KR20140145426A - 불량 행거 검사장치 - Google Patents

불량 행거 검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20140145426A
KR20140145426A KR20130067868A KR20130067868A KR20140145426A KR 20140145426 A KR20140145426 A KR 20140145426A KR 20130067868 A KR20130067868 A KR 20130067868A KR 20130067868 A KR20130067868 A KR 20130067868A KR 20140145426 A KR20140145426 A KR 20140145426A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
hanger
support frame
current
guide
present
Prior art date
Application number
KR20130067868A
Other languages
English (en)
Inventor
김광명
이재찬
정용찬
Original Assignee
삼성전기주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전기주식회사 filed Critical 삼성전기주식회사
Priority to KR20130067868A priority Critical patent/KR20140145426A/ko
Publication of KR20140145426A publication Critical patent/KR20140145426A/ko

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D17/00Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
    • C25D17/007Current directing devices
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D17/00Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
    • C25D17/06Suspending or supporting devices for articles to be coated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D21/00Processes for servicing or operating cells for electrolytic coating
    • C25D21/12Process control or regulation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/18Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
    • H05K3/188Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by direct electroplating

Abstract

본 발명은 불량 행거 검사장치에 관한 것으로, 본 발명에 따른 불량 행거 검사장치는, 전기도금장치의 행거가 장착되는 지지프레임 및 상기 지지프레임에 위치되어 상기 행거의 위치를 감지하는 위치 감지부를 포함한다.

