KR20110111454A - Ｏｔｄｒ을 이용한 단방향 절대 광 감쇠 측정 - Google Patents

Ｏｔｄｒ을 이용한 단방향 절대 광 감쇠 측정 Download PDF

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KR20110111454A
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KR1020117018049A
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다니엘 프랑수아 뎀스
Original Assignee
타이코 일렉트로닉스 레이켐 비브이비에이
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Abstract

포인트-투-포인트 및 포인트-투-멀티포인트 네트워크들 (분할기들을 이용한 PON 네트워크들처럼) 내의 광 측정들을 위한, 라인들의 엔드에서의 몇몇 알려진 반사들로부터 반사된 전력이 각 라인의 감쇠 및 감쇠의 안정성을 결정하기 위해 사용되는 디바이스들 및 방법들이 설명된다. 또한 반사의 포인트들과 기준 반사 사이의 절대 손실 측정이 이루어질 수 있도록 기준 반사는 네트워크의 시작에서 사용된다. 또 다른 양상에서, 파장 선택적 안정한 반사들 및 반사기들이 사용되어, 정상 동작들을 방해하지 않는 파장 범위 내의 반사들을 제공한다.

Description

ＯＴＤＲ을 이용한 단방향 절대 광 감쇠 측정{UNIDIRECTIONAL ABSOLUTE OPTICAL ATTENUATION MEASUREMENT WITH OTDR}
본 발명은 광 네트워크들, 특히 원격통신 시스템 내의 분기된 광 섬유 네트워크들에 관한 것이고, 이러한 네트워크들 및 디바이스들을 작동하는 방법 및 이러한 네트워트와 함께 사용하기 위한 소프트웨어에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 수동 포인트-투-포인트 및 포인트-투-멀티포인트 네트워크들 (분할기들을 이용한 PON 네트워크들처럼) 내의 광 측정들을 위한 디바이스들 및 방법들에 관한 것이다.
도 1은 포인트-투-포인트 광 원격통신 네트워크 및 분할기 및 분기 섬유들을 포함하는 포인트 투 멀티포인트 광 원격통신 네트워크와 같은 중앙 사무국과 가입자들 사이의 네트워크들을 개략적으로 도시한다. 수동 광 네트워크(PON; passive optical network)는, 비전력화된 광 분할기들이 다수의 구내(premise)(전형적으로 32-128)를 서빙하기 위한 단일 광 섬유를 인에이블링 하기 위해 사용되는 포인트-투-멀티포인트 네트워크 구성이다. PON은 광 라인 단말(OLT) 및 다수의 ONU(Optical Network Unit)들로 구성된다.
네트워크 운영자들은 설치 및 정비 중에 중앙 기지국으로부터 접속된 라인 및 비 접속된 라인을 모니터링할 수 있는 테스트 장비(OTDR 장비와 같은)를 필요로 한다. 가급적 이러한 모니터링을 위한 네트워크의 파-엔드(far end)들에의 액세스는 요구되어서는 안된다(예들 들어, 트럭 롤들 없이). 이러한 장비는, 상대편에 배치될 검출기 및 섬유의 하나의 엔드에서 광 소스(source)를 요구하는 임의의 방법을 효과적으로 배제한다. 또한, 가급적이면, 측정들은 데이터 트래픽을 방해해서는 안 된다. 이러한 이유로, 추가적 장비(예를 들어, 표준 또는 교정된(calibrated) 반사기들 또는 검출기들)가 광 섬유(광 네트워크의 헤드 엔드 또는 원격 엔드들 중 어느 하나에서)로부터 부착되거나 분리되지 않는다는 요구조건이 있다.
하나의 문제는 OTDR 측정들의 해석이 매우 복잡하거나 또는 때때로 다음의 이유들로 포인트 투 멀티포인트 네트워크 상에서는 심지어 불가능하다는 것이다. 섬유 네트워크 내의 측정된 손실은 분할기 포트들의 개수, 분할기에 이어진 드롭 케이블들의 개수 및 심지어 드롭 케이블 내에서 손실이 발생한 위치에 의존한다. 이는, 확실히 시간이 경과함에 따라 네트워크가 변화할 때, 각 라인의 감쇠의 변화를 모니터링하는 것을 매우 복잡하게 만든다. 예를 들어, 상이한 위치들에서의 섬유 내의 동일한 벤드(bend)는 OTDR을 이용하여 측정될 때 상이한 측정된 손실 값들을 제공할 수 있다. 또한, 분기 섬유들의 개수가 증가함에 따라, 각 섬유로부터의 신호는 점점 약화된다. 종래의 시스템들은 섬유들의 후방산란된 광 전력 정보(즉, OTDR 추적(trace)의 노이지(noisy) 베이스라인)를 사용한다. 분할기를 지나서 동적 범위의 부족 때문에 신호는 노이지해진다. 정확한 정보는 이러한 노이지 베이스라인으로부터 얻어질 수 없다. 1x8 초과의 분할기 레벨들에 대해서, 때때로 베이스라인으로부터 정보들이 전혀 얻어질 수 없다. 예를 들어, 1 내지 32 분할기를 이용하여, 1x32 PON 네트워크 내의 3 dB 손실은 다른 드롭 라인들의 길이 및 손실의 위치에 의존하여 0.02 dB 내지 3 dB 범위의 측정된 값들을 제공할 수 있다. 이는 신뢰할 수 있는 알람들을 설정하는 것이 불가능하다는 것을 의미할 수 있다.
종래의 OTDR은 다음의 문제들을 갖는다:
-모든 포트들로부터의 추적들의 대체(substitution)
-1:32 분할기 비율들에 대하여 단일 포트로부터의 수신된 전력은 테스트 장비의 노이즈 레벨에 가깝다. 예를 들어, OTDR은 평균화 및 쇼트 펄스들 없이 단지 20-25 dB 동적 범위를 갖는다.
-분할기 이후에 위치된 스플라이스(splice)에 대한 측정된 스플라이스 손실은 분할기 포트 계산 및 드롭 케이블 내의 위치에 의존한다.
본 발명의 목적은 포인트-투-포인트 및 포인트-투-멀티포인트 네트워크들(예를 들어, 분할기들을 포함하는 PON 네트워크들과 같은) 내의 광 측정들을 위한 디바이스들 및 방법들을 제공하는 것이다.
