KR20070121183A - Apparatus of testing display apparatus and method of testing the same - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치를 나타낸 평면도이다.1 is a plan view showing an inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 검사 유닛을 나타낸 분해 사시도이다.FIG. 2 is an exploded perspective view showing the inspection unit shown in FIG. 1.
도 3은 도 1에 도시된 다수의 탐침과 액정표시패널의 배치 관계를 나타낸 평면도이다.3 is a plan view illustrating an arrangement relationship between a plurality of probes and a liquid crystal display panel illustrated in FIG. 1.
도 4는 도 1에 도시된 연결부와 액정표시패널의 배치 관계를 나타낸 평면도이다.FIG. 4 is a plan view illustrating an arrangement relationship between a connection unit illustrated in FIG. 1 and a liquid crystal display panel.
도 5는 도 4의 절단선 I-I'에 따른 단면도이다.5 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 4.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시패널 검사방법을 나타낸 흐름도이다.6 is a flowchart illustrating a method of inspecting a liquid crystal display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings
100 : 작업 스테이지 200 : 검사 유닛100: work stage 200: inspection unit
210 : 바디부 220 : 탐침210: body portion 220: probe
230 : 컨택바 240 : 연결부230: contact bar 240: connection portion
300 : 카메라 400 : 검사장치300: camera 400: inspection device
본 발명은 검사장치 및 이를 이용한 표시장치 검사방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 검사 시간을 단축할 수 있는 검사장치 및 이를 이용한 표시장치 검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus and a display apparatus inspection method using the same. More particularly, the present invention relates to an inspection apparatus and a display apparatus inspection method using the same.
일반적으로, 액정표시패널이 완성되면, 외관 검사 및 화질 검사를 통해 액정표시패널의 불량을 검사하여 제품의 출하 여부를 결정한다.In general, when the liquid crystal display panel is completed, defects of the liquid crystal display panel are inspected through external appearance inspection and image quality inspection to determine whether to ship the product.
구체적으로, 외관 검사는 액정표시패널에 광을 조사하여 액정표시패널의 외관 상태, 예컨대, 편광판의 정렬 상태, 액정표시패널 표면의 오염 정도, 액정표시패널의 표면 깨짐 및 블랙 매트릭스 불량을 검사한다.Specifically, the external inspection inspects the liquid crystal display panel by irradiating light to inspect the external state of the liquid crystal display panel, for example, the alignment state of the polarizing plate, the degree of contamination of the surface of the liquid crystal display panel, the surface crack of the liquid crystal display panel, and the black matrix defect.
화질 검사는 액정표시패널을 전기적인 신호를 인가하여 액정표시패널에 표시된 영상을 통해 화소 불량, 예컨대, 신호 라인의 오픈 및 공정상의 오류를 검출한다.In the image quality test, an electrical signal is applied to the liquid crystal display panel to detect pixel defects, for example, an opening of a signal line and a process error, through an image displayed on the liquid crystal display panel.
이러한 액정표시패널의 화질 검사는 검사 결과의 신뢰도를 향상시키기 위해 두 가지 방법, 즉, 각 신호 라인에 개별적인 신호를 순차적으로 인가하는 방법과 전체 신호 라인 또는 일정 개수 단위의 신호 라인에 일괄적으로 신호를 인가하는 방법을 이용하여 화질을 검사한다.In order to improve the reliability of the test result, the image quality inspection of the liquid crystal display panel includes two methods, namely, a method of sequentially applying individual signals to each signal line, and a signal signal collectively on all signal lines or a certain number of signal lines. The image quality is inspected using a method of applying.
여기서, 화질 검사장치로는 프로브 검사장치와 컨택바 검사장치가 널리 사용된다. 프로브 검사장치는 액정표시패널의 각 신호 라인에 개별적으로 신호를 인가하여 액정표시패널의 화질을 검사하고, 컨택바 검사장치는 신호를 다수의 신호 라 인에 일괄적으로 제공하여 액정표시패널의 화질을 검사한다.Here, as the image quality inspection apparatus, a probe inspection apparatus and a contact bar inspection apparatus are widely used. The probe inspection device applies a signal to each signal line of the liquid crystal display panel individually to inspect the image quality of the liquid crystal display panel, and the contact bar inspection device provides a signal to a plurality of signal lines collectively. Check it.
