KR20090061565A

KR20090061565A - 터치 제어 패널의 터치 포인트를 스캐닝하고 감지하는 장치및 그 방법

Info

Publication number: KR20090061565A
Application number: KR1020080081836A
Authority: KR
Inventors: 리우 첸-유
Original assignee: 티피케이 터치 솔루션스 인코포레이션
Priority date: 2007-12-11
Filing date: 2008-08-21
Publication date: 2009-06-16
Also published as: US20090146966A1; JP5647391B2; EP2071434A2; TW200925969A; EP2071434A3; TWI354229B; JP2009146383A; JP5647391B6; KR100952017B1

Abstract

본 발명에는 터치 제어 패널의 터치 포인트를 스캐닝하고 감지하는 장치가 개시되어 있는데, 여기에서 구동/스캐닝 회로는 터치 제어 패널의 제1 전도층의 각 전도성 스트립을 구동하는 일단 순차 구동 또는 양단 순차 구동을 실행하며, 스캔 센싱 회로는 터치 제어 패널의 제2 전도층의 각 전도성 스트립에 대하여 일단 순차 스캐닝, 양단 순차 스캐닝 또는 순차적 양단 동시 스캐닝 동작을 실행한다. 스캔 센싱 회로가 제2 전도층의 전도성 스트립에 대하여 수행하는 스캐닝 동작의 결과에 기초하여, 제1 전도층의 각 전도성 스트립에 대한 제2 전도층의 각 전도성 스트립에서 적어도 하나의 터치 위치가 감지될 수 있다.

터치 제어, 스캐닝, 감지, 전도층, 전도성 스트립

Description

터치 제어 패널의 터치 포인트를 스캐닝하고 감지하는 장치 및 그 방법{DEVICE FOR SCANNING AND DETECTING TOUCH POINT OF TOUCH CONTROL PANEL AND METHOD THEREOF}

본 발명은 터치 제어 장치(touch control device)에 관한 것이며, 더욱 상세하게는 터치 제어 패널의 터치 포인트를 스캐닝하고 감지하는 장치 및 방법에 관한 것이다.

통상적인 터치 패널은, ITO 전도층(ITO conductive layer)과 같은 투명 전도층으로 코팅된 상면을 갖는 유리 기판을 포함한다. 유리 기판 및 투명한 전도층은 함께 전기적으로 전도성인 하나의 유리 패널을 형성한다. 전기적으로 전도성인 유리 패널에는 그 위에 배치된 다른 유리 기판 또는 필름이 제공되고, 다른 유리 기판 또는 필름은 유리 패널의 투명한 전도층에 대응하여 그 하면에 투명한 전도층으로 코팅된다. 절연 스페이서(insulation spacer)는 이 투명한 전도층들이 간격을 두고 이격되도록 하기 위하여 유리 패널의 투명한 전도층과 필름 사이에 배치된다.

터치나 누름이 일어나는 위치를 감지하기 위해, 통상적으로, 마이크로컨트롤러(micro-controller)가 X축과 Y축의 전압 레벨(voltage level)을 교대로 감지하 고, X축과 Y축의 터치 위치로부터 감지된 분압은 터치 위치를 계산하고 결정하기 위해 이용된다.

다른 통상적인 기술에 의하면, 전도층은 긴 전도성 스트립(elongate conductive strip)의 구조로서 형성되고, 스캐닝은 터치 위치를 감지하기 위해 실행된다. 예를 들면, 미국특허 제5,181,030호는 복수의 긴 전도성 스트립으로 구성된 구조를 갖는 전도층을 개시하며, 두 축 방향의 전도성 스트립은 서로 수직인데, 여기에서 터치 위치는 분압(divided voltage) 및 공간 관계를 이용해서 결정될 수 있다. 이 특허에 의하면, 적절한 감지를 보장하기 위해 제1 및 제2 전도층 사이에 충분한 저항을 가져야 한다.

현재 터치 제어 패널이나 터치 제어 장치의 다양한 디자인 및 구조가 이용되는데, 예를 들면, 분압과 위치 사이의 관계로부터 터치 제어 장치의 터치나 눌려진 위치를 결정하는 것이다. 그러나, 각각의 공지 기술은 자체적인 결점을 갖고 있다. 상술한 바를 참조하면, 제1 및 제2 전도층 사이의 저항은 감지의 정확성을 보장하기 위하여 충분히 커야 한다.

