KR20130089634A - 안과학에서의 또는 안과학과 관련된 개선들 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 안구의 망막을 조명하고, 촬상하고 치료하기 위한 장치 및 방법을 제공한다. 장치(10)는, 조명 디바이스(16)가 망막(12) 상의 둘레 라인을 조명할 수 있도록, 평면 내에 광을 발생시킬 수 있는 평면 광원 및 지지 구조체를 포함하는 조명 디바이스(16)를 포함하며, 여기서 조명 디바이스(16)는 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재가능하고, 광원에 의해 정의되는 평면상에 실질적으로 놓인 축(18)에 대해 회전가능하여, 사용시에, 조명 디바이스(16)는 망막(12)의 영역을 조명하기 위해 축에 대해 회전될 수 있다.

Description

안과학에서의 또는 안과학과 관련된 개선들{IMPROVEMENTS IN OR RELATING TO OPHTHALMOLOGY}
본 발명은 인간의 안구의 망막을 조명하고, 촬상하고 치료하기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다.
스캐닝 레이저 검안경들(SLOs; scanning laser ophthalmoscopes)과 같은 촬상 시스템들은 많은 수의 광학적 컴포넌트들, 예를 들어, 레이저 스캐닝 엘리먼트들, 스캔 트랜스퍼 미러들, 레이저 소스들 및 검출기들을 포함할 수 있다. 이러한 엘리먼트들은 인간의 망막의 래스터 스캔 패턴(raster scan pattern)을 생성하는데 이용된다. 폴리곤 미러는 복수의 패싯(facet)들을 갖고, 통상적으로 레이저 빔의 수직 스캐닝을 제공하며, 저속 미러는 통상적으로 레이저 빔의 수평 스캐닝을 제공한다. 스캔 트랜스퍼 미러는 스캐닝 엘리먼트들에 의해 생성된 2차원 레이저 스캔 패턴을 안구의 망막으로 트랜스퍼한다.
이러한 촬상 시스템들은 안구의 망막의 용인가능한 이미지들을 제공하지만, 이 이미지들은 제조하기에 고가이며(레이저 스캐닝 엘리먼트들 및 스캔 트랜스퍼 미러는 특히 고가의 컴포넌트들임), 크기면에서 크고, 수많은 광학적 컴포넌트들로 인해 낮은 광학적 효율을 갖는 것으로 한정된다.
본 발명의 제 1 양상에 따르면, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치가 제공되는데, 이 장치는:
조명 디바이스 ― 조명 디바이스는, 조명 디바이스가 망막 상의 둘레 라인(circumferential line)을 조명할 수 있도록, 평면 내에 광을 발생시킬 수 있는 평면 광원을 포함함 ―; 및
지지 구조체를 포함하고;
조명 디바이스는 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재가능하고 광원에 의해 정의되는 평면 상에 실질적으로 놓인 축에 대해 회전가능하여, 사용시에, 조명 디바이스는 망막의 영역을 조명하기 위해 축에 대해 회전될 수 있다.
조명 디바이스의 회전축은 안구의 동공 포인트(pupillary point) 주위에 위치될 수 있다. 조명 디바이스의 회전축은 안구의 전방 노달 포인트(front nodal point)과 일치할 수 있다.
조명 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면상에 놓일 수 있다. 대안적으로, 조명 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면에 수직할 수 있다. 대안적으로, 조명 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면에 평행하거나 또는 수직하지 않을 수 있다. 이러한 배열들 모두에서, 조명 디바이스의 회전축은 광원에 의해 정의되는 평면상에 놓여야 한다.
조명 디바이스는, 축에 대한 그 자신의 회전이 자동화되도록, 구성될 수 있다. 촬상 디바이스의 회전은 컴퓨터-제어될 수 있다.
조명 디바이스는 안구의 망막에 걸쳐서 시준광(collimated light)을 스캐닝함으로써 망막을 조명하도록 구성될 수 있다. 따라서, 조명 디바이스는 안구의 망막에 걸쳐서 시준광의 1차원 스캔을 수행할 수 있다.
조명 디바이스의 회전축은 조명 디바이스에 의해 생성된 1차원 시준광에 의해 정의되는 평면에 평행할 수 있다. 즉, 조명 디바이스의 회전축의 평면은, 이것이 생성하는 1차원 시준광에 의해 정의되는 평면에 직교할 수 있다.
조명 디바이스의 회전 축은 조명 디바이스에 의해 생성된 1차원 시준광에 의해 정의되는 평면상에 놓일 수 있다.
조명 디바이스는:
시준 광원; 및
스캐닝 엘리먼트를 포함할 수 있고,
시준 광원 및 스캐닝 엘리먼트가 결합하여 포인트로부터 1차원 시준광 스캔을 제공하며; 그리고
조명 디바이스는 스캔 트랜스퍼 디바이스를 더 포함하며,
스캔 트랜스퍼 디바이스는 2개의 포커스들을 갖고, 포인트는 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 1 포커스에 제공되고, 안구의 동공 포인트는 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에서 원근조절되며, 여기서 스캔 트랜스퍼 디바이스는 그 포인트에서 안구로 1차원 시준광 스캔을 트랜스퍼한다.
안구의 전방 노달 포인트(front nodal point)는 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에서 원근조절될 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 진동 메커니즘일 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 진동 미러, 예를 들어, 진동 평면 미러일 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 공진 스캐너(resonant scanner)일 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 공진 미러, 예를 들어 공진 스캐닝 미러일 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 MEMS(microelectromechanical system) 스캐닝 엘리먼트일 수 있다. MEMS 스캐닝 엘리먼트는 1차원 스캐닝 엘리먼트 또는 2차원 스캐닝 엘리먼트일 수 있다.
스캔 트랜스퍼 디바이스는 기울어진 구면 미러(tilted spherical mirror), 비구면 미러, 타원형 미러, 타원체 미러, 한 쌍의 포물선 미러들, 한 쌍의 포물면 미러들 또는 렌즈 시스템을 포함할 수 있다. 스캔 트랜스퍼 디바이스가 렌즈 시스템을 포함하는 경우, 렌즈 시스템은 2개의 포커스들을 제공하도록 배열된다.
시준 광원은 레이저, 발광 다이오드(LED), 빅셀(VCSEL; Vertical Cavity Surface Emitting Laser), 수퍼 루미네선트 다이오드, 다이오드 레이저 또는 시준 백열등(collimated incandescent lamp)일 수 있다.
시준 광원은 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함할 수 있다. 시준 광원은 하나 또는 둘 이상의 레이저들, 발광 다이오드들(LEDs), 수퍼 루미네선트 다이오드들, 다이오드 레이저들 또는 시준 백열등들을 포함할 수 있다.
시준 광원은 상이한 파장들의 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함할 수 있다.
조명 디바이스는 망막으로부터의 반사된 시준광을 검출하기 위한 하나 또는 둘 이상의 검출기들을 더 포함할 수 있다.
시준 광원은, 조명 디바이스와 함께 회전하도록, 조명 디바이스와 함께 위치될 수 있다.
하나 또는 둘 이상의 검출기들은, 조명 디바이스와 함께 회전하도록, 조명 디바이스와 함께 위치될 수 있다.
시준 광원은 조명 디바이스로부터 원격적으로 위치될 수 있고, 시준광은 광섬유 등에 의해 조명 디바이스에 전송될 수 있다.
하나 또는 둘 이상의 검출기들은 조명 디바이스로부터 원격적으로 위치될 수 있고, 반사된 시준광은 광섬유(fibre optic) 등에 의해 조명 디바이스로부터 전송될 수 있다.
조명 디바이스는 망막의 영역을 조명할 수 있다. 즉, 조명 디바이스는 망막의 2차원 부분을 조명할 수 있다.
스캐닝 디바이스는 MEMS 스캐닝 엘리먼트일 수 있다. MEMS 스캐닝 엘리먼트는 2차원 스캐닝 엘리먼트일 수 있다.
조명 디바이스는 안구의 망막을 조명하는 복수의 광 빔들을 발생시키기 위해 광원으로부터 광을 조작함으로써 망막 상의 둘레 라인을 조명하도록 구성될 수 있다. 복수의 광 빔들은 망막을 조명하는 광의 평면을 형성한다. 조명 디바이스는, 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈 또는 구배 굴절율 렌즈와 같은 라인 발생 엘리먼트를 통해서 광을 통과시킴으로써 광원으로부터 광을 조작할 수 있다. 즉, 조명 디바이스는 안구의 망막을 조명하는 복수의 광 빔들을 발생시키기 위해 라인 발생 엘리먼트 등을 통해서 광을 통과시킴으로써 광원으로부터 광을 조작할 수 있다.
조명 디바이스는 안구의 망막을 조명하는 복수의 시준광 빔들을 발생시키기위해 시준 광원으로부터 광을 조작함으로써 망막 상에 둘레 라인을 조명하도록 구성될 수 있다. 복수의 시준광 빔들은 망막을 조명하는 시준광의 평면을 형성한다. 조명 디바이스는, 라인 발생 엘리먼트, 예컨대, 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈 또는 구배 굴절률 렌즈를 통해서 광을 통과시킴으로써 시준 광원으로부터 광을 조작할 수 있다. 즉, 조명 디바이스는 안구의 망막을 조명하는 복수의 시준광 빔들을 발생시키기 위해 라인 발생 엘리먼트 등을 통해서 시준광을 통과시킴으로써 시준 광원으로부터 광을 조작할 수 있다. 이러한 배열에서, 시준 광원으로부터의 광은, 이 광이 일 차원으로 시준되고 그리고 다른 차원으로 분기(divergent)되도록, 조작된다.
조명 디바이스의 회전축은 조명 디바이스에 의해 발생된 복수의 광 빔들에 의해 정의되는 평면에 평행할 수 있다. 즉, 조명 디바이스의 회전축의 평면은 조명 디바이스에 의해 발생된 광 빔들의 평면에 직교할 수 있다.
조명 디바이스의 회전축은 조명 디바이스에 의해 발생된 복수의 광 빔들에 의해 정의되는 평면상에 놓일 수 있다.
조명 디바이스의 회전축은 조명 디바이스에 의해 발생된 복수의 시준광 빔들에 의해 정의되는 평면에 평행할 수 있다. 즉, 조명 디바이스의 회전축의 평면은 조명 디바이스에 의해 발생된 시준광 빔들의 평면에 직교할 수 있다.
조명 디바이스는:
광원; 및
광 조작 엘리먼트를 포함할 수 있고,
광원 및 광 조작 엘리먼트가 결합하여 포인트로부터 복수의 광 빔들을 제공하며;
조명 디바이스는 스캔 트랜스퍼 디바이스를 더 포함하고, 이 스캔 트랜스퍼 디바이스는 2개의 포커스들을 갖고, 포인트는 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 1 포커스에 제공되고, 안구의 동공 포인트는 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에서 원근조절되며, 여기서, 스캔 트랜스퍼 디바이스는 포인트로부터 안구로 복수의 광 빔들을 트랜스퍼한다.
광원은 시준광을 제공할 수 있다. 즉, 조명 디바이스는 시준 광원을 포함할 수 있다.
광 조작 엘리먼트는 시준광 조작 엘리먼트일 수 있다.
