KR20040071789A - Probe for manufacturing probe for testing flat pannel display, probe thereby, probe assembly having its - Google Patents

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KR20040071789A KR1020030007654A KR20030007654A KR20040071789A KR 20040071789 A KR20040071789 A KR 20040071789A KR 1020030007654 A KR1020030007654 A KR 1020030007654A KR 20030007654 A KR20030007654 A KR 20030007654A KR 20040071789 A KR20040071789 A KR 20040071789A
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Abstract

PURPOSE: A method for manufacturing a probe for testing a flat panel display, a probe thereby, and a probe assembly having the probe are provided to reduce a time required for a manufacturing process by simplifying the manufacturing process. CONSTITUTION: A first protrusion(12) and a second protrusion(16) faced to each other on one side of an upper surface of a reinforcement plate(10) are formed. The first protrusion(12) and the second protrusion(16) are formed by forming a central groove(16) along a longitudinal direction. A plurality of slits are connected to the central groove and formed. A needle(20) having a predetermined length is installed such that both end parts of the slits and the central groove are protruded to an outside of the reinforcement plate(10). The needle(20) is fixed to the reinforcement plate(10) through adhesion.

Description

평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법, 이에 따른 프로브 및 이를 구비한 프로브 조립체{Probe for manufacturing probe for testing flat pannel display, probe thereby, probe assembly having its}Method for manufacturing a probe for inspecting a flat panel display device, a probe and a probe assembly having the same according to the present invention {probe for manufacturing probe for testing flat pannel display, probe thereby, probe assembly having its}

본 발명은 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법, 이에 따른 프로브 및 이를 구비한 프로브 조립체에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 간편하게 제조되어 평판표시소자의 정상 유무를 용이하게 검사할 수 있는 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법, 이에 따른 프로브 및 이를 구비한 프로브 조립체에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing a probe for inspecting a flat panel display device, and a probe and a probe assembly having the same according to the present invention. More particularly, the present invention relates to a flat panel display device which can be easily inspected whether a flat panel display device is normally present. The present invention relates to a method for manufacturing a test probe, a probe, and a probe assembly having the same.

일반적으로, TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display)는 평판디스플레이의 일종으로써, 무수히 많은 박막트랜지스터(TFT)와 회소전극이 배열되어 소정의 크기를 갖는 하판과, 색상을 나타내기 위한 컬러 필터 및 공통전극이 순차적으로 형성되어 하판과 소정간격 이격되어 있는 상판과, 상기 상판과 하판 사이의 이격공간에 채워져 있는 액정을 가지고 있다.In general, TFT-LCD (Thin Film Transistor Liquid Crystal Display) is a kind of flat panel display, in which a myriad of thin film transistors (TFTs) and recovery electrodes are arranged, a lower plate having a predetermined size, a color filter for displaying color, and The common electrode is sequentially formed and has an upper plate spaced apart from the lower plate by a predetermined distance, and a liquid crystal filled in the space between the upper plate and the lower plate.

이와 같은 TFT-LCD는 스위칭소자인 TFT와 상 하판 사이에 있는 액정으로 인해 형성되는 충전영역(Capacitor region) 및 보조충전영역과 상기 TFT의 온-오프를 구동하는 게이트 구동전극과 외부의 영상신호를 인가하는 영상신호전극 등에 의해서 소정의 화면(동영상 포함)을 점등시키게 된다.Such a TFT-LCD uses a capacitor region and an auxiliary charge region formed by a liquid crystal between a TFT, which is a switching element, and an upper and lower plates, and a gate driving electrode driving an on-off of the TFT and an external image signal. The predetermined screen (including a video) is turned on by the video signal electrode or the like to be applied.

그리고, 이와 같은 TFT-LCD 등의 평판표시소자는 제조를 완료한 후, 평판표시소자의 전극패드에 프로브 조립체의 프로브를 접촉하여 전기신호를 인가함으로써 평판표시소자의 정상 유무를 확인하여 불량 표시소자를 조기에 제거하는테스트(Test)공정을 진행하고 있다.After the manufacturing of such a flat panel display device such as a TFT-LCD, the electrode of the flat panel display device is contacted with the probe of the probe assembly and an electric signal is applied to confirm whether the flat display device is normal or not. We are in the process of removing the test early.

이와 같은 평판표시소자의 테스트는, 니들 타입(Needle type)타입, 블레이드 타입(Blade type), 필름 타입(Film type), MEMS(Micro Electro Mechanical System) 타입 등과 같이 다양한 형태의 프로브가 부착된 프로브 조립체를 구비한 프로빙 장치를 이용하여 이루어진다.The test of the flat panel display device includes a probe assembly to which various types of probes are attached, such as a needle type, a blade type, a film type, and a MEMS type. It is made using a probing apparatus having a.

그리고, 상기 MEMS 타입은 본 출원인이 2002년 12월 23일자로 특허 출원한 " 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법, 이에 따른 프로브, 이를 구비한 프로브 조립체(출원번호: 10-2002-0082273) "에 게시되어 있다.In addition, the MEMS type is "A manufacturing method of a probe for inspecting a flat panel display device, a probe according to the present invention, and a probe assembly having the same (application number: 10-2002-0082273) filed by the applicant on December 23, 2002" Posted in

그런데, 상기와 같은 니들 타입, 블레이드 타입, 필름 타입 및 MEMS 타입 등은 그 제조공정이 복잡함으로써 다양한 종류의 불량요인을 내재되어 수율이 떨어지는 문제점이 있었다.However, the needle type, the blade type, the film type, and the MEMS type as described above have a problem in that the yield is lowered due to various kinds of defective factors due to the complicated manufacturing process.

특히, 상기 MEMS 타입은 재현성 및 생산성 측면 등에는 좋은 효과를 나타내나 생산설비의 유지 보수 비용 및 제품 생산비용이 과도한 문제점이 있었다.In particular, the MEMS type has a good effect on aspects such as reproducibility and productivity, but there is an excessive problem of maintenance cost and product production cost of the production facility.

본 발명의 목적은, 제조 공정이 단순하여 공정시간을 줄일 수 있는 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법, 이에 따른 프로브, 이를 구비한 프로브 조립체를 제공하는 데 있다.Disclosure of Invention An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a probe for inspecting a flat panel display device, the probe according to the same, and a probe assembly having the same.

도 1a 내지 도 1e는 본 발명의 일 실시예에 따른 평판표시소자 검사용 프로브 및 이의 제조방법을 설명하기 위한 공정 사시도이다.1A to 1E are perspective views illustrating a flat panel display inspection probe and a method of manufacturing the same according to an embodiment of the present invention.

도 2a 및 도 2b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 평판표시소자 검사용 프로브 및 이의 제조방법을 설명하기 위한 공정 사시도이다.2A and 2B are perspective views illustrating a probe for inspecting a flat panel display device and a method of manufacturing the same according to another embodiment of the present invention.

