KR20060082917A - Inspection device - Google Patents
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Abstract
본 발명은 검사 장치에 관한 것으로서, 특히 표시 장치용 기판의 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus, and more particularly, to an inspection apparatus for a substrate for a display device.
표시 장치용 기판을 검사하는 장치는, 카메라, 상기 카메라에 연결되어 있는 데이터 처리부, 그리고 상기 데이터 처리부에 연결되어 있는 모니터를 포함하고, An apparatus for inspecting a substrate for a display device includes a camera, a data processor connected to the camera, and a monitor connected to the data processor,
상기 데이터 처리부는 상기 기판에 결함 부위가 있는 경우 상기 결함 부위를 좌표화하여 상기 모니터에 표시하고, 상기 결함 부위의 주변 영역을 확대하여 상기 모니터에 나타낸다.The data processing unit coordinates the defective portion and displays it on the monitor when the defective portion is present on the substrate, and enlarges the peripheral area of the defective portion on the monitor.
이러한 방식으로, 짧은 공정 시간에 결함 부위 또는 불량 위치를 정확히 파악하여 육안으로 검사하는 시간을 줄이는 것은 물론, 양품/불량품을 더욱 정확하게 판단할 수 있다. 나아가, 결함 부위에 대한 데이터를 축적하여 둠으로써 불량 원인 및 패턴을 데이터 베이스화할 수 있다.In this way, it is possible to reduce the time for visual inspection by accurately identifying a defective part or a defective location in a short process time, and to determine a good or bad product more accurately. Further, by accumulating data on defect sites, it is possible to make a database of defect causes and patterns.
표시장치, 기판, 검사, CCD, 카메라, 팝업창, 데이터Display, Substrate, Inspection, CCD, Camera, Pop-up Window, Data
Description
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 블록도이다.1 is a block diagram of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 화소에 대한 등가 회로도이다.2 is an equivalent circuit diagram of one pixel of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 검사 장치의 블록도이다.3 is a block diagram of an inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 4a 및 도 4b는 도 3에 도시한 검사자 모니터에 나타나는 화면의 한 예이다.4A and 4B are examples of screens displayed on the inspector monitor shown in FIG.
본 발명은 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus.
최근, 무겁고 큰 음극선관(cathode ray tube, CRT)을 대신하여 유기 전계 발광 표시 장치(organic electroluminescence display, OLED), 플라스마 표시 장치(plasma display panel, PDP), 액정 표시 장치(liquid crystal display, LCD)와 같은 평판 표시 장치가 활발히 개발 중이다.Recently, organic electroluminescence display (OLED), plasma display panel (PDP), liquid crystal display (LCD), instead of heavy and large cathode ray tube (CRT) Flat panel display devices such as are being actively developed.
PDP는 기체 방전에 의하여 발생하는 플라스마를 이용하여 문자나 영상을 표시하는 장치이며, 유기 EL 표시 장치는 특정 유기물 또는 고분자들의 전계 발광을 이용하여 문자 또는 영상을 표시한다. 액정 표시 장치는 두 표시판의 사이에 들어 있는 액정층에 전기장을 인가하고, 이 전기장의 세기를 조절하여 액정층을 통과하는 빛의 투과율을 조절함으로써 원하는 화상을 얻는다.PDP is a device for displaying characters or images using plasma generated by gas discharge, and the organic EL display device displays characters or images by using electroluminescence of specific organic materials or polymers. The liquid crystal display device applies an electric field to a liquid crystal layer interposed between two display panels, and adjusts the intensity of the electric field to adjust a transmittance of light passing through the liquid crystal layer to obtain a desired image.