광 조작 엘리먼트는 라인 발생 엘리먼트일 수 있다. 라인 발생 엘리먼트는 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈 또는 구배 굴절률 렌즈일 수 있다.
시준광 조작 엘리먼트는 라인 발생 엘리먼트일 수 있다. 라인 발생 엘리먼트는 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈 또는 구배 굴절률 렌즈일 수 있다.
스캔 트랜스퍼 디바이스는 기울어진 구면 미러, 비구면 미러, 타원형 미러, 타원체 미러, 한 쌍의 포물선 미러들, 한 쌍의 포물면 미러들 또는 렌즈 시스템을 포함할 수 있다. 스캔 트랜스퍼 디바이스가 렌즈 시스템을 포함하는 경우, 렌즈 시스템은 2개의 포커스들을 제공하도록 배열된다.
안구의 전방 노달 포인트는 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에서 원근조절될 수 있다.
광원은 발산 레이저 다이오드 및 토로이달 렌즈, 또는 슬릿 개구를 갖는 램프 소스를 포함할 수 있다.
시준 광원은 레이저, 발광 다이오드(LED), 빅셀(VCSEL; Vertical Cavity Surface Emitting Laser), 수퍼 루미네선트 다이오드, 다이오드 레이저 또는 시준 백열등(collimated incandescent lamp)일 수 있다.
시준 광원은 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함할 수 있다. 대안적으로, 시준 광원은 하나 또는 둘 이상의 레이저들, 발광 다이오드들(LEDs), 빅셀들, 수퍼 루미네선트 다이오드들, 다이오드 레이저들 또는 시준 백열등들을 포함할 수 있다.
광원은 상이한 파장들의 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함할 수 있다.
시준 광원은 상이한 파장들의 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함할 수 있다.
조명 디바이스는 망막으로부터의 반사된 광을 검출하기 위한 하나 또는 둘 이상의 검출기들을 더 포함할 수 있다.
조명 디바이스는 망막으로부터의 반사된 시준광을 검출하기 위한 하나 또는 둘 이상의 검출기들을 포함할 수 있다.
광원은, 조명 디바이스와 함께 회전하도록, 조명 디바이스와 함께 위치될 수 있다.
시준 광원은, 조명 디바이스와 함께 회전하도록, 조명 디바이스와 함께 위치될 수 있다.
하나 또는 둘 이상의 검출기들은, 조명 디바이스와 함께 회전하도록, 조명 디바이스와 함께 위치될 수 있다.
광원은 조명 디바이스로부터 원격적으로 위치될 수 있고, 광은 광섬유 등에 의해 조명 디바이스에 전송될 수 있다.
시준 광원은 조명 디바이스로부터 원격적으로 위치될 수 있고, 시준광은 광섬유 등에 의해 조명 디바이스에 전송될 수 있다.
조명 디바이스는 망막의 영역을 조명할 수 있다. 즉, 조명 디바이스는 망막의 2차원 부분을 조명할 수 있다.
장치의 조명 디바이스는, 조명 디바이스가 제 1 안구의 제 1 망막의 2차원 부분을 조명하는데 이용될 수 있는 제 1 위치와 조명 디바이스가 제 2 안구의 제 2 망막의 2차원 부분을 조명하는데 이용될 수 있는 제 2 위치 사이에서 피보팅가능할 수 있다.
조명 디바이스의 피보팅축은 조명 디바이스의 회전축에 직교할 수 있다.
이 장치는 2개의 조명 디바이스들을 포함할 수 있고, 여기서 각각의 조명 디바이스는 망막 상에 둘레 라인을 조명할 수 있고 광원에 의해 정의되는 평면상에 실질적으로 놓이는 축에 대해 회전가능할 수 있다. 이 조명 디바이스들은 함께 또는 개별적으로 회전될 수 있다. 조명 디바이스들은 단일 하우징 내에 위치될 수 있고, 또는 2개의 별개의 하우징들 내에 위치될 수 있다.
조명 디바이스들은, 각각의 디바이스에 의해 조명된 망막 상의 둘레 라인들이 동일한 방향에 있도록 구성된다. 즉, 각각의 디바이스에 의해 조명된 둘레 라인들은 평행하다.
본 발명의 제 2 양상에 따르면, 본 발명의 제 1 양상에 따라서 2개의 장치들을 포함하는, 환자의 각각의 안구의 망막을 조명하기 위한 시스템이 제공되며, 여기서 각각의 장치는 하나의 안구의 망막을 조명할 수 있다.
본 발명의 제 3 양상에 따르면, 시준광을 이용하여 안구의 망막을 조명하는 방법이 제공되는데, 이 방법은:
조명 디바이스를 제공하는 단계 ― 조명 디바이스가 망막 상의 둘레 라인을 조명할 수 있도록, 평면 내에 광을 발생시킬 수 있는 평면 광원을 포함함 ―;
지지 구조체를 제공하는 단계 ― 여기서, 조명 디바이스는 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재가능하고, 광원에 의해 정의되는 평면상에 실질적으로 놓이는 축에 대해 회전가능함 ―; 및
시준광을 이용하여 망막 상에 복수의 둘레 라인들을 조명하기 위해 축에 대해 조명 디바이스를 회전시키는 단계를 포함한다.
조명 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면상에 놓일 수 있다. 대안적으로, 조명 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면에 수직할 수 있다. 대안적으로, 조명 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면에 수직하거나 또는 평행하지 않을 수 있다. 이러한 배열들 모두에서, 조명 디바이스의 회전축은 광원에 의해 정의되는 평면상에 놓여야 한다.
조명 디바이스는, 축에 대한 그 자신의 회전이 자동화되도록 구성될 수 있다. 촬상 디바이스의 회전은 컴퓨터-제어될 수 있다.
본 발명의 제 4 양상에 따르면, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치가 제공되는데, 이 장치는:
망막의 실질적으로 1차원 이미지를 획득할 수 있는 촬상 디바이스; 및
지지 구조체를 포함하고,
촬상 디바이스는 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재가능하고 실질적으로 1차원 이미지의 방향에 평행한 축에 대해 회전가능하여, 사용시에, 촬상 디바이스는 망막의 복수의 실질적으로 1차원 이미지들을 획득하기 위해 축에 대해 회전될 수 있고, 상기 망막의 목수의 실질적으로 1차원 이미지들은 망막의 2차원 이미지를 획득하기 위해 조합될 수 있다.
여기서, 촬상 디바이스에 의해 획득된 망막의 실질적으로 1차원 이미지는 그 폭에 비해 수배 더 큰 길이를 갖는 이미지가 되는 것으로 고려된다. 실질적으로 1차원 이미지의 방향은 이미지의 길이와 동일한 방향에 있는 것으로 고려된다.
촬상 디바이스의 회전축은 안구의 동공 포인트 주위에 위치될 수 있다. 촬상 디바이스의 회전축은 안구의 전방 노달 포인트와 일치할 수 있다.
촬상 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면상에 놓일 수 있다. 대안적으로, 촬상 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면에 수직할 수 있다. 대안적으로, 촬상 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면에 평행하거나 또는 수직하지 않을 수 있다. 이러한 배열들 모두에서, 촬상 디바이스의 회전축은 실질적으로 1차원 이미지의 방향에 평행하게 유지해야 한다.
촬상 디바이스는, 그 축에 대한 그 자신의 회전이 자동화되도록 구성될 수 있다. 촬상 디바이스의 회전은 컴퓨터-제어될 수 있다.
촬상 디바이스는 안구의 망막에 걸쳐서 시준광을 스캐닝함으로써 망막의 실질적으로 1차원 이미지를 획득하도록 구성될 수 있다. 따라서, 촬상 디바이스는 안구의 망막에 걸쳐서 시준광의 1차원 스캔을 수행할 수 있다.
촬상 디바이스의 회전축은 촬상 디바이스에 의해 발생된 실질적으로 1차원 이미지 시준광 스캔에 의해 정의되는 평면에 평행할 수 있다. 즉, 촬상 디바이스의 회전축의 평면은, 그 자신이 생성하는 1차원 시준광에 의해 정의되는 평면에 직교할 수 있다.
촬상 디바이스의 회전축은 촬상 디바이스에 의해 발생된 1차원 시준광 스캔에 의해 정의되는 평면상에 놓일 수 있다.
촬상 디바이스는:
시준 광원; 및
스캐닝 엘리먼트를 포함할 수 있고,
시준 광원 및 스캐닝 엘리먼트가 결합하여 포인트로부터 1차원 시준광을 제공하며; 그리고
촬상 디바이스는 스캔 트랜스퍼 디바이스를 더 포함하고, 여기서, 스캔 트랜스퍼 디바이스는 2개의 포커스들을 갖고, 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 1 포커스에는 포인트가 제공되고, 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에는 안구의 동공 포인트가 수용되며, 스캔 트랜스퍼 디바이스는 포인트로부터 안구로 1차원 시준광 스캔을 트랜스퍼한다.
안구의 전방 노달 포인트는 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에서 원근조절될 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 진동 메커니즘일 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 진동 미러, 예를 들어, 진동 평면 미러일 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 공진 스캐너일 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 공진 미러, 예를 들어 공진 스캐닝 미러일 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 MEMS(microelectromechanical system) 스캐닝 엘리먼트일 수 있다. MEMS 스캐닝 엘리먼트는 1차원 스캐닝 엘리먼트 또는 2차원 스캐닝 엘리먼트일 수 있다.
스캔 트랜스퍼 디바이스는 기울어진 구면 미러, 비구면 미러, 타원형 미러, 타원체 미러, 한 쌍의 포물선 미러들, 한 쌍의 포물면 미러들 또는 렌즈 시스템을 포함할 수 있다. 스캔 트랜스퍼 디바이스가 렌즈 시스템을 포함하는 경우, 렌즈 시스템은 2개의 포커스들을 제공하도록 배열된다.
시준 광원은 레이저, 발광 다이오드(LED), 빅셀(VCSEL), 수퍼 루미네선트 다이오드, 다이오드 레이저 또는 시준 백열등을 포함할 수 있다.
시준 광원은 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함할 수 있다. 시준 광원은 하나 또는 둘 이상의 레이저들, 발광 다이오드들(LEDs), 빅셀들(VCSELs), 수퍼 루미네선트 다이오드들, 다이오드 레이저들 또는 시준 백열등들을 포함할 수 있다.
시준 광원은 상이한 파장들의 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함할 수 있다.
촬상 디바이스는 망막으로부터의 반사된 시준광을 검출하기 위한 하나 또는 둘 이상의 검출기들을 더 포함할 수 있다.
시준 광원은, 촬상 디바이스와 함께 회전하도록, 촬상 디바이스와 함께 위치될 수 있다.
하나 또는 둘 이상의 검출기들은, 촬상 디바이스와 함께 회전하도록, 촬상 디바이스와 함께 위치될 수 있다.
시준 광원은 촬상 디바이스로부터 원격적으로 위치될 수 있고, 시준광은 광섬유 등에 의해 촬상 디바이스에 전송될 수 있다.
하나 또는 둘 이상의 검출기들이 촬상 디바이스로부터 원격적으로 위치될 수 있고, 반사된 시준광이 광섬유 등에 의해 촬상 디바이스로부터 전송될 수 있다.