본 발명의 양상은 라인들의 엔드에서의 몇몇 알려진 반사들로부터 반사된 전력이 분할기 뒤의 각 라인의 감쇠 및 감쇠의 안정성을 결정하기 위해 사용되는 것이다. 또한 반사의 포인트들과 기준 반사 사이의 절대 손실 측정이 이루어질 수 있도록 기준 반사는 네트워크의 시작에서 사용된다.
또 다른 양상에서, 파장 선택적 안정한 반사들 및 반사기들이 사용되어, 정상 동작들을 방해하지 않는 파장 범위 내의 반사들을 제공한다.
본 발명의 실시예들에 따른 광 측정 방법들 및 디바이스들은 포인트 투 포인트 및 포인트 투 멀티포인트 네트워크들 모두에 적절하다. 이들은, 예를 들어, 네트워크 내의 반사 포인트들로부터의 리턴 신호들에 기초하고 예를 들어, 알려진 디바이스들로부터의 반사들과 같은 리턴 신호들의 진폭 측정들에 기초한다. 포인트 투 멀티-포인트 네트워크들 내의 단방향 측정들을 허용하라. 본 발명의 실시예들에 따른 광 측정 방법들 및 디바이스들은 각 라인의 절대 감쇠의 측정들 및 각 라인에 대한 감쇠의 변화(=네트워크의 안정성)를 허용한다. 본 발명의 실시예들에 따른 광 측정 방법들 및 디바이스들은, 파장 선택적 디바이스들(예를 들어, 반사기들)이 사용될 때, 데이터 송신을 간섭하지 않는다. 본 발명의 실시예들에 따른 광 측정 방법들 및 디바이스들은 뒤의 다른 브랜치들 내의 변화에 의해 영향을 받지 않는다. 본 발명의 실시예들에 따른 광 측정 방법들 및 디바이스들은 중앙집중형(centralized) 또는 분산형 분할기 PON 내에서 사용될 수 있다. 본 발명의 실시예들에 따른 광 측정 방법들 및 디바이스들은 64 또는 그 이상에 이르는 스플릿 레벨들을 갖는 G-PON 네트워크들 내에서 사용될 수 있다.
본 발명의 다양한 실시예들이 첨부된 청구 범위 내에서 규정된다. 특히 본 발명은 광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 모니터링 디바이스를 제공하고, 상기 네트워크는 헤드 엔드(head end) 및 적어도 하나의 원격 엔드를 포함하는 광 송신 경로, 상기 네트워크 내의 제1 위치에 위치되는 광 신호 리턴 디바이스 및 상기 네트워크 내의 제2 위치에 위치되는 기준 광 신호 리턴 디바이스를 포함하고, 상기 모니터링 디바이스는: 테스트 신호를 전송하기 위한 그리고 상기 광 신호 리턴 디바이스로부터 제1 리턴 신호 및 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스로부터 제2 리턴 기준 신호를 수신하기 위한 상기 헤드 엔드와 통신하기 위한 장비를 포함하고, 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호 모두는 상기 테스트 신호로부터 유도(derive)되고, 상기 장비는 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호를 비교하고 상기 네트워크 내의 상기 제1 위치와 상기 제2 위치 사이의 상기 절대 손실과 관련된 값을 그것으로부터 유도하기 위한 수단을 포함한다.
가급적, 상기 광 신호 리턴 디바이스 및 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스 중 적어도 하나는 파장 선택적 디바이스이다.
본 발명은 또한 광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 단방향(unidirectional) 방법을 제공하고, 상기 네트워크는 헤드 엔드 및 적어도 하나의 원격 엔드를 포함하는 광 송신 경로, 상기 네트워크 내의 제1 위치에서의 광 신호 리턴 디바이스 및 상기 네트워크 내의 제2 위치에서의 기준 광 신호 리턴 디바이스를 포함하고, 상기 방법은: 상기 헤드 엔드로부터 테스트 신호를 전송하는 단계, 상기 광 신호 리턴 디바이스로부터 제1 리턴 신호 및 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스로부터 제2 리턴 기준 신호를 수신하는 단계 ―상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호 모두는 상기 테스트 신호로부터 유도됨―, 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호를 비교하는 단계 및 상기 네트워크 내의 상기 제1 위치와 상기 제2 위치 사이의 상기 절대 손실과 관련된 값을 그것으로부터 유도하는 단계를 포함한다.
가급적, 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 기준 리턴 신호 중 적어도 하나는 제1 파장 선택적 신호이다.
또한 본 발명은 광 디바이스를 제공하고 상기 광 디바이스는: 제1 광 섬유로의 접속을 위한 제1 포트, 제2 광 섬유로의 접속을 위한 제2 포트, 광 신호 리턴 디바이스에 접속된 제 3 포트를 포함하고, 광 신호가 상기 제1 포트에 들어올 때, 상기 광 디바이스는 파장 선택적인 상기 제1 포트를 통해 신호를 다시 리턴한다.
본 발명의 또 다른 양상은 프로세싱 엔진 상에서 실행될 때, 광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하는 방법을 제공할 수 있는 컴퓨터 프로그램 물건을 제공하며, 상기 네트워크는 헤드 엔드 및 적어도 하나의 원격 엔드를 포함하는 광 송신 경로, 상기 네트워크 내의 제1 위치에서의 광 신호 리턴 디바이스 및 상기 네트워크 내의 제2 위치에서의 기준 광 신호 리턴 디바이스를 포함하고, 상기 컴퓨터 프로그램 물건은: 상기 헤드 엔드로부터 테스트 신호를 전송하는 단계, 상기 광 신호 리턴 디바이스로부터 제1 리턴 신호 및 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스로부터 제2 리턴 기준 신호를 수신하는 단계 ―상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호 모두는 상기 테스트 신호로부터 유도됨―, 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호를 비교하는 단계 및 상기 네트워크 내의 상기 제1 위치와 상기 제2 위치 사이의 상기 절대 손실과 관련된 값을 그것으로부터 유도하는 단계를 제공하고, 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 기준 리턴 신호 중 적어도 하나는 제1 파장 선택적 신호이다.
기계 판독가능 신호 저장 디바이스는 예를 들어, CD-ROM 또는 이와 유사한 것과 같은 컴퓨터 프로그램 물건을 저장할 수 있다.
