KR20080048161A - Liquid crystal display and test method for the same - Google Patents
Liquid crystal display and test method for the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR20080048161A KR20080048161A KR1020060118169A KR20060118169A KR20080048161A KR 20080048161 A KR20080048161 A KR 20080048161A KR 1020060118169 A KR1020060118169 A KR 1020060118169A KR 20060118169 A KR20060118169 A KR 20060118169A KR 20080048161 A KR20080048161 A KR 20080048161A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- test
- data
- pad
- signal
- lines
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
- G02F1/13458—Terminal pads
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136259—Repairing; Defects
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
Description
첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명함으로써 본 발명을 분명하게 하고자 한다.With reference to the accompanying drawings will be described in detail the embodiments of the present invention to make the present invention clear.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 블록도이다.1 is a block diagram of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 화소에 대한 등가 회로도이다.2 is an equivalent circuit diagram of one pixel of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 3은 도 1에 도시한 액정 표시 장치의 개략도이다.3 is a schematic diagram of the liquid crystal display shown in FIG. 1.
도 4는 도 3에 도시한 액정 표시 장치의 일부를 확대하여 나타낸 도면이다.FIG. 4 is an enlarged view of a portion of the liquid crystal display shown in FIG. 3.
<도면 부호에 대한 설명><Description of Drawing>
3: 액정층 100: 하부 표시판3: liquid crystal layer 100: lower display panel
191: 화소 전극 200: 상부 표시판191: pixel electrode 200: upper display panel
230: 색 필터 270: 공통 전극230: color filter 270: common electrode
300: 액정 표시판 조립체 400: 게이트 구동부300: liquid crystal panel assembly 400: gate driver
500: 데이터 구동부 600: 신호 제어부500: data driver 600: signal controller
800: 계조 전압 생성부 800: gray voltage generator
R,G,B: 입력 영상 데이터 DE: 데이터 인에이블 신호R, G, B: Input image data DE: Data enable signal
MCLK: 메인 클록 Hsync: 수평 동기 신호MCLK: Main Clock Hsync: Horizontal Sync Signal
Vsync: 수직 동기 신호 CONT1: 게이트 제어 신호Vsync: Vertical Sync Signal CONT1: Gate Control Signal
CONT2: 데이터 제어 신호 DAT: 디지털 영상 신호CONT2: data control signal DAT: digital video signal
Clc: 액정 축전기 Cst: 유지 축전기Clc: Liquid Crystal Capacitor Cst: Keeping Capacitor
Q: 스위칭 소자 TP: 검사 패드Q: switching element TP: inspection pad
DP: 데이터 패드DP: data pad
본 발명은 액정 표시 장치 및 이의 검사 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device and an inspection method thereof.
일반적인 액정 표시 장치(liquid crystal display, LCD)는 화소 전극 및 공통 전극이 구비된 두 표시판과 그 사이에 들어 있는 유전율 이방성(dielectric anisotropy)을 갖는 액정층을 포함한다. 화소 전극은 행렬의 형태로 배열되어 있고 박막 트랜지스터(TFT) 등 스위칭 소자에 연결되어 한 행씩 차례로 데이터 전압을 인가 받는다. 공통 전극은 표시판의 전면에 걸쳐 형성되어 있으며 공통 전압을 인가 받는다. 화소 전극과 공통 전극 및 그 사이의 액정층은 회로적으로 볼 때 액정 축전기를 이루며, 액정 축전기는 이에 연결된 스위칭 소자와 함께 화소를 이루는 기본 단위가 된다.A typical liquid crystal display (LCD) includes two display panels provided with pixel electrodes and a common electrode, and a liquid crystal layer having dielectric anisotropy interposed therebetween. The pixel electrodes are arranged in a matrix and connected to switching elements such as thin film transistors (TFTs) to receive data voltages one by one in sequence. The common electrode is formed over the entire surface of the display panel and receives a common voltage. The pixel electrode, the common electrode, and the liquid crystal layer therebetween form a liquid crystal capacitor, and the liquid crystal capacitor becomes a basic unit that forms a pixel together with a switching element connected thereto.
이러한 액정 표시 장치에서는 두 전극에 전압을 인가하여 액정층에 전계를 생성하고, 이 전계의 세기를 조절하여 액정층을 통과하는 빛의 투과율을 조절함으 로써 원하는 화상을 얻는다. 이때, 액정층에 한 방향의 전계가 오랫동안 인가됨으로써 발생하는 열화 현상을 방지하기 위하여 프레임별로, 행별로, 또는 화소별로 공통 전압에 대한 데이터 전압의 극성을 반전시킨다.In such a liquid crystal display, a voltage is applied to two electrodes to generate an electric field in the liquid crystal layer, and the intensity of the electric field is adjusted to control the transmittance of light passing through the liquid crystal layer to obtain a desired image. In this case, in order to prevent degradation caused by an electric field applied to the liquid crystal layer for a long time, the polarity of the data voltage with respect to the common voltage is inverted frame by frame, row by pixel, or pixel by pixel.
