KR100801438B1 - Apparatus for detecting of lcd panel and method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 본 발명에 의한 액정표시소자 패널 검사장치의 구성도.1 is a block diagram of a liquid crystal display panel inspection device according to the present invention.
도 2는 도 1의 제어부의 일 실시 예의 구성을 보인 블록도.2 is a block diagram illustrating a configuration of an embodiment of the control unit of FIG. 1.
도 3은 본 발명에서 R, G, B별 파장 대역 그래프도.Figure 3 is a graph of the wavelength band for each R, G, B in the present invention.
도 4는 본 발명에 의한 액정표시소자 패널 검사 방법을 보인 흐름도.4 is a flowchart illustrating a method for inspecting a liquid crystal display panel according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
110… LCD 패널110... LCD panel
130… 발광부130... Light emitting part
140… 수광부140... Receiver
150… 프리즘 및 분광 센서부150... Prism and Spectroscopy
160… 제어부160... Control
161… 평균 산출기161... Average calculator
162… 편차 산출기162... Deviation calculator
163… 분산기163... Disperser
164… 분산차 추출기164... Distributed Tea Extractor
165… 결함 판정기 165... Fault determiner
본 발명은 액정표시소자(LCD) 패널 검사에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 LCD 패널의 제조상 컬러패턴의 단차로 발생하는 육안으로 식별되지 않는 미세 결함도 정확하게 검출할 수 있도록 한 액정표시소자 패널 검사장치 및 그 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an LCD panel inspection, and more particularly, to a liquid crystal display panel inspection apparatus capable of accurately detecting fine defects that are not visually identified due to a step of a color pattern during manufacturing of an LCD panel. And to a method thereof.
최근, 컴퓨터, 텔레비전, 핸드폰 등 전자기기의 수요가 폭발적으로 증가함에 따라 이러한 전자기기에 필수적으로 사용되는 평판표시소자에 대한 수요도 함께 증가하고 있다. 이러한 평판표시소자(Flat Panel Display)로는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), FED(Field Emission Didplay) 등이 있으며, 그 중에서 고화질 구현이 가능하고, 이미 양산 기술이 구현되어 있는 LCD가 가장 각광받고 있다.Recently, as the demand for electronic devices such as computers, televisions, mobile phones, and the like explode, the demand for flat panel display devices used inevitably for such electronic devices also increases. Such flat panel displays include Liquid Crystal Display (LCD), Plasma Display Panel (PDP), Field Emission Didplay (FED), among which high-definition is possible, and LCDs that have already been mass-produced Is most in the spotlight.
LCD는 액정의 굴절률 이방성을 이용하여 화면에 정보를 표시하는 표시장치이다. LCD는 상부기판과 하부기판 및 양 기판 사이에 형성된 액정으로 이루어진다. 일반적으로 하부기판은 구동소자 어레이(Array) 기판이며, 상부기판은 컬러 필터(Color Filter) 기판이다. 구동소자 어레이 기판에는 다수개의 화소가 형성되어 있으며, 각 화소에는 박막트랜지스터(Thin Film Transistor)와 같은 구동 소자가 형성되어 있고, 컬러 필터 기판에는 컬러를 구현하기 위한 컬러 필터층이 형성되어 있으며, 화소 전극, 공통전극 및 액정분자를 배향하기 위한 배향막이 도모되어 있다.An LCD is a display device that displays information on a screen by using refractive index anisotropy of a liquid crystal. The LCD consists of a liquid crystal formed between the upper substrate and the lower substrate and both substrates. In general, the lower substrate is a drive element array substrate, and the upper substrate is a color filter substrate. A plurality of pixels are formed on the driving element array substrate, a driving element such as a thin film transistor is formed on each pixel, a color filter layer for realizing color is formed on the color filter substrate, and a pixel electrode The alignment film for orienting a common electrode and a liquid crystal molecule is planned.
