KR20120038380A - Substrate processing system and substrate transferring method - Google Patents

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도쿄엘렉트론가부시키가이샤
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Abstract

PURPOSE: A substrate processing system and a substrate transfer method are provided to improve substrate processing efficiency by reducing the internal capacity of a load lock module. CONSTITUTION: An upper substrate transfer device(22) and a lower substrate transfer device(23) are vertically and independently transferred inside of a load lock module(13). Four guide arms are relatively slid toward a process chamber with respect to four guide rails arranged on a lift base of the upper substrate transfer device. Four picks are relatively slid towards the process chamber. The four guide arms are relatively slid toward the process chamber with respect to the four guide rails arranged on the lift base(30) of the lower substrate transfer device.

Description

기판 처리 시스템 및 기판 반송 방법{SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM AND SUBSTRATE TRANSFERRING METHOD}Substrate Processing System and Substrate Transfer Method {SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM AND SUBSTRATE TRANSFERRING METHOD}

본 발명은 디스플레이 패널용의 기판을 처리하는 기판 처리 시스템 및 상기 기판 처리 시스템에 있어서의 기판 반송 방법에 관한 것이다.This invention relates to the substrate processing system which processes the board | substrate for display panels, and the board | substrate conveyance method in the said substrate processing system.

플랫 패널 디스플레이 등에 이용되는 유리 기판에는, 상기 유리 기판상에 미세한 배선 등을 구성하기 위해서, 플라스마 에칭 처리가 실시된다. 통상, 유리 기판에의 플라스마 에칭 처리는 기판 처리 시스템으로 실행된다.A plasma etching process is performed to the glass substrate used for a flat panel display etc. in order to comprise fine wiring etc. on the said glass substrate. Usually, plasma etching processing to a glass substrate is performed with a substrate processing system.

제 6 세대의 플랫 패널 디스플레이에 이용되는 유리 기판에 플라스마 에칭 처리를 시설하는 기판 처리 시스템은, 프로세스 챔버(처리실) 및 상기 프로세스 챔버에의 유리 기판의 반출입을 실행하는 로드록 모듈을 구비한다. 이 기판 처리 시스템에서는, 프로세스 챔버내에 있어서, 기판 탑재대 위에서 유리 기판을 상승 또는 하강시키는 제 1 리프터 핀과는 별도의 제 2 리프터 핀을 사용한 기판 교체 방식이 이용되고, 제 2 리프터 핀은 유리 기판의 단부를 수 군데에 있어서 유지하고 해당 유리 기판을 상승 또는 하강시키므로, 유리 기판의 반출입을 실행하는 로드록 모듈내의 반송 아암의 구조를 간소화, 구체적으로는, 싱글 아암형ㆍ상하 회전축레스(shaftless)형의 공간 절약 또한 심플한 구조로 할 수 있으면서, 장치의 제조 가격과 플랫 패널 디스플레이의 생산성을 양립할 수 있다.The substrate processing system which applies a plasma etching process to the glass substrate used for the 6th generation flat panel display is provided with the process chamber (process chamber) and the load lock module which carries out the carrying out of the glass substrate to the said process chamber. In this substrate processing system, a substrate replacement method using a second lifter pin separate from the first lifter pin that raises or lowers the glass substrate on the substrate mount in the process chamber is used, and the second lifter pin is a glass substrate. Since the end of is held in several places and this glass substrate is raised or lowered, the structure of the conveyance arm in the loadlock module which carries out the carrying out of a glass substrate is simplified, specifically, a single arm type | shaftless and shaftless shaft The space saving of the mold can be achieved with a simple structure, and the production cost of the device and the productivity of the flat panel display can be compatible.

 그런데, 제 7 세대 이후의 플랫 패널 디스플레이에 플라스마 에칭 처리를 실시하는 기판 처리 시스템에서는, 유리 기판의 사이즈의 대형화에 의해, 기판 지지 위치가 제한되는 제 2 리프터 핀을 사용한 기판 교체시, 제 2 리프터 핀이 유리 기판의 적절한 개소를 유지하지 못해, 유리 기판의 휨이 너무 크게 되어서 기판 분열에 의해 반송이 불가능하게 되는 일이 있다. 그래서, 이것에 대응하여, 현재는 제 2 리프터 핀을 폐지하고, 로드록 모듈내의 반송 아암으로서 더블 아암형의 반송 아암을 채용하여, 해당 반송 아암에 의해서 기판 교체를 실행함으로써, 유리 기판의 휨의 발생을 방지하고 있다.By the way, in the substrate processing system which performs a plasma etching process to the flat panel display after 7th generation, when replacing a board | substrate using the 2nd lifter pin whose board | substrate support position is restrict | limited by the enlargement of the size of a glass substrate, a 2nd lifter Since a fin cannot hold | maintain a suitable location of a glass substrate, the curvature of a glass substrate may become large too much and conveyance may become impossible by board | substrate division. Thus, in response to this, the second lifter pin is now abolished, and a double arm type transfer arm is employed as the transfer arm in the loadlock module, and the substrate replacement is performed by the transfer arm, thereby preventing warpage of the glass substrate. It is prevented from occurring.

도 11은, 제 7세대 이후의 플랫 패널 디스플레이에 플라스마 에칭 처리를 실시하는 기판 처리 시스템의 구성을 개략적으로 도시하는 사시도이다.FIG. 11 is a perspective view schematically showing the configuration of a substrate processing system that performs a plasma etching process on a flat panel display after the seventh generation.

도 11에 있어서, 이 기판 처리 시스템(110)은 카세트(113)에 수용된 미처리의 유리 기판을 대기(大氣)계 반송 아암(114)을 거쳐서 트랜스퍼 모듈(112)에 반송하는 로드록 모듈(115)을 구비한다. 해당 로드록 모듈(115)은 처리완료 유리 기판을 트랜스퍼 모듈(112)로부터 대기계 반송 아암(114)을 거쳐서 카세트(116)에 반송한다. 프로세스 챔버(111)나 트랜스퍼 모듈(112)의 내부 상태는 거의 진공으로 유지되어 있기 때문에, 로드록 모듈(115)은 내부 상태를 대기/진공으로 전환 가능하게 구성되어 있다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).In FIG. 11, this substrate processing system 110 carries a load lock module 115 for conveying an untreated glass substrate housed in a cassette 113 to a transfer module 112 via an atmospheric transfer arm 114. It is provided. The load lock module 115 conveys the processed glass substrate from the transfer module 112 to the cassette 116 via the atmospheric transfer arm 114. Since the internal state of the process chamber 111 or the transfer module 112 is almost maintained in a vacuum, the load lock module 115 is configured to be capable of switching the internal state to atmospheric / vacuum (for example, the patent literature 1).

또한, 기판 처리 시스템(110)의 트랜스퍼 모듈(112)의 내부에는 기판 반송 유닛으로서의 스칼라형이나 직동형의 반송 아암(도시하지 않음)이 배치되고, 해당 반송 아암은 트랜스퍼 모듈(112)의 내부에서 유리 기판을 탑재한 채로 회전한다. 따라서, 트랜스퍼 모듈(112)의 내부 용적을 크게 할 필요가 있었다.In addition, a scalar type or a linear transfer arm (not shown) as a substrate transfer unit is disposed inside the transfer module 112 of the substrate processing system 110, and the transfer arm is disposed inside the transfer module 112. It rotates with a glass substrate mounted. Therefore, the internal volume of the transfer module 112 needs to be increased.

최근, 제조가 개시되어 있는 제 10 세대의 플랫 패널 디스플레이에 이용되는 유리 기판은 한 변이 약 3m 이하인 장방형을 나타내기 때문에, 트랜스퍼 모듈(112)의 용적을 더욱 크게 할 필요가 있으며, 그 결과, 트랜스퍼 모듈(112)이 거대화한다. 또한, 기판 처리 시스템(110)에서는 트랜스퍼 모듈(112) 및 로드록 모듈(115)의 사이에 진공 단절 가능한 게이트 밸브(117)가 배치되지만, 해당 게이트 밸브(117)도 트랜스퍼 모듈(112)의 거대화에 수반하여 거대화하기 때문에, 트랜스퍼 모듈(112)이나 게이트 밸브(117)의 제조 가격이 상승한다는 문제가 발생했다.In recent years, since the glass substrate used for the 10th generation flat panel display in which manufacture is started shows a rectangle whose side is about 3 m or less, it is necessary to make the transfer module 112 larger in volume, and as a result, transfer Module 112 is huge. In addition, in the substrate processing system 110, a vacuum disconnectable gate valve 117 is disposed between the transfer module 112 and the load lock module 115, but the gate valve 117 is also enlarged in the transfer module 112. In order to enlarge with this, the problem that the manufacturing price of the transfer module 112 and the gate valve 117 rose.

가까운 장래에 제조가 개시되는 제 11 세대의 플랫 패널 디스플레이에 이용되는 유리 기판(한 변이 약 3m 이상인 장방형을 나타냄)에서는, 상술한 트랜스퍼 모듈(112) 등의 제조 가격의 상승이 보다 현저하게 된다. 그래서, 트랜스퍼 모듈(112) 등의 제조 가격을 삭감하기 위해, 도 12에 도시하는 바와 같은, 1개의 프로세스 챔버(121)와 해당 프로세스 챔버(121)에 접속된 1개의 로드록 모듈(122)을 구비하는 제 6 세대의 플랫 패널 디스플레이에 이용되는 유리 기판을 처리하는 기판 처리 시스템과 유사한 구성을 갖는 기판 처리 시스템(120)이 검토되고 있다.In the glass substrate used for the 11th generation flat panel display which manufacture is started in the near future (one side shows the rectangle of about 3 m or more), the manufacturing price of the above-mentioned transfer module 112 etc. will become more remarkable. Therefore, in order to reduce the manufacturing price of the transfer module 112 and the like, one process chamber 121 and one load lock module 122 connected to the process chamber 121 as shown in FIG. The substrate processing system 120 which has a structure similar to the substrate processing system which processes the glass substrate used for the 6th generation flat panel display provided is examined.

그런데, 기판 처리 시스템(120)은 프로세스 챔버(121)를 1개밖에 구비하고 있지 않으므로, 로드록 모듈(122)이 유리 기판의 반출입을 실행하는 동안, 다른 유리 기판에 플라스마 에칭 처리를 시설할 수 없다. 따라서, 플랫 패널 디스플레이의 제조 효율을 향상시키기 위해서는, 로드록 모듈(122)에 의한 유리 기판의 반출입을 단시간에 실행할 필요가 있다.However, since the substrate processing system 120 includes only one process chamber 121, the plasma etching process may be installed on another glass substrate while the load lock module 122 performs loading and unloading of the glass substrate. none. Therefore, in order to improve the manufacturing efficiency of a flat panel display, it is necessary to carry out the carrying out of the glass substrate by the load lock module 122 in a short time.

일본 특허 공개 제 2007-208235 호 공보Japanese Patent Publication No. 2007-208235

그렇지만, 로드록 모듈(122)이 구비하는 기판 반송 유닛으로서 일반적인 스칼라형이나 직동식의 더블 아암형의 반송 아암을 이용했을 경우, 해당 반송 아암의 동작 가능 영역을 로드록 모듈(122)의 내부에 확보할 필요가 있기 때문에, 로드록 모듈(122)의 내부 용적을 크게 할 필요가 있다. 한편, 로드록 모듈(122)은 내부 상태를 대기/진공으로 전환 가능하게 구성될 필요가 있기 때문에, 로드록 모듈(122)의 내부 용적이 크면 유리 기판의 반출입시의 내부 상태의 대기/진공의 전환에 시간이 필요하여, 결과적으로, 플랫 패널 디스플레이의 제조 효율을 향상시킬 수 없다는 문제가 있다.However, when a general scalar type or linear double arm type transfer arm is used as the substrate transfer unit included in the load lock module 122, the operable region of the transfer arm is placed inside the load lock module 122. Since it is necessary to ensure, it is necessary to enlarge the internal volume of the load lock module 122. On the other hand, since the load lock module 122 needs to be configured such that the internal state can be switched to atmospheric / vacuum, if the internal volume of the load lock module 122 is large, the atmospheric / vacuum of the internal state at the time of carrying in and out of the glass substrate There is a problem that the time is required for the conversion, and as a result, the manufacturing efficiency of the flat panel display cannot be improved.

본 발명의 목적은 기판의 처리 효율을 향상시킬 수 있는 기판 처리 시스템 및 기판 반송 방법을 제공한다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a substrate processing system and a substrate transfer method capable of improving the processing efficiency of a substrate.