액정 표시 장치를 제조하는 과정에서 게이트선이나 데이터선 등의 표시 신호선이 단선이 있는 경우 이들을 일정한 검사를 통하여 미리 걸러낸다. 이러한 검사의 종류에는 어레이 테스트(array test), VI(visual inspection) 테스트, 그로스 테스트(gross test) 및 모듈 테스트(module test) 등이 있다.In the process of manufacturing the liquid crystal display, if there is a disconnection in the display signal lines such as the gate line or the data line, these are filtered in advance through a predetermined inspection. These types of inspections include array tests, visual inspection (VI) tests, gross tests, and module tests.
어레이 테스트는 개별적인 셀(cell)들로 분리되기 전에 일정한 전압을 인가하고 출력 전압의 유무를 통하여 표시 신호선의 단선 여부를 알아보는 시험이며, VI 테스트는 개별적인 셀 들로 분리된 후 일정한 전압을 인가한 후 사람의 눈으로 보면서 표시 신호선의 단선 여부를 알아보는 시험이다. 그로스 테스트는 상부 표시판과 하부 표시판을 결합하고 구동 회로를 실장하기 전 일정 전압을 인가하여 화면의 표시 상태를 통하여 화질 및 표시 신호선의 단선 여부를 알아보는 시험이며, 모듈 테스트는 구동 회로를 장착한 후 최종적으로 구동 회로의 적정 동작 여부를 알아보는 시험이다.The array test is a test that applies a constant voltage before separating into individual cells and checks whether the display signal line is disconnected through the presence or absence of an output voltage. The VI test separates into individual cells and then applies a constant voltage. It is a test to check whether the signal line is disconnected while looking at the human eye. The gross test is a test that checks the quality and disconnection of the display signal line through the display state by applying a constant voltage before combining the upper panel and the lower panel and mounting the driving circuit. Finally, it is a test to find out whether the driving circuit works properly.
이때, VI 테스트에서 개별적인 셀들로 분리하는 과정에서 긁힘 등으로 인해 검사선이 손상되거나 하여 제대로 검사 신호를 전달하지 못함으로써 검사선의 결함인지 표시 신호선의 결함인지 판별하기 쉽지 않다. 좀 더 정밀한 검사는 그로스 테스트 단계에서 이루어지는데, 이는 모든 데이터 패드에 검사 신호를 인가함으로 써 표시 신호선의 결함 여부를 판단한다. 이로 인해, 그로스 테스트를 거치지 않아도 되는데 거침으로써 생산 시간을 증가시켜 수율을 떨어뜨린다. In this case, it is difficult to determine whether the test line is defective or the display signal line is defective because the test line is damaged due to a scratch or the like in the process of separating into individual cells in the VI test, thereby failing to properly transmit the test signal. More precise inspections are made during the gross test phase, which applies a test signal to all data pads to determine if the display signal lines are defective. This eliminates the need for gross testing, which increases production time and lowers yields.
따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 수율을 향상시킬 수 있는 액정 표시 장치 및 이의 검사 방법을 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device and an inspection method thereof that can improve yield.
이러한 기술적 과제를 이루기 위한 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치는, 데이터 신호를 전달하는 복수의 데이터선, 상기 데이터선에 각각 연결되어 있는 데이터 패드를 포함하는 데이터 패드부, 상기 각 데이터 패드에 연결되어 있는 신호선, 상기 신호선에 소정 단위로 연결되어 있는 복수의 검사선, 그리고 상기 각 검사선에 연결되어 있는 검사 패드를 포함하는 검사 패드부를 포함하고, 상기 검사 패드와 상기 데이터 패드에 동시에 그리고 별개로 검사 신호가 인가된다.According to an embodiment of the present invention, a liquid crystal display device includes: a data pad unit including a plurality of data lines transferring data signals, a data pad connected to the data lines, and each data pad; And a test pad portion including a signal line connected to the test line, a plurality of test lines connected to the signal line in a predetermined unit, and test pads connected to the respective test lines, simultaneously with the test pad and the data pad. Separately, a test signal is applied.
또한, 상기 검사 패드부는 상기 데이터 패드부와 교대로 위치하며, 상기 검사 패드부가 상기 데이터 패드부의 수효보다 하나 더 많을 수 있다.The test pad part may be alternately positioned with the data pad part, and the test pad part may be one more than the number of the data pad part.
