KR20080029444A - Handler for testing electronic parts - Google Patents

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Abstract

A handler for testing electronic components is provided to reduce total weight and a driving load of a linear driving unit by reducing the weight of a picker. A loading unit(110) loads a plurality of electronic components from a customer tray to a test tray. An unloading init unloads the tested electronic components from the test tray to the customer tray. A test unit(140) tests the electronic components. One or more pickers(160) transfer the electronic components between the test tray and the customer tray. At least, one of the pickers is a rotary picker including a rotary block and a plurality of nozzles. The rotary block is arranged in one direction by a linear driving unit, in order to perform a reciprocating motion. The rotary block is rotated by using a rotation driving unit. The nozzles are arranged on a circumference of a lower side of the rotary block and are elevated by using an elevation driving unit, in order to attach or detach the electronic components.

Description

전자부품 테스트용 핸들러{Handler for testing electronic parts}Handler for testing electronic parts

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개략적인 구성도. 1 is a schematic block diagram of a handler for testing an electronic component according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 있어서, 제1 픽커를 도시한 사시도. FIG. 2 is a perspective view of the first picker of FIG. 1. FIG.

도 3은 도 2에 대한 저면도. 3 is a bottom view of FIG. 2.

도 4a 내지 도 4d는 도 2에 도시된 제1 픽커에 의해 전자부품들을 픽업하고 이송하는 과정을 설명하기 위한 도면. 4A to 4D are views for explaining a process of picking up and transferring electronic components by the first picker shown in FIG.

〈도면의 주요 부호에 대한 간단한 설명〉<Brief description of the major symbols in the drawings>

110..로딩부 120..언로딩부110. Loading part 120. Unloading part

130..교환부 140..테스트부130. Exchange 140. Test

160..픽커 170a..제1 픽커160..Picker 170a..First Picker

172..회전 블록 173..회전 구동기구172. Rotating block 173. Rotation drive mechanism

174..노즐 C1..제1 고객용 트레이174..Nozzle C1..1st Customer Tray

C2..제2 고객용 트레이 T.테스트 트레이C2 .. 2nd Customer Tray T. Test Tray

E..전자부품E..Electronic Components

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 고객용 트레이와 테스트 트레이 간에 전자부품들을 픽업하고 이송하는 픽커의 구조가 개선된 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다. The present invention relates to an electronic component test handler, and more particularly, to an electronic component test handler having an improved structure of a picker for picking up and transferring electronic components between a customer tray and a test tray.

일반적으로, 메모리나 비메모리 반도체 소자 등의 디바이스(device)와, 상기 디바이스들을 하나의 기판 상에 적절히 구성한 모듈을 포함하는 전자부품들은 생산 후 여러 가지 테스트를 거친 후에 출하된다. 이러한 테스트는 핸들러에 의하여 행해지는 것이 통상적이다. In general, electronic components including a device such as a memory or a non-memory semiconductor element and a module having the devices properly configured on one substrate are shipped after various tests after production. Such testing is typically done by a handler.

핸들러는 테스트할 전자부품들을 로딩부로부터 흡착한 후에 이동시켜, 상기 전자부품들을 테스트 트레이에 수납하고, 테스트 트레이에 수납된 전자부품을 테스트부에서 테스트한다. 그리고, 핸들러는 테스트 완료된 전자부품을 수납한 테스트 트레이로부터 전자부품들을 흡착한 후에 이동시켜 언로딩부에 수납하고, 테스트한 결과에 따라 그 등급에 맞추어 분류한다. The handler moves the electronic components to be tested from the loading unit and then moves them to receive the electronic components in the test tray and test the electronic components stored in the test tray in the test unit. Then, the handler absorbs the electronic components from the test tray containing the tested electronic components, moves the electronic components and stores them in the unloading unit, and classifies them according to the grades according to the test results.

이와 같은 핸들러에는 전자부품들을 픽업하고 소정 위치로 이송하기 위해, 전자부품을 흡착 및 탈착하는 노즐을 다수 개 구비한 픽커(picker)가 마련된다. 예컨대, 픽커는 테스트할 전자부품들을 고객용 트레이로부터 흡착하여 픽업한 후에 테스트 트레이로 이동하여 테스트 트레이에 장착하거나, 테스트 완료된 전자부품들을 테스트 트레이로부터 흡착하여 픽업한 후에 고객용 트레이로 이동하여 고객용 트레이로 장착하는 작업을 수행한다. Such a handler is provided with a picker having a plurality of nozzles for attracting and detaching the electronic components to pick up and transfer the electronic components to a predetermined position. For example, the picker picks up electronic components to be tested from the customer tray and picks them up, moves them to the test tray and mounts them on the test tray, or picks up the tested electronic components from the test tray, and then picks up the electronic components to be tested. Carry out the tray mounting.

이러한 픽커에 의해 전자부품을 이송함에 있어서, 고객용 트레이의 전자부품 장착 간격이 테스트 트레이의 전자부품 장착 간격과 동일하지 않은 경우가 일반적이다. 그리고, 테스트 트레이의 전자부품 장착 간격을 일정한데 반해, 고객용 트레이가 다양한 종류로 이루어짐으로 인해 고객용 트레이의 전자부품 장착 간격은 종류별로 달라지는 경우가 있다. 따라서, 종래에 따르면, 픽커에는 전자부품들을 흡착 및 탈착하는 노즐들 사이의 간격을 테스트 트레이의 전자부품 장착 간격으로 조절할 수 있게 간격조절 수단이 마련된 예가 있다. In transferring electronic components by such pickers, it is common that the electronic component mounting interval of the customer tray is not the same as the electronic component mounting interval of the test tray. In addition, while the electronic component mounting intervals of the test trays are constant, the electronic component mounting intervals of the customer trays may vary depending on the type because the customer trays are made of various types. Therefore, according to the related art, there is an example in which the interval adjusting means is provided in the picker so as to adjust the interval between nozzles for adsorption and desorption of electronic components to the electronic component mounting interval of the test tray.

