KR20090106096A - 3차원 형상의 고속 형상측정장치 및 방법 - Google Patents
3차원 형상의 고속 형상측정장치 및 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20090106096A KR20090106096A KR1020080031602A KR20080031602A KR20090106096A KR 20090106096 A KR20090106096 A KR 20090106096A KR 1020080031602 A KR1020080031602 A KR 1020080031602A KR 20080031602 A KR20080031602 A KR 20080031602A KR 20090106096 A KR20090106096 A KR 20090106096A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- light
- time
- reference mirror
- piezoelectric actuator
- driver
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2441—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using interferometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/0209—Low-coherence interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/35—Mechanical variable delay line
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Claims (6)
- 간섭계를 이용한 3차원 물체의 형상측정장치에 있어서,광을 출사하는 광원부;상기 광원부의 광을 분광하는 분광기;상기 분광기에서 분광된 광을 기준광으로 반사하는 기준미러;상기 기준미러를 이동하도록 구동하는 구동기;상기 분광기에서 분광된 광 중 상기 물체를 통해서 반사된 반사광과 상기 기준광을 간섭시켜 복수개의 간섭무늬를 획득하는 촬상소자; 및상기 획득된 복수개의 간섭무늬로부터 상기 물체의 형상을 측정하고 상기 구동기에 기준미러구동신호를 출력하고 세틀링타임보다 상대적으로 짧은 영상캡처타임(도 4의 t2)에 영상캡처명령을 출력하도록 하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고속 형상측정장치.
- 제 1항에 있어서,상기 구동기는압전구동기인 것을 특징으로 하는 고속 형상측정장치.
- 제 1항에 있어서,상기 촬상소자는CCD카메라인 것을 특징으로 하는 고속 형상측정장치.
- 제 2항에 있어서,상기 영상캡처타임은상기 압전구동기가 구동된 후 맥시멈오버슈트가 발생하기 이전에 안정상태(ds)구간에 도달한 시점인 것을 특징으로 하는 고속 형상측정장치.
- 압전구동기로 기준미러를 구동시켜 기준광을 획득하는 간섭계를 이용한 3차원 물체의 형상측정방법에 있어서,광원으로부터 광을 출사하는 단계;상기 출사된 광을 분광하여 기준광과 상기 물체로부터 반사된 반사광으로 분리하는 단계; 및상기 기준광과 반사광을 간섭시켜 복수개의 간섭무늬를 획득하는 단계를 포함하며,상기 간섭무늬 획득단계는상기 기준미러를 이동시키는 상기 압전구동기의 구동시간을 세틀링타임보다 상대적으로 짧게 하여 영상캡처명령을 출력하는 단계를 반복수행하여 복수개의 간섭무늬 를 획득하는 것을 특징으로 하는 고속 형상측정방법.
- 제 5항에 있어서,상기 영상캡처명령은상기 압전구동기가 구동된 후 맥시멈오버슈트가 발생하기 이전에 최초로 안정상태(ds)구간에 도달한 시점에서 출력하는 것을 특징으로 하는 고속 형상측정방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080031602A KR100956853B1 (ko) | 2008-04-04 | 2008-04-04 | 3차원 형상의 고속 형상측정장치 및 방법 |
US12/388,336 US7859683B2 (en) | 2008-04-04 | 2009-02-18 | Fast three-dimensional shape measuring apparatus and method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080031602A KR100956853B1 (ko) | 2008-04-04 | 2008-04-04 | 3차원 형상의 고속 형상측정장치 및 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090106096A true KR20090106096A (ko) | 2009-10-08 |
KR100956853B1 KR100956853B1 (ko) | 2010-05-11 |
Family
ID=41132968
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080031602A KR100956853B1 (ko) | 2008-04-04 | 2008-04-04 | 3차원 형상의 고속 형상측정장치 및 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7859683B2 (ko) |
KR (1) | KR100956853B1 (ko) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100956853B1 (ko) * | 2008-04-04 | 2010-05-11 | 선문대학교 산학협력단 | 3차원 형상의 고속 형상측정장치 및 방법 |
JP5430472B2 (ja) * | 2009-10-01 | 2014-02-26 | キヤノン株式会社 | 面形状計測装置 |
JP5486379B2 (ja) * | 2009-10-01 | 2014-05-07 | キヤノン株式会社 | 面形状計測装置 |
CN103528542B (zh) * | 2013-10-08 | 2016-05-25 | 天津大学 | 一种内调制光纤干涉条纹投射实时三维形貌测量系统 |
