KR20080049435A - Probe assembly for having pattern glass - Google Patents

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Abstract

A probe assembly having a pattern glass is provided to increase the contact area of a grounding protrusion of a probe block by make a pattern of the pattern glass have the same shape as a pattern of an LCD panel. A probe assembly includes an assembly block, a substrate holder fixed to a bottom surface of the assembly block, a needle holder(30) coupled with a bottom surface of the substrate holder, a TCP film(40) having a pattern, a probe block attached to a bottom surface of the needle holder, and a probe inserted into the probe block. A drive IC is attached on an upper surface of the TCP film. A connective pattern is formed on one surface of a pattern glass(70). An input terminal and an output terminal are formed at both ends of the connective pattern. The pattern glass corresponds to the pattern of the TCP film and has the same width and pitch as those of the pattern of the TCP film. The pattern glass is fixed on the bottom surface of the needle holder. One end of the connective pattern is bonded with the pattern of the TCP film by using an ACF bonding method. The other end of the connective pattern comes in contact with the probe.

Description

패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체{Probe assembly for having pattern glass}Probe assembly for having pattern glass

도 1은 종래의 프로브 조립체의 구성을 나타낸 사시도,1 is a perspective view showing the configuration of a conventional probe assembly,

도 2는 종래의 프로브 조립체중 프로브 블록의 구성을 나타낸 사시도,Figure 2 is a perspective view showing the configuration of a probe block of a conventional probe assembly,

도 3은 종래의 프로브 조립체의 구성을 나타낸 측면도,Figure 3 is a side view showing the configuration of a conventional probe assembly,

도 4는 종래의 프로브 조립체의 패턴 형태를 나타낸 도면,4 is a view showing a pattern form of a conventional probe assembly,

도 5는 본 발명에 따른 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체의 구성을 나타낸 사시도,5 is a perspective view showing the configuration of a probe assembly having a pattern glass according to the present invention;

도 6은 본 발명에 따른 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체의 구성을 나타낸 측면도,Figure 6 is a side view showing the configuration of a probe assembly having a patterned glass according to the present invention,

도 7은 본 발명에 따른 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체중 패턴 글라스와 니들 홀더 및 TCP 필름의 구성을 나타낸 사시도,7 is a perspective view showing the configuration of the pattern glass and the needle holder and the TCP film of the probe assembly having a pattern glass according to the present invention,

도 8은 본 발명에 따른 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체의 패턴 형태를 나타낸 도면.8 is a view showing a pattern of the probe assembly having a pattern glass according to the present invention.

<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명><Explanation of symbols on main parts of the drawings>

10 : 어셈블리 블록 20 : 기판 홀더10: assembly block 20: substrate holder

30 : 니들 홀더 31 : 안착홈30: needle holder 31: seating groove

40 : TCP 필름 50 : 프로브 블록40: TCP film 50: probe block

60 : 프로브 70 : 패턴 글라스60: probe 70: pattern glass

본 발명은 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체에 관한 것으로서, 상세하게는 패턴 글라스의 패턴을 LCD 패널에 형성된 패턴과 동일한 형태 및 피치로 형성하고, TCP 필름의 패턴을 패턴 글라스의 패턴에 ACF작업에 의해 부착하고, 패턴 글라스의 패턴과 프로브의 접지 돌기와 접촉되도록 하는 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체에 관한 것이다.The present invention relates to a probe assembly having a pattern glass. Specifically, the pattern of the pattern glass is formed in the same shape and pitch as the pattern formed on the LCD panel, and the pattern of the TCP film is formed by the ACF operation on the pattern of the pattern glass. And a pattern glass for attaching and contacting the pattern of the pattern glass and the ground projection of the probe.

