KR20130073418A - Probe unit for testing a display panel - Google Patents

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KR20130073418A
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주식회사 케이피에스
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Abstract

PURPOSE: A probe unit for testing a display panel having assemblability and contact stability when examining a panel, which has assemblability, which has contact stability when examining a panel, and which can enhance durability, is provided. CONSTITUTION: A probe unit for testing display panel (100) comprises: a probe block (110) having a lower surface sloped a pressuring block (120) having a pressurizing part in the lower side to be able to move up and down in the front of the probe block; an elastomer (130) which is interposed over at least two places between the pressurizing block and the probe block in order to elastically support the pressurizing block; and a probe sheet (140) which is close to the bottom surface of the probe block, and multiple prober lines are formed in parallel.

Description

디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트{Probe unit for testing a display panel} Probe unit for testing a display panel

본 발명은 디스플레이 패널을 검사하기 위한 프로브 유니트에 관한 것으로, 특히 조립성이 용이하고 패널 검사 시에 안정적인 컨택이 이루어지며 내구성을 높일 수 있는 프로브 유니트에 관한 것이다.
The present invention relates to a probe unit for inspecting a display panel, and more particularly, to a probe unit that is easy to assemble and has a stable contact when inspecting a panel and can increase durability.

LCD 제작공정은 디스플레이 패널을 제작하는 셀(Cell) 공정과, 셀 공정에서 제작된 디스플레이 패널에 드라이버(driver), 백라이트 유니트(backlight unit), 도광판 및 편광판을 조립하여 완제품으로 제작하는 모듈(module) 조립 공정으로 이루어진다.The LCD manufacturing process includes a cell process for manufacturing a display panel and a module for assembling a driver, a backlight unit, a light guide plate, and a polarizing plate to a display panel manufactured in the cell process to produce a finished product. It consists of an assembly process.

디스플레이 패널은 소스 전극과 게이트 전극이 각각 형성된 면을 기판 상에 대향하여 배치한 화상표시장치로서, 두 전극에 인가된 전압 변화에 따라서 기판 사이에 주입된 액정 물질의 재배열이 이루어짐으로써 빛의 투과율을 제어하여 화상을 표현하게 된다.The display panel is an image display device in which a surface on which a source electrode and a gate electrode are formed are disposed to face each other on a substrate, and the light transmittance is achieved by rearranging liquid crystal materials injected between the substrates according to a voltage change applied to the two electrodes. To control the image.

이러한 디스플레이 패널은 제작 공정 이후에 제작된 패널의 전기적, 광학적 이상 여부를 검사하는 공정을 거치게 된다.The display panel goes through a process of inspecting the electrical and optical abnormality of the manufactured panel after the manufacturing process.

디스플레이 패널의 전기적인 이상 여부에 대한 검사에는 통상적으로 프로브 유니트가 이용되며, 현재 다양한 형태의 프로브 유니트가 나와 있으며 디스플레이 패널의 접속단자와 접촉하여 전기적인 신호를 인가하여 주는 탐침 형상에 따라서 니들 타입과 필름 시트 타입으로 구분될 수 있다.The probe unit is generally used to check the electrical abnormality of the display panel. Currently, various types of probe units are shown, and the needle type and the probe type are applied according to the probe shape to apply an electrical signal in contact with the connection terminal of the display panel. It may be classified into a film sheet type.

일반적인 니들 타입은 디스플레이 패널의 접속단자와 접촉되는 탐침부재와, 탐침부재와 전기적으로 접속되는 구동필름부재와, 플렉시블 접속부재로 구성되며, 제어부에서 인가된 전기적 신호는 플렉시블 접속부재, 구동 필름부재 및 탐침부재를 통하여 디스플레이 패널의 접속단자로 전달된다.The general needle type includes a probe member contacting a connection terminal of a display panel, a drive film member electrically connected to the probe member, and a flexible connection member. The electrical signal applied from the controller is a flexible connection member, a drive film member, It is transmitted to the connection terminal of the display panel through the probe member.

그러나 이러한 니들 타입의 탐침부재는 화면의 해상도가 커질수록 고정밀의 미세 가공을 필요로 하여 가공비용이 증가하여 제품의 단가를 높이는 원인이 된다.However, the needle type probe member requires high precision micromachining as the resolution of the screen increases, which increases the processing cost and causes the unit cost of the product.

