KR20110056769A - Interposer for stack package and stack package using the interposer - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 스택 패키지용 인터포저 및 이를 이용한 스택 패키지에 관한 것으로, 보다 상세하게, 반도체 칩과 기판 간의 전기적인 연결을 안정화시킬 수 있는 스택 패키지용 인터포저 및 이를 이용한 스택 패키지에 관한 것이다.The present invention relates to a stack package interposer and a stack package using the same, and more particularly, to a stack package interposer and a stack package using the same that can stabilize the electrical connection between the semiconductor chip and the substrate.
반도체 집적 회로에 대한 패키징 기술은 소형화에 대한 요구 및 실장 효율성을 만족시키기 위해 지속적으로 발전되어 왔다, 최근에는 전기/전자 제품의 소형화 및 고성능화가 요구됨에 따라 "스택"에 대한 다양한 기술둘이 개발되고 있다.Packaging technologies for semiconductor integrated circuits have been continuously developed to meet the demand for miniaturization and mounting efficiency. Recently, various technologies for "stack" have been developed as miniaturization and high performance of electric / electronic products are required. .
반도체 산업에서 말하는 "스택"이란 적어도 둘 이상의 칩 또는 패키지를 수직으로 쌓아올리는 기술을 일컫는 것으로서, 이러한 스택 기술에 의하면, 메모리 소자의 경우는 반도체 집적 공정에서 구현 가능한 메모리 용량보다 2배 이상의 메모리 용량을 갖는 제품을 구현할 수 있고, 또한, 실장 면적 사용의 효율성을 높일 수 있다.The term "stack" in the semiconductor industry refers to a technology in which at least two chips or packages are stacked vertically. According to the stack technology, a memory device has a memory capacity of twice or more than the memory capacity that can be realized in a semiconductor integrated process. It is possible to implement a product having, and to increase the efficiency of using the mounting area.
한편, 상기 스택 기술을 통해 2개 이상의 반도체 칩을 하나의 패키지 내에 내장시키기 경우에는, 2개의 반도체 칩중 하부에 배치된 하부 반도체 칩과 기판을 전기적으로 연결하는 본딩 와이어의 공간 확보를 위해 하부 반도체 칩과 상부 반도체 칩 사이에 스페이서 테이프를 삽입하는 방식을 사용하고 있다. 그러나, 반도체 패키지의 소형화 추세에 따라 반도체 칩의 두께는 물론, 각 반도체 칩들 사이에 개재되는 상기 스페이서 테이프의 두께도 점차 감소되고 있는 실정이다.Meanwhile, when two or more semiconductor chips are embedded in one package through the stacking technology, the lower semiconductor chip may be secured to secure a space between the lower semiconductor chip disposed below the two semiconductor chips and a bonding wire electrically connecting the substrate. The spacer tape is inserted between the and the upper semiconductor chip. However, with the trend of miniaturization of semiconductor packages, not only the thickness of semiconductor chips but also the thickness of the spacer tapes interposed between the semiconductor chips are gradually decreasing.
그러나, 전술한 종래 기술의 경우에는, 상기와 같이 그 두께가 감소된 스페이서 테이프로 인해 상기 하부 반도체 칩과 기판을 전기적인 연결하기 위한 와이어 본딩시 불량이 유발되며, 그 결과, 반도체 칩과 기판 간의 전기적인 연결이 불안정해진다.However, in the above-described prior art, a defect in the wire bonding for electrically connecting the lower semiconductor chip and the substrate is caused by the spacer tape whose thickness is reduced as described above, and as a result, between the semiconductor chip and the substrate. The electrical connection becomes unstable.
예를 들어, 전술한 종래 기술의 경우에는, 상기와 같이 그 두께가 감소된 스페이서 테이프로 인해 상기 하부 반도체 칩과 기판을 전기적인 연결하는 본딩 와이어의 마진이 감소되어 상기 본딩 와이어의 루프(Loop) 높이를 조절하기가 어려우며, 이로 인해, 상기 하부 반도체 칩의 본딩 와이어가 상부 반도체 칩의 하면과 접촉되어 쇼트 불량이 유발된다.For example, in the above-described prior art, the margin of the bonding wire electrically connecting the lower semiconductor chip and the substrate is reduced due to the spacer tape having the reduced thickness as described above, so that the loop of the bonding wire is reduced. It is difficult to adjust the height, which causes the bonding wire of the lower semiconductor chip to come into contact with the lower surface of the upper semiconductor chip, causing short failure.
