KR20120012074A - A light emitting Device, and a method of fabricating the light emitting device - Google Patents

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KR20120012074A
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Abstract

PURPOSE: A light emitting device and a manufacturing method thereof are provided to arrange a light extraction structure which has a dual pattern structure on the surface of a light emitting structure, thereby improving the light extraction efficiency of the light emitting device. CONSTITUTION: A light emitting structure(120) comprises a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer on a substrate. An electrode(130) is arranged on the light emitting structure. One or more components of the substrate and the second conductive semiconductor layer include a light extraction structure. The light extraction structure comprises a second unevenness pattern(150) which has a second period and a first unevenness pattern(140) which has a first period. The second unevenness pattern is arranged on a concave region of the first unevenness pattern.

Description

발광 소자, 및 그 제조 방법{A light emitting Device, and a method of fabricating the light emitting device}A light emitting device, and a manufacturing method thereof {A light emitting device, and a method of fabricating the light emitting device}

본 발명은 발광 소자, 그 제조 방법 및 발광 소자 패키지에 관한 것이다.The present invention relates to a light emitting device, a manufacturing method thereof and a light emitting device package.

질화갈륨(GaN)의 금속 유기화학기상 증착법 및 분자선 성장법 등의 발달을 바탕으로 고휘도 및 백색광 구현이 가능한 적색, 녹색 및 청색 LED(Light Emitting Diode)가 개발되었다.Based on the development of gallium nitride (GaN) metal organic chemical vapor deposition method and molecular beam growth method, red, green, and blue light emitting diodes (LEDs) capable of high luminance and white light have been developed.

이러한 LED은 백열등과 형광등 등의 기존 조명기구에 사용되는 수은(Hg)과 같은 환경 유해물질이 포함되어 있지 않아 우수한 친환경성을 가지며, 긴 수명, 저전력 소비특성 등과 같은 장점이 있기 때문에 기존의 광원들을 대체하고 있다. 이러한 LED 소자의 핵심 경쟁 요소는 고효율ㆍ고출력칩 및 패키징 기술에 의한 고휘도의 구현이다.These LEDs do not contain environmentally harmful substances such as mercury (Hg) used in existing lighting equipment such as incandescent lamps and fluorescent lamps, so they have excellent eco-friendliness and have advantages such as long life and low power consumption. It is replacing. A key competitive factor of such LED devices is high brightness and high brightness by high efficiency and high power chip and packaging technology.

고휘도를 구현하기 위해서 광추출 효율을 높이는게 중요하다. 광 추출 효율을 높이기 위하여 플립칩(flip-chip) 구조, 표면 요철 형성(surface texturing), 요철이 형성된 사파이어 기판(patterned sapphire substrate: PSS), 광결정 (photonic crystal) 기술, 및 반사 방지막 (anti-reflection layer) 구조 등을 이용한 다양한 방법들이 연구되고 있다. In order to realize high brightness, it is important to increase light extraction efficiency. Flip-chip structure, surface texturing, patterned sapphire substrate (PSS), photonic crystal technology, and anti-reflection to improve light extraction efficiency Various methods have been studied using the layer structure.

실시예는 외부 광추출 효율 및 제조 효율을 향상시킬 수 있는 발광 소자, 그 제조 방법 및 발광 소자 패키지를 제공하는데 있다.Embodiments provide a light emitting device, a method of manufacturing the same, and a light emitting device package capable of improving external light extraction efficiency and manufacturing efficiency.

실시예에 따른 발광 소자는 기판, 상기 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조체, 및 상기 발광 구조체 상에 전극을 포함하며, 상기 기판 및 상기 제2 도전형 반도체층 중 적어도 하나는 서로 다른 주기를 갖는 2 이상의 요철 패턴들을 포함하는 광추출 구조를 포함하고, 상기 광추출 구조는 제1 주기를 갖는 제1 요철 패턴 및 제2 주기를 갖는 제2 요철 패턴을 포함하며, 상기 제2 요철 패턴은 상기 제1 요철 패턴의 오목부 영역에 배치된다.The light emitting device according to the embodiment includes a substrate, a light emission including an active layer between the first conductive semiconductor layer, the second conductive semiconductor layer, and the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer on the substrate. And a light extraction structure including an electrode on the light emitting structure, wherein at least one of the substrate and the second conductive semiconductor layer includes two or more uneven patterns having different periods. Includes a first uneven pattern having a first period and a second uneven pattern having a second period, wherein the second uneven pattern is disposed in a recessed area of the first uneven pattern.

실시예에 따른 발광 소자 제조 방법은 기판 표면에 서로 이격하는 홈들을 포함하는 제1 요철 패턴을 형성하는 단계, 상기 홈들 각각의 내부에 적어도 하나의 나노(nano) 입자를 채우는 단계, 상기 홈들 내부에 채워진 나노 입자들을 식각하여 크기를 줄이는 단계, 상기 크기가 준 나노 입자들을 마스크로 이용하여 상기 홈들이 형성된 기판을 식각하여 상기 홈들 내부에 제2 요철 패턴을 형성하는 단계, 상기 제2 요철 패턴 형성 후 잔류하는 나노 입자들을 제거하는 단계, 및 상기 제1 요철 패턴 및 제2 요철 패턴이 형성된 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 활성층, 및 제2 도전형 반도체층이 순차로 적층된 발광 구조체를 형성하는 단계를 포함한다.The method of manufacturing a light emitting device according to the embodiment may include forming a first uneven pattern including grooves spaced apart from each other on a surface of a substrate, filling at least one nanoparticle in each of the grooves, and in the grooves. Etching the filled nanoparticles to reduce the size, etching the substrate having the grooves formed using the given nanoparticles as a mask to form a second uneven pattern inside the grooves, and then forming the second uneven pattern Removing the remaining nanoparticles, and forming a light emitting structure in which a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer are sequentially stacked on a substrate on which the first uneven pattern and the second uneven pattern are formed. It includes a step.