도 1은 본 발명과 함께 사용될 수 있는 네트워크들을 도시한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 네트워크를 도시한다.
도 3a 내지 도 3d는 본 발명의 실시예들에 따른 예시적인 반사 디바이스들을 도시한다.
도 4는 본 발명에 따른 테스트 장비들이 어떻게 교정될 수 있는지를 도시한다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 테스트 장비와 함께 사용될 수 있는 컴퓨터 시스템을 도시한다.
본 발명은 특정 실시예들에 관하여 설명될 것이고 특정 도면들을 참고하여 설명될 것이나, 발명은 이들에 제한되지 않지만, 오직 청구 범위에 의해 제한되는 것도 아니다. 설명된 도면들은 오직 개략적인 것이고 비-제한적이다. 도면들에서, 몇몇 엘리먼트들의 크기는 과장될 수 있고, 예시적인 목적들을 위하여 제 크기대로 도시되지 않는다. 용어 "포함하는"이 본 설명서 및 청구항들에서 사용되는 곳에서, 이는 다른 엘리먼트들 또는 단계들을 배제하지 않는다. 불명확한 또는 명확한 관사들이 사용되는 곳에서, 단수 명사(예를 들어, "일" 또는 "상기")를 언급할 때, 이는 다른 것이라고 구체적으로 진술되지 않는다면 상기 명사의 복수형을 포함한다.
청구항들 내에서 사용된 용어 "포함하는"은 이후에 나열된 수단들에 제한되는 것으로서 해석되어서는 안 되고, 이는 다른 엘리먼트들 또는 단계들을 배제하는 것은 아니다. 그러므로, "단계들 A 및 B를 포함하는 디바이스"라는 표현의 범위는 컴포넌트들 A 및 B로만 구성되는 디바이스들에 제한되어서는 안 된다. 이는 본 발명에 관하여는, 디바이스의 오직 적절한 컴포넌트들이 A 및 B라는 것을 의미한다.
게다가, 설명서 및 청구 범위 내의 용어 제1, 제2, 제3 등은 비슷한 엘리먼트들 사이에서 구별하기 위하여 사용되는 것이고, 이는 순차적이거나 연대순으로 설명하기 위하여 필요한 것이 아니다. 이렇게 사용된 용어들은 적절한 환경들 하에서는 상호교환적이라는 점과 본 명세서에서 설명된 발명의 실시예들은 본 명세서에서 설명된 또는 예시된 것과 다른 순서들로 동작하는 것이 가능하다고 이해되어야한다.
게다가, 본 명세서 및 청구 범위 내의 최상부의, 최하부의, 위의, 아래의 등과 같은 용어들은 설명적 목적들을 위하여 사용되는 것이고, 상대적 위치들을 설명하기 위하여 필요한 것은 아니다. 이렇게 사용된 용어들은 적절한 환경들 하에서는 상호교환적이라는 점과 본 명세서에서 설명된 발명의 실시예들은 본 명세서에서 설명된 또는 예시된 것과 다른 배향들로 동작하는 것이 가능하다고 이해되어야 한다.
청구 범위들에서 사용된 용어 "포함하는"은 이후에 나열된 수단들에 제한되는 것으로 해석되어서는 안 된다는 것이 주목되어야 한다; 이는 다른 엘리먼트들 또는 단계들을 배제하지 않는다. 그러므로 이는, 지칭될 때, 언급된 특징들, 완전체(integer)들, 단계들 또는 컴포넌트들의 존재를 열거하는 것으로서 해석되어야 하지만, 하나 이상의 다른 특징들, 완전체들, 단계들 또는 컴포넌트들, 전술한 것의 그룹들의 존재 또는 추가를 제외하는 것은 아니다. 그러므로, "수단 A 및 수단 B를 포함하는 디바이스"라는 표현의 범위는 컴포넌트 A 및 컴포넌트 B로만 구성되는 디바이스들에 제한되어서는 안 된다. 이는 본 발명에 관하여는, 디바이스의 오직 적절한 컴포넌트들이 A 및 B라는 것을 의미한다.
"하나의 실시예" 또는 "일 실시예"에 대한 본 명세서에 걸친 참조는 본 실시예와 관련하여 설명된 특정한 특징, 구조 또는 특성이 본 발명의 적어도 하나의 실시예 내에 포함된다는 것을 의미한다. 그러므로, 본 명세서에 걸친 다양한 곳들에서 "하나의 실시예에서" 또는 "일 실시예에서"라는 문구들의 출현들은 동일한 실시예를 지칭하는 모든 것일 필요는 없지만, 그럴 수도 있다. 게다가, 본 개시물로부터 당해 분야의 통상의 기술자 중 한 사람에게 명백할 수 있는 것과 같이, 하나 이상의 실시예들에서, 특정한 특징들, 구조들 또는 특성들은 임의의 적절한 방법으로 통합될 수 있다.
유사하게, 본 발명의 예시적 실시예들의 설명에서, 본 개시내용을 합리화하고 하나 이상의 다양한 발명의 양상들의 이해를 돕기 위하여 발명의 다양한 특징들이 때때로 단일 실시예, 특징 또는 이들의 설명으로 함께 그룹핑된다는 것이 인식되어야 한다. 그러나, 본 개시내용의 방법은 청구된 발명이 각 청구항 내에 명백히 언급되는 많은 특징들을 요구하는 발명을 반영하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 오히려, 다음의 청구항들이 반영할 때, 발명의 양상들은 단일한 앞에 개시된 실시예의 모든 특징들보다 적게 있다. 그러므로, 상세한 설명에 후속하는 청구 범위는 이로써 본 상세한 설명에 명백히 통합되며, 각 청구항은 본 발명의 개별적인 실시예들처럼 스스로에 기초한다.
게다가, 당업자에 의해 이해되는 바와 같이, 본 명세서에서 설명된 몇몇 실시예들은 몇몇 그러나 다른 실시예들에 포함되지 않은 다른 특징을 포함하지만, 상이한 실시예들의 특징들의 조합들은 본 발명의 범위 내에 있다고 여겨지고, 상이한 실시예들을 형성한다. 예를 들어, 다음의 청구항들에서, 청구된 실시예들 중 임의의 것은 임의의 조합으로 사용될 수 있다. 본 명세서에서 제공된 설명에서, 많은 특정한 세부 사항들이 설명된다. 그러나, 본 발명의 실시예들이 이러한 특정 세부 사항들 없이도 실시될 수 있다고 이해된다. 다른 경우들에서, 잘-알려진 방법들, 구조들 및 기법들은 본 발명의 이해를 어렵게 하지 않기 위해 상세히 도시되지 않았다.