이러한 평판 표시 장치 중에서 예를 들어 액정 표시 장치와 유기 EL 표시 장치는 스위칭 소자를 포함하는 화소와 표시 신호선이 구비된 표시판, 그리고 표시 신호선 중 게이트선에 게이트 신호를 내보내어 화소의 스위칭 소자를 턴온/오프시키는 게이트 구동부, 표시 신호선 중 데이터선에 데이터 전압을 인가하는 데이터 구동부, 그리고 이들을 제어하는 신호 제어부를 포함한다.Among such flat panel display devices, for example, a liquid crystal display and an organic EL display device may turn on / off a switching element of a pixel by emitting a gate signal to a pixel including a switching element, a display panel provided with a display signal line, and a gate line among the display signal lines. A gate driver to be turned off, a data driver to apply a data voltage to the data lines of the display signal lines, and a signal controller to control them.
한편, 이러한 평판 표시 장치는 모 기판(mother glass)(이하에서는 '기판'이라 한다)에 표시 신호선 및 스위칭 소자를 형성하고 개별적인 셀들로 분리되는 과정을 거쳐 하나의 제품으로 완성된다. On the other hand, such a flat panel display device is completed by forming a display signal line and a switching element on a mother glass (hereinafter referred to as a substrate) and separating the cells into individual cells.
이때, 표시 신호선을 형성하기 전에 먼저 기판에 입자나 먼지 등 이물이 끼어 있는지 검사하는 과정을 거친다.At this time, before forming the display signal line, a process of inspecting whether foreign matter such as particles or dust is stuck on the substrate is performed.
이러한 검사는 컨베이어와 같은 이송부를 이용하여 기판을 이송하고, 이송부 위에 위치한 CCD 카메라로 기판의 표면을 촬영한 후 촬영한 데이터를 검사자에게 보냄으로써 이루어진다. 이때, CCD 카메라는 이물의 위치 등 결함이 있는 부분에 관한 데이터를 컴퓨터와 같은 데이터 처리부로 보내고, 데이터 처리부는 이에 관한 데이터를 지도와 같은 좌표로 처리하여 검사자의 모니터에 내보낸다. 그러면 검사자는 불량 위치를 대강 파악하고 실제 육안으로 보면서 양품/불량품 여부를 결정한다.This inspection is performed by transferring the substrate using a transfer unit such as a conveyor, photographing the surface of the substrate with a CCD camera positioned on the transfer unit, and sending the captured data to the inspector. At this time, the CCD camera sends the data regarding the defective part such as the position of the foreign object to a data processing unit such as a computer, and the data processing unit processes the data about the coordinates like a map and sends it to the monitor of the inspector. The inspector then roughly identifies the defective location and looks at the naked eye to determine whether it is good or bad.
그런데, 이러한 검사 방식은 짧은 공정 시간에 여러 개의 기판을 검사하여야 하는 경우에는 한계가 있다. 예를 들어, 액정 표시 장치의 경우에는 현재 7세대 라인이 가동 중에 있으며, 이 7세대 라인에 사용되는 기판의 크기는 가로 1870mm, 세로 2200mm로서 점차 대형화되고 있으며 8세대 기판의 경우에는 가로 2100mm, 세로 2300mm로서 짧은 공정 시간에 대형 기판을 육안으로 검사하는 데에는 더욱 한계가 있다.However, this inspection method has a limitation when it is necessary to inspect several substrates in a short process time. For example, in the case of the liquid crystal display device, the 7th generation line is currently in operation, and the size of the substrate used for the 7th generation line is 1870 mm wide and 2200 mm long. There is a further limit to visually inspecting large substrates in a short process time of 2300 mm.
따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 이러한 종래 기술의 문제점을 해결할 수 있는 검사 장치를 제공하는 것이다.Accordingly, the technical problem to be achieved by the present invention is to provide a test apparatus that can solve the problems of the prior art.