그러므로, 본 발명의 목적은 터치 제어 패널의 터치 포인트를 스캐닝하고 감지하는 장치를 제공하는 것인데, 이것은 터치 제어 패널의 터치 포인트를 결정하기 위해 순차적인 구동/스캐닝 및 순차적인 스캐닝/감지를 간단하게 동작하면서, 제1 전도층, 제2 전도층, 구동/스캐닝(driving/scanning) 회로, 및 스캔 센싱 회로를 포함하여 간단하게 제작되는 구조를 제공한다.

본 발명의 다른 목적은, 터치 제어 패널의 터치 포인트를 스캐닝하고 감지하는 방법을 제공하는 것인데, 이는 제1 전도층의 긴 전도성 스트립에 실행된 간단한 구동/스캐닝 동작, 및 제2 전도층의 긴 전도성 스트립에 대하여 실행되는 스캐닝/감지 동작에 의해 터치 제어 패널의 하나 또는 그 이상의 터치 위치를 감지할 수 있다.

본 발명에 따르면, 터치 제어 패널이, 복수의 긴 전도성 스트립으로 구성된 제1 전도층과 복수의 긴 전도성 스트립으로 구성된 제2 전도층, 구동/스캐닝 라인 을 통해 각각 제1 전도층의 전도성 스트립에 접속된 구동/스캐닝 회로, 및 스캐닝 라인을 통해 각각 제2 전도층의 전도성 스트립에 접속된 스캔 센싱 회로를 포함한다는 점에서 상술한 문제점들에 대한 해결책이 마련된다. 마이크로컨트롤러는 구동/스캐닝 회로 및 스캔 센싱 회로에 접속된다. 구동/스캐닝 회로는 터치 제어 패널의 제1 전도층의 전도성 스트립에서 일단 순차 구동(one-end-sequential-driving), 또는 순차적인 양단 동시 구동(both-end-simultaneous-driving)을 실행하는 반면, 스캔 센싱 회로는 터치 제어 패널의 터치 위치를 감지하는 제2 전도층의 전도성 스트립에 대하여 일단 순차 스캐닝, 양단 순차 스캐닝, 또는 순차적인 양단 동시 스캐닝 동작을 실행한다.

본 발명에 따르면, 터치 제어 패널의 터치 위치 감지를 실행하기 위해, 간단하게 동작 가능한 제1 전도층의 전도성 스트립의 구동/스캐닝, 및 제2 전도층의 전도성 스트립에 대한 스캐닝/감지 동작을 이용하여, 하나 또는 그 이상의 터치 위치가 감지될 수 있다. 종래 기술에 필요한 제1 및 제2 전도층 사이의 큰 저항은 필요로 하지 않는다. 공지 기술과 비교하여, 본 발명은 회로 디자인 및 터치 위치의 결정 관점에서 간단하고 효율적이라는 이점이 있다.

도면, 특히 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 제어 패널의 시스템 블록도를 도시하는 도 1을 참조하면, 100으로 표시된 터치 제어 패널은 제1 기판(1) 및 이에 대향하는 제2 기판(2)을 포함한다. 제1 기판(1)은, 제1 전도층(11)이 형성된 하면 을 갖는다. 제2 기판(2)은, 제2 전도층(21)이 형성된 상면을 갖는다. 터치 제어 패널의 최근 기술에 의하면, 제1 전도층(11)과 제2 전도층(21) 모두를 제공하기 위해 유리 기판의 표면상에 ITO 전도층과 같은 투명한 전도층을 종종 코팅한다.

제1 전도층(11)은, 서로 평행하여 접촉하지 않는 복수의 긴 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)을 포함한다. 각각의 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)은 제1 기판(1)의 하면에서 제1 방향(X)으로 연장된다.

각각의 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)은, 구동/스캐닝 라인(41)에 의해 구동/스캐닝 회로(4)로 접속되는 일단을 갖는다. 각각의 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)은 대향하는 단부를 가지며, 이것은 개방 조건으로 설정된다.