이러한 LCD의 패널을 검사하는 종래의 방법은 카메라를 이용하여 패널을 촬영하고, 그 촬영 이미지로부터 각 화소별 이미지 데이터를 육안으로 검사하여 결함(visual defect)을 판단하였다.In the conventional method of inspecting the panel of the LCD, a panel is photographed using a camera, and visual data of each pixel is visually inspected from the photographed image to determine visual defects.
그러나 이러한 종래의 검사 방법은, 육안으로 식별 가능한 결함은 정확하게 검출할 수 있으나, 육안 식별이 어려운 결함 즉, 카메라를 이용해도 분석이 어려운 결함에 대해서는 정확하게 결함을 검출 및 판정하는 것이 불가능하였다.However, such a conventional inspection method can accurately detect defects that can be visually identified, but it is impossible to accurately detect and determine defects that are difficult to visually identify, that is, defects that are difficult to analyze even when using a camera.
이에 본 발명은 상기와 같은 종래 LCD 패널의 검사 방법에서 발생하는 제반 문제점을 해결하기 위해서 제안된 것으로서,Accordingly, the present invention has been proposed to solve various problems occurring in the inspection method of the conventional LCD panel as described above,
본 발명의 목적은, LCD 패널의 제조상 컬러패턴의 단차로 발생하는 육안으로 식별되지 않는 미세 결함도 정확하게 검출할 수 있도록 한 액정표시소자 패널 검사장치 및 그 방법을 제공하는 데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a liquid crystal display panel inspection device and a method for accurately detecting fine defects that are not visually identified due to a step of a color pattern in manufacturing an LCD panel.
본 발명의 다른 목적은, 수신한 광을 분광 센서를 통해 파장 별로 분리하고, 그 분리한 파장 별 신호를 데이터 처리한 후 평균 추출, 편차 추출, 분산, 분산차 추출이라는 신호 처리 과정을 통해 데이터를 처리한 후, 그 처리된 결과 신호와 패널의 결함 유무를 판단하기 위해 미리 설정된 기준 값을 비교하여 결함 유무를 정 확하게 판별할 수 있도록 한 액정표시소자 패널 검사장치 및 그 방법을 제공하는 데 있다.Another object of the present invention is to separate the received light for each wavelength by using a spectroscopic sensor, and to process data through the signal processing such as average extraction, deviation extraction, dispersion, and dispersion difference extraction. The present invention provides a liquid crystal display panel inspection device and method for accurately determining a defect by comparing the result signal and a predetermined reference value to determine whether the panel is defective. .
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 "액정표시소자 패널 검사장치"는,"Liquid crystal display panel inspection apparatus" according to the present invention for achieving the above object,
상기 액정표시소자의 패널 하부에서 광을 발생하되, 광을 집속한 후 평행 광으로 만들고 그 평행 광의 양을 조절하는 발광부와; A light emitting unit generating light at a lower portion of the panel of the liquid crystal display, condensing the light into parallel light, and adjusting the amount of parallel light;
상기 액정표시소자 패널을 통과한 광을 수신하는 수광부와; A light receiving unit configured to receive light passing through the liquid crystal display panel;
상기 수광부에 의해 획득한 광을 분산시키고, 그 분산된 광을 파장 별로 분리한 후 설정한 파장 대역으로 여과하여 투과율 데이터로 출력하는 프리즘 및 분광센서부와; A prism and a spectroscopic sensor unit for dispersing the light obtained by the light receiving unit, separating the dispersed light for each wavelength, and filtering the set wavelength band to output transmittance data;
상기 프리즘 및 분광센서부를 통해 얻어지는 투과율 데이터를 가공하여 결함을 판별하기 위한 검출 데이터로 만들고, 그 검출 데이터와 메모리에 저장된 기준 설정치를 비교하여 결함 유무를 판별하는 제어부를 포함한다.And a control unit which processes the transmittance data obtained through the prism and the spectroscopic sensor unit to make detection data for determining a defect, and compares the detection data with a reference set value stored in the memory to determine whether there is a defect.