또한, 전술한 종래 기술의 경우에는, 상기와 같이 그 두께가 감소된 스페이서 테이프로 인해 상기 상부 반도체 칩의 와이어 본딩시 상기 스페이서 테이프가 제대로 지탱해주는 것이 어려우며, 이로 인해, 상기 상부 반도체 칩의 오버행(Overgang) 현상이 발생되어 크랙 불량이 유발된다.In addition, in the above-described prior art, it is difficult for the spacer tape to properly support the wire bonding of the upper semiconductor chip due to the spacer tape having the reduced thickness as described above, and thus, the overhang of the upper semiconductor chip Overgang phenomenon occurs, causing crack failure.
본 발명은 반도체 칩과 기판 간의 전기적인 연결을 안정화시킬 수 있는 스택 패키지용 인터포저 및 이를 이용한 스택 패키지를 제공한다.The present invention provides an interposer for a stack package that can stabilize electrical connection between a semiconductor chip and a substrate, and a stack package using the same.
본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지용 인터포저는, 제1 반도체 칩과 제2 반도체 칩 사이에 개재되어 상기 제1 반도체 칩과 제2 반도체 칩 간을 전기적으로 연결시키며, 제1 관통전극을 갖는 제1 필름부재와, 상기 제1 관통전극 상에 배치된 접속부재 및 상기 접속부재를 포함하는 제1 필름부재 상에 배치되며, 상기 접속부재를 통해 상기 제1 관통전극과 전기적으로 연결된 제2 관통전극을 갖는 제2 필름부재를 포함한다.The stack package interposer according to the embodiment of the present invention is interposed between a first semiconductor chip and a second semiconductor chip to electrically connect the first semiconductor chip and the second semiconductor chip, and has a first through electrode. A second through-hole disposed on the first film member, the connection member disposed on the first through electrode, and the first film member including the connection member, and electrically connected to the first through electrode through the connection member. And a second film member having an electrode.
상기 제1 필름부재는, 플레이트 형상을 갖는 절연물질로 이루어지며, 가장자리를 따라 다수개의 관통홀이 형성된 제1 필름몸체와, 상기 제1 필름몸체의 각 관통홀들 내에 형성된 제1 관통전극 및 상기 제1 필름몸체 내에 형성되며, 적어도 두개 이상의 제1 관통전극들을 전기적으로 연결하는 제1 연결배선을 포함한다.The first film member is formed of an insulating material having a plate shape, and includes a first film body having a plurality of through holes formed along an edge thereof, a first through electrode formed in each of the through holes of the first film body, and the It is formed in the first film body, and includes a first connection wiring for electrically connecting at least two first through electrodes.
상기 제2 필름부재는, 플레이트 형상을 갖는 절연물질로 이루어지며, 가장자리를 따라 다수개의 관통홀이 형성된 제2 필름몸체와, 상기 제2 필름몸체의 각 관통홀들 내에 형성된 제2 관통전극 및 상기 제2 필름몸체 내에 형성되며, 적어도 두개 이상의 제2 관통전극들을 전기적으로 연결하는 제2 연결배선을 포함한다.The second film member is made of an insulating material having a plate shape, and includes a second film body having a plurality of through holes formed along an edge thereof, a second through electrode formed in each of the through holes of the second film body, and the It is formed in the second film body, and includes a second connection wiring for electrically connecting at least two or more second through electrodes.
상기 제1 및 제2 필름몸체는 BT 레진(Resin), 세라믹, FR4(Frame Retadent 4) 물질 및 FR5(Frame Retadent 5) 물질들 중 어느 하나로 이루어진다.The first and second film bodies are made of any one of a BT resin, a ceramic, a FR 4 (Frame Retadent 4) material, and a FR 5 (Frame Retadent 5) material.
