KR20140012339A - Display panel inspection apparatus - Google Patents

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KR20140012339A
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Abstract

In the trend for enlargement, the present invention relates to a display panel inspection apparatus which provides a more rapid inspection speed and is able to inspect the whole screen of a display evenly and minutely in order to increase the production efficiency of a display panel. The present invention detects a fault of a display panel by grasping the strength of each wavelength from a spectrum image which is obtained from a camera by including: a lens which is arranged on the upper part of the display panel in order to cover a part or a whole of the display panel which outputs a surface type image and receives the surface type image which is outputted from the display panel; a slit which is arranged on the upper part of the lens and makes the surface type image outputted from the lens permeate the slit to make a line type image; a spectroscope which generates a spectrum of the line type image which is outputted from the slit; and an inspection unit which is arranged on a same axis as the camera which obtains a surface type spectrum image which is generated through the spectroscope.

Description

디스플레이 패널 검사장치{Display panel inspection apparatus}[0001] Display panel inspection apparatus [

본 발명은 디스플레이 패널 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 대형화 추세에 있는 디스플레이 패널의 생산 효율을 높이기 위하여 보다 신속한 검사속도를 제공하고, 디스플레이의 전 화면을 균일하면서도 세밀하게 검사할 수 있는 디스플레이 패널 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a display panel inspecting apparatus, and more particularly, to a display panel inspecting apparatus capable of providing a faster inspection speed in order to increase the production efficiency of a display panel in a trend of enlargement, To an inspection apparatus.

일반적으로 반도체 칩은 육면체의 형상으로 각기 다른 물질로 이루어진 다수의 층으로 이루어져 있으며, 최종적으로 전극 패드(pad)를 생성함으로써 제품이 완성된다. 칩의 제조과정 중에는 표면에 이물질이 침착되거나 스크래치 등이 발생할 수 있고, 전극 패드부의 형상 불량이나 에칭공정 불량 등이 나타날 수도 있다.Generally, a semiconductor chip is composed of a plurality of layers made of different materials in the shape of a hexahedron, and finally a product is completed by forming an electrode pad. During the manufacturing process of the chip, foreign substances may be deposited on the surface, scratches may occur, and the shape of the electrode pad portion and the etching process may be defective.

이러한 불량들은 외관검사를 통해 검출해 내게 되는데, 그 일례로, 에어리어 스캔 카메라(Area scan camera)를 통해 영상을 입력 받아 디스플레이 패널의 불량을 검출해 내는 비전시스템 형태의 외관 검사장치가 있다. 이때, 영상의 연속적인 입력을 받기 위해 구동부의 움직임이 필수적으로 필요하고 그에 따라 카메라가 또렷한 영상을 입력 받기 위한 대기시간도 필요하게 되었다.Such defects are detected through an appearance inspection. For example, there is a vision inspection system in the form of a vision system which receives an image through an area scan camera and detects a defect of the display panel. At this time, in order to receive the continuous input of the image, the driving unit is necessarily required to move, and accordingly, a standby time is required for the camera to receive a clear image.

근래에 디스플레이 장치는 대형화 추세이다. 평판 디스플레이 장치 중에서도 전계 발광 디스플레이 장치는 자발광형 디스플레이 장치로서 시야각이 넓고 콘트라스트가 우수할 뿐만 아니라 응답속도가 빠르다는 장점을 가져서 차세대 디스플레이 장치로 주목받고 있다. 또한 발광층의 형성 물질이 유기물로 구성되는 유기 발광 디스플레이 장치는 무기 발광 디스플레이 장치에 비해 휘도, 구동 전압 및 응답속도 특성이 우수하고 다색화가 가능하다는 점을 가진다.In recent years, display devices have become larger. Among the flat panel display devices, the electroluminescent display device is a self-luminous display device, and has attracted attention as a next generation display device because of its advantages of wide viewing angle, excellent contrast, and fast response speed. In addition, the organic light emitting display device in which the material for forming the light emitting layer is composed of an organic material has excellent luminance, driving voltage, and response speed characteristics and is capable of multi-coloring as compared with an inorganic light emitting display device.

