KR20110057372A - Ｌｏｇ 배선 불량 검출 장치 및 불량 검출 방법 - Google Patents

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KR20110057372A
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Abstract

본 발명은 LOG 배선의 오픈 불량 발생 시, 다중 측정기 확인 및 추가 분석 없이도 불량의 원인 및 위치를 파악할 수 있는 LOG 배선 불량 검출 장치 및 방법에 관한 것으로, 게이트 드라이브 IC에 게이트 구동신호를 전송하기 위해 기판상의 비표시영역에 형성되는 적어도 하나의 LOG 배선; 상기 각 LOG 배선에 게이트 단자가 연결되도록 상기 각 LOG 배선 인접 영역의 기판상에 형성되는 적어도 하나의 트랜지스터; 상기 LOG 배선의 불량을 검출하기 위해 일측단에 전압이 인가되고 타측단은 검출 단자를 구비하여 상기 트랜지스터의 드레인 단자에 연결되는 신호 라인; 그리고 상기 트랜지스터의 소오스 단자와 연결되는 전하 방전 단자를 구비하여 구성된 것이다.
LOG 배선, 오픈 불량, 검출 장치, 검출 방법

Description

ＬＯＧ 배선 불량 검출 장치 및 불량 검출 방법{Apparatus and method for detecting inferiority of LOG line}
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로서, 라인 온 글래스(Line on glass; LOG)형 액정표시장치에서 LOG 배선의 오픈 불량을 검출할 수 있는 LOG형 액정표시징치에 관한 것이다.
최근 정보화 사회로 시대가 급발전함에 따라 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 우수한 특성을 가지는 평판 표시 장치(flat panel display)의 필요성이 대두되었는데, 이 중 액정표시장치(liquid crystal display)가 해상도, 컬러표시, 화질 등에서 우수하여 노트북이나 데스크탑 모니터에 활발하게 적용되고 있다.
일반적으로 액정표시장치는 전극이 각각 형성되어 있는 두 기판을 두 전극이 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고 두 기판 사이에 액정 물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정 분자를 움직이게 함으로써, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율에 의해 화상을 표현하는 장치이다.
이러한 액정표시장치는 두 기판 사이에 액정이 주입되어 있는 액정 패널과 액정 패널 하부에 배치되고 광원으로 이용되는 백라이트, 그리고 액정 패널 외곽에 위치하며 액정 패널을 구동시키기 위한 구동부로 이루어진다.
여기서, 구동부는 액정 패널의 배선에 신호를 인가하기 위한 구동회로(이하 드라이브 IC(drive integrated circuit)라고 함)를 포함하는데, 드라이브 IC를 액정 패널에 실장(packaging)시키는 방법에 따라, 칩 온 글래스(COG : chip on glass), 테이프 캐리어 패키지(TCP : tape carrier package), 칩 온 필름(COF : chip on film) 등으로 나누어진다.
이 중 COG 방식은 액정표시장치의 어레이 기판에 드라이버 IC를 접착시켜, 드라이버 IC의 출력 전극을 어레이 기판 상의 배선 패드에 직접 연결하는 방법으로서, 구조가 간단하여 공정이 단순하고, 제조 비용이 적게 드는 장점이 있다. 한편, COG 방식을 이용하는 경우, 에프피씨(FPC : flexible printed circuit)의 구조와 제조 공정을 간소화하기 위해, 어레이 기판 상에서 게이트 드라이버 IC와 데이터 드라이버 IC를 직접 연결하는 라인 온 글라스(lines on glass : 이하 LOG라고 함)방법이 제안되어 이용되고 있다.
최근에는 TCP를 TAB(tape automated bonding) 방식으로 액정 패널에 연결한 경우에도 LOG 방식이 이용되어, 게이트 인쇄회로기판(PCB : printed circuit board)을 제거함으로써 액정표시장치가 더욱 박형화될 수 있도록 한다.
이러한 LOG 방식을 이용한 액정표시장치의 종래 기술의 구조를 설명하면 다음과 같다.