한편, 필름 시트 타입은 고가의 금속 탐침 사용을 배제하고 구동 필름부재에 형성된 컨택 단자들을 직접 디스플레이 패널의 접속단자와 접촉시키는 프로브 탐침으로 이용하고 있으며, 예를 들어 등록특허공보 제586007호(등록일자: 2006.05.25), 등록특허공보 제720378호(등록일자: 2007.05.15), 공개특허 제2006-89968호(공개일자: 2006.08.10), 공개특허공보 제2007-51246호(공개일자: 2007.05.17)에서 필름 시트형 프로브 유니트에 대하여 개시하고 있다.On the other hand, the film sheet type excludes the use of expensive metal probes, and uses contact terminals formed on the driving film member as a probe probe to directly contact the connection terminals of the display panel. For example, Korean Patent Publication No. 586007 (Date of Registration) : May 25, 2006), Patent No. 720378 (Registration Date: 2007.05.15), Publication No. 2006-89968 (Publish Date: 2006.08.10), Publication No. 2007-51246 (Publish Date: 2007.05 (17) discloses a film sheet type probe unit.

이러한 필름 시트형 프로브 유니트는 테스트 제어부와 디스플레이 패널의 접속단자 사이의 전송 라인이 짧아서 신호의 노이즈가 감소되어 검사 오류를 줄일 수 있고 장비 비용을 저감시킬 수 있는 장점이 있으나, 필름에 마련된 컨택 라인 사이의 제조상의 오차나 단자의 오염 등으로 인한 접촉상태의 불안정이 문제점으로 지적되고 있다.Such a film sheet type probe unit has a merit of shortening a transmission line between a test control unit and a connection terminal of a display panel to reduce noise of a signal, thereby reducing inspection error and reducing equipment cost, but between contact lines provided in a film Instability of contact due to manufacturing error or contamination of the terminal has been pointed out as a problem.

따라서 필름 시트 타입의 프로브 유니트는 디스플레이 패널의 접속단자와 필름 시트의 컨택 단자 사이의 접촉 안정성을 높이는 것이 상당히 중요하다.Therefore, in the film sheet type probe unit, it is very important to increase the contact stability between the connection terminal of the display panel and the contact terminal of the film sheet.

예를 들어, 공개실용신안 제20-2011-0004605호(공개일자: 2011.05.11)와 등록특허공보 제1070332호(등록일자: 2011.09.28)에서는 디스플레이 패널의 접속단자와 필름 시트의 컨택 단자 사이의 접촉성을 높이기 위한 프로브 장치에 대하여 개시하고 있다.For example, in Korean Utility Model Publication No. 20-2011-0004605 (published date: 2011.05.11) and Patent Publication No. 1070332 (registered date: September 28, 2011), the connection terminal of the display panel and the contact terminal of the film sheet are disclosed. The probe apparatus for improving the contactability of this is disclosed.

특히 상기 등록특허공보 제1070332호는 탄성 변형이 가능한 가압판을 갖는 프로브 유니트를 제안하고 있으며, 상기 가압판이 프로브 시트를 탄성 가압하여 접촉성을 높이도록 하고 있다. 그러나 상기 등록특허는 얇은 가압판에 의해 프로브 시트를 탄성 가압함에 따라서 장기간 사용 시에 가압판의 변형에 의해 충분한 접촉 하중을 제공하지 못하고 컨택 안정성이 저하되는 문제점이 있다.In particular, Korean Patent No. 1070332 proposes a probe unit having a pressure plate capable of elastic deformation, and the pressure plate elastically presses the probe sheet to increase contactability. However, the registered patent does not provide sufficient contact load due to deformation of the pressure plate when the probe sheet is elastically pressurized by the thin pressure plate, and the contact stability is deteriorated.

또한 프로브 시트에 작용하는 접촉 하중을 변경하거나 조정하기 위해서는 가압판을 다시 설계 제작해야 하므로 검사장치의 비용 상승으로 연결될 수 있다.
In addition, in order to change or adjust the contact load acting on the probe sheet, the pressure plate must be redesigned and manufactured, which may lead to an increase in the cost of the inspection apparatus.

