JP2012088321A - 試験アクセス・ポート・スイッチ - Google Patents
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Abstract
【課題】選択されていないTAPの電源がオンまたはオフされているかに関わらず、選択されたTAPへ情報を転送することができる電子システムを提供する。
【解決手段】電子システム10は、それぞれTAPスイッチ12に接続されたTAP20,22,24を有している。TAPスイッチ12は、例えば、命令に追加または事前追加されたコードのように、シリアル命令に含まれる選択コードに応答して、TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供するように構成された第1の回路40を備える。このTAPスイッチは更に、TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を、選択されたTAPへ渡すように構成された命令レジスタ(IR)を備える第2の回路38と、選択コードに応答して、選択されたTAPから受け取ったシリアル命令を、TAPスイッチの出力へと転送するように構成された第3の回路42とを備える。
【選択図】図1
【解決手段】電子システム10は、それぞれTAPスイッチ12に接続されたTAP20,22,24を有している。TAPスイッチ12は、例えば、命令に追加または事前追加されたコードのように、シリアル命令に含まれる選択コードに応答して、TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供するように構成された第1の回路40を備える。このTAPスイッチは更に、TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を、選択されたTAPへ渡すように構成された命令レジスタ(IR)を備える第2の回路38と、選択コードに応答して、選択されたTAPから受け取ったシリアル命令を、TAPスイッチの出力へと転送するように構成された第3の回路42とを備える。
【選択図】図1
Description
本開示は、一般に、電子回路部品の試験に関し、特に、システム内の多くの電子部品へアクセスし、試験することに関する。
一般的な現代の電子システムは、複数の電子部品を備えている。各部品は、システム内で、特定の機能、または、機能のセットを可能にする。例えば、従来のコンピュータ・システムは、例えば、マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ(DSP)、メモリ・デバイス、グラフィック・デバイス、入力/出力デバイス、物理アクセス・デバイス(PHY)、コントローラ等のような1または複数の電子部品を備えうる。他のシステムは、追加のあるいは別の部品を必要としうる。例えば、無線通信システムは、ベースバンド部品およびその他の信号処理部品のみならず、アナログ−デジタル部品およびデジタル−アナログ部品を備えることができる。
現代の電子システムに含まれる各電子部品は、試験可能であることが望ましい。従って、各電子部品は、システム内でアクセス可能で起動可能で観察可能であるべきである。現代の回路設計が常に複雑さを増してきており、かつ、集積化のレベルが増加していることを考えると、システム内で部品を隔離し試験することは、ユニークかつ困難なチャレンジを呈する。半導体加工技術における進歩は、例えば、より多くのトランジスタが、より増大した性能と新たな機能とを備えて、より小さな領域内に製造されるようになることによって、これらのチャレンジを更に増大させる。半導体加工技術における進歩はまた、単一のダイまたはチップ上に、様々な半導体を集積する技術を可能とした。例えば、CMOSデバイス、バイCMOSデバイス、および/またはバイポーラ・デバイスは、混合信号機能を有する集積回路(IC)を生成するために、同じダイ上に製造されうる。
様々な電子部品がシステムに組み込まれる場合、現代のICを試験することに関連する複雑さが更に増加される。システム内の単一の部品にアクセスして試験する機能は複雑である。システムに含まれる個々の部品を分離して試験することに関連付けられた複雑さのうちの幾つかを緩和する1つの解決法は、IEEEの境界スキャン法(IEEE1149.1)である。IEEE 1149.1は、システム内に統合された様々な電子部品が、シリアル境界スキャン・パスによって相互接続されうる方法を提供する。情報は、境界スキャン・パスに接続された部品を、およびその部品からスキャンすることができる。IEEE 1149.1規格は、システム内の特定の部品へのアクセス、起動、および観察のために必要な信号I/Oの数を低減する。
一例において、IEEE 1149.1境界スキャン法は、例えばDSPのような無線システムに含まれる電子部品を試験するための無線通信デバイスへ統合されうる。DSPは、他のシステム部品から分離され、IEEE 1149.1境界スキャン法を用いて試験されうる。DSPに正しくアクセスするために、各境界スキャン命令レジスタおよびデータ・レジスタの長さに加えて、境界スキャン・パス内の各部品の位置が必要とされる。それゆえ、典型的なDSPは、情報がDSPに達するまで、他の部品によって情報をシフトすることによって分離され試験される。結果は、同様の方法で引き続きスキャンされうる。その結果、システムに含まれる電子部品は、ピンが低減された境界スキャン試験インタフェースによってアクセスされ試験される。
しかしながら、従来の境界スキャン法に関連付けられたシリアル・スキャン・パス・アーキテクチャは、例えばポータブルな計算アプリケーションおよび無線通信アプリケーションのような低電力アプリケーションにおいてユニークな問題を呈する。低電力システムでは、使用されていない場合、境界スキャン・パスの一部を形成する1または複数の部品に対する電力がサイクル・オフされることによって、システムのバッテリ寿命を拡張する。しかしながら、境界スキャン・パスの一部を形成する部品が電源オフされた場合、このパスのその他の部品は、高い信頼性でアクセスされない。なぜなら、このパスにおける部品が電源オンされていな場合、シリアル・スキャン・パスが途絶または断絶されるからである。部品の電源オンと電源オフとをルーチン的にサイクルする従来の低電力システムは、良くても突発的に特定の部品を分離してアクセスするシリアル境界スキャン・アーキテクチャの使用を与えることができる。
更に、従来の境界スキャン・アーキテクチャに関連付けられたシリアル・スキャン・パスは、スキャン・パスを形成する各部品を介してシリアルに境界スキャン・パスへ/からロードされるという点において試験性能を低下させる。アクセスされていないスキャン・パス内の部品は、バイパスされうる。それは従来、シリアル情報が、所望の部品に達するまで、1ビットのバイパス・レジスタを経由して、境界スキャン・パスによってスキャンされるように、非アクティブな各部品において1ビットのバイパス・レジスタを選択することを含む。しかしながら、現代の電子システムに含まれる電子部品の数が増えると、試験中ではない各部品をバイパスすることに関連付けられた効率は、逆に性能にインパクトを与えうる。更に、指示レジスタ・スキャン動作に必要なビット数は、システムに含まれる全ての指示レジスタの合計ビット数に相当するので、システムに含まれる部品数が増えると、試験時間を増加させる。
本明細書で教示された方法および装置に従って、試験アクセス・ポート(TAP)スイッチは、電子システムと、電子システムの外部のリソースとの間の集中型シリアル試験インタフェースを提供する。TAPスイッチが含まれている電子システムは、複数の電子回路部品を含む。各電子回路部品は、TAPスイッチに接続されたTAPを有する。TAPスイッチの集中型アーテクチャによって、TAPスイッチは、例えば試験システムのような外部ソースからシリアル情報を受信し、かつ、選択されていないTAPの電源がオンまたはオフされているかに関わらず、電子システムに含まれるTAPのうちの選択された1つへとこの情報を転送することが可能となる。1または複数の実施形態では、TAPスイッチは、シリアル命令に含まれる選択コードに応答して、TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供するように構成される第1の回路を備える。TAPスイッチは更に、TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を、選択されたTAPへ渡すように構成された命令レジスタ(IR)を備える第2の回路と、選択コードに応答して、選択されたTAPから受け取ったシリアル・データを、TAPスイッチの出力へ転送するように構成された第3の回路とを備える。
