KR101038456B1 - Onebody type probe block easy align for lcd inspection equipment - Google Patents

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KR101038456B1
KR101038456B1 KR1020100021197A KR20100021197A KR101038456B1 KR 101038456 B1 KR101038456 B1 KR 101038456B1 KR 1020100021197 A KR1020100021197 A KR 1020100021197A KR 20100021197 A KR20100021197 A KR 20100021197A KR 101038456 B1 KR101038456 B1 KR 101038456B1
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guide plate
probe
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upper guide
inspection equipment
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KR1020100021197A
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김영호
박종군
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(주)유비프리시젼
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Abstract

PURPOSE: An integrated probe block for an LCD inspection apparatus is provided to previously prevent misalignment when a probe block is repaired. CONSTITUTION: An upper guide plate(240) includes a plurality of first insertion grooves for inserting a probe and a first protrusion hole to upwardly protrude the ground protrusion of the probe between the first insertion grooves. A lower guide plate(250) includes a plurality of second insertion grooves for inserting the probe and a second protrusion hole to downwardly protrude the ground protrusion of the probe between the second insertion grooves.

Description

얼라인이 용이한 ＬＣＤ 검사 장비용 일체형 프로브 블록{ONEBODY TYPE PROBE BLOCK EASY ALIGN FOR LCD INSPECTION EQUIPMENT}ONEBODY TYPE PROBE BLOCK EASY ALIGN FOR LCD INSPECTION EQUIPMENT}

본 발명은 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록에 관한 것으로서, 상세하게는 가이드 플레이트의 전면에 프로브의 접지 돌기가 노출되도록 일부분을 절개하여 접지 돌기를 육안으로 확인할 수 있도록 하고, 블록 바디에 가이드 플레이트를 고정하고, IC 바디에 드라이브 IC가 부착된 IC 플레이트를 고정한 후 블록 바디와 IC 바디를 상호 결합하여 일체형으로 제작하도록 하는 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록에 관한 것이다.The present invention relates to an integrated probe block for LCD inspection equipment that is easy to align, and in detail, a portion of the probe is cut out to expose the ground protrusion of the probe on the front surface of the guide plate so that the ground protrusion can be visually checked, and the block body The present invention relates to an integrated probe block for easily aligning LCD inspection equipment that fixes the guide plate to the IC body, fixes the IC plate with the drive IC attached thereto, and then combines the block body and the IC body to produce an integrated body.

일반적으로 텔레비전이나 노트북 컴퓨터와 같은 영상 표시장치로서 주로 사용되는 LCD(액정표시장치)는 가장자리 부분에 전기적 신호(영상신호, 동기신호, 색상신호 등)가 인가되도록 하는 수 십 내지 수 백개의 접속단자가 고밀도로 배치되며, 이러한 LCD는 제품에 장착되기 전에 시험신호를 인가하여 화면의 불량여부를 검사 및 시험하기 위하여 프로브 조립체가 준비된다.In general, LCDs (liquid crystal displays), which are mainly used as video display devices such as televisions and notebook computers, have dozens or hundreds of connection terminals for applying electrical signals (video signals, synchronization signals, color signals, etc.) to the edges. Is placed at a high density, and the LCD is prepared with a probe assembly to test and test the screen for failure by applying a test signal before mounting on the product.

이와 같이 LCD를 검사하기 위한 종래의 프로브 조립체는, 도 1에 도시된 바와 같이 어셈블리 블록(10)과, 어셈블리 블록(10)의 저면에 체결 고정되는 기판 홀더(20)와, 기판 홀더(20)의 저면에 체결되는 니들 홀더(30)와, 니들 홀더(30)의 저면에 부착되며, 상부면에는 드라이브 IC가 부착되고, 패턴이 형성되는 필름(40)과, 니들 홀더(30)의 저면에 부착되는 프로브 블록(50)으로 이루어진다.As described above, a conventional probe assembly for inspecting an LCD includes an assembly block 10, a substrate holder 20 fastened and fixed to a bottom surface of the assembly block 10, and a substrate holder 20. It is attached to the needle holder 30 is fastened to the bottom of the needle holder 30, the lower surface of the needle holder 30, the drive IC is attached to the upper surface, the film 40, the pattern is formed, and the bottom surface of the needle holder 30 It consists of a probe block 50 to be attached.

한편, 프로브 블록은 도 2에 도시된 바와 같이 니들 홀더(30)와 결합되는 블록(51)과, 블록(51)의 저면에 접착제에 의해 접합되는 얼라인 플레이트(53)와, 프로브(60)의 삽입이 가능하도록 복수의 삽입홈(55-1)이 형성되고, 삽입홈(55-1)과 삽입홈(55-1) 사이에 프로브(60)의 접지 돌기(61)가 상면으로 돌출되도록 돌출홀(55-2)이 형성되어 얼라인 플레이트(53)의 저면에 접착제에 의해 결합되는 제 1가이드 플레이트(55)와, 제 1가이드 플레이트(55)와 동일한 형태로 형성되어 삽입홈(57-1)과 돌출홀(57-2)을 구비하되, 제 1가이드 플레이트(55)의 프로브(60)와 서로 교차되는 형태로 형성되고, 프로브(60)의 접지 돌기(61)가 하면으로 돌출되도록 형성되어 제 1가이드 플레이트(55)의 저면에 접착제에 의해 결합되는 제 2가이드 플레이트(57)로 구성된다. 이때, 제 1가이드 플레이트(55)와 제 2가이드 플레이트(57)는 웨이퍼로 구성된다.Meanwhile, as illustrated in FIG. 2, the probe block includes a block 51 coupled to the needle holder 30, an alignment plate 53 bonded to the bottom surface of the block 51 by an adhesive, and a probe 60. A plurality of insertion grooves 55-1 are formed to allow insertion of the plurality of insertion grooves 55-1 and the ground protrusions 61 of the probes 60 protrude upward from the insertion grooves 55-1 and the insertion grooves 55-1. Protruding holes 55-2 are formed and formed in the same shape as the first guide plate 55 and the first guide plate 55 which are bonded to the bottom of the alignment plate 53 by an adhesive. -1) and a protruding hole 57-2, and formed to cross each other with the probe 60 of the first guide plate 55, and the ground protrusion 61 of the probe 60 protrudes to the lower surface. The second guide plate 57 is formed to be coupled to the bottom of the first guide plate 55 by an adhesive. At this time, the first guide plate 55 and the second guide plate 57 are composed of a wafer.

