KR20120136712A

KR20120136712A - 형광 검출 장치

Info

Publication number: KR20120136712A
Application number: KR1020110055819A
Authority: KR
Inventors: 조성호; 김성국; 김태곤
Original assignee: 삼성테크윈 주식회사
Priority date: 2011-06-09
Filing date: 2011-06-09
Publication date: 2012-12-20
Also published as: US20120313008A1

Abstract

본 발명은, 시료실 내부에 위치한 시료로부터 나온 형광을 검출하는 형광 검출 장치에 관한 것으로서, 상기 시료에 여기광을 조사하는 적어도 하나의 조명 모듈과, 상기 시료로부터 나온 형광만을 선택적으로 투과시키는 형광 선택부와, 상기 형광을 검출하는 수광부 및 상기 형광 선택부와 상기 수광부 사이에 위치하는 텔레센트릭 렌즈;를 포함하며,
상기 조명 모듈은, 빛을 내보내는 광원부와, 상기 광원부로부터 나온 빛을 평행하게 이동시키는 콜리메이션 렌즈와, 상기 콜리메이션 렌즈를 통과한 빛을 통과시키면서 여기광으로 변화시키는 여기광 선택부와, 상기 여기광 선택부를 통과한 여기광을 상기 시료로 향하게 하며, 상기 시료로부터 나온 형광은 그대로 통과시키는 빔 스플리터를 포함하는 형광 검출 장치에 관한 것이다.

Description

형광 검출 장치{Fluorescent detector}

본 발명은 형광 검출 장치에 관한 것이다.

핵산을 증폭하는 장치에 있어서, 매 사이클이 끝난 후 핵산 증폭 과정이 효과적으로 진행되었는지 여부를 검사하는 장치가 필요하다. 특히 이런 장치들은 주로 시료에서 방출하는 형광을 검출함으로써 핵산 증폭 과정이 효과적으로 진행되었는지를 판단한다. 즉 핵산에 상보적인 프로브를 부착시킨 후 이에 대해 여기광을 조사하면, 여기된 프로브가 형광을 방출하게 되는데, 이 때 발생하는 형광을 검출하는 원리이다.

하지만 형광을 검출하는 과정에 있어서 기존에 개시되었던 장치들은 모두 부피가 크며 무거운 단점이 있으며, 또한 형광 또는 여기광이 광학계를 지나는 과정에서 파장의 이동이 생겨, 여러 빛 사이에서 간섭현상이 발생하여 검출의 정확성을 떨어뜨린다. 이에 대해 본 발명은 위와 같은 문제점을 해결한 발명으로서 아래에서 자세히 설명하도록 한다.

본 발명의 일 실시예는, 시료로부터 형광을 검출하는 형광 검출 장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 일 측면에 따르면, 시료실 내부에 위치한 시료로부터 나온 형광을 검출하는 형광 검출 장치에 관한 것으로서, 상기 시료에 여기광을 조사하는 적어도 하나의 조명 모듈;과, 상기 시료로부터 나온 형광만을 선택적으로 투과시키는 형광 선택부;와, 상기 형광을 검출하는 수광부; 및 상기 형광 선택부와 상기 수광부 사이에 위치하는 텔레센트릭 렌즈;를 포함하며,

상기 조명 모듈은, 빛을 내보내는 광원부;와, 상기 광원부로부터 나온 빛을 평행하게 이동시키는 콜리메이션 렌즈;와, 상기 콜리메이션 렌즈를 통과한 빛을 통과시키면서 여기광으로 변화시키는 여기광 선택부;와, 상기 여기광 선택부를 통과한 여기광을 상기 시료로 향하게 하며, 상기 시료로부터 나온 형광은 그대로 통과시키는 빔 스플리터를 포함하는 형광 검출 장치를 제공한다.

여기서, 상기 조명모듈은 제1 방향으로 이동 가능할 수 있다.

여기서, 상기 조명모듈은 복수 개로 이루어지며, 각 조명모듈은 제1 방향을 따라서 평행하게 배치될 수 있다.

