JP2015004676A

JP2015004676A - 配向非依存性メーター

Info

Publication number: JP2015004676A
Application number: JP2014125117A
Authority: JP
Inventors: ジェイムズ・イアン・ロジャーズ; Iain Rodgers James; ローレンス・リッチー; Ritchie Lawrence; アンナ・ツビカチェフスカヤ; Zvikhachevskaya Anna; ジョナサン・ネルソン; Nelson Jonathan; カルロス・モラレス; Morales Carlos
Original assignee: Cilag GmbH International
Current assignee: Cilag GmbH International
Priority date: 2013-06-19
Filing date: 2014-06-18
Publication date: 2015-01-08
Also published as: CA2854125C; US20140374278A1; EP2816349A1; TW201516403A; AU2019201087A1; BR102014015043A2; KR20140147730A; RU2014124928A; EP2816349B1; AU2014203272A1; HK1205263A1; CA2854125A1; CN104237321A; AU2014203272B2; US9354194B2

Abstract

【課題】その中に挿入されたテストストリップの配向を検出するテストストリップポートを備える検体メーターを提供する。【解決手段】テストメーターの制御回路は、第１の所定の検体測定信号を、テストストリップの第１の配向を検出することに反応して、テストストリップ電極に付与し、第２の所定の検体測定信号を、テストストリップの第２の配向を検出することに反応して、同一の又は異なる電極に付与するよう構成されている。【選択図】図１Ａ

Description

本出願は、全般的には、血液検体測定システムに関し、より具体的には、そこに挿入されたテストストリップの配向を検出するよう、並びに検出された方向に反応してテストストリップに付与されるテストシグナルを正確に調整するよう構成されている可搬式検体メーターに関する。

血糖測定システムは、典型的に、通常はテストストリップの形態であるバイオセンサを受容するよう構成されている検体メーターを具備する。これらシステムの多くは可搬式であり、試験は短時間で終了するために、患者は所定の習慣への著しい妨げを受けずに、日常生活の常道でこのような装置を使用することが可能である。糖尿病を有する患者は、彼らの血糖の血糖値コントロールが目標の範囲内にあることを確認するために、自己管理方法の一部として、彼らの血糖レベルを一日数回測定する場合がある。目標の血糖値コントロールを維持できないと、心臓血管疾患、腎疾患、神経損傷及び失明を含める深刻な糖尿病関連合併症をもたらす可能性がある。

現在、テストストリップの挿入時に自動的に起動するよう設計されている多くの利用可能な可搬式電子検体測定装置がある。メーター内のマイクロコントローラが、テストストリップからの電気信号に基づいて、テストストリップが適切に挿入されているかどうかを決定すると同時に、メーター内の電気接触部、又は突起部が、テストストリップ上の接触パッドとの接続を確立する。しかしながら、テストストリップが適切な配向で正常に挿入されない限り、装置は起動することがなく、又はこれに加えて、装置はテストストリップが正常に再挿入されるまでエラーメッセージを表示する場合がある。この作業は、特にテストストリップが小さい場合、挿入前にテストストリップを正しい位置に置くよう苦労する一部のユーザーにとって困難性を与え得る。

本明細書に援用する明細書の一部をなす添付図面は、現時点における本発明の好適な実施形態を示したものであって、上記に述べた一般的説明並びに下記に述べる詳細な説明とともに、本発明の特徴を説明する役割を果たすものである（同様の数字は同様の要素を表す）。
検体測定システムに基づく例示的テストストリップの図を示す。図１Ａの検体測定システムに基づくテストストリップの例示的な処理システムの図を示す。例示的なテストストリップの多様な図を示す。例示的なテストストリップの多様な図を示す。例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。別の例示的なテストストリップの多様な図を示す。図８Ａ〜Ｃ及び９Ａ〜Ｃで示したテストストリップの電極で測定された例示的な電圧電位波形を示す。テストストリップの決定された配向に応じて、テストストリップ内の試料に印加された検体電流測定電圧を示し。テストストリップの決定された配向に応じて、テストストリップ内の試料に印加された検体電流測定電圧を示し。図１Ａ〜１Ｂの検体測定システムの操作方法の流れ図を示す。

以下の詳細な説明は、図面を参照しつつ読まれるべきもので、異なる図面中、同様の要素は同様の参照符号にて示してある。図面は必ずしも一定の縮尺を有さず、選択した実施形態を示したものであって、本発明の範囲を限定するものではない。詳細な説明は本発明の原理を限定するものではなく、あくまでも例として説明するものである。この説明文は、当業者による発明の製造及び使用を明確に可能ならしめるものであり、出願時における発明を実施するための最良の形態と考えられるものを含む、発明の複数の実施形態、適応例、変形例、代替例、並びに使用例を述べるものである。

本明細書で用いられる「患者」、「ユーザー」なる語は、いずれかのヒト又は動物被験対象を指し、ヒト患者における本発明の使用は好ましい実施形態であるが、システム又は方法をヒトへの使用に制限することは意図されない。

「試料」という用語は、構成成分の存在又は不在、構成成分の濃度、例えば検体等の、その特性のいずれかの定性的又は定量的決定の対象となることが意図される、液体、溶液、又は懸濁液の体積を意味する。本発明の実施形態は、全血のヒト及び動物試料に適用可能である。本明細書に記載される、本発明の文脈における典型的試料には、血液、血漿、赤血球、血清、及びそれらの懸濁液が含まれる。

説明及び特許請求の範囲全体を通じて数値に関連して使用される「約」という用語は、当業者にとって身近であり、許容される、精度区間を示す。本用語が準拠する区間は、好ましくは±１０％である。明記されない限り、上述の用語は、本明細書に記載され、特許請求の範囲に従う本発明の範囲を狭めることは意図されない。

図１Ａは、検体メーター１０を含む検体測定システム１００を示す。検体メーター１０は、データ管理ユニット（「ＤＭＵ」）１４０を保持するハウジング１１によって規定され、バイオセンサを受容するよう寸法設定されたポート２２を更に含む。一実施形態によると、検体メーター１０は、手持ち式の血糖メーターでありことができ、バイオセンサは、血糖測定を実行するためにテストストリップポート２２に挿入されるテストストリップ２４の形態でもたらされる。検体メーター１０は、図１Ａに図示するように、複数のユーザーインターフェースボタン１６、及びディスプレイ１４を更に含む。所定の数のグルコーステストストリップが、ハウジング１１内に格納され、血糖試験での使用にアクセスできるようにすることが可能である。複数のユーザーインターフェースボタン１６は、ＤＭＵ１４０に対応し、データの入力を可能にし、データの出力を促し、ディスプレイ１４上に提示されたメニューをナビゲートし、かつコマンドを実行するように構成することが可能である。出力データとしては、ディスプレイ１４上に提示された検体濃度を表す値を含み得る。入力情報には、個人の日常の生活習慣に関連した情報、例えば食物摂取、薬の使用、健康診断の実施、並びに個人の一般的健康状態及び運動レベルなどを挙げることができる。これら入力は、ディスプレイ１４上に提示されるプロンプトを介して要請されることが可能であり、検体メーター１０のメモリモジュール内に記憶され得る。具体的には、並びにこの例示的な実施形態によると、ユーザーインターフェースボタン１６は、マーキング、例えば上下の矢印、テキスト文字「ＯＫ」等を含み、これらはユーザーがディスプレイ１４上に提示されたユーザーインターフェースを通してナビゲートすることを可能にする。ボタン１６は別個のスイッチとして本明細書で示してはいるが、バーチャルボタンを備えるディスプレイ１４上のタッチスクリーンインターフェースが利用されてもよい。

検体測定システム１００の電子構成成分が配設されることが可能であり、例えばプリント基板がハウジング１１内に配置され、本明細書に記載されるシステムのＤＭＵ１４を形成することが可能である。図１Ｂは、この実施形態のための、ハウジング１１内に配設された電子サブシステムのいくつかを、簡略化した概略的な形で示す。ＤＭＵ１４０は、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ、特定用途向け集積回路（「ＡＳＩＣ」）、混合信号プロセッサ（「ＭＳＰ」）、論理プログラミング可能デバイス（「ＦＰＧＡ」）、又はこれらの組み合わせの形態の処理装置１２２を含み、これは、以下に説明するようなプリント基板上に含まれるか、又はこれに接続する多様な電子モジュールに電気的に接続される。処理装置１２２は、例えば、テストストリップポートコネクタ１０４（「ＳＰＣ」）に、アナログフロントエンド（ＡＦＥ）サブシステム１２５を介して電気的に接続されている。ＡＦＥ１２５は、血糖試験時にストリップポートコネクタ１０４に電気的に接続される。選択した検体濃度を測定するために、ＡＦＥ１２５は、ポテンシオスタットを使用して、血液試料がテストストリップに加えられたことを示す検体テストストリップ２４の電極間の抵抗の大きさの変動を検出する。血液試料がテストストリップ２４に加えられた後の所定時間に、事前設定する電圧波形が、それらを通して電流を発生する電極を介して試料に対して印加される。ＡＦＥ１２５は、ディスプレイ１４上の表示のために、電流測定値をデジタル形態に変換する。処理装置１２２は、ストリップポートコネクタ１０４、アナログフロントエンドサブシステム１２５からの入力を受容するよう構成することが可能であり、これはまた、ポテンシオスタット機能及び電流測定機能の一部も実行することができる。