이러한 프로브 블록(50)은 LCD 패널(미도시)에 형성된 패턴과 제 2가이드 플레이트(57)에서 돌출된 각각의 프로브(60)의 접지 돌기(61)가 접촉되고, 제 2가이드 플레이트(57)에서 돌출된 각각의 프로브(60)의 접지 돌기(61)를 통해 필름(40)으로 신호를 전달한다.The probe block 50 contacts the pattern formed on the LCD panel (not shown) and the ground protrusion 61 of each probe 60 protruding from the second guide plate 57 and the second guide plate 57. The signal is transmitted to the film 40 through the ground projection 61 of each probe 60 protruding from the.

그러나, 이러한 프로브 블록은 LCD 패널과 프로브의 접지 돌기를 접합시 접지 돌기가 안보이기 때문에 육안으로 확인이 불가능하여 정렬 불량이 발생하는 문제점이 있다.However, such a probe block has a problem in that alignment failure occurs because the ground protrusion is not visible when the ground protrusion of the LCD panel and the probe are joined.

또한, 가이드 플레이트가 웨이퍼로 형성되어 있기 때문에 LCD 패널과 접합시 쉽게 파손되는 문제점이 있다.In addition, since the guide plate is formed of a wafer, there is a problem that it is easily broken when bonding with the LCD panel.

이러한 문제점을 해결하기 위하여 본 출원인에 의해 대한민국 등록특허공보 제10-0595840호(명칭 : LCD 검사 장비용 프로브 블록)가 개발되었다.In order to solve this problem, Korean Patent Publication No. 10-0595840 (name: probe block for LCD inspection equipment) was developed by the present applicant.

상기 LCD 검사 장비용 프로브 블록은 도 3에 도시된 바와 같이 얼라인 필름(110)과, 보호 플레이트(120)를 구비한다.The probe block for the LCD inspection equipment includes an alignment film 110 and a protection plate 120 as shown in FIG. 3.

먼저, 얼라인 필름(110)은 사각 판형상으로 형성되고, 프로브(60)의 각각의 접지 돌기(61)가 관통하는 사각 형태의 복수의 관통홀(111)이 형성되고, 관통홀(111)과 일정 거리 이격되어 대응되는 형태로 형성되는 형태의 복수의 정렬홀(113)을 구비하며, 제 2가이드 플레이트(57)의 저면의 전방부에 접합되되, 정렬홀(113)이 전방으로 돌출된다. 여기에서, 얼라인 필름(110)은 폴리아미드 재질이고, 프로브(60)의 접지 돌기(61)의 돌출 높이보다 낮은 두께를 가진다. 여기에서 또한, 관통홀(111)은 제 1가이드 플레이트(55)의 프로브(60)의 접지 돌기(61)가 돌출되는 제 1관통홀(111-1)과, 제 1관통홀(111-1)의 앞단에 설치되어 제 2가이드 플레이트(57)의 프로브(60)의 접지 돌기(61)가 돌출되는 제 2관통홀(111-2)을 구비한다.First, the alignment film 110 is formed in a rectangular plate shape, and a plurality of rectangular through holes 111 through which each of the ground protrusions 61 of the probe 60 penetrate are formed, and the through holes 111 are formed. It is provided with a plurality of alignment holes 113 of a shape formed in a corresponding shape spaced apart from a predetermined distance, and is bonded to the front portion of the bottom surface of the second guide plate 57, the alignment hole 113 is projected forward . Here, the alignment film 110 is made of polyamide and has a thickness lower than the height of protrusion of the ground protrusion 61 of the probe 60. Here, the through hole 111 may include a first through hole 111-1 through which the ground protrusion 61 of the probe 60 of the first guide plate 55 protrudes, and a first through hole 111-1. And a second through hole 111-2 installed at the front end of the second guide plate 57 to protrude the ground protrusion 61 of the probe 60 of the second guide plate 57.

여기에서 또, 정렬홀(113)은 그 폭이 LCD 패널의 패턴의 폭과 동일하거나 더 넓게 형성된다.Here, the alignment hole 113 is formed so that its width is equal to or wider than the width of the pattern of the LCD panel.

그리고, 보호 플레이트(120)는 사각 판형상으로 형성되고, 프로브(60)의 접지 돌기(61)가 노출되도록 제 2가이드 플레이트(57)와 동일한 길이를 갖되, 작은 폭으로 형성되어 제 2가이드 플레이트(57)와 얼라인 필름(110)의 저면에 접착제에 의해 접합된다. 여기에서, 보호 플레이트(120)는 세라믹 재질이다.In addition, the protection plate 120 is formed in a rectangular plate shape, and has the same length as the second guide plate 57 so as to expose the ground protrusion 61 of the probe 60, but is formed in a small width to form the second guide plate. The bottom surface of the 57 and the alignment film 110 is bonded by an adhesive. Here, the protective plate 120 is a ceramic material.

