KR20080039840A

KR20080039840A - 프로그래머블 핀 일렉트로닉스 구동기

Info

Publication number: KR20080039840A
Application number: KR1020077029575A
Authority: KR
Inventors: 토마스 더블유. 퍼슨스
Original assignee: 테라다인 인코퍼레이티드
Priority date: 2005-07-29
Filing date: 2006-05-26
Publication date: 2008-05-07
Also published as: JP2009503500A; WO2007018686A1; US20070024291A1; CN101233417A; CN101233417B; EP1910851A1

Abstract

출력 전압을 피시험 디바이스(DUT)에 제공하는 장치는 데이터에 기초한 아날로그 신호를 포함하고 사전정의된 스윙을 갖는 파형을 제공하는 기준 파형 생성기; 상기 파형을 수신하여서, 상기 파형을 스케일링 팩터를 사용하여 스케일링된 파형을 생성하고, 상기 스케일링된 파형에 상응하는 전류를 생성하는 디지털 아날로그 컨버터(DAC); 및 상기 DUT에 이르는 회로 경로에 접속된 저항성 회로;를 포함한다. 상기 전류는 전압 강하를 생성하도록 상기 저항성 회로를 통과하고, 상기 출력 전압은 적어도 부분적으로 상기 전압 강하에 기초한다.

출력 전압, 피시험 디바이스(DUT), 기준 파형 생성기, 스케일링 팩터, 스케일링된 파형, 디지털 아날로그 컨버터(DAC), 저항성 회로, 출력 강하

Description

프로그래머블 핀 일렉트로닉스 구동기{PROGRAMMABLE PIN ELECTRONICS DRIVER}

본원은 일반적으로 프로그래머블 핀 일렉트로닉스 구동기에 관한 것이다.

자동 테스트 장비(ATE)는 보통, 전자 회로 및 인쇄회로기판 어셈블리와 같은 테스팅 디바이스를 위한 자동화된, 보통 컴퓨터로 구동되는 장치이다. ATE에 의해 테스트되는 디바이스는 피시험 디바이스(DUT)로 불린다.

ATE는 DUT에 전압 신호를 출력하고, 이러한 전압 신호에 대한 DUT의 반응을 모니터링한다. 그러나, 상이한 디바이스는 상이한 전압 스윙을 필요로 한다. 예를 들어, 보다 오래된 디바이스는 예를 들어, 대략 0V 내지 5V의 상대적으로 큰 전압 스윙을 사용한다. 보다 새로운 디바이스, 특히, 차동 스윙을 지원하는 디바이스는 훨씬 더 작은 전압 스윙을 필요로 한다. 예를 들어, 일부 보다 새로운 디바이스는 0.8V 스윙 또는 심지어 0.2V 스윙을 필요로 한다.

특별히 상대적으로 큰 전압 스윙에 대해 설계된 ATE는 신호 품질을 유지하면서 보다 새로운 디바이스의 보다 작은 전압 스윙 필요조건을 만족시키는데 어려움을 갖고 있다. 즉, 이러한 ATE는 신호 품질에 역효과를 주지 않고 작은 전압 스윙을 얻는 것을 어렵게 하는 상대적으로 큰 트랜지스터를 사용한다. 이런 관점에서, 신호 품질은 예를 들어, 상승 시간, 전압 오버슈팅 또는 언더슈팅, 세틀링 시간, 및 매칭 상승 및 하강 시간과 같은 수많은 파라미터의 관점에서 정의될 수 있다.

본원은 출력 전압을 DUT에 제공하도록 구성된 프로그래머블 핀 일렉트로닉스 구동기를 구현하기 위한 컴퓨터 프로그램 프로덕트를 포함하는 장치 및 방법을 기술하고 있다.

일반적으로, 일 특징에서, 본발명은 출력 전압을 피시험 디바이스(DUT)에 제공하는 장치를 얻는 것을 목적으로 한다. 이 장치는 데이터에 기초한 아날로그 신호를 포함하고 사전정의된 스윙을 갖는 파형을 제공하는 기준 파형 생성기; 상기 파형을 수신하여서, 상기 파형을 스케일링 팩터를 사용하여 스케일링된 파형을 생성하고, 상기 스케일링된 파형에 상응하는 전류를 생성하는 디지털 아날로그 컨버터(DAC); 및 상기 DUT에 이르는 회로 경로에 접속된 저항성 회로;를 포함한다. 상기 전류는 전압 강하를 생성하도록 상기 저항성 회로를 통과하고, 상기 출력 전압은 적어도 부분적으로 상기 전압 강하에 기초한다. 이러한 특징은 또한 다음 특징중 하나 이상을 포함할 수 있다.