検体テストストリップ２４は、電気化学のグルコーステストストリップの形態であることができ、この多様な実施形態が以下に説明される。テストストリップ２４は、１つ以上の作用電極を含むことができる無孔の基材として定義される。テストストリップ２４はまた、複数の電気接触パッドを含むことが可能であり、図２Ａ〜９Ｃに関連付けて以下に説明するように、各電極は、少なくとも１つの電気接触パッドと電気通信状態にあり得る。ストリップポートコネクタ１０４は、突起部の形態の電気接触部を使用して、電気接触パッドに電気的にインターフェースするよう構成し、電極との電気通信を形成し得る。テストストリップ２４は、作用電極などのテストストリップ２４内の１つ又はそれ以上の電極の上に配設されている、試薬層を含み得る。試薬層は、酵素及び調節物質を含み得る。試薬層に使用するのに適した例示的な酵素としては、グルコースオキシダーゼ、グルコースデヒドロゲナーゼ（ピロロキノリンキノン補因子「ＰＱＱ」とともに）、及びグルコースデヒドロゲナーゼ（フラビンアデニンジヌクレオチド補因子「ＦＡＤ」とともに）が挙げられる。試薬層に使用するのに適した例示的な調節物質としては、フェリシアニドがあり、この場合では酸化型である。試薬層は、加えられた試料中のグルコースを酵素的副産物に物理的に変換させ、その過程で試料のグルコース濃度値に比例した所定量の還元型調節物質（例、フェロシアニド）を生成するように構成することができる。次いで、作用電極を使用して、事前設定する電圧波形を試料に印加し、還元型調節物質の濃度を電流の形態で測定することが可能である。今度は、ディスプレイ１４上への表示のために、マイクロコントローラ１２２が電流の大きさをグルコース濃度に変換することが可能である。このような電流測定を実行する例示的な検体メーターは、「ＳｙｓｔｅｍａｎｄＭｅｔｈｏｄｆｏｒＭｅａｓｕｒｉｎｇａｎＡｎａｌｙｔｅｉｎａＳａｍｐｌｅ」と題された、米国特許出願公開第ＵＳ２００９／０３０１８９９Ａ１号に記載され、本出願において十分に論及されるように本明細書に組み込まれる。

ディスプレイモジュール１１９は、ディスプレイプロセッサ及びディスプレイバッファを含む場合があり、これは出力データを受容かつ表示するために、並びに処理装置１２２の制御下でユーザーインターフェース入力オプションを表示するために、電気的インターフェース１２３を通して処理装置１２２に電気的に接続される。メニューオプションなどのユーザーインターフェースの組立ては、ユーザーインターフェースモジュール１０３内に記憶され、血糖測定システム１００のユーザーにメニューオプションを提示するために、処理装置１２２によってアクセス可能である。オーディオモジュール１２０は、ＤＭＵ１４０によって受容された、又は記憶された、オーディオデータを出力するためのスピーカー１２１を含む。オーディオ出力として、例えば、通知、注意、及び警告が挙げられ、又はオーディオ出力は、ディスプレイ１４上に提示されたディスプレイデータと協同して再生されるオーディオデータを含み得る。このような記憶されたオーディオデータは、処理装置１２２によりアクセス可能であり、適切な時におけるプレイバックデータとして実行され得る。オーディオ出力のボリュームは、処理装置１２２によって制御され、ボリューム設定は、プロセッサによって決定されたものとして、又はユーザーによって調整されたものとして、設定モジュール１０５内に記憶されることが可能である。ユーザー入力モジュール１０２は、ユーザーインターフェースボタン１６を介して入力を受容し、これは処理され、電気的インターフェース１２３を通して処理装置１２２に送信される。処理装置１２２は、血糖測定のデータ及び時間を記録するためのプリント基板に接続されたデジタル時刻機構への電気的アクセスを有することが可能であり、このデジタル時刻機構は、必要に応じて後の時刻にその後アクセスされ、アップロードされ、又は表示されてもよい。

あるいは、ディスプレイ１４は、その明るさが光源制御モジュールを介して処理装置１２２によって制御され得るバックライトを含むことが可能である。同様に、ユーザーインターフェースボタン１６は、ボタンの光出力を制御するために、処理装置１２２に電気的に接続されたＬＥＤ光源を使用して照明されてもよい。光源モジュール１１５は、ディスプレイバックライト及び処理装置１２２に電気的に接続されている。全ての光源のデフォルトの明るさ設定、並びにユーザーによって調整される設定は、処理装置１２２によってアクセス可能かつ調整可能な、設定モジュール１０５内に記憶される。

揮発性読み出し書き込み可能メモリ（「ＲＡＭ」）１１２、不揮発性メモリ１１３、（読み出し専用メモリ（「ＲＯＭ」）又はフラッシュメモリ、及び例えばＵＳＢデータポートを介してなど、外部の可搬式メモリ装置に接続するための回路１１４を備えてもよい）を含むがこれらに限定されない、メモリモジュール１０１は、電気的インターフェース１２３を通して処理装置１２２に電気的に接続されている。外部メモリ装置は、サムドライブ、ポータブルハードディスクドライブ、データカード、又は電子記憶装置の任意のその他の形態に入れられたフラッシュメモリ装置を含んでもよい。オンボードメモリは、以下に説明されるように、検体メーター１０の操作のために、処理装置１２２によって実行されるプログラムの形態で、多様に埋め込まれたアプリケーション及び記憶されたアルゴリズムを含むことが可能である。オンボードメモリはまた、それらに関連する日にち及び時間を含めるユーザーの血糖測定の履歴を記憶して使用することも可能である。以下に記載される検体メーター１０又はデータポート１３の無線可能送電容量を使用して、このような測定データは、有線又は無線送信を介して接続されたコンピュータ又はその他の処理装置に転送され得る。

無線モジュール１０６は、１つ又はそれ以上の内部のデジタルアンテナ１０７を介しての無線デジタルデータ送信及び受信のためのトランシーバ回路を含むことが可能であり、かつ、これは電気的インターフェース１２３を介して処理装置１２２に電気的に接続される。無線トランシーバ回路は、処理装置１２２を介した集積回路チップ、チップセット、動作可能なプログラム可能な機能の形態、又はこれらの組み合わせあってもよい。無線トランシーバ回路のそれぞれは、異なる無線送信基準に適合する。例えば、無線トランシーバ回路１０８は、ＷｉＦｉとして知られる無線ローカルエリアネットワークＩＥＥＥ８０２．１１基準に適合可能であり得る。トランシーバ回路１０８は、検体メーター１０に近接するＷｉＦｉのアクセスポイントを検出し、並びにこのような検出されたＷｉＦｉアクセスポイントからデータを送信かつ受信するよう構成することが可能である。無線トランシーバ回路１０９は、ブルートゥースプロトコルに適合可能であり、検体メーター１０に近接するブルートゥースビーコンから送信されたデータを検出しかつ処理するよう構成されている。無線トランシーバ回路１１０は、近距離線通信（「ＮＦＣ」）基準に適合することが可能であり、例えば検体メーター１０に近接する別のＮＦＣ適合装置と無線通信を確立するよう構成される。無線トランシーバ回路１１１は、セルラーネットワークとのセルラー方式通信のための回路を備えてもよく、利用可能なセルラー方式通信タワーを検出しこれに接続するよう構成される。

電力供給モジュール１１６は、ハウジング１１内の全てのモジュールに、並びに処理装置１２２に電気的に接続され、そこに電力を供給する。電力供給モジュール１１６は、標準バッテリ又は再充電可能なバッテリ１１８を備えてもよく、又は検体メーター１０がＡＣ電源に接続される場合、起動されるＡＣ電源１１７が起動されてもよい。電力供給モジュール１１６はまた、処理装置１２２に電力を供給するために、電気的インターフェース１２３を通して処理装置に電気的に接続されることで、処理装置１２２が、電力供給モジュール１１６のバッテリ電力モード内に残っている電力レベルを監視することが可能である。

図２Ａ〜９Ｃは、実質的に平らな（平面的な）、細長いテストストリップ２００と、テストストリップ２００が検体メーター１００のテストストリップポート２２に、少なくとも２つの配向のいずれかで挿入される場合、検体測定に使用され得るストリップポートコネクタ１０４の実施形態を示す。図２Ａ〜Ｂを参照すると、テストストリップ２００は、本明細書ではテストストリップ２００の頂部側２０２及び底部側２０４と呼ばれる反対側の側部によって規定される。具体的に図２Ｃを参照すると、テストストリップ２００は、テストストリップ２００の半田側にある端部で配設された導電性接触パッド２０６、２０８を有し、この接触パッド２０６は、テストストリップ２００の頂部側２０２上に提供され、接触パッド２０８は、テストストリップ２００の底部側２０４上に提供されている。矢印２１０は、テストストリップポート２２へのテストストリップ２００の挿入の方向を指示し、これは、テストストリップ２００のいずれかの側部２０２、２０４が上方を向いている状態で挿入され得る。テストストリップ２００は、その中に試料を受け取るための試料チャンバ２１２を含み、試料はユーザーによって、試料チャンバ２１２の一方の端部２１３で提供される。電極２０７、２０９がそれぞれ各接触パッド２０６、２０８から試料チャンバ２１２まで延び、この中に提供された試料は、電極２０７、２０９に物理的に接触し、これによって、反対側の端部上の接触パッド２０６、２０８とテストストリップ２００の反対側の側部２０２、２０４との間の電気通信経路を確立する。

テストストリップ２００をそのテストストリップポート２２内に受容する検体メーターは、テストストリップ２００の接触パッド２０６、２０８のそれぞれに係合する突起部２２０、２２２などの接触部を使用して、一組の接触パッド２０６、２０８との電気的接続を形成するためにストリップポートコネクタ１０４を用いる。テストストリップ２００が、第１の配向でテストストリップポート２２に挿入される場合、突起部のうちの１つ２２２は、底部側の接触パッド２０８に接触するよう配設され、一方別の突起部２２０は、頂部側の接触パッド２０６に電気的に接続するよう構成されている。テストストリップ２００が、第２の配向でテストストリップポート２２に挿入される場合、突起部２２２は、頂部側接触パッド２０６に電気的に接続し、突起部２２０は、底部側の接触パッド２０８に電気的に接続する。

