TWI823319B - 觸控感測方法、觸控感測器器件及其相關電腦可讀非暫時性儲存媒體 - Google Patents

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TWI823319B
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葛拉罕 萊諾茲
哈馬德 賽德
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美商愛特梅爾公司
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Abstract

在特定實施例中，一種方法包含：在一第一同步週期期間，藉由感測一觸控感測器的一充電信號之一第一上升邊緣而執行一第一正積分；及在一第二同步週期期間，藉由感測該充電信號之一第一下降邊緣而執行一第一負積分。該方法亦包含在該第二同步週期期間，雙態切換該充電信號，從而導致該充電信號之一第二上升邊緣。該方法進一步包含：在一第三同步週期期間，藉由感測該充電信號之一第二下降邊緣而執行一第二負積分；及在一第四同步週期期間，藉由感測該充電信號之一第三上升邊緣而執行一第二正積分。該等第一積分與一第一樣本量測相關聯且該等第二積分與一第二樣本量測相關聯。

Description

觸控感測方法、觸控感測器器件及其相關電腦可讀非暫時性儲存媒體
本發明大體上係關於觸控感測器。
根據一實例性案例，一觸控感測器偵測一物件(例如，一使用者之手指或一觸控筆)在一器件之觸控感測器的一觸敏區域內之存在及位置。在一觸敏顯示器應用中，一觸控感測器容許一使用者與一顯示螢幕上顯示之內容直接互動，而非與一滑鼠或觸控板間接互動。一觸控感測器可附接至一桌上型電腦、膝上型電腦、平板電腦、個人數位助理(「PDA」)、智慧型電話、衛星導航器件、可攜式媒體播放器、可攜式遊戲機、資訊站電腦(kiosk computer)、銷售點器件或其他器件，或提供作為其部件。一家用電器或其他電器上之一控制面板可包含一觸控感測器。
存在數種不同類型之觸控感測器，諸如，舉例而言電阻性觸控感測器、表面聲波觸控感測器及電容性觸控感測器。在一項實例中，當一物件在一觸控螢幕之一觸控感測器的一觸敏區域內實體觸控該觸控螢幕(例如，藉由實體觸控上覆觸控感測器之一觸控感測器陣列的一覆蓋層)或進入觸控感測器之一偵測距離內(例如，藉由懸停於上覆觸控感測器之觸控感測器陣列的覆蓋層上方)時，可在觸控螢幕內，於觸控螢幕之觸控感測器之對應於物件在觸控感測器之觸敏區域內之位置的一位置處發生一電容 改變。一觸控感測器控制器處理電容改變以判定觸控感測器內之電容改變的位置。
100:觸控感測器系統
101:觸控感測器
102:觸控感測器控制器
104:連接線
106:連接墊
108:連接件
160:機械堆疊
162:覆蓋層
164:第一導電層
166:基板
168:第二導電層
170:顯示器
200:點狀反轉像素圖案
201a-n:列
210:第一類型之雜訊
212:第二類型之雜訊
300:雙點狀反轉像素圖案
301a-n:像素列
320:第一類型之雜訊
322:第二類型之雜訊
324:第三類型之雜訊
326:第四類型之雜訊
402:水平同步(HSYNC)信號
404:紅色寫入信號
406:綠色寫入信號
408:藍色寫入信號
410:充電信號
412:範圍
700:方法
705:步驟
710:步驟
720:步驟
730:步驟
740:步驟
750:步驟
760:步驟
770:步驟
775:步驟
圖1A繪示根據本發明之實施例的包含一觸控感測器及一控制器之一實例性系統。
圖1B繪示根據本發明之實施例的一觸控感測器之一實例性機械堆疊。
圖2繪示根據本發明之實施例的一實例性點狀反轉像素圖案。
圖3繪示根據本發明之實施例的一實例性雙點狀反轉像素圖案。
圖4繪示根據本發明之實施例的一實例性積分序列。
圖5繪示根據本發明之實施例的映射至一點狀反轉圖案上之一實例性積分序列。
圖6繪示根據本發明之實施例的映射至一雙點狀反轉圖案上之一實例性積分序列。
圖7繪示根據本發明之實施例的執行一積分序列之一實例性方法。
在一項實施例中，一種器件包含一觸控感測器。該觸控感測器包含複數個電極。該器件進一步包含一控制器，該控制器耦合至該觸控感測器。該控制器包含邏輯，該邏輯經組態以在被執行時引起該控制器執行除其他可能操作外之下列操作：在一第一同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之一電極相關聯的一充電信號之一第一上升邊緣而執行一第一正積分；及在一第二同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯 的該充電信號之一第一下降邊緣而執行一第一負積分。該邏輯亦經組態以在被執行時引起該控制器在該第二同步週期期間，雙態切換該充電信號，從而導致該充電信號之一第二上升邊緣。該第一正積分及該第一負積分與一第一樣本量測相關聯。該邏輯進一步經組態以在被執行時引起該控制器執行下列操作：在一第三同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第二下降邊緣而執行一第二負積分；及在一第四同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第二上升邊緣而執行一第二正積分。該第二正積分及該第二負積分與一第二樣本量測相關聯。
圖1A繪示根據本發明之實施例的包含一觸控感測器及一控制器之一實例性系統100。觸控感測器系統100包含一觸控感測器101及一觸控感測器控制器102，其等可操作以偵測一觸控在觸控感測器101之一觸敏區域內的存在及位置或一物件在觸控感測器101之一觸敏區域內之近接。觸控感測器101包含一或多個觸敏區域。在一項實施例中，觸控感測器101包含安置於可由一介電材料製成之一或多個基板上之一電極陣列。對一觸控感測器之參考可涵蓋觸控感測器101之電極及其上安置該等電極之(若干)基板。替代地，對一觸控感測器之參考可涵蓋觸控感測器101之電極，但不涵蓋其上安置該等電極之(若干)基板。
觸控感測器101之電極包含形成一形狀(諸如一圓盤、方形、矩形、細線、菱形、其他形狀或此等形狀之一組合)之一導電材料。一或多個導電材料層中之一或多個切口可(至少部分)產生一電極之形狀，且形狀之面積可(至少部分)以彼等切口為邊界。在特定實施例中，一電極之導電材料佔據其形狀之近似100%面積。例如，一電極可由氧化銦錫(ITO)製成且電 極之ITO可佔據其形狀之近似100%面積(有時稱為100%填充)。在特定實施例中，一電極之導電材料佔據其形狀之不足100%面積。例如，一電極可由金屬或其他導電材料(諸如，舉例而言銅，銀，碳，或銅、銀或碳基材料)之細線(FLM)製成，且導電材料之細線可依一陰影、網格或其他圖案佔據其形狀之僅百分之幾(例如，近似5%)面積。儘管本發明描述或繪示由形成具有特定圖案之帶特定填充百分比之特定形狀的特定導電材料製成之特定電極，但本發明設想由形成具有任何合適圖案之帶任何適當填充百分比之任何適當形狀的任何適當導電材料製成之電極。