여기서, 상기 광원부는 적어도 하나의 LED 조명을 포함할 수 있다. 또 여기서, 상기 LED 조명은 상기 시료실의 수와 동일한 수로 이루어질 수 있다.

여기서, 상기 형광 선택부는 에미션 필터를 포함할 수 있다. 또 여기서, 상기 에미션 필터는 복수 개로 이루어지며, 각각의 에미션 필터는 서로 교체 가능할 수 있다.

여기서, 상기 수광부는 CCD 카메라를 포함할 수 있다.

여기서, 상기 빔 스플리터는 다이크로익 필터를 포함할 수 있다.

여기서, 상기 다이크로익 필터에 입사하는 여기광의 입사각은 40도 내지 50도가 될 수 있다.

여기서, 상기 여기광 선택부는 여기광 필터를 포함할 수 있다.

여기서, 상기 여기광 필터에 입사하는 조명의 입사각은 -5도 내지 5도이 될 수 있다.

여기서, 상기 시료는 핵산이 될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 형광 검출 성능이 좋은 형광 검출 장치를 제공할 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 형광 검출 장치를 나타낸 사시도이다.
도 2는 도 1의 형광 검출 장치의 내부를 나타낸 단면도로서, 시료에 여기광을 조사하는 과정의 도면이다.
도 3는 도 1의 형광 검출 장치의 내부를 나타낸 단면도로서, 시료로부터 나온 형광을 검출하는 과정의 도면이다.
도 4는 도 1의 조명모듈을 나타낸 사시도이다.
도 5는 도 4의 조명모듈의 내부를 나타낸 단면도이다.
도 6은 도 4의 복수 개가 연결된 조명모듈이 시료에 여기광을 조사하는 과정을 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 형광 검출 장치에 있어서, 형광 선택부의 변형예를 나타낸 사시도이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 일 실시예에 따른 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 형광 검출 장치(100)를 나타낸 사시도이며, 도 2는 도 1의 형광 검출 장치(100)의 내부를 나타낸 단면도로서, 시료(T)에 여기광(EL)을 조사하는 과정의 도면이다. 도 3는 도 1의 형광 검출 장치(100)의 내부를 나타낸 단면도로서, 시료(T)로부터 나온 형광(FL)을 검출하는 과정의 도면이다.

본 발명의 일 실시예에 관한 형광 검출 장치(100)는 조명모듈(110), 형광 선택부(120), 텔레센트릭 렌즈(130) 및 수광부(140)를 포함하고 있으며, 추가적으로 상기 구성요소들의 적어도 일부을 감싸는 하우징(150)을 포함할 수 있다.

형광 검출 장치(100)는 시료(T)가 포함하고 있는 특정 타켓의 존재 여부 또는 수량을 판단하는 장치로서, 타겟을 여기(excitation) 시킨 후 타겟이 방출하는 형광(FL)을 검출함으로써 상기 목적을 달성한다.

본 실시예에 따른 시료(T)에 포함되는 특정 타겟은 핵산(Nuclear-acid)으로서, 타겟이 되는 특정 핵산에 상보적인 프로브(probe)를 부착시킨 후 상기 프로브를 여기시키는 여기광(EL)을 조사한다. 그 후 여기된 프로브가 방출하는 형광(FL)을 검출함으로써 프로브의 존재 여부 또는 수량을 알게 되며, 이를 근거로 타겟이 되는 특정 핵산의 존재 여부 또는 수량을 알 수 있게 된다. 본 과정은 이 후 자세히 설명하도록 한다.

본 발명에 관한 형광 검출 장치(100)는 주로 핵산 증폭(PCR) 과정에서 사용될 수 있다. 즉, 본 발명에 관한 형광 검출 장치(100)는 핵산 증폭과정을 매 사이클 거친 후 핵산이 증폭된 양을 모니터링 하는 역할을 수행할 수 있다.

