KR20120073434A

KR20120073434A - 스마트 카드를 테스트하는 집적 회로 및 그 구동 방법

Info

Publication number: KR20120073434A
Application number: KR1020100135202A
Authority: KR
Inventors: 김의승
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2010-12-27
Filing date: 2010-12-27
Publication date: 2012-07-05
Also published as: US20120166901A1

Abstract

집적 회로가 개시된다. 상기 집적 회로는 스캔 컨트롤러와, 상기 스캔 컨트롤러의 제어에 응답하여 스캔 입력 패턴을 수신하고 상기 스캔 입력 패턴에 따른 동작을 실행하고 실행 결과를 출력하는 타겟 로직 회로를 포함하며, 상기 스캔 컨트롤러는 상기 실행 결과와 스캔 출력 패턴의 비교 결과를 출력한다. 상기 집적 회로는 스마트 카드 내에서 중앙 처리 장치에 의하여 제어되지 않는 특정 블록을 별도의 패드를 추가하지 않고 상기 블록에 대한 스캔 테스트할 수 있다.

Description

스마트 카드를 테스트하는 집적 회로 및 그 구동 방법{AN INTEGRATED CIRCUIT TESTING SMART CARD AND A DRIVING METHOD THEREOF}

본 발명의 개념에 따른 실시 예는 디지털 회로의 테스트 장치에 관한 것으로, 특히 스마트 카드의 내부 로직 블록을 스캔 테스트할 수 있는 집적 회로 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.

디지털 회로의 효율적인 테스트를 위한 여러 가지 DFT(Design For Testability) 방법들이 있다. DFT 방법들 중 로직 회로(Logic Circuit)를 테스트하기 위해서는 스캔 테스트(Scan Test) 방법이 많이 사용된다. 스캔 테스트는 로직 회로 내의 플립플롭(Flip-Flop)을 스캔 플립플롭(Scan Flip-Flop)으로 대체(replace)시키고, 상기 스캔 플립플롭을 하나 혹은 여러 개의 쉬프트 체인(Shift Chain)으로 구성하여 테스트하는 방법이다. 스캔 테스트 방법에서는 쉬프트 입력, 병렬 로딩 및 쉬프트 출력의 세 단계가 반복적으로 수행된다.

스캔 체인에는 싱글 스캔 체인(Single Scan Chain)과 멀티 스캔 체인(Multi Scan Chain)이 있다. 상기 싱글 스캔 체인은 모든 스캔 플립플롭을 하나의 스캔 체인으로 구성한다. 상기 멀티 스캔 체인은 모든 스캔 플립플롭을 여러 개의 스캔 체인으로 구성한다. 스캔 테스트 벡터(Scan Test Vector)의 크기를 줄이기 위하여 상기 멀티 스캔 체인이 주로 사용된다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적인 과제는 스마트 카드 내 중앙 처리 장치에 의하여 제어되지 않는 특정 블록에 대하여 패드를 추가하지 않고 스캔 테스트할 수 있는 집적 회로 및 이의 구동 방법을 제공하는 것이다.

본 발명의 실시 예에 따른 집적 회로는 스캔 컨트롤러와, 상기 스캔 컨트롤러의 제어에 응답하여 스캔 입력 패턴을 수신하고 상기 스캔 입력 패턴에 따른 동작을 실행하고 실행 결과를 출력하는 타겟 로직 회로를 포함하며, 상기 스캔 컨트롤러는 상기 실행 결과와 스캔 출력 패턴의 비교 결과를 출력한다.

상기 집적 회로는, 상기 스캔 입력 패턴을 이용하여 상기 타겟 로직 회로를 테스트하는 동안, 상기 타겟 로직 회로의 입출력을 차단하는 I/O 블록커를 더 포함한다.

상기 집적 회로는 테스트 동작 시 상기 스캔 컨트롤러와 상기 I/O 블록커를 제어하는 중앙 처리 장치를 더 포함한다.

상기 스캔 컨트롤러는 상기 비교 결과를 하나의 입출력 패드를 통해서 출력하고, 상기 비교 결과는 상기 타겟 로직 회로의 스캔 테스트의 패스(pass) 또는 페일(fail)을 나타낸다.

상기 하나의 입출력 패드는 스마트 카드의 C7패드이고, 상기 스캔 컨트롤러는 상기 C7패드를 통해서 상기 비교 결과를 테스터로 출력한다.

상기 집적 회로는 상기 테스터로부터 상기 하나의 입출력 패드를 통해서 전송된 상기 스캔 입력 패턴과 상기 스캔 출력 패턴을 저장하는 메모리를 더 포함한다.

상기 집적 회로는 압축된 형태로 상기 스캔 입력 패턴 및 상기 스캔 출력 패턴을 저장하는 비휘발성 메모리를 더 포함한다.

상기 중앙 처리 장치는 상기 압축된 형태로 상기 비휘발성 메모리에 저장된 상기 스캔 입력 패턴 및 상기 스캔 출력 패턴의 압축을 해제한다.