한편, 상기 액정 표시 장치는, 게이트 신호를 전달하는 게이트선, 상기 게이트선에 각각 연결되어 있는 게이트 패드를 포함하는 게이트 패드부, 상기 각 게이트 패드에 연결되어 있는 신호선, 상기 신호선에 소정 단위로 연결되어 있는 복수의 검사선, 그리고 상기 각 검사선에 연결되어 있는 검사 패드를 포함하는 검사 패드부를 더 포함하고, 상기 검사 패드와 상기 게이트 패드에 동시에 그리고 별개로 검사 신호가 인가될 수 있다.The liquid crystal display includes a gate line for transmitting a gate signal, a gate pad unit including a gate pad connected to the gate line, a signal line connected to each of the gate pads, and a signal unit connected to the signal line in a predetermined unit. The apparatus may further include a test pad unit including a plurality of test lines, and test pads connected to the test lines, and a test signal may be applied to the test pad and the gate pad simultaneously and separately.
또한, 상기 검사 패드부는 상기 게이트 패드부와 교대로 위치하며, 상기 검 사 패드부가 상기 게이트 패드부의 수효보다 하나 더 많을 수 있다.In addition, the test pad part may be alternately positioned with the gate pad part, and the test pad part may be one more than the number of the gate pad part.
한편, 본 발명의 한 실시예에 따라, 데이터 신호를 전달하는 복수의 데이터선, 상기 데이터선에 각각 연결되어 있는 데이터 패드를 포함하는 데이터 패드부, 상기 각 데이터 패드에 연결되어 있는 신호선, 상기 신호선에 소정 단위로 연결되어 있는 복수의 검사선, 그리고 상기 각 검사선에 연결되어 있는 검사 패드를 포함하는 검사 패드부를 포함하는 액정 표시 장치의 검사 방법은, 상기 검사 패드와 상기 데이터 패드에 동시에 그리고 별개로 검사 신호를 인가하는 단계를 포함할 수 있다.On the other hand, according to an embodiment of the present invention, a plurality of data lines for transmitting a data signal, a data pad including a data pad connected to each of the data line, a signal line connected to each of the data pad, the signal line An inspection method of a liquid crystal display device comprising: a test pad unit including a plurality of test lines connected to the test units in a predetermined unit, and a test pad connected to each test line, simultaneously and separately from the test pad and the data pad. The method may include applying a test signal.
이때, 상기 검사 패드부는 상기 데이터 패드부와 교대로 위치하며, 상기 검사 패드부가 상기 데이터 패드부의 수효보다 하나 더 많을 수 있다.In this case, the test pad part may be alternately positioned with the data pad part, and the test pad part may be one more than the number of the data pad part.
첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. DETAILED DESCRIPTION Embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.In the drawings, the thickness of layers, films, panels, regions, etc., are exaggerated for clarity. Like parts are designated by like reference numerals throughout the specification. When a portion of a layer, film, region, plate, etc. is said to be "on top" of another part, this includes not only when the other part is "right on" but also another part in the middle. On the contrary, when a part is "just above" another part, there is no other part in the middle.
먼저, 도 1 및 도 2를 참고하여 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치 에 대하여 상세하게 설명한다.First, a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 and 2.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 블록도이고, 도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치에서 한 화소의 등가 회로도이다.1 is a block diagram of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an equivalent circuit diagram of one pixel in the liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
아래에서는 DL 및 GL은 각각 데이터선 및 게이트선으로도 사용된다.In the following, DL and GL are also used as data lines and gate lines, respectively.
도 1을 참고하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치는 액정 표시판 조립체(liquid crystal panel assembly)(300), 게이트 구동부(gate driver)(400), 데이터 구동부(data driver)(500), 계조 전압 생성부(gray voltage generator)(800) 및 신호 제어부(signal controller)(600)를 포함한다.Referring to FIG. 1, a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention includes a liquid
도 1을 참고하면, 액정 표시판 조립체(300)는 등가 회로로 볼 때 복수의 신호선(signal line)(G1-Gn, D1-Dm)과 이에 연결되어 있으며 대략 행렬의 형태로 배열된 복수의 화소(pixel)(PX)를 포함한다. 반면, 도 2에 도시한 구조로 볼 때 액정 표시판 조립체(300)는 서로 마주하는 하부 및 상부 표시판(100, 200)과 그 사이에 들어 있는 액정층(3)을 포함한다.Referring to FIG. 1, the liquid
신호선(G1-Gn, D1-Dm)은 게이트 신호("주사 신호"라고도 함)를 전달하는 복수의 게이트선(G1-Gn)과 데이터 전압을 전달하는 복수의 데이터선(D1-Dm)을 포함한다. 게이트선(G1-Gn)은 대략 행 방향으로 뻗으며 서로가 거의 평행하고, 데이터선(D1-Dm)은 대략 열 방향으로 뻗으며 서로가 거의 평행하다.The signal lines G 1 -G n and D 1 -D m are a plurality of gate lines G 1 -G n for transmitting a gate signal (also called a “scan signal”) and a plurality of data lines for transmitting a data voltage ( D 1 -D m ). The gate lines G 1 -G n extend substantially in the row direction and are substantially parallel to each other, and the data lines D 1 -D m extend substantially in the column direction and are substantially parallel to each other.
