KR20060108426A - Probe unit for inspecting liquid crytal display panel - Google Patents

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KR20060108426A
KR20060108426A KR1020050030803A KR20050030803A KR20060108426A KR 20060108426 A KR20060108426 A KR 20060108426A KR 1020050030803 A KR1020050030803 A KR 1020050030803A KR 20050030803 A KR20050030803 A KR 20050030803A KR 20060108426 A KR20060108426 A KR 20060108426A
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Abstract

본 발명은 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 관한 것으로, 액정 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있는 TAB(Tape Automated Bonding) IC가 존재하는 구동시트를 액정 디스플레이 패널에 접촉시켜 검사를 수행할 수 있도록, 구동시트를 프로브블록에 접합시킴으로써, 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브 유니트의 구성부품을 감소시킬 수 있는 효과가 있다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a probe unit for inspecting a liquid crystal display panel, and includes a driving sheet in which a driving sheet having a tape automated bonding (TAB) IC capable of driving the liquid crystal display panel is in contact with the liquid crystal display panel to perform inspection. By attaching to the probe block, the transmission line can be shortened to reduce noise of the signal, thereby preventing inspection error and reducing the components of the probe unit.

액정, 디스플레이, 프로브, 유니트, 접속 LCD, Display, Probe, Unit, Connection

Description

액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 { Probe unit for inspecting liquid crytal display panel }Probe unit for inspecting liquid crytal display panel}

도 1은 종래 기술에 따른 프로브 유니트의 분해사시도1 is an exploded perspective view of a probe unit according to the prior art

도 2는 종래 기술에 따른 프로브유니트가 프로브장치의 프로브마운트에 조립된 상태의 조립단면도Figure 2 is an assembled cross-sectional view of the probe unit according to the prior art assembled to the probe mount of the probe device

도 3은 종래 기술에 따른 프로브유니트의 프로브시트에 대한 부분사시도Figure 3 is a partial perspective view of the probe sheet of the probe unit according to the prior art

도 4는 도 2의 "A"부분에 대한 확대도4 is an enlarged view of a portion “A” of FIG. 2;

도 5는 본 발명에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트의 분해사시도5 is an exploded perspective view of a probe unit for inspecting a liquid crystal display panel according to the present invention;

도 6은 본 발명에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 있는 구동시트의 평면도6 is a plan view of a driving sheet in a probe unit for inspecting a liquid crystal display panel according to the present invention;

도 7은 본 발명에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트가 결합된 상태의 단면도7 is a cross-sectional view of a state in which a probe unit for inspecting a liquid crystal display panel according to the present invention is coupled;

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

100 : 프로브 유니트 120 : 프로브 블록100: probe unit 120: probe block

126a,126b : 결합공 130 : 구동 시트 126a, 126b: coupling hole 130: driving seat

132 : TAB IC 135 : 전극라인132: TAB IC 135: electrode line

161a,161b : 결합홈 171a : 고정나사161a, 161b: coupling groove 171a: fixing screw

150 : FPC 접속시트150: FPC Connection Sheet

본 발명은 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 관한 것으로, 보다 상세하게는 액정 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있는 TAB(Tape Automated Bonding) IC가 존재하는 구동시트를 액정 디스플레이 패널에 접촉시켜 검사를 수행할 수 있도록, 구동시트를 프로브블록에 접합시킴으로써, 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브 유니트의 구성부품을 감소시킬 수 있는 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 관한 것이다.The present invention relates to a probe unit for inspecting a liquid crystal display panel, and more particularly, an inspection can be performed by contacting a liquid crystal display panel with a driving sheet having a tape automated bonding (TAB) IC capable of driving the liquid crystal display panel. By attaching the driving sheet to the probe block, the transmission line is shortened to reduce the noise of the signal, thereby preventing the inspection error and to reduce the component of the probe unit. .

일반적으로, 액정디스플레이 패널(Liquid Crystal Display Panel)이 제조되면, 제조된 패널의 전기적, 광학적 이상 여부를 검사하는 공정을 수행한다.In general, when a liquid crystal display panel is manufactured, a process of inspecting an electrical or optical abnormality of the manufactured panel is performed.

이러한, 검사를 수행하여 패널의 불량품을 가려내기 때문에, 검사 공정은 반드시 시행되고 있다.Since the inspection is performed to screen out defective products on the panel, the inspection process is necessarily performed.