상기에서 제어부는,The control unit in the above,
상기 대역 필터에서 획득한 투과율 데이터를 R, G, B별로 평균값을 산출하는 평균 산출기와; 상기 산출한 평균값과 상기 투과율 데이터 간의 차이인 편차를 산출하는 편차 산출기와; 상기 투과율 데이터와 편차를 이용하여 분산 값을 추출하는 분산기와; 상기 분산 값을 재배열 한 후 분산 차를 추출하는 분산차 추출기와; 상 기 추출한 분산 차와 메모리에 기 저장된 기준 설정치를 비교하여 결함 여부를 판정하는 결함 판정기를 구비한다.An average calculator configured to calculate average values of the transmittance data obtained by the band pass filter for each of R, G, and B; A deviation calculator for calculating a deviation which is a difference between the calculated average value and the transmittance data; A disperser extracting a dispersion value using the transmittance data and the deviation; A dispersion difference extractor extracting a dispersion difference after rearranging the dispersion values; And a defect determiner which determines whether there is a defect by comparing the extracted dispersion difference with a reference set value previously stored in the memory.
상기 본 발명에 따른 "액정표시소자 패널 검사장치"는,"Liquid crystal display panel inspection apparatus" according to the present invention,
결함 위치 및 결함 크기를 표시해주기 위한 표시부(LCD)를 더 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.And a display unit (LCD) for displaying the defect position and the defect size.
또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 "액정표시소자 패널 검사 방법"은,In addition, the "liquid crystal display panel inspection method" according to the present invention for achieving the above object,
액정표시소자의 패널을 통과한 광을 분산시키고, 파장 별로 분리하여 투과율 데이터를 획득하는 제1단계와;A first step of dispersing light passing through the panel of the liquid crystal display device, separating the light for each wavelength to obtain transmittance data;
상기 획득한 투과율 데이터를 신호 처리 과정을 통해 가공하여 결함을 판별하기 위한 검출 데이터로 만드는 제2단계와;A second step of processing the obtained transmittance data through signal processing to make detection data for determining a defect;
상기 검출 데이터와 메모리에 저장된 기준 설정치를 비교하여 결함 유무를 판별하는 제3단계를 포함한다.And a third step of determining whether there is a defect by comparing the detection data with a reference set value stored in the memory.
상기에서 제2단계는,In the second step,
상기 획득한 투과율 데이터를 R, G, B별로 평균값을 산출하는 단계와; 상기 산출한 평균값과 상기 투과율 데이터 간의 차이인 편차를 산출하는 단계와; 상기 투과율 데이터와 상기 편차를 이용하여 분산 값을 추출하는 단계와; 상기 추출한 분산 값을 재배열 한 후 분산 차를 추출하는 단계를 포함한다.Calculating average values of the obtained transmittance data for each of R, G, and B; Calculating a deviation which is a difference between the calculated average value and the transmittance data; Extracting a variance value using the transmittance data and the deviation; And rearranging the extracted dispersion values and extracting a dispersion difference.
이하 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면에 의거 상세히 설명하면 다음과 같다. 본 발명을 설명하기에 앞서 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적 인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그에 대한 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, described in detail with reference to the accompanying drawings a preferred embodiment of the present invention. Before describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.
도 1은 본 발명에 의한 액정표시소자 패널 검사장치 구성도이다.1 is a block diagram of a liquid crystal display panel inspection device according to the present invention.
여기서, 참조부호 130은 광원(할로겐 램프)(120)에서 발생한 광을 액정표시소자(LCD) 패널(110)에 투사하기 위한 발광부로서, 상단에는 광을 집속한 후 평행 광으로 만드는 콜리메이트렌즈(Collimate Lens)(132)와 수광 영역의 조절과 수광 세기 조절을 위한 슬리트-에페츄어(Slit-Aperture)(133)가 구비된다.Here,
참조부호 140은 상기 LCD패널(110)을 투과한 광을 수광하기 위한 수광부로서, 소정 위치에는 수신 광을 집속 및 촛점화하는 포커스 렌즈(Focus Lens)가 형성되어있다.