제2 전도층(21)은, 서로 평행하여 접촉하지 않는 복수의 긴 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)을 포함한다. 각각의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)은, 제2 기판(2)의 상면에서 제2 방향(Y)으로 연장된다.

제2 전도층(21)의 각각의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)은, 스캐닝 라인(61)에 의해 스캔 센싱 회로(6)로 접속되는 일단을 갖는다. 각각의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)은 또한 대향하는 단부를 가지며, 이것은 개방 조건으로 설정된다.

도 2는, 제1 및 제2 기판(1, 2)이 함께 조립될 때, 제2 전도층(21)에 대향하는 제1 전도층(11)을 나타낸다. 제1 및 제2 기판(1, 2)은 복수의 절연 스페이서(3)에 의해 서로 간격을 두어 이격되어 있다.

마이크로컨트롤러(5)는, 스캔 제어 신호 S1를 통해 구동/스캐닝 회로(4)를 제어하여, 순차적 스캐닝 방식으로 제1 전도층(11)의 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)에 대해 구동/스캔한다. 또한 마이크로컨트롤러(5)는, 물리적으로 눌려지거나 터치될 때, 제1 전도층(11)의 긴 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn) 중 어느 하나의 물리적 접촉, 및 누름/터치 위치를 감지하도록 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)에 대하여 순차적 스캐닝을 실행하기 위해, 스캔 제어 신호 S2를 통해, 스캔 센싱 회로(6)를 제어한다.

스캔 센싱 회로(6)가 제2 전도층(21)의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)에 대한 스캐닝을 수행하는 스캐닝 동작은 스캔 센싱 신호 S3를 제공하는데, 이것은 아날로그 디지털 변환기(analog-to-digital converter)(7)에 의해 디지털 스캔 센싱 신호로 변환되며, 디지털 스캔 센싱 신호는 마이크로컨트롤러(5)로 인가된다.

도 3은 본 발명이 터치 제어 패널에 대해 수행하는 스캐닝 동작을 설명하는 제어 흐름도를 나타내며, 도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따라 일단 순차 구동 동작 및 일단 순차 스캐닝 동작을 수행하는 스캐닝 시퀀스 테이블을 도시한다. 제어 흐름은, 도 1, 3, 및 4를 참조하여 설명될 것이다.

우선, 마이크로컨트롤러(5)가 제1 전도층(11)의 제1 전도성 스트립(X1)을 구동하기 위해 구동/스캐닝 회로(4)를 이용하며(단계 101), 스캔 센싱 회로(6)가 제2 전도층(21)의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)을 순차적으로 스캔하고 감지한다(단계 102). 이와 같이, 제1 전도층(11)의 제1 전도성 스트립(X1)에 대하여 제2 전도층(21)의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn) 중 적어도 하나의 터치 위치가(존재한다면) 감지된다(단계 103).

제1 전도성 스트립(X1)에 대하여 제2 전도층(21)의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)의 스캐닝/감지가 완료된 후에, 구동/스캐닝 회로(4)는 제1 전도층(11)의 다음 전도성 스트립(즉, 제2 전도성 스트립 X2)을 구동하고(단계 104), 다음으로 스캔 센싱 회로(6)가 제2 전도층(21)의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)에 대하여 순차적 스캐닝을 수행한다.

제1 전도층(11)의 마지막 전도성 스트립(Xn)의 구동/스캐닝 동작이 완료된 후에, 이전 단계 102-104의 구동/스캐닝 및 스캐닝/감지 동작이 반복되어(단계 105), 제1 전도층(11)의 지정된 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)에 대하여 제2 전도층(21)의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn) 중 적어도 하나의 터치 위치를 감지한다.

제1 전도층(11)의 각 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)의 구동/스캐닝 작동이 완료된 후에(단계 106), 제어의 흐름이 단계 101로 되돌아가 상술한 구동/스캐닝 및 스캐닝 동작을 반복한다.