그런데, 전술한 바와 같이 픽커에 간격조절 수단이 마련되면, 픽커의 부피와 무게가 증가함에 따라, 핸들러 전체의 부피와 중량 또한 커질 수 있다. 게다가, 픽커를 x축 및/또는 y축으로 이동시키는 액추에이터의 구동 부하가 커질 수 있으며, 픽커의 이송 속도를 높이는데 한계가 있을 수 있다. However, as described above, when the interval adjusting means is provided in the picker, as the volume and weight of the picker increase, the volume and weight of the entire handler may also increase. In addition, the driving load of the actuator for moving the picker to the x-axis and / or y-axis may be large, and there may be a limit to increasing the picker's feed rate.

또한, 예를 들어 로딩부와 테스트부 사이에 교환부가 더 마련되어 픽커가 로딩부와 교환부 사이를 이동하는 경우, 상기 픽커가 로딩부에서 한번 하강하여 전자부품을 흡착한 후에 교환부로 이동하여 탈착하고, 다시 상기 단계를 되풀이하게 되는데, 고객용 트레이당 담겨있는 전자부품의 간격 및 수량이 다양함에 따라 이송하는 전자부품의 양이 변경될 수 있으며, 이로 인하여 UPH(unit per hour)가 일정하지 않게 된다. 이는 결과적으로 전자부품 변경에 따른 생산량 예측이 어려워진다는 문제점이 있다. In addition, for example, when the picker is further provided between the loading unit and the test unit, and the picker moves between the loading unit and the exchange unit, the picker descends once from the loading unit to adsorb the electronic component, and then moves to the exchange unit and detaches it. In addition, the above steps are repeated, and the amount of electronic parts to be transferred may change according to various intervals and quantities of the electronic parts contained in the customer trays, and thus the unit per hour (UPH) is not constant. . As a result, there is a problem that it is difficult to predict the amount of production due to the change of electronic components.

본 발명은 상기한 문제를 해결하기 위한 것으로, 로딩부 및 언로딩부로 공급된 고객용 트레이의 전자부품 장착 간격 및 수량이 달라지더라도 UPH에 대한 영향 이 적을 뿐 아니라, 고객용 트레이와 테스트 트레이의 전자부품 장착 간격이 각각 다른 경우에도 전자부품들을 정확하게 픽업하고 이송할 수 있는 전자부품 테스트용 핸들러를 제공함에 그 목적이 있다. The present invention is to solve the above problems, even if the electronic component mounting interval and the number of the customer tray supplied to the loading and unloading unit is different, the impact on the UPH is less, and the customer tray and the test tray It is an object of the present invention to provide a handler for testing electronic components that can accurately pick up and transport electronic components even when electronic component mounting intervals are different.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는, 테스트할 복수의 전자부품들을 고객용 트레이로부터 테스트 트레이로 로딩하는 로딩부; 테스트 완료된 전자부품들을 테스트 트레이로부터 고객용 트레이로 언로딩하는 언로딩부; 전자부품을 테스트하는 테스트부; 및 상기 고객용 트레이와 테스트 트레이 사이에 전자부품들을 이송하는 적어도 하나의 픽커를 구비하는 것으로, 상기 픽커 중 적어도 하나는, 선형 구동기구에 의해 적어도 일 방향으로 왕복 가능하게 배치되며 회전 구동기구에 의해 회전 가능하게 된 회전 블록, 및 상기 회전 블록의 하측에 원주 상으로 배열되고 승강 구동기구에 의해 승강 가능하게 되며 전자부품들을 흡착 및 탈착하는 다수의 노즐들을 구비하는 로터리형 픽커인 것을 특징으로 한다. An electronic component test handler according to the present invention for achieving the above object, the loading unit for loading a plurality of electronic components to be tested from the customer tray to the test tray; An unloading unit which unloads the tested electronic components from the test tray to the customer tray; A test unit for testing an electronic component; And at least one picker for transferring electronic components between the customer tray and the test tray, wherein at least one of the pickers is reciprocally disposed in at least one direction by a linear driving mechanism and is rotated by a rotation driving mechanism. And a rotary picker having a rotatable rotary block, and a plurality of nozzles arranged circumferentially on the lower side of the rotary block and being liftable by an elevating drive mechanism and adsorbing and detaching electronic components.

여기서, 상기 승강 구동기구는 상기 노즐들을 각각 독립적으로 승강시킬 수 있게 된 것이 바람직하다.Here, it is preferable that the lift drive mechanism can lift the nozzles independently.

이하 첨부된 도면을 참조하여, 바람직한 실시예에 따른 본 발명을 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개략 적인 구성도이다. 1 is a schematic diagram of a handler for an electronic component test according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러(100)는, 메모리나 비메모리 반도체 소자 등의 전자부품(E, 도 4a 참조)을 테스트하는 것으로, 로딩부(110)를 구비한다. Referring to FIG. 1, the handler 100 for testing an electronic component according to an exemplary embodiment of the present invention tests an electronic component (such as E or FIG. 4A) such as a memory or a non-memory semiconductor device, and the loading unit 110. ).

로딩부(110)는 핸들러(100)의 전방부에 배치되며, 여기에는 테스트할 전자부품(E)들이 다수 개 수납되어 있는 제1 고객용 트레이(C1)들이 적재된다. The loading unit 110 is disposed at the front of the handler 100, in which the first customer trays C1 in which a plurality of electronic components E to be tested are stored are loaded.

이러한 로딩부(110)의 일 측에는 언로딩부(120)가 배치된다. 언로딩부(120)에는 테스트 완료된 전자부품(E)들이 테스트 결과에 따라 분류되어 제2 고객용 트레이(C2)에 수납된다. 한편, 상기 제2 고객용 트레이(C2)는 제1 고객용 트레이(C1)와 별도로 마련되거나, 로딩부(110)에서 전자부품(E)들이 인출됨에 따라 빈 상태에 있는 제1 고객용 트레이(C1)에 해당할 수도 있다. The unloading unit 120 is disposed at one side of the loading unit 110. In the unloading unit 120, the tested electronic components E are classified according to the test result and stored in the second customer tray C2. On the other hand, the second customer tray (C2) is provided separately from the first customer tray (C1), or the first customer tray in the empty state as the electronic component (E) is drawn out from the loading unit 110 ( It may also correspond to C1).