일반적으로 소형 텔레비전이나 노트북 컴퓨터와 같은 영상 표시장치로서 주로 사용되는 LCD(액정표시장치)는 가장자리 부분에 전기적 신호(영상신호, 동기신호, 색상신호 등)가 인가되도록 하는 수 십 내지 수 백개의 접속단자가 고밀도로 배치되며, 이러한 LCD는 제품에 장착되기 전에 시험신호를 인가하여 화면의 불량여부를 검사 및 시험하기 위하여 프로브 조립체가 준비된다.In general, LCDs (liquid crystal displays), which are commonly used as video display devices such as small televisions or notebook computers, have dozens or hundreds of connections for applying electrical signals (video signals, synchronization signals, color signals, etc.) to the edges. Terminals are arranged at high density, and the LCD is prepared with a probe assembly to test and test for defects on the screen by applying a test signal before mounting on the product.

이와 같이 LCD를 검사하기 위한 종래의 프로브 조립체는, 도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이 어셈블리 블록(10)과, 어셈블리 블록(10)의 저면에 체결 고정되는 기판 홀더(20)와, 기판 홀더(20)의 저면에 체결되는 니들 홀더(30)과, 니들 홀더(30)의 저면에 부착되며, 상부면에는 드라이브 IC(41)가 부착되고, 패턴이 형성되는 TCP 필름(40)과, 니들 홀더(30)의 일끝단 저면에 부착되는 프로브 블록(50) 과, 프로브 블록(50) 내에 삽입되는 프로브(60)로 이루어진다.As described above, a conventional probe assembly for inspecting an LCD includes an assembly block 10, a substrate holder 20 fastened to and fixed to a bottom surface of the assembly block 10, and a substrate holder as shown in FIGS. 1 to 3. The needle holder 30 is fastened to the bottom of the 20, attached to the bottom surface of the needle holder 30, the drive IC 41 is attached to the top surface, the TCP film 40, the pattern is formed, the needle The probe block 50 is attached to the bottom surface of one end of the holder 30, and the probe 60 is inserted into the probe block 50.

한편, 도 2에 도시된 바와 같이 프로브 블록(50)은 니들 홀더(30)과 결합되는 블록(51)과, 블록(51)의 저면에 접착제에 의해 접합되는 얼라인 플레이트(53)와, 프로브(60)의 삽입이 가능하도록 복수의 삽입홈(55-1)이 형성되고, 삽입홈(55-1)과 삽입홈(55-1) 사이에 프로브(60)의 접지 돌기(61)가 상면으로 돌출되도록 돌출홀(55-2)이 형성되어 얼라인 플레이트(53)의 저면에 접착제에 의해 결합되는 제 1가이드 플레이트(55)와, 제 1가이드 플레이트(55)와 동일한 형태로 형성되어 삽입홈(57-1)과 돌출홀(57-2)을 구비하되, 제 1가이드 플레이트(55)의 프로브(60)와 서로 교차되는 형태로 형성되고, 프로브(60)의 접지 돌기(61)가 하면으로 돌출되도록 형성되어 제 1가이드 플레이트(55)의 저면에 접착제에 의해 결합되는 제 2가이드 플레이트(57)로 구성된다. 이때, 제 1가이드 플레이트(55)와 제 2가이드 플레이트(57)는 웨이퍼로 구성된다.Meanwhile, as shown in FIG. 2, the probe block 50 includes a block 51 coupled to the needle holder 30, an alignment plate 53 bonded to the bottom surface of the block 51 by an adhesive, and a probe. A plurality of insertion grooves 55-1 are formed to enable insertion of the 60, and the ground protrusion 61 of the probe 60 is disposed between the insertion groove 55-1 and the insertion groove 55-1. The first guide plate 55 and the first guide plate 55 are formed in the same shape as the first guide plate 55 and inserted into the bottom surface of the alignment plate 53 so that the protrusion holes 55-2 are formed to protrude. A groove 57-1 and a protrusion hole 57-2, and are formed to cross the probe 60 of the first guide plate 55, and the ground protrusion 61 of the probe 60 is formed. The second guide plate 57 is formed to protrude to the lower surface and is coupled to the bottom of the first guide plate 55 by an adhesive. At this time, the first guide plate 55 and the second guide plate 57 are composed of a wafer.

