KR20080007349A - Bonding apparatus - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 92
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 34
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 21
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 3
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 description 2
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
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- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67144—Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
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- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
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- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54426—Marks applied to semiconductor devices or parts for alignment
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- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54473—Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
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- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54473—Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
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- H01L2224/757—Means for aligning
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- H01L2224/8112—Aligning
- H01L2224/81121—Active alignment, i.e. by apparatus steering, e.g. optical alignment using marks or sensors
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- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/818—Bonding techniques
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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- H01L2924/01033—Arsenic [As]
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- H01L2924/01074—Tungsten [W]
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- H01L2924/01082—Lead [Pb]
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- H01L2924/15747—Copper [Cu] as principal constituent
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Abstract
Description
본 발명은, 전자부품 등의 칩 부품을, 유리, 수지(樹脂), 및 금속의 기판 등으로 이루어지는 워크에 설치하는 본딩장치에 관한 것이다.This invention relates to the bonding apparatus which installs chip components, such as an electronic component, in the workpiece | work which consists of glass, resin, a metal substrate, etc.
종래의 범프전극이 부착된 칩 부품을 페이스 업(up) 상태로 워크인 기판에 설치하는 본딩장치는, 칩 부품의 얼라인먼트(alignment)마크와, 기판의 설치부위를 식별하기 위한 얼라인먼트마크의 양쪽을 칩 부품의 위쪽으로부터 인식하고 있다. 구체적으로는, 칩 부품을 흡착 지지하는 헤드 부분에 프리즘을 이용하고, 칩 부품과 기판의 양 얼라인먼트마크를 포함하는 양쪽 부재의 상(像)을 프리즘의 사면(斜面)에서 반사시켜, 헤드 측방에 헤드와 독립해서 고정 배비한 CCD카메라에 투영하고 있다. 또한, 양 얼라인먼트마크의 인식결과에 근거하여, 칩 부품의 설치위치의 상대적인 위치어긋남을 보정할 경우, 기판을 지지하는 지지 테이블을 수평방향의 종횡(縱橫)으로 이동시키는 동시에, 칩 부품의 중심축 둘레로 회전시키고 있다 (예를 들면, 특허문헌1참조).Conventional bonding devices for mounting a chip component with bump electrodes on a work-in substrate in a face-up state include an alignment mark of the chip component and an alignment mark for identifying the mounting portion of the substrate. It recognizes from the top of a chip component. Specifically, a prism is used for the head portion which adsorbs and supports the chip component, and the images of both members including both alignment marks of the chip component and the substrate are reflected on the slopes of the prism, It is projected on a CCD camera that is fixedly independent from the head. In addition, based on the recognition result of both alignment marks, when correcting the relative positional shift of the mounting position of the chip component, the support table for supporting the substrate is moved in the horizontal and vertical direction, and the central axis of the chip component is It is rotating around (for example, refer patent document 1).
특허문헌1: WO2003/041478Patent Document 1: WO2003 / 041478
최근, 양산효율(量産效率)을 올리는 것을 목적으로 하여 기판 사이즈가 커지는 경향이 있으며, 고밀도설치가 필요한 기판도, 그 대상으로 되어가고 있다. 종래의 본딩장치는, 칩 지지 헤드를 상하방향으로 이동시키는 기구와, 기판지지 테이블을 수평방향 및 회전방향으로 이동시키는 기구로 구성되어 있다. 따라서, 종래의 구성을 답습해 대형기판에 대응시켜서, 칩 지지 헤드로 기판 전역에 칩 부품을 설치할 경우, 기판설치영역의 2배와, 기판의 대각(對角)길이를 회전영역분으로 하는 이동 스트로크가 필요해지므로, 장치가 대형화한다는 문제가 있다.In recent years, the board | substrate size tends to become large for the purpose of raising mass-production efficiency, and the board | substrate which requires high density installation also becomes the object. The conventional bonding apparatus is comprised from the mechanism which moves a chip support head to an up-down direction, and the mechanism which moves a board | substrate support table to a horizontal direction and a rotation direction. Therefore, in accordance with the conventional configuration and corresponding to a large substrate, in the case where the chip components are installed throughout the substrate by the chip support head, the movement is made twice as large as the substrate installation region and the diagonal length of the substrate as the rotation region. Since a stroke is required, there is a problem that the apparatus is enlarged.
이 문제를 해결하기 위해서는, 헤드측을 회전시키는 것이 유효하다. 그렇지만, CCD카메라와 프리즘의 상대관계가 변화되는 것으로 칩 및 기판의 얼라인먼트마크의 형상이 변화된다. 또한, CCD카메라와 프리즘의 상대관계를 보정했다고 해도 얻어지는 위치측정결과가 악화한다는 문제가 있다.In order to solve this problem, it is effective to rotate the head side. However, by changing the relative relationship between the CCD camera and the prism, the shape of the alignment marks on the chip and the substrate changes. Moreover, even if the relative relationship between a CCD camera and a prism is correct | amended, there exists a problem that the obtained position measurement result deteriorates.
또, 이 문제를 해결하기 위해서, CCD카메라와 프리즘의 상대관계를 일치하도록, 회전축에 CCD카메라유니트를 설치한 경우, 헤드의 회전축(θ축)에 걸리는 부하가 늘어나거나, 헤드 주변에 큰 스페이스가 필요하게 되거나 하는 등 비용증가나 대형화가 문제가 된다.In order to solve this problem, when the CCD camera unit is installed on the rotating shaft so that the relative relationship between the CCD camera and the prism is matched, the load on the rotating shaft (θ axis) of the head is increased or a large space around the head is increased. Increasing costs and increasing size, such as being necessary, are a problem.
이 발명은, 이러한 사정에 비추어 이루어진 것이며, 장치구성이 간단해서 설치정도(精度)의 향상을 꾀하는 것이 가능한 본딩장치를 제공하는 것을 주된 목적으로 한다.This invention is made | formed in view of such a situation, Comprising: It is a main objective to provide the bonding apparatus which is simple in apparatus structure, and can aim at the improvement of installation accuracy.