したがって、少なくとも1つの実施形態では、TAPスイッチは、選択コードに応答して、複数のTAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供することによってTAPへのアクセスを制御し、TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を、選択されたTAPへ渡し、選択コードに応答して、選択されたTAPから受け取ったシリアル・データを、TAPスイッチの出力へ転送する。TAPスイッチは更に、選択コードにおける変化に応答して、複数のTAPのうちの新たに選択された1つへクロック信号を提供することによって、異なるTAPを選択することができ、もって、複数のTAPが、単一のデバッグ・セッション中に選択されることを可能とする。
従来の境界スキャン・デバッガ・プログラムに対する最小の変更のみが、TAPに、従来のプログラムとの下位互換性をもたせるために一般に使用される。1つの実施形態では、電子システム内の2またはそれ以上のTAPへのアクセスを制御するコンピュータ・プログラム製品は、シリアル命令に含まれる選択コードに応答して、TAPスイッチに対して、複数のTAPのうちの1つを選択させるプログラム・コードと、引き続く命令レジスタ関連命令内に選択コードを含めるプログラム・コードとを備える。このコンピュータ・プログラム製品は更に、選択コードがTAPスイッチでスキャンされた後に、少なくとも2つのクロック・サイクルの間、TAPスイッチをアイドル状態に保つプログラム・コードを備える。
もちろん、本開示は上記特徴に限定されない。当業者であれば、以下の詳細記載を読み、添付図面を見ると、更なる特徴を認識するだろう。
図1は、試験アクセス・ポート(TAP)スイッチ12と、例えば集積回路(IC)14−18のような複数の試験可能な電子回路部品とを含む電子システム10の実施形態を例示する。システムIC14−18はそれぞれ、TAPスイッチ12との通信を容易にするためのTAP20−24を有する。特に、TAP20−24はそれぞれ、シリアル命令をキャプチャするための命令レジスタ(IR)26−30と、シリアル化された試験データをキャプチャするためのデータ・レジスタ(DR)32−36とを含む。一方、TAPスイッチ12は、電子システム10と、例えば、電子システム10に直接的に接続されているかまたは遠隔に接続されている試験システムまたはデバッグ・システムのような電子システム外部のリソース(図示せず)との間に、集中型シリアル試験インタフェースを提供する。TAPスイッチ12は、電子システム10に含まれているか、あるいは関連付けられた境界スキャン・パスに位置する最初のデバイスである。TAPスイッチ12の集中アーキテクチャによって、TAPスイッチ12は、外部ソースから試験命令、データ、および制御情報を受け取り、かつ、選択されていないICの電源がオンされたかオフされたかに関わらず、IC TAP20−24のうちの選択された1つへ情報を転送することが可能となる。それゆえ、TAPスイッチ12は、例えばポータブル計算システムおよび無線通信システムのような低電力アプリケーションへ適合したシステムに含まれるのに適している。
システムIC14−18はそれぞれ、システム10に関連付けられた特定の機能または機能のセットを可能にする。例えば、IC14−18は、1または複数のマイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ(DSP)、メモリ・デバイス、グラフィック・デバイス、入力/出力デバイス、物理的アクセス・デバイス(PHY)、コントローラ、アナログ−デジタル・コンポーネントおよびデジタル−・アナログ・コンポーネント等を備えうる。電子システム10は特に、例えばモバイル計算アプリケーションおよび無線通信アプリケーションのような低電力アプリケーションに適応され、幾つかの構成のうちの1つの形式をとることができる。例えば、電子システム10は、ボードまたはマルチ・チップ・モジュール(MCM)のようにキャリアについてIC14−18を相互接続することによって、あるいは、システム・オン・チップ(SoC)設計内で、あるいはこれらの組み合わせで形成されうる。IC14−18は、ボード上にマウントされる個別のチップ、MCM上にマウントされる個別のダイ、またはSoC内の個別のコア、あるいはこれらの幾つかの組み合わせを備えうる。電子システム10が利用されるアプリケーションおよびIC14−18によってサポートされる特定の機能に関わらず、境界スキャン・パスは、IC14−18がシステム10内で相互接続された後、IC14−18との通信を容易にするために使用される。システムIC14−18のおのおのと、TAPスイッチ12との間の境界スキャン・インタフェースは、並行であるので、システム10に含まれるその他のICの電源オン状態に関わらず、特定のICがアクセスされ、起動され、観察される。すなわち、TAPスイッチ12は、他のIC TAPの電源が投入された状態に関わらず、IC TAP20−24のうちの選択された1つと通信することができる。したがって、コンポーネント電力サイクルによる従来の「デージーチェーン」境界スキャン構成の使用における途絶は、システム10に含まれる選択された部品にアクセスし通信するための集中型ハブとしてTAPスイッチ12を用いることによって除去される。
IC TAP20−24との選択的な通信を容易にするために、TAPスイッチ12の1つの実施形態は、選択回路38、デマルチプレクサ回路40、およびマルチプレクサ回路42を含む。TAPスイッチ12は、シリアル試験情報(DI)、モード選択信号(MODE)、および試験クロック信号(CLK)を外部リソースから受け取ることによって、電子システム10のための試験インタフェースとして機能する。オプションとして、TAPスイッチ12は、スイッチ12の非同期リセットのために試験リセット信号(RESET)を受信することができる。更に、TAPスイッチ12は、IC TAP20−24の選択された1つから受け取ったシリアル試験データ(DO)と、試験中、IC14−18のうちの1または複数をシステム・クロックと同期させるために使用されるオプションのリターン・クロック信号(RCLK)とを出力する。
どのIC TAPが選択されるべきかを示す、TAPスイッチ12によって受け取られる命令である選択TAP命令に応答して、選択回路38は、例えば、選択TAP命令に追加または事前追加されたコードであり、選択TAP命令に含まれた選択コードをキャプチャする。その後、選択回路38は、選択コードを格納し、それをデマルチプレクサ回路40(SEL)およびマルチプレクサ回路42(SEL)に与える。選択コードは、デマルチプレクサ回路40に、IC TAP20−24のうちの特定の1つにクロック信号を供給させ、それにより、TAPを選択する。すなわち、選択コードは、システム10に含まれる試験可能なIC 14−18それぞれをユニークに識別する。このユニークなコードに応答して、デマルチプレクサ回路40は、テスト・クロック信号を受け取るために唯一のIC TAPを選択する。例えば、デマルチプレクサ回路40は、そこに含まれているICA14に関連付けられた選択コードを有するTAP選択命令に応答して、試験クロック信号(CLKA)をICA14へ提供する。TAPスイッチ12からアクティブな試験クロック信号を受け取らないTAPはアイドル状態を維持する一方、選択されたTAPがアクセスされる(この例では、ICB16およびICC18のTAP22およびTAP24は、クロックされない)。選択コードはまた、マルチプレクサ回路42に、選択されたTAPから受け取られたシリアル・データの変更のないバージョンを、TAPスイッチ12のDO出力へ転送させる。試験可能な各IC14−17は、TAPスイッチ12へ並列に接続されているので、TAPスイッチ12によって、外部の試験システムが、システム10に含まれる他のICの電源オン状態に関わらず、個々のTAPを動的に選択し、独立して通信することを可能とする。
図2は、TAPスイッチ12によってIC TAPにアクセスするためのプログラム・ロジックの1つの実施形態を示す。このプログラム・ロジックは、TAPスイッチ12が、選択コードに対応するIC TAPを選択することで「始まる」(ステップ100)。この選択コードは、例えば選択TAP命令のように、TAPスイッチ12によって受け取られたシリアル命令に含まれる。TAPスイッチ12は、この選択コードをデマルチプレクサ回路40へ提供する。デマルチプレクサ回路40は、アクティブな試験クロックを、対応するIC TAPへ提供し、TAPを選択する。適切なIC TAPが選択された後、TAPスイッチ12は、スイッチ12によって外部ソースから受け取られたシリアル情報を、選択されたTAPへ渡す(ステップ102)。このシリアル情報は、命令、データ、あるいは制御情報を含むことができる。TAPスイッチ12によって、選択されたIC TAPから受け取られたシリアル・データ(DICA,DICB、またはDICC)は、変えられることなくマルチプレクサ回路42によって、スイッチ12のDO出力へ転送される(ステップ104)。オプションとして、選択されたTAPによって出力された試験クロック信号(RCLKA、RCLKB、またはCLKC)もまた、TAPスイッチによって受け取られる。それゆえ、選択されたIC TAPから受け取られた情報は、分析のために、TAPスイッチ12によって外部システムへ提供される。図2に例示されるプログラム・ロジックは、選択コードに変化が生じた場合毎に実行され、これによって、別のIC TAPがアクセスされるべきであることを示す。