촬상 디바이스는 망막의 2차원 이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 실용상으로, 촬상 디바이스는 망막의 복수의 2차원 이미지들을 획득하기 위해 축에 대해 회전될 수 있다. 복수의 2차원 이미지들은 망막의 더 큰 2차원 이미지를 획득하기 위해 조합될 수 있다. 즉, 복수의 2차원 이미지들은 망막의 몽타주(montage) 2차원 이미지를 발생시킬 수 있다. 이 배열에서, 복수의 2차원 이미지들은 망막의 더 큰 2차원 이미지를 형성하기 위해 "스티치될(stitched)" 수 있다. 대안적으로, 복수의 2차원 이미지들은 촬상 디바이스의 회전 방향으로 중첩되도록 배열될 수 있다. 망막의 복수의 중첩하는 2차원 이미지들은 망막의 몽타주 2차원 이미지를 형성하기 위해 "스티치될" 수 있다.
스캐닝 엘리먼트는 MEMS 스캐닝 엘리먼트일 수 있다. MEMS 스캐닝 엘리먼트는 2차원 스캐닝 엘리먼트일 수 있다.
촬상 디바이스는 안구의 망막을 조명하는 복수의 광 빔들을 발생시키기 위해 광원을 조작함으로써 망막의 실질적으로 1차원 이미지를 획득하도록 구성될 수 있다. 복수의 광 빔들은 망막을 조명하는 광의 평면을 형성한다. 촬상 디바이스는, 라인 발생 엘리먼트, 예컨대, 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈 또는 구배 굴절률 렌즈를 통해서 광을 통과시킴으로써 광원을 조작할 수 있다. 즉, 촬상 디바이스는, 안구의 망막을 조명하는 복수의 광 빔들을 발생시키기 위해, 라인 발생 엘리먼트, 등을 통해서 광을 통과시킴으로써 광원을 조작할 수 있다.
촬상 디바이스는 안구의 망막을 조명하는 복수의 시준광 빔들을 발생시키기 위해 시준 광원을 조작함으로써 망막의 실질적으로 1차원 이미지를 획득하도록 구성될 수 있다. 복수의 시준광 빔들은 망막을 조명하는 시준광의 평면을 형성한다. 촬상 디바이스는, 라인 발생 엘리먼트, 예컨대, 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈 또는 구배 굴절률 렌즈를 통해서 광을 통과시킴으로써 시준 광원을 조작할 수 있다. 즉, 촬상 디바이스는 안구의 망막을 조명하는 복수의 시준광 빔들을 발생시키기 위해 라인 발생 엘리먼트를 통해서 시준광을 통과시킴으로써 시준 광원을 조작할 수 있다. 이러한 배열에서, 시준 광원은, 광이 1차원으로 시준되고 그리고 다른 차원으로 발산되도록, 조작된다.
촬상 디바이스의 회전축은 촬상 디바이스에 의해 발생된 복수의 광 빔들에 의해 정의되는 평면에 평행할 수 있다. 즉, 촬상 디바이스의 회전축의 평면은 촬상 디바이스에 의해 발생된 광 빔들의 평면에 직교할 수 있다.
촬상 디바이스의 회전축은 촬상 디바이스에 의해 발생된 복수의 시준광 빔들에 의해 정의되는 평면에 평행할 수 있다. 즉, 촬상 디바이스의 회전축의 평면은 촬상 디바이스에 의해 발생된 시준광 빔들의 평면에 직교할 수 있다.
촬상 디바이스의 회전축은 촬상 디바이스에 의해 발생된 복수의 광 빔들에 의해 정의되는 평면상에 놓일 수 있다.
촬상 디바이스는:
광원; 및
광 조작 엘리먼트를 포함할 수 있고,
여기서, 광원 및 광 조작 엘리먼트가 결합하여 포인트로부터 복수의 광 빔들을 제공하며; 그리고
촬상 디바이스는 스캔 트랜스퍼 디바이스를 더 포함하고, 여기서, 스캔 트랜스퍼 디바이스는 2개의 포커스들을 갖고, 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 1 포커스에는 포인트가 제공되고, 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에는 안구의 동공 포인트가 수용되며, 스캔 트랜스퍼 디바이스는 포인트로부터 안구로 복수의 광 빔들을 트랜스퍼한다.
광원은 시준광을 제공할 수 있다. 즉, 촬상 디바이스는 시준 광원을 포함할 수 있다.
광 조작 엘리먼트는 시준광 조작 엘리먼트일 수 있다.
광 조작 엘리먼트는 라인 발생 엘리먼트일 수 있다. 라인 발생 엘리먼트는 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈 또는 구배 굴절률 렌즈일 수 있다.
시준광 조작 엘리먼트는 라인 발생 엘리먼트일 수 있다. 라인 발생 엘리먼트는 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈 또는 구배 굴절률 렌즈일 수 있다.
스캔 트랜스퍼 디바이스는 기울어진 구면 미러, 비구면 미러, 타원형 미러, 타원체 미러, 한 쌍의 포물선 미러들, 한 쌍의 포물면 미러들 또는 렌즈 시스템을 포함할 수 있다. 스캔 트랜스퍼 디바이스가 렌즈 시스템을 포함하는 경우, 렌즈 시스템은 2개의 포커스들을 제공하도록 배열된다.
안구의 전방 노달 포인트는 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에서 원근조절될 수 있다.
광원은 발산 레이저 다이오드 및 토로이달 렌즈, 또는 슬릿 개구를 갖는 램프 소스를 포함할 수 있다.
시준 광원은 레이저, 발광 다이오드(LED), 빅셀(VCSEL), 수퍼 루미네선트 다이오드, 다이오드 레이저 또는 시준 백열등일 수 있다.
시준 광원은 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함할 수 있다. 대안적으로, 시준 광원은 하나 또는 둘 이상의 레이저들, 발광 다이오드들(LEDs), 빅셀들(VCSELs), 수퍼 루미네선트 다이오드들, 다이오드 레이저들 또는 시준 백열등들을 포함할 수 있다.
광원은 상이한 파장들의 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함할 수 있다.
시준 광원은 상이한 파장들의 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함할 수 있다.
촬상 디바이스는 망막으로부터 반사광을 검출하기 위한 하나 또는 둘 이상의 검출기들을 더 포함할 수 있다.
촬상 디바이스는 망막으로부터의 반사된 시준광을 검출하기 위한 하나 또는 둘 이상의 검출기들을 더 포함할 수 있다.
광원은, 촬상 디바이스와 함께 회전하도록, 촬상 디바이스와 함께 위치될 수 있다.
시준 광원은, 촬상 디바이스와 함께 회전하도록, 촬상 디바이스와 함께 위치될 수 있다.
하나 또는 둘 이상의 검출기들은, 촬상 디바이스와 함께 회전하도록, 촬상 디바이스와 함께 위치될 수 있다.
광원은 촬상 디바이스로부터 원격적으로 위치될 수 있고, 광은 광섬유 등에 의해 촬상 디바이스에 전송될 수 있다.
시준 광원은 촬상 디바이스로부터 원격적으로 위치될 수 있고, 시준광은 광섬유 등에 의해 촬상 디바이스에 전송될 수 있다.
촬상 디바이스는 망막의 2차원 이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 사용시에, 촬상 디바이스는 망막의 복수의 2차원 이미지들을 획득하기 위해 축에 대해 회전될 수 있다. 복수의 2차원 이미지들은 망막의 더 큰 2차원 이미지를 획득하기 위해 조합될 수 있다. 즉, 복수의 2차원 이미지들은 망막의 몽타주 2차원 이미지를 발생시킬 수 있다. 이러한 배열에서, 복수의 2차원 이미지들은 망막의 더 큰 2차원 이미지를 형성하기 위해 "스티치될" 수 있다. 대안적으로, 복수의 2차원 이미지들이 촬상 디바이스의 회전의 방향으로 중첩하도록 배열될 수 있다. 망막의 복수의 중첩하는 2차원 이미지들은 망막의 몽타주 2차원 이미지를 형성하기 위해 "중첩될"수 있다.
장치의 촬상 디바이스는, 촬상 디바이스가 제 1 안구의 제 1 망막의 2차원 이미지를 획득하는데 이용될 수 있는 제 1 위치와 촬상 디바이스가 제 2 안구의 제 2 망막의 2차원 이미지를 획득하기 위해 이용될 수 있는 제 2 위치 사이에서 피보팅가능할 수 있다.
촬상 디바이스의 피보팅 축은 촬상 디바이스의 회전축에 직교할 수 있다.
장치는 2개의 촬상 디바이스들을 포함할 수 있고, 여기서 각각의 촬상 디바이스는 망막의 실질적으로 1차원 이미지를 획득할 수 있고 실질적으로 1차원 이미지의 방향에 평행한 축에 대해 회전가능할 수 있다. 촬상 디바이스들은 함께 또는 개별적으로 회전될 수 있다. 촬상 디바이스들은 단일 하우징 내에 위치될 수 있고, 또는 2개의 별개의 하우징들 내에 위치될 수 있다.
촬상 디바이스들은, 각각의 디바이스에 의해 획득된 실질적으로 1차원 이미지들이 동일한 방향에 있도록 구성된다. 즉, 각각의 디바이스에 의해 획득된 실질적으로 1차원 이미지들은 평행하다.
이 장치는 2차원 이미지를 획득하기 위해 복수의 적어도 1차원 이미지들을 저장하고 그리고/또는 그 이미지들을 조합하기 위한 하나 또는 둘 이상의 데이터 프로세싱 디바이스들을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 제 5 양상에 따르면, 안구의 망막을 촬상하는 방법이 제공되며, 그 방법은:
망막의 실질적으로 1차원 이미지를 획득할 수 있는 촬상 디바이스를 제공하는 단계 ― 촬상 디바이스는 실질적으로 1차원 이미지의 방향에 평행한 축에 대해 회전가능함 ―;
지지 구조체를 제공하는 단계 ― 촬상 디바이스는 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재가능함 ―;
망막의 복수의 실질적으로 1차원 이미지들을 획득하기 위해 축에 대해 촬상 디바이스를 회전시키는 단계; 및
망막의 2차원 이미지를 획득하기 위해 복수의 실질적으로 1차원 이미지들을 조합하는 단계를 포함한다.
촬상 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면상에 놓일 수 있다. 대안적으로, 촬상 디바이스의 회전축은 안구의 광학축에 의해 정의된 수평면에 수직할 수 있다. 대안적으로, 촬상 디바이스의 회전축은 안구의 광축에 의해 정의된 수평면에 평행하거나 또는 수직하지 않을 수 있다. 이러한 배열들 모두에서, 촬상 디바이스의 회전축은 실질적으로 1차원 이미지의 방향에 대해 평행하게 유지해야 한다.
촬상 디바이스는, 그 축에 대한 자체의 회전이 자동화되도록 구성될 수 있다. 촬상 디바이스의 회전은 컴퓨터-제어될 수 있다.