이러한 유기 발광 디스플레이 장치는 박막트랜지스터와, 그 박막트랜지스터에 의해 발광 구동되는 유기발광소자를 구비하며, 상기 유기발광소자는 기본적으로 양극층과 유기막층 및 음극층이 차례로 적층된 구조를 갖는다.The organic light emitting display device includes a thin film transistor and an organic light emitting diode driven by the thin film transistor. The organic light emitting diode has a structure in which an anode layer, an organic layer, and a cathode layer are sequentially stacked.

따라서, 박막트랜지스터의 구동에 의해 상기 유기발광소자의 양극층과 음극층 사이에 전압이 인가되면, 적당한 에너지의 차이가 유기막층에 형성되며, 이에 따라 유기막층에 포함된 발광층에서 빛으로 발생하게 된다.Accordingly, when a voltage is applied between the anode layer and the cathode layer of the organic light emitting diode by the driving of the thin film transistor, a suitable energy difference is formed in the organic layer and is generated as light in the light emitting layer included in the organic layer .

여기서 상기 유기발광소자의 각 층은 통상 증착 공정을 통해 형성되는데, 이때 성막되는 두께가 정확하지 않으면 발광되는 빛의 특성이 설계치와 달라질 수 있다. 그렇게 되면 원하는 정확한 색상을 구현하지 못하게 된다.Here, each layer of the organic light emitting device is formed through a deposition process. If the thickness of the organic light emitting device is not precise, the characteristics of light emitted may be different from the designed value. That way, you will not be able to achieve the exact color you want.

그런데 지금까지는 유기발광소자의 증착 공정을 모두 마치고 밀봉을 위한 봉지기판까지 다 설치한 다음에, 발광시험을 실시하여 제품의 양부를 판별하였다. 따라서, 만일 불량이 발견되면 그때까지 증착 공정이 진행되고 있던 패널들은 모두 불량이 되는 문제가 생긴다. 따라서, 불량률을 줄이기 위해서는 유기발광소자의 불량 여부를 미리 알 수 있는 방안이 요구되고 있다.However, up to now, after the deposition process of the organic light emitting device has been completed and the sealing substrate for sealing has been installed, a light emission test has been carried out to discriminate between the parts of the product. Therefore, if defects are found, all of the panels on which the deposition process has been carried out until then are defective. Therefore, in order to reduce the defective rate, it is required to know in advance whether or not the organic light emitting element is defective.

본 발명은 디스플레이 패널의 생산 효율을 높이기 위하여 보다 신속한 검사속도를 제공하고, 디스플레이의 전 화면을 균일하면서도 세밀하게 검사할 수 있는 디스플레이 패널 검사장치를 제공하는 데 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide a display panel inspection apparatus that can provide a faster inspection speed to increase the production efficiency of a display panel and can uniformly and precisely inspect the entire screen of the display.

상기의 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 패널 검사장치는 상기 디스플레이 패널의 상부에 배치되어, 상기 디스플레이 패널에서 출력되는 면 형태의 이미지를 입사하는 렌즈와, 상기 렌즈의 상부에 배치되어 상기 렌즈에서 출력된 면 형태의 이미지를 라인 형태의 이미지로 통과시키는 슬릿과, 상기 슬릿에서 출력된 라인형태 이미지의 스펙트럼을 생성하는 분광기와, 상기 분광기를 통해 생성된 면 형태의 스펙트럼 영상을 획득하는 카메라가 동축상에 배치된 검사유닛을 포함하여, 상기 카메라에서 획득한 스펙트럼 영상으로 파장별 강도를 파악하여 상기 디스플레이 패널의 불량여부를 검출한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a display panel, the apparatus comprising: a lens disposed on an upper surface of the display panel and incident on an image of a plane shape output from the display panel; A spectroscope for generating a spectrum of a line-shaped image output from the slit, and a spectral image of a plane shape generated through the spectroscope, And an inspection unit in which a camera to be acquired is disposed on a coaxial axis to detect the intensity of each wavelength by the spectral image acquired by the camera to detect whether the display panel is defective or not.