도 1은 종래의 LOG 방식을 이용한 액정표시장치의 구성도이다.
종래의 LOG 방식을 이용한 액정표시장치는, 도 1에 도시한 바와 같이, 화상 이 표현되는 표시영역(A)과 상기 표시영역(A)주변의 비표시영역(B)이 정의되어 있는 하부 기판(10) 및 상부 기판(20)을 포함하고, 상기 하부 기판(10)과 상부 기판(20) 사이에는 액정층(도시하지 않음)이 삽입되어 있다. 또한, 종래의 LOG 방식을 이용한 액정표시장치는, 상기 하부 기판(10)의 일측에 부착된 다수의 게이트 TCP(30)와, 다른 일측에 부착된 다수의 데이터 TCP(40)와, 데이터 TCP(40)와 연결되어 있는 데이터 PCB(50)를 포함한다.
상기 표시영역(A)의 하부 기판(10) 상에는 가로 방향의 게이트 배선(12)과 세로 방향의 데이터 배선(14)이 형성되어 있으며, 상기 게이트 배선(12)과 데이터 배선(14)은 교차하여 화소 영역을 정의한다. 상기 게이트 배선(12)과 데이터 배선(14)이 교차하는 부분에는 박막 트랜지스터(16)가 형성되어 게이트 배선(12) 및 데이터 배선(14)과 연결되어 있으며, 화소 영역에는 박막 트랜지스터(16)와 연결되어 있는 화소 전극이 형성되어 있다. 상기 화소 전극은 액정 커패시터(18)의 일 전극이 된다.
상기 비표시영역(B)의 하부 기판(10) 상에는 게이트 배선(12) 및 데이터 배선(14)으로부터 연장된 게이트 패드 및 데이터 패드가 형성되어 있으며, 또한 게이트 드라이브 IC(32)에 게이트 구동신호를 전송하기 위한 LOG 배선(62)이 형성되어 있다.
상기 데이터 TCP(40)에는 데이터 드라이브 IC(42)가 실장되어 있으며, 데이터 드라이브 IC(42)와 전기적으로 연결된 데이터 입력 단자(44) 및 데이터 출력 단자(46)가 형성되어 있다. 데이터 입력 단자(44)는 데이터 PCB(50)의 출력 단자(도 시하지않음)와 전기적으로 연결되어 있으며, 데이터 출력 단자(46)는 하부 기판(10) 상의 데이터 패드와 연결된다. 여기서, 데이터 PCB(50)는 기판 상에 집적회로와 같은 다수의 소자가 형성되어 있는 것으로, 액정 패널을 구동시키기 위한 여러 가지 제어신호 및 데이터신호 등을 생성한다.
한편, 첫번째 데이터 TCP(40)에는 게이트 신호 전송배선(48)이 형성되어 있는데, 게이트 신호 전송배선(48)은 LOG 배선(62)과 연결되어 데이터 PCB(50)로부터 공급되는 게이트 구동신호들을 LOG 배선(62)에 전달한다.
게이트 TCP(30)에는 게이트 드라이브 IC(32)가 실장되어 있으며, 게이트 드라이브 IC(32)와 전기적으로 연결된 게이트 출력 단자(34) 및 신호 전송배선(36)이 형성되어 있다. 게이트 출력 단자(34)는 게이트 패드와 전기적으로 연결되고, 신호전송배선(36)은 LOG 배선(62)과 전기적으로 연결된다.
싱기 LOG 배선(62)은 패드들과 함께 표시영역(A)의 외곽에 미세한 패턴으로 형성된다. 일반적으로 FPC는 구리를 이용하여 이루어지는데, 구리는 금속 물질 중 비저항이 매우 작은 물질이다. 따라서, FPC를 대신하는 LOG 배선(62) 또한 저항이 작은 물질로 이루어져야 하며, 패턴의 폭은 넓고 길이는 짧게 하는 것이 좋다. 비교적 저항이 작은 물질로는 알루미늄이나 알루미늄 합금 물질이 있는데, 최근 화면이 대형화되면서 알루미늄이나 알루미늄 합금을 이용하여 게이트 배선을 형성하여 신호 지연을 방지하고 있다. 따라서, LOG 배선(62)의 저항을 작게 하면서 공정 수를 줄이기 위해, 상기 LOG 배선(62)을 게이트 배선과 같은 공정에서 형성할 수 있다.
