KR20090095482A - 주화 식별 장치 - Google Patents

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다카아키 나카자와
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로렐세이키 가부시키가이샤
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Abstract

본 발명에 따른 주화 식별 장치는 링 부분 및 링 부분의 내측에 제공되고 링 부분의 재료와 상이한 재료로 이루어진 코어 부분을 가진 바이메탈 주화를 식별하는 것으로서: 바이메탈 주화를 이송시키는 콘베이어; 콘베이어에 의해 이송되는 바이메탈 주화의 링 부분만이 통과되는 위치에 배치되고 자기 특성들을 검출하는 링 센서; 및 콘베이어에 의해 이송되는 바이메탈 주화의 코어 부분이 통과되는 위치에 배치되고 자기 특성들을 검출하는 코어 센서;를 구비한다.
바이메탈 주화, 콘베이어, 링 센서

Description

주화 식별 장치{Coin discrimination apparatus}
본 발명은 바이메탈 주화의 식별을 수행하는 주화 식별 장치에 관한 것이다.
본 발명은 일본 특허 출원 제 2008-054844 호 (2008.3.5. 출원)의 우선권을 주장하며, 그 내용은 본원에 참고로서 포함된다.
일본의 무심사 특허 출원 제 1 공개 2007-48201 은 바이메탈 주화의 식별을 수행하는 주화 식별 장치에 관한 기술을 개시한다. 이러한 주화 식별 장치는 고주파수 및 저주파수에서 진동-측 코일의 진동을 야기하며, 주화 재료를 검출하고 수신 측 코일의 출력 신호들의 고주파수 성분들 및 저주파수 성분들의 변화에 기초하여 코인이 바이메탈인지의 여부를 검출한다. 더욱이, 이러한 주화 식별 장치는 진동 측 코일의 고 주파수 측에서의 진동 주파수 변화 및 저 주파수 측에서의 진동 주파수 변화에 기초하여 주화의 두께를 검출한다.
바이메탈 주화의 발생 배경의 목적들중 하나는 위조를 방지하기 위한 것이지만, 바이메탈 주화 유형의 위조 주화들이 최근에 많이 발견되고 있다. 통상적인 주화 식별 장치를 가지고는 그러한 위조 주화들을 식별할 수 없을 가능성이 있다.
본 발명의 목적은 바이메탈 주화 유형의 위조 주화들을 식별할 수 있는 주화 식별 장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 주화 식별 장치가 제공되는데, 이것은 링 부분 및, 링 부분의 내측에 제공되어 링 부분의 재료와 상이한 재료로 이루어지는 코어 부분을 가진 바이메탈 주화를 식별하는 것으로서, 바이메탈 주화를 이송하는 콘베이어; 콘베이어에 의해 이송되는 바이메탈 주화의 링 부분만이 통과되는 위치에 배치되어 자기 특성들을 검출하는 링 센서; 및, 콘베이어에 의해 이송되는 바이메탈 주화의 코어 부분이 통과되는 위치에 배치되어 자기 특성들을 검출하는 코어 센서;를 구비한다.
이러한 구성에 따르면, 콘베이어에 의해 이송되는 바이메탈 주화의 링 부분만이 통과되는 위치에 배치되어 자기 특성들을 검출하는 링 센서 및, 콘베이어에 의해 이송되는 바이메탈 주화의 코어 부분이 통과되는 위치에 배치되어 자기 특성들을 검출하는 코어 센서가 별도로 제공된다. 결과적으로, 오직 링 부분에 대한 위치에서의 자기 특성들을 검출할 수 있고, 코어 부분에 대한 위치에서의 자기 특성들을 검출할 수 있어서, 바이메탈 주화 유형의 위조 주화의 식별이 가능해진다.
본 발명의 주화 식별 장치에서, 링 센서의 송신 센서의 폭은 링 부분의 폭보다 작을 수 있다.
이러한 구성에 따라서, 링 센서의 송신 센서의 폭은 링 부분의 폭보다 작다. 결국, 상기 송신 센서의 여기(excitation)에 의해 링 부분에서 발생된 에디 전류(eddy current)는 코어 부분에 도달하는 것이 억제된다. 따라서, 코어 센서로 연장되는 링 센서의 송신 센서의 여기(excitation)에 의한 효과를 완화시킬 수 있으므로, 코어 부분의 자기 특성들은 만족스럽게 검출될 수 있다.
본 발명의 주화 식별 장치에서, 링 센서의 송신 센서는 포트 코어(pot core) 유형의 센서일 수 있다.
이러한 구성에 따라서, 링 센서의 송신 센서는 포트 코어 유형의 센서이다. 결과적으로, 상기 송신 센서에 의해 방사되는 자기 플럭스는 작은 지점(small spot)의 형태로 링 부분에 도달하도록 만들어질 수 있다. 따라서, 링 부분의 자기 특성들은 만족스럽게 검출될 수 있다.
본 발명의 주화 식별 장치에서, 링 센서의 송신 센서는 콘베이어의 이송 방향에 직각인 방향으로 링 부분의 한쪽 부분의 중간 부분이 통과되는 위치에 배치될 수 있고, 링 센서의 수신 센서는 이송 방향에 직각인 방향에서 송신 센서에 대하여 코어 부분의 대향측에 배치될 수 있다.
이러한 구성에 따라서, 링 센서의 송신 센서는 콘베이어의 이송 방향에 직각인 방향에서 링 부분의 한쪽 부분의 중간 부분이 통과되는 위치에 배치되고, 링 센서의 수신 센서는 이송 방향에 직각인 방향에서 송신 센서에 대하여 코어 부분의 대향측상에 배치된다. 결과적으로, 코어 부분에 의해 방사된 자기 플럭스의 효과를 받는 것이 억제되며, 그에 의해서 링 부분의 자기 특성들의 만족스러운 검출이 가능해진다.
본 발명의 일 구현예에 따른 주화 식별 장치는 도면을 참조하여 아래에 설명될 것이다.
본 발명의 구현예의 주화 식별 장치는 도 1a 에 도시된 바이메탈 주화(BC1) 및 도 1b 에 도시된 바이메탈 주화(BC2)와 관련된 식별을 수행한다. 바이메탈 주화(BC1)는 클래드 구조(clad structure)를 가지며, 링 부분(R1), 코어 부분(C1) 및 한쌍의 표면 층(S1 및 S2)들에 의해 형성된다. 링 부분(R1)은 환상체의 형상을 가지고, 하나의 재료의 합금으로 이루어진다. 코어 부분(C1)은 원반 형상을 가지며, 링 부분(R1)의 재료와 상이한 다른 재료의 합금으로 이루어지고, 링 부분(R1)의 반경 방향으로 내측에서 두께 방향의 중심에만 제공된다. 한쌍의 표면층(S1 및 S2)들은 코어 부분(C1)의 두께 방향에서 양쪽에 제공되며, 링 부분(R1)과 같은 재료의 합금으로 이루어지고, 링 부분(R1)에 대한 계면 경계부(interfacial boundaries) 없이 형성된다. 바이메탈 주화(BC2)는 오직 링 부분(R2) 및 코어 부분(C2)에 의해서 형성된다. 링 부분(R2)은 원반 형상을 가지고, 하나의 재료의 합금으로 이루어진다. 코어 부분(C2)은 링 부분(R2)의 재료와는 상이한 다른 재료의 합금으로 이루어지며, 링 부분(R2)의 반경 방향에서 내측상에 제공된다. 아래의 설명은 코어 부분(C1)이 내부에 함입되어 있는 도 1a 에 도시된 클래드 구조를 가진 바이메탈 코인(BC1)과 관련하여 식별이 수행되는 경우의 예에 관한 것이다. 다음의 설명에서, 한쌍의 표면 층(S1)들과 관련하여, 검출시에 상부에 있는 것은 상부 표면 층(S1)으로 지칭되는 반면에, 검출시에 아래에 있는 다른 것은 하부 표면층(S2)으로서 지칭된다.
본 발명의 구현예의 주화 식별 장치(11)는, 주화 수용기, 주화 수용기/분배기등과 같은 주화 처리 장비와 결합된다. 도면에 도시되지 않았을지라도, 주화 처리 장비는 외측으로부터 수용 개구 안으로 놓여지는 흩어진 주화들을 개별의 주화들로 분리하고, 주화들을 이송시키고, 필요에 따라 저장한다. 도 2a 및 도 2b 에 도시된 바와 같이, 주화 식별 장치(11)는 주화들을 하나씩 이송하는 콘베이어(15)를 포함한다.
이러한 콘베이어(15)는 콘베이어 경로(16), 한쌍의 콘베이어 안내부(17) 및 콘베이어 벨트(18)를 가진다. 콘베이어 경로(16)는 엷은 조각의 형상을 가지고, 평탄한 콘베이어 면(16a)을 구성하는데, 상기 콘베이어 면의 상부면은 측방향으로 연장되고, 콘베이어 면은 바이메탈 주화(BC1)의 저부면을 이끌고 간다. 2 개의 콘베이어 안내부(17)들은 각각 콘베이어 면(16a)에서 측방향으로 2 개의 측부들상에 각각 배치된다. 콘베이어 벨트(18)는 미리 정해진 간격을 열기 위하여 콘베이어 면(16a)의 상부 측에 배치되고, 이송 방향에서 하류측을 향하여 콘베이어 안내부(17)들중 하나에 더 가깝게 유인되도록 경사진다. 콘베이어 벨트(18)의 경사에 기인하여, 콘베이어(15)는, 측방향에서 일 측부의 콘베이어 안내부(17)를 따라서 수직으로 연장되는 안내 벽면(17a)과 바이메탈 주화가 항상 접촉하도록, 바이메탈 주화(BC1)를 이송시킨다. 간단히 이야기하면, 콘베이어(15)는 한쪽으로 편향된 이 송을 수행하며, 여기에서 바이메탈 주화(BC1)는 그것이 측방향의 측부들중 하나를 향하여 유인되는 상태로 이송되는 것이다.
주화 식별 장치(11)는 링 센서(21) 및 코어 센서(22)를 가진다. 링 센서(21)는 바이메탈 주화(BC1)의 링 부분(R1) 측의 자기 특성을 검출한다. 콘베이어(15)에 의해서 수행된 일방적으로 편향된 이송의 범위내에서, 평면에서 바이메탈 주화(BC1)의 링 부분(R1)만이 통과되는 위치에 링 센서(21)가 배치되는데, 상기 바이메탈 주화는 측방향에서의 주화 위치가 안내 벽면(17a)에 의해서 정해지도록 움직인다. 코어 센서(22)는 바이메탈 주화(BC1)의 코어 부분(C1) 측의 자기 특성을 검출한다. 코어 센서(22)는 평면에서 바이메탈 주화(BC1)의 코어 부분(C1) 및 2 개의 표면층(S1,S2)만이 통과되는 위치에 배치되는데, 바이메탈 주화는 측방향에서의 주화 위치가 안내 벽면(17a)에 의해 정해지도록 움직인다.
링 센서(21)는 송신 센서(21A) 및 수신 센서(21B)를 가진다. 송신 센서(21A)는 콘베이어 면(16a)의 하부측에 배치되며, 진동한다. 콘베이어 면(16a)의 상부측에서, 수신 센서(21B)는 바이메탈 주화(BC1)를 개재시키면서 송신 센서(21A)에 대향되게 배치되며, 신호를 수신한다. 송신 센서(21A) 및 수신 센서(21B)는 콘베이어(15)의 이송 방향으로 위치들이 정렬되어 배치된다.
링 센서(21)의 송신 센서(21A)의 직경은, 송신 센서(21A)의 여기에 의해 링 부분(R1)에서 발생되는 가능한 한 많은 에디 전류(eddy current)가 코어 부분(C1), 상부 표면층(S1) 및 하부 표면층(S2)에 도달하는 것이 방지되도록 하기 위하여, 바이메탈 주화(BC1)의 링 부분(R1)의 한쪽 부분의 반경 방향에서의 폭보다 작게 형성 된다. 이러한 송신 센서(21A)로서, 소형 포트 코어 센서(pot core sensor)가 채용됨으로써 방사된 자기 플럭스는 소형 지점(small spot)의 형태로 링 부분(R1)에 도달한다. 안내 벽면(17a)으로부터 송신 센서(21A) 까지의 거리는, 안내 벽면(17a)으로부터 안내 벽면(17a)과 접촉하는 바이메탈 주화(BC1)의 링 부분(R1)의 일부의 폭의 중심 위치까지의 거리와 대략 맞도록 설정된다. 결과적으로, 평면도에서, 링 센서(21)의 송신 센서(21A)는, 콘베이어 면(16a)을 따라 콘베이어(15)의 이송 방향에 직각인 방향으로 안내 벽면(17a)에 의해 안내되어 이송되는 바이메탈 주화(BC1)의 링 부분(R1)의 한쪽 부분의 중간 부분이 확실하게 통과되는 위치에 배치된다.
링 센서(21)의 수신 센서(21B)의 직경은 바이메탈 주화(BC1)의 링 부분(R1)의 한쪽 부분의 반경 방향 폭 보다 작게 형성됨으로써 코어 부분(C1), 상부 표면층(S1) 및 하부 표면층(S2)으로부터 방사된 자기 플럭스의 효과를 유지하지 않는다. 링 센서(21)의 수신 센서(21B)의 중심은 안내 벽면(17a)의 위치에 배치된다. 결과적으로, 평면도에서, 링 센서(21)의 수신 센서(21B)는 콘베이어 면(16a)을 따라서 콘베이어(15)의 이송 방향에 직각인 방향에서 송신 센서(21A)에 대하여 코어 부분(C1)의 대향 측에 배치된다. 평면도에서 링 센서(21)의 수신 센서(21B)의 위치를 송신 센서(21A)와 정렬하는 것도 허용될 수 있다. 바이메탈 주화(BC1)의 링 부분(R1)에 대하여 이용되는 링 센서(21)의 정상적인 여기 주파수와 관련하여, 수 10 KHz 내지 수 100 KHz 가 바람직스럽다. 또한 송신 센서(21A)에 의해 방사되는 자기 플럭스가 코어 부분(C1), 상부 표면 층(S1) 및 하부 표면 층(S2)에 도달하기 위하여 충분히 작은 지점을 가진다면 반사 자기 센서를 링 센서(21)로서 이용하는 것도 가능하다.
코어 센서(22)는 코어 내부층 센서(22A), 코어 상부 표면층 센서(22B) 및 코어 하부 표면층 센서(22C)를 가진다. 코어 내부층 센서(22A)는 콘베이어 면(16a)의 하부측에 배치된다. 코어 상부 표면층 센서(22B)는 콘베이어 면(16a)의 상부측에 배치된다. 코어 하부 표면층 센서(22C)는 콘베이어 면(16a)의 하부측에 배치된다.
안내 벽면(17a)으로부터 코어 내부층 센서(22A)까지의 거리는, 안내 벽면(17a)으로부터 안내 벽면(17a)과 접촉하는 바이메탈 주화(BC1)의 코어 부분(C1)의 중심 위치까지의 거리와 대략 맞도록 설정된다. 결과적으로, 평면도에서, 코어 내부층 센서(22A)는, 안내 벽면(17a)에 의한 안내로써 이송되는 바이메탈 주화(BC1)의 코어 부분(C1)의 중간 부분에 의해 확실하게 통과되는 지점에 배치된다. 콘베이어(15)의 이송 방향에서 코어 내부층 센서(22A)의 위치는 링 센서(21)의 송신 센서(21A) 및 수신 센서(21B)와 정렬된다.
이러한 코어 내부층 센서(22A)는 반사 자기 센서이며, 바이메탈 주화(BC1) 내부에서 발생되는 에디 전류(eddy current)가 코어 부분(C1)을 구성하는 합금에 완전히 도달하는 주파수 레벨로 여기된다. 코어 내부층 센서(22A)는 바이메탈 주화(BC1)가 위로부터 그것에 접근할 때 인덕턴스(inductance)의 변화를 측정함으로써 코어 부분(C1)의 자기 특성들을 식별한다. 바이메탈 주화(BC1)의 코어 부분(C1)을 위해 이용되는 주화 내부층 센서(22A)를 위한 통상적인 여기 주파수는 수 10 KHz 내지 수 100 KHz 인 것이 바람직스럽다. 또한 반사 자기 코어 대신에, 투과 자기 센서로써 코어 내부층 센서(22A)를 구성하는 것도 허용된다.
코어 상부 표면층 센서(22B) 및 코어 하부 표면층 센서(22C)는, 그들의 위치들이 콘베이어(15)의 이송 방향으로 상호 정렬되도록, 그리고 그들의 위치들이 콘베이어 면(16a)을 따라서 콘베이어(15)의 이송 방향에 직각인 방향으로 정렬되도록 배치된다. 안내 벽면(17a)으로부터의 코어 상부 표면층 센서(22B) 및 코어 하부 표면층 센서(22C)의 거리는, 안내 벽면(17a)에 접촉하는 바이메탈 주화(BC1)의 중간 위치에 대략 거리를 맞추도록 설정된다. 결과적으로, 평면도에서, 코어 상부 표면층 센서(22B) 및 코어 하부 표면층 센서(22C)는, 콘베이어 면(16a)을 따라서 콘베이어(15)의 이송 방향에 직각인 방향으로 안내 벽면(17a)에 의한 안내로써 이송되는 바이메탈 주화(BC1)의 상부 표면층(S1) 및 하부 표면층(S2)의 중간 부분들이 확실하게 통과되는 위치들에 배치된다. 코어 상부 표면층 센서(22B) 및 코어 하부 표면층 센서(22C)는 코어 내부층 센서(22A) 보다 콘베이어(15)의 이송 방향에서 더 멀리 하류측을 향하여 배치된다.
코어 상부 표면층 센서(22B) 및 코어 하부 표면층 센서(22C)는 반사 자기 센서들이다. 코어 상부 표면층 센서(22B)는 바이메탈 주화(BC1)의 내부에 발생되는 에디 전류가 상부 표면층(S1)을 구성하는 합금에만 도달하는 주파수 레벨로 여기된다. 코어 상부 표면층 센서(22B)는 바이메탈 주화(BC1)가 아래로부터 그것에 접근하였을 때 인덕턴스 변화를 측정함으로써 상부 표면층(S1)의 자기 특성들을 식별한다. 코어 하부 표면층 센서(22C)는 바이메탈 주화(BC1) 내부에서 발생되는 에디 전류가 하부 표면층(S2)을 구성하는 합금에만 도달하는 주파수 레벨로 여기된다. 코어 하부 표면층 센서(22C)는 바이메탈 주화(BC1)가 위로부터 그것에 접근할 때 인 덕턴스 변화를 측정함으로써 하부 표면층(S2)의 자기 특성들을 식별한다. 바이메탈 주화(BC1)의 상부 표면층(S1) 및 하부 표면층(S2)을 위해 이용되는 코어 상부 표면층 센서(22B) 및 코어 하부 표면층 센서(22C)의 정상적인 여기 주파수는 수 10 KHz 내지 수 100 KHz 인 것이 바람직스럽다. 코어 상부 표면층 센서(22B) 및 코어 하부 표면 층 센서(22C)는 대응하는 상부 표면층(S1) 및 하부 표면층(S2)의 직경보다 작게 만들어지고, 링 부분(R1)으로부터 아무런 효과들이 유지되지 않는 크기가 주어진다.
상기 언급된 코어 내부층 센서(22A), 링 센서(21), 코어 상부 표면층 센서(22B) 및 코어 하부 표면층 센서(22C)에 의한 검출을 수행하기 위하여, 도 3 에 도시된 바와 같이, 코인 식별 장치(11)는: 기준 클록(reference clock) 발생기(25); 코어 내부층 센서(22A)를 위한 증폭기(28), 전류 증폭기(27) 및 파형 형성기(waveform shaper, 26); 코어 하부 표면층 센서(22C) 및 코어 상부 표면층 센서(22B)를 위한 파형 형성기(29); 코어 하부 표면층 센서(22C)를 위한 전류 증폭기(30) 및 증폭기(31); 코어 상부 표면층 센서(22B)를 위한 증폭기(34) 및 전류 증폭기(33); 링 센서(21)의 송신 센서(21A)를 위한 전류 증폭기(36) 및 파형 형성기(35); 링 센서(21)의 수신 센서(21B)를 위한 증폭기(37); 증폭기(28,31,34 및 37)들에 연결된 A/D 변환기(38); 및 콘트롤러(40)를 포함한다.
주화의 통과시에, 콘트롤러(40)는 예를 들면 코어 내부층 센서(22A), 코어 상부 표면층 센서(22B), 코어 하부 표면층 센서(22C) 및 링 센서(21)의 수신 센서(21B)에 의해 각각 검출된 개별의 자기 특성들과 미리 설정된 허용 오차 범위를 비교한다. 모든 자기 특성들이 허용 오차 범위내에 있는 것으로 콘트롤러(40)가 판정한 경우에, 주화는 진정한 바이메탈 주화(BC1)인 것으로 판정이 이루어진다. 다른 한편으로, 그 어떤 자기 특성이라도 허용 오차 범위로부터 벗어나는 경우, 콘트롤러(40)는 주화가 진정한 바이메탈 주화(BC1)가 아닌 것으로 판정한다.
상기 설명된 제 1 구현예의 주화 식별 장치(11)에 따라서, 링 센서(21) 및 코어 센서(22)가 별도로 제공되는데, 링 센서는 콘베이어(15)에 의해 이송되는 바이메탈 주화(BC1)의 링 부분(R1)만이 통과되는 위치에 배치되어 자기 특성들을 검출하고, 코어 센서는 콘베이어(15)에 의해 이송되는 바이메탈 주화(BC1)의 코어 부분(C1)이 통과되는 위치에 배치되어 자기 특성들을 검출한다. 이러한 구성에 따라서, 오직 링 부분(R1)에 관련된 위치에서의 자기 특성들 및 코어 부분(C1)에 관련된 위치에서의 자기 특성들을 검출하는 것이 가능하고, 그에 의해서 바이메탈 주화 유형의 위조 주화 식별이 가능하다.
더욱이, 링 센서(21)의 송신 센서(21A)의 폭은 링 부분(R1)의 폭 보다 작다. 이러한 구성에 따라서, 링 센서(21)의 송신 센서(21A)의 여기에 의하여 링 부분(R1)에서 발생되는 에디 전류가 코어 부분(C1)에 도달하는 것을 억제할 수 있다. 따라서, 코어 센서(22)로 연장되는 링 센서(21)의 송신 센서(21A)의 여기에 의한 효과를 완화시키는 것이 가능하므로, 코어 부분(C1)의 자기 특성들은 만족스럽게 검출될 수 있다.
더욱이, 링 센서(21)의 송신 센서(21A)는 포트 코어 센서(pot core sensor)이다. 이러한 구성에 따라서, 링 센서(21)의 송신 센서(21A)로부터 여기되는 자기 플럭스가 작은 지점(small spot)의 형태로 링 부분(R1)에 도달하게 하는 것이 가능하다. 따라서, 링 부분(R1)의 자기 특성들은 만족스럽게 검출될 수 있다.
더욱이, 링 센서(21)의 송신 센서(21A)는 콘베이어(15)의 이송 방향에 직각인 방향에서 링 부분(R1)의 한쪽 부분의 중간 부분이 통과하는 위치에 배치되고, 링 센서(21)의 수신 센서(21B)는 이송 방향에 직각인 방향에서 송신 센서(21A)에 대하여 코어 부분(C1)의 대향측에 배치된다. 이러한 구성에 따라서, 코어 부분(C1)으로부터 방사된 자기 플럭스의 효과를 받는 것이 억제된다. 결국, 링 부분(R1)의 자기 특성을 만족스럽게 검출하는 것이 가능하다.
도 4 는 바이메탈 주화(BC1)의 상부 표면층(S1), 하부 표면층(S2) 및 코어 부분(C1) 없이 오직 링 부분(R1)만을 가지는 주화 및, 바이메탈 주화(BC1)를 이용하여, 출력이 링 센서(21)의 수신 센서(21B)의 위치에 따라 어떻게 변화되는가를 비교한 결과이다. 도 4 의 수평축은 수신 센서(21B)의 위치를 도시한다. O 의 위치는 수신 센서(21B)의 중심 및 송신 센서(21A)의 중심이 같은 축에 위치되는 것을 나타낸다. + 방향은 수신 센서(21B)가 송신 센서(21A)에 대하여 코어 부분(C1)의 대향측에 위치되는 것을 나타낸다. - 방향은 수신 센서(21B)가 송신 센서(21A)에 대하여 코어 부분(C1) 측에 위치되는 것을 나타낸다. 도 4 의 수직 축에 의해 도시된 링 센서(21)의 출력은 자기 플럭스의 양을 나타내는데, 자기 플럭스는 송신 센서(21A)의 여기에 의해 주화 내부에 발생된 에디 전류에 의해 발생되고, 주화를 통해 송신되어 수신 센서(21B)에 도달한다. 도 4 에서 명확한 바와 같이, 송신 센서(21A)의 중심 및 수신 센서(21B)의 중심이 같은 축에 위치될 때(수평 축의 위치 가 0 일 때), 실선에 의해 표시된 바이메탈 주화(BC1)의 측정으로부터 얻어진 출력은, 오직 링 부분(R1)만을 가진 주화를 측정함으로써 얻어진, 파선에 의해 표시된 출력과 상이하다. 이것은 링 센서(21)가 상부 표면층(S1), 하부 표면층(S2) 및 코어 부분(C1)으로부터 방사된 자기 플럭스의 효과들을 유지하기 때문이다. 대조적으로, 링 수신 센서(21B)의 위치가 + 방향으로 미리 정해진 값에서 벗어나거나 또는 그 값보다 위에 있을 때, 바이메탈 주화(BC1)의 자기 특성 및 링 부분(R1)만을 가진 주화의 자기 특성이 일치한다는 점음 명백하다. 요약하면, 송신 센서(21A)에 대하여 코어 부분(C1)의 대향측에 링 센서(21)의 수신 센서(21B)를 배치하는 것이 명백히 우수하다. 수신 센서(21B)의 최적 위치는 개별 센서들의 형상 및, 주화의 위치에 대한 송신 센서(21A)의 배치와 상호 관련되므로, 수신 센서(21B)의 최적 위치는 개별 센서들의 형상 및 배치에 따라서 선택된다.
상기에서, 바이메탈 주화(BC1)가 일방적으로 편향된 방식으로 이송되는 중에 식별이 수행되는 경우에 대한 설명이 이루어졌다. 그러나, 바이메탈 주화(BC1)가 콘베이어 안내부(17)들의 측방향의 쌍(pair) 사이에서 움직이게 하는 것도 허용될 수 있다. 이러한 경우에, 도 5a 및 도 5b 에 도시된 바와 같이, 링 센서(21)는 상호 보완 센서들로부터 구성되는데, 상호 보완 센서(complementary sensor)들은 측방향의 대칭적인 쌍으로서 제공된다. 이러한 측방향 링 센서(21)들의 출력이 함께 더해진다면, 링 부분(R1)의 자기 특성들을 안정적으로 얻는 것이 가능하다.
또한 주화 식별 장치(11)를, 바이메탈 주화(BC1)의 직경을 검출하는 직경 센서, 바이메탈 주화(BC1)의 전면 또는 배면 이미지를 검출하는 이미지 센서, 바이메 탈 주화(BC1)의 원주면상의 톱니들과 같은 새김(engraving)을 검출하는 새김 센서등과 결합하는 것도 허용될 수 있다.
도 1b 에 도시된 링 부분(R2)의 내측에 있는 코어 부분(C2)만이 제공된 바이메탈 주화(BC2)의 식별을 수행할 때, 상기 언급된 코어 센서(22)에 코어 상부 표면층 센서(22B) 및 코어 하부 표면층 센서(22C)를 구비하는 것은 불필요하다.
본 발명의 바람직한 구현예들이 설명되고 도시되었지만, 이들은 본 발명의 예시적인 것이며 본 발명을 제한하는 것으로 간주되어서는 아니된다는 점이 이해되어야 한다. 본 발명의 사상 또는 범위로부터 벗어남이 없이, 추가, 생략, 대체 및 다른 변형들이 이루어질 수 있다. 따라서, 본 발명은 전기한 설명에 의해 제한되는 것으로 간주되지 않으며, 첨부된 청구항에 의해서만 제한된다.
도 1a 및 도 1b 는 본 발명의 일 구현예에 따른 주화 식별 장치에 의해 식별될 수 있는 바이메탈 주화의 2 가지 유형들을 도시하는 단면도이다.
도 2a 는 본 발명의 구현예에 따른 주화 식별 장치를 도시하는 평면도이다.
도 2b 는 본 발명의 구현예에 따른 주화 식별 장치를 도시하는 단면도이다.
도 3 은 본 발명의 구현예에 따른 주화 식별 장치를 도시하는 제어 시스템 블록 다이어그램이다.
도 4 는 본 발명의 구현예에 따른 주화 식별 장치에서 수신 센서의 위치에 대한 링 센서의 출력을 도시하는 특성 다이아그램이다.
도 5a 는 본 발명의 구현예에 따른 주화 식별 장치의 변화를 도시하는 평면도이다.
도 5b 는 본 발명의 구현예에 따른 주화 식별 장치의 변화를 도시하는 단면도이다.
< 도면의 주요 부호에 대한 간단한 설명>
11. 주화 식별 장치 16. 콘베이어 경로
17. 콘베이어 안내부 18. 콘베이어 벨트
21. 링 센서 22. 코어 센서
C1. 코어 부분 S1. 상부 표면층
S2. 하부 표면층 R1. 링 부분

Claims (5)

  1. 링 부분 및, 링 부분의 내측에 제공되고 링 부분의 재료와 상이한 재료로 이루어진 코어 부분을 가진 바이메탈 주화를 식별하는 주화 식별 장치로서, 상기 주화 식별 장치는:
    바이메탈 주화를 이송시키는 콘베이어;
    상기 콘베이어에 의해 이송되는 바이메탈 주화의 링 부분만이 통과되는 위치에 배치되어, 자기 특성들을 검출하는, 링 센서; 및,
    상기 콘베이어에 의해 이송되는 바이메탈 주화의 코어 부분이 통과되는 위치에 배치되어, 자기 특성들을 검출하는, 코어 센서;를 구비하는, 주화 식별 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 링 센서의 송신 센서의 폭은 링 부분의 폭 보다 작은, 주화 식별 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 링 센서의 송신 센서는 포트 코어(pot core) 유형의 센서인, 주화 식별 장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 링 센서의 송신 센서는 포트 코어 유형의 센서인, 주화 식별 장치.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항의 어느 한 항에 있어서,
    상기 링 센서의 송신 센서는 상기 콘베이어의 이송 방향에 직각인 방향에서 상기 링 부분의 한쪽 부분의 중간 부분이 통과되는 위치에 배치되고,
    상기 링 센서의 수신 센서는 이송 방향에 직각인 방향에서 상기 송신 센서에 대하여 상기 코어 부분의 대향측에 배치되는, 주화 식별 장치.
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