이제, 본 발명은, 본 발명의 몇몇 실시예들의 상세한 설명에 의해 설명될 것이다. 본 발명의 다른 실시예들이 본 발명의 기술적 교시로부터 이탈하지 않고 당업자의 지식에 따라 구성될 수 있다는 것이 분명하고, 발명은 오직 첨부된 청구항들의 용어들에 의해 제한된다.
본 발명은 설치 및 정비 중에 중앙 기지국(central office)으로부터 접속된 라인 및 비 접속된 라인을 모니터링할 수 있는 테스트 장비(OTDR 장비와 같은)에 관한 것이다. 이러한 모니터링을 위한 네트워크의 파 엔드들로의 액세스는 요구되지 않는다(예를 들어, 트럭 롤들에 대한 필요가 없다). 또한, 본 발명의 실시예들에서, 측정들은 데이터 트래픽을 방해할 필요가 없다(예를 들어, 분리된 테스트 파장을 사용함으로써 또는 테스트 네트워크 내의 파장 선택적 디바이스들의 사용함으로써). 파장 선택적 디바이스들을 포함하는 광 디바이스들 및 장비는 공지되었고, 예를 들어, 유용한 참고자료인 "Fiber-Optic Communications Technology," Mynbaev and Scheiner, Prentice Hall, 2001에 설명되었다.
도 2는 본 발명의 실시예(예를 들어, PON)의 개략적인 표현이다. 광 서비스 장비(2)는 이러한 원격통신, 모니터링, 알람 서비스 등과 같은 서비스의 준비를 위하여 섬유(20, 22)에 접속되거나 접속될 수 있다. 분할기(12)는 분기 섬유들(24, 26)이 존재한다면 제공될 수 있다. 24, 26과 같은 각각의 섬유들은 광 신호 리턴 디바이스(14, 16)에 의해 개별적으로 종결된다. 신호 리턴 디바이스는 반사기 또는 비슷한 것일 수 있다. 가급적, 신호 리턴 디바이스(14, 16)는 수동 디바이스이지만, 또한 전환가능한(가급적, 원격으로 전환가능한 디바이스) 또는 능동 디바이스 일 수 있다. 신호 리턴 디바이스(14, 16)는 단말 디바이스처럼 도 2에 도시되지만, 그러나 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 이러한 신호 리턴 디바이스들은 이후에 설명될 것과 같이, 섬유 네트워크 내의 중간 위치들에 위치될 수 있다. 디바이스(14, 16)는 영구히 섬유에 부착될 수 있거나 연관된 섬유의 일부일 수 있다. 특히 선호된 실시예에서, 광 신호 리턴 디바이스(14, 16)는 파장 선택적인 헤드 엔드에 광 신호를 리턴한다. 특히, 만약 광 신호 리턴 디바이스(14, 16)가, 서비스 장비(2)에 의해 사용되는 것과 동일한 파장이 아닌 헤드 엔드로 신호를 리턴한다면, 이는 선호된다. 이러한 방법에 의해, 서비스 장비(2)에 의해 제공된 네트워크 상의 데이터 트래픽은 방해되지 않는다. 대안적으로, 광 신호 리턴 디바이스(14, 16)는 파장 변환기일 수 있어, 리턴 신호가 입사(incident) 트래픽 신호들로부터 유도되지만 서비스 장비(2)에 의해 사용된 것과 동일한 파장이 아니도록 서비스 장비(2)에 의해 사용된 파장은 또 다른 파장으로 변환된다. 이러한 변환은 예를 들어, 형광 물질에 의해 이루어 질 수 있지만, 또한 능동 디바이스에 의해 수행될 수도 있다.
본 발명의 양상에 따라, 섬유들의 후방산란된 광 전력 정보(=OTDR 추적의 노이지 베이스라인)는 사용되지 않거나, 모니터링 목적들을 위하여 반드시 사용되지는 않는다. 대신에(후방산란된 광(light) 외에), 광 신호 리턴 디바이스(14, 16)로부터의 리턴 신호들의 반사된 전력은 (예를 들어, 네트워크의 위치들, 예를 들어, 라인들의 엔드들에서의 몇몇 알려진 반사들로부터) 분할기(12) 뒤의 각 라인의 감쇠(예를 들어, 절대 전력 손실) 및 감쇠의 안정성(즉, 전력 손실의 변화)을 결정하기 위해 사용된다. 게다가 절대 손실 측정이 섬유 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이에서(예를 들어, 반사의 섬유 위치 및 기준 반사의 섬유 위치 사이에서) 이루어질 수 있도록 기준 반사는 네트워크의 일 엔드(예를 들어, 네트워크의 헤드 엔드에서)에서 사용된다.
만약 파장 변환이 광 신호 리턴 디바이스(14, 16)에서 사용되지 않는다면, 서비스 장비(2; 예를 들어, 네트워크가 동작적일 때 1490, 1550 nm에서 동작하는)와 상이한 파장에서 동작하는(예를 들어, 테스트 장비(8)는 1625 nm의 파장에서 동작한다), OTDR과 같은, 분리된 광 테스트 장비(8)가 제공된다. 본 발명의 실시예들에서, 테스트 장비(8)는 광 펄스들을 전송한다. 펄스들은 일정한 진폭(예를 들어, OTDR과 비슷한)을 가질 수 있다. 펄스들은, 이들을 더 쉽게 구별할 수 있게 하기 위해 임의의 공지된 방법으로 변조될 수 있다. 테스트 장비로부터 1625 nm에서 펄스화된 광은 두 개의 경로로 분리된다(예를 들어, 10/90 또는 1/99 분할기(6)와 같은 비대칭적 분할기에 의해). 기준 반사로서 서빙하는 더 낮은 휘도(intensity) 포트(예를 들어, 10% 포트)는 광 신호 리턴 디바이스(10)와 접속된다. 이러한 반사된 기준으로부터의 모든 광은 비대칭 분할기(예를 들어, 10/90 분할기)를 통해 테스트 장비(8)에 다시 돌아가고 그리고 반사된 전력(Pref)는 본 발명의 실시예들에 따른 측정 방법에서 사용된다.
