KR20100089302A - 금속 배선의 형성방법 및 이를 이용하여 형성된 금속 배선 - Google Patents

금속 배선의 형성방법 및 이를 이용하여 형성된 금속 배선 Download PDF

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Abstract

본 발명은 금속 배선의 형성방법 및 이를 이용하여 형성된 금속 배선에 관한 것으로, 본 발명에 따른 금속 배선의 형성방법은 금속 나노입자 및 상기 금속 나노입자를 분산된 상태로 유지하기 위한 분산제를 포함하는 잉크 조성물로 배선을 인쇄하는 단계; 진공 또는 비활성 분위기 하에서 상기 배선을 소성함으로써 입자 성장을 억제하는 1차 소성 단계; 및 상기 진공 또는 비활성 분위기를 해제하여 상기 배선을 소성함으로써 입자 성장을 촉진하는 2차 소성 단계를 포함한다. 본 발명에 따른 금속 배선의 형성방법은 금속 나노입자의 소성과정에서 금속 나노입자의 성장을 유도할 수 있는 분산제를 금속 나노입자의 성장 구동력이 높은 온도에서 신속하게 제거하여 비정상 입자성장을 유도한다. 이에 따라 금속 배선은 입자의 평균입경이 큰 조밀한 구조를 갖고, 전기적 특성 및 기계적 특성이 우수하다.
금속 나노입자, 분산제, 잉크, 입자성장.

Description

금속 배선의 형성방법 및 이를 이용하여 형성된 금속 배선{Method for forming metal wiring and metal wiring using the same}
본 발명은 금속 배선의 형성방법 및 이를 이용하여 형성된 금속 배선에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 전기적 및 기계적 성질을 향상시킬 수 있는 금속 배선의 형성방법 및 이를 이용하여 형성된 금속 배선에 관한 것이다.
최근 전자 기기, 및 정보 단말기기 등이 소형, 경량화 됨에 따라 기기 내부에 사용되는 전자부품이 점차 소형화되고 있는 추세이다. 따라서, 전자부품 내 실장을 위한 배선패턴의 사이즈도 점차 작아지고, 배선패턴의 폭이나 배선 간의 페이스도 좁아지는 추세이다.
전자 소자에 사용되는 고해상도의 패턴을 형성하는 방법으로는 노광과 식각공정을 기반으로 한 광학적 패터닝 방법이 최근 전자 기기, 및 정보 단말기기 등이 소형, 경량화 됨에 따라 기기 내 부에 사용되는 전자부품이 점차 소형화되고 있는 추세이다. 따라서, 전자부품 내 실장을 위한 배선패턴의 사이즈도 점차 작아지고, 배선패턴의 폭이나 배선 간의 페이스도 좁아지는 추세이다.
전자 소자에 사용되는 고해상도의 패턴을 형성하는 방법으로는 노광과 식각 공정을 기반으로 한 광학적 패터닝 방법이 주로 이용되고 있다. 그러나 광학적 패터닝은 재료의 낭비가 많고, 다단계 공정이며 포토레지스트, 현상액 혹은 식각 용액을 사용하는 등 공정이 복잡하기 때문에 공정 효율이 떨어지며, 대면적 마스크를 사용해야 하기 대문에 새로운 설계를 최단시간 내에 생산라인에 적용하는 데에 어려움이 있다. 따라서, 광학적 패터닝의 단점을 극복하기 위하여 적은 공정수와 재료낭비를 최소화한 채로 마스크 없이 직접적으로 기판상에 패턴을 행할 수 있는 방법으로서, 잉크젯 프린팅 방식이 개발되었다.
잉크젯 프린팅 방식은 광학적 패터닝 공정방법을 대체할 수 있는 기술로서 기존의 광학적 패터닝과 차별화되는 친환경적인 공정기술이며, 현재 미국, 일본 등 선진국을 중심으로 또한 국내외 기업체 및 학교, 연구소에서 연구/개발 중에 있다. 향후 전기 전자 부품 산업 및 디스 플레이 산업 분야에서 공정비용 절감에 크게 기여할 것으로 예상되고 있다.
잉크젯 프린팅 방식은 잉크로 만들 수 있는 모든 매체(금속, 세라믹, 폴리머)를 선택적으로 신속하게 미세패턴으로 인쇄할 수 있어 폭넓은 응용성을 갖는다. 잉크젯 프린팅은 목표로 하는 위치에 잉크를 비접촉 방식으로 분사하기 때문에 종이를 비롯하여 직물, 금속, 세라믹, 폴리머 등 다양한 매질(기판)에 자유로운 형상을 인쇄할 수 있으며, 수 평방미터 이상의 대형포스터, 배너 등 대면적 인쇄가 가능하다.