상기 집적 회로는 스마트 카드(smart card) 또는 스마트 폰(smart-phone)에 구현될 수 있다.

본 발명의 일 실시 예에 따른 집적 회로의 구동 방법은 스캔 입력 패턴을 타겟 로직 회로로 전송하는 단계와, 상기 스캔 입력 패턴에 따른 동작을 실행하는 단계와, 상기 실행 결과와 스캔 출력 패턴의 비교 결과를 출력하는 단계를 포함한다.

상기 집적 회로의 구동 방법은 상기 비교 결과를 하나의 입출력 패드를 통해서 출력하는 단계를 더 포함하고, 상기 입출력 패드는 스마트 카드의 C7 패드이다.

상기 집적 회로의 구동 방법은 상기 입출력 패드를 통해서 전송된 상기 스캔 입력 패턴 및 상기 스캔 출력 패턴을 비휘발성 메모리에 저장하는 단계를 더 포함한다.

상기 집적 회로의 구동 방법은 상기 스캔 입력 패턴을 이용하여 상기 타겟 로직 회로를 테스트하는 동안, 상기 타겟 로직 회로의 입출력을 차단하는 단계를 더 포함한다.

본 발명의 다른 실시 예에 따른 집적 회로의 구동 방법은 압축된 스캔 입력 패턴 및 스캔 출력 패턴의 압축을 해제하는 단계와, 상기 해제된 스캔 입력 패턴을 타겟 로직 회로로 전송하는 단계와, 상기 스캔 입력 패턴에 따른 동작을 실행하는 단계와, 상기 실행 결과와 스캔 출력 패턴의 비교 결과를 출력하는 단계를 포함한다.

상기 집적 회로의 구동 방법은 상기 스캔 입력 패턴을 이용하여 상기 타겟 로직 회로를 테스트하는 동안 상기 타겟 로직 회로의 입출력을 차단하는 단계를 더 포함한다.

본 발명의 실시 예에 따른 집적 회로는 별도의 추가적인 패드 없이 스마트 카드 내에 구현된 중앙 처리 장치에 의하여 제어되지 않는 특정 블록에 대한 스캔 테스트를 할 수 있는 효과가 있다.

본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 상세한 설명이 제공된다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 스마트 카드와 테스터를 포함하는 테스트 시스템의 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 스마트 카드를 상세히 도시한 개념도이다.
도 3은 도 1에 도시된 스마트 카드의 동작을 도시한 플로우챠트이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 스마트 카드와 테스터를 포함하는 테스트 시스템의 블록도이다.
도 5는 도 4에 도시된 스마트 카드의 동작을 도시한 플로우챠트이다.
도 6은 도 1에 도시된 스마트 카드를 포함하는 컴퓨터 시스템의 일 실시 예를 나타낸다.
도 7은 도 1에 도시된 스마트 카드를 포함하는 컴퓨터 시스템의 다른 실시 예를 나타낸다.
도 8은 도 1에 도시된 스마트 카드를 포함하는 컴퓨터 시스템의 또 다른 실시 예를 나타낸다.
도 9는 도 1에 도시된 스마트 카드를 포함하는 컴퓨터 시스템의 또 다른 실시 예를 나타낸다.

본 명세서에 개시되어 있는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들에 대해서 특정한 구조적 또는 기능적 설명들은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로서, 본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 형태들로 실시될 수 있으며 본 명세서에 설명된 실시 예들에 한정되지 않는다.

본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 변경들을 가할 수 있고 여러 가지 형태들을 가질 수 있으므로 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 특정한 개시 형태들에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함한다.

제1 또는 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만, 예컨대 본 발명의 개념에 따른 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채, 제1구성요소는 제2구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2구성요소는 제1구성요소로도 명명될 수 있다.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.

본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 가진다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다.

본 발명의 일 실시 예에 따른 스마트 카드는 중앙 처리 장치(central processing unit(CPU))에 의해 제어되지 않는 블록을 포함한다. 예를 들면, 상기 블록은 랜덤 넘버 생성기(random number generator) 등을 포함한다. 즉, 상기 랜덤 넘버 생성기에 포함된 플립플롭들(Flip-Flop) 각각은 상기 중앙 처리 장치에 의하여 초기화될 수 없는 특징을 가지고 있다. 왜냐하면, 상기 랜덤 넘버 생성기는 스마트 카드에 포함된 금융 정보의 해킹(hacking)을 방지하는 기능을 수행하기 때문이다. 따라서, 상기 블록에 대해서는 독립적인 테스트 솔루션(test solution)이 필요하다.

이러한 블록을 테스터(tester)를 이용하여 스캔 테스트(scan test)하기 위해서는 적어도 4개의 패드들이 추가적으로 필요하다. 상기 스캔 테스트를 수행하기 위한 필수적인 입출력 패드로는 스캔입력(scan-in), 스캔출력(scan-out), 스캔 클럭 (scan clock), 및 스캔 모드(scan mode)가 있다.

