KR20080030892A - 데이터의 정상 수신 여부를 테스트하는 헤드칩 및 그 방법 - Google Patents

데이터의 정상 수신 여부를 테스트하는 헤드칩 및 그 방법 Download PDF

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KR20080030892A
KR20080030892A KR1020060097454A KR20060097454A KR20080030892A KR 20080030892 A KR20080030892 A KR 20080030892A KR 1020060097454 A KR1020060097454 A KR 1020060097454A KR 20060097454 A KR20060097454 A KR 20060097454A KR 20080030892 A KR20080030892 A KR 20080030892A
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박경식
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삼성전자주식회사
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Abstract

데이터의 정상 수신 여부를 테스트하는 헤드칩 및 그 방법이 개시된다. 본 헤드칩은, 헤드 컨트롤러로부터 테스트 모드 데이터 및 테스트 데이터를 수신하는 데이터 포매터, 테스트 모드 데이터를 분석하여 테스트 모드 커맨드를 생성하는 커맨드 생성부, 테스트 데이터를 소정 단위로 분할하여, 분할된 데이터에 대한 데이터 분할 넘버를 생성하는 데이터 분할 넘버 생성부, 테스트 모드 커맨드가 자동 테스트 모드 커맨드인 경우, 테스트 대상 넘버를 자동 생성하여 데이터 분할 넘버와 비교하는 비교부, 및, 테스트 대상 넘버와 일치하는 데이터 분할 넘버에 해당하는 테스트 데이터를 외부 동기 신호에 맞춰 쉬프트시켜 쉬프트 결과값을 헤드 컨트롤러로 출력하는 쉬프트 레지스터를 포함한다. 이에 따라, 테스트 대상 넘버의 설정 및 테스트 데이터의 반복적인 수신을 생략할 수 있게 되어 헤드칩의 테스트 작업에 소요되는 시간이 감소된다.
헤드칩, 테스트 데이터, 테스트 분할 넘버

Description

데이터의 정상 수신 여부를 테스트하는 헤드칩 및 그 방법 {Head chip for testing normal receipt of data and method thereof}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 헤드칩의 구성을 나타내는 블럭도,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 모드 데이터의 구조를 나타내는 모식도, 그리고,
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 헤드칩의 데이터 정상 수신 테스트 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 설명 *
100 : 헤드칩 110 : 데이터 포매터
120 : 커맨드 생성부 130 : 데이터 분할 넘버 생성부
140 : 비교부 141 : 자동 테스트 대상 넘버 생성부
150 : 쉬프트 레지스터
본 발명은 데이터의 정상 수신 여부를 테스트하는 헤드칩 및 그 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 자동으로 테스트 대상 넘버를 생성하여 데이터의 정상 수신 여부를 테스트하는 헤드칩 및 그 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 헤드칩은 프린터의 본체와 연결되어 직렬 통신을 위한 로직을 구비하며, 데이터를 수신하여 노즐 토출을 위한 인쇄데이터로 변환하는 작업을 수행한다. 한편, 프린터 제조 과정에서 헤드칩이 정상적으로 데이터를 수신하여 출력하는지를 확인하기 위한 헤드칩 테스트 작업을 거치게 된다.
종래에는 헤드 컨트롤러를 통해 헤드칩에 테스트 데이터를 입력하고, 헤드칩의 출력 데이터와 테스트 데이터를 비교하여 헤드칩이 데이터를 정상적으로 수신할 수 있는지 여부를 테스트 하였다. 이 경우, 헤드칩이 한번에 처리할 수 있는 데이터의 양에 한계가 있기 때문에, 헤드칩에 입력된 테스트 데이터는 소정 단위로 분할되어 테스트받게 된다. 즉, 헤드칩을 테스트하고자 하는 제조업자는, 테스트 데이터 중 테스트 하고자 하는 부분의 데이터 넘버를 지정하여 헤드칩에 인가하여야 한다. 이에 따라, 헤드칩은 지정된 넘버에 해당하는 부분의 테스트 데이터만을 처리한 후, 출력하여 테스트를 받게 되었다.