이러한 기술적 과제를 이루기 위한 본 발명의 한 실시예에 따라 표시 장치용 기판을 검사하는 장치로서, 카메라, 상기 카메라에 연결되어 있는 데이터 처리부, 그리고 상기 데이터 처리부에 연결되어 있는 모니터를 포함하고, 상기 데이터 처리부는 상기 기판에 결함 부위가 있는 경우 상기 결함 부위를 좌표화하여 상기 모니터에 표시하고, 상기 결함 부위의 주변 영역을 확대하여 상기 모니터에 나타낸다.An apparatus for inspecting a substrate for a display device according to an embodiment of the present invention for achieving the technical problem, comprising a camera, a data processing unit connected to the camera, and a monitor connected to the data processing unit, the data The processing unit coordinates the defective portion and displays it on the monitor when the defective portion is present on the substrate, and enlarges the peripheral area of the defective portion on the monitor.
이때, 상기 데이터 처리부는 상기 결함 부위의 주변 영역을 팝업 창 형태로 나타내낼 수 있는데, 상기 팝업 창은 자동 또는 수동으로 생성될 수 있다.In this case, the data processor may display a peripheral area of the defect portion in the form of a pop-up window, and the pop-up window may be generated automatically or manually.
또한, 상기 카메라는 CCD(charge coupled device) 카메라일 수 있으며, 상기 데이터 처리부는 상기 결함 부위의 주변 영역에 관한 데이터를 저장하는 것이 바람직하다. The camera may be a charge coupled device (CCD) camera, and the data processor may store data about a peripheral area of the defective portion.
첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. DETAILED DESCRIPTION Embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.In the drawings, the thickness of layers, films, panels, regions, etc., are exaggerated for clarity. Like parts are designated by like reference numerals throughout the specification. When a portion of a layer, film, region, plate, etc. is said to be "on top" of another part, this includes not only when the other part is "right on" but also another part in the middle. On the contrary, when a part is "just above" another part, there is no other part in the middle.
이제 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치에 대하여 첨부한 도면을 참고로 하여 상세하게 설명한다.A display device according to an embodiment of the present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 블록도이고, 도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 화소에 대한 등가 회로도이다.1 is a block diagram of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an equivalent circuit diagram of one pixel of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치는 표시판부(liquid crystal panel assembly)(300) 및 이에 연결된 게이트 구동부(400)와 데이터 구동부(500), 데이터 구동부(500)에 연결된 계조 전압 생성부(800) 그리고 이들을 제어하는 신호 제어부(600)를 포함한다.As shown in FIG. 1, a display device according to an exemplary embodiment of the present invention includes a liquid
표시판부(300)는 등가 회로로 볼 때 복수의 표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm
)과 이에 연결되어 있으며 대략 행렬의 형태로 배열된 복수의 화소를 포함한다.
The
표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm)은 게이트 신호("주사 신호"라고도 함)를 전달하는 복수의 게이트선(G1-Gn)과 데이터 신호를 전달하는 데이터 신호선 또는 데이터선(D1-Dm)을 포함한다. 게이트선(G1-Gn)은 대략 행 방향으로 뻗어 있으며 서로가 거의 평행하고 데이터선(D1-Dm)은 대략 열 방향으로 뻗어 있으며 서로가 거의 평행하다. The display signal lines G 1 -G n and D 1 -D m are a plurality of gate lines G 1 -G n for transmitting a gate signal (also called a “scan signal”) and a data signal line or data for transmitting a data signal. Line D 1 -D m . The gate lines G 1 -G n extend substantially in the row direction and are substantially parallel to each other, and the data lines D 1 -D m extend substantially in the column direction and are substantially parallel to each other.
각 화소는 표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm)에 연결된 스위칭 소자(Q)와 이에 연결된 화소 회로(pixel circuit)(PX)를 포함한다.Each pixel includes a switching element Q connected to the display signal lines G 1 -G n , D 1 -D m , and a pixel circuit PX connected thereto.
스위칭 소자(Q)는 삼단자 소자로서 그 제어 단자 및 입력 단자는 각각 게이트선(G1-Gn) 및 데이터선(D1-Dm)에 연결되어 있으며, 출력 단자는 화소 회로(PX)에 연결되어 있다. 또한, 스위칭 소자(Q)는 박막 트랜지스터인 것이 바람직하며, 특히 비정질 규소를 포함하는 것이 좋다.The switching element Q is a three-terminal element whose control terminal and input terminal are connected to the gate line G 1 -G n and the data line D 1 -D m, respectively, and the output terminal is the pixel circuit PX. Is connected to. In addition, the switching element Q is preferably a thin film transistor, and particularly preferably comprises amorphous silicon.