(과제를 해결하기 위한 수단)(Means to solve the task)
그래서, 이 발명은, 상기 목적을 달성하기 위해서 다음과 같은 구성을 취한다.Therefore, this invention takes the following structures, in order to achieve the said objective.
즉, 본 발명의 본딩장치는, 워크 지지수단에 지지된 워크에 칩 부품을 설치하는 본딩장치로서, 상자형상의 적어도 측면의 일부와 하면이 개구된 프레임체와, 상기 프레임체의 하면 개구 부분에 설치되어, 상기 칩 부품을 지지하는 투명한 칩 지지수단과를 포함하는 헤드와, 상기 헤드의 프레임체 측면의 개구내를 향하여 진퇴(進退)하고, 상기 칩 지지수단에 지지된 칩 부품과, 상기 워크 지지수단에 지지된 워크의 칩 부품의 설치부위를 식별하는 기준위치를, 상기 칩 지지수단을 통하여 인식하는 인식수단과, 상기 칩 부품을 지지한 해당 칩 부품의 중심세로축 둘레로 상기 헤드를 회전시키는 제1구동수단과, 상기 헤드와 상기 워크 지지수단을 상대적으로 오르내리게 하는 제2구동수단과, 상기 헤드와 상기 워크 지지수단을 상대적으로 수평 이동시키는 제3구동수단과, 상기 인식수단에 의한 인식결과에 근거하여, 상기 칩 부품과 워크의 기준위치의 상대적인 위치어긋남을 검출하여, 그 위치어긋남을 보정하도록 상기 제1구동수단과 제3구동수단을 구동 제어하는 제어수단을 갖춘 것을 특징으로 한다.That is, the bonding apparatus of this invention is a bonding apparatus which installs a chip component in the workpiece | work supported by the workpiece | work support means, Comprising: The frame body which opened at least one side and the lower surface of the box shape, and the lower surface opening part of the said frame body is opened. A head, comprising: a head having transparent chip support means for supporting the chip component; a chip component supported and supported by the chip support means; A recognizing means for recognizing the installation position of the chip component of the work supported by the supporting means, through the chip supporting means, and rotating the head around a central longitudinal axis of the chip component supporting the chip component. First driving means, second driving means for moving the head and the work support means up and down relatively, and moving the head and the work support means relatively horizontally The first driving means and the third driving means are detected so as to detect a relative positional shift between the reference position of the chip component and the work based on the recognition result by the recognition means and correct the positional shift. And control means for driving control.
본 발명의 본딩장치에 따르면, 칩 부품의 중심축 둘레로 회전하도록 헤드를 구동하는 것에 의해, 기판을 회전시킬 필요가 없다. 즉, 워크의 종횡길이보다 긴 대각길이분을 고려해서 회전시키는 스페이스를 확보할 필요가 없다. 그 결과, 장치구성이 간소화된다. 또한, 인식수단이 헤드의 측부 개구로 진퇴하고, 항상 일정각도 및 일정거리에서, 칩 부품과 워크를 인식할 수 있으므로, 광학적인 투영각도의 변화 등에 따른 화상의 변화(왜곡)가 일어나지 않는다. 따라서, 칩 부품과 워크의 위치를 정확하게 인식하여, 설치정도(設置精度)를 높일 수 있다.According to the bonding apparatus of the present invention, it is not necessary to rotate the substrate by driving the head to rotate around the central axis of the chip component. That is, it is not necessary to secure the space to rotate considering the diagonal length longer than the longitudinal length of a workpiece | work. As a result, the device configuration is simplified. In addition, since the recognizing means retreats to the side opening of the head and can always recognize the chip component and the workpiece at a constant angle and a constant distance, there is no change (distortion) of the image due to an optical projection angle change or the like. Therefore, the position of a chip component and a workpiece can be recognized correctly, and the installation accuracy can be improved.
또한, 인식수단은, 칩 부품과 워크의 양 기준위치를 인식하는 CCD카메라와, CCD카메라의 진퇴방향 앞쪽에, 칩 부품과 워크의 기준위치를 CCD카메라에 투영하는 투영수단으로 구성하는 것이 바람직하다.Preferably, the recognizing means comprises a CCD camera for recognizing both reference positions of the chip component and the workpiece, and projection means for projecting the reference positions of the chip component and the workpiece onto the CCD camera in front of the retraction direction of the CCD camera. .
이 구성에 따르면, 칩 부품을 받은 후에, 설치시에 인식수단을 대피시킬 필요가 없으며, 동작시간을 단축할 수 있다.According to this configuration, after receiving the chip component, it is not necessary to evacuate the recognition means at the time of installation, and the operation time can be shortened.
또, CCD카메라를 2대 구비하여, 투영수단(投影手段)은, 칩 부품과 워크의 기준위치의 각각을 나누어서 2대의 CCD카메라에 투영하도록 구성하는 것이 바람직하다. 이 경우, 다음과 같이 구성할 수 있다. 투영수단은, 칩 부품과 워크의 양 기준위치를 비추는 한 쌍의 제1미러와, 제1미러에 비친 기준위치의 상을 반사시켜서 CCD카메라에 투영하는 한 쌍의 제2미러로 구성할 수 있다.Moreover, it is preferable to comprise two CCD cameras, and it is preferable to comprise so that a projection means may divide each of the reference | standard position of a chip component and a workpiece, and project them to two CCD cameras. In this case, it can be configured as follows. The projection means may comprise a pair of first mirrors reflecting the two reference positions of the chip component and the work, and a pair of second mirrors reflecting the image of the reference position reflected on the first mirror and projecting them onto the CCD camera. .
또한, 칩 부품과 워크의 양 기준위치는, 각각의 각부(角部)의 2개소에 설치된 얼라인먼트마크로 한 경우, 한 쪽의 양각부(兩角部)의 상기 얼라인먼트마크를 한 쪽의 제1미러에 비추고, 제2미러로 반사시켜서 한 쪽의 CCD카메라에 투영하고, 다른 쪽의 양각부의 얼라인먼트마크를 다른 쪽의 제1미러에 비추고, 제2미러에 반사시켜서 다른 쪽의 CCD카메라에 투영하도록 구성하는 것이 바람직하다.In addition, when the reference part of a chip component and a workpiece | work is set as the alignment mark provided in two places of each each part, the said 1st mirror of the said one alignment mark of one embossed part To reflect on the second mirror and project it on one CCD camera, and the alignment mark on the other side is reflected on the first mirror on the other side, and reflected on the second mirror to project on the other CCD camera. It is desirable to.