이와 같이, 종래에는 제조업자가 헤드칩을 정밀하게 테스트하기 위해서는, 테스트 데이터의 각 부분의 넘버를 일일이 지정하여 테스트하여야 한다는 어려움이 있었다. 따라서, 전체 테스트 데이터의 수신 성능을 테스트하기 위한 시간이 많이 소요되며, 테스트의 편의성이 저하된다는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은, 헤드칩을 테스트 함에 있어 테스트 대상 넘버를 자동으로 생성함으로 써, 테스트 작업을 보다 편리하고 신속하게 수행할 수 있도록 하는 헤드칩 및 그 방법을 제공함에 있다.
이상과 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 헤드칩은, 헤드 컨트롤러로부터 테스트 모드 데이터 및 테스트 데이터를 수신하는 데이터 포매터, 상기 테스트 모드 데이터를 분석하여, 테스트 모드 커맨드를 생성하는 커맨드 생성부, 상기 테스트 데이터를 소정 단위로 분할하여, 분할된 데이터에 대한 데이터 분할 넘버를 생성하는 데이터 분할 넘버 생성부, 상기 커맨드 생성부를 통해 생성된 테스트 모드 커맨드가 자동 테스트 모드 커맨드인 경우, 테스트 대상 넘버를 자동 생성하여 상기 데이터 분할 넘버 생성부에서 생성된 데이터 분할 넘버와 비교하는 비교부, 및, 상기 비교부의 비교 결과, 상기 테스트 대상 넘버와 일치하는 상기 데이터 분할 넘버에 해당하는 테스트 데이터를 상기 데이터 포매터로부터 수신하여 외부 동기 신호에 맞춰 쉬프트시켜 쉬프트 결과값을 상기 헤드 컨트롤러로 출력하는 쉬프트 레지스터를 포함한다.
상기 비교부는, 상기 커맨드 생성부를 통해 생성된 테스트 모드 커맨드가 수동 테스트 모드 커맨드인 경우, 상기 테스트 모드 테스트에 포함된 테스트 대상 넘버 설정 커맨드에 의해 설정된 테스트 대상 넘버와 상기 데이터 분할 넘버 생성부에서 생성된 데이터 분할 넘버를 비교하는 것이 바람직하다.
한편, 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 헤드칩의 테스트 방법은, a) 헤드 컨트롤러로부터 테스트 모드 데이터 및 테스트 데이터 를 수신하는 단계, b) 상기 테스트 모드 데이터를 분석하여, 테스트 모드 커맨드를 생성하는 단계, c) 상기 테스트 데이터를 소정 단위로 분할하여, 분할된 데이터에 대한 테스트 분할 넘버를 생성하는 단계, d) 상기 생성된 테스트 모드 커맨드가 자동 테스트 모드 커맨드인 경우, 테스트 대상 넘버를 자동 생성하여 상기 데이터 분할 넘버와 비교하는 단계, 및, e) 상기 비교 결과, 상기 테스트 대상 넘버와 일치하는 상기 데이터 분할 넘버에 해당하는 테스트 데이터를 외부 동기 신호에 맞춰 쉬프트시켜, 쉬프트 결과값을 상기 헤드 컨트롤러로 출력하는 단계를 포함한다.
이 경우, 상기 헤드 컨트롤러는 테스트를 위해 상기 헤드칩에 전송한 테스트 데이터와 상기 쉬프트 결과값을 비교하여, 상기 테스트 데이터의 정상 수신 여부를 확인하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
한편, 상기 d) 단계는, 상기 생성된 테스트 모드 커맨드가 수동 테스트 모드 커맨드인 경우, 상기 테스트 모드 데이터에 포함된 테스트 대상 넘버 설정 커맨드에 의해 설정된 테스트 대상 넘버와 상기 데이터 분할 넘버를 비교하는 것이 보다 바람직하다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 보다 자세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 헤드칩의 구성을 나타내는 블럭도이다. 도 1을 참조하면, 본 헤드칩(100)은 데이터 포매터(110), 커맨드 생성부(120), 데이터 분할 넘버 생성부(130), 비교부(140) 및 쉬프트 레지스터(150)를 포함한다. 또한, 헤드칩(100)은 헤드 컨트롤러(200)와 연결된다.