이와 같이, 화질 검사는 프로브 검사장치와 컨택바 검사장치를 각각 이용하여 이루어지기 때문에 검사 시간이 지연된다. 즉, 프로브 검사장치를 이용하여 검사가 완료되면, 프로브 검사장치를 해채 한 후 컨택바 검사장치를 이용한 검사가 이루어진다. 이로 인해, 검사 시간이 지연되고, 별도의 검사장치들을 각각 이용하기 때문에 검사 비용이 상승한다.As such, since the image quality inspection is performed using the probe inspection apparatus and the contact bar inspection apparatus, the inspection time is delayed. That is, when the inspection is completed using the probe inspection apparatus, the inspection using the contact bar inspection apparatus is performed after the probe inspection apparatus is released. As a result, the inspection time is delayed, and the inspection cost increases because each uses separate inspection apparatuses.
또한, 컨택바 검사장치는 프로브 검사장치의 아래에 위치하기 때문에, 카메라에서 컨택바 검사장치를 인지하기 어렵다. 이로 인해, 액정표시패널과 컨택바 검사장치의 정렬을 정확하게 조절하기 어려우므로, 컨택바 검사장치로부터의 안정적인 신호 인가가 어렵다.In addition, since the contact bar inspecting apparatus is located under the probe inspecting apparatus, it is difficult to recognize the contact bar inspecting apparatus in the camera. As a result, it is difficult to accurately adjust the alignment of the liquid crystal display panel and the contact bar inspecting device, and thus it is difficult to apply a stable signal from the contact bar inspecting device.
본 발명의 목적은 검사 시간을 단축할 수 있는 검사장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide an inspection apparatus that can shorten the inspection time.
또한, 본 발명의 목적은 상기한 검사장치를 이용하여 표시장치를 검사하는 방법을 제공하는 것이다.It is also an object of the present invention to provide a method for inspecting a display device using the inspection device described above.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 하나의 특징에 따른 검사장치는, 작업 스테이지 및 검사 유닛으로 이루어진다.An inspection apparatus according to one feature for realizing the above object of the present invention comprises a work stage and an inspection unit.
작업 스테이지는 상면에 표시패널이 안착되고, 상/하/좌/우로 이동하여 표시패널의 위치를 조절한다. 검사 유닛은 상기 표시패널에 제1 및 제2 검사 신호를 제공하여 상기 표시패널의 구동 오류를 검사한다. 즉, 상기 검사 유닛은, 바디부, 다 수의 탐침, 컨택바 및 연결부를 구비한다. 다수의 탐침은 상기 바디부의 하면과 결합하고, 제1 검사신호를 출력하여 상기 표시패널에 제공한다. 컨택바는 상기 다수의 탐침의 아래에 구비되고, 제2 검사신호를 출력하여 상기 표시패널에 제공한다. 연결부는 및 상기 컨택바 및 상기 바디부와 결합하여 상기 컨택바를 상기 바디부에 고정한다.The display panel is mounted on the upper surface of the work stage, and moves up, down, left, and right to adjust the position of the display panel. The inspection unit provides first and second inspection signals to the display panel to inspect driving errors of the display panel. That is, the inspection unit includes a body portion, a plurality of probes, a contact bar and a connection portion. The plurality of probes are coupled to the lower surface of the body portion and output a first inspection signal to the display panel. The contact bar is provided under the plurality of probes, and outputs a second test signal to the display panel. A connecting part and the contact bar and the body part are coupled to fix the contact bar to the body part.