광 신호 리턴 디바이스(10)는 광 신호 리턴 디바이스들(14, 16)에 대하여 설명된 디바이스들 중 임의의 것일 수 있다. 광 신호 리턴 디바이스들(10, 14, 16)의 몇몇 예들은 오직 도 3에서 예시의 방식에 의해 도시된다. 이들은 단말 광 신호 리턴 디바이스(14, 16)로서 사용될 수 있는 절단된(cleaved) 섬유 엔드(도 3a)를 포함한다. 섬유 엔드는 예를 들어, 곧게 절단될 수 있거나 금 도금된 섬유 엔드일 수 있다. 두 경우 모두에서, 입사(impinge)하는 광은 리턴된다. 또 다른 선택은 하나의 포트를 통하여 반사기에 접속된 분할기 또는 연결기이다(도 3b). 분할기 또는 연결기는 파장 선택적일 수 있어 네트워크 및 테스트 파장들은 나누어질 수 있다. 예를 들어 디바이스 상에 입사하는 광은 적어도 두 개의 파장들(예를 들어, 1490+1550+1625 nm)을 가질 수 있고 그리고 리턴된 광은 오직 테스트 파장(1625 nm)만을 가진다. 파장 선택적 분할기 또는 연결기의 예는, 테스트 신호 파장 포트가 금 반사기와 같은 반사기에 연결되는 박막 필터 와이드-WDM 연결기일 수 있다(도 3b). 이러한 디바이스에서, 분할기 또는 연결기는 파장 선택적이고 반사기는 모든 광 전력을 반사한다. 그러나, 비슷한 디바이스는 평면 분할기 또는 연결기 및 파장 선택적 반사기를 사용함으로써 구성될 수 있다. 추가적 선택은 도 3c에 도시된 바와 같은 브래그 격자(Bragg grating)이다. 또 다른 선택은 반사기를 사용하는 것이다(예를 들어, 도 3d에 도시되는 것처럼 스플라이스를 통해). 추가적 광 신호 리턴 디바이스는 EP 1578039에 설명되고 이것의 도 2에 도시된 전환가능한 OMU일 수 있다. EP 1578039는 참조로써 그것의 전체로써 본 명세서에 통합된다. EP 1578039에 도시된 것과 같은 전환가능한 광 신호 리턴 디바이스들을 작동시키기 위해 테스트 장비(6)로부터의 펄스들은 적절한 명령들과 함께 변조될 수 있다. 추가적 광 신호 리턴 디바이스는, 참조로써 그것의 전체로써 본 명세서에 통합되는 US 5991479에서 설명된 것과 같은 발광 변환기일 수 있다. 본 발명은 또한 상기 설명된 디바이스들의 조합들을 포함한다.
도 3과 관련하여 상기 설명된 디바이스들은 그들이 네트워크 내의 중간 위치들에서 위치될 수 있는 섬유의 종단(terminating) 디바이스들로서 위치될 수 있다. 나중의 경우에서, 그 후에 절대 손실 측정들이 중간 위치와 기준 광 신호 리턴 디바이스(10)의 위치 사이에서 이루어질 수 있다.
상기 설명된 디바이스들 중 몇몇은 다음을 포함하는 광 디바이스들로서 요약될 수 있다(예를 들어, 도 3b에 도시된 것처럼):
제1 광 섬유로의 연결을 위한 제1 포트, 제2 광 섬유로의 연결을 위한 제2 포트, 광 신호 리턴 디바이스에 연결된 제3 포트, 광 신호가 제1 포트에 들어올 때, 광 디바이스는 파장 선택적 제1 포트를 통해 다시 신호를 리턴한다. 이러한 디바이스들은 네트워크의 중간 위치들에 위치하기에 적절하다.
이제 도 2로 돌아와서, 비대칭 분할기(6)의 다른 포트(예를 들어, 90% 포트)로부터의 잔여 광은 WDM(4)과 같은 연결기를 통해 네트워크에 추가된다. 테스트 신호(1625 nm)는, 데이터 신호들(예를 들어, 네트워크가 동작적일 때 1490, 1550 nm에서)과 함께 가입자 로케이션들로 이동한다. 분기 섬유들이 제공되는 곳에서, 테스트 신호는, 예를 들어 1:32 분할기일 수 있는 분할기(12)를 통해 데이터 신호들과 함께 가입자 위치들로 이동한다. 1:32 분할기의 모든 분기들은 광 신호 리턴 디바이스들(14, 16; 예를 들어, 반사적 종단)을 이용하여 종단된다.
각 분기 섬유(24, 26)로부터 전력들(P1, P2, ...PN)을 갖는 리턴(예를 들어, 반사된) 신호들은 분할기(12), WDM(4) 및 분할기(6)를 통해 테스트 장비(8)로 다시 돌아간다. 분할기(12) 뒤의 각 섬유(24, 26)의 길이는 반사된 광 펄스들이 상이한 시간들에서 테스트 장비(8)에 도착하는 이러한 방식으로 선택된다(또는 조정된다). 이는, 보통, 전형적으로 2 미터 길이에 대응하는 10 ns 지연처럼 단순히 정해질 수 있다.
테스트 장비(8) 내의 Pref를 이용하여 각 분기로부터 반사된 전력들 PN을 비교하는 것은 각 분기의 삽입 손실(즉, 절대 손실을 대표하는 값)을 제공한다:
손실(분기 N)=Pref(dB)-PN(dB)+C
여기서 C는 예를 들어, 분할기(6; 예를 들어, 10/90 분할기)의 분할 비율 허용치, 라인의 엔드에서 추가적 광 신호 리턴 디바이스들(14, 6; 예를 들어, 반사기들)의 반사 계수뿐만 아니라 분할 비율 허용치 상에 의존하는 상수이다. Pref(dB)-P1(dB) 및 Pref(dB)-P2(dB)는 도 2에서 X1 및 X2로서 도시된다.