본 발명의 종래기술의 문제점을 해결하고자 하는 것으로, 조립성이 용이하고 패널 검사 시에 안정적인 컨택이 이루어지며 내구성을 높일 수 있는 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트를 제공하고자 한다.
In order to solve the problems of the prior art of the present invention, to provide a probe panel for display panel inspection that can be easily assembled, a stable contact is made at the time of panel inspection and durability can be increased.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트는 하부면이 경사를 갖는 프로브 블록과; 하측 선단에 가압부가 마련되어 상기 프로브 블록의 전면에 상하 이동 가능하게 조립되는 가압블록과; 상기 가압블록을 탄성 지지하도록 상기 프로브 블록과 가압블록 사이에 개재되는 탄성체와; 상기 프로브 블록의 저면에 밀착되어 다수의 프로브단자 라인이 나란하게 형성되는 프로브 시트에 의해 달성될 수 있다.Probe unit for testing the display panel according to the present invention for achieving the above object is a probe block having a lower surface is inclined; A pressing block provided at a lower end of the pressing block so as to be movable up and down on the front surface of the probe block; An elastic body interposed between the probe block and the pressing block to elastically support the pressing block; It may be achieved by a probe sheet in close contact with the bottom surface of the probe block and a plurality of probe terminal lines are formed side by side.

바람직하게는 본 발명에 있어서, 상기 프로브 블록은, 상기 가압블록의 상하 운동을 안내하도록 가이드부재가 마련되어 상기 프로브 블록 상부에서 볼트로 고정되는 가이드블록이 추가로 구비되는 것을 특징으로 한다.Preferably, in the present invention, the probe block, the guide member is provided to guide the vertical movement of the pressure block is characterized in that the guide block is further provided with a bolt fixed on the probe block.

바람직하게는 본 발명에 있어서, 상기 가압블록의 반대편에 위치하여 나사 조립이 이루어지되, 상기 프로브 블록과 면접촉되어 시트를 고정하게 되는 시트 고정브라켓이 추가될 수 있으며, 보다 바람직하게는 상기 시트 고정브라켓은 시트가 관통 가능한 최소한 하나 이상의 슬롯이 형성될 수 있으며, 프로브 블록과 접하는 면의 모서리가 모따기된 것을 특징으로 한다.Preferably, in the present invention, the screw assembly is made on the opposite side of the pressing block is made, the sheet fixing bracket for fixing the sheet in contact with the surface of the probe block may be added, more preferably the seat fixing The bracket may be formed with at least one slot through which the sheet is penetrated, characterized in that the edge of the surface in contact with the probe block is chamfered.

바람직하게는 본 발명에 있어서, 상기 프로브 블록의 저면에는 판시트가 추가로 접합되는 것을 특징으로 한다.
Preferably, in the present invention, a plate sheet is further bonded to the bottom of the probe block.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트는 프로브 블록과, 프로브 블록에 조립되어 상하 이동이 가능한 가압블록과, 프로브 블록과 가압블록 사이에 개재되어 가압블록을 탄성 지지하게 되는 탄성체와, 다수의 컨택 라인이 나란하게 형성되는 프로브 시트로 구성되어, 프로브 시트에 대한 접촉 압력이 프로브 블록과 가압블록 사이에 개재되는 탄성체에 의해 결정되므로, 접촉 하중의 설정이 용이하며 탄성체만을 변경함으로써 접촉 하중의 조정이 편리한 장점이 있다.The probe unit for inspecting a display panel according to the present invention includes a probe block, a pressure block assembled to the probe block to move up and down, an elastic body interposed between the probe block and the pressure block to elastically support the pressure block, and a plurality of contacts. It is composed of a probe sheet formed in line side by side, the contact pressure to the probe sheet is determined by the elastic body interposed between the probe block and the pressure block, it is easy to set the contact load and the adjustment of the contact load by changing only the elastic body There is a convenient advantage.

또한 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트는 시트의 접합부를 고정하도록 프로브 블록과 면접촉이 가능한 시트 고정브라켓이 구비됨으로써, 종래에 프로브 시트와 접속시트를 접착제 또는 테이프만으로 접합하는 것과 비교하여 프로브 시트와 접속시트의 접합 상태를 보다 견고히 유지할 수 있어서 안정적인 전기적 접촉이 이루어질 수 있는 효과가 있다.
In addition, the probe unit for inspecting the display panel according to the present invention is provided with a sheet fixing bracket capable of surface contact with the probe block so as to fix the bonding portion of the sheet, and thus compared with conventionally bonding the probe sheet and the connection sheet with adhesive or tape only. Since the bonding state of the sheet and the connection sheet can be more firmly maintained, there is an effect that a stable electrical contact can be made.