데이터 포매터(110)는 헤드칩(100) 외부에 연결된 헤드 컨트롤러(200)로부터 테스트 모드 데이터 및 테스트 데이터를 수신한다. 이 경우, 테스트 모드 데이터는 비교부(140)의 테스트 모드를 설정하기 위한 데이터이며, 테스트 데이터는 실제 테스트를 위한 데이터가 될 수 있다. 한편, 데이터 포매터(110)는 수신된 테스트 모드 데이터를 커맨드 생성부(120)에 전송하고, 테스트 데이터를 데이터 분할 넘버 생성부(130) 및 쉬프트 레지스터(150)에 전송한다.
테스트 모드 데이터 및 테스트 데이터는 각각 50bit로 구성될 수 있으며, 헤드 컨트롤러(200)를 통해 인가되는 동기 신호에 맞춰 10bit 단위로 분할되어 데이터 포매터(110)에 수신된다. 이 경우, 각 데이터를 10bit 단위로 분할 수신하는 것은, 헤드칩(100)을 구성하는 구성 요소들의 레지스터가 10bit 데이터를 처리할 수 있는 용량을 가지기 때문이다. 이 경우, 각 데이터는 시리얼 데이터 전송 방식으로 헤드칩(100)에 수신되며, 동기신호는 시리얼 동기 신호 전송 방식으로 헤드칩(100)에 인가된다.
커맨드 생성부(120)는 데이터 포매터(110)로부터 테스트 모드 데이터를 전송받아 테스트 모드 데이터를 분석하여 테스트 모드 커맨드를 생성한다. 이 경우, 테스트 모드 커맨드란, 헤드칩(100)의 데이터 정상 수신을 테스트하기 위한 모드를 설정하기 위한 것으로, 자동 테스트 모드 커맨드 또는 수동 테스트 모드 커맨드가 있을 수 있다. 한편, 자동 테스트 모드 커맨드는 제조업자가 테스트를 위한 테스트 대상 넘버를 설정하지 않고, 테스트 대상 넘버를 자동 생성하여 수신되는 전체 데이터의 정상 수신 여부를 테스트하도록 하는 커맨드이다. 또한, 수동 테스트 모드 커맨드는 특정 테스트 대상 넘버를 설정하여 그에 대응되는 데이터에 대한 정상 수 신 여부를 테스트하도록 하는 커맨드가 될 수 있다. 따라서, 테스트 모드 데이터를 통해 수동 테스트 모드 커맨드가 생성되는 경우에는, 특정 데이터에 대한 테스트 대상 넘버 설정 커맨드가 동시에 생성될 수 있다.
한편, 데이터 분할 넘버 생성부(130)는 데이터 포매터(110)를 통해 동기 신호에 맞춰 10bit 단위로 수신되는 테스트 데이터에 대한 데이터 분할 넘버를 생성한다. 구체적으로, 데이터 분할 넘버 생성부(130)는 50bit의 테스트 데이터 중 1~10bit의 데이터를 1번, 11~20bit의 데이터를 2번, 21~30bit의 데이터를 3번, 31~40bit의 데이터를 4번, 41~50bit의 데이터를 5번으로 넘버링하여, 데이터 분할 넘버를 생성한다. 데이터 분할 넘버 생성부(130)는 각 bit 데이터에 대응되는 데이터 분할 넘버가 생성되면 비교부(140)로 전송한다. 한편, 헤드칩(100)의 각 구성요소의 레지스터 용량이 10bit 이상이 이상이라면, 그 용량에 맞게 분할되는 비트 단위를 조정할 수 있다.
비교부(140)는 커맨드 생성부(120)에서 생성된 테스트 모드 커맨드에 대응되는 비교 동작을 수행한다. 한편, 비교부(140)는 테스트 대상 넘버를 자동 생성하는 자동 테스트 대상 넘버 생성부(141)를 포함한다. 구체적으로, 자동 테스트 대상 넘버 생성부(141)는 커맨드 생성부(120)를 통해 생성된 커맨드가 자동 테스트 모드 커맨드인 경우, 테스트 대상이 되는 테스트 대상 넘버를 자동 생성한다. 이 경우, 자동 테스트 대상 넘버 생성부(141)는 50bit의 데이터 분할 넘버가 1~5번으로 생성되는 것을 고려하여, 3bit로 구성될 수 있다. 이에 따라, 자동 테스트 대상 넘버 생성부(141)는 23=8개의 테스트 대상 넘버를 생성할 수 있게 된다.