그러나, 스마트 카드의 입출력 패드는 총 8개(C1-C8)로 제한되어 있다. 그리고 상기 스마트 카드에서 실제로 사용되는 패드로는 총 5개뿐이다. 따라서, 테스터를 이용해서 상기 스마트 카드의 특정 블록을 스캔 테스트하는 것은 불가능하다.

설사 스마트 카드의 입출력 패드를 추가해서 테스터와 스마트 카드를 연결한다고 해도, 상기 스마트 카드의 입출력 패드(C7)의 드라이브(drive) 능력이 떨어지기 때문에, 상기 스마트 카드의 스캔 테스트 결과 데이터를 상기 스마트 카드의 입출력 패드(C7)를 통해서 테스터로 전달하는 것은 실질적으로 불가능하다.

상술한 문제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 실시 예에 따른 스마트 카드는 스캔 컨트롤러를 포함한다. 상기 스캔 컨트롤러는 테스터로부터 수신된 스캔 입력 패턴을 타겟 블록(Target Block)으로 전송한다. 상기 타겟 블록은 상기 스캔 컨트롤러의 제어에 따라 수신된 스캔 입력 패턴에 따른 동작을 실행하고, 그 결과를 스캔 컨트롤러에 전송한다. 상기 스캔 컨트롤러는 실행 결과와 스캔 출력 패턴을 서로 비교하여 테스트 패스(pass) 정보 또는 테스트 페일(fail) 정보를 외부의 테스터에 전송한다.

따라서, 스마트 카드는 패드를 추가하지 않고 중앙 처리 장치에 의하여 제어되지 않는 특정 블록에 대하여 테스트할 수 있다. 상술한 본 발명의 개념에 따른 기술적 특징은 도 1 내지 도 3을 통하여 상세히 설명된다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 스마트 카드와 테스터를 포함하는 테스트 시스템의 블록도이다.

도 1을 참조하면, 테스트 시스템(100)은 스마트 카드(smart card; 10)와 스마트 카드(20)를 테스트하는 테스터(tester; 20)를 포함한다. 스마트 카드(10)는 8개의 패드들(C1-C8), 및 다이(die; 15)를 포함한다. 8개의 패드들(C1-C8) 각각에 대한 설명은 표 1을 참조한다.

표 1은 스마트 카드의 표준 패드를 나타낸다.

PAD	Function	Description
C1	Vcc	Power Supply
C2	RST	Reset signal
C3	CLK	Clock signal
C4	RFU	Reserved
C5	GND	Ground voltage supply
C6	Vpp	Not used
C7	I/O	Data transmission
C8	RFU	Reserved

스마트 카드(10)는 총 8 개의 패드들(C1-C8) 중 5개의 패드들(C1, C2, C3, C5 및 C7)만 사용한다. 즉, 5개의 패드들(C1, C2, C3, C5, 및 C7) 각각은 다이(15)에 연결되고 나머지 패드들(C4, C6 및 C8)은 사용되지 않는다.

다이(15)는 스마트 카드(10)를 구성하기 위하여 웨이퍼(wafer)로부터 잘라낸 한 조각의 칩(chip)을 의미한다. 스마트 카드(10) 또는 다이(15)의 내부 구성에 관해서는 도 2에서 상세히 설명된다.

도 2은 도 1에 도시된 스마트 카드를 상세히 도시한 블록도이다. 도 2에서는 설명의 편의를 위하여 스마트 카드(10)와 테스터(20)를 함께 도시한다.

도 1 및 도 2를 참조하면, 다이(15)는 중앙 처리 장치(1), RAM(2), I/O 인터페이스(3), 스캔 컨트롤러(4), I/O 블록커(Input/Output blocker; 5) 및 타겟 로직(6)을 포함한다. 도 2에서는 설명의 편의를 위하여 스마트 카드(10)의 패드는 I/O 패드(C7)만이 도시된다.

중앙 처리 장치(1)는 정상 동작 시 RAM(2) 및 I/O 인터페이스(3)를 제어하고, 스캔 테스트 동작 시 스캔 컨트롤러(4) 및 I/O 블록커(5)를 제어한다. RAM(2)은 스마트 카드(10)의 운영 체제(operating system(OS))을 저장하거나 중앙 처리 장치 (1)로 호출될 데이터를 저장한다. 또한, RAM(2)은 테스터(20)로부터 전송된 스캔 패턴(scan pattern(SP))을 I/O 패드(C7)을 통하여 수신하여 저장한다. I/O 인터페이스(3)는 스마트 카드(10)의 외부 장치(예를 들면, 테스터(20))와 인터페이스를 지원한다.