一觸控感測器101之電極(或其他元件)的形狀全部或部分構成觸控感測器101之一或多個巨集特徵。彼等形狀之實施方案的一或多個特性(諸如，舉例而言，形狀內之導電材料、填充或圖案)全部或部分構成觸控感測器101之一或多個微特徵。觸控感測器101之一或多個巨集特徵可判定其功能性之一或多個特性，且觸控感測器101之一或多個微特徵可判定觸控感測器101之一或多個光學特徵，諸如透射、折射或反射。
一觸控感測器101之電極可組態成任何圖案(例如，一柵格圖案或一菱形圖案)。各組態可包含第一組電極及第二組電極。第一組電極及第二組電極重疊以形成複數個電容性節點。在特定實施例中，第一組電極係水平的及第二組電極係垂直的。儘管被描述為呈特定圖案，但根據本發明之觸控感測器的電極可呈任何適當圖案。在特定實施例中，例如，第一組電極可與水平線成任何適當角度且第二組電極可與垂直線成任何適當角度。本發明預期電極之任何適當圖案、組態、設計或配置且不限於上文所論述之實例性圖案。
儘管本發明描述數個實例性電極，但本發明不限於此等實例性電極 且可實施其他電極。另外，儘管本發明描述包含形成特定節點之特定電極的特定組態之數個實例性實施例，但本發明不限於此等實例性實施例且可實施其他組態。在一項實施例中，數個電極經安置於相同基板之相同或不同表面上。另外或替代地，不同電極可經安置於不同基板上。儘管本發明描述包含配置成特定、實例性圖案之特定電極的數項實例性實施例，但本發明不限於此等實例性圖案且可實施其他電極圖案。
一機械堆疊含有基板(或多個基板)及形成觸控感測器101之電極的導電材料。例如，機械堆疊可包含一覆蓋面板下方之一第一光學透明黏著劑(OCA)層。覆蓋面板可為透明的且由一彈性材料製成以用於重複觸控，諸如，舉例而言玻璃、聚碳酸酯或聚(甲基丙烯酸甲酯)(PMMA)。本發明設想覆蓋面板由任何材料製成。第一OCA層可經安置於覆蓋面板與具形成電極之導電材料的基板之間。機械堆疊亦可包含一第二OCA層及一介電層(類似於具形成電極之導電材料的基板，其可由聚對苯二甲酸乙二酯(PET)或另一材料製成)。作為一替代方案，可施敷一介電材料之一薄塗層，代替第二OCA層及介電層。第二OCA層可經安置於具組成電極之導電材料的基板與介電層之間，且介電層可經安置於第二OCA層與至包含觸控感測器101及觸控感測器控制器102之一器件的一顯示器之一氣隙之間。例如，覆蓋面板可具有近似1毫米(mm)之一厚度；第一OCA層可具有近似0.05mm之一厚度；具形成電極之導電材料的基板可具有近似0.05mm之一厚度；第二OCA層可具有近似0.05mm之一厚度；且介電層可具有近似0.05mm之一厚度。
儘管本發明描述具由特定材料製成且具有特定厚度之特定數目個特定層的一特定機械堆疊，但本發明設想具由任何材料製成且具有任何厚度 之任何數目個層的其他機械堆疊。例如，在一項實施例中，一黏著劑或介電層可取代上文所描述之介電層、第二OCA層及氣隙，其中在顯示器中不存在氣隙。
觸控感測器101之基板的一或多個部分可由聚對苯二甲酸乙二酯(PET)或另一材料製成。本發明設想具由(若干)任何材料製成之部分的任何基板。在一項實施例中，觸控感測器101中之一或多個電極全部或部分由ITO製成。另外或替代地，觸控感測器101中之一或多個電極係由金屬或其他導電材料之細線製成。例如，導電材料之一或多個部分可為銅或銅基且具有近似5微米(μm)或更小之一厚度及近似10μm或更小之一寬度。作為另一實例，導電材料之一或多個部分可為銀或銀基且類似地具有近似5μm或更小之一厚度及近似10μm或更小之一寬度。本發明設想由任何材料製成之任何電極。
根據本發明之一實施例，觸控感測器控制器102藉由連接件108而連接至觸控感測器101。在一實施例中，觸控感測器控制器102透過連接墊106電耦合至觸控感測器101。在一些實施例中，觸控感測器控制器102包含一或多個記憶體單元及一或多個處理器。在彼等實施例之特定者中，一或多個記憶體單元及一或多個處理器經電互連，使得其等相依地操作。一或多個記憶體單元及一或多個處理器經電耦合至觸控感測器101，從而容許觸控感測器控制器102將電信號發送至觸控感測器101及自觸控感測器101接收電信號。
在一項實施例中，觸控感測器101實施一電容性形式之觸控感測。在一互容式實施方案中，觸控感測器101可包含形成一電容性節點陣列之一驅動及感測電極陣列。觸控感測器101可具有呈一圖案安置於一個基板之 一側上的驅動電極及呈一圖案安置於另一基板之一側上的感測電極。在此等組態中，一驅動電極及一感測電極之一交叉點形成一電容性節點。此一交叉點可為驅動電極及感測電極在其等各自平面中彼此「交叉」或最靠近之一位置。形成電容性節點之驅動電極及感測電極經定位成彼此靠近，但不彼此電接觸。代替地，例如回應於一信號被施加至驅動電極，驅動電極及感測電極跨其等之間的一空間彼此電容性耦合。
(由觸控感測器控制器102)施加於驅動電極之一充電信號(其係一脈衝或交流電壓)引發感測電極上之一電荷，且所引發電荷量易受外部影響(諸如一物件之一觸控或接近)。在一物件觸控或接近電容性節點時，可在電容性節點處發生一電容改變且觸控感測器控制器102量測電容改變。藉由量測遍及觸控感測器101之電容改變，觸控感測器控制器102判定觸控感測器101之觸敏區域內的觸控或接近之位置。
在一自電容實施方案中，觸控感測器101可包含一單一類型之電極的一陣列，該等電極可各形成一電容性節點。在一物件觸控或接近電容性節點時，可在電容性節點處發生一電容改變且觸控感測器控制器102將電容改變量測為例如由充電信號引發以使電容性節點處之電壓升高達一預定量之電荷量的一改變。如同一互容式實施方案，藉由量測遍及陣列之電容改變，觸控感測器控制器102判定觸控感測器101之觸敏區域內的觸控或接近之位置。本發明設想任何形式之電容性觸控感測。
儘管本發明描述形成特定節點之特定電極的特定組態，但本發明設想形成節點之電極的其他組態。此外，本發明設想依任何圖案安置於任何數目個基板上之其他電極。