그러나, 이러한 종래의 LCD 검사 장비용 프로브 블록은 얼라인 필름에 관통홀을 형성하여 사용하기 때문에 필름 가공 및 부착 공정의 오차로 인해 블록 셋팅 편차로 인해 얼라인 미스가 발생하고, 이로 인해 조립 및 유지 보수가 불편한 문제점이 있다.However, since the conventional probe block for LCD inspection equipment uses through holes in the alignment film, an alignment miss occurs due to a block setting deviation due to an error in the film processing and attaching process. There is a problem that is inconvenient to repair.

또한, 이러한 종래의 LCD 검사 장비용 프로브 블록은 프로브의 접지 돌기가 보이지 않고, 얼라인 필름의 정렬홀을 이용하여 간접 셋팅이 이루어지기 때문에 오차가 발생하는 문제점이 있다.In addition, such a conventional probe block for LCD inspection equipment does not see the ground projection of the probe, there is a problem that an error occurs because the indirect setting is made using the alignment holes of the alignment film.

또, 이러한 종래의 LCD 검사 장비용 프로브 블록은 필름, 즉 TCP와 분리형으로 형성되어 있기 때문에 프로브와 TCP의 상호 결합 과정에서 얼라인 미스가 발생하는 문제점이 있다.In addition, since the conventional probe block for LCD inspection equipment is formed in a separate form from a film, that is, TCP, there is a problem that an alignment miss occurs in the process of mutual coupling between the probe and TCP.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 가이드 플레이트의 전면에 프로브의 접지 돌기가 노출되도록 일부분을 절개하여 접지 돌기를 육안으로 확인할 수 있도록 함으로써 조립 및 유지 보수시 얼라인 미스가 발생하는 것을 미연에 방지하여 조립 및 유지 보수가 용이하도록 하는 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention is to solve the above problems, by cutting a portion to expose the ground projection of the probe on the front surface of the guide plate to visually check the ground projection is that the alignment miss occurs during assembly and maintenance An object of the present invention is to provide an integrated probe block for LCD inspection equipment that can be easily aligned to prevent assembly and to facilitate assembly and maintenance.

또한, 본 발명은 블록 바디에 가이드 플레이트를 고정하고, IC 바디에 드라이브 IC가 부착된 IC 플레이트를 고정한 후 블록 바디와 IC 바디를 상호 결합하여 일체형으로 제작함으로써 프로브와 TCP의 상호 결합 과정에서 얼라인 미스가 발생하는 것을 미연에 방지하도록 하는 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록을 제공하는데 다른 목적이 있다.In addition, the present invention is fixed by the guide plate to the block body, the IC plate with the drive IC attached to the IC body and then combined with the block body and the IC body to produce a one-piece to align in the process of mutual coupling of the probe and TCP Another object of the present invention is to provide an integrated probe block for LCD inspection equipment that is easy to align to prevent the occurrence of miss.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은,Features of the present invention for achieving the above object,

저면 전방에 체결턱이 돌출 형성되는 블록 바디와; 상기 블록 바디의 체결턱에 볼트 결합되고, 저면에 수납홈이 형성되는 웨이퍼 블록과; 상기 블록 바디의 체결턱 후단에 결합되는 IC 블록과; 각각의 프로브가 1:1로 삽입되도록 복수의 제 1삽입홈이 형성되고, 제 1삽입홈과 제 1삽입홈 사이에 각각의 프로브의 접지 돌기가 1:1로 삽입되어 상면으로 돌출되도록 제 1돌출홀이 형성되며, 상기 웨이퍼 블록의 수납홈에 접착제에 의해 고정되는 상부 가이드 플레이트와; 각각의 프로브가 1:1로 삽입되도록 복수의 제 2삽입홈이 형성되고, 제 2삽입홈과 제 2삽입홈 사이에 각각의 프로브의 접지 돌기가 1:1로 삽입되어 하면으로 돌출되도록 제 2돌출홀이 형성되되, 상기 상부 가이드 플레이트의 제 1삽입홈과 상기 제 2삽입홈이 상호 교차되는 형태로 형성되고, 상기 상부 가이드 플레이트의 제 1돌출홀과 상기 제 2돌출홀이 상호 대칭되어 교차되는 형태로 형성되며, 상기 상부 가이드 플레이트의 저면에 접착제에 의해 고정되는 하부 가이드 플레이트; 및 일측면에 드라이브 IC가 부착되고, 일측면 양단에 상기 드라이브 IC와 전기적으로 연결되도록 다수의 접점이 구비된 제 1, 2FPC가 각각 형성되며, 상기 제 1FPC의 각각의 접점이 상기 상부 가이드 플레이트의 상면으로 돌출된 각각의 상기 프로브의 접지 돌기와 1:1로 접촉되도록 상기 IC 블록의 저면과 볼트 결합되는 IC 플레이트로 이루어지는 것을 특징으로 한다.A block body in which a fastening jaw protrudes from the front of the bottom; A wafer block bolted to the fastening jaw of the block body and having a receiving groove formed on a bottom thereof; An IC block coupled to a rear end of the fastening jaw of the block body; A plurality of first insertion grooves are formed so that each probe is inserted 1: 1, and a ground protrusion of each probe is inserted 1: 1 between the first insertion groove and the first insertion groove to protrude upward. An upper guide plate having a protruding hole and fixed to the receiving groove of the wafer block by an adhesive; A plurality of second insertion grooves are formed so that each of the probes is inserted 1: 1, and between the second insertion grooves and the second insertion grooves, a ground protrusion of each probe is inserted 1: 1 so as to protrude toward the bottom surface. A protruding hole is formed, and the first insertion groove and the second insertion groove of the upper guide plate are formed to cross each other, and the first protrusion hole and the second protrusion hole of the upper guide plate cross each other in symmetry. A lower guide plate formed in a shape to be fixed by an adhesive to a bottom of the upper guide plate; And a drive IC attached to one side thereof, and first and second FPCs each having a plurality of contacts formed at both ends of the drive IC to be electrically connected to each other, and each contact of the first FPC is connected to the upper guide plate. And an IC plate that is bolted to the bottom of the IC block so as to be in contact with the ground protrusion of each of the probes protruding upward.