본 발명의 제 6 양상에 따르면, 시준광을 이용하여 안구의 망막을 치료하기 위한 장치가 제공되며: 이 장치는,
조명 디바이스 ― 조명 디바이스는, 조명 디바이스가 안구 상의 둘레 라인을 조명할 수 있도록, 평면 내에 광을 발생시킬 수 있는 평면 광원을 포함함 ―; 및
지지 구조체를 포함하고;
조명 디바이스는 지지 구조체에 대해 피보팅가능하게 탑재가능하고 광원에 의해 정의되는 평면상에 실질적으로 놓이는 축에 대해 회전가능하여, 사용시에, 조명 디바이스는 시준광을 이용하여 망막 상에 복수의 둘레 라인들을 조명하기 위해 축에 대해 회전될 수 있다.
망막의 치료는, 광역동 치료(photodynamic therapy), 광박리(photo-ablation), 포토포레이션(photoporation), 광활성화 또는 다른 방법들을 포함하는 것으로 여기에 설명되며, 여기서 망막의 상태 또는 구조를 변경하기 위해 또는 망막 구조 내에서 화학물질들의 상태를 변경하기 위해 광의 상호작용이 이용된다.
본 발명의 제 7 양상에 따르면, 시준광을 이용하여 안구의 망막을 치료하는 방법이 제공되며, 여기서 이 방법은:
조명 디바이스를 제공하는 단계 ― 조명 디바이스는, 조명 디바이스가 망막 상의 둘레 라인을 조명할 수 있도록, 평면 내에 광을 발생시킬 수 있는 평면 광원을 포함함 ―;
지지 구조체를 제공하는 단계 ― 조명 디바이스는 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재가능하고, 광원에 의해 정의되는 평면상에 실질적으로 놓인 축에 대해 회전가능함 ― 및
시준광을 이용하여 망막 상의 복수의 둘레 라인들을 조명하기 위해 축에 대해 조명 디바이스를 회전시키는 단계를 포함한다.
본 발명의 실시예들은 첨부된 도면들과 관련하여 단지 예시의 방식으로 설명될 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 안구의 망막을 조명하고, 촬상하고 치료하기 위한 장치의 개략적인 측면도이다.
도 2는 안구로 입사하는 광선들을 상세화하는 도 1의 장치의 개략적인 평면도이다.
도 3은 도 1의 촬상 장치의 촬상 디바이스의 제 1 실시예의 개략적인 평면도이다.
도 4는 도 3의 측면도이다.
도 5는 도 3의 접히지 않은 광 빔 경로(unfolded light beam path)의 개략적인 도면이다.
도 6은 도 5의 더욱 상세한 설명이다.
도 7은 도 1의 촬상 장치의 촬상 디바이스의 제 2 실시예의 개략적인 평면도이다.
도 8은 도 7의 측면도이다.
도 9는 2개의 안구들을 촬상할 때 본 발명의 장치의 동작의 개략적인 예시이다.
도 1 및 도 2는 안구의 망막(12)을 조명하고, 촬상하고 그리고 치료하기 위한 장치(10)를 예시한다. 장치(10)는 망막(12)의 실질적으로 1차원 이미지를 획득할 수 있는 촬상 디바이스(16)를 포함한다. 즉, 촬상 디바이스(16)는 망막(12)의 라인 이미지를 획득할 수 있다.
또한, 장치(10)는 촬상 디바이스(16)를 지지하기 위해 지지 구조체(미도시)를 포함한다. 촬상 디바이스(16)는 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재된다. 지지 구조체는, 데스크 등에 탑재될 수 있는 기저 부재를 포함할 수 있다. 대안적으로, 지지 구조체는 예컨대 환자에 의해 착용될 수 있는 헤드기어를 포함할 수 있다.
여기 설명된 실시예에서, 장치(10)는 망막(12)의 실질적으로 1차원 이미지를 획득할 수 있는 촬상 디바이스(16)를 포함한다. 그러나, 장치(10)는 망막의 이미지를 획득하는 것 대신에, 대안적으로, 시준광을 이용하여 망막을 단순하게 조명하는 조명 디바이스를 포함할 수 있다는 것을 인식해야 한다. 조명 디바이스가 망막 상의 둘레 라인을 조명할 수 있도록, 그 조명 디바이스는 평면 광원을 포함할 수 있고, 평면 내에 광을 발생시킬 수 있다.
도 1에 예시된 바와 같이, 촬상 디바이스(16)는 안구(14)에 대해 회전가능하다. 도 2에 예시된 바와 같이, 촬상 디바이스(16)는 축(18)에 대해 회전가능하다. 축(18)은 안구(14)의 동공 포인트(20)의 영역 내에 위치된다. 축(18)은 안구(14)의 전방 노달 포인트(22)와 일치할 수 있다. 축(18)은 망막(12)의 실질적으로 1차원 이미지의 방향에 평행하다(도 2 참조). 축(18)은 촬상 디바이스(16)에 의해 발생된 광(24)의 평면상에 놓인다. 도 2는 망막(12)을 촬상하기 위해 촬상 디바이스(16)에 의해 발생된 광(28)의 광선들을 예시한다. 안구(14)의 렌즈에 의한 광선들(28)의 굴절은 명백함을 위해 생략된다는 것에 유의해야 한다.
촬상 디바이스(16)가 축(18)에 대해 회전됨에 따라서, 망막(12)의 복수의 1차원 이미지들이 획득된다. 그후, 이러한 이미지들은 망막(12)의 2차원 이미지를 형성하기 위해 조합된다. 장치(10)는 복수의 1차원 이미지들을 저장하고 및/또는 이들을 조합하여 2차원 이미지를 형성하는데 이용된 하나 또는 둘 이상의 데이터 프로세싱 디바이스들(미도시)을 포함한다.
촬상 디바이스(16)는 큰 안구 움직임을 회피하기 위해 충분히 빠른 비율로 축(18)을 통해서 회전된다. 통상적으로, 전체 회전은 100ms 내지 200ms를 취한다. 그러나, 더 느린 스캐닝 레이트 또는 더 빠른 스캐닝 레이트들이 이용될 수 있다는 것을 인식해야 한다.
도 3 및 도 4는 촬상 디바이스(16)의 제 1 실시예의 개략적인 예시들이다. 이 실시예의 촬상 디바이스(16)는 안구(14)의 망막(12)에 걸쳐서 시준광(30)을 스캐닝함으로써 망막(12)의 1차원 이미지를 획득하도록 구성된다. 즉, 촬상 디바이스(16)는 이에 따라 안구(14)의 망막(12)에 걸쳐서 시준광(30)의 1차원 스캔(32)을 수행할 수 있다.
이 실시예에서, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)은 촬상 디바이스(16)에 의해 발생된 1차원 시준광 스캔(32)에 의해 발생된 평면(34)에 평행하다. 즉, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)은 촬상 디바이스(16)에 의해 발생된 1차원 시준광 스캔(32)에 의해 정의되는 평면(34)상에 놓이고, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)의 평면은 촬상 디바이스(16)에 의해 발생된 1차원 시준광 스캔(32)에 의해 정의되는 평면(34)에 대해 직교한다.
도 3을 참조하여, 특히, 촬상 디바이스(16)는 시준 광원(36), 스캐닝 엘리먼트(38) 및 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)를 포함한다.
시준 광원(36)은 포커싱 렌즈(44)를 통해서 스캐닝 엘리먼트(38)에 광(30)을 전송한다(이하 참조). 포커싱 렌즈(44)는 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)를 통해서 안구(14)에 시준광을 제공한다(이하 참조). 이하 설명된 실시예에서, 스캐닝 엘리먼트(38)는 1차원 MEMS 스캐너이다. 그러나, 대안적인 스캐닝 엘리먼트들이 또한 이용될 수 있다는 것을 인식해야 한다. 스캐닝 엘리먼트(38)는 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)에 걸쳐서 시준광(30)을 스캔한다. 시준 광원(36) 및 스캐닝 엘리먼트(38)는 포인트(46)로부터 1차원 시준광 스캔(32)을 발생시키기 위해 조합한다.
여기 설명되고 예시된 실시예에서 타원형 미러인 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)는 2개의 포커스들을 갖는다; 제 1 초점(48) 및 제 2 초점(50). 1차원 시준광 스캔(32)이 발산하는(emanate) 포인트(46)는 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)의 제 1 초점(48)에 위치되고, 안구(14)의 동공 포인트(20)는 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)의 제 2 초점(50)에 위치된다. 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)가 2개의 초점들(48, 50)을 갖기 때문에, 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)는 포인트(46)로부터 안구(14)로 1차원 시준광 스캔(32)을 트랜스퍼한다. 따라서, 촬상 디바이스(16)는 안구(14)의 망막(12)에 걸쳐서 시준광(30)을 스캐닝함으로써 망막(12)의 1차원 이미지를 획득한다.
스캔 트랜스퍼 디바이스(40)의 2개의 포커스들(48, 50) 사이의 거리는 대략적으로 40㎜ 내지 150㎜이다. 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)의 2개의 포커스들(48, 50) 사이의 거리는 50㎜ 내지 60㎜인 것이 바람직하다. 이러한 배열은 스캐닝 동안 가변 배율 및 초점 오프셋의 정도를 감소시킨다.
또한, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)은 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)의 제 2 초점(50) 상에 놓인다. 즉, 여기 설명되고 예시된 실시예에서, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)은 안구(14)의 동공 포인트(20) 및 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)의 제 2 초점(50)에 위치된다.
전술한 바와 같이, 도 4를 참조하여, 촬상 디바이스(16)가 축(18)에 대해 회전됨에 따라서, 망막(12)의 복수의 1차원 이미지들이 획득된다. 다음으로, 이러한 이미지들은 조합되어 망막(12)의 2차원 이미지를 형성한다.
여기 설명되고 예시된 실시예에서 시준 광원(36)은 레이저이다. 레이저(36)는, 싱글 모드 편광 유지 섬유(single mode polarisation maintaining fibre)인 제 1 광 섬유(42)로 커플링된다. 레이저(36)는 촬상 디바이스(16)로부터 원격인 하우징(19)(도 1 참조) 내에 위치될 수 있고, 제 1 광섬유(42)는 레이저(36)로부터 촬상 디바이스(16)로 시준광(30)을 트랜스퍼한다. 이러한 배열에서, 촬상 디바이스(16)는 하우징(19)에 대해 이동가능하다. 대안적으로, 레이저(36)는 촬상 디바이스(16)와 함께 위치되고, 레이저(36) 및 제 1 광섬유(42)는 촬상 디바이스(16)와 함께 회전한다.
또한, 촬상 디바이스(16)는 먼지 또는 잔해로부터 안구(14)를 보호하는 보호용 윈도우(17)를 포함한다. 보호용 윈도우(17)는 그 위치가 안구(14)에 대해 고정되도록 안구(14) 주위에 장착될 수 있고, 또는 보호용 윈도우(17)는 촬상 디바이스(16)와 함께 회전하도록 촬상 디바이스(16)와 함께 탑재될 수 있다.
도 5를 참조하여, 제 1 광섬유(42)에 의해 방출된 발산광(diverging light)은 포커싱 렌즈(44), 스캔 트랜스퍼 디바이스(40) 및 안구(14)의 렌즈(54)의 조합을 통해서 안구(14)의 망막(12)에 재포커싱된다. 도 5에 예시된 바와 같이, 망막 평면들은 (R)로 라벨링되고, 동공 평면들은 (P)로 라벨링된다.
