KR102075574B1 - Light emitting device, method for fabricating the same and lighting system - Google Patents

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Abstract

실시예는 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템에 관한 것이다.
실시예에 따른 발광소자는 기판(70); 상기 기판(70) 상에 제2 도전형 반도체층(13); 상기 제2 도전형 반도체층(13) 상에 활성층(12); 상기 활성층(12) 상에 제1 도전형 반도체층(11); 및 상기 제1 도전형 반도체층(11) 상에 상부와 하부의 폭이 다른 광추출 나노패턴(25);을 포함할 수 있다.
Embodiments relate to a light emitting device, a method of manufacturing the light emitting device, a light emitting device package and an illumination system.
The light emitting device according to the embodiment includes a substrate 70; A second conductivity type semiconductor layer 13 on the substrate 70; An active layer 12 on the second conductive semiconductor layer 13; A first conductivity type semiconductor layer 11 on the active layer 12; And light extraction nanopatterns 25 having different widths between upper and lower portions on the first conductivity-type semiconductor layer 11.

Description

발광소자, 그 제조방법 및 조명시스템{LIGHT EMITTING DEVICE, METHOD FOR FABRICATING THE SAME AND LIGHTING SYSTEM}LIGHT EMITTING DEVICE, METHOD FOR FABRICATING THE SAME AND LIGHTING SYSTEM

실시예는 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템에 관한 것이다.Embodiments relate to a light emitting device, a method of manufacturing the light emitting device, a light emitting device package and an illumination system.

발광소자(Light Emitting Device)는 전기에너지를 빛 에너지로 변환하는 특성의 p-n 접합 다이오드로서, 주기율표상에서 Ⅲ족과 Ⅴ족 등의 화합물 반도체를 기반으로 하고, 그 조성비를 제어함으로써 다양한 색상구현이 가능하다.Light Emitting Device is a pn junction diode that converts electrical energy into light energy. It is based on compound semiconductors such as Group III and Group V on the periodic table, and various colors can be realized by controlling the composition ratio. .

발광소자는 순방향전압 인가 시 n층의 전자와 p층의 정공(hole)이 결합하여 전도대(Conduction band)와 가전대(Valance band)의 밴드갭 에너지에 해당하는 만큼의 에너지를 발산하는데, 이 에너지는 주로 열이나 빛의 형태로 방출되며, 빛의 형태로 발산되면 발광소자가 되는 것이다.When the forward voltage is applied, the n-layer electrons and the p-layer holes combine to emit energy corresponding to the bandgap energy of the conduction band and the valence band. Is mainly emitted in the form of heat or light, and emits light in the form of light emitting elements.

발광소자는 전극층의 위치에 따라 수평형 타입(Lateral Type) 발광소자와 수직형 타입(Vertical type) 발광소자로 구분할 수 있다.The light emitting device may be classified into a horizontal type light emitting device and a vertical type light emitting device according to the position of the electrode layer.

발광소자는 기존의 형광등, 백열등 등의 조명 장치에 비해서 수명이 길고 전력소모가 적으며 친환경적인 장점이 있어 미래의 조명용 광원으로 주목 받고 있으며 현재는 다양한 분야에서 광원으로 쓰이고 있다. The light emitting device has a long life, low power consumption and environmentally-friendly advantages compared to conventional lighting devices such as fluorescent lamps and incandescent lamps, and is attracting attention as a future light source for lighting and is currently used as a light source in various fields.

특히, 넓은 밴드갭을 가지는 질화물계 발광 다이오드는 녹색에서 청색, 근자외선 영역대의 빛을 발광할 수 있는 장점이 있어 LCD 및 휴대폰 백라이트, 자동차용 조명, 교통신호등, 일반 조명 등 그 응용 분야가 크게 확대되고 있는 추세에 있다. In particular, nitride-based light emitting diodes having a wide bandgap can emit light in the green, blue, and near-ultraviolet region, so that their application fields, such as LCD and mobile phone backlights, automotive lighting, traffic signals, and general lighting, are greatly expanded. There is a trend.

하지만 이러한 수요를 충족시킬 만큼 질화물 계 발광 다이오드는 충분한 성능의 개선이 이루어 지지 못하고 있다.However, nitride-based light emitting diodes are not sufficiently improved to meet such demands.

예를 들어, 발광다이오드의 성능은 크게 주입된 전자가 얼마나 많은 광자를 생성하는 지에 따른 내부양자효율과 생성된 광자가 얼마나 많이 발광다이오드 소자 외부로 방출될 수 있는 지에 따른 광추출효율에 따라 결정된다.For example, the performance of a light emitting diode is largely determined by the internal quantum efficiency depending on how many photons are injected and how much photons can be emitted to the outside of the light emitting diode device. .

이 중에 현재의 발광소자 기술은 외부 광추출 효율을 개선하고자 하는 시도가 있으나, 기술적으로나 효과적으로나 광추출효율 개선에 미흡한 점이 있다.Among the current light emitting device technology, there is an attempt to improve the external light extraction efficiency, but technically and effectively, there is insufficient point to improve the light extraction efficiency.

실시예는 발광다이오드의 광추출 성능을 획기적으로 증대시킬 수 있는 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템을 제공하고자 한다.Embodiments provide a light emitting device, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and an illumination system that can significantly increase light extraction performance of a light emitting diode.

실시예에 따른 발광소자는 기판(70); 상기 기판(70) 상에 제2 도전형 반도체층(13); 상기 제2 도전형 반도체층(13) 상에 활성층(12); 상기 활성층(12) 상에 제1 도전형 반도체층(11); 및 상기 제1 도전형 반도체층(11) 상에 상부와 하부의 폭이 다른 광추출 나노패턴(25, 27);을 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment includes a substrate 70; A second conductivity type semiconductor layer 13 on the substrate 70; An active layer 12 on the second conductive semiconductor layer 13; A first conductivity type semiconductor layer 11 on the active layer 12; And light extraction nanopatterns 25 and 27 having different widths between upper and lower portions on the first conductivity type semiconductor layer 11.

또한, 실시예에 따른 발광소자의 제조방법은 성장 기판(5)을 준비하는 단계; 상기 성장 기판(5) 상에 나노 프린팅패턴(22)을 형성하는 단계; 상기 나노 프린팅패턴(22)이 형성된 성장 기판(5) 상에 제1 도전형 반도체층, 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 발광구조물(10)을 형성하는 단계; 상기 성장 기판(5)을 상기 발광구조물(10)로부터 제거하는 단계; 및 상기 나노 프린팅패턴(22)을 제거하여 상기 발광구조물(10) 상에 광추출 나노패턴(25, 27)을 형성하는 단계;를 포함할 수 있다.In addition, the manufacturing method of the light emitting device according to the embodiment comprises the steps of preparing a growth substrate (5); Forming a nano printing pattern (22) on the growth substrate (5); Forming a light emitting structure (10) including a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer on the growth substrate (5) on which the nano printing pattern (22) is formed; Removing the growth substrate (5) from the light emitting structure (10); And removing the nanoprinting pattern 22 to form light extraction nanopatterns 25 and 27 on the light emitting structure 10.

또한, 실시예에 따른 발광소자의 제조방법은 성장 기판(5)을 준비하는 단계; 상기 성장 기판(5) 상에 광산란 나노패턴(23, 24)을 형성하는 단계; 상기 광산란 나노패턴(23,24)이 형성된 성장 기판(5) 상에 제1 도전형 반도체층, 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 발광구조물(10)을 형성하는 단계; 및 상기 성장 기판(5)을 상기 발광구조물(10)로부터 제거하여 상기 발광구조물(10) 상에 광추출 나노패턴(25, 27) 및 광산란 나노패턴(23, 24)을 형성하는 단계;를 포함할 수 있다.In addition, the manufacturing method of the light emitting device according to the embodiment comprises the steps of preparing a growth substrate (5); Forming a light scattering nanopattern (23, 24) on the growth substrate (5); Forming a light emitting structure (10) including a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer on the growth substrate (5) on which the light scattering nanopatterns (23, 24) are formed; And removing the growth substrate 5 from the light emitting structure 10 to form light extraction nanopatterns 25 and 27 and light scattering nanopatterns 23 and 24 on the light emitting structure 10. can do.

또한, 실시예에 따른 조명시스템은 상기 발광소자를 구비하는 조명유닛을 포함할 수 있다.In addition, the lighting system according to the embodiment may include a lighting unit having the light emitting device.

실시예에 따른 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템에 의하면, 나노급 광추출 나노패턴을 구비한 발광소자를 제공함으로써 발광 다이오드의 성능을 획기적으로 증대시킬 수 있다.According to the light emitting device, the manufacturing method of the light emitting device, the light emitting device package and the illumination system according to the embodiment, by providing a light emitting device having a nano-class light extraction nano-pattern can significantly increase the performance of the light emitting diode.

도 1은 제1 실시예에 따른 발광소자의 단면도.
도 2 내지 도 7은 실시예에 따른 발광소자의 제조방법의 공정단면도.
도 8은 제2 실시예에 따른 발광소자의 단면도.
도 9는 제3 실시예에 따른 발광소자의 단면도.
도 10은 제4 실시예에 따른 발광소자의 단면도.
도 11은 실시예에 따른 발광소자 패키지의 단면도.
도 12는 실시예에 따른 조명장치의 분해 사시도.
1 is a cross-sectional view of a light emitting device according to a first embodiment.
2 to 7 are process cross-sectional views of a method of manufacturing a light emitting device according to the embodiment.
8 is a sectional view of a light emitting device according to a second embodiment;
9 is a sectional view of a light emitting device according to a third embodiment;
10 is a sectional view of a light emitting device according to a fourth embodiment;
11 is a cross-sectional view of a light emitting device package according to the embodiment.
12 is an exploded perspective view of the lighting apparatus according to the embodiment.

실시 예의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상/위(on/over)"에 또는 "아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상/위(on/over)"와 "아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 층을 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 각 층의 상/위 또는 아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다.In the description of an embodiment, each layer (film), region, pattern, or structure is “on / over” or “under” the substrate, each layer (film), region, pad, or pattern. In the case where it is described as being formed at, "on / over" and "under" include both "directly" or "indirectly" formed. do. In addition, the reference to the top / top or bottom of each layer will be described with reference to the drawings.

도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.In the drawings, the thickness or size of each layer is exaggerated, omitted, or schematically illustrated for convenience and clarity of description. In addition, the size of each component does not necessarily reflect the actual size.

(실시예)(Example)

최근 발광다이오드는 에피성장기술의 발전으로 인하여 내부양자효율이 크게 향상 되었으나 외부 광추출효율은 이에 비해서 낮은 상황이다.Recently, the light emitting diode has greatly improved the internal quantum efficiency due to the development of epitaxial growth technology, but the external light extraction efficiency is low.