스캔 패턴(SP)은 스캔 입력 패턴(scan input pattern(SIP))과 스캔 출력 패턴 (scan output pattern(SOP))를 포함한다. 스캔 컨트롤러(4)는 RAM(2)으로부터 출력 된 스캔 패턴(SP) 중에서 스캔 입력 패턴(SIP)을 타겟 로직(6)으로 전송한다. 타겟 로직(6)은 스캔 컨트롤러(4)의 제어에 따라 스캔 입력 패턴(SIP)에 따른 동작을 실행한다. 스캔 컨트롤러(4)의 구체적인 동작은 도 3을 통하여 상세히 설명된다.

I/O 블록커(5)는 스캔 컨트롤러(4)가 타겟 로직(6)을 스캔 테스트하는 동안 중앙 처리 장치(1)의 오동작을 방지하기 위하여 타겟 로직(6)의 입출력을 차단(block)한다. 타겟 로직(6)은 스마트 카드(10) 내에서 독립적으로 테스트될 로직 회로를 의미한다. 설명의 편의를 위하여, 타겟 로직(6)은 싱글 스캔 체인으로 구성된 예를 도시하였으나 실시예에 따라 타겟 로직(6)은 멀티 스캔 체인으로 구성될 수 있다.

스캔 패턴(SP)은 자동 테스트 패턴 생성기(automatic test pattern generator (ATPG))에 의하여 생성된 테스트 패턴(test pattern)을 의미한다. ATPG란 타겟 로직(6)을 스캔 테스트하기 위한 스캔 패턴(SP)을 생성하는 툴(tool)이다. 스캔 패턴(SP)은 스캔 입력 패턴(SIP)과 스캔 출력 패턴(SOP)을 포함한다. 스캔 입력 패턴(SIP)은 타겟 로직(6)의 스캔 인(Scan-In(SI))로 입력된다. 스캔 출력 패턴(SOP)는 스캔 컨트롤러(6)에 의하여 타겟 로직(6)의 실행 결과(ER)와 서로 비교된다. 스캔 컨트롤러(4)는 비교 결과가 서로 동일하면 스캔 테스트의 패스 신호(pass)를 출력하고, 그렇지 않으면 페일 신호(fail)를 출력한다.

일반적으로 스마트 카드(10)를 테스트하는 테스터(20)로는 10 MHz정도의 클록(clock) 스피드(speed)를 지원하는 저가(low cost)의 장비가 사용된다. 왜냐하면, 스마트 카드(10)는 동작 클록의 스피드가 빠르지 않고 판매 단가가 매우 낮기 때문이다.

스마트 카드(10)는 금융 정보(financial Information)와 같은 보안이 요구되는 정보를 포함하고 있으므로, 외부로부터 해킹에 매우 민감하다. 상기 해킹을 방지하기 위하여, 스마트 카드(10)는 금융 정보 등을 암호화(encryption)할 수 있는 기술을 사용한다.

상기 암호화를 위하여, 스마트 카드(10)는 타겟 로직의 일 예로서 랜덤 넘버 생성기를 포함한다. 상기 랜덤 넘버 생성기는 상기 해킹을 방지하기 위하여 스마트 카드(10)의 중앙 처리 장치에 의하여 제어되지 않도록 구현된다. 예를 들면, 상기 랜덤 넘버 생성기는 외부로부터 침입 신호에 의하여 초기화되도록 구현된다. 상기 랜덤 넘버 생성기는 독립적인 테스트 솔루션이 필요하다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 스마트 카드(10)는 상기 랜덤 넘버 생성기와 같이 중앙 처리 장치(1)에 의하여 제어되지 않는 블록을 테스트하기 위하여 별도의 패드를 추가하지 않고, 상기 블록에 대한 스캔 테스트를 할 수 있다.

이러한 기능을 구현하기 위한 스캔 컨트롤러(4)의 구체적인 동작은 도 3의 플로우챠트를 참조하여 상세히 설명된다.

도 3는 도 1에 도시된 스마트 카드의 동작을 도시한 플로우챠트이다.

도 1부터 도 3을 참조하면, 스캔 테스트 동작 전에 RAM(2)은 I/O 인터페이스 (3)를 통하여 스캔 패턴(SP)을 I/O 패드(C7)를 통해서 테스터(20)로부터 수신한다. 스캔 테스트 동작 동안, I/O 블록커(5)는 중앙 처리 장치(1)의 제어에 따라 타겟 로직(6)의 입출력을 차단한다(S11).

중앙 처리 장치(1)는 RAM(2)에 저장된 스캔 패턴(SP)을 스캔 컨트롤러(4)로 전송한다(S12). 스캔 컨트롤러(4)는 스캔 패턴(SP) 중에서 스캔 입력 패턴(SIP)를 타겟 로직(6)의 스캔-인(SI)로 쉬프트(shift)한다(S13). 즉, 스캔 컨트롤러(4)는 타겟 로직(4)의 스캔 인(SI)으로 스캔 입력 패턴(SIP)을 한 비트(bit)씩 전송한다.