이 구성에 따르면, 칩 부품과 워크의 각각을 개별의 투영수단으로 인식하므로, 헤드의 좁은 개구내라도, 넓은 시야에서 양 부재의 기준위치를 정확하게 인식할 수 있다. 예를 들면, 칩 부품에 이간(離間)한 복수의 기준위치(얼라인먼트마크)가 존재할 경우, 1회의 처리로 모든 얼라인먼트마크를 인식할 수 있다. 한편, 칩 부품의 기준위치는, 페이스 업 상태로 설치할 때의 칩 부품에 형성된 범프를 이용할 수 있다.According to this structure, since each of a chip component and a workpiece | work is recognized by separate projection means, even in the narrow opening of a head, the reference position of both members can be recognized correctly in a wide field of view. For example, when a plurality of reference positions (alignment marks) spaced apart from the chip components exist, all the alignment marks can be recognized by one process. As the reference position of the chip component, bumps formed in the chip component when installed in the face-up state can be used.
또, 장치의 간소화를 꾀하기 위해서, 기판에 칩 부품을 설치하는 작용위치와 그 윗쪽의 대기위치에 걸쳐 헤드를 오르내리게 하거나, 헤드를 기판면에 대하여 수평 이동시키거나, 그에 더하여, 이들의 구성을 조합시키는 것이 바람직하다.In order to simplify the apparatus, the head is moved up and down over the operating position at which the chip components are placed on the substrate and the standby position thereon, or the head is moved horizontally with respect to the substrate surface, or in addition, the configuration thereof. It is preferable to combine.
또, 제2구동수단은, 실린더 내에서 슬라이드 이동하는 피스톤과, 그 피스톤의 선단으로부터 연신하는 로드로 이루어지고, 피스톤이 실린더 내에서 축심둘레로 회전할 수 있도록 하는 액츄에이터인 것이 바람직하다. 또한, 제2구동수단의 실린더의 로드와 제1구동수단을 링크기구로 연결하고, 그 제2구동수단의 구동력을 제1구동수단의 회전력으로 변환하도록 구성하는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the 2nd driving means consists of the piston which slides in a cylinder, and the rod extended from the front-end | tip of the piston, and is an actuator which enables a piston to rotate around an axis center in a cylinder. Further, the rod of the cylinder of the second driving means and the first driving means are preferably connected to each other by a link mechanism and configured to convert the driving force of the second driving means into the rotational force of the first driving means.
즉, 이 구성에 따르면, 제2구동수단의 피스톤로드의 회전력이 링크기구를 통하여 제1구동수단에 간접적으로 전달되므로, 제1구동수단이 헤드에 갖추어져 있을 경우에, 헤드측의 구성을 간소하게 할 수 있다. 즉, 헤드측의 구성을 경량화할 수 있으므로, 예를 들면, 헤드측을 오르내리게 할 경우에 승강조정이 용이해지는 동시에, 칩 부품을 과잉으로 가압할 우려도 없어진다.That is, according to this configuration, since the rotational force of the piston rod of the second driving means is indirectly transmitted to the first driving means through the link mechanism, the configuration of the head side is simplified when the first driving means is provided in the head. can do. That is, since the structure at the head side can be reduced in weight, for example, when the head side is moved up and down, the lifting and lowering adjustment becomes easy, and there is no fear of excessively pressurizing the chip components.
또한, 로드는, 그 바깥둘레면에 가이드를 구비하고, 링크기구는, 2개의 링크 바와, 2개의 링크 바의 굴곡동작에 연동해서 양 링크 바의 연절부분(連節部分)을 슬라이드시켜서 양 링크 바의 길이를 일정하게 하는 신축가이드로 구성하는 것이 바람직하다.In addition, the rod is provided with a guide on its outer circumferential surface, and the linkage mechanism slides the connecting portions of both link bars in linkage with the bending operation of the two link bars and the two link bars. It is preferable to configure the extension guide to make the length of the bar constant.
또한, 로드측에 연결된 링크 바의 선단에 고정된 스케일을 구비하고, 링크 바의 회전에 연동하는 스케일의 회전각도를 검출하는 검출수단과, 검출수단에 의한 검출결과에 근거하여, 헤드의 위치결정을 행하는 제어수단을 구비하는 것이 바람직하다.In addition, detection means for detecting the rotational angle of the scale in conjunction with the rotation of the link bar, having a scale fixed to the tip of the link bar connected to the rod side, and positioning of the head based on the detection result by the detection means It is preferable to have a control means for performing the operation.
이 구성에 따르면, 헤드의 위치맞춤정도(精度)의 향상을 꾀할 수 있다.According to this configuration, it is possible to improve the alignment accuracy of the head.
또한, 본 발명의 본딩장치는, 제어수단은, 칩 부품의 설치위치와 관련하여 설치된 스케일을 가지는 마스터기판을 이용하고, 인식수단에서 의해 인식한 각 설치위치의 위치정보와 상기 제1로부터 제3구동수단이 가지는 구동축의 상관관계를 구해서 미리 기억하고 있으며, 워크에 칩 부품을 설치할 때에는, 상관관계를 이용하여 각 구동수단의 구동축의 엇갈림을 오프셋하도록 각 구동수단을 구동 제어하도록 구성하는 것이 바람직하다.Further, in the bonding apparatus of the present invention, the control means uses a master substrate having a scale provided in relation to the installation position of the chip component, and the position information of each installation position recognized by the recognition means and the first to third points. The correlation between the drive shafts of the drive means is obtained and stored in advance, and when the chip component is installed in the work, it is preferable to configure the drive means to drive the drive means so as to offset the displacement of the drive shafts of the drive means by using the correlation. .