도 6을 참조하여, 망막(12)으로부터의 반사된 광은 안구(14)의 렌즈(54), 스캔 트랜스퍼 디바이스(40) 및 포커싱 렌즈(44)의 조합을 통해서 제 2 광섬유(56)에 재포커싱된다. 제 2 광섬유(56)는 큰 직경 코어를 갖는 멀티-모드 광섬유이다.
도 6에 예시된 바와 같이, 빔 스플리터(58)는 제 1 및 제 2 광섬유들(42, 56) 사이에 위치된다. 빔 스플리터(58)는 플레이트 글래스 빔 스플리터이고 포커싱 렌즈(44)에 45도로 지향된다. 빔 스플리터(58)는 제 1 광섬유(42)로부터 포커싱 렌즈(44)로 그리고 안구(14) 안으로 방출된 시준광(30)의 일부를 반사한다. 빔 스플리터(58)는, 코팅되지 않을 수 있고, 편광 특정 프레넬 반사를 활용함으로써 대략 90/10 스플리팅 비율을 제공한다. 단일 모드 편광 유지 광섬유들의 이용은 스캐닝 동안 안정적인 광출력이 달성되도록 허용한다. 제 1 광섬유(42)로부터 광의 대략 90%는 빔 스플리터를 통해서 전송되고, 나머지 10%는 안구(14)로 진입한다. 입력에 대해 빔 스플리터(58)를 통해서 전송되는 광은 안전의 이유들로 시준광(30)의 전력을 모니터링하도록 이용될 수 있다.
망막(12)으로부터의 반사된 광의 대부분은 빔 스플리터(58)를 통해서 전송되고 제 2 광섬유(56)에 포커싱된다. 제 2 광섬유(56)는, 적어도 하나의 빠른 단일 포인트 포토-검출기 엘리먼트(60), 예컨대, 아발란치 포토 검출기(APD) 포토 검출기, PIN 다이오드, 광전자 증배관(PMT; photomultiplier tube), 실리콘 포토 증배관(SPM), 또는 유사한 단일 포인트 검출기들에 접속된다. 검출기(60)는 촬상 디바이스(16)로부터 원격의 하우징(19) 내에 위치될 수 있고, 제 2 광섬유(56)는 촬상 디바이스(16)로부터 검출기(60)로 반사된 시준광(30)을 트랜스퍼한다. 이러한 배열에서, 촬상 디바이스(16)는 하우징(19)에 대해 이동가능하다. 대안적으로, 검출기(60)는 촬상 디바이스(16)와 함께 위치될 수 있고, 검출기(60) 및 제 2 광섬유(56)는 촬상 디바이스(16)와 함께 회전한다.
또한, 장치(10)는 복수의 적어도 1차원 이미지들을 저장하고 그리고 그 이미지들을 조합하여 2차원 이미지를 획득하기 위해 적어도 하나의 데이터 프로세싱 디바이스(미도시), 예컨대, 컴퓨터를 포함한다. 데이터 프로세싱 디바이스는 촬상 디바이스(16)로부터 원격적으로 위치되고, 하우징(19) 내에 위치될 수 있다.
레이저(36) 및 검출기(60)가 촬상 디바이스(16)와 함께 위치되는 경우, 장치(10)는 하나 또는 둘 이상의 데이터 통신 디바이스들, 예컨대, 광섬유들 등을 더 포함할 수 있어서 데이터 프로세싱 디바이스로 하여금 레이저(36) 및 검출기(60)와 통신하고 및/또는 제어하게 한다. 촬상 디바이스(16)와 데이터 프로세싱 디바이스 사이의 통신은 무선(wireless)일 수 있다.
장치(10)는 또한 다수의 파장 촬상을 수행할 수 있다. 다수의 파장 촬상은, 예를 들어, 단일 검출기를 이용하여 시간-다중화되고 동기화된, 하나의 광섬유로 조합된 다수의 레이저들을 제공함으로써 달성될 수 있다.
대안적으로, 2개의 단일 모드 광섬유들은 2개의 상이한 소스들의 시준광으로부터 빔 경로로 시준광을 전송할 수 있다. 이러한 배열에서, 레이저들은 단일의 검출기와 시간-다중화될 것이다. 시간-다중화를 회피하기 위해, 파장 스플리팅 특성들을 갖는 추가적인 빔 스플리터가 빔 스플리터(58)와 제 2 광섬유(56) 사이에 삽입될 수 있어서, 제 2 광섬유(56)는 2개의 단일 포인트 포토 검출기들에 상이한 파장 대역들의 광을 전송한다.
도 7 및 도 8은 장치(10)의 촬상 디바이스(116)의 제 2 실시예의 개략적인 예시들이다. 이 실시예에서 촬상 디바이스(116)는 안구(14)의 망막(12)을 조명하는 복수의 광 빔들(130)을 발생시키기 위해 광원(136)로부터 광을 조작함으로써 망막(12)의 실질적으로 1차원 이미지를 획득하도록 구성된다. 복수의 광 빔들(130)은 망막(12)을 조명하는 광(134)의 평면을 형성한다. 촬상 디바이스(116)는, 라인 발생 엘리먼트(138), 예컨대, 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈 또는 구배 굴절률 렌즈를 통해서 광을 통과시킴으로써 광원(136)로부터 광을 조작할 수 있다. 즉, 촬상 디바이스(116)는 이에 따라 안구(14)의 망막(12)을 조명하는 복수의 광 빔들(130)을 발생시키기 위해 라인 발생 엘리먼트 등을 통해서 광을 통과시킴으로써 광원(136)를 조작할 수 있다.
광원(136)은, 발산 레이저 다이오드 및 토로이달 렌즈, 슬릿 개구를 갖는 램프 소스, 발광 다이오드(LED), 빅셀(VCSEL), 수퍼 루미네선트 다이오드, 다이오드 레이저 또는 시준 백열등을 포함할 수 있다.
광원(136)에 의해 발생된 광 빔은 시준될 수 있다. 즉, 장치는 안구(14)의 망막(12)을 조명하기 위해 시준 광원을 이용할 수 있다.
이 실시예에서, 촬상 디바이스(116)의 회전축(118)은 촬상 디바이스(116)에 의해 발생된 평면(134)에 평행하다. 즉, 촬상 디바이스(116)의 회전축(118)은 촬상 디바이스(116)에 의해 발생된 복수의 광 빔들(130)에 의해 정의되는 평면(134) 상에 놓이고, 촬상 디바이스(116)의 회전축(118)의 평면은 촬상 디바이스(116)에 의해 생성된 복수의 광 빔들(130)에 의해 정의되는 평면(134)에 직교한다.
도 7 및 도 8을 참조하여, 촬상 디바이스(116)의 제 2 실시예의 배열은 제 1 실시예(도 3 및 도 4)와 유사하다. 촬상 디바이스(116)는 광원(136), 광 조작 엘리먼트(138) 및 스캔 트랜스퍼 디바이스(140)를 포함한다.
여기에 설명된 실시예에서, 광원(136)은 레이저이다. 그러나, 광원이 필수적으로 시준될 필요는 없다는 것을 인식해야 한다.
시준 광원(136)은 시준광(130)을 광 조작 엘리먼트(138)에 전송한다. 시준 광원(136) 및 광 조작 엘리먼트(138)는 포인트(146)로부터 복수의 광 빔들(130)을 발생시키기 위해 조합한다.
스캔 트랜스퍼 디바이스(140)는 촬상 디바이스(16)의 제 1 실시예와 관련하여 설명된 것과 동일하다. 복수의 광 빔들(130)이 발산하는 포인트(146)는 스캔 트랜스퍼 디바이스(140)의 제 1 초점(148)에 위치되고, 안구(14)의 동공 포인트(20)는 스캔 트랜스퍼 디바이스(140)의 제 2 초점(150)에 위치된다. 다시, 스캔 트랜스퍼 디바이스(140)는 2개의 초점들(148, 150)을 갖기 때문에, 스캔 트랜스퍼 디바이스(140)는 복수의 광 빔들(130)을 포인트(146)로부터 안구(14)로 트랜스퍼한다. 이에 따라, 촬상 디바이스(116)는 광(134)의 평면을 통해서 안구(14)의 망막(12)을 조명함으로써 그리고 그로부터 반사된 광을 검출함으로써 망막(12)의 1차원 이미지를 획득한다.
촬상 디바이스(116)의 회전축(118)은 스캔 트랜스퍼 디바이스(140)의 제 2 초점(150) 상에 다시 놓인다. 즉, 여기에 설명되고 예시된 실시예에서, 촬상 디바이스(116)의 회전축(118)은 안구(14)의 동공 포인트(20) 및 스캔 트랜스퍼 디바이스 (140)의 제 2 초점(150)에 위치된다.
또한, 장치(100)는 촬상 디바이스(116)를 지지하기 위한 지지 구조체(미도시)를 포함한다. 촬상 디바이스(116)는 지지 구조체에 대해 피보팅가능하게 탑재된다. 지지 구조체는 데스크 등에 탑재될 수 있는 기저 부재를 포함할 수 있다. 대안적으로, 지지 구조체는 예를 들어 환자에 의해 착용될 수 있는 헤드기어를 포함할 수 있다.
다시 앞서 설명된 바와 같이, 촬상 디바이스(116)가 축(118)에 대해 회전되기 때문에, 망막(12)의 복수의 1차원 이미지들이 획득된다. 다음으로, 이러한 이미지들은 망막(12)의 2차원 이미지를 형성하기 위해 조합된다.
레이저(136)는 단일 모드 편광 유지 섬유인, 제 1 광섬유로 커플링된다. 레이저(136)는 촬상 디바이스(116)로부터 원격의 하우징(19) 내에 위치될 수 있고, 제 1 광섬유는 레이저(136)로부터 촬상 디바이스(116)로 시준광(130)을 트랜스퍼한다. 이 배열에서, 촬상 디바이스(116)는 하우징(19)에 대해 다시 이용가능하다. 대안적으로, 레이저(136)는 촬상 디바이스(116)와 함께 위치될 수 있고, 레이저 및 제 1 광섬유는 촬상 디바이스(116)와 함께 회전한다.
도 7과 관련하여, 시준광(130)은 광 조작 엘리먼트(138), 스캔 트랜스퍼 디바이스(140) 및 안구(14)의 렌즈의 조합을 통해서 안구(14)의 망막(12)을 조명한다.
빔 스플리터(158)는 광 조작 엘리먼트(138)와 스캔 트랜스퍼 디바이스(140) 사이에 위치된다. 망막(12)으로부터의 반사된 광은 안구(14)의 렌즈(54), 스캔 트랜스퍼 디바이스(140) 및 포커싱 렌즈(152)의 조합을 통해서 검출기(160)에 재포커싱된다. 검출기(160)는 포토 검출 엘리먼트들, 예컨대, CCD 또는 CMOS 디바이스의 선형 어레이이다. 이 실시예에서, 검출기(160)는 라인 어레이여야 한다. 그러나, 라인 어레이는 1차원 또는 2차원일 수 있다는 것을 인식해야 한다.
빔 스플리터(158)는 플레이트 글래스 빔 스플리터이고, 포커싱 렌즈(152)에 45도로 지향된다. 빔 스플리터(158)가 45도로만 지향될 필요는 없고, 다른 각도들의 지향도 동일한 효과를 갖는 것으로 가능하다는 것을 인식해야 한다. 스캔 트랜스퍼 디바이스(140)로부터 광의 대략 90%는 빔 스플리터(158)를 통해서 전송되고 포커싱 렌즈(152)에 의해 검출기(160)로 포커싱된다.