Description

불량 행거 검사장치{Faulty hanger test apparatus}
본 발명은 불량 행거 검사장치에 관한 것이다.
전자산업의 발달과 급격한 수요증가에 따라 인쇄회로기판(PCB, Print Circuit Board) 제조방법도 빠르게 변화하며 대량생산을 위한 혁신적 방법이 요구되고 있으며 이에 따라 다양한 제조공법이 개발되고 있다.
그 방법중 하나인 전기도금 장치에서 워크행거를 이용하는 방법으로 컨베이어장치에 의해 차례로 연속 수송되는 워크 행거에 의해 PCB을 도금하는 방법으로 생산 효율을 높이고 있다.
그러나 이러한 생산성 향상 제조공법은 도금설비의 유지,관리(Maintenance)가 더욱 복잡해지고, 도금 품질에는 도움이 되지 못하며, 최근 PCB 산업의 변화 특징인 고다층화 집적화가 되면서 도금두께 균일 품질화를 위한 도금설비 Maintenance 기능이 중요 핵심기술이 되고 있다.
특히 도금설비 Maintenance 중에서 제품을 클립하고 전류를 공급하는 행거의 기능적 평가가 매우 중요하나 평가 장치 및 그 방법이 부재한 문제가 있음.
일본특허공개 1993-014161호
본 발명의 하나의 관점은 전기도금장치의 행거에 대한 기구적 특성 또는 전기적 특성을 측정하여 불량 행거를 검사하는 불량 행거 검사장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 불량 행거 검사장치는, 전기도금장치의 행거가 장착되는 지지프레임 및 상기 지지프레임에 위치되어 상기 행거의 위치를 감지하는 위치 감지부를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 위치 감지부는 상기 행거의 위치를 감지하는 위치센서로 이루어질 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 위치센서는 복수개로 구비되어 상기 행거의 하단부 양측의 위치를 감지할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 행거와 마주보도록 상기 지지프레임에 위치되어 상기 행거의 정위치 조절을 안내하는 위치 조절부를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 위치 조절부는 엘엠(LM) 가이드로 이루어질 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 위치 조절부는 가이드 레일 및 상기 가이드 레일을 따라 이동되고, 상기 행거의 하단부 양측과 마주보거나 접촉되는 한 쌍의 가이드 블록을 포함하고, 상기 한 쌍의 가이드 블록 중에서 어느 하나 이상을 이동시키며 상기 행거의 정위치를 조절할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 지지프레임에 구비되어 상기 행거의 전기적 상태를 측정하는 전류 측정부를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 전류 측정부는 상기 지지프레임의 일측에 구비되어 상기 행거로 음극 전류를 공급하는 음극전류단자와, 상기 지지프레임의 타측에 구비되어 상기 행거로 양극 전류를 공급하는 양극전류단자 및 상기 행거에 공급되는 전류를 측정하는 전류센서를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 전류 측정부는 상기 행거가 안착되도록 상기 지지프레임에 위치되어, 상기 음극전류단자 및 상기 행거와 전기적으로 연결되는 음극레일을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 불량 행거 검사장치는, 전기도금장치의 행거가 장착되는 지지프레임 및 상기 지지프레임에 구비되어 상기 행거의 전기적 상태를 측정하는 전류 측정부를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 전류 측정부는 상기 지지프레임의 일측에 구비되어 상기 행거로 음극 전류를 공급하는 음극전류단자와, 상기 지지프레임의 타측에 구비되어 상기 행거로 양극 전류를 공급하는 양극전류단자 및 상기 행거에 공급되는 전류를 측정하는 전류센서를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 전류 측정부는 상기 행거가 안착되도록 상기 지지프레임에 위치되어, 상기 음극전류단자 및 상기 행거와 전기적으로 연결되는 음극레일을 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 지지프레임에 위치되어 상기 행거의 위치를 감지하는 위치 감지부를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 위치 감지부는 상기 행거의 위치를 감지하는 위치센서로 이루어지는 불량 행거 검사장치.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 위치센서는 복수개로 구비되어 상기 행거의 하단부 양측의 위치를 감지할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 행거와 마주보도록 상기 지지프레임에 위치되어 상기 행거의 정위치 조절을 안내하는 위치 조절부를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 위치 조절부는 엘엠(LM) 가이드로 이루어질 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 상기 위치 조절부는 가이드 레일 및 상기 가이드 레일을 따라 이동되고, 상기 행거의 하단부 양측과 마주보거나 접촉되는 한 쌍의 가이드 블록을 포함하고, 상기 한 쌍의 가이드 블록 중에서 어느 하나 이상을 이동시키며 상기 행거의 정위치를 조절할 수 있다.
본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 상세한 설명으로부터 더욱 명백해질 것이다.
이에 앞서 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이고 사전적인 의미로 해석되어서는 아니되며, 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
본 발명은 전기도금장치의 행거에 대한 기구적 특성 또는 전기적 특성을 측정하여 불량 행거를 보다 정확히 검사함으로써 불량행거 인해 발생되는 도금불량을 예방할 수 있고, 행거를 유지 관리하기가 용이할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 불량 행거 검사장치를 나타낸 예시도;
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 불량 행거 검사장치로 검사되는 행거를 나타낸 예시도;
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 불량 행거 검사장치를 나타낸 사용상태도; 및
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 위치 조절부를 나타낸 사시도이다.
본 발명의 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 연관되어지는 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예들로부터 더욱 명백해질 것이다.
또한, 본 명세서에서 각 도면의 구성요소들에 참조번호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 번호를 가지도록 하고 있음에 유의하여야 한다.
그리고, 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고, 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 관련된 공지 기술에 대한 상세한 설명은 생략하도록 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 불량 행거 검사장치를 나타낸 예시도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 불량 행거 검사장치(100)는 지지프레임(110)과, 위치 감지부(120)와, 위치 조절부(130) 및 전류 측정부(140)를 포함한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 불량 행거 검사장치로 검사되는 행거를 나타낸 예시도이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 불량 행거 검사장치를 나타낸 사용상태도이다. 여기서, 도 3은 도 2에 도시된 행거(10)가 불량 행거 검사장치(100)에 장착된 상태를 나타낸다.
이하에서, 도 1 내지 도 4를 참조하여, 본 발명의 실시예인 불량 행거 검사장치(100)에 대해 보다 상세히 설명하기로 한다.
먼저, 도 1 및 도 2를 참고하면, 지지프레임(110)은 전기도금장치의 행거(hanger)(10)가 장착되는 지지체를 제공한다. 여기서, 행거(10)는 기판(S) 등의 피도금부가 장착될 수 있도록 상측부 및 하측부에 각각 상부 클램프(13) 및 하부 클램프(14)가 구비된다. 그리고, 행거(10)는 상부 클램프(13) 및 하부 클램프(14)를 지지하는 행거 가이드(11)가 구비된다. 이때, 예를 들어 행거 가이드(11)는 사각틀 형태로 형성될 수 있지만 행거 가이드(11)의 형태가 여기에 한정되는 것은 아니다.
위치 감지부(120)는 지지프레임(110)에 위치되어 행거(10)의 위치를 감지한다.
또한, 위치 감지부(120)는 행거(10)의 위치를 감지하는 위치센서로 이루어질 수 있다.
아울러, 위치센서는 복수개로 구비되어 행거(10)의 하단부 양측의 위치를 감지할 수 있다. 여기서, 위치센서는 한 쌍으로 이루어져 행거(10)의 하단부 양측과 마주보는 방향에 위치된다. 이때, 위치센서는 행거(10)의 행거 가이드(11)의 양측 하단부를 감지(센싱,sensing)하여 행거 가이드(11)의 휨 또는 틀어짐을 감지할 수 있다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 불량 행거 검사장치에서 위치 조절부를 나타낸 사시도이다.
도 3 및 도 4를 참고하면, 위치 조절부(130)는 행거(10)와 마주보도록 지지프레임(110)에 위치되어 행거(10)의 정위치 조절을 안내할 수 있다. 이때, 위치 조절부(130)는 엘엠(LM) 가이드로 이루어질 수 있다.
그리고, 엘엠(LM) 가이드는 가이드 레일(guide rail)(131) 및 가이드 레일(131)을 따라 이동되는 한 쌍의 가이드 블록(guide block)(132)을 포함할 수 있다. 여기서, 한 쌍의 가이드 블록(132)은 행거(10)에서 행거 가이드(11)의 하단부 양측과 마주보거나 접촉될 수 있다. 이때, 한 쌍의 가이드 블록(132) 중에서 어느 하나를 이동시키며 상기 행거 가이드(11)의 틀어짐을 조정하여 행거(10)의 정위치를 조절할 수 있다.
한편, 예를 들어 한 쌍의 가이드 블록(132)의 측면 또는 내부에 위치센서로 이루어진 위치 감지부(120)가 장착될 수 있다.
도 3을 참고하면, 전류 측정부(140)는 지지프레임(110)에 구비되어 행거(10)의 전기적 상태를 측정할 수 있다.
또한, 전류 측정부(140)는 지지프레임(110)의 일측부에 구비되어 행거(10)로 음극 전류를 공급하는 음극전류단자(141)와, 지지프레임(110)의 타측부에 구비되어 행거(10)로 양극 전류를 공급하는 양극전류단자(143) 및 행거(10)에 공급되는 전류를 측정하는 전류센서(145)를 포함하여 이루어질 수 있다. 이때, 전류 측정부(140)는 음극전류단자(141) 및 양극전류단자(143)로 전류를 공급하는 전류 공급부(144)를 더 포함할 수 있다.
아울러, 전류 측정부(140)는 행거(10)가 안착되도록 지지프레임(110)에 위치되어, 음극전류단자(141) 및 행거(10)와 전기적으로 연결되는 음극레일(142)을 더 포함할 수 있다. 이때, 음극전류단자(141)로 음극전류가 공급되면 음극레일(142)을 통해 행거(10)의 상측부로 전류를 공급할 수 있다.
여기서, 예를 들어 음극전류단자(141)는 지지프레임(110)의 하부 양측단에 한 쌍으로 구비될 수 있고, 음극레일(142)은 지지프레임(110)의 상측부에 행거(10)와 대응되도록 위치될 수 있다. 이때, 음극전류단자(141)와 음극레일(142)은 지지프레임(110)에 설치된 전원 연결선(미도시)으로 연결될 수 있지만 본 발명이 여기에 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 지지프레임(110)을 통해서도 전원이 직접 연결될 수 있다.
그리고, 양극전류단자(143)는 행거(10)의 하측부 중앙에 한 쌍으로 구비되되, 엘엠(LM) 가이드의 하측부와 접속되어 양극전류단자(143)로 공급되는 양극 전류를 엘엠(LM) 가이드를 통해 행거(10)의 하측부로 공급할 수 있다.
이에 따라, 전류 공급부(144)에서 양극전류단자(143) 및 음극전류단자(141)로 표준 전류를 공급하고, 전류센서(145)를 통해 행거(10)에 흐르는 전류를 측정하여 행거(10)의 전기적 불량 여부를 감지할 수 있다.
상기와 같은 본 발명의 실시예에 따른 불량 행거 검사장치는 전기도금장치의 행거를 도금조에 투입하여 도금하기 전에 행거의 기구적, 전기적 특성을 검사할 수 있어 불량행거로 인해 발생되는 기판 등의 피도금물의 도금불량을 예방할 수 있고, 행거를 유지관리하기가 용이할 수 있다.
이상 본 발명을 구체적인 실시예를 통하여 상세히 설명하였으나, 이는 본 발명을 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명에 따른 불량 행거 검사장치는 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당해 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 그 변형이나 개량이 가능함은 명백하다고 할 것이다.
또한, 본 발명의 단순한 변형 내지 변경은 모두 본 발명의 영역에 속하는 것으로 본 발명의 구체적인 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의하여 명확해질 것이다.
S : 기판 10 : 행거
11 : 행거 가이드 13 : 상부 클램프
14 : 하부 클램프 100: 불량 행거 검사장치
110: 지지프레임 120: 위치 감지부
130: 위치 조절부 131: 가이드 레일
132: 가이드 블록 140: 전류 측정부
141: 음극전류단자 142: 음극레일
143: 양극전류단자 144: 전류 공급부
145: 전류센서

Claims (18)

  1. 전기도금장치의 행거가 장착되는 지지프레임; 및
    상기 지지프레임에 위치되어 상기 행거의 위치를 감지하는 위치 감지부
    를 포함하는 불량 행거 검사장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 위치 감지부는 상기 행거의 위치를 감지하는 위치센서로 이루어지는 불량 행거 검사장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 위치센서는 복수개로 구비되어 상기 행거의 하단부 양측의 위치를 감지하는 불량 행거 검사장치.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 행거와 마주보도록 상기 지지프레임에 위치되어 상기 행거의 정위치 조절을 안내하는 위치 조절부를 더 포함하는 불량 행거 검사장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 위치 조절부는 엘엠(LM) 가이드로 이루어지는 불량 행거 검사장치.
  6. 청구항 4에 있어서,
    상기 위치 조절부는
    가이드 레일; 및
    상기 가이드 레일을 따라 이동되고, 상기 행거의 하단부 양측과 마주보거나 접촉되는 한 쌍의 가이드 블록을 포함하고,
    상기 한 쌍의 가이드 블록 중에서 어느 하나 이상을 이동시키며 상기 행거의 정위치를 조절하는 불량 행거 검사장치.
  7. 청구항 1에 있어서,
    상기 지지프레임에 구비되어 상기 행거의 전기적 상태를 측정하는 전류 측정부를 더 포함하는 불량 행거 검사장치.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 전류 측정부는
    상기 지지프레임의 일측에 구비되어 상기 행거로 음극 전류를 공급하는 음극전류단자;
    상기 지지프레임의 타측에 구비되어 상기 행거로 양극 전류를 공급하는 양극전류단자; 및
    상기 행거에 공급되는 전류를 측정하는 전류센서
    를 포함하는 불량 행거 검사장치.
  9. 청구항 8에 있어서,
    상기 전류 측정부는
    상기 행거가 안착되도록 상기 지지프레임에 위치되어, 상기 음극전류단자 및 상기 행거와 전기적으로 연결되는 음극레일을 더 포함하는 불량 행거 검사장치.
  10. 전기도금장치의 행거가 장착되는 지지프레임; 및
    상기 지지프레임에 구비되어 상기 행거의 전기적 상태를 측정하는 전류 측정부를 포함하는 불량 행거 검사장치.
  11. 청구항 10에 있어서,
    상기 전류 측정부는
    상기 지지프레임의 일측에 구비되어 상기 행거로 음극 전류를 공급하는 음극전류단자;
    상기 지지프레임의 타측에 구비되어 상기 행거로 양극 전류를 공급하는 양극전류단자; 및
    상기 행거에 공급되는 전류를 측정하는 전류센서
    를 포함하는 불량 행거 검사장치.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 전류 측정부는
    상기 행거가 안착되도록 상기 지지프레임에 위치되어, 상기 음극전류단자 및 상기 행거와 전기적으로 연결되는 음극레일을 더 포함하는 불량 행거 검사장치.
  13. 청구항 10에 있어서,
    상기 지지프레임에 위치되어 상기 행거의 위치를 감지하는 위치 감지부를 더 포함하는 불량 행거 검사장치.
  14. 청구항 13에 있어서,
    상기 위치 감지부는 상기 행거의 위치를 감지하는 위치센서로 이루어지는 불량 행거 검사장치.
  15. 청구항 14에 있어서,
    상기 위치센서는 복수개로 구비되어 상기 행거의 하단부 양측의 위치를 감지하는 불량 행거 검사장치.
  16. 청구항 10에 있어서,
    상기 행거와 마주보도록 상기 지지프레임에 위치되어 상기 행거의 정위치 조절을 안내하는 위치 조절부를 더 포함하는 불량 행거 검사장치.
  17. 청구항 16에 있어서,
    상기 위치 조절부는 엘엠(LM) 가이드로 이루어지는 불량 행거 검사장치.
  18. 청구항 16에 있어서,
    상기 위치 조절부는
    가이드 레일; 및
    상기 가이드 레일을 따라 이동되고, 상기 행거의 하단부 양측과 마주보거나 접촉되는 한 쌍의 가이드 블록을 포함하고,
    상기 한 쌍의 가이드 블록 중에서 어느 하나 이상을 이동시키며 상기 행거의 정위치를 조절하는 불량 행거 검사장치.
KR20130067868A 2013-06-13 2013-06-13 불량 행거 검사장치 KR20140145426A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20130067868A KR20140145426A (ko) 2013-06-13 2013-06-13 불량 행거 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20130067868A KR20140145426A (ko) 2013-06-13 2013-06-13 불량 행거 검사장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20140145426A true KR20140145426A (ko) 2014-12-23

Family

ID=52675219

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20130067868A KR20140145426A (ko) 2013-06-13 2013-06-13 불량 행거 검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20140145426A (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110760918A (zh) * 2019-11-29 2020-02-07 依力柏电能有限公司 一种镀层可控电镀系统
KR102488794B1 (ko) * 2022-10-06 2023-01-18 (주)선우하이테크 기판처리용 불량제품 선별배출 시스템

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110760918A (zh) * 2019-11-29 2020-02-07 依力柏电能有限公司 一种镀层可控电镀系统
CN110760918B (zh) * 2019-11-29 2022-02-18 依力柏电能有限公司 一种镀层可控电镀系统
KR102488794B1 (ko) * 2022-10-06 2023-01-18 (주)선우하이테크 기판처리용 불량제품 선별배출 시스템

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI416114B (zh) Substrate inspection tool and inspection probe
KR100864435B1 (ko) 기판검사용 접촉자, 기판검사용 치구 및 기판검사장치
KR20150053232A (ko) 검사 지그
KR20140145426A (ko) 불량 행거 검사장치
KR20080067110A (ko) 상부 픽스쳐의 미세 수평이동이 가능한 pcb 검사장치
KR101699862B1 (ko) 전해도금장치용 지그의 불량여부 검사장치
JP2010175489A (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP5290672B2 (ja) 回路基板検査装置
KR100725838B1 (ko) 웨이퍼 테스트용 프로브 카드
KR100765490B1 (ko) Pcb 전극판
KR101656047B1 (ko) 기판 검사용 지그
JP5356749B2 (ja) 基板検査装置およびプローブのz軸オフセット取得方法
JP5420303B2 (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
KR101511175B1 (ko) 위치조절이 가능한 핀 블록
JP2009156720A (ja) 基板検査用治具及び検査用接触子
KR101292047B1 (ko) Pcb 카본저항 검사장치
JP5146109B2 (ja) 検査装置
JP2007327854A (ja) 基板検査用治具及び基板検査装置
KR101410991B1 (ko) 지그 장치
KR102205712B1 (ko) 연성인쇄회로기판 검사장치용 연성인쇄회로기판 장착 어댑터 및 이를 포함하는 연성인쇄회로기판 검사장치
JP4838658B2 (ja) 基板検査用治具及び基板検査用治具の電極部構造
KR101734283B1 (ko) 피치간격을 조절할 수 있는 핀블록
KR101312079B1 (ko) 프로브 유니트 조립체 및 이를 이용한 평판 표시 장치의검사 방법
CN104777233A (zh) 一种低压电器领域超声无损探伤用工件固定装置及方法
KR101138773B1 (ko) 인쇄회로기판 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application