도 5는, 본 발명에 따른 다수의 터치 위치에 대한 스캐닝/감지 동작을 도시하는 일례를 나타낸다. 터치 제어 패널에서 일어나는 4개의 터치 위치(P1, P2, P3, P4)의 이벤트를 감지하기 위해, 구동/스캐닝 회로(4)는 제1 전도층(11)의 제2 전도성 스트립(X2)을 구동하고, 스캔 센싱 회로(6)는 제2 전도층(21)의 제2 전도성 스트립(Y2)에 대한 순차적 스캐닝을 수행한다. 결과적으로, 터치 위치(P3)가 식별되고, 터치 위치(P3)의 좌표가 결정된다. 도 6에 도시된 바와 같이, 스캔 센싱 회 로(6)가 제2 전도층(21)의 제4 전도성 스트립(Y4)에 대한 순차적 스캐닝/감지를 수행할 때, 터치 위치(P4)가 식별되고 그 좌표가 결정된다.

도 7에 도시된 바와 같이, 구동/스캐닝 회로(4)가 제1 전도층(11)의 제4 전도성 스트립(X4)을 구동하고, 스캔 센싱 회로(6)가 제2 전도층(2)의 제2 전도성 스트립(Y2)에 대한 순차적 스캐닝/감지를 수행할 때, 터치 위치(P1)가 식별되고 그 좌표가 결정된다. 도 8에 도시된 바와 같이, 스캔 센싱 회로(6)가 제2 전도층(21)의 제4 전도성 스트립(Y4)에 대한 순차적 스캐닝을 수행할 때, 터치 위치(P2)가 식별되고 그 좌표가 결정된다. 상술한 바와 같은 순차적인 구동/스캐닝 및 순차적인 스캐닝/감지 동작으로, 터치 제어 패널에서 일어나는 모든 터치 위치가 감지될 수 있다.

도 9는, 본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 제어 장치 100a의 시스템 블록도를 나타낸다. 제2 실시예의 터치 제어 장치(100a)는, 제1 실시예(터치 제어 장치(100))와 실질적으로 동일하며, 서로 평행하여 접촉하지 않는 복수의 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)으로 구성된 제1 전도층(11)을 포함한다. 제1 전도층(11)의 각각의 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)은, 제1 단부(X1a, X2a, X3a, X4a, ..., Xna) 및 그에 대향하는 제2 단부(X1b, X2b, X3b, X4b, ..., Xnb)를 가지는데, 여기에서 제2 단부(X1b, X2b, X3b, X4b, ..., Xnb)는 구동/스캐닝 라인(41)에 의해 구동/스캐닝 회로(4)로 접속된다.

또한, 터치 제어 패널(100a)은, 서로 평행하여 접촉하지 않는 복수의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)으로 구성되는 제2 전도층(21)을 포함한다. 제2 전도층(21)의 각 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)은, 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna) 및 그에 대향하는 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb)를 갖는다. 제2 실시예와 제1 실시예 사이의 차이는, 제2 실시예의 터치 제어 패널(100a)의 제2 전도층(21)이, 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna)는 스캐닝 라인(61)을 통해 스캔 센싱 회로(6)로 접속되고, 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb)는 다른 스캐닝 라인(61a)에 의해 스캔 센싱 회로(6)로 접속되도록 구성된다는 점에 있다. 그러므로, 스캔 센싱 회로(6)는 스캐닝 라인(61, 61a)을 통해 각 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)의 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna) 및 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb)에 대한 순차적 스캐닝 동작을 실행할 수 있고, 양단 동시 스캐닝 동작이 수행될 수 있다.

도 10은, 본 발명의 제2 실시예가 일단 순차 구동 및 양단 순차 스캐닝/감지 동작을 실행하는 시퀀스 테이블을 나타낸다. 제1 전도층(11)의 전도성 스트립(X1)이 구동/스캐닝 회로(4)에 의해 구동되고, 스캔 센싱 회로(6)가 각 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)의 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna) 및 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb)에 대하여 순차적으로 스캐닝 동작을 실행한다.

스캐닝/감지가 완료되면, 다음으로 구동/스캐닝 회로(4)가 제1 전도층(11)의 전도성 스트립(X2)을 구동하고, 스캔 센싱 회로(6)가 각 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)의 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna) 및 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb)를 순차적으로 스캔한다. 구동/스캐닝 및 감지 동작은 제1 및 제2 전도층의 모든 전도성 스트립에 대해 반복되어, 터치 제어 패널에서 일어나는 모든 터치 포인트를 식별한다.