또한 본 발명에 관한 형광 검출 장치(100)의 대상이 되는 시료(T)는 시료부(160) 내부에 포함된다. 시료부(160)는 적어도 하나의 시료실(161)로 구성되며, 도 1에 도시된 시료부(160)는 총 96개의 시료실(161)을 포함한다.(제1 방향(D1)으로 12행, 제2 방향(D2)으로 8열) 그 중 본 실시예에서는 제1 방향(D1)으로 8행 및 제2 방향(D2)으로 6열에 해당하는 영역에 위치한 시료(T)만을 대상으로 형광 검출 장치(100)에 의한 검출을 행한다.

도 4는 도 1의 조명모듈을 나타낸 사시도이며, 도 5는 도 4의 조명모듈의 내부를 나타낸 단면도이다.

조명모듈(110)은 시료(T)에 여기광(EL)을 조사하는 기능을 하며, 광원부(111), 콜리메이션 렌즈(collimation lens)(112), 여기광 선택부(113) 및 빔 스플리터(114)를 포함한다. 조명모듈(110)은 추가적으로 이동부(115) 및, 상기 구성요소들을 내부에 포함하는 조명모듈 커버(115)를 포함할 수 있다.

조명모듈(110)은 시료부(160)의 상부에 위치하여, 제1 방향을 따라 이동이 가능하다. 또한 조명모듈(110)은 복수 개로 이루어질 수 있으며, 상기 복수 개의 조명모듈(110)은 각각 일 방향을 따라서 서로 평행하게 인접하여 배치될 수 있다.(본 실시예의 경우 제1 방향(D1)을 따라 배치됨) 이 때 각각의 조명모듈(110)을 하나의 채널(Channel)로 부를 수 있으며, 각 채널의 조명모듈(110)은 각기 다른 종류의 핵산을 검출하는 데에 사용될 수 있다. 그러기 위해서 각 채널의 조명모듈(110)은, 각기 다른 종류의 핵산들에 부착될 프로브들을 여기시키기 위해 각각 상이한 파장의 빛을 낼 수 있으며, 이를 위해서는 각 채널의 조명모듈은 서로 다른 종류의 광원부(111) 또는 서로 다른 종류의 여기광 선택부(113)를 포함할 수 있다. 도 4에 도시된 조명모듈(110)은 가로로 나열된 6열이 하나의 채널로서, 본 조명모듈(110)은 총 4개의 채널로 이루어져 있으며, 이는 한 시료실(161)에 포함된 시료(T)에 대해서 4종류의 다른 형광(FL)을 검출할 수 있다.

광원부(111)는 적어도 하나의 LED 조명을 포함한다. 이 때 LED 조명은 다양한 시료(T)를 관찰함에 있어서 이를 여기시키기 위해 필요한 파장에 따라 다양한 종류의 LED를 포함할 수 있으며, 본 실시예의 경우 470nm, 520nm, 590nm, 640nm 등의 파장을 갖는 LED가 사용될 수 있다. 그러나 본 발명은 이에 한정하지 않는다. 관찰하고자 하는 시료(T)에 따라 적절한 파장의 조명이 사용될 수 있으며, 이는 LED 조명에 한정하지 않는다.

광원부(111)가 포함하는 LED 조명의 수는 관찰하고자 하는 시료실(161)의 수와 일치하는 것이 바람직하다. 도 5를 참조하면 본 실시예의 형광 검출 장치(100)의 경우, 6열의 시료실(161)을 대상으로 검출을 하므로 광원부(111)는 6개의 LED 조명을 포함하고 있으며, 좌우 각각에 3개의 LED 조명이 제3 방향(D3)을 따라서 일렬로 나열돼 있다.

콜리메이션 렌즈(112)는 빛의 경로 상 광원부(111)의 뒤에 위치하여 있으며, 광원부(111)에 포함되는 각각 LED 조명에 콜리메이션 렌즈(112)가 하나씩 구비된다. 콜리메이션 렌즈(112)는 광원부(111)로부터 나온 빛의 진행방향을 평행하게 만드는 기능을 한다.