図3は、TAPスイッチ12の実施形態を示す。TAPスイッチ12の試験インタフェースは、IEEE 1149.1境界スキャン規格に完全に準拠している。TAPスイッチ12はIEEE 1149.1に完全に準拠しているので、外部ソースからスイッチ12によって受け取られたシリアル試験情報は、スイッチ12によるいかなる復号も操作も必要とされることなく、単純に、IC TAP20−24のうちの選択された1つへ渡される。このように、IEEE 1149.1準拠の動作は、TAPスイッチ12によって完全にサポートされている。TAPスイッチ12の選択回路38は、状態機械44、ゼロ・ビット・データ・レジスタ(DR)46、1ビット・バイパスDR48、2ビットIR50、およびラッチ回路52を備えている。状態機械44は、TAPスイッチ12のDI入力からシリアル情報を受け取るために、どのレジスタが選択されているかを制御する(CTRL)。例えばIEEE 1149.1準拠の選択−DR、キャプチャ−DR、シフト−DR、Exit−DR、ポーズ−DR、またはアップデート−DR動作のようなデータ・スキャン命令を状態機械44が検出することに応じて、ゼロ・ビットDR46が選択される。データ・スキャン動作のために、ゼロ・ビット・パス・スルー・パスを利用することによって、従来のTAPコントローラに関連付けられた1または複数のバイパス・ビットを考慮することなく、シリアル情報が、TAPスイッチ12のDI入力から、ゼロ・ビットDR46を経由して、選択されたTAP(図示せず)へ渡される。これによって、性能向上が図られる。
状態機械44が、バイパス命令を検知することに応答して、1ビット・バイパスDR48が選択される。バイパス命令に応答して、TAPスイッチ12によって受け取られたシリアル命令が、マルチプレクサ回路42を経由して、スイッチ12のDI入力からDO出力へ方向転換される。それゆえ、選択されたTAPは、TAPスイッチ12がバイパス・モードにある場合、何れのシリアル情報をも受け取らない。一つの例では、現在のシステム例示では、バイパス動作を示すために、例えば‘11’のように、選択コードが全て論理1に設定される。‘11’選択コードが、マルチプレクサ回路42へ提供されている場合、回路42は、1ビット・バイパスDR48の出力をTAPスイッチ12のDO出力へ接続し、もって、選択されたTAPを回避する。
例えばIEEE 1149.1準拠の選択−IR、キャプチャ−IR、シフト−IR、Exit−IR、ポーズ−DR、またはアップデート−IR動作のような命令レジスタ命令を状態機械44が検出することに応じて、2ビットIR50が選択される。このシステム例では、TAPスイッチIR 50は、25ビットの幅を持っている。2ビットIR 50は、IR命令に含まれている選択コードを保持する。一般に、TAPスイッチIR50のビット幅は、TAPスイッチ12によってアクセスされる試験可能なICの数の関数である。例えば、TAPスイッチIR50が3ビットの幅を持っている場合、バイパス・モードを示す1つの選択コード状態を残しながら、最大7つのIC TAPがユニークに識別され、TAPスイッチ12によってアクセスされる。ラッチ回路52は、2ビットISR 50にロードされた選択コード値を格納し、デマルチプレクサ回路40およびマルチプレクサ回路42に選択コード(SEL)を与える。1つの実施形態では、ラッチ回路52は、ラッチ・デバイス(図示せず)に接続されたレジスタを備える。
状態機械44は、スイッチ12の現在の状態、モード選択信号(MODE)、および試験クロック信号(CLK)における遷移に応答して、TAPスイッチ12を、state-to-stateから遷移させる。図4は、TAPスイッチ状態機械44に関連付けられた状態推移ロジックの実施形態を示す。TAPスイッチ12が電源オンまたはリセットされると、状態機械44は、例えば、IEEE 1149.1試験ロジック・リセット状態のようなリセット状態200へ入る。モード信号が非アクティブである限り、TAPスイッチ12はリセット状態200を維持する。モード信号の変化に応答して、TAPスイッチ12がリセット状態200から出た場合、状態機械44は、選択TAP状態220へ移行する。選択TAP状態202にある間、選択コードが、既に説明したようにして、TAPスイッチIR50でスキャンしたことに応答して、TAPスイッチ12は、アクセスするための特定のTAPを選択する。そして、状態機械44は、例えばIEEE 1149.1 Run Test/Idle状態のようなアイドル状態204へ移行する。状態機械44は、TAPスイッチ12がアイドルであり続けるべきであることをモード信号が示す限り、アイドル状態204を維持する。最小限、スイッチ12が選択コードを格納することができ、かつ、電力サイクルの結果としてTest−Logic−Reset状態に入った場合、新たに選択されたTAP(TAP22または24)が、Run Test/Idle状態になることを保証するために、十分な数の試験クロック・サイクルの間、状態機械44は、TAPスイッチ12をアイドル状態204に保つ。
IR命令を示すモード信号に応答して、状態機械はIR状態206に入る。例えば、IEEE 1149.1選択−IR動作は、状態機械44をIR状態206に移行させる。例えば、IEEE 1149.1キャプチャ−IR動作、シフト−IR動作、Exit−IR動作、ポーズ−IR動作、またはアップデート−IR動作のようなIR命令が実行されているとモード信号が示す限り、状態機械44は、TAPスイッチ12を、IR状態206に維持させる。その後の選択TAP命令は、状態機械44を、選択TAP状態202へ戻させる一方、リセットは、リセット状態200へ戻させる。
DR命令を示すモード信号に応答して、状態機械44は、DR状態208に移行する。例えば、IEEE 1149.1選択−DRスキャン動作は、状態機械44を、DR状態208に移行させる。例えばIEEE 1149.1キャプチャ−DR動作、シフト−DR動作、Exit−DR動作、ポーズ−DR動作、またはアップデート−DR動作のようなDR命令が実行されていることをモード信号が示す限り、状態機械44は、TAPスイッチ12を、DR状態208に維持させる。その後の選択TAP命令は、状態機械44を、選択TAP状態202へ戻させる。一方、リセットは、リセット状態200へ戻させる。アイドル命令は、状態機械44を、IR状態206またはDR状態208のうちの何れかからアイドル状態204へ遷移させる。
選択TAP命令がTAPスイッチ12によって認識された場合、TAPスイッチ12の現在の状態に関わらず、状態機械44は、スイッチ12を、選択TAP状態202に入らせる。それゆえ、TAPスイッチ12は、選択モードの変化に応じて、異なるTAPを選択することができ、もって、スイッチ12が、単一のデバッグ・セッション中に、多くのTAPへアクセスできるようにする。その結果、デバッグ性能が改善され、複雑さが低減される。
図5は、TAPスイッチ12によるIC TAP20−24へのアクセスを制御するプログラム・ロジックの1つの実施形態を示す。プログラム・ロジックは、選択コードに応答して、TAPスイッチ12が、TAP20−24のうちの選択された1つへクロック信号を提供することで「始まる」(ステップ300)。この例において、その中に含まれる ‘01’からなる選択コードを有する選択TAP命令は、試験クロック信号(CLKB)をTAP22にのみ提供することによって、TAPスイッチ12に対して、ICB16のTAP22を選択させる。TAPスイッチ12のIR50は、TAPスイッチ12によって受け取られたシリアル命令を、選択されたTAPへ渡す(ステップ302)。マルチプレクサ回路42は、格納された選択コードに応答して、選択されたTAPからデータを受け取るように既にTAPスイッチ12を構成しているので、選択されたTAPから、TAPスイッチ12によって引き続き受け取られたシリアル・データは、スイッチ12のDO出力へ、変えられることなく転送される(ステップ304)。それゆえ、選択されたIC TAPから受け取られたシリアル・データは、TAPスイッチ12によって、試験の一部として外部システムへ提供されうる。TAPスイッチ12が、選択TAP命令を認識する毎に、新たなIC TAPが選択され、もって、スイッチ12が、単一のデバッグ・セッション中に、複数のIC TAPを選択できるようにする。