또한, 참조부호 150은 상기 수광부(140)에 의해 획득한 광을 분산시키고, 그 분산 광을 파장 별로 분리하며, 분리된 광을 설정한 파장 대역으로 여과하는 프리즘/분광센서부로서, 수신한 광을 분산하기 위한 프리즘과, 프리즘에 의해 분산된 광을 파장 별로 분리하는 분광 센서(CCD센서)와, 분광 센서에 의해 분리된 광을 설정한 파장 대역으로 여과하는 대역 필터를 구비하는 것이 바람직하다.In addition,
또한, 참조부호 160은 상기 프리즘/분광센서부(150)를 통해 얻어지는 데이터를 투과율 데이터로 하여 이를 가공하여 결함을 판별하기 위한 검출 데이터로 만들고, 그 검출 데이터와 메모리(170)에 기 저장된 기준 설정치를 비교하여 결함 유무를 판별하는 제어부로서, 도 2에 도시된 바와 같이, 획득한 투과율 데이터에 대해 R, G, B별로 평균값을 산출하는 평균 산출기(161)와, 상기 산출한 평균값과 상기 투과율 데이터 간의 차이인 편차를 산출하는 편차 산출기(162)와, 상기 투과율 데이터와 편차를 이용하여 분산 값을 추출하는 분산기(163)와, 상기 분산 값을 재배열 한 후 분산 차를 추출하는 분산차 추출기(164)와, 상기 추출한 분산차와 메모리(170)에 기 저장된 기준 설정치를 비교하여 결함 여부를 판정하는 결함 판정기(165)를 구비한다.In addition,
아울러 참조부호 180은 결함 위치 및 결함 크기를 표시해주기 위한 표시부(LCD)를 나타낸다.In addition,
이와 같이 구성된 본 발명에 따른 액정표시소자 패널 검사장치는, 먼저 발광부(130)에서 할로겐 램프 등에 의해 생성된 광원(120)을 LCD패널(110)의 하부에서 투사를 하게 되고, 상기 LCD패널(110)의 상부에서는 수광부(140)에서 LCD패널(110)을 통과한 광을 수광한다. 이때 발광부(130)에는 슬리트-어페츄어(133)가 형성되어 수광 영역을 조절하게 된다.In the liquid crystal display panel inspection apparatus according to the present invention configured as described above, the
수광부(140)의 수광 신호는 포커스 렌즈(141)를 통해 집속된 후 광케이블을 통해 프리즘/분광센서부(150)에 전달되고, 프리즘에 의해 분산된 후 분광 센서를 통해 파장 별로 분리된다. 이렇게 파장 별로 분리된 광은 대역 필터를 통과하면서 각 필터에 설정된 대역별로(파장 별로) 투과율 데이터가 되어 제어부(160)에 전달된다. 여기서 대역 필터는 설정한 파장 대역 별로 광을 통과시켜줌으로써 파장을 분리해주고, 그 결과가 각 대역별로 투과율 데이터가 되도록 하는 역할을 한다. 특히, 대역 필터(170)는 청색(B) 대역(430 ~ 510nm)과 그린(G) 대역(511 ~ 580nm)과 적색(R) 대역(581 ~ 700nm)의 필터링을 위해서 3개의 필터를 사용하는 것이 바람직 하다. 도 3은 실제 광을 파장 별로 분석한 특성 그래프이다. 각 대역 필터를 통해서 획득되는 데이터는 투과율 데이터이다.The light receiving signal of the
여기서 투과율(%)을 수식으로 표현하면 아래의 [수학식1]과 같다.Here, the transmittance (%) is expressed as a formula below.
여기서 Rλ는 대상물이 없는 상태의 파장 대역별 광량을 나타내고, Dλ는 광이 완전 차단된 상태인 파장 대역별 광량을 나타내고, Sλ는 실제 시료인 LCD 패널을 통과한 파장 대역별 광량을 나타낸다.Here, Rλ represents the amount of light for each wavelength band in the absence of an object, Dλ represents the amount of light for each wavelength band in which light is completely blocked, and Sλ represents the amount of light for each wavelength band passing through the LCD panel, which is an actual sample.
