KR102527785B1 - 터치 센서 신호 적산 - Google Patents

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Abstract

소정의 실시예들에서, 방법은 제1 동기 기간 동안 터치 센서의 충전 신호의 제1 상승 에지를 감지함으로써 제1 양의 적산을 수행하는 단계 및 제2 동기 기간 동안 충전 신호의 제1 하강 에지를 감지함으로써 제1 음의 적산을 수행하는 단계를 포함한다. 상기 방법은 또한 충전 신호를 토글하여, 제2 동기 기간 동안 충전 신호의 제2 상승 에지를 야기하는 단계를 포함한다. 상기 방법은 제3 동기 기간 동안 충전 신호의 제2 하강 에지를 감지함으로써 제2 음의 적산을 수행하는 단계 및 제4 동기 기간 동안 충전 신호의 제3 상승 에지를 감지함으로써 제2 양의 적산을 수행하는 단계를 추가로 포함한다. 제1 적산들은 제1 샘플 측정과 연관되고 제2 적산들은 제2 샘플 측정과 연관된다.

Description

터치 센서 신호 적산{TOUCH SENSOR SIGNAL INTEGRATION}
본 개시내용은 일반적으로 터치 센서들에 관한 것이다.
예시적인 시나리오에 따르면, 터치 센서는 디바이스의 터치 센서의 터치-감지 영역 내의 물체(예를 들어, 사용자의 손가락 또는 스타일러스)의 존재 및 위치를 검출한다. 터치-감지-디스플레이 응용에서, 터치 센서는 사용자가 마우스 또는 터치 패드와 간접적으로보다는, 디스플레이 스크린 상에 디스플레이되는 것과 직접 상호작용하게 한다. 터치 센서는 데스크탑 컴퓨터, 랩탑 컴퓨터, 태블릿 컴퓨터, 개인 휴대 단말기("PDA"), 스마트폰, 위성 내비게이션 디바이스, 휴대용 미디어 플레이어, 휴대용 게임 콘솔, 키오스크 컴퓨터, 포인트-오브-세일 디바이스, 또는 다른 디바이스에 부착되거나 그 부분으로서 제공될 수 있다. 제어 패널 또는 가정용 또는 다른 기기는 터치 센서를 포함할 수 있다.
예를 들어, 감압식 감지 센서들, 표면 음향파 터치 센서들, 및 정전식 터치 센서들과 같은, 많은 상이한 유형들의 터치 센서들이 있다. 한 예에서, 물체가 (예를 들어, 터치 센서의 터치 센서 어레이 위에 있는 커버 층에 물리적으로 터치함으로써) 터치 스크린의 터치 센서의 터치 감지 영역 내의 터치 스크린에 물리적으로 터치하거나 (예를 들어, 터치 센서의 터치 센서 어레이 위에 있는 커버 층 위에 호버링함으로써) 터치 센서의 검출 거리 내에 들어올 때, 용량의 변화가 터치 센서의 터치 감지 영역 내의 물체의 위치에 대응하는 터치 스크린의 터치 센서의 위치에서 터치 스크린 내에 일어날 수 있다. 터치 센서 제어기는 터치 센서 내의 용량의 변화의 위치를 결정하기 위해 용량의 변화를 처리한다.
도 1a는 본 개시내용의 실시예들에 따른 터치 센서 및 제어기를 포함하는 예시적인 시스템을 도시한다.
도 1b는 본 개시내용의 실시예들에 따른 터치 센서에 대한 예시적인 기계적 스택을 도시한다.
도 2는 본 개시내용의 실시예들에 따른 예시적인 도트 역 화소 패턴을 도시한다.
도 3은 본 개시내용의 실시예들에 따른 예시적인 이중 도트 역 화소 패턴을 도시한다.
도 4는 본 개시내용의 실시예들에 따른 예시적인 적산(integration) 시퀀스를 도시한다.
도 5는 본 개시내용의 실시예들에 따른 도트 역 패턴 상으로 맵핑된 예시적인 적산 시퀀스를 도시한다.
도 6은 본 개시내용의 실시예들에 따른 이중 도트 역 패턴 상으로 맵핑된 예시적인 적산 시퀀스를 도시한다.
도 7은 본 개시내용의 실시예들에 따른 적산 시퀀스를 수행하는 예시적인 방법을 도시한다.
한 실시예에서, 디바이스는 터치 센서를 포함한다. 터치 센서는 복수의 전극을 포함한다. 디바이스는 터치 센서에 결합된 제어기를 추가로 포함한다. 제어기는 실행될 때, 제어기로 하여금 다른 가능한 동작들 중에서, 다음의 동작을 수행하게 하는 논리를 포함한다: 제1 동기 기간 동안 복수의 전극 중 한 전극과 연관된 충전 신호의 제1 상승 에지를 감지함으로써 제1 양의 적산, 및 제2 동기 기간 동안 복수의 전극 중 상기 전극과 연관된 충전 신호의 제1 하강 에지를 감지함으로써 제1 음의 적산. 논리는 또한 실행될 때, 제어기로 하여금 충전 신호를 토글하게 하여, 제2 동기 기간 동안 충전 신호의 제2 상승 에지를 야기하게 하도록 구성된다. 제1 양의 적산 및 제1 음의 적산은 제1 샘플 측정과 연관된다. 논리는 실행될 때, 제어기로 하여금 다음의 동작을 수행하게 하도록 추가로 구성된다: 제3 동기 기간 동안 복수의 전극 중 상기 전극과 연관된 충전 신호의 제2 하강 에지를 감지함으로써 제2 음의 적산, 및 제4 동기 기간 동안 복수의 전극 중 상기 전극과 연관된 충전 신호의 제2 상승 에지를 감지함으로써 제2 양의 적산. 제2 양의 적산 및 제2 음의 적산은 제2 샘플 측정과 연관된다.
도 1a는 본 개시내용의 실시예들에 따른 터치 센서 및 제어기를 포함하는 예시적인 시스템(100)을 도시한다. 터치 센서 시스템(100)은 터치 센서(101)의 터치-감지 영역 내의 물체의 터치 또는 근접의 존재 또는 위치를 검출하도록 동작가능한 터치 센서(101) 및 터치 센서 제어기(102)를 포함한다. 터치 센서(101)는 하나 이상의 터치-감지 영역을 포함한다. 한 실시예에서, 터치 센서(101)는 유전체 재료로 만들어질 수 있는 하나 이상의 기판 상에 배치된 전극들의 어레이를 포함한다. 터치 센서라고 하는 것은 터치 센서(101)의 전극들과 그들이 배치되는 기판(들) 모두를 포괄할 수 있다. 대안적으로, 터치 센서라고 하는 것은 터치 센서(101)의 전극들을 포괄하지만, 그들이 배치되는 기판(들)은 포괄하지 않을 수 있다.
터치 센서(101)의 전극들은 원반형, 정사각형, 직사각형, 얇은 선, 다이아몬드, 다른 형상, 또는 이들 형상의 조합을 형성하는 도전성 재료를 포함한다. 도전성 재료의 하나 이상의 층 내의 하나 이상의 컷은 전극의 형상을 (적어도 부분적으로) 생성할 수 있고, 형상의 영역은 그들 컷에 의해 (적어도 부분적으로) 경계지어질 수 있다. 소정의 실시예들에서, 전극의 도전성 재료는 그것의 형상의 영역의 거의 100%를 차지한다. 예를 들어, 전극은 인듐 주석 산화물(ITO)로 만들어질 수 있고 전극의 ITO는 그것의 형상의 영역의 거의 100%를 차지한다(때때로 100% 필(fill)이라고 함). 소정의 실시예들에서, 전극의 도전성 재료는 그것의 형상의 영역의 100% 미만을 차지한다. 예를 들어, 전극은 예를 들어, 구리, 은, 탄소, 또는 구리계, 은계, 또는 탄소계 재료와 같은 금속 또는 다른 도전성 재료(FLM)의 미세한 선들로 만들어질 수 있고, 도전성 재료의 미세한 선들은 해치된, 메시, 또는 다른 패턴으로 된 그것의 형상의 영역의 단지 수 퍼센트(예를 들어, 거의 5%)를 차지할 수 있다. 본 개시내용은 특정한 패턴들을 갖는 특정한 필 퍼센티지들을 갖는 특정한 형상들을 형성하는 특정한 도전성 재료로 만들어진 특정한 전극들을 설명하거나 예시하지만, 본 개시내용은 임의의 적합한 패턴들을 갖는 임의의 적절한 필 퍼센티지들을 갖는 임의의 적절한 형상들을 형성하는 임의의 적절한 도전성 재료로 만들어진 전극들을 고려한다.
터치 센서(101)의 전극들(또는 다른 요소들)의 형상들은 터치 센서(101)의 하나 이상의 매크로-특징을 전체적으로 또는 부분적으로 구성한다. (예를 들어, 형상들 내의 도전성 재료들, 필들, 또는 패턴들과 같은) 그들 형상의 구현의 하나 이상의 특성은 터치 센서(101)의 하나 이상의 매크로-특징을 전체적으로 또는 부분적으로 구성한다. 터치 센서(101)의 하나 이상의 매크로-특징은 그것의 기능성의 하나 이상의 특성을 결정할 수 있고, 터치 센서(101)의 하나 이상의 매크로-특징은 투과, 굴절, 또는 반사와 같은, 터치 센서(101)의 하나 이상의 광학 특징을 결정할 수 있다.