각 화소(PX), 예를 들면 i번째(i=1, 2, , n) 게이트선(Gi)과 j번째(j=1, 2, , m) 데이터선(Dj)에 연결된 화소(PX)는 신호선(Gi, Dj)에 연결된 스위칭 소자(Q)와 이에 연결된 액정 축전기(liquid crystal capacitor)(Clc) 및 유지 축전기(storage capacitor)(Cst)를 포함한다. 유지 축전기(Cst)는 필요에 따라 생략할 수 있다.Pixels connected to each pixel PX, for example, the i-th (i = 1, 2,, n) gate line G i and the j-th (j = 1, 2,, m) data line D j ( PX includes a switching element Q connected to the signal lines G i and D j , a liquid crystal capacitor Clc and a storage capacitor Cst connected thereto. Holding capacitor Cst can be omitted as needed.
스위칭 소자(Q)는 하부 표시판(100)에 구비되어 있는 박막 트랜지스터 등의 삼단자 소자로서, 그 제어 단자는 게이트선(Gi)과 연결되어 있고, 입력 단자는 데이터선(Dj)과 연결되어 있으며, 출력 단자는 액정 축전기(Clc) 및 유지 축전기(Cst)와 연결되어 있다.The switching element Q is a three-terminal element of a thin film transistor or the like provided in the
액정 축전기(Clc)는 하부 표시판(100)의 화소 전극(191)과 상부 표시판(200)의 공통 전극(270)을 두 단자로 하며 두 전극(191, 270) 사이의 액정층(3)은 유전체로서 기능한다. 화소 전극(191)은 스위칭 소자(Q)와 연결되며, 공통 전극(270)은 상부 표시판(200)의 전면에 형성되어 있고 공통 전압(Vcom)을 인가받는다. 도 2에서와는 달리 공통 전극(270)이 하부 표시판(100)에 구비되는 경우도 있으며 이때에는 두 전극(191, 270) 중 적어도 하나가 선형 또는 막대형으로 만들어질 수 있다.The liquid crystal capacitor Clc has two terminals, the
액정 축전기(Clc)의 보조적인 역할을 하는 유지 축전기(Cst)는 하부 표시판(100)에 구비된 별개의 신호선(도시하지 않음)과 화소 전극(191)이 절연체를 사이에 두고 중첩되어 이루어지며 이 별개의 신호선에는 공통 전압(Vcom) 따위의 정해진 전압이 인가된다. 그러나 유지 축전기(Cst)는 화소 전극(191)이 절연체를 매 개로 바로 위의 전단 게이트선(Gi-1)과 중첩되어 이루어질 수 있다.The storage capacitor Cst, which serves as an auxiliary part of the liquid crystal capacitor Clc, is formed by overlapping a separate signal line (not shown) and the
한편, 색 표시를 구현하기 위해서는 각 화소(PX)가 기본색(primary color) 중 하나를 고유하게 표시하거나(공간 분할) 각 화소(PX)가 시간에 따라 번갈아 기본색을 표시하게(시간 분할) 하여 이들 기본색의 공간적, 시간적 합으로 원하는 색상이 인식되도록 한다. 기본색의 예로는 적색, 녹색, 청색 등 삼원색을 들 수 있다. 도 2는 공간 분할의 한 예로서 각 화소(PX)가 화소 전극(191)에 대응하는 상부 표시판(200)의 영역에 기본색 중 하나를 나타내는 색 필터(230)를 구비함을 보여주고 있다. 도 2와는 달리 색 필터(230)는 하부 표시판(100)의 화소 전극(191) 위 또는 아래에 둘 수도 있다.On the other hand, in order to implement color display, each pixel PX uniquely displays one of the primary colors (spatial division) or each pixel PX alternately displays the primary colors over time (time division). The desired color is recognized by the spatial and temporal sum of these primary colors. Examples of the primary colors include three primary colors such as red, green, and blue. FIG. 2 illustrates that each pixel PX includes a
