기술되었지만, 그러한 예들은 본 명세서에 기술된 실시예들을 제한하는 것으로 해석되지 않아야 한다. 다른 검출가능한 물리적 특징들이 본 명세서에 기술된 실시예들의 사상으로부터 벗어남이 없이 검사 스트립(24) 내에 형성되거나 제조될 수 있다. 예를 들어, 검사 스트립(24) 내의 자기 스트립 또는 지시기가 검사 스트립 포트(22)의 자기 릴레이(magnetic relay)에 의해 검출될 수 있다. 마찬가지로, 1D 또는 2D 바코드 스캐너, 또는 추가 예로서 분석물 측정기(100) 내의 광학 패턴 정합 시스템과 같은 광학 판독기에 의해 검출될 수 있는 회전 변형 또는 불변 광학 특징들이 검사 스트립(24)에 인쇄되거나 검사 스트립 내에 매립될 수 있다. 게다가, 검사 스트립(24) 배향을 결정하기 위한 본 명세서에 기술된 다양한 메커니즘들 및 방법들이 조합되어 사용될 수 있으며, 이는 결정된 검사 스트립(24) 배향의 확인으로서 역할할 수 있다.

도 6a 내지 도 6c는 실질적으로 평평한(평탄한) 긴 검사 스트립(600) 및 검사 스트립(600)이 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로 적어도 2개의 배향들 중 어느 하나로 삽입될 때 분석물 측정에 사용될 수 있는 스트립 포트 커넥터(104)의 다른 실시예를 예시한다. 도 6a 및 도 6b에 관하여, 검사 스트립(600)은 본 명세서에서 검사 스트립(600)의 상부면(602)과 하부면(604)으로 지칭되는 반대편 면들에 의해 한정된다. 구체적으로 도 6c를 참조하면, 검사 스트립(600)은 검사 스트립(600)의 대향 단부들에 배치되는 전도성 접촉 패드(606, 608)들을 구비하며, 여기서 접촉 패드(606)는 상부면(602) 상에 제공되고, 접촉 패드(208)는 검사 스트립(600)의 하부면(604) 상에 제공된다. 화살표(210)는 검사 스트립(600)의 어느 한 면(602, 604)이 위를 향하는 상태로 삽입될 수 있는, 검사 스트립 포트(22) 내로의 검사 스트립(600)의 삽입 방향을 가리킨다. 검사 스트립(600)은 샘플 챔버(612)를 포함하고, 샘플 챔버는 샘플 챔버(612)의 일 단부(613)에서 사용자에 의해 제공되는 샘플을 내부에 수용하기 위한 것이다. 전극(607, 609)들이 각각의 접촉 패드(606, 608)로부터 샘플 챔버(612)까지 각각 연장되며, 여기서 내부에 제공된 샘플은 전극(607, 609)들과 물리적으로 접촉하여, 이에 의해 검사 스트립(600)의 반대편 면(602, 604)들과 대향 단부들 상의 접촉 패드(606, 608)들 사이에서 전기 연통 경로를 확립한다.

접촉 패드(606)들 중 하나는 비전도성인 경계부(605)를 포함한다. 이러한 경계부(605)는 접촉 패드(606)의 전도성 재료의 융제(ablation)에 의해, 예를 들어 레이저 융제를 사용하여 형성될 수 있거나, 다른 실시예에서, 비전도성 경계부(605)에 의해 둘러싸인 영역이 비전도성 패치로서 완전히 형성될 수 있다. 검사 스트립이 삽입되는 분석물 측정기(100)는 검사 스트립(600)의 일 단부에 근접한 2개의 프롱(620, 621)들을 포함하는데, 여기서 접촉점(614)들로 표시된 바와 같이, 검사 스트립의 상부면(602)이 위를 향할 때, 하나의 프롱(620)은 경계부(605) 내의 접촉 패드(606)의 영역과 전기 접촉하기 위해 사용되고, 다른 프롱(621)은 경계부(605) 밖의 접촉 패드(606)의 영역과 접촉하기 위해 사용된다. 프롱(620, 621)들이 접촉 패드(606)의 경계부(605) 내의 영역 및 경계부(605) 밖의 영역과 각각 물리적으로 동시에 접촉하는 동안에, 분석물 측정기(100)의 이들 2개의 프롱(620, 621)들 사이의 저항이 측정될 수 있다. 프롱(620, 621)들이 접촉점(614)들과 접촉하고 있을 때 프롱들 사이에 전도성 경로가 없기 때문에 높은 저항이 측정됨으로써, 검사 스트립(600)의 배향이 "상부면이 위를 향하는" 배향인 것을 나타낼 것이다. 따라서, 높은 저항에 기초하여 검사 스트립(600)의 제1 배향이 결정될 수 있고, 본 명세서에서 디폴트 배향으로 지칭될 수 있다.

검사 스트립(600)의 일 단부에 근접한 2개의 프롱(620, 621)들은, 접촉점(615)들로 표시된 바와 같이, 하부면(604)이 위를 향하는 상태로(도 6b) 검사 스트립(600)이 검사 스트립 포트 내로 삽입될 때 접촉 패드(608)에 전기 접속될 수 있다. 프롱(620, 621)들이 접촉 패드(608)와 물리적으로 동시에 접촉하는 동안 분석물 측정기(100)의 프롱(620, 621)들 사이의 저항이 측정될 수 있다. 접촉 패드(608)가 완전히 전도성이기 때문에 낮은 저항이 측정됨으로써, 검사 스트립(600)의 배향이 "하부면이 위를 향하는" 배향인 것을 나타낼 것이다. 따라서, 낮은 측정된 저항에 기초하여 검사 스트립(600)의 제2 배향이 결정될 수 있다. 검사 스트립(600)의 일 단부에 근접한 2개의 프롱(620, 621)들을 사용한 이들 측정된 저항에 기초하여, 분석물 측정기(100)는 검사 스트립(600)이 어떤 배향으로 삽입되었는지를 결정할 수 있다.

검사 스트립(600)을 검사 스트립 포트(22) 내에 수용하는 분석물 측정기(100)는 검사 스트립(600)의 접촉 패드(606, 608)들과 맞닿는, 본 명세서에서 프롱(621, 622)들로 각각 지칭되는 적어도 한 쌍의 전기 접촉부들을 구비하는 스트립 포트 커넥터를 사용하여 접촉 패드(606, 608)들과의 전기 접속을 이루도록 스트립 포트 커넥터(104)를 사용한다. 검사 스트립이 제1 배향으로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때, 프롱(622)들 중 하나가 하부면 접촉 패드(608)와 접촉하도록 배치되는 반면, 다른 프롱(621)이 상부면 접촉 패드(606)와 전기 접촉하도록 구성된다. 검사 스트립(600)이 제2 배향으로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때, 프롱(622)은 상부면 접촉 패드(606)와 전기 접속하고, 프롱(621)은 하부면 접촉 패드(608)와 전기 접속한다.