図２Ａ〜Ｃの図は、その配向（すなわち、第１の配向又は第２の配向）が、検体メーター１００のテストストリップポート２２への挿入時に検出されるテストストリップ２００を示す。この実施形態によると、テストストリップ２００の長手方向端部に沿って配設されている突起又は突出部２１４が、検体メーター１００によって感知され、テストストリップの配向を決定することが可能であり、例えば、第１の配向及び第２の配向を示す、頂部接触パッド２０６が上方を向いているか、又は底部接触パッド２０８が上方を向いているかを決定することが可能である。第１の配向、すなわち、頂部接触パッドが上方を向いている状態は、本明細書ではデフォルト配向と呼ぶことができる。一実施形態において、突起２１４は、導電性スイッチなどの偏向可能な導電性要素と共に作動することが可能であり、これはテストストリップ２００が１つの配向で、例えば「頂部が上方を向く状態で」テストストリップポート２２内に挿入される場合、突起２１４によって変形される際に信号を送信し、テストストリップ２００が第２の配向で、例えば「底部側が上方を向く状態で」テストストリップポート２２に挿入される場合、これは変形されない。あるいは、機械的なマイクロスイッチ、フォトダイオード、キャパシタンスセンサ、又は他のいずれかの種類の検出器などの検出器を使用して、突起２１４の存在又は不在を検出することが可能である。図３Ａ〜Ｂは、テストストリップ２００の突起２１４が、テストストリップ３００内の凹部で置き換えられていることを除けば、図２Ａ〜Ｃを参照して前に説明したテストストリップ２００の全てに関して類似しているテストストリップを示す。凹部２１６は、テストストリップ３００の挿入時に、テストストリップ３００の凹部２１６の存在又は不在を検出する上記で定義された検出器のいずれかを使用するなど、矢印２１０によって示される方向におけるテストストリップ３００の検体メーター１００への挿入時に、テストストリップ３００の配向を検出するために使用されることが可能であり、あるいは、突起２１４に関して上記で説明したように、検体メーター１００のテストストリップポート２２内の導電性スイッチなどの導電性偏向可能な要素を使用して、凹部２１６を検出することも可能であり、ここでは偏向可能な要素の上に配置されている凹部２１６が導電性スイッチを変形させることはできない。

図４Ａ〜Ｅは、実質的に平らな（平面的な）、細長いテストストリップ４００と、テストストリップ４００が検体メーター１００のテストストリップポート２２に、少なくとも２つの配向のいずれかで挿入される場合、検体測定に使用され得るストリップポートコネクタ１０４の実施形態を示す。図４Ａ〜Ｂを参照すると、テストストリップ４００は、本明細書ではテストストリップ４００の頂部側４０２及び底部側４０４と呼ばれる側部によって規定される。具体的に図４Ｃを参照すると、テストストリップ４００は、テストストリップ４００の反対側の端部で配設された導電性接触パッド４０６、４０８を有し、ここで接触パッド４０６は、テストストリップ４００の頂部側４０２上に提供され、接触パッド４０８及び４２８は、テストストリップ４００の底部側４０４上に提供されている。矢印２１０は、テストストリップポート２２へのテストストリップ４００の挿入の方向を指示し、これは、テストストリップ４００のいずれかの側部４０２、４０４が上方を向いている状態で挿入され得る。テストストリップ４００は、その中に試料を受容するための試料チャンバ４１２を含み、試料は、ユーザーにより試料チャンバ４１２の一端で提供される。電極４０７、４２７、４０９、４２９が、それぞれ各接触パッド４０６、４２６、４０８、４２８から試料チャンバ４１２まで延び、試料チャンバ内に提供された試料は、電極４０７、４２７、４０９、４２９に物理的接触を形成し、これによって、反対側の側部上の接触パッド４０６、４０８、４２６、４２８とテストストリップ４００の反対側の側部４０２、４０４との間の電気通信経路を確立する。

図４Ａ〜Ｃに図示した一実施形態において、テストストリップ４００をそのテストストリップポート２２内に受容する検体メーター１００は、一組の接触パッド４０６及び４２６、又は４０８及び４２８との電気的接続を形成するためにストリップポートコネクタ１０４を使用することが可能であり、これはテストストリップポート２２内のテストストリップ４００の配向に応じて、テストストリップ４００のそれぞれ同一側部４０２、４０４上の対応する一組の接触パッド４０６〜４２６又は４０８〜４２８に係合する本明細書で突起部４２０、４２４（図４Ｃ）と呼ばれる少なくとも一組の電気接触部を有するストリップポートコネクタを使用することが可能である。突起部４２０、４２４は、下方を向いて示されているが、本明細書で記載されている方法で、接触パッドの同一の組４０６〜４２６又は４０８〜４２８に接続するために上方を向いてもよい。

図４Ａ〜Ｂ及び４Ｄ〜Ｅで図示した別の実施形態において、そのテストストリップポート２２内にテストストリップ４００を受容する検体メーター１００は、接触パッド４０６、４２６、４０８及び４２８と電気的に接続させるためにストリップポートコネクタ１０４を使用することが可能であり、これはテストストリップ４００がテストストリップポート２２内に第１の（デフォルト）配向で挿入される場合、テストストリップ４００の側部４０２、４０４上のそれぞれの対応する一組の接触パッド４０６〜４２６及び４０８〜４２８に係合する、本明細書で突起部４２０、４２４及び４２１、４２５（図４Ｄ）と呼ばれる電気接触部の少なくとも２つのセットを有するストリップポートコネクタを使用することが可能である。テストストリップ４００は、本明細書に記載されている方法で、第２の配向で挿入されることが可能であり、ここでは突起部４２０、４２４、及び４２１、４２５がそれぞれ、テストストリップ４００の側部４０４、４０２上の接触パッドの対応する組４０８〜４２８及び４２６〜４０６に係合する。図４Ｅは、突起部の２つのセット、４２０、４２４及び４２１、４２５の実施形態の端面図を示し、ここでは上部突起部４２４及び下部突起部４２５は、図４Ｅの透視図で見ることができ、一方上部突起部４２０及び下部突起部４２１は同様に構成され、図４Ｅの図において、それぞれ突起部４２４、４２５の後ろに配置されている。突起部４２０、４２４、４２１、及び４２５は、可撓性ばねアームを備え、突起部４２４、４２５にそれぞれ対応するこのばねアーム４１０、４１１は、図４の透視図で見ることができる。このような突起部は、導電性金属材料から組み立てられることが可能であり、この導電性金属材料は、ユーザーによってテストストリップが矢印２１０で示された方向でそれらの間に挿入される場合、テストストリップ４００から離れる方向で屈曲する。突起部４２４、４２５は、任意の電気コネクタ４２３によって電気的に短絡することが可能であり、並びに突起部４２０、４２１も対応する電気コネクタによって電気的に短絡することが可能であり、これによって、これらと共に共通電圧の単一回路ノードを形成することができる。テストストリップが挿入される場合並びに本明細書に記載されている検体測定プロセスがメーター１００によって実施される場合、可撓性ばねアーム４１０、４１１は、それぞれ接触パッド４２６、４０８に電気的接触を行うのに十分な（並びに４２０、４２１に対応するばねアームは、それぞれ接触パッド４０６、４２８に電気的接触を行うのに十分な）及びテストストリップ４００をそれらの間に固定するのに十分な圧縮力を提供する。

図４Ａ〜Ｅの図は、テストストリップ４００の配向（すなわち、第１の配向又は第２の配向）が、検体メーター１００のテストストリップポート２２への挿入時に検出されるシステムを示す。この実施形態によると、テストストリップ４００の長手方向端部に沿って配設された突起、又は突出部４１４は、検体メーター１００によって感知され、それぞれ第１及び第２の配向を示す、頂部接触パッド４０６、４２６が上方を向いているか、又は底部接触パッド４０８、４２８が上方を向いているかを決定することが可能である。第１の配向、すなわち、頂部接触パッド４０６、４２６が上方を向いている状態は、本明細書ではデフォルト配向と呼ぶことが可能である。一実施形態において、突起４１４は、導電性スイッチなどの検出要素４１５と共に作動することができ、これは、テストストリップ４００が１つの配向で、例えば「頂部が上方を向いている状態で」テストストリップポート２２内に挿入される場合、突起４１４によって変形される際に信号を送信し、テストストリップ４００が第２の配向で、例えば「底部が上方を向いている状態で」テストストリップポート２２内に挿入されるならば、変形されない。検出装置４１５は、突起４１４の存在又は不在を検出するための機械的マイクロスイッチ、偏向可能な導電性要素、フォトダイオード、キャパシタンスセンサ、又は任意のその他の好適な検出器として実装されてもよい。

図５Ａ〜Ｂは、テストストリップ４００の突起４１４がテストストリップ５００における凹部４１６で置き換えられていることを除けば、図４Ａ〜Ｅを参照して前に記載されたテストストリップ４００の全てに関して類似しているテストストリップ５００を示す。凹部４１６は、例えば、テストストリップ５００の凹部４１６の存在又は不在を感知する機械的マイクロスイッチ、フォトダイオード、キャパシタンスセンサ、又はいずれかのその他の種類の検出器を使用して、矢印２１０で示した方向で、検体メーター１００へのテストストリップ５００の挿入時に、テストストリップ５００の配向を検出するために使用することが可能であり、あるいは突起４１４に関して上記で説明したように、検体メーター１００のテストストリップポート２２の偏向可能な要素を使用して、凹部４１６を検出することが可能であり、ここでは偏向可能な要素の上に配置された凹部４１６は、これを偏向させることはできない。突起４１４及び凹部４１６をテストストリップ２４の配向を検出するために使用することが可能である例示的な物理的特徴部として説明してきたが、このような例は本明細書に記載されている実施形態を限定するものとして解釈されるべきではない。その他の検出可能な物理的特徴部が、本明細書に記載されている実施形態の精神から逸脱することなくテストストリップ２４において形成され又は組み立てられてもよい。例えば、テストストリップ２４内の磁気ストリップ又はインジケータは、テストストリップポート２２内の磁気リレーによって検出されてもよい。同様に、１Ｄ又は２Ｄバーコードスキャナなどの光学リーダーによって検出され得る、回転変動型又は不変型光学的特徴部がテストストリップ２４内に印刷され又は埋め込まれてもよく、若しくは他の例としては、検体メーター１００内の光学パターン整合システムがある。これに加えて、テストストリップ２４の配向を決定するための本明細書に記載されている多様なメカニズム及び方法が組み合わせて用いることが可能であり、これらは、決定されたテストストリップ２４の配向の検証として役立つことができる。