비교부(140)는 자동 테스트 대상 넘버 생성부(141)를 통해 테스트 대상 넘버가 자동 생성되면, 테스트 대상 넘버와 데이터 분할 넘버 생성부(130)에서 생성된 데이터 분할 넘버를 비교한다. 구체적으로, 비교부(140)는 1~8번의 테스트 대상 넘버와 1~5번의 데이터 분할 넘버를 대응되는 번호에 맞춰 순차적으로 로테이션하여 비교한다. 비교부(140)는 테스트 대상 넘버와 데이터 분할 넘버의 비교 결과 신호를 쉬프트 레지스터(150)에 전송한다. 즉, 비교부(140)는 1~5번에 대한 일치 신호를 쉬프트 레지스터(150)에 전송한다.
한편, 비교부(140)는 커맨드 생성부(120)를 통해 전송된 커맨드가 수동 테스트 모드 커맨드인 경우, 수동 테스트 모드에 따른 비교 동작을 수행한다. 구체적으로, 비교부(140)는 커맨드 생성부(120)를 통해 전송받은 수동 테스트 모드 커맨드 및 테스트 대상 넘버 설정 커맨드에 따라 특정 데이터에 대한 테스트 대상 넘버를 설정하고, 테스트 대상 넘버와 데이터 분할 넘버를 순차적으로 비교한다. 예를 들어, 테스트 대상 넘버 설정 커맨드에 따라 테스트 대상 넘버가 '1'로 설정된 경우, 데이터 분할 넘버 생성부(130)로부터 전송된 데이터 분할 넘버인 '1', '2', '3', '4', '5'와 순차적으로 비교한다. 이 경우, 데이터 분할 넘버 중 테스트 대상 넘버인 '1'과 일치하는 데이터 분할 넘버가 존재하면, '1'번에 대한 일치 신호를 쉬프트 레지스터(150)에 전송한다.
쉬프트 레지스터(150)는 비교부(140)를 통해 전송된 비교 결과 신호에 해당 하는 테스트 데이터를 데이터 포매터(110)를 통해 전송받은 후, 헤드 컨트롤러(200)를 통해 인가되는 외부 동기 신호에 맞춰 쉬프트시킨다. 구체적으로, 비교부(140)를 통해 전송된 비교 결과 신호가 1~5번에 대한 일치신호인 경우, 데이터 포매터(110)를 통해 데이터 분할 넘버 1~5번에 해당하는 테스트 데이터를 전송받는다. 결과적으로, 쉬프트 레지스터(150)는 50bit의 테스트 데이터 10bit씩 순차적으로 전송받아 외부 동기 신호에 맞춰 한 비트씩 쉬프트시킴으로써, 쉬프트 결과값을 헤드 컨트롤러(200)로 출력하게 된다.