검출기(160)는 촬상 디바이스(116)로부터 원격의 하우징(19) 내에 위치될 수 있고, 제 2 광섬유(미도시)는 반사된 시준광(130)을 촬상 디바이스(116)로부터 검출기(160)로 트랜스퍼할 수 있다. 이러한 배열에서, 촬상 디바이스(116)는 하우징(19)에 대해 이동가능하다. 대안적으로, 검출기(160)는 촬상 디바이스(116)와 함께 위치될 수 있고, 검출기(160)는 촬상 디바이스(116)와 함께 회전한다.
레이저(136) 및 검출기(160)가 촬상 디바이스(116)와 함께 위치되는 경우, 장치(10)는 예컨대 광섬유 등과 같은 하나 또는 둘 이상의 데이터 통신 디바이스를 포함하여 데이터 프로세싱 디바이스로 하여금 레이저(136) 및 검출기(160)와 통신하고 그리고/또는 제어하도록 허용할 수 있다.
또한, 촬상 디바이스(116)는 먼지 및 잔해로부터 안구(14)를 보호하는 보호용 윈도우(117)를 포함한다. 보호용 윈도우(117)는 그 자신의 위치가 안구(14)에 대해 고정되도록 안구(14) 주위에 탑재될 수 있고, 또는 보호용 윈도우(117)는 촬상 디바이스(116)와 함께 회전하도록 촬상 디바이스(116)와 함께 탑재될 수 있다.
다수의 파장 이미징은 상이한 파장들을 갖는 다수의 레이저들을 제공함으로써 다시 달성될 수 있다. 다시, 파장 스플리팅 특성들을 갖는 빔 스플리터가 스캔 트랜스퍼 디바이스(140)와 하나 또는 둘 이상의 검출기들(160) 사이에 삽입될 수 있다. 이러한 배열에서, 검출기(160)는 다수의 파장 검출을 용이하게 하기 위해 베이어 필터(Bayer filter)와 함께 제공될 수 있다.
도 9를 참조하여, 촬상 디바이스(16, 116)는 축(62)에 대해 피보팅가능할 수 있다. 축(62)은 촬상 디바이스(16, 116)의 회전축(18, 118)에 직교한다. 따라서, 촬상 디바이스는, 촬상 디바이스(16, 116)가 제 1 안구(14a)의 제 1 망막(12a)의 2차원 이미지를 획득하도록 이용될 수 있는 제 1 위치(도 9의 좌측)와 촬상 디바이스(16, 116)가 제 2 안구(14b)의 제 2 망막(12b)의 2차원 이미지를 획득하도록 이용될 수 있는 제 2 위치(도 9의 우측) 사이에서 피보팅가능하다. 이에 따라, 장치(10)는 환자의 양쪽 안구들을 촬상할 수 있다.
촬상 디바이스(16, 116)는, 축(18, 118)에 대한 그 자신의 회전이 컴퓨터 등에 의해 제어될 수 있도록, 구성될 수 있다. 이는, 촬상 프로세스가 자동화되도록 허용하고, 2차원 이미지가 생성되는 속도를 증가시킨다. 또한, 이는 이미지 포착(image acquisition)을 개선시킨다.
촬상 디바이스는, 축에 대한 자신의 회전이 자동화되도록 구성될 수 있다. 촬상 디바이스의 회전은 컴퓨터-제어될 수 있다.
본 발명의 장치(10)는, 이 장치(10)가 폴리곤 미러들과 같은 종래의 레이저 스캐닝 엘리먼트들을 요구하지 않기 때문에, 스캐닝 레이저 검안경들(SLOs)과 같은 공지된 망막 촬상 장치보다 적은 비용으로 제조될 수 있다. 장치(10)는, 그 장치가 공지된 망막 촬상 장치들보다 더 적은 수의 컴포넌트들을 이용하기 때문에, 공지된 망막 촬상 장치들보다 더 콤팩트하게 제조될 수 있다. 본 발명의 장치(10)는 또한 더 적은 수의 광 표면들을 포함하여, 이는 장치의 광 효율성을 증가시킨다. 이에 대한 결과는, 안구로의 동일한 양의 입력 전력에 대해, 촬상 검출기에서 전체 전력이 공지된 방법들보다 높다는 것이다. 또한, 전체 촬상 디바이스(16, 116)의 회전이 안구의 동공 포인트에 대한 것이기 때문에, 오직 단일의, 소형의, 스캔 트랜스퍼 디바이스가 요청된다. 이는 장치의 비용 및 크기를 감소시킨다. 또한, 장치(10)는 "넓은 필드" 촬상 또는 "좁은 필드" 촬상을 수행할 수 있다. 따라서, 장치는 상이한 시장들을 위해 스케일가능하다. 게다가, 스캔 트랜스퍼 디바이스의 기하학형상에 의존하여, 높은 해상도의 촬상을 달성하기 위해 어떠한 초점 정정도 필요하지 않다. 이는 공지된 방법들보다 높은 해상도 이미지들을 산출한다. 또한, 장치(10)는 윈도우, 각막, 및 다른 표면들로부터 후면 반사들을 회피하기 위해 느슨한 공초점 촬상(loose confocal imaging)을 지원한다. 이는, 포인트 스캔들 또는 라인 스캔들에 대해, 개구가 이와 다르게 이미지 내의 대조 및 가공들의 부족을 야기할 수 있는 각막으로부터의 반사들을 차단하도록 이용될 수 있다는 것을 의미한다.
본 발명의 범위로부터 벗어나지 않고 전술한 것에 대한 변형들 및 개선들이 이루어질 수 있다. 예를 들어, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)은 안구(14)의 동공 포인트(20)와 일치하는 것으로서 앞서 예시되고 설명되었지만, 축(18)은 안구(14)의 전방 노달 포인트(22) 주위에 일반적으로 위치될 수 있다는 것을 인식해야 한다. 즉, 축(18)은 렌즈의 전방에서, 홍채의 평면에서, 또는 안구(14)의 후방 노달 포인트에서 광축(26) 상에 위치될 수 있다. 가장 넓은 시야 필드를 달성하기 위해, 즉, 광 빔의 클리핑을 회피하기 위해, 축(18)은 안구(14)의 렌즈의 전방에, 즉, 홍채의 평면에 위치되어야 한다. 따라서, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)은 홍채의 평면의 ±4㎜내에 있다.
또한, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)이 안구(14)의 광축(26)에 의해 정의된 수평면(24)상에 놓이는 것과 같이 앞서 예시되고 설명되었지만, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)이 수평면(24)에 수직할 수 있다는 것을 인식해야 한다. 대안적으로, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)은 수평면(24)에 평행하거나 또는 수직하지 않을 수 있다. 이러한 배열들 중 임의의 배열에서, 촬상 디바이스(16)의 회전축(18)은 1차원 이미지의 방향에 평행하게 유지해야 한다.
안구(14)의 동공 포인트(20)가 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)의 제 2 초점(50)에 위치된 것으로 앞서 설명되었지만, 안구(14)의 동공 포인트(20)는 렌즈의 전방에서, 홍채의 평면에서, 안구(14)의 전방 노달 포인트에서, 또는 안구(14)의 후방 노달 포인트에서 광축(26) 상의 동공 포인트(20)의 영역 내에 임의의 포인트를 포함한다. 따라서, 렌즈의 전방에서, 홍채의 평면에서, 안구(14)의 전방 노달 포인트에서, 안구(14)의 후방 노달 포인트에서 영역을 포함하는 동공 포인트(20)의 영역 내의 임의의 포인트는 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)의 제 2 초점(50)에 위치될 수 있다.
게다가, 시준 광원(36)이 레이저로서 앞서 설명되었지만, 대안적으로, 시준 광원(36)이 발광 다이오드(LED), 빅셀(VCSEL), 수퍼 루미네선트 다이오드, 다이오드 레이저 또는 시준된 백열등일 수 있다.
또한, 빔 스플리터(58)가 90/10 스플리팅 비를 제공하는 것으로서 앞서 설명되었지만, 예를 들어, 80/20, 50/50과 같은 다른 스플리팅 비율들, 또는 다른 유형들의 빔 스플리터들, 예컨대, 개구 빔 스플리터들, 편광 빔 스플리터들, (형광 촬상을 위한)이색성 미러들(입력 빔 직경이 출력 빔 직경보다 작음)을 갖는 빔 스플리터들이 이용될 수 있다는 것을 인식해야 한다. 또한, 빔 스플리터(158)는 동일한 효과를 갖는 45도 이외에 다른 적절한 각도들로 다시 지향될 수 있다.
또한, 스캐닝 엘리먼트들은 MEMS 스캐너인 것으로서 앞서 예시되고 설명되었지만, 스캐닝 엘리먼트는 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)에 걸쳐서 시준광(30)을 스캐닝하기에 적절한 임의의 진동 메커니즘일 수 있다는 것을 인식해야 한다. 이는, 공진 스캐너들, 진동 평면 미러들 등을 포함할 수 있다. 스캐닝 엘리먼트는 고속(즉, 5kHz 초과)에서 동작할 수 있어야 하고, 높은 진폭의 스캔(즉, 180도까지)을 제공할 수 있어야 한다.
또한, 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)는 타원체 미러로서 앞서 예시되고 설명되었지만, 스캔 트랜스퍼 디바이스(40)는 기울어진 구면 미러, 비구면 미러, 타원형 미러, 타원체 미러, 한 쌍의 포물선 미러들, 한 쌍의 포물면 미러들 또는 렌즈 시스템을 포함할 수 있다.
게다가, 촬상 디바이스(16, 116)는 망막(12)의 1차원 이미지, 즉, 망막(12)의 라인 이미지를 획득할 수 있는 것으로 앞서 설명되었고, 망막의 2차원 이미지가 수많은 이러한 이미지들을 함께 조합함으로써 획득되었지만, 촬상 디바이스는 망막의 2차원 이미지를 획득할 수 있다는 것을 인식해야 한다. 따라서, 사용시에, 촬상 디바이스는 망막의 복수의 2차원 이미지들을 획득하기 위해 축에 대해 회전될 수 있다. 복수의 2차원 이미지들은 망막의 더 큰 2차원 이미지를 획득하기 위해 조합될 수 있다. 즉, 복수의 2차원 이미지들은 망막의 몽타주 2차원 이미지를 발생시킬 수 있다. 이러한 배열에서, 복수의 2차원 이미지들은 망막의 더 큰 2차원 이미지를 형성하기 위해 "스티치될" 수 있다. 대안적으로, 복수의 2차원 이미지들은 촬상 디바이스의 회전 방향에서 중첩하도록 배열될 수 있다. 망막의 복수의 중첩하는 2차원 이미지들은 망막의 몽타주 2차원 이미지를 형성하기 위해 "스티치될"수 있다. 이러한 배열에서, 2차원 스캐닝 엘리먼트는 망막의 복수의 2차원 이미지들을 획득하는데 이용될 수 있다. 스캐닝 엘리먼트는 2개의 방향들에서 스캐닝될 수 있다. 적어도 스캔 방향들 중 하나는 촬상 디바이스의 회전축과 동일한 방향에 있어야 한다. 2차원 이미지들은 직사각 종횡비, 예를 들어, 1000:100를 가질 수 있다. 그러나, 종횡비가 임의의 원하는 값일 수 있다는 것을 인식해야 한다. 2차원 이미지들은, 안구 움직임을 회피하기 위해 초당 30 프레임들과 같은 빠른 프레임 레이트에서 포착된다. 이러한 배열에서의 촬상 디바이스는 전술한 배열에서 보다 더 느린 레이트로 회전될 수 있다. 그후, 2차원 이미지들은 1000:800 또는 1000:1000 의 종횡비를 갖는 이미지와 같은 더 큰 2차원 이미지를 형성하도록 조합된다. 스캐닝 엘리먼트는 2차원 MEMS 스캐너일 수 있다. 이러한 배열에서, 2차원 이미지들은 전술한 바와 같이 2차원 직사각형 어레이를 이용하여 포착될 수 있다.