여기서, 상기 표시패널은 서로 소정의 거리로 이격되어 위치하는 다수의 신호 라인을 구비한다. 상기 다수의 탐침은 서로 소정의 거리로 이격되어 위치하고, 상기 다수의 신호 라인과 각각 대응한다.The display panel includes a plurality of signal lines spaced apart from each other by a predetermined distance. The plurality of probes are spaced apart from each other by a predetermined distance, and correspond to the plurality of signal lines, respectively.
한편, 상기 컨택바는 상기 다수의 신호라인의 길이 방향과 직교하는 방향으로 연장되어 형성되고, 상기 제2 검사신호를 상기 다수의 신호 라인에 일괄적으로 제공한다.The contact bar extends in a direction orthogonal to a longitudinal direction of the plurality of signal lines, and collectively provides the second test signal to the plurality of signal lines.
또한, 상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 하나의 특징에 따른 표시장치 검사 방법은 다음과 같다.In addition, the display device inspection method according to one feature for realizing the above object of the present invention is as follows.
먼저, 표시패널의 다수의 신호라인에 대응하여 다수의 탐침이 배치된다. 이어, 다수의 탐침은 다수의 신호라인에 제1 검사신호를 순차적으로 인가한다. 이어, 상기 표시패널의 위치를 변경하여 상기 다수의 신호라인을 컨택바에 대응하게 배치한다. 이어, 상기 컨택바는 상기 다수의 신호라인에 제2 검사신호를 일괄적으로 인가한다.First, a plurality of probes are disposed corresponding to a plurality of signal lines of the display panel. Subsequently, the plurality of probes sequentially apply the first test signal to the plurality of signal lines. Next, the plurality of signal lines are arranged to correspond to the contact bar by changing the position of the display panel. Subsequently, the contact bar collectively applies a second test signal to the plurality of signal lines.
이러한 검사장치 및 이를 이용한 표시장치 검사방법에 따르면, 하나의 검사장치를 이용하여 서로 다른 방식의 표시패널 검사가 이루어진다. 이에 따라, 검사 장치는 검사 방법 변경 시 표시패널과의 컨택 위치만 변경되므로, 검사 시간을 단축할 수 있다.According to such an inspection apparatus and a display apparatus inspection method using the same, a display panel inspection of different methods is performed using one inspection apparatus. Accordingly, the inspection apparatus changes the contact position with the display panel only when the inspection method is changed, thereby reducing the inspection time.
이하, 첨부한 도면을 참조하여, 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, it will be described in detail the present invention.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치용 검사장치를 나타낸 평면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 검사 유닛을 나타낸 분해 사시도이다.1 is a plan view illustrating a test apparatus for a display device according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an exploded perspective view of the test unit illustrated in FIG. 1.