이러한 프로브 블록(50)은 LCD 패널에 형성된 패턴과 제 2가이드 플레이트(57)에서 돌출된 각각의 프로브(60)의 접지 돌기(61)가 접촉되고, 제 2가이드 플레이트(57)에서 돌출된 각각의 프로브(60)의 접지 돌기(61)를 통해 TCP 필름(40)으로 신호를 전달한다.The probe block 50 has a pattern formed in the LCD panel and a ground protrusion 61 of each probe 60 protruding from the second guide plate 57, and each protruding from the second guide plate 57. The signal is transmitted to the TCP film 40 through the ground protrusion 61 of the probe 60 of the.

한편, 도 4에 도시된 바와 같이 TCP 필름(40)을 LCD 패널(80)에 형성된 패턴(81)과 OLB(Outer Lead Bonding)시 이종 재질에 따른 열팽창 계수 차이로 인해 TCP 필름(40)의 수축/팽창을 고려하여 TCP 필름(40)의 패턴(43) 피치를 보정하여 설계된다.Meanwhile, as illustrated in FIG. 4, the shrinkage of the TCP film 40 due to the difference in thermal expansion coefficient according to the dissimilar materials during the pattern 81 formed on the LCD panel 80 and the outer lead bonding (OLB) as shown in FIG. 4. It is designed by correcting the pitch of the pattern 43 of the TCP film 40 in consideration of expansion.

그리하여, LCD 패널(80)에 형성된 패턴(81)과 TCP 필름(40)의 패턴(43)의 보정을 보상하도록 프로브 블록(50)의 제 1, 2가이드 플레이트(55, 57)의 삽입홈(55-1, 57-1) 및 돌출홀(55-2, 57-2) 또한 보정 설계가 이루어진다.Thus, the insertion grooves of the first and second guide plates 55 and 57 of the probe block 50 to compensate for the correction of the pattern 81 formed on the LCD panel 80 and the pattern 43 of the TCP film 40. 55-1, 57-1 and protruding holes 55-2, 57-2 are also designed for correction.

그러나, TCP 필름의 패턴에 맞게 프로브 블록의 가이드 플레이트를 보정 설계를 하게 되면 프로브의 접지 돌기가 TCP 필름의 패턴에 접촉하는 면적이 좁아지고, 이로 인해 접촉 불량 및 미스 매치가 발생하는 문제점이 있다.However, when the guide plate of the probe block is designed to compensate for the pattern of the TCP film, the area where the ground protrusion of the probe contacts the pattern of the TCP film is narrowed, which causes a problem of contact failure and mismatch.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 패턴 글라스의 패턴을 LCD 패널에 형성된 패턴과 동일한 형태 및 피치로 형성하고, TCP 필름의 패턴을 패턴 글라스의 패턴에 ACF작업에 의해 부착하고, 패턴 글라스의 패턴과 프로브의 접지 돌기와 접촉되도록 함으로써 프로브 블록의 접지 돌기의 접촉 면적을 증대시키고, 수직 또는 수평 얼라인 정밀도를 향상시키도록 하는 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체를 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention is to solve the above problems, the pattern of the pattern glass is formed in the same shape and pitch as the pattern formed on the LCD panel, the TCP film pattern is attached to the pattern of the pattern glass by the ACF operation, the pattern SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a probe assembly having a patterned glass that is brought into contact with the pattern of the glass and the ground protrusion of the probe to increase the contact area of the ground protrusion of the probe block and to improve the vertical or horizontal alignment accuracy.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은,Features of the present invention for achieving the above object,