도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트를 보여주는 사시도,
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트의 분해 사시도,
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트의 저면 사시도,
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트를 보여주는 단면 구성도.1 is a perspective view illustrating a probe unit for inspecting a display panel according to the present invention;
2 is an exploded perspective view of a probe unit for inspecting a display panel according to the present invention;
3 is a bottom perspective view of a probe unit for inspecting a display panel according to the present invention;
Figure 4 is a cross-sectional view showing a display panel probe unit for inspection according to the present invention.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부 도면을 참고하여 상세히 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1 내지 도 4를 참고하면, 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트(100)는 프로브 블록(110)과, 프로브 블록(110)에 조립되어 상하 이동이 가능한 가압블록(120)과, 프로브 블록(110)과 가압블록(120) 사이에 개재되어 가압블록(120)을 탄성 지지하게 되는 탄성체(130)와, 다수의 컨택 라인이 나란하게 형성되는 프로브 시트(140)를 포함한다.
1 to 4, the probe unit 100 for inspecting the display panel of the present invention includes a probe block 110, a pressure block 120 assembled to the probe block 110, and capable of moving up and down, and a probe block. An elastic body 130 interposed between the 110 and the pressure block 120 to elastically support the pressure block 120, and a probe sheet 140 having a plurality of contact lines formed side by side.

프로브 블록(110)은 주요 구성들이 조립되는 것으로 가압블록(120)과 조립되는 전면부 하단 모서리의 단면이 예각(θ1)을 가지며, 따라서 프로브 블록(110)의 저면은 상방으로 경사면(111)을 갖다. 또한 시트 고정브라켓(160)과 조립되는 후면부 하단 모서리의 단면은 둔각(θ2)을 갖는다. Probe block 110 is a main component is assembled, the cross-section of the lower edge of the front portion assembled with the pressure block 120 has an acute angle (θ1), so the bottom surface of the probe block 110 is upwardly inclined surface 111 have. In addition, the cross section of the bottom edge of the rear portion assembled with the seat fixing bracket 160 has an obtuse angle θ2.

바람직하게는 프로브 블록(110)에는 가압블록(120)의 상하 운동을 안내하도록 가이드부재가 마련되어 프로브 블록(110)에 고정되는 가이드블록(150)이 추가될 수 있다. 본 실시예에서 가이드블록(150)의 중앙부에는 하방으로 돌출 형성된 가이드돌기(151)가 형성됨을 보여주고 있다.Preferably, the guide block 150 may be added to the probe block 110 to provide a guide member to guide the vertical movement of the pressure block 120 to be fixed to the probe block 110. In the present embodiment, it is shown that the guide protrusion 151 protruding downward from the center portion of the guide block 150 is formed.

프로브 블록(110)과 가이드블록(150)의 상부면에는 각각 볼트 체결공(112)(152)이 형성되어 볼트에 의해 조립이 이루어질 수 있으며, 따라서 분해 및 조립이 용이하게 이루어질 수 있다.Bolt fastening holes 112 and 152 are formed on the upper surfaces of the probe block 110 and the guide block 150, respectively, so that assembly may be performed by bolts, and thus, disassembly and assembly may be easily performed.

가압블록(120)은 프로브 블록(110)의 전면에 상하 이동 가능하게 조립되며, 하측 선단부로 가압부(121)가 마련된다. The pressing block 120 is assembled to be movable up and down on the front surface of the probe block 110, the pressing portion 121 is provided to the lower front end portion.

본 실시예에서 가압블록(120)의 중앙부에는 가이드블록(150)의 가이드돌기(151)와 계합되도록 가이드요홈(122)이 형성되며, 따라서 가압블록(120)은 프로브 블록(110)에 대해 상하 방향으로 이동이 이루어질 수 있다.In the present embodiment, the guide groove 122 is formed in the center portion of the pressing block 120 to engage with the guide protrusion 151 of the guide block 150, so that the pressing block 120 is up and down with respect to the probe block 110. Movement in the direction can be made.