도 1 및 도 2를 참조하면, 표시장치용 검사장치(400)는 작업 스테이지(100), 검사 유닛(200) 및 카메라(300)를 포함한다.1 and 2, the
상기 작업 스테이지(100)의 상면에는 상기 액정표시패널(500)이 안착되고, 상기 액정표시패널(500)이 상기 작업 스테이지(100)에 안착 된 상태에서 화질 검사가 이루어진다. 상기 작업 스테이지(100)는 상/하/좌/우로 이동하여 상기 액정표시패널(500)의 위치를 조절한다. 즉, 상기 작업 스테이지(100)는 상기 검사 유닛(200)과 상기 액정표시패널(500)의 정렬하기 위해서 상/하/좌/우로 이동하여 상기 액정표시패널(500)의 위치를 조절한다.The liquid
상기 검사 유닛(200)은 상기 액정표시패널(500)에 제1 및 제2 검사 신호를 인가하여 상기 액정표시패널(500)의 화질을 검사한다. The
구체적으로, 상기 검사 유닛(200)은 바디부(210), 다수의 탐침(220), 컨택바(230) 및 연결부(240)를 포함한다.In detail, the
상기 바디부(210)는 사각 형상을 갖고, 일측이 경사면으로 이루어진다.The
상기 다수의 탐침(220)은 서로 소정의 거리로 이격되어 위치하고, 상기 바디부(210)의 하면과 결합한다. 상기 다수의 탐침(220)은 금속 재질로 이루어지고, 외 부로부터 상기 제1 검사 신호를 수신하여 상기 액정표시패널(500)에 출력한다.The plurality of
이 실시예에 있어서, 상기 다수의 탐침(220)은 동일한 구조를 갖는다. 따라서, 이하, 상기 다수의 탐침(220)의 구성에 대한 구체적인 설명에 있어서, 상기 다수의 탐침(220) 중 제1 탐침(221)을 일례로 하여 설명한다.In this embodiment, the plurality of
상기 제1 탐침(221)은 베이스부(221a), 상기 베이스부(221a)의 제1 단부로부터 연장된 출력부(221b) 및 상기 제1 단부와 대향하는 상기 베이스부(221a)의 제2 단부로부터 연장된 입력부(221c)를 포함한다.The
즉, 상기 베이스부(221a)는 일 방향으로 연장되어 형성된 막대 형상을 갖는다.That is, the
상기 출력부(221b)는 일부분이 상기 바디부(210)의 측면보다 외측으로 돌출되고, 일 단부가 하측으로 구부러진 형상을 갖는다. 외관 검사시, 상기 출력부(221b)는 상기 액정표시패널(500)과 전기적으로 연결되어 상기 입력부(221c)를 통해 수신된 상기 제1 검사 신호를 상기 액정표시패널(500)에 제공한다.A portion of the
상기 입력부(221c)는 상기 바디부(210)의 측면보다 외측으로 돌출되고, 일 단부가 상측으로 구부러진 형상을 갖는다. 상기 입력부(221c)는 상기 제1 검사 신호를 제공하는 구동부(미도시)와 전기적으로 연결되어 상기 제1 검사 신호를 수신한다.The
이하, 도 3을 참조하여 상기 액정표시패널(500)과 상기 다수의 탐침(220)의 연결 관계를 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the connection relationship between the liquid
도 3은 도 1에 도시된 다수의 탐침과 액정표시패널의 배치 관계를 나타낸 평 면도이다.FIG. 3 is a diagram illustrating an arrangement relationship between a plurality of probes and a liquid crystal display panel illustrated in FIG. 1.
도 3을 참조하면, 상기 액정표시패널(500)은 다수의 신호라인(510)을 구비한다. 상기 다수의 신호라인(510)은 소정의 거리로 이격되어 위치하고, 일 단부에는 전기 신호를 입력받는 패드부들이 형성된다. 도면에는 도시하지 않았으나, 상기 다수의 신호라인(510)은 상기 액정표시패널(500)에 구비되어 영상을 표시하는 다수의 화소와 전기적으로 연결되고, 상기 영상에 대응하는 영상 신호를 상기 다수의 화소에 제공한다.Referring to FIG. 3, the liquid
이러한 상기 다수의 신호라인(510)은 상기 다수의 탐침(220)과 전기적으로 연결되어 상기 제1 검사 신호를 수신하고, 상기 제1 검사 신호를 상기 다수의 화소에 제공한다. 상기 다수의 화소는 상기 제1 검사 신호에 대응하는 영상을 표시하고, 표시된 영상을 통해 각 화소의 불량 여부가 판별된다.The plurality of