如上文所描述，觸控感測器101之一電容性節點處的一電容改變可指 示電容性節點之位置處的一觸控或接近輸入。觸控感測器控制器102偵測且處理電容改變以判定觸控或接近輸入之存在及位置。在一項實施例中，觸控感測器控制器102接著將關於觸控或接近輸入之資訊傳達至一器件之一或多個其他組件(諸如一或多個中央處理單元(CPU))，該器件可包含觸控感測器101及觸控感測器控制器102，且可藉由起始該器件之一功能(或在該器件上運行之一應用程式)而回應於觸控或接近輸入。儘管本發明描述具有關於一特定器件及一特定觸控感測器101之特定功能性的一特定觸控感測器控制器102，但本發明設想具有關於任何器件及任何觸控感測器之任何功能性的其他觸控感測器控制器。
在一項實施例中，觸控感測器控制器102經實施為一或多個積體電路(IC)，諸如，舉例而言通用微處理器、微控制器、可程式化邏輯器件或陣列、或特定應用IC(ASIC)。觸控感測器控制器102包括類比電路、數位邏輯及數位非揮發性記憶體之任何組合。在一項實施例中，觸控感測器控制器102安置於接合至觸控感測器101之基板的一撓性印刷電路(FPC)，如下文所描述。FPC可為主動的或被動的。在一項實施例中，多個觸控感測器控制器102安置於FPC上。
在一實例性實施方案中，觸控感測器控制器102包含一處理器單元、一驅動單元、一感測單元及一儲存單元。在此一實施方案中，驅動單元將驅動信號供應至觸控感測器101之驅動電極，且感測單元感測觸控感測器101之電容性節點處的電荷且將表示電容性節點處之電容的量測信號提供至處理器單元。處理器單元控制由驅動單元將驅動信號供應至驅動電極且處理來自感測單元之量測信號以偵測及處理觸控感測器101之觸敏區域內的一觸控或接近輸入之存在及位置。處理器單元亦可追蹤觸控感測器101 之觸敏區域內的一觸控或接近輸入之位置的改變。儲存單元儲存用於由處理器單元執行之程式設計，包含用於控制驅動單元以將驅動信號供應至驅動電極之程式設計、用於處理來自感測單元之量測信號的程式設計及其他程式設計。儘管本發明描述具有帶特定組件之一特定實施方案的一特定觸控感測器控制器102，但本發明設想具有帶其他組件之其他實施方案的觸控感測器控制器。
形成於安置於觸控感測器101之基板上的導電材料之一項實例中的連接線104將觸控感測器101之驅動或感測電極耦合至亦安置於觸控感測器101之基板上的連接墊106。如下文所描述，連接墊106促進將連接線104耦合至觸控感測器控制器102。連接線104可延伸至觸控感測器101之觸敏區域中或圍繞觸控感測器101之觸敏區域(例如，在其等之邊緣處)延伸。在一項實施例中，特定連接線104提供用於將觸控感測器控制器102耦合至觸控感測器101之驅動電極的驅動連接，觸控感測器控制器102之驅動單元透過該等驅動連接將驅動信號供應至驅動電極，且其他連接線104提供用於將觸控感測器控制器102耦合至觸控感測器101之感測電極的感測連接，觸控感測器控制器102之感測單元透過該等感測連接感測觸控感測器101之電容性節點處的電荷。
連接線104係由金屬或其他導電材料之細線製成。例如，連接線104之導電材料可為銅或銅基且具有近似100μm或更小之一寬度。作為另一實例，連接線104之導電材料可為銀或銀基且具有近似100μm或更小之一寬度。在一項實施例中，除金屬或其他導電材料之細線外或作為金屬或其他導電材料之細線的一替代方案，連接線104亦全部或部分由ITO製成。儘管本發明描述由具特定寬度之特定材料製成的特定軌道，但本發明設想 由具有其他寬度之其他材料製成之軌道。除連接線104外，觸控感測器101亦可在觸控感測器101之基板的一邊緣處包含終止於一接地連接器(其可為一連接墊106)處之一或多條接地線(類似於連接線104)。
連接墊106可在觸控感測器101之一觸敏區域外，沿基板之一或多個邊緣定位。如上文所描述，觸控感測器控制器102可在一FPC上。連接墊106可由相同於連接線104之材料製成且可使用一各向異性導電膜(ACF)接合至FPC。在一項實施例中，連接件108包含FPC上之導電線，該等導電線將觸控感測器控制器102耦合至連接墊106，繼而將觸控感測器控制器102耦合至連接線104及觸控感測器101之驅動或感測電極。在另一實施例中，連接墊106連接至一機電連接器(諸如，舉例而言一零插入力線至板連接器)。連接件108可包含或可不包含一FPC。本發明設想觸控感測器控制器102與觸控感測器101之間的任何連接件108。
在特定實施例中，系統100包含一顯示器堆疊。系統100之顯示器堆疊可包含與向一使用者顯示一影像相關聯之一或多個層。作為一實例，顯示器堆疊可包含具有將信號施加於顯示器之一像素層的元件之一層、一接地層(亦稱為共同電壓(VCOM)層)及/或一覆蓋層。在特定實施例中，電極放置於顯示器堆疊之像素層的像素列下方(自一使用者之視角)。本發明設想顯示器係能夠向一使用者呈現一影像之任何顯示器，諸如，舉例而言一液晶顯示器(LCD)、一有機發光二極體(OLED)顯示器等。在特定實施例中，觸控感測器101附接至顯示器(例如，一LCD或OLED)。在一些實施例中，系統100之顯示器係一單元中顯示器模組，且觸控感測器101及控制器102(例如，觸控感測器電路及驅動電路)內建至顯示器(例如，LCD或OLED)模組中。
圖1B繪示根據本發明之實施例的一觸控感測器101之一實例性機械堆疊160。在圖1B之實例性實施例中，機械堆疊160包含多個層且被繪示為相對於一z軸定位。實例性機械堆疊160包含一顯示器170、一第二導電層168、一基板166、一第一導電層164及一覆蓋層162。
在一實施例中，第二導電層168及第一導電層164分別係如上文結合圖1A所論述之驅動電極及感測電極。在一實施例中，第二導電層168及第一導電層164係如本發明中所描述之網格。在一實施例中，基板166包括電隔離第一導電層及第二導電層之一材料。在一實施例中，基板166為其他層提供機械支撐。在一實施例中，可依不同組態使用額外基板層(其等例如可能並非相同於基板166之材料)。例如，一第二基板層可定位於第二導電層168與顯示器170之間。顯示器170提供顯示資訊以供一使用者觀看。作為一實例，顯示器170可為一LCD、一OLED或任何其他合適類型之顯示器。在一實施例中，顯示器170可為具有配置成一交替像素顯示圖案之子像素的一交替像素顯示器。
覆蓋層162可為透明的或實質上透明的，且由一彈性材料製成以用於重複觸控，諸如，舉例而言玻璃、聚碳酸酯、聚(甲基丙烯酸甲酯)(PMMA)。在一實施例中，一透明或半透明黏著劑層放置於覆蓋層162與第一導電層164之間，及/或放置於第二導電層168與顯示器170之間。一使用者可藉由使用一手指或一些其他觸控物件(諸如一觸控筆)觸控覆蓋層162而與觸控感測器101互動。一使用者亦可藉由使一手指或一些其他觸控物件懸停於覆蓋層162上方，而不實際與覆蓋層162實體觸控而與觸控感測器101互動。