상수 C의 값은 다음과 같이 제공된다: (예를 들어-회로 컴포넌트들에 의존하여):
C=1/2[R0-RN]+손실10 %포트-손실90 %포트-손실WDM
여기서:
R0=광 신호 리턴 디바이스가 절단된 섬유일 때 14.6 dB의 리턴 손실을 갖는 기준 광 신호 리턴 디바이스(10; 예, 기준 반사기)의 리턴 손실
RN=종단 광 신호 리턴 디바이스가 절단된 섬유일 때 14.6 dB의 리턴 손실을 갖는 분기 N의 종단 광 신호 리턴 디바이스(14, 16)의 리턴 손실
손실10 %포트=10/90 측정 분할기(6; 예를 들어, 10.1 dB)의 10% 분기의 손실
손실90 %포트=10/90 측정 분할기(6; 예를 들어, 0.5 dB)의 90% 분기의 손실
손실WDM=WDM(4; 예를 들어, 0.3 dB)의 테스트 파장 포트의 손실
이들 값들로부터 C는, 분할기(6) 및 WDM(4)의 이론적 값들에 기초하여 약 9.3 dB이다. 1%/99% 측정 분할기(6)가 사용될 때 C의 값은 약 19.7 dB이 될 것이다. 가급적, C에 대한 틀림없고 정확한 값은 관련된 네트워크 상의 광 테스트 장비의 교정에 의해 얻어진다. 이는, 상기 설명된 것과 같은 반사기(10; RefR1), 분할기(6) 및 테스트 장비(8)와 비교해볼 때 섬유 길이를 종단하는 기준 반사기(RefR2)를 사용함으로써 도 4에 개략적으로 도시된 것처럼 이루어질 수 있다. 필요하다면, 얻어진 결과들은 전력량계(power meter) 또는 절대 손실의 값을 획득하는 임의의 다른 방법과 비교될 수 있다. 교정은 광 네트워크를 설정할 때 이루어질 수 있다. 교정 시에, 절대 손실의 측정은 전력량계들의 추가적 사용 없이 이루어질 수 있다. 네트워크 및 테스트 장비는 원격 감지(예를 들어, 광역 데이터 네트워크(예를 들어, 인터넷)와 같은 데이터 접속을 통하여 또는 또 다른 원격통신 네트워크(예를 들어, 이메일 또는 SMS 메시징을 통하여))를 허용하기 위하여 공지된 방법들에 적응될 수 있다.
측정된 감쇠는, 후방산란된 전력이 추가적으로 사용될 수 있을지라도 섬유들 그 자체의(=베이스라인) 후방산란된 전력으로부터가 아니라, 리턴된, 예를 들어, 반사 펄스들의 진폭으로부터 유도되는 것이 상기로부터 이해될 수 있다. +10 dBm 펄스를 사용할 때 전형적으로 반사된 전력은 1x32 분할기를 갖는 네트워크에 대하여 -30 dBm과 -40 dBm 사이일 것이고, 이는 베이스라인의 후방산란된 전력의 전력 정보보다 약 40 dB 내지 60 dB 더 높다. 전용 테스트 장비가 동작 펄스들과 상이한 광 펄스들을 생성하는데 사용될 수 있거나 또는 동작 광 펄스들이 예를 들어, 파장 변환을 사용함으로써 광 신호 리턴 디바이스들일 수 있다.
반사 피크들로부터의 전력은 섬유들(=베이스라인)의 Raleigh 산란보다 많은 디케이드(decade)들이 더 높기 때문에, 분할기의 출력에서 라인들을 추가하거나 제거할 때 측정된 손실 상의 영향은 무시가능할 것이다.
네트워크의 네트워크 운영자 또는 설치자는 전력량계를 휴대할 필요는 없지만, 예를 들어, SMS를 사용하는 모바일 폰을 통해 원격으로 측정들을 얻을 수 있다.
본 발명에 따른 방법들 및 디바이스들은 틀림없는 링크 손실을 측정하기 위해 분할기 위치 또는 가입자 위치를 향하는 트럭 롤을 요구하지 않는다.
정확한 손실 측정들은 분할기를 통하여 단지 네트워크의 한 측면으로부터 가능하다.
측정된 손실은 손실이 야기되는 위치 또는 사용하는 분할기 포트들의 개수에 의존하지 않는다.
측정된 손실의 절대 값들이 본 발명에 따른 방법들 및 디바이스들에 의해 얻어진다는 것이 상기로부터 이해될 수 있다. 본 발명의 확장으로서, 네트워크는 시간이 경과함에 따라 모니터링될 수 있고, 예를 들어, 섬유 내로 도입된 날카로운 벤드에 의해 야기될 때 손실의 변화들은 검출될 수 있다. 절대 손실의 측정은 시간이 경과함에 따라 변화가 검출되도록 허용하는데 반하여, 상대적인 방법들은 결과를 변경하는 측정들 사이의 조건들 내의 변화를 겪는다.
테스트 장비(8)는 하드웨어 회로들을 포함할 수 있거나, 몇몇 부분들은 임의의 컴퓨터 언어로 소프트웨어 내에서 구현될 수 있고 예를 들어 주문형 반도체 또는 범용 프로세서와 같은 종래의 프로세싱 하드웨어에 의해 실행될 수 있다.