즉, 상기 다수의 탐침(220)은 상기 다수의 신호라인(510)과 대응하게 위치한다. 화질 검사시, 상기 다수의 탐침(220)은 상기 다수의 신호라인(510)의 상부에 배치되어 상기 다수의 신호라인(510)과 전기적으로 연결된다. 예컨대, 상기 다수의 신호라인(510) 중 제1 신호라인(511)의 패드부(511a) 상에 상기 제1 탐침(211)이 배치되고, 상기 제1 신호라인(511)의 패드부(511a)는 상기 제1 탐침(211)과 전기적으로 연결된다.That is, the plurality of
여기서, 상기 다수의 탐침(220)은 상기 다수의 신호라인(510)과 일대일 대응하고, 상기 제1 검사신호는 상기 다수의 신호라인(510)에 순차적으로 인가된다. 즉, 상기 제1 검사신호는 상기 다수의 탐침(220)에 일괄적으로 인가되지 않고, 순 차적으로 인가된다. 이에 따라, 상기 다수의 화소에 상기 제1 검사신호에 대응하는 영상이 동시에 표시되지 않고, 상기 제1 검사신호가 인가되는 순서에 따라 표시된다.Here, the plurality of
이와 같이, 상기 다수의 탐침(220)은 신호라인과 각각 개별적으로 연결된다. 이에 따라, 상기 다수의 탐침(220)과 상기 다수의 신호라인(510)의 정렬이 정확하게 이루어지지 않으면, 임의의 신호라인과 이에 대응하는 탐침의 정렬이 정확하게 이루어지지 않는다. 따라서, 신호라인과 이에 대응하는 탐침이 전기적으로 연결되지않으므로, 해당 신호라인은 상기 제1 검사신호를 제공받을 수 없다.As such, the plurality of
이러한 상기 다수의 탐침(220)과 상기 다수의 신호라인(510)의 정렬 오류는 탐침과의 전기적 연결이 끊긴 신호라인의 오픈으로 오인될 수 있다.The misalignment of the plurality of
또한, 임의의 탐침과 상기 구동부와의 전기적 연결이 끊길 경우에도 해당 신호라인에 상기 제1 검사신호가 인가되지 않으므로, 해당 신호라인의 오픈으로 오인될 수 있다.In addition, even when the electrical connection between the arbitrary probe and the driver is disconnected, the first test signal is not applied to the corresponding signal line, and thus may be mistaken as the opening of the corresponding signal line.
다시, 도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 검사 유닛(200)은 상기 이러한 검사 오류를 방지하기 위해 상기 컨택바(230)를 이용하여 상기 액정표시패널(500)을 재검사한다.Referring again to FIGS. 1 and 2, the
구체적으로, 상기 컨택바(230)는 상기 다수의 탐침(220)의 아래에서 상기 다수의 탐침(220)으로부터 소정의 거리로 이격되어 위치한다. 상기 컨택바(230)는 상기 다수의 탐침(220)이 배치되는 방향과 직교하는 방향으로 연장되어 형성되고, 막대 형상을 갖는다. 상기 컨택바(230)는 상기 액정표시패널(500)과 전기적으로 연결 되고, 상기 제2 검사신호를 수신하여 상기 액정표시패널(500)에 제공한다. 상기 액정표시패널(500)은 상기 제2 검사신호에 대응하여 영상을 표시하고, 표시된 영상을 통해 상기 각 화소의 불량 여부를 검사한다. 상기 컨택바(230)와 상기 액정표시패널(500)의 연결 관계는 후술하는 도 5에서 구체적으로 설명한다.In detail, the
상기 컨택바(230)는 상기 연결부(240)와 결합하여 상기 바디부(210)에 고정된다. 상기 연결부(240)는 상기 바디부(210)의 하면과 마주하는 제1 판(241), 상기 제1 판(241)으로부터 연장된 제2 판(242) 및 상기 제1 판(241)으로부터 연장된 제3 판(243)을 포함한다.The
즉, 상기 제1 판(241)은 상기 컨택바(230)와 동일한 방향으로 연장되고, 막대 형상을 갖는다. 상기 제1 판(241)의 하면에는 상기 컨택바(230)가 구비된다.That is, the
상기 제2 판(242)은 상기 제1 판(241)의 제1 단부로부터 연장되어 형성되고, 상기 바디부(210)의 측면과 결합한다. 상기 제2 판(242)은 일부분이 제거되어 제1 결합홀(242a)이 형성되고, 상기 바디부(210)의 측면에는 상기 제1 결합홀(242a)에 대응하여 제1 체결홈(211)이 형성된다. 상기 제2 판(242)은 상기 제1 결합홀(242a)을 통해 상기 제1 체결홈(211)에 삽입되는 제1 나사(250)에 의해 상기 바디부(210)와 결합한다.The second plate 242 extends from the first end of the