액정 표시판 조립체(300)에는 적어도 하나의 편광자(도시하지 않음)가 구비되어 있다.The liquid
다시 도 1을 참고하면, 계조 전압 생성부(800)는 화소(PX)의 투과율과 관련된 전체 계조 전압 또는 한정된 수효의 계조 전압(앞으로 "기준 계조 전압"이라 한다)을 생성한다. (기준) 계조 전압은 공통 전압(Vcom)에 대하여 양의 값을 가지는 것과 음의 값을 가지는 것을 포함할 수 있다.Referring back to FIG. 1, the
게이트 구동부(400)는 액정 표시판 조립체(300)의 게이트선(G1-Gn)과 연결되어 게이트 온 전압(Von)과 게이트 오프 전압(Voff)의 조합으로 이루어진 게이트 신호를 게이트선(G1-Gn)에 인가한다.A
데이터 구동부(500)는 액정 표시판 조립체(300)의 데이터선(D1-Dm)과 연결되 어 있으며, 계조 전압 생성부(800)로부터의 계조 전압을 선택하고 이를 데이터 전압으로서 데이터선(D1-Dm)에 인가한다. 그러나 계조 전압 생성부(800)가 계조 전압을 모두 제공하는 것이 아니라 한정된 수효의 기준 계조 전압만을 제공하는 경우에, 데이터 구동부(500)는 기준 계조 전압을 분압하여 원하는 데이터 전압을 생성한다.The
신호 제어부(600)는 게이트 구동부(400) 및 데이터 구동부(500) 등을 제어한다.The
이러한 구동 장치(400, 500, 600, 800) 각각은 적어도 하나의 집적 회로 칩의 형태로 액정 표시판 조립체(300) 위에 직접 장착되거나, 가요성 인쇄 회로막(flexible printed circuit film)(도시하지 않음) 위에 장착되어 TCP(tape carrier package)의 형태로 액정 표시판 조립체(300)에 부착되거나, 별도의 인쇄 회로 기판(printed circuit board)(도시하지 않음) 위에 장착될 수도 있다. 이와는 달리, 이들 구동 장치(400, 500, 600, 800)가 신호선(G1-Gn, D1-Dm) 및 박막 트랜지스터 스위칭 소자(Q) 따위와 함께 액정 표시판 조립체(300)에 집적될 수도 있다. 또한, 구동 장치(400, 500, 600, 800)는 단일 칩으로 집적될 수 있으며, 이 경우 이들 중 적어도 하나 또는 이들을 이루는 적어도 하나의 회로 소자가 단일 칩 바깥에 있을 수 있다.Each of the driving
그러면 이러한 액정 표시 장치의 동작에 대하여 상세하게 설명한다.Next, the operation of the liquid crystal display will be described in detail.
신호 제어부(600)는 외부의 그래픽 제어기(도시하지 않음)로부터 입력 영상 신호(R, G, B) 및 이의 표시를 제어하는 입력 제어 신호를 수신한다. 입력 영상 신호(R, G, B)는 각 화소(PX)의 휘도(luminance) 정보를 담고 있으며 휘도는 정해진 수효, 예를 들면 1024(=210), 256(=28) 또는 64(=26) 개의 계조(gray)를 가지고 있다. 입력 제어 신호의 예로는 수직 동기 신호(Vsync)와 수평 동기 신호(Hsync), 메인 클록 신호(MCLK), 데이터 인에이블 신호(DE) 등이 있다.The
신호 제어부(600)는 입력 영상 신호(R, G, B)와 입력 제어 신호를 기초로 입력 영상 신호(R, G, B)를 액정 표시판 조립체(300)의 동작 조건에 맞게 적절히 처리하고 게이트 제어 신호(CONT1) 및 데이터 제어 신호(CONT2) 등을 생성한 후, 게이트 제어 신호(CONT1)를 게이트 구동부(400)로 내보내고 데이터 제어 신호(CONT2)와 처리한 영상 신호(DAT)를 데이터 구동부(500)로 내보낸다.The
게이트 제어 신호(CONT1)는 주사 시작을 지시하는 주사 시작 신호(STV)와 게이트 온 전압(Von)의 출력 주기를 제어하는 적어도 하나의 클록 신호를 포함한다. 게이트 제어 신호(CONT1)는 또한 게이트 온 전압(Von)의 지속 시간을 한정하는 출력 인에이블 신호(OE)를 더 포함할 수 있다.The gate control signal CONT1 includes a scan start signal STV indicating a scan start and at least one clock signal controlling an output period of the gate-on voltage Von. The gate control signal CONT1 may also further include an output enable signal OE that defines the duration of the gate-on voltage Von.