図６Ａ〜Ｃは、実質的に平らな（平面的な）、細長いテストストリップ６００と、テストストリップ６００が検体メーター１００のテストストリップポート２２に少なくとも２つの配向で挿入される場合、検体測定に使用され得るストリップポートコネクタ１０４の別の実施形態を示す。図６Ａ〜Ｂを参照すると、テストストリップ６００は、本明細書ではテストストリップ６００の頂部側６０２及び底部側６０４と呼ばれる側部によって規定される。具体的には図６Ｃを参照すると、テストストリップ６００はテストストリップ６００の反対側の端部に配設された導電性接触パッド６０６、６０８を有し、この接触パッド６０６は、テストストリップ６００の頂部側６０２上に提供され、接触パッド２０８は底部側６０４上に提供されている。矢印２１０は、テストストリップ６００のテストストリップポート２２への挿入の方向を指示し、これは、テストストリップ６００の側部６０２、６０４のいずれかが上方を向いた状態で挿入され得る。テストストリップ６００は、その中に試料を受容するための試料チャンバ６１２を含み、試料はユーザーによって、試料チャンバ６１２の一方の端部６１３で提供される。電極６０７、６０９は、それぞれ接触パッド６０６、６０８から試料チャンバ６１２まで延び、試料チャンバ内に提供された試料は電極６０７、６０９と物理的な接触を形成し、これによって、反対側の端部上の接触パッド６０６、６０８とテストストリップ６００の反対側の側部６０２、６０４との間の電気通信経路を確立する。

接触パッドのうちの１つ６０６は、非導電性であるボーダー６０５を備える。このボーダー６０５は、レーザーアブレーションを用いるなど、接触パッド６０６の導電性材料のアブレーションによって形成することが可能であり、又は別の実施形態においては、非導電性ボーダー６０５によって包囲された領域は、非導電性パッチとして全体が形成されることが可能である。テストストリップが挿入される検体メーター１００は、テストストリップ６００の一方の端部に近接して２つの突起部６２０、６２１を備え、接触点６１４によって指示されるように、テストストリップの頂部側６０２が上方を向いている場合、一方の突起部６２０は、ボーダー６０５の内側で接触パッド６０６の領域に電気的に接触するために使用され、もう一方の突起部６２１は、ボーダー６０５の外側で接触パッド６０６の領域に電気的に接触するために用いられる。突起部６２０、６２１が、それぞれ接触パッド６０６のボーダー６０５の内側の領域及びボーダー６０５の外側の領域に同時に物理的に触れている間に、検体メーター１００のこれら２つの突起部６２０、６２１間の抵抗を測定することができる。突起部６２０、６２１が接触点６１４に触れている場合、これら突起部の間に導電性経路が存在しないために高い抵抗が測定されると考えられ、これによって、テストストリップ６００の配向を「頂部が上方を向いている」として示す。したがって、テストストリップ６００の第１の配向は、高い抵抗に基づいて決定することが可能であり、これは本明細書ではデフォルト配向と呼ばれ得る。

接触点６１５によって指示されるように、テストストリップ６００が、底部側６０４が上方を向いた状態でテストストリップポートに挿入される場合（図６Ｂ）、テストストリップ６００の一方の端部に近接する２つの突起部６２０、６２１は、接触パッド６０８に電気的に接続することが可能である。突起部６２０、６２１が接触パッド６０８に物理的に同時に触れている間に、検体メーター１００の突起部６２０、６２１間の抵抗を測定することができる。接触パッド６０８は全面にわたって導電性であるために、低い抵抗が測定されることが考えられ、これによって、テストストリップ６００の配向を、「底部が上方を向く状態」として示す。したがって、テストストリップ６００の第２の配向は、低く測定された抵抗に基づいて決定することが可能である。テストストリップ６００の一方の端部に近接する２つの突起部６２０、６２１を使用するこれらの測定された抵抗に基づいて、検体メーター１００は、どちらの配向でテストストリップ６００が挿入されたかを決定することが可能である。

テストストリップ６００をそのテストストリップポート２２内に受容する検体メーター１００は、接触パッド６０６、６０８に電気的な接続を形成するためにストリップポートコネクタ１０４を使用し、これはテストストリップ６００の接触パッド６０６、６０８のそれぞれに係合する、本明細書では突起部６２１、６２２と呼ばれる、少なくとも一組の電気接触部を有するストリップポートコネクタを使用する。テストストリップがテストストリップポート２２に第１の配向で挿入される場合、突起部のうちの１つ６２２は、底部側接触パッド６０８に接触するよう配設され、一方別の突起部６２１は、頂部側の接触パッド６０６に電気的に接続するよう構成される。テストストリップ６００がテストストリップポート２２に第２の配向で挿入される場合、突起部６２２は頂部側の接触パッド６０６に電気的に接続し、突起部６２１は、底部側の接触パッド６０８に電気的に接続する。

図７Ａ〜Ｃは、実質的に平らな（平面的な）、細長いテストストリップ７００と、テストストリップ７００が、検体メーター１００のテストストリップポート２２に少なくとも２つの配向のいずれかで挿入される場合、検体測定に使用され得るストリップポートコネクタの別の実施形態を示す。図７Ａ〜Ｂを参照すると、テストストリップ７００は、本明細書ではテストストリップ７００の頂部側７０２及び底部側７０４と呼ばれる側部によって規定される。図７Ｃを参照すると、テストストリップ７００は、テストストリップ７００の一方の端部で導電性パッド７０６及び７２８を、テストストリップ７００の反対側の端部で接触パッド７０８及び７２６を有し、この接触パッド７０６及び７２６は、テストストリップ７００の頂部側７０２上に提供され、接触パッド７０８及び７２８は、底部側７０４上に提供される。矢印２１０は、テストストリップ７００のテストストリップポート２２への挿入の方向を示し、これは、テストストリップのいずれかの側部７０２、７０４が上方を向いた状態で挿入され得る。テストストリップ７００は、その中に試料を受容する試料チャンバ７１２を含み、試料はユーザーによって試料チャンバ７１２の一方の端部で提供される。電極７０７、７０９、７２７、７２９は、各接触パッド７０６、７０８、７２６、７２８のそれぞれから試料チャンバ７１２まで延び、ここで、提供された試料が電極７０７、７２７、７０９、７２９に物理的に接触し、これによって、反対側の端部上の接触パッド７０６、７０８、７２６、７２８とテストストリップ７００の反対側の側部７０２、７０４との間の電気通信経路を確立する。

接触パッド７０６、７２８のうちの２つは、それぞれ非導電性であるボーダー７０５、７２７を備える。これらボーダー７０５、７２７は、レーザーアブレーションを使用するなど、導電性材料のアブレーションによって形成することが可能であり、別の実施形態において、非導電性ボーダー７０５、７２７によって包囲された領域は、非導電性パッチとして全体が形成され得る。テストストリップ７００が挿入される検体メーター１００は、テストストリップ７００の一方の端部に近接して２つの突起部７２０、７２１を備える。接触点７１４で指示されるように、テストストリップの頂部側７０２が、上方を向いている場合、突起部のうちの１つ７２０は、ボーダー７０５の内側で接触パッド７０６の領域に電気的に接触するために使用され、他の突起部７２１は、ボーダー７０５の外側で接触パッド７０６に電気的に接触するために用いられる。検体メーター１００のこれら２つの突起部７２０、７２１間の抵抗は、突起部７２０、７２１がそれぞれ接触パッド７０６のボーダー７０５の内側の領域及びボーダー７０５の外側の領域に物理的に同時に触れている間に測定することが可能である。突起部７２０、７２１間に導電性経路が存在しないために、高い抵抗が測定されると考えられ、これによって、テストストリップ７００の配向を「頂部が上方を向いている」として示す。したがって、テストストリップ７００の第１の配向は、高い抵抗に基づいて決定することが可能であり、本明細書ではデフォルト配向と呼ばれ得る。

接触点７１５によって指示されるように、テストストリップ７００が底部側７０４が上方を向いた状態でテストストリップポートに挿入される場合（図７Ｂ）、テストストリップ７００の一方の端部に近接する２つの突起部７２０、７２１は、接触パッド７０８に電気的に接続することが可能である。検体メーター１００の突起部７２０、７２１間の抵抗は、突起部７２０、７２１が接触パッド７０８に物理的に同時に触れている間に測定することが可能である。接触パッド７０８が、全体的に導電性であるために、低い抵抗が測定されると考えられ、これによって、テストストリップ７００の配向を「底部側が上方を向いている」として示す。したがって、テストストリップ７００の第２の配向は、低く測定された抵抗に基づいて決定することが可能である。テストストリップ７００の一方の端部に近接する２つの突起部７２０、７２１を使用するこれらの測定された抵抗に基づいて、検体メーター１００は、どちらの配向でテストストリップ７００が挿入されたかを決定することができる。

そのテストストリップポート２２内にテストストリップ７００を受容する検体メーター１００は、一組の接触パッド７０６及び７２６、又は７０８及び７２８に電気的接続を形成するためにストリップポートコネクタ１０４を使用し、これはテストストリップポート２２内のテストストリップの配向に応じて、同一の側部７０２、７０４上の接触パッドの対応する組７０６〜７２６又は７０８〜７２６にそれぞれ係合する本明細書で突起部７２１、７２４と呼ばれる少なくとも一組の電気接触部を有するストリップポートコネクタを使用する。突起部７３０、７２１、７２４は下方を向いている状態で示されているが、これらは接触パッドの同一の組７０６〜７２６、又は７０８〜７２８と本明細書に記載されている方法で電気的に接続するために上方を向いてもよい。