상기 DAC는 프로그램화가능할 수 있다. 상기 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치는 상기 DAC에 상기 스케일링 팩터를 제공하기 위해 프로세싱 디바이스를 포함할 수 있다. 포맷터는 상기 데이터를 수신하고 상기 데이터의 타이밍이 상기 DUT의 타이밍 필요조건에 적합하도록 상기 데이터의 타이밍을 조정할 수 있다.

상기 장치는 상기 데이터를 저장하고 상기 데이터에 따른 타이밍 정보를 포함하는 벡터 메모리; 및 상기 포맷터에 상기 타이밍 필요조건을 제공하는 프로세싱 디바이스;를 포함할 수 있다. 상기 포맷터는 상기 데이터의 타이밍이 상기 DUT의 타이밍 필요조건에 적합하도록 상기 타이밍 정보를 변경할 수 있다. 전압 구동기는 적어도 하나의 사전정의된 전압을 제공할 수 있다. 상기 출력 전압은 또한 상기 사전정의된 전압에 기초할 수 있다. 상기 출력 전압은 상기 사전정의된 전압과 상기 전압강하 사이의 차이에 기초할 수 있다. 상기 사전정의된 스윙은 상기 DUT로의 회로 경로에서 발생하는 손실을 해결할 수 있다.

일반적으로, 또 다른 특징에서, 본 발명은 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치를 얻는 것을 그 목적으로 한다. 상기 장치는 사전정의된 스윙을 갖는 파형을 수신하여 스케일링된 파형을 생성하도록 스케일링 팩터를 사용하여 상기 파형을 스케일링하고, 상기 스케일링된 파형에 상응하는 전류를 발생시키는 디지털 아날로그 컨버터(DAC)를 포함한다. 저항성 회로는 상기 DUT에 이르는 회로 경로에 접속되고, 상기 전류는 전압 강하를 생성하도록 상기 저항성 회로를 통과한다. 전압 구동기는 사전정의된 전압을 제공한다. 상기 출력 전압은 상기 사전정의된 전압 및 전압 강하중 적어도 하나에 기초한다. 이러한 태양은 다음 특징중 하나 이상을 포함할 수 있다.

프로세싱 디바이스는 상기 전류가 생성되지 않도록 DAC를 제어할 수 있다. 상기 전류가 생성되지 않을 때, 상기 출력 전압은 상기 전압 강하에 기초하지 않고 상기 사전정의된 전압에 기초할 수 있다. 상기 전압 구동기는 복수의 사전정의된 전압을 제공하도록 프로그램가능할 수 있다. 상기 출력 전압은 상기 복수의 사전정의된 전압중 하나에 기초할 수 있다. 상기 DAC는 프로그램가능할 수 있다. 상기 장치는 상기 DAC에 상기 스케일링 팩터를 제공하는 프로세싱 디바이스를 더 포함할 수 있다.

상기 장치는 상기 데이터를 수신하고 상기 데이터의 타이밍이 상기 DUT의 타이밍 필요조건에 적합하도록 상기 데이터의 타이밍을 조정하는 포맷터를 포함할 수 있다. 상기 파형은 상기 데이터에 기초할 수 있다. 벡터 메모리가 상기 데이터를 저장하고 상기 데이터에 따른 타이밍 정보를 포함할 수 있다. 프로세싱 디바이스가 상기 포맷터에 상기 타이밍 필요조건을 제공할 수 있다. 상기 포맷터는 상기 데이터의 타이밍이 상기 DUT의 타이밍 필요조건에 적합하도록 상기 타이밍 정보를 변경할 수 있다. 스케일링하는 단계는 상기 파형의 스윙 및 상기 파형의 감쇠중 적어도 하나를 변경하는 단계를 포함할 수 있다.

일반적으로, 또 다른 특징에서, 본 발명은 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 방법을 얻는 것을 그 목적으로 한다. 상기 방법은 사전정의된 스윙을 갖는 파형을 생성하는 단계; 및 스케일링된 파형을 생성하도록 상기 파형을 스케일링하는 단계를 포함하고, 상기 스케일링하는 단계는 상기 사전정의된 스윙을 바꾸도록 디지털 프로그램화된 스케일링 팩터를 사용하여 실행되고, 상기 스케일링 단계로 상기 스케일링된 파형에 상응하는 출력 전류를 얻는다. 상기 방법은 또한 상기 출력 전류에 기초한 출력 전압을 생성하는 단계를 포함할 수 있다. 이러한 특징은 다음의 특징중 하나 이상을 포함할 수 있다.