도 10에 도시된 일단 순차적 스캐닝 프로세스에 더하여, 도 11에 도시된 바와 같이 양단 동시 스캐닝 동작을 순차적으로 실행하는 것이 가능한데, 이는 스캔 센싱 회로(6)가 동시에 각 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)의 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna) 및 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb) 모두에 대해 동시 스캐닝 동작을 실행하도록 하는 시퀀스 테이블을 나타낸다. 제1 전도층(11)의 전도성 스트립(X1)은 구동/스캐닝 회로(4)에 의해 구동되고, 스캔 센싱 회로(6)는 전도성 스트립(Y1)의 제1 단부(Y1a) 및 제2 단부(Y1b)에 대해 스캐닝 동작을 동시에 수행한 다음, 전도성 스트립(Y2-Yn) 각각의 제1 및 제2 단부를 동시에 스캐닝함으로써 각 전도성 스트립(Y2 내지 Yn)에 대해 순차적으로 스캐닝 동작을 실행한다.

스캐닝/감지가 완료되면, 다음으로 구동/스캐닝 회로(4)가 제1 전도층(11)의 전도성 스트립(X2)을 구동하고, 스캔 센싱 회로(6)가 각각의 개별적인 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)의 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna) 및 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, ..., Ynb) 모두를 동시에 스캐닝하고, 전도성 스트립을 순차적으로 스캐닝함으로써 순차적인 양단 동시 스캐닝 동작을 실행한다. 구동/스캐닝 및 감지 동작은 제1 및 제2 전도층의 모든 전도성 스트립에 대해 반복되어, 터치 제어 패널에서 일어나는 모든 터치 포인트를 식별한다.

도 12는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 터치 제어 장치(100b)의 시스템 블록 도를 나타낸다. 제3 실시예의 터치 제어 장치(100b)는, 서로 평행하여 접촉하지 않는 복수의 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)으로 구성된 제1 전도층(11)을 포함한다. 제1 전도층(11)의 각 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)은, 제1 단부(X1a, X2a, X3a, X4a, ..., Xna) 및 그에 대향하는 제2 단부(X1b, X2b, X3b, X4b, ..., Xnb)를 갖는데, 여기에서 제2 단부(X1b, X2b, X3b, X4b, ..., Xnb)는 구동/스캐닝 라인(41)에 의해 구동/스캐닝 회로(4)로 접속되고, 제1 단부(X1a, X2a, X3a, X4a, ..., Xna)는 다른 구동/스캐닝 라인(41a)에 의해 구동/스캐닝 회로(4)로 접속된다.

또한, 터치 제어 패널(100b)은, 서로 평행하여 접촉하지 않는 복수의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)으로 구성된 제2 전도층(21)을 포함한다. 제2 전도층(21)의 각 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)은, 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna) 및 그에 대향하는 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb)를 갖는데, 여기에서 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna)는 스캐닝 라인(61)을 통해 스캔 센싱 회로(6)로 접속되고, 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb)는 개방 조건으로 설정된다.

이러한 제3 실시예에 의하면, 구동/스캐닝 회로(4)가 제1 전도층(11)의 각 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)에 대한 순차적인 양단 동시 스캐닝 동작을 실행할 수 있다.

도 13은, 본 발명의 제3 실시예가 순차적인 양단 동시 구동 및 일단 순차 스캐닝 동작을 실행하는 시퀀스 테이블을 나타낸다. 구동/스캐닝 회로(4)가 제1 전 도층(11)의 각 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)에 대한 순차적인 양단 동시 스캐닝 동작을 실행할 때, 시퀀스는 X1a, X1b; X2a, X2b; X3a, X3b; X4a, X4b; ..., Xna, Xnb이다. 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn) 중 하나의 양단이 동시에 스캔되는 각 시간마다, 스캔 센싱 회로(6)는 각 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)의 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna)에 대하여 순차적 스캔 센싱을 실행한다.