도 3a는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 평판표시소자 검사용 프로브 및 이의 제조방법을 설명하기 위한 사시도이고, 도 3b는 단면도이다.3A is a perspective view illustrating a probe for inspecting a flat panel display device and a method of manufacturing the same according to still another embodiment of the present invention, and FIG. 3B is a cross-sectional view.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 평판표시소자 검사용 프로브를 구비한 프로브 조립체를 나타내는 사시도이다.4 is a perspective view illustrating a probe assembly having a probe for inspecting a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 평판표시소자 검사용 프로브를 구비한 프로브 조립체를 나타내는 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a probe assembly having a probe for inspecting a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10, 30 : 보강판 12, 32, 52 : 제 1 걸림턱10, 30: reinforcement plate 12, 32, 52: first locking jaw

14, 34, 54 : 중앙홈 16, 36, 56 : 제 2 걸림턱14, 34, 54: central groove 16, 36, 56: second locking jaw

18, 38, 58 : 슬릿 20, 40, 60 : 니들18, 38, 58: Slit 20, 40, 60: Needle

22, 42, 62 : 에폭시22, 42, 62: epoxy

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법은, 사각판 형상의 강성 재질의 보강판 상면의 일측변에서 마주보는 타측변까지 길이방향의 중앙홈을 형성함으로써 상기 보강판 상면에 서로 마주보는 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱을 형성하는 단계; 상기 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱 상부에 상기 중앙홈과 연결되는 복수의 슬릿을 형성하는 단계; 상기 슬릿 및 중앙홈 내부에 양측 단부가 보강판 외부로 돌출되도록 소정길이의 니들을 위치시키는 단계; 상기 니들을 접착제를 이용하여 상기 보강판 상에 고정하는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.Method for manufacturing a flat panel display inspection probe according to the present invention for achieving the above object, the reinforcement by forming a central groove in the longitudinal direction from one side of the upper surface of the reinforcing plate of the rigid plate of the rectangular plate shape to the other side facing Forming a first projection jaw and a second projection jaw facing each other on the upper surface of the plate; Forming a plurality of slits connected to the central groove on the first protrusion jaw and the second protrusion jaw; Positioning a needle having a predetermined length so that both ends of the slit and the central groove protrude out of the reinforcing plate; And fixing the needle on the reinforcement plate by using an adhesive.

이때, 상기 중앙홈 및 슬릿은 다이싱쏘(Dicing saw)를 사용하여 형성할 수 있고, 상기 슬릿은 상기 중앙홈과 수평을 이루거나 상기 중앙홈보다 그 깊이가 깊도록 형성함으로써 상기 슬릿 및 중앙홈 내부에 위치하는 니들의 평탄도가 상기 중앙홈의 평탄도에 의해서 결정되도록 할 수 있다.In this case, the center groove and the slit may be formed using a dicing saw, and the slit is formed horizontally with the center groove or deeper than the center groove so as to have a depth deeper than the center groove. The flatness of the needle positioned at may be determined by the flatness of the central groove.

그리고, 상기 니들은 텅스텐(W) 또는 텅스텐 합금 재질로 이루어지고, 상기 니들의 양측 단부를 날카롭게 가공하여 사용할 수 있고, 상기 접착제로 에폭시(Epoxy)를 사용할 수 있다.The needle may be made of tungsten (W) or a tungsten alloy material, and may be used by sharply processing both ends of the needle, and epoxy may be used as the adhesive.

또한, 상기 프로브를 제조한 후, 상기 제조방법에 따라 다른 프로브를 제조하여 접착제를 이용하여 서로 부착 중첩시켜 상부 프로브의 니들과 하부 프로브의 니들이 서로 수직적으로 교차하고, 상부에 위치하는 니들의 일측 끝단이 하부에 위치하는 니들의 끝단보다 외부로 돌출되며 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 부착할 수 있다.In addition, after the probe is manufactured, another probe is manufactured according to the manufacturing method and attached to each other by using an adhesive so that the needle of the upper probe and the needle of the lower probe cross each other vertically, and one end of the needle positioned at the top. It can be attached so that the total length of the upper and lower needles protruding outward and exposed to the outside than the end of the needle located in the lower portion is the same.

그리고, 상기 보강판의 하면에 대해서도 상기 중앙홈, 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱을 형성하는 단계와 상기 제 1 슬릿 및 제 2 슬릿을 형성하는 단계와 상기제 1 슬릿, 제 2 슬릿 및 중앙홈 내부에 양측 단부가 보강판 외부로 돌출되도록 소정길이의 니들을 위치시키는 단계와 상기 니들을 접착제를 이용하여 상기 보강판 하면에 고정하는 단계를 더 수행할 수 있다.And forming the center groove, the first protrusion jaw and the second protrusion jaw, and the first slit and the second slit, and the first slit, the second slit, and the center of the lower surface of the reinforcing plate. Positioning the needle of a predetermined length so that both ends protrude out of the reinforcement plate in the groove and fixing the needle to the lower surface of the reinforcement plate using an adhesive.

또한, 상기 보강판 상면의 니들과 하면의 니들이 서로 수적으로 교차하고, 상기 보강판의 상면에 위치하는 일측 니들의 끝단이 하면에 위치하는 니들의 끝단보다 외부로 돌출되며 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 부착됨이 바람직하다.In addition, the needle of the upper surface of the reinforcement plate and the needle of the lower surface cross each other, the end of one side of the needle located on the upper surface of the reinforcement plate protrudes outward than the end of the needle located on the lower surface of the upper and lower needles exposed to the outside It is preferable to attach so that the total length is the same.

그리고, 상기 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱에 형성되는 슬릿의 간격이 서로 상이하도록 형성할 수 있다.The slits formed in the first protrusion jaw and the second protrusion jaw may be formed to be different from each other.

또한, 본 발명에 따른 평판표시소자 검사용 프로브는, 보강판 하부에 접착수단에 의해서 복수의 접촉체가 소정간격 이격되어 일렬로 나열 부착되어 있는 평판표시소자 검사용 프로브에 있어서, 상기 프로브는, 사각판 형상으로써 일변에서 마주보는 타측변까지 길이방향의 중앙홈이 상면에 형성됨으로써 상기 중앙홈 일측 주변부에 제 1 돌출턱이 형성되고 상기 중앙홈 타측 주변부에 제 2 돌출턱이 형성된 강성 재질의 보강판; 상기 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱 상부에 상기 중앙홈과 연결되록 형성된 복수의 슬릿; 및 상기 슬릿 내부에 삽입되어 상기 보강판 일측 및 타측으로 돌출되도록 위치된 후 접착제에 의해서 고정된 상기 접촉체로써의 니들;을 구비하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.In the flat display device inspection probe according to the present invention, a plurality of contact members are arranged in a line with a plurality of contacts spaced apart at predetermined intervals by a bonding means under the reinforcing plate. A reinforcement plate made of a rigid material having a plate shape in which a central groove in a longitudinal direction is formed on an upper surface from one side to the other side facing the first side, and a first protrusion is formed at one periphery of the central groove, and a second protrusion is formed at the periphery of the central groove. ; A plurality of slits formed to be connected to the central groove on the first protrusion jaw and the second protrusion jaw; And a needle inserted into the slit and positioned to protrude to one side and the other side of the slit, and then the needle as the contact member fixed by an adhesive.