타겟 로직(6)은 한 클록(clock) 동안 입력된 스캔 입력 패턴(SIP)에 따른 정상 동작을 실행한다(S14). 타겟 로직(6)은 스캔 컨트롤러(4)의 제어에 응답하여 실행 결과(execution result(ER))를 스캔-아웃(scan-out(SO))을 통하여 스캔 컨트롤러(4)로 쉬프트한다(S15). 즉, 타겟 로직(6)은 실행 결과(ER)를 스캔-아웃 (SO)를 통하여 스캔 컨트롤러(4)로 한 비트씩 전송한다.

스캔 컨트롤러(4)는 실행 결과(ER)와 스캔 출력 패턴(SOP)을 서로 비교한다(S16). 실행 결과(ER)와 스캔 출력 패턴(SOP)이 서로 같으면 스캔 테스트는 패스된다. 만약 그렇지 않다면, 스캔 테스트는 페일된다.

중앙 처리 장치(1)는 스캔 패턴(SP)이 마지막 스캔 패턴인지를 판단한다(S17). 그렇다면, S18 단계를 진행한다. 그렇지 않다면, S12 단계를 진행한다.

스캔 컨트롤러(4)는 비교 결과를 I/O 패드(C7)를 통해서 테스터(20)로 전송한다(S18). 비교 결과가 서로 동일하면 스캔 컨트롤러(4)는 패스 신호(pass)를 테스터(20)로 출력하고, 그렇지 않다면, 스캔 컨트롤러(4)는 페일 신호(fail)를 테스터(20)로 출력한다. 스캔 테스트 동작이 완료되면, 중앙 처리 장치(1)는 I/O 블록커(5)에 의한 입출력 차단(blocking)을 해제한다(release; S19).

본 발명의 일 실시예와 같이 스캔 패턴(SP)은 외부의 테스터(20)로부터 전송될 수 있다. 또한, 스캔 패턴(SP)은 스마트 카드(10)에 저장될 수 있다. 스캔 패턴 (SP)은 많은 동일한 패턴의 반복을 포함하고 있으므로, 스캔 패턴이 압축된다면 스캔 패턴의 압축률은 매우 높을 것이다. 따라서, 스마트 카드(10)는 스캔 패턴을 압축된 형태로 저장하는 것이 더욱 효율적일 것이다. 본 발명의 다른 실시 예에 따른 스마트 카드는 도 4 및 도 5를 참조하여 상세히 설명된다.

도 4는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 스마트 카드와 테스터를 포함하는 테스트 시스템의 블록도이다.

도 4를 참조하면, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 테스트 시스템(200)은 스마트 카드(110)와, 스마트 카드(110)를 테스트하는 테스터(120)를 포함한다.

스마트 카드(110)는 중앙 처리 장치(101), 램(102), I/O 인터페이스(103), 스캔 컨트롤러(104), I/O 블록커(105) 및 타겟 로직(106)을 포함한다. 또한, 스마트 카드 (110)는 압축된 스캔 패턴(compressed scan pattern(CSP))을 저장하는 비휘발성 메모리, 예컨대 ROM(107)을 더 포함한다. 스캔 동작 시 중앙 처리 장치(101)는 ROM (107)에 저장된 압축된 스캔 패턴(CSP)의 압축을 해제하여 스캔 패턴(SP)을 생성한다. 스마트 카드(110)의 구체적인 동작은 도 5의 플로우챠트를 참조하여 상세히 설명된다.

도 4에 도시된 스마트 카드(110)는 ROM(107)을 제외하고 도 2에 도시된 스마트 카드(10)와 동일하다. 따라서, 중복되는 설명은 생략한다.

도 5는 도 4에 도시된 스마트 카드의 동작을 도시한 플로우챠트이다.

도 4 및 도 5를 참조하면, 중앙 처리 장치(101)는 ROM(107)에 저장된 압축된 스캔 패턴(CSP)의 압축을 해제하여 스캔 패턴(SP)을 생성한다(S21). 스캔 테스트 동작 시 I/O 블록커(105)는 중앙 처리 장치(101)의 제어에 응답하여 타겟 로직 (106)의 입출력을 차단한다(S22).

중앙 처리 장치(101)는 스캔 패턴(SP)을 스캔 컨트롤러(104)로 전송한다(S23). 스캔 컨트롤러(104)는 스캔 패턴(SP) 중에서 스캔 입력 패턴(SIP)를 타겟 로직 (106)의 스캔-인(SI)에 쉬프트(shift)한다(S24).

타겟 로직(106)은 한 클록(clock) 동안 입력된 스캔 입력 패턴(SIP)에 따른 정상 동작을 실행한다(S25). 타겟 로직(106)은 스캔 컨트롤러(104)의 제어에 응답하여 실행 결과(ER)를 스캔-아웃(SO)을 통하여 스캔 컨트롤러(104)로 쉬프트한다(S26).