한편, 본 발명에서 가압블록이 프로브 블록에 대해 상하 이동이 원활히 이루어지도록 마련되는 가이드부재는 본 실시예에만 한정되는 것이 아니며, 그 형상이나 위치 등은 다양하게 변경이 가능함은 자명할 것이다.On the other hand, in the present invention, the guide member is provided so that the up and down movement of the pressure block with respect to the probe block is not limited to this embodiment only, it will be apparent that the shape or position thereof can be variously changed.

탄성체(130)는 프로브 블록(110)과 가압블록(120) 사이에 개재되어 가압블록(120)을 아래 방향으로 탄성 지지하게 되며, 가압부(121)는 프로브 블록(110)의 저면에서 일정 길이 아래로 돌출되어 위치하게 된다. 바람직하게는 프로브 블록(110)과 가압블록(120) 사이에 최소한 두 개소 이상 탄성체(130)가 마련되어 가압블록(120)의 폭 방향으로 균등한 탄성력이 작용될 수가 있다.The elastic body 130 is interposed between the probe block 110 and the pressure block 120 to elastically support the pressure block 120 in the downward direction, the pressing portion 121 is a predetermined length at the bottom of the probe block 110 It is projected downward. Preferably, at least two or more elastic bodies 130 are provided between the probe block 110 and the pressure block 120 so that an equal elastic force may be applied in the width direction of the pressure block 120.

탄성체(130)는 주지의 코일 스프링에 의해 제공될 수 있으나, 코일 스프링에만 한정되는 것은 아니며 가압블록을 충분히 탄성 지지할 수 있는 범위 내에서 다양한 주지의 스프링들이 사용될 수 있다.The elastic body 130 may be provided by a well-known coil spring, but is not limited to the coil spring, and various well-known springs may be used within a range capable of sufficiently elastically supporting the pressure block.

프로브 시트(140)는 다수의 디스플레이 패널의 접속단자와 접속되는 다수의 프로브 단자 라인들이 일정 간격으로 형성되며, 바람직하게는 본 발명에 있어서 프로브 시트(140)는 직각으로 절곡 형성된 후단부(141)가 프로브 블록(110)과 시트 고정브라켓(160) 사이에서 접속시트(180)와 접촉이 이루어진다.The probe sheet 140 has a plurality of probe terminal lines connected to the connection terminals of the plurality of display panels at regular intervals. Preferably, in the present invention, the probe sheet 140 has a rear end portion 141 formed at a right angle. The contact with the connection sheet 180 is made between the probe block 110 and the seat fixing bracket 160.

시트 고정브라켓(160)은 대략 L자 형상의 단면 구조를 가지며, 프로브 블록(110)과 나사(161) 조립이 이루어지며, 프로브 블록(110)의 후면 하단에서 프로브 시트(140)와 접속시트(180)의 접합부를 고정하는 기능을 한다.The seat fixing bracket 160 has an approximately L-shaped cross-sectional structure, the assembly of the probe block 110 and the screw 161 is made, and the probe sheet 140 and the connection sheet ( 180) to secure the junction.

접속시트(180)는 구동신호를 출력하는 탭IC(tap IC)가 구비되며, 프로브 시트의 프로브 단자 라인과 접속되는 다수의 배선을 가지며 후단부는 테스트 장치(미도시)와 연결된다.The connection sheet 180 is provided with a tap IC for outputting a driving signal, has a plurality of wires connected to the probe terminal line of the probe sheet, and a rear end thereof is connected to a test device (not shown).

또한 시트 고정브라켓(160)은 접속시트가 관통 가능한 최소한 하나 이상의 슬롯(162)(163)이 형성되는 것이 바람직하다. In addition, the seat fixing bracket 160 is preferably formed with at least one slot 162, 163 through which the connection sheet can pass.

한편, 시트 고정브라켓(160)은 프로브 블록(110)과 접하는 면의 모서리가 모따기(C)되어 프로브 블록(110)과 시트 고정브라켓(160) 사이에 삽입됨으로써 고정된 시트 접합부가 모서리에 눌려서 손상되는 것을 방지할 수 있다.On the other hand, the seat fixing bracket 160 is the edge of the surface in contact with the probe block 110 is chamfered (C) is inserted between the probe block 110 and the seat fixing bracket 160 is damaged by pressing the fixed seat joint in the corner Can be prevented.

시트 고정브라켓(160)에 마련된 슬롯(162)(163)은 프로브 시트(140)와 접합되는 접속시트(180)를 프로브 유니트(100)의 후단으로 인출 가능하도록 한다.The slots 162 and 163 provided in the seat fixing bracket 160 allow the connection sheet 180 bonded to the probe sheet 140 to be pulled out to the rear end of the probe unit 100.

앞서 설명한 바와 같이 프로브 블록(110)은 시트 고정브라켓(160)과 조립되는 후면부 하단 모서리가 둔각(θ2)을 가지므로, 프로브 블록(110)과 시트 고정브라켓(160) 사이에 프로브 시트(140)의 후단부(141)가 삽입 고정되는 경우에 프로브 시트(140)는 탄성적으로 프로브 시트(140)의 저면에 밀착되어 위치될 수 있다.As described above, the probe block 110 has an obtuse angle θ2 at the bottom edge of the rear portion assembled with the seat fixing bracket 160, and thus, the probe sheet 140 is disposed between the probe block 110 and the seat fixing bracket 160. When the rear end 141 of the probe sheet 140 is inserted and fixed, the probe sheet 140 may be elastically in close contact with the bottom surface of the probe sheet 140.

바람직하게는 프로브 블록(110)의 저면에는 금속재질 또는 엔지니어링플라스틱과 같은 강화수지를 재질로 하는 판시트(170)가 추가로 접합될 수 있다. 이때, 프로브 시트(140)는 판시트(170)의 저면에 밀착되어 위치된다.
Preferably, the bottom surface of the probe block 110 may be further bonded to the plate sheet 170 made of a reinforcing resin such as metal or engineering plastics. At this time, the probe sheet 140 is in close contact with the bottom surface of the plate sheet 170.

이와 같이 구성된 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트는 절곡 형성된 프로브 시트(140)의 후단부(141)와 접속시트(180)를 테이프 또는 접착제 등을 이용하여 접합하게 되며, 이때 프로브 시트(140)의 프로브단자 라인과 접속시트(180)의 배선은 일대일 대응되어 접촉이 이루어진다.The probe unit for inspecting the display panel of the present invention configured as described above is bonded to the rear end 141 of the formed probe sheet 140 and the connection sheet 180 by using a tape or an adhesive, and at this time, the probe sheet 140 The probe terminal line and the wiring of the connection sheet 180 correspond to one-to-one to make contact.

프로브 시트(140)와 접속시트(180)를 접촉시킨 후에 나사(161)를 풀어서 프로브 블록(110)과 시트 고정브라켓(160) 사이를 이격 위치시키고 그 틈 사이로 프로브 시트(140)와 접속시트(180)의 접합부를 삽입하여 나사(161)를 다시 죄여서 프로브 시트(140)와 접속시트(180)의 접합부를 고정시킨다.After contacting the probe sheet 140 and the connection sheet 180, loosen the screw 161 to position the probe block 110 and the seat fixing bracket 160 spaced apart from each other, and the probe sheet 140 and the connection sheet (between the gaps). The joint of 180 is inserted to tighten the screw 161 to fix the joint of the probe sheet 140 and the connection sheet 180.

따라서 종래에 프로브 시트와 접속시트를 접착제 또는 테이프만으로 접합하는 것과 비교하여 프로브 시트와 접속시트의 접합 상태를 보다 견고히 유지할 수 있으므로 안정적인 검사신호를 얻을 수가 있다.Therefore, the bonding state of the probe sheet and the connection sheet can be more firmly maintained compared to the conventional bonding of the probe sheet and the connection sheet only with an adhesive or a tape, so that a stable inspection signal can be obtained.

또한, 디스플레이 패널의 전기적 검사 시에 프로브 시트(140)는 탄성체(130)에 의해 탄성 지지되는 가압블록(120)의 가압부(121)에 의해 디스플레이 패널의 접속단자와 안정적인 전기적 접촉이 이루어질 수 있다.In addition, during electrical inspection of the display panel, the probe sheet 140 may have stable electrical contact with the connection terminal of the display panel by the pressing unit 121 of the pressing block 120 elastically supported by the elastic body 130. .

특히 프로브 시트(140)에 대한 접촉 압력은 프로브 블록(110)과 가압블록(120) 사이에 개재되는 탄성체에 의해 결정되므로, 적절한 탄성계수를 갖는 탄성체를 사용함으로써 접촉 하중의 설정이 용이하며 탄성체만을 변경하여 접촉 하중의 조정이 편리하게 이루어질 수 있다.In particular, since the contact pressure with respect to the probe sheet 140 is determined by the elastic body interposed between the probe block 110 and the pressure block 120, it is easy to set the contact load by using an elastic body having an appropriate elastic modulus and only the elastic body By changing the contact load can be made conveniently.

또한 프로브 유니트를 장기간 사용하여 발생할 수 있는 접촉 하중의 저감에 대해서도 프로브 블록(110)과 가압블록(120)만을 간단히 분해하여 탄성체만을 교체하여 해결할 수 있는 장점이 있다.
In addition, there is an advantage that can be solved by simply disassembling only the probe block 110 and the pressure block 120 to reduce the contact load that may occur by using the probe unit for a long time.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능함은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
The present invention described above is not limited to the above-described embodiment and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and changes are possible within the scope without departing from the technical spirit of the present invention. It will be evident to those who have knowledge of.

100 : 프로브 유니트 110 : 프로브 블록
120 : 가압블록 121 : 가압부
130 : 탄성체 140 : 프로브 시트
150 : 가이드 블록 160 : 시트 고정브라켓
170 : 판시트 180 : 접속시트100: probe unit 110: probe block
120: pressure block 121: pressure unit
130: elastic body 140: probe sheet
150: guide block 160: seat fixing bracket
170: sheet sheet 180: connection sheet

Claims (6)

하부면이 경사를 갖는 프로브 블록과;
하측 선단에 가압부가 마련되어 상기 프로브 블록의 전면에 상하 이동 가능하게 조립되는 가압블록과;
상기 가압블록을 탄성 지지하도록 상기 프로브 블록과 가압블록 사이의 최소한 두 개소 이상 개재되는 탄성체와;
상기 프로브 블록의 저면에 밀착되어 다수의 프로브단자 라인이 나란하게 형성되는 프로브 시트를 포함하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.A probe block having an inclined bottom surface;
A pressing block provided at a lower end of the pressing block so as to be movable up and down on the front surface of the probe block;
An elastic body interposed at least two places between the probe block and the pressure block to elastically support the pressure block;
And a probe sheet in close contact with the bottom surface of the probe block, the probe sheet having a plurality of probe terminal lines formed side by side. 제1항에 있어서, 상기 프로브 블록은,
상기 가압블록의 상하 운동을 안내하도록 가이드부재가 마련되어 상기 프로브 블록 상부에서 볼트로 고정되는 가이드블록이 추가로 구비되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.The method of claim 1, wherein the probe block,
The guide unit is provided with a guide member to guide the vertical movement of the pressure block is provided with a guide block fixed to the bolt on the probe block, characterized in that the probe panel for inspection. 제1항에 있어서, 상기 가압블록의 반대편에 위치하여 나사 조립이 이루어지되, 상기 프로브 블록과 면접촉되어 시트를 고정하게 되는 시트 고정브라켓이 추가되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.The probe unit of claim 1, wherein the screw assembly is performed on the opposite side of the pressing block, and a sheet fixing bracket is added to the surface in contact with the probe block to fix the sheet. 제3항에 있어서, 상기 시트 고정브라켓은 시트가 관통 가능한 최소한 하나 이상의 슬롯이 형성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.4. The probe unit of claim 3, wherein the seat fixing bracket has at least one slot through which the sheet can pass. 제3항 또는 제4항에 있어서, 상기 시트 고정브라켓은 프로브 블록과 접하는 면의 모서리가 모따기된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.The probe unit of claim 3 or 4, wherein the seat fixing bracket is chamfered at an edge of a surface contacting the probe block. 제1항에 있어서, 상기 프로브 블록의 저면에는 판시트가 추가로 접합되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.The probe unit of claim 1, wherein a plate sheet is further bonded to a bottom surface of the probe block.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20110052097A (en) * 2009-11-12 2011-05-18 티에스씨멤시스(주) Flexible printed circuit board, method of manufacturing the same, method of testing an object and probe unit having the same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210157272A (en) * 2020-06-19 2021-12-28 남현우 An apparatus for testing panel

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