다른 실시예에 따른 발광 소자 제조 방법은 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 활성층, 및 제2 도전형 반도체층이 순차로 적층된 발광 구조체를 형성하는 단계, 상기 제2 도전형 반도체층 표면에 서로 이격하는 홈들을 포함하는 제1 요철 패턴을 형성하는 단계, 상기 홈들 각각의 내부에 적어도 하나의 나노 입자를 채우는 단계, 상기 홈들 내부에 채워진 나노 입자들을 식각하여 크기를 줄이는 단계, 상기 크기가 준 나노 입자들을 마스크로 이용하여 상기 홈들이 형성된 제2 도전형 반도체층을 식각하여 상기 홈들 내부에 제2 요철 패턴을 형성하는 단계, 상기 제2 요철 패턴 형성 후 잔류하는 나노 입자들을 제거하는 단계, 및 상기 제1 요철 패턴 및 제2 요철 패턴이 형성된 제2 도전형 반도체층 상에 전도층을 형성하는 단계를 포함한다.In another embodiment, a method of manufacturing a light emitting device includes forming a light emitting structure in which a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer are sequentially stacked on a substrate, and forming a light emitting structure on a surface of the second conductive semiconductor layer. Forming a first uneven pattern including grooves spaced apart from each other, filling at least one nanoparticle in each of the grooves, reducing the size by etching nanoparticles filled in the grooves, Etching the second conductive semiconductor layer on which the grooves are formed using the nanoparticles as a mask to form a second uneven pattern in the grooves, removing the nanoparticles remaining after the formation of the second uneven pattern, and And forming a conductive layer on the second conductive semiconductor layer having the first uneven pattern and the second uneven pattern formed thereon.

실시 예는 외부 광추출 효율 및 제조 효율을 향상시킬 수 있다.The embodiment can improve external light extraction efficiency and manufacturing efficiency.

도 1은 실시예에 따른 발광 소자를 나타낸다.
도 2는 다른 실시예에 따른 발광 소자를 나타낸다.
도 3은 실시예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸다.
도 4a 내지 도 4k는 실시예에 따른 발광 소자 제조 방법을 나타낸다.
1 shows a light emitting device according to an embodiment.
2 shows a light emitting device according to another embodiment.
3 illustrates a light emitting device package according to an embodiment.
4A to 4K illustrate a light emitting device manufacturing method according to an embodiment.

이하, 실시예들은 첨부된 도면 및 실시 예들에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다. 도면에서 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다. 또한 동일한 참조번호는 도면의 설명을 통하여 동일한 요소를 나타낸다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 실시예에 따른 발광 소자, 그 제조 방법 및 발광 소자 패키지를 설명한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The above and other features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings, in which: FIG. In the drawings, dimensions are exaggerated, omitted, or schematically illustrated for convenience and clarity of illustration. In addition, the size of each component does not necessarily reflect the actual size. The same reference numerals denote the same elements throughout the description of the drawings. Hereinafter, a light emitting device, a method of manufacturing the same, and a light emitting device package will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 실시예에 따른 발광 소자를 나타낸다. 도 1을 참조하면, 발광 소자는 기판(110), 발광 구조체(120), 및 제1 전극(130)을 포함한다.1 shows a light emitting device according to an embodiment. Referring to FIG. 1, the light emitting device includes a substrate 110, a light emitting structure 120, and a first electrode 130.

기판(110)은 사파이어 기판, 실리콘(Si) 기판, 산화아연(ZnO) 기판, 및 질화물 반도체 기판 중 어느 하나 또는 GaN, InGaN, AlGaN, AlInGaN 중에서 적어도 어느 하나가 적층된 템플레이트(Template) 기판일 수 있다. 또한 기판(110)은 Cu, Cr, Ni, Ag, Au, Mo, Pd, W 또는 Al 등의 금속 물질로 이루어진 금속 기판일 수 있다.The substrate 110 may be any one of a sapphire substrate, a silicon (Si) substrate, a zinc oxide (ZnO) substrate, and a nitride semiconductor substrate, or a template substrate on which at least one of GaN, InGaN, AlGaN, and AlInGaN is stacked. have. In addition, the substrate 110 may be a metal substrate made of a metal material such as Cu, Cr, Ni, Ag, Au, Mo, Pd, W, or Al.

기판(110) 표면에는 광추출 효율을 높이기 위한 광추출 구조가 형성된다. 광추출 구조는 서로 다른 적어도 2 이상의 주기들을 갖는 요철 패턴들을 포함한다.A light extraction structure is formed on the surface of the substrate 110 to increase light extraction efficiency. The light extraction structure includes uneven patterns having at least two or more periods different from each other.

광추출 구조는 서로 다른 주기를 갖는 제1 요철 패턴(140) 및 제2 요철 패턴(150)을 포함하는 2중 패턴 구조이며, 제2 요철 패턴(150)은 제1 요철 패턴(140)의 오목부 영역에 배치된다.The light extraction structure is a double pattern structure including a first uneven pattern 140 and a second uneven pattern 150 having different periods, and the second uneven pattern 150 is a recess of the first uneven pattern 140. It is placed in the subregion.

제1 요철 패턴(140)은 제1 주기(A)를 가지며, 제2 요철 패턴(150)은 제1 주기(A)보다 작은 제2 주기(B)를 가질 수 있다. 예컨대, 제1 주기는 10um ~ 100um일 수 있으며, 제2 주기는 500 ~ 600nm일 수 있다. 또한 제1 요철 패턴(140)의 높이(C)는 제2 요철 패턴(150)의 높이(D)와 서로 다르다. 예컨대, 제1 요철 패턴(140)의 볼록부의 높이(C)가 제2 요철 패턴(150)의 볼록부의 높이보다 클 수 있다.The first uneven pattern 140 may have a first period A, and the second uneven pattern 150 may have a second period B smaller than the first period A. FIG. For example, the first period may be 10um to 100um, and the second period may be 500 to 600nm. In addition, the height C of the first uneven pattern 140 is different from the height D of the second uneven pattern 150. For example, the height C of the convex portion of the first concave-convex pattern 140 may be greater than the height of the convex portion of the second concave-convex pattern 150.

발광 구조체(120)는 광추출 구조가 형성된 기판 상에 형성된다. 발광 구조체(120)는 다층의 반도체층들이 적층된 구조이며, 빛을 발생시킨다.The light emitting structure 120 is formed on a substrate on which the light extraction structure is formed. The light emitting structure 120 has a structure in which multiple semiconductor layers are stacked and generates light.