터치 센서(101)의 전극들은 임의의 패턴(예를 들어, 그리드 패턴 또는 다이아몬드 패턴)으로 구성될 수 있다. 각각의 구성은 제1 세트의 전극들 및 제2 세트의 전극들을 포함할 수 있다. 제1 세트의 전극들 및 제2 세트의 전극들은 복수의 용량성 노드를 형성하기 위해 중첩한다. 소정의 실시예들에서, 제1 세트의 전극들은 수평이고 제2 세트의 전극들은 수직이다. 특정한 패턴들로 설명되지만, 본 개시내용에 따른 터치 센서들의 전극들은 임의의 적절한 패턴으로 될 수 있다. 소정의 실시예들에서, 예를 들어, 제1 세트의 전극들은 수평에 대해 임의의 적절한 각도에 있을 수 있고 제2 세트의 전극들은 수직에 대해 임의의 적절한 각도에 있을 수 있다. 본 개시내용은 전극들의 임의의 적절한 패턴, 구성, 디자인, 또는 배열을 기대하고 위에 논의된 예시적인 패턴들로 제한되지 않는다.
본 개시내용이 많은 예시적인 전극들을 설명하지만, 본 개시내용은 이들 예시적인 전극으로 제한되지 않고 다른 전극들이 구현될 수 있다. 부가적으로, 본 개시내용이 특정한 노드들을 형성하는 특정한 전극들의 특정한 구성들을 포함하는 많은 예시적인 실시예들을 설명하지만, 본 개시내용은 이들 예시적인 실시예로 제한되지 않고 다른 구성들이 구현될 수 있다. 한 실시예에서, 많은 전극들이 동일한 기판의 동일하거나 상이한 표면들 상에 배치된다. 부가적으로 또는 대안적으로, 상이한 전극들은 상이한 기판들 상에 배치될 수 있다. 본 개시내용이 특정한 예시적인 패턴들로 배열된 특정한 전극들을 포함하는 많은 예시적인 실시예들을 설명하지만, 본 개시내용은 이들 예시적인 패턴으로 제한되지 않고 다른 전극 패턴들이 구현될 수 있다.
기계적 스택은 기판(또는 다수의 기판) 및 터치 센서(101)의 전극들을 형성하는 도전성 재료를 포함한다. 예를 들어, 기계적 스택은 커버 패널 아래에 광학적 투명 접착제(OCA)의 제1 층을 포함할 수 있다. 커버 패널은 투명하고 예를 들어, 유리, 폴리카보네이트, 또는 폴리(메틸 메타크릴레이트)(PMMA)와 같은, 반복되는 터칭에 대한 탄성 재료로 만들어질 수 있다. 본 개시내용은 임의의 재료로 만들어진 커버 패널을 고려한다. OCA의 제1 층은 커버 패널과 전극들을 형성하는 도전성 재료를 갖는 기판 사이에 배치될 수 있다. 기계적 스택은 또한 OCA의 제2 층 및 (PET 또는 전극들을 형성하는 도전성 재료를 갖는 기판과 유사한 또 하나의 재료로 만들어질 수 있는) 유전체 층을 포함할 수 있다. 대안으로서, 유전체 재료의 얇은 코팅이 OCA의 제2 층 및 유전체 층 대신에 도포될 수 있다. OCA의 제2 층은 전극들을 구성하는 도전성 재료를 갖는 기판과 유전체 층 사이에 배치될 수 있고, 유전체 층은 OCA의 제2 층과 터치 센서(101) 및 터치 센서 제어기(102)를 포함하는 디바이스의 디스플레이와의 공기 갭 사이에 배치될 수 있다. 예를 들어, 커버 패널은 약 1밀리미터(㎜)의 두께를 가질 수 있고; OCA의 제1 층은 약 0.05㎜의 두께를 가질 수 있고; 전극들을 형성하는 도전성 재료를 갖는 기판은 약 0.05㎜의 두께를 가질 수 있고; OCA의 제2 층은 약 0.05㎜의 두께를 가질 수 있고; 유전체 층은 약 0.05㎜의 두께를 가질 수 있다.
본 개시내용이 특정한 재료들로 만들어지고 특정한 두께를 갖는 특정한 수의 특정한 층들을 갖는 특정한 기계적 스택을 설명하지만, 본 개시내용은 임의의 재료들로 만들어지고 임의의 두께를 갖는 임의 수의 층들을 갖는 다른 기계적 스택들을 고려한다. 예를 들어, 한 실시예에서, 접착제 또는 유전체의 층은 위에 설명된 유전체 층, OCA의 제2 층, 및 공기 갭을 대체할 수 있고, 디스플레이 내에 공기 갭은 없다.
터치 센서(101)의 기판의 하나 이상의 부분은 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET) 또는 또 하나의 재료로 만들어질 수 있다. 본 개시내용은 임의의 재료(들)로 만들어진 부분들을 갖는 임의의 기판을 고려한다. 한 실시예에서, 터치 센서(101) 내의 하나 이상의 전극은 전체적으로 또는 부분적으로 ITO로 만들어진다. 부가적으로 또는 대안적으로, 터치 센서(101) 내의 하나 이상의 전극은 금속 또는 다른 도전성 재료의 미세한 선들로 만들어진다. 예를 들어, 도전성 재료의 하나 이상의 부분은 구리 또는 구리계이고 약 5미크론(㎛) 이하의 두께 및 약 10㎛ 이하의 폭을 가질 수 있다. 또 하나의 예로서, 도전성 재료의 하나 이상의 부분은 은 또는 은계이고 유사하게 약 5㎛ 이하의 두께 및 약 10㎛ 이하의 폭을 가질 수 있다. 본 개시내용은 임의의 재료들로 만들어진 임의의 전극들을 고려한다.
터치 센서 제어기(102)는 본 개시내용의 실시예에 따라 접속부(108)에 의해 터치 센서(101)에 접속된다. 실시예에서, 터치 센서 제어기(102)는 접속 패드들(106)을 통해 터치 센서(101)에 전기적으로 결합된다. 일부 실시예들에서, 터치 센서 제어기(102)는 하나 이상의 메모리 유닛 및 하나 이상의 프로세서를 포함한다. 그들 실시예 중 소정의 실시예에서, 하나 이상의 메모리 유닛 및 하나 이상의 프로세서는 그들이 상호의존하여 동작하도록 전기적으로 상호접속된다. 하나 이상의 메모리 유닛 및 하나 이상의 프로세서는 터치 센서(101)에 전기적으로 결합되어, 터치 센서(101)가 터치 센서(101)에 전기 신호들을 송신하고 그로부터 전기 신호들을 수신하게 한다.
한 실시예에서, 터치 센서(101)는 터치 감지의 정전식 형태를 구현한다. 상호-정전용량 구현에서, 터치 센서(101)는 용량성 노드들의 어레이를 형성하는 구동 및 감지 전극들의 어레이를 포함할 수 있다. 터치 센서(101)는 하나의 기판의 한 측 상의 패턴 내에 배치된 구동 전극들 및 또 하나의 기판의 한 측 상의 패턴 내에 배치된 감지 전극들을 가질 수 있다. 이러한 구성들에서, 구동 전극과 감지 전극의 교점은 용량성 노드를 형성한다. 이러한 교점은 구동 전극과 감지 전극이 그들 각각의 평면에서 서로 "교차" 또는 가장 가깝게 되는 위치일 수 있다. 용량성 노드를 형성하는 구동 및 감지 전극들은 서로 가까이 배치되지만 서로 전기적 접촉하지 않는다. 대신에, 예를 들어 구동 전극들에 인가되는 신호에 응답하여, 구동 전극과 감지 전극은 그들 사이의 공간을 가로질러 서로 용량성 결합한다.
(터치 센서 제어기(102)에 의해) 구동 전극에 인가된, 펄스형 또는 교류 전압인 충전 신호는 감지 전극 상에 전하를 유도하고, 유도된 전하의 양은 (물체의 터치 또는 근접과 같은) 외부 영향을 받기 쉽다. 물체가 용량성 노드에 터치하거나 그에 근접하여 올 때, 용량의 변화가 용량성 노드에서 일어날 수 있고 터치 센서 제어기(102)는 용량의 변화를 측정한다. 터치 센서(101) 전체를 통하는 용량의 변화들을 측정함으로써, 터치 센서 제어기(102)는 터치 센서(101)의 터치-감지 영역들 내의 터치 또는 근접의 위치를 결정한다.
자기-정전용량 구현에서, 터치 센서(101)는 용량성 노드를 각각 형성할 수 있는 단일 유형의 전극들의 어레이를 포함할 수 있다. 물체가 용량성 노드에 터치하거나 그에 근접하여 올 때, 자기-정전용량의 변화가 용량성 노드에서 일어날 수 있고 터치 센서 제어기(102)는 예를 들어, 용량성 노드에서의 전압을 미리 결정된 양 만큼 상승시키기 위해 충전 신호에 의해 유도된 전하의 양의 변화로서, 용량의 변화를 측정한다. 상호-정전용량 구현에 대해서는, 어레이 전체를 통하는 용량의 변화들을 측정함으로써, 터치 센서 제어기(102)는 터치 센서(101)의 터치-감지 영역들 내의 터치 또는 근접의 위치를 결정한다. 본 개시내용은 정전식 터치 감지의 임의 형태를 고려한다.
본 개시내용이 특정한 노드들을 형성하는 특정한 전극들의 특정한 구성들을 설명하지만, 본 개시내용은 노드들을 형성하는 전극들의 다른 구성들을 고려한다. 더욱이, 본 개시내용은 임의 패턴들로 임의 수의 기판들 상에 배치된 다른 전극들을 고려한다.