상기 로딩부(110) 및 언로딩부(120)의 후방, 즉 핸들러(100)의 중앙부에는 교환부(130)가 배치될 수 있다. 교환부(130)에는 이동 가능하게 된 테스트 트레이(T)가 위치한다. 상기 교환부(130)에서는, 테스트할 전자부품(E)을 로딩부(110)의 제1 고객용 트레이(C1)로부터 공급받아서 테스트 트레이(T)에 장착하는 작업과, 테스트 완료된 전자부품(E)을 테스트 트레이(T)로부터 분리하여 언로딩부(120)의 제2 고객용 트레이(C2)로 반출하는 작업이 이루어지게 된다. The exchanger 130 may be disposed at the rear of the loading unit 110 and the unloading unit 120, that is, the central portion of the handler 100. In the exchange unit 130, a test tray T that is movable is located. In the exchange unit 130, the electronic component E to be tested is supplied from the first customer tray C1 of the loading unit 110 and mounted on the test tray T, and the tested electronic component E is completed. ) Is removed from the test tray T and carried out to the second customer tray C2 of the unloading unit 120.

한편, 상기 교환부(130)는 생략되는 것도 가능하다. 이 경우 테스트 트레이(T)는 로딩부(110)와 언로딩부(120)에 각각 위치할 수 있다. 그리고, 로딩부(110)는 테스트할 복수의 전자부품들을 제1 고객용 트레이(C1)로부터 테스트 트 레이(T)로 로딩하게 되며, 언로딩부(120)는 테스트 완료된 전자부품들을 제2 고객용 트레이(C2)로부터 테스트 트레이(T)로 언로딩하게 된다. 이 경우에 있어서도, 상기 제2 고객용 트레이(C2)는 제1 고객용 트레이(C1)와 별도로 마련되거나, 로딩부(110)에서 전자부품(E)들이 인출됨에 따라 빈 상태에 있는 제1 고객용 트레이(C1)에 해당할 수도 있다. On the other hand, the exchange unit 130 may be omitted. In this case, the test tray T may be located in the loading unit 110 and the unloading unit 120, respectively. The loading unit 110 loads a plurality of electronic components to be tested from the first customer tray C1 to the test tray T, and the unloading unit 120 loads the tested electronic components to the second customer. It is unloaded from the tray C2 to the test tray T. In this case, the second customer tray C2 is provided separately from the first customer tray C1 or the first customer who is in an empty state as the electronic components E are drawn out from the loading unit 110. It may correspond to the tray C1.

이러한 교환부(130)의 일 측, 도시된 바에 따르면 핸들러(100)의 후방부에는 테스트부(140)가 마련된다. 테스트부(140)에서는 테스트할 전자부품(E)이 장착된 테스트 트레이(T)를 교환부(130)로부터 공급받아서 전자부품(E)을 외부의 테스트 장비(미도시)에 의해 테스트할 수 있게 한다. One side of the exchange unit 130, as shown, the test unit 140 is provided at the rear of the handler 100. The test unit 140 receives the test tray T on which the electronic component E to be tested is mounted from the exchange unit 130 so that the electronic component E can be tested by an external test equipment (not shown). do.

이를 위해, 테스트부(140)는 외부의 테스트 장치와 전기적으로 연결된 다수의 테스트 소켓을 구비한 테스트 보드(141)와, 상기 테스트 보드(141)에 대해 테스트 트레이(T)를 가압하여 전자부품과 테스트 소켓 사이를 접속시킬 수 있게 테스트 트레이(T)를 전,후진 이동시키는 접속 수단(142)을 포함하여 구성될 수 있다. 한편, 상기 테스트부(140)는 상온 상태에서의 일반적인 성능 테스트뿐만 아니라, 고온 및 저온의 극한 온도 조건에서도 전자부품(E)이 정상적인 기능을 수행할 수 있는가를 테스트할 수 있도록 구성될 수 있다. To this end, the test unit 140 and the test board 141 having a plurality of test sockets electrically connected to an external test device, and press the test tray (T) against the test board 141 and the electronic components and It may be configured to include a connecting means 142 for moving the test tray (T) forward and backward so as to connect between the test socket. On the other hand, the test unit 140 may be configured to test whether the electronic component (E) can perform a normal function in the extreme temperature conditions of high temperature and low temperature, as well as the general performance test at room temperature.

이러한 테스트부(140)와 교환부(130) 간에 테스트 트레이(T)를 이송하기 위해, 트레이 이송유닛(150)이 마련된다. 여기서, 트레이 이송유닛(150)은 제1 트레이 이송유닛(151)과, 제2 트레이 이송유닛(152)을 구비할 수 있다. In order to transfer the test tray T between the test unit 140 and the exchange unit 130, a tray transfer unit 150 is provided. Here, the tray transfer unit 150 may include a first tray transfer unit 151 and a second tray transfer unit 152.

제1 트레이 이송유닛(151)은 교환부(130)로부터 공급된 테스트 트레이(T)를 테스트부(140)의 전방에서 x축 방향으로 이송시키며, 제2 트레이 이송유닛(152)은 테스트부(140)의 후방에서 x축 방향으로 이송시킨다. 이러한 제1,2 트레이 이송유닛(151)(152)은 통상적인 리니어 액추에이터를 포함하여 구성될 수 있다. The first tray transfer unit 151 transfers the test tray T supplied from the exchange unit 130 in the x-axis direction from the front of the test unit 140, and the second tray transfer unit 152 includes a test unit ( At the rear of 140) in the x-axis direction. The first and second tray transfer units 151 and 152 may include a conventional linear actuator.