상기 제1 및 제2 관통전극들과 상기 제1 및 제2 연결배선은 Cu, Au 및 Ag 중 어느 하나로 이루어진다.The first and second through electrodes and the first and second connection wirings are made of any one of Cu, Au, and Ag.
상기 접속부재는 전도성 볼을 포함한다.The connection member includes a conductive ball.
본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지는, 상면 및 이에 대향하는 하면을 가지며, 상기 상면에 본드핑거를 구비한 기판과, 상기 기판 상에 페이스-업 타입으로 배치되며, 제1 본딩패드를 갖는 제1 반도체 칩과, 상기 제1 반도체 칩의 상부에 페이스-다운 방식으로 배치되며, 제2 본딩패드를 갖는 제2 반도체 칩과, 상기 제1 반도체 칩과 제2 반도체 칩 사이에 개재되고, 상기 제1 반도체 칩 상에 배치되며 제1 관통전극을 갖는 제1 필름부재와, 상기 제1 관통전극 상에 배치된 접속부재 및 상기 접속부재를 포함하는 제1 필름부재 상에 배치되며 상기 접속 부재를 통해 상기 제1 관통전극과 전기적으로 연결된 제2 관통전극을 갖는 제2 필름부재를 포함하는 인터포저 및 상기 인터포저의 접속부재와 상기 기판의 본드핑거 간을 전기적으로 연결하는 연결부재를 포함한다.A stack package according to an embodiment of the present invention includes a substrate having a top surface and a bottom surface opposite thereto, the substrate having a bond finger on the top surface, and a face-up type disposed on the substrate, the first package having a first bonding pad. A first semiconductor chip, a second semiconductor chip disposed in a face-down manner on the first semiconductor chip, the second semiconductor chip having a second bonding pad, and interposed between the first semiconductor chip and the second semiconductor chip, A first film member disposed on a semiconductor chip, the first film member having a first through electrode, a connection member disposed on the first through electrode, and a first film member including the connection member and disposed through the connection member. An interposer including a second film member having a second through electrode electrically connected to the first through electrode, and a connecting member electrically connecting the connection member of the interposer to the bond finger of the substrate. do.
상기 제1 필름부재는, 플레이트 형상을 갖는 절연물질로 이루어지며, 가장자리를 따라 다수개의 관통홀이 형성된 제1 필름몸체와, 상기 제1 필름몸체의 각 관통홀들 내에 형성된 제1 관통전극 및 상기 제1 필름몸체 내에 형성되며, 적어도 두개 이상의 제1 관통전극들을 전기적으로 연결하는 제1 연결배선을 포함한다.The first film member is formed of an insulating material having a plate shape, and includes a first film body having a plurality of through holes formed along an edge thereof, a first through electrode formed in each of the through holes of the first film body, and the It is formed in the first film body, and includes a first connection wiring for electrically connecting at least two first through electrodes.
상기 제2 필름부재는, 플레이트 형상을 갖는 절연물질로 이루어지며, 가장자리를 따라 다수개의 관통홀이 형성된 제2 필름몸체와, 상기 제2 필름몸체의 각 관통홀들 내에 형성된 제2 관통전극 및 상기 제2 필름몸체 내에 형성되며, 적어도 두개 이상의 제2 관통전극들을 전기적으로 연결하는 제2 연결배선을 포함한다.The second film member is made of an insulating material having a plate shape, and includes a second film body having a plurality of through holes formed along an edge thereof, a second through electrode formed in each of the through holes of the second film body, and the It is formed in the second film body, and includes a second connection wiring for electrically connecting at least two or more second through electrodes.
상기 제1 및 제2 필름몸체는 BT 레진(Resin), 세라믹, FR4(Frame Retadent 4) 물질 및 FR5(Frame Retadent 5) 물질들 중 어느 하나로 이루어진다.The first and second film bodies are made of any one of a BT resin, a ceramic, a FR 4 (Frame Retadent 4) material, and a FR 5 (Frame Retadent 5) material.