위에 설명된 것과 같이, 터치 센서(101)의 용량성 노드에서의 용량의 변화는 용량성 노드의 위치에서의 터치 또는 근접 입력을 표시할 수 있다. 터치 센서 제어기(102)는 터치 또는 근접 입력의 존재 및 위치를 결정하기 위해 용량의 변화를 검출하고 처리한다. 한 실시예에서, 터치 센서 제어기(102)는 다음에 터치 센서(101) 및 터치 센서 제어기(102)를 포함할 수 있고, 디바이스(또는 디바이스 상에서 실행하는 애플리케이션)의 기능을 개시함으로써 터치 또는 근접 입력에 응답할 수 있는, 디바이스의 (하나 이상의 중앙 처리 장치(CPU들)와 같은) 하나 이상의 다른 소자에의 터치 또는 근접 입력에 관한 정보를 통신한다. 본 개시내용이 특정한 디바이스 및 특정한 터치 센서(101)와 관련하여 특정한 기능성을 갖는 특정한 터치 센서 제어기(102)를 설명하지만, 본 개시내용은 임의의 디바이스 및 임의의 터치 센서와 관련하여 임의의 기능성을 갖는 다른 터치 센서 제어기들을 고려한다.
한 실시예에서, 터치 센서 제어기(102)는 예를 들어 범용 프로세서들, 마이크로컨트롤러들, 프로그램가능한 논리 디바이스들 또는 어레이들, 또는 주문형 IC들(ASIC들)과 같은 하나 이상의 집적 회로(IC들)로서 구현된다. 터치 센서 제어기(102)는 아날로그 회로, 디지털 논리, 및 디지털 비휘발성 메모리의 임의의 조합을 포함한다. 한 실시예에서, 터치 센서 제어기(102)는 아래에 설명되는 것과 같이, 터치 센서(101)의 기판에 결합된 가요성 인쇄 회로(FPC) 상에 배치된다. FPC는 능동 또는 수동일 수 있다. 한 실시예에서, 다수의 터치 센서 제어기(102)가 FPC 상에 배치된다.
예시적인 구현에서, 터치 센서 제어기(102)는 프로세서 유닛, 구동 유닛, 감지 유닛, 및 저장 유닛을 포함한다. 이러한 구현에서, 구동 유닛은 터치 센서(101)의 구동 전극들에 구동 신호들을 공급하고, 감지 유닛은 터치 센서(101)의 용량성 노드들에서의 전하를 감지하고 용량성 노드에서의 용량을 나타내는 측정 신호들을 프로세서 유닛에 제공한다. 프로세서 유닛은 구동 유닛에 의한 구동 전극으로의 구동 신호들의 공급을 제어하고 터치 센서(101)의 터치-감지 영역들 내의 터치 또는 근접 입력의 존재 및 위치를 검출 및 처리하기 위해 감지 유닛으로부터의 측정 신호들을 처리한다. 프로세서 유닛은 또한 터치 센서(101)의 터치-감지 영역 내의 터치 또는 근접 입력의 위치의 변화들을 추적할 수 있다. 저장 유닛은 구동 전극들로 구동 신호들을 공급하도록 구동 유닛을 제어하기 위한 프로그래밍, 감지 유닛으로부터의 측정 신호들을 처리하기 위한 프로그래밍, 다른 프로그래밍을 포함하는, 프로세서 유닛에 의해 실행하기 위한 프로그래밍을 저장한다. 본 개시내용이 특정한 소자들로의 특정한 구현을 갖는 특정한 터치 센서 제어기(102)를 설명하지만, 본 개시내용은 다른 소자들로의 다른 구현들을 갖는 터치 센서 제어기를 고려한다.
터치 센서(101)의 기판 상에 배치된 도전성 재료의 한 예에서 형성된 접속 선들(104)은 터치 센서(101)의 구동 또는 감지 전극들을 터치 센서(101)의 기판 상에 또한 배치된 접속 패드들(106)에 결합시킨다. 아래에 설명되는 것과 같이, 접속 패드들(106)은 접속 선들(104)의 터치 센서 제어기(102)에의 결합을 용이하게 한다. 접속 선들(104)은 터치 센서(101)의 터치-감지 영역들 내로 또는 주위에(예를 들어, 그것의 에지들에) 연장할 수 있다. 한 실시예에서, 특정한 접속 선들(104)은 터치 센서(101)의 구동 전극들에 터치 센서 제어기(102)를 결합시키는 구동 접속들을 제공하고, 그를 통해 터치 센서 제어기(102)의 구동 유닛은 구동 전극들에 구동 신호들을 공급하고, 다른 접속 선들(104)은 터치 센서(101)의 감지 전극들에 터치 센서 제어기(102)를 결합시키는 감지 접속들을 제공하고, 그를 통해 터치 센서 제어기(102)의 감지 유닛은 터치 센서(101)의 용량성 노드들에서의 전하를 감지한다.
접속 선들(104)은 금속 또는 다른 도전성 재료의 미세한 선들로 만들어진다. 예를 들어, 접속 선들(104)의 도전성 재료는 구리 또는 구리계이고 약 100㎛ 이하의 폭을 가질 수 있다. 또 하나의 예로서, 접속 선들(104)의 도전성 재료는 은 또는 은계이고 약 100㎛ 이하의 폭을 가질 수 있다. 한 실시예에서, 접속 선들(104)은 금속 또는 다른 도전성 재료의 미세한 선들에 부가하여 또는 대안으로서 전체적으로 또는 부분적으로 ITO로 만들어진다. 본 개시내용이 특정한 폭들을 갖는 특정한 재료들로 만들어진 특정한 트랙들을 설명하지만, 본 개시내용은 다른 재료들 및/또는 다른 폭들로 만들어진 트랙들을 고려한다. 접속 선들(104) 외에, 터치 센서(101)는 (접속 선들(104)과 유사한) 터치 센서(101)의 기판의 에지에서 (접속 패드(106)일 수 있는) 접지 접속기를 종단하는 하나 이상의 접지 선을 포함할 수 있다.
접속 패드들(106)은 터치 센서(101)의 터치-감지 영역 외부에, 기판의 하나 이상의 에지를 따라 위치할 수 있다. 위에 설명된 것과 같이, 터치 센서 제어기(102)는 FPC일 수 있다. 접속 패드들(106)은 접속 선들(104)과 동일한 재료로 만들어질 수 있고 이방성 도전 막(ACF)을 사용하여 FPC에 결합될 수 있다. 한 실시예에서, 접속부(108)는 터치 센서 제어기(102)를 접속 패드들(106)에 결합시키고, 결국 터치 센서 제어기(102)를 접속 선들(104)에 및 터치 센서(101)의 구동 또는 감지 전극들에 결합시키는 FPC 상의 도전성 선들을 포함한다. 또 하나의 실시예에서, 접속 패드들(106)은 (예를 들어, 제로 삽입력 와이어-대-보드 접속기와 같은) 전기 기계 접속기에 접속된다. 접속부(108)는 FPC를 포함하거나 포함하지 않을 수 있다. 본 개시내용은 터치 센서 제어기(102)와 터치 센서(101) 사이의 임의의 접속부(108)를 고려한다.
소정의 실시예들에서, 시스템(100)은 디스플레이 스택을 포함한다. 시스템(100)의 디스플레이 스택은 사용자에게 영상을 디스플레이하는 것과 연관된 하나 이상의 층을 포함할 수 있다. 한 예로서, 디스플레이 스택은 디스플레이의 화소 층에 신호들을 인가하는 요소들을 갖는 층, (공통 전압(VCOM)이라고도 하는) 접지 층, 및/또는 커버 층을 포함할 수 있다. 소정의 실시예들에서, 전극들은 디스플레이 스택의 화소 층의 화소 행들 (사용자의 시점으로부터) 아래에 배치된다. 본 개시내용은 예를 들어 액정 디스플레이(LCD), 유기 발광 다이오드(OLED) 디스플레이 등과 같은, 사용자에게 영상을 보이게 할 수 있는 임의의 디스플레이인 디스플레이를 고려한다. 소정의 실시예들에서, 터치 센서(101)는 디스플레이(예를 들어, LCD 또는 OLED)에 부착된다. 일부 실시예들에서, 시스템(100)의 디스플레이는 셀 내 디스플레이 모듈이고, 터치 센서(101) 및 제어기(102)(예를 들어, 터치 센서 회로 및 구동 회로)는 디스플레이(예를 들어, LCD 또는 OLED) 모듈 내에 내장된다.
도 1b는 본 개시내용의 실시예들에 따른 터치 센서(100)에 대한 예시적인 기계적 스택(160)을 도시한다. 도 1b의 예시적인 실시예에서, 기계적 스택(160)은 다수의 층을 포함하고 z-축에 대해 배치되는 것으로 도시된다. 예시적인 기계적 스택(160)은 디스플레이(170), 제2 도전 층(168), 기판(166), 제1 도전 층(164), 및 커버 층(162)을 포함한다.
실시예에서, 제2 도전 층(168) 및 제1 도전 층(164)은 도 1a와 관련하여 위에 논의된 것과 같이, 각각 구동 및 감지 전극들이다. 실시예에서, 제2 도전 층(168) 및 제1 도전 층(164)은 본 개시내용에서 설명된 것과 같은 메시들이다. 기판(166)은 실시예에서, 제1과 제2 도전 층들을 전기적으로 분리하는 재료를 포함한다. 실시예에서, 기판(166)은 다른 층들에 대한 기계적 지지를 제공한다. 실시예에서, (예를 들어, 기판(166)과 동일한 재료가 아닐 수 있는) 기판의 추가 층들이 상이한 구성들에서 사용될 수 있다. 예를 들어, 제2 기판 층은 제2 도전 층(168)과 디스플레이(170) 사이에 위치할 수 있다. 디스플레이(170)는 사용자가 보게 될 디스플레이 정보를 제공한다. 한 예로서, 디바이스(170)는 LCD, OLED, 또는 기타 적합한 유형의 디스플레이일 수 있다. 실시예에서, 디스플레이(170)는 교대하는 화소 디스플레이 패턴으로 배열된 부화소들을 갖는 교대하는 화소 디스플레이일 수 있다.