상기 테스트 트레이(T)는 수평, 또는 수직 상태를 포함하여 여러 상태에서 테스트받을 수 있다. 예를 들어, 상기 테스트 트레이가 수직 상태에서 테스트받는다면, 상기 트레이 이송유닛(150)은 교환부(130)와 테스트부(140) 간에 테스트 트레이(T)가 이송되기 전에 테스트 트레이(T)를 90°의 각도 범위로 왕복 회동시키기 위한 로테이터(153)를 더 구비할 수 있다. 로테이터(153)는 테스트부(140)에서 테스트 트레이(T)가 수직으로 세워진 상태로 전자부품(E)이 테스트를 받는 경우, 교환부(130)에서 수평 상태로 놓인 테스트 트레이(T)를 수직 상태로 회전시켜 테스트부(140)로 이송할 수 있게 하며, 테스트부(140)에서 수직 상태로 놓인 테스트 트레이(T)를 다시 수평 상태로 회전시켜 교환부(130)로 이송할 수 있게 한다. The test tray T may be tested in various states, including a horizontal or vertical state. For example, if the test tray is tested in a vertical state, the tray transfer unit 150 moves the test tray T before the test tray T is transferred between the exchanger 130 and the test unit 140. The rotator 153 may be further provided to reciprocate in an angle range of 90 °. When the electronic component E is tested with the test tray T standing vertically in the test unit 140, the rotator 153 vertically moves the test tray T placed in a horizontal state in the exchange unit 130. It can be rotated in a state to be transferred to the test unit 140, and the test tray T placed in a vertical state in the test unit 140 can be rotated to a horizontal state again to be transferred to the exchange unit 130.

한편, 로딩부(110)와 교환부(130) 사이와 언로딩부(120)와 교환부(130) 사이에 전자부품(E)을 이송하고 테스트 트레이(T), 제1 고객용 트레이(C1), 및 제2 고객용 트레이(C2)에 전자부품(E)을 장착 및 분리하기 위하여, 픽커(160)가 마련된다. 픽커(160)는 핸들러(100)의 전방부 상측에 설치된 제1 픽커(170a) 및 제2 픽커(170b)를 포함하여 구성될 수 있다. Meanwhile, the electronic component E is transferred between the loading unit 110 and the exchange unit 130, and between the unloading unit 120 and the exchange unit 130, and the test tray T and the first customer tray C1. ), And a picker 160 is provided to mount and detach the electronic component E in the second customer tray C2. The picker 160 may include a first picker 170a and a second picker 170b installed above the front portion of the handler 100.

제1 픽커(170a)는 로딩부(110)와 교환부(130) 사이를 적어도 일 방향으로 왕복하면서 전자부품(E)을 픽업하여 이송한다. 그리고, 제2 픽커(170b)는 언로딩부(120)와 교환부(130) 사이를 적어도 일 방향으로 왕복하면서 전자부품(E)을 픽업 하여 이송한다. The first picker 170a picks up and transfers the electronic component E while reciprocating between the loading unit 110 and the exchange unit 130 in at least one direction. The second picker 170b picks up and transfers the electronic component E while reciprocating between the unloading unit 120 and the exchange unit 130 in at least one direction.

만일, 교환부(130)의 양측에 로딩측 버퍼부(131)와 언로딩측 버퍼부(132)가 더 마련된 경우, 제1 픽커(170a)는 로딩부(110)와 로딩측 버퍼부(131) 사이를 왕복하면서 전자부품(E)을 픽업하여 이송할 수 있으며, 제2 픽커(170b)는 언로딩부(120)와 언로딩측 버퍼부(132) 사이를 왕복하면서 전자부품(E)을 픽업하여 이송할 수 있다. 상기 버퍼부들(131)(132)은 작업 효율을 높이기 위해 전자부품(E)이 일시적으로 대기할 수 있게 한다. If the loading side buffer unit 131 and the unloading side buffer unit 132 are further provided on both sides of the exchange unit 130, the first picker 170a may include the loading unit 110 and the loading side buffer unit 131. The electronic component E may be picked up and transported while reciprocating between the two parts, and the second picker 170b may move the electronic component E while reciprocating between the unloading part 120 and the unloading side buffer part 132. Can be picked up and transported The buffer parts 131 and 132 allow the electronic component E to temporarily wait to increase work efficiency.

이와 같이 버퍼부들(131)(132)이 더 마련된 경우, 픽커(160)는 제3 픽커(170c) 및 제4 픽커(170d)를 더 구비할 수 있다. 제3 픽커(170c)는 로딩측 버퍼부(131)와 교환부(130) 사이를 왕복하면서 전자부품을 픽업하여 이송하며, 제4 픽커(170d)는 언로딩측 버퍼부(132)와 교환부(130) 사이를 왕복하면서 전자부품을 픽업하여 이송한다. As described above, when the buffer units 131 and 132 are further provided, the picker 160 may further include a third picker 170c and a fourth picker 170d. The third picker 170c picks up and transfers the electronic components while reciprocating between the loading side buffer unit 131 and the exchange unit 130, and the fourth picker 170d exchanges the unloading side buffer unit 132 with the exchange unit. The electronic components are picked up and transferred while reciprocating between the 130.

상기 제1,2,3,4 픽커(170a)(170b)(170c)(170d)를 왕복시키는 선형 구동기구는 제1,2 y축 겐트리(gantry)(161)(162)와 제1,2 x축 겐트리(163)(164)를 구비할 수 있다. 제1,2 y축 겐트리(161)(162)는 핸들러(100)의 양측에서 제1x축 겐트리(163)를 y축 방향으로 왕복 이동시킬 수 있게 구성된다. 이와 더불어, 제1,2 y축 겐트리(161)(162)는 핸들러(100)의 양측에서 제2x축 겐트리(164)를 y축 방향으로 왕복 이동시킬 수 있게 구성될 수도 있다. The linear drive mechanism for reciprocating the first, second, third and fourth pickers 170a, 170b, 170c, and 170d includes first and second y-axis gantry 161, 162 and first, 2 x-axis gantry 163 and 164 may be provided. The first and second y-axis gantry 161 and 162 may be configured to reciprocate the first x-axis gantry 163 in the y-axis direction at both sides of the handler 100. In addition, the first and second y-axis gantry 161 and 162 may be configured to reciprocate the second x-axis gantry 164 in the y-axis direction at both sides of the handler 100.