상술한 바와 같이, LOG 배선(62)은 단순히 상기 데이터 PCB(50)에서 인가된 전압을 게이트 드라이브 IC(32)로 연결시켜주는 역할만 한다. 그러나, 상기 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생되면, LOG 배선에 다중 측정기 (multimeter), 파형 및 현미경 등으로 불량 위치를 확인하지만, 여러가지 형태로 발생하는 구동 불량에 대해서 원인을 파악하기 어렵고 불량 발생 위치를 쉽게 파악할 수 없는 문제점이 있었다.
본 발명은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, LOG 배선의 오픈 불량 발생 시, 다중 측정기 확인 및 추가 분석 없이도 불량의 원인 및 위치를 파악할 수 있는 LOG 배선 불량 검출 장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치 는, 게이트 드라이브 IC에 게이트 구동신호를 전송하기 위해 기판상의 비표시영역에 형성되는 적어도 하나의 LOG 배선; 상기 각 LOG 배선에 게이트 단자가 연결되도록 상기 각 LOG 배선 인접 영역의 기판상에 형성되는 적어도 하나의 트랜지스터; 상기 LOG 배선의 불량을 검출하기 위해 일측단에 전압이 인가되고 타측단은 검출 단자를 구비하여 상기 트랜지스터의 드레인 단자에 연결되는 신호 라인; 그리고 상기 트랜지스터의 소오스 단자와 연결되는 전하 방전 단자를 구비하여 구성됨에 그 특징이 있다.
여기서, 상기 각 LOG 배선에 게이트 단자가 연결되도록 복수개의 트랜지스터가 병렬 연결되고, 상기 복수개의 트랜지스터의 드레인 단자들은 공통으로 상기 신호 라인에 연결되며, 상기 복수개의 트랜지스터의 소오스 단자들은 공통으로 전하 방전 단자에 연결됨에 특징이 있다.
또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 LOG 배선 불량 검출 방법은, 게이트 드라이브 IC에 게이트 구동신호를 전송하기 위해 기판상의 비표 시영역에 형성되는 적어도 하나의 LOG 배선과, 상기 각 LOG 배선에 게이트 단자가 연결되도록 상기 각 LOG 배선 인접 영역의 기판상에 형성되는 트랜지스터와, 상기 LOG 배선의 불량을 검출하기 위해 일측단에 전압이 인가되고 타측단은 검출 단자를 구비하여 상기 트랜지스터의 드레인 단자에 연결되는 신호 라인과, 상기 트랜지스터의 소오스 단자와 연결되는 전하 방전 단자를 구비하여 구성된 LOG 배선 불량 검출 장치에 있어서, 상기 LOG 배선에 게이트 구동 신호를 인가하는 단계; 상기 신호 단자의 입력단에 제 1 전압을 인가하는 단계; 그리고 상기 검출 단자의 제 2 전압을 측정하여 상기 제 2 전압이 상기 제 1 전압과 같으면 LOG 배선의 오픈 불량으로 판단하고, 상기 제 2 전압이 상기 제 1 전압보다 낮으면 LOG 배선이 정상인 것으로 판단하는 단계를 포함하여 이루어짐에 그 특징이 있다.