여기에서, 상기 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록은 상기 IC 플레이트의 제 2FPC의 각각의 접점과 1:1 대응되도록 양단에 접점이 구비되어 상기 제 2FPC의 접점과 이의 접점이 접착제에 의해 고정되는 제 3FPC와; 그 정면 형상이 ""자 형태로 형성되고, 저면 전방에 상기 하부 가이드 플레이트의 하면으로 돌출된 상기 프로브의 접지 돌기가 외부로 노출되도록 개방홀이 형성되는 블록 커버를 더 포함한다.Here, the integrated probe block for the LCD inspection equipment that is easy to align is provided with contacts at both ends so as to correspond 1: 1 with each contact of the second FPC of the IC plate, so that the contacts of the second FPC and the contacts thereof are applied to the adhesive. A third FPC fixed by; The front shape is formed in the shape of "", and further includes a block cover in which the opening is formed in front of the bottom so that the ground projection of the probe protruding to the lower surface of the lower guide plate to the outside.

여기에서 또한, 상기 상부 가이드 플레이트는 상기 제 1삽입홈에 삽입된 프로브중의 일부가 노출되도록 전방 일부분을 절개하여 제 1절개부를 구비한다.Here, the upper guide plate is provided with a first incision by cutting the front portion so that a portion of the probe inserted into the first insertion groove is exposed.

여기에서 또, 상기 하부 가이드 플레이트는 상기 상부 가이드 플레이트의 제 1절개부와 동일하게 제 2절개부를 구비한다.Here, the lower guide plate has a second cutout portion in the same manner as the first cutout portion of the upper guide plate.

상기와 같이 구성되는 본 발명인 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록에 따르면, 가이드 플레이트의 전면에 프로브의 접지 돌기가 노출되도록 일부분을 절개하여 접지 돌기를 육안으로 확인할 수 있도록 함으로써 조립 및 유지 보수시 얼라인 미스가 발생하는 것을 미연에 방지하여 조립 및 유지 보수가 용이할 수 있다.According to the integrated probe block for easy alignment LCD inspection apparatus of the present invention configured as described above, by assembling and maintaining by cutting a portion to expose the ground projection of the probe to the front of the guide plate to the naked eye to visually check It is easy to assemble and maintain by preventing the occurrence of alignment miss during maintenance.

또한, 본 발명에 따르면 블록 바디에 가이드 플레이트를 고정하고, IC 바디에 드라이브 IC가 부착된 IC 플레이트를 고정한 후 블록 바디와 IC 바디를 상호 결합하여 일체형으로 제작함으로써 프로브와 TCP의 상호 결합 과정에서 얼라인 미스가 발생하는 것을 미연에 방지할 수 있다.Further, according to the present invention, the guide plate is fixed to the block body, and the IC plate with the drive IC is fixed to the IC body, and then the block body and the IC body are integrally manufactured to be integrated to freeze during the mutual coupling process between the probe and TCP. The occurrence of phosphorus miss can be prevented beforehand.

도 1은 종래의 프로브 조립체의 구성을 나타낸 사시도,
도 2는 도 1의 프로브 블록의 구성을 나타낸 분해 사시도,
도 3은 종래의 LCD 검사 장비용 프로브 블록의 구성을 나타낸 분해 사시도,
도 4는 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록을 나타낸 사시도,
도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록을 나타낸 분해 사시도,
도 7은 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록중 상하부 가이드 플레이트의 구성을 나타낸 사시도,
도 8은 도 4의 측단면도,
도 9 내지 도 12는 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록중 상하부 가이드 플레이트의 형성 위치를 설명하기 위한 설명도.1 is a perspective view showing the configuration of a conventional probe assembly,
2 is an exploded perspective view showing the configuration of the probe block of FIG.
Figure 3 is an exploded perspective view showing the configuration of a probe block for a conventional LCD inspection equipment,
Figure 4 is a perspective view showing an integrated probe block for easy alignment LCD inspection equipment according to the present invention,
5 and 6 are exploded perspective views showing an integrated probe block for easy alignment LCD inspection equipment according to the present invention,
Figure 7 is a perspective view showing the configuration of the upper and lower guide plate of the integrated probe block for easy alignment LCD inspection equipment according to the present invention,
8 is a side cross-sectional view of FIG. 4;
9 to 12 are explanatory views for explaining the position of forming the upper and lower guide plate of the integrated probe block for easy alignment LCD inspection equipment according to the present invention.

이하, 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록의 구성을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the configuration of an integrated probe block for easy alignment LCD inspection equipment according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

하기에서 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.In the following description of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted. The following terms are defined in consideration of the functions of the present invention, and may be changed according to the intentions or customs of the user, the operator, and the like. Therefore, the definition should be based on the contents throughout this specification.