상기 제3 판(243)은 상기 제1 판(241)의 제2 단부로부터 연장되어 상기 제2 판(242)과 서로 마주하고, 상기 바디부(210)의 측면과 결합한다. 상기 제3 판(243)은 일부분이 제거되어 상기 제2 결합홀(243a)이 형성되고, 상기 바디부(210)의 측면에는 상기 제2 결합홀(243a)에 대응하여 제2 체결홈(미도시)이 형성된다. 상기 제3 판은 상기 제2 결합홀(243a)을 통해 상기 제2 체결홈에 삽입되는 제2 나사(260)에 의해 상기 바디부(210)와 결합한다.The
이하, 도면을 참조하여서 상기 컨택바(230)와 상기 액정표시패널(500)의 연결 관계를 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the connection relationship between the
도 4는 도 1에 도시된 연결부와 액정표시패널의 배치 관계를 나타낸 평면도이고, 도 5는 도 4의 절단선 I-I'에 따른 단면도이다. 여기서, 도 4는 상기 연결부와 상기 액정표시패널의 위치 관계를 보다 명확하게 나타내기 위해 상기 바디부(210) 및 상기 다수의 탐침(220)을 생략하여 도시하였다.FIG. 4 is a plan view illustrating an arrangement relationship between the connection unit illustrated in FIG. 1 and the liquid crystal display panel, and FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 4 illustrates the
도 4 및 도 5를 참조하면, 상기 제2 검사신호를 이용하여 상기 액정표시패널(500)의 화질 검사시, 상기 연결부(240)의 상기 제1 판(241)이 상기 액정표시패널(500)의 상부에 구비되고, 상기 컨택바(230)는 상기 연결부(240)와 상기 액정표시패널(500)과의 사이에 개재된다.4 and 5, when the image quality test of the liquid
즉, 상기 액정표시패널(500)은 상기 다수의 신호라인(510), 베이스 기판(520), 절연막(530) 및 다수의 투명 전극(540)을 구비한다. 상기 다수의 신호라인(510)은 상기 베이스 기판(520)의 상부에 형성되고, 상기 절연막(530)은 상기 다수의 신호라인(510)이 구비된 상기 베이스 기판(520)의 상부에 형성된다. 상기 절연막(530)은 일부분이 제거되어 콘택홀들이 형성된다. 상기 다수의 신호라인의 패드부들은 상기 콘택홀들을 통해 각각 노출된다. 상기 다수의 투명 전극(540)은 상기 절연막(530) 상에 형성되고, 상기 콘택홀들을 통해 상기 패드부들과 전기적으로 연결된다.That is, the liquid
상기 컨택바(230)는 상기 다수의 투명 전극(530)의 상면에 배치되고, 상기 다수의 투명 전극(530)과 전기적으로 연결된다. 이에 따라, 상기 컨택바(230)는 상기 다수의 신호라인(510)과 전기적으로 연결되어 상기 제2 검사신호를 상기 다수의 신호라인(510)에 제공한다.The
특히, 상기 컨택바(230)는 상기 다수의 탐침(220)(도 2 참조)과 달리 상기 다수의 신호라인(510)과 컨택한다. 즉, 하나의 컨택바(230)는 적어도 두 개 이상의 신호라인에 연결되므로, 상기 다수의 신호라인(510)은 상기 제2 검사신호를 동시에 제공받는다.In particular, the
이와 같이, 상기 검사 유닛(200)은 상기 다수의 탐침(220)과 상기 컨택바(230)를 통해 각기 다른 방식으로 상기 액정표시패널(500)의 화질을 검사한다. 이에 따라, 상기 검사 유닛(200)은 상기 다수의 탐침(220)과 상기 다수의 신호라인(510)의 정렬 오류 및 상기 다수의 탐침(220)과 상기 구동부의 연결 불량으로 인해 검사 오류를 정확하게 검출할 수 있으므로, 검사 결과의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.As such, the
다시, 도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 작업 스테이지(100)의 상부에는 상기 카메라(300)가 배치된다. 상기 카메라(300)는 상기 다수의 신호라인(510)(도 3 참조)과 상기 다수의 탐침(220)의 위치를 인식하여 상기 액정표시패널(500)과 상기 다수의 탐침(220)을 정렬한다. 또한, 상기 카메라(300)는 상기 다수의 신호라인(510)과 상기 컨택바(230)의 위치를 인식하여 상기 액정표시패널(500)과 상기 다수의 탐침(220)을 정렬한다.1 and 2, the