여기광 선택부(113)는 빛의 경로 상 콜리메이션 렌즈(112)의 뒤에 위치하여 있으며, 이는 여기광 필터(excitation filter)를 포함할 수 있다. 여기광 선택부(113)는 콜리메이션 렌즈(112)로부터 나온 빛을 받아서 시료(T)를 여기시키기 위한 특정 파장의 빛인, 여기광(EL)을 내보내는 기능을 한다. 좀 더 구체적으로는 LED 조명으로부터 나온 빛은 파장에 대해서 가우시안(Gaussian) 분포를 가지는 데, 상기 빛이 여기광 필터를 거치면서 특정 영역의 파장을 제외한 나머지 빛은 통과되지 않으며, 특정 영역의 파장을 갖는 빛만 구분되어 통과된다.

본 실시예에서 여기광 선택부(113)는 3개의 LED 조명에서 나온 빛들에 대해 하나의 여기광 필터를 구비하고 있으나, 본 발명은 이에 한정하지 않으며, 여기광 선택부는 각 LED 조명마다 별개의 여기광 필터를 포함할 수 있다.

이 때 콜리메이션 렌즈(112)를 통과하면서 평행 광으로 변한 빛은 여기광 필터에 입사되는 데, 상기 여기광 필터에 대한 상기 빛의 입사각은 대략적으로 -5도 내지 5도인 것이 바람직하며, 0도인 것이 가장 바람직하다. 위와 같이 입사각을 가질 때, 여기광 필터를 통과하면서 발생할 수 있는 파장의 이동을 예방할 수 있으며, 파장의 정확한 제어가 가능해진다.

빔 스플리터(beam splitter)(114)는 빛의 경로 상 여기광 선택부(113)의 뒤에 위치하여 있으며, 여기광(EL)은 반사시키며 형광(FL)은 투과시키는 기능을 갖는다. 본 실시예에 따른 빔 스플리터(114)는 다이크로익 필터(Dichroic filter)를 포함할 수 있다. 다이크로익 필터는 특정한 파장의 빛은 통과시키며 나머지 파장의 빛은 반사시키는 특성을 가진 필터이다. 본 실시예의 경우 사용될 수 있는 다이크로익 필터는 시료(T)로부터 나오는 형광(FL)이 갖는 파장대의 빛을 투과시키며, 여기광(EL)의 파장을 포함한 다른 파장의 빛은 반사시키는 성질을 지닌 것이 바람직하다.

빔 스플리터(114)에는 여기광 선택부(113)로부터 나온 여기광(EL)이 입사된다. 이 때 빔 스플리터(114)에 대한 여기광(EL)의 입사각은 대략적으로 40 내지 50도인 것이 바람직하며, 45도인 것이 가장 바람직하다. 상기 입사각이 전술한 범위 내로 제한될 경우, 입사된 빛이 다이크로익 필터에서 반사되면서 생길 수 있는 파장의 이동이 발생하지 않게 되어, 광 파장의 정확한 제어는 물론, 형광(FL) 검출에 있어서 보다 정확성 높은 결과를 얻을 수 있다.

이동부(115)는 조명모듈 커버(116))의 상부에 설치되어, 조명모듈(110)이 제1 방향(D1)으로 이동하게 하는 기능을 갖는다. 본 실시예의 경우 제1 방향(D1)은 시료부(160)에서 12개의 시료실(161)이 일렬로 나열된 방향과 평행한 방향이나, 본 발명은 이에 한정하지 않으며 제1 방향은 설계자의 의도에 따라 변경될 수 있다.

본 실시예의 이동부(115)는 조명모듈(110)의 상부에 설치된 레일과, 하우징(150)의 하부에 설치된 레일이 맞물려서 설치되며, 모터(미도시)를 이용하여 이동하는 방식이다. 그러나 본 발명은 이에 한정하지 않으며, 본 발명의 이동부가 조명모듈을 일 방향으로 이동시키는 방식은 물체를 이동시키는 다른 종래의 방식을 포함할 수 있다.

형광 선택부(120)는 시료(T)로부터 나온 형광(FL)이 빔 스플리터(114)를 통과하여 입사되는 부분으로서, 형광 선택부(120)는 에미션 필터(Emission filter)를 포함할 수 있다.