도 7a 내지 도 7c는 실질적으로 평평한(평탄한) 긴 검사 스트립(700) 및 검사 스트립(700)이 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로 적어도 2개의 배향들 중 어느 하나로 삽입될 때 분석물 측정에 사용될 수 있는 스트립 포트 커넥터(104)의 다른 실시예를 예시한다. 도 7a 및 도 7b에 관하여, 검사 스트립(700)은 본 명세서에서 검사 스트립(700)의 상부면(702)과 하부면(704)으로 지칭되는 반대편 면들에 의해 한정된다. 구체적으로 도 7c를 참조하면, 검사 스트립(700)은 검사 스트립(700)의 일 단부에 전도성 접촉 패드(706, 728)들을 그리고 검사 스트립(700)의 대향 단부에 접촉 패드(708, 726)들을 구비하는데, 여기서 접촉 패드(706, 726)들은 상부면(702) 상에 제공되고, 접촉 패드(708, 728)들은 검사 스트립(700)의 하부면(704) 상에 제공된다. 화살표(210)는 검사 스트립(700)의 어느 한 면(702, 704)이 위를 향하는 상태로 삽입될 수 있는, 검사 스트립 포트(22) 내로의 검사 스트립(700)의 삽입 방향을 가리킨다. 검사 스트립(700)은 샘플 챔버(712)를 포함하고, 샘플 챔버는 샘플 챔버(712)의 일 단부(713)에서 사용자에 의해 제공되는 샘플을 내부에 수용하기 위한 것이다. 전극(707, 727, 709, 729)들이 각각의 접촉 패드(706, 708, 726, 728)로부터 샘플 챔버(712)까지 각각 연장되며, 여기서 샘플 챔버 내에 제공된 샘플은 전극(707, 709, 727, 729)들과의 물리적 접촉을 이루고, 이에 의해 검사 스트립(700)의 반대편 면(702, 704)들과 대향 단부들 상의 접촉 패드(706, 726, 708, 728)들 사이에서 전기 연통 경로를 확립한다.

접촉 패드들 중 2개의 접촉 패드(706, 728)들은 비전도성인 경계부(705, 727)를 각각 포함한다. 이러한 경계부(705, 727)들은 접촉 패드(706, 728)들의 전도성 재료의 융제에 의해, 예를 들어 레이저 융제를 사용하여 형성될 수 있거나, 다른 실시예에서, 비전도성 경계부(705, 727)들에 의해 둘러싸인 영역이 비전도성 패치로서 완전히 형성될 수 있다. 검사 스트립(700)이 삽입되는 분석물 측정기(100)는 검사 스트립(700)의 일 단부에 근접한 2개의 프롱(720, 721)들을 포함한다. 접촉점(714)들로 표시된 바와 같이, 검사 스트립의 상부면(702)이 위를 향할 때 하나의 프롱(720)은 경계부(705) 내의 접촉 패드(706)의 영역과 전기 접촉하기 위해 사용되고 다른 프롱(721)은 경계부(705) 밖의 접촉 패드(706)의 영역과 접촉하기 위해 사용된다. 프롱(720, 721)들이 접촉 패드(706)의 경계부(705) 내의 영역 및 경계부(705) 밖의 영역과 각각 물리적으로 동시에 접촉하는 동안에, 분석물 측정기(100)의 이들 2개의 프롱(720, 721)들 사이의 저항이 측정될 수 있다. 프롱(720, 721)들이 접촉점(714)들과 접촉하고 있을 때 프롱들 사이에 전도성 경로가 없기 때문에 높은 저항이 측정됨으로써, 검사 스트립(700)의 배향이 "상부면이 위를 향하는" 배향인 것을 나타낼 것이다. 따라서, 높은 저항에 기초하여 검사 스트립(700)의 제1 배향이 결정될 수 있고, 본 명세서에서 디폴트 배향으로 지칭될 수 있다.

검사 스트립(700)의 일 단부에 근접한 2개의 프롱(720, 721)들은, 접촉점(715)들로 표시된 바와 같이, 하부면(704)이 위를 향하는 상태로(도 7b) 검사 스트립(700)이 검사 스트립 포트 내로 삽입될 때 접촉 패드(708)에 전기 접속될 수 있다. 프롱(720, 721)들이 접촉 패드(708)와 물리적으로 동시에 접촉하는 동안 분석물 측정기(100)의 프롱(720, 721)들 사이의 저항이 측정될 수 있다. 접촉 패드(708)가 완전히 전도성이기 때문에 낮은 저항이 측정됨으로써, 검사 스트립(700)의 배향이 "하부면이 위를 향하는" 배향인 것을 나타낼 것이다. 따라서, 낮은 측정된 저항에 기초하여 검사 스트립(700)의 제2 배향이 결정될 수 있다. 검사 스트립(700)의 일 단부에 근접한 2개의 프롱(720, 721)들을 사용한 이들 측정된 저항에 기초하여, 분석물 측정기(100)는 검사 스트립(700)이 어떤 배향으로 삽입되었는지를 결정할 수 있다.

검사 스트립(700)을 검사 스트립 포트(22) 내에 수용하는 분석물 측정기(100)는, 검사 스트립 포트(22) 내에서의 검사 스트립(700)의 배향에 따라, 검사 스트립(700)의 동일한 면(702, 704) 상의 대응 쌍의 접촉 패드(706-726 또는 708-728)들과 각각 맞닿는, 본 명세서에서 프롱(721, 724)들로 지칭되는 적어도 한 쌍의 전기 접촉부들을 구비하는 스트립 포트 커넥터를 사용하여, 한 쌍의 접촉 패드(706, 726 또는 708, 728)들과의 전기 접속을 이루기 위해 스트립 포트 커넥터(104)를 사용한다. 프롱(720, 721, 724)들은 아래를 향하는 상태로 도시되어 있지만, 또한 본 명세서에 기술된 방식으로 동일한 쌍들의 접촉 패드(706-726 또는 708-728)들과 전기 접속하도록 위를 향할 수 있다.