발광 구조체(120)는 제1 도전형 반도체층(122), 활성층(124), 및 제2 도전형 반도체층(126)이 순차적으로 적층된 구조일 수 있다. 이때 제1 도전형은 P형 또는 N형이고, 제2 도전형은 이와 반대로 N형 또는 P형일 수 있다.The light emitting structure 120 may have a structure in which the first conductive semiconductor layer 122, the active layer 124, and the second conductive semiconductor layer 126 are sequentially stacked. In this case, the first conductivity type may be P type or N type, and the second conductivity type may be N type or P type.

수직형 발광 소자의 경우에는 제1 도전형은 P형이고, 제2 도전형은 N형일 수 있다. 그리고 수평형 발광 소자의 경우에는 제1 도전형은 N형이고, 제2 도전형은 P형이며, 도시되지는 않았지만 제1 도전형 반도체층(122)의 일부가 노출되도록 발광 구조체(120)가 식각되고, 식각된 영역에 제2 전극(미도시)이 형성될 수 있다.In the case of the vertical light emitting device, the first conductivity type may be P type and the second conductivity type may be N type. In the case of the horizontal light emitting device, the first conductive type is N type, the second conductive type is P type, and although not shown, the light emitting structure 120 is exposed so that a part of the first conductive type semiconductor layer 122 is exposed. A second electrode (not shown) may be formed in the etched and etched region.

제1 도전형 반도체층(122)은 광추출 구조가 형성된 기판(110) 상에 형성되며, 질화물계 반도체층, 예컨대, InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN, AlInN 중에서 선택된 질화물계 반도체층일 수 있다.The first conductive semiconductor layer 122 is formed on the substrate 110 on which the light extraction structure is formed, and is a nitride based semiconductor layer selected from a nitride based semiconductor layer, for example, InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN, or AlInN. Can be.

활성층(124)은 제1 도전형 반도체층(122) 상에 위치하며, 제1 도전형 반도체층(122) 및 제2 도전형 반도체층(126)으로부터 제공되는 정공 및 전자의 재결합(recombination) 과정에서 생성되는 에너지에 의해 빛을 발생할 수 있다.The active layer 124 is positioned on the first conductivity type semiconductor layer 122, and the recombination process of holes and electrons provided from the first conductivity type semiconductor layer 122 and the second conductivity type semiconductor layer 126. Light can be generated by the energy generated by the.

활성층(124)은 GaN 또는 InGaN 등의 GaN계 물질, 예를 들어, InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 가지는 반도체 재료를 포함하며, 양자선(Quantum wire) 구조, 양자점(Quantum dot) 구조, 단일 양자 우물 구조 또는 다중 양자 우물 구조(MQW : Multi Quantum Well) 중 적어도 하나의 구조를 포함하는 형태일 수 있다.The active layer 124 is a GaN-based material, such as GaN or InGaN, for example, In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1) And a semiconductor material having a compositional formula, and include at least one of a quantum wire structure, a quantum dot structure, a single quantum well structure, or a multi quantum well structure (MQW). Can be.

제2 도전형 반도체층(126)은 활성층(124) 상에 위치하며, 질화물계 반도체층, 예컨대, InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN, AlInN 중에서 선택될 수 있다.The second conductivity type semiconductor layer 126 is positioned on the active layer 124 and may be selected from a nitride based semiconductor layer, for example, InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN, or AlInN.

제1 도전형 반도체층(122) 또는 제2 도전형 반도체층(126)이 P형 반도체층일 경우에는 Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등의 p형 도펀트가 도핑되고, N형 반도체층일 경우에는 Si, Ge, Sn 등의 n형 도펀트가 도핑될 수 있다.In the case where the first conductive semiconductor layer 122 or the second conductive semiconductor layer 126 is a P-type semiconductor layer, p-type dopants such as Mg, Zn, Ca, Sr, and Ba are doped. N-type dopants such as Si, Ge, Sn, and the like may be doped.

제1 전극(130)은 발광 구조체(120) 상에 형성된다. 제1 전극(130)은 제2 도전형 반도체층(126) 상에 위치하는 전도층(미도시) 및 전도층 상에 위치하는 전극 패드(미도시)를 포함할 수 있다.The first electrode 130 is formed on the light emitting structure 120. The first electrode 130 may include a conductive layer (not shown) positioned on the second conductive semiconductor layer 126 and an electrode pad (not shown) disposed on the conductive layer.

도 1의 실시예에서는 수직형 칩 구조를 중심으로 설명하고 있으나 이에 한정되는 것은 아니며, 수평형, 플립칩 구조, 비아홀 구조 등의 칩에도 적용될 수 있다.In the embodiment of FIG. 1, the vertical chip structure is described, but the present invention is not limited thereto, and may be applied to chips such as a horizontal type, flip chip structure, and via hole structure.

도 2는 다른 실시예에 따른 발광 소자를 나타낸다. 도 2를 참조하면, 발광 소자는 기판(210), 발광 구조체(220), 및 제1 전극(250)을 포함한다.2 shows a light emitting device according to another embodiment. Referring to FIG. 2, the light emitting device includes a substrate 210, a light emitting structure 220, and a first electrode 250.

기판(210)은 도 1에서 설명한 바와 같은 재료로 이루어질 수 있다. 발광 구조체(220)는 제1 도전형 반도체층(222), 활성층(224), 및 제2 도전형 반도체층(226)이 순차적으로 적층된 구조일 수 있다. 이때 제1 도전형은 P형 또는 N형이고, 제2 도전형은 이와 반대로 N형 또는 P형일 수 있다.The substrate 210 may be made of a material as described with reference to FIG. 1. The light emitting structure 220 may have a structure in which the first conductive semiconductor layer 222, the active layer 224, and the second conductive semiconductor layer 226 are sequentially stacked. In this case, the first conductivity type may be P type or N type, and the second conductivity type may be N type or P type.

제2 도전형 반도체층(226)은 표면에 광추출 구조가 형성된다. 제2 도전형 바노체층(226)에 형성되는 광추출 구조는 도 1에서 설명한 기판 표면에 형성되는 광추출 구조와 동일한 형태를 갖는다. 이하 중복을 피하기 위하여 설명을 생략한다.The second conductive semiconductor layer 226 has a light extraction structure formed on its surface. The light extraction structure formed on the second conductivity type banobody layer 226 has the same shape as the light extraction structure formed on the substrate surface described with reference to FIG. 1. In the following description is omitted to avoid duplication.