따라서 본 발명의 실시예들에 따른 테스트 장비(6)는 하드웨어, 컴퓨터 소프트웨어, 또는 이들 모두의 조합들로서 구현될 수 있다. 테스트 장비(6)는 범용 프로세서, 임베디드 프로세서, 주문형 반도체(ASIC), 필드 프로그래머블 게이트 어레이(FPGA) 또는 다른 프로그래머블 로직 디바이스, 이산 게이트 또는 트랜지스터 로직, 이산 하드웨어 컴포넌트들, 또는 본 명세서에서 설명된 기능들을 수행하기 위하여 설계된 임의의 조합을 포함할 수 있다. 프로세서는 또한 예를 들어, FPGA와 마이크로프로세서의 조합, 다수의 마이크로프로세서들, FPGA와 함께 하나 이상의 마이크로프로세서들, 또는 임의의 다른 이러한 구성과 같은 컴퓨팅 디바이스들의 조합으로서 구현될 수 있다. 프로세싱 시스템은 예를 들어, 마이크로프로세서와 같은 컴퓨팅 디바이스 또는 프로세싱 엔진을 포함할 수 있다. 본 발명의 실시예들에 따라 위에서 셜명되거나 청구된 임의의 테스트 방법들은 도 5에 도시된 것처럼 프로세싱 시스템(40) 내에서 구현될 수 있다. 도 5는 적어도 한 형태의 메모리(예를 들어, RAM, ROM 등)를 포함하는 메모리 서브시스템(42)에 결합된 적어도 하나의 맞춤가능형 또는 프로그래머블 프로세서(41)를 포함하는 프로세싱 시스템(40)의 일 구성을 도시한다. 프로세서(41) 또는 프로세서들은 범용 또는 특수 목적 프로세서일 수 있으며, 이는 다른 기능들을 수행하는 다른 컴포넌트들을 갖는 디바이스(예를 들어, 칩) 내의 포함을 위한 것일 수 있다. 그러므로, 본 발명의 실시예들에 따른 방법의 하나 이상의 양상들은 디지털 전자 회로, 또는 컴퓨터 하드웨어, 펌웨어, 소프트웨어 내, 또는 전술한 것들의 조합들 내에서 구현될 수 있다. 프로세싱 시스템은 적어도 하나의 디스크 드라이브 및/또는 CD-ROM 드라이브 및/또는 DVD 드라이브를 갖는 저장 서브시스템(43)을 포함할 수 있다. 몇몇 구현들에서, 디스플레이 시스템, 키보드, 및 포인팅 디바이스는 파라미터 값들과 같은 입력 정보를 수동으로 사용자에게 제공하기 위해 사용자 인터페이스 서브시스템(44)의 부분으로서 포함될 수 있다. 데이터를 입력 및 출력하기 위한 포트들은 예를 들어, 광-전자(opto-electronic) 포트들에 포함될 수 있다. 무선 및/또는 광-전자 접속들을 포함하는 네트워크 접속들과 같은 많은 엘리먼트들은 무선 및/또는 광-전자 인터페이스들 등을 포함하는 다양한 디바이스들에 인터페이싱하고, 이에 포함될 수 있지만, 도 9에 도시되지는 않는다. 이들은 테스트 장비의 원격 동작을 위해 사용될 수 있다. 버스 서브시스템(45; 단순화를 위해 단일 버스처럼 도 5에 도시됨)을 통하는 것을 포함하는 프로세싱 시스템(40)의 다양한 엘리먼트들은 다양한 방식들로 결합될 수 있지만, 이는 당업자에게 적어도 하나의 버스의 시스템을 포함하는 것으로 이해될 수 있다. 메모리 서스시스템(42)의 메모리는, 프로세싱 시스템(40) 상에서 실행될 때 본 명세서에서 설명된 방법 실시예들의 단계들을 구현하는 명령들의 세트의 부분 또는 전부(46으로서 도시된 어느 경우에서나)를 언젠가 홀딩할 수 있다. 위에서 설명된 프로세싱 시스템은 디바이스들(10, 14 및/또는 16)로부터 광 신호를 수신하고, 계산들을 수행하고, 절대 손실을 대표하는 값을 출력하기 위해 적응된다.
본 발명은 또한, 컴퓨팅 디바이스 상에서 수행될 때 본 발명에 따른 임의의 방법들의 기능성을 제공하는 컴퓨팅 프로그램 물건(product)을 포함한다. 프로세싱 엔진 상에서 실행될 때 본 발명에 따른 소프트웨어는 광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하는 방법을 제공하는 코드 세그먼트들을 포함할 수 있고, 네트워크는 헤드 엔드(head end) 및 적어도 하나의 원격 엔드를 포함하는 광 송신 경로, 네트워크 내의 제1 위치에서의 광 신호 리턴 디바이스 및 네트워크 내의 제2 위치에서의 기준 광 신호 리턴 디바이스를 포함한다.
프로세싱 엔진 상에서 수행될 때 본 발명에 다른 소프트웨어는, 상기 헤드 엔드로부터 테스트 신호를 전송하는 단계, 상기 광 신호 리턴 디바이스로부터 제1 리턴 신호 및 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스로부터 제2 리턴 기준 신호를 수신하는 단계 ―상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호 모두는 상기 테스트 신호로부터 유도됨―, 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호를 비교하는 단계 및 상기 네트워크 내의 상기 제1 위치와 상기 제2 위치 사이의 상기 절대 손실과 관련된 값을 그것으로부터 유도하는 단계를 제공하기 위한 코드 세그먼트들을 포함할 수 있고, 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 기준 리턴 신호 중 적어도 하나는 제1 파장 선택적 신호이다.
이러한 컴퓨터 프로그램 물건은 프로그래머블 프로세서에 의한 실행을 위한 기계-판독가능 코드를 전달하는 전달 매체 내에 유형적으로 내장될 수 있다. 그러므로, 본 발명은 컴퓨터 수단들 상에서 실행될 때 상기 설명된 바와 같은 방법들 중 임의의 것을 실행하기 위한 명령들을 제공하는 컴퓨터 프로그램 물건을 전달하는 전달 매체에 관한 것이다. 용어 "전달 매체"는 실행을 위한 프로세서에 명령들을 제공하는데 참여하는 임의의 매체를 지칭한다. 비-휘발성 매체들 및 송신 매체들을 포함하지만, 이들에 제한되지는 않는 이러한 매체들은 많은 형태들을 취할 수 있다. 비-휘발성 매체들은 예를 들어, 대용량 저장장치의 부분인 저장 디바이스와 같은 광 디스크 또는 자기 디스크를 포함한다. 컴퓨터 판독가능 매체들의 공통 형태들은 CD-ROM, DVD, 플렉시블 디스크 또는 플로피 디스크, 테잎, 메모리 칩 또는 카트리지 또는 컴퓨터가 판독할 수 있는 임의의 다른 매체를 포함한다. 컴퓨터 판독가능 매체들의 다양한 형태들은 실행을 위한 프로세서들에 하나 이상의 명령들의 하나 이상의 시퀀스들을 전달하는데 연관될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 물건은 또한 LAN, WAN 또는 인터넷과 같은 네트워크 내의 반송파를 통해 송신될 수 있다. 송신 매체들은 무선파 및 적외선 데이터 통신 중에 생성된 것들과 같은 탄성파 또는 광파의 형태를 취할 수 있다. 컴퓨터 내의 버스를 포함하는 선들을 포함하는 송신 매체들은 동축 케이블들, 구리선 및 광섬유들을 포함한다.