도 8a 내지 도 8c는 실질적으로 평평한(평탄한) 긴 검사 스트립(800) 및 검사 스트립(800)이 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로 적어도 2개의 배향들 중 어느 하나로 삽입될 때 분석물 측정에 사용될 수 있는 스트립 포트 커넥터(104)의 실시예를 예시한다. 도 8a 및 도 8b에 관하여, 검사 스트립(800)은 본 명세서에서 검사 스트립(800)의 상부면(802)과 하부면(804)으로 지칭되는 반대편 면들에 의해 한정된다. 구체적으로 도 8c를 참조하면, 검사 스트립(800)은 검사 스트립(800)의 대향 단부들에 배치되는 전도성 접촉 패드(806, 808)들을 구비하며, 여기서 접촉 패드(806)는 상부면(802) 상에 제공되고, 접촉 패드(808)는 검사 스트립(800)의 하부면(804) 상에 제공된다. 화살표(210)는 검사 스트립(800)의 어느 한 면(802, 804)이 위를 향하는 상태로 삽입될 수 있는, 검사 스트립 포트(22) 내로의 검사 스트립(800)의 삽입 방향을 가리킨다. 검사 스트립(800)은 샘플 챔버(812)를 포함하고, 샘플 챔버는 샘플 챔버(812)의 일 단부(813)에서 사용자에 의해 제공되는 샘플을 내부에 수용하기 위한 것이다. 전극(807, 809)들이 각각의 접촉 패드(806, 808)로부터 샘플 챔버(812)까지 각각 연장되며, 여기서 내부에 제공된 샘플은 전극(807, 809)들과 물리적으로 접촉하여, 이에 의해 검사 스트립(800)의 반대편 면(802, 804)들과 대향 단부들 상의 접촉 패드(806, 808)들 사이에서 전기 연통 경로를 확립한다.

검사 스트립(800)을 검사 스트립 포트(22) 내에 수용하는 분석물 측정기(100)는 검사 스트립(800)의 접촉 패드(806, 808)들과 맞닿는, 본 명세서에서 프롱(820, 822)들로 각각 지칭되는 적어도 한 쌍의 전기 접촉부들을 구비하는 스트립 포트 커넥터를 사용하여 접촉 패드(806, 808)들의 쌍과의 전기 접속을 이루도록 스트립 포트 커넥터(104)를 사용한다. 검사 스트립(800)이 제1 배향, 즉 "디폴트" 배향으로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때, 프롱들 중 하나의 프롱(822)이 하부면 접촉 패드(808)와 접촉하도록 배치되는 반면, 다른 프롱(820)이 상부면 접촉 패드(806)와 접속하도록 구성된다. 검사 스트립(800)이 제2 배향으로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때, 프롱(822)은 상부면 접촉 패드(806)와 전기 접속하고, 프롱(820)은 하부면 접촉 패드(808)와 전기 접속한다.

도 9a 내지 도 9c는 실질적으로 평평한(평탄한) 긴 검사 스트립(900) 및 검사 스트립(900)이 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로 적어도 2개의 배향들 중 어느 하나로 삽입될 때 분석물 측정에 사용될 수 있는 스트립 포트 커넥터(104)의 다른 실시예를 예시한다. 도 9a 및 도 9b에 관하여, 검사 스트립(900)은 본 명세서에서 검사 스트립(900)의 상부면(902)과 하부면(904)으로 지칭되는 반대편 면들에 의해 한정된다. 구체적으로 도 9c를 참조하면, 검사 스트립(900)은 검사 스트립(900)의 일 단부에 전도성 접촉 패드(906, 928)들을 그리고 검사 스트립(900)의 대향 단부에 접촉 패드(908, 926)들을 구비하는데, 여기서 접촉 패드(906, 926)들은 상부면(902) 상에 제공되고, 접촉 패드(908, 928)들은 검사 스트립(900)의 하부면(904) 상에 제공된다. 화살표(210)는 검사 스트립(900)의 어느 한 면(902, 904)이 위를 향하는 상태로 삽입될 수 있는, 검사 스트립 포트(22) 내로의 검사 스트립(900)의 삽입 방향을 가리킨다. 검사 스트립(900)의 디폴트 배향이, 본 명세서에서 면(902)이 위를 향하는 배향으로 지칭될 수 있다. 검사 스트립(900)은 샘플 챔버(912)를 포함하고, 샘플 챔버는 샘플 챔버(912)의 일 단부(913)에서 사용자에 의해 제공되는 샘플을 내부에 수용하기 위한 것이다. 전극(907, 927, 909, 929)들이 각각의 접촉 패드(906, 926, 908, 928)로부터 샘플 챔버(912)까지 각각 연장되며, 여기서 내부에 제공된 샘플은 전극(907, 927, 909, 929)들과 물리적으로 접촉하여, 이에 의해 검사 스트립(900)의 반대편 면(902, 904)들과 대향 단부들 상의 접촉 패드(906, 926, 908, 928)들 사이에서 전기 연통 경로를 확립한다.

검사 스트립(900)을 검사 스트립 포트(22) 내에 수용하는 분석물 측정기(100)는, 검사 스트립 포트(22) 내에서의 검사 스트립(900)의 배향에 따라, 검사 스트립(900)의 동일한 면(902, 904) 상의 대응 쌍의 접촉 패드(906-926 또는 908-928)들과 각각 맞닿는, 본 명세서에서 프롱(920, 924)들로 지칭되는 적어도 한 쌍의 전기 접촉부들을 구비하는 스트립 포트 커넥터를 사용하여, 한 쌍의 접촉 패드(906, 926 또는 908, 928)들과의 전기 접속을 이루기 위해 스트립 포트 커넥터(104)를 사용한다. 프롱(920, 924)들은 아래를 향하는 상태로 도시되어 있지만, 또한 본 명세서에 기술된 방식으로 동일한 쌍들의 접촉 패드(906-926 또는 908-928)들과 접속하도록 위를 향할 수 있다.