상술한 바와 같이, 상기 검사 유닛(200)은 상기 제1 검사신호를 순차적으로 인가하는 상기 다수의 탐침(220)과 상기 제2 검사신호를 일괄적으로 인가하는 상기 컨택바(230)를 구비하여 상기 액정표시패널(500)의 화질을 각기 다른 방식으로 검사한다. 이에 따라, 상기 검사 장치(400)는 각 검사 방법별로 별도의 검사 장치를 구비할 필요 없이 상기 검사 유닛(200) 하나만으로 서로 다른 방법의 화질 검사가 가능하므로, 제조 원가를 절감할 수 있다.As described above, the
특히, 상기 검사 장치(400)는 검사 방법에 따라 상기 작업 스테이지(100)를 이동시켜 상기 액정표시패널(500)과 상기 검사 유닛(200)의 정렬 위치를 변경한다. 즉, 상기 액정표시패널(500)은 검사 방법에 따라 상기 다수의 탐침(220)와 상기 컨택바(230) 중 어느 하나와 전기적으로 연결되므로, 상기 검사장치(400)는 검사 방법에 따라 상기 액정표시패널(500)과의 컨택 위치가 변경된다. 이러한 컨택 위치 변경은 상기 작업 스테이지(100)의 위치 변경을 통해 이루어진다. 이와 같이, 상기 검사장치(400)는 검사 방법 변경 시 상기 액정표시패널(500)과의 정렬 위치만 변경되므로, 검사 시간을 단축할 수 있다.In particular, the
또한, 상기 검사 유닛(200)은 상기 컨택바(230)가 상기 바디부(210)의 하부에 고정되므로, 상기 컨택바(230)와 상기 카메라(300)와의 거리를 감소시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 카메라(300)가 인지할 수 있는 범위 내에 상기 컨택바(230)가 구비될 수 있으므로, 상기 컨택바(230)와 상기 다수의 신호라인(510)을 정확하게 정렬할 수 있다.In addition, the
이하, 도면을 참조하여 상기 검사 장치(400)를 이용하여 상기 액정표시패 널(500)의 화질 검사하는 과정을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a process of inspecting an image quality of the liquid
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시패널 검사방법을 나타낸 흐름도이다.6 is a flowchart illustrating a method of inspecting a liquid crystal display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 1 및 도 6을 참조하면, 먼저, 상기 패드부들의 상부에 다수의 탐침(220)을 배치하고, 상기 카메라(300)에 의해 인식된 상기 다수의 신호라인(510)(도 1 참조)의 패드부들과 상기 다수의 탐침(220)의 위치에 따라 상기 패드부들과 상기 다수의 탐침(220)을 정렬한다(단계 S110). 이로써, 상기 패드부들과 상기 다수의 탐침(220)이 각각 전기적으로 연결된다.1 and 6, first, a plurality of
이어, 상기 다수의 탐침(220)은 상기 제1 검사신호를 순차적으로 상기 다수의 신호라인(510)에 인가한다(단계 S120). 이에 따라, 상기 액정표시패널(500)은 상기 제1 검사신호에 대응하는 영상을 표시하고, 표시된 영상을 통해 상기 각 화소의 불량 여부를 판단할 수 있다.Subsequently, the plurality of
상기 다수의 탐침(220)을 이용한 검사가 완료되면, 상기 작업 스테이지(100)를 이동시켜 상기 액정표시패널(510)을 상기 컨택바(230) 하부에 배치하고, 상기 카메라(300)에 의해 인식된 상기 다수의 신호라인(510)의 패드부들과 상기 컨택바(230)의 위치에 따라 상기 패드부들과 상기 컨택바(230)를 정렬한다. 이로써, 각 패드부는 상기 컨택바(230)와 전기적으로 연결된다.When the inspection using the plurality of
이어, 상기 컨택바(230)는 상기 제2 검사신호를 상기 다수의 신호라인(510)에 일괄적으로 인가한다(단계 S130). 이에 따라, 상기 액정표시패널(500)은 상기 제2 검사신호에 대응하는 영상을 표시하고, 표시된 영상을 통해 상기 각 화소의 불 량 여부를 판단할 수 있다.Subsequently, the
이와 같이, 상기 다수의 탐침(220)과 상기 컨택바(230)가 일체로 구비되므로, 상기 검사 장치(400)는 검사 방법에 따라 상기 작업 스테이지(100)의 위치를 변경하여 상기 액정표시패널(500)과 상기 검사 유닛(200)의 정렬 관계를 조절한다. 이에 따라, 상기 검사 장치(400)는 검사 방법에 따라 검사 장비들을 분해 및 조립하는 과정을 생략할 수 있으므로, 검사 시간을 단축할 수 있다.As described above, since the plurality of