발광 다이오드의 활성층(발광층)인 MQW(multi quantum well)에서 생성된 광이 방출될 경우, 발광 다이오드 소자(GaN)와 외부 공기, 외부 봉지재인 에폭시, 사파이어(sapphire) 기판 등과의 경계에서 전반사가 발생한다.When light generated in the multi quantum well (MQW), the active layer (light emitting layer) of the light emitting diode is emitted, total reflection occurs at the boundary between the light emitting diode element (GaN), external air, external encapsulant epoxy, and sapphire substrate, etc. do.

공기(nair=1), epoxy(nepoxy=1.5), sapphire(nsap .=1.77)에 비해서 GaN의 경우 굴절률이 약 2.5정도로 큰 값을 가지기 때문에 MQW에서 생성된 광이 소자 외부로 빠져 나갈 수 있는 임계각은 각각 GaN/air=23°, GaN/epoxy=37°, GaN/sap=45°로 매우 한정된 영역이다.Compared to air (n air = 1), epoxy (n epoxy = 1.5), and sapphire (n sap . = 1.77), GaN has a large refractive index of about 2.5. The critical angles that can be defined are GaN / air = 23 °, GaN / epoxy = 37 ° and GaN / sap = 45 °, respectively.

따라서 임계각 범위를 벗어나 소자 외부 방향으로 입사하는 광은 외부로 진행하지 못하고 소자 내부에서 흡수될 때까지 계속 전반사 되어 광추출효율은 불과 수 %로 매우 낮다. 또한 이는 소자의 발열로 연결되는 문제를 야기시킨다.Therefore, the light incident out of the critical angle range toward the outside of the device does not proceed to the outside, but is totally reflected until absorbed inside the device, so the light extraction efficiency is very low, only a few%. This also causes a problem that leads to heat generation of the device.

이러한 질화물계 발광 다이오드의 한계를 극복하기 위해서 종래기술에서는 소자 표면의 p-GaN 층 또는 투명전극 층에 패턴을 삽입하여 광의 난반사를 통하여 전반사를 효과적으로 줄이려는 연구가 진행되어 왔다. In order to overcome the limitation of the nitride-based light emitting diode in the prior art has been studied to effectively reduce the total reflection through the diffuse reflection of light by inserting a pattern in the p-GaN layer or the transparent electrode layer of the device surface.

예를 들어, 일정한 크기의 패턴이 규칙적으로 조밀하게 배열되어 있는 광결정 패턴을 발광다이오드 제조공정에 도입할 경우 광추출효율이 증가하는 것으로 알려져 있다.For example, it is known that the light extraction efficiency increases when a photonic crystal pattern in which patterns of a certain size are regularly arranged in a compact manner is introduced into a light emitting diode manufacturing process.

하지만 패터닝 후 p-type 전극 형성, 패키징 공정 등의 발광 다이오드의 제작 공정과 생산수율, 경제성 등을 고려했을 때 p-GaN 층 및 투명전극 층의 패터닝 공정은 실제로 상용화하기에는 무리가 있다.However, considering the manufacturing process, production yield, and economic efficiency of light emitting diodes such as p-type electrode formation and packaging process after patterning, the patterning process of the p-GaN layer and the transparent electrode layer is not practical to commercialize.

이에 대한 대안으로 PSS(patterned sapphire substrate)에 에피층을 성장시킬 경우, 마찬가지의 광의 난반사효과로 인하여 광추출효율을 개선시킬 수 있다. As an alternative to this, when the epitaxial layer is grown on a patterned sapphire substrate (PSS), the light extraction efficiency may be improved due to the same light reflection effect.

PSS의 경우 본래, sapphire 기판과 GaN 에피층과의 격자불일치(lattice mismatch)로 인한 확산전위 밀도(treading dislocation density)를 감소시켜 내부양자효율을 증가시키는 것을 목적으로 개발된 기술이며, 광추출효율 역시 향상시킬 수 있으며, 발광 다이오드의 제작공정에 바로 적용가능한 장점이 있어, 현재 국내외 발광 다이오드의 제조 업체에서는 PSS를 적용한 제품이 양산되고 있다.PSS was originally developed to increase the internal quantum efficiency by reducing the spreading dislocation density due to lattice mismatch between the sapphire substrate and the GaN epilayer. It can be improved, and there is an advantage that can be directly applied to the manufacturing process of the light emitting diode, and at present, domestic and overseas manufacturers of light emitting diodes have been mass-producing products using PSS.

또한, 고광출력 발광다이오드 소자의 개발을 위해서 p, n 전극이 발광다이오드 소자의 위, 아래에 위치한 수직 구조의 발광다이오드 소자가 연구되고 있다.In addition, in order to develop a high light output light emitting diode device, a light emitting diode device having a vertical structure in which p and n electrodes are positioned above and below the light emitting diode device has been studied.

수직구조의 발광다이오드 소자의 경우, 기존의 측면구조의 발광다이오드보다 열방출 특성이 향상되어 더 높은 주입전류에도 소자가 작동되기 때문에 더 높은 광출력을 갖는 발광다이오드 소자 제작이 가능하다. In the case of the vertical light emitting diode device, since the heat dissipation characteristics are improved compared to the light emitting diode of the conventional side structure, the device is operated even at a higher injection current, thereby making it possible to manufacture a light emitting diode device having a higher light output.

한편, 발광 다이오드는 내열성 확보를 통한 고출력으로 제작하기 위해 수직구조의 발광다이오드의 경우 표면전반사를 최소화하기 위해서 PEC(Photoelectro chemical) 식각을 통해 표면에 거칠기를 형성한다.On the other hand, the light emitting diode forms roughness on the surface through PEC (Photoelectro chemical) etching in order to minimize the total surface reflection in the case of the vertical light emitting diode to ensure high output through heat resistance.

하지만 표면 거칠기를 형성하기 위해서 추가적인 식각 공정이 필요하므로 이에 따른 공정비가 추가된다. PEC 구조의 경우 랜덤한 표면 거칠기 구조로써 발광다이오드 소자의 광추출효율 향상에 최적화되어 있지 않다.However, an additional etching process is required to form the surface roughness, thereby adding a process cost. The PEC structure is a random surface roughness structure and is not optimized for improving the light extraction efficiency of the light emitting diode device.

또한, 기존의 PEC 구조의 경우 4 인치 이상 대면적 소자에서 그 구조가 균일하지 않으므로 대면적 발광다이오드 소자에 적합한 패터닝 기술이 필요하다.In addition, since the structure of the conventional PEC structure is not uniform in a large area device of more than 4 inches, a patterning technique suitable for a large area light emitting diode device is required.

또한, 현재 PSS의 경우, 주로 포토 리소그래피 공정과 건식 및 습식 식각 공정을 통하여 제작되고 있으나 패턴의 스펙은 대부분 수 마이크로 급 정도에 머물고 있다. In addition, PSS is mainly manufactured through photolithography process and dry and wet etching process, but the specification of pattern is mostly in the order of several micro level.

한편, 광의 난반사에 의한 발광다이오드의 광추출효율 향상은 패턴의 크기 및 형상, 주기 등에 따라서 그 향상치가 크게 달라진다.On the other hand, the improvement of the light extraction efficiency of the light emitting diode by the diffuse reflection of light varies greatly depending on the size, shape, period, etc. of the pattern.

현재까지 보고된 바에 의하며 발광다이오드의 발광 영역 대에서는 광결정 패턴을 적용할 경우 광추출 향상치가 크게 증대되는 것으로 알려져 있다.As reported to date, it is known that the light extraction enhancement is greatly increased when the photonic crystal pattern is applied in the light emitting region of the light emitting diode.

따라서 발광소자의 효율 향상을 위해서 기존에 상용화된 PSS의 마이크론 급 패턴의 직경 및 주기를 나노 급으로 축소할 필요가 있다.Therefore, in order to improve the efficiency of the light emitting device, it is necessary to reduce the diameter and period of the micron-class pattern of the conventionally commercially available PSS to nano-scale.

현재 PSS 제작을 위해 사용되는 패터닝 기술인 포토리소그래피는 공정비용이 고가인데다가 sub-micron 급 패턴을 적용하기에는 제품의 제조 단가가 비싸지고 경제성이 현저히 떨어지므로, 현재의 방법으로는 PSS를 통해서 더 이상의 광추출효율의 향상은 기대하기 어렵다.Photolithography, a patterning technology currently used for PSS fabrication, is expensive, and the manufacturing cost of the product is expensive and economical to be significantly reduced to apply sub-micron patterns. Improvement of extraction efficiency is difficult to expect.

따라서 PSS를 통하여 발광 다이오드의 광추출효율을 극대화하기 위해서는 고가의 포토리소그래피를 대신할 sub-micron 급 패턴을 경제적으로 제작할 수 있는 패터닝 기술이 필요한 상황이다.Therefore, in order to maximize the light extraction efficiency of light emitting diodes through PSS, a patterning technique is needed to economically manufacture sub-micron-level patterns to replace expensive photolithography.

도 1은 제1 실시예에 따른 발광소자(100)의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a light emitting device 100 according to the first embodiment.

실시예에 따른 발광소자(100)는 기판(70)과, 상기 기판(70) 상에 제2 도전형 반도체층(13)과, 상기 제2 도전형 반도체층(13) 상에 활성층(12)과, 상기 활성층(12) 상에 제1 도전형 반도체층(11) 및 상기 제1 도전형 반도체층(11) 상에 제1 광추출 나노패턴(25)을 포함할 수 있다. 상기 기판(70)은 도전성 기판 또는 비도전성 기판을 포함할 수 있다.The light emitting device 100 according to the embodiment includes a substrate 70, a second conductive semiconductor layer 13 on the substrate 70, and an active layer 12 on the second conductive semiconductor layer 13. And, the first conductive semiconductor layer 11 and the first conductive semiconductor layer 11 on the active layer 12 may include a first light extraction nano-pattern (25). The substrate 70 may include a conductive substrate or a non-conductive substrate.

도 1은 수직형 발광소자를 도시하고 있으나 실시예가 이에 한정되는 것은 아니며, 수평형 발광소자에도 적용이 가능하다.1 illustrates a vertical light emitting device, but the embodiment is not limited thereto and may be applied to a horizontal light emitting device.

상기 제1 광추출 나노패턴(25)은 상부와 하부의 폭이 다를 수 있다.The first light extraction nanopattern 25 may have a width different from an upper portion and a lower portion.

상기 제1 광추출 나노패턴(25)은 sub-micron, 즉 1 ㎛ 미만의 사이즈를 구비할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 광추출 나노패턴(25)의 사이즈는 상기 제1 광추출 나노패턴(25)이 다각형인 경우 최대 수평폭을 의미할 수 있으며, 구형인 경우 최대 직경을 의미할 수 있다.The first light extracting nanopattern 25 may have a sub-micron, that is, a size of less than 1 μm. For example, the size of the first light extraction nanopattern 25 may mean a maximum horizontal width when the first light extraction nanopattern 25 is a polygon, and may mean a maximum diameter when it is spherical. .