도 8a 내지 도 8c 및 도 9a 내지 도 9c의 예시는 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로의 삽입 후 그리고 샘플을 샘플 챔버(812, 912) 내에 제공 시 그 배향(즉, 제1 배향 또는 제2 배향)이 검출되는 검사 스트립(800, 900)들을 도시한다. 전술된 바와 같이, 예를 들어 페리시안화물을 포함할 수 있는 매개 물질이 도 8a, 도 9a 및 도 9b의 예시적인 검사 스트립들 내의 전극(807, 907, 909)들로 각각 지정될, 검사 스트립 내의 전극들 중 하나의 전극, 즉 작업 전극 상에 침착되지만, 이들에 대응하는 대향 전극들이 대신에 작업 전극으로 지정될 수 있다. 매개 물질은 하나 이상의 성분들을 포함할 수 있으며, 성분들은 본 명세서에 기술된 바와 같이 샘플 챔버(812, 912) 내에서의 인가 시 샘플과 혼합되고, 대응하는 접촉 패드들에 전기 접속된 분석물 측정기 접촉부(820, 822, 920, 924)들을 각각 통해 전극(807, 809, 907-927 또는 909-929)들을 사용하여 성분들을 통한 포도당 측정 전류의 생성에 사용된다. 샘플 챔버 내에서의 샘플과 매개 물질의 그러한 혼합은 평형된 초기의 샘플 및 매개 물질 혼합물이 샘플 챔버 내에서 달성될 때까지 유한한 시간이 걸리며, 이 시간 동안 또는 이 시간 후에, 포도당 측정 입력 신호가 포도당 검사의 목적을 위해 혼합물에 인가된다. 샘플이 샘플 챔버(812, 912)에 인가된 직후에, 샘플은 대응하는 전극들과 물리적 접속을 확립함으로써, 샘플 챔버(812, 912)의 대향 면들 상의 전극들을 전기화학적으로 접속한다. 전극(807, 809, 907-927 또는 909-929)들 사이의 전기화학적 특성들은, 매개 물질이 전극들 중 단지 하나의 전극 상에만, 예컨대 검사 스트립(800)의 전극(807) 상에 그리고 예를 들어 검사 스트립(900)의 전극(907, 909)들 상에 존재함으로 인해 비대칭이다. 이는 이들 전극의 비대칭 전기적 또는 전기화학적 특성을 검출함으로써 검사 스트립의 배향이 확인될 수 있는 지속 시간을 생성한다.

방금 기술된 비대칭 전기적/전기화학적 특성의 일례가 도 10에 예시되어 있다. 이 예에서, 밀리초 단위로 측정되는, 수평축 상의 시각 0은 샘플이 검사 스트립(800, 900)에 인가되는 시간을 가리킨다. 제공된 샘플이 예를 들어 검사 스트립(800)의 전극(807, 809)들 또는 검사 스트립(900)의 전극(907, 927 및 909, 929)들과의 물리적 접촉을 이룰 때, 이들 전극 사이에서 측정되는 바와 같은 전압 전위는 제공된 샘플과 매개 물질이 완전히 혼합되기 전에 발생하는 전압 스윙(1002, 1004)들에 의해 표시된다. 이러한 예시적인 실시예에서, 개회로 정전류 전위차계(open circuit galvanostatic potentiometry)가 전압 전위를 측정하기 위해 사용된다. 도 10에 도시된 전압 스윙(1002, 1004)들은 3개가 양의 진행 방향이고 3개가 음의 진행 방향인 6개의 검사 경우들을 예시하는데, 이들은 검사 스트립(800, 900)에서 샘플의 인가에 의해 생성되는 검출가능한 전압 전위를 명확하게 보여준다. 전압 전위는 매개 물질이 상부에 침착된 작업 전극(807 또는 907, 909)을 향해 스윙할 것이다. 따라서, 검사 스트립에의 샘플의 인가 후에 약 이백(200) 내지 삼백(300) 밀리초의 지속 시간(1006)이 존재하는데, 여기서 양의 또는 음의 진행 전압 전위 파형은 양의 또는 음의 피크에 도달하고, 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내에서의 검사 스트립(800, 900)의 배향을 결정하기 위해 마이크로컨트롤러(122)의 프로그래밍된 작동에 의해 쉽고 명확하게 검출될 수 있다. 양의 또는 음의 진행 전압 전위 파형은 심지어 검사 스트립에의 샘플의 인가 후에 약 1000 밀리초까지 검출될 수 있다. 도 10에 도시된 예시적인 그래프에서, 양의 진행 전압 스윙(1002)들은 아래를 향하는 검사 스트립(800, 900)의 상부면(802, 902)을 각각 가리킨다. 음의 진행 전압 스윙(1004)은 위를 향하는 검사 스트립(800, 900)의 상부면(802, 902)을 각각 가리킨다.

짧은 지속 시간, 예컨대 1초 미만 또는 300 밀리초 미만의 지속 시간의 개회로(0 암페어) 정전류 전위차계를 사용하는 하나의 이점은, 전위차 삽입 배향 신호가 최소 간섭으로 검출될 수 있게 하거나 후속 전류 측정 포도당 측정 전류에 영향을 미칠 수 있게 한다는 것인데, 그 이유는 배향 검출 측정 단계의 지속 시간에 걸쳐 전기화학 전지 내부로부터 전류가 인출되지도 않고 외부 전위가 인가되지도 않기 때문이다.

분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내에서의 검사 스트립(24) 삽입 배향의 결정을 기술하는 도 2a 내지 도 9c에 예시된 상기 예들의 전부에서, 검사 스트립의 배향이 결정된 후, 포도당 측정 전류가 도 2c의 예의 분석물 측정기(100) 접촉부(220), 도 4c의 예의 접촉부(420), 도 6c의 예의 접촉부(621), 도 7c의 예의 접촉부(721), 도 8c의 예의 접촉부(820), 및 도 9c의 예의 접촉부(920)를 통해 샘플에 인가될 수 있다. 포도당 측정 전류는 혈당 수준이 정확하게 측정될 수 있도록 적절한 극성으로 인가된다. 정확한 극성의 포도당 측정 입력 신호의 인가는 검사 스트립(24)의 배향의 전술된 결정에 따라 분석물 측정기(100) 접촉부에 그리고 이에 의해 검사 스트립(24)의 접촉 패드에 인가되는 신호의 극성을 역전시키거나 역전시키지 않을 수 있는 회로를 프로그래밍 가능하게 제어하는 마이크로컨트롤러(122)를 포함한다.

도 11a는 검사 스트립(24)이 상부면이 위를 향하는 상태로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때 분석물 측정기(100)에 의해 전술된 예시적인 접촉부들에 제어가능하게 인가되는 입력 신호 전압(1102), 즉 디폴트 분석물 측정 입력 신호를 예시한다. 도 11b는 검사 스트립(24)이 하부면이 위를 향하는 상태로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때 분석물 측정기(100)에 의해 전술된 예시적인 접촉부들에 제어가능하게 인가되는 분석물 측정 입력 신호(1104)를 예시한다. 일 실시예에서, 상부면이 위를 향하는 배향의 검사 스트립(24)에 인가되는 전압은 약 1초 동안의 약 + 20 ㎷의 전압, 뒤이어서 약 3초 동안의 약 + 300 ㎷의 전압, 뒤이어서 약 1초 동안의 약 - 300 ㎷의 전압 수준을 포함한다. 이들 인가된 전압은 전술된 바와 같이 샘플의 포도당 수준을 결정하기 위해 사용되는 포도당 측정 전류를 샘플 내에서 발생시킨다. 분석물 측정기(100) 내에서 하부면이 위를 향하게 배향된 것으로 결정된 검사 스트립(24)은, 전술된 바와 같은 분석물 측정기(100) 접촉부들을 통해 검사 스트립에 인가되는 도 11b의 전압 파형(1104), 즉 도 11a의 디폴트 입력 신호 파형의 역 또는 반대 극성인 역 분석물 측정 입력 신호를 가질 것이다. 포도당 전류를 측정하기 위해 그러한 분석물 측정 입력 신호들을 인가하는 예시적인 분석물 측정기가, 마치 본 출원 내에 완전히 기재된 것처럼 본 명세서에 참고로 포함된, 발명의 명칭이 "대조 용액을 생리적 샘플과 구별하기 위한 시스템 및 방법(Systems and Methods of Discriminating Control Solution from a Physiological Sample)"인 미국 특허 출원 공개 제2009/0084687 A1호에 기술되어 있다.