평판 표시 장치의 대표격인 액정 표시 장치의 경우, 도 2에 도시한 바와 같이 하부 표시판(100)과 상부 표시판(200) 및 그 사이의 액정층(3)을 포함한다. 표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm)과 스위칭 소자(Q)는 하부 표시판(100)에 구비되어 있다. 액정 표시 장치의 화소 회로(PX)는 스위칭 소자(Q)에 연결된 액정 축전기(liquid crystal capacitor)(CLC) 및 유지 축전기(storage capacitor)(CST)를 포함한다. 유지 축전기(CST)는 필요에 따라 생략할 수 있다.In the case of a liquid crystal display, which is a representative example of a flat panel display, the
액정 축전기(CLC)는 하부 표시판(100)의 화소 전극(190)과 상부 표시판(200) 의 공통 전극(270)을 두 단자로 하며 두 전극(190, 270) 사이의 액정층(3)은 유전체로서 기능한다. 화소 전극(190)은 스위칭 소자(Q)에 연결되며 공통 전극(270)은 상부 표시판(200)의 전면에 형성되어 있고 공통 전압(Vcom)을 인가받는다. 도 2에서와는 달리 공통 전극(270)이 하부 표시판(100)에 구비되는 경우도 있으며 이때에는 두 전극(190, 270)이 모두 선형 또는 막대형으로 만들어진다.The liquid crystal capacitor C LC has two terminals, the
유지 축전기(CST)는 하부 표시판(100)에 구비된 별개의 신호선(도시하지 않음)과 화소 전극(190)이 중첩되어 이루어지며 이 별개의 신호선에는 공통 전압(Vcom) 따위의 정해진 전압이 인가된다. 그러나 유지 축전기(CST)는 화소 전극(190)이 절연체를 매개로 바로 위의 전단 게이트선과 중첩되어 이루어질 수 있다.The storage capacitor C ST is formed by overlapping a separate signal line (not shown) and the
한편, 색 표시를 구현하기 위해서는 각 화소가 색상을 표시할 수 있도록 하여야 하는데, 이는 화소 전극(190)에 대응하는 영역에 삼원색, 예를 들면 적색, 녹색, 또는 청색의 색 필터(230)를 구비함으로써 가능하다. 도 2에서 색 필터(230)는 상부 표시판(200)에 형성되어 있지만 이와는 달리 하부 표시판(100)의 화소 전극(190) 위 또는 아래에 형성할 수도 있다.On the other hand, in order to implement color display, each pixel should be able to display color, which is provided with a
액정 표시 장치의 표시판부(300)의 두 표시판(100, 200) 중 적어도 하나의 바깥 면에는 빛을 편광시키는 편광자(도시하지 않음)가 부착되어 있다.Polarizers (not shown) for polarizing light are attached to outer surfaces of at least one of the two
다시 도 1을 참조하면, 계조 전압 생성부(800)는 화소의 휘도와 관련된 한 벌 또는 두 벌의 복수 계조 전압을 생성한다. 두 벌이 있는 경우 두 벌 중 한 벌은 공통 전압(Vcom)에 대하여 양의 값을 가지고 다른 한 벌은 음의 값을 가진다.
Referring back to FIG. 1, the
게이트 구동부(400)는 표시판부(300)의 게이트선(G1-Gn)에 연결되어 외부로부터의 게이트 온 전압(Von)과 게이트 오프 전압(Voff)의 조합으로 이루어진 게이트 신호를 게이트선(G1-Gn)에 인가한다. 이러한 게이트 구동부(400)는 실질적으로 시프트 레지스터로서 일렬로 배열된 복수의 스테이지(stage)를 포함한다. The
데이터 구동부(500)는 표시판부(300)의 데이터선(D1-Dm)에 연결되어 계조 전압 생성부(800)로부터의 계조 전압을 선택하여 데이터 신호로서 화소에 인가한다.The
신호 제어부(600)는 게이트 구동부(400) 및 데이터 구동부(500) 등의 동작을 제어한다.The
그러면 이러한 표시 장치의 표시 동작에 대하여 좀더 상세하게 설명한다.The display operation of such a display device will now be described in more detail.