図８Ａ〜Ｃは、実質的に平らな（平面的な）、細長いテストストリップ８００と、テストストリップ８００が検体メーター１００のテストストリップポート２２に少なくとも２つの配向のいずれかで挿入される場合、検体測定に使用することが可能であるストリップポートコネクタ１０４の実施形態を示す。図８Ａ〜Ｂを参照すると、テストストリップ８００は、本明細書でテストストリップ８００の頂部側８０２及び底部側８０４と呼ばれる側部によって規定される。具体的には図８Ｃを参照すると、テストストリップ８００は、テストストリップ８００の反対側の端部で配設された導電性接触パッド８０６、８０８を有し、この接触パッド８０６は、テストストリップ８００の頂部側８０２上に提供され、接触パッド８０８は、底部側８０４上に提供されている。矢印２１０は、テストストリップ８００のテストストリップポート２２への挿入の方向を示し、テストストリップは、テストストリップ８００のいずれかの側部８０２、８０４が上方を向いている状態で挿入され得る。テストストリップ８００は、その中に試料を受容するための試料チャンバ８１２を含み、試料はユーザーによって試料チャンバ−８１２の一方の端部で提供される。電極８０７、８０９は各接触パッド８０６、８０８のそれぞれから試料チャンバ８１２まで延び、その中に提供された試料が電極８０７、８０９と物理的な接触を形成し、これによって、反対側の端部上の接触パッド８０６、８０８とテストストリップ８００の反対側の側部８０２、８０４との間に電気通信経路を確立する。

テストストリップ８００をそのテストストリップポート２２内に受容する検体メーター１００は、一組の接触パッド８０６、８０８との電気的接続を形成するために、ストリップポートコネクタ１０４を使用し、これはテストストリップ８００の接触パッド８０６、８０８に係合する、本明細書ではそれぞれ突起部８２０、８２２と呼ばれる少なくとも一組の電気接触部を有するストリップポートコネクタを使用する。テストストリップ８００が第１の配向で、すなわち「デフォルト」配向でテストストリップポート２２内に挿入される場合、突起部のうちの１つ８２２は、底部側接触パッド８０８に接触するよう配設され、一方別の突起部８２０は、頂部側接触パッド８０６に接続するよう構成される。テストストリップ８００が、第２の配向でテストストリップポート２２内に挿入される場合、突起部８２２は頂部側接触パッド８０６に電気的に接続し、突起部８２０は、底部側接触パッド８０８に電気的に接続する。

図９Ａ〜Ｃは、実質的に平らな（平面的な）、細長いテストストリップ９００と、テストストリップ９００が検体メーター１００のテストストリップポート２２に少なくとも２つの配向のいずれかで挿入される場合、検体測定に使用することが可能であるストリップポートコネクタ１０４の別の実施形態を示す。図９Ａ〜Ｂを参照すると、テストストリップ９００は、本明細書でテストストリップ９００の頂部側９０２及び底部側９０４と呼ばれる側部によって規定される。具体的には図８Ｃを参照すると、テストストリップ９００は、テストストリップ９００の一方の端部で導電性接触パッド９０６及び９２８を、テストストリップ９００の反対側の端部で接触パッド９０８及び９２６を有し、この接触パッド９０６及び９２６は、テストストリップ９００の頂部側９０２上に提供され、接触パッド９０８及び９２８は、底部側９０４上に提供されている。矢印２１０は、テストストリップ９００のテストストリップポート２２への挿入の方向を示し、テストストリップは、テストストリップ９００のいずれかの側部９０２、９０４が上方を向いている状態で挿入され得る。テストストリップ９００のデフォルト配向は、側部９０２が上方を向いている状態として本明細書で指定され得る。テストストリップ９００は、その中に試料を受容する試料チャンバ９１２を含み、試料はユーザーによって試料チャンバ９１２の一方の端部９１３で提供される。電極９０７、９２７、９０９、９２９は各接触パッド９０６、９２６、９０８、９２８のそれぞれから試料チャンバ９１２まで延び、その中に提供された試料が電極９０７、９２７、９０９、９２９と物理的な接触を形成し、これによって、反対側の端部上の接触パッド９０６、９０８、９２６、９２８とテストストリップ９００の反対側の側部９０２、９０４との間に電気通信経路を確立する。

テストストリップ９００をそのテストストリップポート２２内に受容する検体メーター１００は、一組の接触パッド９０６及び９２６、又は９０８及び９２８との電気的接続を形成するために、ストリップポートコネクタ１０４を使用し、これはテストストリップポート２２内のテストストリップ９００の配向に応じて、テストストリップ９００の同一側部９０２、９０４上のそれぞれの接触パッドの対応する組９０６〜９２６、又は９０８〜９２８に係合する、本明細書ではそれぞれ突起部９２０、９２２と呼ばれる少なくとも一組の電気接触部を有するストリップポートコネクタを使用する。突起部９２０、９２４は下方に向いている状態で示されているが、本明細書に記載されている方法で接触パッドの同一の組９０６〜９２６又は９０８〜９２８に接続するために、上方を向いてもよい。

図８Ａ〜Ｃ及び図９Ａ〜Ｃの図は、その配向（すなわち、第１の配向又は第２の配向）が検体メーター１００のテストストリップポート２２への挿入後並びに試料が試料チャンバ８１２、９１２に提供される際に検出されるテストストリップ８００、９００を示している。上述したように、例えばフェリシアニドを含むことが可能である調節物質は、テストストリップ内の電極のうちの１つ、即ち作用電極上に配設され、この作用電極は、それぞれ図８Ａ、９Ａ、及び９Ｂの例示的なテストストリップ内の電極８０７及び９０７、９０９として示されているが、これらに該当するする電極が、この代わりに作用電極と称されてもよい。調節物質は、試料チャンバ８１２、９１２における適用時に試料と混合する１つ以上の構成成分を含むことが可能であり、本明細書に記載されているように、対応する接触パッドに電気的に接続された検体メーター接触部８２０、８２２、及び９２０、９２４のそれぞれを介し、電極８０７、８０９、及び９０７〜９２７又は９０９〜９２９を使用して、そこを通過するグルコース測定電流の発生で使用される。グルコース試験のために、グルコース測定入力信号がこの混合物に付与される間又はこの後に、試料チャンバ内での調節物質と試料のこのような混合は、試料チャンバにおいて、初期の試料及び調節物質混合物の平衡化が達成されるまで一定時間を要する。試料が試料チャンバ８１２、９１２に加えられた直後に、試料は対応する電極との物理的接続を確立し、これによって、試料チャンバ８１２、９１２の反対側の側部上の電極に電気化学的に接続する。電極８０７、８０９、及び９０７〜９２７又は９０９〜９２９の間の電気化学的特性は、調節物質が、例えばテストストリップ８００の電極８０７上、及びテストストリップ９００の電極９０７、９０９上など、電極のうちの１つだけに存在するために、非対称である。このことは、これら電極の非対称の電気的又は電気化学的特性を検出することによって、テストストリップの配向が確認され得る間の持続時間をもたらすことになる。

前述された非対称の電気的／電気化学的特性の例は、図１０に図示されている。この例において、ミリ秒単位で測定された横軸上の時間０は、試料がテストストリップ８００、９００に加えられる時間を示す。例えば、試料がテストストリップ８００の電極８０７、８０９又はテストストリップ９００の電極９０７、９２７、及び９０９、９２７との物理的な接触を行うよう提供される際に、これら電極間で測定される電圧電位は、調節物質が提供された試料と十分に混合する前に発生する電圧スイング１００２、１００４によって指示される。この例示的実施形態においては、開回路定電流電位差測定を使用して、電圧電位を測定する。図１０に示した電圧スイング１００２及び１００４は、６つの試験ケース（それぞれ正方向に向かうもの及び負方向に向かうものが３つ）を図示し、これはテストストリップ８００、９００内の試料の適用によって、感知可能な電圧電位が発生したことを明確に裏付けている。電圧電位は、それに付着された調節物質を有する作用電極８０７、又は９０７、９０９に向けてスイングするであろう。したがって、テストストリップへの試料の適用後に約２００〜３００ミリ秒の持続時間１００６が存在し、ここでは正方向又は負方向に向かう電圧電位波形は正のピーク又は負のピークに到達し、検体メーター１００のテストストリップポート２２内のテストストリップ８００、９００の配向を決定するために、マイクロコントローラ１２２のプログラムされた動作によって容易かつ明確に検出することが可能である。正又は負に向かう電圧電位波形は、試料のテストストリップへの適用後、最大約１０００ミリ秒でも検出することが可能である。図１０に図示した例示的なグラフにおいて、正に向かう電圧スイング１００２は、下方を向いているテストストリップ８００、９００のそれぞれ頂部側８０２、９０２を示している。負に向かう電圧スイング１００４は、上方を向いているテストストリップ８００、９００のそれぞれ頂部側８０２、９０２を示している。

短い持続時間、例えば、１秒未満の持続時間又は３００ミリ秒未満の持続時間の開回路（０ａｍｐｓ）定電流電位差測定を使用することの１つの利点は、この配向検出測定位相の持続時間にわたって、外部電位が印加されず、電流も電気化学セル内から引き出されないために、電位差測定の挿入配向信号が後続の電流測定のグルコース測定電流に及ぼす干渉又は影響が最小の状態で検出されることを可能にすることである。

検体メーター１００のテストストリップポート２２内のテストストリップ２４の挿入配向の決定を説明している図２Ａ〜９Ｃで図示した上記例の全てにおいて、テストストリップの配向が決定された後に、グルコース測定電流が、検体メーター１００の図２Ｃの例においては接触部２２０、図４Ｃの例においては接触部４２０、図６Ｃの例においては接触部６２１、図７Ｃの例においては接触部７２１、図８Ｃの例においては接触部８２０、及び図９Ｃの例においては接触部９２０を通して試料に印加されることが可能である。グルコース測定電流は、血糖レベルが正確に測定され得るように、適当な極性で印加される。グルコース測定入力信号の正確な極性の適用は、前述のテストストリップ２４の配向の決定に応じて、検体メーター１００の接触部に、したがってテストストリップ２４の接触パッドに付与される信号の極性を反転させる又は反転させないことが可能な回路をプログラム可能に制御するマイクロコントローラ１２２を含む。