또한, 장치(10)가 단일의 촬상 디바이스(16,116)를 포함하는 것으로서 앞서 예시되고 설명되었지만, 장치(10)는 2개의 촬상 디바이스들(16, 116)을 포함하는 것으로 인식되어야 하고, 여기서 각각의 촬상 디바이스(16, 116)는 망막의 적어도 1차원 이미지를 획득할 수 있고 적어도 1차원 이미지의 방향에 평행한 축에 대해 회전가능할 수 있다. 이러한 배열에서, 촬상 디바이스들(16, 116)은 함께 또는 개별적으로 회전될 수 있다. 촬상 디바이스들(16, 116)은 단일의 하우징 내에 위치되될 수 있고, 또는 2개의 개별적인 하우징들 내에 별도로 위치될 수 있다. 이러한 배열은 동시에 2개의 망막들이 촬상되도록 허용한다.
게다가, 장치(10, 100)는, 혈관 및 자기형광 촬상과 같은 애플리케이션들에서 공통인 것처럼, 일 파장에서 촬상하고 다른 파장에서 검출함으로써 형광 촬상을 위해 이용될 수 있다. 따라서, 장치(10, 100)는 그 여기(excitation) 시에 망막 또는 망막에 의해 방출된 형광으로부터 반사된 광을 수신함으로써 망막의 이미지를 획득할 수 있다.
또한, 장치(10, 100)가 안구(14)의 망막(12)을 조명하고 촬상하기 위한 것으로서 앞서 설명되었지만, 장치(10, 100)는 적절한 파장 및/또는 전력의 시준광을 이용하여 망막(12)을 조명함으로써 망막(12)에 치료를 집행하도록 이용될 수 있다는 것을 인식해야 한다. 망막(12)을 치료하는 것은, 이하의 단계들을 포함할 수 있다: (i) 치료하기 위한 망막의 영역을 식별하는 단계, (ii) 촬상 시스템에 연계하여, 치료 계획을 통해서 치료 영역의 크기를 특정하는 단계 및 (iii) 촬상 소스(들)에 공통 입력 경로를 통해서 단일 사이트 또는 다수의 사이트들에 치료 조명을 전달하기 위해 수동 제어 또는 사전-특정 자동화된 제어를 통해서 치료를 안내하는 단계. 이는 촬상 시스템으로부터 파생된 치료 기하학과 치료 계획 사이에서 상관관계를 제공한다. 또한, 망막(12)을 치료하는 것은 치료 동안 망막(12)의 이미지를 촬상하고 그리고/또는 치료가 성공적인 것으로 확인하기 위해 망막을 재-촬상하는 선택적인 단계들을 포함할 수 있다.
즉, 본 발명은 또한 망막을 치료하는데 이용하기 위해 시준광을 이용하여 망막을 조명하기 위한 장치를 제공한다. 본 발명은 또한 망막을 치료하기 위해 시준광을 이용하여 망막을 조명하기 위한 방법을 제공한다.

Claims (36)

  1. 안구의 망막을 조명하기 위한 장치로서,
    조명 디바이스 ― 상기 조명 디바이스는, 상기 조명 디바이스가 상기 망막 상의 둘레 라인(circumferential line)을 조명할 수 있도록, 평면 내에 광을 발생시킬 수 있는 평면 광원을 포함함 ―; 및
    지지 구조체를 포함하고,
    상기 조명 디바이스는 상기 지지 구조체에 피보팅가능하게(pivotably) 탑재가능하고 상기 광원에 의해 정의되는 평면상에 실질적으로 놓인 축에 대해 회전가능하여, 사용시에, 상기 조명 디바이스는 상기 망막의 영역을 조명하기 위해 상기 축에 대해 회전될 수 있는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 조명 디바이스는 상기 안구의 상기 망막에 걸쳐서 시준광(collimated light)을 1차원으로 스캐닝함으로써 상기 망막을 조명하도록 구성되는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 조명 디바이스의 회전축은 상기 조명 디바이스에 의해 발생된 1차원 스캔에 의해 정의되는 평면상에 놓이는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 조명 디바이스는,
    시준 광원(source of collinated light); 및
    스캐닝 엘리먼트를 포함하고,
    상기 시준 광원 및 상기 스캐닝 엘리먼트가 결합하여 포인트로부터 1차원 시준광을 제공하며; 그리고
    상기 조명 디바이스는 스캔 트랜스퍼 디바이스를 더 포함하고,
    상기 스캔 트랜스퍼 디바이스는 2개의 포커스들(foci)을 갖고, 상기 포인트는 상기 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 1 포커스에 제공되고, 상기 안구의 동공 포인트는 상기 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에서 원근조절되며(accommodated),
    상기 스캔 트랜스퍼 디바이스는 상기 포인트로부터 상기 안구로 1차원 시준광 스캔을 트랜스퍼하는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 스캐닝 엘리먼트는, 진동 메커니즘, 진동 미러, 공진 스캐너, 공진 스캐닝 미러 및 MEMS(microelectromechanical system) 스캐닝 엘리먼트로 이루어지는 그룹 중 하나인, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 조명 디바이스는, 상기 안구의 상기 망막을 조명하는 복수의 광 빔들을 발생시키기 위해 광원으로부터의 광을 조작함으로써 상기 망막 상의 둘레 라인을 조명하도록 구성되며,
    상기 복수의 광 빔들은 평면의 형태인, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  7. 제 1 항 또는 제 6 항에 있어서,
    상기 조명 디바이스는:
    광원; 및
    광 조작 엘리먼트를 포함하고,
    상기 광원 및 상기 광 조작 엘리먼트가 결합하여 포인트로부터 복수의 광 빔들을 제공하며;
    상기 조명 디바이스는 스캔 트랜스퍼 디바이스를 더 포함하고,
    상기 스캔 트랜스퍼 디바이스는 2개의 포커스들을 갖고, 상기 포인트는 상기 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 1 포커스에 제공되고, 상기 안구의 동공 포인트는 상기 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에서 원근조절되며,
    상기 스캔 트랜스퍼 디바이스는 상기 포인트로부터 상기 안구로 상기 복수의 광 빔들을 트랜스퍼하는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  8. 제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,
    상기 조명 디바이스는, 라인 발생 엘리먼트를 통해서(through) 상기 광을 통과시킴으로써 상기 광원으로부터 광을 조작하는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 라인 발생 엘리먼트는, 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈(toroidal lens) 및 구배 굴절률 렌즈로 이루어지는 그룹 중 하나인, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  10. 제 6 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 조명 디바이스의 상기 회전축은 상기 조명 디바이스에 의해 발생된 상기 복수의 광 빔들에 의해 정의되는 평면상에 놓이는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  11. 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 조명 디바이스는 상기 망막의 2차원 부분을 조명할 수 있는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  12. 제 11 항에 있어서,
    제 4 항 또는 제 5 항에 종속될 경우, 상기 스캐닝 엘리먼트는 2차원 MEMS(microelectromechanical system) 스캐닝 엘리먼트인, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  13. 제 1 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광원은 상이한 파장들의 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함하는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  14. 제 1 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광원은, 상기 조명 디바이스와 함께 회전하도록, 상기 조명 디바이스와 함께 위치되거나, 또는
    상기 광원은, 상기 조명 디바이스로부터 원격적으로 위치되는 ― 상기 광은 상기 조명 디바이스로 전송됨 ―, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  15. 제 1 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 장치는 상기 망막의 이미지를 발생시키기 위해 상기 망막으로부터의 반사된 광을 검출하기 위한 하나 또는 둘 이상의 검출기들을 더 포함하는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 하나 또는 둘 이상의 검출기들은, 상기 하나 또는 둘 이상의 검출기들이 상기 조명 디바이스와 함께 회전하도록, 상기 조명 디바이스와 함께 위치되는, 안구의 망막을 조명하기 위한 장치.
  17. 시준광을 이용하여 안구의 망막을 조명하는 방법으로서,
    조명 디바이스를 제공하는 단계 ― 상기 조명 디바이스는, 상기 조명 디바이스가 망막 상의 둘레 라인(circumferential line)을 조명할 수 있도록, 평면 내에 광을 발생시킬 수 있는 평면 광원을 포함함 ― ;
    지지 구조체를 제공하는 단계 ― 상기 조명 디바이스는 상기 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재가능하고, 상기 광원에 의해 정의되는 평면상에 실질적으로 놓인 축에 대해 회전가능함 ―; 및
    상기 시준광을 이용하여 상기 망막 상의 복수의 둘레 라인들을 조명하기 위해 상기 축에 대해 상기 조명 디바이스를 회전시키는 단계를 포함하는, 안구의 망막을 조명하는 방법.