또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 LOG 배선 불량 검출 방법은, 게이트 드라이브 IC에 게이트 구동신호를 전송하기 위해 기판상의 비표시영역에 형성되는 적어도 하나의 LOG 배선과, 상기 각 LOG 배선에 게이트 단자가 연결되도록 병렬로 연결된 복수개의 트랜지스터와, 상기 LOG 배선의 불량을 검출하기 위해 일측단에 전압이 인가되고 타측단에는 검출단자를 구비하여 상기 복수개의 트랜지스터의 각 드레인 단자에 연결되는 신호 라인과, 상기 복수개의 트랜지스터들의 소오스 단자들과 연결되는 전하 방전 단자를 구비하여 구성된 LOG 배선 불량 검출 장치에 있어서, 상기 LOG 배선에 게이트 구동 신호를 인가하는 단계; 상기 신호 단자의 입력단에 제 1 전압을 인가하는 단계; 그리고 상기 검출 단자의 제 2 전압을 측정하여 상기 제 2 전압이 상기 제 1 전압과 같거나 제 1 전압보다 낮을 레 벨이면 LOG 배선의 오픈 불량으로 판단하고, 상기 제 2 전압이 상기 제 1 전압보다 가장 낮은 레벨이면 LOG 배선이 정상인 것으로 판단하는 단계를 포함하여 이루어짐에 또 다른 특징이 있다.
여기서, 상기 검출 단자의 제 2 전압의 레벨을 비교하여 LOG 배선의 오픈 불량 위치를 판단함에 특징이 있다.
상기와 같은 본 발명에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치 및 방법에 있어서는 다음과 같은 효과가 있다.
즉, LOG 배선에 트랜지스터를 형성하여 상기 트랜지스터의 동작에 의해 LOG 배선의 오픈을 검출할 수 있으므로 불량 위치 확인이 용이하고 불량 위치 확인에 대한 소비 시간을 줄일 수 있을 뿐만아니라, 불량 검출에 대한 정확성을 높일 수 있다.
상기와 같은 특징을 갖는 본 발명에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치 및 방법을 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치를 나타낸 구성도이다.
본 발명에 따른 LOG 방식을 이용한 액정표시장치의 구성은 종래의 LOG 방식을 이용한 액정표시장치의 구성과 같다. 단, 본 발명에서는 데이터 PCB상에 LOG 배선의 불량을 검출하기 위한 검출 단자를 추가하고, LOG 배선에 트랜지스터를 추가 한 것이므로, LOG 방식을 이용한 액정표시장치의 구성은 생략하고 필요한 구성 부분만 종래와 동일 부호를 부여하여 설명한다.
본 발명의 제 1 실시예에 따른 LOG 배선 오픈 검출 장치는, 도 2에 도시한 바와 같이, 화상이 표현되는 표시영역과 상기 표시영역주변에 비표시영역이 정의되어 있는 하부 기판(10)과, 상기 하부 기판(10)의 일측에 부착된 다수의 게이트 TCP(도 2에는 도시하지 않음 도 1의 30 참조)와, 다른 일측에 부착된 다수의 데이터 TCP(40)와, 데이터 TCP(40)와 연결되어 있는 데이터 PCB(50)를 포함한다.
상기 비표시영역의 하부 기판(10) 상에는 상기 게이트 TCP에 실장된 게이트 드라이브 IC(도 2에는 도시하지 않음, 도 1의 32 참조)에 게이트 구동신호를 전송하기 위한 LOG 배선(62)이 형성되어 있다. 도 2에서는 LOG 배선(62)이 하나 도시되어 있지만, 도 1과 같이 복수개의 LOG 배선(62)이 형성된다.
그리고, 상기 각 LOG 배선(62) 인접 영역의 하부 기판(10)상에 상기 LOG 배선(62)에 게이트 단자(G)가 연결된 트랜지스터(TR1)이 적어도 하나 형성된다.
상기 데이터 PCB(50)는 기판 상에 액정 패널을 구동시키기 위한 여러 가지 제어신호 및 데이터신호 등을 생성하기 위한 집적회로와 같은 다수의 소자가 형성되어 있으며, 더불어 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70) 및 검출 단자(71)와 전하 방전 단자(Vgl)가 형성된다.