図１１Ａは、テストストリップ２４が、頂部が上方を向いた状態でテストストリップポート２２に挿入される場合、上記で特定された例示的な接触部に検体メーター１００によって制御可能に印加される入力信号電圧１１０２、即ち、デフォルト検体測定入力信号を図示する。図１１Ｂは、テストストリップ２４が、底部が上方を向いた状態でテストストリップポート２２に挿入される場合、上記で特定された例示的な接触部に検体メーター１００によって制御可能に付与される検体測定入力信号１１０４を図示する。一実施形態において、頂部が上方を向いて配向されたテストストリップ２４に印加される電圧として、約＋２０ｍＶで約１秒間の電圧、続いて約＋３００ｍＶで約３秒間の電圧、続いて約−３００ｍＶで約１秒間の電圧レベルを含む。これら印加された電圧は、試料中でグルコース測定電流を発生し、上述したように、これが試料のグルコースレベルを決定するために使用される。検体メーター１００内で底部が上方を向いていることが決定されたテストストリップ２４は、上記で特定された検体メーター１００接触部を通して、テストストリップに印加された図１１Ｂの電圧波形、すなわち逆の検体測定入力信号を有し、これは、図１１Ａのデフォルト入力信号波形の逆極性又は反転極性である。グルコース電流を測定するために、このような検体測定入力信号を印加する例示的な検体メーターは、本出願において十分に論及されることによって、本明細書に参考として援用される、「ＳｙｓｔｅｍｓａｎｄＭｅｔｈｏｄｓｏｆＤｉｓｃｒｉｍｉｎａｔｉｎｇＣｏｎｔｒｏｌＳｏｌｕｔｉｏｎｆｒｏｍａＰｈｙｓｉｏｌｏｇｉｃａｌＳａｍｐｌｅ」と題された、米国特許出願公開第ＵＳ２００９／００８４６８７Ａ１号に記載されている。

図１２は、本明細書に記載されている検体メーター１００の操作方法を説明する例示的な流れ図を示す。工程１２０１において、検体メーター１００が、そのテストストリップポート２２に挿入されたテストストリップ２４を受容する。工程１２０２において、検体メーター１００が、本明細書に記載されている機械的、光学的、又は電気的検出手段、又はこれらの組み合わせのいずれかを使用して、挿入されたテストストリップ２４の配向を決定する。この決定工程１２０２は、決定手段が上記のように試験信号をそこに付与するために試料が存在していることを必要とするかどうか、又はテストストリップ２４が挿入時にメーター１００によって検出される物理的特徴部を含むかどうかに応じて、試料がテストストリップ２４に加えられる前又は加えられた後で実行されてもよい。工程１２０２においてテストストリップがデフォルト配向にあることが決定されれば、次いで、工程１２０３において、試料が試料チャンバ内に受容される際に、デフォルト検体測定入力信号が試料に付与される。工程１２０２において、テストストリップがデフォルト配向にはないことが決定されれば、次いで、工程１２０４において、逆検体測定入力信号（デフォルトの逆）が試料に付与される。工程１２０５において、検体メーター１００がテストストリップ２４から試料を通して流れる電流レベルに相当する出力信号を受容し、検体メーター１００がこれを使用して、試料の検体レベルを決定する。

当業者であれば理解されるように、本発明の態様は、システム、方法、又はコンピュータプログラム製品として実現され得る。結果的に、本発明の態様は、本明細書で全て一般的に「回路」、「回路機構」、「モジュール」、「サブシステム」、及び／又は「システム」と呼ばれ得る、完全なハードウェアの実施形態、完全なソフトウェアの実施形態（ファームウェア、常駐型ソフトウェア、マイクロコードなどを含める）、又はソフトウェア及びハードウェアを組み合わせる実施形態の形態を取ることが可能である。更に、本発明の態様は、そこで実現されるコンピュータ読み取り可能コードを有する１つ以上のコンピュータ読取り可能媒体（複数可）において具体化されるコンピュータプログラム製品の形態を取ってもよい。

１つ以上のコンピュータ読み取り可能媒体（複数可）の任意の組み合わせが利用されてもよい。このコンピュータ読み取り可能媒体は、コンピュータ読み取り可能信号媒体又はコンピュータ読み取り可能記憶媒体であり得る。コンピュータ読み取り可能記憶媒体は、限定されるものではないが、例えば、電子、磁気、光学、電磁気、赤外、又は半導体システム、装置、又はデバイス、若しくは前述の任意の好適な組み合わせであり得る。コンピュータ読み取り可能な記憶装置のより具体的な例としては、以下が挙げられる：１つ以上の配線を有する電気的接続、ポータブルコンピュータフロッピーディスク、ハードディスク、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、消去可能プログラム可能読み出し専用メモリ（ＥＰＲＯＭ又はフラッシュメモリ）、光ファイバー、ポータブルコンパクトディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ−ＲＯＭ）、光学的記憶装置、磁気記憶装置、又は上記の物の任意の組み合わせ。本明細書のコンテキストにおいて、コンピュータ読み取り可能記憶媒体は、命令実行システム、装置、又はデバイスによって、又はこれらに関連付けて使用するためのプログラムを含む又は記憶する任意の有形の非一時的媒体であり得る。

コンピュータ読み取り可能媒体上で実現されるプログラムコード及び／又は実行可能な命令は、無線、有線、光ファイバケーブル、ＲＦ等、又は前述の任意な好適な組み合わせを含むがこれらに限定されない適切な媒体を使用して送信され得る。

このコンピュータプログラム命令は、流れ図及び／又はブロック図のブロック又はブロック（複数）において特定された機能／動作を実現するために、コンピュータ上、他のプログラム可能なデータ処理装置上、若しくはコンピュータ又は他のプログラム可能な装置上で実行する命令がコンピュータ、他のプログラム可能な装置又は他のデバイス上で実行される一連の操作工程を生じるための他のデバイス上にロードされることも可能である。

更に、本明細書で記載されている多様な方法は、シェルフソフトウェア開発ツールを使用して、ソフトウェアコードを作成するために使用することが可能である。しかしながら、これらの方法は、こうした方法をコードするための新しいソフトウェア言語の必要条件及び入手可能性に応じて、他のソフトウェア言語に変換することもできる。

本発明を特定の変形例及び説明図に関して述べたが、当業者には本発明が上述された変形例又は図に限定されないことが認識されよう。更に、上述の方法及び工程が特定の順序で起こる特定の事象を示している場合、当業者には特定の工程の順序が変更可能であり、そうした変更は本発明の変形例に従うものである点が認識されよう。更に、こうした工程のうちのあるものは、上述のように順次行われるが、場合に応じて並行したプロセスで同時に行われてもよい。したがって、開示の趣旨及び請求項に見出される本発明の同等物の範囲内にある本発明の変形が存在する範囲では、本特許請求がこうした変形例をも包含することが意図されるところである。

〔実施の態様〕
（１）検体メーターであって、
テストストリップを受容するよう構成されたテストストリップポートであり、
前記テストストリップが前記テストストリップポート内に挿入される場合、前記テストストリップ上に配設された対応する接触パッドに電気的に接続するようそれぞれが構成された複数の接触部を含むストリップポートコネクタと、
前記テストストリップの配向を検出するためのテストストリップ配向検出器とを含む、テストストリップポートと、
前記ストリップポートコネクタに電気的に接続し、前記テストストリップ配向検出器からの第１の信号に反応して、所定の信号を前記コネクタの第１の接触部に付与するよう、かつ前記テストストリップ配向検出器からの第２の信号に反応して、第２の所定の信号を前記第１の接触部に付与するよう構成された、制御回路と、を含む検体メーター。
（２）前記テストストリップ配向検出器が、前記テストストリップの特徴を感知するよう構成されたセンサを含み、前記特徴が、前記テストストリップの前記配向を示す、実施態様１に記載の検体メーター。
（３）前記センサが、前記テストストリップの前記配向を示す前記テストストリップ上の突起に接触し、前記突起との接触に基づいて、電気信号を送信するよう構成されている、実施態様２に記載の検体メーター。
（４）前記センサが、前記テストストリップの前記配向を示す前記テストストリップの一部分を光学的に検出し、前記テストストリップの前記一部分を光学的に検出した際に、前記制御回路に電気信号を送信するよう構成されている、実施態様２に記載の検体メーター。
（５）前記テストストリップが、第１の側部と第２の側部とを含み、前記第２の側部は前記第１の側部の反対側にあり、前記接触部のうちの第１の接触部が前記テストストリップの前記第１の側部上の第１の接触パッドに電気的に接続し、これと同時に、前記接触部のうちの第２の接触部が、前記テストストリップの第２の側部上の第２の接触パッドに電気的に接続する、実施態様１に記載の検体メーター。

（６）前記テストストリップが、第１の側部と第２の側部とを含み、前記第２の側部は前記第１の側部の反対側にあり、前記接触部のうちの第１の接触部が前記テストストリップの前記第１の側部上の第１の接触パッドに電気的に接続し、これと同時に、前記接触部のうちの第２の接触部が、前記テストストリップの前記第１の側部上の第２の接触パッドに電気的に接続する、実施態様１に記載の検体メーター。
（７）前記テストストリップ配向検出器が、電圧測定回路を含む、実施態様１に記載の検体メーター。
（８）前記制御回路が、試料が前記テストストリップに加えられた後に、前記テストストリップの前記配向を電気的に検出するよう構成されている、実施態様１に記載の検体メーター。
（９）前記テストストリップ配向検出器が、前記接触部のうちの２つの間の抵抗の大きさを測定するための回路を含む、実施態様１に記載の検体メーター。
（１０）前記配向検出器が、前記テストストリップが前記テストストリップポート内に挿入される場合及び試料が前記テストストリップに加えられる前に、前記テストストリップの前記配向を電気的に検出するよう構成されている、実施態様１に記載の検体メーター。