제1 전극(250)은 제2 도전형 반도체층(226) 상에 위치하는 전도층(230) 및 전도층(230) 상에 위치하는 전극 패드(240)를 포함할 수 있다.The first electrode 250 may include a conductive layer 230 positioned on the second conductive semiconductor layer 226 and an electrode pad 240 positioned on the conductive layer 230.

전도층(235)은 광추출 구조가 형성된 제2 도전형 반도체층(226) 상에 형성된다. 전도층(235)은 전반사를 감소시킬 뿐만 아니라, 오믹 접촉층(Ohmic contact layer)의 역할을 한다. 예컨대, 전도층(235)은 ITO(Indium Tin Oxide), TO(Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ITZO(Indium Tin Zinc Oxide) 및 ZnO(Zinc Oxide) 중 적어도 어느 하나의 물질로 이루어질 수 있다.The conductive layer 235 is formed on the second conductive semiconductor layer 226 in which the light extraction structure is formed. The conductive layer 235 not only reduces total reflection but also serves as an ohmic contact layer. For example, the conductive layer 235 may be made of at least one of indium tin oxide (ITO), tin oxide (TO), indium zinc oxide (IZO), indium tin zinc oxide (ITZO), and zinc oxide (ZnO). have.

전도층(235)은 제2 도전형 반도체층(226)에 형성되는 광추출 구조와 동일한 프로파일(profile)을 갖는 광추출 구조를 갖도록 형성될 수 있다. 예컨대, 전도층(235)은 동일한 프로파일을 갖되, 제2 요철 패턴(150)에 상응하는 전도층(235)의 제2 요철 패턴의 오목부는 제2 요철 패턴(150)의 볼록부보다 높고, 제1 요철 패턴(140)의 볼록부보다 낮게 형성될 수 있다.The conductive layer 235 may be formed to have a light extraction structure having the same profile as the light extraction structure formed in the second conductive semiconductor layer 226. For example, the conductive layer 235 has the same profile, but the recess of the second uneven pattern of the conductive layer 235 corresponding to the second uneven pattern 150 is higher than the convex portion of the second uneven pattern 150. 1 may be formed lower than the convex portion of the uneven pattern 140.

도 2에서는 전극 패드(240) 하부의 전도층(235)이 패턴을 포함하는 것을 예시적으로 도시하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 전극 패드(240) 하부의 영역에 대응하는 전도층(235)의 상면은 패턴을 포함하지 않을 수도 있다.2 exemplarily illustrates that the conductive layer 235 under the electrode pad 240 includes a pattern, but is not limited thereto. The conductive layer 235 corresponding to the area under the electrode pad 240 may be provided. The top surface of may not include a pattern.

도 4a 내지 도 4k는 실시예에 따른 발광 소자 제조 방법을 나타낸다. 여기서 도 4g 및 도 4k는 도 4f에 도시된 AA' 방향의 단면도를 나타낸다.4A to 4K illustrate a light emitting device manufacturing method according to an embodiment. 4G and 4K show cross-sectional views in the AA ′ direction shown in FIG. 4F.

먼저 도 4a에 도시된 바와 같이, 표면에 광추출 구조를 형성하기 위한 발광 소자의 대상물(410)을 준비한다.First, as shown in FIG. 4A, an object 410 of a light emitting device for forming a light extraction structure on a surface is prepared.

이때 대상물(410)은 발광 소자의 기판 또는 발광 구조체일 수 있다. 예컨대, 대상물(410)은 도 1에서 설명한 기판(110)이거나 도 2에서 설명한 발광 구조체(220)일 수 있다. 또한 대상물은 템플레이트(template), 광 분할(beam splitter), 광학 필터(optical filter), 및 광결정(photonic crystal) 등의 광학 소자에 포함되는 광추출 표면일 수 있다.In this case, the object 410 may be a substrate or a light emitting structure of the light emitting device. For example, the object 410 may be the substrate 110 described with reference to FIG. 1 or the light emitting structure 220 described with reference to FIG. 2. In addition, the object may be a light extraction surface included in an optical element such as a template, a beam splitter, an optical filter, and a photonic crystal.

만약 대상물이 발광 구조체(220)일 경우에는 도 4b에 도시된 공정을 수행하기 이전에 기판 상에 제1 도전형 반도체층(미도시), 활성층(미도시), 및 제2 도전형 반도체층(미도시)이 순차로 적층된 발광 구조체를 형성한다. If the object is a light emitting structure 220, the first conductive semiconductor layer (not shown), the active layer (not shown), and the second conductive semiconductor layer (not shown) on the substrate before performing the process shown in FIG. (Not shown) forms a light emitting structure that is sequentially stacked.

이때 제1 도전형은 N형 또는 P형일 수 있으며, 제2 도전형은 제1 도전형과 반대되는 도전형일 수 있으며, 제1 도전형 반도체층, 활성층, 및 제2 도전형 반도체층은 도 1 및 도 2에서 설명한 바와 동일할 수 있다.In this case, the first conductive type may be an N type or a P type, and the second conductive type may be a conductive type opposite to the first conductive type, and the first conductive type semiconductor layer, the active layer, and the second conductive type semiconductor layer are shown in FIG. 1. And may be the same as described in FIG. 2.

다음으로 도 4b에 도시된 바와 같이, 대상물(410) 상에 포토레지스트(photoresist, 420)를 도포한다. 도포된 포토레지스트(420)에 대하여 포토리쏘그라피(photolithography) 공정을 수행하여 다음으로 도 4c에 도시된 바와 같이 포토레지스트 패턴(photoresist pattern, 425)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 4B, a photoresist 420 is coated on the object 410. A photolithography process is performed on the applied photoresist 420 to form a photoresist pattern 425 as shown in FIG. 4C.

이때 형성되는 포토레지스트 패턴(425)은 대상물의 일부 영역들을 노출시키는 제1 크기를 갖는 홈들(427)이 형성된다. 예컨대, 홈들(427) 각각은 가로 및 세로의 길이가 수십 마이크로미터인 사각 구조일 수 있다.In this case, the photoresist pattern 425 is formed with grooves 427 having a first size exposing some regions of the object. For example, each of the grooves 427 may have a rectangular structure having a length and width of several tens of micrometers.