어셈블리 블록과, 상기 어셈블리 블록의 저면에 체결 고정되는 기판 홀더와, 상기 기판 홀더의 저면에 체결되는 니들 홀더과, 상기 니들 홀더의 저면에 부착되며, 상면에는 드라이브 IC가 부착되고, 패턴이 형성되는 TCP 필름과, 상기 니들 홀더의 저면에 부착되는 프로브 블록과, 상기 프로브 블록 내에 삽입되는 프로브로 이루어지는 프로브 조립체에 있어서;TCP to which an assembly block, a substrate holder fastened to a bottom of the assembly block, a needle holder fastened to a bottom of the substrate holder, and a bottom surface of the needle holder are attached, and a drive IC is attached to an upper surface, and a pattern is formed. A probe assembly comprising a film, a probe block attached to a bottom surface of the needle holder, and a probe inserted into the probe block;

일면에 연결 패턴이 형성되되, 상기 연결 패턴의 양단에 입력 단자와 출력 단자를 구비하고, 상기 TCP 필름의 패턴과 일대일 대응되며 동일한 폭 및 피치로 이루어지고, 상기 니들 홀더의 저면에 고정되며, 상기 연결 패턴의 일단이 상기 TCP 필름의 패턴과 ACF 본딩에 의해 접합되고, 상기 연결 패턴의 타단이 상기 프로브에 접촉되는 패턴 글라스를 더 구비하는 특징으로 한다.A connection pattern is formed on one surface, and an input terminal and an output terminal are provided at both ends of the connection pattern, one-to-one correspondence with the pattern of the TCP film, the same width and pitch, and are fixed to the bottom surface of the needle holder. One end of the connection pattern is bonded to the pattern of the TCP film by ACF bonding, and the other end of the connection pattern is characterized by further comprising a patterned glass in contact with the probe.

여기에서, 상기 TCP 필름의 패턴은 LCD 패널에 형성된 패턴과 일대일 대응되며 동일한 폭 및 피치로 형성된다.Here, the pattern of the TCP film corresponds one-to-one with the pattern formed on the LCD panel and is formed in the same width and pitch.

여기에서 또한, 상기 프로브 블록의 가이드 플레이트에 형성되는 삽입홈과 돌출홀은 LCD 패널에 형성된 패턴과 신호적으로 일대일 대응되도록 동일한 폭 및 피치으로 형성되거나 또는 ACF 본딩 시의 수축과 LCD 패널의 형상과의 오차가 반영된 폭 및 피치로 형성된다.Herein, the insertion grooves and the protruding holes formed in the guide plate of the probe block may be formed in the same width and pitch so as to correspond one-to-one with the pattern formed on the LCD panel, or the contraction and the shape of the LCD panel during ACF bonding. Is formed in the width and pitch reflected.

여기에서 또, 상기 니들 홀더는 상기 패턴 글라스가 안착되는 안착홈을 그 저면에 더 구비한다.Here, the needle holder further includes a seating groove in which the pattern glass is seated on a bottom surface thereof.

여기에서 또, 상기 패턴 글라스와 상기 TCP 필름을 ACF 본딩시 상기 드라이브 IC의 핀 방향을 고려하여 상기 TCP 필름을 역방향으로 본딩한다.Here, in the ACF bonding of the pattern glass and the TCP film, the TCP film is bonded in the reverse direction in consideration of the pin direction of the drive IC.

여기에서 또, 상기 TCP 필름을 역방향으로 ACF 본딩시 상기 TCP 필름이 접히는 것을 차단하도록 절곡부 사이에 실리콘 재질의 가이드 바가 더 부착된다.Here, a guide bar made of silicon is further attached between the bent portions to prevent the TCP film from being folded when ACF bonding the TCP film in the reverse direction.

여기에서 또, 상기 연결 패턴의 출력 단자는 상기 연결 패턴의 폭보다 넓은 면적을 갖도록 다각 형태로 이루어진다.Here, the output terminal of the connection pattern is formed in a polygonal shape to have an area larger than the width of the connection pattern.

이하, 본 발명에 따른 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체의 구성 및 작 용을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the configuration and operation of the probe assembly having a pattern glass according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

하기에서 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.In the following description of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted. Terms to be described later are terms defined in consideration of functions in the present invention, and may be changed according to intentions or customs of users or operators. Therefore, the definition should be made based on the contents throughout the specification.