（１１）検体メーターであって、
メーターハウジングと、
前記ハウジング内に配設され、テストストリップを受容するために構成されたテストストリップポートであり、前記テストストリップが前記テストストリップポート内に挿入される場合、前記テストストリップ上に配設された対応する電極に電気的に接続するよう構成された複数の接触部を含むストリップポートコネクタを有する、テストストリップポートと、
電気信号を前記テストストリップに付与するため、並びに前記テストストリップからの前記電気信号に対する電気的反応を検出するための、前記ストリップポートコネクタに電気的に接続された制御回路であり、前記テストストリップからの前記電気的反応が、前記テストストリップの配向を示し、前記制御回路が、前記テストストリップに加えられた試料中で測定可能な電流を発生させるためのものである第１の検体測定信号を、前記テストストリップの第１の配向を検出することに反応して、前記ストリップポートコネクタ内の第１の接触部に付与するよう構成され、かつ前記テストストリップに加えられた前記試料中で前記測定可能な電流を発生させるためのものである前記第１の検体測定信号とは異なる第２の検体測定信号を、前記テストストリップの第２の配向を検出することに反応して、前記ストリップポートコネクタ内の前記第１の接触部に付与するよう構成されている、制御回路と、を含む検体メーター。
（１２）前記テストストリップが、第１の側部と反対側の第２の側部とを含み、前記ストリップポートコネクタの前記第１の接触部が、前記テストストリップの前記第１の側部上の接触パッドに電気的に接続し、これと同時に、前記ストリップポートコネクタの第２の接触部が、前記テストストリップの前記第２の側部上の第２の接触パッドに電気的に接続する、実施態様１１に記載の検体メーター。
（１３）前記テストストリップが、第１の側部と反対側の第２の側部とを含み、前記ストリップポートコネクタの前記第１の接触部が、前記テストストリップの前記第１の側部上の第１の接触パッドに電気的に接続し、これと同時に、前記ストリップポートコネクタの第２の接触部が、前記テストストリップの前記第１の側部上の第２の接触パッドに電気的に接続する、実施態様１１に記載の検体メーター。
（１４）前記試料中の前記測定可能な電流の測定されたレベルが、前記試料の検体レベルに相当する、実施態様１１に記載の検体メーター。
（１５）前記試料の前記検体レベルが、前記試料のグルコースレベルを含む、実施態様１４に記載の検体メーター。

（１６）前記制御回路が、前記試料が前記テストストリップに加えられた後約３００ミリ秒以内に、前記テストストリップからの前記電気信号に対する前記電気的反応を電気的に検出するよう構成されている、実施態様１１に記載の検体メーター。
（１７）前記テストストリップの前記電気的反応が、前記接触部のうちの２つの間で測定された抵抗の大きさである、実施態様１１に記載の検体メーター。
（１８）前記制御回路が、前記テストストリップが前記テストストリップポート内に挿入される場合、及び前記試料が前記テストストリップに加えられる前に、前記接触部のうちの前記２つの間の前記抵抗の前記大きさを測定するよう構成されている、実施態様１７に記載の検体メーター。
（１９）前記第１の検体測定信号及び前記第２の検体測定信号が反比例している、実施態様１１に記載の検体メーター。
（２０）テストストリップであって、
平面的な細長い基材であり、前記テストストリップが、第１の側部と反対側の第２の側部とを有し、前記基材が、第１の端部及び反対側の第２の端部とを更に含む、基材と、
前記第１の端部と前記第２の端部との間に配設された試料チャンバであり、それに加えられた試料を受容するためのものである、試料チャンバと、
前記テストストリップに加えられた前記試料を通して検体測定電流を駆動するよう構成された複数の電極であり、前記テストストリップの前記第１の側部上の少なくとも１つの電極が前記テストストリップの前記第１の端部に近接し、前記テストストリップの前記第２の側部上の少なくとも１つの電極が、前記テストストリップの前記第２の端部に近接している、電極と、を含み、前記テストストリップが、前記試料中の目的の検体を試験するために、少なくとも２つの配向で検体テストメーター内に挿入されるよう構成されている、テストストリップ。

（２１）テストストリップであって、
平面的な細長い基材であり、前記テストストリップが、第１の側部と反対側の第２の側部とを有し、前記基材が、第１の端部と反対側の第２の端部とを更に含む、基材と、
前記第１の端部と前記第２の端部との間に配設された試料チャンバであり、それに加えられた試料を受容するためのものである、試料チャンバと、
前記テストストリップに加えられた前記試料を通して検体測定電流を駆動するよう構成された複数の電極であり、第１の電極が前記テストストリップの前記第１の端部に近接する前記第１の側部上に配設され、第２の電極が、前記テストストリップの前記第２の端部に近接する前記第１の側部上に配設され、第３の電極が、前記テストストリップの前記第１の端部に近接する前記第２の側部上に配設され、第４の電極が、前記テストストリップの前記第２の端部に近接する前記第２の側部上に配設されている、電極とを含む、テストストリップ。
（２２）前記第１の電極が、前記テストストリップが第１の配向で検体メーターに挿入される場合、前記検体メーターの少なくとも１つの電気接触部に接するよう構成された高抵抗部分を含み、前記第４の電極が、前記テストストリップが前記第１の配向とは異なる第２の配向で前記検体メーターに挿入される場合、前記検体メーターの前記少なくとも１つの電気接触部に接するよう構成された低抵抗部分を含む、実施態様２１に記載のテストストリップ。
（２３）検体メーターの操作方法であって、
前記検体メーターのテストストリップポートに少なくとも２つの配向で挿入されるよう構成されたテストストリップを使用して、前記テストストリップポート内にテストストリップを受容する工程と、
前記受容されたテストストリップの配向を決定する工程と、
前記受容されたテストストリップの前記決定された配向に基づいて、複数の電気測定信号から自動的に選択される電気測定信号を、前記テストストリップ内の試料に付与し、前記試料中の検体レベルを決定する工程と、を含む方法。
（２４）前記テストストリップの前記配向を決定する前記工程が、前記テストストリップポート内の接触部を前記受容されたテストストリップ上に配設された接触パッドに電気的に接続させて、その抵抗を検出する工程を含み、前記抵抗の大きさが、前記受容されたテストストリップの前記配向を示す、実施態様２３に記載の方法。
（２５）前記決定する工程が、前記テストストリップポート内のセンサを用いて、前記テストストリップの物理的特徴を検出する工程を含み、前記検出された物理的特徴が、前記テストストリップが前記テストストリップポート内に挿入される場合、前記受容されたテストストリップの前記配向を示す、実施態様２３に記載の方法。

（２６）センサを用いて前記テストストリップの物理的特徴を検出する前記工程が、偏向可能なスイッチ、磁気リレー、光検出器、光センサ、又はこれらの組み合わせのうちの１つを用いる工程を含む、実施態様２５に記載の方法。
（２７）前記テストストリップの前記配向を決定する前記工程が、前記試料を前記テストストリップ内に受容し、前記電気測定信号を前記試料に付与する前に前記受容された試料を横断する電圧を測定する工程を含む、実施態様２３に記載の方法。
（２８）前記受容された試料を横断する前記電圧を測定する前記工程が、前記試料を前記テストストリップ内に受容した後約３００ミリ秒以内で、前記受容された試料を横断する前記電圧の極性を測定する工程を含む、実施態様２７に記載の方法。
（２９）テストストリップ及びストリップポートコネクタ（ＳＰＣ）システムであって、
長手方向縁部上に配設された突出部を有するテストストリップと、
ストリップポートコネクタ（ＳＰＣ）であり、
前記ＳＰＣ内に第１の配向で挿入された前記テストストリップの電気接触パッドと動作可能な接触を行うよう構成された電気接触部の第１のセットと、
前記ＳＰＣ内に第２の配向で挿入された前記テストストリップの前記電気接触パッドと動作可能な接触を行うよう構成された電気接触部の第２のセットと、
前記第１及び第２の配向を、前記ＳＰＣ内の前記突出部の位置決めに基づいて識別するよう構成されたテストストリップ配向検出機構とを含む、ストリップポートコネクタと、を含むシステム。
（３０）テストストリップを備える手持ち式のテストメーターを使用するための方法であって、
長手方向縁部上に配設された突出部を有するテストストリップを、手持ち式メーターのストリップポートコネクタ（ＳＰＣ）に挿入する工程と、
前記テストストリップの接触パッドへの電気接触を行う工程であって、
前記ＳＰＣ内に第１の配向で挿入された前記テストストリップの電気接触パッドと動作可能な接触を行うよう構成された電気接触部の第１のセット、及び
前記ＳＰＣ内に第２の配向で挿入された前記テストストリップの前記電気接触パッドと動作可能な接触を行うよう構成された電気接触部の第２のセットのうちの一方を使用して、電気接触を行う、工程と、
前記ＳＰＣのテストストリップ配向機構を使用して、前記ＳＰＣ内の前記突出部の位置決めに基づいて、前記第１及び第２の配向を識別する工程と、を含む方法。