在圖1B之實例性實施例中，機械堆疊160包括兩個導電層。在一實施 例中，機械堆疊160可包括一單一導電層形成。機械堆疊160之其他實施例可實施其他組態、關係與視角以及更少或額外層。作為一項實例，導電層164及168之一或多者(及/或機械堆疊160之其他層)可與顯示器170整合，使得導電層164及168之一或多者定位於形成顯示器170之層內。在特定實施例中，與顯示器170整合之層可提供顯示器170之操作(例如，用於顯示一影像)及觸控感測之操作。作為另一實例，機械堆疊160可包含多個基板166，其中第一導電層164定位於一第一基板166上且第二導電層168定位於一第二基板166上。
圖2繪示根據本發明之實施例的一實例性點狀反轉像素圖案200。點狀反轉像素圖案200之各方格表示一像素。點狀反轉圖案200之列201a至201n對應於系統100之一顯示器模組的一像素層之像素列。例如，點狀反轉圖案200之列201a對應於一第一像素列，點狀反轉圖案200之列201b對應於第二像素列，以此類推。在特定實施例中，觸控感測器101之特定電極水平地定位於像素列201a至201n下方。例如，一第一電極可水平地定位於列201a下方，一第二電極可水平地定位於相鄰列201b下方，以此類推。在特定實施例中，一單一電極可覆蓋多個像素列。例如，一第一電極可水平地定位於若干第一像素列(例如，40個第一像素列)下方，一第二電極可水平地定位於相鄰於第一像素列之若干第二像素列(例如，40個第二相鄰列)下方，以此類推。
在特定實施例中，若干電極電耦合及/或實體耦合在一起以形成可覆蓋多個像素列201之一單一電極。作為一實例，一第一電極可包含水平地定位於若干第一像素列201(例如，40個第一相鄰列)下方之若干電極，一第二電極可包含水平地定位於相鄰於第一像素列201之若干第二像素列 201(例如，40個第二相鄰列)下方的若干電極，以此類推。
在特定實施例中，由一顯示器(例如，一LCD或OLED)產生之雜訊係隨時間變化的。在刷新顯示器上之一影像時，雜訊可遵循有雜訊週期及較無雜訊週期之一重複型樣。包括點狀反轉圖案200之一顯示器可產生至少兩種類型之雜訊。在所繪示實施例中，點狀反轉圖案200之交替列201a、201c、201e等(如由一正斜線陰影圖案指示)表示一第一類型之雜訊210(即，一「+-+」雜訊圖案)，且點狀反轉圖案200之交替列201b、201d、201f等(如由一反斜線陰影圖案指示)表示一第二類型之雜訊212(即，一「-+-」雜訊圖案)。「+」信號表示一正振幅峰值且「-」信號表示一負振幅峰值。在特定實施例中，自一零點參考量測之正振幅峰值的改變程度等於自一零點參考量測之負振幅峰值的改變程度。
圖3繪示根據本發明之實施例的一實例性雙點狀反轉圖案300。雙點狀反轉像素圖案300之各方格表示一像素。雙點狀反轉圖案300之列301對應於系統100之一顯示器模組的一像素層之像素列301a至301n。例如，雙點狀反轉圖案300之列301a對應於一第一像素列，雙點狀反轉圖案300之列301b對應於第二像素列，以此類推。包括雙點狀反轉圖案300之一顯示器(例如，一LCD或OLED)可產生四種類型之雜訊。在所繪示實施例中，雙點狀反轉圖案300之列301a、301e及301i(如由一正斜線陰影圖案指示)表示一第一類型之雜訊320(即，一「+-+」規則振幅圖案)，雙點狀反轉圖案300之列301b、301f及301j(如由一雙反斜線陰影圖案指示)表示一第二類型之雜訊(即，一「-+-」低振幅圖案)，雙點狀反轉圖案300之列301c、301g及301k(如由一正斜線虛線陰影圖案指示)表示一第三類型之雜訊(即，一「-+-」規則振幅圖案)，且雙點狀反轉圖案300之列301d、 301h及301l(如由一四重反斜線陰影圖案指示)表示一第四類型之雜訊(即，一「-+-」低振幅圖案)。在特定實施例中，自一零點參考量測之正(+)規則振幅峰值的改變程度等於自零點參考量測之負(-)規則振幅峰值的改變程度。類似地，自一零點參考量測之正(+)低振幅峰值的改變程度等於自零點參考量測之負(-)低振幅峰值的改變程度。
圖4繪示根據本發明之實施例的一實例性積分序列。可由系統100使用圖4中所繪示之積分序列。在特定實施例中，積分序列減少或消除包含特定像素圖案(例如，點狀反轉圖案200及雙點狀反轉圖案300)之顯示器上的閃爍，同時減少或消除觸控量測效能之任何降低。圖4展示一個同步信號402及三個色彩信號：紅色寫入信號404、綠色寫入信號406及藍色寫入信號408。
為了更新系統100之一顯示器，控制器102可使用同步信號來控制顯示器上之像素。為了促進由顯示器控制器定位對應於各像素資料之位置，控制器102可使用一水平同步(HSYNC)信號來指示一像素線之開始。本質上，HSYNC信號充當一時脈信號。例如，可由HSYNC信號之時序脈衝的上升邊緣(例如，自一低位準狀態改變至一高位準狀態)觸發一新像素線之一開始。據此，在控制器102偵測到HSYNC信號之時序脈衝的一者之上升邊緣時，所接收之後續像素資料將被解釋為屬於下一像素線。控制器102接著將更新彼像素線。一般技術者將明白，在另一實施例中，可由控制器102使用HSYNC脈衝之下降邊緣以起始一新像素線。
與HSYNC信號之同步可減少或消除觸控量測中之顯示器雜訊。在無此同步之情況下，可歸因於一充電信號(例如，充電信號410)之上升邊緣及下降邊緣而在像素電容器上插入或移除電荷，此可引起一電容器電壓的 波動。此波動可導致顯示器之發光強度及/或色彩強度(例如，紅光/綠光/藍光發射強度)的一改變。藉由使用如圖4中所展示之HSYNC延遲，控制器102在源資料未更新像素區域(例如，紅色寫入信號404、綠色寫入信號406及藍色寫入信號408)之等待週期期間掃描，此可減少或消除顯示器雜訊。在圖4之實施例中，最佳HSYNC延遲之範圍介於藍色寫入信號408之一下降邊緣與HSYNC信號402之一上升邊緣之間，如由圖4上之記號412指示。
在圖4之所繪示實施例中，觸控感測器之一或多個電極上驅動的充電信號410之上升邊緣及下降邊緣與HSYNC信號402之下降邊緣同步。在一些實施例中，充電信號410之上升邊緣及下降邊緣可與HSYNC信號402之上升邊緣同步。在特定實施例中，一HSYNC週期(例如，HSYNC週期1)可為5微秒至15微秒級。作為一實例，HSYNC週期1可為6.5微秒(即，16.6毫秒/2560個列)。來自HSYNC週期1及HSYNC週期2之所量測回應信號可包含所接收信號之所量測電壓、時間週期或任何其他特性。