도 4는 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록을 나타낸 사시도이고, 도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록을 나타낸 분해 사시도이며, 도 7은 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록중 상하부 가이드 플레이트의 구성을 나타낸 사시도이고, 도 8은 도 4의 측단면도이고, 도 9 내지 도 12는 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록중 상하부 가이드 플레이트의 형성 위치를 설명하기 위한 설명도이다.Figure 4 is a perspective view showing an integrated probe block for easy alignment LCD inspection equipment according to the present invention, Figure 5 and Figure 6 is an exploded perspective view showing an integrated probe block for easy alignment LCD inspection equipment according to the present invention. 7 is a perspective view showing the configuration of the upper and lower guide plate of the integrated probe block for easy alignment LCD inspection equipment according to the invention, Figure 8 is a side cross-sectional view of Figure 4, Figures 9 to 12 the present invention It is explanatory drawing for demonstrating the formation position of the upper and lower guide plates in the integrated probe block for LCD inspection equipment which is easy to align.

도 4 내지 도 12를 참조하면, 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록(200)은, 블록 바디(210)와, 웨이퍼 블록(220)과, IC 블록(230)과, 상부 가이드 플레이트(240)와, 하부 가이드 플레이트(250)와, IC 플레이트(260)와, 제 3FPC(270)와, 블록 커버(280)로 구성된다.4 to 12, the integrated probe block 200 for easy alignment LCD inspection equipment according to the present invention, the block body 210, wafer block 220, IC block 230 and And an upper guide plate 240, a lower guide plate 250, an IC plate 260, a third FPC 270, and a block cover 280.

먼저, 블록 바디(210)는 금속 재질로 직사각형의 패널 형태로 형성되고, 저면 전방에 체결턱(211)이 돌출 형성된다.First, the block body 210 is formed of a metal panel in the form of a rectangular panel, the fastening jaw 211 is formed protruding in front of the bottom.

그리고, 웨이퍼 블록(220)은 금속 재질로 직사각형의 패널 형태로 형성되고, 블록 바디(210)의 체결턱(211)에 볼트 결합되고, 저면에 수납홈(221)이 형성된다. 여기에서, 웨이퍼 블록(220)은 하기에서 설명할 상부 가이드 플레이트(240)와 IC 플레이트(260)의 결합이 용이하도록 배면에 경사면(223)이 구비된다.In addition, the wafer block 220 is formed in a rectangular panel form of a metal material, is bolted to the fastening jaw 211 of the block body 210, and a receiving groove 221 is formed on a bottom surface thereof. Here, the wafer block 220 is provided with an inclined surface 223 on the rear surface to facilitate coupling of the upper guide plate 240 and the IC plate 260 which will be described later.

또한, IC 블록(230)은 금속 재질로 직사각형의 패널 형태로 형성되고, 블록 바디(210)의 저면인 체결턱(211) 후단에 볼트 결합된다.In addition, the IC block 230 is formed in a rectangular panel form of a metal material, and is bolted to the rear end of the fastening jaw 211 which is the bottom of the block body 210.

또, 상부 가이드 플레이트(240)는 웨이퍼로 직사각형의 패널 형태로 형성되고, 각각의 프로브(290)가 1:1로 삽입되도록 폭방향 등간격으로 복수의 제 1삽입홈(241)이 형성되고, 제 1삽입홈(241)과 제 1삽입홈(241) 사이에 각각의 프로브(290)의 접지 돌기(291)가 1:1로 삽입되어 상면으로 돌출되도록 제 1돌출홀(243)이 형성되며, 웨이퍼 블록(220)의 수납홈(221)에 접착제에 의해 고정된다. 여기에서, 상부 가이드 플레이트(240)는 제 1삽입홈(241)에 삽입된 프로브(290)중의 일부(약 10~15개)가 노출되도록 전방 일부분을 절개하여 제 1절개부(245)를 구비한다. 여기에서 또한, 제 1절개부(245)는 도 9에 도시된 바와 같이 LCD 패널(300)의 패드(310)중 MB 패드(또는 로그 패드)(311)의 폭과 액티브 패드(313)의 폭이 동일한 경우 MB 패드(또는 로그 패드)(311)의 첫 번째 패드를 시작으로 하여 이와 대응되는 부분에 형성한다. 여기에서 또, 제 1절개부(245)는 도 10에 도시된 바와 같이 LCD 패널(300)의 패드(310)중 MB 패드(또는 로그 패드)(311)가 3개 이상 연속해서 동일 폭으로 형성된 경우 MB 패드(또는 로그 패드)(311)의 첫 번째 패드를 시작으로 하여 이와 대응되는 부분에 형성한다. 여기에서 또, 제 1절개부(245)는 도 11에 도시된 바와 같이 LCD 패널(300)의 패드중 MB 패드(또는 로그 패드)(311)에 액티브 패드(313)보다 상대적으로 폭이 넓은 더미 패드(311a)가 형성되어 3개 이상 연속해서 동일 폭으로 미형성된 경우 더미 패드(311a)와 액티브 패드(313)가 연결되는 부분(예를 들어, 마지막 더미 패드를 시작으로 하여 N번째 액티브 패드까지)과 대응되는 부분에 형성한다. 여기에서, 제 1절개부(245)는 도 12에 도시된 바와 같이 LCD 패널(300)의 패드(310)중 MB 패드(또는 로그 패드)(311)가 미존재하는 경우 첫 번째 액티브 패드(313)를 시작으로 이와 대응되는 부분에 형성한다.In addition, the upper guide plate 240 is formed in a rectangular panel form as a wafer, and a plurality of first insertion grooves 241 are formed at equal intervals in the width direction so that each probe 290 is inserted at a ratio of 1: 1. A first protrusion hole 243 is formed between the first insertion groove 241 and the first insertion groove 241 so that the ground protrusion 291 of each probe 290 is inserted 1: 1 and protrudes upward. It is fixed to the receiving groove 221 of the wafer block 220 by an adhesive. Here, the upper guide plate 240 is provided with a first incision 245 by cutting a portion of the front portion to expose a portion (about 10 to 15) of the probe 290 inserted into the first insertion groove 241. do. Here, the first cutout 245 may have a width of the MB pad (or log pad) 311 and a width of the active pad 313 of the pad 310 of the LCD panel 300, as shown in FIG. 9. In this case, the first pad of the MB pad (or log pad) 311 is formed at a corresponding portion starting with the first pad. Here, as shown in FIG. 10, the first cutout 245 is formed of three or more MB pads (or log pads) 311 in the pad 310 of the LCD panel 300 in the same width. In this case, the first pad of the MB pad (or log pad) 311 is formed at a portion corresponding to the first pad. Here, the first cutout 245 is a dummy having a relatively wider width than the active pad 313 on the MB pad (or log pad) 311 among pads of the LCD panel 300 as shown in FIG. 11. When the pads 311a are formed and are not formed in three or more consecutively equal widths, a portion where the dummy pads 311a and the active pads 313 are connected (for example, starting with the last dummy pad to the Nth active pad) ) To the corresponding part. Here, as illustrated in FIG. 12, the first cutout 245 is the first active pad 313 when the MB pad (or log pad) 311 is not present among the pads 310 of the LCD panel 300. ) To the corresponding part.