그리고, 제1 x축 겐트리(163)는 제1,2 픽커(170a)(170b)를 x축 방향으로 독립적으로 왕복 이동시킬 수 있게 구성되며, 제2 x축 겐트리(164)는 제3,4 픽 커(170c)(170d)를 x축 방향으로 독립적으로 왕복 이동시킬 수 있게 구성된다. 한편, 제1,2 고객용 트레이(C1)(C2)나 테스트 트레이(T)가 x축 또는 y축으로 이동가능하게 구성된 경우, 제1,2,3,4 픽커(170a)(170b)(170c)(170d)는 x축 또는 y축으로만 이동가능하게 구성될 수 있으므로, 전술한 바에 반드시 한정되지는 않는다. The first x-axis gantry 163 may be configured to independently reciprocate the first and second pickers 170a and 170b in the x-axis direction, and the second x-axis gantry 164 may include a third 4 pickers 170c and 170d can be independently reciprocated in the x-axis direction. On the other hand, when the first and second customer trays C1 and C2 or the test tray T are configured to be movable on the x-axis or the y-axis, the first, second, third and fourth pickers 170a and 170b ( 170c) and 170d may be configured to be movable only on the x-axis or the y-axis, and are not necessarily limited to the above.

본 실시예에 따르면, 제1 픽커(170a)는 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이 구성될 수 있다. 도 2 및 도 3을 참조하면, 제1 픽커(170a)는 회전 블록(172), 및 다수의 노즐(174)들을 구비한다. 이와 더불어 상기 제1 픽커(170a)는 베이스 블록(171)을 더 구비할 수 있다.According to the present embodiment, the first picker 170a may be configured as shown in FIGS. 2 and 3. 2 and 3, the first picker 170a includes a rotating block 172 and a plurality of nozzles 174. In addition, the first picker 170a may further include a base block 171.

회전 블록(172)은 회전 구동기구(173)에 의해 회전 가능하게 됨으로써, 노즐(174)들 전체를 회전시킬 수 있게 한다. 또한, 상기 회전 블록(172)는 상기 선형 구동기구를 따라서 하나의 방향으로 이송가능하도록 배치될 수 있다. 여기서, 회전 구동기구(173)는 정,역회전 가능한 회전 모터를 포함하여 구성될 수 있다. 그러나, 회전 모터 이외의 통상적인 회전 액추에이터가 이용되는 것도 가능하다. 상기 회전 블록의 하측에는, 상기 회전 블록의 회전축을 중심으로 동일한 반경에 위치한 복수의 노즐들이 배치된다. 즉, 상기 회전 블록을 구비한 픽커는 로터리형 픽커이다. The rotary block 172 is rotatable by the rotation drive mechanism 173, thereby allowing the entirety of the nozzles 174 to rotate. In addition, the rotation block 172 may be arranged to be transportable in one direction along the linear drive mechanism. Here, the rotation drive mechanism 173 may include a rotary motor capable of forward and reverse rotation. However, it is also possible to use conventional rotary actuators other than rotary motors. Below the rotary block, a plurality of nozzles are disposed at the same radius about the rotation axis of the rotary block. That is, the picker with the rotating block is a rotary picker.

이 경우, 회전 블록은 베이스 블록(171)에 결합될 수 있다. 이 경우, 상기 베이스 블록(171)은 전술한 선형 구동기구의 제1 x축 겐트리(163)에 장착되어서, 베이스 블록(171)은 제1 x축 겐트리(163)와 제1,2 y축 겐트리(161)(162)에 의해 x축 및 y축 방향으로 왕복 가능하게 됨으로써, 노즐(174)들을 x축 및 y축 방향으로 왕복시킬 수 있게 한다. In this case, the rotating block may be coupled to the base block 171. In this case, the base block 171 is mounted to the first x-axis gantry 163 of the aforementioned linear drive mechanism, so that the base block 171 is the first x-axis gantry 163 and the first, second y It is possible to reciprocate in the x- and y-axis directions by the axial gantry 161, 162, thereby allowing the nozzles 174 to reciprocate in the x- and y-axis directions.

노즐(174)들은 상기 회전 블록(172)의 하측에 배치되어 전자부품(E)들을 흡착 및 탈착하는 기능을 한다. 여기서, 노즐(174)은 노즐용 공급부(175)를 통해 부압을 공급받아서 전자부품(E)을 흡착하고, 노즐용 공급부(175)를 통해 정압을 공급받아서 전자부품(E)을 탈착할 수 있다. The nozzles 174 are disposed under the rotating block 172 to serve to adsorb and detach the electronic components E. Here, the nozzle 174 may receive the negative pressure through the nozzle supply unit 175 to adsorb the electronic component E, and receive the positive pressure through the nozzle supply unit 175 to detach the electronic component E. .

상기 노즐(174)들은 승강 구동기구에 의해 회전 블록(172)에 대해 승강할 수 있게 된다. 여기서, 승강 구동기구는 노즐(174)들을 각각 독립적으로 승강시킬 수 있게 구성된다. 이를 위해, 승강 구동기구는 노즐들에 각각 고정되는 승강부(176)들과, 상기 승강부(176)들에 공압을 개별 공급할 수 있는 승강용 공압 공급부(177)를 포함하여 구성될 수 있다. 승강부(176)들은 승강용 공압 공급부(177)를 통해 공압을 받게 되면 하강하고 공압을 받은 상태로부터 해제되면 원래의 높이로 상승함으로써, 노즐(174)들을 독립적으로 승강시킬 수 있다. The nozzles 174 may be elevated relative to the rotary block 172 by a lift drive mechanism. Here, the lift drive mechanism is configured to lift the nozzles 174 independently of each other. To this end, the elevating drive mechanism may include an elevating unit 176 fixed to the nozzles, respectively, and an elevating pneumatic supply unit 177 capable of individually supplying pneumatic pressure to the elevating units 176. The lifting units 176 may lift and lower the nozzles 174 independently by being lowered when receiving the pneumatic pressure through the lifting pneumatic supply unit 177 and rising to the original height when released from the pneumatic state.