한편, 쉬프트 레지스터(150)는 비교부(140)를 통해 '1'번에 대한 일치 신호가 전송되면, 데이터 포매터(110)를 통해 데이터 분할 넘버 '1'번에 해당하는 1~10bit의 테스트 데이터를 데이터 포매터(110)를 통해 전송받는다. 이에 따라, 쉬프트 레지스터(150)는 1~10bit의 테스트 데이터를 외부 동기 신호에 맞춰 한 비트씩 쉬프트시켜, 쉬프트 결과값을 헤드 컨트롤러(200)로 출력하게 된다. 이에 따라, 헤드 컨트롤러(200)는 테스트를 위해 헤드칩(100)에 전송한 1~10bit의 테스트 데이터와 쉬프트 레지스터(150)를 통해 입력된 쉬프트 결과값을 비교하여 일치하면, 헤드칩(100)가 데이터를 정상 수신하고 있음을 확인할 수 있게 된다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 모드 데이터의 구조를 나타내는 모식도이다. 도 2를 참조하면, 50bit의 테스트 모드 데이터가 10bit씩 정렬하여, 5개의 라인을 형성한다. 테스트 모드 데이터의 첫번째 라인의 두번째 bit에서 다섯번째 bit의 4bit 영역에는 테스트 모드 커맨드를 생성하기 위한 데이터가 포함되어 있다. 헤드칩(100)의 커맨드 생성부(120)는 테스트 모드 데이터의 첫번째 라인의 두번째 bit에서 다섯번째 bit의 4bit 영역의 데이터를 분석하여 4 bit의 데이터가 '0011'일 경우에는 자동 테스트 모드 커맨드를 생성하고, '0010'일 경우에는 수동 테스트 모드 커맨드를 생성하게 된다. 또한, 4bit 영역의 데이터 분석 결과, 수동 테스트 모드 커맨드가 생성되는 경우, 그 다음 라인인 두번째 라인의 여덟번째 bit의 데이터를 분석하여 테스트 대상 넘버를 설정하기 위한 테스트 대상 넘버 설정 커맨드를 생성하게 된다.
한편, 도 2에 도시된 테스트 모드 데이터의 구조는 본 발명의 이해를 돕기 위한 일 실시예에 불과한 것으로, 테스트 모드 데이터에서 테스트 모드 커맨드를 생성하기 위한 데이터 영역의 위치 및 테스트 대상 넘버 설정 커맨드를 생성하기 위한 데이터 영역의 위치, 데이터 내용 및 bit 수는 테스트 모드 데이터의 설계에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 헤드칩의 데이터 정상 수신 테스트 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 3을 참조하면, 헤드칩(100)은 헤드 컨트롤러(200)로부터 테스트 모드 데이터 및 테스트 데이터를 수신한다(S310). 이 경우, 각 데이터는 50bit 단위의 데이터가 될 수 있다. 또한, 각 데이터가 헤드칩(100)에 수신되는 경우, 헤드 컨트롤러(200)를 통해 인가되는 동기 신호에 맞춰 10bit 단위로 분할되어 수신될 수 있다.
다음, 헤드칩(100)은 수신된 테스트 모드 데이터를 분석하여 테스트 모드 커맨드를 생성한다(S320). 구체적으로, 50bit 테스트 모드 테이터의 소정 위치에 포함된 4bit 데이터를 분석하여 테스트 모드 커맨드를 생성할 수 있게 된다. 이 경 우, 생성되는 테스트 모드 커맨드에는 자동 테스트 모드 커맨드 및 수동 테스트 모드 커맨드가 있을 수 있다. 한편, 테스트 모드 데이터 분석을 통해 수동 테스트 모드 커맨드가 생성되는 경우, 특정 데이터에 대한 테스트 대상 넘버 설정 커맨드가 동시에 생성될 수 있다.
이후, 헤드칩(100)은 수신된 테스트 데이터에 대한 데이터 분할 넘버를 생성한다(S330). 구체적으로, 헤드칩(100)의 데이터 분할 넘버 생성부(130)는 동기 신호에 맞춰 10bit 단위로 분할되어 수신되는 테스트 데이터에 대한 데이터 분할 넘버를 생성한다. 50bit의 테스트 데이터 중 1~10bit의 데이터를 1번, 11~20bit의 데이터를 2번, 21~30bit의 데이터를 3번, 31~40bit의 데이터를 4번, 41~50bit의 데이터를 5번으로 넘버링하여, 데이터 분할 넘버를 생성한다.
한편, 헤드칩(100)은 S320 단계에서 생성된 테스트 모드 커맨드가 자동 테스트 모드 커맨드인지 수동 테스트 모드 커맨드인지를 확인하여(S340), 자동 테스트 모드 커맨드일 경우, 테스트 대상 넘버를 자동 생성한다(S350). 구체적으로, 테스트 대상 넘버란, 데이터 분할 넘버와 비교함으로써 테스트를 위한 테스트 데이터를 설정해주기 위한 것이다. 이 경우, 헤드칩(100)은 50bit의 테스트 데이터에 대한 데이터 분할 넘버가 1~5번으로 생성되는 것을 고려하여, 3bit로 구성된 자동 데이터 대상 넘버 생성부(141)을 통해 1~8번의 테스트 대상 넘버를 생성한다.