이 구성에 따르면, 워크에 대한 칩 부품의 설치정도를 향상시킬 수 있다.According to this structure, the installation degree of the chip component with respect to a workpiece | work can be improved.
(발명의 효과)(Effects of the Invention)
이 발명에 관한 본딩장치는, 칩 부품의 중심축 둘레로 회전하도록 헤드를 구동하는 것에 의해, 기판을 회전시킬 필요가 없으므로, 칩 부품보다 큰 워크를 회전시키는 스페이스를 확보할 필요가 없다. 그 결과, 장치구성이 간소화된다. 또한, 인식수단이 헤드의 측부 개구에서 진퇴하고, 항상 일정각도 및 일정거리에서, 칩 부품과 워크를 인식할 수 있으므로, 광학적인 투영각도의 변화에 의한 화상의 변화(왜곡)가 일어나지 않는다. 따라서, 칩 부품과 워크의 위치를 정확하게 인식하여, 설치정도를 높일 수 있다.The bonding apparatus according to the present invention does not need to rotate the substrate by driving the head so as to rotate around the central axis of the chip component, and thus it is not necessary to secure a space for rotating the workpiece larger than the chip component. As a result, the device configuration is simplified. In addition, since the recognizing means retreats from the side opening of the head and can always recognize the chip component and the workpiece at a constant angle and a constant distance, there is no change (distortion) of the image due to the change of the optical projection angle. Therefore, the position of a chip component and a workpiece can be recognized correctly, and an installation precision can be improved.
도 1은 실시예에 관한 본딩시스템의 사시도이다.1 is a perspective view of a bonding system according to an embodiment.
도 2는 설치유니트의 개략구성을 나타낸 정면도이다.2 is a front view showing a schematic configuration of the installation unit.
도 3은 링크기구의 구성을 나타내는 평면도이다.3 is a plan view showing the configuration of the link mechanism.
도 4는 인식부의 개략구성을 나타내는 측면이다.4 is a side view illustrating a schematic configuration of the recognition unit.
도 5는 투영부의 개략구성을 나타내는 평면도이다.5 is a plan view showing a schematic configuration of the projection unit.
도 6은 CCD카메라에 투영되는 화상을 나타내는 도이다.6 is a diagram illustrating an image projected on a CCD camera.
(부호의 설명)(Explanation of the sign)
W…기판 3 …설치유니트W…
11 …칩 부품 14 …기판지지 스테이지11.
15 …가동테이블 17 …헤드15... Movable table 17. head
18 …수평구동기구 19 …승강구동기구18.
20 …회전구동기구 22 …흡착부20...
29A, 29B…제어부 37 …CCD카메라29A, 29B...
39a …제1미러 39b …제2미러39a...
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다. 한편, 본 실시예에서는, 칩 부품으로서 범프가 부착된 전자부품을 기판에 설치할 경우를 예로 들어서 설명한다. 한편, 칩 부품으로는, 그 밖에 예를 들면, IC칩, 반도체 칩, 광소자(光素子), 표면설치부품, 웨이퍼 등의 종류나 크기에 관계없이, 기판과 접합시키는 측의 모든 형태를 나타낸다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. On the other hand, in this embodiment, the case where the electronic component with bumps is provided as a chip component to a board | substrate is demonstrated as an example. On the other hand, as chip components, for example, all forms on the side to be bonded to the substrate are shown regardless of the type or size of IC chip, semiconductor chip, optical element, surface mounting component, wafer, or the like. .
또, 기판으로서는, 예를 들면, 수지기판, 유리기판, 필름기판, 금속기판(예를 들면 구리기판)등 칩 부품과 접합되는 쪽의 모든 형태를 나타낸다.Moreover, as a board | substrate, all the forms of the side joined with chip components, such as a resin substrate, a glass substrate, a film substrate, a metal substrate (for example, a copper substrate), are shown, for example.
도 1은, 본 실시예에 관한 본딩시스템의 사시도이다.1 is a perspective view of a bonding system according to the present embodiment.
본 실시예에 관한 칩 설치장치는, 크게 나눠서, 장치기대(裝置基臺)(1)와, 이 장치기대(1) 앞쪽(도 1에서는 좌단(左端))에 배설(配設)된 기판공급유니트(2)와, 장치기대(1)의 안쪽측에 배설된 설치유니트(3)와, 설치유니트(3)의 왼쪽 옆에 배설된 칩 부품공급유니트(4)로 구성되어 있다.The chip mounting apparatus according to the present embodiment is largely divided into a device expected
기판공급유니트(2)는, 상부에 상하로 개폐요동(開閉搖動)할 수 있는 개폐문(開閉扉)을 구비한 상자형상이며, 내부에, 워크인 기판(W)을 재치하는 재치테이블(6)과, 그 재치테이블(6)에 재치된 기판(W)을, 표면으로부타 더욱 흡착 지지하여 후술하는 설치유니트(3)측의 가동테이블(15) 위에 갖추어진 기판지지 스테이지(14)로 반송하는 반송기구(7)를 갖추고 있다.The board |
재치테이블(6)의 표면에는, 기판(W)에 형성된 위치결정공(位置決定孔)에 장착하기 위한 위치결정핀(8)이 소정간격을 두고 입설(立設)되어 있다.On the surface of the mounting table 6, positioning pins 8 for mounting in the positioning holes formed in the substrate W are placed at predetermined intervals.