도 5는 본 발명에 따른 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체의 구성을 나타낸 사시도이고, 도 6은 본 발명에 따른 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체의 구성을 나타낸 측면도이고, 도 7은 본 발명에 따른 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체중 패턴 글라스와 니들 홀더 및 TCP 필름의 구성을 나타낸 사시도이며, 도 8은 본 발명에 따른 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체의 패턴 형태를 나타낸 도면이다. 도 5 내지 도 8에 있어서 종래와 동일 구성에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 그 중복 설명은 생략한다.5 is a perspective view showing the configuration of a probe assembly having a pattern glass according to the present invention, Figure 6 is a side view showing the configuration of a probe assembly having a pattern glass according to the present invention, Figure 7 is a pattern according to the present invention FIG. 8 is a perspective view illustrating the configuration of the pattern glass, the needle holder, and the TCP film in the probe assembly having the glass, and FIG. 8 is a view illustrating the pattern form of the probe assembly having the pattern glass according to the present invention. 5-8, the same code | symbol is attached | subjected about the same structure as the conventional thing, and the duplication description is abbreviate | omitted.

도 5 내지 도 8을 참조하면, 본 발명에 따른 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체(100)는, 어셈블리 블록(10)과, 기판 홀더(20)와, 니들 홀더(30)와, TCP 필름(40)과, 프로브 블록(50)과, 프로브(60)와, 패턴 글라스(70)로 이루어진다.5 to 8, the probe assembly 100 having the pattern glass according to the present invention includes an assembly block 10, a substrate holder 20, a needle holder 30, and a TCP film 40. ), The probe block 50, the probe 60, and the pattern glass 70.

먼저, 패턴 글라스(70)는 일면에 연결 패턴(71)이 형성되되, 연결 패턴(71)의 양단에 입력 단자(73)와 출력 단자(75)를 구비하고, TCP 필름(40)의 패턴(43)과 일대일 대응되며 동일한 폭 및 피치로 이루어지고, 니들 홀더(30)의 저면에 고정되 며, 연결 패턴(71)의 일단이 TCP 필름(40)의 패턴(43)과 ACF(이방 도전성 접착제 : Anisotrofic Conductive Film) 본딩에 의해 접합되고, 연결 패턴(71)의 타단이 프로브(60)의 접지 돌기(61)와 각각 접촉된다. 여기에서, 패턴 글라스(70)와 TCP 필름(40)을 ACF 본딩시 드라이브 IC(41)의 핀 방향을 고려하여 TCP 필름(40)을 역방향으로 본딩한다. 여기에서 또한, 연결 패턴(71)의 출력 단자(75)는 연결 패턴(71)의 폭보다 넓은 면적을 갖도록 육각 형태로 이루어진다.First, the pattern glass 70 has a connection pattern 71 formed on one surface thereof, and includes an input terminal 73 and an output terminal 75 at both ends of the connection pattern 71, and the pattern of the TCP film 40 43) one-to-one correspondence with the same width and pitch, and is fixed to the bottom surface of the needle holder 30, one end of the connection pattern 71 is the pattern 43 of the TCP film 40 and ACF (anisotropic conductive adhesive) : Anisotrofic Conductive Film) It is bonded by bonding, and the other end of the connection pattern 71 comes into contact with the ground protrusion 61 of the probe 60, respectively. Here, when the pattern glass 70 and the TCP film 40 are ACF bonded, the TCP film 40 is bonded in the reverse direction in consideration of the pin direction of the drive IC 41. Here, the output terminal 75 of the connection pattern 71 is formed in a hexagonal shape to have an area larger than the width of the connection pattern 71.