TAPスイッチ12を、既存のプログラムと下位互換性を持つようにするために、一般に、既存のデバッガ・ソフトウェア・プログラムに対する最小の修正のみが使用される。従来の境界スキャン・デバッガ・プログラムは、1または複数のTAPインタフェースによって、システムの遠隔制御を可能にする。例えば、従来のデバッガ・プログラムは、プログラムのメモリへのダウンロード、デバッグ・プログラム実行の開始および停止、デバッグ・ブレークポイントおよびウォッチポイントの設定、レジスタおよびメモリの内容の分析、および、リアル・タイム実行データの収集を可能にする。
従来のデバッガ・プログラムへの第1の修正は、選択TAP命令のためのサポートを加えることを含む。TAPスイッチ12が、リセット状態200から出るたび毎に、あるいは、別のIC TAPがデバッグ・セッション中のアクセスのために選択された場合、選択TAP命令が発行される。選択TAP命令をサポートするために、デバッガ・プログラムは、3つの変数、すなわちシステムに含まれる最も長いTAP IRのビット長さ、TAPスイッチIR50のビット長さ、および、システム10に含まれるIC TAP20−24の各々に関連付けられたユニークな選択コード、を知っている。
デバッガ・プログラムは、TAPスイッチ12を初期化するための選択TAP命令を生成するためにプログラムに提供されたIRビット長さ情報を処理し、もって、スイッチ12に対して、TAP20−24のうちの1つを選択させる。最も長いTAP IRの長さは、システム10に含まれるTAP IR20−24の全てが、選択TAP命令シーケンス中にバイパス・コードを用いてロードされることを保証するためにデバッガ・プログラムによって使用され、もって、TAPスイッチ12が、TAP20−24のうちの1つを選択している場合、何れのIC TAPも、望まれない動作を実行しないことを保証する。例示目的のみのために、ICA14に関連付けられたTAP IR26は、4ビット幅であり、ICB16に関連付けられたTAP IR28は5ビット幅であり、ICC18に関連付けられたTAP IR30は4ビット幅である。それゆえ、ICB16に含まれるTAP IR28である最長のTAP IRは、常に、バイパス命令を用いて、選択TAP命令シーケンス中にロードされる。
TAPスイッチIR50のビット長さは、デバッガ・プログラムへと提供され、正しい長さを有する選択コードが、選択TAP動作中に、TAPスイッチIR50へロードされるようになる。最後に、IC TAP20−24の各々に関連付けられたユニークな選択コードがデバッガ・プログラムへ提供され、TAP20−24は、TAPスイッチ12によってユニークに識別されるようになる。それゆえ、選択TAP命令は、たとえば、<xxyyyyy>のようなバイパス命令に含まれる。ここで、xxは、選択されるTAPに関連付けられた選択コードであり、yyyyは、バイパス命令に関連付けられたビット・シーケンスである。一例では、xx=‘10’、yyyyy=‘11111’である。ここで‘10’は、ICC18に関連付けられたTAP24を示し、‘11111’は、バイパス命令を示す。当業者であれば、例えば、本システム10のICA14およびICC18に関連付けられたTAP IR26、30のように、システムに含まれる最も長いTAP IRよりも短いビット長さを有するTAP IRから、1または複数の前の論理1値が落とされることを理解するだろう。しかしながら、バイパス命令が、最も長いTAP IRの長さに等しいビット幅を有することを保証することによって、全てのTAP IR20−24が、バイパス命令によってロードされるだろう。したがって、選択TAPシーケンスが、TAPスイッチ12によって実行されている場合、IC TAP20−24のうちの全てにおいて、望まれないTAP動作は回避される。
従来のデバッガ・プログラムに対する他の変更は、選択TAP命令シーケンス中、選択コードがTAPスイッチIR50へロードされた後、十分な数の試験クロック・サイクルの間、TAPスイッチ12をアイドル状態204に保つことを含む。これは、選択コードをラッチ回路52へ適切に格納するための十分な時間をTAPスイッチ12に対して与える。例えば、TAPスイッチ12は、スイッチ12が選択TAP命令を認識した後、少なくとも2クロック・サイクルの間、IEEE 1149.1準拠のRun Test/Idle状態に維持される。TAPスイッチ12を、Run Test/Idle状態に維持することはまた、電力サイクルの結果として、以前に試験ロジック・リセット状態に入った場合にRun Test/Idle状態にされるであろうことを保証する。
従来のデバッガ・プログラムに対する第3の修正は、選択TAP命令に続いて発行されるIR命令へ選択コードを含め、これによって、IR動作中、TAPスイッチIR50のために備えることを含む。例えば、デバッガは、選択コードをIR命令に追加または事前追加するように修正される。更に、システム10に含まれる最も長いTAP IRのための選択TAP命令とは異なり、その後の全てのIR命令は、現在選択されているTAPに関連付けられたTAP IRの長さのみのために必要である。それゆえ、TAPスイッチ12のアーキテクチャは、その後の全ての命令が、 現在選択されているTAP IRのビット長さと、TAPスイッチIR50のビット長さとを加えたものに等しい長さを持っているという点で性能を改善する。従来のデージーチェーン境界スキャン構成とは異なり、システム10に含まれるTAP IR26−30全ての合計長さは、その後のIR命令のために備える必要はない。
応用および変形の上記範囲を念頭におき、本開示は、前述した説明によっても、あるいは、添付図面によっても限定されないと理解されるべきである。その代わり、本開示は、特許請求の範囲およびそれらの法的な均等物によってのみ限定される。
応用および変形の上記範囲を念頭におき、本開示は、前述した説明によっても、あるいは、添付図面によっても限定されないと理解されるべきである。その代わり、本開示は、特許請求の範囲およびそれらの法的な均等物によってのみ限定される。
以下に、本願出願の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1] 2またはそれ以上の試験アクセス・ポート(TAP)へのアクセスを提供するTAPスイッチであって、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供するように構成された第1の回路と、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を前記選択されたTAPに渡すように構成された命令レジスタ(IR)を備える第2の回路と、
前記選択コードに応答して、前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された第3の回路と
を備えるTAPスイッチ。
[2] 前記IRは、選択TAP命令に応答して、前記選択コードをキャプチャするように構成された上記[1]に記載のTAPスイッチ。
[3] 前記第2の回路は更に、前記IRによってキャプチャされた前記選択コードを格納し、かつ、前記選択コードを前記第1の回路および前記第3の回路へ提供するように構成されたラッチ回路を備える上記[2]に記載のTAPスイッチ。
[4] 前記第2の回路は更に、データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記選択されたTAPへ渡すように構成されたゼロ・ビットのデータ・レジスタ(DR)を備える上記[1]に記載のTAPスイッチ。
[5] 前記第2の回路は更に、バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換するように構成されたバイパスDRを備える上記[4]に記載のTAPスイッチ。
[6] 前記バイパス命令は、TAPスイッチ・バイパス状態を示す選択コードに相当する上記[5]に記載のTAPスイッチ。
[7] 前記第3の回路は、前記TAPスイッチ・バイパス状態を示す選択コードに応答して、前記方向転換されたシリアル・データを、前記バイパスDRから前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された上記[6]に記載のTAPスイッチ。
[8] 前記第2の回路は、IR命令に応答して前記IRを選択し、前記データ・スキャン命令に応答して前記ゼロ・ビットのDRを選択し、前記バイパス命令に応答して前記バイパスDRを選択するように構成された状態機械ロジックを更に備える上記[5]に記載のTAPスイッチ。
[9] 前記第1の回路は、前記選択コードにおける変化に応答して、前記クロック信号を、前記TAPのうちの新たに選択された1つへ提供するように構成され、
前記IRは、前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル命令を、前記新たに選択されたTAPへ渡すように構成され、