도 1은 종래 기술에 따른 프로브 유니트의 분해사시도로서, 프로브 유니트(10)는 프로브블록(12)과; 상기 프로브블록(12)의 선단에 접합되어 피검사체와 접 촉하는 프로브시트(20)와; 상기 프로브시트(20)의 후단에 클램프부재(40)로써 압착되어 프로브시트(20)와 서로 접속되는 연결시트(30)와; 상기 연결시트(30)의 후단에 접착되는 FPC(Flexible Printed Circuit) 접속시트(50)을 포함하여 구성된다. 1 is an exploded perspective view of a probe unit according to the prior art, wherein the probe unit 10 includes a probe block 12; A probe sheet 20 bonded to the tip of the probe block 12 and in contact with the object under test; A connection sheet 30 which is compressed to the rear end of the probe sheet 20 by a clamp member 40 and connected to the probe sheet 20 and to each other; It is configured to include a flexible printed circuit (FPC) connection sheet 50 bonded to the rear end of the connection sheet 30.

이런 프로브유니트(10)는 도 2에 도시된 바와 같이, 프로브마운트(1)에 폭방향을 따라 일정한 간격을 두고 복수개가 탈착가능하게 설치되어 각각 액정 디스플레이 패널과 같은 피검사체(3)를 검사하는데 사용된다.  As shown in FIG. 2, a plurality of the probe units 10 are detachably installed at regular intervals along the width direction of the probe mount 1 to inspect the inspected object 3 such as a liquid crystal display panel. Used.

그리고, 프로브유니트(10)는 프로브마운트(1)에 고정나사(11)로써 고정되는 프로브블록(12)을 구비하고, 선단에는 프로브시트(20)가 부착된다. The probe unit 10 includes a probe block 12 fixed to the probe mount 1 by a fixing screw 11, and a probe sheet 20 is attached to the tip.

상기 고정나사(11)는 프로브마운트(1)와 프로브블록(12)을 관통하여 하단에 고정블록(14)이 체결됨으로써 프로브블록(12)을 프로브마운트(1)에 탈착가능하게 고정된다. The fixing screw 11 penetrates the probe mount 1 and the probe block 12 so that the fixing block 14 is fastened to the bottom thereof so that the probe block 12 is detachably fixed to the probe mount 1.

그리고, 도면부호 13은 고정블록(14)이 안착하는 홈을 나타낸다. In addition, reference numeral 13 denotes a groove in which the fixing block 14 is seated.

또한, 상기 프로브시트(20)의 길이방향 뒤쪽 선단에는 연결시트(30)가 클램프부재(40)로써 압착되어 프로브시트(20)와 접속된다. In addition, the connection sheet 30 is crimped with the clamp member 40 at the rear end of the probe sheet 20 in the longitudinal direction to be connected to the probe sheet 20.

이 연결시트(30)는 프로브시트(20)의 각 배선(24)들에 대응하는 배선이 절연성 필름에 형성되고, 프로브시트(20)가 피검사체(3)로부터 검출한 신호를 입력받아서 구동신호를 출력하는 TAB IC(32)가 표면에 실장되어 있다. The connection sheet 30 has a wiring corresponding to each of the wirings 24 of the probe sheet 20 formed on the insulating film, and receives a signal detected by the probe sheet 20 from the test object 3 to drive signals. The TAB IC 32 which outputs the WB is mounted on the surface.

그리고, 연결시트(30)와 프로브시트(20)는 양측 배선들이 서로 맞닿게 접촉한 상태에서 클램프부재(40)로써 압착되어 서로 접속된다. In addition, the connection sheet 30 and the probe sheet 20 are crimped with the clamp member 40 and connected to each other in a state in which both wires contact each other.

더불어, 상기 클램프부재(40)는 상부 고정편(40a)과 하부 고정편(40b)으로 이루어지고, 이들 상부 고정편(40a)과 하부 고정편(40b)은 프로브블록(12)을 관통한 고정나사(42)에 의해 서로 체결되면서 그 사이에 포개어지는 프로브시트(20)의 선단과 연결시트(30)의 선단을 서로 압착하여 고정하고, 프로브블록(12)의 저면에 형성된 오목홈(15)안에 삽입된다. In addition, the clamp member 40 is composed of an upper fixing piece 40a and a lower fixing piece 40b, and the upper fixing piece 40a and the lower fixing piece 40b are fixed to penetrate the probe block 12. The concave groove 15 formed on the bottom surface of the probe block 12 is fixed by pressing the tip of the probe sheet 20 and the tip of the connection sheet 30 that are fastened to each other by screws 42 and overlapped therebetween. It is inserted inside.

상기 연결시트(30)의 후단에 FPC 접속시트(50)가 배선끼리 서로 접속되게 접합되어 프로브블록(12)의 후단에서 길게 연장되고, FPC 접속시트(50)의 후단에는 인쇄회로기판(60)과 접속하는 접촉부(52)를 구비한다. The FPC connection sheet 50 is connected to the rear end of the connection sheet 30 so that the wires are connected to each other so as to extend in the rear end of the probe block 12, and to the rear end of the FPC connection sheet 50, the printed circuit board 60. And a contact portion 52 to be connected with each other.

그리고, 상기 접촉부(52)는 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이, FPC 접속시트(50)의 후단에 접합되는 블록(53)과, 상기 블록(53)에 접합되어 FPC 접속시트(50)의 표면을 돌출되게 지지하는 돌출부(54)로 이루어지고, 상기 돌출부(54)의 표면에는 환형의 돌기(54a)가 길이방향을 따라 배선과 동일한 간격으로 배치되어 있어 FPC 접속시트(50)의 배선(51)을 돌출되게 지지함으로써 인쇄회로기판(60)의 배선과 접속된다. 2 and 4, the contact portion 52 is joined to the rear end of the FPC connection sheet 50, and the FPC connection sheet 50 is joined to the block 53. And a projection 54 for supporting the surface of the projection 54. An annular projection 54a is disposed on the surface of the projection 54 at the same interval as the wiring along the longitudinal direction. The support 51 is projected so as to be connected to the wiring of the printed circuit board 60.

도 3은 종래 기술에 따른 프로브 유니트의 프로브시트에 대한 부분사시도로서, 프로브시트(20)는 폴리아미드와 같은 절연성 필름(22)에 폭방향을 따라 일정한 간격을 둔 복수개의 배선(24)이 형성되고, 앞쪽 선단에 절연고무판(26)이 부착되어 있다. 3 is a partial perspective view of the probe sheet of the probe unit according to the prior art, the probe sheet 20 is formed with a plurality of wirings 24 at regular intervals along the width direction in an insulating film 22 such as polyamide. An insulating rubber plate 26 is attached to the front end.

이와 같은, 종래 기술의 프로브 유니트는 프로브 시트와 연결시트를 접속하고, 연결시트와 FPC 접속시트를 접속하는 공정을 수행하는 등 프로브 유니트를 결합하는 공정이 복잡하고, 클래프 부재 및 프로브 시트와 같은 구성부품이 필요하여 제조 경비가 높아지는 문제점이 있다.Such a probe unit of the prior art has a complicated process of coupling the probe unit, such as connecting the probe sheet and the connection sheet, and connecting the connection sheet and the FPC connection sheet. There is a problem that the manufacturing cost is increased because the component is required.

또한, 프로브 시트와 연결시트의 접속과 연결시트와 FPC 접속시트의 접속 중 어느 하나에서 오류가 발생되는 경우, 검사 오류가 발생되는 문제점이 있었다.In addition, when an error occurs in any one of the connection of the probe sheet and the connection sheet and the connection of the connection sheet and the FPC connection sheet, there was a problem that a test error occurs.

더불어, 프로브 시트, TAB IC가 존재하는 연결시트와 FPC 접속시트 등이 구비됨으로, 검사를 수행하기 위한 전송라인이 길어지기 때문에 신호의 노이즈가 발생될 우려가 있다.In addition, since a probe sheet, a connection sheet in which a TAB IC is present, and an FPC connection sheet are provided, there is a fear that a noise of a signal is generated because the transmission line for performing the inspection is lengthened.

본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 액정 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있는 TAB IC가 존재하는 구동시트를 액정 디스플레이 패널에 접속시켜 검사를 수행할 수 있도록, 구동시트를 프로브블록에 접합시킴으로써, 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브 유니트의 구성부품을 감소시킬 수 있는 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트를 제공하는 데 목적이 있다.In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a method of bonding a drive sheet to a probe block so as to perform inspection by connecting a drive sheet having a TAB IC capable of driving a liquid crystal display panel to a liquid crystal display panel. It is an object of the present invention to provide a probe unit for inspecting a liquid crystal display panel which can shorten a transmission line, thereby reducing noise in a signal, thereby preventing an inspection error and reducing components of the probe unit.