Claims

検体メーターであって、
テストストリップを受容するよう構成されたテストストリップポートであり、
前記テストストリップが前記テストストリップポート内に挿入される場合、前記テストストリップ上に配設された対応する接触パッドに電気的に接続するようそれぞれが構成された複数の接触部を含むストリップポートコネクタと、
前記テストストリップの配向を検出するためのテストストリップ配向検出器とを含む、テストストリップポートと、
前記ストリップポートコネクタに電気的に接続し、前記テストストリップ配向検出器からの第１の信号に反応して、所定の信号を前記コネクタの第１の接触部に付与するよう、かつ前記テストストリップ配向検出器からの第２の信号に反応して、第２の所定の信号を前記第１の接触部に付与するよう構成された、制御回路と、を含む検体メーター。
前記テストストリップ配向検出器が、前記テストストリップの特徴を感知するよう構成されたセンサを含み、前記特徴が、前記テストストリップの前記配向を示す、請求項１に記載の検体メーター。
前記センサが、前記テストストリップの前記配向を示す前記テストストリップ上の突起に接触し、前記突起との接触に基づいて、電気信号を送信するよう構成されている、請求項２に記載の検体メーター。
前記センサが、前記テストストリップの前記配向を示す前記テストストリップの一部分を光学的に検出し、前記テストストリップの前記一部分を光学的に検出した際に、前記制御回路に電気信号を送信するよう構成されている、請求項２に記載の検体メーター。
前記テストストリップが、第１の側部と第２の側部とを含み、前記第２の側部は前記第１の側部の反対側にあり、前記接触部のうちの第１の接触部が前記テストストリップの前記第１の側部上の第１の接触パッドに電気的に接続し、これと同時に、前記接触部のうちの第２の接触部が、前記テストストリップの第２の側部上の第２の接触パッドに電気的に接続する、請求項１に記載の検体メーター。
前記テストストリップが、第１の側部と第２の側部とを含み、前記第２の側部は前記第１の側部の反対側にあり、前記接触部のうちの第１の接触部が前記テストストリップの前記第１の側部上の第１の接触パッドに電気的に接続し、これと同時に、前記接触部のうちの第２の接触部が、前記テストストリップの前記第１の側部上の第２の接触パッドに電気的に接続する、請求項１に記載の検体メーター。
前記テストストリップ配向検出器が、電圧測定回路を含む、請求項１に記載の検体メーター。
前記制御回路が、試料が前記テストストリップに加えられた後に、前記テストストリップの前記配向を電気的に検出するよう構成されている、請求項１に記載の検体メーター。
前記テストストリップ配向検出器が、前記接触部のうちの２つの間の抵抗の大きさを測定するための回路を含む、請求項１に記載の検体メーター。
前記配向検出器が、前記テストストリップが前記テストストリップポート内に挿入される場合及び試料が前記テストストリップに加えられる前に、前記テストストリップの前記配向を電気的に検出するよう構成されている、請求項１に記載の検体メーター。
検体メーターであって、
メーターハウジングと、
前記ハウジング内に配設され、テストストリップを受容するために構成されたテストストリップポートであり、前記テストストリップが前記テストストリップポート内に挿入される場合、前記テストストリップ上に配設された対応する電極に電気的に接続するよう構成された複数の接触部を含むストリップポートコネクタを有する、テストストリップポートと、
電気信号を前記テストストリップに付与するため、並びに前記テストストリップからの前記電気信号に対する電気的反応を検出するための、前記ストリップポートコネクタに電気的に接続された制御回路であり、前記テストストリップからの前記電気的反応が、前記テストストリップの配向を示し、前記制御回路が、前記テストストリップに加えられた試料中で測定可能な電流を発生させるためのものである第１の検体測定信号を、前記テストストリップの第１の配向を検出することに反応して、前記ストリップポートコネクタ内の第１の接触部に付与するよう構成され、かつ前記テストストリップに加えられた前記試料中で前記測定可能な電流を発生させるためのものである前記第１の検体測定信号とは異なる第２の検体測定信号を、前記テストストリップの第２の配向を検出することに反応して、前記ストリップポートコネクタ内の前記第１の接触部に付与するよう構成されている、制御回路と、を含む検体メーター。
前記テストストリップが、第１の側部と反対側の第２の側部とを含み、前記ストリップポートコネクタの前記第１の接触部が、前記テストストリップの前記第１の側部上の接触パッドに電気的に接続し、これと同時に、前記ストリップポートコネクタの第２の接触部が、前記テストストリップの前記第２の側部上の第２の接触パッドに電気的に接続する、請求項１１に記載の検体メーター。
前記テストストリップが、第１の側部と反対側の第２の側部とを含み、前記ストリップポートコネクタの前記第１の接触部が、前記テストストリップの前記第１の側部上の第１の接触パッドに電気的に接続し、これと同時に、前記ストリップポートコネクタの第２の接触部が、前記テストストリップの前記第１の側部上の第２の接触パッドに電気的に接続する、請求項１１に記載の検体メーター。
前記試料中の前記測定可能な電流の測定されたレベルが、前記試料の検体レベルに相当する、請求項１１に記載の検体メーター。
前記試料の前記検体レベルが、前記試料のグルコースレベルを含む、請求項１４に記載の検体メーター。
前記制御回路が、前記試料が前記テストストリップに加えられた後約３００ミリ秒以内に、前記テストストリップからの前記電気信号に対する前記電気的反応を電気的に検出するよう構成されている、請求項１１に記載の検体メーター。
前記テストストリップの前記電気的反応が、前記接触部のうちの２つの間で測定された抵抗の大きさである、請求項１１に記載の検体メーター。
前記制御回路が、前記テストストリップが前記テストストリップポート内に挿入される場合、及び前記試料が前記テストストリップに加えられる前に、前記接触部のうちの前記２つの間の前記抵抗の前記大きさを測定するよう構成されている、請求項１７に記載の検体メーター。
前記第１の検体測定信号及び前記第２の検体測定信号が反比例している、請求項１１に記載の検体メーター。
テストストリップであって、
平面的な細長い基材であり、前記テストストリップが、第１の側部と反対側の第２の側部とを有し、前記基材が、第１の端部及び反対側の第２の端部とを更に含む、基材と、
前記第１の端部と前記第２の端部との間に配設された試料チャンバであり、それに加えられた試料を受容するためのものである、試料チャンバと、
前記テストストリップに加えられた前記試料を通して検体測定電流を駆動するよう構成された複数の電極であり、前記テストストリップの前記第１の側部上の少なくとも１つの電極が前記テストストリップの前記第１の端部に近接し、前記テストストリップの前記第２の側部上の少なくとも１つの電極が、前記テストストリップの前記第２の端部に近接している、電極と、を含み、前記テストストリップが、前記試料中の目的の検体を試験するために、少なくとも２つの配向で検体テストメーター内に挿入されるよう構成されている、テストストリップ。
テストストリップであって、
平面的な細長い基材であり、前記テストストリップが、第１の側部と反対側の第２の側部とを有し、前記基材が、第１の端部と反対側の第２の端部とを更に含む、基材と、
前記第１の端部と前記第２の端部との間に配設された試料チャンバであり、それに加えられた試料を受容するためのものである、試料チャンバと、
前記テストストリップに加えられた前記試料を通して検体測定電流を駆動するよう構成された複数の電極であり、第１の電極が前記テストストリップの前記第１の端部に近接する前記第１の側部上に配設され、第２の電極が、前記テストストリップの前記第２の端部に近接する前記第１の側部上に配設され、第３の電極が、前記テストストリップの前記第１の端部に近接する前記第２の側部上に配設され、第４の電極が、前記テストストリップの前記第２の端部に近接する前記第２の側部上に配設されている、電極とを含む、テストストリップ。
前記第１の電極が、前記テストストリップが第１の配向で検体メーターに挿入される場合、前記検体メーターの少なくとも１つの電気接触部に接するよう構成された高抵抗部分を含み、前記第４の電極が、前記テストストリップが前記第１の配向とは異なる第２の配向で前記検体メーターに挿入される場合、前記検体メーターの前記少なくとも１つの電気接触部に接するよう構成された低抵抗部分を含む、請求項２１に記載のテストストリップ。
検体メーターの操作方法であって、
前記検体メーターのテストストリップポートに少なくとも２つの配向で挿入されるよう構成されたテストストリップを使用して、前記テストストリップポート内にテストストリップを受容する工程と、
前記受容されたテストストリップの配向を決定する工程と、
前記受容されたテストストリップの前記決定された配向に基づいて、複数の電気測定信号から自動的に選択される電気測定信号を、前記テストストリップ内の試料に付与し、前記試料中の検体レベルを決定する工程と、を含む方法。
前記テストストリップの前記配向を決定する前記工程が、前記テストストリップポート内の接触部を前記受容されたテストストリップ上に配設された接触パッドに電気的に接続させて、その抵抗を検出する工程を含み、前記抵抗の大きさが、前記受容されたテストストリップの前記配向を示す、請求項２３に記載の方法。
前記決定する工程が、前記テストストリップポート内のセンサを用いて、前記テストストリップの物理的特徴を検出する工程を含み、前記検出された物理的特徴が、前記テストストリップが前記テストストリップポート内に挿入される場合、前記受容されたテストストリップの前記配向を示す、請求項２３に記載の方法。
センサを用いて前記テストストリップの物理的特徴を検出する前記工程が、偏向可能なスイッチ、磁気リレー、光検出器、光センサ、又はこれらの組み合わせのうちの１つを用いる工程を含む、請求項２５に記載の方法。
前記テストストリップの前記配向を決定する前記工程が、前記試料を前記テストストリップ内に受容し、前記電気測定信号を前記試料に付与する前に前記受容された試料を横断する電圧を測定する工程を含む、請求項２３に記載の方法。
前記受容された試料を横断する前記電圧を測定する前記工程が、前記試料を前記テストストリップ内に受容した後約３００ミリ秒以内で、前記受容された試料を横断する前記電圧の極性を測定する工程を含む、請求項２７に記載の方法。
テストストリップ及びストリップポートコネクタ（ＳＰＣ）システムであって、
長手方向縁部上に配設された突出部を有するテストストリップと、
ストリップポートコネクタ（ＳＰＣ）であり、
前記ＳＰＣ内に第１の配向で挿入された前記テストストリップの電気接触パッドと動作可能な接触を行うよう構成された電気接触部の第１のセットと、
前記ＳＰＣ内に第２の配向で挿入された前記テストストリップの前記電気接触パッドと動作可能な接触を行うよう構成された電気接触部の第２のセットと、
前記第１及び第２の配向を、前記ＳＰＣ内の前記突出部の位置決めに基づいて識別するよう構成されたテストストリップ配向検出機構とを含む、ストリップポートコネクタと、を含むシステム。
テストストリップを備える手持ち式のテストメーターを使用するための方法であって、
長手方向縁部上に配設された突出部を有するテストストリップを、手持ち式メーターのストリップポートコネクタ（ＳＰＣ）に挿入する工程と、
前記テストストリップの接触パッドへの電気接触を行う工程であって、
前記ＳＰＣ内に第１の配向で挿入された前記テストストリップの電気接触パッドと動作可能な接触を行うよう構成された電気接触部の第１のセット、及び
前記ＳＰＣ内に第２の配向で挿入された前記テストストリップの前記電気接触パッドと動作可能な接触を行うよう構成された電気接触部の第２のセットのうちの一方を使用して、電気接触を行う、工程と、
前記ＳＰＣのテストストリップ配向機構を使用して、前記ＳＰＣ内の前記突出部の位置決めに基づいて、前記第１及び第２の配向を識別する工程と、を含む方法。