한편, 하부 가이드 플레이트(250)는 상부 가이드 플레이트(240)와 동일 재질과 동일 크기로 형성되고, 각각의 프로브(290)가 1:1로 삽입되도록 복수의 제 2삽입홈(251)이 형성되고, 제 2삽입홈(251)과 제 2삽입홈(251) 사이에 각각의 프로브(290)의 접지 돌기(291)가 1:1로 삽입되어 하면으로 돌출되도록 제 2돌출홀(253)이 형성되되, 상부 가이드 플레이트(240)의 제 1삽입홈(241)과 제 2삽입홈(251)이 상호 교차되는 형태로 형성되고, 상부 가이드 플레이트(240)의 제 1돌출홀(243)과 제 2돌출홀(253)이 상호 대칭되어 교차되는 형태로 형성되며, 상부 가이드 플레이트(240)의 저면에 접착제에 의해 고정된다. 여기에서, 하부 가이드 플레이트(250)는 상부 가이드 플레이트(240)의 제 1절개부(245)와 동일한 위치에 제 2절개부(255)를 구비한다.On the other hand, the lower guide plate 250 is formed of the same material and the same size as the upper guide plate 240, a plurality of second insertion grooves 251 is formed so that each probe 290 is inserted 1: 1: A second protrusion hole 253 is formed between the second insertion groove 251 and the second insertion groove 251 so that the ground protrusion 291 of each probe 290 is inserted 1: 1 and protrudes to the bottom surface. The first insertion groove 241 and the second insertion groove 251 of the upper guide plate 240 cross each other, and the first protrusion hole 243 and the second of the upper guide plate 240 are formed to cross each other. Protruding holes 253 are formed to cross each other symmetrically, and is fixed to the bottom of the upper guide plate 240 by an adhesive. Here, the lower guide plate 250 includes a second cutout 255 at the same position as the first cutout 245 of the upper guide plate 240.

그리고, IC 플레이트(260)는 금속 재질로 이루어지고, 일측면에 드라이브 IC(261)가 부착되고, 일측면 양단에 드라이브 IC(261)와 전기적으로 연결되도록 다수의 접점(263a, 265a)이 구비된 제 1, 2FPC(263, 265)가 각각 형성되며, 제 1FPC(263)의 각각의 접점(263a)이 상부 가이드 플레이트(240)의 상면으로 돌출된 각각의 프로브(290)의 접지 돌기(291)와 1:1로 접촉되도록 IC 블록(230)의 저면과 볼트 결합된다.In addition, the IC plate 260 is made of a metal material, and a drive IC 261 is attached to one side thereof, and a plurality of contacts 263a and 265a are provided at both ends of the IC plate 260 so as to be electrically connected to the drive IC 261. The first and second FPCs 263 and 265, respectively, and the ground protrusions 291 of the respective probes 290 protrude from the upper surface of the upper guide plate 240 to each contact 263a of the first FPC 263. ) Is bolted to the bottom of the IC block 230 so as to be in contact with each other.

또한, 제 3FPC(270)는 IC 플레이트(260)의 제 2FPC(263)의 각각의 접점과 1:1 대응되도록 양단에 접점(271)이 구비되어 제 2FPC(265)의 접점(265a)과 이의 접점(271)이 접착제에 의해 고정된다.In addition, the third FPC 270 is provided with contacts 271 at both ends thereof so as to correspond to each contact of the second FPC 263 of the IC plate 260 at one end thereof. The contact 271 is fixed by the adhesive.

또, 블록 커버(280)는 금속 재질로 그 정면 형상이 ""자 형태로 형성되고, 저면 전방에 하부 가이드 플레이트(250)의 하면으로 돌출된 프로브(290)의 접지 돌기(291)가 외부로 노출되도록 개방홀(281)이 형성된다.In addition, the block cover 280 is made of a metal material, the front shape is formed in the shape of "", the ground projection 291 of the probe 290 protruding to the lower surface of the lower guide plate 250 in front of the bottom surface to the outside Opening holes 281 are formed to be exposed.