형광 선택부(120)는 입사되는 빛 중에서 형광(FL)이 갖는 파장의 빛만을 통과시킨다. 즉, LED 조명으로부터 나온 빛은 시료(T)로부터 나온 형광(FL)에 비해서 훨씬 강한 빛으로서, 그대로 수광부(140)로 입사되어 검출되는 경우 검출 결과의 정확성은 현저하게 떨어지게 된다. 형광 선택부(120)는 이를 막기 위한 구성으로서, 시료(T)로부터 나온 빛이 수광부(140)로 이동하는 경로에 설치되는 것이 바람직하다. 본 실시예의 경우 형광 선택부(120)는 조명모듈(110)의 내부에 설치되었으나 본 발명은 이에 한정하지 않으며, 하우징(150) 내부에 위치할 수도 있다.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 형광 검출 장치(100)에 있어서, 형광 선택부(120)의 변형예를 나타낸 사시도이다.

도 7에서 나타낸 변형예를 참조해 보면, 형광 선택부(120)는 다수 개의 에미션 필터를 포함할 수 있으며, 필터 교체부(120a)를 포함하고 있어 상기 에미션 필터들을 상황에 맞게 교체할 수 있다.

이는 복수 개의 채널을 갖는 조명모듈(110)과 연관하여 각 채널에 의해 발생하는 각기 다른 파장의 형광(FL)을 투과시킬 수 있도록, 필터 교체부(120a)에 의한 에미션 필터의 교체가 이루어진다.

예를 들어, 제1 채널에 의해 제1 여기광 파장의 여기광(EL)이 시료(T)에 조사되는 경우 시료(T)로부터 제1 형광 파장의 형광(FL)이 나온다고 가정을 하면, 제1 형광 파장의 형광(FL)을 투과시키는 제1 에미션 필터가 필터 교체부(120a)에 의해 장착이 된다. 그 후 제2 채널에 의해 제2 여기광 파장의 여기광(EL)이 시료(T)에 조사될 때 시료(T)로부터 제2 형광(FL) 파장이 나온다면, 역시 제2 형광(FL) 파장에 맞는 제2 에미션 필터가 필터 교체부(120a)에 의해 장착되는 것이다.

따라서 필터 교체부(120a)는 각 채널의 조명모듈(110)에 의해 발생하는 서로 다른 파장의 형광(FL)에 대응하여, 이를 투과시키는 에미션 필터를 선택적으로 형광(FL) 선택부(120)에 장착하는 기능을 수행한다. 즉, 다양한 파장에 적합한 에미션 필터를 선택적으로 채택함으로써 다양한 파장의 형광(FL)을 검출할 수 있는 이점을 갖는다.

텔레센트릭 렌즈(130)는 시료(T)로부터 나온 형광(FL)이 수광부(140)로 이동하는 경로 상에 배치되어, 형광 선택부(120)를 통과한 형광(FL)이 텔레센트릭 렌즈(130)를 통과하게 된다. 텔레센트릭 렌즈(130)는 다양한 광학요소들을 포함할 수 있으며, 이들의 결합으로 이루어질 수 있다. 본 실시예의 텔레센트릭 렌즈(130)는 하나의 렌즈만을 포함하고 있으나, 본 발명은 이에 한정하지 않는다.

텔레센트릭 렌즈(130)는 이에 입사하는 빛 중에서 좁은 허용 입사각(예를 들어, -2도 내지 2도)만을 투과시킨다. 즉, 다양한 경로의 빛이 본 렌즈에 입사되는 경우 특정 방향과 대략적으로 평행한 빛만이 본 렌즈를 지나가게 된다. 위와 같이 좁은 허용 입사각을 갖는 까닭에 본 렌즈를 통과하는 과정에서 파장의 이동은 발생하지 않는다. 따라서 형광(FL)의 정밀한 파장 제어가 가능해지며, 복수 개의 채널로부터 발생하는 형광(FL)들끼리의 간섭 현상이 사라지므로 정확한 검출 결과를 얻을 수 있다. 즉, 각 채널간의 간섭이 줄어들어 깨끗한 증폭 곡선을 얻을 수 있는 장점이 있다.