그리고, TCP 필름(40)은 이의 패턴(43)이 LCD 패널(80)에 형성된 패턴(81)과 일대일 대응되며 동일한 폭 및 피치로 형성된다. 여기에서, TCP 필름(40)을 역방향으로 ACF 본딩시 TCP 필름(40)이 접히는 것을 차단하도록 절곡부 사이에 실리콘 재질의 가이드 바(45)가 더 부착된다. 여기에서, 가이드 바(45)를 대신하여 TCP 필름(40)을 내부에 삽입하여 가이드할 수 있는 가이드 부재(미도시)를 적용할 수도 있다.In addition, the TCP film 40 has a pattern 43 whose one-to-one correspond to the pattern 81 formed on the LCD panel 80 and is formed in the same width and pitch. Here, the silicon guide bar 45 is further attached between the bent portions to prevent the TCP film 40 from folding when ACF bonding the TCP film 40 in the reverse direction. Here, a guide member (not shown) that can guide by inserting the TCP film 40 therein instead of the guide bar 45 may be applied.

또한, 프로브 블록(50)은 제 1, 2가이드 플레이트(55, 57)의 삽입홈(55-1, 57-1) 및 돌출홀(55-2, 57-2)이 LCD 패널(80)에 형성된 패턴(81)과 일대일 대응되며 동일한 폭 및 피치로 형성된다. 여기에서, 프로브 블록(50)은 제 1, 2가이드 플레이트(55, 57)의 삽입홈(55-1, 57-1) 및 돌출홀(55-2, 57-2)이 ACF 본딩 시의 수축과 LCD 패널(80)의 패턴(81) 형상과의 오차가 반영된 폭 및 피치로 형성될 수도 있다.In addition, the probe block 50 has insertion grooves 55-1 and 57-1 and protrusion holes 55-2 and 57-2 of the first and second guide plates 55 and 57 in the LCD panel 80. One-to-one correspondence with the formed pattern 81 is formed in the same width and pitch. Herein, the probe block 50 has the insertion grooves 55-1 and 57-1 and the protrusion holes 55-2 and 57-2 of the first and second guide plates 55 and 57 contracted when ACF bonding. And the width and the pitch reflecting the error between the shape of the pattern 81 of the LCD panel 80 may be formed.

또, 니들 홀더(30)는 패턴 글라스(70)가 안착되는 안착홈(31)을 그 저면에 더 구비하는 데, 패턴 글라스(70)는 안착홈(31)에 접착제에 의한 본딩 방식으로 접 합된다. 여기에서, 안착홈(31)은 선택에 따라 형성되는 것이 바람직하며, 안착홈(31) 없이 니들 홀더(30)의 저면에 직접 패턴 글라스(70)를 부착할 수도 있다.In addition, the needle holder 30 further includes a mounting groove 31 on the bottom surface of which the pattern glass 70 is seated, and the pattern glass 70 is bonded to the mounting groove 31 by an adhesive method using an adhesive. do. Here, the mounting groove 31 is preferably formed according to the selection, it is also possible to attach the pattern glass 70 directly to the bottom surface of the needle holder 30 without the mounting groove 31.

상기와 같이 구성된 본 발명인 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체에 따르면, 패턴 글라스(70)를 매개로 하여 TCP 필름(40)의 패턴(43)과 프로브(60)의 접지 돌기(61)가 전기적으로 연결된다.According to the probe assembly having the pattern glass of the present invention configured as described above, the pattern 43 of the TCP film 40 and the ground protrusion 61 of the probe 60 are electrically connected through the pattern glass 70. do.

이때, 패턴 글라스(70)의 연결 패턴(71)과 TCP 필름(40)의 패턴(43) 및 LCD 패널(80)에 형성된 패턴(81)이 각각 동일한 폭 및 피치를 갖고 있기 때문에 보정 설계가 필요치 않게 되고, 이들을 일대일로 직접 연결시킬 수 있다.At this time, since the connection pattern 71 of the pattern glass 70, the pattern 43 of the TCP film 40, and the pattern 81 formed on the LCD panel 80 each have the same width and pitch, a correction design is required. You can connect them directly one-to-one.