도 12는 본 명세서에 기술된 바와 같은 분석물 측정기(100)의 작동 방법을 보여주는 예시적인 플로우차트를 도시한다. 단계(1201)에서, 분석물 측정기(100)는 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입되는 검사 스트립(24)을 수용한다. 단계(1202)에서, 분석물 측정기(100)는 삽입된 검사 스트립(24)의 배향을 본 명세서에 기술된 바와 같은 기계적, 광학적 또는 전기적 검출 수단 또는 이들의 조합 중 임의의 것을 사용하여 결정한다. 결정 단계(1202)는, 전술된 바와 같이 결정 수단이 샘플에 검사 신호들을 인가하기 위해 샘플의 존재를 필요로 하는지 여부에 따라, 또는 검사 스트립(24)이 삽입 시 측정기(100)에 의해 검출되는 물리적 특징들을 포함하는지 여부에 따라, 샘플이 검사 스트립(24)에 인가되기 전 또는 후에 수행될 수 있다. 단계(1202)에서 검사 스트립이 디폴트 배향 상태에 있는 것으로 결정되면, 샘플을 샘플 챔버 내에 수용할 때, 단계(1203)에서 디폴트 분석물 측정 입력 신호가 샘플에 인가된다. 단계(1202)에서 검사 스트립이 디폴트 배향 상태에 있지 않은 것으로 결정되면, 샘플을 샘플 챔버 내에 수용할 때, 단계(1204)에서 역 분석물 측정 입력 신호(디폴트의 역)가 샘플에 인가된다. 단계(1205)에서, 분석물 측정기(100)가 샘플의 분석물 수준을 결정하기 위해 분석물 측정기(100)에 의해 사용되는 검사 스트립 내의 샘플을 통해 흐르는 전류 수준에 대응하는 출력 신호를 검사 스트립(24)으로부터 수신한다.

당업자에 의해 인식되는 바와 같이, 본 발명의 태양들은 시스템, 방법, 또는 컴퓨터 프로그램 제품으로서 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명의 태양들은 전적으로 하드웨어인 실시예, 전적으로 소프트웨어인 실시예(펌웨어, 상주 소프트웨어, 마이크로-코드 등을 포함), 또는 본 명세서에서 일반적으로 "회로", "회로소자(circuitry)", "모듈", "서브시스템" 및/또는 "시스템"으로서 모두 언급될 수 있는 소프트웨어 및 하드웨어 태양들을 조합한 실시예의 형태를 취할 수 있다. 또한, 본 발명의 태양들은 컴퓨터 판독 가능 프로그램 코드가 통합된 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 매체(들)에 통합된 컴퓨터 프로그램 제품의 형태를 취할 수 있다.

하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 매체(들)의 임의의 조합이 이용될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 매체는 컴퓨터 판독 가능 신호 매체 또는 컴퓨터 판독 가능 저장 매체일 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 저장 매체는, 예를 들어 전자, 자기, 광, 전자기, 적외선 또는 반도체 시스템, 기구 또는 장치, 또는 전술한 것들의 임의의 적합한 조합일 수 있지만 이로 한정되지 않는다. 컴퓨터 판독 가능 저장 매체의 보다 구체적인 예들은 하기를 포함한다: 하나 이상의 와이어들을 갖는 전기 접속부, 휴대용 컴퓨터 디스켓, 하드 디스크, 랜덤 액세스 메모리(RAM), 판독 전용 메모리(ROM), 삭제 가능 프로그램 가능 판독 전용 메모리(erasable programmable read-only memory, EPROM; 또는 플래시 메모리), 광 섬유, 휴대용 콤팩트 디스크 판독 전용 메모리(CD-ROM), 광 저장 장치, 자기 저장 장치, 또는 전술한 것들의 임의의 적합한 조합. 본 명세서의 맥락에서, 컴퓨터 판독 가능 저장 매체는 명령 실행 시스템, 기구 또는 장치에 의해 또는 이와 관련하여 사용되는 프로그램을 포함 또는 저장할 수 있는 임의의 유형의(tangible) 비일시적(non-transitory) 매체일 수 있다.

컴퓨터 판독 가능 매체에 통합된 프로그램 코드 및/또는 실행 가능 명령어는, 무선, 유선, 광 섬유 케이블, RF 등, 또는 전술한 것들의 임의의 적합한 조합을 포함하지만 이로 한정되지 않는 임의의 적합한 매체를 사용하여 전송될 수 있다.

컴퓨터 프로그램 명령어는 컴퓨터, 다른 프로그램 가능 데이터 처리 기구, 또는 다른 장치들에 로딩(loading)되어, 일련의 작동 단계들이 컴퓨터, 다른 프로그램 가능 기구 또는 다른 장치들에서 수행되게 하여, 컴퓨터 또는 다른 프로그램 가능 기구에서 실행되는 명령어가 플로우차트 및/또는 블록 다이어그램의 블록 또는 블록들에서 한정된 기능/행위를 구현하기 위한 프로세스를 제공하도록 컴퓨터 구현 프로세스를 생성하게 한다.

또한, 본 명세서에서 기술된 다양한 방법들이 상용 소프트웨어(off-the-shelf software) 개발 도구를 사용하여 소프트웨어 코드를 생성하는 데 사용될 수 있다. 그러나, 이 방법들은 방법들을 코딩하는 새로운 소프트웨어 언어의 요건 및 이용가능성에 따라 다른 소프트웨어 언어로 변환될 수 있다.