잉크젯 프린팅 인쇄 방식으로 형성된 배선은 매선 폭이나 배선 간의 간격이 인쇄되는 배선 재료의 양에 의존하게 되어 어떠한 배선재료를 선택할 지가 중요한 문제가 된다. 최근에는 금속 나노입자를 이용한 잉크젯 프린팅 방식이 대두되고 있는데, 금속 나노입자는 열처리를 통해 안정된 미세구조를 가지게 된다. 금속 나노입자의 미세구조는 금속 배선의 전기적 또는 기계적 성질에 영향을 미치므로, 보다 최적화된 미세구조를 얻기 위한 연구가 진행되고 있다.
본 발명은 상기한 종래의 문제를 해결하기 위한 것으로서, 금속 나노입자를 이용한 금속 배선의 형성방법에 있어서, 안정된 미세구조를 형성하여 전기적 특성 및 기계적 특성이 우수한 금속 배선을 형성하기 위한 방법을 제공하고자 한다.
본 발명은 상기 과제를 해결하기 위한 수단으로써, 금속 나노입자 및 상기 금속 나노입자를 분산된 상태로 유지하기 위한 분산제를 포함하는 잉크 조성물로 배선을 인쇄하는 단계; 진공 또는 비활성 분위기 하에서 상기 배선을 소성함으로써 입자 성장을 억제하는 1차 소성 단계; 및 상기 진공 또는 비활성 분위기를 해제하여 상기 배선을 소성함으로써 입자 성장을 촉진하는 2차 소성 단계;를 포함하는 금속 배선의 형성방법을 제공한다.
상기 금속 나노입자는 금, 은, 동, 백금, 납, 인듐, 팔라듐, 로듐, 루테늄, 이리듐, 오스뮴, 텅스텐, 니켈, 탄탈, 비스무스, 주석, 아연, 티탄, 알루미늄, 코발트, 철 및 이들의 혼합물로 이루어진 군으로터 선택되는 도전성 재료인 것이 바람직하다.
상기 금속 나노입자는 평균 입경이 500nm 이하인 것이 바람직하다.
상기 분산제는 상기 금속 나노입자와 배위 결합을 형성하는 물질 또는 계면활성제일 수 있다.
상기 잉크 조성물로 박막 또는 배선을 인쇄하는 방법은 스크린 방식, 잉크젯 프린팅 방식, 그라비아 방식, 스프레이 코팅방식 또는 오프셋 인쇄방식일 수 있다.
상기 1차 소성은 2차 소성온도까지 승온하면서 수행될 수 있고, 상기 2차 소성은 250℃이하에서 수행될 수 있다.
상기 2차 소성 단계 후 5MPa 이상의 압력하에서 3차 소성을 하는 단계를 추가로 수행할 수 있고, 상기 3차 소성은 250℃이하에서 수행될 수 있다.
본 발명은 상기 과제를 해결하기 위한 다른 수단으로써, 본 발명에 따른 금속 배선의 형성방법으로 형성된 금속 배선을 제공한다.
본 발명의 금속 배선의 형성방법은 금속 나노입자의 소성과정에서 금속 나노입자의 성장을 유도할 수 있는 분산제를 금속 나노입자의 성장 구동력이 높은 온도에서 신속하게 제거하여 비정상 입자성장을 유도한다. 이에 따라 금속 배선은 입자의 평균입경이 큰 조밀한 구조를 갖고, 전기적 특성 및 기계적 특성이 우수하다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다. 첨부된 도면은 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다.
본 발명에 따른 금속 배선의 형성방법은 금속 나노입자 및 상기 금속 나노입 자를 분산된 상태로 유지하기 위한 분산제를 포함하는 잉크 조성물로 배선을 인쇄하는 단계; 진공 또는 비활성 분위기 하에서 상기 배선을 소성함으로써 입자 성장을 억제하는 1차 소성 단계; 및 상기 진공 또는 비활성 분위기를 해제하여 상기 배선을 소성함으로써 입자 성장을 촉진하는 2차 소성 단계;를 포함한다.