  18. 안구의 망막을 촬상(imaging)하기 위한 장치로서,
    상기 망막의 실질적으로 1차원 이미지를 획득할 수 있는 촬상 디바이스; 및
    지지 구조체를 포함하고,
    상기 촬상 디바이스는, 상기 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재되고 상기 실질적으로 1차원 이미지의 방향에 평행한 축에 대해 회전가능하여, 사용시에, 상기 촬상 디바이스는 상기 망막의 복수의 실질적으로 1차원 이미지들을 획득하기 위해 상기 축에 대해 회전될 수 있고, 상기 망막의 복수의 실질적으로 1차원 이미지들은 상기 망막의 2차원 이미지를 획득하기 위해 조합될 수 있는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  19. 제 18 항에 있어서,
    상기 촬상 디바이스는 상기 안구의 상기 망막에 걸쳐서 시준광을 스캐닝함으로써 상기 망막의 상기 실질적으로 1차원 이미지를 획득하도록 구성되는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  20. 제 19 항에 있어서,
    상기 촬상 디바이스의 회전축은 상기 촬상 디바이스에 의해 발생된 상기 실질적으로 1차원 이미지 시준광 스캔에 의해 정의되는 평면상에 놓이는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  21. 제 18 항 내지 제 20 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 촬상 디바이스는:
    시준 광원; 및
    스캐닝 엘리먼트를 포함하고,
    상기 시준 광원 및 상기 스캐닝 엘리먼트가 결합하여 포인트로부터 1차원 시준광 스캔을 제공하며;
    상기 촬상 디바이스는 스캔 트랜스퍼 디바이스를 더 포함하고,
    상기 스캔 트랜스퍼 디바이스는 2개의 포커스들을 갖고, 상기 포인트는 상기 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 1 포커스에 제공되고, 상기 안구의 동공 포인트는 상기 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에서 원근조절되며, 상기 스캔 트랜스퍼 디바이스는 상기 포인트로부터 상기 안구로 상기 1차원 시준광을 트랜스퍼하는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  22. 제 21 항에 있어서,
    상기 스캐닝 엘리먼트는, 진동 메커니즘, 진동 미러, 공진 스캐너, 공진 스캐닝 미러 및 MEMS(microelectromechanical system) 스캐닝 엘리먼트로 이루어지는 그룹 중 하나인, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  23. 제 18 항에 있어서,
    상기 촬상 디바이스는 상기 안구의 상기 망막을 조명하는 복수의 광 빔들을 발생시키기 위해 광원을 조작함으로써 상기 망막의 상기 실질적으로 1차원 이미지를 획득하도록 구성되고,
    상기 복수의 광 빔들은 평면의 형태인, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  24. 제 18 항에 있어서,
    상기 촬상 디바이스는:
    광원; 및
    광 조작 엘리먼트를 포함하고,
    상기 광원 및 상기 광 조작 엘리먼트가 결합하여 포인트로부터 복수의 광 빔들을 제공하며; 그리고
    상기 촬상 디바이스는 스캔 트랜스퍼 디바이스를 더 포함하고,
    상기 스캔 트랜스퍼 디바이스는 2개의 포커스들을 갖고, 상기 포인트는 상기 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 1 포커스에 제공되고, 상기 안구의 동공 포인트는 상기 스캔 트랜스퍼 디바이스의 제 2 포커스에서 원근조절되며,
    상기 스캔 트랜스퍼 디바이스는 상기 포인트로부터 상기 안구로 상기 복수의 광 빔들을 트랜스퍼하는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  25. 제 23 항 또는 제 24 항에 있어서,
    상기 촬상 디바이스는 라인 발생 엘리먼트를 통해서 상기 광을 통과시킴으로써 상기 광원을 조작하는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  26. 제 25 항에 있어서,
    상기 라인 발생 엘리먼트는, 원통형 렌즈, 토로이달 렌즈(toroidal lens) 및 구배 굴절률 렌즈로 이루어지는 그룹 중 하나인, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  27. 제 23 항 내지 제 26 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 촬상 디바이스의 상기 회전축은 상기 조명 디바이스에 의해 발생된 상기 복수의 광 빔들에 의해 정의되는 평면상에 놓이는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  28. 제 18 항 내지 제 27 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 촬상 디바이스는 상기 망막의 2차원 부분을 조명할 수 있는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  29. 제 28 항에 있어서,
    제 21 항 또는 제 22항에 종속될 경우, 상기 스캐닝 엘리먼트는 2차원 MEMS(microelectromechanical system) 스캐닝 엘리먼트인, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  30. 제 21 항 내지 제 29 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광원은 상이한 파장들의 하나 또는 둘 이상의 광원들을 포함하는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  31. 제 21 항 내지 제 30 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광원은, 상기 촬상 디바이스와 함께 회전하도록, 상기 촬상 디바이스와 함께 위치되거나, 또는
    상기 광원은, 상기 촬상 디바이스로부터 원격적으로 위치되는 ― 상기 광은 상기 촬상 디바이스로 전송됨 ―, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  32. 제 18 항 내지 제 31 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 장치는 상기 망막으로부터의 반사된 광을 검출하기 위한 하나 또는 둘 이상의 검출기들을 더 포함하는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  33. 제 32 항에 있어서,
    상기 하나 또는 둘 이상의 검출기들은, 상기 하나 또는 둘 이상의 검출기들이 상기 촬상 디바이스와 함께 회전하도록, 상기 촬상 디바이스와 함께 위치되는, 안구의 망막을 촬상하기 위한 장치.
  34. 안구의 망막을 촬상하는 방법으로서,
    상기 망막의 실질적으로 1차원 이미지를 획득할 수 있는 촬상 디바이스를 제공하는 단계 ― 상기 촬상 디바이스는 상기 실질적으로 1차원 이미지의 방향에 평행한 축에 대해 회전가능함 ―;
    지지 구조체를 제공하는 단계 ― 상기 촬상 디바이스는 상기 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재가능함 ―;
    상기 망막의 복수의 실질적으로 1차원 이미지들을 획득하기 위해 상기 축에 대해 상기 촬상 디바이스를 회전시키는 단계; 및
    상기 망막의 2차원 이미지를 획득하기 위해 상기 복수의 실질적으로 1차원 이미지들을 조합하는 단계를 포함하는, 안구의 망막을 촬상하는 방법.
  35. 시준광을 이용하여 안구의 망막을 치료(treat)하기 위한 장치로서,
    조명 디바이스 ― 상기 조명 디바이스는, 상기 조명 디바이스가 상기 망막 상의 둘레 라인(circumferential line)을 조명할 수 있도록, 평면 내에 광을 발생시킬 수 있는 평면 광원을 포함함 ―; 및
    지지 구조체를 포함하고,
    상기 조명 디바이스는, 상기 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재가능하고 상기 광원에 의해 정의되는 평면상에 실질적으로 놓인 축에 대해 회전가능하여, 사용시에, 상기 조명 디바이스는 시준광을 이용하여 상기 망막 상의 복수의 둘레 라인들을 조명하기 위해 상기 축에 대해 회전될 수 있는, 안구의 망막을 치료하기 위한 장치.
  36. 시준광을 이용하여 안구의 망막을 치료하는 방법으로서,
    조명 디바이스를 제공하는 단계 ― 상기 조명 디바이스는, 상기 조명 디바이스가 상기 망막 상의 둘레 라인을 조명할 수 있도록, 평면 내에 광을 발생시킬 수 있는 평면 광원을 포함함 ― ;
    지지 구조체를 제공하는 단계; 및
    시준광을 이용하여 상기 망막 상에 복수의 둘레 라인들을 조명하기 위해 상기 축에 대해 상기 조명 디바이스를 회전시키는 단계를 포함하고,
    상기 조명 디바이스는, 상기 지지 구조체에 피보팅가능하게 탑재가능하고, 상기 광원에 의해 정의되는 평면상에 실질적으로 놓인 축에 대해 회전가능한, 안구의 망막을 치료하는 방법.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017113146A (ja) * 2015-12-22 2017-06-29 株式会社トプコン 眼科撮影装置

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014200621A (ja) 2013-04-10 2014-10-27 Hoya株式会社 眼科用観察装置及びその使用方法
JP6181420B2 (ja) * 2013-05-15 2017-08-16 株式会社トプコン 眼底撮影装置
JP6469411B2 (ja) * 2014-10-16 2019-02-13 株式会社トプコン 眼科装置
EP3236835A4 (en) 2014-12-23 2018-10-10 Rebiscan, Inc. Apparatus and method for fixation measurement with refraction error measurement using image sensing devices
WO2017100685A1 (en) 2015-12-10 2017-06-15 Bioxytech Retina, Inc. Methods and apparatus for measuring blood oxygenation of tissue
US10201275B1 (en) 2016-02-09 2019-02-12 Carl Zeiss Meditec, Inc. Reflective ultra-wide field fundus imager
CN107818558B (zh) * 2017-09-19 2020-05-29 歌尔科技有限公司 一种检测镜头瑕疵的方法和装置
JP6589020B2 (ja) * 2018-08-01 2019-10-09 株式会社トプコン 眼科装置

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5020587A (ko) * 1973-06-25 1975-03-04
GB1454675A (en) * 1974-06-21 1976-11-03 Tropel Optical system for objective refractor for the eye
JPS5433392A (en) * 1977-08-18 1979-03-12 Olympus Optical Co Slit lamp microscope
US4213678A (en) 1977-09-29 1980-07-22 Retina Foundation Scanning ophthalmoscope for examining the fundus of the eye
US4365874A (en) * 1980-09-11 1982-12-28 Milburn Wanda O Oculotorsionometer
JPS6231941A (ja) * 1985-08-02 1987-02-10 Toshiba Battery Co Ltd 乾電池用亜鉛缶
JP2728259B2 (ja) * 1988-04-12 1998-03-18 株式会社トプコン 眼底カメラ
JPH01265935A (ja) * 1988-04-12 1989-10-24 Topcon Corp 眼底カメラ
GB9323065D0 (en) * 1993-11-09 1994-01-05 Besca Ltd A wide field retinal scanning ophthalmoscope
DE19733995B4 (de) * 1997-08-06 2007-12-13 Carl Zeiss Meditec Ag Laser-Scanning-Ophthalmoskop
JP4921634B2 (ja) * 2000-01-31 2012-04-25 グーグル インコーポレイテッド 表示装置
US20020159621A1 (en) * 2001-04-26 2002-10-31 Memphis Eye & Cataract Associates Ambulatory Surgery Center (Dba Meca Laser And Surgery Center) System for automatically detecting eye corneal striae using projected and reflected shapes
JP2005507727A (ja) * 2001-10-16 2005-03-24 ザ スキーペンズ アイ リサーチ インスティテュート インコーポレイテッド 網膜造影デジタル処理デバイス
AU2003264481A1 (en) * 2002-09-24 2004-04-19 Nikon Corporation Image display unit and projection optical system
EP1417925A1 (de) * 2002-11-07 2004-05-12 Haag-Streit Ag Vorrichtung zur Betrachtung eines Auges
FR2866123B1 (fr) * 2004-02-10 2007-10-12 Zile Liu Procede et dispositif pour la creation d'images retiniennes utilisant le stigmatisme des deux foyers d'un dioptre sensiblement elliptique
DE102005034829A1 (de) * 2005-07-26 2007-02-01 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Mikroskop mit einer Operationsspaltlampe mit Laserlichtquelle
US7275826B2 (en) * 2005-08-03 2007-10-02 Carestream Health, Inc. Fundus camera having curved mirror objective
GB2440163A (en) 2006-07-15 2008-01-23 Optos Plc Scanning ophthalmoscope with reduced shear distortion
GB0622325D0 (en) 2006-11-09 2006-12-20 Optos Plc Improvements in or relating to retinal scanning
JP4829765B2 (ja) * 2006-12-08 2011-12-07 キヤノン株式会社 画像表示装置及び画像表示システム
US10398599B2 (en) * 2007-10-05 2019-09-03 Topcon Medical Laser Systems Inc. Semi-automated ophthalmic photocoagulation method and apparatus
DE202008013344U1 (de) * 2008-10-08 2008-12-18 Schwind Eye-Tech-Solutions Gmbh & Co. Kg Lasersystem zum Ablatieren von Hornhaut an einem Patientenauge

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017113146A (ja) * 2015-12-22 2017-06-29 株式会社トプコン 眼科撮影装置

Also Published As

Publication number Publication date
ZA201209701B (en) 2014-05-28
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US9788720B2 (en) 2017-10-17
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RU2012155210A (ru) 2014-08-10
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JP2013534853A (ja) 2013-09-09
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ES2659986T3 (es) 2018-03-20
WO2012001381A2 (en) 2012-01-05
CN102984995A (zh) 2013-03-20
EP2587984A2 (en) 2013-05-08
JP5914473B2 (ja) 2016-05-11

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