본 발명을 특정한 변화 및 예시적 도면으로 설명하였지만, 당업자는 본 발명이 설명된 변화 또는 도면에 제한되지 않음을 인지할 것이다. 추가로, 상기 설명된 방법 및 단계가 소정 순서로 일어나는 소정 사건을 나타내는 경우에, 당업자는 소정 단계의 순서가 변경될 수 있고, 그러한 변경은 본 발명의 변화에 따름을 인지할 것이다. 추가로, 소정 단계는 가능한 경우에 병렬 과정으로 동시에 수행될 수도 있고, 또한 상기 설명된 바와 같이 순차적으로 수행될 수도 있다. 따라서, 본 발명의 개시 내용의 사상 내에 있거나 특허청구범위에서 발견되는 발명과 동등한 본 발명의 변화가 존재할 경우, 본 특허는 이들 변화를 또한 포함하는 것으로 의도된다.

10 분석물 측정기
11 하우징, 측정기
13 데이터 포트
14 디스플레이
16 사용자 인터페이스 버튼
22 스트립 포트 커넥터
24 검사 스트립
100 분석물 측정 시스템
101 메모리 모듈
102 버튼 모듈
103 사용자 인터페이스 모듈
104 스트립 포트 커넥터
105 마이크로컨트롤러 설정 모듈
106 송수신 모듈
107 안테나
108 와이파이 모듈
109 블루투스 모듈
110 NFC 모듈
111 GSM 모듈
112 RAM 모듈
113 ROM 모듈
114 외부 저장소
115 광원 모듈
116 전원 모듈
117 AC 전원
118 배터리 전원
119 디스플레이 모듈
120 오디오 모듈
121 스피커
122 마이크로컨트롤러(프로세싱 유닛)
123 통신 인터페이스
125 아날로그 전방 단부 서브시스템
140 데이터 관리 유닛
200 검사 스트립
202 검사 스트립 상부면
204 검사 스트립 하부면
206 접촉 패드
207 전극
208 접촉 패드
209 전극
210 방향(화살표)
212 샘플 챔버
213 샘플 챔버의 일 단부
214 돌출부(러그)
216 만입부
220 접촉부(프롱)
222 접촉부(프롱)
300 검사 스트립
400 검사 스트립
402 검사 스트립 상부면
404 검사 스트립 하부면
406 접촉 패드
407 전극
408 접촉 패드
409 전극
410 스프링 아암
411 스프링 아암
412 샘플 챔버
413 샘플 챔버의 일 단부
414 돌출부(러그)
415 돌출부(러그) 또는 만입부를 위한 센서
416 만입부
420 접촉부(프롱)
421 접촉부(프롱)
423 전기 커넥터
424 접촉부(프롱)
425 접촉부(프롱)
426 접촉 패드
427 전극
428 접촉 패드
429 전극
500 검사 스트립
600 검사 스트립
602 검사 스트립 상부면
604 검사 스트립 하부면
605 비전도성 경계부
606 접촉 패드
607 전극
608 접촉 패드
609 전극
612 샘플 챔버
613 샘플 챔버의 일 단부
614 접촉점들
615 접촉점들
620 접촉부(프롱)
621 접촉부(프롱)
622 접촉부(프롱)
700 검사 스트립
702 검사 스트립 상부면
704 검사 스트립 하부면
706 접촉 패드
707 전극
708 접촉 패드
709 전극
712 샘플 챔버
713 샘플 챔버의 일 단부
714 접촉점들
715 접촉점들
720 접촉부(프롱)
721 접촉부(프롱)
724 접촉부(프롱)
725 비전도성 경계부
726 접촉 패드
727 전극
728 접촉 패드
729 전극
800 검사 스트립
802 검사 스트립 상부면
804 검사 스트립 하부면
806 접촉 패드
807 전극
808 접촉 패드
809 전극
812 샘플 챔버
813 샘플 챔버의 일 단부
820 접촉부(프롱)
822 접촉부(프롱)
900 검사 스트립
902 검사 스트립 상부면
904 검사 스트립 하부면
906 접촉 패드
907 전극
908 접촉 패드
909 전극
912 샘플 챔버
913 샘플 챔버의 일 단부
920 접촉부(프롱)
924 접촉부(프롱)
926 접촉 패드
927 전극
928 접촉 패드
929 전극
1002 전압 스윙(양)
1004 전압 스윙(음)
1006 시점
1102 인가된 전압 파형
1104 인가된 전압 파형
1201 단계 - 검사 스트립을 검사 스트립 포트 내에 수용함
1202 단계 - 검사 스트립이 디폴트 배향인가?
1203 단계 - 디폴트 분석물 측정 입력 신호를 인가함
1204 단계 - 역 분석물 측정 입력 신호를 인가함
1205 단계 - 검사 스트립으로부터 수신된 신호에 기초하여 분석물 수준을 결정함