또한, 패턴 글라스(70)의 연결 패턴(71)의 출력 단자(75)를 사각, 오각, 육각, 팔각 등과 같은 다각 형태로 형성하여 연결 패턴(71)의 폭보다 넓은 면적을 갖도록 함으로써 프로브(60)의 접지 돌기(61)의 접촉 불량을 해결할 수 있다.In addition, by forming the output terminal 75 of the connection pattern 71 of the pattern glass 70 in a polygonal shape such as a square, a pentagon, a hexagon, an octagon, and the like to have an area larger than the width of the connection pattern 71, the probe 60 Poor contact of the ground protrusion 61 of) can be solved.

상기와 같이 구성되는 본 발명인 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체에 따르면, 패턴 글라스의 패턴을 LCD 패널에 형성된 패턴과 동일한 형태 및 피치로 형성하고, TCP 필름의 패턴을 패턴 글라스의 패턴에 ACF작업에 의해 부착하고, 패턴 글라스의 패턴과 프로브의 접지 돌기와 접촉되도록 함으로써 프로브 블록의 접지 돌기의 접촉 면적을 증대시키고, 수직 또는 수평 얼라인 정밀도를 향상시킬 수 있는 이점이 있다.According to the probe assembly having the pattern glass of the present invention configured as described above, the pattern of the pattern glass is formed in the same shape and pitch as the pattern formed on the LCD panel, and the pattern of the TCP film by the ACF operation on the pattern of the pattern glass By attaching and making contact with the pattern of the pattern glass and the ground projection of the probe, there is an advantage that the contact area of the ground projection of the probe block can be increased and the vertical or horizontal alignment accuracy can be improved.

본 발명은 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있으며 상기 발명의 상세한 설명에서는 그에 따른 특별한 실시 예에 대해서만 기술하였다. 하지 만 본 발명은 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention. It is to be understood, however, that the present invention is not limited to the specific forms referred to in the description, but rather includes all modifications, equivalents and substitutions within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It must be understood.

Claims (7)