다음으로 도 4d에 도시된 바와 같이, 포토레지스트 패턴(425)을 마스크로 이용하여 노출된 대상물의 일부 영역들을 식각한다. 이때 식각 공정으로 RIE(Reactive Ion Etching), 또는 ICP(Inductively Coupled Plasma) 식각이 이용될 수 있다.Next, as shown in FIG. 4D, some regions of the exposed object are etched using the photoresist pattern 425 as a mask. In this case, reactive ion etching (RIE) or inductively coupled plasma (ICP) etching may be used as an etching process.

다음으로 도 4e에 도시된 바와 같이, 세정 공정을 수행하여 포토레지스트 패턴을 제거한다. 포토레지스트 패턴을 제거하면, 대상물(410) 표면에는 도 4e의 식각에 의하여 서로 일정 간격 이격하는 홈들(429)이 형성되며, 이러한 홈들(429)이 형성됨에 따라 대상물(410) 표면에는 제1 주기를 갖는 제1 요철 패턴(430)이 형성될 수 있다. 이때 제1 주기는 10um ~ 100um일 수 있다.Next, as shown in FIG. 4E, a cleaning process is performed to remove the photoresist pattern. When the photoresist pattern is removed, grooves 429 are formed on the surface of the object 410 to be spaced apart from each other by the etching of FIG. 4E. As the grooves 429 are formed, a first period is formed on the surface of the object 410. The first uneven pattern 430 may be formed. In this case, the first period may be 10um to 100um.

다음으로 도 4f에 도시된 바와 같이, 대상물(410) 표면에 형성된 홈들(429) 내부에 적어도 하나의 나노(nano) 입자(435)를 채운다. Next, as shown in FIG. 4F, at least one nanoparticle 435 is filled in the grooves 429 formed on the surface of the object 410.

예컨대, 홈들(429) 각각의 내부에 채워지는 나노 입자들(435)은 균일하게 채워질 수 있다. 도 4f에서는 홈들(429) 내부에서 채워지는 나노 입자들(440)은 서로 인접하여 배열되는 단일층 형태이나, 이에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 나노 입자들(440)은 홈들(429) 내부에서 서로 이격하여 배열될 수 있으며, 2 이상의 층이 적층된 형태로 채워질 수 있다.For example, the nanoparticles 435 filled in each of the grooves 429 may be uniformly filled. In FIG. 4F, the nanoparticles 440 filled in the grooves 429 are formed in a single layer arranged adjacent to each other, but are not limited thereto. For example, the nanoparticles 440 may be arranged spaced apart from each other inside the grooves 429, and two or more layers may be filled in a stacked form.

여기서 나노 입자들(435)은 금속 클러스터(metal cluster), 실리카 나노파티클(silica nanoparticle), 또는 폴리스티렌 비드(polystyrene bead)일 수 있다.The nanoparticles 435 may be a metal cluster, silica nanoparticles, or polystyrene beads.

스핀 코팅(spin coating) 또는 졸-겔(sol-gel) 방법을 이용하여 나노 입자들(435)을 홈들(429) 내부에 채울 수 있다.The nanoparticles 435 may be filled into the grooves 429 using a spin coating or sol-gel method.

다음으로 도 4g 및 4h에 도시된 바와 같이, 홈들(429) 내부에 채워진 나노 입자들(440)를 식각하여 크기를 줄인다. 예컨대, O2 반응성 이온 식각(Reactive Ion Etching)을 이용하여 홈들(429) 내부에 채워진 나노 입자들(440)의 크기를 줄일 수 있다.Next, as shown in FIGS. 4G and 4H, the nanoparticles 440 filled in the grooves 429 are etched to reduce the size. For example, the size of the nanoparticles 440 filled in the grooves 429 may be reduced by using O 2 reactive ion etching.

다음으로 도 4i에 도시된 바와 같이, 홈들(429) 내부에 채워진 크기가 준 나노 입자들(445)을 마스크로 이용하여 홈들(429)이 형성된 대상물(410)을 식각한다. 이때 크기가 준 나노 입자들(445) 하부에 위치하는 대상물(410)의 영역은 식각되지 않는다. 즉 대상물(410)은 크기가 준 나노 입자들(445) 하부에 위치하는 영역만을 제외하고 식각된다. Next, as illustrated in FIG. 4I, the object 410 in which the grooves 429 are formed is etched using the nanoparticles 445 having the size filled in the grooves 429 as a mask. At this time, the area of the object 410 located under the given nanoparticles 445 is not etched. That is, the object 410 is etched except for a region located below the nanoparticles 445 having a size.

결국 크기가 준 나노 입자들(445) 하부에 위치하는 식각되지 않는 대상물(410)의 영역에 의하여 홈들(429) 내부에 제2 주기를 갖는 제2 요철 패턴(455)이 형성될 수 있다. 이때 형성되는 제2 요철 패턴(455)은 제1 요철 패턴(430)의 오목부 영역인 홈들(429) 내에 형성될 수 있다. 예컨대, 제2 주기는 500 ~ 600nm일 수 있다.As a result, a second uneven pattern 455 having a second period may be formed in the grooves 429 by a region of the non-etched object 410 positioned below the nanoparticles 445 having a size. In this case, the second uneven pattern 455 may be formed in the grooves 429 which are recessed regions of the first uneven pattern 430. For example, the second period may be 500 to 600 nm.

다음으로 도 4j에 도시된 바와 같이, 식각 후 잔류하는 나노 입자들(445)을 대상물(410)로부터 제거하고, 나노 입자가 제거된 대상물을 세정액(예컨대, Deionized water)으로 세정한다.Next, as shown in FIG. 4J, the nanoparticles 445 remaining after etching are removed from the object 410, and the object from which the nanoparticles have been removed is washed with a cleaning liquid (eg, deionized water).

식각 후 잔류하는 나노 입자들(445)을 제거하면, 대상물(410) 표면에는 제1 포토레지스트 패턴(425)을 마스크로 이용하는 식각 공정에 기초하여 형성되는 제1 요철 패턴(450)과 나노 입자들(445)을 마스크로 이용하는 식각 공정에 기초하여 형성되는 제2 요철 패턴(455)을 포함하는 2중 패턴 구조의 광추출 구조가 형성된다.When the nanoparticles 445 remaining after etching are removed, the first uneven pattern 450 and the nanoparticles are formed on the surface of the object 410 based on an etching process using the first photoresist pattern 425 as a mask. A light extraction structure having a double pattern structure including a second uneven pattern 455 formed based on an etching process using 445 as a mask is formed.