Claims

분석물 측정기(analyte meter)로서,
검사 스트립(test strip)을 수용하도록 구성되는 검사 스트립 포트(port)로서,
상기 검사 스트립이 상기 검사 스트립 포트 내로 삽입될 때 상기 검사 스트립 상에 배치된 대응하는 접촉 패드에 전기 접속되도록 각각 구성되는 복수의 접촉부들을 포함하는 스트립 포트 커넥터, 및
상기 검사 스트립의 배향을 검출하기 위한 검사 스트립 배향 검출기
를 포함하는, 상기 검사 스트립 포트; 및
상기 스트립 포트 커넥터에 전기 접속되고, 상기 검사 스트립 배향 검출기로부터의 제1 신호에 응답하여 상기 커넥터의 제1 접촉부에 사전결정된 신호를 인가하도록 그리고 상기 검사 스트립 배향 검출기로부터의 제2 신호에 응답하여 상기 제1 접촉부에 제2의 사전결정된 신호를 인가하도록 구성되는, 제어 회로
를 포함하는, 분석물 측정기.
제1항에 있어서, 상기 검사 스트립 배향 검출기는 상기 검사 스트립의 특징을 감지하도록 구성되는 센서를 포함하고, 상기 특징은 상기 검사 스트립의 배향을 나타내는, 분석물 측정기.
제2항에 있어서, 상기 센서는 상기 검사 스트립의 배향을 나타내는 상기 검사 스트립 상의 돌출부와 접촉하고 상기 돌출부와의 접촉에 기초하여 전기 신호를 전송하도록 구성되는, 분석물 측정기.
제2항에 있어서, 상기 센서는 상기 검사 스트립의 배향을 나타내는 상기 검사 스트립의 부분을 광학적으로 검출하고 상기 검사 스트립의 상기 부분의 광학적 검출 시 상기 제어 회로에 전기 신호를 전송하도록 구성되는, 분석물 측정기.
제1항에 있어서, 상기 검사 스트립은 제1 면 및 상기 제1 면에 반대편인 제2 면을 포함하고, 상기 접촉부들 중 제1 접촉부가 상기 검사 스트립의 상기 제1 면 상의 제1 접촉 패드에 전기 접속됨과 동시에 상기 접촉부들 중 제2 접촉부가 상기 검사 스트립의 상기 제2 면 상의 제2 접촉 패드에 전기 접속되는, 분석물 측정기.
제1항에 있어서, 상기 검사 스트립은 제1 면 및 상기 제1 면에 반대편인 제2 면을 포함하고, 상기 접촉부들 중 제1 접촉부가 상기 검사 스트립의 상기 제1 면 상의 제1 접촉 패드에 전기 접속됨과 동시에 상기 접촉부들 중 제2 접촉부가 상기 검사 스트립의 상기 제1 면 상의 제2 접촉 패드에 전기 접속되는, 분석물 측정기.
제1항에 있어서, 상기 검사 스트립 배향 검출기는 전압 측정 회로를 포함하는, 분석물 측정기.
제1항에 있어서, 상기 제어 회로는 샘플이 상기 검사 스트립에 인가된 후 상기 검사 스트립의 배향을 전기적으로 검출하도록 구성되는, 분석물 측정기.
제1항에 있어서, 상기 검사 스트립 배향 검출기는 상기 접촉부들 중 2개의 접촉부들 사이의 저항의 크기를 측정하기 위한 회로를 포함하는, 분석물 측정기.
제1항에 있어서, 상기 배향 검출기는 상기 검사 스트립이 상기 검사 스트립 포트 내로 삽입될 때 그리고 샘플이 상기 검사 스트립에 인가되기 전에 상기 검사 스트립의 배향을 전기적으로 검출하도록 구성되는, 분석물 측정기.
분석물 측정기로서,
측정기 하우징;
상기 하우징 내에 배치되고 검사 스트립을 수용하도록 구성되는 검사 스트립 포트로서, 상기 검사 스트립이 상기 검사 스트립 포트 내로 삽입될 때 상기 검사 스트립 상에 배치된 대응하는 전극들에 전기 접속되도록 구성되는 복수의 접촉부들을 포함하는 스트립 포트 커넥터를 갖는, 상기 검사 스트립 포트; 및
상기 검사 스트립에 전기 신호를 인가하기 위해 그리고 상기 검사 스트립으로부터 상기 전기 신호에 대한 전기 응답을 검출하기 위해 상기 스트립 포트 커넥터에 전기 접속되는 제어 회로를 포함하고,
상기 검사 스트립으로부터의 상기 전기 응답은 상기 검사 스트립의 배향을 나타내며,
상기 제어 회로는 상기 검사 스트립의 제1 배향의 검출에 응답하여, 상기 검사 스트립에 인가된 샘플에서 측정가능한 전류를 발생시키기 위한 제1 분석물 측정 신호를 상기 스트립 포트 커넥터 내의 제1 접촉부에 인가하도록 구성되고, 상기 제어 회로는 상기 검사 스트립의 제2 배향의 검출에 응답하여, 상기 검사 스트립에 인가된 상기 샘플에서 측정가능한 전류를 발생시키기 위한, 상기 제1 분석물 측정 신호와는 상이한 제2 분석물 측정 신호를 상기 스트립 포트 커넥터 내의 제1 접촉부에 인가하도록 구성되는, 분석물 측정기.
제11항에 있어서, 상기 검사 스트립은 제1 면 및 반대편의 제2 면을 포함하고, 상기 스트립 포트 커넥터의 상기 제1 접촉부는 상기 검사 스트립의 상기 제1 면 상의 접촉 패드에 전기 접속됨과 동시에 상기 스트립 포트 커넥터의 제2 접촉부가 상기 검사 스트립의 상기 제2 면 상의 제2 접촉 패드에 전기 접속되는, 분석물 측정기.
제11항에 있어서, 상기 검사 스트립은 제1 면 및 반대편의 제2 면을 포함하고, 상기 스트립 포트 커넥터의 상기 제1 접촉부는 상기 검사 스트립의 상기 제1 면 상의 제1 접촉 패드에 전기 접속됨과 동시에 상기 스트립 포트 커넥터의 제2 접촉부가 상기 검사 스트립의 상기 제1 면 상의 제2 접촉 패드에 전기 접속되는, 분석물 측정기.
제11항에 있어서, 상기 샘플에서의 상기 측정가능한 전류의 측정된 수준은 상기 샘플의 분석물 수준에 대응하는, 분석물 측정기.
제14항에 있어서, 상기 샘플의 상기 분석물 수준은 상기 샘플의 포도당 수준을 포함하는, 분석물 측정기.
제11항에 있어서, 상기 제어 회로는 상기 샘플이 상기 검사 스트립에 인가된 후 약 300 ms 내에 상기 검사 스트립으로부터 상기 전기 신호에 대한 상기 전기 응답을 전기적으로 검출하도록 구성되는, 분석물 측정기.
제11항에 있어서, 상기 검사 스트립의 상기 전기 응답은 상기 접촉부들 중 2개의 접촉부들 사이에서 측정된 저항의 크기인, 분석물 측정기.
제17항에 있어서, 상기 제어 회로는 상기 검사 스트립이 상기 검사 스트립 포트 내로 삽입될 때 그리고 상기 샘플이 상기 검사 스트립에 인가되기 전에 상기 접촉부들 중 상기 2개의 접촉부들 사이에서 상기 저항의 크기를 측정하도록 구성되는, 분석물 측정기.
제11항에 있어서, 상기 제1 분석물 측정 신호 및 상기 제2 분석물 측정 신호는 역관계에 있는, 분석물 측정기.
검사 스트립으로서,