반송기구(7)는, 기판(W)의 표면을 흡착가능한 흡착판(9)을 구비하고, 그 흡착판(9)을 재치테이블(6)의 윗쪽과 기판지지 스테이지(14)의 윗쪽의 1축(Y)방향으로 이동할 수 있는 동시에, 재치테이블(6)과 기판지지 스테이지(14)의 상대위치에서 오르내릴 수 있도록(Z축방향) 구성되어 있다. 한편, 흡착판(9)은, 도시되지 않은 배관을 통하여 펌프와 연통접속되어 있다.The
설치유니트(3)는, 도 1로부터 도 4에 나타내는 것 같이, 반송기구(7)에 의해 반송된 기판(W)을 지지하는 지지부(10)와, 칩 부품(11)을 흡착 지지하여 기판(W)에 설치하는 압착유니트(12)과, 기판(W)과 칩 부품(11)에 미리 설치되어 있는 얼라인먼트마크를 인식하는 인식부(13)로 구성되어 있다.As shown in FIG. 1 to FIG. 4, the
지지부(10)는, 반송기구(7)의 흡착판(9)에 의해 표면이 흡착 지지되어 반송되어 온 기판(W)을 수평자세로 흡착 지지하는 기판지지 스테이지(14)와, 기판지지 스테이지(14)를 수평1축(Y)방향으로 이동가능한 가동테이블(15)을 구비하고 있다. 가동테이블(15)은, 도시되지 않은 모터를 정역회전구동(正逆回轉驅動)함으로써, 가이드레일(16)에 따라 나사를 보내서 앞뒤로 이동하도록 되어 있다. 한편, 지지부(10)는, 리니어 테이블이라도 좋다. 또, 기판지지 스테이지(14)의 하부에는, 도시되지 않은 히터가 내장되어 있어서, 기판(W)을 이면으로부터 가열할 수 있게 구성되어 있다.The
압착유니트(12)는, 칩 부품(11)을 흡착 지지하는 헤드(17)와, 헤드(17)를 수평 1축(X)방향으로 이동시키는 수평구동기구(18)와, 상하(Z)방향으로 이동시키는 승강구동기구(19)와, Z축둘레(θ)방향으로 회전시키는 회전구동기구(20)와, 헤드(17)의 개구 내에서 진퇴하는 CCD카메라(37)로 구성되어 있다. 한편, 수평구동기구(18)는, 본 발명의 제3구동수단에 상당하고, 승강구동기구(19)는, 제2구동수단에 상당하고, 회전구동기구(20)는, 제1구동수단에 상당하고, CCD 카메라(37)는, 인식수단에 상당한다.The crimping
헤드(17)는, 수평구동기구(18)에 의해 장치기대(1)에 입설된 프레임(23)의 가이드레일(24)에 따라 이동할 수 있게 하는 가동대(可動臺)(25)에 고정된 승강구 동기구(19)의 하단에 설치되어 있다. 헤드(17)는, 오목형상(凹形狀)을 거꾸로 한 프레임체(21)와, 프레임체 하부의 개구에 설치된 투명한 유리판으로 된 흡착부(22)로 구성되어 있다. 흡착부(22)는, 하면 중앙에 형성된 개구과 측부에 형성된 개구를 연통하는 유로가 형성되고 있으며, 도시되지 않은, 펌프와 호스를 통하여 연통접속되어 있다. 즉, 펌프의 작동에 의해 하면 개구가 흡착공으로서 작용하여, 칩 부품(11)을 흡착 지지한다. 한편, 흡착부(22)의 하면에, 또한, 칩 부품(11)의 형상에 따른 투명한 유리판 등으로 이루어지는 어태치먼트(attachment)를 장착해도 좋다. 한편, 흡착부(22)는, 본 발명의 칩 지지수단에 상당한다.The
수평구동기구(18)는, 모터(M1)를 정역회전 구동시키는 것에 의해, 가이드레일(24)에 따라 가동대(25)를 수평(X)방향으로 왕복 이동시킨다. 한편, 수평구동기구(18)는, 리니어 테이블이라도 좋다.The
승강구동기구(19)는, 실린더(26)와 실린더 내에서 이동하는 피스톤(27)과, 그 피스톤(27)의 선단으로부터 연신하는 로드(28)로 구성된 액츄에이터이다. 이 피스톤(27) 및 로드(28)는, 실린더 내에서 축심둘레로 회전이 자유롭게 되어 있다. 또한, 실린더(26)안과 피스톤(27)과의 사이의 압력실에는, 유체를 공급 또는 배기하는 유로가 형성되고 있으며, 펌프로부터의 기체의 공급 및 배기를 제어부(29A)에 의해 내압을 제어할 수 있다. 한편, 제어부(29A) 및 후술하는 제어부(29B)는, 본 발명의 제어수단에 상당한다.The lifting
승강구동기구(19)의 도 2 중 왼쪽 옆에는, 회전구동기구(20)를 구성하는 모터(M2)가, 그 회전축을 아래쪽을 향하여 설치되어 있다. 모터(M2)의 회전축에는, 액츄에이터의 로드(28)에 로드가이드(G)를 통하여 연결하는 링크기구(32)가 설치되어 있다.In the left side of FIG. 2 of the lifting
링크기구(32)는, 도 3에 나타내는 것 같이, 2개의 링크 바(33a, 33b)의 연결부에 신축(伸縮)가이드(34)를 구비하여, 한 쪽의 링크 바(33a)의 선단이 모터(M2)에, 다른 쪽의 링크 바(33b)의 선단이 액츄에이터의 로드(28)의 로드 가이드(G)에 연결된 구성으로 되어 있다. 즉, 모터(M2)의 정역전구동에 따라, 양 링크 바(33a, 33b)가 좌우로 요동되어, 회전동력이 로드(28)로 전달되어 피스톤(27)이 실린더 내에서 회전한다. 한편, 링크 바(33a, 33b)가 요동할 때, 모터(M2)의 회전축과 로드(28)와의 거리의 변화에 따라서, 신축가이드(34)가 신축하게 되어 있다. 또한, 링크 바(33b)는, 로드 가이드(G)에 의해 로드(28)의 진퇴에 추종하지 않고, 일정 높이를 유지하도록 구성되어 있다.As shown in FIG. 3, the
또한, 링크 바(33b)에는, 부채꼴의 스케일(35)이 설치되어 있으며, 그 스케일 측면에 설치된 메모리를 근접하여 배비(配備)한 인코더(36)에 의해 판독하도록 되어 있다. 다시 말해, 피스톤(27)의 회전각도를 판독하고, 그 결과를 제어부(29B)에 송신하는 것에 의해, 헤드(17)의 Z축둘레의 회전각도를 판독할 수 있도록 구성되어 있다. 또한, 인코더(36)는, 본 발명의 검출수단에 상당하고, 제어부(29B)는, 제어수단에 상당한다.Moreover, the
인식부(認識部)(13)는, 도 4로부터 도 6에 나타내는 것 같이, 2개의 CCD카메라(37)와, 각 CCD카메라(37)의 선단(先端)에 헤드(17)에 흡착 지지된 칩 부품(11)의 얼라인먼트마크(R2)와 기판(W)의 얼라인먼트마크(R1)를 잡아서 CCD카메라(37)에 투영하는 투영부(投影部)(38)로 구성되어 있다.The