파장 대별로 투과율 데이터 값의 예를 들면 다음과 같다.Examples of transmittance data values for each wavelength range are as follows.
먼저, 청색(B)은 430nm - 8.001, 450nm - 8.002, ....., 510nm - 9.005가 되고, 그린(G)은 511nm - 9.007, 550nm - 9.5, ....., 580nm - 11.005가 되고, 적색(R)은 581nm - 13.001, 590nm - 14.002, ....., 700nm - 15.005가 된다. 여기서 각 파장 별 투과율 데이터는 측정된 광량을 데이터로 변환한 것으로서, 고정된 것이 아니고 광량의 세기에 따라 달라짐은 당업자라면 자명하다.First, blue (B) becomes 430 nm-8.001, 450 nm-8.002, ....., 510 nm-9.005, and green (G) has 511 nm-9.007, 550 nm-9.5, ....., 580 nm-11.005 Red (R) becomes 581 nm-13.001, 590 nm-14.002, ....., 700 nm-15.005. Here, the transmittance data for each wavelength is converted from the measured light quantity into data, and it is obvious to those skilled in the art that it is not fixed but depends on the intensity of the light quantity.
투과율 데이터가 입력되면 제어부(160) 내의 평균 산출기(161)는 상기 R, G, B 별로 평균값을 산출한다. 여기서 평균값은 R의 파장 별 투과율 데이터를 전부 가산하고, 그 가산치를 분할된 파장 별의 개수(n개)로 나누어 평균값을 산출하게 된다. 마찬가지로, G의 파장 별 투과율 데이터를 전부 가산하고, 그 가산치를 분할된 파장 별의 개수(m개)로 나누어 평균값을 산출하게 되며, 또한, B의 파장 별 투과율 데이터를 전부 가산하고, 그 가산치를 분할된 파장 별의 개수(k개)로 나누어 평균값을 산출하게 된다.When transmittance data is input, the
다음으로, 편차 산출기(182)에서는 상기 입력되는 투과율 데이터와 상기 평균 산출기(181)에서 산출한 각 파장 대별 평균 데이터를 이용하여 편차를 산출하게 된다. 예를 들어, B의 파장 중 430nm의 투과율 데이터(8.001)에서 B의 평균값을 감산하여 그 결과치를 B의 파장 중 430nm파장의 편차로 산출하게 된다. Next, the deviation calculator 182 calculates the deviation using the input transmittance data and the average data for each wavelength band calculated by the average calculator 181. For example, the average value of B is subtracted from the transmittance data (8.001) of 430 nm among the wavelengths of B, and the result is calculated as the deviation of the wavelength of 430 nm among the wavelengths of B.
이후 각 컬러별 파장 대별로 편차 산출이 이루어지면, 분산기(183)에서 분산을 하여 각 컬러별 분산 값을 산출하게 된다. 따라서 B대역에 대해서는 n개의 분산 값이 산출되고, G대역에 대해서는 m개의 분산 값이 산출되며, R대역에 대해서는 k개의 분산 값이 산출된다. 여기서 분산 값은 아래와 같은 공지의 [수학식2]에 의해 산출된다.After the deviation is calculated for each color wavelength band, the dispersion device 183 is dispersed to calculate the dispersion value for each color. Therefore, n dispersion values are calculated for the B band, m dispersion values are calculated for the G band, and k dispersion values are calculated for the R band. The dispersion value is calculated by the following [Equation 2].
여기서, n은 B대역의 각 입력된 파장 개수를 의미한다.Here, n means the number of input wavelengths of the B band.