前記第3の回路は、前記変化した選択コードに応答して、前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された上記[1]に記載のTAPスイッチ。
[10] 前記第1の回路は、デマルチプレクサ回路を備え、前記第3の回路は、マルチプレクサ回路を備える上記[1]に記載のTAPスイッチ。
[11] それぞれが試験アクセス・ポート(TAP)を有する複数の電子回路部品と、
それぞれのTAPへのアクセスを提供するTAPスイッチとを備え、
前記TAPスイッチは、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供するように構成された第1の回路と、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を前記選択されたTAPに渡すように構成された命令レジスタ(IR)を備える第2の回路と、
前記選択コードに応答して、前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された第3の回路と
を備える電子システム。
[12] 電子回路部品はそれぞれ、システム・オン・チップ集積回路に関連付けられたコアを備える上記[11]に記載の電子システム。
[13] 電子回路部品はそれぞれ、キャリア上にマウントされた集積回路を備える上記[11]に記載の電子システム。
[14] 前記第2の回路は更に、データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記選択されたTAPへ渡すように構成されたゼロ・ビットのデータ・レジスタ(DR)を備える上記[11]に記載の電子システム。
[15] 前記第2の回路は更に、バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換することによって、前記選択されたTAPを回避するように構成されたバイパスDRを備える上記[14]に記載の電子システム。
[16] 前記第3の回路は、前記バイパス命令に応答して、前記バイパスDRから方向転換されたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された上記[15]に記載の電子システム。
[17] 前記第2の回路は更に、IR命令に応答して前記TAPスイッチIRを選択し、前記データ・スキャン命令に応答して前記ゼロ・ビットDRを選択し、前記バイパス命令に応答して前記バイパスDRを選択するように構成された状態機械ロジックを備える上記[15]に記載の電子システム。
[18] 前記第1の回路は、前記選択コードにおける変化に応答して、前記クロック信号を、前記TAPのうちの新たに選択された1つへ提供するように構成され、
前記TAPスイッチIRは、前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル命令を、前記新たに選択されたTAPへ渡すように構成され、
前記第3の回路は、前記変化した選択コードに応答して、前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された上記[11]に記載の電子システム。
[19] 前記TAPスイッチのIRは、選択TAP命令に応答して、前記選択コードをキャプチャするように構成された上記[11]に記載の電子システム。
[20] 前記選択TAP命令は、nからなるバイナリ長さを有するバイパス命令に含まれる選択コードを備え、nは、前記TAPに含まれる最長のIRビット長さに等しい上記[19]に記載の電子システム。
[21] 前記第2の回路は更に、前記TAPスイッチIRによってキャプチャされた選択コードを格納し、かつ、前記選択コードを、前記第1の回路および前記第3の回路へ提供するように構成されたラッチ回路を備える上記[19]に記載の電子システム。
[22] 2またはそれ以上の試験アクセス・ポート(TAP)へのアクセスを、TAPスイッチによって制御する方法であって、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供することと、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を、前記選択されたTAPに渡すことと、
前記選択コードに応答して、前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を備える方法。
[23] 選択TAP命令に応答して、前記選択コードを、前記TAPスイッチ内に格納することを更に備える上記[22]に記載の方法。
[24] データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記選択されたTAPへ渡すことを更に備える上記[22]に記載の方法。
[25] バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換することを更に備える上記[24]に記載の方法。
[26] 前記選択コードにおける変化に応答して、前記TAPのうちの新たに選択された1つへ前記クロック信号を提供することと、
前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル命令を、前記新たに選択されたTAPに渡すことと、
前記変化した選択コードに応答して、前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を更に備える上記[22]に記載の方法。
[27] 電子システムにおいて、2またはそれより多いアクセス・ポート(TAP)のうちの1つにアクセスする方法であって、
TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの1つを選択することと、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル情報を、前記選択されたTAPへ渡すことと、
前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を備える方法。
[28] 前記TAPのうちの1つを選択することは、前記選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへ、アクティブなクロック信号を提供することを備える上記[27]に記載の方法。
[29] 前記TAPのうちの選択された1つへアクティブなクロック信号を提供することは、
前記TAPスイッチ内の選択コードをキャプチャすることと、
前記キャプチャされた選択コードに関連付けられたTAPに対応するTAPスイッチのクロック信号出力を起動することと
を備える上記[28]に記載の方法。
[30] 前記TAPスイッチ内の選択コードをキャプチャすることは、
前記選択コードが、前記TAPスイッチの命令レジスタ(IR)内にロードされるまで、前記選択TAP命令の各ビットを、前記TAPでスキャンすることと、
前記TAPスイッチIRにロードされた選択コードを格納することと
を備える上記[29]に記載の方法。
[31] 前記選択コードが、前記TAPスイッチの命令レジスタ(IR)内にロードされるまで、前記選択TAP命令の各ビットを、前記TAPでスキャンすることは、前記選択TAP命令のnビットを、前記タップでスキャンすることを備え、
nは、前記TAPに含まれる最長のIRビット長さに等しい上記[30]に記載の方法。
[32] 前記選択コードにおける変化に応答して、異なるTAPを新たに選択することと、
前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル情報を、前記新たに選択されたTAPへ渡すことと、
前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を更に備える上記[27]に記載の方法。
[33] 前記TAPスイッチによって受け取られたバイパス命令に応答して、前記選択されたTAPをバイパスすることを更に備える上記[27]に記載の方法。
[34] 前記選択されたTAPをバイパスすることは、前記バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換することを備える上記[33]に記載の方法。
[35] 前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル情報を前記選択されたTAPへ渡すことは、
データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチに含まれるゼロ・ビットのデータ・レジスタを経由して、前記選択されたTAPへ渡すことと、
命令レジスタ(IR)命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を、前記TAPスイッチに含まれるIRを経由して、前記選択されたTAPへ渡すことと