상술한 본 발명에 따르면, 검사 장치는 제1 검사신호를 다수의 신호라인에 순차적으로 제공하는 다수의 탐침과 제2 검사신호를 다수의 신호라인에 동시에 제공하는 컨택바를 구비한다. 다수의 탐침과 컨택바는 검사방법에 따라 액정표시패널과의 전기적 연결이 설정되고, 검사장치는 액정표시패널과의 컨택 위치를 변경하여 검사 방법을 변경한다. 즉, 검사 방법 변경 시, 표시패널과 검사 유닛의 정렬 위치만 변경되므로, 검사 장비들의 분해 및 조립 과정을 생략할 수 있고, 검사 시간을 단축할 수 있으며, 제조 원가를 절감할 수 있다.According to the present invention described above, the inspection apparatus includes a plurality of probes for sequentially providing the first inspection signal to the plurality of signal lines and a contact bar for simultaneously providing the second inspection signal to the plurality of signal lines. The plurality of probes and the contact bars are electrically connected to the liquid crystal display panel according to the inspection method, and the inspection apparatus changes the inspection method by changing the contact position with the liquid crystal display panel. That is, when the inspection method is changed, since only the alignment positions of the display panel and the inspection unit are changed, the disassembly and assembly process of the inspection equipment may be omitted, the inspection time may be shortened, and the manufacturing cost may be reduced.
또한, 다수의 탐침과 마찬가지로 컨택바가 바디부에 연결되므로, 카메라와 컨택바의 거리를 단축할 수 있다. 이에 따라, 카메라가 컨택바의 위치를 인식할 수 있으므로, 컨택바와 액정표시패널의 정렬 오차를 감소시킬 수 있고, 검사 신뢰도를 향상시킬 수 있다.In addition, like the plurality of probes, since the contact bar is connected to the body part, the distance between the camera and the contact bar can be shortened. Accordingly, since the camera can recognize the position of the contact bar, the alignment error between the contact bar and the liquid crystal display panel can be reduced, and inspection reliability can be improved.
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described with reference to the embodiments above, those skilled in the art will understand that the present invention can be variously modified and changed without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. Could be.
Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020060055914A KR20070121183A (en) | 2006-06-21 | 2006-06-21 | Apparatus of testing display apparatus and method of testing the same |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US9006772B2 (en) | 2011-04-18 | 2015-04-14 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light emitting diode lighting apparatus |
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2006
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