또한, 첫번째 데이터 TCP(40)에는 게이트 신호 전송 배선(48)이 형성되고, 상기 게이트 신호 전송 배선(48)은 상기 LOG 배선(62)과 연결되어 상기 데이터 PCB(50)로부터 공급되는 게이트 구동 신호들을 LOG 배선(62)에 전달한다.
뿐만 아니라, 상기 첫번째 데이터 TCP(40)에는, 상기 데이터 PCB(50)에 형성된 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)과 상기 하부 기판(10)의 LOG 배선(62) 일측에 형성된 트랜지스터(TR1)의 드레인 단자(D)와 연결하고, 상기 데이터 PCB(50)에 형성된 전하 방전 단자(Vgl)와 상기 하부 기판(10)의 LOG 배선(62) 일측에 형성된 트랜지스터(TR1)의 소오스 단자(S)와 연결하기 위한 연결 배선(72)이 더 형성된다.
도 2에서는 하나의 LOG 배선(62)과 상기 LOG 배선(62)에 연결된 하나의 트랜지스터(TR1)를 도시하였으나, 이에 한정되지 않고, LOG 배선(62)이 복수개 형성되고, 각 LOG 배선(62)에는 트랜지스터(TR1)가 형성되며, 그에 따라 상기 데이터 PCB(50)에도 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70) 및 검출 단자(71)와 전하 방전 단자(Vgl)가 복수개 형성된다.
이와 같이 구성된 본 발명의 제 1 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치의 검출 방법을 설명하면 다음과 같다.
도 3a는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치에서 LOG 배선에 오픈 불량이 발생하지 않았을 때의 설명도이고, 도 3b는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치에서 LOG 배선에 오픈 불량이 발생할 경우의 설명도이다.
상기 LOG 배선(62)를 통해 상기 데이터 PCB(50)로부터 공급되는 게이트 구동 신호가 상기 게이트 TCP에 실장된 게이트 드라이브 IC(도 2에는 도시하지 않음, 도 1의 32 참조)에 전달되고 있는 상태에서, 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신 호 라인(70)의 입력단에 고 전압을 인가하고 상기 검출 단자(출력단, 71)에서 전압을 측정한다.
이때, 상기 검출 단자(71)에서 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압보다 낮은 전압이 검출되면 상기 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생하지 않은 것을 판단하고(도 3a 참조), 상기 검출 단자(71)에서 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압과 같은 전압이 검출되면 상기 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생한 것으로 판단한다(도 3b 참조).
즉, 상기 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생하지 않으면, 상기 LOG 배선(62)에 인가된 상기 게이트 구동 신호에 의해 상기 트랜지스터(TR1)가 턴온되고 이로 인해 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압이 방전 단자(Vgl)로 방전되므로, 도 3a와 같이, 상기 검출 단자(71)에서는 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압보다 낮은 전압이 검출된다.
또한, 상기 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생되었으면, 상기 게이트 구동 신호가 상기 LOG 배선(62)에 인가되더라도 상기 트랜지스터(TR1)가 턴오프되고 이로 인해 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압이 방전 단자(Vgl)로 방전되지 않으므로, 도 3b와 같이, 상기 검출 단자(71)에서는 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압과 같은 전압이 검출된다.
물론, 상기 트랜지스터가 연결된 지점 이후 게이트 드라이브 IC(도 1의 32 참조) 사이의 LOG 배선(62)에서 오픈 불량이 발생될 경우는 오픈 불량을 검출할 수 없기 때문에 상기 트랜지스터(TR1)를 상기 게이트 드라이브 IC(도 1의 32 참조)에 가장 근접한 지점의 LOG 배선(62)에 연결한다.
한편, 각 LOG 배선(62)에 하나의 트랜지스터를 연결할 경우, 상기와 같이, LOG 배선(62)의 오픈 불량 유무를 판단할 수 있지만, 오픈 불량 위치를 파악하기는 곤란하다. 따라서, 오픈 불량 위치를 판단할 수 있는 LOG 배선 불량 검출 장치 및 검출 방법을 설명하면 다음과 같다.