스캔 컨트롤러(104)는 실행 결과(ER)와 스캔 출력 패턴(SOP)을 서로 비교한다(S27). 실행 결과(ER)와 스캔 출력 패턴(SOP)이 서로 같으면 스캔 테스트는 패스된다. 만약 그렇지 않다면, 스캔 테스트는 페일된다.

중앙 처리 장치(101)는 스캔 패턴(SP)이 마지막 스캔 패턴인지를 판단한다(S28). 그렇다면, S29 단계를 진행한다. 그렇지 않다면, S23 단계를 진행한다.

스캔 컨트롤러(104)는 비교 결과를 I/O 패드(C7)를 통해서 테스터(120)로 전송한다(S29). 비교 결과가 서로 동일하면 스캔 컨트롤러(104)는 패스 신호 (pass)를 테스터(120)로 출력하고, 그렇지 않다면 스캔 컨트롤러(104)는 페일 신호 (fail)를 테스터(120)로 출력한다. 스캔 테스트 동작이 완료되면, 중앙 처리 장치(101)는 I/O 블록커(105)에 의한 입출력 차단을 해제한다(S30).

도 6은 도 1에 도시된 스마트 카드를 포함하는 컴퓨터 시스템의 일 실시 예를 나타낸다.

도 6을 참조하면, 컴퓨터 시스템(300)은 호스트 컴퓨터(host computer; 310)와, 메모리 카드(memory card, 또는 스마트 카드(smart card); 10)를 포함한다. 컴퓨터 시스템(300)은 호스트 컴퓨터(310)와 도 1에 도시된 스마트 카드(10)를 포함한다. 실시 예에 따라 도 6에 도시된 스마트 카드(10)는 도 4에 도시된 스마트 카드(110)로 대체될 수 있다.

호스트 컴퓨터(310)는 중앙 처리 장치(320) 및 호스트 인터페이스(320)을 포함한다. 스마트 카드(10)는 메모리 장치(340), 메모리 컨트롤러(350), 및 카드 인터페이스(360)를 포함한다. 메모리 컨트롤러(350)는 메모리 장치(340)와 카드 인터페이스(360) 사이에서 데이터의 교환을 제어할 수 있다.

실시 예에 따라, 카드 인터페이스(360)는 SD(secure digital) 카드 인터페이스 또는 MMC(multi-media card) 인터페이스일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.

스마트 카드(10)가 호스트 컴퓨터(310)의 호스트 인터페이스(330)에 접속되면, 카드 인터페이스(360)는 중앙 처리 장치(320)의 프로토콜에 따라 중앙 처리 장치(320)와 메모리 컨트롤러(350) 사이에서 데이터 교환을 인터페이스할 수 있다.

실시 예에 따라 카드 인터페이스(360)는 USB(Universal Serial Bus) 프로토콜, IC(InterChip)-USB 프로토콜을 지원할 수 있다. 여기서, 카드 인터페이스라 함은 호스트 컴퓨터(310)가 사용하는 프로토콜을 지원할 수 있는 하드웨어, 상기 하드웨어에 탑재된 소프트웨어, 또는 신호 전송 방식을 의미할 수 있다.

스마트 카드(10)가 PC(personal computer), 태블릿(tablet) PC, 디지털 카메라, 디지털 오디오 플레이어, 이동 전화기, 콘솔 비디오 게임 하드웨어, 또는 디지털 셋-탑 박스와 같은 호스트 컴퓨터(310)의 호스트 인터페이스(330)와 접속될 때, 호스트 인터페이스(330)는 중앙 처리 장치(320)의 제어에 따라 카드 인터페이스 (360)와 메모리 컨트롤러(350)를 통하여 메모리 장치(340)와 데이터 통신을 수행할 수 있다.

도 7은 도 1에 도시된 스마트 카드를 포함하는 컴퓨터 시스템의 다른 실시 예를 나타낸다.

도 7을 참조하면, 도 1에 도시된 스마트 카드(10)를 포함하는 컴퓨터 시스템 (400)은 이동 전화기(cellular phone), 스마트 폰(smart phone), PDA(personal digital assistant), 또는 무선 통신 장치로 구현될 수 있다.

컴퓨터 시스템(400)은 메모리 장치(460)와, 메모리 장치(460)의 동작을 제어할 수 있는 메모리 컨트롤러(450)를 포함한다. 메모리 컨트롤러(450)는 중앙 처리 장치(410)의 제어에 따라 메모리 장치(460)의 데이터 액세스 동작, 예컨대 라이트 동작, 리드 동작, 프로그램 동작, 또는 이레이즈(erase) 동작을 제어할 수 있다.