이하, 본 발명에 따른 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록의 조립 과정 및 동작을 첨부 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the assembling process and operation of the integrated probe block for easy alignment LCD inspection equipment according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

먼저, 상부 가이드 플레이트(240)와 하부 가이드 플레이트(250)를 접착제를 이용하여 접착시킨다.First, the upper guide plate 240 and the lower guide plate 250 are bonded using an adhesive.

이러한 상태에서, 상부 가이드 플레이트(240)의 제 1삽입홈(241) 및 하부 가이드 플레이트(250)의 제 2삽입홈(251)에 프로브(290)를 각각 삽입한다.In this state, the probes 290 are respectively inserted into the first insertion grooves 241 of the upper guide plate 240 and the second insertion grooves 251 of the lower guide plate 250.

그러면, 상부 가이드 플레이트(240)의 제 1돌출홀(243)을 통해 하부 가이드 플레이트(250)의 제 2삽입홈(251)에 삽입된 프로브(290)의 접지 돌기(291)가 돌출되고, 하부 가이드 플레이트(250)의 제 2돌출홀(253)을 통해 상부 가이드 플레이트(240)의 제 1삽입홈(241)에 삽입된 프로브(290)의 접지 돌기(291)가 돌출된다.Then, the ground protrusion 291 of the probe 290 inserted into the second insertion groove 251 of the lower guide plate 250 protrudes through the first protrusion hole 243 of the upper guide plate 240, and the lower portion The ground protrusion 291 of the probe 290 inserted into the first insertion groove 241 of the upper guide plate 240 protrudes through the second protrusion hole 253 of the guide plate 250.

이러한 상태에서, 상부 가이드 플레이트(240)와 하부 가이드 플레이트(250)를 웨이퍼 블록(220)의 수납홈(221)에 접착제를 이용하여 고정시킨다. 이때, 상부 가이드 플레이트(240)의 제 1돌출홀(243)을 통해 돌출된 프로브(290)의 접지 돌기(291)는 경사면(223)을 통해 외부로 노출된다.In this state, the upper guide plate 240 and the lower guide plate 250 are fixed to the receiving groove 221 of the wafer block 220 by using an adhesive. At this time, the ground protrusion 291 of the probe 290 protruding through the first protrusion hole 243 of the upper guide plate 240 is exposed to the outside through the inclined surface 223.

그런 다음, 상부 가이드 플레이트(240)와 하부 가이드 플레이트(250)가 고정된 웨이퍼 블록(220)을 블록 바디(210)의 체결턱(211)에 볼트 결합시킨다.Then, the wafer block 220 on which the upper guide plate 240 and the lower guide plate 250 are fixed is bolted to the fastening jaw 211 of the block body 210.

그리고, 상부 가이드 플레이트(240)의 제 1돌출홀(243)을 통해 돌출된 프로브(290)의 접지 돌기(291)를 육안으로 확인하면서 정렬시킨다. 이때, 정렬 방법으로는 글라스에 등간격으로 형성된 패턴을 덧댄 후 접지 돌기(291)의 간격을 확인하면서 정렬시키는 방법이 사용된다.In addition, the ground protrusion 291 of the probe 290 protruding through the first protrusion hole 243 of the upper guide plate 240 is visually aligned and aligned. At this time, as the alignment method, a method of aligning while checking the interval of the ground protrusion 291 after padding the pattern formed at equal intervals on the glass is used.

이러한 상태에서, 입력측인 제 2FPC(265)의 접점(265a)과 제 3FPC(270)의 접점(271)이 1:1로 대응된 상태로 접착제에 의해 고정된다.In this state, the contact 265a of the second FPC 265 on the input side and the contact 271 of the third FPC 270 are fixed by an adhesive in a state of 1: 1 correspondence.

그런 다음, IC 플레이트(260)의 제 1FPC(263)의 접점(263a)과 상부 가이드 플레이트(240)의 제 1돌출홀(243)을 통해 하부 가이드 플레이트(250)의 제 2삽입홈(251)에 삽입된 프로브(290)의 접지 돌기(291)를 1:1로 대응시킨 상태에서 IC 플레이트(260)를 IC 블록(230)에 볼트 결합시킨다.Then, the second insertion groove 251 of the lower guide plate 250 through the contact 263a of the first FPC 263 of the IC plate 260 and the first protrusion hole 243 of the upper guide plate 240. The IC plate 260 is bolted to the IC block 230 in a state where the ground protrusion 291 of the probe 290 inserted therein corresponds to 1: 1.

그리고, IC 블록(230)을 블록 바디(210)의 저면인 체결턱(211) 후단에 볼트 결합시켜 조립을 완성한다.Then, the IC block 230 is bolted to the rear end of the fastening jaw 211 that is the bottom of the block body 210 to complete the assembly.

한편, 하부 가이드 플레이트(250)의 제 2돌출홀(253)을 통해 돌출된 프로브(290)의 접지 돌기(291)도 상기와 같은 방법을 통해 정렬시킨다.Meanwhile, the ground protrusion 291 of the probe 290 protruding through the second protruding hole 253 of the lower guide plate 250 is also aligned through the above method.

본 발명은 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있으며 상기 발명의 상세한 설명에서는 그에 따른 특별한 실시 예에 대해서만 기술하였다. 하지만 본 발명은 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention. It is to be understood, however, that the present invention is not limited to the specific forms referred to in the description, but rather includes all modifications, equivalents, and substitutions within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. Should be.