在圖4中，控制器102引發觸控感測器101之一電極(例如，圖2之列201a下方的一電極或圖2之若干列201下方之電極的一組合)上的一正極化電荷，此導致圖4之充電信號410。控制器102接著在HSYNC週期1期間藉由感測與電極相關聯之充電信號410的一第一上升邊緣而執行一正積分(+)。類似地，控制器102引發觸控感測器101之電極上的一負極化電荷且在HSYNC週期2期間藉由感測與電極相關聯之充電信號410的一第一下降邊緣而執行一負積分(-)。藉由使所施加充電信號410之極性在針對HSYNC週期1之正極性與針對HSYNC週期2之負極性之間交替，觸控感測器控制器102可減少或消除雜訊，此係因為注入至系統100中之電荷(即， 雜訊)量等於自系統100取出之電荷(即，雜訊)量。每量測循環可使用兩個HSYNC週期(例如，HSYNC週期1及HSYNC週期2)。各量測循環與一ADC樣本(例如，ADC樣本1)相關聯。觸控感測器控制器102重複此應用及量測循環數次以自觸控感測器101之一或多個電極累積預定數目個樣本(例如，ADC樣本1及2)。
在特定實施例中，藉由對兩個或更多個樣本(例如，ADC樣本1及2)求平均值而執行一觸控電極量測。例如，可藉由對四個ADC樣本求平均值而執行一觸控量測，該四個ADC樣本包含可由「+-+-+-+-」表示之四個正及負積分對。在特定顯示器模組(例如，一單元中顯示器模組)中，電極可放置於觸控感測器101之一或多個像素列(例如，圖2之列201a至201n)頂部及/或下方。作為一實例，具有1080個像素列之一顯示器模組可包含27個電極。27個電極可等距間隔，使得各電極係40列寬。作為另一實例，各電極可為4列寬。在特定實施例中，控制器102在一第一電極(例如，圖2之列201a至201d下方的一電極)上循序地執行一積分序列(例如，與「+-+-+-+-」積分序列相關聯之8次積分)。積分可與一HSYNC信號(例如，圖4之HSYNC信號402)同步。在於第一電極上完成積分之後，控制器102接著可在一第二電極(例如，圖2之列201e至201h下方的一觸控電極)上執行相同積分序列。在特定實施例中，重複此型樣直至控制器102在最後一個電極上執行積分序列為止。
雖然此標準相移、HSYNC延遲方法可減少各種顯示器背景下之顯示器量測雜訊，但其亦可引起特定像素層圖案(諸如圖2之點狀反轉圖案200及圖3之雙點狀反轉圖案300)上之閃爍，此係因為無可用的消隱時間(blanking time)或顯示器未正在更新像素之時間。在無源資料被寫入至像 素時，消隱時間之類型包含：一垂直消隱間隔，其可出現於一顯示圖框之一結束與下一顯示圖框之一開始之間；及一水平消隱間隔，其可出現於一顯示列之一結束與下一顯示列之一開始之間。藉由改變特定ADC樣本之間的積分序列，可使顯示器源資料與控制器102之驅動信號之間的串擾之相位反相。在特定實施例中，正積分(+)、負積分(-)、負積分(-)、正積分(+)，以此類推之此序列(其可由「+--+」表示)可減少或消除閃爍而不劣化觸控量測。此外，此「+--+」積分序列利用所有可用HSYNC週期，其係100%有效，使得可達成最佳報告速率。
包含HSYNC週期1及2之一第一樣本量測(例如，圖4之ADC樣本1)導致針對第一類型之雜訊(例如，圖2之雜訊210)的一正積分(+)及針對第二類型之雜訊(例如，圖2之雜訊212)的一負積分(-)。因此，可需要一額外樣本量測來抵消或顯著地減少顯示器雜訊。在於HSYNC週期1期間執行第一正積分且在HSYNC週期2期間執行第一負積分之後，控制器102接著在HSYNC 2期間雙態切換充電信號410，從而導致電信號410之一第二上升邊緣。在特定實施例中，在ADC樣本1與ADC樣本2之間雙態切換充電信號410使顯示器源資料與充電信號410之間的串擾之相位反相，此可減少閃爍。
雙態切換充電信號410反轉信號410之極性。在特定例項中，將充電信號410自一高(例如，正)信號雙態切換至一低(例如，負)信號。類似地，在特定例項中，將充電信號410自一低信號雙態切換至一高信號。在特定實施例中，雙態切換充電信號410使得可以相同於當前積分(例如，在HSYNC週期2期間係第一負積分)之極性對下一積分量測時之電極充電。充電信號410之雙態切換可在成功完成電荷積分(例如，在HSYNC週期2期 間係第一負積分)之後且在後續HSYNC週期(例如，HSYNC週期3)開始之前發生。
為了獲得ADC樣本2，控制器102引發觸控感測器101之電極上的一第二負極化電荷且在HSYNC週期3期間藉由感測與電極相關聯之充電信號410的一第二下降邊緣而執行一第二負積分(-)。類似地，控制器102引發觸控感測器101之電極上的一正極化電荷且在HSYNC週期4期間藉由感測與電極相關聯之充電信號410的一第三上升邊緣而執行一第二正積分(+)。包含HSYNC週期3及4之一第二樣本量測(例如，圖4之ADC樣本2)導致第一類型之雜訊之一正積分(+)及第二類型之雜訊之一負積分。組合ADC樣本1及2導致第一類型之雜訊的一正積分(+)與負積分(-)及第二類型之雜訊的一負積分(-)與正積分(+)，此在特定實施例中可抵消或顯著地減少四個HSYNC週期內之閃爍及顯示器雜訊。
圖5及圖6分別繪示「+--+」序列可如何減少或消除一點狀反轉像素圖案及一雙點狀反轉像素圖案上之顯示器雜訊，同時減少顯示器閃爍。圖5繪示根據本發明之實施例的映射至一點狀反轉圖案(例如，圖2之點狀反轉圖案200)上之一實例性積分序列。圖5之12個行表示12個連續HSYNC週期(HSYNC週期1、HSYNC週期2、HSYNC週期3等)。各HSYNC週期與觸控感測器101之一或多個像素列(例如，圖2之一或多個像素列201)下方的一電極相關聯。像素列201與兩種類型之雜訊(例如，圖2之雜訊210及雜訊212)相關聯。
在圖5之所繪示實施例中，HSYNC週期1、3、5及7與一第一類型之雜訊(例如，圖2的第一類型之雜訊210)相關聯，且HSYNC週期2、4、6及8與一第二類型之雜訊(例如，圖2的第二類型之雜訊212)相關聯。HSYNC 週期1、4及7各與一上升x脈衝邊緣(+)相關聯，HSYNC週期3、5及8各與一下降x脈衝邊緣(-)相關聯，且HSYNC週期2及6各與一上升x脈衝邊緣及一下降x脈衝邊緣兩者(HSYNC週期2之「-+」及HSYNC週期6之「+-」)相關聯，此係因為充電信號在HSYNC週期2及6期間雙態切換。HSYNC週期1至4遵循「+--+」積分序列且HSYNC週期5至8遵循「-++-」積分序列，使得HSYNC週期1、4、6及7表示正積分(+)，且HSYNC週期2、3、5及8表示負積分(-)。此等積分序列之各者可抵消或顯著地減少兩種類型之顯示器雜訊，如下文所描述。
與第一類型之雜訊相關聯的HSYNC週期1及3分別表示一正積分(+)及一負積分(-)，由此抵消或顯著地減少第一類型之雜訊(即，和+/-=0)。與第二類型之雜訊相關聯的HSYNC週期2及4表示一負積分(-)及一正積分(+)，由此抵消或顯著地減少第二類型之雜訊(即，和-/+=0)。因此，可使用「+--+」積分序列來抵消或顯著地減少在四個HSYNC週期及兩個相關聯ADC樣本(ADC樣本1與HSYNC週期1及2相關聯且ADC樣本2與HSYNC週期3及4相關聯)內具一點狀反轉圖案之顯示器中的雜訊。