한편, 헤드칩(100)은 자동 생성된 테스트 대상 넘버와 S330단계를 통해 생성된 데이터 분할 넘버를 비교한다(S360). 구체적으로, 1~8번의 테스트 대상 넘버와 1~5번의 데이터 분할 넘버를 대응되는 번호에 맞춰 순차적으로 비교한다. 비교 결 과, 테스트 대상 넘버와 일치하는 데이터 분할 넘버가 있을 경우, 일치하는 데이터 분할 넘버에 대한 신호를 쉬프트 레지스터(150)에 전송한다. 즉, 비교 결과, 1~5번이 일치하는 경우, 1~5번에 대한 일치 신호를 쉬프트 레지스터(150)에 전송하게 된다.
이 후, 헤드칩(100)은 비교 결과 신호에 해당하는 테스트 데이터를 외부 동기 신호에 맞춰 쉬프트시킴으로써, 쉬프트 결과값을 헤드 컨트롤러(200)로 출력하게 된다(S370). 구체적으로, 비교 결과 신호가 1~5번에 대한 일치 신호인 경우, 데이터 분할 넘버 1~5번에 해당하는 테스트 데이터, 즉, 50bit의 테스트 데이터를 10bit 단위로 데이터 포매터(110)를 통해 수신하여 외부 동기 신호에 맞춰 한 비트씩 쉬프트시킴으로써, 쉬프트 결과값을 출력할 수 있게 된다. 이에 따라, 헤드 컨트롤러(200)는 테스트를 위해 헤드칩(100)에 전송한 테스트 데이터와 헤드칩(100)을 통해 입력된 쉬프트 결과값을 비교함으로써, 데이터 정상 수신 여부를 확인할 수 있게 된다.
한편, 헤드칩(100)은 S320 단계에서 생성된 테스트 모드 커맨드가 자동 테스트 모드 커맨드인지 수동 테스트 모드 커맨드인지를 확인하여(S340), 수동 테스트 모드 커맨드일 경우, 특정 데이터에 대한 테스트 대상 넘버를 설정한다(S380). 이 경우, 특정 데이터에 대한 테스트 대상 넘버는 테스트 모드 데이터를 분석하여 생성된 테스트 대상 넘버 설정 커맨드에 의해 설정될 수 있다.
이 후, 헤드칩(100)은 설정된 테스트 대상 넘버와 S330 단계를 통해 생성된 데이터 분할 넘버를 비교한다(S390). 만약, 테스트 대상 넘버가 '1'로 설정된 경 우, 테스트 대상 넘버 '1'과 데이터 분할 넘버 '1~5'를 순차적으로 비교하여, 비교 결과 신호를 쉬프트 레지스터(150)에 전송한다.
다음, 헤드칩(100)은 비교 결과 신호에 대응되는 테스트 데이터를 수신하여 외부 동기 신호에 맞춰 쉬프트시킴으로써, 쉬프트 결과값을 헤드 컨트롤러(200)로 출력한다(S370). 구체적으로, 비교 결과 신호가 '1'번에 대한 일치 신호인 경우, 데이터 분할 넘버 '1'에 해당하는 1~10bit의 테스트 데이터를 데이터 포매터(110)를 통해 전송받는다. 이에 따라, 쉬프트 레지스터(150)는 1~10bit의 테스트 데이터를 외부 동기 신호에 맞춰 한 비트씩 쉬프트시켜 쉬프트 결과값을 헤드 컨트롤러(200)로 출력하게 된다. 이에 따라, 헤드 컨트롤러(200)는 테스트를 위해 헤드칩(100)에 전송한 테스트 데이터와 헤드칩(100)를 통해 입력된 쉬프트 결과값을 비교함으로써, 데이터 정상 수신 여부를 확인할 수 있게 된다. 이와 같은 헤드칩 테스트 방법을 이용하여, 테스트 대상 넘버를 자동 생성함으로써, 헤드칩 테스트 작업에 소요되는 시간을 단축할 수 있게 된다.