を備える上記[27]に記載の方法。
[36] 電子システムにおける2またはそれ以上の試験アクセス・ポート(TAP)へのアクセスを制御するコンピュータ・プログラム製品であって、
TAP命令レジスタ・ビット長情報を処理するプログラム・コードと、
前記TAP命令レジスタ・ビット長情報に応答して、選択コードを含むシリアル命令を生成するプログラム・コードとを備え、
前記選択コードは、TAPスイッチに対して、前記TAPのうちの1つを選択させるように構成されたコンピュータ・プログラム製品。
[37] 引き続き生成された命令レジスタ関連命令に前記選択コードを含めるプログラム・コードを更に備える上記[36]に記載のコンピュータ・プログラム製品。
[38] 前記選択コードが前記TAPスイッチでスキャンされた後、少なくとも2つの試験クロック・サイクルの間、前記TAPスイッチを、アイドル状態に維持するプログラム・コードを更に備える上記[36]に記載のコンピュータ・プログラム製品。
以下に、本願出願の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1] 2またはそれ以上の試験アクセス・ポート(TAP)へのアクセスを提供するTAPスイッチであって、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供するように構成された第1の回路と、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を前記選択されたTAPに渡すように構成された命令レジスタ(IR)を備える第2の回路と、
前記選択コードに応答して、前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された第3の回路と
を備えるTAPスイッチ。
[2] 前記IRは、選択TAP命令に応答して、前記選択コードをキャプチャするように構成された上記[1]に記載のTAPスイッチ。
[3] 前記第2の回路は更に、前記IRによってキャプチャされた前記選択コードを格納し、かつ、前記選択コードを前記第1の回路および前記第3の回路へ提供するように構成されたラッチ回路を備える上記[2]に記載のTAPスイッチ。
[4] 前記第2の回路は更に、データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記選択されたTAPへ渡すように構成されたゼロ・ビットのデータ・レジスタ(DR)を備える上記[1]に記載のTAPスイッチ。
[5] 前記第2の回路は更に、バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換するように構成されたバイパスDRを備える上記[4]に記載のTAPスイッチ。
[6] 前記バイパス命令は、TAPスイッチ・バイパス状態を示す選択コードに相当する上記[5]に記載のTAPスイッチ。
[7] 前記第3の回路は、前記TAPスイッチ・バイパス状態を示す選択コードに応答して、前記方向転換されたシリアル・データを、前記バイパスDRから前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された上記[6]に記載のTAPスイッチ。
[8] 前記第2の回路は、IR命令に応答して前記IRを選択し、前記データ・スキャン命令に応答して前記ゼロ・ビットのDRを選択し、前記バイパス命令に応答して前記バイパスDRを選択するように構成された状態機械ロジックを更に備える上記[5]に記載のTAPスイッチ。
[9] 前記第1の回路は、前記選択コードにおける変化に応答して、前記クロック信号を、前記TAPのうちの新たに選択された1つへ提供するように構成され、
前記IRは、前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル命令を、前記新たに選択されたTAPへ渡すように構成され、
前記第3の回路は、前記変化した選択コードに応答して、前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された上記[1]に記載のTAPスイッチ。
[10] 前記第1の回路は、デマルチプレクサ回路を備え、前記第3の回路は、マルチプレクサ回路を備える上記[1]に記載のTAPスイッチ。
[11] それぞれが試験アクセス・ポート(TAP)を有する複数の電子回路部品と、
それぞれのTAPへのアクセスを提供するTAPスイッチとを備え、
前記TAPスイッチは、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供するように構成された第1の回路と、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を前記選択されたTAPに渡すように構成された命令レジスタ(IR)を備える第2の回路と、
前記選択コードに応答して、前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された第3の回路と
を備える電子システム。
[12] 電子回路部品はそれぞれ、システム・オン・チップ集積回路に関連付けられたコアを備える上記[11]に記載の電子システム。
[13] 電子回路部品はそれぞれ、キャリア上にマウントされた集積回路を備える上記[11]に記載の電子システム。
[14] 前記第2の回路は更に、データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記選択されたTAPへ渡すように構成されたゼロ・ビットのデータ・レジスタ(DR)を備える上記[11]に記載の電子システム。
[15] 前記第2の回路は更に、バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換することによって、前記選択されたTAPを回避するように構成されたバイパスDRを備える上記[14]に記載の電子システム。
[16] 前記第3の回路は、前記バイパス命令に応答して、前記バイパスDRから方向転換されたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された上記[15]に記載の電子システム。
[17] 前記第2の回路は更に、IR命令に応答して前記TAPスイッチIRを選択し、前記データ・スキャン命令に応答して前記ゼロ・ビットDRを選択し、前記バイパス命令に応答して前記バイパスDRを選択するように構成された状態機械ロジックを備える上記[15]に記載の電子システム。
[18] 前記第1の回路は、前記選択コードにおける変化に応答して、前記クロック信号を、前記TAPのうちの新たに選択された1つへ提供するように構成され、
前記TAPスイッチIRは、前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル命令を、前記新たに選択されたTAPへ渡すように構成され、
前記第3の回路は、前記変化した選択コードに応答して、前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された上記[11]に記載の電子システム。
[19] 前記TAPスイッチのIRは、選択TAP命令に応答して、前記選択コードをキャプチャするように構成された上記[11]に記載の電子システム。
[20] 前記選択TAP命令は、nからなるバイナリ長さを有するバイパス命令に含まれる選択コードを備え、nは、前記TAPに含まれる最長のIRビット長さに等しい上記[19]に記載の電子システム。
[21] 前記第2の回路は更に、前記TAPスイッチIRによってキャプチャされた選択コードを格納し、かつ、前記選択コードを、前記第1の回路および前記第3の回路へ提供するように構成されたラッチ回路を備える上記[19]に記載の電子システム。
[22] 2またはそれ以上の試験アクセス・ポート(TAP)へのアクセスを、TAPスイッチによって制御する方法であって、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供することと、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を、前記選択されたTAPに渡すことと、
前記選択コードに応答して、前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を備える方法。
[23] 選択TAP命令に応答して、前記選択コードを、前記TAPスイッチ内に格納することを更に備える上記[22]に記載の方法。
[24] データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記選択されたTAPへ渡すことを更に備える上記[22]に記載の方法。