신호 제어부(600)는 외부의 그래픽 제어기(도시하지 않음)로부터 RGB 영상 신호(R, G, B) 및 이의 표시를 제어하는 입력 제어 신호, 예를 들면 수직 동기 신호(Vsync)와 수평 동기 신호(Hsync), 메인 클록(MCLK), 데이터 인에이블 신호(DE) 등을 제공받는다. 신호 제어부(600)는 입력 제어 신호 및 입력 영상 신호(R, G, B)를 기초로 게이트 제어 신호(CONT1) 및 데이터 제어 신호(CONT2) 등을 생성하고 영상 신호(R, G, B)를 표시판부(300)의 동작 조건에 맞게 적절히 처리한 후, 게이트 제어 신호(CONT1)를 게이트 구동부(400)로 내보내고 데이터 제어 신호(CONT2)와 처리한 영상 신호(DAT)는 데이터 구동부(500)로 내보낸다.The signal controller 600 inputs an input control signal for controlling the RGB image signals R, G, and B and their display from an external graphic controller (not shown), for example, a vertical sync signal V sync and a horizontal sync signal. (H sync ), a main clock (MCLK), a data enable signal (DE) is provided. The
게이트 제어 신호(CONT1)는 게이트 온 전압(Von)의 출력 시작을 지시하는 수 직 동기 시작 신호(STV), 게이트 온 전압(Von)의 출력 시기를 제어하는 게이트 클록 신호(CPV) 및 게이트 온 전압(Von)의 지속 시간을 한정하는 출력 인에이블 신호(OE) 등을 포함한다.The gate control signal (CONT1) is the gate-on start vertical sync indicating the start of output of a voltage (V on) signal (STV), a gate-on voltage gated clock signal that controls the output timing of the (V on) (CPV) and the gate An output enable signal OE or the like that defines the duration of the on voltage V on .
데이터 제어 신호(CONT2)는 영상 데이터(DAT)의 입력 시작을 알리는 수평 동기 시작 신호(STH)와 데이터선(D1-Dm)에 해당 데이터 전압을 인가하라는 로드 신호(LOAD) 및 데이터 클록 신호(HCLK)를 포함한다. 도 2에 도시한 액정 표시 장치 등의 경우, 공통 전압(Vcom)에 대한 데이터 전압의 극성(이하 "공통 전압에 대한 데이터 전압의 극성"을 줄여 "데이터 전압의 극성"이라 함)을 반전시키는 반전 신호(RVS)도 포함될 수 있다.The data control signal CONT2 is a load signal LOAD and a data clock signal for applying a corresponding data voltage to the horizontal synchronization start signal STH indicating the start of input of the image data DAT and the data lines D 1 -D m . (HCLK). In the case of the liquid crystal display or the like shown in FIG. 2, the polarity of the data voltage with respect to the common voltage V com (hereinafter referred to as "polarization of the data voltage" by reducing the "polarity of the data voltage with respect to the common voltage") is inverted. The inversion signal RVS may also be included.
데이터 구동부(500)는 신호 제어부(600)로부터의 데이터 제어 신호(CONT2)에 따라 한 행의 화소에 대응하는 영상 데이터(DAT)를 차례로 입력받고, 계조 전압 생성부(800)로부터의 계조 전압 중 각 영상 데이터(DAT)에 대응하는 계조 전압을 선택함으로써, 영상 데이터(DAT)를 해당 데이터 전압으로 변환하고 이를 데이터선(D1-Dm)에 인가한다.The
게이트 구동부(400)는 신호 제어부(600)로부터의 게이트 제어 신호(CONT1)에 따라 게이트 온 전압(Von)을 게이트선(G1-Gn)에 인가하여 이 게이트선(G
1-Gn)에 연결된 스위칭 소자(Q)를 턴온시킨다. 데이터선(D1-Dm)에 공급된 데이터 전압은 턴온된 스위칭 소자(Q)를 통해 해당 화소에 인가된다.