여기서, 상기 프로브 상에 다른 프로브를 중첩 부착시켜 상부 프로브의 니들과 하부 프로브의 니들이 서로 수직적으로 교차하고 상부에 위치하는 니들의 일측끝단이 하부에 위치하는 니들의 끝단보다 외부로 돌출되며 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 됨이 바람직하다.Here, the other probes are superimposed on the probes so that the needles of the upper probe and the needle of the lower probe vertically cross each other, and one end of the needle positioned at the upper portion protrudes to the outside than the end of the needle at the lower portion and is exposed to the outside. It is desirable that the total lengths of the upper and lower needles be the same.

그리고, 상기 프로브 상에 중첩되는 프로브는 2층이상 복층으로 이루어질 수 있고, 상기 프로브의 보강판 하면에 상기 중앙홈, 제 1 돌출턱, 제 2 돌출턱 및 슬릿이 더 형성되어 상기 보강팡 하면에 형성된 슬릿에 삽입 부착되는 니들과 상기 보강판 상면에 형성된 슬릿에 삽입 부착되는 니들이 서로 수직적으로 교차하고 상기 보강판 상면에 위치하는 니들의 일측 끝단이 상기 보강판 하면에 위치하는 니들의 끝단보다 외부로 돌출됨이 바람직하다.The probe overlapping the probe may be formed of two or more layers, and the center groove, the first protruding jaw, the second protruding jaw, and the slit are further formed on the lower surface of the reinforcing plate of the probe, so that The needle inserted into the formed slit and the needle inserted into the slit formed on the upper surface of the reinforcing plate cross each other vertically, and one end of the needle positioned on the upper surface of the reinforcing plate is outward from the end of the needle located on the lower surface of the reinforcing plate. It is preferable to protrude.

그리고, 상기 니들은 텅스텐(W) 또는 텅스텐 합금 재질써 양측 단부가 날카롭게 가공되고, 상기 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱 상의 슬릿의 간격이 서로 상이할 수 있고, 상기 보강판은 세라믹 재질로 이루어질 수 있다.In addition, the needle may be sharply processed at both ends by tungsten (W) or tungsten alloy material, and gaps between slits on the first protrusion and the second protrusion may be different from each other, and the reinforcement plate may be made of ceramic material. Can be.

또한, 본 발명에 따른 평판표시소자 검사용 프로브 조립체는, 검사 대상체의 검사부위와 직접 접촉하는 접촉체를 구비한 프로브가 하면에 고정되는 프로브 블록과 상기 프로브 블록을 고정하는 프로브 홀더와 상기 프로브 홀더와 연결되어 물리력에 의해서 상기 프로브 블록이 상하 유동이 발생할 수 있도록 하는 매뉴플레이터(Manuplator)를 구비하는 평판표시소자 검사용 프로브 조립체에 있어서, 상기 프로브 블록은 내측으로 소정각도 경사진 경사면이 형성되고, 상기 프로브 블록의 경사면에 사각판 형상으로써 일측변에서 마주보는 타측변까지 길이방향의 중앙홈이 상면에 형성됨으로써 상기 중앙홈 일측 주변부에 제 1 돌출턱이 형성되고 상기 중앙홈 타측 주변부에 제 2 돌출턱이 형성된 강성 재질의 보강판과 상기제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱 상부에 상기 중앙홈과 연결되는 복수의 슬릿 및 상기 슬릿 내부에 삽입되어 상기 보강판 일측으로 돌출되도록 위치된 후 접착제에 의해서 고정된 상기 접촉체로써의 니들을 구비한 프로브가 고정되어 있는 것을 특징으로 한다.In addition, the probe assembly for inspecting a flat panel display device according to the present invention, a probe block having a contact body in direct contact with the inspection region of the inspection object is fixed to the lower surface, a probe holder for fixing the probe block and the probe holder A probe assembly for inspecting a flat panel display device having a manipulator for connecting the probe block to a vertical force by a physical force, wherein the probe block has an inclined surface inclined at a predetermined angle therein. In the inclined surface of the probe block, a rectangular groove is formed on the upper surface of the central groove in the longitudinal direction from the one side to the other side facing from the one side, so that a first protruding jaw is formed at the periphery of the central groove and the second periphery at the other periphery of the central groove. On the reinforcement plate of the rigid material formed with a projection jaw and the first projection jaw and the second projection jaw And a probe having a plurality of slits connected to the central groove and needles as the contact bodies fixed in the slit and inserted into the slit and protruding toward one side of the reinforcing plate and fixed by an adhesive.

여기서, 상기 프로브 블록과 프로브는 접착제에 의해서 서로 접착되거나 고정나사에 의해서 서로 고정될 수 있고, 상기 프로브의 일측 니들은 접촉체로 사용되고 타측 니들은 TCP(Tape Carrier Package)와 가이드 필름(Guide film)를 매개로 서로 연결될 수 있다.Here, the probe block and the probe may be bonded to each other by an adhesive or may be fixed to each other by a fixing screw, one needle of the probe is used as a contact and the other needle is a tape carrier package (TCP) and a guide film (Guide film) It can be connected to each other via a medium.

그리고, 상기 프로브 블록에 부착되는 프로브는 2층 이상 복층으로 이루어지고, 상기 2층 이상 복층으로 이루어지는 프로브의 니들의 상측 니들은 하측에 위치하는 니들과 수직적으로 교차하도록 위치하고, 상부에 위치하는 상기 프로브의 니들의 일측 끝단이 하부에 위치하는 프로브의 니들의 끝단보다 수평방향으로 돌출되며 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 구성됨이 바람직하다.The probe attached to the probe block is formed of two or more layers, and the upper needle of the needle of the two or more layers of the probe is positioned to vertically intersect with the needle located below the probe. One end of the needle of the protruding in the horizontal direction than the end of the needle of the probe located in the lower portion is preferably configured so that the total length of the upper and lower needles exposed to the same.

또한, 상기 프로브 블록체 부착되는 프로브의 보강판 하면에 상기 중앙홈, 제 1 돌출턱, 제 2 돌출턱 및 슬릿이 더 형성되어 상기 보강판 하면에 형성된 슬릿에 삽입 부착되는 니들과 상기 보강판 상면에 형성된 슬릿에 형성된 슬릿에 삽입 부착되는 니들이 서로 수직적으로 교차하고 상기 보강판 상면에 위치하는 니들의 일측 끝단이 상기 보강판 하면에 위치하는 니들의 끝단보다 외부로 돌출되며 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 구성됨이 바람직하다.In addition, the center groove, the first protruding jaw, the second protruding jaw and a slit are further formed on a lower surface of the reinforcing plate of the probe to be attached to the probe block, and the needle and the upper surface of the reinforcing plate are inserted into and attached to the slit formed on the lower surface of the reinforcing plate. Needles inserted into and attached to the slits formed in the slits vertically cross each other, and one end of the needle positioned on the upper surface of the reinforcement plate protrudes to the outside than the end of the needle positioned on the lower surface of the reinforcement plate and is exposed to the outside. Preferably, the lengths are configured to be the same.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1a 내지 도 1e는 본 발명의 일 실시예에 따른 평판표시소자 검사용 프로브 및 이의 제조방법을 설명하기 위한 공정 흐름도이다.1A to 1E are flowcharts illustrating a flat panel display inspection probe and a method of manufacturing the same according to an embodiment of the present invention.

본 발명에 따른 평판표시소자 검사용 프로브 및 이의 제조방법은, 도 1a에 도시된 바와 같이 사각판 형상으로써 세라믹(Ceramic) 등과 같은 강성재질의 보강판(10)을 준비한다. 그리고, 상기 보강판(10) 상면의 일측변에서 마주보는 타측변까지 길이방향의 중앙홈(14)을 형성함으로써 보강판(10) 상면에 서로 마주보는 제 1 돌출턱(12) 및 제 2 돌출턱(16)을 형성한다.The probe for inspecting a flat panel display device and a method of manufacturing the same according to the present invention, as shown in Figure 1a to prepare a reinforcing plate 10 of a rigid material such as ceramic (Ceramic). In addition, by forming the central groove 14 in the longitudinal direction from the one side of the upper surface of the reinforcing plate 10 to the other side facing each other, the first protruding jaw 12 and the second protrusion facing each other on the upper surface of the reinforcing plate 10 The jaw 16 is formed.

이때, 상기 중앙홈(124)은 다이싱쏘(Dicing saw) 등을 이용하여 형성할 수 있다.In this case, the center groove 124 may be formed using a dicing saw or the like.

다음으로, 도 1b에 도시된 바와 같이 보강판(10) 상의 제 1 걸림턱(12) 및 제 2 걸림턱(16)에 복수의 니들(Needle)이 삽입될 수 있는 소정폭 및 깊이로써 중앙홈(14)과 연결되는 복수의 슬롯(Slot : 18a)을 다이싱쏘(Dicing saw) 등을 이용하여 형성한다.Next, as shown in FIG. 1B, the central groove has a predetermined width and depth in which a plurality of needles may be inserted into the first and second locking jaws 12 and 16 on the reinforcing plate 10. A plurality of slots 18a connected to 14 are formed by using a dicing saw or the like.

이때, 상기 제 1 걸림턱(12) 및 제 2 걸림턱(14) 상에 형성되는 각 슬롯(18a, 18b)은 도 1c에 도시된 바와 같이 동일간 간격으로 형성하여 제 1 걸림턱(12)에 형성된 슬롯(18b)과 제 2 걸림턱(16)에 형성된 각 슬롯(18a)이 서로 마주보도록 형성하거나 제 1 걸림턱(12)에 형성된 슬롯(18b)은 조밀하게 형성하고 제 2 걸림턱(16)에 형성된 슬롯(18a)은 뛰엄뛰엄 즉, 성기게 형성하거나 그 반대로 형성할 수도 있다.At this time, each of the slots (18a, 18b) formed on the first engaging jaw 12 and the second engaging jaw 14 are formed at equal intervals as shown in Figure 1c, the first engaging jaw 12 The slot 18b formed in the slot 18b and the slot 18a formed in the second latching jaw 16 face each other, or the slot 18b formed in the first latching jaw 12 is densely formed and the second latching jaw ( The slot 18a formed in 16 may be jumpy, that is, formed coarse or vice versa.

특히, 상기 슬롯(18a, 18b)의 형성 깊이는 바람직하게는 중앙홈(14)과 수평을 이루도록 형성하고 또는 상기 중앙홈(14)보다 깊게 형성함으로써 슬릿(18a, 18b)에 위치하는 니들의 평탄도가 중앙홈(14)의 평탄도에 의해서 결정되도록 함이 바람직하다.In particular, the depth of formation of the slots 18a and 18b is preferably formed to be parallel to the center groove 14 or deeper than the center groove 14 to flatten the needles positioned in the slits 18a and 18b. Preferably, the degree is determined by the flatness of the central groove 14.

계속해서, 도 1d에 도시된 바와 같이 보강판(10)의 제 1 걸림턱(12) 및 제 2 걸림턱(16)에 형성된 슬롯(18a, 18b)에 단부가 날카롭게 가공된 소정길이 및 직경의 니들(20)을 위치시킨다.Subsequently, as shown in FIG. 1D, the predetermined lengths and diameters of which edges are sharply processed in the slots 18a and 18b formed in the first and second latching jaws 12 and 16 of the reinforcing plate 10 are provided. Place the needle 20.

이때, 상기 니들(20)은 보강판(10) 외측으로 돌출될 수 있는 소정길이를 가진 것을 사용함으로써 일단은 평판표시소자의 검사부위와 직접 접촉하는 접촉체로 사용되고 타단은 TCP(Tape Carrier Package)와 연결되는 연결체로 사용된다. 그리고, 상기 니들(20)은 텅스텐 또는 텅스텐 합금 재질로 이루어질 수 있다.In this case, the needle 20 has a predetermined length that can protrude to the outside of the reinforcing plate 10, one end is used as a contact directly in contact with the inspection portion of the flat panel display element and the other end is TCP (Tape Carrier Package) It is used as a connecting body. In addition, the needle 20 may be made of tungsten or a tungsten alloy material.

마지막으로, 도 1e에 도시된 바와 같이 제 1 걸림턱(12) 및 제 2 걸림턱(16)에 형성된 슬롯(18a, 18b)에 니들(20)이 위치한 보강판(10) 상에 에폭시(Epoxy : 22) 등의 접착제를 도포 경화함으로써 보강판(10)에 니들(20)을 부착하여 프로브를 완성한다.Lastly, as illustrated in FIG. 1E, epoxy is formed on the reinforcing plate 10 in which the needles 20 are positioned in the slots 18a and 18b formed in the first and second locking projections 12 and 16. : A needle 20 is attached to the reinforcing plate 10 by applying and curing an adhesive such as 22) to complete the probe.

도 2a 및 도 2b는 본 발명의 다른 실시예에 따는 평판표시소자 검사용 프로브 및 이의 제조방법을 설명하기 위한 사시도이다.2A and 2B are perspective views illustrating a flat panel display inspection probe and a method of manufacturing the same according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 다른 실시에에 따른 평판표시소자 검사용 프로브 및 이의 제조방법은, 도 2a에 도시된 바와 같이 전술한 제 1 실시예에 따른 프로브의 보강판(10) 상부에 동일한 제조방법에 의해서 제조된 다른 프로브의 보강판(30)을 위치시킨다.A probe for inspecting a flat panel display device and a method of manufacturing the same according to another embodiment of the present invention are manufactured by the same manufacturing method on the upper part of the reinforcing plate 10 of the probe according to the first embodiment as shown in FIG. 2A. The reinforcing plate 30 of the other probe.

이때, 상기 상부에 위치하는 프로브도 제 1 실시예에 따른 프로브와 동일한 제조공정에 의해서 제 1 걸림턱(32), 제 2 걸림턱(36) 상에 중앙홈(34)과 연결되는 슬릿(38a, 38b)이 형성되고, 상기 슬릿(38a, 38b) 내부에 니들(40)이 위치하여 에폭시(42) 등의 접착제에 의해서 부착 고정되어 있다.In this case, the slit 38a connected to the central groove 34 on the first locking jaw 32 and the second locking jaw 36 by the same manufacturing process as that of the probe according to the first embodiment is also provided. , 38b) are formed, and the needle 40 is positioned inside the slits 38a and 38b, and is attached and fixed by an adhesive such as epoxy 42 or the like.