상기 출력 전압을 생성하는 단계는, 전압 강하를 생성하도록 상기 전류를 저항성 회로에 통과시키는 단계; 및 상기 출력 전압을 생성하도록, 사전정의된 전압을 상기 전압 강하만큼 감소시키는 단계;를 포함할 수 있다. 상기 사전정의된 전압은 전압 구동기로부터 수신될 수 있다. 상기 사전정의된 전압은 상기 전압 구동기로부터 유용한 복수의 전압중 하나일 수 있다.

상기 파형은 상기 DUT로의 회로 경로에 발생되는 손실을 고려하도록 생성될 수 있다. 상기 방법은 데이터를 메모리로부터 수신하는 단계; 및 상기 데이터의 타이밍을 상기 DUT의 타이밍에 적합하도록 바꾸는 단계;를 더 포함할 수 있다. 상기 파형은 바뀐 타이밍을 갖는 데이터로부터 생성될 수 있다. 상기 파형은 아날로그일 수 있고, 스케일링하는 단계는 디지털 아날로그 컨버터(DAC)를 사용하여 실행될 수 있다.

하나 이상의 예의 세부사항이 첨부된 도면 및 아래의 설명에 설명되어 있다. 본 발명의 또 다른 특징 및 장점은 이러한 도면, 설면 및 청구범위를 통해 명백해질 것이다.

도 1은 출력 전압을 DUT에 제공하기 위한, ATE내에 포함될 수 잇는 프로그래머블 핀 일렉트로닉스 구동기 회로의 블록도이고,

도 2는 출력 전압을 DUT에 제공하기 위한, 프로그래머블 핀 일렉트로닉스 구동기 회로에 의해 실행될 수 있는 프로세스의 순서도이고,

도 3은 출력 전압을 DUT에 제공하기 위한, 프로그래머블 핀 일렉트로닉스 구 동기 회로에 의해 실행될 수 있는 대안의 프로세스의 순서도이다.

상이한 도면내의 동일한 부재번호는 동일한 요소를 나타낸다.

도 1은 DUT(12)를 테스팅하기 위한 ATE(11)내의 회로(10)의 블록도이다. 회로(10)는 DUT의 필요조건에 적합한 출력 전압을 DUT(12)에 제공하도록 사용되기 위한 것이다. 이런 관점에서, 상이한 DUT는 상이한 전압 스윙 필요조건을 가질 수 있다. 실제로, 이것이 의미하는 것은 상이한 DUT가 "하이" 및 "로우" 신호와 다른 전압 레벨을 인식할 수 있다는 것이다. 예를 들어, 배경기술에서 언급된 바와 같이, 보다 오랜 DUT는 0V 및 5V를 하이 및 로우 전압으로 인식할 수 있지만, 보다 새로운 DUT는 0V 및 0.8V를 하이 및 로우 전압으로 인식할 수 있다. 아래에 상세하게 설명되는 바와 같이, 회로(10)는 출력 전압, 즉, 노드(14)에서의 전압을 조정하여 출력 전압이 DUT(12)의 필요조건에 적합하게 된다.

회로(10)는 포맷터(15), 기준 파형 생성기(16), 디지털 아날로그 컨버터(DAC; 17), DUT로의 회로 경로상의 저항 회로(18), 전압 구동기(19), 및 프로세싱 디바이스(20)를 포함한다. 프로세싱 디바이스(20)는 마이크로프로세서, 마이크로컨트롤러, FPGA(필드 프로그래머블 게이트 어레이)와 같은 프로그래머블 로직 및 디지털 신호 프로세서(DSP)를 포함하지만 이에 제한되지 않는, 명령어를 실행할 수 있는 임의의 타입의 디지털 디바이스일 수 있다. 프로세싱 디바이스(20)는 그 자체 명령어를 저장하거나 상기 명령어를 메모리(21)와 같은 외부 소스로부터 검색할 수 있다. 프로세싱 디바이스(20)는 ATE(11)내의 기능을 실행하기 위해 명령어를 실행한다.

ATE(11)내의 프로세싱 디바이스(20)에 의해 실행되는 기능중에는 DAC(17)의 제어가 있다. 구체적으로, 프로세싱 디바이스(20)는 DAC(17)를 입력 파형을 스케일링하는데 사용되는 스케일링 팩터로 프로그래밍한다. 여기에서, "스케일"이 의미하는 바는 일부 방식으로 파형의 크기 및/또는 형상에 영향을 주는 것을 의미한다. 예를 들어, DAC(17)는 파형의 진폭 및/또는 감쇠를 증가시키거나 감소시킬 수 있다. 프로세싱 디바이스(20)에 의해 사용되는 스케일링 팩터는 DUT(12)의 전압 필요조건을 상응한다. 즉, 스케일링 팩터는 출력 노드(14)에서의 전압이 DUT(12)의 전압 스윙 필요조건을 충족시키도록 선택된다. DAC(17)는 디지털 프로그래밍 데이터를 수용하도록 구성되어, 프로세싱 디바이스(20)를 사용하여 상대적으로 용이하게 DAC를 프로그래밍하는 것을 가능하게 한다.