The
도 2에 도시한 액정 표시 장치의 경우, 화소에 인가된 데이터 전압과 공통 전압(Vcom)의 차이는 액정 축전기(CLC)의 충전 전압, 즉 화소 전압으로서 나타난다. 액정 분자들은 화소 전압의 크기에 따라 그 배열을 달리한다. 이에 따라 액정층(3)을 통과하는 빛의 편광이 변화한다. 이러한 편광의 변화는 표시판(100, 200)에 부착된 편광자(도시하지 않음)에 의하여 빛의 투과율 변화로 나타난다.In the case of the liquid crystal display shown in FIG. 2, the difference between the data voltage applied to the pixel and the common voltage V com is represented as the charging voltage of the liquid crystal capacitor C LC , that is, the pixel voltage. The liquid crystal molecules vary in arrangement depending on the magnitude of the pixel voltage. As a result, the polarization of light passing through the
1 수평 주기(또는 "1H")[수평 동기 신호(Hsync), 데이터 인에이블 신호(DE), 게이트 클록(CPV)의 한 주기]가 지나면 데이터 구동부(500)와 게이트 구동부(400)는 다음 행의 화소에 대하여 동일한 동작을 반복한다. 이러한 방식으로, 한 프레임(frame) 동안 모든 게이트선(G1-Gn)에 대하여 차례로 게이트 온 전압(Von)을 인가하여 모든 화소에 데이터 전압을 인가한다. 도 2에 도시한 액정 표시 장치의 경우, 특히 한 프레임이 끝나면 다음 프레임이 시작되고 각 화소에 인가되는 데이터 전압의 극성이 이전 프레임에서의 극성과 반대가 되도록 데이터 구동부(500)에 인가되는 반전 신호(RVS)의 상태가 제어된다("프레임 반전"). 이때, 한 프레임 내에서도 반전 신호(RVS)의 특성에 따라 한 데이터선을 통하여 흐르는 데이터 전압의 극성이 바뀌거나(보기: "행 반전", "점 반전"), 한 화소행에 인가되는 데이터 전압의 극성도 서로 다를 수 있다(보기: "열 반전", "점 반전")After one horizontal period (or “1H”) (one period of the horizontal sync signal H sync , the data enable signal DE, and the gate clock CPV), the
그러면 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치용 검사 장치에 대하여 도 3 내지 도 4b를 참고로 하여 상세히 설명한다.Next, an inspection apparatus for a display device according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 3 to 4B.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 검사 장치의 블록도이고, 도 4a 및 도 4b는 도 3에 도시한 검사자 모니터에 나타나는 화면의 한 예들이다.3 is a block diagram of a test apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIGS. 4A and 4B are examples of screens displayed on the tester monitor shown in FIG. 3.