실시예는 제1 광추출 나노패턴(25)을 포함할 수 있으며 광추출 패턴 중 1 ㎛ 이상의 사이즈의 패턴이 있다고 하더라도 1 ㎛ 미만 사이즈의 광추출 나노패턴을 포함하는 한, 이건 발명의 권리범위에서 배제되는 것은 아니다.An embodiment may include the first light extraction nanopattern 25 and the light extraction nanopattern 25 may include a light extraction nanopattern having a size of less than 1 μm, even if there is a pattern having a size of 1 μm or more. It is not excluded.

이하, 도 2 내지 도 8을 참조하여 실시예에 따른 발광소자의 제조방법을 설명한다. 한편, 하기 제조방법은 수직형 발광소자의 제조방법을 중심으로 설명하나, 실시예에가 수직형 발광소자에 한정되는 것은 아니며, 수평형 발광소자에도 적용이 가능하다.Hereinafter, a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 8. On the other hand, the following manufacturing method will be described with reference to the manufacturing method of the vertical light emitting device, the embodiment is not limited to the vertical light emitting device, it is also applicable to the horizontal light emitting device.

실시예에 따른 발광소자 제조방법에 의하면, 도 2와 같이, 몰드(20)에 나노 프린팅패턴(22)을 코팅할 수 있다. According to the method of manufacturing the light emitting device according to the embodiment, as shown in FIG. 2, the nanoprinting pattern 22 may be coated on the mold 20.

상기 몰드(20)는 소정의 패턴을 구비한 고분자 몰드 물질일 수 있다. 상기 나노 프린팅패턴(22)은 상기 몰드의 소정의 패턴을 메우며 상기 몰드(20) 상에 형성될 수 있다. The mold 20 may be a polymer mold material having a predetermined pattern. The nano printing pattern 22 may be formed on the mold 20 to fill a predetermined pattern of the mold.

상기 나노 프린팅패턴(22)은 SOG, SON 등일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 나노 프린팅패턴(22)은 서로 연결된 형태로 형성될 수 있으나 이후 공정에서 식각공정에 의해 상호간에 분리될 수 있다.The nanoprinting pattern 22 may be SOG, SON, or the like, but is not limited thereto. The nanoprinting pattern 22 may be formed in a form connected to each other, but may be separated from each other by an etching process in a subsequent process.

다음으로, 도 3과 같이 상기 나노 프린팅패턴(22)이 구비된 몰드(20)를 소정의 성장 기판(5) 상에 가압한 후, 도 4와 같이 몰드(20)를 제거하여 성장 기판(5) 상에 나노 프린팅패턴(22)을 프린팅할 수 있다. 이때, 상기 나노 프린팅패턴(22)이 서로 연결된 형태인 경우 소정의 식각공정을 통해 잔여층을 제거될 수 있다.Next, as shown in FIG. 3, the mold 20 having the nanoprinting pattern 22 is pressed onto a predetermined growth substrate 5, and then the mold 20 is removed to remove the growth substrate 5 as shown in FIG. 4. The nanoprinting pattern 22 may be printed on the. In this case, when the nanoprinting pattern 22 is connected to each other, the residual layer may be removed through a predetermined etching process.

이후, 열처리 공정을 통해 상기 나노 프린팅패턴(22)은 SiO2 또는 Si3N4 등의 물질로 변할 수 있다.Thereafter, the nanoprinting pattern 22 may be changed to a material such as SiO 2 or Si 3 N 4 through a heat treatment process.

상기 성장 기판(5)은 예를 들어, 사파이어 기판(Al2O3), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge 중 적어도 하나로 형성될 수 있으며, 상기 성장 기판(5) 상에 소정의 버퍼층(미도시)이 형성되고, 상기 버퍼층 상에 나노 프린팅패턴(22)이 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The growth substrate 5 may be formed of, for example, at least one of sapphire substrate (Al 2 O 3 ), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge, and on the growth substrate 5. A predetermined buffer layer (not shown) may be formed in the nanostructure, and the nanoprinting pattern 22 may be formed on the buffer layer, but is not limited thereto.

실시예에서는 나노프린팅 기술을 이용하여 발광다이오드 용 기판 표면에 이종 물질의 패턴을 형성하고, 이를 통해 발광다이오드 용 기판의 패터닝 공정 단계 및 비용을 최소화할 수 있다.In an embodiment, a pattern of heterogeneous material is formed on the surface of the light emitting diode substrate using a nanoprinting technology, thereby minimizing the patterning process step and cost of the light emitting diode substrate.

실시예에서 적용하는 나노 임프린트 기술은 고가의 노광 장비가 필요없어 경제적이며 간단한 공정으로 대면적에 패턴을 전사할 수 있기 때문에 생산 수율이 높은 이점이 있다.Nanoimprint technology applied in the embodiment has the advantage of high production yield because it does not require expensive exposure equipment and can transfer the pattern to a large area in an economical and simple process.

특히 발광 다이오드를 위한 패터닝은 정확한 얼라인(alignment)이 필요 없기 때문에 직접 패턴 전사 방식인 나노 임프린트 공정이 적용되기에 적절하며, sub-micron 급 패턴을 쉽게 형성 가능하다.In particular, since patterning for light emitting diodes does not require precise alignment, it is appropriate to apply a nanoimprint process, which is a direct pattern transfer method, and a sub-micron level pattern can be easily formed.

따라서 PSS를 제작하기 위한 기존의 포토리소그래피 공정에 비하여 나노 임프린트 기술을 PSS 공정에 적용할 경우 제품의 성능을 더욱 향상시키는 동시에 경제성을 갖추게 되며 고효율 PSS 발광 다이오드의 양산화가 가능하다.Therefore, when the nanoimprint technology is applied to the PSS process as compared to the conventional photolithography process for manufacturing the PSS, the performance of the product can be further improved and the economical efficiency can be mass-produced.

이후 수직 구조의 발광다이오드 제작을 위해 사파이어 기판을 제거한 뒤 이종 물질을 제거하게 되면 표면에 패턴이 형성된 수직형 발광다이오드의 제조가 가능하다. 이는 추가적인 패터닝 공정 없이 나노급 광추출 패턴을 형성시킬 수 있는 방법이다. After removing the sapphire substrate to remove the heterogeneous material for manufacturing the vertical light emitting diode, it is possible to manufacture a vertical light emitting diode having a pattern formed on the surface thereof. This is a method that can form a nano-scale light extraction pattern without additional patterning process.

실시예에 의하면 추가적인 패터닝 공정 없이 간단하게 수직형 발광다이오드 표면에 나노급 광추출 패턴을 형성시킬 수 있어, 수직형 발광다이오드의 제조 단가를 낮출 수 있다. According to the embodiment, it is possible to simply form a nano-class light extraction pattern on the surface of the vertical light emitting diode without additional patterning process, it is possible to lower the manufacturing cost of the vertical light emitting diode.

또한, 실시예에 의하면 발광다이오드 소자에 적합한 주기, 직경, 형상을 갖는 나노급 광추출 패턴을 형성할 수 있으므로 기존의 PEC 구조가 형성된 수직형 발광다이오드보다 높은 광추출효율을 갖는 소자 제작이 가능하다.In addition, according to the embodiment, it is possible to form a nano-class light extraction pattern having a period, diameter, shape suitable for the light emitting diode device, it is possible to manufacture a device having a higher light extraction efficiency than the vertical type light emitting diode with a PEC structure .

또한, 실시예에 의하면 나노 프린팅 기술의 경우 경제적인 대면적 패터닝 기술로써 최근 연구 중인 6인치 급 발광다이오드 소자에 적용이 용이하다.In addition, according to the embodiment, the nano printing technology is an economical large-area patterning technology, and is easily applied to the 6-inch light emitting diode device under study.

다음으로, 도 5와 같이 상기 성장 기판(5) 위에 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12), 제2 도전형 반도체층(13)을 형성할 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(11), 상기 활성층(12), 상기 제2 도전형 반도체층(13)은 발광구조물(10)로 정의될 수 있다.Next, as shown in FIG. 5, the first conductive semiconductor layer 11, the active layer 12, and the second conductive semiconductor layer 13 may be formed on the growth substrate 5. The first conductive semiconductor layer 11, the active layer 12, and the second conductive semiconductor layer 13 may be defined as a light emitting structure 10.

예로써, 상기 제1 도전형 반도체층(11)이 제1 도전형 도펀트로서 n형 도펀트가 첨가된 n형 반도체층으로 형성되고, 상기 제2 도전형 반도체층(13)이 제2 도전형 도펀트로서 p형 도펀트가 첨가된 p형 반도체층으로 형성될 수 있다. 또한 상기 제1 도전형 반도체층(11)이 p형 반도체층으로 형성되고, 상기 제2 도전형 반도체층(13)이 n형 반도체층으로 형성될 수도 있다.For example, the first conductivity type semiconductor layer 11 is formed of an n type semiconductor layer to which an n type dopant is added as a first conductivity type dopant, and the second conductivity type semiconductor layer 13 is a second conductivity type dopant. As a p-type dopant may be formed as a p-type semiconductor layer. The first conductive semiconductor layer 11 may be formed of a p-type semiconductor layer, and the second conductive semiconductor layer 13 may be formed of an n-type semiconductor layer.

상기 제1 도전형 반도체층(11)은 예를 들어, n형 반도체층을 포함할 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(11)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 형성될 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(11)은, 예를 들어 InAlGaN, GaN, AlGaN, AlInN, InGaN, AlN, InN 등에서 선택될 수 있으며, Si, Ge, Sn, Se, Te 등의 n형 도펀트가 도핑될 수 있다.The first conductivity-type semiconductor layer 11 may include, for example, an n-type semiconductor layer. The first conductive semiconductor layer 11 is a semiconductor material having a compositional formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1) Can be formed. The first conductive semiconductor layer 11 may be selected from, for example, InAlGaN, GaN, AlGaN, AlInN, InGaN, AlN, InN, and the like, and doped with an n-type dopant such as Si, Ge, Sn, Se, Te, or the like. Can be.

상기 활성층(12)은 상기 제1 도전형 반도체층(11)을 통해서 주입되는 전자(또는 정공)와 상기 제2 도전형 반도체층(13)을 통해서 주입되는 정공(또는 전자)이 서로 만나서, 상기 활성층(12)의 형성 물질에 따른 에너지 밴드(Energy Band)의 밴드갭(Band Gap) 차이에 의해서 빛을 방출하는 층이다. 상기 활성층(12)은 단일 우물 구조, 다중 우물 구조, 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나로 형성될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.In the active layer 12, electrons (or holes) injected through the first conductive semiconductor layer 11 and holes (or electrons) injected through the second conductive semiconductor layer 13 meet each other. The layer emits light due to a band gap difference between energy bands of the active layer 12. The active layer 12 may be formed of any one of a single well structure, a multiple well structure, a quantum dot structure, or a quantum line structure, but is not limited thereto.