포맷터(15)는 DUT(12)에 전송되는 데이터를 수신하고 이 수신된 데이터의 타이밍을 조정하여 그 타이밍이 DUT(12)의 필요조건에 적합하게 된다. 상기 데이터는 임의의 타입을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 데이터는 DUT의 특징을 테스트하기 위해 ATE로부터 DUT로 전송되는 테스트 데이터일 수 있다. 대안으로, 상기 데이터는 동작 또는 추가 테스팅을 위해 DUT를 프로그래밍하는데 사용될 수 있다.

DUT에 전송되는 데이터는 벡터 메모리(22)와 같은 메모리에 저장될 수 있다. 타이밍 정보는 또한 상기 데이터와 함께 저장될 수 있다. 이 타이밍 정보는 예를 들어, 상기 데이터의 비트중에 시간 관계를 가리킬 수 있다. 프로세싱 디바이스(20)는 상기 데이터 및 그 타이밍 정보를 메모리(22)로부터 포맷터(15)로 전송한 다. 포맷터(15)에서, 상기 타이밍 정보는 상기 데이터의 타이밍이 DUT(12)의 타이밍 필요조건에 적합하도록 변경된다. 프로세싱 디바이스(20)는 호환되는 포맷터(15)를 프로그래밍할 수 있거나 포맷터(15)는 DUT(12)의 타이밍 필요조건과 하드 코딩될 수 있다. 예를 들어, 포맷터(15)는 상기 데이터를 포맷팅하도록 프로그래밍될 수 있어서 상기 데이터는 DUT(12)에 의해 요구되는대로 출력될 수 있는데, 예를 들어, 비트는 매 5ns, 10ns등 마다 출력될 수 있다.

포맷터(15)는 적합하게 타이밍된 데이터를 기준 파형 생성기(16)에 출력한다. 기준 파형 생성기(16)는 상기 데이터의 각 비트에 대한 사전결정된 스윙을 갖는 기준 파형을 생성한다. 보다 구체적으로, 기준 파형 생성기(16)는 포맷터(15)에 의해 출력되는 데이터내의 비트를 식별하고, 이러한 비트 대신에 사전정의된 기준 파형을 대신 사용한다. 따라서, 기준 파형 생성기(16)의 출력은 사전정의된 전압 스윙 및 적합한 DUT 타이밍을 갖는 아날로그 신호이다.

기준 파형 생성기(16)는 또한 기준 파형을 생성하고 인가할 때 DUT(12)로의 회로 경로(24)에서 발생하는 손실을 고려할 수 있다. 이것은 프리엠퍼시스로 알려져 있다. 프리엠퍼시스는 DUT로의 경로내의 손실을 보상하기 위해 파형의 특성을 변경하는 단계, 예를 들어, 파형의 진폭을 증가시키는 단계를 포함한다. 따라서, 상기 파형이 DUT에 도달할 때, 회로 경로(24)에 발생하는 손실의 결과로서, 상기 파형은 적합한 특성을 가지게 될 것이다.

DAC(17)는 프로그래머블 아날로그 디지털 컨버터이다. 이러한 구현에서, DAC(17)는 입력 신호에 스케일링 팩터를 곱함으로써 입력 신호를 스케일링하고, 그 산출된 스케일된 신호(이러한 경우에, 스케일링된 전압)를 출력하는 것을 의미하는 멀티플라잉 타입의 컨버터이다. DAC(17)는 상기 언급된 바와 같이, 프로세싱 디바이스(20)로부터 스케일링 팩터를 수신한다. 동작동안, DAC(17)는 상기 스케일링된 전압에 상응하는 전류를 출력한다. 아래에 설명되는 바와 같이, 이러한 전류는 노드(14)에서의 전압 출력에 기여하는 전압 강하(34)를 생성하도록 저항성 회로(18)을 통과한다.

저항성 회로(18)는 (오직 하나의 레지스터가 도 1에 도시되어 있지만) 하나 이상의 저항성 소자, 예를 들어, 직병렬 등으로 임의의 배열로 구성된 레지스터를 포함할 수 있다. 이러한 구현예는 50Ω의 저항을 갖는 저항성 회로를 사용한다. 다른 구현예는 상이한 저항을 사용할 수 있다.