상기 목적을 달성하기 위해서, 제 1 항에 기재된 기판 처리 시스템은, 진공 상태에서 기판에 처리를 실시하는 1개의 기판 처리 장치와, 상기 기판 처리 장치에 접속되며 내부 상태를 대기(大氣)/진공으로 전환하는 제 1 기판 반송 장치와, 상기 제 1 기판 반송 장치에 접속되며 상기 기판 처리 장치와 상기 제 1 기판 반송 장치를 사이에 두고 대향하도록 배치되는 제 2 기판 반송 장치를 구비하고, 상기 제 2 기판 반송 장치는 대기 상태에 있어서 상기 제 1 기판 반송 장치에 대한 상기 기판의 반출입을 실행하고, 상기 제 1 기판 반송 장치는 상기 기판 처리 장치에 대한 상기 기판의 반출입을 실시하는 기판 처리 시스템에 있어서, 상기 제 1 기판 반송 장치는, 상기 제 1 기판 반송 장치의 내부에 있어서 상하로 중첩되도록 배치되고 또한 서로 독립하여 상하 이동하는 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구를 갖고, 상기 상부 기판 반송 기구는, 서로 평행하며 또한 상기 기판 처리 장치를 향하여 연장된 복수의 제 1 가이드가 배치된 제 1 기부와, 상기 각 제 1 가이드에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 1 가이드에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장(細長)형상의 제 1 중간 미끄럼 운동 부재와, 상기 각 제 1 중간 미끄럼 운동 부재에 대응하여 마련되어 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 1 중간 미끄럼 운동 부재에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 1 상부 미끄럼 운동 부재를 갖고, 상기 하부 기판 반송 기구는, 서로 평행하며 또한 상기 기판 처리 장치를 향하여 연장된 복수의 제 2 가이드가 배치된 제 2 기부와, 각 상기 제 2 가이드에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 2 가이드에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 2 중간 미끄럼 운동 부재와, 상기 각 제 2 중간 미끄럼 운동 부재에 대응하여 마련되어, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 2 중간 미끄럼 운동 부재에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 2 상부 미끄럼 운동 부재를 갖고, 상기 복수의 제 1 상부 미끄럼 운동 부재 및 상기 복수의 제 2 상부 미끄럼 운동 부재 각각은 상기 기판을 탑재하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the substrate processing system according to claim 1 includes one substrate processing apparatus for processing a substrate in a vacuum state, and an internal state connected to the substrate processing apparatus in an atmosphere / vacuum. And a second substrate transfer device connected to the first substrate transfer device to be switched, and arranged to face each other with the substrate processing device and the first substrate transfer device interposed therebetween, wherein the second substrate is provided. In the substrate processing system in which a conveying apparatus performs carrying in and out of the said board | substrate with respect to the said 1st board | substrate conveying apparatus, and a said 1st board | substrate conveying apparatus performs carrying in / out of the said board | substrate with respect to the said substrate processing apparatus, The said The 1st board | substrate conveying apparatus is arrange | positioned so that it may overlap up and down inside the said 1st board | substrate conveying apparatus, and is independent of each other. An upper substrate conveyance mechanism and a lower substrate conveyance mechanism, wherein the upper substrate conveyance mechanism includes a first base on which a plurality of first guides arranged in parallel with each other and extending toward the substrate processing apparatus, and the respective first guides And a plurality of elongate first intermediate sliding members, which are provided corresponding to the plurality of elongated shapes, and which slide relative to the first guide toward the substrate processing apparatus, and corresponding to the respective first intermediate sliding members. And a plurality of elongate first upper sliding members that slide relative to the first intermediate sliding member toward the substrate processing apparatus, wherein the lower substrate conveying mechanisms are parallel to each other and the substrate processing apparatus. A second base having a plurality of second guides extending toward the second base, and corresponding to each of the second guides; And a plurality of elongate second intermediate sliding members that slide relative to the second guide toward the substrate processing apparatus, and corresponding to the second intermediate sliding members, respectively. A plurality of elongated second upper sliding members that slide relative to the second intermediate sliding member toward the device, wherein the plurality of first upper sliding members and the plurality of second upper sliding members Each is characterized by mounting the substrate.

제 2 항에 기재된 기판 처리 시스템은, 제 1 항에 기재된 기판 처리 시스템에 있어서, 상기 제 1 기판 반송 장치의 내부에 있어서 하방으로부터 상방을 향하여 돌출 가능한 복수의 핀형상 부재를 구비하는 것을 특징으로 한다.The substrate processing system according to claim 2, wherein the substrate processing system according to claim 1 includes a plurality of pin-shaped members that can protrude from below to above in the first substrate transfer device. .

제 3 항에 기재된 기판 처리 시스템은, 제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 기판 처리 시스템에 있어서, 상기 기판은 직사각형을 나타내고, 한 변의 길이는 1.8m 이상인 것을 특징으로 한다.In the substrate processing system of Claim 3, the substrate processing system of Claim 1 or 2 WHEREIN: The said board | substrate shows a rectangle and the length of one side is 1.8 m or more, It is characterized by the above-mentioned.

제 4 항에 기재된 기판 처리 시스템은, 제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 기판 처리 시스템에 있어서, 상기 상부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 1 중간 미끄럼 운동 부재와 상기 각 제 1 상부 미끄럼 운동 부재는 동기하여 미끄럼 운동하고, 상기 하부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 2 중간 미끄럼 운동 부재와 상기 각 제 2 상부 미끄럼 운동 부재는 동기하여 미끄럼 운동하는 것을 특징으로 한다.The substrate processing system according to claim 4 is the substrate processing system according to claim 1, wherein the first intermediate sliding member and the first upper sliding member are respectively formed in the upper substrate transfer mechanism. It is synchronously sliding, and each said 2nd middle sliding member and said 2nd upper sliding member are synchronously sliding in the said lower substrate conveyance mechanism, It is characterized by the above-mentioned.

제 5 항에 기재된 기판 처리 시스템은, 제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 기판 처리 시스템에 있어서, 상기 상부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 1 중간 미끄럼 운동 부재는 서로 연결되지 않고, 상기 하부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 2 중간 미끄럼 운동 부재는 서로 연결되지 않는 것을 특징으로 한다.The substrate processing system according to claim 5 is the substrate processing system according to claim 1, wherein in the upper substrate conveying mechanism, the respective first intermediate sliding members are not connected to each other, and the lower substrate conveying is performed. In the instrument, each of the second intermediate sliding members is not connected to each other.

제 6 항에 기재된 기판 처리 시스템은, 제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 기판 처리 시스템에 있어서, 상기 상부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 1 상부 미끄럼 운동 부재는 서로 연결되지 않고, 상기 하부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 2 상부 미끄럼 운동 부재는 서로 연결되지 않는 것을 특징으로 한다.In the substrate processing system of Claim 1 or 2, the substrate processing system of Claim 1 or 2 WHEREIN: Each said 1st upper sliding member is not connected with each other in the said upper substrate conveyance mechanism, and the said lower substrate conveyance is carried out. Each of the second upper sliding members in the mechanism is not connected to each other.

상기 목적을 달성하기 위해서, 제 7 항에 기재된 기판 반송 방법은, 진공 상태에서 기판에 처리를 실시하는 1개의 기판 처리 장치와, 상기 기판 처리 장치에 접속되고 내부 상태를 대기/진공으로 전환하는 제 1 기판 반송 장치와, 상기 제 1 기판 반송 장치에 접속되며 상기 기판 처리 장치와 상기 제 1 기판 반송 장치를 사이에 두고 대향하도록 배치되는 제 2 기판 반송 장치를 구비하고, 상기 제 2 기판 반송 장치는 대기 상태에 있어서 상기 제 1 기판 반송 장치에 대한 상기 기판의 반출입을 실행하고, 상기 제 1 기판 반송 장치는 상기 기판 처리 장치에 대한 상기 기판의 반출입을 실시하는 기판 처리 시스템으로서, 상기 제 1 기판 반송 장치는, 상기 제 1 기판 반송 장치의 내부에 있어서 상하로 중첩되도록 배치되고 또한, 서로 독립하여 상하 이동하는 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구 및 상기 제 1 기판 반송 장치의 내부에 있어서 하방으로부터 상방을 향하여 돌출 가능한 복수의 핀형상 부재를 갖고, 상기 상부 기판 반송 기구는, 서로 평행하며 또한 상기 기판 처리 장치를 향하여 연장된 복수의 제 1 가이드가 배치된 제 1 기부와, 상기 각 제 1 가이드에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 1 가이드에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 1 중간 미끄럼 운동 부재와, 상기 각 제 1 중간 미끄럼 운동 부재에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 1 중간 미끄럼 운동 부재에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 1 상부 미끄럼 운동 부재를 갖고, 상기 하부 기판 반송 기구는, 서로 평행하며 또한 상기 기판 처리 장치를 향하여 연장된 복수의 제 2 가이드가 배치된 제 2 기부와, 상기 각 제 2 가이드에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 2 가이드에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 2 중간 미끄럼 운동 부재와, 상기 각 제 2 중간 미끄럼 운동 부재에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 2 중간 미끄럼 운동 부재에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 2 상부 미끄럼 운동 부재를 갖고, 상기 복수의 제 1 상부 미끄럼 운동 부재 및 상기 복수의 제 2 상부 미끄럼 운동 부재의 각각은 상기 기판을 탑재하는, 상기 기판 처리 시스템에서의 기판 반송 방법에 있어서, 상기 제 2 기판 반송 장치가 반입하는 미처리의 기판을 상기 상부 기판 반송 기구가 수취하는 제 1 수취 단계와, 상기 상부 기판 반송 기구 및 상기 하부 기판 반송 기구를 상승시키는 제 1 상승 단계와, 상기 하부 기판 반송 기구가 상기 제 2 중간 미끄럼 운동 부재 및 상기 제 2 상부 미끄럼 운동 부재를 미끄럼 운동시켜 처리 완료의 기판을 상기 기판 처리 장치로부터 반출하는 반출 단계와, 상기 상부 기판 반송 기구 및 상기 하부 기판 반송 기구를 하강시키는 하강 단계와, 상기 상부 기판 반송 기구가 상기 제 1 중간 미끄럼 운동 부재 및 상기 제 1 상부 미끄럼 운동 부재를 미끄럼 운동시켜 상기 미처리의 기판을 상기 기판 처리 장치에 반입하는 반입 단계와, 상기 상부 기판 반송 기구만이 상승하는 제 2 상승 단계와, 상기 복수의 핀형상 부재가 돌출하여 상기 처리 완료의 기판을 상기 하부 기판 반송 기구로부터 이격시켜 상승시키는 제 3 상승 단계와, 상기 제 2 기판 반송 장치가 상기 상승한 상기 처리 완료의 기판을 수취하는 제 2 수취 단계를 갖는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the said objective, the board | substrate conveyance method of Claim 7 consists of one board | substrate processing apparatus which processes a board | substrate in a vacuum state, and the agent which is connected to the said substrate processing apparatus and switches an internal state to air | vacuum / vacuum. And a second substrate transfer apparatus connected to the first substrate transfer apparatus and the first substrate transfer apparatus, and arranged to face each other with the substrate processing apparatus and the first substrate transfer apparatus interposed therebetween. Carrying out the said board | substrate with respect to the said 1st board | substrate conveyance apparatus in a standby state, The said 1st board | substrate conveyance apparatus is a board | substrate processing system which performs the carrying out of the said board | substrate with respect to the said substrate processing apparatus, Comprising: 1st board | substrate conveyance The upper part which arrange | positions so that it may overlap up and down inside the said 1st board | substrate conveyance apparatus, and moves up and down independently of each other The board | substrate conveyance mechanism, the lower board | substrate conveyance mechanism, and the inside of the said 1st board | substrate conveyance apparatus have several fin-shaped member which can protrude upward from below, The said upper substrate conveyance mechanism is mutually parallel, and the said substrate processing apparatus A first base having a plurality of first guides extending toward the first base, and a plurality of elongated articles provided corresponding to each of the first guides and sliding relative to the first guide toward the substrate processing apparatus. A plurality of elongate first upper slides, which are provided corresponding to the first intermediate sliding member and the respective first intermediate sliding members, and which slide relative to the first intermediate sliding member toward the substrate processing apparatus. It has a movement member, and the said lower board | substrate conveyance mechanism is mutually parallel and the said substrate process A second base having a plurality of second guides extending toward the teeth, and a plurality of elongated shapes which are provided corresponding to each of the second guides and which slide relative to the second guide toward the substrate processing apparatus. A plurality of elongated second upper portions provided corresponding to the second intermediate sliding members and the respective second intermediate sliding members and sliding relative to the second intermediate sliding members toward the substrate processing apparatus. In the substrate conveyance method in the said substrate processing system, The said 2nd board | substrate which has a sliding member, and each of the said plurality of 1st upper sliding member and the said some 2nd upper sliding member mounts the said board | substrate. A first receiving step in which the upper substrate conveying mechanism receives an unprocessed substrate carried by a conveying apparatus; and A first raising step of raising the sub-substrate conveyance mechanism and the lower substrate conveyance mechanism; and the lower substrate conveyance mechanism sliding the second intermediate sliding member and the second upper sliding member, thereby removing the processed substrate. A carrying out step of carrying out from the substrate processing apparatus; a lowering step of lowering the upper substrate carrying mechanism and the lower substrate carrying mechanism; and the upper substrate carrying mechanism for the first intermediate sliding member and the first upper sliding member. A carrying-in step of sliding the unprocessed substrate to the substrate processing apparatus by sliding, a second raising step of raising only the upper substrate transfer mechanism, and the plurality of pin-shaped members protruding from the substrate to complete the processing; A third ascending step of spaced apart from the lower substrate carrying mechanism and the second substrate; Characterized in that the transmitting device having a second receiving step for receiving the substrate in the elevated above processing has been completed.

본 발명에 의하면, 제 1 기판 반송 장치에 있어서의 상부 기판 반송 기구는, 제 1 가이드에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 1 중간 미끄럼 운동 부재와, 제 1 중간 미끄럼 운동 부재에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 1 상부 미끄럼 운동 부재를 가지므로, 기판을 기판 처리 장치에 대하여 반출입 할 때 이외, 제 1 가이드, 제 1 중간 미끄럼 운동 부재 및 제 1 상부 미끄럼 운동 부재를 중첩하는 것에 의해 상부 기판 반송 기구를 작게 할 수 있다. 또한, 제 1 기판 반송 장치에 있어서의 하부 기판 반송 기구는, 제 2 가이드에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 2 중간 미끄럼 운동 부재와, 제 2 중간 미끄럼 운동 부재에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 2 상부 미끄럼 운동 부재를 가지므로, 기판을 기판 처리 장치에 대하여 반출입 할 때 이외, 제 2 가이드, 제 2 중간 미끄럼 운동 부재 및 제 2 상부 미끄럼 운동 부재를 중첩하는 것에 의해서 하부 기판 반송 기구를 작게 할 수 있다.According to this invention, the upper board | substrate conveyance mechanism in a 1st board | substrate conveying apparatus is provided with respect to the several elongate 1st intermediate sliding member and the 1st intermediate sliding member which slide relatively with respect to a 1st guide. Since it has a plurality of elongate first upper sliding members that slide relatively, the first guide, the first intermediate sliding member, and the first upper sliding member are moved, except when carrying the substrate in and out of the substrate processing apparatus. By superimposing, the upper board | substrate conveyance mechanism can be made small. Moreover, the lower board | substrate conveyance mechanism in a 1st board | substrate conveying apparatus slides relatively with respect to the several elongate 2nd intermediate sliding member and the 2nd intermediate sliding member which slide relatively with respect to a 2nd guide. Since it has a plurality of elongate second upper sliding members that move, the second guide, the second intermediate sliding member, and the second upper sliding member are overlapped with each other except when carrying the substrate in and out of the substrate processing apparatus. The lower substrate transfer mechanism can be made smaller.