상기 활성층(12)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 형성될 수 있다. 상기 활성층(12)이 상기 다중 우물 구조로 형성된 경우, 상기 활성층(12)은 복수의 우물층과 복수의 장벽층이 적층되어 형성될 수 있으며, 예를 들어, InGaN 우물층/GaN 장벽층의 주기로 형성될 수 있다.The active layer 12 may be formed of a semiconductor material having a compositional formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1). When the active layer 12 is formed of the multi-well structure, the active layer 12 may be formed by stacking a plurality of well layers and a plurality of barrier layers, for example, at intervals of an InGaN well layer / GaN barrier layer. Can be formed.

상기 제2 도전형 반도체층(13)은 예를 들어, p형 반도체층으로 구현될 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층(13)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 형성될 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층(13)은, 예를 들어 InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlInN, AlN, InN 등에서 선택될 수 있으며, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등의 p형 도펀트가 도핑될 수 있다.The second conductive semiconductor layer 13 may be implemented with, for example, a p-type semiconductor layer. The second conductive type semiconductor layer 13 of a semiconductor material having a compositional formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1) Can be formed. The second conductive semiconductor layer 13 may be selected from, for example, InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlInN, AlN, InN, and the like, and dopants such as Mg, Zn, Ca, Sr, and Ba may be doped. Can be.

한편, 상기 제1 도전형 반도체층(11)이 p형 반도체층을 포함하고 상기 제2 도전형 반도체층(13)이 n형 반도체층을 포함할 수도 있다. 또한, 상기 제2 도전형 반도체층(13) 위에는 n형 또는 p형 반도체층을 포함하는 반도체층이 더 형성될 수도 있으며, 이에 따라, 상기 발광구조물(10)은 np, pn, npn, pnp 접합 구조 중 적어도 어느 하나를 가질 수 있다. 또한, 상기 제1 도전형 반도체층(11) 및 상기 제2 도전형 반도체층(13) 내의 불순물의 도핑 농도는 균일 또는 불균일하게 형성될 수 있다. 즉, 상기 발광구조물(10)의 구조는 다양하게 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.Meanwhile, the first conductive semiconductor layer 11 may include a p-type semiconductor layer, and the second conductive semiconductor layer 13 may include an n-type semiconductor layer. In addition, a semiconductor layer including an n-type or p-type semiconductor layer may be further formed on the second conductivity-type semiconductor layer 13. Accordingly, the light emitting structure 10 may be np, pn, npn, or pnp junctions. It may have at least one of the structures. In addition, the doping concentrations of the impurities in the first conductive semiconductor layer 11 and the second conductive semiconductor layer 13 may be uniformly or non-uniformly formed. That is, the structure of the light emitting structure 10 may be formed in various ways, but is not limited thereto.

또한, 상기 제1 도전형 반도체층(11)과 상기 활성층(12) 사이에는 제1 도전형 InGaN/GaN 슈퍼래티스 구조 또는 InGaN/InGaN 슈퍼래티스 구조가 형성될 수도 있다. 또한, 상기 제2 도전형 반도체층(13)과 상기 활성층(12) 사이에는 제2 도전형의 AlGaN층이 형성될 수도 있다.In addition, a first conductivity type InGaN / GaN superlattice structure or an InGaN / InGaN superlattice structure may be formed between the first conductivity type semiconductor layer 11 and the active layer 12. In addition, a second conductive AlGaN layer may be formed between the second conductive semiconductor layer 13 and the active layer 12.

다음으로, 도 6과 같이, 상기 발광구조물(10)에 대한 에칭을 행하여 상기 제1 도전형 반도체층(11)의 일부 영역을 노출시킬 수 있다. 이때, 상기 에칭은 습식에칭 또는 건식에칭으로 수행될 수 있다. Next, as shown in FIG. 6, a portion of the first conductivity-type semiconductor layer 11 may be exposed by etching the light emitting structure 10. In this case, the etching may be performed by wet etching or dry etching.

이후, 상기 발광구조물(10)에 채널층(30), 오믹접촉패턴(15), 반사층(17)을 형성할 수 있다.Thereafter, the channel layer 30, the ohmic contact pattern 15, and the reflective layer 17 may be formed on the light emitting structure 10.

예를 들어, 상기 채널층(30)은 Si02, SixOy, Si3N4, SixNy, SiOxNy, Al2O3, TiO2, AlN 등으로 이루어진 군에서 적어도 하나가 선택되어 형성될 수 있다. For example, the channel layer 30 may include at least one of Si0 2 , Si x O y , Si 3 N 4 , Si x N y , SiO x N y , Al 2 O 3 , TiO 2 , AlN, and the like. Can be selected and formed.

상기 반사층(17)과 상기 제2 도전형 반도체층(13) 사이에 상기 오믹접촉패턴(15)이 배치될 수 있다. 상기 오믹접촉패턴(15)은 상기 제2 도전형 반도체층(13)에 접촉되어 배치될 수 있다.The ohmic contact pattern 15 may be disposed between the reflective layer 17 and the second conductive semiconductor layer 13. The ohmic contact pattern 15 may be disposed in contact with the second conductive semiconductor layer 13.

상기 오믹접촉패턴(15)은 상기 발광구조물(10)과 오믹 접촉이 되도록 형성될 수 있다. 상기 반사층(17)은 상기 제2 도전형 반도체층(13)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 오믹접촉패턴(15)은 상기 발광구조물(10)과 오믹 접촉되는 영역을 포함할 수 있다.The ohmic contact pattern 15 may be formed to be in ohmic contact with the light emitting structure 10. The reflective layer 17 may be electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer 13. The ohmic contact pattern 15 may include a region in ohmic contact with the light emitting structure 10.

상기 오믹접촉패턴(15)은 예컨대 투명 전도성 산화막으로 형성될 수 있다. 상기 오믹접촉패턴(15)은 예로서 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), AZO(Aluminum Zinc Oxide), AGZO(Aluminum Gallium Zinc Oxide), IZTO(Indium Zinc Tin Oxide), IAZO(Indium Aluminum Zinc Oxide), IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide), IGTO(Indium Gallium Tin Oxide), ATO(Antimony Tin Oxide), GZO(Gallium Zinc Oxide), IZON(IZO Nitride), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Pt, Ag, Ti 중에서 선택된 적어도 하나의 물질로 형성될 수 있다.The ohmic contact pattern 15 may be formed of, for example, a transparent conductive oxide layer. The ohmic contact pattern 15 may include, for example, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), aluminum zinc oxide (AZO), aluminum gallium zinc oxide (AGZO), indium zinc tin oxide (IZTO), and inaz Aluminum Zinc Oxide (IGZO), Indium Gallium Zinc Oxide (IGZO), Indium Gallium Tin Oxide (IGTO), Antimony Tin Oxide (ATO), Gallium Zinc Oxide (GZO), IZON (IZO Nitride), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Pt It may be formed of at least one material selected from Ag, Ti.

상기 반사층(17)은 고 반사율을 갖는 물질로 형성될 수 있다. 예컨대 상기 반사층(17)은 Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Cu, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하는 금속 또는 합금으로 형성될 수 있다. 또한, 상기 반사층(17)은 상기 금속 또는 합금과 ITO(Indium-Tin-Oxide), IZO(Indium-Zinc-Oxide), IZTO(Indium-Zinc-Tin-Oxide), IAZO(Indium-Aluminum-Zinc-Oxide), IGZO(Indium-Gallium-Zinc-Oxide), IGTO(Indium-Gallium-Tin-Oxide), AZO(Aluminum-Zinc-Oxide), ATO(Antimony-Tin-Oxide) 등의 투광성 전도성 물질을 이용하여 다층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 실시 예에서 상기 반사층(17)은 Ag, Al, Ag-Pd-Cu 합금, 또는 Ag-Cu 합금 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The reflective layer 17 may be formed of a material having a high reflectance. For example, the reflective layer 17 may be formed of a metal or an alloy including at least one of Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Cu, Au, and Hf. In addition, the reflective layer 17 may be formed of indium-tin-oxide (ITO), indium-zinc-oxide (IZO), indium-zinc-tin-oxide (IZTO), and indium-aluminum-zinc- (AZO). Light-transmitting materials such as Oxide), Indium-Gallium-Zinc-Oxide (IGZO), Indium-Gallium-Tin-Oxide (IGTO), Aluminum-Zinc-Oxide (AZO), and Antimony-Tin-Oxide (ATO) It can be formed in multiple layers. For example, in the exemplary embodiment, the reflective layer 17 may include at least one of Ag, Al, Ag-Pd-Cu alloy, or Ag-Cu alloy.

예를 들면, 상기 반사층(17)은 Ag 층과 Ni 층이 교대로 형성될 수도 있고, Ni/Ag/Ni, 혹은 Ti 층, Pt 층을 포함할 수 있다. 또한, 상기 오믹접촉패턴(15)은 상기 반사층(17) 아래에 형성되고, 적어도 일부가 상기 반사층(17)을 통과하여 상기 발광구조물(10)과 오믹 접촉될 수도 있다.For example, the reflective layer 17 may be formed by alternately forming an Ag layer and a Ni layer, and may include a Ni / Ag / Ni, Ti layer, or Pt layer. In addition, the ohmic contact pattern 15 may be formed under the reflective layer 17, and at least part of the ohmic contact pattern 15 may be in ohmic contact with the light emitting structure 10 through the reflective layer 17.

이어서, 상기 반사층(17) 위에 금속층(50), 본딩층(60), 기판(70), 임시기판(90)이 형성될 수 있다.Subsequently, a metal layer 50, a bonding layer 60, a substrate 70, and a temporary substrate 90 may be formed on the reflective layer 17.

상기 금속층(50)은 Au, Cu, Ni, Ti, Ti-W, Cr, W, Pt, V, Fe, Mo 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 금속층(50)은 확산장벽층의 기능을 수행할 수도 있다.The metal layer 50 may include at least one of Au, Cu, Ni, Ti, Ti-W, Cr, W, Pt, V, Fe, and Mo materials. The metal layer 50 may also function as a diffusion barrier layer.

실시 예에 의하면, 상기 제2 도전형 반도체층(13)에 전기적으로 연결된 제1 전극층은 반사층, 오믹접촉층, 금속층 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 실시 예에 의하면 제1 전극층은 반사층, 오믹접촉층, 금속층을 모두 포함할 수도 있으며, 그 중에서 1 개의 층 또는 2 개의 층을 포함할 수도 있다.In example embodiments, the first electrode layer electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer 13 may include at least one of a reflective layer, an ohmic contact layer, and a metal layer. According to the embodiment, the first electrode layer may include all of the reflective layer, the ohmic contact layer, and the metal layer, and may include one layer or two layers.