도 4는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치를 나타낸 구성도이다.
본 발명의 제 2 실시예에 따른 LOG 방식을 이용한 액정표시장치의 구성은 본 발명의 제 1 실시예와 같으나, 하나의 LOG 배선(62)에 트랜지스터가 2개 이상 병렬 연결됨에 차이가 있다. 따라서, 동일 구성은 생략한다.
본 발명의 제 2 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치는, 도 4에 도시한 바와 같이, 상기 각 LOG 배선(62) 인접 영역의 하부 기판(10)상에 상기 LOG 배선(62)에 게이트 단자(G)가 연결된 복수개의 트랜지스터(TR1, TR2, ...TRn)가 병렬 연결된다. 그리고, 상기 데이터 PCB(50)는 기판 상에 액정 패널을 구동시키기 위한 여러 가지 제어신호 및 데이터신호 등을 생성하기 위한 집적회로와 같은 다수의 소자가 형성되어 있으며, 더불어 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70) 및 검출 단자(71)와 전하 방전 단자(Vgl)가 형성된다.
또한, 첫번째 데이터 TCP(40)에는 게이트 신호 전송 배선(48)이 형성되고, 상기 게이트 신호 전송 배선(48)은 상기 LOG 배선(62)과 연결되어 상기 데이터 PCB(50)로부터 공급되는 게이트 구동 신호들을 LOG 배선(62)에 전달한다.
뿐만 아니라, 상기 첫번째 데이터 TCP(40)에는, 상기 데이터 PCB(50)에 형성된 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)과 상기 하부 기판(10)의 LOG 배선(62) 일측에 형성된 복수개의 트랜지스터(TR1, TR2, ...TRn)의 각 드레인 단자(D)와 연결하고, 상기 데이터 PCB(50)에 형성된 전하 방전 단자(Vgl)와 상기 하부 기판(10)의 LOG 배선(62) 일측에 형성된 복수개의 트랜지스터(TR1, TR2, ...TRn)의 각 소오스 단자(S)와 연결하기 위한 연결 배선(72)이 더 형성된다.
도 4에서도 하나의 LOG 배선(62)을 도시하였으나, 이에 한정되지 않고, LOG 배선(62)이 복수개 형성되고, 각 LOG 배선(62)에는 복수개의 트랜지스터(TR1, TR2, ...TRn)가 형성되며, 그에 따라 상기 데이터 PCB(50)에도 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70) 및 검출 단자(71)와 전하 방전 단자(Vgl)가 복수개 형성된다.
이와 같이 구성된 본 발명의 제 2 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치의 검출 방법을 설명하면 다음과 같다.
도 5a 내지 5c는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치의 불량 위치 검출 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
본 발명의 제 2 실시예에서는 검출 단자에서 검출된 전압 레벨을 판단하여 오픈 불량은 물론 오픈 불량 위치를 파악한다.
상기 LOG 배선(62)를 통해 상기 데이터 PCB(50)로부터 공급되는 게이트 구동 신호가 상기 게이트 TCP에 실장된 게이트 드라이브 IC(도 1의 32 참조)에 전달되고 있는 상태에서, 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 고 전압을 인가하고 상기 검출 단자(출력단, 71)에서 전압을 측정한다.
이때, 상기 검출 단자(71)에서 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압보다 낮은 가장 낮은 레벨의 전압이 검출되면 상기 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생하지 않은 것을 판단한다.
그리고, 상기 검출 단자(71)에서 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압과 같거나 일정 레벨 낮은 전압이 검출되면 상기 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생한 것으로 판단하고, 더불어 검출된 전압 레벨에 따라 불량 위치를 판단한다.
즉, 도 5a에 도시한 바와 같이, 상기 첫번째 트랜지스터(TR1)이 연결되기 이전의 위치에서 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생되면, 상기 게이트 구동 신호가 상기 LOG 배선(62)에 인가되더라도 상기 복수개의 트랜지스터(TR1, TR2, ... TRn) 모두 턴오프되므로, 상기 검출 단자(71)에서는 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압과 같은 전압이 검출된다. 따라서, 오픈 불량 위치가 첫번째 트랜지스터 이전의 위치에서 발생된 것으로 판단할 수 있다.