또한, 제 1 기판 반송 장치는 1개의 기판 처리 장치 밖에 접속되어 있지 않기 때문에, 제 1 기판 반송 장치는 1개의 기판 처리 장치에 대한 기판의 반출입을 실행하면 좋다. 또한, 상부 기판 반송 기구는 상승함으로써 하부 기판 반송 기구에 의한 기판의 반출입이나 수수를 저해하는 일 없고, 하부 기판 반송 기구는 하강함으로써, 상부 기판 반송 기구에 의한 기판의 반출입이나 수수를 저해하는 일이 없다. 따라서, 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구는 회전할 필요가 없고, 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구의 구성을 간소화할 수 있으며, 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구를 보다 작게 할 수 있다.In addition, since only a single substrate processing apparatus is connected to the first substrate transfer apparatus, the first substrate transfer apparatus may carry out the carrying out of the substrate to one substrate processing apparatus. In addition, when the upper substrate conveyance mechanism is raised, the carrying out and receiving of the substrate by the lower substrate conveyance mechanism are not impeded, and the lower substrate conveyance mechanism is lowered, thereby inhibiting the carrying in and out of the substrate by the upper substrate conveyance mechanism. none. Therefore, the upper substrate conveyance mechanism and the lower substrate conveyance mechanism do not need to rotate, the structure of the upper substrate conveyance mechanism and the lower substrate conveyance mechanism can be simplified, and the upper substrate conveyance mechanism and the lower substrate conveyance mechanism can be made smaller. .

그 결과, 제 1 기판 반송 장치의 내부 용적을 작게 할 수 있어, 제 1 기판 반송 장치의 내부 상태의 대기/진공의 전환에 시간을 필요로 할 일이 없다. 이것에 의해, 기판의 처리 효율을 향상시킬 수 있다.As a result, the internal volume of a 1st board | substrate conveying apparatus can be made small, and it does not need time for switching of air | atmosphere / vacuum of the internal state of a 1st substrate conveying apparatus. Thereby, the processing efficiency of a board | substrate can be improved.

도 1은 본 발명의 실시형태와 관련되는 기판 처리 시스템의 구성을 개략적으로 도시하는 평면도,
도 2는 종래의 기판 처리 시스템에 이용되는 기판 반송 유닛의 구성을 개략적으로 도시하는 사시도,
도 3은 도 1에 있어서의 선 A-A에 관한 단면도,
도 4는 도 3에 있어서의 상부 기판 반송 기구의 구성을 개략적으로 도시하는 도면이고, 도 4의 (A)는 상부 기판 반송 기구의 구성 및 동작을 설명하기 위한 단면도이며, 도 4의 (B)는 도 4(A)에 있어서의 선 B-B에 관한 단면도,
도 5는 가이드 레일, 가이드 아암 및 픽의 위치 관계를 설명하기 위한 확대 단면도,
도 6는 도 3에 있어서의 하부 기판 반송 기구의 구성을 개략적으로 나타내 보이는 도면이고, 도 6의 (A)는 하부 기판 반송 기구의 구성 및 동작을 설명하기 위한 단면도이며, 도 6의 (B)는 도 6의 (A)에 있어서의 선 C-C에 관한 단면도이다.
도 7은 본 실시형태에 따른 기판 반송 방법으로서의 반송 순서를 설명하기 위한 공정도이다.
도 8은 본 실시형태에 따른 기판 반송 방법으로서의 반송 순서를 설명하기 위한 공정도이다.
도 9는 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구의 변형예를 도시하는 도면이고, 도 9의 (A)는 수평 단면도이고, 도 9의 (B)는 종단면도이다.
도 10은 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구에 있어서의 픽의 변형예를 도시하는 확대 단면도이다.
도 11은 제 7 세대 이후의 플랫 패널 디스플레이에 플라스마 에칭 처리를 실시하는 기판 처리 시스템의 구성을 개략적으로 도시하는 사시도이다.
도 12는 제 11 세대의 플랫 패널 디스플레이에 플라스마 에칭 처리를 실시하는 기판 처리 시스템의 구성을 개략적으로 도시하는 사시도이다.
1 is a plan view schematically showing the configuration of a substrate processing system according to an embodiment of the present invention;
2 is a perspective view schematically showing the configuration of a substrate transfer unit used in a conventional substrate processing system;
3 is a cross-sectional view of a line A-A in FIG. 1;
FIG. 4 is a diagram schematically showing the configuration of the upper substrate conveyance mechanism in FIG. 3, FIG. 4A is a cross-sectional view for explaining the structure and operation of the upper substrate conveyance mechanism, and FIG. 4B. Is a sectional view of the line B-B in FIG. 4 (A),
5 is an enlarged cross sectional view for explaining a positional relationship between a guide rail, a guide arm, and a pick;
FIG. 6: is a figure which shows schematically the structure of the lower board | substrate conveyance mechanism in FIG. 3, FIG. 6 (A) is sectional drawing for demonstrating the structure and operation | movement of a lower board | substrate conveyance mechanism, FIG. Is sectional drawing about the line C-C in FIG.
7 is a flowchart for explaining a conveyance procedure as a substrate conveyance method according to the present embodiment.
8 is a flowchart for explaining a conveyance procedure as a substrate conveyance method according to the present embodiment.
FIG. 9: is a figure which shows the modified example of an upper board | substrate conveyance mechanism and a lower board | substrate conveyance mechanism, FIG. 9A is a horizontal cross section, and FIG. 9B is a longitudinal cross-sectional view.
10 is an enlarged cross-sectional view illustrating a modification of the pick in the upper substrate transfer mechanism and the lower substrate transfer mechanism.
11 is a perspective view schematically showing the configuration of a substrate processing system that performs a plasma etching process on a flat panel display after the seventh generation.
12 is a perspective view schematically showing the configuration of a substrate processing system that performs a plasma etching process on an eleventh generation flat panel display.

이하, 본 발명의 실시형태에 대해 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described in detail, referring drawings.

도 1은, 본 발명의 실시형태에 따른 기판 처리 시스템의 구성을 개략적으로 도시하는 평면도이다. 이 기판 처리 시스템은, 한 변의 길이가 1.8m 이상의 직사각형의 유리 기판, 특히, 제 11 세대 이후의 플랫 패널 디스플레이에 이용되는 유리 기판에 낱장으로 플라스마 에칭 처리를 시설한다. 또한, 도 1에서는, 기판 처리 시스템의 구성의 이해를 용이하게 하기 위해서, 후술의 로드록 모듈(13)이나 프로세스 챔버(11)는 수평 단면도를 이용하여 나타내고 있다.1 is a plan view schematically showing the configuration of a substrate processing system according to an embodiment of the present invention. This substrate processing system is equipped with a plasma etching process sheet by sheet on a glass substrate of one side of 1.8 m or more in length, especially a glass substrate used for flat panel displays after the 11th generation. In addition, in FIG. 1, in order to make understanding of the structure of a substrate processing system easy, the load lock module 13 and the process chamber 11 mentioned later are shown using the horizontal cross section.

도 1에 있어서, 기판 처리 시스템(10)은, 하우징형상의 프로세스 챔버(11)(기판 처리 장치)와, 상기 프로세스 챔버(11)와 게이트 밸브(12)를 거쳐서 접속되는 하우징형상의 로드록 모듈(13)(제 1 기판 반송 장치)과, 상기 로드록 모듈(13)에 접속되어 프로세스 챔버(11)와 로드록 모듈(13)을 사이에 두고 대향하도록 배치되는 대기계 반송 장치(14)(제 2 기판 반송 장치)와, 상기 대기계 반송 장치(14)와 접속되어 상기 대기계 반송 장치(14)에 관하여 로드록 모듈(13)로부터 도면 중 시계 방향 및 반시계 방향으로 약 90°회전 이동한 위치에 배치되는 카세트(15)(기판 공급 장치) 및 카세트(16)(기판 수용 장치)를 구비한다. 또한, 로드록 모듈(13)의 대기계 반송 장치(14)에 대향하는 측면에는 게이트 밸브(17)가 마련되어 있다.In FIG. 1, the substrate processing system 10 is a housing-shaped load lock module connected via a housing-shaped process chamber 11 (substrate processing apparatus) and the process chamber 11 and the gate valve 12. (13) (1st board | substrate conveyance apparatus) and the atmospheric system conveyance apparatus 14 connected to the said load lock module 13, and arrange | positioned so that it may oppose the process chamber 11 and the load lock module 13 between them ( 2nd board | substrate conveying apparatus) and the said atmospheric system conveying apparatus 14, and are rotated about 90 degrees with respect to the said atmospheric system conveying apparatus 14 from the load lock module 13 in clockwise and counterclockwise directions in a figure. The cassette 15 (substrate supply apparatus) and the cassette 16 (substrate accommodation apparatus) arrange | positioned at one position are provided. Moreover, the gate valve 17 is provided in the side surface which opposes the atmospheric system conveyance apparatus 14 of the load lock module 13.

프로세스 챔버(11)는 진공으로 유지된 내부에 유리 기판(G)을 수용하고, 상기 내부에서 발생된 플라스마를 이용해 유리 기판(G)에 플라스마 에칭 처리를 실시한다. 또한, 프로세스 챔버(11)는 내부에 유리 기판(G)을 탑재하는 기판 탑재대(18)를 갖는다.The process chamber 11 accommodates the glass substrate G in the inside maintained by vacuum, and performs the plasma etching process on the glass substrate G using the plasma generate | occur | produced in the inside. Moreover, the process chamber 11 has the board | substrate mounting base 18 which mounts glass substrate G inside.

로드록 모듈(13)은 내부에 후술하는 상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)를 갖고, 도시하지 않은 배기 장치나 압력 제어 밸브에 의해서 내부 상태를 대기/진공으로 전환 가능하게 구성되어 있다.The load lock module 13 has an upper substrate conveyance mechanism 22 and a lower substrate conveyance mechanism 23 described later inside, and can switch the internal state to atmospheric / vacuum by an exhaust device or a pressure control valve (not shown). Consists of.

카세트(15)는 복수의 미처리의 유리 기판(G)을 스톡(stock)하는 프레임체로 이루어지고, 카세트(15)에 있어서 복수의 미처리의 유리 기판(G)은 서로 평행하며 또한 소정의 간격을 유지하여 중첩된다. 또한, 카세트(16)는 복수의 처리 완료의 유리 기판(G)을 스톡하는 프레임로 이루어지고, 카세트(16)에 있어서 복수의 처리 완료의 유리 기판(G)은 서로 평행하며 또한 소정의 간격을 유지하여 중첩된다.The cassette 15 is composed of a frame body that stocks a plurality of unprocessed glass substrates G. In the cassette 15, the plurality of unprocessed glass substrates G are parallel to each other and maintain a predetermined interval. To overlap. Moreover, the cassette 16 consists of a frame which stocks the several processed glass substrate G, and in the cassette 16, the several processed glass substrate G is parallel with each other, and has predetermined space | interval. Keep overlapping.

대기계 반송 장치(14)는 반송 아암 기구(19)를 갖는다. 상기 반송 아암 기구(19)는 대기에 노출되어, 유리 기판(G)을 탑재하는 빗형상의 픽(pick; 20)과 상기 픽(20)을 지지하고, 또한 신축 가능한 스칼라 아암(도시하지 않음)과, 해당 스칼라 아암을 지지하며, 또한 회전 가능한 회전 베이스(21)를 갖는다. 반송 아암 기구(19)는 스칼라 아암을 신축하여, 회전 베이스(21)를 회전시키는 것에 의해, 미처리의 유리 기판(G)을 카세트(15)로부터 반출하여 로드록 모듈(13)의 상부 기판 반송 기구(22)에 넘기고, 처리 완료의 유리 기판(G)을 로드록 모듈(13)의 하부 기판 반송 기구(23)로부터 수취하여 카세트(16)에 수용한다.The atmospheric system conveying apparatus 14 has the conveying arm mechanism 19. The conveying arm mechanism 19 is exposed to the atmosphere to support a comb-shaped pick 20 on which the glass substrate G is mounted, and the pick 20, and also a scalable scalar arm (not shown). And a rotating base 21 supporting the scalar arm and being rotatable. The conveyance arm mechanism 19 carries out the unprocessed glass substrate G from the cassette 15 by expanding and contracting the scalar arm, and rotating the rotation base 21 to convey the upper substrate conveyance mechanism of the load lock module 13. It turns over to (22), the processed glass substrate G is received from the lower board | substrate conveyance mechanism 23 of the load lock module 13, and is accommodated in the cassette 16. As shown in FIG.

게이트 밸브(12)는, 프로세스 챔버(11)에 의한 유리 기판(G)의 플라스마 에칭 처리시에는 폐쇄되어 프로세스 챔버(11)의 내부와 로드록 모듈(13)의 내부를 분할하고, 상부 기판 반송 기구(22)에 의한 미처리의 유리 기판(G)의 프로세스 챔버(11)에의 반입시나 하부 기판 반송 기구(23)에 의한 처리 완료의 유리 기판(G)의 프로세스 챔버(11)로부터의 반출시에는 개방되어 프로세스 챔버(11)의 내부 및 로드록 모듈(13)의 내부를 연통시킨다. 또한, 게이트 밸브(17)는, 로드록 모듈(13)의 내부 상태가 대기의 경우, 개방하여 반송 아암 기구(19)의 픽(20)이 해당 내부에 진입 가능하도록 로드록 모듈(13)의 측면으로 개구부를 형성하고, 로드록 모듈(13)의 내부 상태가 진공의 경우, 폐쇄하여 로드록 모듈(13)의 내부를 외부로부터 분할한다.The gate valve 12 is closed at the time of the plasma etching process of the glass substrate G by the process chamber 11, and divides the inside of the process chamber 11 and the inside of the load lock module 13, and conveys an upper board | substrate. At the time of carrying in the process chamber 11 of the unprocessed glass substrate G by the mechanism 22, and at the time of carrying out from the process chamber 11 of the processed glass substrate G by the lower board | substrate conveyance mechanism 23 at the time of carrying out. Open to communicate the interior of the process chamber 11 and the interior of the loadlock module 13. In addition, when the internal state of the load lock module 13 is atmospheric, the gate valve 17 is opened so that the pick 20 of the transfer arm mechanism 19 can enter the inside of the load lock module 13. An opening is formed laterally, and when the internal state of the load lock module 13 is vacuum, it closes and divides the inside of the load lock module 13 from the outside.