상기 금속층(50)은 상기 본딩층(60)이 제공되는 공정에서 상기 본딩층(60)에 포함된 물질이 상기 반사층(17) 방향으로 확산되는 것을 방지하는 기능을 수행할 수 있다. 상기 제2 금속층(50)은 상기 본딩층(60)에 포함된 주석(Sn) 등의 물질이 상기 반사층(17)에 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다. The metal layer 50 may function to prevent the material included in the bonding layer 60 from diffusing in the direction of the reflective layer 17 in the process of providing the bonding layer 60. The second metal layer 50 may prevent a material such as tin (Sn) included in the bonding layer 60 from affecting the reflective layer 17.

상기 본딩층(60)은 베리어 금속 또는 본딩 금속 등을 포함하며, 예를 들어, Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag, Nb, Pd 또는 Ta 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 기판(70)은 실시 예에 따른 발광구조물(10)을 지지하며 방열 기능을 수행할 수 있다. 상기 본딩층(60)은 시드층으로 구현될 수도 있다.The bonding layer 60 may include a barrier metal or a bonding metal, and for example, at least one of Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag, Nb, Pd, or Ta. It may include. The substrate 70 may support the light emitting structure 10 according to the embodiment and perform a heat radiation function. The bonding layer 60 may be implemented as a seed layer.

상기 기판(70)은 지지기판 기능을 할 수 있으며, 예를 들어, Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W 또는 불순물이 주입된 반도체 기판(예: Si, Ge, GaN, GaAs, ZnO, SiC, SiGe 등) 중에서 적어도 어느 하나로 형성될 수 있다. 또한 상기 기판(70)은 절연물질로 형성될 수도 있다.The substrate 70 may function as a support substrate, for example, a semiconductor substrate (eg, Si, Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W, or impurity implanted therein). , Ge, GaN, GaAs, ZnO, SiC, SiGe, etc.). In addition, the substrate 70 may be formed of an insulating material.

상기 임시기판(90)은 상기 기판(70) 위에 형성될 수 있다. 상기 임시기판(90)은 금속물질, 반도체 물질, 또는 절연물질 중에서 적어도 하나로 형성될 수 있다.The temporary substrate 90 may be formed on the substrate 70. The temporary substrate 90 may be formed of at least one of a metal material, a semiconductor material, or an insulating material.

다음으로 도 7과 같이 상기 질화갈륨 반도체층(14)으로부터 상기 성장 기판(5)을 제거한다. 하나의 예로서, 상기 성장 기판(5)은 레이저 리프트 오프(LLO: Laser Lift Off) 공정에 의해 제거될 수 있다. 레이저 리프트 오프 공정(LLO)은 상기 성장 기판(5)의 하면에 레이저를 조사하여, 상기 성장 기판(5)과 상기 질화갈륨 반도체층(14)을 서로 박리시키는 공정이다.Next, as shown in FIG. 7, the growth substrate 5 is removed from the gallium nitride semiconductor layer 14. As an example, the growth substrate 5 may be removed by a laser lift off (LLO) process. The laser lift-off process LLO is a process of irradiating a lower surface of the growth substrate 5 to peel the growth substrate 5 and the gallium nitride semiconductor layer 14 from each other.

이후 상기 나노 프린팅패턴(22)의 습식식각 등으로 제거함으로써 제1 광추출 나노패턴(25)을 형성할 수 있다.Thereafter, the first light extracting nanopattern 25 may be formed by removing the nanoprinting pattern 22 by wet etching.

그리고, 실시예는 아이솔레이션 에칭 공정, 패드 전극(81) 형성 공정, 스크라이빙 공정, 반사부(40) 형성 공정, 상기 임시기판(90) 제거 공정이 진행될 수 있다. 이러한 공정은 하나의 예시이며, 필요에 따라 공정 순서는 다양하게 변형될 수 있다. In an embodiment, an isolation etching process, a pad electrode 81 forming process, a scribing process, a reflecting unit 40 forming process, and the temporary substrate 90 removing process may be performed. This process is one example, and the process order may be variously modified as necessary.

실시 예에 의하면, 아이솔레이션 에칭을 수행하여 상기 발광구조물(10)의 측면을 식각하고 상기 채널층(30)의 일부 영역이 노출될 수 있게 된다. 상기 아이솔레이션 에칭은 예를 들어, ICP(Inductively Coupled Plasma)와 같은 건식 식각에 의해 실시될 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. According to an embodiment, the side surface of the light emitting structure 10 may be etched by performing isolation etching, and a portion of the channel layer 30 may be exposed. The isolation etching may be performed by dry etching such as, for example, an inductively coupled plasma (ICP), but is not limited thereto.

다음으로, 상기 발광구조물(10) 위에 패드 전극(81)이 형성될 수 있다. Next, a pad electrode 81 may be formed on the light emitting structure 10.

상기 패드 전극(81)은 상기 제1 도전형 반도체층(11)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 패드 전극(81)의 일부 영역은 상기 제1 도전형 반도체층(11)에 접촉될 수 있다. 실시 예에 의하면, 상기 패드 전극(81) 및 상기 기판(70)을 통하여 상기 발광구조물(10)에 전원이 인가될 수 있게 된다. The pad electrode 81 may be electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer 11. A portion of the pad electrode 81 may be in contact with the first conductive semiconductor layer 11. According to the embodiment, power may be applied to the light emitting structure 10 through the pad electrode 81 and the substrate 70.

상기 패드 전극(81)은 오믹층, 중간층, 상부층으로 구현될 수 있다. 상기 오믹층은 Cr, V, W, Ti, Zn 등에서 선택된 물질을 포함하여 오믹 접촉을 구현할 수 있다. 상기 중간층은 Ni, Cu, Al 등에서 선택된 물질로 구현될 수 있다. 상기 상부층은 예컨대 Au를 포함할 수 있다. 상기 패드 전극(81)은 Cr, V, W, Ti, Zn,Ni, Cu, Al, Au 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. The pad electrode 81 may be implemented as an ohmic layer, an intermediate layer, and an upper layer. The ohmic layer may include a material selected from Cr, V, W, Ti, and Zn to implement ohmic contact. The intermediate layer may be implemented with a material selected from Ni, Cu, Al, and the like. The top layer may comprise Au, for example. The pad electrode 81 may include at least one of Cr, V, W, Ti, Zn, Ni, Cu, Al, Au.

그리고, 스크라이빙 공정이 수행되어 상기 채널층(30), 상기 기판(70)의 측면이 노출될 수 있게 된다. 이어서 상기 채널층(30)의 측면과 상기 기판(70)의 측면에 상기 반사부(40)가 형성될 수 있다. 이후 상기 임시기판(90)이 제거됨으로써 개별 발광소자가 형성될 수 있게 된다.In addition, a scribing process may be performed to expose side surfaces of the channel layer 30 and the substrate 70. Subsequently, the reflector 40 may be formed on the side of the channel layer 30 and the side of the substrate 70. Thereafter, the temporary substrate 90 is removed to form individual light emitting devices.

실시 예에 의하면, 상기 반사부(40)는 상기 채널층(30)의 상부에 배치될 수 있다. 상기 반사부(40)는 상기 채널층(30) 위에 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 반사부(40)는 상기 기판(70)의 측면에 배치될 수 있다. 상기 반사부(40)는 상기 기판(70)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다. 실시 예에 의하면, 상기 반사부(40)는 상기 채널층(30)의 상부에 배치된 제1 영역과 상기 기판(70)의 측면에 배치된 제2 영역이 서로 연결되어 배치될 수 있다. According to an embodiment, the reflector 40 may be disposed on the channel layer 30. The reflector 40 may be disposed in contact with the channel layer 30. The reflector 40 may be disposed on the side of the substrate 70. The reflector 40 may be disposed in contact with the side surface of the substrate 70. According to an embodiment, the reflector 40 may be disposed in such a manner that a first region disposed on the channel layer 30 and a second region disposed on the side surface of the substrate 70 are connected to each other.

또한 상기 반사부(40)는 상기 금속층(50)의 측면에 배치될 수도 있다. 상기 반사부(40)는 상기 금속층(50)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 반사부(40)는 상기 본딩층(60)의 측면에 배치될 수 있다. 상기 반사부(40)는 상기 본딩층(60)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 반사부(40)는 상기 발광구조물(10)과 이격되어 배치될 수 있다. 상기 반사부(40)는 상기 발광구조물(10)과 전기적으로 절연되어 배치될 수 있다.In addition, the reflector 40 may be disposed on the side of the metal layer 50. The reflector 40 may be disposed in contact with the side of the metal layer 50. The reflector 40 may be disposed on the side of the bonding layer 60. The reflector 40 may be disposed in contact with the side surface of the bonding layer 60. The reflector 40 may be spaced apart from the light emitting structure 10. The reflector 40 may be disposed to be electrically insulated from the light emitting structure 10.

상기 반사부(40)는 반사율이 좋은 물질로 구현될 수 있다. 예로서 상기 반사부(40)는 Ag, Al, Pt 중에서 적어도 하나의 물질을 포함할 수 있다. 상기 반사부(40)는 예로서 50 나노미터 내지 5000 나노미터의 두께로 형성될 수 있다.The reflector 40 may be made of a material having good reflectance. For example, the reflector 40 may include at least one of Ag, Al, and Pt. The reflector 40 may be formed to have a thickness of, for example, 50 nanometers to 5000 nanometers.

상기 반사부(40)는 상기 발광구조물(10)에서 발광된 빛이 상기 채널층(30), 상기 금속층(50), 상기 본딩층(60), 상기 기판(70)로 입사되어 흡수되는 것을 방지할 수 있다. 즉, 상기 반사부(40)는 외부로부터 입사되는 빛을 반사시킴으로써 상기 채널층(30), 상기 금속층(50), 상기 본딩층(60), 상기 기판(70)에서 빛이 흡수되어 소실되는 것을 방지할 수 있게 된다. The reflector 40 prevents light emitted from the light emitting structure 10 from being incident on and absorbed by the channel layer 30, the metal layer 50, the bonding layer 60, and the substrate 70. can do. That is, the reflector 40 reflects the light incident from the outside so that the light is absorbed and lost in the channel layer 30, the metal layer 50, the bonding layer 60, and the substrate 70. It can be prevented.