투영부(投影部)(38)는, 아래쪽에 위치하는 칩 부품(11)의 얼라인먼트마크를 비추는 제1미러(39a)와, 그 제1미러(39a)에 비친 얼라인먼트마크를 비추어, 90도 후방에 있는 CCD 카메라(37)에 투영하는 제2미러(39b)로 구성되어 있다.The
투영부(38)는, 도 4에 나타내는 것 같이, 모터(M3)의 정역전구동에 의해 가동대(可動臺)(25)의 하면에 설치되어 가이드레일(40)에 따라 진퇴 이동할 수 있게 구성되어 있다. 즉, 헤드(17)의 개구 내에서 투영부를 진퇴시키도록 구성되어 있다.As shown in FIG. 4, the
칩 부품공급유니트(4)는, 도 1에 나타내는 것 같이, 반도체웨이퍼를 다이싱가공한 후의 링형상 프레임에 지지된 칩 부품(11), 또는, 칩 트레이에 정렬된 칩 부품(11)을 재치하는 재치테이블(41)과, 칩 부품(11)을 흡착 지지하여 반송하는 칩 부품반송기구(42)와, 반송된 칩 부품(11)을 받아서, 헤드(17)에 주고받기를 중계하는 중계부와 슬라이드 테이블(43)로 구성되어 있다.As shown in FIG. 1, the chip
칩 부품반송기구(42)는, 장치기대(裝置基臺)(1)의 Y방향으로 연장하는 가이드레일(44) 위에서 전후로 이동가능한 가동프레임(45)과, 그 가동프레임(45)의 전면을 향하는 가이드레일(46)을 따라 수평(Y)방향으로 이동가능한 가동대(47)를 구비하고, 또한, 그 가동대(47)에 칩 부품(11)을 흡착 지지할 수 있는 흡착헤드(48)를 상하로 움직일 수 있도록 배비하고 있다. 즉, 재치테이블(41)에 재치된 소정위치의 칩 부품(11)을 흡착헤드(48)로 흡착 지지하여, 중계부(50)에서 주고받고, 또한 슬라이드 테이블(43)에서 주고받는다.The chip
슬라이드 테이블(43)은, 장치기대(1)에 입설된 프레임의 수평(Y)방향으로 이동할 수 있으며, 칩 부품반송기구(42)에 의해 중계부(50)로 반송되어 온 칩 부품(11)을 받도록 구성되어 있다. 즉, 슬라이드 테이블(43)은, 칩 부품(11)을 헤드(17)의 흡착가능한 위치로 반송하도록 하고 있다.The slide table 43 is movable in the horizontal (Y) direction of the frame placed on the
다음으로 상술한 구성을 갖춘 본딩장치의 동작을, 도 1로부터 도 6을 참조하면서 설명한다. 한편, 본 실시예에서는, 링형상 프레임의 이면으로부터 점착테이프를 통하여 그 중앙에 지지된 반도체웨이퍼를 다이싱가공하여, 범프전극이 표면에 있는 상태, 즉 페이스 업 상태에 있는 칩 부품(11)을 시트상의 수지기판에 복수 개 설치할 경우를 예로 들어서 설명한다. 이 경우, 링형상 프레임으로부터 칩 부품(11)을 흡착 지지할 때, 칩 부품(11)의 이면에 열경화형(熱硬化型)의 점착재료(粘着材料)가 전사(轉寫)되어 있다.Next, the operation of the bonding apparatus having the above-described configuration will be described with reference to FIGS. 1 to 6. On the other hand, in this embodiment, the semiconductor wafer supported at the center thereof is diced from the back surface of the ring-shaped frame through the adhesive tape, so that the
우선, 기판공급유니트(2)의 재치테이블(6)에 재치하기 전에, 기판(W)의 설치부위와 관련된 기준 스케일을 조각한 마스터기판을 재치테이블에 재치해서 핀(9)에 의해 위치맞춤을 행한다. 그 후, 마스터기판을 반송기구(7)로 반송하고, 설치유니트(3)의 기판지지 스테이지(14)에 재치하는 동시에, 설치유니트(3) 및 인식부(13)를 작동시켜서 헤드(17)의 개구 내에 보내준 투영부(38)로부터 마스터기판상의 기준 스케일을 순서대로 비추고, CCD 카메라로부터, 그 화상 데이타를 받아들여서 CCD카메라(37), 기판지지 스테이지(14) 등의 각 구동축(X, Y, Z)의 좌표와, 화상 데이타로부터 구해진 각 구동축(X, Y, Z)좌표로부터 CCD카메라(37)와 각 축의 상관관계를 구하여, 상관함수로서 미리 장치 본체에 기억해 둔다.First, before placing on the mounting table 6 of the
다음으로, 설치대상의 기판(W)에 대하여 칩 부품(11)을 설치하는 처리를 행한다. 우선, 칩 부품공급유니트(4)의 재치테이블(41)에 다이싱가공 후의 반도체웨이퍼를 지지한 링형상 프레임을 세트한다. 그 다음에, 기판공급유니트(2)의 개폐문(5)을 개방하여 재치테이블(6)에 기판(W)을 위치맞춤하여 재치하고, 그 후, 개폐문(5)을 닫는다. 개폐문(5)을 닫으면, 흡착판(9)이 작동하고, 기판(W) 상대위치에서 강하해서 기판(W)을 표면으로부터 흡착 지지하여 기판지지 스테이지(14)에 반송한다.Next, the process of attaching the
흡착판이 기판지지 스테이지(14)의 윗쪽으로 이동하면, 흡착판(9)이 강하하고, 기판(W)의 이면을 기판지지 스테이지(14)에 맞닿게 하고, 그 후에 흡착판측의 흡착을 해제한다. 흡착을 해제한 흡착판(9)은, 대기위치로 되돌아온다. 흡착판의 흡착의 해제와 동시에 기판지지 스테이지(14)의 흡착을 작동시켜서 기판(W)을 흡착 지지한다.When the adsorption plate moves above the
이 기판(W)을 기판지지 스테이지(14)로 반송함과 동시에, 칩 부품공급유니트(4)로부터 설치유니트(3)의 헤드(17)에 칩 부품(11)을 주고받는 처리를 행한다. 구체적으로는, 흡착헤드(48)를 탑재한 가동프레임(45) 및 가동대(47)가 수평(X, Y)방향으로 이동하여, 소정의 칩 부품(11)을 페이스 업 상태로 흡착 지지한다. 칩 부품(11)을 흡착 지지한 흡착헤드(48)는, 가동대(47)에 의해, 도면 중의 우단(右端)측을 이동해서 칩 부품(11)을 중계부(50)로 주고받기 위해서, 중계부(50)가 칩 부품(11)을 슬라이드 테이블(43) 위로 주고받는다.The substrate W is conveyed to the