그런데, 종래의 기판 처리 시스템에서 이용되는 기판 반송 유닛(200)은, 도 2에 도시하는 바와 같이, 회전축(도시하지 않음)에 지지된 대략 직방체의 슬라이드 베이스(201)와 해당 슬라이드 베이스(201)에 장착되어 슬라이드 베이스(201)의 길이방향(이하, 단순히 「길이방향」이라고 함)에 슬라이드 가능한 하부 픽 베이스(202)와 슬라이드 베이스(201)에 장착되어 슬라이드 베이스(201)의 길이방향에 슬라이드 가능한 상부 픽 베이스(203)를 구비한다. 하부 픽 베이스(202) 및 상부 픽 베이스(203)에서는 각각 4개의 장봉(長棒)형상의 픽(204, 205)이 길이방향으로 연장되어 있고, 하부 픽 베이스(202)나 상부 픽 베이스(203)가 슬라이드 함으로써, 각 픽(204, 205)이 프로세스 챔버의 내부로 진입하여 유리 기판(G)을 반송한다.By the way, as shown in FIG. 2, the board | substrate conveyance unit 200 used by the conventional substrate processing system is a substantially rectangular parallelepiped slide base 201 and the said slide base 201 supported by the rotating shaft (not shown). A lower pick base 202 and a slide base 201 mounted on the slide base 201 and slidable in a longitudinal direction of the slide base 201 (hereinafter, simply referred to as a “length direction”) and slide in the longitudinal direction of the slide base 201. Possible upper pick base 203. In the lower pick base 202 and the upper pick base 203, four long rod-shaped picks 204 and 205 extend in the longitudinal direction, respectively, and the lower pick base 202 and the upper pick base 203. ) Slides, each pick 204 and 205 enters a process chamber, and conveys the glass substrate G. As shown in FIG.

이 기판 반송 유닛(200)에서는, 하부 픽 베이스(202)나 상부 픽 베이스(203)가 각 픽(204, 205)의 슬라이드 베이스(201)에 대한 설치 강성을 확보하기 위해, 상하 방향으로 두껍게 구성된다.In this board | substrate conveying unit 200, the lower pick base 202 and the upper pick base 203 are thickened in the up-down direction, in order to ensure the installation rigidity with respect to the slide base 201 of each pick 204,205. do.

종래의 기판 처리 시스템에 있어서 로드록 모듈에 기판 반송 유닛(200)을 배치했을 경우, 게이트 밸브가 프로세스 챔버의 측면에서 개구부를 형성하여 프로세스 챔버의 내부 및 로드록 모듈의 내부를 연통시켜도, 기판 반송 유닛(200)의 하부 픽 베이스(202)나 상부 픽 베이스(203)가 두껍게 구성되기 때문에, 해당 하부 픽 베이스(202)나 상부 픽 베이스(203)는 개구부를 통과하지 못하여, 프로세스 챔버의 내부로 진입할 수 없다. 따라서, 각 픽(204, 205)의 길이를 가능한 한 길게 구성함으로써 유리 기판(G)의 반송 가능 거리를 벌 필요가 있다.In the conventional substrate processing system, when the substrate conveying unit 200 is disposed in the load lock module, even if the gate valve forms an opening at the side of the process chamber, the substrate conveys the inside of the process chamber and the load lock module. Since the lower pick base 202 or the upper pick base 203 of the unit 200 is made thicker, the lower pick base 202 or the upper pick base 203 does not pass through the opening, and thus into the process chamber. You cannot enter. Therefore, it is necessary to increase the conveyable distance of glass substrate G by making the length of each pick 204 and 205 as long as possible.

각 픽(204, 205)의 길이를 길게 하면 길게 할수록, 유리 기판(G)의 반송시에 각 픽(204, 205)의 흔들림이 커지고, 또한, 각 픽(204, 205)의 중량도 무거워진다. 따라서, 각 픽(204, 205)의 흔들림을 방지하고, 각 픽(204, 205)을 안정적으로 지지하기 위해서 각 픽(204, 205)의 슬라이드 베이스(201)에 대한 장착 강성을 보다 높게 할 필요가 있다. 각 픽(204, 205)의 설치 강성을 보다 높게 하려면, 하부 픽 베이스(202)나 상부 픽 베이스(203)의 정적 강성 뿐만 아니라 슬라이드 베이스(201)의 정적 강성을 높게 할 필요가 있기 때문에, 슬라이드 베이스(201)의 두께도 크게 할 필요가 있다.The longer the length of each pick 204, 205, the greater the shaking of each pick 204, 205 during conveyance of the glass substrate G, and the heavier the weight of each pick 204, 205 becomes. . Therefore, in order to prevent the shaking of each pick 204 and 205 and to stably support each pick 204 and 205, it is necessary to make mounting stiffness to the slide base 201 of each pick 204 and 205 higher. There is. In order to make the installation stiffness of each pick 204 and 205 higher, not only the static stiffness of the lower pick base 202 or the upper pick base 203 but also the static stiffness of the slide base 201 need to be increased. It is also necessary to increase the thickness of the base 201.

또한, 기판 반송 유닛(200)에서는, 슬라이드 베이스(201)가 회전하는 것에 의해서 해당 기판 반송 유닛(200) 전체가 회전하지만, 회전시에 관성력에 의해서 슬라이드 베이스(201)가 휘는 것을 방지하기 위해서 슬라이드 베이스(201)의 정적 강성을 보다 높게 할 필요가 있어, 그 결과, 슬라이드 베이스(201)의 두께를 보다 크게 할 필요가 있다.Moreover, in the board | substrate conveyance unit 200, although the said board | substrate conveyance unit 200 whole rotates by rotating the slide base 201, in order to prevent the slide base 201 from bending by the inertia force at the time of rotation, it slides. It is necessary to make the static rigidity of the base 201 higher, and as a result, the thickness of the slide base 201 needs to be made larger.

그런데, 슬라이드 베이스(201)의 두께를 크게 하면, 기판 반송 유닛(200)이 대형화한다. 또한, 상술한 바와 같이, 기판 반송 유닛(200)에서는 각 픽(204, 205)이 가능한 한 길게 구성되므로, 각 픽(204, 205)을 수용하는 경우, 즉, 각 픽(204, 205)을 슬라이드 베이스(201)에 중첩했을 경우라도, 기판 반송 유닛(200)은 그다지 작게 되지 않는다. 따라서, 결과적으로 기판 반송 유닛(200)이 대형화한다. 이것에 의해, 로드록 모듈의 내부 용적을 크게 할 필요가 있다.By the way, when the thickness of the slide base 201 is made large, the board | substrate conveyance unit 200 will enlarge. In addition, as described above, since the picks 204 and 205 are configured to be as long as possible in the substrate transfer unit 200, the picks 204 and 205 are accommodated when the picks 204 and 205 are accommodated. Even when superimposed on the slide base 201, the substrate transfer unit 200 does not become very small. Therefore, as a result, the board | substrate conveyance unit 200 becomes large. As a result, the internal volume of the loadlock module needs to be increased.

또한, 기판 반송 유닛(200)은 회전하기 때문에, 로드록 모듈(13)의 내부에 회전 가능한 영역을 확보할 필요가 있어, 로드록 모듈의 내부 용적을 보다 크게 할 필요가 있다.Moreover, since the board | substrate conveyance unit 200 rotates, it is necessary to ensure the area | region which can be rotated inside the load lock module 13, and it is necessary to enlarge the internal volume of a load lock module more.

로드록 모듈의 내부 용적이 커지면, 내부 상태의 대기/진공으로 전환시 시간이 필요하여, 플랫 패널 디스플레이의 제조 효율을 향상시킬 수 없다.As the internal volume of the loadlock module increases, time is required for switching to the internal state of the air / vacuum, so that the manufacturing efficiency of the flat panel display cannot be improved.

본 실시형태에서는, 이것에 대응하여, 기판 반송 유닛을 소형화하고, 또한, 기판 반송 유닛의 회전을 불필요하게 한다. 구체적으로는, 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구를 소형화하고, 또한 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구가 한방향에만 유리 기판(G)을 반송하는 것만으로도, 로드록 모듈 및 프로세스 챔버의 사이의 유리 기판(G)의 교체를 실행할 수 있도록 기판 반송 유닛을 구성한다.In this embodiment, corresponding to this, the board | substrate conveyance unit is downsized and rotation of a board | substrate conveyance unit is unnecessary. Specifically, the size of the upper substrate conveyance mechanism and the lower substrate conveyance mechanism is reduced in size, and the upper substrate conveyance mechanism and the lower substrate conveyance mechanism are only conveyed the glass substrate G in only one direction. The board | substrate conveyance unit is comprised so that the replacement of the glass substrate G of this can be performed.

도 3은 도 1에 있어서의 선 A-A에 관한 단면도로서, 본 실시형태에 따른 기판 처리 시스템에 있어서의 제 1 기판 반송 장치로서의 로드록 모듈의 구성을 개략적으로 도시하는 단면도이다.FIG. 3 is a cross-sectional view of a line A-A in FIG. 1, which is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a load lock module as a first substrate transfer device in the substrate processing system according to the present embodiment.

도 3에 있어서, 로드록 모듈(13)은 해당 로드록 모듈(13)의 내부에서 도면 중 상하로 중첩되도록 배치되는 상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)를 구비하고, 또한 로드록 모듈(13)의 내부(S)(이하, 단순히 「내부(S)」라고 함)에 있어서 저부로부터 도면 중 상방을 향하여 돌출하고, 상하 이동이 가능한 복수의 버퍼 핀(24)(핀형상 부재)과, 로드록 모듈(13)의 내부 상태를 대기/진공으로 전환하는 배기 장치나 압력 제어 밸브(도시하지 않음)를 구비한다.3, the load lock module 13 is provided with the upper board | substrate conveyance mechanism 22 and the lower board | substrate conveyance mechanism 23 arrange | positioned so that it may overlap up and down in the figure inside the said load lock module 13, A plurality of buffer pins 24 (pin-shaped) protruding upward from the bottom toward the upper side in the drawing in the interior S of the load lock module 13 (hereinafter, simply referred to as "internal S"). Member) and an exhaust device or a pressure control valve (not shown) for switching the internal state of the load lock module 13 to atmosphere / vacuum.

상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)는 서로 독립하여 상하 이동한다. 구체적으로는, 상부 기판 반송 기구(22)는 반송 아암 기구(19)의 픽(20)으로부터 미처리의 유리 기판(G)을 수취하는 위치, 혹은, 미처리의 유리 기판(G)을 프로세스 챔버(11)에 반입하는 위치인 기판 수수 위치와, 하부 기판 반송 기구(23)가 유리 기판(G)의 수수를 실행할 때, 하부 기판 반송 기구(23)의 작업 공간을 확보하기 위해서 상부 기판 반송 기구(22)가 퇴피하는 퇴피처인 상부 퇴피 위치의 사이를 승강한다. 내부(S)에 있어서 상부 퇴피 위치는 기판 수수 위치보다 상방에 위치한다.The upper substrate conveyance mechanism 22 and the lower substrate conveyance mechanism 23 move up and down independently of each other. Specifically, the upper substrate conveyance mechanism 22 receives the unprocessed glass substrate G from the pick 20 of the conveyance arm mechanism 19, or the unprocessed glass substrate G through the process chamber 11. In order to secure the working space of the lower board | substrate conveyance mechanism 23, when the board | substrate handing-off position which is a position to carry in into and) and the lower board | substrate conveyance mechanism 23 carry out delivery of the glass substrate G, the upper board | substrate conveyance mechanism 22 ) Is moved up and down between the upper retreat position, which is the retreat destination. In the inside S, the upper retreat position is located above the substrate delivery position.

또한, 하부 기판 반송 기구(23)는 처리 완료의 유리 기판(G)을 프로세스 챔버(11)로부터 반출하는 위치, 혹은, 반송 아암 기구(19)의 픽(20)에 처리 완료의 유리 기판(G)을 넘기는 위치인 기판 수수 위치와 상부 기판 반송 기구(22)가 유리 기판(G)의 수수를 실행할 때, 상부 기판 반송 기구(22)의 작업 공간을 확보하기 위해서, 하부 기판 반송 기구(23)가 퇴피하는 퇴피처인 하부 퇴피 공간의 사이를 승강한다. 내부(S)에 있어서 하부 퇴피 위치는 기판 수수 위치보다도 하방에 위치한다. 또한, 상부 기판 반송 기구(22)의 기판 수수 위치와 하부 기판 반송 기구(23)의 기판 수수 위치는 동일하다.In addition, the lower board | substrate conveyance mechanism 23 carries out the processed glass substrate G to the position which carries out the processed glass substrate G from the process chamber 11, or to the pick 20 of the conveyance arm mechanism 19. FIG. The lower substrate conveyance mechanism 23 in order to ensure the working space of the upper substrate conveyance mechanism 22 when the board | substrate delivery position and the upper board | substrate conveyance mechanism 22 which carry out the transfer of the glass substrate G carry out. Moves up and down the lower retreat space, which is the retreat. In the inside S, the lower evacuation position is located below the substrate delivery position. In addition, the board | substrate delivery position of the upper board | substrate conveyance mechanism 22 and the board | substrate delivery position of the lower board | substrate conveyance mechanism 23 are the same.

도 4는, 도 3에 있어서의 상부 기판 반송 기구의 구성을 개략적으로 도시하는 도면으로서, 도 4의 (A)는 상부 기판 반송 기구의 구성 및 동작을 설명하기 위한 단면도이며, 도 4의 (B)는 도 4의 (A)에 있어서의 선 B-B에 관한 단면도이다.FIG. 4: is a figure which shows roughly the structure of the upper board | substrate conveyance mechanism in FIG. 3, FIG. 4 (A) is sectional drawing for demonstrating the structure and operation | movement of an upper board | substrate conveyance mechanism, FIG. ) Is a sectional view of the line BB in FIG. 4A.

도 4의 (A) 및 도 4의 (B)에 있어서, 상부 기판 반송 기구(22)는, 서로 평행 또한 프로세스 챔버(11)를(도면 중 우측에) 향하여 연장된 4개의 가이드 레일(25)(제 1 가이드)이 배치된 판형상의 승강 베이스(26)(제 1 기부)와, 각 가이드 레일(25)에 대응하여 마련된 세장(細長)의 각기둥형상을 나타내는 가이드 아암(27)(제 1 중간 미끄럼 운동 부재)과, 각 가이드 아암(27)에 대응하여 마련된 세장의 박판체(薄板體)로 이루어지는 픽(28)(제 1 상부 미끄럼 운동 부재)을 갖는다. 상부 기판 반송 기구(22)에서는, 4개의 픽(28)이 협동하여 1매의 미처리의 유리 기판(G)을 탑재한다.In FIGS. 4A and 4B, the upper substrate conveyance mechanisms 22 are four guide rails 25 parallel to each other and extending toward the process chamber 11 (on the right side in the drawing). A guide arm 27 (first middle) that shows a plate-shaped lifting base 26 (first base) on which (first guide) is arranged, and an elongated prismatic shape provided in correspondence with each guide rail 25. And a pick 28 (first upper sliding member) made of a thin plate body provided in correspondence with each guide arm 27. In the upper substrate conveyance mechanism 22, four picks 28 cooperate and mount one unprocessed glass substrate G.