상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 양태(樣態)는, A preferred aspect for achieving the above objects of the present invention,

하부 선단에 안착홈이 형성되어 있는 프로브블록과; A probe block having a seating groove formed at a lower end thereof;

복수개의 전극라인들을 구비되어 있고, 상기 복수개의 전극라인들을 통하여 액정 디스플레이 패널로 구동신호를 출력하는 TAB IC가 구비되어 있고, 상부 선단에 체결부재가 접착되어 있고, 상기 프로브블록의 안착홈에 상기 체결부재가 삽입되고, 상기 프로브블록의 하부면에 체결수단에 의해 체결되어 있는 구동시트와; A plurality of electrode lines, a TAB IC for outputting a driving signal to the liquid crystal display panel through the plurality of electrode lines, a fastening member attached to an upper end thereof, and a seating groove of the probe block A driving seat inserted into the fastening member and fastened to a lower surface of the probe block by a fastening means;

상기 구동시트와 본딩되고, 상기 구동시트의 복수개의 전극라인들과 전기적으로 연결되는 복수개의 전극라인들을 갖는 FPC(Flexible Printed Circuit) 접속시트를 포함하여 이루어진 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트가 제공된다.Provided is a probe unit for inspecting a liquid crystal display panel including a flexible printed circuit (FPC) connection sheet bonded to the driving sheet and having a plurality of electrode lines electrically connected to the plurality of electrode lines of the driving sheet.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 5는 본 발명에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트의 분해사시도로서, 프로브 유니트(100)는 하부 선단에 안착홈(125)이 형성되어 있는 프로브블록(120)과; 복수개의 전극라인들을 구비되어 있고, 상기 복수개의 전극라인들을 통하여 액정 디스플레이 패널로 구동신호를 출력하는 TAB IC(132)가 구비되어 있고, 상부 선단에 체결부재(160)가 접착되어 있고, 상기 프로브블록(120)의 안착홈(125)에 상기 체결부재(160)가 삽입되고, 상기 프로브블록(120)의 하부면에 체결수단에 의해 체결되어 있는 구동시트(130)와; 상기 구동시트(130)와 본딩되고, 상기 구동시트(130)의 복수개의 전극라인들과 전기적으로 연결되는 복수개의 전극라인들을 갖는 FPC(Flexible Printed Circuit) 접속시트(150)를 포함하여 구성된다.5 is an exploded perspective view of a probe unit for inspecting a liquid crystal display panel according to the present invention, wherein the probe unit 100 includes a probe block 120 having a recess 125 formed at a lower end thereof; A plurality of electrode lines are provided, and a TAB IC 132 is provided to output a driving signal to the liquid crystal display panel through the plurality of electrode lines, and a fastening member 160 is attached to an upper end thereof. A driving seat 130 inserted into the mounting recess 125 of the block 120 and fastened to a lower surface of the probe block 120 by a fastening means; And a flexible printed circuit (FPC) connection sheet 150 bonded to the driving sheet 130 and having a plurality of electrode lines electrically connected to the plurality of electrode lines of the driving sheet 130.

여기서, 상기 TAB IC(132)는 상기 체결부재(160)가 접착되어 있는 구동시트(130) 면(面)의 반대면에 노출되어 있는 것이 바람직하다.Here, the TAB IC 132 is preferably exposed to the surface opposite the surface of the driving sheet 130 to which the fastening member 160 is bonded.

그리고, 상기 구동시트(130)는 FPC 접속시트(150)와 탭(Tab)본딩되어 양자의 전극라인들은 전기적 연결 및 본딩된다.In addition, the driving sheet 130 is bonded to the FPC connection sheet 150 and the tab (Tab) so that both electrode lines are electrically connected and bonded.

또한, 상기 구동시트(130)의 선단에 있는 전극라인은 피검사체인 액정 디스플레이 패널의 전극라인과 접속되어 검사를 수행한다.In addition, the electrode line at the tip of the driving sheet 130 is connected to the electrode line of the liquid crystal display panel of the test object to perform the inspection.