상기 노즐(174)들은 본 실시예에 따르면, 전술한 회전 블록(172)의 하측에 원주 상으로 배열된다. 이는 로딩부(110)로 공급된 제1 고객용 트레이(C1)의 전자부품 장착 간격이 테스트 트레이(T)의 전자부품 장착 간격과 달라지더라도 전자부품(E)들을 용이하게 픽업하여 이송할 수 있도록 하기 위함이다. The nozzles 174 are arranged circumferentially below the rotating block 172 described above, according to this embodiment. This makes it possible to easily pick up and transfer the electronic components E even if the electronic component mounting interval of the first customer tray C1 supplied to the loading unit 110 is different from the electronic component mounting interval of the test tray T. To make it work.

이에 대해서, 도 4a 내지 도 4d를 참조하여 구체적으로 설명하면 다음과 같다. 여기서, 도 4a 내지 도 4d는 전술한 바와 같이 구성된 제1 픽커(170a)가 제1 고객 트레이(C1)로부터 전자부품(E)을 흡착하여 테스트 트레이(T)로 이송하는 과정을 나타낸 것이다. This will be described in detail with reference to FIGS. 4A to 4D. 4A to 4D illustrate a process in which the first picker 170a configured as described above absorbs the electronic component E from the first customer tray C1 and transfers the electronic component E to the test tray T.

먼저, 도 4a에 도시된 바와 같이, 로딩부(110)에 제1 고객용 트레이(C1)가 배치되면, 제1 픽커(170a)는 선형 구동기구에 의해 제1 고객용 트레이(C1)의 상측으로 이동한다. 이어서, 제1 픽커(170a)의 노즐(174)들 중 하나는 제1 고객용 트레이(C1)의 장착된 전자부품(E)에 대응되도록 회전 구동기구(173)에 의해 회전한다. 이와 동시에 픽커(170a)는 선형 구동기구에 의해 x축 및 y축으로 이동하게 된 베이스 블록(171)의 이동에 따라 직선 이동하여 위치한다. 그 후, 노즐(174)은 하강하여 전자부품(E)을 흡착한 다음 상승함으로써 전자부품(E)을 픽업하게 된다. First, as shown in FIG. 4A, when the first customer tray C1 is disposed in the loading unit 110, the first picker 170a is positioned above the first customer tray C1 by a linear driving mechanism. Go to. Subsequently, one of the nozzles 174 of the first picker 170a is rotated by the rotation driving mechanism 173 to correspond to the mounted electronic component E of the first customer tray C1. At the same time, the picker 170a is linearly moved in accordance with the movement of the base block 171 which is moved in the x and y axes by the linear driving mechanism. Thereafter, the nozzle 174 is lowered to absorb the electronic component E and then raised to pick up the electronic component E.

그 후, 도 4b에 도시된 바와 같이, 전자부품을 흡착하지 않은 다른 노즐(174)은 제1 고객용 트레이(C1)에 남아있는 다른 전자부품(E)에 대응되도록 회전 및 직선 이동하여 위치한 후, 하강하여 전자부품(E)을 흡착한 후 상승함으로써 전자부품(E)을 픽업하게 된다. 이때, 제1 고객용 트레이(C1)의 전자부품 장착 간격(P1)이 종류별로 달라지더라도, 노즐(174)들이 회전하고 직선 이동할 수 있게 되는바, 노즐(174)들이 전자부품(E)들을 픽업하는 위치로 오류 없이 정확하게 이동하여 전자부품(E)들을 픽업할 수 있게 되는 것이다. Thereafter, as shown in FIG. 4B, another nozzle 174 that does not absorb the electronic component is positioned to rotate and move linearly so as to correspond to the other electronic component E remaining in the first customer tray C1. Then, the electronic component E is picked up and lowered to pick up the electronic component E. At this time, even if the electronic component mounting interval P1 of the first customer tray C1 varies depending on the type, the nozzles 174 may rotate and move linearly. It will be able to pick up the electronic parts (E) by accurately moving to the position to pick up without error.

전술한 과정을 통해 테스트 트레이(T)로 이송시키고자 하는 개수만큼 전자부품(E)들의 픽업이 완료되면, 도 4c에 도시된 바와 같이, 제1 픽커(170a)는 선형 구동기구에 의해 테스트 트레이(T)의 상측으로 이동한다. 이어서, 전자부품(E)을 흡착하고 있는 노즐(174)은 테스트 트레이(T)의 빈 장착 공간에 대응되도록 회전 및 직선 이동하여 위치한 후, 하강하여 전자부품(E)을 빈 장착 공간에 탈착한 후 상승함으로써 전자부품(E)을 장착하게 된다. When the pickup of the electronic components E is completed as many as the number to be transferred to the test tray T through the above-described process, as shown in FIG. 4C, the first picker 170a is connected to the test tray by the linear drive mechanism. Move to the upper side of (T). Subsequently, the nozzle 174 that absorbs the electronic component E is positioned to rotate and move linearly so as to correspond to the empty mounting space of the test tray T, and then descend to detach the electronic component E from the empty mounting space. After the rise, the electronic component E is mounted.

그 후, 도 4d에 도시된 바와 같이, 전자부품(E)을 흡착하고 있는 다른 노즐(174)은 테스트 트레이(T)의 다른 빈 장착 공간에 대응되도록 회전 및 직선 이동하여 위치한 후, 하강하여 전자부품(E)을 다른 빈 장착 공간에 탈착한 후 상승함으로써 전자부품(E)을 장착하게 된다. 이때, 테스트 트레이(T)의 전자부품 장착 간격(P2)이 제1 고객용 트레이(C1)의 전자부품 장착 간격(P1)과 다르더라도, 노즐(174)들이 회전하고 직선 이동할 수 있게 되는바, 노즐(174)들이 전자부품(E)들을 장착하는 위치로 오류 없이 정확하게 이동하여 전자부품(E)들을 장착할 수 있게 되는 것이다. Thereafter, as shown in FIG. 4D, the other nozzle 174 that absorbs the electronic component E is positioned to rotate and move linearly so as to correspond to the other empty mounting space of the test tray T, and then move downward. The electronic component E is mounted by detaching the component E into another empty mounting space and then raising the component E. At this time, even if the electronic component mounting interval P2 of the test tray T is different from the electronic component mounting interval P1 of the first customer tray C1, the nozzles 174 may rotate and move linearly. The nozzles 174 move to the position where the electronic parts E are mounted without error, thereby enabling the electronic parts E to be mounted.