전압 구동기(19)는 전압원으로부터 노드(25)로 전압을 제공하기 위한 전압원 및 회로를 포함할 수 있다. 전압 구동기(19)는 데이터 신호엥 응답하여 사전정의된 범위내에서 임의의 전압을 출력하도록 프로그래밍될 수 있다. 다른 구현예에서, 전압 구동기(19)는 데이터 신호에 응답하여 제한된 수의 이산 전압 레벨을 출력할 수 있다. 예를 들어, 전압 구동기(19)는 오직 하이 전압(Vih) 또는 로우 전압(Vil)만을 출력하도록 프로세싱 디바이스(20)로부터 데이터 신호에 응답할 수 있다. 다른 구현에에서, 전압 구동기(19)는 안정적일 수 있는데, 이는 전압 구동기가 단일 전압만을 출력할 수 있다는 것을 의미한다. 아래에 설명된 바와 같이, 전압 구동기(19)의 출력은 노드(14)에서의 출력에 기여할 수 있다.

도 2는 전압 출력을 DUT(12)에 제공하기 위한 회로(10)에 의해 구현될 수 있 는 프로세스(26)를 도시하는 순서도이다. 프로세스(26)에 따라, 프로세싱 디바이스(26)는 DUT(12)에 적합한 스케일링 팩터로 DAC(17)를 프로그래밍한다(27). 상기 설명된 바와 같이, 이 스케일링 팩터는 DAC(17)의 전압 출력을 결절할 것이고, 그래서 DAC(17)의 전류 출력을 결정할 것이다. 프로세싱 디바이스는 사전에 스케일링 팩터로써 프로그래밍될 수 있거나, 프로세싱 디바이스는 스케일링 팩터를 결정하는데 필요한 정보를 얻기 위해 다른 채널을 통해 DUT(12)에 문의할 수 있다. 상기 언급된 바와 같이, 이러한 구현예에서, 스케일링 팩터는 디지털 프로그래밍 데이터이다.

프로세스(26)에서, 포맷터(15)는 메모리(22)로부터 데이터를 수신하고, 회로(10)의 나머지에 따라, DUT(12)에 출력되기 위한 상기 데이터에 상응하는 전압 스윙을 생성한다. 특히, 포맷터(15)는 상기 데이터의 타이밍이 DUT(12)의 타이밍 필요조건에 적합하도록 상기 데이터의 타이밍을 조정한다(29). 기준 파형 생성기(16)는 포맷터(15)에 의해 출력된 데이터에 상응하는 파형을 생성한다(30). 특히, 기준 파형 생성기(16)는 상기 데이터의 각 비트에 대한 전압 스윙을 생성한다. 이 전압 스윙은 사전결정된 진폭을 가지고 있고, 프리엠퍼시스를 고려하거나 고려하지 않을 수 있다. 또한, 전압 스윙은 차동 전압 스윙일 수 있거나 그렇지 않을 수 있다.

DAC(17)는 기준 파형 생성기(16)의 전압 스윙 (즉, 파형) 출력을 수신하고 스케일링한다(31). 이러한 방식으로 파형을 스케일링하는 것은 매칭 상승 및 하강 시간, 세틀링 시간, 오버슈트, 언더슈트, 매칭 상승 및 하강 전파 지연, 및 프리엠 퍼시스와 같은 파형의 특성을 보존하기 때문에 유익하다. 상기 지시된 바와 같이, DAC(17)는 상기 스케일링된 파형에 상응하는 전류를 출력한다. 전류 출력은 전압 파형의 특성에 따라 변한다. 그 결과, 전류의 특성은 실질상 파형의 것과 상응하게 된다.

DAC(17)의 전류 출력은 저항성 회로(18)를 통과한다. 이것은 저항성 회로(180 간의 전하 강하(34)를 유발한다. 이러한 전압 강하량은 전류 출력을 제어함으로써 제어된다. 이러한 전압 강하는 노드(14)에서의 출력 전압을 결정하는데(32) 상요된다. 즉, 이러한 구현예에서의 출력 전압은 저항성 회로(18)간 전압 강하(34)와 (전압 구동기(19)로부터의) 노드(25)에서의 전압 사이의 차이다. 노드(25)에서의 전압은 노드(14)에서의 전압을 생성하도록 전압 강하(34) 만큼 감소된다. 상술된 바와 같이, 전압 구동기(19)의 출력은 안정적일 수 있는데, 이것은 전압 구동기가 일정한 전압을 출력하는 것을 의미하며, 그렇지 않은 경우 출력은 변할 수 있다.

대안의 구현예에서, 저항성 회로(18)의 저항은 전자적으로 또는 기계적으로 변경될 수 있고, 이것은 노드(14)에서의 출력 전압에 영향을 준다.

도 3은 DUT(12)에 전압 출력을 제공하기 위한, 회로(10)에 의해 구현될 수 있는, 대안의 프로세스(37)를 도시하고 있다. 이러한 경우에, 회로(10)는 사전정의된 범위내의 임의의 전압을 출력하도록 프로그래밍된 전압 구동기를 사용한다. 전압 구동기(19)는 예를 들어, 대략 수 밀리볼트일 수 있는 제한된 분해능을 가질 것이라는 것에 주목해야 한다. 물론, 이것은 전압 구동기(19)가 출력할 수 있는 전압 레벨을 제한할 것이다.

프로세스(37)에 따라, 프로세싱 디바이스(20)는 DUT(12)에 의해 요구되는 전압 스윙이 사전정의된 임계값 미만인지 여부를 결정한다(39). 예를 들어, 프로세싱 디바이스(20)는 DUT(12)에 문의할 수 있고 DUT(12)에 의해 요구된 전압 스윙이 예를 들어, 0.1V 보다 작은지를 판정한다. 만약 전압 스윙이 사전정의된 임계값 보다 크다면(40), 프로세싱 디바이스(20)는 노드(14)에서의 출력 전압을 제어하기(41) 위해 DAC(17)를 사용하지 않고 전압 구동기(19)를 사용할 수 있다. 이러한 경우에, 프로세싱 디바이스(20)는 DAC(170가 저항성 회로(18)에 전류를 출력하지 않도록 DAC(17)를 비활성하거나 적어도 제어한다. 아무런 전류도 DAC(17)로부터 출력되지 않기 때문에, 노드(14)에서의 전압은 물론 노드(14)에서의 회로 경로내의 임의의 고유 전압 강하보다 작지만, 노드(25)에서의 전압과 실질상 동일하다. 프로세스(37)의 이러한 파트(44)는 예를 들어, 대략 수 전압에서 상대적으로 큰 전압 스윙을 제공하는데 사용될 수 있고, 특히 다른 타입의 DUT에 유용하다.

도 3에서, 만약 전압 스윙이 사전정의된 임계값보다 작다면(40), 프로세스(37)는 DAC(17)의 전류 출력 및 전압 구동기919)의 전압 출력을 사용하여 노드(14)에서의 출력 전압을 제공하기 위해 프로세스(26; 도 2)에 따라 진행한다. 프로세스(37)의 이러한 파트(46)는 예를 들어, 대략 소숫점이하에서 상대적으로 전압 스윙을 제공하는데 사용될 수 있고, 특히 보다 새로운 타입의 DUT에 유용하다.

여기에 기술된 프로세스는 특정 하드웨어 및 소프트웨어로 사용되는 것에 제한되지 않고, 이 프로세스는 기계 판독가능 명령어를 실행할 수 있는 임의의 타입 의 기계에 의해 그리고 임의의 컴퓨팅 또는 프로세싱 환경에 적용가능할 수 있다. 이러한 프로세스의 모두 또는 일부는 디지털 전자 화로를 사용하여, 또는 컴퓨터 하드웨어, 펌웨어, 소프트웨어, 또는 그 조합에서 구현될 수 있다.

상기 프로세스의 모두 또는 일부는 데이터 프로세싱 장치, 예를 들어, 프로그래머블 프로세서, 컴퓨터, 또는 복수의 컴퓨터의 동작을 제어하기 위해 또는 상기 동작에 의해 실행되기 위해 전하된 신호로 또는 기계판독가능한 기억장치등의 정보 캐리어내에 구현된 컴퓨터 프로그램 프로덕트, 즉, 접촉가능 컴퓨터 프로그램으로서 구현될 수 있다. 컴퓨터 프로그램은 컴파일링되거나 해석된 언어를 포함하는 임의의 형태의 프로그래밍 언어로 기록될 수 있고, 독립형 프로그램 도는 모듈, 컴포넌트, 서브루틴, 또는 컴퓨팅 환경에서 사용되기에 적합한 다른 유닛을 포함하는 임의의 형태로 배치될 수 있다. 컴퓨터 프로그램은 한 사이트에서, 또는 통신망에 의해 상호연결되고 복수의 사이트에 분산된, 하나의 컴퓨터 또는 복수의 컴퓨터로 실행되도록 배치될 수 있다.

프로세스와 연관된 하나 이상의 액션 또는 업무는 프로세스의 기능을 실행하기 위해 하나 이상의 컴퓨터 프로그램을 실행하는 하나 이상의 프로그래머블 프로세서에 의해 실행될 수 있다. 이 액션 또는 업무는 전용 로직 회로, 예를 들어, FPGA 및/또는 ASIC(주문형 집적회로)에 의해 실행되고 상기 프로세스는 상기 전용 로직 회로, 예를 들어, FPGA 및/또는 ASIC(주문형 집적회로)로서 구현될 수 있다.

컴퓨터 프로그램의 실행을 위해 적합한 프로세서는 예를 들어, 일반 및 전용 마이크로프로세서 및 임의의 종류의 디지털 컴퓨터의 임의의 하나 이상의 프로세서 를 포함한다. 일반적으로, 프로세서는 판독 전용 기억 장소 구역 또는 랜덤 액세스 기억 장소 구역 또는 모두로부터 명령어 및 데이터를 수신할 것이다. 컴퓨터의 엘리먼트는 명령어 및 데이터를 저장하기 위한 하나 이상의 기억장소 구역 디바이스를 실행하기 위한 프로세서를 포함한다. 일반적으로, 컴퓨터는 예를 들어, 자기, 광자기 디스크, 또는 광디스크의 데이터를 저장하기 위한 하나 이상의 대용량 저장 디바이스를 포함하거나 상기 대용량 저장 디바이스로부터 데이터를 수신하거나 데이터를 전송하기 위해 동작가능하도록 연결될 것이다. 컴퓨터 프로그램 명령어 및 데이터를 구현하기에 적합한 정보 캐리어는 예를 들어, EPROM, EEPROM 및 플래시 기억장소 구역 디바이스의 반도체 기억장소 구역 디바이스를 포함하는 모든 형태의 비휘발성 기억장소 구역; 예를 들어, 내부 하드 디스크 또는 제거가능한 디스크의 자기 디스크; 및 CD-ROM 및 DVD-ROM 디스크를 포함한다.

프로세스의 모두 또는 일부는 예를 들어, 데이터 서버로서 백엔드 컴포넌트를 포함하거나, 예를 들어, 애플리케이션 서버의 미들웨어 컴포넌트를 포함하거나, 예를 들어, 그래피컬 유저 인터페이스를 갖는 클라이언트 컴퓨터의 프론트 엔드 컴포넌트를 포함하거나, 이러한 백엔드, 미들웨어, 또는 프론트 엔드 컴포넌트의 임의의 조합을 포함하는 컴퓨팅 시스템에서 구현될 수 있다. 상기 시스템의 컴포넌트는 임의의 형태 또는 매체의 디지털 데이터 통신, 예를 들어, 통신망에 의해 상호접속될 수 있다. 통신망의 예는 LAN 및 WAN, 예를 들어, 인터넷을 포함한다.

프로세스와 연관된 액션 또는 업무는 재배열될 수 있고 및/또는 이러한 단계의 하나 이상은 여기에 기술된 것과 동일하거나 유사한 결과를 얻기 위해 생략될 수 있다.

여기에 설명된 상이한 구현예의 요소는 위에서 구체적으로 상술되지 않은 다른 구현예를 형성하도록 조합될 수 있다. 여기에 기술되지 않은 다른 구현예는 다음 청구범위내에 있다.

Claims

피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치에 있어서,

데이터에 기초한 아날로그 신호를 포함하고 사전정의된 스윙을 갖는 파형을 제공하는 기준 파형 생성기;

상기 파형을 수신하여서, 상기 파형을 스케일링 팩터를 사용하여 스케일링하여 스케일링된 파형을 생성하고, 상기 스케일링된 파형에 상응하는 전류를 생성하는 디지털 아날로그 컨버터(DAC); 및

상기 DUT에 이르는 회로 경로에 접속된 저항성 회로;를 포함하고,

상기 전류는 전압 강하를 생성하도록 상기 저항성 회로를 통과하고, 상기 출력 전압은 적어도 부분적으로 상기 전압 강하에 기초하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제1항에 있어서, 상기 DAC는 프로그램화가능하고 상기 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치는 상기 DAC에 상기 스케일링 팩터를 제공하기 위해 프로세싱 디바이스를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제1항에 있어서, 상기 데이터를 수신하고 상기 데이터의 타이밍이 상기 DUT의 타이밍 필요조건에 적합하도록 상기 데이터의 타이밍을 조정하는 포맷터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제3항에 있어서,