상기 반사부(40)가 배치됨에 따라, 상기 채널층(30)의 측면, 상기 금속층(50)의 측면, 상기 본딩층(60)의 측면, 상기 기판(70)의 측면 중의 어느 하나에 거칠기가 형성된 경우에도, 실시 예에 따른 발광소자의 측면은 모두 매끄럽게 구현될 수 있게 된다. 즉, 상기 반사부(40)의 표면이 매끄럽게 형성될 수 있으므로 스크라이빙 공정 등에서 상기 채널층(30)의 측면, 상기 금속층(50)의 측면, 상기 본딩층(60)의 측면, 상기 기판(70)의 측면 중의 어느 하나에 거칠기 또는 버(burr)가 형성된 경우에도, 실시 예에 따른 발광소자의 측면은 모두 매끄럽게 구현될 수 있게 된다.As the reflector 40 is disposed, roughness may be applied to any one of a side surface of the channel layer 30, a side surface of the metal layer 50, a side surface of the bonding layer 60, and a side surface of the substrate 70. Even if formed, the sides of the light emitting device according to the embodiment can all be implemented smoothly. That is, since the surface of the reflector 40 may be smoothly formed, the side of the channel layer 30, the side of the metal layer 50, the side of the bonding layer 60, the substrate ( Even when roughness or burr is formed on any one of the side surfaces of 70, all of the side surfaces of the light emitting device according to the embodiment may be smoothly implemented.

실시예에 의하면 추가적인 패터닝 공정 없이 간단하게 수직형 발광다이오드 표면에 나노급 광추출 패턴을 형성시킬 수 있어, 수직형 발광다이오드의 제조 단가를 낮출 수 있다. According to the embodiment, it is possible to simply form a nano-class light extraction pattern on the surface of the vertical light emitting diode without additional patterning process, it is possible to lower the manufacturing cost of the vertical light emitting diode.

또한, 실시예에 의하면 발광다이오드 소자에 적합한 주기, 직경, 형상을 갖는 패턴을 형성할 수 있으므로 기존의 PEC 구조가 형성된 수직형 발광다이오드 보다 높은 광추출효율을 갖는 소자 제작이 가능하다.In addition, according to the embodiment, it is possible to form a pattern having a period, diameter, shape suitable for the light emitting diode device, it is possible to manufacture a device having a higher light extraction efficiency than a vertical light emitting diode with a conventional PEC structure.

또한, 실시예에 의하면 나노 프린팅 기술의 경우 경제적인 대면적 패터닝 기술로써 최근 연구 중인 6인치 급 발광다이오드 소자에 적용이 용이하다.In addition, according to the embodiment, the nano printing technology is an economical large-area patterning technology, and is easily applied to the 6-inch light emitting diode device under study.

도 8은 제2 실시예에 따른 발광소자(102)의 단면도이다.8 is a sectional view of a light emitting element 102 according to the second embodiment.

제2 실시예는 상기 제1 실시예의 기술적인 특징을 채용할 수 있다.The second embodiment can employ the technical features of the first embodiment.

제2 실시예에서 제2 광추출 나노패턴(27)은 아래로 오목한 반구형 단면을 포함할 수 있다. 이는 나노 프린팅패턴 형상이 반구형 단면을 구비하도록 제어함으로써 가능할 수 있다.In the second embodiment, the second light extracting nanopattern 27 may include a hemispherical cross section recessed downward. This may be possible by controlling the nanoprinting pattern shape to have a hemispherical cross section.

실시예에 의하면 제2 광추출 나노패턴(27)이 오목한 반구형 단면을 구비함으로써 외부 광추출 효율을 현저히 증대시킬 수 있다.According to the embodiment, since the second light extraction nanopattern 27 has a concave hemispherical cross section, the external light extraction efficiency can be significantly increased.

종래 광추출 구조의 패턴은 오목한 반구형 단면을 갖도록 식각하기도 어려웠을 뿐더러 식각시 에피층에 손상이 가해져 신뢰성이 저하되는 문제가 있었고, 광추출 패턴을 정밀하게 제어하기도 어려운점이 있었다.The pattern of the conventional light extraction structure was difficult to etch to have a concave hemispherical cross section, and there was a problem that the damage was applied to the epi layer during etching, thereby lowering reliability, and it was difficult to precisely control the light extraction pattern.

실시예에 의하면 나노 프린팅패턴을 정밀하게 제어함으로써 제2 광추출 나노패턴(27)이 아래로 오목한 반구형 단면을 구비하게 할 수 있다.According to the embodiment, by precisely controlling the nanoprinting pattern, the second light extracting nanopattern 27 may have a hemispherical cross section recessed downward.

도 9는 제3 실시예에 따른 발광소자(103)의 단면도이다.9 is a sectional view of a light emitting element 103 according to the third embodiment.

제3 실시예는 상기 제1 실시예의 기술적인 특징을 채용할 수 있다.The third embodiment can employ the technical features of the first embodiment.

제3 실시예는 광추출 나노패턴(25) 사이에 제1 광산란 나노패턴(23)을 포함하여 외부 광추출 효율을 극대화할 수 있다.The third embodiment may include the first light scattering nanopattern 23 between the light extraction nanopatterns 25 to maximize the external light extraction efficiency.

상기 제1 광산란 나노패턴(23)은 상부와 하부의 폭이 다르게 형성될 수 있다.The first light scattering nanopattern 23 may have a width differently between an upper portion and a lower portion.

예를 들어, 나노 프린팅패턴 물질을 광산란 물질로 형성하고, 이를 제거하지 않음으로써 제1 광산란 나노패턴(23)을 형성할 수 있다.For example, the first light scattering nanopattern 23 may be formed by forming the nanoprinting pattern material as a light scattering material and not removing it.

예를 들어, 상기 제1 광산란 나노패턴(23)은 광투광성 산화물, 질화물, 폴리머 등의 물질을 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 상기 제1 광산란 나노패턴(23)은 ZnO, 유리 페이스트 조성물, 은(Ag), 알루미늄(Al), 실리카, 수산화 알루미늄(Al(OH)3) 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.For example, the first light scattering nanopattern 23 may include a material such as a light transmissive oxide, a nitride, a polymer, but is not limited thereto. For example, the first light scattering nanopattern 23 may include at least one of ZnO, a glass paste composition, silver (Ag), aluminum (Al), silica, and aluminum hydroxide (Al (OH) 3 ). It is not limited.

도 10은 제4 실시예에 따른 발광소자(104)의 단면도이다.10 is a cross-sectional view of the light emitting device 104 according to the fourth embodiment.

제4 실시예는 제1 실시예, 제3 실시예의 기술적인 특징을 채용할 수 있다.The fourth embodiment can employ the technical features of the first and third embodiments.

제4 실시예에서 제2 광산란패턴(24)은 아래로 오목한 반구형 단면을 구비할 수 있다. 이를 통해 효과적인 광추출이 가능할 수 있다.In the fourth embodiment, the second light scattering pattern 24 may have a semispherical cross section recessed downward. Through this, effective light extraction may be possible.

실시예에 따른 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템에 의하면, 나노급 광추출 나노패턴을 구비한 발광소자를 제공함으로써 발광 다이오드의 성능을 획기적으로 증대시킬 수 있다.According to the light emitting device, the manufacturing method of the light emitting device, the light emitting device package and the illumination system according to the embodiment, by providing a light emitting device having a nano-class light extraction nano-pattern can significantly increase the performance of the light emitting diode.

도 11은 실시 예에 따른 발광소자가 적용된 발광소자 패키지(200)를 나타낸 도면이다.11 is a view illustrating a light emitting device package 200 to which a light emitting device is applied, according to an exemplary embodiment.

도 11을 참조하면, 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 몸체(120)와, 상기 몸체(120)에 배치된 제1 리드전극(131) 및 제2 리드전극(132)과, 상기 몸체(120)에 제공되어 상기 제1 리드전극(131) 및 제2 리드전극(132)과 전기적으로 연결되는 실시 예에 따른 발광소자(100)와, 상기 발광소자(100)를 포위하는 몰딩부재(140)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 11, the light emitting device package according to the embodiment includes a body 120, a first lead electrode 131 and a second lead electrode 132 disposed on the body 120, and the body 120. The light emitting device 100 according to the embodiment provided to and electrically connected to the first lead electrode 131 and the second lead electrode 132, and a molding member 140 surrounding the light emitting device 100. It may include.

상기 몸체(120)는 실리콘 재질, 합성수지 재질, 또는 금속 재질을 포함하여 형성될 수 있으며, 상기 발광소자(100)의 주위에 경사면이 형성될 수 있다.The body 120 may include a silicon material, a synthetic resin material, or a metal material, and an inclined surface may be formed around the light emitting device 100.

상기 제1 리드전극(131) 및 제2 리드전극(132)은 서로 전기적으로 분리되며, 상기 발광소자(100)에 전원을 제공한다. 또한, 상기 제1 리드전극(131) 및 제2 리드전극(132)은 상기 발광소자(100)에서 발생된 빛을 반사시켜 광 효율을 증가시킬 수 있으며, 상기 발광소자(100)에서 발생된 열을 외부로 배출시키는 역할을 할 수도 있다.The first lead electrode 131 and the second lead electrode 132 are electrically separated from each other, and provide power to the light emitting device 100. In addition, the first lead electrode 131 and the second lead electrode 132 may increase light efficiency by reflecting light generated from the light emitting device 100, and heat generated from the light emitting device 100. It may also play a role in discharging it to the outside.

상기 발광소자(100)는 상기 몸체(120) 위에 배치되거나 상기 제1 리드전극(131) 또는 제2 리드전극(132) 위에 배치될 수 있다.The light emitting device 100 may be disposed on the body 120 or on the first lead electrode 131 or the second lead electrode 132.

상기 발광소자(100)는 상기 제1 리드전극(131) 및 제2 리드전극(132)과 와이어 방식, 플립칩 방식 또는 다이 본딩 방식 중 어느 하나에 의해 전기적으로 연결될 수도 있다.The light emitting device 100 may be electrically connected to the first lead electrode 131 and the second lead electrode 132 by any one of a wire method, a flip chip method, or a die bonding method.

상기 몰딩부재(140)는 상기 발광소자(100)를 포위하여 상기 발광소자(100)를 보호할 수 있다. 또한, 상기 몰딩부재(140)에는 형광체가 포함되어 상기 발광소자(100)에서 방출된 광의 파장을 변화시킬 수 있다.The molding member 140 may surround the light emitting device 100 to protect the light emitting device 100. In addition, the molding member 140 may include a phosphor to change the wavelength of the light emitted from the light emitting device 100.

실시 예에 따른 발광소자 또는 발광소자 패키지는 복수 개가 기판 위에 어레이될 수 있으며, 상기 발광소자 패키지의 광 경로 상에 광학 부재인 렌즈, 도광판, 프리즘 시트, 확산 시트 등이 배치될 수 있다. 이러한 발광소자 패키지, 기판, 광학 부재는 라이트 유닛으로 기능할 수 있다. 상기 라이트 유닛은 탑뷰 또는 사이드 뷰 타입으로 구현되어, 휴대 단말기 및 노트북 컴퓨터 등의 표시 장치에 제공되거나, 조명장치 및 지시 장치 등에 다양하게 적용될 수 있다. 또 다른 실시 예는 상술한 실시 예들에 기재된 발광소자 또는 발광소자 패키지를 포함하는 조명 장치로 구현될 수 있다. 예를 들어, 조명 장치는 램프, 가로등, 전광판, 전조등을 포함할 수 있다.A plurality of light emitting devices or light emitting device packages according to the embodiment may be arranged on a substrate, and an optical member such as a lens, a light guide plate, a prism sheet, a diffusion sheet, and the like may be disposed on the light path of the light emitting device package. The light emitting device package, the substrate, and the optical member may function as a light unit. The light unit may be implemented in a top view or a side view type, and may be provided to a display device such as a portable terminal and a notebook computer, or may be variously applied to an illumination device and a pointing device. Yet another embodiment may be implemented as a lighting device including the light emitting device or the light emitting device package described in the above embodiments. For example, the lighting device may include a lamp, a street lamp, a sign, a headlamp.