문서 인쇄용 잉크 조성물이 색을 나타내는 색소체(chromophore)와 이를 포함하는 유동체(vehicle)로 구성되는 데 반해, 금속 박막 또는 금속 배선을 형성하기 위한 잉크 조성물은 색소체를 대체하는 기능성 재료로서 금속 나노입자를 포함한다.
금속 나노입자는 입경이 수nm 내지 수백 nm인 입자를 의미한다. 금속 입자가 나노사이즈 이하로 작아지면 ‘나노사이즈 효과’를 일으킨다. ‘나노사이즈 효과’란 일반적으로 보통 재료를 나노사이즈에 도달시킬 때 나타나는 물리적, 화학적 특성 변화를 말한다. 금속의 경우 예를 들면, 나노사이즈 효과를 일으키는 철의 단열 응력 비율은 보통 철보다 12배나 높으며, 나노사이즈 효과를 가지는 금의 융점을 일반적인 금의 반 정도 수준이다.
일반적으로, 금속의 경우 약 100nm이하에서 나노사이즈 효과를 일으키는데, 바람직하게는 50nm, 더 바람직하게는 10nm이하에서 나노사이즈 효과가 현저히 나타난다. 예를 들면, 은(Ag)의 융점은 961.9℃이지만, 약 100nm에서 융점이 떨어지기 시작하여 10nm이하의 크기에서는 융점은 200 내지 250℃까지 떨어진다.
이렇게 금속 입자의 입경을 나노사이즈 이하로 충분히 작게 하면, 금속 원자 의 표면 확산은 무시할 없을 정도로 커지고, 이 표면확산에 기인하여 입자 상호간의 계면 연장이 이루어진다. 따라서 나노사이즈 이하로 입자의 크기가 작아질수록 입자의 융점도 낮아진다. 따라서, 나노사이즈 효과가 일어나는 크기 범위의 금속 나노 입자로 배선을 형성하면 융점이 충분히 낮아 유기막 또는 플라스틱 기판 등 저온 소성이 요구되는 기재에도 적용이 가능하다.
나노 입자는 크기가 매우 작아 표면 에너지의 증가로 인하여 입자간 응집을 하려는 경향이 크므로, 금속 나노입자를 용매 내에 균일하고 안정하게 분산시키기 위하여 분산제가 부착되어 있다. 여기서 ‘부착’이란 분산제가 금속 이온을 개입시켜 금속 나노입자의 표면에 흡착하는 것을 말하고, 이에 의해, 금속 입자가 용매에 안정하게 분산되는 것을 돕는 상태가 된다. 이러한 분산제 및 기타의 첨가제는 나노입자의 소성 과정에서 제거된다.
소성을 행한 후 금속 나노입자의 표면이 직접 접촉하여 응집체를 형성하여 금속 나노입자들 자체가 하나의 커다란 벌크 형태가 된다. 이 때 형성된 배선은 작은 입자가 엉켜 붙는 과정에서 공극이 발생할 확률이 급격히 증가한다. 이러한 공극은 단락(open circuit) 또는 합선(short circuit)의 원인이 될 수 있다. 또한, 금속 나노입자 간의 연결부위가 많기 때문에 전류의 흐름도 원활하지 않아 전기 전도도와 전기 신뢰성이 낮아지고, 기계적 특성이 저하된다. 본 발명은 소성에 따른 금속 나노입자의 미세구조를 제어하여 전기적 및 기계적 특성을 제어하는 것을 특징으로 한다.
도 1은 종래 방법에 따른 금속 배선의 형성과정을 개략적으로 도시한 것이다.
도 1(a)는 기판(100) 상에 잉크 조성물로 배선을 인쇄하는 단계를 나타낸다. 잉크 조성물은 용매(130) 내에 금속 나노입자(110a) 및 금속 나노입자(110a)를 분산된 상태로 유지하기 위한 분산제(120)를 포함한다. 금속 나노입자(110a)는 분산제(120)에 의해 콜로이드 상태로 균형을 유지하고 있다.