따라서, 본 발명은 액정 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있는 TAB IC가 존재하는 구동시트를 액정 디스플레이 패널에 접촉시켜 검사를 수행할 수 있도록, 구동시트를 프로브블록(120)에 접합시킴으로써, 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브 유니트의 구성부품을 감소시킬 수 있는 장점이 있다.Therefore, in the present invention, the transmission sheet is shortened by bonding the driving sheet to the probe block 120 so that the driving sheet including the TAB IC capable of driving the liquid crystal display panel is brought into contact with the liquid crystal display panel to perform inspection. It is possible to reduce the noise of the reject signal, thereby preventing inspection errors, and to reduce the components of the probe unit.

도 6은 본 발명에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 있는 구동시트의 평면도로서, 구동시트(130)는 중앙에 TAB IC(132)가 위치되어 있고, 일측과 타측에는 복수개의 전극라인들(135)이 노출되어 있다.6 is a plan view of a driving sheet in a probe unit for inspecting a liquid crystal display panel according to the present invention, wherein the driving sheet 130 has a TAB IC 132 positioned at the center thereof, and a plurality of electrode lines at one side and the other side thereof. 135) is exposed.

여기서, 일측에 노출된 전극라인들은 액정 디스플레이 패널의 전극라인들과 전기적으로 접촉되어 액정 디스플레이 패널을 동작시켜 각 픽셀의 동작상태를 검사하기 위한 것이고, 타측에 노출된 전극라인들은 FPC 접속시트(150)와 연결하기 위한 것이다.Here, the electrode lines exposed at one side are electrically contacted with the electrode lines of the liquid crystal display panel to operate the liquid crystal display panel to inspect the operation state of each pixel, and the electrode lines exposed at the other side are the FPC connection sheet 150. ) To connect to.

도 7은 본 발명에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트가 결합된 상태의 단면도로서, 먼저, 도 5에 도시된 바와 같이, 프로브블록(120)에는 상부에서 안착홈(125)까지 관통하는 복수개의 결합공(126a,126b)이 형성되어 있고, 구동시트(130)의 선단에 존재하는 체결부재(160)에는 상기 복수개의 결합공(126a,126b)과 대응되는 위치에 복수개의 결합홈(161a,160b)이 형성되어 있다,FIG. 7 is a cross-sectional view of a probe unit for inspecting a liquid crystal display panel according to an exemplary embodiment of the present invention. First, as shown in FIG. 5, a plurality of penetrating penetrating holes from the top to the mounting groove 125 are illustrated in FIG. 5. Coupling holes 126a and 126b are formed, and a plurality of coupling grooves 161a and 161a are formed at a position corresponding to the plurality of coupling holes 126a and 126b in the fastening member 160 existing at the tip of the driving seat 130. 160b) is formed,

이 때, 프로브블록(120)와 구동시트(130)를 체결하려면, 상기 구동시트(130) 의 선단에 존재하는 체결부재(160)는 프로브블록(120)의 하부 선단의 안착홈(125)에 삽입된다.At this time, in order to fasten the probe block 120 and the driving seat 130, the fastening member 160 existing at the front end of the driving seat 130 is placed in the seating recess 125 at the lower end of the probe block 120. Is inserted.

그리고, 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 프로브블록(120)의 결합공(126a,126b) 및 체결부재(160)의 결합홈(161a)에 고정나사(171a)가 삽입되어 체결되어 상기 구동시트(130)는 프로브 블록(120)에 고정된다.As shown in FIG. 7, a fixing screw 171a is inserted into and coupled to the coupling holes 126a and 126b of the probe block 120 and the coupling groove 161a of the fastening member 160. 130 is fixed to the probe block 120.

여기서, 상기 프로브 블록(120)의 결합공(126a) 및 체결부재(160)의 결합홈(161a) 내부에는 암나사홈이 형성되어 있고, 상기 고정나사(171a)의 외주면에 수나사홈이 형성되어 있는 경우, 상기 고정나사(171a)로 상기 구동시트(130)와 프로브 블록(120)의 결합 및 해제를 자유롭게 수행할 수 있다.Here, a female screw groove is formed in the coupling hole 126a of the probe block 120 and the coupling groove 161a of the fastening member 160, and a male screw groove is formed on the outer circumferential surface of the fixing screw 171a. In this case, the driving screw 130 and the probe block 120 may be freely coupled and released by the fixing screw 171a.