상부 기판 반송 기구(22)에서는, 도 5에 도시하는 바와 같이, 승강 베이스(26)에 있어서, 하방으로부터 가이드 레일(25), 가이드 아암(27) 및 픽(28)의 순서대로 중첩된다. 가이드 아암(27)은 전체 길이에 걸쳐서 하면에 마련된 가이드홈(27a)을 갖고, 해당 가이드홈(27a)을 거쳐서 가이드 레일(25)과 유동가능하게 끼워 맞춘다. 또한, 픽(28)은 박판체를 단면 U자형상으로 절곡하여 형성되어 U자로 형성되는 내부 공간에 가이드 아암(27)을 수용함으로써 가이드 아암(27)과 유동가능하게 끼워 맞춘다.In the upper board | substrate conveyance mechanism 22, as shown in FIG. 5, in the lifting base 26, it overlaps in order of the guide rail 25, the guide arm 27, and the pick 28 from below. The guide arm 27 has the guide groove 27a provided in the lower surface over the whole length, and it fits so that it can flow with the guide rail 25 via the said guide groove 27a. In addition, the pick 28 is formed by bending the thin plate into a U-shaped cross section so as to receive the guide arm 27 in the inner space formed by the U-shape so as to be fluidly fitted with the guide arm 27.

상부 기판 반송 기구(22)는 도시하지 않은 구동원을 갖고, 해당 구동원이 부여하는 구동력에 의해, 가이드 아암(27)은 프로세스 챔버(11)를 향하여 가이드 레일(25)에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하고, 또한 픽(28)은 프로세스 챔버(11)를 향하여 가이드 아암(27)에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동한다. 이 때, 4개의 가이드 아암(27)은 서로의 상대적 위치 관계를 유지하면서 미끄럼 운동하고, 4개의 픽(28)도 서로의 상대적 위치 관계를 유지하면서 미끄럼 운동한다. 또한, 각 가이드 아암(27)과 각 픽(28)은 동기(同期)하여 미끄럼 운동하므로, 가이드 아암(27) 및 픽(28)의 어느 한쪽의 미끄럼 운동 중에 다른쪽이 정지하여 상부 기판 반송 기구(22)에 있어서 충격이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 이것에 의해, 픽(28)에 탑재된 미처리의 유리 기판(G)의 위치 편차가 발생하는 것을 방지할 수 있어, 미처리의 유리 기판(G)을 프로세스 챔버(11)의 기판 탑재대(18)에 있어서의 소정의 위치에 정확하게 탑재할 수 있다.The upper substrate conveyance mechanism 22 has a drive source (not shown), and the guide arm 27 slides relatively with respect to the guide rail 25 toward the process chamber 11 by the driving force imparted by the drive source. The pick 28 also slides relative to the guide arm 27 towards the process chamber 11. At this time, the four guide arms 27 slide while maintaining the relative positional relationship with each other, and the four picks 28 also slide while maintaining the relative positional relationship with each other. Moreover, since each guide arm 27 and each pick 28 are slid in synchronization, the other side stops during either sliding movement of the guide arm 27 and the pick 28, and the upper substrate conveyance mechanism In (22), the occurrence of an impact can be prevented. Thereby, the positional deviation of the unprocessed glass substrate G mounted in the pick 28 can be prevented, and the unprocessed glass substrate G is mounted to the board | substrate mounting table 18 of the process chamber 11. It can be mounted correctly in a predetermined position in the.

상부 기판 반송 기구(22)에서는, 가이드 아암(27) 및 픽(28)이 프로세스 챔버(11)측으로 최대한 미끄럼 운동했을 때(도 4의 (A) 및 도 4의 (B)에 도시하는 상태), 픽(28)에 탑재된 미처리의 유리 기판(G)이 기판 탑재대(18)의 상방에 도달하도록, 가이드 아암(27) 및 픽(28)의 길이 및 미끄럼 운동 가능 범위가 설정된다.In the upper substrate conveyance mechanism 22, when the guide arm 27 and the pick 28 are slid as far as possible toward the process chamber 11 side (states shown in FIGS. 4A and 4B). The length and the slidable range of the guide arm 27 and the pick 28 are set so that the unprocessed glass substrate G mounted on the pick 28 reaches the upper side of the substrate mounting table 18.

또한, 상부 기판 반송 기구(22)에서는, 프로세스 챔버(11)측으로 최대한 미끄럼 운동한 가이드 아암(27) 및 픽(28)은 구동원이 부여하는 구동력에 의해, 대기계 반송 장치(14)를 향하여 미끄럼 운동하여, 승강 베이스(26)와 중첩된다(도 3에 도시하는 상태).Moreover, in the upper board | substrate conveyance mechanism 22, the guide arm 27 and the pick 28 which slid as far as possible to the process chamber 11 side slide toward the atmospheric conveyance apparatus 14 by the drive force which a drive source gives. It moves and overlaps with the lifting base 26 (state shown in FIG. 3).

이하, 가이드 아암(27) 및 픽(28)이 프로세스 챔버(11)측으로 최대한 미끄럼 운동했을 때(도 4의 (A) 및 도 4의 (B)에 도시하는 상태)를 「신장 상태」라고 하고, 가이드 아암(27) 및 픽(28)이 대기계 반송 장치(14)측으로 최대한 미끄럼 운동했을 때(도 3에 도시하는 상태)를 「단축 상태」라고 한다. 또한, 상부 기판 반송 기구(22)는 기판 수수 위치에 위치하는 경우만, 단축 상태로부터 신장 상태 및 신장 상태로부터 단축 상태로 천이(遷移) 가능하며, 상부 퇴피 위치에 위치하는 경우는 단축 상태 그대로이다.Hereinafter, when the guide arm 27 and the pick 28 slide to the process chamber 11 side as much as possible (state shown to FIG. 4 (A) and FIG. 4 (B)), it is called "extension state." When the guide arm 27 and the pick 28 slide as far as possible to the atmospheric conveyance apparatus 14 side (state shown in FIG. 3), it is called "shortened state." In addition, the upper substrate conveyance mechanism 22 can be shifted from the shortened state to the shortened state from the shortened state and the shortened state only when the upper substrate conveyance mechanism 22 is positioned at the substrate receiving position. .

도 6은, 도 3에 있어서의 하부 기판 반송 기구의 구성을 개략적으로 도시하는 도면으로서, 도 6의 (A)는 하부 기판 반송 기구의 구성 및 동작을 설명하기 위한 단면도이며, 도 6의 (B)는 도 6의 (A)에 있어서의 선 C-C에 관한 단면도이다.FIG. 6: is a figure which shows roughly the structure of the lower board | substrate conveyance mechanism in FIG. 3, FIG. 6 (A) is sectional drawing for demonstrating the structure and operation | movement of a lower board | substrate conveyance mechanism, FIG. ) Is a sectional view of the line C-C in FIG. 6A.

도 6의 (A) 및 도 6의 (B)에 있어서, 하부 기판 반송 기구(23)는, 서로 평행하며, 또한 프로세스 챔버(11)를(도면 중 우측에) 향하여 연장된 4개의 가이드 레일(29)(제 2 가이드)이 배치된 판형상의 승강 베이스(30)(제 2 기부)와 각 가이드 레일(29)에 대응하여 마련된 세장의 각기둥형상을 나타내는 가이드 아암(31)(제 2 중간 미끄럼 운동 부재)과 각 가이드 아암(31)에 대응하여 마련된 세장의 박판체로 이루어지는 픽(32)(제 2 상부 미끄럼 운동 부재)을 갖는다. 하부 기판 반송 기구(23)에서는, 4개의 픽(32)이 협동하여 1매의 처리 완료의 유리 기판(G)을 탑재한다.In FIGS. 6A and 6B, the lower substrate transfer mechanisms 23 are parallel to each other and four guide rails extending toward the process chamber 11 (on the right side in the drawing). A guide arm 31 (second intermediate sliding motion) showing a plate-shaped lifting base 30 (second base) on which a (second guide) is disposed and an elongated prismatic shape provided corresponding to each guide rail 29. Member) and a pick 32 (second upper sliding member) consisting of three thin plates provided corresponding to the guide arms 31. In the lower board | substrate conveyance mechanism 23, four picks 32 cooperate and mount one processed glass substrate G.

하부 기판 반송 기구(23)에서는, 도 5에 도시하는 바와 같이, 승강 베이스(30)에 있어서, 하부로부터 가이드 레일(29), 가이드 아암(31) 및 픽(32)의 순으로 중첩된다. 가이드 아암(31)은 전체 길이에 걸쳐서 하면에 마련된 가이드홈(31a)을 갖고, 해당 가이드홈(31a)을 거쳐서 가이드 레일(29)과 유동가능하게 끼워 맞춘다. 또한, 픽(32)은 박판체를 단면 U자형상으로 절곡하여 형성되고, U자로 형성되는 내부 공간에 가이드 아암(31)을 수용함으로써 가이드 아암(31)과 유동가능하게 끼워 맞춘다.In the lower board | substrate conveyance mechanism 23, as shown in FIG. 5, in the lifting base 30, the guide rail 29, the guide arm 31, and the pick 32 are overlapped in order from the bottom. The guide arm 31 has the guide groove 31a provided in the lower surface over the whole length, and it fits so that it can flow with the guide rail 29 via the said guide groove 31a. The pick 32 is formed by bending a thin plate into a U-shaped cross section, and fits the guide arm 31 in a flowable manner by accommodating the guide arm 31 in an inner space formed by a U-shape.

하부 기판 반송 기구(23)는 도시하지 않은 구동원을 갖고, 해당 구동원이 부여하는 구동력에 의해, 가이드 아암(31)은 프로세스 챔버(11)를 향하여 가이드 레일(29)에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하고, 또한 픽(32)은 프로세스 챔버(11)를 향하여 가이드 아암(31)에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동한다. 이 때, 4개의 가이드 아암(31)은 서로의 상대적 위치 관계를 유지하면서 미끄럼 운동하며, 4개의 픽(32)도 서로의 상대적 위치 관계를 유지하면서 미끄럼 운동한다. 또한, 각 가이드 아암(31)과 각 픽(32)은 동기하여 미끄럼 운동하므로, 가이드 아암(31) 및 픽(32)의 어느 한 쪽의 미끄럼 운동 중에 다른쪽이 정지하여 하부 기판 반송 기구(23)에 있어서 충격이 생기는 것을 방지할 수 있다. 이것에 의해, 픽(32)에 탑재된 처리 완료의 유리 기판(G)의 위치 편차가 발생하는 것을 방지할 수 있다.The lower board | substrate conveyance mechanism 23 has the drive source which is not shown in figure, The guide arm 31 slides with respect to the guide rail 29 toward the process chamber 11 by the drive force which this drive source gives, The pick 32 also slides relative to the guide arm 31 towards the process chamber 11. At this time, the four guide arms 31 slide while maintaining the relative positional relationship with each other, and the four picks 32 also slide while maintaining the relative positional relationship with each other. In addition, since each guide arm 31 and each pick 32 are slid in synchronization, the other side stops during the sliding movement of either the guide arm 31 and the pick 32 so that the lower substrate transfer mechanism 23 ) Can be prevented from occurring. Thereby, generation | occurrence | production of the positional deviation of the processed glass substrate G mounted in the pick 32 can be prevented.

하부 기판 반송 기구(23)에서는, 가이드 아암(31) 및 픽(32)이 프로세스 챔버(11)측으로 최대한 미끄럼 운동했을 때(도 6의 (A) 및 도 6의 (B)에 도시하는 상태), 픽(32)이 기판 탑재대(18)의 상방에 도달하도록, 가이드 아암(31) 및 픽(32)의 길이 및 미끄럼 운동 가능 범위가 설정된다.In the lower board | substrate conveyance mechanism 23, when the guide arm 31 and the pick 32 were slid to the process chamber 11 side as much as possible (state shown to FIG. 6 (A) and FIG. 6 (B)). The length and the slidable range of the guide arm 31 and the pick 32 are set so that the pick 32 reaches above the substrate mount 18.

또한, 하부 기판 반송 기구(23)에서는, 프로세스 챔버(11)측으로 최대한 미끄럼 운동한 가이드 아암(31) 및 픽(32)은 구동원이 부여하는 구동력에 의해, 대기계 반송 장치(14)를 향하여 미끄럼 운동하여, 승강 베이스(30)와 중첩된다(도 3에 도시하는 상태).Moreover, in the lower substrate conveyance mechanism 23, the guide arm 31 and the pick 32 which slid as far as possible to the process chamber 11 side slide toward the atmospheric conveyance apparatus 14 by the drive force which a drive source gives. It moves and overlaps with the lifting base 30 (state shown in FIG. 3).

이하, 가이드 아암(31) 및 픽(32)이 프로세스 챔버(11)측으로 최대한 미끄럼 운동했을 때(도 6의 (A) 및 도 6의 (B)에 도시하는 상태)를 「신장 상태」라고 하고, 가이드 아암(31) 및 픽(32)이 대기계 반송 장치(14)측으로 최대한 미끄럼 운동했을 때(도 3에 나타내는 상태)를 「단축 상태」라고 한다. 또한, 하부 기판 반송 기구(23)는 기판 수수 위치에 위치하는 경우에만, 단축 상태로부터 신장 상태 및 신장 상태로부터 단축 상태로 천이 가능하고, 하부 퇴피 위치에 위치하는 경우는 단축 상태 그대로이다.Hereinafter, when the guide arm 31 and the pick 32 slide to the process chamber 11 side as much as possible (the state shown to FIG. 6 (A) and FIG. 6 (B)), it is called "extension state." When the guide arm 31 and the pick 32 slide as far as possible to the atmospheric conveyance device 14 side (state shown in FIG. 3), it is called "shortened state." Moreover, only when it is located in a board | substrate receiving position, the lower board | substrate conveyance mechanism 23 can make a transition from a shortened state to a shortened state from an extended state and an extended state, and when it is located in a lower retracted position, it remains in a shortened state.