다음으로, 분산차 추출기(164)에서는 상기 분산기(163)에서 획득한 각 컬러별 각 파장 대별 분산 값을 재배열한다. 예를 들어, LCD패널을 스캔(scan)하면서 B컬러의 430nm 대역에 대한 분산 값을 위치별로 재배열하게 되고, B컬러의 450nm 대 역에 대한 분산 값을 위치별로 재배열하게 되는 것이다. 그리고 재배열이 완료되면 앞쪽 분산 값과 뒤쪽 분산 값을 감산하여 그 차이 값을 분산 차로 추출하게 된다. 즉, B컬러의 430nm 대역의 위치별 분산 값이 0.001(1), 0.001(2), 0.001(3), 0.001(4), 0.007(5), 0.001(6), ........0.001(n)과 같을 경우, 분산 차를 산출해 보면 1번 위치의 분산 값과 2번 위치의 분산 값의 차이인 분산 차는 0, 2번 위치의 분산 값과 3번 위치의 분산 값의 차이인 분산 차는 0, 3번 위치의 분산 값과 4번 위치의 분산 값의 차이인 분산 차는 0, 4번 위치의 분산 값과 5번 위치의 분산 값의 차이인 분산 차는 0.006, 5번 위치의 분산 값과 6번 위치의 분산 값의 차이인 분산 차는 0.006이 된다. Next, the
이렇게 산출되는 분산 차는 결함 판정기(165)에 각 컬러별 파장 대별로 입력되며, 결함 판정기(165)는 이렇게 얻어지는 각 컬러별 파장 대별의 분산 차와 메모리(170)에 미리 저장된 각 컬러별 파장 대별의 기준 설정치를 비교하여, 상기 획득한 분산 차가 상기 기준 설정치의 범위를 벗어난 경우에는 결함으로 판정을 하게 되며, 이때 결함 위치의 확인도 가능하다. 여기서 기준 설정치는 실험을 통해 미리 설정되는 값으로서, 최상의 LCD패널을 구현하기 위한 최적의 기준치라고 가정한다.The dispersion difference calculated as described above is input to the
한편, 제어부(160)는 결함 발견시 결함 크기 및 위치를 화면에 표시해주도록 표시부(180)를 제어하게 되고, 이러한 제어에 의해 표시부(180)는 결함 위치 및 크기를 화면에 표시해줌으로써, 검사자가 용이하게 결함 위치 및 크기를 알 수 있도록 한다.On the other hand, the
도 4는 본 발명에 의한 액정표시소자 패널 검사방법을 보인 흐름도이다.4 is a flowchart illustrating a method of inspecting a liquid crystal display panel according to the present invention.
이에 도시된 바와 같이, 단계 S101에서는 수광부(140)에서 LCD패널(110)을 통과한 광이 수광되는지를 확인하게 되고, 이 확인 결과 광이 수광되면, 그 수광된 광신호는 광케이블을 통해 프리즘/분광센서부(150)에 전달되고, 단계 S103에서 프리즘에 의해 분산된 후 분광 센서를 통해 파장 별로 분리된다. 이렇게 파장 별로 분리된 광은 대역 필터를 통과하면서 각 필터에 설정된 대역별로(파장 별로) 투과율 데이터가 되어 제어부(160)에 전달된다.As shown in the drawing, in step S101, it is checked whether the light passing through the
여기서 투과율 데이터를 획득하는 방법은 다양하며, 발광부(130)와 수광부(140)를 통칭하여 검출기라고 가정한다.Here, the method of acquiring transmittance data is various, and the
예를 들어, 발광부(130)와 수광부(140)로 이루어진 검출기는 고정하고 LCD패널(110)을 발광부(130)와 수광부(140) 사이로 전진 또는 후진시켜서 투과율 데이터를 획득하는 방법, 발광부(130)와 수광부(140)가 함께 구성된 검출기는 고정하고 LCD패널(110)이 검출기의 하면 또는 상면을 전진 또는 후진하면서 투과율 데이터를 획득하는 방법, LCD패널(110)을 고정하고 발광부(130)와 수광부(140)가 LCD패널(110)의 상,하를 전진 또는 후진하면서 투과율 데이터를 획득하는 방법, 발광부(130) 및 수광부(140)와 LCD패널(110)이 서로 교차하면서 투과율 데이터를 획득하는 방법, LCD패널(110)은 고정하고 발광부(130)와 수광부(140)로 이루어진 검출기가 고정된 LCD패널(110)의 하면 또는 상면을 전진 또는 후진하면서 투과율 데이터를 획득하는 방법, 발광부(130)와 수광부(140)로 이루어진 검출기와 LCD패널(110)이 서로 교차하면서 투과율 데이터를 획득하는 방법 등이 가능하다.For example, a method of acquiring transmittance data by fixing a detector including the
또한, LCD패널 또는 검출기가 전진 또는 후진하는 위치와는 별개로 엔코더 (도면에는 도시하지 않음)를 구성하여, LCD패널 또는 검출기가 전진 또는 후진할 경우 등속 또는 비등속으로 엔코더 이동데이터와 일치시키면서 결함과 위치 데이터를 획득하는 방법도 가능하다.In addition, the encoder (not shown) is configured separately from the position where the LCD panel or the detector moves forward or backward, so that when the LCD panel or the detector moves forward or backward, the encoder moves data at a constant speed or at a constant speed while failing to match the encoder movement data. It is also possible to obtain the position data.