또한, 도 5b에 도시한 바와 같이, 상기 첫번째 트랜지스터(TR1)와 두번째 트랜지스터(TR2) 사이의 위치에서 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생되면, 상기 게이트 구동 신호가 상기 LOG 배선(62)에 인가되더라도 상기 복수개의 트랜지스터(TR1, TR2, ... TRn) 중 첫번째 트랜지스터(TR1)만 턴온되고 나머지 트랜지스터(TR2,...TRn)는 모두 턴오프되므로, 이로 인해 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압이 첫번째 트랜지스터(TR1)만 통해 방전 단자(Vgl)로 방전된다. 따라서, 상기 검출 단자(71)에서는 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압보다 낮은 상기 트랜지스터(TR1)의 문턱전압(Vth) 만큼 다운된 레벨의 전압이 검출된다. 따라서, 오픈 불량 위치가 첫번째 트랜지스터와 두번째 트랜지스터(TR2) 사이에서 발생된 것으로 판단한다.
또한, 도 5c에 도시한 바와 같이, 상기 마지막 트랜지스터(TRn)가 연결되기 직전의 위치에서 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생되면, 상기 게이트 구동 신호가 상기 LOG 배선(62)에 인가되면 상기 복수개의 트랜지스터(TR1, TR2, ... TRn)는 중 마지막 트랜지스터(TRn)만 턴오프되고 나머지 트랜지스터들은 턴온되므로 이로 인해 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압이 마지막 트랜지스터(TRn)를 제외한 나머지 트랜지스터들을 통해 방전 단자(Vgl)로 방전된다. 따라서, 상기 검출 단자(71)에서는 상기 LOG 배선 불량을 검출하기 위한 신호 라인(70)의 입력단에 인가한 전압보다 낮은 상기 마지막 트랜지스터(TRn)를 제외한 나머지 트랜지스터들의 문턱전압(Vth)들 만큼 다운된 레벨의 전압이 검출된다. 따라서, 오픈 불량 위치가 마지막 트랜지스터(TRn) 직전에 발생된 것으로 판단한다. 이때, 검출단자에서 검출된 전압은 상기 LOG 배선(62)에 오픈 불량이 발생하지 않았을 때의 전압보다 높다.
물론, 상기 마지막 트랜지스터(TRn)가 연결된 지점 이후 게이트 드라이브 IC(도 1의 32 참조) 사이의 LOG 배선(62)에서 오픈 불량이 발생될 경우는 오픈 불량을 검출할 수 없기 때문에 상기 마지막 트랜지스터(TRn)를 상기 게이트 드라이브 IC(도 1의 32 참조)에 가장 근접한 지점의 LOG 배선(62)에 연결한다.
도 1은 종래의 LOG 방식을 이용한 액정표시장치의 구성도
도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치를 나타낸 구성도
도 3a는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치에서 LOG 배선에 오픈 불량이 발생하지 않았을 때의 설명도
도 3b는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치에서 LOG 배선에 오픈 불량이 발생할 경우의 설명도
도 4는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치를 나타낸 구성도
도 5a 내지 5c는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 LOG 배선 불량 검출 장치의 불량 위치 검출 방법을 설명하기 위한 설명도
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
62: LOG 배선 70: 신호 라인
71: 검출 단자 72: 연결 배선
TR1, TR2, TRn: 트랜지스터

Claims (6)

  1. 게이트 드라이브 IC에 게이트 구동신호를 전송하기 위해 기판상의 비표시영역에 형성되는 적어도 하나의 LOG 배선;
    상기 각 LOG 배선에 게이트 단자가 연결되도록 상기 각 LOG 배선 인접 영역의 기판상에 형성되는 적어도 하나의 트랜지스터;
    상기 LOG 배선의 불량을 검출하기 위해 일측단에 전압이 인가되고 타측단은 검출 단자를 구비하여 상기 트랜지스터의 드레인 단자에 연결되는 신호 라인; 그리고
    상기 트랜지스터의 소오스 단자와 연결되는 전하 방전 단자를 구비하여 구성됨을 특징으로 하는 LOG 배선 불량 검출 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 각 LOG 배선에 게이트 단자가 연결되도록 복수개의 트랜지스터가 병렬 연결되고, 상기 복수개의 트랜지스터의 드레인 단자들은 공통으로 상기 신호 라인에 연결되며, 상기 복수개의 트랜지스터의 소오스 단자들은 공통으로 전하 방전 단자에 연결됨을 특징으로 하는 LOG 배선 불량 검출 장치.