200 : 프로브 블록 210 : 블록 바디
220 : 웨이퍼 블록 230 : IC 블록
240 : 상부 가이드 플레이트 250 : 하부 가이드 플레이트
260 : IC 플레이트 270 : 제 3FPC
280 : 블록 커버200: probe block 210: block body
220: wafer block 230: IC block
240: upper guide plate 250: lower guide plate
260: IC plate 270: third FPC
280: block cover

Claims (4)

저면 전방에 체결턱이 돌출 형성되는 블록 바디와;
상기 블록 바디의 체결턱에 볼트 결합되고, 저면에 수납홈이 형성되는 웨이퍼 블록과;
상기 블록 바디의 체결턱 후단에 결합되는 IC 블록과;
각각의 프로브가 1:1로 삽입되도록 복수의 제 1삽입홈이 형성되고, 제 1삽입홈과 제 1삽입홈 사이에 각각의 프로브의 접지 돌기가 1:1로 삽입되어 상면으로 돌출되도록 제 1돌출홀이 형성되며, 상기 웨이퍼 블록의 수납홈에 접착제에 의해 고정되는 상부 가이드 플레이트와;
각각의 프로브가 1:1로 삽입되도록 복수의 제 2삽입홈이 형성되고, 제 2삽입홈과 제 2삽입홈 사이에 각각의 프로브의 접지 돌기가 1:1로 삽입되어 하면으로 돌출되도록 제 2돌출홀이 형성되되, 상기 상부 가이드 플레이트의 제 1삽입홈과 상기 제 2삽입홈이 상호 교차되는 형태로 형성되고, 상기 상부 가이드 플레이트의 제 1돌출홀과 상기 제 2돌출홀이 상호 대칭되어 교차되는 형태로 형성되며, 상기 상부 가이드 플레이트의 저면에 접착제에 의해 고정되는 하부 가이드 플레이트; 및
일측면에 드라이브 IC가 부착되고, 일측면 양단에 상기 드라이브 IC와 전기적으로 연결되도록 다수의 접점이 구비된 제 1, 2FPC가 각각 형성되며, 상기 제 1FPC의 각각의 접점이 상기 상부 가이드 플레이트의 상면으로 돌출된 각각의 상기 프로브의 접지 돌기와 1:1로 접촉되도록 상기 IC 블록의 저면과 볼트 결합되는 IC 플레이트로 이루어지는 것을 특징으로 하는 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록.A block body in which a fastening jaw protrudes from the front of the bottom;
A wafer block bolted to the fastening jaw of the block body and having a receiving groove formed on a bottom thereof;
An IC block coupled to a rear end of the fastening jaw of the block body;
A plurality of first insertion grooves are formed so that each probe is inserted 1: 1, and a ground protrusion of each probe is inserted 1: 1 between the first insertion groove and the first insertion groove to protrude upward. An upper guide plate having a protruding hole and fixed to the receiving groove of the wafer block by an adhesive;
A plurality of second insertion grooves are formed so that each of the probes is inserted 1: 1, and between the second insertion grooves and the second insertion grooves, a ground protrusion of each probe is inserted 1: 1 so as to protrude toward the bottom surface. A protruding hole is formed, and the first insertion groove and the second insertion groove of the upper guide plate are formed to cross each other, and the first protrusion hole and the second protrusion hole of the upper guide plate cross each other in symmetry. A lower guide plate formed in a shape to be fixed by an adhesive to a bottom of the upper guide plate; And
A drive IC is attached to one side, and first and second FPCs each having a plurality of contacts are formed at both ends of the drive IC, and each contact of the first FPC is formed on an upper surface of the upper guide plate. An integrated probe block for easy alignment of the LCD inspection equipment, characterized in that the IC plate is bolted to the bottom surface of the IC block so as to be in contact with the ground projection of each of the probes protruding into 1: 1. 제 1 항에 있어서,
상기 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록은,
상기 IC 플레이트의 제 2FPC의 각각의 접점과 1:1 대응되도록 양단에 접점이 구비되어 상기 제 2FPC의 접점과 이의 접점이 접착제에 의해 고정되는 제 3FPC와;
그 정면 형상이 ""자 형태로 형성되고, 저면 전방에 상기 하부 가이드 플레이트의 하면으로 돌출된 상기 프로브의 접지 돌기가 외부로 노출되도록 개방홀이 형성되는 블록 커버를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록.The method of claim 1,
The integrated probe block for the LCD inspection equipment easy to align,
A third FPC having contacts at both ends thereof so as to correspond with the respective contacts of the second FPC of the IC plate so that the contacts of the second FPC and the contacts thereof are fixed by an adhesive;
The front shape is formed in the shape of "", and the bottom surface further comprises a block cover which is formed in the opening hole so that the ground projection of the probe protruding to the lower surface of the lower guide plate is exposed to the outside. Integrated probe block for easy-to-print LCD inspection equipment. 제 1 항에 있어서,
상기 상부 가이드 플레이트는,
상기 제 1삽입홈에 삽입된 프로브중의 일부가 노출되도록 전방 일부분을 절개하여 제 1절개부를 구비하는 것을 특징으로 하는 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록.The method of claim 1,
The upper guide plate,
An integrated probe block for easy alignment according to claim 1, wherein the front cutting part is cut to expose a part of the probe inserted into the first insertion groove. 제 3 항에 있어서,
상기 하부 가이드 플레이트는,
상기 상부 가이드 플레이트의 제 1절개부와 동일하게 제 2절개부를 구비하는 것을 특징으로 하는 얼라인이 용이한 LCD 검사 장비용 일체형 프로브 블록.The method of claim 3, wherein
The lower guide plate,
Integral probe block for easy alignment according to the LCD, characterized in that it comprises a second incision like the first incision of the upper guide plate.
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