칩 부품(11)을 받은 슬라이드 테이블(47)은, 가이드레일을 따라 헤드(17)로 의 칩 부품(11)의 주고받기 위치로 이동한다.The slide table 47 which received the
가동대(25)의 이동에 의해 가이드레일(24)에 따라 칩 부품(11)을 설치하는 위치로 이동한다. 헤드(17)는, 슬라이드 테이블(43)에 의해 설치위치로 반송되어 온 칩 부품(11)을 흡착 지지한다.By the movement of the movable table 25, it moves to the position which installs the
미리 헤드(17)의 개구 내에 있는 투영부(38)는, 도 6에 나타내는 것 같이, 기판(W)에 기록된 얼라인먼트마크(R1)와, 칩 부품(11)의 대각위치에 있는 2개의 범프(R2)를 얼라인먼트마크로 하여, 좌우 한 쌍의 제1 및 제2미러(39a, 39b)에 비추고, 기판(W)의 도면 중 오른쪽의 얼라인먼트마크(R1)를 한 쪽의 CCD카메라(37)에, 기판(W)의 도면 중 좌측의 얼라인먼트마크(R1)를 다른 쪽의 CCD카메라(37)에 투영한다.As shown in FIG. 6, the
다음으로, 칩 부품(11)의 도면 중 오른쪽의 얼라인먼트마크(R2)를 한 쪽의 CCD카메라(37)에, 칩 부품(11)의 도면 중 좌측의 얼라인먼트마크(R2)를 CCD카메라(37)에 투영한다.Next, the alignment mark R2 on the right side of the drawing of the
제어부(29B)는, CCD카메라(37)에 의해 취득한 양 얼라인먼트마크를, 미리 기억한 기준위치와 비교한다. 비교의 결과, 위치편차(位置偏差)가 생겼을 경우, 마스터기판으로 취득한 상관함수를 이용하여, 보정치(補正値)를 산출한다.The
또한, 제어부(29B)는, 이 보정값에 근거하여, 가동테이블(15)을 수평(Y)방향으로, 가동대를 수평(X)방향으로, 또한 헤드(17)를 Z축둘레으로 회전(θ) 이동시키고, 위치맞춤을 행한다.The
위치맞춤이 완료하면, 액츄에이터를 작동시켜서 헤드(17)를 강하시켜, 기 판(W)의 설치부위에 칩 부품(11)을 압압(押壓)한다. 이때, 제어부(29A)에 의해 실린더의 압력실의 압력이 일정하게 유지되므로, 칩 부품(11)에는, 미리 정한 압압(押壓)이 더하여진다. 또한, 이 압압과 동시에 기판지지 스테이지(14)에 내장한 히터에 의해 칩 부품(11)의 이면의 점착제가 가열되어, 중합반응이 촉진된다. 그리고 점착제의 중합반응이 종료하는 시점에서, 헤드(17)이 윗쪽의 대기위치로 돌아간다. 중합반응이 종료하면, 칩 부품(11)이 기판(W)에 고착된다.When the alignment is completed, the actuator is operated to lower the
이러한 일련의 동작이 기판(W)의 칩 부품(11)의 설치 개소의 모두에 대해서 행해진 후에, 흡착판(9)이 작동해서 기판지지 스테이지(14)를 향하여 이동하고, 칩 부품(11)의 설치된 기판(W)을 흡착 지지하여 기판공급유니트(2)의 재치테이블(6)로반송한다. 이 기판을 기판공급유니트(2)로부터 꺼내면, 기판(W)에 칩 부품(11)을 설치하는 일련의 처리가 종료한다.After such a series of operations are performed for all of the installation points of the
상술한 본 실시예에 관한 본딩장치는, 헤드(17)를 축심둘레로 회전시키므로, 칩 부품(11)보다 큰 기판(W)을 회전시킬 필요가 없다. 바꾸어 말하면, 정방형 또는 사각형상(矩形狀)의 기판(W)의 회전반경(回轉半徑)보다 헤드(17)의 회전반경이 작으므로, 장치를 소형화할 수 있다. 또한, 헤드(17)의 개구 내에서 투영부를 진퇴시켜서 기판(W)과 칩 부품(11)의 얼라인먼트마크를 인식시키므로, 항상 광학적인 촬상조건이 일정하면서, 미러로부터 CCD카메라까지 일정한 거리를 유지한 화상이 CCD카메라에 투영된다. 그 결과, 투영각도의 변화에 따른 프리즘과 같은 투영 상(投影像)의 변화의 영향을 받을 일이 없으므로, CCD카메라(37)에 투영되는 얼라인먼트마크가 변형하지 않고, 정확하게 인식할 수 있고, 나아가서는 설치 에러를 억제할 수 있다.Since the bonding apparatus which concerns on this embodiment mentioned above rotates the
또한, 투영부에서 기판(W)과 칩 부품(11)의 얼라인먼트마크를 개별로 인식하도록, 제1 및 제2미러(39a, 39b)와 CCD카메라(37)를 개별로 하고 있으므로, CCD카메라(37)마다의 화상 데이타에 근거하여, 평행하여 위치결정처리를 행할 수 있다. 즉, 위치결정처리를 평행처리하는 것에 의해, 설치속도를 향상시킬 수 있다. 또한, 이 경우, 기판(W)과 칩 부품(11)의 얼라인먼트마크의 거리가 멀 경우에, 유효하게 기능한다.In addition, since the first and
또한, 링크기구(32)는, 가이드 로드 중심과, 동심원상 각도검출용의 스케일(35)과 인코더(36)에 의해, 링크기구(32)의 열화(劣化)에 의한 손실오차 등에 영향을 받지않는 고정도(高精度)의 회전제어를 할 수 있다. 또한, 헤드(17)의 부분만을 회전시키므로, 회전기구를 소형화하면서 경량화할 수 있다.In addition, the
또한, 본 발명은 상술한 실시예에 한하지 않고, 다음과 같이 변형 실시할 수 있다.In addition, this invention is not limited to the above-mentioned embodiment, It can change as follows.