어셈블리 블록과, 상기 어셈블리 블록의 저면에 체결 고정되는 기판 홀더와, 상기 기판 홀더의 저면에 체결되는 니들 홀더과, 상기 니들 홀더의 저면에 부착되며, 상면에는 드라이브 IC가 부착되고, 패턴이 형성되는 TCP 필름과, 상기 니들 홀더의 저면에 부착되는 프로브 블록과, 상기 프로브 블록 내에 삽입되는 프로브로 이루어지는 프로브 조립체에 있어서;TCP to which an assembly block, a substrate holder fastened to a bottom of the assembly block, a needle holder fastened to a bottom of the substrate holder, and a bottom surface of the needle holder are attached, and a drive IC is attached to an upper surface, and a pattern is formed. A probe assembly comprising a film, a probe block attached to a bottom surface of the needle holder, and a probe inserted into the probe block; 일면에 연결 패턴이 형성되되, 상기 연결 패턴의 양단에 입력 단자와 출력 단자를 구비하고, 상기 TCP 필름의 패턴과 일대일 대응되며 동일한 폭 및 피치로 이루어지고, 상기 니들 홀더의 저면에 고정되며, 상기 연결 패턴의 일단이 상기 TCP 필름의 패턴과 ACF 본딩에 의해 접합되고, 상기 연결 패턴의 타단이 상기 프로브에 접촉되는 패턴 글라스를 더 구비하는 특징으로 하는 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체.A connection pattern is formed on one surface, and an input terminal and an output terminal are provided at both ends of the connection pattern, one-to-one correspondence with the pattern of the TCP film, the same width and pitch, and are fixed to the bottom surface of the needle holder. One end of the connection pattern is bonded to the pattern of the TCP film by the ACF bonding, the probe assembly having a pattern glass, characterized in that the other end of the connection pattern further comprises a pattern glass in contact with the probe. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 TCP 필름의 패턴은,The pattern of the TCP film, LCD 패널에 형성된 패턴과 일대일 대응되며 동일한 폭 및 피치로 형성되는 것을 특징으로 하는 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체.Probe assembly having a pattern glass, characterized in that one-to-one correspond to the pattern formed on the LCD panel and the same width and pitch. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 프로브 블록의 가이드 플레이트에 형성되는 삽입홈과 돌출홀은,Insertion grooves and protrusion holes formed in the guide plate of the probe block, LCD 패널에 형성된 패턴과 신호적으로 일대일 대응되도록 동일한 폭 및 피치으로 형성되거나 또는 ACF 본딩 시의 수축과 LCD 패널의 형상과의 오차가 반영된 폭 및 피치로 형성되는 것을 특징으로 하는 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체.It is formed with the same width and pitch so as to correspond one-to-one with the pattern formed on the LCD panel or the pattern glass, characterized in that formed in the width and pitch reflecting the error of the shrinkage and the shape of the LCD panel during ACF bonding. Probe assembly. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 니들 홀더는,The needle holder, 상기 패턴 글라스가 안착되는 안착홈을 그 저면에 더 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체.Probe assembly having a pattern glass, characterized in that it further comprises a mounting groove in which the pattern glass is seated on the bottom surface. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 패턴 글라스와 상기 TCP 필름을 ACF 본딩시,When ACF bonding the pattern glass and the TCP film, 상기 드라이브 IC의 핀 방향을 고려하여 상기 TCP 필름을 역방향으로 본딩하는 것을 특징으로 하는 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체.Probe assembly with a patterned glass, characterized in that for bonding the TCP film in the reverse direction in consideration of the pin direction of the drive IC. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 TCP 필름을 역방향으로 ACF 본딩시,When ACF bonding the TCP film in the reverse direction, 상기 TCP 필름이 접히는 것을 차단하도록 절곡부 사이에 실리콘 재질의 가이드 바가 더 부착되는 것을 특징으로 하는 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체.Probe assembly having a pattern glass, characterized in that the guide bar of the silicon material is further attached between the bent portion to prevent the TCP film from folding. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 연결 패턴의 출력 단자는,The output terminal of the connection pattern, 상기 연결 패턴의 폭보다 넓은 면적을 갖도록 다각 형태로 이루어지는 것을 특징으로 하는 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체.Probe assembly having a pattern glass, characterized in that formed in a polygonal shape to have an area larger than the width of the connection pattern.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101038456B1 (en) * 2009-12-22 2011-06-01 (주)유비프리시젼 Onebody type probe block easy align for lcd inspection equipment
KR101039336B1 (en) * 2010-10-08 2011-06-08 주식회사 코디에스 Film type probe unit
KR101049445B1 (en) * 2009-01-12 2011-07-15 주식회사 디엠엔티 Probe unit for display panel inspection
KR101235018B1 (en) * 2010-01-22 2013-02-21 주식회사 코디에스 Manufacturing method of film type probe unit

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980015037A (en) * 1996-08-14 1998-05-25 김광호 Liquid crystal display (LCD) panel having inspection common line and common pad, inspection method of liquid crystal display panel, and manufacturing method of liquid crystal display module
KR101011424B1 (en) * 2003-03-26 2011-01-28 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 Liquid crystal panel testing device
KR100698960B1 (en) * 2004-04-01 2007-03-27 (주) 미코티엔 Probe card for testing LCD
KR20060122804A (en) * 2006-11-11 2006-11-30 윤재완 Probe block for display panel test

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101049445B1 (en) * 2009-01-12 2011-07-15 주식회사 디엠엔티 Probe unit for display panel inspection
KR101038456B1 (en) * 2009-12-22 2011-06-01 (주)유비프리시젼 Onebody type probe block easy align for lcd inspection equipment
KR101235018B1 (en) * 2010-01-22 2013-02-21 주식회사 코디에스 Manufacturing method of film type probe unit
KR101039336B1 (en) * 2010-10-08 2011-06-08 주식회사 코디에스 Film type probe unit

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