상기 제1 및 제2 관통전극들과 상기 제1 및 제2 연결배선은 Cu, Au 및 Ag 중 어느 하나로 이루어진다.The first and second through electrodes and the first and second connection wirings are made of any one of Cu, Au, and Ag.
상기 접속부재는 전도성 볼을 포함한다.The connection member includes a conductive ball.
상기 연결부재는 본딩 와이어를 포함한다.The connecting member includes a bonding wire.
상기 제1 및 제2 반도체 칩을 포함한 상기 기판의 상면을 밀봉하는 봉지부재 및 상기 기판의 하면에 부착된 외부 접속단자를 포함한다.An encapsulation member for sealing an upper surface of the substrate including the first and second semiconductor chips and an external connection terminal attached to the lower surface of the substrate.
본 발명은 스택 패키지 제조시, 관통전극을 갖는 반도체 칩들 사이에 상기 관통전극들 간을 전기적으로 연결하는 인터포저를 삽입하고, 상기 인터포저의 접속부재와 기판 간을 전기적으로 연결함으로써, 상기 반도체 칩들 각각과 기판을 연결하지 않고도 스택 패키지를 구현할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, an interposer electrically connecting between the through electrodes is inserted between semiconductor chips having through electrodes and electrically connected between a connection member of the interposer and a substrate. The stack package can be implemented without connecting each and the board.
따라서, 본 발명은 다수개의 반도체 칩들을 스택하는 스택 패키지 제조시, 각 반도체 칩들과 기판을 각각 연결하는 대신에 상기 반도체 칩들 사이에 개재된 인터포저의 접속부재와 기판 간을 연결함으로써, 와이어 본딩시 발생되는 불량을 방지하여 반도체 칩과 기판 간의 전기적인 연결을 안정화시킬 수 있다.Accordingly, the present invention, when manufacturing a stack package stacking a plurality of semiconductor chips, instead of connecting each of the semiconductor chips and the substrate, by connecting the connection member and the substrate of the interposer interposed between the semiconductor chips, the wire bonding It is possible to stabilize the electrical connection between the semiconductor chip and the substrate by preventing a defect that occurs.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명하도록 한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지용 인터포저를 설명하기 위한 단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating an interposer for a stack package according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지용 인터포저(150)는, 제1 관통전극(104)을 갖는 제1 필름부재(110)와 상기 제1 관통전극(104) 상에 배치된 접속부재(130) 및 상기 접속부재(130)를 포함하는 제1 필름부재(110) 상에 배치되며, 상기 접속부재(130)를 통해 상기 제1 관통전극(104)과 전기적으로 연결된 제2 관통전극(114)을 갖는 제2 필름부재(120)를 포함한다. As shown in FIG. 1, the stack package interposer 150 according to an embodiment of the present invention includes a
상기 제1 필름부재(110)는 플레이트 형상을 갖는 절연물질로 이루어지며 가장자리를 따라 다수개의 관통홀이 형성된 제1 필름몸체(102)와, 상기 제1 필름몸체(102)의 각 관통홀들 내에 형성된 제1 관통전극(104) 및 상기 제1 필름몸체(102) 내에 형성되며, 적어도 두개 이상의 제1 관통전극(104)들을 전기적으로 연결하는 제1 연결배선(106)을 포함한다.The
상기 제2 필름부재(120)는, 플레이트 형상을 갖는 절연물질로 이루어지며 가장자리를 따라 다수개의 관통홀이 형성된 제2 필름몸체(112)와, 상기 제2 필름몸체(112)의 각 관통홀들 내에 형성된 제2 관통전극(114) 및 상기 제2 필름몸체(112) 내에 형성되며, 적어도 두개 이상의 제2 관통전극(114)들을 전기적으로 연결하는 제2 연결배선(116)을 포함한다.The
상기 제1 및 제2 필름몸체(102, 112)는 BT 레진(Resin), 세라믹, FR4(Frame Retadent 4) 물질 및 FR5(Frame Retadent 5) 물질들 중 어느 하나로 이루어지며, 상기 제1 및 제2 관통전극들(104, 114)과 상기 제1 및 제2 연결배선(106, 116)은 Cu, Au 및 Ag 중 어느 하나로 이루어진다.The first and
상기 접속부재(130)는 전도성 볼을 포함한다.The
전술한 바와 같이, 제1 필름부재(110)와 접속부재(130) 및 제2 필름부재(120)를 포함하는 스택 패키지용 인터포저(150)는 스택 패키지 제조시 제1 반도체 칩과 제2 반도체 칩 사이에 개재되어 상기 제1 반도체 칩과 제2 반도체 칩 간을 전기적으로 연결시키는 역할을 한다.As described above, the stack package interposer 150 including the
이하에서는, 전술한 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지용 인터포저의 제1 필름부재에 대해 보다 자세하게 도시하고 설명하도록 한다.Hereinafter, the first film member of the stack package interposer according to the embodiment of the present invention described above will be shown and described in more detail.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지용 인터포저의 제1 필름부재를 설명하기 위한 평면도이고, 도 3은 도 2의 A―A′선에 대응하는 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지용 인터포저의 제1 필름부재를 설명하기 위한 단면도이다.2 is a plan view illustrating a first film member of an interposer for a stack package according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a stack package according to an embodiment of the present invention corresponding to line AA ′ of FIG. 2. It is sectional drawing for demonstrating the 1st film member of the interposer for dragons.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 제1 필름부재(110)는 플레이트 형상을 갖는 절연물질로 이루어지며 가장자리를 따라 다수개의 관통홀이 형성된 제1 필름몸체(102)와, 상기 제1 필름몸체(102)의 각 관통홀들 내에 형성된 제1 관통전극(104) 및 상기 제1 필름몸체(102) 내에 형성되며, 적어도 두개 이상의 제1 관통전극(104)들을 전기적으로 연결하는 제1 연결배선(106)을 포함한다.2 and 3, the
상기 제1 및 제2 필름몸체(102, 112)는 BT 레진(Resin), 세라믹, FR4(Frame Retadent 4) 물질 및 FR5(Frame Retadent 5) 물질들 중 어느 하나로 이루어지며, 상기 제1 및 제2 관통전극들(104, 114)과 상기 제1 및 제2 연결배선(106, 116)은 Cu, Au 및 Ag 중 어느 하나로 이루어진다.The first and
한편, 도시하지는 않았으나 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지용 인터포 저의 제2 필름부재는 상기 제1 필름부재(110)와 동일한 구조를 갖는다.Although not shown, the second film member of the stack package interposer according to the embodiment of the present invention has the same structure as the
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지를 설명하기 위한 단면도로서, 도시된 바와 같이, 기판(100) 상부에 제1 반도체 칩(200)과 제2 반도체 칩(300)이 스택되어 있으며, 상기 제1 반도체 칩(200)과 제2 반도체 칩(300) 사이에 도 1에 도시된 스택 패키지용 인터포저(150)가 개재되어 상기 제1 반도체 칩(200)과 제2 반도체 칩(300) 간을 전기적으로 연결하고 있다.4 is a cross-sectional view illustrating a stack package according to an embodiment of the present invention. As shown in the drawing, a
구체적으로, 상면 및 이에 대향하는 하면을 가지며, 상기 상면에 본드핑거(170)를 구비한 기판(100) 상에 접착제(210)의 개재 하에 페이스-업 타입으로 제1 반도체 칩(200)이 배치되어 있다. 상기 제1 반도체 칩(200)은 제1 본딩패드(220)를 갖는다. 상기 제1 반도체 칩(200)의 상부에 페이스-다운 방식으로 제2 반도체 칩(300)이 배치되어 있다. 상기 제2 반도체 칩(300)은 제2 본딩패드(320)를 갖는다. Specifically, the
그리고, 상기 제1 반도체 칩(200)과 제2 반도체 칩(300) 사이에 도 1에서 도시하고 설명한 스택 패키지용 인터포저(150))가 개재되어 있으며, 상기 인터포저(150)에 의해 제1 반도체 칩(200)의 제1 본딩패드(220)와 제2 반도체 칩(300)의 제2 본딩패드(320)가 전기적으로 연결된다. In addition, a stack package interposer 150 shown and described with reference to FIG. 1 is interposed between the
자세하게, 상기 인터포저(150)는 상기 제1 반도체 칩(200) 상에 배치되며 제1 관통전극(104)을 갖는 제1 필름부재(110)와, 상기 제1 관통전극(104) 상에 배치된 접속부재(130) 및 상기 접속부재(130)를 포함하는 제1 필름부재(110) 상에 배치되며 상기 접속 부재(130)를 통해 상기 제1 관통전극(104)과 전기적으로 연결된 제 2 관통전극(114)을 갖는 제2 필름부재(120)를 포함한다.In detail, the interposer 150 is disposed on the
상기 인터포저(150)의 제1 필름부재(110)는 플레이트 형상을 갖는 절연물질로 이루어지며 가장자리를 따라 다수개의 관통홀이 형성된 제1 필름몸체(102)와, 상기 제1 필름몸체(102)의 각 관통홀들 내에 형성된 제1 관통전극(104) 및 상기 제1 필름몸체(102) 내에 형성되며, 적어도 두개 이상의 제1 관통전극(104)들을 전기적으로 연결하는 제1 연결배선(106)을 포함한다.The
상기 인터포저(150)의 제2 필름부재(120)는, 플레이트 형상을 갖는 절연물질로 이루어지며 가장자리를 따라 다수개의 관통홀이 형성된 제2 필름몸체(112)와, 상기 제2 필름몸체(112)의 각 관통홀들 내에 형성된 제2 관통전극(114) 및 상기 제2 필름몸체(112) 내에 형성되며, 적어도 두개 이상의 제2 관통전극(114)들을 전기적으로 연결하는 제2 연결배선(116)을 포함한다.The
상기 제1 및 제2 필름몸체(102, 112)는 BT 레진(Resin), 세라믹, FR4(Frame Retadent 4) 물질 및 FR5(Frame Retadent 5) 물질들 중 어느 하나로 이루어지며, 상기 제1 및 제2 관통전극들(104, 114)과 상기 제1 및 제2 연결배선(106, 116)은 Cu, Au 및 Ag 중 어느 하나로 이루어진다.The first and
상기 인터포저(150) 접속부재(130)는 전도성 볼을 포함한다. 상기 접속부재(130)는 일반적인 와이어 본딩 공정시 와이어 볼을 형성할 때 전기적으로 불꽃 방전을 일으키는 방식을 통해 형성되거나, 또는, 전도성 볼을 눌러 붙인 후에 용융시키는 방식으로 형성되는 것이 가능하며, 이 외에도 제1 관통전극(104)과 제2 관통전극(114)이 전기적으로 연결되도록 하는 방식이면 모두 적용 가능하다.The interposer 150 connecting
여기서, 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지는 상기 인터포저(150)의 접속부재(130)와 상기 기판(100)의 본드핑거(170) 간을 전기적으로 연결하는 연결부재(160)를 포함하며, 상기 연결부재(160)는 본딩 와이어를 포함한다. 또한, 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지는 상기 제1 및 제2 반도체 칩(200, 300)을 포함한 상기 기판(100)의 상면을 밀봉하는 봉지부재(180) 및 상기 기판(100)의 하면에 부착된 외부 접속단자(190)를 포함한다.Here, the stack package according to the embodiment of the present invention includes a
전술한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지는 기판(100) 상부에 스택된 제1 및 제2 반도체 칩(200, 300)과, 상기 제1 및 제2 반도체 칩(200, 300)의 사이에 개재되며 제1 및 제2 필름부재(110, 120)와 접속부재(130)를 포함하는 인터포저(150)를 포함하며, 상기 인터포저(150)의 접속부재(130)와 상기 기판(100)의 본드핑거(170)가 본딩 와이어를 통해 전기적으로 연결되어 있다. As described above, the stack package according to the embodiment of the present invention includes the first and
따라서, 본 발명은 상기 제1 및 제2 반도체 칩(200, 300)을 각각 따로 기판(100)과 연결할 필요 없이 인터포저(150)의 접속부재(130)를 기판(100)과 본딩 와이어를 통해 연결함으로써 제1 및 제2 반도체 칩(200, 300)을 기판(100)과 전기적으로 연결시킬 수 있으며, 이를 통해, 본 발명은 상기 본딩 와이어의 마진이 증가됨에 따라 와이어 본딩시 불량을 방지하여 반도체 칩(200, 300)과 기판(100) 간의 전기적인 연결을 안정화시킬 수 있다.Accordingly, in the present invention, the connecting
또한, 본 발명은 제2 반도체 칩(300)과 기판(100) 간에 와이어 본딩 공정 없이 인터포저(150)의 접속부재(130)와 기판(100) 간의 와이어 본딩 공정만 수행하면 되므로, 상기 제2 반도체 칩(300)의 오버행 현상이 방지되어 크랙 불량을 방지할 수 있으며, 그러므로, 본 발명은 반도체 칩(200, 300)과 기판(100) 간의 전기적인 연결을 효과적으로 안정화시킬 수 있다.In addition, the present invention only needs to perform a wire bonding process between the
이상, 여기에서는 본 발명을 특정 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명이 그에 한정되는 것은 아니며, 이하의 특허청구의 범위는 본 발명의 정신과 분야를 이탈하지 않는 한도 내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변형될 수 있다는 것을 당업계에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 알 수 있다.As mentioned above, although the present invention has been illustrated and described with reference to specific embodiments, the present invention is not limited thereto, and the following claims are not limited to the scope of the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention. It can be easily understood by those skilled in the art that can be modified and modified.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지용 인터포저를 설명하기 위한 단면도.1 is a cross-sectional view illustrating an interposer for a stack package according to an embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지용 인터포저의 제1 필름부재를 설명하기 위한 평면도.2 is a plan view for explaining a first film member of the stack package interposer according to an embodiment of the present invention.