(1) 상기 실시예에 있어서, 가동테이블(15)을 수평(Y)방향으로만 이동시키는 구성이었지만, X 방향으로 이동시키도록 구성해도 좋다. 이 경우, 기판(W)을 회전시키는데 비하여, 이동반경을 작게 할 수 있다.(1) In the above embodiment, the movable table 15 is configured to move only in the horizontal (Y) direction, but may be configured to move in the X direction. In this case, compared with rotating the substrate W, the moving radius can be reduced.
(2) 상기 실시예에서는, 투영부에서 기판(W)과 칩 부품(11)의 얼라인먼트마크를 개별로 인식하도록, 제1 및 제2미러(39a, 38b)와 CCD카메라(37)를 개별로 하고 있었지만, 단일한 구성이라도 좋다. 한편, 단일하게 할 경우는, 칩 부품(11)이 작고, 기판(W)과의 얼라인먼트마크가 근접하여 있을 경우에 바람직하다.(2) In the above embodiment, the first and
(3) 본 발명에 관한 칩 설치장치는, 칩 탑재를 위한 단순한 마운트 장치나, 가열 가압 프로세스를 가진 본딩장치 등, 여러가지 형태의 물건을 포함한다.(3) The chip mounting apparatus according to the present invention includes various types of objects such as a simple mounting apparatus for chip mounting and a bonding apparatus having a heat pressurization process.
(4) 실시예에서는, 칩(2)을 페이스 업 상태로 칩 트레이에 수납했지만, 본 발명은 이것에 한하지 않고, 웨이퍼를 다이싱한 상태이면서 페이스 업으로 공급해도 좋다.(4) Although the chip |
(5) 인식수단은, CCD카메라(37)에 한정되는 것이 아니며, CMOS이나 촬상관을 적용해도 좋다.(5) The recognition means is not limited to the
이상과 같이 , 본 발명은, 전자부품 등의 칩 부품을, 유리나 수지의 기판 등으로 이루어지는 워크에 설치하는데도 적합하다.As mentioned above, this invention is suitable also in installing chip components, such as an electronic component, in the workpiece | work which consists of glass, a resin substrate, etc.
Claims (13)
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2005-00160071 | 2005-05-31 | ||
JP2005160071 | 2005-05-31 | ||
PCT/JP2006/310446 WO2006129547A1 (en) | 2005-05-31 | 2006-05-25 | Bonding apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080007349A true KR20080007349A (en) | 2008-01-18 |
KR101245995B1 KR101245995B1 (en) | 2013-03-20 |
Family
ID=37481476
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020077025622A KR101245995B1 (en) | 2005-05-31 | 2006-05-25 | Bonding apparatus |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5065892B2 (en) |
KR (1) | KR101245995B1 (en) |
CN (1) | CN100565829C (en) |
TW (1) | TWI368466B (en) |
WO (1) | WO2006129547A1 (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR102272618B1 (en) * | 2020-01-03 | 2021-07-05 | 주식회사 제이스텍 | Vertical Alignment and bonding of display panel and COF |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI381200B (en) * | 2008-11-11 | 2013-01-01 | Au Optronics Suzhou Corp | Alignment inspection method and apparatus |
CN103367175B (en) * | 2013-07-02 | 2015-08-19 | 华中科技大学 | A kind of multiple degrees of freedom bonding head for flip-chip |
JP6724421B2 (en) * | 2016-03-02 | 2020-07-15 | Tdk株式会社 | Component mounting apparatus and mounting method |
CN108511381B (en) * | 2017-02-28 | 2023-05-23 | 韩美半导体株式会社 | Bonding apparatus and control method thereof |
JP2019102771A (en) | 2017-12-08 | 2019-06-24 | アスリートFa株式会社 | Electronic component mounting device and electronic component mounting method |
WO2024023926A1 (en) * | 2022-07-26 | 2024-02-01 | ヤマハ発動機株式会社 | Surface mounter and surface mounting method |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2006
- 2006-05-25 JP JP2007518936A patent/JP5065892B2/en active Active
- 2006-05-25 CN CNB2006800162419A patent/CN100565829C/en active Active
- 2006-05-25 WO PCT/JP2006/310446 patent/WO2006129547A1/en active Application Filing
- 2006-05-25 KR KR1020077025622A patent/KR101245995B1/en active IP Right Grant
- 2006-05-30 TW TW095119178A patent/TWI368466B/en active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN100565829C (en) | 2009-12-02 |
JP5065892B2 (en) | 2012-11-07 |
KR101245995B1 (en) | 2013-03-20 |
TW200708213A (en) | 2007-02-16 |
JPWO2006129547A1 (en) | 2008-12-25 |
TWI368466B (en) | 2012-07-11 |
WO2006129547A1 (en) | 2006-12-07 |
CN101176197A (en) | 2008-05-07 |
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Legal Events
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A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170220 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180219 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200218 Year of fee payment: 8 |