상부 기판 반송 기구(22)에서는, 승강 베이스(26)에 대해 복수의 버퍼 핀(24)에 대응한 위치에 관통 구멍(도시하지 않음)이 마련되어, 각 버퍼 핀(24)은 각 관통 구멍과 유동가능하게 끼워 맞춘다. 또한, 하부 기판 반송 기구(23)에서는 승강 베이스(30)에 대해 복수의 버퍼 핀(24)에 대응한 위치에 관통 구멍(도시하지 않음)이 마련되어, 각 버퍼 핀(24)은 각 관통 구멍과 유동가능하게 끼워 맞춘다. 따라서, 상부 기판 반송 기구(22)의 위치나 하부 기판 반송 기구(23)의 위치에 관계없이, 복수의 버퍼 핀(24)은 자재로 상하 이동할 수 있다. 또한, 복수의 버퍼 핀(24)은 구동원(도시하지 않음)으로부터의 구동력에 의해, 동기하여 상하 이동하므로, 복수의 버퍼 핀(24)이 협동하여 유리 기판(G)을 지지하면서 상하 이동할 때, 지지된 유리 기판(G)은 경사질 일이 없다. 그 결과, 유리 기판(G)의 위치 편차가 발생하는 것을 방지할 수 있다.In the upper board | substrate conveyance mechanism 22, the through hole (not shown) is provided in the position corresponding to the several buffer pins 24 with respect to the lifting base 26, and each buffer pin 24 flows with each through hole. Fit it as much as possible. Further, in the lower substrate transfer mechanism 23, through holes (not shown) are provided at positions corresponding to the plurality of buffer pins 24 with respect to the lifting base 30, and each buffer pin 24 is provided with each through hole. Fit it in a flexible way. Therefore, regardless of the position of the upper substrate conveyance mechanism 22 or the position of the lower substrate conveyance mechanism 23, the plurality of buffer pins 24 can be vertically moved up and down. In addition, since the plurality of buffer pins 24 move up and down synchronously by a driving force from a driving source (not shown), when the plurality of buffer pins 24 move up and down while cooperatively supporting the glass substrate G, The supported glass substrate G does not incline. As a result, occurrence of the positional deviation of the glass substrate G can be prevented.

또한, 상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)는, 후술하는 바와 같이 회전할 필요가 없기 때문에, 각 구성 부재에 회전에 의한 관성력이 작용하는 일이 없고, 휨을 방지하기 위해서 각 구성 부재의 장착 강성을 종래의 기판 반송 유닛(200)에 있어서의 상부 기판 반송 기구(203) 및 하부 기판 반송 기구(204)의 각 구성 부재의 설치 강성 만큼 확보할 필요는 없다. 따라서, 상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)에서는, 각 가이드 아암(27)은 서로 연결할 필요가 없고, 각 가이드 아암(31)도 서로 연결할 필요가 없다. 또한, 각 픽(28)은 서로 연결할 필요가 없고, 각 픽(32)도 서로 연결할 필요가 없다. 따라서, 종래의 기판 반송 유닛(200)에 있어서의 픽 베이스(202; 203)와 같은 연결 부재는 필요 없다.In addition, since the upper board | substrate conveyance mechanism 22 and the lower board | substrate conveyance mechanism 23 do not need to rotate as mentioned later, the inertial force by rotation does not act on each structural member, and in order to prevent curvature, It is not necessary to ensure the mounting rigidity of the constituent members as much as the stiffness of each constituent member of the upper substrate conveyance mechanism 203 and the lower substrate conveyance mechanism 204 in the conventional substrate conveyance unit 200. Therefore, in the upper board | substrate conveyance mechanism 22 and the lower board | substrate conveyance mechanism 23, each guide arm 27 does not need to connect with each other, and each guide arm 31 does not need to connect with each other. In addition, each pick 28 need not be connected to each other, and each pick 32 does not need to be connected to each other. Therefore, a connection member such as pick bases 202 and 203 in the conventional substrate transfer unit 200 is not necessary.

본 실시형태와 관련되는 기판 처리 시스템(10)에 의하면, 로드록 모듈(13)에 있어서의 상부 기판 반송 기구(22)는 승강 베이스(26)의 가이드 레일(25)에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 4개의 가이드 아암(27)과 가이드 아암(27)에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 4개의 픽(28)을 가지므로, 단축 상태에 있어서 승강 베이스(26), 가이드 아암(27) 및 픽(28)을 중첩함으로써 상부 기판 반송 기구(22)를 작게 할 수 있다. 또한, 로드록 모듈(13)에 있어서의 하부 기판 반송 기구(23)는, 승강 베이스(30)의 가이드 레일(29)에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 4개의 가이드 아암(31)과 가이드 아암(31)에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 4개의 픽(32)을 가지므로, 단축 상태에 대해 승강 베이스(30), 가이드 아암(31) 및 픽(32)을 중첩함으로써, 하부 기판 반송 기구(23)를 작게 할 수 있다. 그 결과, 로드록 모듈(13)의 내부 용적을 작게 할 수 있으므로 로드록 모듈(13)의 내부 상태의 대기/진공의 전환에 시간을 필요로 할 일이 없다. 이것에 의해, 유리 기판(G)의 처리 효율을 향상시킬 수 있다.According to the substrate processing system 10 which concerns on this embodiment, the upper board | substrate conveyance mechanism 22 in the load lock module 13 makes it slide relatively with respect to the guide rail 25 of the lifting base 26. As shown in FIG. Since it has four guide arms 27 and four picks 28 sliding relatively with respect to the guide arm 27, the lifting base 26, guide arm 27, and pick 28 in the shortened state are provided. The upper substrate conveyance mechanism 22 can be made small by overlapping. In addition, the lower board | substrate conveyance mechanism 23 in the load lock module 13 has four guide arms 31 and guide arms 31 which slide relatively with respect to the guide rail 29 of the lifting base 30. Since it has four picks 32 which slide relative to), the lower board | substrate conveyance mechanism 23 is superimposed by overlapping the lifting base 30, the guide arm 31, and the pick 32 with respect to a short axis state. It can be made small. As a result, since the internal volume of the load lock module 13 can be reduced, there is no need for time to switch between standby / vacuum switching of the internal state of the load lock module 13. Thereby, the processing efficiency of glass substrate G can be improved.

상술한 기판 처리 시스템(10)에서는, 상부 기판 반송 기구(22)에 있어서 각 가이드 아암(27)은 서로 연결되지 않고, 또한 각 픽(28)도 서로 연결되지 않는다. 또한, 하부 기판 반송 기구(23)에 대해 각 가이드 아암(31)은 서로 연결되지 않고, 한편 각 픽(32)도 서로 연결되지 않는다. 이것에 의해, 가이드 아암(27), 픽(28), 가이드 아암(31) 및, 픽(32)의 연결 부재가 불필요해져, 상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)를 보다 작게 할 수 있다.In the substrate processing system 10 mentioned above, in the upper substrate conveyance mechanism 22, each guide arm 27 is not connected with each other, and each pick 28 is also not connected with each other. In addition, with respect to the lower board | substrate conveyance mechanism 23, each guide arm 31 is not connected with each other, while each pick 32 is also not connected with each other. Thereby, the connection member of the guide arm 27, the pick 28, the guide arm 31, and the pick 32 becomes unnecessary, and the upper board | substrate conveyance mechanism 22 and the lower board | substrate conveyance mechanism 23 are seen. It can be made small.

또한, 상기의 실시형태에서는, 기판 처리 시스템의 기판 반송 유닛이 가이드 레일, 가이드 아암 및 픽을 각각 4개씩 구비하는 경우에 대해 설명했지만, 가이드 레일, 가이드 아암 및 픽의 수는, 유리 기판(G)을 지지 및 반송이 가능한 수이면, 특별히 한정될 일은 없다.In addition, in the said embodiment, although the case where the board | substrate conveyance unit of the substrate processing system is equipped with four guide rails, the guide arm, and the pick, respectively was demonstrated, the number of the guide rail, the guide arm, and the pick is a glass substrate (G). The number is not particularly limited as long as the number can support and return.

다음, 본 실시형태에 따른 기판 반송 방법에 대해 설명한다.Next, the board | substrate conveyance method which concerns on this embodiment is demonstrated.

도 7 내지 도 8은 본 실시형태에 따른 기판 반송 방법으로서의 반송 순서를 설명하기 위한 공정도이다. 본 반송 시퀀스(sequence)는 기판 처리 시스템(10)에 있어서의 로드록 모듈(13)이 주로 실행한다. 또한, 도 7의 (A), 도 7의 (C), 도 7의 (E), 도 7의 (G), 도 8의 (A), 도 8의 (C), 도 8의 (E) 및 도 8의 (G)는 도 1에 있어서의 선 D-D에 관한 단면도이며, 도 7의 (B), 도 7의 (D), 도 7의 (F), 도 7의 (H), 도 8의 (B), 도 8의 (D), 도 8의 (F) 및 도 8의 (H)는 도 1에 있어서의 선 A-A에 관한 단면도이다.7-8 is process drawing for demonstrating the conveyance procedure as the board | substrate conveyance method which concerns on this embodiment. This conveyance sequence is mainly performed by the load lock module 13 in the substrate processing system 10. 7 (A), 7 (C), 7 (E), 7 (G), 8 (A), 8 (C) and 8 (E). And (G) of FIG. 8 is sectional drawing about the line D-D in FIG. 1, FIG.7 (B), FIG.7 (D), FIG.7 (F), FIG.7 (H), FIG. 8B, FIG. 8D, FIG. 8F, and FIG. 8H are cross-sectional views taken along the line A-A in FIG. 1.

우선, 상부 기판 반송 기구(22)가 기판 수수 위치에 위치하고, 하부 기판 반송 기구(23)가 하부 퇴피 위치에 위치한다. 또한, 복수의 버퍼 핀(24)이 승강 베이스(30)의 각 관통 구멍을 통하여 상승하며, 소정의 위치에서 대기한다. 그 후, 게이트 밸브(17)(도시하지 않음)가 개방하여 미처리의 유리 기판(G)을 탑재하는 픽(20)이 내부(S)로 진입하여 유리 기판(G)을 상부 기판 반송 기구(22)의 바로 상부까지 반송한다(도 7의 (A), 도 7의 (B)).First, the upper board | substrate conveyance mechanism 22 is located in a board | substrate delivery position, and the lower board | substrate conveyance mechanism 23 is located in a lower retreat position. In addition, the plurality of buffer pins 24 rise through each of the through holes of the lifting base 30, and stand by at a predetermined position. Thereafter, the gate valve 17 (not shown) opens, and the pick 20 on which the unprocessed glass substrate G is mounted enters the interior S, and the glass substrate G is transferred to the upper substrate transfer mechanism 22. Is conveyed to the upper part of () (FIG. 7 (A), FIG. 7 (B)).

그 다음, 픽(20)이 하강하여 유리 기판(G)의 하면을 각 버퍼 핀(24)에 접촉시키고, 그 후, 픽(20)은 더욱 하강한다. 이것에 의해, 유리 기판(G)은 픽(20)으로부터 이격하고, 각 버퍼 핀(24)은 유리 기판(G)을 지지한다.(도 7의 (C), 도 7의 (D)).The pick 20 is then lowered to bring the lower surface of the glass substrate G into contact with each buffer pin 24, and then the pick 20 is further lowered. Thereby, the glass substrate G is spaced apart from the pick 20, and each buffer pin 24 supports the glass substrate G. (FIG. 7C, FIG. 7D).

이어서, 픽(20)은 내부(S)로부터 퇴출하여, 게이트 밸브(17)가 폐쇄하며, 배기 장치나 압력 제어 밸브가 로드록 모듈(13)의 내부 상태를 진공으로 전환한다. 또한, 2개의 포지셔너(positioner; 33)가 미처리의 유리 기판(G)의 가장자리에 접촉함으로써 미처리의 유리 기판(G)의 위치를 조정한다(도 7의 (E), 도 7 의 (F)).Subsequently, the pick 20 exits from the inside S, and the gate valve 17 closes, and the exhaust device or the pressure control valve switches the internal state of the load lock module 13 to vacuum. In addition, two positioners 33 contact the edges of the untreated glass substrate G to adjust the position of the untreated glass substrate G (FIG. 7E and FIG. 7F). .

또한, 가이드 아암(27, 31)이나 픽(28, 32)의 미끄럼 운동 방향(유리 기판(G)의 반송방향)에 관한 유리 기판(G)의 위치 보정에 대해서는, 예를 들면, 유리 기판(G)이 반송 아암 기구(19)의 픽(20)에 유지된 상태에 있어서 별도 마련되는 편차량 센서(도시하지 않음)로 유리 기판(G)의 신축 방향의 편차를 검출하고, 해당 검출된 편차에 근거하여 픽(20)을 지지하는 스칼라 아암으로 위치 보정을 실행함으로써, 유리 기판(G)에 포지셔너(33)를 접촉시키는 일 없이 위치 보정을 실행할 수도 있다.In addition, about position correction of the glass substrate G regarding the sliding direction (the conveyance direction of the glass substrate G) of the guide arms 27 and 31 and the picks 28 and 32, for example, a glass substrate ( Deviation in the stretching direction of the glass substrate G is detected by the deviation amount sensor (not shown) provided separately in the state where G) is hold | maintained in the pick 20 of the conveyance arm mechanism 19, and the detected deviation By performing position correction with the scalar arm which supports the pick 20 on the basis of this, position correction can also be performed without contacting the positioner 33 to glass substrate G. As shown in FIG.

이어서, 상부 기판 반송 기구(22)가 상승하고, 픽(28)이 유리 기판(G)의 하면에 접촉한 후에도 상부 기판 반송 기구(22)는 상부 퇴피 위치까지 상승한다(제 1 상승 단계). 이것에 의해, 상부 기판 반송 기구(22)는 미처리의 유리 기판(G)을 수취한다. 그 후, 복수의 버퍼 핀(24)은 하강하고, 하부 기판 반송 기구(23)가 기판 수수 위치까지 상승하여(제 1 상승 단계), 게이트 밸브(12)가 개방한다.Subsequently, the upper substrate conveyance mechanism 22 rises, and even after the pick 28 contacts the lower surface of the glass substrate G, the upper substrate conveyance mechanism 22 rises to an upper retreat position (first raising step). Thereby, the upper substrate conveyance mechanism 22 receives the unprocessed glass substrate G. As shown in FIG. Thereafter, the plurality of buffer pins 24 descend, the lower substrate transfer mechanism 23 rises to the substrate receiving position (first raising step), and the gate valve 12 opens.