[25] バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換することを更に備える上記[24]に記載の方法。
[26] 前記選択コードにおける変化に応答して、前記TAPのうちの新たに選択された1つへ前記クロック信号を提供することと、
前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル命令を、前記新たに選択されたTAPに渡すことと、
前記変化した選択コードに応答して、前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を更に備える上記[22]に記載の方法。
[27] 電子システムにおいて、2またはそれより多いアクセス・ポート(TAP)のうちの1つにアクセスする方法であって、
TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの1つを選択することと、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル情報を、前記選択されたTAPへ渡すことと、
前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を備える方法。
[28] 前記TAPのうちの1つを選択することは、前記選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへ、アクティブなクロック信号を提供することを備える上記[27]に記載の方法。
[29] 前記TAPのうちの選択された1つへアクティブなクロック信号を提供することは、
前記TAPスイッチ内の選択コードをキャプチャすることと、
前記キャプチャされた選択コードに関連付けられたTAPに対応するTAPスイッチのクロック信号出力を起動することと
を備える上記[28]に記載の方法。
[30] 前記TAPスイッチ内の選択コードをキャプチャすることは、
前記選択コードが、前記TAPスイッチの命令レジスタ(IR)内にロードされるまで、前記選択TAP命令の各ビットを、前記TAPでスキャンすることと、
前記TAPスイッチIRにロードされた選択コードを格納することと
を備える上記[29]に記載の方法。
[31] 前記選択コードが、前記TAPスイッチの命令レジスタ(IR)内にロードされるまで、前記選択TAP命令の各ビットを、前記TAPでスキャンすることは、前記選択TAP命令のnビットを、前記タップでスキャンすることを備え、
nは、前記TAPに含まれる最長のIRビット長さに等しい上記[30]に記載の方法。
[32] 前記選択コードにおける変化に応答して、異なるTAPを新たに選択することと、
前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル情報を、前記新たに選択されたTAPへ渡すことと、
前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を更に備える上記[27]に記載の方法。
[33] 前記TAPスイッチによって受け取られたバイパス命令に応答して、前記選択されたTAPをバイパスすることを更に備える上記[27]に記載の方法。
[34] 前記選択されたTAPをバイパスすることは、前記バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換することを備える上記[33]に記載の方法。
[35] 前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル情報を前記選択されたTAPへ渡すことは、
データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチに含まれるゼロ・ビットのデータ・レジスタを経由して、前記選択されたTAPへ渡すことと、
命令レジスタ(IR)命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を、前記TAPスイッチに含まれるIRを経由して、前記選択されたTAPへ渡すことと
を備える上記[27]に記載の方法。
[36] 電子システムにおける2またはそれ以上の試験アクセス・ポート(TAP)へのアクセスを制御するコンピュータ・プログラム製品であって、
TAP命令レジスタ・ビット長情報を処理するプログラム・コードと、
前記TAP命令レジスタ・ビット長情報に応答して、選択コードを含むシリアル命令を生成するプログラム・コードとを備え、
前記選択コードは、TAPスイッチに対して、前記TAPのうちの1つを選択させるように構成されたコンピュータ・プログラム製品。
[37] 引き続き生成された命令レジスタ関連命令に前記選択コードを含めるプログラム・コードを更に備える上記[36]に記載のコンピュータ・プログラム製品。
[38] 前記選択コードが前記TAPスイッチでスキャンされた後、少なくとも2つの試験クロック・サイクルの間、前記TAPスイッチを、アイドル状態に維持するプログラム・コードを更に備える上記[36]に記載のコンピュータ・プログラム製品。
Claims (38)
- 2またはそれ以上の試験アクセス・ポート(TAP)へのアクセスを提供するTAPスイッチであって、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供するように構成された第1の回路と、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を前記選択されたTAPに渡すように構成された命令レジスタ(IR)を備える第2の回路と、
前記選択コードに応答して、前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された第3の回路と
を備えるTAPスイッチ。 - 前記IRは、選択TAP命令に応答して、前記選択コードをキャプチャするように構成された請求項1に記載のTAPスイッチ。
- 前記第2の回路は更に、前記IRによってキャプチャされた前記選択コードを格納し、かつ、前記選択コードを前記第1の回路および前記第3の回路へ提供するように構成されたラッチ回路を備える請求項2に記載のTAPスイッチ。
- 前記第2の回路は更に、データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記選択されたTAPへ渡すように構成されたゼロ・ビットのデータ・レジスタ(DR)を備える請求項1に記載のTAPスイッチ。
- 前記第2の回路は更に、バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換するように構成されたバイパスDRを備える請求項4に記載のTAPスイッチ。
- 前記バイパス命令は、TAPスイッチ・バイパス状態を示す選択コードに相当する請求項5に記載のTAPスイッチ。
- 前記第3の回路は、前記TAPスイッチ・バイパス状態を示す選択コードに応答して、前記方向転換されたシリアル・データを、前記バイパスDRから前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された請求項6に記載のTAPスイッチ。
- 前記第2の回路は、IR命令に応答して前記IRを選択し、前記データ・スキャン命令に応答して前記ゼロ・ビットのDRを選択し、前記バイパス命令に応答して前記バイパスDRを選択するように構成された状態機械ロジックを更に備える請求項5に記載のTAPスイッチ。
- 前記第1の回路は、前記選択コードにおける変化に応答して、前記クロック信号を、前記TAPのうちの新たに選択された1つへ提供するように構成され、
前記IRは、前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル命令を、前記新たに選択されたTAPへ渡すように構成され、
前記第3の回路は、前記変化した選択コードに応答して、前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された請求項1に記載のTAPスイッチ。 - 前記第1の回路は、デマルチプレクサ回路を備え、前記第3の回路は、マルチプレクサ回路を備える請求項1に記載のTAPスイッチ。
- それぞれが試験アクセス・ポート(TAP)を有する複数の電子回路部品と、
それぞれのTAPへのアクセスを提供するTAPスイッチとを備え、
前記TAPスイッチは、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供するように構成された第1の回路と、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を前記選択されたTAPに渡すように構成された命令レジスタ(IR)を備える第2の回路と、
前記選択コードに応答して、前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された第3の回路と