다른 변형들은 청구범위의 범위 내에서 파악될 수 있다.

Claims (14)

  1. 광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 모니터링 디바이스로서,
    상기 네트워크는 헤드 엔드(head end) 및 적어도 하나의 원격 엔드를 포함하는 광 송신 경로, 상기 네트워크 내의 제1 위치에서의 광 신호 리턴 디바이스 및 상기 네트워크 내의 제2 위치에서의 기준 광 신호 리턴 디바이스를 포함하고,
    상기 모니터링 디바이스는:
    테스트 신호를 전송하기 위한 그리고 상기 광 신호 리턴 디바이스로부터의 제1 리턴 신호 및 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스로부터의 제2 리턴 기준 신호를 수신하기 위한 상기 헤드 엔드와 통신하기 위한 장비를 포함하고, 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호 모두는 상기 테스트 신호로부터 유도(derive)되고, 상기 장비는 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호를 비교하고 이로부터 상기 네트워크 내의 상기 제1 위치와 상기 제2 위치 사이의 상기 절대 손실과 관련된 값을 유도하기 위한 수단을 포함하고, 상기 광 신호 리턴 디바이스 및 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스 중 적어도 하나는 파장 선택적 디바이스인,
    광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 모니터링 디바이스.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 네트워크는 적어도 제1 파장의 광을 사용하여 데이터 트래픽을 전달하고 그리고 상기 광 신호 리턴 디바이스 및/또는 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스는 상기 제1 파장과는 상이한 파장을 갖는 신호를 리턴하는,
    광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 모니터링 디바이스.
  3. 제 1 항 내지 제 2 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 테스트 신호는 OTDR 신호인,
    광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 모니터링 디바이스.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 장비는 비대칭 분할기를 통해 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스에 결합되는,
    광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 모니터링 디바이스.
  5. 제 1 항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 장비는 WDM을 통해 상기 네트워크에 결합되는,
    광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 모니터링 디바이스.
  6. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 네트워크는 상기 분할기에 접속된 분할기 및 분기(branch) 섬유들을 포함하는,
    광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 모니터링 디바이스.
  7. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광 신호 리턴 디바이스 및 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스 중 적어도 하나는 수동 디바이스인,
    광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 모니터링 디바이스.
  8. 광 섬유 네트워크로서,
    제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 따른 상기 모니터링 디바이스를 포함하는,
    광 섬유 네트워크.
  9. 광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 단방향(unidirectional) 방법으로서,
    상기 네트워크는 헤드 엔드 및 적어도 하나의 원격 엔드를 포함하는 광 송신 경로, 상기 네트워크 내의 제1 위치에서의 광 신호 리턴 디바이스 및 상기 네트워크 내의 제2 위치에서의 기준 광 신호 리턴 디바이스를 포함하고,
    상기 방법은:
    상기 헤드 엔드로부터 테스트 신호를 전송하는 단계,
    상기 광 신호 리턴 디바이스로부터의 제1 리턴 신호 및 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스로부터의 제2 리턴 기준 신호를 수신하는 단계 ―상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호 모두는 상기 테스트 신호로부터 유도됨―,
    상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호를 비교하는 단계 및
    이로부터 상기 네트워크 내의 상기 제1 위치와 상기 제2 위치 사이의 상기 절대 손실과 관련된 값을 유도하는 단계를 포함하고, 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 기준 리턴 신호 중 적어도 하나는 제1 파장 선택적 신호인,
    광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 단방향 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    적어도 제2 파장의 광을 사용하여 데이터 트래픽을 송신하는 단계를 더 포함하고 그리고 상기 제1 파장 선택적 신호는 상기 제1 파장과 상이한 파장을 포함하는,
    광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 단방향 방법.
  11. 제 9 항 또는 제 10 항에 있어서,
    상기 테스트 신호는 OTDR 신호인,
    광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하기 위한 단방향 방법.
  12. 광 디바이스로서,
    제1 광 섬유로의 접속을 위한 제1 포트,
    제2 광 섬유로의 접속을 위한 제2 포트,
    광 신호 리턴 디바이스에 접속된 제 3 포트를 포함하고, 광 신호가 상기 제1 포트에 들어올 때, 상기 광 디바이스는 파장 선택적인 상기 제1 포트를 통해 신호를 다시 리턴하는,
    광 디바이스.
  13. 프로세싱 엔진 상에서 실행될 때, 광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하는 방법을 제공할 수 있는 컴퓨터 프로그램 물건(product)으로서,
    상기 네트워크는 헤드 엔드 및 적어도 하나의 원격 엔드를 포함하는 광 송신 경로, 상기 네트워크 내의 제1 위치에서의 광 신호 리턴 디바이스 및 상기 네트워크 내의 제2 위치에서의 기준 광 신호 리턴 디바이스를 포함하고, 상기 컴퓨터 프로그램 물건은:
    상기 헤드 엔드로부터 테스트 신호를 전송하는 단계,
    상기 광 신호 리턴 디바이스로부터 제1 리턴 신호 및 상기 기준 광 신호 리턴 디바이스로부터 제2 리턴 기준 신호를 수신하는 단계 ―상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호 모두는 상기 테스트 신호로부터 유도됨―,
    상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 리턴 기준 신호를 비교하는 단계 및
    상기 네트워크 내의 상기 제1 위치와 상기 제2 위치 사이의 상기 절대 손실과 관련된 값을 그것으로부터 유도하는 단계를 제공하고, 상기 제1 리턴 신호 및 상기 제2 기준 리턴 신호 중 적어도 하나는 제1 파장 선택적 신호인,
    프로세싱 엔진 상에서 실행될 때, 광 네트워크 내의 두 개의 포인트들 사이의 절대 손실을 모니터링하는 방법을 제공할 수 있는 컴퓨터 프로그램 물건.
  14. 기계 판독가능 신호 저장 디바이스로서,
    제 13 항의 상기 컴퓨터 프로그램 물건을 저장하는,
    기계 판독가능 신호 저장 디바이스.
KR1020117018049A 2008-12-31 2009-12-10 Ｏｔｄｒ을 이용한 단방향 절대 광 감쇠 측정 KR20110111454A (ko)

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