이어서, 하부 기판 반송 기구(23)는, 가이드 아암(31) 및 픽(32)을 프로세스 챔버(11)측으로 최대한 미끄럼 운동시켜, 프로세스 챔버(11)의 기판 탑재대(18)로부터 복수의 푸셔핀(도시하지 않음)에 의해서 들어 올려진 처리 완료의 유리 기판(G)을 픽(32)에 수취하고(도 7의 (G), 도 7의 (H)), 또한, 가이드 아암(31) 및 픽(32)을 대기계 반송 장치(14)측으로 최대한 미끄럼 운동시켜 처리 완료의 유리 기판(G)을 프로세스 챔버(11)로부터 반출하여, 하부 기판 반송 기구(23)의 바로 위까지 반송한다(반출 단계).Subsequently, the lower substrate conveyance mechanism 23 slides the guide arm 31 and the pick 32 to the process chamber 11 side as much as possible, and the plurality of pusher pins is removed from the substrate mounting table 18 of the process chamber 11. The processed glass substrate G lifted by (not shown) is received by the pick 32 ((G) of FIG. 7, (H) of FIG. 7), and also the guide arm 31 and The pick 32 is slid as far as possible to the atmospheric conveyance apparatus 14 side, and the processed glass substrate G is carried out from the process chamber 11, and it is conveyed to just above the lower substrate conveyance mechanism 23 (carrying out) step).

이어서, 처리 완료의 유리 기판(G)을 탑재한 하부 기판 반송 기구(23)가 하부 퇴피 위치까지 하강하고, 상부 기판 반송 기구(22)가 기판 수수 위치까지 하강한다(하강 단계). 그 후, 상부 기판 반송 기구(22)는, 가이드 아암(27) 및 픽(28)을 프로세스 챔버(11)측으로 최대한 미끄럼 운동시켜, 프로세스 챔버(11)의 기판 탑재대(18)로부터 돌출하는 복수의 푸셔핀(도시하지 않음)에 미처리의 유리 기판(G)을 수수한다(도 8의 (A), 도 8의 (B)) (반입 단계).Next, the lower substrate conveyance mechanism 23 on which the processed glass substrate G is mounted descends to the lower retreat position, and the upper substrate conveyance mechanism 22 descends to the substrate delivery position (falling step). Thereafter, the upper substrate transfer mechanism 22 slides the guide arm 27 and the pick 28 to the process chamber 11 side as much as possible, and protrudes from the substrate mounting table 18 of the process chamber 11. The unprocessed glass substrate G is received by the pusher pin (not shown) of (FIG. 8A, FIG. 8B) (import step).

이어서, 상부 기판 반송 기구(22)는 가이드 아암(27) 및 픽(28)을 대기계 반송 장치(14)측으로 최대한 미끄럼 운동시켜 단축 상태로 천이하여, 상부 퇴피 위치까지 상승한다(제 2 상승 단계). 그 후, 복수의 버퍼 핀(24)이 상승하고, 하부 기판 반송 기구(23)의 픽(32)에 탑재된 처리 완료의 유리 기판(G)을 픽(32)으로부터 이격시킨 후에도 상승을 계속하여, 처리 완료의 유리 기판(G)을 소정의 위치까지 상승시킨다(제 3 상승 단계). 또한, 2개의 포지셔너(33)가 처리 완료의 유리 기판(G)의 가장자리에 접촉함으로써 처리 완료의 유리 기판(G)의 위치를 조정한다(도 8의 (C), 도 8의 (D)).Subsequently, the upper substrate conveyance mechanism 22 slides the guide arm 27 and the pick 28 toward the atmospheric conveyance device 14 as much as possible, transitions to the shortened state, and ascends to the upper retreat position (second raising step). ). Thereafter, the plurality of buffer pins 24 are raised and continue to rise even after separating the processed glass substrate G mounted on the pick 32 of the lower substrate transfer mechanism 23 from the pick 32. The glass substrate G of the process completion is raised to a predetermined position (3rd raising step). Moreover, the two positioners 33 adjust the position of the processed glass substrate G by contacting the edge of the processed glass substrate G (FIG. 8C, FIG. 8D). .

또한, 유리 기판(G)의 반송방향에 관한 위치 보정에 대하여는, 전술한 대기계 반송 장치(14)로부터 로드록 모듈(13)에 유리 기판(G)을 반입했을 경우(도 7의 (A) 내지 도 7의 (B))와 마찬가지로, 예를 들면, 픽(20)을 지지하는 스칼라 아암으로 위치 보정을 실행함으로써, 유리 기판(G)에 포지셔너(33)를 접촉시키는 일 없이 위치 보정을 실행할 수도 있다.In addition, about the position correction regarding the conveyance direction of glass substrate G, when glass substrate G is carried in to the load lock module 13 from the above-mentioned atmospheric system conveyance apparatus 14 (FIG.7 (A)). 7B, the position correction is performed without contacting the positioner 33 to the glass substrate G, for example, by performing the position correction with the scalar arm supporting the pick 20. FIG. It may be.

이어서, 게이트 밸브(12)가 폐쇄하고, 배기 장치나 압력 제어 밸브가 로드록 모듈(13)의 내부 상태를 대기로 전환한다. 그 후, 게이트 밸브(17)가 개방되고, 픽(20)이 내부(S)에 진입해 처리 완료의 유리 기판(G)의 바로 아래에 위치한다(도 8의 (E), 도 8의 (F)).Subsequently, the gate valve 12 is closed, and the exhaust device or the pressure control valve switches the internal state of the load lock module 13 to the atmosphere. Thereafter, the gate valve 17 is opened, and the pick 20 enters the interior S and is located immediately below the processed glass substrate G (FIG. 8E, FIG. 8 ( F)).

이어서, 픽(20)이 상승하여, 처리 완료의 유리 기판(G)의 하면에 접촉한 후에도 소정의 위치까지 상승하여 처리 완료의 유리 기판(G)을 복수의 버퍼 핀(24)으로부터 이격시킨다. 이것에 의해, 픽(20)은 처리 완료의 유리 기판(G)을 수취한다(도 8의 (G), 도 8의 (H))(제 2 수취 단계).Subsequently, the pick 20 is raised to rise to a predetermined position even after contacting the bottom surface of the processed glass substrate G to separate the processed glass substrate G from the plurality of buffer pins 24. Thereby, the pick 20 receives the processed glass substrate G (FIG. 8G, FIG. 8H) (2nd receiving step).

이어서, 처리 완료의 유리 기판(G)을 탑재한 픽(20)이 내부(S)로부터 퇴출하고, 본 반송 순서를 종료한다.Next, the pick 20 on which the processed glass substrate G is mounted is withdrawn from the inside S, and this conveyance procedure is complete | finished.

본 실시형태에 따른 기판 반송 방법으로서의 반송 순서에 의하면, 로드록 모듈(13)은 1개의 프로세스 챔버(11)에만 접속되어 있기 때문에, 로드록 모듈(13)은 1개의 프로세스 챔버(11)에 대한 유리 기판(G)의 반출입을 실행하면 좋다. 또한, 상부 기판 반송 기구(22)는 상승함으로써 하부 기판 반송 기구(23)에 의한 유리 기판(G)의 반출입이나 수수를 저해하는 일이 없고, 하부 기판 반송 기구(23)는 하강함으로써 상부 기판 반송 기구(22)에 의한 유리 기판(G)의 반출입이나 수수를 저해하는 일이 없다. 따라서, 상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)는 회전할 필요가 없다.According to the conveyance procedure as the board | substrate conveyance method which concerns on this embodiment, since the load lock module 13 is connected only to one process chamber 11, the load lock module 13 is provided with respect to one process chamber 11 What is necessary is just to carry in and out of glass substrate G. Moreover, the upper board | substrate conveyance mechanism 22 does not inhibit carrying in and out of the glass substrate G by the lower board | substrate conveyance mechanism 23 by raising, and lower board | substrate conveyance mechanism 23 lowers, and upper board | substrate conveyance is carried out. The carrying in and out of the glass substrate G by the mechanism 22 are not impaired. Therefore, the upper substrate conveyance mechanism 22 and the lower substrate conveyance mechanism 23 do not need to rotate.

상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)가 회전하지 않는다면, 상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)의 각 구성 부재에 회전에 의한 관성력이 작용하는 것이 없이, 관성력에 의한 휨을 방지하기 위해서 각 구성 부재의 정적 강성을 종래의 기판 반송 유닛(200)에 있어서의 상부 기판 반송 기구(203) 및 하부 기판 반송 기구(204)의 각 구성 부재의 정적 강성 만큼 높게 할 필요는 없다. 그 결과, 승강 베이스(26, 30), 가이드 아암(27, 31)이나 픽(28, 32)을 얇게 구성한다. 예를 들면, 두께 100mm 이하로 구성할 수 있어, 상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)를 보다 작게 할 수 있다.If the upper substrate conveyance mechanism 22 and the lower substrate conveyance mechanism 23 do not rotate, the inertial force by rotation does not act on each component member of the upper substrate conveyance mechanism 22 and the lower substrate conveyance mechanism 23, In order to prevent bending due to inertial force, the static stiffness of each constituent member may be made as high as the static stiffness of each constituent member of the upper substrate conveyance mechanism 203 and the lower substrate conveyance mechanism 204 in the conventional substrate conveyance unit 200. There is no need. As a result, the lifting bases 26 and 30, the guide arms 27 and 31, and the picks 28 and 32 are made thin. For example, it can be comprised with thickness 100mm or less, and the upper board | substrate conveyance mechanism 22 and the lower board | substrate conveyance mechanism 23 can be made smaller.

또한, 가이드 아암(27, 31)을 얇게 구성할 수 있으므로, 신장 상태에 있어서 가이드 아암(27, 31)은 프로세스 챔버(11)의 측면의 개구부를 통과할 수 있다. 그 결과, 픽(28, 32)을 그다지 길게 구성하지 않아도, 유리 기판(G)의 반송 가능 거리를 소망값 이상으로 확보할 수 있다. 즉, 픽(28, 32)을 짧게 구성할 수 있으므로, 픽(28, 32)의 흔들림을 방지하기 위해서 픽(28, 32)의 설치 강성을 높게 할 필요가 없다. 그 결과, 픽(28, 32)이 장착되는 가이드 아암(27, 31)이나, 해당 가이드 아암(27, 31)이 장착되는 승강 베이스(26, 30)의 정적 강성을 높게 할 필요가 없고, 이것에 의해, 가이드 아암(27, 31)이나 승강 베이스(26, 30)를 보다 얇게 구성할 수 있다. 그 결과, 상부 기판 반송 기구(22) 및 하부 기판 반송 기구(23)를 더욱 작게 할 수 있다.In addition, since the guide arms 27 and 31 can be made thin, the guide arms 27 and 31 can pass through the opening of the side surface of the process chamber 11 in an extended state. As a result, even if it does not comprise the picks 28 and 32 too long, the conveyable distance of glass substrate G can be ensured more than a desired value. That is, since the picks 28 and 32 can be configured short, it is not necessary to increase the installation rigidity of the picks 28 and 32 in order to prevent the picks 28 and 32 from shaking. As a result, there is no need to increase the static rigidity of the guide arms 27 and 31 to which the picks 28 and 32 are mounted, and the lifting bases 26 and 30 to which the guide arms 27 and 31 are mounted. By this, the guide arms 27 and 31 and the lifting bases 26 and 30 can be configured thinner. As a result, the upper substrate conveyance mechanism 22 and the lower substrate conveyance mechanism 23 can be made smaller.

이상으로, 로드록 모듈(13)의 내부 용적을 작게 할 수 있으므로, 로드록 모듈(13)의 내부 상태의 대기/진공의 전환에 시간을 필요로 할 일이 없다. 이것에 의해, 유리 기판(G)의 처리 효율을 향상시킬 수 있다.As described above, since the internal volume of the load lock module 13 can be reduced, there is no need for time to switch between standby / vacuum switching of the internal state of the load lock module 13. Thereby, the processing efficiency of glass substrate G can be improved.

상술한 기판 처리 시스템(10)에서는, 각 가이드 아암(27), 각 픽(28), 각 가이드 아암(31) 및 각 픽(32)은 각각 서로 연결되지 않지만, 연결 부재에 의해서 서로 연결되어도 좋다. 예를 들면, 도 9의 (A) 및 도 9의 (B)에 도시하는 바와 같이, 각 가이드 아암(27)이 연결 부재로서의 아암 베이스(34)에 의해서 서로 연결되고, 각 가이드 아암(31)이 아암 베이스(35)에 의해서 연결되어도 좋다.In the above-described substrate processing system 10, each guide arm 27, each pick 28, each guide arm 31 and each pick 32 are not connected to each other, but may be connected to each other by a connecting member. . For example, as shown in FIG. 9 (A) and FIG. 9 (B), each guide arm 27 is connected to each other by the arm base 34 as a connecting member, and each guide arm 31 is connected. It may be connected by this arm base 35.

상술한 기판 처리 시스템(10)에서는, 픽(28)이나 픽(32)은 박판체를 단면 U자형상으로 절곡하여 형성되었지만, 도 10에 도시하는 바와 같이, 단순한 세장 박판체에 의해서 형성해도 좋다. 이 경우, 가이드 아암(27, 31)의 표면에 슬릿을 마련하여 픽(28, 32)의 하면에 핀 등의 가이드를 마련해, 슬릿에 핀을 유동가능하게 끼워맞추게 하는 것이 바람직하다.In the substrate processing system 10 described above, the pick 28 and the pick 32 are formed by bending a thin plate into a U-shaped cross section, but may be formed by a simple thin plate as shown in FIG. 10. . In this case, it is preferable to provide a slit on the surface of the guide arms 27 and 31 to provide a guide such as a pin on the lower surface of the picks 28 and 32 so that the pin can be fitted to the slit in a flowable manner.

또한, 상술한 기판 처리 시스템(10)에서는, 상부 기판 반송 기구(22)가 미처리의 유리 기판(G)을 반송하고, 하부 기판 반송 기구(23)가 처리 완료의 유리 기판(G)을 반송했지만, 상부 기판 반송 기구(22)가 처리 완료의 유리 기판(G)을 반송하고, 하부 기판 반송 기구(23)가 미처리의 유리 기판(G)을 반송해도 좋다.In addition, in the substrate processing system 10 mentioned above, although the upper substrate conveyance mechanism 22 conveyed the unprocessed glass substrate G, and the lower substrate conveyance mechanism 23 conveyed the processed glass substrate G, The upper substrate conveyance mechanism 22 may convey the processed glass substrate G, and the lower substrate conveyance mechanism 23 may convey the unprocessed glass substrate G. FIG.