데이터 제어 신호(CONT2)는 한 행[묶음]의 화소(PX)에 대한 디지털 영상 신호(DAT)의 전송 시작을 알리는 수평 동기 시작 신호(STH)와 데이터선(D1-Dm)에 아날로그 데이터 전압을 인가하라는 로드 신호(LOAD) 및 데이터 클록 신호(HCLK)를 포함한다. 데이터 제어 신호(CONT2)는 또한 공통 전압(Vcom)에 대한 데이터 전압의 극성(이하 "공통 전압에 대한 데이터 전압의 극성"을 줄여 "데이터 전압의 극성"이 라 함)을 반전시키는 반전 신호(RVS)를 더 포함할 수 있다.The data control signal CONT2 is analog data to the horizontal synchronization start signal STH and the data line D 1 -D m indicating the start of the transmission of the digital image signal DAT to the pixels PX of one row (bundling). The load signal LOAD and the data clock signal HCLK to apply a voltage are included. The data control signal CONT2 is also an inversion signal RVS which inverts the polarity of the data voltage with respect to the common voltage Vcom (hereinafter referred to as "polarity of the data voltage" by reducing the "polarity of the data voltage with respect to the common voltage"). ) May be further included.
신호 제어부(600)로부터의 데이터 제어 신호(CONT2)에 따라, 데이터 구동부(500)는 한 행[묶음]의 화소(PX)에 대한 디지털 영상 신호(DAT)를 수신하고, 각 디지털 영상 신호(DAT)에 대응하는 계조 전압을 선택함으로써 디지털 영상 신호(DAT)를 아날로그 데이터 전압으로 변환한 다음, 이를 해당 데이터선(D1-Dm)에 인가한다.According to the data control signal CONT2 from the
게이트 구동부(400)는 신호 제어부(600)로부터의 게이트 제어 신호(CONT1)에 따라 게이트 온 전압(Von)을 게이트선(G1-Gn)에 인가하여 이 게이트선(G1-Gn)에 연결된 스위칭 소자(Q)를 턴온시킨다. 그러면, 데이터선(D1-Dm)에 인가된 데이터 전압이 턴온된 스위칭 소자(Q)를 통하여 해당 화소(PX)에 인가된다.The
화소(PX)에 인가된 데이터 전압과 공통 전압(Vcom)의 차이는 액정 축전기(Clc)의 충전 전압, 즉 화소 전압으로서 나타난다. 액정 분자들은 화소 전압의 크기에 따라 그 배열을 달리하며 이에 따라 액정층(3)을 통과하는 빛의 편광이 변화한다. 이러한 편광의 변화는 편광자에 의하여 빛의 투과율 변화로 나타나며, 이를 통해 화소(PX)는 영상 신호(DAT)의 계조가 나타내는 휘도를 표시한다.The difference between the data voltage applied to the pixel PX and the common voltage Vcom is shown as the charging voltage of the liquid crystal capacitor Clc, that is, the pixel voltage. The arrangement of the liquid crystal molecules varies depending on the magnitude of the pixel voltage, thereby changing the polarization of light passing through the liquid crystal layer 3. This change in polarization is represented by a change in the transmittance of light by the polarizer, through which the pixel PX displays the luminance represented by the gray level of the image signal DAT.
1 수평 주기["1H"라고도 쓰며, 수평 동기 신호(Hsync) 및 데이터 인에이블 신호(DE)의 한 주기와 동일함]를 단위로 하여 이러한 과정을 되풀이함으로써, 모든 게이트선(G1-Gn)에 대하여 차례로 게이트 온 전압(Von)을 인가하고 모든 화소(PX)에 데이터 전압을 인가하여 한 프레임(frame)의 영상을 표시한다.This process is repeated in units of one horizontal period (also referred to as "1H" and equal to one period of the horizontal sync signal Hsync and the data enable signal DE), thereby all the gate lines G 1 -G n. ), The gate-on voltage Von is sequentially applied, and the data voltage is applied to all the pixels PX to display an image of one frame.
한 프레임이 끝나면 다음 프레임이 시작되고 각 화소(PX)에 인가되는 데이터 전압의 극성이 이전 프레임에서의 극성과 반대가 되도록 데이터 구동부(500)에 인가되는 반전 신호(RVS)의 상태가 제어된다("프레임 반전"). 이때, 한 프레임 내에서도 반전 신호(RVS)의 특성에 따라 한 데이터선을 통하여 흐르는 데이터 전압의 극성이 주기적으로 바뀌거나(보기: 행 반전, 점 반전), 한 화소행에 인가되는 데이터 전압의 극성도 서로 다를 수 있다(보기: 열 반전, 점 반전).When one frame ends, the state of the inversion signal RVS applied to the
도 3 및 도 4를 참고하여 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치 및 이의 검사 방법에 대하여 상세히 설명한다.A liquid crystal display and an inspection method thereof according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 3 and 4.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 개략도이고, 도 4는 도 3에 도시한 액정 표시 장치의 일부(A)를 확대하여 나타낸 도면이다.3 is a schematic view of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 4 is an enlarged view of a portion A of the liquid crystal display shown in FIG. 3.