투과율 데이터가 획득되면 제어부(160)는 단계 S105에서 R, G, B 별로 평균값을 산출한다. 여기서 평균값은 주지한 바와 같이, R의 파장 별 투과율 데이터를 전부 가산하고, 그 가산치를 분할된 파장 별의 개수(n개)로 나누어 평균값을 산출한다. 마찬가지로, G의 파장 별 투과율 데이터를 전부 가산하고, 그 가산치를 분할된 파장 별의 개수(m개)로 나누어 평균값을 산출하게 되며, 또한, B의 파장 별 투과율 데이터를 전부 가산하고, 그 가산치를 분할된 파장 별의 개수(k개)로 나누어 평균값을 산출한다.When the transmittance data is obtained, the
다음으로, 단계 S107에서는 입력되는 투과율 데이터와 상기 산출한 각 파장 대별 평균 데이터를 이용하여 편차를 산출하게 된다. 예를 들어, B의 파장 중 430nm의 투과율 데이터(8.001)에서 B의 평균값을 감산하여 그 결과치를 B의 파장 중 430nm파장의 편차로 산출하게 된다.Next, in step S107, the deviation is calculated using the input transmittance data and the calculated average data for each wavelength band. For example, the average value of B is subtracted from the transmittance data (8.001) of 430 nm among the wavelengths of B, and the result is calculated as the deviation of the wavelength of 430 nm among the wavelengths of B.
이후 단계 S109에서는 각 컬러별 분산 값을 산출하게 된다. 따라서 B대역에 대해서는 n개의 분산 값이 산출되고, G대역에 대해서는 m개의 분산 값이 산출되며, R대역에 대해서는 k개의 분산 값이 산출된다. Subsequently, in step S109, a dispersion value for each color is calculated. Therefore, n dispersion values are calculated for the B band, m dispersion values are calculated for the G band, and k dispersion values are calculated for the R band.
다음으로, 단계 S111에서는 각 컬러별 각 파장 대별 분산 값을 재배열하고, 분산차를 추출한다. 예를 들어, LCD패널을 스캔(scan)하면서 B컬러의 430nm 대역에 대한 분산 값을 위치별로 재배열하게 되고, B컬러의 450nm 대역에 대한 분산 값을 위치별로 재배열하게 되는 것이다. 그리고 재배열이 완료되면 앞쪽 분산 값과 뒤쪽 분산 값을 감산하여 그 차이 값을 분산 차로 추출하게 된다. 즉, B컬러의 430nm 대역의 위치별 분산 값이 0.001(1), 0.001(2), 0.001(3), 0.001(4), 0.007(5), 0.001(6), ........0.001(n)과 같을 경우, 분산 차를 산출해 보면 1번 위치의 분산 값과 2번 위치의 분산 값의 차이인 분산 차는 0, 2번 위치의 분산 값과 3번 위치의 분산 값의 차이인 분산 차는 0, 3번 위치의 분산 값과 4번 위치의 분산 값의 차이인 분산 차는 0, 4번 위치의 분산 값과 5번 위치의 분산 값의 차이인 분산 차는 0.006, 5번 위치의 분산 값과 6번 위치의 분산 값의 차이인 분산 차는 0.006이 된다.Next, in step S111, the dispersion value for each wavelength band for each color is rearranged and the dispersion difference is extracted. For example, while scanning the LCD panel, the dispersion values for the 430 nm band of B color are rearranged by position, and the dispersion values for the 450 nm band of B color are rearranged by position. When the rearrangement is completed, the difference between the front and rear variances is subtracted and the difference value is extracted as the variance difference. In other words, the B-color 430 nm band position-specific dispersion values are 0.001 (1), 0.001 (2), 0.001 (3), 0.001 (4), 0.007 (5), 0.001 (6), ....... If .0.001 (n) is equal, the variance difference is calculated as the difference between the variance value at position 1 and the variance value at position 2, and the variance value at position 0 and 2 and the variance value at position 3 The difference in variance is the difference between the variance of positions 0 and 3 and the variance of position 4, and the difference in variance is the difference between the variance of positions 0 and 4 and the dispersion of position 5 is 0.006 and the dispersion of position 5. The variance difference, which is the difference between the value and the variance value at position 6, is 0.006.