도 3 내지 도 4b를 참고하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 검사 장치는 CCD 카메라(31), 데이터 처리부(32) 및 검사자 모니터(33)를 포함한다.3 to 4B, the inspection apparatus according to the exemplary embodiment includes a
CCD(charge coupled device) 카메라(31)는 일렬로 배치되어 있으며 지나가는 기판(GLS)을 소정 단위로 촬영한다. The charge coupled device (CCD)
데이터 처리부(32)는 CCD 카메라부(31)부터의 데이터를 입력받아 먼지나 입자 등 불량이 있는 경우 불량 위치를 좌표화하여 검사자 모니터(33)에 전송한다.The
검사자 모니터(33)에는 도 4a 및 도 4b와 같은 화면이 나타난다. 검사자 모니터(33)에는 복수의 기판(GLS)이 나타나며 그 중에서 불량이 있는 경우에는 도시한 것처럼 x 표 등으로 그 위치가 나타난다. The examiner monitor 33 displays the screens shown in FIGS. 4A and 4B. A plurality of substrates GLS appear on the
데이터 처리부(32)는 특히, 도 4b에 도시한 것처럼 팝업 창(puw)을 이용하여 불량 위치를 좀더 상세하게 나타낸다. 즉, 팝업 창(puw)을 통하여 불량 위치를 확대하는 것은 물론 그 아래에 눈금 표시를 하여 좀더 정확한 위치를 표시한다.In particular, the
이러한 동작은 검사자가 마우스 등으로 조작하여 이루어지거나 자동으로 이루어질 수 있다. 특히, 자동으로 이루어지는 경우에는 불량에 대한 기록을 남겨두었다가 동일한 불량이 소정 횟수 반복되는 경우 자동으로 팝업 창(puw)이 뜨도록 할 수 있다.Such an operation may be performed by an inspector by using a mouse or the like, or may be automatically performed. In particular, in the case of automatic operation, a record of the defect may be left and a pop-up window may automatically pop up when the same defect is repeated a predetermined number of times.
또한, 팝업 창(puw)을 생성하는 경우에는 불량 위치 주변의 일정 크기를 잘라내어 할 수 있다. 예를 들어, 불량 위치가 (a, b)인 경우 (a-x, b-y) ~ (a+x, b+y)로 소정 범위를 정하여 잘라낼 수 있다. In addition, when generating a pop-up window (puw), it is possible to cut out a certain size around the defective location. For example, when a defective position is (a, b), it can cut out by setting a predetermined range to (a-x, b-y)-(a + x, b + y).
또한, 데이터 처리부(32)는 CCD 카메라(31)로부터의 데이터와 기판 고유 번호를 저장하여 데이터 베이스화 한다. 이렇게 하면, 나중에 만들어진 표시 장치에서 불량이 발생한 경우에도 저장해 두었던 불량에 관한 데이터를 활용하여 불량의 원인 및 패턴을 검증할 수 있으며, 검사자가 불량에 대응하는 표준으로도 사용될 수 있다.In addition, the
이때, 데이터의 용량이 증가하는 경우에는 결함 부위에 대한 일부 데이터를 저장하여 데이터량을 줄일 수도 있다.In this case, when the volume of data increases, the amount of data may be reduced by storing some data on the defective portion.
이러한 방식으로, 짧은 공정 시간에 결함 부위 또는 불량 위치를 정확히 파악하여 육안으로 검사하는 시간을 줄이는 것은 물론, 양품/불량품을 더욱 정확하게 판단할 수 있다. 나아가, 결함 부위에 대한 데이터를 축적하여 둠으로써 불량 원인 및 패턴을 데이터 베이스화할 수 있다.In this way, it is possible to reduce the time for visual inspection by accurately identifying a defective part or a defective location in a short process time, and to determine a good or bad product more accurately. Further, by accumulating data on defect sites, it is possible to make a database of defect causes and patterns.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concepts of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of right.
Claims (5)
Priority Applications (1)
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Applications Claiming Priority (1)
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KR1020050003284A KR20060082917A (en) | 2005-01-13 | 2005-01-13 | Inspection device |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101286515B1 (en) * | 2006-10-27 | 2013-07-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | Method and Apparatus for Compensating Horizontal Line of Flat Display |
WO2021010390A1 (en) * | 2019-07-18 | 2021-01-21 | Jeインターナショナル株式会社 | Automatic determination process device, automatic determination process method, inspection system, program, and recording medium |
-
2005
- 2005-01-13 KR KR1020050003284A patent/KR20060082917A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (3)
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JP2021018104A (en) * | 2019-07-18 | 2021-02-15 | Jeインターナショナル株式会社 | Automatic determination processor, method for automatic determination processing, inspection system, program, and recording medium |
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