이 후, 배선이 인쇄된 기판에 대하여 소성 과정을 수행한다. 도1(b)는 소성과정을 도시한 것으로, 이를 참조하면, 용매(130) 및 분산제(120)는 공기와 반응하여 배선에서 이탈된다. 금속 입자 간 결합을 막아주던 분산제의 이탈에 따라, 금속 나노입자(110b)끼리 엉켜 붙기 시작한다. 소성 과정에서 분산제(120)는 그 양이 서서히 줄어들게 되고, 금속 입자는 정상 입자성장을 하게 된다. 도1(c)는 소성이 완결된 상태를 도시한 것으로, 이를 참조하면, 금속 나노입자(110c)는 정상입자 성장에 따라 입자의 크기가 작고, 다량의 공극을 포함하는 다공성의 미세구조를 형성한다. 이러한 다공성의 미세구조에 의하여 전기 신뢰도 및 기계적 특성이 낮은 특성을 갖는다. 또한 금속 나노입자 간의 연결부위가 많아 전류의 흐름(E)이 원활하지 않게 된다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 금속 배선의 형성과정을 개략적으로 도시한 것이다.
도 2(a)를 참조하면, 잉크 조성물은 용매(230) 내에 금속 나노입자(210a) 및 금속 나노입자(210a)를 분산된 상태로 유지하기 위한 분산제(220)를 포함하고, 금속 나노입자(210a)는 분산제(220)에 의해 콜로이드 상태로 균형을 유지하고 있다. 잉크 조성물로 기판(200) 상에 배선을 인쇄한다.
잉크 조성물에 함유되는 금속 나노입자(210a)는 도전성 재료이면 특별히 제한되지 않으나, 예를 들면 금, 은, 동, 백금, 납, 인듐, 팔라듐, 로듐, 루테늄, 이리듐, 오스뮴, 텅스텐, 니켈, 탄탈, 비스무스, 주석, 아연, 티탄, 알루미늄, 코발트, 철 및 이들의 혼합물을 사용할 수 있다. 바람직하게는 금, 은, 백금, 또는 팔라듐, 금/백금, 팔라듐/은, 백금/은, 백금/팔라듐, 또는 백금/팔라듐/은을 사용하는 것이고, 보다 바람직하게는 은, 백금, 은/팔라듐을 사용하는 것이다.
금속 나노입자(210a)의 형태는 제한되지 않으며, 구형, 회전타원체, 분말 형태, 불규칙 형태 또는 임의의 적합한 다른 형태일 수 있다.
금속 나노입자(210a)의 평균입경은 미세 배선을 형성하기 위한 노즐을 통과하여 노즐의 막힘의 문제가 발생하지 않는 것이 바람직하다. 금속 나노입자의 평균입경은 500nm이하일 수 있고, 100nm이하인 것이 바람직하고, 5 내지 20nm인 것이 보다 바람직하다. 금속 나노입자의 평균입경에 따라 소성 온도를 결정할 수 있다.
금속 나노입자(210a)의 응집을 막기 위하여 금속 나노입자(210a)에 분산제(220)가 부착되어 있는데, 이에 의해 용매 내에 분산된 상태를 유지한다. 상기 분산제(220)는 금속 나노입자(210a)와 배위 결합을 형성하는 물질 또는 계면활성제일 수 있다. 금속원소와 배위 결합을 형성하는 물질로서는 아미노기, 티올기(- SH), 설판디일기(-S-), 하이드록시기(-OH), 옥시기(-O-), 카복실기(-COOH), 시아노기(-CN) 등의 질소, 유황, 산소원자 등이 갖는 고립 전자쌍을 갖는 물질을 들 수 있다. 예를 들면, 에탄올아민 등의 하이드록시아민류; 오레일아민, 폴리에틸렌이민, 또는 폴리비닐피롤리돈 등의 아민계화합물; 폴리비닐알콜 등의 알콜류; 알칸티올류, 디티올류, 에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜 또는 폴리에틸렌글리콜 등의 글리콜류; 폴리아크릴산, 폴리말레산, 폴리메틸메타크릴산, 폴리(아크릴산-코-메타크릴산), 폴리(말레산-코-아크릴산) 또는 폴리(아크릴아미드-코-아크릴산) 등의 다중산 및 카복시메틸셀룰로스 등을 사용할 수 있다. 또한, 계면활성제로서는 예를 들면, 비스(2-에틸헥실)설포석실산이나 도데실벤젠설폰산나트륨 등의 음이온성 계면활성제, 폴리알킬글리콜의 알킬에스테르나 알킬페닐에테르 등의 비이온성 계면활성제, 불소계계면활성제, 폴리에틸렌이민과 폴리에틸렌옥 사이드를 갖는 공중합체 등을 사용할 수 있다.