도 3은 도 2의 A―A′선에 대응하는 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지용 인터포저의 제1 필름부재를 설명하기 위한 단면도.3 is a cross-sectional view illustrating a first film member of an interposer for a stack package according to an embodiment of the present invention corresponding to line AA ′ of FIG. 2.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 스택 패키지를 설명하기 위한 단면도.4 is a cross-sectional view illustrating a stack package according to an embodiment of the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
100 : 기판 102 : 제1 필름몸체100: substrate 102: first film body
104 : 제1 관통전극 106 : 제1 연결배선104: first through electrode 106: first connection wiring
110 : 제1 필름부재 112 : 제2 필름몸체110: first film member 112: second film body
114 : 제2 관통전극 116 : 제2 연결배선114: second through electrode 116: second connection wiring
120 : 제2 필름부재 130 : 접속부재120: second film member 130: connection member
150 : 인터포저 160 : 연결부재150: interposer 160: connection member
170 : 본드핑거 180 : 봉지부재170: bond finger 180: sealing member
190 : 외부 접속단자 200 : 제1 반도체 칩190: external connection terminal 200: first semiconductor chip
210 : 접착제 220 : 제1 본딩패드210: adhesive 220: first bonding pad
300 : 제2 반도체 칩 320 : 제2 본딩패드300: second semiconductor chip 320: second bonding pad
Claims (14)
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KR1020090113229A KR20110056769A (en) | 2009-11-23 | 2009-11-23 | Interposer for stack package and stack package using the interposer |
Applications Claiming Priority (1)
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KR1020090113229A KR20110056769A (en) | 2009-11-23 | 2009-11-23 | Interposer for stack package and stack package using the interposer |
Publications (1)
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KR1020090113229A KR20110056769A (en) | 2009-11-23 | 2009-11-23 | Interposer for stack package and stack package using the interposer |
Country Status (1)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US11145637B2 (en) | 2019-03-26 | 2021-10-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package including a substrate having two silicon layers formed on each other |
-
2009
- 2009-11-23 KR KR1020090113229A patent/KR20110056769A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US11145637B2 (en) | 2019-03-26 | 2021-10-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package including a substrate having two silicon layers formed on each other |
US11721679B2 (en) | 2019-03-26 | 2023-08-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package and method of fabricating the same |
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