在圖5之所繪示實施例中，與第一類型之雜訊相關聯的HSYNC週期5及7分別表示一負積分(-)及一正積分(+)，由此抵消或顯著地減少第一類型之雜訊(即，和-/+=0)。與第二類型之雜訊相關聯的HSYNC週期6及8表示一正積分(+)及一負積分(-)，由此抵消或顯著地減少第二類型之雜訊(即，和+/-=0)。因此，可使用「-++-」積分序列來抵消或顯著地減少在ADC樣本3及4(ADC樣本3與HSYNC週期5及6相關聯且ADC樣本4與HSYNC週期7及8相關聯)內具一點狀反轉圖案之顯示器中的雜訊。
圖6繪示根據本發明之實施例的映射至一雙點狀反轉圖案(例如，圖3 之點狀反轉圖案300)上之一實例性積分序列。類似於圖5，圖6之8個行表示8個連續HSYNC週期(HSYNC週期1、HSYNC週期2、HSYNC週期3等)。然而，圖6之HSYNC週期與四種類型之雜訊相關聯。
在圖6之所繪示實施例中，HSYNC週期1及5與一第一類型之雜訊(例如，圖3的第一類型之雜訊320)相關聯，HSYNC週期2及6與一第二類型之雜訊(例如，圖3的第二類型之雜訊322)相關聯，HSYNC週期3及7與一第三類型之雜訊(例如，圖3的第三類型之雜訊324)相關聯，且HSYNC週期4及8與一第四類型之雜訊(例如，圖3的第四類型之雜訊326)相關聯。HSYNC週期1、4及7各與一上升x脈衝邊緣(+)相關聯，HSYNC週期3、5及8各與一下降x脈衝邊緣(-)相關聯，且HSYNC週期2及6各與一上升x脈衝邊緣及一下降x脈衝邊緣兩者(HSYNC週期2之「-+」及HSYNC週期6之「+-」)相關聯，此係因為充電信號在HSYNC週期2及6期間雙態切換。HSYNC週期1、4、6及7表示正積分(+)，且HSYNC週期2、3、5及8表示負積分(-)。此「+--+-++-」積分序列可抵消或顯著地減少四種類型之顯示器雜訊，如下文所描述。
如圖6中所展示，與第一類型之雜訊相關聯的HSYNC週期1及5分別表示一正積分(+)及一負積分(-)，由此抵消第一類型之雜訊(即，和+/-=0)。與第二類型之雜訊相關聯的HSYNC週期2及6表示一負積分(-)及一正積分(+)，由此抵消第二類型之雜訊(即，和-/+=0)。與第三類型之雜訊相關聯的HSYNC週期3及7表示一負積分(-)及一正積分(+)，由此抵消第三類型之雜訊(即，和-/+=0)。且與第四類型之雜訊相關聯的HSYNC週期4及8表示一正積分(+)及一負積分(-)，由此抵消第四類型之雜訊(即，和+/-=0)。因此，可使用「+--+-++-」積分序列來抵消在8個HSYNC週期及 四個ADC樣本(ADC樣本1與HSYNC週期1及2相關聯，ADC樣本2與HSYNC週期3及4相關聯，ADC樣本3與HSYNC週期5及6相關聯，且ADC樣本4與HSYNC週期7及8相關聯)內具一雙點狀反轉圖案之顯示器中的雜訊。
圖7繪示根據本發明之實施例的執行一積分序列之一實例性方法700。在特定實施例中，根據方法700執行積分可減少或消除與一觸控感測器器件之一像素層的一點狀反轉圖案相關聯之閃爍及雜訊。可由一觸控感測器控制器(例如，圖1A之控制器102)之邏輯(例如，硬體或軟體)執行方法700。例如，可藉由(運用觸控感測器控制器之一或多個處理器)執行儲存於觸控感測器控制器之一電腦可讀媒體中的指令而執行方法700。
方法700表示一「+--+」積分序列。方法開始於步驟705。在步驟710，在一第一同步週期(例如，圖4之HSYNC週期1)期間，藉由感測與一器件之一觸控感測器的一電極相關聯之一充電信號的一第一上升邊緣而執行一第一正積分(+)。方法700接著移動至步驟720，其中在一第二同步週期(例如，圖4之HSYNC週期2)期間，藉由感測與觸控感測器之電極相關聯的充電信號之一第一下降邊緣而執行一第一負積分(-)。第一正積分(+)及第一負積分(-)與一第一樣本量測(例如，圖4之ADC樣本1)相關聯。在步驟730，在第二同步週期(例如，圖4之HSYNC週期2)期間，雙態切換充電信號，使得導致充電信號之一第二上升邊緣。在特定實施例中，該電極包括若干電極(例如，40個電極)。例如，40個相鄰像素列下方之40個電極可電耦合及/或實體耦合以形成該電極。
在方法700之步驟740，在一第三同步週期(例如，圖4之HSYNC週期3)期間，藉由感測與觸控感測器之電極相關聯的充電信號之一第二下降邊 緣而執行一第二負積分(-)。方法700接著移動至步驟750，其中在一第四同步週期(例如，圖4之HSYNC週期4)期間，藉由感測與觸控感測器之電極相關聯的充電信號之一第三上升邊緣而執行一第二正積分(+)。第二負積分(-)及第二正積分(+)與一第二樣本量測(例如，圖4之ADC樣本2)相關聯。
在步驟760，方法700判定方法700之第一同步週期及第三同步週期是否與一第一類型之雜訊(例如，由圖2之點狀反轉圖案200產生的雜訊210)相關聯以及方法700之第二同步週期及第四同步週期是否與一第二類型之雜訊(例如，由圖2之點狀反轉圖案200產生的雜訊212)相關聯。若步驟760之判定係肯定的，則方法移動至步驟770，其中對第一樣本量測及第二樣本量測(例如，ADC樣本1及ADC樣本2)求和以抵消四個同步週期內的第一類型之雜訊及第二類型之雜訊且作出關於在觸控感測器101之一觸敏區域內是否已發生一觸控的一判定。若步驟760之判定係否定的，則方法700移動至步驟775，其中方法700結束。
方法700可包含多於或少於圖7中所繪示之彼等步驟的步驟。例如，若已確立雜訊之性質，則可免除方法700之步驟760。在此等情況下，方法700之步驟750可直接繼續進行至步驟770。作為另一實例，雖然方法700將「+--+」積分序列繪示為其與兩種類型之雜訊(例如，由一點狀反轉像素圖案產生的兩種類型之雜訊)相關，但一般技術者將明白，在另一實施例中，方法700可經修改以將「+--+-++-」積分序列繪示為其與四種類型之雜訊(例如，由圖3之一雙點狀反轉像素圖案300產生的雜訊320、322、324及326)相關。
在特定實施例中，方法700在兩個或更多個電極上執行一積分序列 (例如，「+--+」積分序列或「+--+-++-」積分序列)。作為一實例，方法700可在一第一電極上執行「+--+」積分序列。在於第一電極上完成「+--+」積分序列之四次積分之後，方法700接著可在一第二電極上執行「+--+」積分序列。類似地，在於第二電極上完成「+--+」積分序列之四次積分之後，方法700可在一第三電極上執行「+--+」積分序列，以此類推直至方法700在觸控感測器之所有電極上執行「+--+」積分序列為止。