메모리 장치(460)에 데이터는 중앙 처리 장치(410)와 메모리 컨트롤러(450)의 제어에 따라 디스플레이(420)를 통하여 디스플레이될 수 있다. 무선 송수신기 (430)는 안테나(ANT)를 통하여 무선 신호를 주거나 받을 수 있다. 예컨대, 무선 송수신기(430)는 안테나(ANT)를 통하여 수신된 무선 신호를 중앙 처리 장치 (410)에서 처리될 수 있는 신호로 변경할 수 있다. 따라서, 중앙 처리 장치(410)는 무선 송수신기(430)로부터 출력된 신호를 처리하고 처리된 신호를 메모리 컨트롤러 (450) 또는 디스플레이(420)로 전송할 수 있다. 메모리 컨트롤러(450)는 중앙 처리 장치(410)에 의하여 처리된 신호를 메모리 장치(460)에 저장할 수 있다.

또한, 무선 송수신기(430)는 중앙 처리 장치(410)로부터 출력된 신호를 무선 신호로 변경하고 변경된 무선 신호를 안테나(ANT)를 통하여 외부 장치로 출력할 수 있다. 입력 장치(440)는 중앙 처리 장치(410)의 동작을 제어하기 위한 제어 신호 또는 중앙 처리 장치(410)에 의하여 처리될 데이터를 입력할 수 있는 장치로서, 터치 패드(touch pad)와 컴퓨터 마우스(computer mouse)와 같은 포인팅 장치(pointing device), 키패드(keypad), 또는 키보드로 구현될 수 있다.

중앙 처리 장치(410)는 메모리 컨트롤러(450)로부터 출력된 데이터, 무선 송수신기(430)로부터 출력된 데이터, 또는 입력 장치(440)로부터 출력된 데이터가 디스플레이(420)를 통하여 디스플레이될 수 있도록 디스플레이(420)의 동작을 제어할 수 있다.

실시 예에 따라, 메모리 장치(460)의 동작을 제어할 수 있는 메모리 컨트롤러 (450)는 중앙 처리 장치(410)의 일부로서 구현될 수 있고 또한 중앙 처리 장치 (410)과 별도의 칩으로 구현될 수 있다. 또한, 스마트 카드(10)는 컴퓨터 시스템 (400)에 장착되거나 탈착될 수도 있다.

실시 예에 따라 도 7에 도시된 스마트 카드(10)는 도 4에 도시된 스마트 카드(110)로 대체될 수 있다.

도 8은 도 1에 도시된 스마트 카드를 포함하는 컴퓨터 시스템의 또 다른 실시 예를 나타낸다.

도 8를 참조하면, 도 1에 도시된 스마트 카드(10)를 포함하는 컴퓨터 시스템 (500)은 PC(personal computer), 네트워크 서버(Network Server), 태블릿(tablet) PC, 넷-북(net-book), e-리더(e-reader), PDA(personal digital assistant), PMP(portable multimedia player), MP3 플레이어, 또는 MP4 플레이어로 구현될 수 있다.

컴퓨터 시스템(500)은 중앙 처리 장치(510), 메모리 장치(530), 및 메모리 장치 (530)의 데이터 처리 동작을 제어할 수 있는 메모리 컨트롤러(520), 디스플레이(540) 및 입력 장치(550)를 포함한다.

중앙 처리 장치(510)는 입력 장치(550)를 통하여 입력된 데이터에 따라 메모리 장치(530)에 저장된 데이터를 디스플레이(540)를 통하여 디스플레이할 수 있다. 예컨대, 입력 장치(550)는 터치 패드 또는 컴퓨터 마우스와 같은 포인팅 장치, 키패드, 또는 키보드로 구현될 수 있다. 중앙 처리 장치(510)는 컴퓨터 시스템 (500)의 전반적인 동작을 제어할 수 있고 메모리 컨트롤러(520)의 동작을 제어할 수 있다.

실시 예에 따라 메모리 장치(530)의 동작을 제어할 수 있는 메모리 컨트롤러 (520)는 중앙 처리 장치(510)의 일부로서 구현될 수 있고 또한 중앙 처리 장치 (510)와 별도의 칩으로 구현될 수 있다. 또한, 스마트 카드(10)는 컴퓨터 시스템 (500)에 장착되거나 탈착될 수도 있다. 실시 예에 따라 도 8에 도시된 스마트 카드(10)는 도 4에 도시된 스마트 카드(110)로 대체될 수 있다.

도 9은 도 1에 도시된 스마트 카드를 포함하는 컴퓨터 시스템의 또 다른 실시 예를 나타낸다.

도 9을 참조하면, 도 1에 도시된 스마트 카드(10)를 포함하는 컴퓨터 시스템 (600)은 이미지 처리 장치(image process device), 예컨대 디지털 카메라 또는 디지털 카메라가 부착된 이동 전화기 또는 스마트 폰으로 구현될 수 있다.

컴퓨터 시스템(600)은 중앙 처리 장치(610), 메모리 장치(620), 및 메모리 장치 (620)의 데이터 처리 동작, 예컨대 라이트 동작, 리드 동작, 프로그램 동작, 또는 이레이즈 동작을 제어할 수 있는 메모리 컨트롤러(630)를 포함한다. 또한, 컴퓨터 시스템(600)은 이미지 센서(640) 및 디스플레이(650)을 더 포함한다.