도 14는, 본 발명의 제4 실시예에 따른 터치 제어 장치(100c)의 시스템 블록도를 나타낸다. 제4 실시예의 터치 제어 장치(100c)는, 서로 평행하여 접촉하지 않는 복수의 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)으로 구성된 제1 전도층(11)을 포함한다. 제1 전도층(11)의 각 전도성 스트립(X1, X2, X3, X4, ..., Xn)은, 제1 단부(X1a, X2a, X3a, X4a, ..., Xna) 및 제2 단부(X1b, X2b, X3b, X4b, ..., Xnb)를 갖는데, 여기에서 제2 단부(X1b, X2b, X3b, X4b, ..., Xnb)는 구동/스캐닝 라인(41)에 의해 구동/스캐닝 회로(4)로 접속되고, 제1 단부(X1a, X2a, X3a, X4a, ..., Xna)는 다른 구동/스캐닝 라인(41a)에 의해 구동/스캐닝 회로(4)로 접속된다. 또한, 터치 제어 패널(100c)은 서로 평행하여 접촉하지 않는 복수의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)으로 구성된 제2 전도층(21)을 포함한다. 제2 전도층(21)의 각각의 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)은 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna) 및 그에 대향하는 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb)를 갖는데, 여기에서 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna)는 스캐닝 라인(61)을 통해 스캔 센싱 회로(6)로 접속되고, 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb)는 다른 스캐닝 라인(61a)을 통해 스캔 센싱 회로(6)로 접속된다.

도 15는, 본 발명의 제4 실시예가 순차적인 양단 동시 구동 및 순차적인 양단 동시 스캐닝 동작을 실행하는 시퀀스 테이블을 나타낸다. 구동/스캐닝 회로(4)가 제1 전도층(11)의 각 전도성 스트립에 대하여 순차적인 양단 동시 스캐닝 동작을 실행할 때, 시퀀스는 X1a, X1b; X2a, X2b; X3a, X3b; X4a, X4b; ..., Xna, Xnb이다. 전도성 스트립 중 하나가 구동되는 각 시간마다, 스캔 센싱 회로(6)는 각 전도성 스트립(Y1, Y2, Y3, Y4, ..., Yn)의 제1 단부(Y1a, Y2a, Y3a, Y4a, ..., Yna) 및 제2 단부(Y1b, Y2b, Y3b, Y4b, ..., Ynb)에 대하여 순차적인 양단 동시 스캐닝을 실행하며, 그 시퀀스는 Y1a, Y1b; Y2a, Y2b; Y3a, Y3b; Y4a, Y4b; ...; Yna, Ynb이다.

비록, 본 발명은 본 발명을 실행하는 최선의 방법뿐만 아니라 바람직한 실시예를 참조하여 설명되었지만, 특허청구범위에 의해 정해지는 본 발명의 범위로부터 벗어나지 않고 다양한 수정 및 변형이 가능하다는 점이, 본 발명의 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백하다.

본 발명은, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서에 포함된 본 발명을 실행하는 바람직한 실시예 및 최선의 방법에 대한 설명을 읽음으로써 본 발명의 기술분야에 속하는 당업자들에게 명확해질 것이다.

도 1은, 본 발명의 제1 실시예에 따른 시스템 블록도를 도시한다.

도 2는, 도 1의 대향하는 제1 및 제2 기판의 조립을 도시하는 분해도이다.

도 3은, 본 발명이 터치 제어 패널에 대한 스캐닝 동작을 실행하는 제어 흐름도를 나타낸다.

도 4는, 본 발명의 제1 실시예가 터치 제어 패널에서 일단 순차 구동 및 일단 순차 스캐닝/감지 동작을 실행하는 시퀀스 테이블을 나타낸다.

도 5는, 본 발명이 실행하는 다수의 터치 포인트의 스캐닝/감지 동작을 나타내는 도식화된 도면이다.

도 6은 또한, 본 발명이 실행하는 다수의 터치 포인트의 스캐닝/감지 동작을 나타내는 도식화된 도면이다.

도 7은 또한, 본 발명이 실행하는 다수의 터치 포인트의 스캐닝/감지 동작을 나타내는 도식화된 도면이다.

도 8은 또한, 본 발명이 실행하는 다수의 터치 포인트의 스캐닝/감지 동작을 나타내는 도식화된 도면이다.