도 3을 보면, 액정 표시판 조립체(300)의 상측 및 좌측 가장자리에는 데이터 구동부(500)와 게이트 구동부(400)를 각각 이루는 데이터 구동 IC와 게이트 구동 IC가 위치하는 곳에 복수의 데이터 패드군(DPG)과 게이트 패드군(GPG)이 배치되어 있다. 각 패드군(DPG, GPG)은 각각 복수의 패드(DP, GP)를 포함한다.Referring to FIG. 3, a plurality of data pad groups DPG are disposed at upper and left edges of the liquid
데이터 패드군(DPG)의 좌우에는 검사 신호를 인가하기 위한 복수의 검사 패드(TP)가 모여있는 검사 패드군(TPG)이 배치되어 있으며, 게이트 패드군(GPG)의 좌우에도 마찬가지로 배치되어 있다.Test pad groups TPG, in which a plurality of test pads TP for applying a test signal, are arranged on the left and right sides of the data pad group DPG, and similarly arranged on the left and right sides of the gate pad group GPG.
그러면, 설명의 편의를 위하여 위쪽에 위치한 데이터 패드(DP)를 중심으로 설명하며, 이에 대한 설명은 그대로 게이트 패드(GP)에도 적용된다.For convenience of explanation, the description will be made based on the data pad DP positioned above, and the description thereof also applies to the gate pad GP as it is.
각 검사 패드(TP)는 좌우 가장 자리에 위치한 것을 제외하고는 검사선(TL)과 신호선(SL)을 통하여 그 좌우에 위치한 데이터 패드(DP)에 연결된다. 따라서, 검사 신호는 좌우의 데이터 패드(DP)에 인가되어 데이터 패드(DP)에 연결되어 있는 데이터선(DL)으로 인가된다.Each test pad TP is connected to the data pads DP on the left and right sides through the test line TL and the signal line SL, except that the test pads TP are positioned at the left and right edges. Therefore, the test signal is applied to the left and right data pads DP and is applied to the data line DL connected to the data pad DP.
또한, 어느 검사 패드(TP)는 소정 단위로 데이터 패드(DP)에 연결되어 있는데, 도면에는 6개 단위로 연결되어 있는 것을 한 예로 나타내었다.In addition, one test pad TP is connected to the data pad DP in a predetermined unit, and the drawing shows that the test pad TP is connected in six units.
이때, 검사 패드(TP)와 데이터 패드(DP)에 동시에 검사 신호를 인가한다.At this time, a test signal is simultaneously applied to the test pad TP and the data pad DP.
이와 같이, 동시에 검사 신호를 인가하면 검사 패드(TP)에만 검사 신호를 인가하는 경우에 비하여 검사선(TL)의 긁힘 등으로 인하여 검사 신호를 제대로 전달할 수 없을 때에도 데이터선(DL)으로 신호를 전달할 수 있다. As such, when the test signal is simultaneously applied, the signal is transmitted to the data line DL even when the test signal cannot be properly transmitted due to the scratching of the test line TL, compared to the case where the test signal is applied only to the test pad TP. Can be.
또한, 데이터 패드(DP)에만 검사 신호를 인가하는 경우에는 뾰족한 바늘과 같은 프로브(도시하지 않음)를 데이터 패드(DP)에 접촉시켜 검사 신호를 인가하는데, 접촉이 제대로 이루어지지 못하는 경우가 많아 데이터선(DL)의 불량 여부를 판정하기 쉽지 않다. 하지만, 검사 패드(TP)에도 신호를 인가하므로 접촉이 제대로 이루어지지 않을 경우에도 검사 신호가 인가되어 불량 여부를 정확히 판정할 수 있다.In addition, when the test signal is applied only to the data pad DP, a probe (not shown), such as a pointed needle, is contacted with the data pad DP to apply a test signal. It is not easy to determine whether the line DL is defective. However, since a signal is also applied to the test pad TP, a test signal is applied even when a contact is not properly made, thereby accurately determining whether or not a defect is present.