커버 층(162)은 투명하거나, 실질적으로 투명할 수 있고, 예를 들어 유리, 폴리카보네이트, 또는 폴리(메틸 메타크릴레이트)(PMMA)와 같은, 반복되는 터칭에 대한 탄성 재료로 만들어질 수 있다. 실시예에서, 투명 또는 반투명 접착 층이 커버 층(162)과 제1 도전 층(164) 사이에, 및/또는 제2 도전 층(168)과 디스플레이(170) 사이에 배치된다. 사용자는 손가락 또는 (스타일러스와 같은) 일부 다른 터치 물체를 사용하여 커버 층(162)에 터치함으로써 터치 센서(100)와 상호작용할 수 있다. 사용자는 또한 커버 층(162)과 실질적으로 물리적 접촉하지 않고 커버 층(162) 위에 손가락 또는 일부 다른 터치 물체를 호버링함으로써 터치 센서(100)와 상호작용할 수 있다.
도 1b의 예시적인 실시예에서, 기계적 스택(160)은 2개의 도전 층들을 포함한다. 실시예에서, 기계적 스택(160)은 단일 도전 층 형성을 포함할 수 있다. 기계적 스택(160)의 다른 실시예들은 더 적은 수의 또는 추가의 층들뿐만 아니라, 다른 구성들, 관계들, 및 투시들을 구현할 수 있다. 한 예로서, 도전 층들(164 및 168)(및/또는 기계적 스택(160)의 다른 층들) 중 하나 이상은 디스플레이(170)와 통합될 수 있으므로, 도전 층들(164 및 168) 중 하나 이상이 디스플레이(170)를 형성하는 층들 내에 배치된다. 소정의 실시예들에서, 디스플레이(170)와 통합된 층들은 디스플레이(170)를 위한(예를 들어, 영상을 디스플레이하기 위한) 그리고 터치 감지를 위한 동작들을 제공할 수 있다. 또 하나의 예로서, 기계적 스택(160)은 다수의 기판(166)을 포함할 수 있고, 제1 도전 층(164)은 제1 기판(166) 상에 배치되고 제2 도전 층(168)은 제2 기판(166) 상에 배치된다.
도 2는 본 개시내용의 실시예들에 따른 예시적인 도트 역 화소 패턴(200)을 도시한다. 도트 역 화소 패턴(200)의 각각의 정사각형은 화소를 나타낸다. 도트 역 패턴(200)의 행들(201a-n)은 시스템(100)의 디스플레이 모듈의 화소 층의 화소 행들에 대응한다. 예를 들어, 도트 역 패턴(200)의 행(201a)은 제1 화소 행에 대응하고, 도트 역 패턴(200)의 행(201b)은 제2 화소 행에 대응하는 등등이다. 소정의 실시예들에서, 터치 센서(101)의 소정의 전극들은 화소 행들(201a-n) 아래에 수평으로 배치된다. 예를 들어, 제1 전극은 행(201a) 아래에 수평으로 배치될 수 있고, 제2 전극은 인접한 행(202b) 아래에 수평으로 배치될 수 있는 등등이다. 소정의 실시예들에서, 단일 전극은 다수의 화소 행을 덮을 수 있다. 예를 들어, 제1 전극은 여러 개의 제1 화소 행들(예를 들어, 40개의 제1 화소 행들) 아래에 수평으로 배치될 수 있고, 제2 전극은 제1 화소 행들에 인접한 여러 개의 제2 화소 행들(예를 들어, 40개의 제2 인접한 행들) 아래에 수평으로 배치될 수 있는 등등이다.
소정의 실시예들에서, 여러 개의 전극들이 다수의 화소 행(201)을 덮을 수 있는 단일 전극을 형성하기 위해 함께 전기적으로 및/또는 물리적으로 결합된다. 한 예로서, 제1 전극은 여러 개의 제1 화소 행들(201)(예를 들어, 40개의 제1 인접한 행들) 아래에 수평으로 배치된 여러 개의 전극들을 포함할 수 있고, 제2 전극은 제1 화소 행들(201)에 인접한 여러 개의 제2 화소 행들(201)(예를 들어, 40개의 제2 인접한 행들) 아래에 수평으로 배치된 여러 개의 전극들을 포함할 수 있는 등등이다.
소정의 실시예들에서, 디스플레이(예를 들어, LCD 또는 OLED)에 의해 발생된 잡음은 시간에 따라 일정하지 않다. 디스플레이 상의 영상이 리프레시될 때, 잡음은 잡음있는 및 조용한 기간들의 반복하는 패턴을 따를 수 있다. 도트 역 패턴(200)을 포함하는 디스플레이는 적어도 2개의 유형들의 잡음을 발생시킬 수 있다. 예시된 실시예에서, 포워드 슬래시 해치 패턴으로 표시된 것과 같은, 도트 역 패턴(200)의 교대하는 행들(201a, 201c, 201e) 등등은 제1 유형의 잡음(210)(즉, "+ - +" 잡음 패턴)을 나타내고, 백슬래시 해치 패턴으로 표시된 것과 같은, 도트 역 패턴(200)의 교대하는 행들(201b, 201d, 201f) 등등은 제2 유형의 잡음(212)(즉, "- + -" 잡음 패턴)을 나타낸다. "+" 신호는 양의 진폭 피크를 나타내고 "-" 신호는 음의 진폭 피크를 나타낸다. 소정의 실시예들에서, 제로 기준으로부터 측정된 양의 진폭 피크에 대한 변화의 정도는 제로 기준으로부터 측정된 음의 진폭 피크에 대한 변화의 정도와 동일하다.
도 3은 본 개시내용의 실시예들에 따른 예시적인 이중 도트 역 패턴(300)을 도시한다. 이중 도트 역 화소 패턴(300)의 각각의 정사각형은 화소를 나타낸다. 이중 도트 역 패턴(300)의 행들(301)은 시스템(100)의 디스플레이 모듈의 화소 층의 화소 행들(301a-n)에 대응한다. 예를 들어, 이중 도트 역 패턴(300)의 행(301a)은 제1 화소 행에 대응하고, 이중 도트 역 패턴(300)의 행(301b)은 제2 화소 행에 대응하는 등등이다. 이중 도트 역 패턴(300)을 포함하는 디스플레이(예를 들어, LCD 또는 OLED)는 적어도 4개의 유형들의 잡음을 발생시킬 수 있다. 예시된 실시예에서, 포워드 슬래시 해치 패턴으로 표시된 것과 같은, 이중 도트 역 패턴(300)의 행들(301a, 30e, 및 30i)은 제1 유형의 잡음(320)(즉, "+ - +" 규칙적 진폭 패턴)을 나타내고, 이중 백슬래시 해치 패턴으로 표시된 것과 같은, 이중 도트 역 패턴(300)의 행들(301b, 301f, 및 301j)은 제2 유형의 잡음(즉, "+ - +" 낮은 진폭 패턴)을 나타내고, 포워드 슬래시 파선 해치 패턴으로 표시된 것과 같은, 이중 도트 역 패턴(300)의 행들(301c, 301g, 및 301k)은 제3 유형의 잡음(즉, "- + -" 규칙적 진폭 패턴)을 나타내고, 4중 백슬래시 해치 패턴으로 표시된 것과 같은, 이중 도트 역 패턴(300)의 행들(301d, 301h, 및 301l)은 제4 유형의 잡음(즉, "- + -" 낮은 진폭 패턴)을 나타낸다. 소정의 실시예들에서, 제로 기준으로부터 측정된 양(+)의 규칙적 진폭 피크에 대한 변화의 정도는 제로 기준으로부터 측정된 음(-)의 규칙적 진폭 피크에 대한 변화의 정도와 동일하다. 유사하게, 제로 기준으로부터 측정된 양(+)의 낮은 진폭 피크에 대한 변화의 정도는 제로 기준으로부터 측정된 음(-)의 낮은 진폭 피크에 대한 변화의 정도와 동일하다.
도 4는 본 개시내용의 실시예들에 따른 예시적인 적산 시퀀스를 도시한다. 도 4에 도시된 적산 시퀀스는 시스템(100)에 의해 사용될 수 있다. 소정의 실시예들에서, 적산 시퀀스는 터치 측정 성능의 어떤 감소를 줄이거나 제거하면서 소정의 화소 패턴들(예를 들어, 도트 역 패턴(200) 및/또는 이중 도트 역 패턴(300))을 포함하는 디스플레이들 상의 깜박거림을 감소시키거나 제거한다. 도 4는 하나의 동기 신호(402) 및 3개의 색 신호들: 적색 기입 신호(404), 녹색 기입 신호(406), 및 청색 기입 신호(408)를 도시한다.
시스템(100)의 디스플레이를 업데이트하기 위해, 제어기(102)는 디스플레이 상의 화소들을 제어하기 위해 동기 신호들을 사용할 수 있다. 디스플레이 제어기에 의해 각각의 화소 데이터에 대응하는 위치를 설정하는 것을 용이하게 하기 위해, 제어기(102)는 화소 라인의 시작을 표시하기 위해 수평 동기(HSYNC) 신호를 사용할 수 있다. 본질적으로, HSYNC 신호는 클록 신호로서 기능한다. 예를 들어, 새로운 화소 라인의 시작은 HSYNC 신호의 타이밍 펄스들의 상승 에지들(예를 들어, 낮은 레벨 상태로부터 높은 레벨 상태로의 변화)에 의해 트리거될 수 있다. 따라서, 제어기(102)가 HSYNC 신호의 타이밍 펄스들의 하나의 상승 에지들을 검출할 때, 수신된 후속하는 화소 데이터는 다음의 화소 라인에 속하는 것으로서 해석될 것이다. 제어기(102)는 다음에 그 화소 라인을 업데이트할 것이다. 본 기술 분야의 통상의 기술자는 또 하나의 실시예에서, HSYNC 펄스의 하강 에지들이 새로운 화소 라인을 개시하기 위해 제어기(102)에 의해 사용될 수 있다는 것을 알 것이다.
HSYNC 신호들과의 동기는 터치 측정들에서의 디스플레이 잡음을 감소시키거나 제거할 수 있다. 이 동기가 없다면, 전하는 캐패시터 전압의 변동을 야기할 수 있는, 충전 신호(예를 들어, 충전 신호(410))의 상승 및 하강 에지들로 인해 화소 캐패시터 상에 삽입 또는 제거될 수 있다. 이 변동은 디스플레이의 휘도 세기 및/또는 색 세기(예를 들어, 적색/녹색/청색 방출 세기)의 변화를 야기할 수 있다. 도 4에 도시한 것과 같은 HSYNC 지연을 사용함으로써, 제어기(102)는 소스 데이터가 화소 데이터(예를 들어, 적색 기입 신호(404), 녹색 기입 신호(406), 및 청색 기입 신호(408))를 업데이트하지 않을 때 조용한 기간들 동안 스캔하여, 디스플레이 잡음을 감소시키거나 제거할 수 있다. 도 4의 실시예에서, 최적 HSYNC 지연의 범위는 도 4의 표시(412)로 표시된 것과 같이, 청색 기입 신호(408)의 하강 에지와 HSYNC 신호(402)의 상승 에지 사이에 있다.
도 4의 예시된 실시예에서, 터치 센서의 하나 이상의 전극 상에서 구동된 충전 신호(410)의 상승 및 하강 에지들은 HSYNC 신호(402)의 하강 에지들과 동기된다. 일부 실시예들에서, 충전 신호(410)의 상승 및 하강 에지들은 HSYNC 신호(402)의 상승 에지들과 동기될 수 있다. 소정의 실시예들에서, HSYNC 기간(예를 들어, HSYNC 기간 1)은 5 내지 15마이크로초 정도일 수 있다. 한 예로서, HSYNC 기간 1은 6.5마이크로초(즉, 16.6밀리초/2560 행들)일 수 있다. HSYNC 기간 1 및 HSYNC 기간 2로부터의 측정된 응답 신호들은 수신된 신호들의 측정된 전압들, 시간 기간들, 또는 기타 특성을 포함할 수 있다.
도 4에서, 제어기(102)는 터치 센서(101)의 전극(예를 들어, 도 2의 행(201a) 아래에 있는 전극 또는 도 2의 여러 개의 행들(201) 아래에 있는 전극들의 조합) 상에 양으로 분극된 전하를 유도하여, 도 4의 충전 신호(410)을 야기한다. 제어기(102)는 다음에 HSYNC 기간 1 동안 전극과 연관된 충전 신호(410)의 제1 상승 에지를 감지함으로써 양의 적산(+)을 수행한다. 유사하게, 제어기(102)는 터치 센서(101)의 전극 상에 음으로 분극된 전하를 유도하고 HSYNC 기간 2 동안 전극과 연관된 충전 신호(410)의 제1 하강 에지를 감지함으로써 음의 적산(-)을 수행한다. 인가된 충전 신호(410)의 극성을 HSYNC 기간들 1 및 2 동안 양의 극성과 음의 극성 간에 교대함으로써, 시스템(100) 내로 주입된 전하(즉, 잡음)의 양이 시스템(100)에서 취해진 전하(즉, 잡음)의 양과 동일하기 때문에 터치 센서 제어기(102)는 잡음을 감소시키거나 제거할 수 있다. 2개의 HSYNC 기간들(예를 들어, HSYNC 기간 1 및 HSYNC 기간 2)이 측정 사이클마다 사용될 수 있다. 각각의 측정 사이클은 ADC 샘플(예를 들어, ADC 샘플 1)과 연관된다. 터치 센서 제어기(102)는 터치 센서(101)의 하나 이상의 전극으로부터 미리 결정된 수의 샘플들(예를 들어, ADC 샘플들 1 및 2)을 누적시키기 위해 이 인가 및 측정 사이클을 여러 번 반복한다.
소정의 실시예들에서, 터치 전극 측정은 2개 이상의 샘플들(예를 들어, ADC 샘플들 1 및 2)을 평균함으로써 수행된다. 예를 들어, 터치 측정은 "+-+-+-+-"로 나타낼 수 있는, 4개의 양과 음의 적산 쌍들을 포함하는 4개의 ADC 샘플들을 평균함으로써 수행될 수 있다. 소정의 디스플레이 모듈들(예를 들어, 셀 내 디스플레이 모듈)에서, 전극들은 터치 센서(101)의 하나 이상의 화소 행(예를 들어, 도 2의 행들(201a-n)) 위 및/또는 아래에 배치될 수 있다. 한 예로서, 1080개의 화소 행들을 갖는 디스플레이 모듈은 27개의 전극들을 포함할 수 있다. 27개의 전극들은 각각의 전극이 40개 행들 폭이도록 동등하게 이격될 수 있다. 또 하나의 예로서, 각각의 전극은 4개 행들 폭일 수 있다. 소정의 실시예들에서, 제어기(102)는 제1 전극(예를 들어, 도 2의 행들(201a-d) 아래에 있는 전극) 상에서 순차적으로 적산 시퀀스(예를 들어, "+-+-+-+-" 적산 시퀀스와 연관된 8개의 적산들)를 수행한다. 적산들은 HSYNC 신호(예를 들어, 도 4의 HSYNC 신호(402))와 동기될 수 있다. 제1 전극 상의 적산들이 완료된 후에, 제어기(102)는 다음에 제2 전극(예를 들어, 도 2의 행들(201e-h) 아래에 있는 터치 전극) 상에서 동일한 적산 시퀀스를 수행할 수 있다. 소정의 실시예들에서, 이 패턴은 제어기(102)가 마지막 전극 상에서 적산 시퀀스를 수행할 때까지 반복된다.
이 표준 위상 시프트, HSYNC 지연 방법이 다양한 디스플레이 배경들 하의 디스플레이 측정 잡음을 감소시킬 수 있지만, 그것은 또한 도 2의 도트 역 패턴(200) 및 도 3의 이중 도트 역 패턴(300)과 같은, 소정의 화소 층 패턴들 상에 디스플레이 깜박거림을 야기할 수 있는데, 왜냐하면 블랭킹 시간, 또는 디스플레이가 화소들을 업데이트하지 않는 시간이 가용하지 않기 때문이다. 블랭킹 시간의 유형들은 디스플레이 프레임의 종료와 다음의 디스플레이 프레임의 시작 사이에 발생할 수 있는 수직 블랭킹 간격, 및 소스 데이터가 화소들에 기입되지 않을 때 디스플레이 행의 종료와 다음의 디스플레이 행의 시작 사이에 발생할 수 있는 수평 블랭킹 간격을 포함한다. 소정의 ADC 샘플들 간의 적산 시퀀스를 변경함으로써, 디스플레이 소스 데이터와 제어기(102)의 구동 신호들 간의 누화의 위상이 반전될 수 있다. 소정의 실시예들에서, "+--+"로 나타내질 수 있는, 양의 적산(+), 음의 적산(-), 음의 적산(-), 양의 적산(+) 등등의 이 시퀀스는 터치 측정을 저하시키지 않고 깜박거림을 감소시키거나 제거할 수 있다. 게다가, 이 "+--+" 적산 시퀀스는 최적 보고율이 달성될 수 있도록 100% 효율적인 모든 가용한 HSYNC 기간들을 이용한다.
HSYNC 기간들 1 및 2를 포함하는, 제1 샘플 측정(예를 들어, 도 4의 ADC 샘플 1)은 제1 유형의 잡음(예를 들어, 도 2의 잡음(210))에 대한 양의 적산(+) 및 제2 유형의 잡음(예를 들어, 도 2의 잡음(212))에 대한 음의 적산(-)을 야기한다. 그러므로, 추가의 샘플 측정이 디스플레이 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시키는 데 필요할 수 있다. HSYNC 기간 1 동안 제1 양의 적산 및 HSYNC 기간 2 동안 제1 음의 적산을 수행한 후에, 제어기(102)는 다음에 HSYNC 기간 2 동안 충전 신호(410)를 토글하여, 충전 신호(410)의 제2 상승 에지를 야기한다. 소정의 실시예들에서, ADC 샘플 1과 ADC 샘플 2 사이에서 충전 신호(410)를 토글하면 디스플레이 소스 데이터와 충전 신호(410) 간의 누화의 위상이 반전되어, 깜박거림을 감소시킬 수 있다.
충전 신호(410)를 토글하면 신호(410)의 극성이 반전된다. 소정의 예들에서, 충전 신호(410)는 높은(예를 들어, 양) 신호로부터 낮은(예를 들어, 음) 신호로 토글된다. 유사하게, 소정의 예들에서, 충전 신호(410)는 낮은 신호로부터 높은 신호로 토글된다. 소정의 실시예들에서, 충전 신호(410)는 다음의 적산 측정 상의 전극이 현재의 적산(예를 들어, HSYNC 2 동안의 제1 음의 적산)과 동일한 극성으로 충전될 수 있도록 토글(즉, 반전)된다. 충전 신호(410)의 토클링은 전하의 적산이 성공적으로 완료된 후에(예를 들어, HSYNC 기간 2 동안의 제1 음의 적산) 그리고 후속하는 HSYNC 기간(예를 들어, HSYNC 기간 3)이 시작하기 전에 발생할 수 있다.
ADC 샘플 2를 획득하기 위해, 제어기(102)는 터치 센서(101)의 전극 상에 제2 음으로 분극된 전하를 유도하고 HSYNC 기간 3 동안 전극과 연관된 충전 신호(410)의 제2 음의 에지를 감지함으로써 제2 음의 적산(-)을 수행한다. 유사하게, 제어기(102)는 터치 센서(101)의 전극 상에 양으로 분극된 전하를 유도하고 HSYNC 기간 4 동안 전극과 연관된 충전 신호(410)의 제3 상승 에지를 감지함으로써 제2 양의 적산(+)을 수행한다. HSYNC 기간들 3 및 4를 포함하는, 제2 샘플 측정(예를 들어, 도 4의 ADC 샘플 2)은 제1 유형의 잡음에 대한 양의 적산(+) 및 제2 유형의 잡음에 대한 음의 적산을 야기한다. ADC 샘플들 1과 2를 조합하면 제1 유형의 잡음에 대한 양의 적산(+) 및 음의 적산(-) 및 제2 유형의 잡음에 대한 음의 적산(-) 및 양의 적산(+)이 야기되어, 소정의 실시예들에서, 4개의 HSYNC 기간들 내에서 깜박거림 및 디스플레이 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시킬 수 있다.
도 5 및 도 6은 "+--+" 시퀀스가 동시에 디스플레이 깜박거림을 감소시키면서, 도트 역 화소 패턴 및 이중 도트 역 화소 패턴 상의 디스플레이 잡음을 각각 어떻게 감소시키거나 제거할 수 있는지를 도시한다. 도 5는 본 개시내용의 실시예들에 따른 도트 역 패턴(예를 들어, 도 2의 도트 역 패 패턴(200)) 상으로 맵핑된 예시적인 적산 시퀀스를 도시한다. 도 5의 12개의 열들은 12개의 연속하는 HSYNC 기간들(HSYNC 기간 1, HSYNC 기간 2, HSYNC 기간 3 등등)을 나타낸다. 각각의 HSYNC 기간은 터치 센서(101)의 하나 이상의 화소 행(예를 들어, 도 2의 하나 이상의 화소 행(201)) 아래에 있는 전극과 연관된다. 화소 행들(201)은 2개의 유형들의 잡음(예를 들어, 도 2의 잡음(210) 및 잡음(212))과 연관된다.
도 5의 예시된 실시예에서, HSYNC 기간들 1, 3, 5, 및 7은 제1 유형의 잡음(예를 들어, 도 2의 제1 유형의 잡음(210))과 연관되고, HSYNC 기간들 2, 4, 6, 및 8은 제2 유형의 잡음(예를 들어, 도 2의 제2 유형의 잡음(212))과 연관된다. HSYNC 기간들 1, 4, 및 7은 각각 상승 x-펄스 에지(+)와 연관되고, HSYNC 기간들 3, 5, 및 8은 각각 하강 x-펄스 에지(-)와 연관되고, HSYNC 기간들 2 및 6은 각각 상승과 하강 x-펄스 에지(HSYNC 기간 2에 대한 "-+" 및 HSYNC 기간 6에 대한 "+-") 둘 다와 연관되는데 왜냐하면 충전 신호는 HSYNC 기간들 2 및 6 동안 토클되기 때문이다. HSYNC 기간들 1 내지 4는 "+--+" 적산 시퀀스를 따르고 HSYNC 기간들 5 내지 8은 "-++-" 적산 시퀀스를 따르므로 HSYNC 기간들 1, 4, 6, 및 7은 양의 적산들(+)을 나타내고 HSYNC 기간들 2, 3, 5, 및 8은 음의 적산들(-)을 나타낸다. 이들 적산 시퀀스 각각은 아래에 설명되는 것과 같이, 2개의 유형들의 디스플레이 잡음을 상쇄하거나 또는 상당히 감소시킬 수 있다.
제1 유형의 잡음과 연관된 HSYNC 기간들 1 및 3은 각각 양의 적산(+) 및 음의 적산(-)을 나타냄으로써, 제1 유형의 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시킨다(즉, 합 +/-=0). 제2 유형의 잡음과 연관된 HSYNC 기간들 2 및 4는 음의 적산(-) 및 양의 적산(+)을 나타냄으로써, 제2 유형의 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시킨다(즉, 합 -/+=0). 그러므로, "+--+" 적산 시퀀스는 4개의 HSYNC 기간들 및 2개의 연관된 ADC 샘플들(HSYNC 기간들 1 및 2와 연관된 ADC 샘플 1 및 HSYNC 기간들 3 및 4와 연관된 ADC 샘플 2) 내의 도트 역 패턴을 갖는 디스플레이들에서 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시키기 위해 사용될 수 있다.
도 5의 예시된 실시예에서, 제1 유형의 잡음과 연관된 HSYNC 기간들 5 및 7은 각각 음의 적산(-) 및 양의 적산(+)을 나타냄으로써, 제1 유형의 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시킨다(즉, 합 -/+=0). 제2 유형의 잡음과 연관된 HSYNC 기간들 6 및 8은 양의 적산(+) 및 음의 적산(-)을 나타냄으로써, 제2 유형의 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시킨다(즉, 합 +/-=0). 그러므로, "-++-" 적산 시퀀스는 ADC 샘플들 3 및 4(HSYNC 기간들 5 및 6과 연관된 ADC 샘플 3 및 HSYNC 기간들 7 및 8과 연관된 ADC 샘플 4) 내의 도트 역 패턴을 갖는 디스플레이들에서 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시키기 위해 사용될 수 있다.
도 6은 본 개시내용의 실시예들에 따른 이중 도트 역 패턴(예를 들어, 도 3의 도트 역 패턴(300)) 상으로 맵핑된 예시적인 적산 시퀀스를 도시한다. 도 5와 유사하게, 도 6의 8개의 열들은 8개의 연속하는 HSYNC 기간들(HSYNC 기간 1, HSYNC 기간 2, HSYNC 기간 3 등등)을 나타낸다. 그러나, 도 6의 HSYNC 기간들은 4개의 유형들의 잡음과 연관된다.
도 6의 예시된 실시예에서, HSYNC 기간들 1 및 5는 제1 유형의 잡음(예를 들어, 도 3의 제1 유형의 잡음(320))과 연관되고, HSYNC 기간들 2 및 6은 제2 유형의 잡음(예를 들어, 도 3의 제2 유형의 잡음(322))과 연관되고, HSYNC 기간들 3 및 7은 제3 유형의 잡음(예를 들어, 도 3의 제3 유형의 잡음(324))과 연관되고, HSYNC 기간들 4 및 8은 제4 유형의 잡음(예를 들어, 도 3의 제4 유형의 잡음(326))과 연관된다. HSYNC 기간들 1, 4 및 7은 각각 상승 x-펄스 에지(+)와 연관되고, HSYNC 기간들 3, 5, 및 8은 각각 하강 x-펄스 에지(-)와 연관되고, HSYNC 기간들 2 및 6은 상승과 하강 x-펄스 에지(HSYNC 기간 2에 대한 "-+" 및 HSYNC 기간 6에 대한 "+-") 둘 다와 연관되는데 왜냐하면 충전 신호는 HSYNC 기간들 2 및 6 동안 토클되기 때문이다. HSYNC 기간들 1, 4, 6, 및 7은 양의 적산들(+)을 나타내고 HSYNC 기간들 2, 3, 5, 및 8은 음의 적산들(-)을 나타낸다. 이 "+--+-++-" 적산 시퀀스는 아래에 설명되는 것과 같이, 4개의 유형들의 디스플레이 잡음을 상쇄하거나 또는 상당히 감소시킬 수 있다.
도 6에 도시한 것과 같이, 제1 유형의 잡음과 연관된 HSYNC 기간들 1 및 5는 각각 양의 적산(+) 및 음의 적산(-)을 나타냄으로써, 제1 유형의 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시킨다(즉, 합 +/-=0). 제2 유형의 잡음과 연관된 HSYNC 기간들 2 및 6은 음의 적산(-) 및 양의 적산(+)을 나타냄으로써, 제2 유형의 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시킨다(즉, 합 -/+=0). 제3 유형의 잡음과 연관된 HSYNC 기간들 3 및 7은 음의 적산(-) 및 양의 적산(+)을 나타냄으로써, 제3 유형의 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시킨다(즉, 합 -/+=0). 그리고 제4 유형의 잡음과 연관된 HSYNC 기간들 4 및 8은 양의 적산(+) 및 음의 적산(-)을 나타냄으로써, 제4 유형의 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시킨다(즉, 합 +/-=0). 그러므로, "+--+-++-" 적산 시퀀스는 8개의 HSYNC 기간들 및 4개의 ADC 샘플들(HSYNC 기간들 1 및 2와 연관된 ADC 샘플 1, HSYNC 기간들 3 및 4와 연관된 ADC 샘플 2, HSYNC 기간들 5 및 6과 연관된 ADC 샘플 3, 및 HSYNC 기간들 7 및 8과 연관된 ADC 샘플 4) 내의 이중 도트 역 패턴을 갖는 디스플레이들에서 잡음을 상쇄하거나 상당히 감소시키기 위해 사용될 수 있다.
도 7은 본 개시내용의 실시예들에 따른 적산 시퀀스를 수행하는 예시적인 방법(700)을 도시한다. 방법(700)에 따라 적산들을 수행하는 것은 소정의 실시예들에서, 터치 센서 디바이스의 화소 층의 도트 역 패턴과 연관된 깜박거림 및 잡음을 감소시키거나 제거할 수 있다. 방법(700)은 터치 센서 제어기(예를 들어, 도 1a의 제어기(102))의 논리(예를 들어, 하드웨어 또는 소프트웨어)에 의해 수행될 수 있다. 예를 들어, 방법(700)은 터치 센서 제어기의 컴퓨터 판독가능 매체 내에 저장된 명령어들을 (터치 센서 제어기의 하나 이상의 프로세서로) 실행함으로써 수행될 수 있다.
방법(700)은 "+--+" 적산 시퀀스를 나타낸다. 방법은 단계 705에서 시작된다. 단계 710에서, 제1 양의 적산(+)이 제1 동기 기간(예를 들어, 도 4의 HSYNC 기간 1) 동안 디바이스의 터치 센서의 전극과 연관된 충전 신호의 제1 상승 에지를 감지함으로써 수행된다. 방법(700)은 다음에 단계 720으로 이동하여, 여기서 제1 음의 적산(-)이 제2 동기 기간(예를 들어, 도 4의 HSYNC 기간 2) 동안 터치 센서의 전극과 연관된 충전 신호의 제1 하강 에지를 감지함으로써 수행된다. 제1 양의 적산(+) 및 제1 음의 적산(-)은 제1 샘플 측정(예를 들어, 도 4의 ADC 샘플 1)과 연관된다. 단계 730에서, 충전 신호는 토글되어, 제2 동기 기간(예를 들어, 도 4의 HSYNC 기간 2) 동안 충전 신호의 제2 상승 에지를 야기한다. 소정의 실시예들에서, 전극은 여러 개의 전극들(예를 들어, 40개의 전극들)을 포함한다. 예를 들어, 40개의 인접한 화소 행들 아래에 있는 40개의 전극들은 전극을 형성하기 위해 전기적으로 및/또는 물리적으로 결합될 수 있다.
방법 700의 단계 740에서, 제2 음의 적산(-)은 제3 동기 기간(예를 들어, 도 4의 HSYNC 기간 3) 동안 터치 센서의 전극과 연관된 충전 신호의 제2 하강 에지를 감지함으로써 수행된다. 방법(700)은 다음에 단계 750으로 이동하여, 여기서 제2 양의 적산(+)이 제4 동기 기간(예를 들어, 도 4의 HSYNC 기간 4) 동안 터치 센서의 전극과 연관된 충전 신호의 제3 상승 에지를 감지함으로써 수행된다. 제2 음의 적산(-) 및 제2 양의 적산(+)은 제2 샘플 측정(예를 들어, 도 4의 ADC 샘플 2)과 연관된다.
단계 760에서, 방법(700)은 방법(700)의 제1 및 제3 동기 기간들이 제1 유형의 잡음(예를 들어, 도 2의 도트 역 패턴(200)에 의해 발생된 잡음(210))과 연관되고 방법(700)의 제2 및 제4 동기 기간들이 제2 유형의 잡음(예를 들어, 도 2의 도트 역 패턴(200)에 의해 발생된 잡음(212))과 연관되는지를 결정한다. 단계 760에서의 결정이 긍정이면, 방법(700)은 단계 770으로 이동하여, 여기서 제1 및 제2 샘플 측정들(예를 들어, ADC 샘플 1 및 ADC 샘플 2)이 4개의 동기 기간들 내에서 제1 유형의 잡음 및 제2 유형의 잡음을 상쇄하도록 합산되고 터치가 터치 센서(101)의 터치 감지 영역 내에서 발생하였는지에 대한 결정이 이루어진다. 단계 760에서의 결정이 부정이면, 방법(700)은 단계 775로 이동하여, 여기서 방법(700)은 종료한다.
방법(700)은 도 7에 도시된 것들보다 많거나 적은 수의 단계들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 방법(700)의 단계 760은 예를 들어, 잡음의 성질이 이미 확립되었으면 제거될 수 있다. 이러한 상황들 하에서, 방법(700)의 단계 750은 단계 770으로 직접 진행할 수 있다. 또 하나의 예로서, 방법(700)은 그것이 2개의 유형들의 잡음(도트 역 화소 패턴에 의해 발생된 2개의 유형들의 잡음)과 관련하는 것으로 "+--+" 적산 시퀀스를 나타내지만, 본 기술 분야의 통상의 기술자는 또 하나의 실시예에서, 방법(700)은 4개의 유형들의 잡음(예를 들어, 도 3의 이중 도트 역 화소 패턴(300)에 의해 발생된 잡음(320, 322, 324, 및 326))과 관련하는 것으로 "+--+-++-" 적산 시퀀스를 나타내도록 수정될 수 있다는 것을 알 것이다.
소정의 실시예들에서, 방법(700)은 2개 이상의 전극들 상에서 적산 시퀀스(예를 들어, "+--+" 적산 시퀀스 또는 "+--+-++-" 적산 시퀀스)를 수행한다. 한 예로서, 방법(700)은 제1 전극 상에서 "+--+" 적산 시퀀스를 수행할 수 있다. "+--+" 적산 시퀀스의 4개의 적산들이 제1 전극 상에서 완료된 후에, 방법(700)은 다음에 제2 전극 상에서 "+--+" 적산 시퀀스를 수행할 수 있다. 유사하게, "+--+" 적산 시퀀스의 4개의 적산들이 제2 전극 상에서 완료된 후에, 방법(700)이 터치 센서의 모든 전극들 상에서 "+--+" 적산 시퀀스를 수행할 때까지 방법(700)은 제3 전극 상에서 "+--+" 적산 시퀀스를 수행할 수 있는 등등이다.
본 개시내용이 특정한 순서로 발생하는 것으로서 도 7의 방법의 특정한 단계들을 설명하고 예시하였지만, 본 개시내용은 임의의 순서로 발생하는 도 7의 방법의 임의의 단계들을 고려한다. 실시예는 도 7의 방법의 하나 이상의 단계를 반복 또는 생략할 수 있다. 소정의 실시예들에서, 동작을 수행하는 특정한 소자(예를 들어, 터치 센서 제어기(102))는 또 하나의 소자가 동작을 수행하게 하는 소자를 포괄한다. 더구나, 본 개시내용이 도 7의 방법의 특정한 단계들을 포함하는 적산 시퀀스를 수행하는 예시적인 방법을 설명하고 예시하지만, 본 개시내용은 도 7의 단계들의 모든, 일부 단계들을 포함할 수 있거나, 또는 어느 단계도 포함하지 않을 수 있는, 임의의 단계들을 포함하는 적산 시퀀스를 수행하는 임의의 방법을 고려한다. 또한, 본 개시내용이 도 7의 방법의 특정한 단계들을 수행하는 특정한 소자들을 설명하고 예시하지만, 본 개시내용은 도 7의 방법의 임의의 단계들을 수행하는 임의의 소자들의 조합을 고려한다.
여기서, 컴퓨터 판독가능 비일시적 저장 매체 또는 매체들은 (예를 들어, 필드 프로그램가능한 게이트 어레이들(FPGA들) 또는 ASIC들)과 같은 하나 이상의 반도체 기반 또는 다른 IC들, 하드 디스크 드라이브들(HDD들), 하이브리드 하드 드라이브들(HHD들), 광학 디스크들, 광학 디스크 드라이브들(ODD들), 자기-광학 디스크들, 자기-광학 드라이브들, 플로피 디스켓들, 플로피 디스크 드라이브들(FDD들), 자기 테이프들, 고상 드라이브들(SSD들), RAM-드라이브들, 보안 디지털 카드들 또는 드라이브들, 기타 적합한 컴퓨터 판독가능 비일시적 저장 매체, 또는 이들 중 2개 이상의 임의의 적합한 조합을 포함할 수 있다. 컴퓨터 판독가능 비일시적 저장 매체는 휘발성, 비휘발성, 또는 휘발성과 비휘발성의 조합일 수 있다.
여기서, "또는"은 달리 명시적으로 표시되지 않거나 문맥에 의해 달리 표시되지 않으면, 포괄적이고 비배타적이다. 그러므로, 여기서, "A 또는 B"는 달리 명시적으로 표시되지 않거나 문맥에 의해 달리 표시되지 않으면, "A, B, 또는 둘 다"를 의미한다. 또한, "및"은 달리 명시적으로 표시되지 않거나 문맥에 의해 달리 표시되지 않으면, 공동이든 별개이든 상관없이 둘 다이다. 그러므로, 여기서, "A 및 B"는 달리 명시적으로 표시되지 않거나 문맥에 의해 달리 표시되지 않으면, "공동이든 별개이든 상관없이 A 및 B"를 의미한다.
본 개시내용은 본 기술 분야의 통상의 기술자가 이해하는 본원의 예시적인 실시예들에 대해 무수히 많은 변화들, 치환들, 변형들, 변경들, 및 수정을 포괄한다. 유사하게, 첨부된 청구범위는 본 기술 분야의 통상의 기술자가 이해하는 본원의 예시적인 실시예들에 대한 모든 변화들, 치환들, 변형들, 변경들, 및 수정을 포괄한다. 또한, 첨부된 청구범위에서 장치 또는 시스템 또는 장치 또는 시스템의 소자가 특정한 기능을 수행하도록 적응되고, 배열되고, 기능할 수 있고, 구성되고, 기능하고, 동작 가능하고, 또는 가동한다는 것은 장치, 시스템, 또는 소자가 그렇게 적응되고, 배열되고, 기능할 수 있고, 구성되고, 기능하고, 동작 가능하고, 또는 가동하는 한, 그것 또는 그 특정한 기능이 작동, 턴 온, 또는 잠금 해제되든지 간에, 그 장치, 시스템, 소자를 포괄한다.

Claims (17)

  1. 제어기에 의해 구현되는 방법으로서,
    제1 동기 기간 동안 터치 센서의 복수의 전극 중 한 전극과 연관된 충전 신호의 제1 하강 에지를 감지함으로써 제1 음의 적산(integration)을 수행하는 단계;
    제2 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제1 상승 에지를 감지함으로써 제1 양의 적산을 수행하는 단계 - 상기 제1 음의 적산 및 상기 제1 양의 적산은 제1 샘플 측정과 연관됨 -;
    상기 충전 신호를 토글하여, 상기 제2 동기 기간 동안 상기 충전 신호의 제2 하강 에지를 야기하는 단계;
    제3 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제2 상승 에지를 감지함으로써 제2 양의 적산을 수행하는 단계; 및
    제4 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제3 하강 에지를 감지함으로써 제2 음의 적산을 수행하는 단계 - 상기 제2 양의 적산 및 상기 제2 음의 적산은 제2 샘플 측정과 연관됨 -
    를 포함하고,
    상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 동기 기간들은 연속적으로 발생하는, 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 및 제3 동기 기간들은 제1 유형의 잡음과 연관되고;
    상기 제2 및 제4 동기 기간들은 제2 유형의 잡음과 연관되고;
    상기 제1 및 제2 샘플 측정들의 합은 상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 동기 기간들 내에서 상기 제1 유형의 잡음 및 상기 제2 유형의 잡음을 상쇄하는, 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    제5 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제3 상승 에지를 감지함으로써 제3 양의 적산을 수행하는 단계;
    제6 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제4 하강 에지를 감지함으로써 제3 음의 적산을 수행하는 단계 - 상기 제3 양의 적산 및 상기 제3 음의 적산은 제3 샘플 측정과 연관됨 -;
    상기 충전 신호를 토글하여, 상기 제6 동기 기간 동안 상기 충전 신호의 제4 상승 에지를 야기하는 단계;
    제7 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제5 하강 에지를 감지함으로써 제4 음의 적산을 수행하는 단계; 및
    제8 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 충전 신호의 제5 상승 에지를 감지함으로써 제4 양의 적산을 수행하는 단계 - 상기 제4 음의 적산 및 상기 제4 양의 적산은 제4 샘플 측정과 연관됨 -
    를 포함하는, 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 및 제5 동기 기간들은 제1 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제2 및 제6 동기 기간들은 제2 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제3 및 제7 동기 기간들은 제3 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제4 및 제8 동기 기간들은 제4 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 샘플 측정들의 합은 상기 제1, 제2, 제3, 제4, 제5, 제6, 제7, 및 제8 동기 기간들 내에서 상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 유형들의 잡음을 상쇄하는, 방법.
  5. 제1항에 있어서, 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극은 디바이스의 디스플레이의 인접한 화소 행들 아래에 수평으로 배치되는 2개 이상의 전기적으로 결합된 전극들을 포함하는, 방법.
  6. 디바이스로서,
    복수의 전극을 포함하는 터치 센서; 및
    상기 터치 센서에 결합된 제어기를 포함하고, 상기 제어기는 논리를 포함하고, 상기 논리는 상기 제어기로 하여금
    제1 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 한 전극과 연관된 충전 신호의 제1 하강 에지를 감지함으로써 제1 음의 적산을 수행하게 하고;
    제2 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제1 상승 에지를 감지함으로써 제1 양의 적산을 수행하게 하고 - 상기 제1 음의 적산 및 상기 제1 양의 적산은 제1 샘플 측정과 연관됨 -;
    상기 충전 신호를 토글하게 하여, 상기 제2 동기 기간 동안 상기 충전 신호의 제2 하강 에지를 야기하게 하고;
    제3 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제2 상승 에지를 감지함으로써 제2 양의 적산을 수행하게 하고;
    제4 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제3 하강 에지를 감지함으로써 제2 음의 적산을 수행하게 하고 - 상기 제2 양의 적산 및 상기 제2 음의 적산은 제2 샘플 측정과 연관됨 -;
    상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 동기 기간들은 연속적으로 발생하는, 디바이스.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제1 및 제3 동기 기간들은 제1 유형의 잡음과 연관되고;
    상기 제2 및 제4 동기 기간들은 제2 유형의 잡음과 연관되고;
    상기 제1 및 제2 샘플 측정들의 합은 상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 동기 기간들 내에서 상기 제1 유형의 잡음 및 상기 제2 유형의 잡음을 상쇄하는, 디바이스.
  8. 제6항에 있어서, 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극은 제1 전극이고, 상기 논리는 상기 제어기로 하여금:
    제5 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 제2 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제3 상승 에지를 감지함으로써 제3 양의 적산을 수행하게 하고 - 상기 제2 전극은 상기 제1 전극과 상이함 -;
    제6 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 제2 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제4 하강 에지를 감지함으로써 제3 음의 적산을 수행하게 하고 - 상기 제3 양의 적산 및 상기 제3 음의 적산은 제3 샘플 측정과 연관됨 -;
    상기 충전 신호를 토글하게 하여, 상기 제6 동기 기간 동안 상기 충전 신호의 제4 상승 에지를 야기하게 하고;
    제7 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 제2 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제5 하강 에지를 감지함으로써 제4 음의 적산을 수행하게 하고;
    제8 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 제2 전극과 연관된 충전 신호의 제5 상승 에지를 감지함으로써 제4 양의 적산을 수행하게 하는 - 상기 제4 음의 적산 및 상기 제4 양의 적산은 제4 샘플 측정과 연관됨 -
    디바이스.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제1 및 제5 동기 기간들은 제1 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제2 및 제6 동기 기간들은 제2 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제3 및 제7 동기 기간들은 제3 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제4 및 제8 동기 기간들은 제4 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 샘플 측정들의 합은 상기 제1, 제2, 제3, 제4, 제5, 제6, 제7, 및 제8 동기 기간들 내에서 상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 유형들의 잡음을 상쇄하는, 디바이스.
  10. 제6항에 있어서, 상기 디바이스는 하이브리드 셀 내 액정 디스플레이("LCD")를 포함하고, 상기 LCD는
    제1 및 제2 유형의 잡음을 발생시키는 체커보드 도트 역 패턴; 및
    제1, 제2, 제3, 및 제4 유형의 잡음을 발생시키는 체커보드 이중 도트 역 패턴
    의 세트 중 하나를 포함하는, 디바이스.
  11. 제6항에 있어서, 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극은 상기 디바이스의 디스플레이의 인접한 화소 행들 아래에 수평으로 배치되는 2개 이상의 전기적으로 결합된 전극들을 포함하는, 디바이스.
  12. 논리를 구체화한 컴퓨터 판독가능 비일시적 저장 매체로서,
    제어기에 의해 실행되는 상기 논리는,
    제1 동기 기간 동안 터치 센서의 복수의 전극 중 한 전극과 연관된 충전 신호의 제1 하강 에지를 감지함으로써 제1 음의 적산을 수행하고;
    제2 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제1 상승 에지를 감지함으로써 제1 양의 적산을 수행하고 - 상기 제1 음의 적산 및 상기 제1 양의 적산은 제1 샘플 측정과 연관됨 -;
    상기 충전 신호를 토글하여, 상기 제2 동기 기간 동안 상기 충전 신호의 제2 하강 에지를 야기하고;
    제3 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제2 상승 에지를 감지함으로써 제2 양의 적산을 수행하고;
    제4 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제3 하강 에지를 감지함으로써 제2 음의 적산을 수행하고 - 상기 제2 양의 적산 및 상기 제2 음의 적산은 제2 샘플 측정과 연관됨 -;
    상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 동기 기간들은 연속적으로 발생하는, 컴퓨터 판독가능 비일시적 저장 매체.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 제1 및 제3 동기 기간들은 제1 유형의 잡음과 연관되고;
    상기 제2 및 제4 동기 기간들은 제2 유형의 잡음과 연관되고;
    상기 제1 및 제2 샘플 측정들의 합은 상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 동기 기간들 내에서 상기 제1 유형의 잡음 및 상기 제2 유형의 잡음을 상쇄하는, 컴퓨터 판독가능 비일시적 저장 매체.
  14. 제12항에 있어서, 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극은 제1 전극이고, 상기 논리는,
    제5 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 제2 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제3 상승 에지를 감지함으로써 제3 양의 적산을 수행하고 - 상기 제2 전극은 상기 제1 전극과 상이함 -;
    제6 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 제2 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제4 하강 에지를 감지함으로써 제3 음의 적산을 수행하고 - 상기 제3 양의 적산 및 상기 제3 음의 적산은 제3 샘플 측정과 연관됨 -;
    상기 충전 신호를 토글하여, 상기 제6 동기 기간 동안 상기 충전 신호의 제4 상승 에지를 야기하고;
    제7 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 제2 전극과 연관된 상기 충전 신호의 제5 하강 에지를 감지함으로써 제4 음의 적산을 수행하고;
    제8 동기 기간 동안 상기 복수의 전극 중 상기 제2 전극과 연관된 충전 신호의 제5 상승 에지를 감지함으로써 제4 양의 적산을 수행하는 - 상기 제4 음의 적산 및 상기 제4 양의 적산은 제4 샘플 측정과 연관됨 -
    컴퓨터 판독가능 비일시적 저장 매체.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 제1 및 제5 동기 기간들은 제1 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제2 및 제6 동기 기간들은 제2 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제3 및 제7 동기 기간들은 제3 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제4 및 제8 동기 기간들은 제4 유형의 잡음을 나타내고;
    상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 샘플 측정들의 합은 상기 제1, 제2, 제3, 제4, 제5, 제6, 제7, 및 제8 동기 기간들 내에서 상기 제1, 제2, 제3, 및 제4 유형들의 잡음을 상쇄하는, 컴퓨터 판독가능 비일시적 저장 매체.
  16. 제12항에 있어서, 상기 터치 센서는 하이브리드 셀 내 액정 디스플레이("LCD")와 연관되고, 상기 LCD는
    제1 및 제2 유형의 잡음을 발생시키는 체커보드 도트 역 패턴; 및
    제1, 제2, 제3, 및 제4 유형의 잡음을 발생시키는 체커보드 이중 도트 역 패턴
    의 세트 중 하나를 포함하는, 컴퓨터 판독가능 비일시적 저장 매체.
  17. 제12항에 있어서, 상기 복수의 전극 중 상기 한 전극은 디바이스의 디스플레이의 인접한 화소 행들 아래에 수평으로 배치되는 2개 이상의 전기적으로 결합된 전극들을 포함하는, 컴퓨터 판독가능 비일시적 저장 매체.
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