또한, 상술한 기판 처리 시스템(10)에서는, 버퍼 핀(24) 및 픽(20)의 사이에 유리 기판(G)의 수수를 실행할 때, 픽(20)이 승강하여 수수를 실행했지만, 버퍼(24)가 승강하여 수수를 실행해도 좋다.Moreover, in the above-mentioned substrate processing system 10, when the pick-up and the pick-up of the glass substrate G were carried out between the buffer pin 24 and the pick 20, the pick 20 was raised and received, but the buffer ( 24) may move up and down to perform delivery.

이상, 본 발명에 대하여, 상기 실시형태를 이용해 설명했지만, 본 발명은 상기 실시형태로 한정되는 것은 아니다.As mentioned above, although this invention was demonstrated using the said embodiment, this invention is not limited to the said embodiment.

G : 유리 기판 10 : 기판 처리 시스템
11 : 프로세스 챔버 13 : 로드록 모듈
22 : 상부 기판 반송 기구 23 : 하부 기판 반송 기구
24 : 버퍼 핀 25, 29 : 가이드 레일
26, 30 : 승강 베이스 27, 31 : 가이드 아암
28, 32 : 픽
G: Glass Substrate 10: Substrate Processing System
11: process chamber 13: loadlock module
22 upper substrate transport mechanism 23 lower substrate transport mechanism
24: buffer pin 25, 29: guide rail
26, 30: lifting base 27, 31: guide arm
28, 32: pick

Claims (7)

진공 상태에서 기판에 처리를 실시하는 1개의 기판 처리 장치와, 상기 기판 처리 장치에 접속되며 내부 상태를 대기(大氣)/진공으로 전환하는 제 1 기판 반송 장치와, 상기 제 1 기판 반송 장치에 접속되며 상기 기판 처리 장치와 상기 제 1 기판 반송 장치를 사이에 두고 대향하도록 배치되는 제 2 기판 반송 장치를 구비하고, 상기 제 2 기판 반송 장치는 대기 상태에 있어서 상기 제 1 기판 반송 장치에 대한 상기 기판의 반출입을 실행하고, 상기 제 1 기판 반송 장치는 상기 기판 처리 장치에 대한 상기 기판의 반출입을 실시하는 기판 처리 시스템에 있어서,
상기 제 1 기판 반송 장치는, 상기 제 1 기판 반송 장치의 내부에 있어서 상하로 중첩되도록 배치되고, 또한 서로 독립하여 상하 이동하는 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구를 갖고,
상기 상부 기판 반송 기구는, 서로 평행하며 또한 상기 기판 처리 장치를 향하여 연장된 복수의 제 1 가이드가 배치된 제 1 기부와, 상기 각 제 1 가이드에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 1 가이드에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장(細長)형상의 제 1 중간 미끄럼 운동 부재와, 상기 각 제 1 중간 미끄럼 운동 부재에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 1 중간 미끄럼 운동 부재에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 1 상부 미끄럼 운동 부재를 갖고,
상기 하부 기판 반송 기구는, 서로 평행하며 또한 상기 기판 처리 장치를 향하여 연장된 복수의 제 2 가이드가 배치된 제 2 기부와, 각 상기 제 2 가이드에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 2 가이드에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 2 중간 미끄럼 운동 부재와, 상기 각 제 2 중간 미끄럼 운동 부재에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 2 중간 미끄럼 운동 부재에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 2 상부 미끄럼 운동 부재를 갖고,
상기 복수의 제 1 상부 미끄럼 운동 부재 및 상기 복수의 제 2 상부 미끄럼 운동 부재의 각각은 상기 기판을 탑재하는 것을 특징으로 하는
기판 처리 시스템.
One substrate processing apparatus for processing a substrate in a vacuum state, a first substrate transfer apparatus connected to the substrate processing apparatus and switching an internal state to atmospheric / vacuum, and a connection to the first substrate transfer apparatus And a second substrate conveying apparatus arranged to face each other with the substrate processing apparatus and the first substrate conveying apparatus interposed therebetween, wherein the second substrate conveying apparatus is the substrate to the first substrate conveying apparatus in a standby state. In the substrate processing system which carries out the carrying out of the said board | substrate, and the said 1st board | substrate conveying apparatus performs the carrying out of the said board | substrate with respect to the said substrate processing apparatus,
The said 1st board | substrate conveying apparatus is arrange | positioned so that it may overlap up and down inside the said 1st board | substrate conveying apparatus, and has an upper substrate conveyance mechanism and a lower substrate conveyance mechanism which move up and down independently of each other,
The upper substrate conveyance mechanism is provided in correspondence with each of the first guides and a first base on which a plurality of first guides arranged in parallel to each other and extending toward the substrate processing apparatus are disposed, and is directed toward the substrate processing apparatus. A plurality of elongate first intermediate sliding members that slide relative to the first guide, and corresponding to the respective first intermediate sliding members, the first intermediate toward the substrate processing apparatus; Has a plurality of elongate first upper sliding members that slide relative to the sliding member,
The lower substrate conveyance mechanism is provided corresponding to each of the second bases and a plurality of second bases arranged in parallel with each other and extending toward the substrate processing apparatus and each of the second guides, and toward the substrate processing apparatus. A plurality of elongated second intermediate sliding members that slide relative to the second guide, and corresponding to each of the second intermediate sliding members, the second intermediate sliding member facing the substrate processing apparatus; Has a plurality of elongate second upper sliding members relatively sliding relative to,
Each of the plurality of first upper sliding members and the plurality of second upper sliding members mounts the substrate.
Substrate processing system.
제 1 항에 있어서,
상기 제 1 기판 반송 장치의 내부에 있어서 하방으로부터 상방을 향하여 돌출 가능한 복수의 핀형상 부재를 구비하는 것을 특징으로 하는
기판 처리 시스템.
The method of claim 1,
In the inside of the said 1st board | substrate conveyance apparatus, it is provided with the several pin-shaped member which can protrude toward below from above, It characterized by the above-mentioned.
Substrate processing system.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 기판은 직사각형을 나타내고, 한 변의 길이는 1.8m 이상인 것을 특징으로 하는
기판 처리 시스템.
The method according to claim 1 or 2,
The substrate is rectangular, and the length of one side is 1.8 m or more.
Substrate processing system.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 상부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 1 중간 미끄럼 운동 부재와 상기 각 제 1 상부 미끄럼 운동 부재는 동기하여 미끄럼 운동하고,
상기 하부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 2 중간 미끄럼 운동 부재와 상기 각 제 2 상부 미끄럼 운동 부재는 동기하여 미끄럼 운동하는 것을 특징으로 하는
기판 처리 시스템.
The method according to claim 1 or 2,
In the upper substrate transfer mechanism, the respective first intermediate sliding members and the first upper sliding members are slid synchronously,
In the lower substrate transfer mechanism, the respective second intermediate sliding members and the second upper sliding members are synchronously slid.
Substrate processing system.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 상부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 1 중간 미끄럼 운동 부재는 서로 연결되지 않고, 상기 하부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 2 중간 미끄럼 운동 부재는 서로 연결되지 않는 것을 특징으로 하는
기판 처리 시스템.
The method according to claim 1 or 2,
The first intermediate sliding members are not connected to each other in the upper substrate conveyance mechanism, and the second intermediate sliding members are not connected to each other in the lower substrate conveyance mechanism.
Substrate processing system.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 상부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 1 상부 미끄럼 운동 부재는 서로 연결되지 않고, 상기 하부 기판 반송 기구에 있어서 상기 각 제 2 상부 미끄럼 운동 부재는 서로 연결되지 않는 것을 특징으로 하는
기판 처리 시스템.
The method according to claim 1 or 2,
The first upper sliding members are not connected to each other in the upper substrate conveying mechanism, and the second upper sliding members are not connected to each other in the lower substrate conveying mechanism.
Substrate processing system.
진공 상태에서 기판에 처리를 실시하는 1개의 기판 처리 장치와, 상기 기판 처리 장치에 접속되고 내부 상태를 대기/진공으로 전환하는 제 1 기판 반송 장치와, 상기 제 1 기판 반송 장치에 접속되며 상기 기판 처리 장치와 상기 제 1 기판 반송 장치를 사이에 두고 대향하도록 배치되는 제 2 기판 반송 장치를 구비하고, 상기 제 2 기판 반송 장치는 대기 상태에 있어서 상기 제 1 기판 반송 장치에 대한 상기 기판의 반출입을 실행하고, 상기 제 1 기판 반송 장치는 상기 기판 처리 장치에 대한 상기 기판의 반출입을 실시하는 기판 처리 시스템으로서,
상기 제 1 기판 반송 장치는, 상기 제 1 기판 반송 장치의 내부에 있어서 상하로 중첩되도록 배치되고, 또한 서로 독립하여 상하 이동하는 상부 기판 반송 기구 및 하부 기판 반송 기구 및 상기 제 1 기판 반송 장치의 내부에 있어서 하방으로부터 상방을 향하여 돌출 가능한 복수의 핀형상 부재를 갖고, 상기 상부 기판 반송 기구는, 서로 평행하며 또한 상기 기판 처리 장치를 향하여 연장된 복수의 제 1 가이드가 배치된 제 1 기부와, 상기 각 제 1 가이드에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 1 가이드에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 1 중간 미끄럼 운동 부재와, 상기 각 제 1 중간 미끄럼 운동 부재에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 1 중간 미끄럼 운동 부재에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 1 상부 미끄럼 운동 부재를 갖고, 상기 하부 기판 반송 기구는, 서로 평행하며 또한 상기 기판 처리 장치를 향하여 연장된 복수의 제 2 가이드가 배치된 제 2 기부와, 상기 각 제 2 가이드에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 2 가이드에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 2 중간 미끄럼 운동 부재와, 상기 각 제 2 중간 미끄럼 운동 부재에 대응하여 마련되고, 상기 기판 처리 장치를 향하여 상기 제 2 중간 미끄럼 운동 부재에 대하여 상대적으로 미끄럼 운동하는 복수의 세장형상의 제 2 상부 미끄럼 운동 부재를 갖고, 상기 복수의 제 1 상부 미끄럼 운동 부재 및 상기 복수의 제 2 상부 미끄럼 운동 부재의 각각은 상기 기판을 탑재하는, 상기 기판 처리 시스템에서의 기판 반송 방법에 있어서,
상기 제 2 기판 반송 장치가 반입하는 미처리의 기판을 상기 상부 기판 반송 기구가 수취하는 제 1 수취 단계와,
상기 상부 기판 반송 기구 및 상기 하부 기판 반송 기구를 상승시키는 제 1 상승 단계와,
상기 하부 기판 반송 기구가 상기 제 2 중간 미끄럼 운동 부재 및 상기 제 2 상부 미끄럼 운동 부재를 미끄럼 운동시켜 처리 완료의 기판을 상기 기판 처리 장치로부터 반출하는 반출 단계와,
상기 상부 기판 반송 기구 및 상기 하부 기판 반송 기구를 하강시키는 하강 단계와,
상기 상부 기판 반송 기구가 상기 제 1 중간 미끄럼 운동 부재 및 상기 제 1 상부 미끄럼 운동 부재를 미끄럼 운동시켜 상기 미처리의 기판을 상기 기판 처리 장치에 반입하는 반입 단계와,
상기 상부 기판 반송 기구만이 상승하는 제 2 상승 단계와,
상기 복수의 핀형상 부재가 돌출하여 상기 처리 완료의 기판을 상기 하부 기판 반송 기구로부터 이격시켜 상승시키는 제 3 상승 단계와,
상기 제 2 기판 반송 장치가 상기 상승한 상기 처리 완료의 기판을 수취하는 제 2 수취 단계를 갖는 것을 특징으로 하는
기판 반송 방법.
One substrate processing apparatus for processing a substrate in a vacuum state, a first substrate transfer apparatus connected to the substrate processing apparatus and switching an internal state to air / vacuum, and the substrate connected to the first substrate transfer apparatus And a second substrate transfer device disposed to face each other with the processing device and the first substrate transfer device interposed therebetween, wherein the second substrate transfer device is capable of carrying in and out of the substrate to and from the first substrate transfer device in a standby state. And the first substrate transfer device is a substrate processing system for carrying in and out of the substrate with respect to the substrate processing apparatus.
The said 1st board | substrate conveyance apparatus is arrange | positioned so that it may overlap up and down in the inside of the said 1st board | substrate conveyance apparatus, and it moves up and down independently of each other, and the inside of the said 1st board | substrate conveyance mechanism and the lower substrate conveyance mechanism The upper substrate conveyance mechanism has a 1st base in which the several 1st guides which are parallel and mutually extended toward the said substrate processing apparatus are arrange | positioned, A plurality of elongate first intermediate sliding members provided in correspondence with each of the first guides and sliding relative to the first guide toward the substrate processing apparatus, and corresponding to the respective first intermediate sliding members And relative to the first intermediate sliding member toward the substrate processing apparatus. A second base having a plurality of elongated first upper sliding members, the lower substrate conveying mechanism having a plurality of second guides parallel to each other and extending toward the substrate processing apparatus; A plurality of elongate second intermediate sliding members provided in correspondence with the respective second guides and sliding relative to the second guide toward the substrate processing apparatus, and corresponding to the respective second intermediate sliding members And a plurality of elongated second upper sliding members that slide relative to the second intermediate sliding member toward the substrate processing apparatus, and the plurality of first upper sliding members and the plurality of first upper sliding members. Each of the second upper sliding members of the substrate mounts the substrate. In the plate conveying method,
A first receiving step of receiving, by the upper substrate conveying mechanism, an unprocessed substrate carried by the second substrate conveying apparatus;
A first raising step of raising the upper substrate conveyance mechanism and the lower substrate conveyance mechanism;
A carrying-out step of the lower substrate conveying mechanism sliding the second intermediate sliding member and the second upper sliding member to carry out a processed substrate from the substrate processing apparatus;
A lowering step of lowering the upper substrate conveyance mechanism and the lower substrate conveyance mechanism;
An importing step in which the upper substrate conveying mechanism slides the first intermediate sliding member and the first upper sliding member to bring the unprocessed substrate into the substrate processing apparatus;
A second raising step of raising only the upper substrate carrying mechanism;
A third ascending step of causing the plurality of pin-shaped members to protrude to lift the processed substrate away from the lower substrate transfer mechanism;
The said 2nd board | substrate conveying apparatus has a 2nd receiving step which receives the said processed board | substrate of the raise, characterized by the above-mentioned.
Substrate conveying method.
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