상기 데이터를 저장하고 상기 데이터에 따른 타이밍 정보를 포함하는 벡터 메모리; 및

상기 포맷터에 상기 타이밍 필요조건을 제공하는 프로세싱 디바이스;를 더 포함하고, 상기 포맷터는 상기 데이터의 타이밍이 상기 DUT의 타이밍 필요조건에 적합하도록 상기 타이밍 정보를 변경하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제1항에 있어서, 적어도 하나의 사전정의된 전압을 제공하는 전압 구동기를 더 포함하고, 상기 출력 전압은 또한 상기 사전정의된 전압에 기초하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제5항에 있어서, 상기 출력 전압은 상기 사전정의된 전압과 상기 전압강하 사이의 차이에 기초하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제1항에 있어서, 상기 사전정의된 스윙은 상기 DUT로의 회로 경로에서 발생하는 손실을 해결하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제 공하는 장치.
피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치에 있어서,

사전정의된 스윙을 갖는 파형을 수신하여 스케일링된 파형을 생성하도록 스케일링 팩터를 사용하여 상기 파형을 스케일링하고, 상기 스케일링된 파형에 상응하는 전류를 발생시키는 디지털 아날로그 컨버터(DAC);

DUT에 이르는 회로 경로에 접속된 저항성 회로; 및

사전정의된 전압을 제공하는 전압 구동기;를 포함하고,

상기 전류는 전압 강하를 생성하도록 상기 저항성 회로를 통과하고, 상기 출력 전압은 상기 사전정의된 전압 및 전압 강하중 적어도 하나에 기초한 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제8항에 있어서,

상기 전류가 생성되지 않도록 DAC를 제어하는 프로세싱 디바이스를 더 포함하고, 상기 전류가 생성되지 않을 때, 상기 출력 전압이 상기 전압 강하에 기초하지 않고 상기 사전정의된 전압에 기초하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제8항에 있어서, 상기 전압 구동기는 복수의 사전정의된 전압을 제공하도록 프로그램가능하고, 상기 출력 전압은 상기 복수의 사전정의된 전압중 하나에 기초 한 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제8항에 있어서, DAC는 프로그램가능하고, 상기 장치는 상기 DAC에 상기 스케일링 팩터를 제공하는 프로세싱 디바이스를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제8항에 있어서, 상기 데이터를 수신하고 상기 데이터의 타이밍이 상기 DUT의 타이밍 필요조건에 적합하도록 상기 데이터의 타이밍을 조정하는 포맷터를 더 포함하고, 상기 파형은 상기 데이터에 기초하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제12항에 있어서,

상기 데이터를 저장하고 상기 데이터에 따른 타이밍 정보를 포함하는 벡터 메모리; 및

상기 포맷터에 상기 타이밍 필요조건을 제공하는 프로세싱 디바이스;를 더 포함하고, 상기 포맷터는 상기 데이터의 타이밍이 상기 DUT의 타이밍 필요조건에 적합하도록 상기 타이밍 정보를 변경하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
제8항에 있어서, 스케일링하는 단계는 상기 파형의 스윙 및 상기 파형의 감 쇠중 적어도 하나를 변경하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 장치.
피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 방법에 있어서,

사전정의된 스윙을 갖는 파형을 생성하는 단계;

스케일링된 파형을 생성하도록 상기 파형을 스케일링하는 단계; 및

상기 출력 전류에 기초한 출력 전압을 생성하는 단계;를 포함하고, 상기 스케일링하는 단계는 상기 사전정의된 스윙을 바꾸도록 디지털 프로그램화된 스케일링 팩터를 사용하여 실행되고, 상기 스케일링 단계로 상기 스케일링된 파형에 상응하는 출력 전류를 얻는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 방법.
제15항에 있어서, 상기 출력 전압을 생성하는 단계는,

전압 강하를 생성하도록 상기 전류를 저항성 회로에 통과시키는 단계; 및

상기 출력 전압을 생성하도록, 사전정의된 전압을 상기 전압 강하만큼 감소시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 방법.
제16항에 있어서,

상기 사전정의된 전압을 전압 구동기로부터 수신하는 단계를 더 포함하고, 상기 사전정의된 전압은 상기 전압 구동기로부터 유용한 복수의 전압중 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 방법.
제15항에 있어서, 상기 파형은 상기 DUT로의 회로 경로에 발생되는 손실을 고려하도록 생성되는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 방법.
제15항에 있어서,

데이터를 메모리로부터 수신하는 단계; 및

상기 데이터의 타이밍을 상기 DUT의 타이밍에 적합하도록 바꾸는 단계;를 더 포함하고, 상기 파형은 바뀐 타이밍을 갖는 데이터로부터 생성되는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 방법.
제15항에 있어서, 상기 파형은 아날로그이고, 스케일링하는 단계는 디지털 아날로그 컨버터(DAC)를 사용하여 실행되는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스(DUT)에 출력 전압을 제공하는 방법.