본 발명의 일 실시 예에 따르면, 상기 검사유닛을 장착하여 수평방향으로 이송시키는 이송수단을 더 포함하여 상기 디스플레이 패널의 전체 면적을 검사할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the entire area of the display panel may be inspected by further including a transporting unit that mounts the inspection unit and transports the inspection unit in the horizontal direction.

본 발명의 일 실시 예에 따르면, 상기 디스플레이 패널은 외부 전원과 연결되어 통전되고, 상기 디스플레이 패널에서 출력되는 이미지는 화상 데이터이다.According to an embodiment of the present invention, the display panel is connected to an external power source and is energized, and the image output from the display panel is image data.

본 발명의 일 실시 예에 따르면, 상기 디스플레이 패널의 상부 또는 하부에서 상기 디스플레이 패널을 향해 빛을 조사하는 광원을 더 포함하고, 상기 렌즈에는 상기 광원에서 조사되어 상기 디스플레이 패널에서 반사되거나 상기 디스플레이 패널을 투과한 영상이 입사된다.According to an embodiment of the present invention, there is further provided a light source for irradiating light toward the display panel from an upper portion or a lower portion of the display panel, wherein the lens is irradiated with light from the light source, The transmitted image is incident.

본 발명의 일 실시 예에 따르면, 상기 카메라는 라인 스캔 카메라(line scan camera) 또는 영역 스캔 카메라(Area scan camera)로 구비된다.According to an embodiment of the present invention, the camera is provided with a line scan camera or an area scan camera.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치에 따르면, 대형화 추세에 있는 디스플레이 패널의 생산 효율을 높이기 위하여 보다 신속한 검사속도를 제공한다.According to the display panel inspection apparatus according to the present invention, a faster inspection speed is provided to increase the production efficiency of the display panel in a trend of becoming larger.

또한, 라인단위로 스펙트럼 영상을 획득하고 파장별 정보를 분석하여 디스플레이 전 화면을 균일하면서도 세밀하게 검사할 수 있는 효과가 있다.In addition, the spectrum image is acquired on a line-by-line basis, and information per wavelength is analyzed to uniformly and thoroughly check the entire screen of the display.

도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 구성도,
도 2는 본 발명에 따른 검사유닛을 보인 구성도,
도 3은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 구성도,
도 4는 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 구성도이다. 1 is a configuration diagram of a display panel inspection apparatus according to the present invention;
2 is a configuration diagram showing an inspection unit according to the present invention,
3 is a configuration diagram of a display panel inspection apparatus according to another embodiment of the present invention,
4 is a configuration diagram of a display panel inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.

본 발명을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 여기서 동일한 구성에 대해서는 동일부호를 사용하며, 반복되는 설명, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다. 본 발명의 실시형태는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.The present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings. The same reference numerals are used for the same components, and repeated descriptions and detailed descriptions of well-known functions and configurations that may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention will be omitted. Embodiments of the present invention are provided to more fully describe the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shapes and sizes of the elements in the drawings and the like can be exaggerated for clarity.

도 1는 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 구성도이다.1 is a configuration diagram of a display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 패널 검사장치는 면 형태의 이미지를 출력하는 디스플레이 패널(10) 전체 또는 일부를 커버하도록 상기 디스플레이 패널(10)의 상부에 배치되어, 상기 디스플레이 패널(10)에서 출력되는 면 형태의 이미지를 입사하는 렌즈(110)와, 상기 렌즈(110)의 상부에 배치되어 상기 렌즈(110)에서 출력된 면 형태의 이미지를 라인 형태의 이미지로 통과시키는 슬릿(120)과, 상기 슬릿(120)에서 출력된 라인형태 이미지의 스펙트럼을 생성하는 분광기(130)와, 상기 분광기(130)를 통해 생성된 면 형태의 스펙트럼 영상을 획득하는 카메라(140)가 동축상에 배치된 검사유닛(150)을 포함하여, 상기 카메라(140)에서 획득한 스펙트럼 영상으로 파장별 강도를 파악하여 상기 디스플레이 패널(10)의 불량여부를 검출한다.Referring to FIG. 1, a display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention is disposed on the display panel 10 to cover all or a part of a display panel 10 that outputs an image in the form of a plane, A lens 110 which is disposed above the lens 110 and which passes an image of a plane shape output from the lens 110 to an image in the form of a line, A spectroscope 130 for generating a spectrum of a line-shaped image output from the slit 120, a camera 140 for acquiring a spectral image of a surface shape generated through the spectroscope 130, And an inspection unit 150 disposed on a coaxial axis to detect intensity of each wavelength by the spectral image acquired by the camera 140 to detect whether the display panel 10 is defective.

먼저, 본 발명에서 지칭하는 디스플레이 패널(10)은 LCD(Liquid Crystal Display), OLED(Organic Light Emitting Diodes), PDP(Plasma Display Panel), ELD(ElectroLuminescent Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display), FED(field emission display)를 비롯하여 공지의 다양한 디스플레이 패널 중 선택된 어느 하나인 것이 바람직하다.First, the display panel 10 referred to in the present invention may be a liquid crystal display (LCD), an organic light emitting diode (OLED), a plasma display panel (PDP), an electro luminescent display (ELD), a vacuum fluorescent display (VFD) field emission display), and various known display panels.

렌즈(110)는 면 형태의 이미지를 출력하는 디스플레이 패널(10) 전체 또는 일부를 커버하도록 상기 디스플레이 패널(10)의 상부에 디스플레이 패널(10)과 마주보며 나란하도록 배치되어, 상기 디스플레이 패널(10)에서 출력되는 면 형태의 이미지를 입사한다.The lens 110 is disposed so as to face the display panel 10 on the upper portion of the display panel 10 so as to cover all or a part of the display panel 10 outputting the image in the form of a plane, The image of the plane shape outputted from the light source is input.

즉, 상기 렌즈(110)는 상기 디스플레이 패널(10)의 면적과 대응되는 면적을 구비하며, 하나의 렌즈(110)가 적어도 하나의 디스플레이 패널(10)을 커버하되, 복수의 디스플레이 패널(10)을 하나의 렌즈(110)가 커버할 수 있다. 상기 렌즈(110)는 상기 디스플레이 패널(10)에서 출력되는 이미지를 집광하는 집광렌즈로 구비될 수 있고, 상기 검사유닛(150)에서 검사가 진행되도록 이미징하는 이미징 렌즈일 수 있다.
That is, the lens 110 has an area corresponding to the area of the display panel 10, and one lens 110 covers at least one display panel 10, Can be covered by one lens 110. The lens 110 may be a condensing lens for condensing the image outputted from the display panel 10 and may be an imaging lens for imaging the inspection unit 150 to progress inspection.

도 2는 본 발명에 따른 검사유닛을 보인 구성도이다. 검사유닛(150)은 슬릿(120)과 분광기(130) 및 카메라(140)를 포함하되, 상기 각 요소들이 동축상에 배치된 구조를 취한다. 먼저, 슬릿(120)은 상기 렌즈(110)의 상부에 배치되어 상기 렌즈(110)에서 출력된 면 형태의 이미지를 라인 형태의 이미지로 통과시킨다. 상기 슬릿(120)은 협소한 틈새를 형성하여 면형태의 이미지를 입력 받고, 상기 틈새를 통해 라인형태의 이미지로 출력하고, 나머지 주변의 이미지는 차단한다.2 is a configuration diagram showing an inspection unit according to the present invention. The inspection unit 150 includes a slit 120, a spectroscope 130, and a camera 140, wherein the elements are arranged coaxially. First, the slit 120 is disposed at an upper portion of the lens 110, and passes the image of the plane shape output from the lens 110 as a line-shaped image. The slit 120 forms a narrow gap to receive a planar image, outputs a line-shaped image through the gap, and blocks the remaining images.

분광기(130)는 상기 슬릿(120)에서 출력된 라인형태 이미지의 스펙트럼을 생성한다. 여기서 분광기(130)는 회절을 일으키는 소자가 구비되어 있는데, 이 회절 소자는 회절격자, 프리즘 또는 AOTF(Acousto-Optic Tunable Filter)와 같은 가변형 필터 중 어느 하나를 구비할 수 있다. 또한, 상기 분광기(130)에는 ICCD(131) 센서가 구비될 수 있다. ICCD(131) 센서는 슬릿(120)에서 출력된 이미지로부터 이미지 스펙트럼을 생성한다.The spectroscope 130 generates a spectrum of the line-shaped image output from the slit 120. Here, the spectroscope 130 includes a diffraction element, which may include any one of a diffraction grating, a prism, and a variable filter such as an AOTF (Acousto-Optic Tunable Filter). In addition, the spectroscope 130 may be provided with an ICCD 131 sensor. The ICCD 131 sensor generates an image spectrum from the image output from the slit 120.

즉, 상기 스펙트럼을 통해, 디스플레이 패널(10)에서 출력된 이미지의 한 점당 색에 따른 고유 파장을 파악하고, 그 파장의 세기를 검출하여 색좌표를 확인하고 비교하는 방식으로 검사가 진행되어 보다 정확하고 섬세한 검사자 진행될 수 있다. That is, the intrinsic wavelength according to the color per one point of the image output from the display panel 10 is detected through the spectrum, the intensity of the wavelength is detected, and the color coordinates are checked and compared. A delicate tester can proceed.

카메라(140)는 상기 분광기(130)를 통해 생성된 면 형태의 스펙트럼 영상을 획득한다. 상기 카메라(140)는 컬러카메라일 수 있고, 복수개 마련될 수 있다. 상기 카메라(140)에서 획득한 스펙트럼 영상으로 파장별 강도를 파악하여 상기 디스플레이 패널(10)의 불량여부를 검출한다. 따라서, 상기 카메라(140)에 획득한 스펙트럼 영상을 분석하여 불량 여부를 판별하는 컴퓨터(180)가 추가로 구비될 수 있다. 상기 컴퓨터(180)는 기 설정된 기준 스펙트럼과 실질적으로 검사가 진행되면서 수광된 스펙트럼을 비교하며, 상기 스펙트럼 중 피크파장의 위치 변화, 최저 반사율 크기 변화 및, 반치폭 크기 변화 등을 비교하여 디스플레이 패널(10)의 불량여부를 판별할 수 있다.The camera 140 acquires a spectral image of a plane shape generated through the spectroscope 130. [ The camera 140 may be a color camera or a plurality of cameras. The intensity of each wavelength is detected by the spectral image acquired by the camera 140 to detect whether the display panel 10 is defective or not. Accordingly, a computer 180 for analyzing the spectral image acquired by the camera 140 and determining whether the spectral image is defective may be additionally provided. The computer 180 compares the received spectrum with the previously set reference spectrum, and compares the peak wavelength position change, the minimum reflectance size change, and the half-width size change among the spectra, ) Can be determined.

본 발명의 일 실시 예에 따르면, 상기 검사유닛(150)을 장착하여 수평방향으로 이송시키는 이송수단(160)을 더 포함하여 상기 디스플레이 패널(10)의 전체 면적을 검사할 수 있다. 상기 슬릿(120)은 디스플레이 패널(10)에서 출력된 면형태의 이미지를 협소 간격으로 통과시켜 라인 형태의 이미지로 생성하기 때문에, 상기 디스플레이 패널(10) 전체 또는 일부를 검사하기 위해서는 상기 검사유닛(150)은 상기 이송수단(160)에 장착되어, 수평방향으로 이동하면서, 상기 디스플레이 패널(10) 전체에 걸쳐 검사를 시행해야 한다.According to an embodiment of the present invention, the entire area of the display panel 10 can be inspected by further including a conveying unit 160 for mounting the inspection unit 150 and transferring the inspection unit 150 in the horizontal direction. Since the slit 120 passes through the image of the planar shape outputted from the display panel 10 at a narrow interval to generate an image in the form of a line, in order to inspect the whole or a part of the display panel 10, 150 are mounted on the conveying means 160 and must be inspected throughout the display panel 10 while moving in the horizontal direction.

본 발명의 일 실시 예에 따르면, 상기 디스플레이 패널(10)은 외부 전원과 연결되어 통전되고, 상기 렌즈(110)에는 디스플레이 패널(10)에서 출력되는 화상 데이터가 입사된다. 상기의 경우, 백라이트, 액정패널, 편광필터 또는 컬러필터 및 글래스 기판이 모두 조립된 후 출고 전 단계의 완성품을 검사하는 데 적용됨이 바람직하다. 즉, 통전된 후 중심화소와 주변 영역에 위치된 주변화소들과의 편차를 비교하는 방식으로 불량화소를 검출하게 되는데, 상기와 같은 과정에서 불량화소가 검출되면 검출된 불량화소에 대하여 보정을 수행하는 보정수단이 별도로 마련될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the display panel 10 is connected to an external power source and is energized, and image data output from the display panel 10 is incident on the lens 110. In this case, it is preferable that the backlight, the liquid crystal panel, the polarizing filter or the color filter and the glass substrate are all assembled and then applied to the finished product of the pre-delivery stage. In other words, defective pixels are detected by comparing deviations between the central pixel and surrounding pixels located in the peripheral region after energization. When defective pixels are detected in the above process, correction is performed on the detected defective pixels May be separately provided.

도 3은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 구성도이고, 도 4는 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 구성도이다.FIG. 3 is a configuration diagram of a display panel inspection apparatus according to another embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a configuration diagram of a display panel inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시 예에 따르면, 상기 디스플레이 패널(10)의 상부 또는 하부에서 상기 디스플레이 패널(10)을 향해 빛을 조사하는 광원(170)을 더 포함하고, 상기 렌즈(110)에는 상기 광원(170)에서 조사되어 상기 디스플레이 패널(10)에서 반사되거나 상기 디스플레이 패널(10)을 투과한 영상이 입사된다. 상기 광원(170)은 디스플레이 패널(10)을 향해 라인형태의 빔 또는 면형태의 빔을 조사할 수 있다. 상기의 경우, 상기 디스플레이 패널(10)은 완제품이 아니므로 전원을 가하지 않아도 되며, 투명 또는 반투명 소재의 글래스 기판을 비롯한 각종 디스플레이 패널(10)의 표면 결함을 검출하는 데 적합하다.According to an embodiment of the present invention, the display device may further include a light source 170 that irradiates light toward the display panel 10 from an upper portion or a lower portion of the display panel 10, 170 or reflected by the display panel 10 or an image transmitted through the display panel 10 is incident. The light source 170 may irradiate a line-shaped beam or a surface-shaped beam toward the display panel 10. In this case, since the display panel 10 is not an end product, it is not necessary to apply power, and is suitable for detecting surface defects of various display panels 10 including a glass substrate of transparent or translucent material.

본 발명의 일 실시 예에 따르면, 상기 카메라(140)는 라인 스캔 카메라(line scan camera) 또는 영역 스캔 카메라(Area scan camera)로 구비될 수 있으며, 바람직하게는 상기 분광기(130)에서 출력된 면형태의 스펙트럼을 검사하기 위해 영역 스캔 카메라(Area scan camera)를 사용한다.According to one embodiment of the present invention, the camera 140 may be a line scan camera or an area scan camera, An area scan camera is used to check the shape of the spectrum.

상기한 바와 같은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치에 따르면, 대형화 추세에 있는 디스플레이 패널의 생산 효율을 높이기 위하여 보다 신속한 검사속도를 제공하고, 디스플레이의 전 화면을 균일하면서도 세밀하게 검사할 수 있는 장점이 있다.According to the display panel inspection apparatus of the present invention as described above, it is possible to provide a faster inspection speed in order to increase the production efficiency of the display panel in the trend of enlargement, and to inspect the entire screen of the display uniformly and finely have.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정, 변경 및 치환이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예 및 첨부된 도면들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications, substitutions and substitutions are possible, without departing from the scope and spirit of the invention as disclosed in the accompanying claims. will be. Accordingly, the embodiments disclosed in the present invention and the accompanying drawings are not intended to limit the technical spirit of the present invention but to describe the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by the embodiments and the accompanying drawings. . The protection scope of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the equivalent scope should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

10 : 디스플레이 패널
110 : 렌즈
120 : 슬릿
130 : 분광기
140 : 카메라
150 : 검사유닛
160 : 이송수단
170 : 광원 10: Display panel
110: lens
120: slit
130: spectroscope
140: camera
150: Inspection unit
160: conveying means
170: Light source

Claims (5)

면 형태의 이미지를 출력하는 디스플레이 패널의 상부에 배치되어 상기 디스플레이 패널의 불량을 검출하는 디스플레이 패널 검사장치에 있어서,
상기 디스플레이 패널의 상부에 배치되어, 상기 디스플레이 패널에서 출력되는 면 형태의 이미지를 입사하는 렌즈;
상기 렌즈의 상부에 배치되어 상기 렌즈에서 출력된 면 형태의 이미지를 라인 형태의 이미지로 통과시키는 슬릿과, 상기 슬릿에서 출력된 라인형태 이미지의 스펙트럼을 생성하는 분광기와, 상기 분광기를 통해 생성된 면 형태의 스펙트럼 영상을 획득하는 카메라가 동축상에 배치된 검사유닛;을 포함하여, 상기 카메라에서 획득한 스펙트럼 영상으로 파장별 강도를 파악하여 상기 디스플레이 패널의 불량여부를 검출하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.An apparatus for inspecting a display panel disposed on an upper portion of a display panel for outputting an image in the form of a plane to detect defects of the display panel,
A lens disposed above the display panel and adapted to receive a surface image output from the display panel;
A slit disposed on the lens and passing through the surface-type image output from the lens as a line-shaped image, a spectrometer for generating a spectrum of the line-type image output from the slit, and a surface generated through the spectroscope And a inspection unit in which a camera for acquiring a spectrum image of a shape is disposed coaxially, and determining whether the display panel is defective by detecting an intensity for each wavelength using the spectrum image acquired by the camera. Inspection device. 제 1항에 있어서,
상기 검사유닛을 장착하여 수평방향으로 이송시키는 이송수단;을 포함하여 상기 디스플레이 패널의 전체 면적을 검사하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 1,
Display means for inspecting the entire area of the display panel, including; the conveying means for mounting the inspection unit to transfer in the horizontal direction. 제 1항에 있어서,
상기 디스플레이 패널은 외부 전원과 연결되어 통전되고, 상기 렌즈에는 상기디스플레이 패널에서 출력되는 화상 데이터가 입사되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 1,
And the display panel is electrically connected to an external power source, and image data output from the display panel is incident on the lens. 제 1항에 있어서,
상기 디스플레이 패널의 상부 또는 하부에서 상기 디스플레이 패널을 향해 빛을 조사하는 광원을 더 포함하고, 상기 렌즈에는 상기 광원에서 조사되어 상기 디스플레이 패널에서 반사되거나 상기 디스플레이 패널을 투과한 영상이 입사된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 1,
And a light source that irradiates light toward the display panel from an upper portion or a lower portion of the display panel, wherein the light reflected from the display panel or transmitted through the display panel is incident on the lens, A display panel inspection apparatus. 제 1항에 있어서, 상기 카메라는
라인 스캔 카메라(line scan camera) 또는 영역 스캔 카메라(Area scan camera)로 구비된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 1, wherein the camera
Display panel inspection apparatus characterized in that provided with a line scan camera (Area scan camera) or an area scan camera (Area scan camera).
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