잉크 조성물의 용매(230)는 특별히 제한되지 않고, 수용성 용매 유기 용매 또는 비수용성 유기 용매를 사용할 수 있다. 수용성 용매로는 에탄올, 메탄올, 프로판올, 이소프로판올, 1-부탄올, 2-부탄올, 이소부탄올, 헥산올 또는 옥탄올 등의 알코올을 사용할 수 있다. 비수용성 용매로는 테트라데칸, 옥타데칸, 헵타데칸 또는 톨루엔 등의 하이드로 카본계를 사용할 수 있다.
금속 배선이 인쇄되는 기판(200)은 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면, 유 리, 폴리이미드, PET 필름, PEN 필름, 폴리카보네이트 등이 사용될 수 있다. 금속 나노입자를 이용하는 경우 저온 소성이 가능하여 기판은 특별히 제한되지 않는다.
상기 잉크 조성물을 이용한 인쇄 방법은 특별히 제한되지 않고, 예를 들면, 스크린 방식, 잉크젯 프린팅 방식, 그라비아 방식, 스프레이 코팅방식 또는 오프셋 인쇄방식을 이용할 수 있고, 미세 배선을 형성하기 위해서는 잉크젯 프린팅 방식을 이용하는 것이 바람직하다.
이 후, 진공 또는 비활성 분위기 하에서 1차 소성을 수행한다. 도 2(b)는 1차 소성과정을 도시한 것으로, 이를 참조하면, 1차 소성 단계는 용매(230) 및 분산제(220)가 반응할 수 있는 공기가 차단된 상태로 배선에서 이탈되지 않고, 잔류하게 된다. 이에 따라, 금속 입자(210b)의 결합이 억제된다. 즉, 금속 입자(210b) 간 결합을 막아주는 분산제(220)에 의하여 입자 성장이 억제된다. 비활성 분위기는 구체적으로, N2 또는 Ar 분위기일 수 있다.
1차 소성 후 진공 또는 비활성 분위기를 해제하여 2차 소성을 수행한다. 진공 또는 비활성 분위기의 해제에 따라 분산제(230)가 공기와 신속하게 반응하여 급격하게 배선으로부터 이탈되고, 이에 따라 비정상 입자성장이 진행된다. 도 2(c)는 2차 소성과정을 도시한 것으로, 이를 참조하면, 금속 나노입자(210c)는 비정상 입자성장에 따라 입자의 크기가 큰 조밀한 구조를 형성한다. 이러한 입자의 크기 가 큰 조립질 구조에 의하여 전기 신뢰도 및 기계적 특성이 향상된다. 또한 금속 나노입자 간의 연결부위가 작아 전류의 흐름(E)이 원활하게 된다.
1차 소성은 일정 시간 동안 온도를 상승시키며 진행될 수 있다. 즉, 추후 2차 소성에 적합한 온도에 도달하는 과정을 진공 또는 비활성 분위기로 제어하는 것으로 진행될 수 있다.
2차 소성은 금속 나노입자의 입경 및 기판의 특성을 고려하여 결정될 수 있으며, 본 발명에 따른 금속 배선의 형성방법은 저온 소성을 수행하여도 조립질 구조를 형성할 수 있다. 본 발명에 따라 형성된 금속 배선은 금속입자의 평균 입경이 마이크로 수준을 나타낼 수 있다.
또한 도시되지 않았으나, 2차 소성 단계 후에 5MPa 이상의 압력하에서 3차 소성을 수행할 수 있다. 이에 따라 소성 후의 금속입자의 크기는 보다 증가하고, 입자 간의 결합이 강화된다. 상기 3차 소성은 250℃이하에서 수행될 수 있다.
본 발명에 따른 금속 배선의 형성방법은 그 용도가 한정되지 않는다. 예를 들면, 양면 또는 다층의 경성회로 기판, 단면 또는 양면의 연성회로 기판, 경연서회로기판, 연성 다층기판 또는 세라믹 기판 등의 인쇄회로기판, IC-모듈, P-BGA, CSP, 강화 BGA 또는 FC-BGA 등의 반도체 실장용 경성기판, micro BAG, FBGA, TBGA 등의 반도체 실장용 연성기판, MCM-L 또는 MCM-C 등의 반도체 실장용 기판 등에 사용될 수 있다. 바람직하게는 폴리이미드 필름을 사용하는 배선기판의 제조에 사용 될 수 있다. 본 발명에 따라 형성된 금속 배선은 금속입자의 평균 입경이 마이크로 수준을 나타내어 전기적 및 기계적 특성이 우수하다.