컴퓨터 시스템(600)의 이미지 센서(640)는 광학 이미지를 디지털 신호들로 변환하고, 변환된 디지털 신호들은 중앙 처리 장치(610) 또는 메모리 컨트롤러 (630)로 전송된다. 중앙 처리 장치(610)의 제어에 따라, 상기 변환된 디지털 신호들은 디스플레이(650)를 통하여 디스플레이되거나 또는 메모리 컨트롤러 (630)를 통하여 메모리 장치(620)에 저장될 수 있다.

또한, 메모리 장치(620)에 저장된 데이터는 중앙 처리 장치(610) 또는 메모리 컨트롤러(630)의 제어에 따라 디스플레이(650)를 통하여 디스플레이된다.

실시 예에 따라 메모리 장치(620)의 동작을 제어할 수 있는 메모리 컨트롤러 (630)는 중앙 처리 장치(610)의 일부로서 구현될 수 있고 또한 중앙 처리 장치(610)와 별개의 칩으로 구현될 수 있다. 또한, 스마트 카드(10)는 컴퓨터 시스템(600)에 장착되거나 탈착될 수도 있다. 실시 예에 따라 도 9에 도시된 스마트 카드(10)는 도 4에 도시된 스마트 카드(110)로 대체될 수 있다.

본 발명은 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

1: 중앙 처리 장치
2: 램
3: I/O 인터페이스
4: 스캔 컨트롤러
5: I/O 블록커
6: 스캔 타겟 로직
10: 스마트 카드
15: 다이(Die)
20: 테스터

Claims

스캔 컨트롤러; 및
상기 스캔 컨트롤러의 제어에 응답하여 스캔 입력 패턴을 수신하고, 상기 스캔 입력 패턴에 따른 동작을 실행하고 실행 결과를 출력하는 타겟 로직 회로를 포함하며,
상기 스캔 컨트롤러는 상기 실행 결과와 스캔 출력 패턴의 비교 결과를 출력하는 집적 회로.
제1항에 있어서, 상기 집적 회로는,
상기 스캔 입력 패턴을 이용하여 상기 타겟 로직 회로를 테스트하는 동안, 상기 타겟 로직 회로의 입출력을 차단하는 입출력 블록커를 더 포함하는 집적 회로.
제2항에 있어서, 상기 집적 회로는,
테스트 동작 시 상기 스캔 컨트롤러와 상기 입출력 블록커를 제어하는 중앙 처리 장치를 더 포함하는 집적 회로.
제1항에 있어서,
상기 스캔 컨트롤러는 상기 비교 결과를 하나의 입출력 패드를 통해서 출력하고, 상기 비교 결과는 상기 타겟 로직 회로의 스캔 테스트의 패스(pass) 또는 페일(fail)을 나타내고,
상기 하나의 입출력 패드는 스마트 카드의 C7패드이고,
상기 스캔 컨트롤러는 상기 하나의 입출력 패드를 통해서 상기 비교 결과를 테스터로 출력하는 집적 회로.
제3항에 있어서, 상기 집적 회로는,
압축된 형태로 상기 스캔 입력 패턴 및 상기 스캔 출력 패턴을 저장하는 비휘발성 메모리를 더 포함하고,
상기 중앙 처리 장치는 상기 압축된 형태로 상기 비휘발성 메모리에 저장된 상기 스캔 입력 패턴 및 상기 스캔 출력 패턴의 압축을 해제하는 집적 회로.
제1항에 있어서,
상기 집적 회로는 스마트 카드(smart card) 또는 스마트 폰(smart-phone)에 구현된 집적 회로.
스캔 입력 패턴을 타겟 로직 회로로 전송하는 단계;
상기 스캔 입력 패턴에 따른 동작을 실행하는 단계; 및
상기 실행 결과와 스캔 출력 패턴의 비교 결과를 출력하는 단계를 포함하는 집적 회로의 구동 방법.
제7항에 있어서, 상기 집적 회로의 구동 방법은,
상기 비교 결과를 하나의 입출력 패드를 통해서 출력하는 단계를 더 포함하고,
상기 입출력 패드는 스마트 카드의 C7 패드인 집적 회로의 구동 방법.
제8항에 있어서, 상기 집적 회로의 구동 방법은,
상기 비교 결과는 상기 타겟 로직 회로의 스캔 테스트 패스 또는 페일을 나타내는 집적 회로의 구동 방법.
제7항에 있어서, 상기 집적 회로의 구동 방법은,
상기 스캔 입력 패턴을 이용하여 상기 타겟 로직 회로를 테스트하는 동안 상기 타겟 로직 회로의 입출력을 차단하는 단계를 더 포함하는 집적 회로의 구동 방법.