CN110332907B (zh) * | 2019-08-19 | 2021-04-13 | 珠海博明视觉科技有限公司 | 一种提高面条纹光重建精度的方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6010104A (ja) | 1983-06-30 | 1985-01-19 | Toshiba Corp | 欠陥検査装置 |
JPS6475905A (en) * | 1987-09-18 | 1989-03-22 | Ricoh Kk | Minute angle measuring machine |
KR0173509B1 (ko) * | 1995-03-28 | 1999-05-01 | 김용숙 | 광위상 간섭계 및 그를 이용한 표면측정방법 |
US5589938A (en) * | 1995-07-10 | 1996-12-31 | Zygo Corporation | Method and apparatus for optical interferometric measurements with reduced sensitivity to vibration |
US6856405B2 (en) * | 2003-03-03 | 2005-02-15 | Phase Shift Technology, Inc. | Non linear phase shift calibration for interferometric measurement of multiple surfaces |
US7595891B2 (en) * | 2005-07-09 | 2009-09-29 | Kla-Tencor Corporation | Measurement of the top surface of an object with/without transparent thin films in white light interferometry |
KR100740249B1 (ko) * | 2005-10-19 | 2007-07-18 | (주) 인텍플러스 | 영상 측정 장치 및 그 방법 |
KR20080032680A (ko) * | 2006-10-09 | 2008-04-16 | 선문대학교 산학협력단 | 광학시스템 및 그 광학시스템에서 얻은 영상을 이용한입체형상측정방법 |
KR100956853B1 (ko) * | 2008-04-04 | 2010-05-11 | 선문대학교 산학협력단 | 3차원 형상의 고속 형상측정장치 및 방법 |
-
2008
- 2008-04-04 KR KR1020080031602A patent/KR100956853B1/ko active IP Right Grant
-
2009
- 2009-02-18 US US12/388,336 patent/US7859683B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100956853B1 (ko) | 2010-05-11 |
US20090251708A1 (en) | 2009-10-08 |
US7859683B2 (en) | 2010-12-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20230392920A1 (en) | Multiple channel locating | |
US6992779B2 (en) | Interferometer apparatus for both low and high coherence measurement and method thereof | |
JP5341351B2 (ja) | 共焦点顕微鏡システムの基本原理に基づく測定装置及び方法 | |
US20080002183A1 (en) | Multiplexing Spectrum Interference Optical Coherence Tomography | |
TWI636231B (zh) | 物體表面或內部光反射介面三維形貌偵測光學系統與方法 | |
CN110095079A (zh) | 共焦形貌测量系统及共焦形貌侦测方法 | |
KR100956853B1 (ko) | 3차원 형상의 고속 형상측정장치 및 방법 | |
KR100740249B1 (ko) | 영상 측정 장치 및 그 방법 | |
CN107121084B (zh) | 测量方法和测量程序 | |
KR101103323B1 (ko) | 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법 및 시스템 | |
JP4447970B2 (ja) | 物体情報生成装置および撮像装置 | |
JP5033501B2 (ja) | 物体の光学的測定を行うための走査型顕微鏡 | |
JP2010112865A (ja) | 白色干渉計測装置及び方法 | |
KR100956854B1 (ko) | 3차원 형상의 초고속 형상측정장치 및 방법 | |
JP2007093288A (ja) | 光計測装置及び光計測方法 | |
JP5590942B2 (ja) | 撮影装置及び光干渉撮影システム、プログラム及び撮影装置の調整方法 | |
La Torre et al. | Smart optical shape sensor using electronically controlled lens and laser line illumination scanning | |
KR20120114778A (ko) | 가간섭 특성을 이용한 3차원 측정장치 및 그 측정방법 | |
JP2010139326A (ja) | 観察装置および観察方法 | |
JP2001099624A (ja) | 干渉縞測定解析方法 | |
JP2020153992A (ja) | 白色干渉計による形状測定装置 | |
TW202235815A (zh) | 測量裝置 | |
JPH0619254B2 (ja) | 縞走査式位相干渉計 | |
JP2003172656A (ja) | 干渉計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130516 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140530 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150528 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160425 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170308 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200309 Year of fee payment: 11 |