마지막으로, 도 2b에 도시된 바와 같이 하부 프로브와 상부 프로브를 에폭시(도시되지 않음) 등의 접착제를 이용하여 서로 부착 중첩시킨다.Finally, as shown in FIG. 2B, the lower probe and the upper probe are attached and overlapped with each other using an adhesive such as an epoxy (not shown).

이때, 상부 프로브의 니들(40)과 하부 프로브의 니들(20)은 서로 수직적으로 교차하고, 상부에 위치하는 니들(40)의 일측 끝단이 하부에 위치하는 니들(20)의 끝단보다 외부로 돌출되며 전기 및 물리적 특성 조건이 동일하도록 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 중첩되어 있다. 그리고, 상기 일측단의 니들(40, 20)이 평판표시소자의 검사부위와 직접 접촉하는 접촉체로 사용되고 타단의 TCP(Tape Carrier Package)와 연결되는 연결체로 사용된다.At this time, the needle 40 of the upper probe and the needle 20 of the lower probe vertically cross each other, and one end of the needle 40 positioned at the upper portion protrudes outward from the end of the needle 20 positioned at the lower portion thereof. The total lengths of the upper and lower needles exposed to the outside are the same so that the electrical and physical characteristic conditions are the same. In addition, the needles 40 and 20 at one end are used as a contact member directly contacting the inspection portion of the flat panel display device, and used as a connector connected to a tape carrier package (TCP) at the other end.

그리고, 본 실시예에서는 중첩되는 것에 한정하여 설명하였지만 제작자에 따라 2층 이상 복층으로 제조할 수 있음은 당연하다 할 것이다.In the present embodiment, the present invention is limited to overlapping, but it will be obvious that two or more layers can be manufactured according to the manufacturer.

또한, 하부 프로브와 상부 프로브의 부착 중첩 방향은 제작자에 따라 선택적으로 선택함으로써 하부 프로브의 보강판(10) 상에 바로 상부 프로브의 보강판(30)을 접촉 부착할 수도 있을 것이다.In addition, the attachment overlap direction of the lower probe and the upper probe may be selectively attached to the reinforcement plate 30 of the upper probe directly on the reinforcement plate 10 of the lower probe by selectively selecting according to the manufacturer.

도 3a는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 평판표시소자 검사용 프로브 및 이의 제조방법을 설명하기 위한 사시도이고, 도 3b는 단면도이다.3A is a perspective view illustrating a probe for inspecting a flat panel display device and a method of manufacturing the same according to still another embodiment of the present invention, and FIG. 3B is a cross-sectional view.

본 발명의 또 다른 실시예에 따른 평판표시소자 검사용 프로브 및 이의 제조방법은, 도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이 전술한 제 1 실시예에 따른 프로브의 보강판(10) 하면에 대해서도 전술한 제 1 실시예와 동일하게 중앙홈(54), 제 1 돌출턱(52) 및 제 2 돌출턱(56)을 형성하는 공정과 제 1 슬릿(58b) 및 제 2 슬릿(58a : 도시되지 않음)을 형성하는 공정과 상기 제 1 슬릿(58b), 제 2 슬릿(58a) 및 중앙홈(54) 내부에 양측 단부가 보강판(10) 외측으로 돌출되도록 소정길이의 하부 니들(60)을 위치시키는 공정과 상기 하부 니들(60)을 보강판(10) 하면에 에폭시(62) 등의 접착제를 이용하여 부착 고정하는 공정을 더 수행하는 것에 특징이 있다.A probe for inspecting a flat panel display device and a method of manufacturing the same according to another embodiment of the present invention, as shown in FIGS. 3A and 3B, also described above with respect to the bottom surface of the reinforcing plate 10 of the probe according to the first embodiment. Similarly to the first embodiment, the process of forming the central groove 54, the first projection jaw 52 and the second projection jaw 56 and the first slit 58b and the second slit 58a are not shown. ) And the lower needle 60 having a predetermined length so that both ends thereof protrude out of the reinforcing plate 10 in the first slit 58b, the second slit 58a, and the central groove 54. And the step of fixing the lower needle 60 to the lower surface of the reinforcing plate 10 by using an adhesive such as an epoxy 62.

이때, 상기 보강판(10) 상면의 니들(20)과 하면의 니들(60)은 서로 수직적으로 교차하고, 상기 보강판(10)의 상면에 위치하는 일측 니들(20)의 끝단이 하면에 위치하는 니들(60)의 끝단보다 외부로 돌출되며 외부로 노출되는 상하 니들(20, 60)의 총길이가 동일하도록 되어 있다.At this time, the needle 20 of the upper surface of the reinforcing plate 10 and the needle 60 of the lower surface perpendicular to each other, the end of the one side needle 20 located on the upper surface of the reinforcing plate 10 is located on the lower surface The total length of the upper and lower needles 20, 60 exposed to the outside and is exposed to the outside than the end of the needle 60 is the same.

도 4는 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 평판표시소자 검사용 프로브를 구비한 프로브 조립체를 설명하기 위한 사시도이고, 도 5은 이의 단면도이다.Figure 4 is a perspective view for explaining a probe assembly having a probe for inspecting a flat panel display device according to the present invention as described above, Figure 5 is a cross-sectional view thereof.

도 4 및 도 5를 참조하면, 본 발명에 따른 프로브 조립체는 도 2b에 도시된 바와 같은 제 1 프로브(넘버링되지 않음)의 보강판(30) 및 제 2 프로브(넘버링되지 않음)의 보강판(10)이 적층된 구조로 이루어지는 다층형 프로브가 내측면으로 소정각도 경사면을 지닌 프로브 블록(Probe block : 110) 하부에 접착제 등의 고정수단에 의해서 고정되어 있다.4 and 5, the probe assembly according to the present invention includes a reinforcement plate 30 of a first probe (not numbered) and a reinforcement plate of a second probe (not numbered) as shown in FIG. 2B. 10) is a multilayered probe consisting of a laminated structure is fixed to the inner surface of the probe block (Probe block: 110) having a predetermined angle inclined surface by fixing means such as adhesive.

상기 적층된 구조로 이루어지는 다층형 프로브는, 전술한 바와 같이 상부 프로브의 니들(40)과 하부 프로브의 니들(20)은 서로 수직적으로 교차하고, 상부에위치하는 니들(40)의 일측 끝단이 하부에 위치하는 니들(20)의 끝단보다 외부로 돌출되며 전기 및 물리적 특성 조건이 동일하도록 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 중첩되어 있다.In the multilayered probe having the stacked structure, as described above, the needle 40 of the upper probe and the needle 20 of the lower probe vertically cross each other, and one end of the needle 40 positioned on the upper portion is lowered. The total length of the upper and lower needles that protrude outward from the ends of the needles 20 positioned at and exposed to the outside so that the electrical and physical characteristic conditions are the same are overlapped.

이때, 상기 적층된 구조의 프로브는 프로브 블록(110)의 경사면에 고정나사 등의 부착 고정수단에 의해서 서로 고정될 수 있으며, 상기 프로브 블록(110)은 투명성을 확보하기 위해 아크릴(Acryle) 등과 투명재질로 제작할 수도 있다.In this case, the stacked structures of the probes may be fixed to each other by attachment fixing means such as fixing screws on the inclined surface of the probe block 110, and the probe blocks 110 may be transparent such as acrylic to secure transparency. It can also be made of materials.

또한, 상기 프로브 블록(110) 상부에 제 1 인터페이스 보드(112)가 위치되고, 상기 제 1 인테페이스 보드(112) 상부에 프로브 홀더(116)가 위치되어 고정나사(118)에 의해서 서로 체결 고정되어 있다.In addition, a first interface board 112 is positioned on the probe block 110, and a probe holder 116 is positioned on the first interface board 112 and fastened to each other by a fixing screw 118. have.

이때, 상기 제 1 인터페이스 보드(112)와 프로브 홀더(116)는 고정핀(122)에 의해서 서로 체결됨으로써 더욱 체결력이 강화되도록 되어 있다.At this time, the first interface board 112 and the probe holder 116 are fastened to each other by being fastened to each other by the fixing pin 122.

그리고, 상기 프로브 블록(110) 내측방향의 제 1 인터페이스 보드(112) 하측면에 제 2 인터페이스 보드(114)가 역시 고정핀(120)에 의해서 체결 고정되어 있고, 상기 제 2 인터페이스 보드(114) 하측면에 TCP(Tape Carrier Package : 124))가 부착 고정되어 있다.In addition, the second interface board 114 is fastened to the lower surface of the first interface board 112 in the probe block 110 by the fixing pin 120, and the second interface board 114 is fixed. TCP (Tape Carrier Package: 124) is attached and fixed to the lower side.

여기서, 상기 프로브 블록(110)의 경사면에 부착 고정된 다층형 프로브의 니들(20,40)의 일단과 TCP(124)의 연결 관계를 보다 상세히 살펴보면, 다층형 프로브의 니들(20, 40) 일단이 가이드 필름(126)에 형성된 홀(넘버링되지 않음)을 통해서 안내를 받으며 TCP(124)에 구현된 패턴과 연결되어 있다.Here, the connection relationship between one end of the needles 20 and 40 of the multilayer probe attached to the inclined surface of the probe block 110 and the TCP 124 will be described in more detail, one end of the needles 20 and 40 of the multilayer probe. Guided through holes (not numbered) formed in the guide film 126 and connected to the pattern implemented in the TCP (124).

그리고, 상기 프로브 홀더(116)와 메뉴플레이터(128)가 고정나사(132)에 의해서 서로 체결되어 있으며, 상기 메뉴플레이터(128)와 연결된 프로브 홀더(116)는 테스트 과정의 상하 물리력(F)에 의해서 상하로 유동이 발생할 수 있도록 되어 있다.In addition, the probe holder 116 and the menu plater 128 are fastened to each other by the fixing screw 132, and the probe holder 116 connected to the menu plater 128 has a vertical force F of a test process. ) Can flow up and down.

보다 상세히 설명하면, 상기 프로브 홀더(116) 일측과 메뉴플레이터(128) 타측이 가이드 레일(Guide rale : 130)에 의해서 서로 체결됨으로써 테스트 과정의 상하 물리력(F)에 의해서 프로브 홀더(116)와 연결된 제 1 인터페이스 보드(112), 프로브 블록(110)이 상하로 유동할 수 있도록 되어 있다.In more detail, one side of the probe holder 116 and the other side of the menu plate 128 are fastened to each other by a guide rail 130, and the probe holder 116 and the upper and lower physical force F of the test process are fastened. The first interface board 112 and the probe block 110 connected to each other may flow upward and downward.

특히, 상기 프로브 홀더(116)와 메뉴플레이터(128)를 연결하는 고정나사(132) 주변부에는 소정의 탄성력을 지닌 스프링(134)이 내설됨으로써 테스트 과정의 상하 물리력(F)에 의해서 상하로 유동된 프로브 홀더(116)와 연결된 제 1 인터페이스 보드(112) 및 프로브 블록(110)이 스프링(134)의 탄성력에 의해서 원래의 위치로 복원되도록 되어 있다.In particular, a spring 134 having a predetermined elastic force is installed in the periphery of the fixing screw 132 connecting the probe holder 116 and the menu plate 128 to flow up and down by the vertical force F of the test process. The first interface board 112 and the probe block 110 connected to the probe holder 116 are restored to their original positions by the elastic force of the spring 134.

따라서, 일련의 평판표시소자 제조공정의 수행에 의해서 제조된 평판표시소자를 프로빙 장치로 이동시킨 후, 프로브 블록(40)을 다른 이동수단에 의해서 상하로 이동하며 평판표시소자의 전극패드에 소정의 물리력(F)을 가하며 평판표시소자에 대한 전기적 테스트 공정을 수행한다.Therefore, after the flat panel display device manufactured by performing a series of flat panel display device manufacturing processes is moved to the probing apparatus, the probe block 40 is moved up and down by other moving means, and the predetermined electrode pad of the flat panel display device is moved. Applying a physical force (F) to perform an electrical test process for the flat panel display device.

이때, 상기 프로브 블록(40) 하부의 다층형 프로브의 니들(20, 40)는 평판표시소자의 전극패드와 접촉하게 되고, 프로빙 장치에서 인가되는 전기신호는 TCP(Tape Carrier Package : 124)를 통해서 프로브의 니들(20, 40)를 통해서 평판표시소자의 전극패드에 인가된다.In this case, the needles 20 and 40 of the multilayer probe below the probe block 40 come into contact with the electrode pads of the flat panel display device, and the electrical signal applied from the probing apparatus is transmitted through a tape carrier package (TCP). It is applied to the electrode pad of the flat panel display device through the needle (20, 40) of the probe.

본 실시예에서는, 도 2b에 도시된 다층형 프로브에 대해서 한정하여 본 발명에 따른 프로브 조립체를 설명하였지만 제작자에 따라 도 1 및 도 3에 도시된 본 발명에 따른 프로브를 프로브 블록에 응용 부착할 수 있음은 당연하다 할 것이다.In this embodiment, the probe assembly according to the present invention has been described with reference to the multilayer probe shown in FIG. 2B. However, depending on the manufacturer, the probe according to the present invention shown in FIGS. 1 and 3 may be attached to the probe block. Yes it will be natural.

본 발명에 의하면, 강성 재질의 보강판에 다이싱쏘 및 니들 부착 공정 등에 의해서 프로브를 간편하게 제작할 수 있다.Advantageous Effects of Invention According to the present invention, a probe can be easily produced by a dicing saw, a needle attaching process, or the like on a rigid plate made of a rigid material.

따라서, 공정시간을 줄여 생산성을 높일 수 있는 효과가 있다.Therefore, there is an effect that can increase the productivity by reducing the process time.

이상에서는 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명하였지만 본 발명의 기술 사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속하는 것은 당연한 것이다.Although the present invention has been described in detail only with respect to the described embodiments, it will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications can be made within the spirit of the present invention, and it is obvious that such changes and modifications belong to the appended claims.

Claims (23)

사각판 형상의 강성 재질의 보강판 상면의 일측변에서 마주보는 타측변까지 길이방향의 중앙홈을 형성함으로써 상기 보강판 상면에 서로 마주보는 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱을 형성하는 단계;Forming a first protruding jaw and a second protruding jaw facing each other on the upper surface of the reinforcing plate by forming a central groove in a longitudinal direction from one side of the upper surface of the reinforcing plate of the rigid plate having a rectangular plate shape to the other side thereof facing; 상기 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱 상부에 상기 중앙홈과 연결되는 복수의 슬릿을 형성하는 단계;Forming a plurality of slits connected to the central groove on the first protrusion jaw and the second protrusion jaw; 상기 슬릿 및 중앙홈 내부에 양측 단부가 보강판 외부로 돌출되도록 소정길이의 니들을 위치시키는 단계;Positioning a needle having a predetermined length so that both ends of the slit and the central groove protrude out of the reinforcing plate; 상기 니들을 접착제를 이용하여 상기 보강판 상에 고정하는 단계;Fixing the needle onto the reinforcement plate using an adhesive; 를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법.Method of manufacturing a flat display device inspection probe comprising a. 제 1 항에 있어서, 상기 중앙홈 및 슬릿은 다이싱쏘(Dicing saw)를 사용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법.The method of claim 1, wherein the center groove and the slit are formed using a dicing saw. 제 1 항에 있어서, 상기 슬릿은 상기 중앙홈과 수평을 이루거나 상기 중앙홈보다 그 깊이가 깊도록 형성함으로써 상기 슬릿 및 중앙홈 내부에 위치하는 니들의 평탄도가 상기 중앙홈의 평탄도에 의해서 결정되도록 하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법.The method of claim 1, wherein the slit is formed to be parallel to the center groove or deeper than the center groove so that the flatness of the needle located inside the slit and the center groove by the flatness of the center groove Method of manufacturing a probe for inspecting flat panel display, characterized in that to be determined. 제 1 항에 있어서, 상기 니들은 텅스텐(W) 또는 텅스텐 합금 재질로 이루어지고, 상기 니들의 양측 단부를 날카롭게 가공하여 사용하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법.The method of claim 1, wherein the needle is made of tungsten (W) or a tungsten alloy material, and the both ends of the needle are sharply processed. 제 1 항에 있어서, 상기 접착제로 에폭시(Epoxy)를 사용하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법.The method of manufacturing a probe for inspecting a flat panel display device according to claim 1, wherein epoxy is used as the adhesive. 제 1 항에 있어서, 상기 프로브를 제조한 후, 상기 제조방법에 따라 다른 프로브를 제조하여 접착제를 이용하여 서로 부착 중첩시켜 상부 프로브의 니들과 하부 프로브의 니들이 서로 수직적으로 교차하고, 상부에 위치하는 니들의 일측 끝단이 하부에 위치하는 니들의 끝단보다 외부로 돌출되며 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 부착하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법.The method according to claim 1, wherein after the probe is manufactured, another probe is manufactured according to the manufacturing method and attached to each other using an adhesive so that the needle of the upper probe and the needle of the lower probe cross each other vertically, A method of manufacturing a flat panel display probe according to claim 1, wherein one end of the needle protrudes outward from the end of the needle positioned at the bottom and is attached such that the total length of the upper and lower needles exposed to the outside is the same. 제 1 항에 있어서, 상기 보강판의 하면에 대해서도 상기 중앙홈, 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱을 형성하는 단계와 상기 제 1 슬릿 및 제 2 슬릿을 형성하는 단계와 상기 제 1 슬릿, 제 2 슬릿 및 중앙홈 내부에 양측 단부가 보강판 외부로 돌출되도록 소정길이의 니들을 위치시키는 단계와 상기 니들을 접착제를 이용하여 상기 보강판 하면에 고정하는 단계를 더 수행하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자검사용 프로브의 제조방법.The method of claim 1, further comprising: forming the center groove, the first protrusion jaw, and the second protrusion jaw on the bottom surface of the reinforcing plate, the first slits and the second slits, and the first slits and the first slits. Positioning the needle of a predetermined length so that both ends are projected to the outside of the reinforcement plate in the slit and the center groove and fixing the needle to the lower surface of the reinforcement plate using an adhesive Method for manufacturing a device inspection probe. 제 7 항에 있어서, 상기 보강판 상면의 니들과 하면의 니들이 서로 수적으로 교차하고, 상기 보강판의 상면에 위치하는 일측 니들의 끝단이 하면에 위치하는 니들의 끝단보다 외부로 돌출되며 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 부착하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법.The needle of the upper surface of the reinforcement plate and the needle of the lower surface cross each other, the end of one side of the needle located on the upper surface of the reinforcement plate protrudes to the outside than the end of the needle located on the lower surface and exposed to the outside Method for manufacturing a flat panel display inspection probe characterized in that the total length of the upper and lower needles are attached to be the same. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱에 형성되는 슬릿의 간격이 서로 상이하도록 형성하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브의 제조방법.The method of claim 1, wherein the interval between the slits formed on the first projection jaw and the second projection jaw is different from each other. 보강판 하부에 접착수단에 의해서 복수의 접촉체가 소정간격 이격되어 일렬로 나열 부착되어 있는 평판표시소자 검사용 프로브에 있어서,In the probe for inspecting flat panel display elements in which a plurality of contacts are attached to the lower part of the reinforcing plate by a bonding unit in a line at a predetermined interval. 상기 프로브는,The probe, 사각판 형상으로써 일변에서 마주보는 타측변까지 길이방향의 중앙홈이 상면에 형성됨으로써 상기 중앙홈 일측 주변부에 제 1 돌출턱이 형성되고 상기 중앙홈 타측 주변부에 제 2 돌출턱이 형성된 강성 재질의 보강판;Reinforcement of the rigid material having a rectangular plate shape in which a central groove in the longitudinal direction is formed on the upper surface from one side to the other side facing the first side, and a first protrusion is formed at the periphery of the central groove and a second protrusion is formed at the periphery of the central groove. plate; 상기 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱 상부에 상기 중앙홈과 연결되록 형성된 복수의 슬릿; 및A plurality of slits formed to be connected to the central groove on the first protrusion jaw and the second protrusion jaw; And 상기 슬릿 내부에 삽입되어 상기 보강판 일측 및 타측으로 돌출되도록 위치된 후 접착제에 의해서 고정된 상기 접촉체로써의 니들;A needle inserted into the slit and positioned to protrude to one side and the other of the reinforcing plate and fixed to the contact member by an adhesive; 을 구비하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브.Probe for inspecting flat panel display element comprising a. 제 10 항에 있어서, 상기 프로브 상에 다른 프로브를 중첩 부착시켜 상부 프로브의 니들과 하부 프로브의 니들이 서로 수직적으로 교차하고 상부에 위치하는 니들의 일측 끝단이 하부에 위치하는 니들의 끝단보다 외부로 돌출되며 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브.The needle of claim 10, wherein the other probes are superimposed on the probes so that the needles of the needles of the upper probe and the needles of the lower probes cross each other perpendicularly, and one end of the needle located at the upper portion protrudes outward from the end of the needle at the lower portion. And the total length of the upper and lower needles exposed to the outside is the same. 제 11 항에 있어서, 상기 프로브 상에 중첩되는 프로브는 2층이상 복층으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브.12. The probe for inspecting a flat panel display device according to claim 11, wherein the probes overlapping the probes are formed of two or more layers. 제 10 항에 있어서, 상기 프로브의 보강판 하면에 상기 중앙홈, 제 1 돌출턱, 제 2 돌출턱 및 슬릿이 더 형성되어 상기 보강팡 하면에 형성된 슬릿에 삽입 부착되는 니들과 상기 보강판 상면에 형성된 슬릿에 삽입 부착되는 니들이 서로 수직적으로 교차하고 상기 보강판 상면에 위치하는 니들의 일측 끝단이 상기 보강판 하면에 위치하는 니들의 끝단보다 외부로 돌출되도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브.The needle of claim 10, wherein the center groove, the first protruding jaw, the second protruding jaw, and a slit are further formed on a lower surface of the reinforcing plate of the probe and inserted into and attached to a slit formed on the lower surface of the reinforcing plate. Needles inserted into and attached to the formed slit perpendicular to each other and one end of the needle positioned on the upper surface of the reinforcing plate protrudes outward than the end of the needle located on the lower surface of the reinforcing plate Probe. 제 10 항에 있어서, 상기 니들은 텅스텐(W) 또는 텅스텐 합금 재질로써 양측단부가 날카롭게 가공되어 있는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브.12. The probe for inspecting a flat panel display device according to claim 10, wherein the needle is made of tungsten (W) or a tungsten alloy, and both ends thereof are sharply processed. 제 10 항에 있어서, 상기 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱 상의 슬릿의 간격이 서로 상이한 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브.12. The probe for inspecting a flat panel display device according to claim 10, wherein intervals between the slits on the first projection jaw and the second projection jaw are different from each other. 제 10 항에 있어서, 상기 보강판은 세라믹 재질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브.The probe of claim 10, wherein the reinforcing plate is made of a ceramic material. 검사 대상체의 검사부위와 직접 접촉하는 접촉체를 구비한 프로브가 하면에 고정되는 프로브 블록과 상기 프로브 블록을 고정하는 프로브 홀더와 상기 프로브 홀더와 연결되어 물리력에 의해서 상기 프로브 블록이 상하 유동이 발생할 수 있도록 하는 매뉴플레이터(Manuplator)를 구비하는 평판표시소자 검사용 프로브 조립체에 있어서,The probe having a contact body directly contacting the test part of the test object may be connected to the probe block fixed to the lower surface, the probe holder fixing the probe block and the probe holder, and the probe block may be vertically flowed by physical force. In the probe assembly for inspecting a flat panel display device having a manipulator (Manuplator), 상기 프로브 블록은 내측으로 소정각도 경사진 경사면이 형성되고, 상기 프로브 블록의 경사면에 사각판 형상으로써 일측변에서 마주보는 타측변까지 길이방향의 중앙홈이 상면에 형성됨으로써 상기 중앙홈 일측 주변부에 제 1 돌출턱이 형성되고 상기 중앙홈 타측 주변부에 제 2 돌출턱이 형성된 강성 재질의 보강판과 상기 제 1 돌출턱 및 제 2 돌출턱 상부에 상기 중앙홈과 연결되는 복수의 슬릿 및 상기 슬릿 내부에 삽입되어 상기 보강판 일측으로 돌출되도록 위치된 후 접착제에 의해서 고정된 상기 접촉체로써의 니들을 구비한 프로브가 고정되어 있는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브 조립체.The probe block has an inclined surface that is inclined at a predetermined angle inward, and has a rectangular plate shape formed on the inclined surface of the probe block so that a central groove in a longitudinal direction is formed on the upper surface from the one side to the other side facing the first block. 1 protruding jaw is formed and the reinforcing plate of a rigid material formed with a second protruding jaw in the peripheral portion of the central groove and a plurality of slits connected to the central groove on the first protruding jaw and the second protruding jaw and inside the slit And a probe having a needle as the contact member which is inserted and positioned to protrude toward one side of the reinforcing plate, and fixed by an adhesive. 제 17 항에 있어서, 상기 프로브 블록과 프로브는 접착제에 의해서 서로 접착되어 있는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브 조립체.18. The probe assembly of claim 17, wherein the probe block and the probe are adhered to each other by an adhesive. 제 17 항에 있어서, 상기 프로브 블록과 프로브는 고정나사에 의해서 서로 고정되어 있는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브 조립체.18. The probe assembly of claim 17, wherein the probe block and the probe are fixed to each other by a fixing screw. 제 17 항에 있어서, 상기 프로브의 일측 니들은 접촉체로 사용되고 타측 니들은 TCP(Tape Carrier Package)와 가이드 필름(Guide film)를 매개로 서로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브 조립체.18. The probe assembly of claim 17, wherein one needle of the probe is used as a contact and the other needle is connected to each other via a TCP (Tape Carrier Package) and a guide film. 제 17 항에 있어서, 상기 프로브 블록에 부착되는 프로브는 2층 이상 복층으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브 조립체.18. The probe assembly of claim 17, wherein the probe attached to the probe block comprises two or more layers. 제 21 항에 있어서, 상기 2층 이상 복층으로 이루어지는 프로브의 니들의 상측 니들은 하측에 위치하는 니들과 수직적으로 교차하도록 위치하고, 상부에 위치하는 상기 프로브의 니들의 일측 끝단이 하부에 위치하는 프로브의 니들의 끝단보다 수평방향으로 돌출되며 외부로 노출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브 조립체.The probe of claim 21, wherein an upper needle of the needle of the probe having two or more layers is positioned to vertically intersect with a needle positioned at a lower side, and one end of the needle of the probe located at an upper portion of the probe is located at a lower portion of the probe. A probe assembly for inspecting a flat panel display device, characterized in that the total length of the upper and lower needles projecting in a horizontal direction than the end of the needle and exposed to the outside is the same. 제 17 항에 있어서, 상기 프로브 블록체 부착되는 프로브의 보강판 하면에 상기 중앙홈, 제 1 돌출턱, 제 2 돌출턱 및 슬릿이 더 형성되어 상기 보강판 하면에 형성된 슬릿에 삽입 부착되는 니들과 상기 보강판 상면에 형성된 슬릿에 형성된 슬릿에 삽입 부착되는 니들이 서로 수직적으로 교차하고 상기 보강판 상면에 위치하는 니들의 일측 끝단이 상기 보강판 하면에 위치하는 니들의 끝단보다 외부로 돌출되며 외부로 돌출되는 상하 니들의 총길이가 동일하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 평판표시소자 검사용 프로브 조립체.The needle of claim 17, wherein the center groove, the first protruding jaw, the second protruding jaw, and a slit are further formed on a lower surface of the reinforcing plate of the probe to be attached to the probe block body, and the needle is inserted into and attached to the slit formed on the lower surface of the reinforcing plate. Needles inserted into and attached to slits formed on the slit formed on the upper surface of the reinforcing plate vertically cross each other, and one end of the needle positioned on the upper surface of the reinforcing plate protrudes outward from the end of the needle positioned on the lower surface of the reinforcing plate and protrudes outward. A probe assembly for inspecting a flat panel display device, characterized in that the total length of the upper and lower needles is the same.
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