도 12는 실시예에 따른 조명장치의 분해 사시도이다.12 is an exploded perspective view of the lighting apparatus according to the embodiment.

도 12를 참조하면, 실시 예에 따른 조명 장치는 커버(2100), 광원 모듈(2200), 방열체(2400), 전원 제공부(2600), 내부 케이스(2700), 소켓(2800)을 포함할 수 있다. 또한, 실시 예에 따른 조명 장치는 부재(2300)와 홀더(2500) 중 어느 하나 이상을 더 포함할 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)은 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 12, the lighting apparatus according to the embodiment may include a cover 2100, a light source module 2200, a radiator 2400, a power supply 2600, an inner case 2700, and a socket 2800. Can be. In addition, the lighting apparatus according to the embodiment may further include any one or more of the member 2300 and the holder 2500. The light source module 2200 may include a light emitting device package according to an embodiment.

예컨대, 상기 커버(2100)는 벌브(bulb) 또는 반구의 형상을 가지며, 속이 비어 있고, 일 부분이 개구된 형상으로 제공될 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 광원 모듈(2200)과 광학적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 상기 커버(2100)는 상기 광원 모듈(2200)로부터 제공되는 빛을 확산, 산란 또는 여기 시킬 수 있다. 상기 커버(2100)는 일종의 광학 부재일 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 방열체(2400)와 결합될 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 방열체(2400)와 결합하는 결합부를 가질 수 있다.For example, the cover 2100 may have a bulb or hemisphere shape, and may be provided in a hollow shape and a part of which is opened. The cover 2100 may be optically coupled to the light source module 2200. For example, the cover 2100 may diffuse, scatter or excite the light provided from the light source module 2200. The cover 2100 may be a kind of optical member. The cover 2100 may be combined with the radiator 2400. The cover 2100 may have a coupling part coupled to the heat sink 2400.

상기 커버(2100)의 내면에는 유백색 도료가 코팅될 수 있다. 유백색의 도료는 빛을 확산시키는 확산재를 포함할 수 있다. 상기 커버(2100)의 내면의 표면 거칠기는 상기 커버(2100)의 외면의 표면 거칠기보다 크게 형성될 수 있다. 이는 상기 광원 모듈(2200)로부터의 빛이 충분히 산란 및 확산되어 외부로 방출시키기 위함이다.An inner surface of the cover 2100 may be coated with a milky paint. The milky paint may include a diffuser that diffuses light. The surface roughness of the inner surface of the cover 2100 may be greater than the surface roughness of the outer surface of the cover 2100. This is for the light from the light source module 2200 to be sufficiently scattered and diffused and emitted to the outside.

상기 커버(2100)의 재질은 유리(glass), 플라스틱, 폴리프로필렌(PP), 폴리에틸렌(PE), 폴리카보네이트(PC) 등일 수 있다. 여기서, 폴리카보네이트는 내광성, 내열성, 강도가 뛰어나다. 상기 커버(2100)는 외부에서 상기 광원 모듈(2200)이 보이도록 투명할 수 있고, 불투명할 수 있다. 상기 커버(2100)는 블로우(blow) 성형을 통해 형성될 수 있다.The cover 2100 may be made of glass, plastic, polypropylene (PP), polyethylene (PE), polycarbonate (PC), or the like. Here, polycarbonate is excellent in light resistance, heat resistance, and strength. The cover 2100 may be transparent or opaque so that the light source module 2200 is visible from the outside. The cover 2100 may be formed through blow molding.

상기 광원 모듈(2200)은 상기 방열체(2400)의 일 면에 배치될 수 있다. 따라서, 상기 광원 모듈(2200)로부터의 열은 상기 방열체(2400)로 전도된다. 상기 광원 모듈(2200)은 광원부(2210), 연결 플레이트(2230), 커넥터(2250)를 포함할 수 있다.The light source module 2200 may be disposed on one surface of the heat sink 2400. Therefore, heat from the light source module 2200 is conducted to the heat sink 2400. The light source module 2200 may include a light source unit 2210, a connection plate 2230, and a connector 2250.

상기 부재(2300)는 상기 방열체(2400)의 상면 위에 배치되고, 복수의 광원부(2210)들과 커넥터(2250)이 삽입되는 가이드홈(2310)들을 갖는다. 상기 가이드홈(2310)은 상기 광원부(2210)의 기판 및 커넥터(2250)와 대응된다.The member 2300 is disposed on an upper surface of the heat dissipator 2400 and has a plurality of light source parts 2210 and guide grooves 2310 into which the connector 2250 is inserted. The guide groove 2310 corresponds to the board and the connector 2250 of the light source unit 2210.

상기 부재(2300)의 표면은 빛 반사 물질로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 예를 들면, 상기 부재(2300)의 표면은 백색의 도료로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 이러한 상기 부재(2300)는 상기 커버(2100)의 내면에 반사되어 상기 광원 모듈(2200)측 방향으로 되돌아오는 빛을 다시 상기 커버(2100) 방향으로 반사한다. 따라서, 실시 예에 따른 조명 장치의 광 효율을 향상시킬 수 있다.The surface of the member 2300 may be coated or coated with a light reflective material. For example, the surface of the member 2300 may be coated or coated with a white paint. The member 2300 is reflected on the inner surface of the cover 2100 to reflect the light returned to the light source module 2200 side again toward the cover 2100. Therefore, it is possible to improve the light efficiency of the lighting apparatus according to the embodiment.

상기 부재(2300)는 예로서 절연 물질로 이루어질 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)의 연결 플레이트(2230)는 전기 전도성의 물질을 포함할 수 있다. 따라서, 상기 방열체(2400)와 상기 연결 플레이트(2230) 사이에 전기적인 접촉이 이루어질 수 있다. 상기 부재(2300)는 절연 물질로 구성되어 상기 연결 플레이트(2230)와 상기 방열체(2400)의 전기적 단락을 차단할 수 있다. 상기 방열체(2400)는 상기 광원 모듈(2200)로부터의 열과 상기 전원 제공부(2600)로부터의 열을 전달받아 방열한다.The member 2300 may be made of, for example, an insulating material. The connection plate 2230 of the light source module 2200 may include an electrically conductive material. Therefore, electrical contact may be made between the radiator 2400 and the connection plate 2230. The member 2300 may be made of an insulating material to block an electrical short between the connection plate 2230 and the radiator 2400. The radiator 2400 receives heat from the light source module 2200 and heat from the power supply unit 2600 to radiate heat.

상기 홀더(2500)는 내부 케이스(2700)의 절연부(2710)의 수납홈(2719)을 막는다. 따라서, 상기 내부 케이스(2700)의 상기 절연부(2710)에 수납되는 상기 전원 제공부(2600)는 밀폐된다. 상기 홀더(2500)는 가이드 돌출부(2510)를 갖는다. 상기 가이드 돌출부(2510)는 상기 전원 제공부(2600)의 돌출부(2610)가 관통하는 홀을 갖는다.The holder 2500 may block the accommodating groove 2719 of the insulating portion 2710 of the inner case 2700. Therefore, the power supply unit 2600 accommodated in the insulating unit 2710 of the inner case 2700 is sealed. The holder 2500 has a guide protrusion 2510. The guide protrusion 2510 has a hole through which the protrusion 2610 of the power supply unit 2600 passes.

상기 전원 제공부(2600)는 외부로부터 제공받은 전기적 신호를 처리 또는 변환하여 상기 광원 모듈(2200)로 제공한다. 상기 전원 제공부(2600)는 상기 내부 케이스(2700)의 수납홈(2719)에 수납되고, 상기 홀더(2500)에 의해 상기 내부 케이스(2700)의 내부에 밀폐된다.The power supply unit 2600 processes or converts an electrical signal provided from the outside to provide the light source module 2200. The power supply unit 2600 is accommodated in the accommodating groove 2725 of the inner case 2700, and is sealed in the inner case 2700 by the holder 2500.

상기 전원 제공부(2600)는 돌출부(2610), 가이드부(2630), 베이스(2650), 연장부(2670)를 포함할 수 있다.The power supply unit 2600 may include a protrusion 2610, a guide unit 2630, a base 2650, and an extension unit 2670.

상기 가이드부(2630)는 상기 베이스(2650)의 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 가이드부(2630)는 상기 홀더(2500)에 삽입될 수 있다. 상기 베이스(2650)의 일 면 위에 다수의 부품이 배치될 수 있다. 다수의 부품은 예를 들어, 외부 전원으로부터 제공되는 교류 전원을 직류 전원으로 변환하는 직류변환장치, 상기 광원 모듈(2200)의 구동을 제어하는 구동칩, 상기 광원 모듈(2200)을 보호하기 위한 ESD(ElectroStatic discharge) 보호 소자 등을 포함할 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다.The guide part 2630 has a shape protruding outward from one side of the base 2650. The guide part 2630 may be inserted into the holder 2500. A plurality of parts may be disposed on one surface of the base 2650. The plurality of components may include, for example, a DC converter for converting AC power provided from an external power source into DC power, a driving chip for controlling the driving of the light source module 2200, and an ESD for protecting the light source module 2200. (ElectroStatic discharge) protection element and the like, but may not be limited thereto.

상기 연장부(2670)는 상기 베이스(2650)의 다른 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 연장부(2670)는 상기 내부 케이스(2700)의 연결부(2750) 내부에 삽입되고, 외부로부터의 전기적 신호를 제공받는다. 예컨대, 상기 연장부(2670)는 상기 내부 케이스(2700)의 연결부(2750)의 폭과 같거나 작게 제공될 수 있다. 상기 연장부(2670)에는 "+ 전선"과 "- 전선"의 각 일 단이 전기적으로 연결되고, "+ 전선"과 "- 전선"의 다른 일 단은 소켓(2800)에 전기적으로 연결될 수 있다.The extension part 2670 has a shape protruding outward from the other side of the base 2650. The extension part 2670 is inserted into the connection part 2750 of the inner case 2700 and receives an electrical signal from the outside. For example, the extension part 2670 may be provided equal to or smaller than the width of the connection part 2750 of the inner case 2700. Each end of the "+ wire" and the "-wire" may be electrically connected to the extension 2670, and the other end of the "+ wire" and the "-wire" may be electrically connected to the socket 2800. .