마지막으로, 단계 S113에서는 각 컬러별 파장 대별의 분산 차와 메모리(170)에 미리 저장된 각 컬러별 파장 대별의 기준 설정치를 비교하여, 상기 획득한 분산 차가 상기 기준 설정치의 범위를 벗어난 경우에는 결함으로 판정을 하게 되며, 이때 결함 위치의 확인도 가능하다. 여기서 기준 설정치는 실험을 통해 미리 설정되는 값으로서, 최상의 LCD패널을 구현하기 위한 최적의 기준치라고 가정한다.Finally, in step S113, the dispersion difference of each wavelength band of each color is compared with the reference setting value of each wavelength band stored in the
한편, 제어부(160)는 도면에는 도시하지 않았지만, 결함 발견시 결함 크기 및 위치를 화면에 표시해주도록 표시부(180)를 제어하게 되고, 이러한 제어에 의해 표시부(180)는 결함 위치 및 크기를 화면에 표시해줌으로써, 검사자가 용이하게 결함 위치 및 크기를 알 수 있도록 한다.Meanwhile, although not shown in the drawing, the
본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.The present invention is not limited to the above-described specific preferred embodiments, and various modifications can be made by any person having ordinary skill in the art without departing from the gist of the present invention claimed in the claims. Of course, such changes will fall within the scope of the claims.
이상에서 상술한 본 발명에 따르면, LCD 패널의 제조상 컬러패턴의 단차로 발생하는 육안으로 식별되지 않는 미세 결함도 신속, 정확하게 검출할 수 있는 장점이 있다.According to the present invention described above, there is an advantage that it is possible to quickly and accurately detect fine defects which are not visually identified due to the step of the color pattern in manufacturing the LCD panel.
또한, 미세 결함의 종류(R, G, B별), 위치 및 크기의 표시가 가능하므로, 추후 결함 제거시에 보다 더 신속하면서도 정확하게 결함을 제거할 수 있도록 도모해주며, 제조상 결함 컬러패턴을 하나의 LCD 패널인 TFT-Array패널과 결합하기 이전에 추출할 수 있어 제조상 원가절감과 최종 제품에서 다시 검사해야하는 시간적, 비용적인 손실도 보상할 수 있는 장점이 있다.In addition, it is possible to display the type (position of R, G, B), location and size of fine defects, so that the defects can be removed more quickly and accurately when removing defects later. It can be extracted before it is combined with TFT-Array panel, which is an LCD panel of LCD, and it can compensate for cost reduction in manufacturing and time and cost loss to be inspected again in the final product.
Claims (16)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020060098615A KR100801438B1 (en) | 2006-10-10 | 2006-10-10 | Apparatus for detecting of lcd panel and method thereof |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101400757B1 (en) * | 2012-07-19 | 2014-05-27 | (주) 인텍플러스 | Display panel inspection apparatus |
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2006
- 2006-10-10 KR KR1020060098615A patent/KR100801438B1/en active IP Right Grant
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