  3. 제 1 또는 2 항에 있어서,
    상기 신호 라인, 검출 단자 및 방전 단자는 데이터 PCB에 연결되고, 상기 신 호 라인과 상기 트랜지스터의 드레인 단자, 그리고 상기 방전 단자와 상기 트랜지스터의 소오스 단자는 데이터 TCP에 의해 연결됨을 특징으로 하는 LOG 배선 불량 검출 장치.
  4. 게이트 드라이브 IC에 게이트 구동신호를 전송하기 위해 기판상의 비표시영역에 형성되는 적어도 하나의 LOG 배선과, 상기 각 LOG 배선에 게이트 단자가 연결되도록 상기 각 LOG 배선 인접 영역의 기판상에 형성되는 트랜지스터와, 상기 LOG 배선의 불량을 검출하기 위해 일측단에 전압이 인가되고 타측단은 검출 단자를 구비하여 상기 트랜지스터의 드레인 단자에 연결되는 신호 라인과, 상기 트랜지스터의 소오스 단자와 연결되는 전하 방전 단자를 구비하여 구성된 LOG 배선 불량 검출 장치에 있어서,
    상기 LOG 배선에 게이트 구동 신호를 인가하는 단계;
    상기 신호 단자의 입력단에 제 1 전압을 인가하는 단계; 그리고
    상기 검출 단자의 제 2 전압을 측정하여 상기 제 2 전압이 상기 제 1 전압과 같으면 LOG 배선의 오픈 불량으로 판단하고, 상기 제 2 전압이 상기 제 1 전압보다 낮으면 LOG 배선이 정상인 것으로 판단하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 LOG 배선 불량 검출 방법.
  5. 게이트 드라이브 IC에 게이트 구동신호를 전송하기 위해 기판상의 비표시영역에 형성되는 적어도 하나의 LOG 배선과, 상기 각 LOG 배선에 게이트 단자가 연결 되도록 병렬로 연결된 복수개의 트랜지스터와, 상기 LOG 배선의 불량을 검출하기 위해 일측단에 전압이 인가되고 타측단에는 검출단자를 구비하여 상기 복수개의 트랜지스터의 각 드레인 단자에 연결되는 신호 라인과, 상기 복수개의 트랜지스터들의 소오스 단자들과 연결되는 전하 방전 단자를 구비하여 구성된 LOG 배선 불량 검출 장치에 있어서,
    상기 LOG 배선에 게이트 구동 신호를 인가하는 단계;
    상기 신호 단자의 입력단에 제 1 전압을 인가하는 단계; 그리고
    상기 검출 단자의 제 2 전압을 측정하여 상기 제 2 전압이 상기 제 1 전압과 같거나 제 1 전압보다 낮을 레벨이면 LOG 배선의 오픈 불량으로 판단하고, 상기 제 2 전압이 상기 제 1 전압보다 가장 낮은 레벨이면 LOG 배선이 정상인 것으로 판단하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 LOG 배선 불량 검출 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 검출 단자의 제 2 전압의 레벨을 비교하여 LOG 배선의 오픈 불량 위치를 판단함을 특징으로 하는 LOG 배선 불량 검출 방법.
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KR20160110751A (ko) * 2015-03-11 2016-09-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널

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