상기 내부 케이스(2700)는 내부에 상기 전원 제공부(2600)와 함께 몰딩부를 포함할 수 있다. 몰딩부는 몰딩 액체가 굳어진 부분으로서, 상기 전원 제공부(2600)가 상기 내부 케이스(2700) 내부에 고정될 수 있도록 한다.The inner case 2700 may include a molding part together with the power supply part 2600 therein. The molding part is a part where the molding liquid is hardened, so that the power supply part 2600 can be fixed inside the inner case 2700.

실시예에 따른 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템에 의하면, 나노급 광추출 나노패턴을 구비한 발광소자를 제공함으로써 발광 다이오드의 성능을 획기적으로 증대시킬 수 있다.According to the light emitting device, the manufacturing method of the light emitting device, the light emitting device package and the illumination system according to the embodiment, by providing a light emitting device having a nano-class light extraction nano-pattern can significantly increase the performance of the light emitting diode.

이상에서 실시예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 실시예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Features, structures, effects, etc. described in the above embodiments are included in at least one embodiment, but are not necessarily limited to one embodiment. Furthermore, the features, structures, effects, and the like illustrated in the embodiments may be combined or modified with respect to other embodiments by those skilled in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be interpreted that the contents related to such combinations and modifications are included in the scope of the embodiments.

이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 실시예를 한정하는 것이 아니며, 실시예가 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 설정하는 실시예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Although the embodiments have been described above, the embodiments are merely examples and are not intended to limit the embodiments, and those skilled in the art to which the embodiments pertain may have several examples that are not exemplified above without departing from the essential characteristics of the embodiments. It will be appreciated that modifications and applications of the branches are possible. For example, each component specifically shown in the embodiment can be modified. And differences relating to these modifications and applications will have to be construed as being included in the scope of the embodiments set out in the appended claims.

기판(70), 제2 도전형 반도체층(13),
활성층(12), 제1 도전형 반도체층(11),
광추출 나노패턴(25, 27), 광산란 나노패턴(23, 24)
The substrate 70, the second conductivity-type semiconductor layer 13,
Active layer 12, first conductivity-type semiconductor layer 11,
Light extraction nanopatterns (25, 27), light scattering nanopatterns (23, 24)

Claims (11)

기판;
상기 기판 상에 배치되는 제2 도전형 반도체층; 상기 제2 도전형 반도체층 상에 배치되는 활성층; 및 상기 활성층 상에 제1 도전형 반도체층;을 포함하는 발광 구조물;
상기 제1 도전형 반도체층 상에 배치되며, 상기 제1 도전형 반도체층과 전기적으로 연결된 패드 전극;
상기 제1 도전형 반도체층 상에 상부와 하부의 폭이 다른 광추출 나노패턴; 및
상기 광추출 나노패턴 사이에 광산란 나노패턴;을 포함하고,
상기 광산란 나노패턴은 상기 발광 구조물과 상이한 재질을 포함하고,
상기 제1 도전형 반도체층의 상면은, 상기 광추출 나노패턴 및 상기 광산란 나노패턴이 형성된 제1 영역; 및 상기 제1 영역 둘레의 제2 영역을 포함하고,
상기 제1 영역의 수평 방향 폭은, 상기 활성층 및 상기 제2 도전형 반도체층의 수평 방향 폭보다 크고,
상기 패드 전극은 상기 제2 영역 상에 배치되는 발광소자.
Board;
A second conductivity type semiconductor layer disposed on the substrate; An active layer disposed on the second conductivity type semiconductor layer; And a first conductivity type semiconductor layer on the active layer;
A pad electrode disposed on the first conductive semiconductor layer and electrically connected to the first conductive semiconductor layer;
Light extraction nanopatterns having different widths from upper and lower portions on the first conductivity type semiconductor layer; And
And a light scattering nanopattern between the light extraction nanopatterns.
The light scattering nanopattern includes a material different from the light emitting structure,
An upper surface of the first conductivity type semiconductor layer may include a first region in which the light extraction nanopattern and the light scattering nanopattern are formed; And a second region around the first region,
The horizontal width of the first region is greater than the horizontal width of the active layer and the second conductive semiconductor layer.
The pad electrode is disposed on the second region.
제1 항에 있어서,
상기 광추출 나노패턴 및 상기 광산란 나노패턴은
반구형 단면을 포함하는 발광소자.
According to claim 1,
The light extraction nanopattern and the light scattering nanopattern
Light emitting device comprising a hemispherical cross section.
제1 항에 있어서,
상기 광산란 나노패턴은
상부와 하부의 폭이 다른 발광소자.
According to claim 1,
The light scattering nanopattern is
Light emitting device having a different width at the top and the bottom.
제1 항에 있어서,
상기 광산란 나노패턴은 산화물, 질화물, 폴리머 중 적어도 하나를 포함하는 발광소자.
According to claim 1,
The light scattering nanopattern includes at least one of an oxide, a nitride and a polymer.
성장 기판을 준비하는 단계;
상기 성장 기판 상에 나노 프린팅패턴을 형성하는 단계;
상기 나노 프린팅패턴이 형성된 성장 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 발광 구조물을 형성하는 단계;
상기 성장 기판을 상기 발광 구조물로부터 제거하는 단계;
상기 나노 프린팅패턴을 제거하여 상기 발광구조물 상에 광추출 나노패턴 및 광산란 나노패턴을 형성하는 단계; 및
상기 발광 구조물 상에 패드 전극을 형성하는 단계를 포함하고,
상기 성장 기판 상에 나노 프린팅패턴을 형성하는 단계는,
소정의 패턴을 포함하는 몰드의 패턴 내에 상기 나노 프린팅패턴 재질을 채우는 단계;
상기 패턴 내에 상기 나노 프린팅패턴 재질이 채워진 상기 몰드를 상기 성장 기판 상에 가압하는 단계; 및
상기 몰드를 제거하는 단계를 포함하고,
상기 광산란 나노패턴은 상기 발광 구조물과 상이한 재질을 포함하고,
상기 제1 도전형 반도체층의 상면은, 상기 광추출 나노패턴 및 상기 광산란 나노패턴이 형성된 제1 영역; 및 상기 제1 영역 둘레의 제2 영역을 포함하고,
상기 제1 영역의 수평 방향 폭은, 상기 활성층 및 상기 제2 도전형 반도체층의 수평 방향 폭보다 크고,
상기 패드 전극은 상기 제2 영역 상에 배치되는 발광소자의 제조방법.
Preparing a growth substrate;
Forming a nano printing pattern on the growth substrate;
Forming a light emitting structure including a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer on the growth substrate on which the nanoprinting pattern is formed;
Removing the growth substrate from the light emitting structure;
Removing the nanoprinting pattern to form a light extraction nanopattern and a light scattering nanopattern on the light emitting structure; And
Forming a pad electrode on the light emitting structure;
Forming a nano printing pattern on the growth substrate,
Filling the nanoprinting pattern material into a pattern of a mold including a predetermined pattern;
Pressing the mold on which the nanoprinting pattern material is filled into the pattern on the growth substrate; And
Removing the mold;
The light scattering nanopattern includes a material different from the light emitting structure,
An upper surface of the first conductivity type semiconductor layer may include a first region in which the light extraction nanopattern and the light scattering nanopattern are formed; And a second region around the first region,
The horizontal width of the first region is greater than the horizontal width of the active layer and the second conductive semiconductor layer.
And the pad electrode is disposed on the second region.
제5 항에 있어서,
상기 광추출 나노패턴은
상부와 하부의 폭이 다른 발광소자의 제조방법.
The method of claim 5,
The light extraction nano pattern is
A method of manufacturing a light emitting device having a width different from an upper part and a lower part.
제5 항에 있어서,
상기 광추출 나노패턴은
반구형 단면을 포함하는 발광소자의 제조방법.
The method of claim 5,
The light extraction nano pattern is
Method of manufacturing a light emitting device comprising a hemispherical cross section.
제5 항에 있에서,
상기 발광 구조물을 형성하는 단계 및 상기 성장 기판을 상기 발광구조물로부터 제거하는 단계 사이에,
상기 발광 구조물의 일부를 에칭하여 상기 제1 도전형 반도체층의 일부 영역을 오픈하는 단계;
상기 발광 구조물 상에 채널층을 형성하는 단계;
상기 발광 구조물 및 상기 채널층 상에 오믹접촉패턴과 반사층을 포함하는 오믹층을 형성하는 단계;
상기 채널층 및 상기 오믹층 상에 금속층을 형성하는 단계;
상기 금속층 상에 본딩층을 형성하는 단계; 및
상기 본딩층 상에 기판을 형성하는 단계를 포함하는 발광소자의 제조방법.
In claim 5,
Between forming the light emitting structure and removing the growth substrate from the light emitting structure,
Etching a portion of the light emitting structure to open a portion of the first conductivity type semiconductor layer;
Forming a channel layer on the light emitting structure;
Forming an ohmic layer including an ohmic contact pattern and a reflective layer on the light emitting structure and the channel layer;
Forming a metal layer on the channel layer and the ohmic layer;
Forming a bonding layer on the metal layer; And
Forming a substrate on the bonding layer manufacturing method of a light emitting device.
제4 항에 있어서,
상기 광산란 나노패턴은 ZnO, 유리 페이스트 조성물, 은(Ag), 알루미늄(Al), 실리카, 수산화 알루미늄(Al(OH)3) 중 적어도 하나를 포함하는 발광소자.
The method of claim 4, wherein
The light scattering nanopattern includes at least one of ZnO, a glass paste composition, silver (Ag), aluminum (Al), silica, and aluminum hydroxide (Al (OH) 3 ).
제1 항에 있어서,
상기 기판 및 상기 발광 구조물 사이에 배치되는 본딩층;
상기 본딩층 및 상기 발광 구조물 사이에 배치되는 금속층;
상기 금속층 및 상기 발광 구조물 사이에 배치되는 오믹층;
상기 오믹층 및 상기 발광 구조물 사이에 배치되는 채널층; 및
상기 기판의 측면, 상기 본딩층의 측면, 상기 금속층의 측면, 상기 채널층의 측면 및 상기 채널층의 상면 일부 상에 배치되는 반사부를 포함하고,
상기 반사부는 상기 발광 구조물과 수평 방향으로 이격되며, 50nm 내지 5000nm의 두께를 가지는 발광소자.
According to claim 1,
A bonding layer disposed between the substrate and the light emitting structure;
A metal layer disposed between the bonding layer and the light emitting structure;
An ohmic layer disposed between the metal layer and the light emitting structure;
A channel layer disposed between the ohmic layer and the light emitting structure; And
A reflector disposed on a side of the substrate, a side of the bonding layer, a side of the metal layer, a side of the channel layer, and a portion of an upper surface of the channel layer,
The reflector is spaced apart from the light emitting structure in a horizontal direction, the light emitting device having a thickness of 50nm to 5000nm.
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