[실시예 1]
은 나노입자(40wt%)를 포함하는 잉크를 사용하여, 잉크 젯 인쇄 방법으로 기판에 금속 배선을 인쇄하였다. 진공 오븐(Vacuum oven)에 인쇄 시편을 넣고, 진공을 유지하면서 3℃/min 의 승온 속도로 250℃까지 상승시켰다. 이후, 진공 오븐(Vacuum oven) 내로 공기를 투입하고, 250℃에서 약 2시간 소성하였다. 도 3은 실시예 1에서 얻어진 배선의 단면을 나타내는 SEM 사진이다. 이를 참조하면, 금속 나노입자는 조밀한 구조를 나타낸다. 막 내부에 분산제의 기화에 따른 공극이 존재하기는 하나, 연결되어 있지 않아 전기적, 기계적 성질에 미치는 영향은 크지 않다. 표면 저항측정기(4point probe)를 이용하여 면 저항을 측정한 후 두께를 측정하여 비저항 계산하였다. 비저항은 5.32μΩ·cm를 나타내었다.
[실시예 2]
상기 실시예 1에서 제조한 인쇄 시편에 대하여 5MPa 이상의 압력을 유지하면서, 250℃에서 약 30분간 소성하였다. 도 4는 실시예 2에 따른 배선의 상면을 나타내는 SEM사진으로, 도 4(a)는 소성 전의 사진이고, 도 4(b)는 소성 후의 사진이다. 이를 참조하면, 금속 나노입자의 크기는 증가하였고, 입자간 결합이 강화되었 다. 일본 공업규격(JIS)에 따라 연신율(elongation)을 측정하였다. 이의 결과 1.4%에서 2.8%로 연신율이 증가됨을 확인하였다.
[비교예]
은 나노입자(40wt%)를 포함하는 잉크를 사용하여, 잉크 젯 인쇄 방법으로 기판에 금속 배선을 인쇄하였다. 분위기 제어 없이, 250℃에서 약 2시간 소성하였다. 도 5는 비교예에서 얻어진 배선의 단면을 나타내는 SEM 사진이다. 이를 참조하면, 금속 나노입자는 입자의 크기가 작고, 다량의 공극을 포함한다. 다공성 구조에 의하여 전기 신뢰도 및 기계적 특성이 낮다. 표면 저항측정기(4point probe)를 이용하여 면 저항을 측정한 후 두께를 측정하여 비저항 계산하였다. 비저항은 3.71μΩ·cm를 나타내었다.
본 발명은 상술한 실시형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며, 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다.
도 1은 종래 방법에 따른 금속 배선의 형성과정을 개략적으로 도시한 것이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 금속 배선의 형성과정을 개략적으로 도시한 것이다.
도 3은 본 발명의 실시예 1에 따라 제조된 금속 배선의 단면을 나타내는 SEM사진이다.
도 4는 본 발명의 실시예 2에 따라 제조된 금속 배선의 상면을 나타내는 SEM사진이다.
도 5은 비교예에 따라 제조된 금속 배선의 단면을 나타내는 SEM사진이다.

Claims (10)

  1. 금속 나노입자 및 상기 금속 나노입자를 분산된 상태로 유지하기 위한 분산제를 포함하는 잉크 조성물로 배선을 인쇄하는 단계;
    진공 또는 비활성 분위기 하에서 상기 배선을 소성함으로써 입자 성장을 억제하는 1차 소성 단계; 및
    상기 진공 또는 비활성 분위기를 해제하여 상기 배선을 소성함으로써 입자 성장을 촉진하는 2차 소성 단계;
    를 포함하는 금속 배선의 형성방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 금속 나노입자는 금, 은, 동, 백금, 납, 인듐, 팔라듐, 로듐, 루테늄, 이리듐, 오스뮴, 텅스텐, 니켈, 탄탈, 비스무스, 주석, 아연, 티탄, 알루미늄, 코발트, 철 및 이들의 혼합물로 이루어진 군으로터 선택되는 도전성 재료인 것을 특징으로 하는 금속 배선의 형성방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 금속 나노입자는 평균 입경이 500nm 이하인 것을 특징으로 하는 금속 배선의 형성방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 분산제는 상기 금속 나노입자와 배위 결합을 형성하는 물질 또는 계면활성제인 것을 특징으로 하는 금속 배선의 형성방법.