이상 설명한 바와 같이 본 발명에 따르면, 테스트를 위한 테스트 대상 넘버를 자동 생성함으로써, 테스트 대상 넘버 설정 및 테스트 데이터의 반복적인 수신이 불필요하게 되어 데이터의 정상 수신 확인 작업에 소요되는 시간을 감소시킬 수 있게 된다.
또한, 제조업자가 테스트 대상 넘버를 일일이 설정할 필요가 없게 되므로 헤드칩 테스트를 보다 용이하게 수행할 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대해서 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.

Claims (5)

  1. 헤드 컨트롤러와 연결된 헤드칩에 있어서,
    상기 헤드 컨트롤러로부터 테스트 모드 데이터 및 테스트 데이터를 수신하는 데이터 포매터;
    상기 테스트 모드 데이터를 분석하여, 테스트 모드 커맨드를 생성하는 커맨드 생성부;
    상기 테스트 데이터를 소정 단위로 분할하여, 분할된 데이터에 대한 데이터 분할 넘버를 생성하는 데이터 분할 넘버 생성부;
    상기 커맨드 생성부를 통해 생성된 테스트 모드 커맨드가 자동 테스트 모드 커맨드인 경우, 테스트 대상 넘버를 자동 생성하여 상기 데이터 분할 넘버 생성부에서 생성된 데이터 분할 넘버와 비교하는 비교부; 및,
    상기 비교부의 비교 결과, 상기 테스트 대상 넘버와 일치하는 상기 데이터 분할 넘버에 해당하는 테스트 데이터를 상기 데이터 포매터로부터 수신하여 외부 동기 신호에 맞춰 쉬프트시켜 쉬프트 결과값을 상기 헤드 컨트롤러로 출력하는 쉬프트 레지스터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 헤드칩.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 비교부는,
    상기 커맨드 생성부를 통해 생성된 테스트 모드 커맨드가 수동 테스트 모드 커맨드인 경우, 상기 테스트 모드 데이터에 포함된 테스트 대상 넘버 설정 커맨드에 의해 설정된 테스트 대상 넘버와 상기 데이터 분할 넘버 생성부에서 생성된 데이터 분할 넘버를 비교하는 것을 특징으로 하는 헤드칩.
  3. 헤드 컨트롤러와 연결된 헤드칩의 테스트 방법에 있어서,
    a) 상기 헤드 컨트롤러로부터 테스트 모드 데이터 및 테스트 데이터를 수신하는 단계;
    b) 상기 테스트 모드 데이터를 분석하여, 테스트 모드 커맨드를 생성하는 단계;
    c) 상기 테스트 데이터를 소정 단위로 분할하여, 분할된 데이터에 대한 테스트 분할 넘버를 생성하는 단계;
    d) 상기 생성된 테스트 모드 커맨드가 자동 테스트 모드 커맨드인 경우, 테스트 대상 넘버를 자동 생성하여 상기 데이터 분할 넘버와 비교하는 단계; 및,
    e) 상기 비교 결과, 상기 테스트 대상 넘버와 일치하는 상기 데이터 분할 넘버에 해당하는 테스트 데이터를 외부 동기 신호에 맞춰 쉬프트시켜, 쉬프트 결과값을 상기 헤드 컨트롤러로 출력하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 헤드칩 테스트 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 헤드 컨트롤러는 테스트를 위해 상기 헤드칩에 전송한 테스트 데이터와 상기 쉬프트 결과값을 비교하여, 상기 테스트 데이터의 정상 수신 여부를 확인하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 헤드칩 테스트 방법.
  5. 제3항 또는 제4항에 있어서,
    상기 d) 단계는,
    상기 생성된 테스트 모드 커맨드가 수동 테스트 모드 커맨드인 경우, 상기 테스트 모드 데이터에 포함된 테스트 대상 넘버 설정 커맨드에 의해 설정된 테스트 대상 넘버와 상기 데이터 분할 넘버를 비교하는 것을 특징으로 하는 헤드칩 테스트 방법.
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