儘管本發明將圖7的方法之特定步驟描述且繪示為按一特定次序發生，但本發明設想按任何次序發生之圖7的方法之任何步驟。一實施例可重複或省略圖7之方法的一或多個步驟。在特定實施例中，執行一動作之一特定組件(例如，觸控感測器控制器102)涵蓋引起另一組件執行該動作之一組件。此外，儘管本發明描述且繪示執行包含圖7之方法的特定步驟之一積分序列的一實例性方法，但本發明設想包含執行包含任何步驟(可包含圖7之方法的所有、一些步驟，或不包含圖7之方法的步驟)之一積分序列的任何方法。此外，儘管本發明描述且繪示執行圖7之方法的特定步驟之特定組件，但本發明設想執行圖7之方法的任何步驟之任何組件的任何組合。
在本文中，一電腦可讀非暫時性儲存媒體或若干媒體可包含一或多個基於半導體之IC或其他IC(諸如，舉例而言場可程式化閘陣列(FPGA)或ASIC)、硬碟機(HDD)、混合式硬碟機(HHD)、光碟、光碟機(ODD)、磁光碟、磁光碟機、軟碟、軟碟機(FDD)、磁帶、固態硬碟(SSD)、RAM磁碟機、安全數位卡或磁碟機、任何其他合適電腦可讀非暫時性儲存媒體、或彼等媒體之兩者或更多者的任何合適組合。一電腦可讀非暫時性儲存媒體可為揮發性、非揮發性或揮發性與非揮發性之一組合。
在本文中，除非另有明確指示或內文另有指示，否則「或」係包含性的且非排他性的。因此，在本文中，除非另有明確指示或內文另有指示，否則「A或B」意謂「A、B或兩者」。此外，除非另有明確指示或內文另有指示，否則「及」既係共同的又係個別的。因此，在本文中，除非另有明確指示或內文另有指示，否則「A及B」意謂「A及B，共同地或個別地」。
本發明涵蓋一般技術者將理解的對本文中之實例性實施例的大量改變、置換、變動、更改及修改。類似地，隨附發明申請專利範圍涵蓋一般技術者將理解的對本文中之實例性實施例的所有改變、置換、變動、更改及修改。此外，在隨附發明申請專利範圍中提及一裝置或系統或者一裝置或系統之一組件經調適以、經配置以、能夠、經組態以、經啟用以、可操作以或操作性的以執行一特定功能涵蓋彼裝置、系統、組件，無論其或彼特定功能是否經啟動、經開啟或經解鎖，只要彼裝置、系統、組件如此經調適、經配置、能夠、經組態、經啟用、可操作或操作性的。
700:方法
705:步驟
710:步驟
720:步驟
730:步驟
740:步驟
750:步驟
760:步驟
770:步驟
775:步驟

Claims (17)

  1. 一種觸控感測方法，其包括：在一第一同步週期期間，藉由感測與一觸控感測器之複數個電極之一電極相關聯的一充電信號之一第一下降邊緣(falling edge)而執行一第一負積分(negative integration)；在一第二同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第一上升邊緣(rising edge)而執行一第一正積分，其中該第一負積分及該第一正積分與一第一樣本量測相關聯；在該第二同步週期期間，雙態切換(toggling)該充電信號，從而導致該充電信號之一第二下降邊緣；在一第三同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第二上升邊緣而執行一第二正積分；及在一第四同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第三下降邊緣而執行一第二負積分，其中該第二正積分及該第二負積分與一第二樣本量測相關聯；其中該第一同步週期、該第二同步週期、該第三同步週期及該第四同步週期係連續發生的。
  2. 如請求項1之方法，其中：該第一同步週期及該第三同步週期與一第一類型之雜訊相關聯；該第二同步週期及該第四同步週期與一第二類型之雜訊相關聯；且該第一樣本量測及該第二樣本量測之一和(summation)抵消(cancel out)該第一同步週期、該第二同步週期、該第三同步週期及該第四同步週期內的該第一類型之雜訊及該第二類型之雜訊。
  3. 如請求項1之方法，其包括：在一第五同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第三上升邊緣而執行一第三正積分；在一第六同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第四下降邊緣而執行一第三負積分，其中該第三正積分及該第三負積分與一第三樣本量測相關聯；在該第六同步週期期間，雙態切換該充電信號，從而導致該充電信號之一第四上升邊緣；在一第七同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第五下降邊緣而執行一第四負積分；及在一第八同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的一充電信號之一第五上升邊緣而執行一第四正積分，其中該第四負積分及該第四正積分與一第四樣本量測相關聯。
  4. 如請求項3之方法，其中：該第一同步週期及該第五同步週期表示一第一類型之雜訊；該第二同步週期及該第六同步週期表示一第二類型之雜訊；該第三同步週期及該第七同步週期表示一第三類型之雜訊；該第四同步週期及該第八同步週期表示一第四類型之雜訊；且該第一樣本量測、該第二樣本量測、該第三樣本量測及該第四樣本 量測之一和抵消(cancel out)該第一同步週期、該第二同步週期、該第三同步週期、該第四同步週期、該第五同步週期、該第六同步週期、該第七同步週期及該第八同步週期內的該第一類型之雜訊、該第二類型之雜訊、該第三類型之雜訊及該第四類型之雜訊。
  5. 如請求項1之方法，其中該複數個電極之該電極包括兩個或更多個電耦合電極，該兩個或更多個電耦合電極水平地定位於一器件之一顯示器的相鄰像素列下方。
  6. 一種觸控感測器器件，其包括：一觸控感測器，其包括複數個電極；及一控制器，其耦合至該觸控感測器，該控制器包括邏輯，該邏輯引起該控制器以：在一第一同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之一電極相關聯的一充電信號之一第一下降邊緣而執行一第一負積分；在一第二同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第一上升邊緣而執行一第一正積分，其中該第一負積分及該第一正積分與一第一樣本量測相關聯；在該第二同步週期期間，雙態切換該充電信號，從而導致該充電信號之一第二下降邊緣；在一第三同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第二上升邊緣而執行一第二正積分；及在一第四同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關 聯的該充電信號之一第三下降邊緣而執行一第二負積分，其中該第二正積分及該第二負積分與一第二樣本量測相關聯；其中該第一同步週期、該第二同步週期、該第三同步週期及該第四同步週期係連續發生的。