이때 제2 요철 패턴(455)의 볼록부의 높이는 제1 요철 패턴(450)의 볼록부의 높이보다 작다. 그리고 제1 요철 패턴(450) 및 제2 요철 패턴(455) 각각의 오목부는 동일 평면일 수 있다.At this time, the height of the convex portion of the second uneven pattern 455 is smaller than the height of the convex portion of the first uneven pattern 450. The concave portions of each of the first uneven pattern 450 and the second uneven pattern 455 may be coplanar.

다음으로 도 4k에 도시된 바와 같이, 광추출 구조가 형성된 대상물(410) 상에 반도체층 또는 전도층을 형성한다.Next, as shown in FIG. 4K, a semiconductor layer or a conductive layer is formed on the object 410 on which the light extraction structure is formed.

예컨대, 도 1에서 설명한 바에 따르면, 광추출 구조가 형성된 기판(110) 상에 발광 구조체(120)의 제1 도전형 반도체층(122)을 형성할 수 있다.For example, as described with reference to FIG. 1, the first conductivity-type semiconductor layer 122 of the light emitting structure 120 may be formed on the substrate 110 on which the light extraction structure is formed.

또한 도 2에서 설명한 바에 따르면, 광추출 구조가 형성된 제2 도전형 반도체층(230) 상에 전도층(235)을 형성할 수 있다. 이때에는 도 4k에 도시된 바와 달리, 전도층(235)은 제2 도전형 반도체층(230)에 형성되는 광추출 구조와 동일한 프로파일(profile)을 갖는 광추출 구조를 갖도록 형성될 수 있다.In addition, as described with reference to FIG. 2, the conductive layer 235 may be formed on the second conductive semiconductor layer 230 having the light extraction structure. In this case, unlike FIG. 4K, the conductive layer 235 may be formed to have a light extraction structure having the same profile as the light extraction structure formed in the second conductive semiconductor layer 230.

도 4a 내지 도 4k에서 설명한 방법에 따라 도 1에 도시된 발광 소자의 기판(110)의 표면 또는 도 2에 도시된 발광 소자의 발광 구조체(220)의 표면에 2중 패턴 구조를 갖는 광추출 구조를 형성함으로써, 발광 소자의 광추출 효율을 향상시킬 수 있다.A light extraction structure having a double pattern structure on the surface of the substrate 110 of the light emitting device shown in FIG. 1 or the surface of the light emitting structure 220 of the light emitting device shown in FIG. 2 according to the method described with reference to FIGS. 4A to 4K. By forming the light extraction efficiency of the light emitting device can be improved.

일반적으로 포토리쏘그라피 공정 자체만으로는 나노 사이즈의 패턴 형성이 어렵고, 공정상 나노 입자를 대면적으로 자기 정렬하는 것이 쉽지 않다. In general, the photolithography process itself is difficult to form a nano-sized pattern, and it is not easy to self-align the nanoparticles in a large area in the process.

그러나 실시예는 2단계의 패터닝 공정을 통하여 나노 사이즈의 패턴을 포함하는 광추출 구조를 형성한다.However, the embodiment forms a light extraction structure including a nano-sized pattern through a two-step patterning process.

제1 단계로 포토리쏘그라피 공정을 통하여 마이크로 사이즈의 홈들을 포함하는 제1 요철 패턴을 대상물 표면에 형성한다. 그리고 제2 단계로 나노 입자들을 마이크로 사이즈의 홈들에 채운 후에 나노 입자들을 마스크로 이용하여 제1 요철이 형성된 대상물을 식각하여 나노 사이즈의 제2 요철 패턴을 형성한다.In a first step, a first uneven pattern including micro-sized grooves is formed on an object surface through a photolithography process. In the second step, the nanoparticles are filled in the micro-sized grooves, and the nano-particles are used as a mask to etch the object on which the first unevenness is formed to form the nanosized second uneven pattern.

이러한 2단계의 패턴 공정을 통하기 때문에 일반적인 나노 사이즈의 광추출 구조 형성을 위한 공정상의 어려움을 해결할 수 있으며, 또한 이로 인하여 발광 소자의 제조 효율을 높일 수 있다.Through the two-step pattern process, it is possible to solve a process difficulty for forming a light extraction structure having a general nano-size, and thereby increase the manufacturing efficiency of the light emitting device.

도 3은 실시예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸다. 도 3을 참조하면, 발광 소자 패키지는 패키지 몸체(310), 제1 금속층(312), 제2 금속층(314), 발광 소자(320), 반사판(325), 와이어(330), 및 봉지층(340)을 포함한다.3 illustrates a light emitting device package according to an embodiment. Referring to FIG. 3, the light emitting device package may include a package body 310, a first metal layer 312, a second metal layer 314, a light emitting device 320, a reflective plate 325, a wire 330, and an encapsulation layer ( 340).

패키지 몸체(310)는 일측 영역에 캐버티(cavity)가 형성된 구조이다. 이때 캐버티의 측벽은 경사지게 형성될 수 있다. 패키지 몸체(310)는 실리콘 기반의 웨이퍼 레벨 패키지(wafer level package), 실리콘 기판, 실리콘 카바이드(SiC), 질화알루미늄(aluminum nitride, AlN) 등과 같이 절연성 또는 열전도도가 좋은 기판으로 형성될 수 있으며, 복수 개의 기판이 적층되는 구조일 수 있다. 실시 예는 상술한 몸체의 재질, 구조, 및 형상으로 한정되지 않는다.The package body 310 is a structure in which a cavity is formed in one region. At this time, the side wall of the cavity may be formed to be inclined. The package body 310 may be formed of a substrate having good insulating or thermal conductivity, such as a silicon-based wafer level package, a silicon substrate, silicon carbide (SiC), aluminum nitride (AlN), or the like. It may have a structure in which a plurality of substrates are stacked. Embodiment is not limited to the material, structure, and shape of the body described above.