수광부(140)는 시료(T)로부터 나온 형광(FL)을 검출하는 수단으로서, 다양한 종류의 검출 센서를 포함할 수 있다. 본 실시예에 따른 수광부(140)는 형광(FL)을 검출하는 센서로서 CCD 카메라(141)를 포함하고 있다.

이하에서, 본 실시예에 따른 형광(FL) 검출 장치(100)의 작동과정에 대해서 설명한다.

도 2 및 도 3을 참조하여 살펴보면, 형광(FL) 검출 장치(100)의 작동과정은 도 2에 개시된 여기광(EL) 조사과정 및, 도 3에 개시된 형광(FL) 검출 과정으로 나눌 수 있다.

먼저 도 2 및 도 5에서 나타난 바와 같이 조명모듈(110)에 의한 여기광(EL) 조사과정을 살펴보면, 우선 광원부(111)에서 빛이 나오게 된다. 이 때의 빛은 여러 방향으로 분산되어 나오게 되는데, 콜리메이션 렌즈(112)를 통과하면서 특정 방향으로 집중되어 나오게 되며 그 후 대략적으로 제2 방향(D2)에 평행하게 이동하게 된다. 콜레메이션 렌즈(112)를 통과한 빛은 여기광 선택부(113)를 지나게 되는데, 이 과정에서 타겟이 되는 시료(T)를 여기시키기 위해 필요한 여기광(EL) 파장을 선별적으로 내보내게 된다. 즉, 여기광 선택부(113)에 포함된 여기광 필터를 지나면서 특정 영역의 파장만이 여기광 선택부(113)로부터 나오게 된다. 이로부터 나온 여기광(EL)은 빔 스플리터(114)에 입사되며, 이 때 입사한 각(대략적으로 45도임)과 동일한 반사각을 가지며 여기광(EL)이 반사된다. 반사된 여기광(EL)은 제3 방향(D3)의 반대 방향으로 시료(T)에 입사하게 되며, 여기광(EL)은 대략적으로 시료(T)에 수직으로 입사하게 됨에 따라 시료(T)가 내부에서 받는 여기광(EL)의 공간적인 편차는 거의 없게 된다. 이와 같이 시료(T)에 조사된 여기광(EL)은 시료(T)를 여기시키며, 이에 따라 시료(T)로부터 형광(FL)이 발생하여 나오게 된다.

다음은 도 3을 참조하여 형광(FL) 검출 과정을 살펴본다.

시료(T)가 여기됨에 따라 형광(FL)을 방출하게 된다. 이 때 형광(FL)은 제3 방향을 따라 이동하게 되며, 이는 빔 스플리터(114)의 다이크로익 필터를 관통하여 계속 진행하게 된다. 그 후 형광(FL)은 조명모듈(110) 내부에 위치한 형광(FL) 선택부(120)를 통과하게 되며, 이 과정에서 형광(FL) 선택부(120)에 입사한 빛 중 여기광(EL)은 걸러지며 형광(FL)만이 통과하게 된다. 통과된 형광(FL)은 그 후 텔레센트릭 렌즈를 통과하면서, 텔레센트릭 렌즈에 대한 입사각이 대략적으로 -2도 내지 2도인 형광(FL)만이 통과하게 되며, 이 과정에서 평행하게 바뀐 형광(FL)은 상부에 배치된 수광부(140)에 유입되어 검출되게 된다.

도 6은 도 4의 복수 개가 연결된 조명모듈(100)이 시료(T)에 여기광(EL)을 조사하는 과정을 나타내는 도면이다.

도 6에 나타난 조명모듈(100)은 네 개의 채널의 조명모듈(110a, 110b, 110c, 110d)로 이루어져 있으며, 각 채널의 조명모듈(110a,110b,110c,110d)은 제1 방향(D1)을 따라 이동하면서 차례로 시료(T)에 여기광(EL)을 조사하게 된다. 다만 도 6에 나타난 각 과정은, 4개 채널의 조명모듈(110a,110b,110c,110d)이 각각 8행의 모든 시료실(161)에 여기광(EL)을 차례로 조사하는 모든 과정을 나타내고 있지는 않으며, 일부만 나타낸 것으로 그 순서 및 과정은 모두 하나의 예시에 불과하다.