평탄한 긴 기재(substrate)로서, 상기 검사 스트립은 제1 면 및 반대편의 제2 면을 갖고, 상기 기재는 제1 단부 및 대향하는 제2 단부를 추가로 포함하는, 상기 기재;
상기 제1 단부와 상기 제2 단부 사이에 배치되는 샘플 챔버로서, 상기 샘플 챔버에 인가되는 샘플을 수용하기 위한, 상기 샘플 챔버; 및
상기 검사 스트립에 인가된 상기 샘플을 통해 분석물 측정 전류를 구동시키도록 구성되는 복수의 전극들을 포함하며,
상기 검사 스트립의 상기 제1 면 상의 적어도 하나의 전극은 상기 검사 스트립의 상기 제1 단부에 근접하고, 상기 검사 스트립의 상기 제2 면 상의 적어도 하나의 전극은 상기 검사 스트립의 상기 제2 단부에 근접하며, 상기 검사 스트립은 상기 샘플 내의 관심대상의 분석물을 검사하기 위한 분석물 검사 측정기 내에서 적어도 2개의 배향들로 삽입되도록 구성되는, 검사 스트립.
검사 스트립으로서,
평탄한 긴 기재로서, 상기 검사 스트립은 제1 면 및 반대편의 제2 면을 갖고, 상기 기재는 제1 단부 및 대향하는 제2 단부를 추가로 포함하는, 상기 기재;
상기 제1 단부와 상기 제2 단부 사이에 배치되는 샘플 챔버로서, 상기 샘플 챔버에 인가되는 샘플을 수용하기 위한, 상기 샘플 챔버; 및
상기 검사 스트립에 인가된 상기 샘플을 통해 분석물 측정 전류를 구동시키도록 구성되는 복수의 전극들을 포함하며,
상기 제1 면 상에 배치된 제1 전극은 상기 검사 스트립의 상기 제1 단부에 근접하고, 상기 제1 면 상에 배치된 제2 전극은 상기 검사 스트립의 상기 제2 단부에 근접하며, 상기 제2 면 상에 배치된 제3 전극은 상기 검사 스트립의 상기 제1 단부에 근접하고, 상기 제2 면 상에 배치된 제4 전극은 상기 검사 스트립의 상기 제2 단부에 근접하는, 검사 스트립.
제19항에 있어서, 상기 제1 전극은 상기 검사 스트립이 제1 배향으로 분석물 측정기 내에 삽입될 때 상기 분석물 측정기의 적어도 하나의 전기 접촉부에 인접하도록 구성되는 고 저항 부분을 포함하고, 상기 제4 전극은 상기 검사 스트립이 상기 제1 배향과는 상이한 제2 배향으로 상기 분석물 측정기 내에 삽입될 때 상기 분석물 측정기의 상기 적어도 하나의 전기 접촉부에 인접하도록 구성되는 저 저항 부분을 포함하는, 검사 스트립.
분석물 측정기의 작동 방법으로서,
적어도 2개의 배향들로 검사 스트립 포트 내로 삽입되도록 구성되는 검사 스트립을 사용하여, 상기 분석물 측정기의 상기 검사 스트립 포트 내에 상기 검사 스트립을 수용하는 단계;
상기 수용된 검사 스트립의 배향을 결정하는 단계; 및
검사 스트립 내의 샘플에 전기 측정 신호를 인가하여 상기 샘플 내의 분석물 수준을 결정하는 단계를 포함하며,
상기 전기 측정 신호는 상기 수용된 검사 스트립의 상기 결정된 배향에 기초하여 복수의 전기 측정 신호들로부터 자동적으로 선택되는, 분석물 측정기의 작동 방법.
제23항에 있어서, 상기 검사 스트립의 배향을 결정하는 단계는 상기 검사 스트립 포트 내의 접촉부들을 상기 수용된 검사 스트립 상에 배치된 접촉 패드에 전기 접속시키고 그 저항을 검출하는 단계를 포함하며, 상기 저항의 크기는 상기 수용된 검사 스트립의 배향을 나타내는, 분석물 측정기의 작동 방법.
제23항에 있어서, 상기 결정하는 단계는 상기 검사 스트립 포트 내의 센서를 이용하여 상기 검사 스트립의 물리적 특징을 검출하는 단계를 포함하고, 상기 검출된 물리적 특징은 상기 검사 스트립이 상기 검사 스트립 포트 내로 삽입된 때 상기 수용된 검사 스트립의 배향을 나타내는, 분석물 측정기의 작동 방법.
제25항에 있어서, 상기 센서를 이용하여 상기 검사 스트립의 물리적 특징을 검출하는 단계는 편향가능한 스위치(deflectable switch), 자기 릴레이(magnetic relay), 광검출기(photodetector), 광학 센서 또는 이들의 조합 중 하나를 이용하는 단계를 포함하는, 분석물 측정기의 작동 방법.
제23항에 있어서, 상기 검사 스트립의 배향을 결정하는 단계는 상기 검사 스트립 내에 상기 샘플을 수용하는 단계 및 상기 샘플에 상기 전기 측정 신호를 인가하기 전에 상기 수용된 샘플을 가로질러 전압을 측정하는 단계를 포함하는, 분석물 측정기의 작동 방법.
제27항에 있어서, 상기 수용된 샘플을 가로질러 전압을 측정하는 단계는 상기 검사 스트립 내에 상기 샘플을 수용한 후 약 300 ms 내에 상기 수용된 샘플을 가로질러 상기 전압의 극성을 측정하는 단계를 포함하는, 분석물 측정기의 작동 방법.
검사 스트립 및 스트립 포트 커넥터(SPC) 시스템으로서,
러그(lug)가 길이방향 에지 상에 배치된 검사 스트립; 및
스트립 포트 커넥터(SPC)를 포함하며,
상기 스트립 포트 커넥터(SPC)는,
제1 배향으로 상기 SPC 내로 삽입된 상기 검사 스트립의 전기 접촉 패드들과 작동가능한 접촉을 이루도록 구성되는 제1 세트의 전기 접촉부들,
제2 배향으로 상기 SPC 내로 삽입된 상기 검사 스트립의 상기 전기 접촉 패드들과 작동가능한 접촉을 이루도록 구성되는 제2 세트의 전기 접촉부들, 및
상기 SPC 내에서의 상기 러그의 위치 설정에 기초하여 상기 제1 및 제2 배향들을 구별하도록 구성되는 검사 스트립 배향 검출 메커니즘을 포함하는, 검사 스트립 및 스트립 포트 커넥터(SPC) 시스템.
검사 스트립과 함께 핸드헬드(hand-held) 검사 측정기를 이용하는 방법으로서,
러그가 길이방향 에지 상에 배치된 검사 스트립을 핸드헬드 측정기의 스트립 포트 커넥터(SPC) 내로 삽입하는 단계;
상기 검사 스트립의 접촉 패드들에 대해,
제1 배향으로 상기 SPC 내로 삽입된 상기 검사 스트립의 전기 접촉 패드들과 작동가능한 접촉을 이루도록 구성되는 제1 세트의 전기 접촉부들, 및
제2 배향으로 상기 SPC 내로 삽입된 상기 검사 스트립의 상기 전기 접촉 패드들과 작동가능한 접촉을 이루도록 구성되는 제2 세트의 전기 접촉부들
중 하나를 사용하여 전기 접촉을 이루는 단계; 및
상기 SPC의 검사 스트립 배향 메커니즘을 사용하여, 상기 SPC 내에서의 상기 러그의 위치 설정에 기초하여 상기 제1 및 제2 배향들을 구별하는 단계를 포함하는, 방법.