제1 금속층(312) 및 제2 금속층(314)은 열 배출이나 발광 소자의 장착을 고려하여 서로 전기적으로 분리되도록 패키지 몸체(310)의 표면(310)에 배치된다. 발광 소자(320)는 와이어(wire, 330)를 통하여 제1 금속층(312) 및 제2 금속층(314)과 전기적으로 연결된다. 도 3에서는 하나의 와이어만을 도시하였지만, 이에 한정되는 것은 아니다.The first metal layer 312 and the second metal layer 314 are disposed on the surface 310 of the package body 310 to be electrically separated from each other in consideration of heat dissipation or mounting of the light emitting device. The light emitting device 320 is electrically connected to the first metal layer 312 and the second metal layer 314 through wires 330. In FIG. 3, only one wire is illustrated, but is not limited thereto.

반사판(325)은 발광 소자에서 방출된 빛을 소정의 방향으로 지향하도록 패키지 몸체(310)의 캐버티 측벽에 형성된다. 반사판(325)은 광반사 물질로 이루어지며, 예컨대, 금속 코팅이거나 금속 박편일 수 있다.The reflective plate 325 is formed on the side wall of the cavity of the package body 310 to direct light emitted from the light emitting element in a predetermined direction. The reflector plate 325 is made of a light reflective material, and may be, for example, a metal coating or a metal flake.

봉지층(340)은 패키지 몸체(310)의 캐버티 내에 위치하는 발광 소자(320)를 포위하여 발광 소자(320)를 외부 환경으로부터 보호한다. 봉지층(340)은 에폭시 또는 실리콘과 같은 무색 투명한 고분자 수지 재질로 이루어진다. 봉지층(340)은 발광 소자(320)에서 방출된 광의 파장을 변화시킬 수 있도록 형광체가 포함될 수 있다. 발광 소자 패키지는 도 1 및 도 2에서 개시된 실시예들의 발광 소자들 중 적어도 하나를 탑재할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The encapsulation layer 340 surrounds the light emitting device 320 positioned in the cavity of the package body 310 to protect the light emitting device 320 from the external environment. The encapsulation layer 340 is made of a colorless transparent polymer resin material such as epoxy or silicon. The encapsulation layer 340 may include a phosphor to change the wavelength of light emitted from the light emitting device 320. The light emitting device package may include at least one of the light emitting devices of the embodiments disclosed in FIGS. 1 and 2, but is not limited thereto.

실시예에 따른 발광 소자 패키지는 복수 개가 기판 상에 어레이되며, 발광 소자 패키지의 광 경로 상에 광학 부재인 도광판, 프리즘 시트, 확산 시트 등이 배치될 수 있다. 이러한 발광 소자 패키지, 기판, 광학 부재는 백라이트 유닛으로 기능할 수 있다.A plurality of light emitting device packages according to the embodiment may be arranged on a substrate, and a light guide plate, a prism sheet, a diffusion sheet, or the like, which is an optical member, may be disposed on an optical path of the light emitting device package. The light emitting device package, the substrate, and the optical member may function as a backlight unit.

또 다른 실시예는 상술한 실시 예들에 기재된 발광 소자 또는 발광 소자 패키지를 포함하는 표시 장치, 지시 장치, 조명 시스템으로 구현될 수 있다.Another embodiment may be implemented as a display device, an indicator device, and an illumination system including the light emitting device or the light emitting device package described in the above embodiments.

이상에서 실시예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Features, structures, effects, and the like described in the above embodiments are included in at least one embodiment of the present invention, and are not necessarily limited to only one embodiment. Furthermore, the features, structures, effects, and the like illustrated in the embodiments may be combined or modified with respect to other embodiments by those skilled in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be understood that the present invention is not limited to these combinations and modifications.

110,210: 기판, 120,220: 발광 구조체, 130: 및 제1 전극, 235: 전도층
310: 패키지 몸체, 312: 제1 금속층, 314: 제2 금속층, 320: 발광 소자,
325: 반사판, 330: 와이어, 340: 봉지층, 420: 포토레지스트, 410: 대상물,
425: 포토레지스트 패턴, 429:홈들, 435: 나노 입자들,
445: 크기가 준 나노 입자들.
110,210 substrate, 120,220 light emitting structure, 130 and first electrode, 235 conductive layer
310: package body, 312: first metal layer, 314: second metal layer, 320: light emitting device,
325: reflector, 330: wire, 340: encapsulation layer, 420: photoresist, 410: the object,
425: photoresist pattern, 429: grooves, 435: nanoparticles,
445: Nanoparticles given size.

Claims (14)