도 9는, 본 발명의 제2 실시예에 따른 시스템 블록도를 나타낸다.

도 10은, 본 발명의 제2 실시예가 터치 제어 패널에서 일단 순차 구동 및 양 단 순차 스캐닝 동작을 실행하는 시퀀스 테이블을 나타낸다.

도 11은, 본 발명의 제2 실시예가 터치 제어 패널에서 일단 순차 구동 및 순차적인 양단 동시 스캐닝 동작을 실행하는 시퀀스 테이블을 나타낸다.

도 12는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 시스템 블록도를 나타낸다.

도 13은, 본 발명의 제3 실시예가 터치 제어 패널에서 순차적인 양단 동시 구동 및 일단 순차 스캐닝 동작을 실행하는 시퀀스 테이블을 나타낸다.

도 14는, 본 발명의 제4 실시예에 따른 시스템 블록도를 나타낸다.

도 15는, 본 발명의 제4 실시예가 터치 제어 패널에서 순차적인 양단 동시 구동 및 순차적인 양단 동시 스캐닝 동작을 실행하는 시퀀스 테이블을 나타낸다.

Claims

터치 제어 패널에 있어서,

서로 실질적으로 평행하여 접촉하지 않고, 제1 방향으로 연장되며, 대향하는 제1 및 제2 단부를 갖는 복수의 전도성 스트립을 포함하는 제1 전도층을 형성하는 제1 기판;

서로 실질적으로 평행하여 접촉하지 않고, 제2 방향으로 연장되며, 대향하는 제1 및 제2 단부를 갖는 복수의 전도성 스트립을 포함하는 제2 전도층을 형성하며, 상기 제1 기판과 절연 스페이서에 의해 서로 간격을 두고 이격되어 있는 제2 기판;

구동/스캐닝 라인을 통해 상기 제1 전도층의 각각의 전도성 스트립으로 접속된 구동/스캐닝 회로;

스캐닝 라인을 통해 상기 제2 전도층의 각각의 전도성 스트립으로 접속된 스캔 센싱 회로; 및

상기 구동/스캐닝 회로와 상기 스캔 센싱 회로로 접속된 마이크로컨트롤러를 포함하며,

상기 구동/스캐닝 회로는 상기 제1 전도층의 전도성 스트립을 순차적으로 구동하고, 상기 구동/스캐닝 회로가 상기 제1 전도층의 전도성 스트립 중 하나를 순차적으로 구동할 때 상기 스캔 센싱 회로가 상기 제2 전도층의 전도성 스트립을 순차적으로 스캔/감지하여 터치 제어 패널에서 일어나는 터치 위치를 감지하는 것을 특징으로 하는 터치 제어 패널.
제1항에 있어서,

상기 제1 전도층의 전도성 스트립의 제1 단부는 상기 구동/스캐닝 라인에 의해 상기 구동/스캐닝 회로로 접속되고, 상기 제1 전도층의 전도성 스트립의 제2 단부는 개방되며, 상기 제2 전도층의 전도성 스트립의 제1 단부는 상기 스캐닝 라인에 의해 상기 스캐닝/감지 회로로 접속되고 상기 제2 전도층의 전도성 스트립의 제2 단부는 개방되는 것을 특징으로 하는 터치 제어 패널.
제1항에 있어서,

상기 제1 전도층의 전도성 스트립의 제1 단부는 상기 구동/스캐닝 라인에 의해 상기 구동/스캐닝 회로로 접속되고, 상기 제1 전도층의 전도성 스트립의 제2 단부는 개방되며, 상기 제2 전도층의 전도성 스트립의 제1 및 제2 단부는 상기 스캐닝 라인에 의해 상기 스캔 센싱 회로로 접속되는 것을 특징으로 하는 터치 제어 패널.
제1항에 있어서,

상기 제1 전도층의 전도성 스트립의 제1 및 제2 단부는 상기 구동/스캐닝 라인에 의해 상기 구동/스캐닝 회로로 접속되고, 상기 제2 전도층의 전도성 스트립의 제1 단부는 상기 스캐닝 라인에 의해 상기 스캔 센싱 회로로 접속되며, 상기 제2 전도층의 전도성 스트립의 제2 단부는 개방되어 있는 것을 특징으로 하는 터치 제 어 패널.
제1항에 있어서,