を備える電子システム。 - 電子回路部品はそれぞれ、システム・オン・チップ集積回路に関連付けられたコアを備える請求項11に記載の電子システム。
- 電子回路部品はそれぞれ、キャリア上にマウントされた集積回路を備える請求項11に記載の電子システム。
- 前記第2の回路は更に、データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記選択されたTAPへ渡すように構成されたゼロ・ビットのデータ・レジスタ(DR)を備える請求項11に記載の電子システム。
- 前記第2の回路は更に、バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換することによって、前記選択されたTAPを回避するように構成されたバイパスDRを備える請求項14に記載の電子システム。
- 前記第3の回路は、前記バイパス命令に応答して、前記バイパスDRから方向転換されたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された請求項15に記載の電子システム。
- 前記第2の回路は更に、IR命令に応答して前記TAPスイッチIRを選択し、前記データ・スキャン命令に応答して前記ゼロ・ビットDRを選択し、前記バイパス命令に応答して前記バイパスDRを選択するように構成された状態機械ロジックを備える請求項15に記載の電子システム。
- 前記第1の回路は、前記選択コードにおける変化に応答して、前記クロック信号を、前記TAPのうちの新たに選択された1つへ提供するように構成され、
前記TAPスイッチIRは、前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル命令を、前記新たに選択されたTAPへ渡すように構成され、
前記第3の回路は、前記変化した選択コードに応答して、前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送するように構成された請求項11に記載の電子システム。 - 前記TAPスイッチのIRは、選択TAP命令に応答して、前記選択コードをキャプチャするように構成された請求項11に記載の電子システム。
- 前記選択TAP命令は、nからなるバイナリ長さを有するバイパス命令に含まれる選択コードを備え、nは、前記TAPに含まれる最長のIRビット長さに等しい請求項19に記載の電子システム。
- 前記第2の回路は更に、前記TAPスイッチIRによってキャプチャされた選択コードを格納し、かつ、前記選択コードを、前記第1の回路および前記第3の回路へ提供するように構成されたラッチ回路を備える請求項19に記載の電子システム。
- 2またはそれ以上の試験アクセス・ポート(TAP)へのアクセスを、TAPスイッチによって制御する方法であって、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへクロック信号を提供することと、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を、前記選択されたTAPに渡すことと、
前記選択コードに応答して、前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を備える方法。 - 選択TAP命令に応答して、前記選択コードを、前記TAPスイッチ内に格納することを更に備える請求項22に記載の方法。
- データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記選択されたTAPへ渡すことを更に備える請求項22に記載の方法。
- バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換することを更に備える請求項24に記載の方法。
- 前記選択コードにおける変化に応答して、前記TAPのうちの新たに選択された1つへ前記クロック信号を提供することと、
前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル命令を、前記新たに選択されたTAPに渡すことと、
前記変化した選択コードに応答して、前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を更に備える請求項22に記載の方法。 - 電子システムにおいて、2またはそれより多いアクセス・ポート(TAP)のうちの1つにアクセスする方法であって、
TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令に含まれる選択コードに応答して、前記TAPのうちの1つを選択することと、
前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル情報を、前記選択されたTAPへ渡すことと、
前記選択されたTAPから受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を備える方法。 - 前記TAPのうちの1つを選択することは、前記選択コードに応答して、前記TAPのうちの選択された1つへ、アクティブなクロック信号を提供することを備える請求項27に記載の方法。
- 前記TAPのうちの選択された1つへアクティブなクロック信号を提供することは、 前記TAPスイッチ内の選択コードをキャプチャすることと、
前記キャプチャされた選択コードに関連付けられたTAPに対応するTAPスイッチのクロック信号出力を起動することと
を備える請求項28に記載の方法。 - 前記TAPスイッチ内の選択コードをキャプチャすることは、
前記選択コードが、前記TAPスイッチの命令レジスタ(IR)内にロードされるまで、前記選択TAP命令の各ビットを、前記TAPでスキャンすることと、
前記TAPスイッチIRにロードされた選択コードを格納することと
を備える請求項29に記載の方法。 - 前記選択コードが、前記TAPスイッチの命令レジスタ(IR)内にロードされるまで、前記選択TAP命令の各ビットを、前記TAPでスキャンすることは、前記選択TAP命令のnビットを、前記タップでスキャンすることを備え、
nは、前記TAPに含まれる最長のIRビット長さに等しい請求項30に記載の方法。 - 前記選択コードにおける変化に応答して、異なるTAPを新たに選択することと、
前記TAPスイッチによって引き続き受け取られたシリアル情報を、前記新たに選択されたTAPへ渡すことと、
前記新たに選択されたTAPから引き続き受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ転送することと
を更に備える請求項27に記載の方法。 - 前記TAPスイッチによって受け取られたバイパス命令に応答して、前記選択されたTAPをバイパスすることを更に備える請求項27に記載の方法。
- 前記選択されたTAPをバイパスすることは、前記バイパス命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチの出力へ方向転換することを備える請求項33に記載の方法。
- 前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル情報を前記選択されたTAPへ渡すことは、
データ・スキャン命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル・データを、前記TAPスイッチに含まれるゼロ・ビットのデータ・レジスタを経由して、前記選択されたTAPへ渡すことと、
命令レジスタ(IR)命令に応答して、前記TAPスイッチによって受け取られたシリアル命令を、前記TAPスイッチに含まれるIRを経由して、前記選択されたTAPへ渡すことと
を備える請求項27に記載の方法。 - 電子システムにおける2またはそれ以上の試験アクセス・ポート(TAP)へのアクセスを制御するコンピュータ・プログラム製品であって、
TAP命令レジスタ・ビット長情報を処理するプログラム・コードと、
前記TAP命令レジスタ・ビット長情報に応答して、選択コードを含むシリアル命令を生成するプログラム・コードとを備え、
前記選択コードは、TAPスイッチに対して、前記TAPのうちの1つを選択させるように構成されたコンピュータ・プログラム製品。 - 引き続き生成された命令レジスタ関連命令に前記選択コードを含めるプログラム・コードを更に備える請求項36に記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記選択コードが前記TAPスイッチでスキャンされた後、少なくとも2つの試験クロック・サイクルの間、前記TAPスイッチを、アイドル状態に維持するプログラム・コードを更に備える請求項36に記載のコンピュータ・プログラム製品。
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