전술한 과정으로, 노즐(174)들에 흡착된 전자부품(E)들이 테스트 트레이(T)에 모두 장착된 다음, 테스트 트레이(T)로 이송하고자 하는 전자부품(E)들이 더 있다면, 제1 픽커(170a)는 제1 고객용 트레이(C1)로 다시 이동한다. 그리고, 제1 픽커(170a)는 도 4a 및 도 4b의 과정을 거쳐 제1 고객용 트레이(C1)로부터 전자부품(E)들을 픽업한 후, 도 4c 및 도 4d의 과정을 거쳐 테스트 트레이(T)의 빈 장착 공간에 전자부품(E)들을 장착하게 된다. In the above-described process, if the electronic components E adsorbed by the nozzles 174 are all mounted on the test tray T, and there are more electronic components E to be transferred to the test tray T, the first component The picker 170a moves back to the first customer tray C1. Then, the first picker 170a picks up the electronic components E from the first customer tray C1 through the processes of FIGS. 4A and 4B, and then the test tray T through the processes of FIGS. 4C and 4D. The electronic components (E) are mounted in the empty mounting space of the

상술한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 제1 픽커(170a)에 의해 제1 고객용 트레이(C1)와 테스트 트레이(T) 간에 전자부품(E)을 이송함에 있어서, 제1 고객용 트레이(C1)의 전자부품 장착 간격(P1)이 테스트 트레이(T)의 전자부품 장착 간격(P2)과 동일하지 않은 경우에도 별도의 간격조절 수단 없이 전자부품(E)을 이송할 수 있다. 따라서, 제1 픽커(170a)를 경량화할 수 있게 되는바, 핸들러(100) 전체를 경량화할 수 있다. 게다가, 제1 픽커(170a)를 직선 이동시키는 선형 구동기구의 구동 부하를 줄일 수 있으며, 픽커(170a)의 이송 속도 향상에 유리할 수 있다. As described above, according to the present invention, the first customer tray C1 in transferring the electronic component E between the first customer tray C1 and the test tray T by the first picker 170a. Even if the electronic component mounting interval P1 of) is not the same as the electronic component mounting interval P2 of the test tray T, the electronic component E may be transferred without a separate gap adjusting means. Therefore, the first picker 170a can be reduced in weight, so that the entire handler 100 can be reduced in weight. In addition, the driving load of the linear drive mechanism for linearly moving the first picker 170a can be reduced, and it can be advantageous to improve the feed speed of the picker 170a.

한편, 제2 픽커(170b)도 제1 픽커(170a)와 각각 동일하게 구성되어, 전술한 바와 같이 전자부품(E)을 이송할 수 있음은 물론이다. 그리고, 제3,4 픽커(170c)(170d)는 제1,2 픽커(170a)(170b)와 같이 동일하게 구성되는 것도 가능하나, 통상적인 구성, 예컨대 노즐들이 직렬로 배열된 구성으로 이루어지는 것도 가능하다. On the other hand, the second picker 170b is also configured to be the same as the first picker 170a, respectively, it is a matter of course that the electronic component (E) can be transferred as described above. In addition, the third and fourth pickers 170c and 170d may be configured in the same manner as the first and second pickers 170a and 170b. However, the third and fourth pickers 170c and 170d may be configured in a conventional configuration, for example, a nozzle arranged in series. It is possible.

또한, 픽커에 구비된 노즐 수만큼 전자부품을 모두 흡착한 후에, 상기 흡착된 전자부품을 이동함으로써, 전자부품의 크기에 관계없이 인덱스 시간이 동일 또는 유사하게 되어서 UPH(unit per hour)가 일정하게 된다.Further, after all the electronic components are adsorbed by the number of nozzles provided in the picker, the adsorbed electronic components are moved, so that the index time is the same or similar regardless of the size of the electronic components, so that the unit per hour (UPH) is constant. do.

상기와 같이 구성된 전자부품 테스트용 핸들러(100)의 동작 과정을 일 예로 설명하면 다음과 같다. An operation process of the electronic component test handler 100 configured as described above is described as an example.

작업자가 테스트할 전자부품(E)들이 수납된 제1 고객용 트레이(C1)를 로딩부(110)에 적재한 후 핸들러(100)의 동작을 개시하면, 제1 픽커(170a)는 로딩부(110)의 제1 고객용 트레이(C1)에 수납된 전자부품(E)들을 로딩측 버퍼부(131)로 이송한다. 이어서, 제3 픽커(170c)는 로딩측 버퍼부(131)로 이송된 전자부품(E)들을 교환부(130)의 테스트 트레이(T)에 장착한다. 교환부(130)의 테스트 트레이(T)에 테스트할 전자부품(E)들이 모두 장착되면, 로테이터(153)는 테스트 트레이(T)를 수직 상태로 세운 후, 테스트부(140)로 전달한다. When the operator loads the first customer tray C1 containing the electronic parts E to be tested in the loading unit 110 and starts the operation of the handler 100, the first picker 170a may include a loading unit ( The electronic components E accommodated in the first customer tray C1 of the 110 are transferred to the loading side buffer unit 131. Subsequently, the third picker 170c mounts the electronic components E transferred to the loading side buffer unit 131 to the test tray T of the exchange unit 130. When all of the electronic components E to be tested are mounted on the test tray T of the exchanger 130, the rotator 153 sets the test tray T in a vertical state and transmits the test tray T to the test unit 140.

그 다음, 테스트부(140)에서는 테스트 트레이(T)의 전자부품(E)들을 테스트 보드(141)의 테스트 소켓들에 접속시켜 외부의 테스트 장비에 의해 테스트가 수행 될 수 있게 한다. 전자부품(E)들의 테스트가 완료되면, 테스트부(140)는 테스트가 완료된 전자부품(E)들이 장착된 테스트 트레이(T)를 로테이터(153)로 전달한다. 테스트 트레이(T)를 전달받은 로테이터(153)는 테스트 트레이(T)를 다시 수평 상태로 눕힌 후, 교환부(130)로 이송한다. Next, the test unit 140 connects the electronic components E of the test tray T to the test sockets of the test board 141 so that the test can be performed by external test equipment. When the test of the electronic components E is completed, the test unit 140 transmits the test tray T on which the tested electronic components E are mounted to the rotator 153. The rotator 153 receiving the test tray T lays the test tray T in a horizontal state again and transfers the test tray T to the exchange unit 130.