상기 제1 전도층의 전도성 스트립의 제1 및 제2 단부는 상기 구동/스캐닝 라인에 의해 상기 구동/스캐닝 회로로 접속되고, 상기 제2 전도층의 전도성 스트립의 제1 및 제2 단부는 상기 스캐닝 라인에 의해 상기 스캔 센싱 회로로 접속되는 것을 특징으로 하는 터치 제어 패널.
서로 평행하여 접촉하지 않고, 대향하는 제1 및 제2 단부를 형성하도록 제1 방향으로 연장되는 복수의 전도성 스트립을 포함하는 제1 전도층을 형성하는 제1 기판, 및 서로 평행하여 접촉하지 않고, 대향하는 제1 및 제2 단부를 형성하도록 제2 방향으로 연장되는 복수의 전도성 스트립을 포함하는 제2 전도층을 형성하며, 상기 제1 기판과 절연 스페이서에 의해 서로 간격을 두고 이격되어 있는 제2 기판을 포함하는 터치 제어 패널의 터치 위치를 스캐닝/감지하는 방법에 있어서,

(a) 구동/스캐닝 회로가 상기 제1 전도층의 전도성 스트립 중 하나를 구동하는 단계;

(b) 스캔 센싱 회로가 상기 제2 전도층의 각 전도성 스트립을 순차적으로 스캔하는 단계;

(c) 상기 스캔 센싱 회로가 상기 제2 전도층의 전도성 스트립에 대하여 수행한 스캐닝의 결과에 따라, 상기 제1 전도층의 전도성 스트립 중 하나에 대하여 상 기 제2 전도층의 각 전도성 스트립에서 적어도 하나의 터치 위치를 감지하는 단계;

(d) 상기 구동/스캐닝 회로가 상기 제1 전도층의 전도성 스트립 중 다음 하나를 순차적으로 구동하는 단계;

(e) 상기 스캔 센싱 회로가 상기 제2 전도층의 전도성 스트립에 대하여 수행한 스캐닝의 결과에 따라, 상기 제1 전도층의 전도성 스트립 중 지정된 하나에 대하여 상기 제2 전도층의 각 전도성 스트립에서 적어도 하나의 터치 위치를 감지하는 단계; 및

(f) 상기 단계 (a) 내지 (e)를 반복하는 단계

를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
제6항에 있어서,

상기 구동/스캐닝 회로는 상기 제1 전도층의 각 전도성 스트립의 제1 단부를 구동하고, 상기 스캔 센싱 회로는 상기 제2 전도층의 각 전도성 스트립의 제1 단부에 대하여 순차적인 스캐닝을 실행하는 것을 특징으로 하는 방법.
제6항에 있어서,

상기 구동/스캐닝 회로는 상기 제1 전도층의 각 전도성 스트립의 제1 단부를 순차적으로 구동하고, 상기 스캔 센싱 회로는 상기 제2 전도층의 각 전도성 스트립의 제1 단부 및 제2 단부에 대하여 순차적인 스캐닝을 실행하는 것을 특징으로 하는 방법.
제6항에 있어서,

상기 구동/스캐닝 회로는 상기 제1 전도층의 각 전도성 스트립의 제1 단부를 순차적으로 구동하고, 상기 스캔 센싱 회로는 상기 제2 전도층의 각 전도성 스트립의 제1 및 제2 단부를 동시에 스캐닝함으로써 상기 제2 전도층의 전도성 스트립에 대하여 순차적인 스캐닝/감지를 실행하는 것을 특징으로 하는 방법.
제6항에 있어서,

상기 구동/스캐닝 회로는 상기 제1 전도층의 각 전도성 스트립의 제1 및 제2 단부 모두를 동시에 구동함으로써 상기 제1 전도층의 전도성 스트립을 순차적으로 구동하고, 상기 스캔 센싱 회로는 상기 제2 전도층의 각 전도성 스트립의 제1 및 제2 단부를 동시에 스캐닝함으로써 상기 제2 전도층의 전도성 스트립에 대하여 순차적인 스캐닝을 실행하는 것을 특징으로 하는 방법.