예를 들어 제1 채널의 조명모듈(110a)이 제1 방향(D1)을 기준으로 가장 처음에 위치한 제1 시료실(160a)에 여기광(EL)을 조사한 후, 제1 방향(D1)으로 이동하여 제2 시료실(160b)에 여기광(EL)을 조사한다. 그 후 제1 방향(D1)으로 일부 이동 후 제2 채널의 조명모듈(110b)이 제1 시료실(160b)에 여기광(EL)을 조사한 후 다시 계속해서 제1 방향(D1)으로 이동하며 상기 과정을 연속해서 진행하는 방식이다.

이와 관련하여, 각 채널의 조명모듈(100)이 각 시료실에 여기광(EL)을 조사하는 경우, 각 시료(T)가 내는 형광(FL)의 파장에 맞는 에미션 필터를 필터 교체부(120a)에 의해 교체하는 것이 바람직하다.

본 발명은 첨부된 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.

100: 형광 검출 장치
110: 조명모듈 111: 광원부
112: 콜리메이션 렌즈 113: 여기광 선택부
114: 빔 스플리터 115: 이동부
116: 조명모듈 커버 120: 형광 선택부
130: 텔레센트릭 렌즈 140: 수광부
150: 하우징 160: 시료부
EL: 여기광 FL: 형광

Claims

시료실 내부에 위치한 시료로부터 나온 형광을 검출하는 형광 검출 장치에 관한 것으로서,
상기 시료에 여기광을 조사하는 적어도 하나의 조명 모듈;
상기 시료로부터 나온 형광만을 선택적으로 투과시키는 형광 선택부;
상기 형광을 검출하는 수광부; 및
상기 형광 선택부와 상기 수광부 사이에 위치하는 텔레센트릭 렌즈;를 포함하며,
상기 조명 모듈은,
빛을 내보내는 광원부;
상기 광원부로부터 나온 빛을 평행하게 만들어주는 콜리메이션 렌즈;
상기 콜리메이션 렌즈를 통과한 빛을 여기광으로 변화시키는 여기광 선택부;
상기 여기광을 상기 시료로 향하게 하며, 상기 시료로부터 나온 형광은 그대로 통과시키는 빔 스플리터를 포함하는 형광 검출 장치.
제1항에 있어서,
상기 조명모듈은 제1 방향으로 이동 가능한 형광 검출 장치.
제2항에 있어서,
상기 조명모듈은 복수 개로 이루어지며, 각 조명모듈은 제1 방향을 따라서 평행하게 배치되는 형광 검출 장치.
제1항에 있어서,
상기 광원부는 적어도 하나의 LED 조명을 포함하는 형광 검출 장치.
제4항에 있어서,
상기 LED 조명은 상기 시료실의 수와 동일한 수로 이루어지는 형광 검출 장치.
제1항에 있어서,
상기 형광 선택부는 에미션 필터를 포함하는 형광 검출 장치.
제6항에 있어서,
상기 에미션 필터는 복수 개로 이루어지며, 각각의 에미션 필터는 서로 교체 가능한 형광 검출 장치.
제1항에 있어서,
상기 수광부는 CCD 카메라를 포함하는 형광 검출 장치.
제1항에 있어서,
상기 빔 스플리터는 다이크로익 필터를 포함하는 형광 검출 장치.
제9항에 있어서,
상기 다이크로익 필터에 입사하는 여기광의 입사각은 40도 내지 50도인 형광 검출 장치.
제1항에 있어서,
상기 여기광 선택부는 여기광 필터를 포함하는 형광 검출 장치.
제11항에 있어서,
상기 여기광 필터에 입사하는 조명의 입사각은 -5도 내지 5도인 형광 검출 장치.
제1항에 있어서,
상기 시료는 핵산인 형광 검출 장치.