그러면, 제4 픽커(170d)는 테스트 완료된 전자부품(E)을 테스트 트레이(T)에서 언로딩측 버퍼부(132)로 이송한다. 이어서, 제2 픽커(170d)는 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하여 언로딩부(120)의 제2 고객용 트레이(C2)에 수납한다. Then, the fourth picker 170d transfers the tested electronic component E from the test tray T to the unloading side buffer unit 132. Subsequently, the second picker 170d may be classified into grades according to the test result and stored in the second customer tray C2 of the unloading unit 120.

상술한 바와 같은 본 발명에 따르면, 픽커에 의해 고객용 트레이와 테스트 트레이 사이에 전자부품을 이송함에 있어서, 고객용 트레이의 전자부품 장착 간격 및 수량이 달라지더라도 UPH에 대한 영향이 적을 수 있다. 뿐만 아니라, 고객용 트레이와 테스트 트레이의 전자부품 장착 간격이 각각 다른 경우에도 별도의 간격조절 수단 없이 전자부품을 정확하게 픽업하여 이송할 수 있다. According to the present invention as described above, in transferring the electronic components between the customer tray and the test tray by the picker, the impact on the UPH may be less, even if the electronic component mounting interval and the number of the customer tray changes. In addition, even when the electronic component mounting intervals of the customer tray and the test tray are different, it is possible to accurately pick up and transfer the electronic components without a separate gap adjusting means.

따라서, 픽커를 경량화할 수 있게 되는바, 핸들러 전체를 경량화할 수 있다. 아울러, 픽커를 직선 이동시키는 선형 구동기구의 구동 부하를 줄일 수 있으며, 픽커의 이송 속도 향상에 유리한 효과가 있을 수 있다. Therefore, the picker can be reduced in weight, and the entire handler can be reduced in weight. In addition, it is possible to reduce the driving load of the linear drive mechanism for linearly moving the picker, it may be advantageous to improve the feed speed of the picker.

본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이 다. Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the accompanying drawings, this is merely exemplary, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications and equivalent other embodiments are possible. Could be. Accordingly, the true scope of protection of the invention should be defined only by the appended claims.

Claims (6)

테스트할 복수의 전자부품들을 고객용 트레이로부터 테스트 트레이로 로딩하는 로딩부;A loading unit loading a plurality of electronic components to be tested from a customer tray into a test tray; 테스트 완료된 전자부품들을 테스트 트레이로부터 고객용 트레이로 언로딩하는 언로딩부;An unloading unit which unloads the tested electronic components from the test tray to the customer tray; 전자부품을 테스트하는 테스트부; 및A test unit for testing an electronic component; And 상기 고객용 트레이와 테스트 트레이 사이에 전자부품들을 이송하는 적어도 하나의 픽커를 구비하는 것으로, At least one picker for transferring the electronic components between the customer tray and the test tray, 상기 픽커 중 적어도 하나는, 선형 구동기구에 의해 적어도 일 방향으로 왕복 가능하게 배치되며 회전 구동기구에 의해 회전 가능하게 된 회전 블록, 및 상기 회전 블록의 하측에 원주 상으로 배열되고 승강 구동기구에 의해 승강 가능하게 되며 전자부품들을 흡착 및 탈착하는 다수의 노즐들을 구비하는 로터리형 픽커인 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러. At least one of the pickers is a rotary block reciprocally disposed in at least one direction by a linear drive mechanism and rotatable by a rotary drive mechanism, and is arranged circumferentially below the rotary block and by a lift drive mechanism. A handler for testing electronic components, characterized by being a rotary picker capable of being liftable and having a plurality of nozzles for adsorbing and detaching electronic components. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 승강 구동기구는 상기 노즐들을 각각 독립적으로 승강시킬 수 있게 된 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러. And the elevating drive mechanism is capable of elevating the nozzles independently of each other. 제 1항 또는 제 2항에 있어서, The method according to claim 1 or 2, 상기 회전 구동기구는 정,역회전 가능한 회전 모터를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러. The rotation drive mechanism is an electronic component test handler, characterized in that it comprises a rotating motor capable of forward and reverse rotation. 제 3항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 선형 구동기구는 상기 베이스 블록을 x축 방향으로 왕복 이동시키는 x축 구동기구와, 상기 베이스 블록을 y축 방향으로 왕복 이동시키는 y축 구동기구를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러. The linear drive mechanism includes an x-axis drive mechanism for reciprocating the base block in the x-axis direction, and a y-axis drive mechanism for reciprocating the base block in the y-axis direction. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 로딩부와 테스트부 사이에 배치된 교환부를 더 구비하고, Further provided with an exchange unit disposed between the loading unit and the test unit, 상기 로터리형 픽커는, 상기 로딩부와 교환부 사이를 이동하는 제1 픽커 및 상기 언로딩부와 교환부 사이를 이동하는 제2 픽커인 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러. The rotary picker is a first picker moving between the loading unit and the exchange unit and a second picker moving between the unloading unit and the exchange unit. 제 5항에 있어서, The method of claim 5, 상기 로딩부와 교환부 사이에 배치된 로딩측 버퍼부 및 상기 언로딩부와 교환부 사이에 배치된 언로딩측 버퍼부를 더 구비하고,And a loading side buffer unit disposed between the loading unit and the exchange unit, and an unloading side buffer unit disposed between the unloading unit and the exchange unit, 상기 로터리형 픽커는, 상기 로딩부와 로딩측 버퍼부 사이를 이동하는 제1 픽커 및 상기 언로딩부와 언로딩측 버퍼부 사이를 이동하는 제2 픽커인 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러. And the rotary picker is a first picker moving between the loading unit and the loading side buffer unit, and a second picker moving between the unloading unit and the unloading side buffer unit.
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