기판;
상기 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조체; 및
상기 발광 구조체 상에 전극을 포함하며,
상기 기판 및 상기 제2 도전형 반도체층 중 적어도 하나는 서로 다른 주기를 갖는 2 이상의 요철 패턴들을 포함하는 광추출 구조를 포함하고,
상기 광추출 구조는,
제1 주기를 갖는 제1 요철 패턴 및 제2 주기를 갖는 제2 요철 패턴을 포함하며, 상기 제2 요철 패턴은 상기 제1 요철 패턴의 오목부 영역에 배치되는 발광 소자.
Board;
A light emitting structure including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer on the substrate; And
An electrode on the light emitting structure,
At least one of the substrate and the second conductive semiconductor layer includes a light extraction structure including two or more uneven patterns having different periods,
The light extraction structure,
And a second uneven pattern having a first period and a second uneven pattern having a second period, wherein the second uneven pattern is disposed in a recessed area of the first uneven pattern.
제1항에 있어서,
상기 제1 요철 패턴의 오목부와 상기 제2 요철 패턴의 오목부는 동일 평면 상에 위치하는 발광 소자.
The method of claim 1,
The recess of the first uneven pattern and the recess of the second uneven pattern are positioned on the same plane.
제1항에 있어서,
상기 제1 요철 패턴의 볼록부의 높이는 상기 제2 요철 패턴의 볼록부의 높이보다 큰 발광 소자.
The method of claim 1,
The height of the convex portion of the first uneven pattern is greater than the height of the convex portion of the second uneven pattern.
제1항에 있어서,
상기 제1 주기는 10um ~ 100um이고, 상기 제2 주기는 500~600nm인 발광 소자.
The method of claim 1,
The first period is 10um ~ 100um, the second period is 500 ~ 600nm light emitting device.
제1항에 있어서,
상기 광추출 구조는 상기 제2 도전형 반도체층 표면에 형성되며,
상기 전극은,
상기 제2 도전형 반도체층 상에 위치하는 전도층 및 상기 전도층 상에 위치하는 전극 패드를 포함하며,
상기 전도층은,
상기 광추출 구조와 동일한 프로파일(profile)을 갖는 광추출 구조를 포함하는 발광 소자.
The method of claim 1,
The light extraction structure is formed on the surface of the second conductivity type semiconductor layer,
The electrode
A conductive layer positioned on the second conductive semiconductor layer and an electrode pad positioned on the conductive layer,
The conductive layer,
A light emitting device comprising a light extraction structure having the same profile as the light extraction structure.
제5항에 있어서,
상기 전도층의 광추출 구조의 오목부는 상기 광추출 구조의 제2 요철 패턴의 볼록부보다 높게 위치하는 발광 소자.
The method of claim 5,
The concave portion of the light extraction structure of the conductive layer is positioned higher than the convex portion of the second uneven pattern of the light extraction structure.
제5항에 있어서,
상기 전극 패드는 상기 전도층의 광추출 구조 상에 배치되는 발광 소자.
The method of claim 5,
The electrode pad is disposed on the light extraction structure of the conductive layer.
기판 표면에 서로 이격하는 홈들을 포함하는 제1 요철 패턴을 형성하는 단계;
상기 홈들 각각의 내부에 적어도 하나의 나노(nano) 입자를 채우는 단계;
상기 홈들 내부에 채워진 나노 입자들을 식각하여 크기를 줄이는 단계;
상기 크기가 준 나노 입자들을 마스크로 이용하여 상기 홈들이 형성된 기판을 식각하여 상기 홈들 내부에 제2 요철 패턴을 형성하는 단계;
상기 제2 요철 패턴 형성 후 잔류하는 나노 입자들을 제거하는 단계; 및
상기 제1 요철 패턴 및 제2 요철 패턴이 형성된 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 활성층, 및 제2 도전형 반도체층이 순차로 적층된 발광 구조체를 형성하는 단계를 포함하는 발광 소자의 제조 방법.
Forming a first uneven pattern including grooves spaced apart from each other on a surface of the substrate;
Filling at least one nanoparticle into each of the grooves;
Reducing the size by etching the nanoparticles filled in the grooves;
Etching the substrate on which the grooves are formed by using the nanoparticles having the size as a mask to form a second uneven pattern in the grooves;
Removing the nanoparticles remaining after the formation of the second uneven pattern; And
Forming a light emitting structure in which a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer are sequentially stacked on a substrate on which the first uneven pattern and the second uneven pattern are formed. .
기판 상에 제1 도전형 반도체층, 활성층, 및 제2 도전형 반도체층이 순차로 적층된 발광 구조체를 형성하는 단계;
상기 제2 도전형 반도체층 표면에 서로 이격하는 홈들을 포함하는 제1 요철 패턴을 형성하는 단계;
상기 홈들 각각의 내부에 적어도 하나의 나노 입자를 채우는 단계;
상기 홈들 내부에 채워진 나노 입자들을 식각하여 크기를 줄이는 단계;
상기 크기가 준 나노 입자들을 마스크로 이용하여 상기 홈들이 형성된 제2 도전형 반도체층을 식각하여 상기 홈들 내부에 제2 요철 패턴을 형성하는 단계;
상기 제2 요철 패턴 형성 후 잔류하는 나노 입자들을 제거하는 단계; 및
상기 제1 요철 패턴 및 제2 요철 패턴이 형성된 제2 도전형 반도체층 상에 전도층을 형성하는 단계를 포함하는 발광 소자의 제조 방법.
Forming a light emitting structure in which a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer are sequentially stacked on a substrate;
Forming a first uneven pattern including grooves spaced apart from each other on a surface of the second conductive semiconductor layer;
Filling at least one nanoparticle into each of the grooves;
Reducing the size by etching the nanoparticles filled in the grooves;
Forming a second uneven pattern inside the grooves by etching the second conductive semiconductor layer having the grooves formed using the nanoparticles having the size as a mask;
Removing the nanoparticles remaining after the formation of the second uneven pattern; And
Forming a conductive layer on the second conductive semiconductor layer having the first uneven pattern and the second uneven pattern formed thereon.
제8항 또는 제9항에 있어서, 상기 제1 요철 패턴을 형성하는 단계는,
포토리쏘그라피(photolithography) 공정 및 식각 공정을 이용하여 상기 제1 요철 패턴을 형성하는 발광 소자의 제조 방법.
The method of claim 8 or 9, wherein forming the first uneven pattern,
A method of manufacturing a light emitting device to form the first uneven pattern by using a photolithography process and an etching process.
제8항 또는 제9항에 있어서,
상기 적어도 하나의 나노 입자들은 금속 클러스터(metal cluster), 실리카 나노파티클(silica nanoparticle), 또는 폴리스티렌 비드(polystyrene bead)인 발광 소자의 제조 방법.
The method according to claim 8 or 9,
The at least one nanoparticles are metal clusters, silica nanoparticles, or polystyrene beads.
제8항 또는 제9항에 있어서, 상기 적어도 하나의 나노 입자를 채우는 단계는,
스핀 코팅(spin coating) 또는 졸-겔(sol-gel) 방법을 이용하여 나노 입자들을 홈들 내부에 채우는 발광 소자의 제조 방법.
The method of claim 8 or 9, wherein the filling of the at least one nanoparticle,
A method of manufacturing a light emitting device in which nanoparticles are filled in grooves by using a spin coating or sol-gel method.
제9항에 있어서, 상기 전도층을 형성하는 단계는,
상기 제1 요철 패턴 및 제2 요철 패턴이 형성된 제2 도전형 반도체층의 표면과 동일한 프로파일을 갖도록 상기 전도층을 형성하는 발광 소자의 제조 방법.
The method of claim 9, wherein the forming of the conductive layer,
And forming the conductive layer so as to have the same profile as the surface of the second conductive semiconductor layer on which the first uneven pattern and the second uneven pattern are formed.
제8항 또는 제9항에 있어서, 상기 홈들 각각의 내부에 적어도 하나의 나노 입자를 채우는 단계는,
상기 홈들 각각의 내부에 적어도 하나의 나노 입자를 단일층으로 채우는 발광 소자의 제조 방법.
10. The method of claim 8 or 9, wherein filling the at least one nanoparticles inside each of the grooves,
The method of manufacturing a light emitting device to fill at least one nanoparticle in each of the grooves in a single layer.
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