그러므로, 상기 프로브블록(120)과 구동시트(130)의 체결수단은 프로브블록(120)의 상부에서 안착홈(125)까지 관통되어 형성된 복수개의 결합공(126a)과; 상기 복수개의 결합공(126a)과 대응되도록, 구동시트(130)의 체결부재(160)에 형성된 복수개의 결합홈(161a)과; 상기 복수개의 결합공(126a)과 복수개의 결합홈(161a) 내부로 삽입되어 고정되는 고정나사(171a)로 구성된다.Therefore, the coupling means of the probe block 120 and the driving seat 130 is a plurality of coupling holes (126a) formed to penetrate through the mounting groove 125 from the upper portion of the probe block 120; A plurality of coupling grooves 161a formed in the fastening member 160 of the driving seat 130 to correspond to the plurality of coupling holes 126a; The fixing screw 171a is inserted into and fixed into the plurality of coupling holes 126a and the plurality of coupling grooves 161a.

이상 상술한 바와 같이, 본 발명은 액정 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있는 TAB IC가 존재하는 구동시트를 액정 디스플레이 패널에 접촉시켜 검사를 수행할 수 있도록, 구동시트를 프로브블록에 접합시킴으로써, 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브 유니트의 구성부품을 감소 시킬 수 있는 효과가 있다.As described above, in the present invention, the transmission sheet is bonded to the probe block by bonding the driving sheet to the probe block so that the driving sheet having the TAB IC capable of driving the liquid crystal display panel is brought into contact with the liquid crystal display panel to perform inspection. It can be shortened to reduce the noise of the signal, thereby preventing inspection error, and to reduce the components of the probe unit.

본 발명은 구체적인 예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.Although the invention has been described in detail only with respect to specific examples, it will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations are possible within the spirit of the invention, and such modifications and variations belong to the appended claims.

Claims (3)

하부 선단에 안착홈이 형성되어 있는 프로브블록과; A probe block having a seating groove formed at a lower end thereof; 복수개의 전극라인들을 구비되어 있고, 상기 복수개의 전극라인들을 통하여 액정 디스플레이 패널로 구동신호를 출력하는 TAB IC가 구비되어 있고, 상부 선단에 체결부재가 접착되어 있고, 상기 프로브블록의 안착홈에 상기 체결부재가 삽입되고, 상기 프로브블록의 하부면에 체결수단에 의해 체결되어 있는 구동시트와; A plurality of electrode lines, a TAB IC for outputting a driving signal to the liquid crystal display panel through the plurality of electrode lines, a fastening member attached to an upper end thereof, and a seating groove of the probe block A driving seat inserted into the fastening member and fastened to a lower surface of the probe block by a fastening means; 상기 구동시트와 본딩되고, 상기 구동시트의 복수개의 전극라인들과 전기적으로 연결되는 복수개의 전극라인들을 갖는 FPC(Flexible Printed Circuit) 접속시트를 포함하여 이루어진 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.And a flexible printed circuit (FPC) connection sheet bonded to the driving sheet and having a plurality of electrode lines electrically connected to the plurality of electrode lines of the driving sheet. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 TAB IC는, The TAB IC, 상기 체결부재가 접착되어 있는 구동시트 면(面)의 반대면에 노출되어 있는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.A probe unit for inspecting a liquid crystal display panel, wherein the fastening member is exposed to the opposite side of the driving sheet surface to which the fastening member is bonded. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 체결수단은, The fastening means, 프로브블록의 상부에서 안착홈까지 관통되어 형성된 복수개의 결합공과; A plurality of coupling holes formed to penetrate from the upper portion of the probe block to the seating groove; 상기 복수개의 결합공과 대응되도록, 구동시트의 체결부재에 형성된 복수개의 결합홈과; A plurality of coupling grooves formed in the fastening member of the driving seat so as to correspond to the plurality of coupling holes; 상기 복수개의 결합공과 복수개의 결합홈 내부로 삽입되어 고정되는 고정나사로 구성된 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.And a fixing screw inserted into and fixed into the plurality of coupling holes and the plurality of coupling grooves.
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100656065B1 (en) * 2005-10-25 2006-12-08 백종수 Connector for inspected the Flat Panel Display Device
KR200452194Y1 (en) * 2010-03-30 2011-02-10 (주) 루켄테크놀러지스 Probe unit of tap IC direct contact type to prevent contact failure by foreign materials
KR101020624B1 (en) * 2010-07-20 2011-03-09 주식회사 코디에스 Menufacturing method of probe unit having pressure member
KR101020625B1 (en) * 2010-10-07 2011-03-09 주식회사 코디에스 Film type probe unit and manufacturing method of the same
KR101039336B1 (en) * 2010-10-08 2011-06-08 주식회사 코디에스 Film type probe unit
KR101043818B1 (en) * 2010-08-18 2011-06-22 주식회사 프로이천 Probe unit for testing lcd panel
CN102103151A (en) * 2009-10-01 2011-06-22 寇地斯股份有限公司 Film type probe unit and manufacturing method of the same, manufacturing method and inspection method using the same of work
KR101152181B1 (en) * 2010-05-06 2012-06-15 주식회사디아이 Probe block for examining display panel and probe unit including thereor
KR101158762B1 (en) * 2010-10-19 2012-06-22 주식회사 코디에스 Film type probe unit and manufacturing method of the same
KR20140004284A (en) * 2012-06-29 2014-01-13 엘지디스플레이 주식회사 Autoprobe unit and autoprobe apparatus using the same
KR101449728B1 (en) * 2013-05-22 2014-10-17 주식회사 나노리퀴드디바이시스코리아 Base film for lcd panel test, probe block, probe unit comprising the same

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100972049B1 (en) * 2009-03-10 2010-07-22 주식회사 프로이천 Probe unit for testing panel
KR100925496B1 (en) 2009-07-09 2009-11-05 주식회사 코디에스 Menufacturing method of probe assembly having drive ic
KR101029245B1 (en) * 2010-02-03 2011-04-18 주식회사 프로이천 Probe unit for testing panel
KR101029322B1 (en) * 2010-02-03 2011-04-13 주식회사 프로이천 Probe unit for testing panel
JP5597564B2 (en) 2011-02-04 2014-10-01 株式会社日本マイクロニクス Probe device and manufacturing method thereof
KR102014428B1 (en) 2012-08-29 2019-08-27 삼성디스플레이 주식회사 Testing apparatus for display device and manufacturing method thereof

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100212276B1 (en) * 1996-06-13 1999-08-02 윤종용 Electrostatic protected lcd panel, probing apparatus and monitoring method

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100656065B1 (en) * 2005-10-25 2006-12-08 백종수 Connector for inspected the Flat Panel Display Device
CN102103151A (en) * 2009-10-01 2011-06-22 寇地斯股份有限公司 Film type probe unit and manufacturing method of the same, manufacturing method and inspection method using the same of work
KR200452194Y1 (en) * 2010-03-30 2011-02-10 (주) 루켄테크놀러지스 Probe unit of tap IC direct contact type to prevent contact failure by foreign materials
KR101152181B1 (en) * 2010-05-06 2012-06-15 주식회사디아이 Probe block for examining display panel and probe unit including thereor
KR101020624B1 (en) * 2010-07-20 2011-03-09 주식회사 코디에스 Menufacturing method of probe unit having pressure member
KR101043818B1 (en) * 2010-08-18 2011-06-22 주식회사 프로이천 Probe unit for testing lcd panel
WO2012023792A2 (en) * 2010-08-18 2012-02-23 Pro-2000 Co. Ltd. Probe unit for testing lcd panel
WO2012023792A3 (en) * 2010-08-18 2012-04-12 Pro-2000 Co. Ltd. Probe unit for testing lcd panel
CN103069281A (en) * 2010-08-18 2013-04-24 普罗-2000有限公司 Probe unit for testing LCD panel
KR101020625B1 (en) * 2010-10-07 2011-03-09 주식회사 코디에스 Film type probe unit and manufacturing method of the same
KR101039336B1 (en) * 2010-10-08 2011-06-08 주식회사 코디에스 Film type probe unit
KR101158762B1 (en) * 2010-10-19 2012-06-22 주식회사 코디에스 Film type probe unit and manufacturing method of the same
KR20140004284A (en) * 2012-06-29 2014-01-13 엘지디스플레이 주식회사 Autoprobe unit and autoprobe apparatus using the same
KR101449728B1 (en) * 2013-05-22 2014-10-17 주식회사 나노리퀴드디바이시스코리아 Base film for lcd panel test, probe block, probe unit comprising the same

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