  7. 如請求項6之器件，其中：該第一同步週期及該第三同步週期與一第一類型之雜訊相關聯；該第二同步週期及該第四同步週期與一第二類型之雜訊相關聯；且該第一樣本量測及該第二樣本量測之一和抵消該第一同步週期、該第二同步週期、該第三同步週期及該第四同步週期內的該第一類型之雜訊及該第二類型之雜訊。
  8. 如請求項6之器件，其中該邏輯引起該控制器以：在一第五同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之一第二電極相關聯的該充電信號之一第三上升邊緣而執行一第三正積分；在一第六同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該第二電極相關聯的該充電信號之一第四下降邊緣而執行一第三負積分，其中該第三正積分及該第三負積分與一第三樣本量測相關聯；在該第六同步週期期間，雙態切換該充電信號，從而導致該充電信號之一第四上升邊緣；在一第七同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該第二電極相關聯的該充電信號之一第五下降邊緣而執行一第四負積分；及在一第八同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該第二電極相 關聯的一充電信號之一第五上升邊緣而執行一第四正積分，其中該第四負積分及該第四正積分與一第四樣本量測相關聯。
  9. 如請求項8之器件，其中：該第一同步週期及該第五同步週期表示一第一類型之雜訊；該第二同步週期及該第六同步週期表示一第二類型之雜訊；該第三同步週期及該第七同步週期表示一第三類型之雜訊；該第四同步週期及該第八同步週期表示一第四類型之雜訊；且該第一樣本量測、該第二樣本量測、該第三樣本量測及該第四樣本量測之一和抵消該第一同步週期、該第二同步週期、該第三同步週期、該第四同步週期、該第五同步週期、該第六同步週期、該第七同步週期及該第八同步週期內的該第一類型之雜訊、該第二類型之雜訊、該第三類型之雜訊及該第四類型之雜訊。
  10. 如請求項6之器件，其中該器件包括一混合式單元中液晶顯示器(LCD)，該LCD包括來自一組下列反轉圖案之一者：一棋盤點狀反轉圖案，其產生一第一類型之雜訊及第二類型之雜訊；及一棋盤雙點狀反轉圖案，其產生一第一類型之雜訊、第二類型之雜訊、第三類型之雜訊及第四類型之雜訊。
  11. 如請求項6之器件，其中該複數個電極之該電極包括兩個或更多個電耦合電極，該兩個或更多個電耦合電極水平地定位於一器件之一顯示器的 相鄰像素列下方。
  12. 一或多種電腦可讀非暫時性儲存媒體，其體現(embody)邏輯以：在一第一同步週期期間，藉由感測與一觸控感測器之複數個電極之一電極相關聯的一充電信號之一第一下降邊緣而執行一第一負積分；在一第二同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第一上升邊緣而執行一第一正積分，其中該第一負積分及該第一正積分與一第一樣本量測相關聯；在該第二同步週期期間，雙態切換該充電信號，從而導致該充電信號之一第二下降邊緣；在一第三同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第二上升邊緣而執行一第二正積分；及在一第四同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該電極相關聯的該充電信號之一第三下降邊緣而執行一第二負積分，其中該第二正積分及該第二負積分與一第二樣本量測相關聯；其中該第一同步週期、該第二同步週期、該第三同步週期及該第四同步週期係連續發生的。
  13. 如請求項12之一或多種電腦可讀非暫時性儲存媒體，其中：該第一同步週期及該第三同步週期與一第一類型之雜訊相關聯；該第二同步週期及該第四同步週期與一第二類型之雜訊相關聯；且該第一樣本量測及該第二樣本量測之一和抵消該第一同步週期、該 第二同步週期、該第三同步週期及該第四同步週期內的該第一類型之雜訊及該第二類型之雜訊。
  14. 如請求項12之一或多種電腦可讀非暫時性儲存媒體，其中該邏輯以：在一第五同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之一第二電極相關聯的該充電信號之一第三上升邊緣而執行一第三正積分；在一第六同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該第二電極相關聯的該充電信號之一第四下降邊緣而執行一第三負積分，其中該第三正積分及該第三負積分與一第三樣本量測相關聯；在該第六同步週期期間，雙態切換該充電信號，從而導致該充電信號之一第四上升邊緣；在一第七同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該第二電極相關聯的該充電信號之一第五下降邊緣而執行一第四負積分；及在一第八同步週期期間，藉由感測與該複數個電極之該第二電極相關聯的一充電信號之一第五上升邊緣而執行一第四正積分，其中該第四負積分及該第四正積分與一第四樣本量測相關聯。
  15. 如請求項14之一或多種電腦可讀非暫時性儲存媒體，其中：該第一同步週期及該第五同步週期表示一第一類型之雜訊；該第二同步週期及該第六同步週期表示一第二類型之雜訊；該第三同步週期及該第七同步週期表示一第三類型之雜訊；該第四同步週期及該第八同步週期表示一第四類型之雜訊；且 該第一樣本量測、該第二樣本量測、該第三樣本量測及該第四樣本量測之一和抵消該第一同步週期、該第二同步週期、該第三同步週期、該第四同步週期、該第五同步週期、該第六同步週期、該第七同步週期及該第八同步週期內的該第一類型之雜訊、該第二類型之雜訊、該第三類型之雜訊及該第四類型之雜訊。
  16. 如請求項12之一或多種電腦可讀非暫時性儲存媒體，其中該觸控感測器與一混合式單元中液晶顯示器(LCD)相關聯，該LCD包括來自一組下列反轉圖案之一者：一棋盤點狀反轉圖案，其產生一第一類型之雜訊及第二類型之雜訊；及一棋盤雙點狀反轉圖案，其產生一第一類型之雜訊、第二類型之雜訊、第三類型之雜訊及第四類型之雜訊。
  17. 如請求項12之一或多種電腦可讀非暫時性儲存媒體，其中該複數個電極之該電極包括兩個或更多個電耦合電極，該兩個或更多個電耦合電極水平地定位於一器件之一顯示器的相鄰像素列下方。
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