  5. 제1항 있어서,
    상기 잉크 조성물로 배선을 인쇄하는 방법은 스크린 방식, 잉크젯 프린팅 방식, 그라비아 방식, 스프레이 코팅방식 또는 오프셋 인쇄방식인 것을 특징으로 하는 금속 배선의 형성방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 1차 소성은 2차 소성온도까지 승온하면서 수행되는 것을 특징으로 하는 금속 배선의 형성방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 2차 소성은 250℃이하에서 수행되는 것을 특징으로 하는 금속 배선의 형성방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 2차 소성 단계 후 5MPa 이상의 압력하에서 3차 소성을 하는 단계를 추가로 수행하는 것을 특징으로 하는 금속 배선의 형성방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 3차 소성은 250℃이하에서 수행되는 것을 특징으로 하는 금속 배선의 형성방법.
  10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항의 방법으로 형성된 금속 배선.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120049477A (ko) * 2010-11-09 2012-05-17 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 소자의 금속배선 형성방법

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8460428B2 (en) * 2009-04-30 2013-06-11 William Marsh Rice University Single-crystalline metal nanorings and methods for synthesis thereof
KR101134352B1 (ko) 2010-02-12 2012-04-09 서울대학교산학협력단 금속과 탄소나노튜브 복합재료 박막 형성방법 및 이를 이용하여 형성된 복합재료 박막
JP2012142551A (ja) * 2010-12-16 2012-07-26 Nisshin:Kk 加熱処理方法およびその装置
KR101118838B1 (ko) * 2010-12-29 2012-03-14 삼성전기주식회사 나노 금속 페이스트를 이용한 배선 및 전극의 형성 방법
CN104357791A (zh) * 2014-11-13 2015-02-18 常熟市星源金属涂层厂 一种防锈金属涂层
CN104357837A (zh) * 2014-11-13 2015-02-18 常熟市星源金属涂层厂 一种光亮金属涂层
JP6882689B2 (ja) * 2016-09-01 2021-06-02 Jsr株式会社 基材表面の選択的修飾方法及び組成物
US9865527B1 (en) 2016-12-22 2018-01-09 Texas Instruments Incorporated Packaged semiconductor device having nanoparticle adhesion layer patterned into zones of electrical conductance and insulation
US9941194B1 (en) 2017-02-21 2018-04-10 Texas Instruments Incorporated Packaged semiconductor device having patterned conductance dual-material nanoparticle adhesion layer

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3599950B2 (ja) * 1997-04-16 2004-12-08 株式会社アルバック 金属ペーストの焼成方法
JP3630920B2 (ja) * 1997-05-02 2005-03-23 株式会社アルバック 金属ペーストの焼成方法
JP4205393B2 (ja) 2002-09-26 2009-01-07 ハリマ化成株式会社 微細配線パターンの形成方法
WO2004103043A1 (ja) * 2003-05-16 2004-11-25 Harima Chemicals, Inc. 銅微粒子焼結体型の微細形状導電体の形成方法、該方法を応用した銅微細配線ならびに銅薄膜の形成方法
JP2006038999A (ja) * 2004-07-23 2006-02-09 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザ照射を用いた導電性回路形成方法と導電性回路
KR100753468B1 (ko) * 2005-03-11 2007-08-31 삼성전기주식회사 배선 재료, 배선 기판 및 배선 기판의 형성방법
KR100633846B1 (ko) 2005-03-23 2006-10-13 삼성전기주식회사 도전성 배선재료, 배선기판의 제조방법 및 배선기판
KR100833017B1 (ko) 2005-05-12 2008-05-27 주식회사 엘지화학 직접 패턴법을 이용한 고해상도 패턴형성방법
KR100735411B1 (ko) * 2005-12-07 2007-07-04 삼성전기주식회사 배선기판의 제조방법 및 배선기판
JP4593502B2 (ja) * 2006-03-27 2010-12-08 古河電気工業株式会社 金属酸化物粒子もしくは金属粒子の表面酸化被膜の還元焼成方法及び導電部品の形成方法
US7968008B2 (en) * 2006-08-03 2011-06-28 Fry's Metals, Inc. Particles and inks and films using them
JP2008176951A (ja) 2007-01-16 2008-07-31 Mitsubishi Chemicals Corp 銀系微粒子インクペースト

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120049477A (ko) * 2010-11-09 2012-05-17 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 소자의 금속배선 형성방법

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Publication number Publication date
JP4960993B2 (ja) 2012-06-27
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