이에 따라, VI 테스트에서 데이터선(DL)의 불량 여부가 정확히 판단된다면 그로스 테스트를 거치지 않고 모듈 테스트를 행할 수 있어 수율을 향상시킬 수 있다.Accordingly, if the data line DL is correctly determined in the VI test, the module test can be performed without going through the gross test, thereby improving the yield.
또한, 화면의 균일성이 확보되어 더욱 정확한 검사를 행할 수 있다. 즉, 검사 패드(TP)에서 데이터선(DL)까지 거리가 있어 저항 등으로 인하여 신호가 미약해 지는데, 특히 패드군(DPG)의 가장 자리와 중간에서는 거리 차이로 인하여 밝기의 차이가 나타나므로 불량을 판정하는 데 어려움이 있을 수 있다. 하지만, 데이터 패드(DP)에도 검사 신호를 인가함으로써 거리 차이로 인한 화면의 불균일을 없애어 더욱 정확한 판정을 행할 수 있다.In addition, the uniformity of the screen can be secured, and more accurate inspection can be performed. That is, there is a distance from the test pad TP to the data line DL, so the signal becomes weak due to resistance. In particular, a difference in brightness appears at the edge and the middle of the pad group DPG due to the distance difference. There may be difficulty in making the decision. However, by applying the test signal to the data pad DP, it is possible to make a more accurate determination by eliminating the unevenness of the screen due to the distance difference.
이와 같이, 검사 패드(TP)와 데이터 패드(DP)에 동시에 검사 신호를 인가함으로써 신호선의 불량 여부를 정확하게 그리고 신속하게 판정함으로써 그로스 테스트를 거치지 않게 되어 수율을 향상시킬 수 있다.In this way, by simultaneously applying the test signal to the test pad TP and the data pad DP, it is possible to accurately and quickly determine whether the signal line is defective, thereby avoiding the gross test, thereby improving the yield.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concepts of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of rights.
Claims (6)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060118169A KR20080048161A (en) | 2006-11-28 | 2006-11-28 | Liquid crystal display and test method for the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060118169A KR20080048161A (en) | 2006-11-28 | 2006-11-28 | Liquid crystal display and test method for the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080048161A true KR20080048161A (en) | 2008-06-02 |
Family
ID=39804424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060118169A KR20080048161A (en) | 2006-11-28 | 2006-11-28 | Liquid crystal display and test method for the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20080048161A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9214401B2 (en) | 2014-01-13 | 2015-12-15 | Samsung Display Co., Ltd. | Display substrate, method of manufacturing the same and display apparatus having the same |
CN109856829A (en) * | 2019-04-18 | 2019-06-07 | 广西天山电子股份有限公司 | LCM, TP one test machine |
-
2006
- 2006-11-28 KR KR1020060118169A patent/KR20080048161A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9214401B2 (en) | 2014-01-13 | 2015-12-15 | Samsung Display Co., Ltd. | Display substrate, method of manufacturing the same and display apparatus having the same |
CN109856829A (en) * | 2019-04-18 | 2019-06-07 | 广西天山电子股份有限公司 | LCM, TP one test machine |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101090255B1 (en) | Panel and test method for display device | |
WO2017041480A1 (en) | Display substrate, testing method therefor and display apparatus | |
KR101393635B1 (en) | Driving apparatus for display device and display device including the same | |
KR20070040505A (en) | Display device and testing method for display device | |
KR101628012B1 (en) | Liquid crystal display device and method for testing pixels of the same | |
KR20080010551A (en) | Driving apparatus for display device and display device including the same | |
KR101304415B1 (en) | Display device | |
KR101337258B1 (en) | Liquid crystal display | |
KR20080035086A (en) | Liquid crystal display | |
US7834650B2 (en) | Method and apparatus for testing liquid crystal display using probe unit reduced the number of connecter pads | |
KR20070093540A (en) | Display device | |
KR102296768B1 (en) | Display panel and method for testing of display panel | |
KR20090129251A (en) | Liquid crystal display and method of displaying image in the same | |
KR20080048161A (en) | Liquid crystal display and test method for the same | |
KR20080057442A (en) | Liquid crystal display | |
KR20060042304A (en) | Display panel for display device | |
KR20070001373A (en) | Driving apparatus for liquid crystal display | |
KR20070080285A (en) | Liquid crystal display | |
KR20080035341A (en) | Confirmation panel for liquid crystal display | |
KR20070027378A (en) | Driving apparatus of display device | |
KR20060022498A (en) | Display device | |
KR20060082917A (en) | Inspection device | |
KR20080034256A (en) | Test method for liquid crystal display | |
KR20070063944A (en) | Display device | |
KR20080018584A (en) | Test apparatus for liquid crystal display |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |