KR101177509B1 - Inspection apparatus of touch screen - Google Patents

Inspection apparatus of touch screen Download PDF

Info

Publication number
KR101177509B1
KR101177509B1 KR1020100099904A KR20100099904A KR101177509B1 KR 101177509 B1 KR101177509 B1 KR 101177509B1 KR 1020100099904 A KR1020100099904 A KR 1020100099904A KR 20100099904 A KR20100099904 A KR 20100099904A KR 101177509 B1 KR101177509 B1 KR 101177509B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
touch
pad
display panel
driving
touch screen
Prior art date
Application number
KR1020100099904A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20120038253A (en
Inventor
전상민
이광원
Original Assignee
주식회사 코디에스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 코디에스 filed Critical 주식회사 코디에스
Priority to KR1020100099904A priority Critical patent/KR101177509B1/en
Publication of KR20120038253A publication Critical patent/KR20120038253A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101177509B1 publication Critical patent/KR101177509B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Abstract

본 발명은 터치스크린 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 터치스크린을 이송하지 않고 하나의 장비에서 디스플레이패널과 터치패널의 검사를 수행할 수 있는 터치스크린 검사장치에 관한 것이다.
본 발명에 의한 터치스크린 검사장치는 디스플레이패널의 구동IC가 부착되는 제1패드에 접촉하고 전기신호를 인가하여 상기 디스플레이패널을 전기적으로 검사하는 디스플레이패널 검사수단; 터치패널의 구동IC가 부착되는 제2패드에 접촉하고 전기신호를 인가하는 터치신호 인가수단; 및 상기 터치패널의 각 위치좌표와 연결된 테스트패드에 접촉하여 상기 제2패드를 통해 인가된 전기신호를 검출하는 터치신호 검출수단;을 포함한다.
The present invention relates to a touch screen inspection apparatus, and more particularly, to a touch screen inspection apparatus capable of inspecting a display panel and a touch panel in one device without transferring the touch screen.
The touch screen inspection apparatus according to the present invention includes a display panel inspection means for electrically inspecting the display panel by contacting the first pad to which the driving IC of the display panel is attached and applying an electric signal; Touch signal applying means for contacting the second pad to which the driving IC of the touch panel is attached and applying an electric signal; And touch signal detecting means for contacting a test pad connected to each position coordinate of the touch panel to detect an electrical signal applied through the second pad.

Description

터치스크린 검사장치{INSPECTION APPARATUS OF TOUCH SCREEN}Touch Screen Inspection Device {INSPECTION APPARATUS OF TOUCH SCREEN}

본 발명은 터치스크린 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 터치스크린을 이송하지 않고 하나의 장비에서 디스플레이패널과 터치패널의 검사를 수행할 수 있는 터치스크린 검사장치에 관한 것이다. The present invention relates to a touch screen inspection apparatus, and more particularly, to a touch screen inspection apparatus capable of inspecting a display panel and a touch panel in one device without transferring the touch screen.

도 1은 구동IC를 부착하기 전의 일반적인 터치스크린을 도시한 것으로서, 터치스크린(100)은 LCD나 OLED 등의 디스플레이패널 상에 터치패널(TP)이 구비되어 구성된다. 도 1에서 디스플레이패널은 TFT기판과 C/F기판으로 이루어진 액정패널(L)이다. 또한 액정패널 구동용 구동IC가 부착되는 제1패드(P1)와, 터치패널 구동용 구동IC가 부착되는 제2패드(P2)가 형성된다. 1 illustrates a general touch screen before attaching a driving IC. The touch screen 100 includes a touch panel TP on a display panel such as an LCD or an OLED. In FIG. 1, the display panel is a liquid crystal panel L formed of a TFT substrate and a C / F substrate. In addition, a first pad P1 to which the driving IC for driving the liquid crystal panel is attached and a second pad P2 to which the driving IC for driving the touch panel is attached are formed.

이러한 터치스크린이 제조가 완료되면, 터치스크린의 전기적 검사가 수행되는데, 이는 디스플레이패널의 작동검사와 터치패널의 터치감지 검사가 있다. When the touch screen is manufactured, the electrical test of the touch screen is performed, which includes an operation test of the display panel and a touch detection test of the touch panel.

따라서 종래에는 터치스크린을 검사하기 위하여 디스플레이패널 검사장치와 터치패널 검사장치 등 2개의 장비를 이용하여 각각의 검사를 수행했다. 즉, 터치스크린을 디스플레이패널 검사장치에 로딩하여 디스플레이패널의 작동유무를 검사한 후, 다시 터치스크린을 이송하여 터치패널 검사장치에 로딩하여 터치감지기능을 검사하여 왔다. Therefore, in the related art, each inspection was performed by using two devices such as a display panel inspection device and a touch panel inspection device to inspect a touch screen. That is, the touch screen is loaded on the display panel inspecting device to check the operation of the display panel, and then the touch screen is transferred to the touch panel inspecting device to test the touch sensing function.

그러나 종래의 터치스크린 검사장치는 상술한 2개의 장비가 각각 필요하여 설비가 복잡하다. 또한 터치스크린을 이송하고 로딩/언로딩하므로 검사시간이 길다는 문제점도 있다. 또한 터치스크린을 이송하면서 파손되는 경우도 있었다. However, the conventional touch screen inspection apparatus requires two pieces of equipment described above, and the installation is complicated. In addition, there is a problem that the inspection time is long because the touch screen is transferred and loaded / unloaded. In addition, the touch screen may be damaged while transferring.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 터치스크린을 이송하지 않고 하나의 장비에서 디스플레이패널과 터치패널의 검사를 수행할 수 있는 터치스크린 검사장치를 제공함에 있다. The present invention has been made to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a touch screen inspection apparatus that can perform the inspection of the display panel and the touch panel in one device without transferring the touch screen.

위와 같은 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명에 의한 터치스크린 검사장치는 디스플레이패널의 구동IC가 부착되는 제1패드에 접촉하고 전기신호를 인가하여 상기 디스플레이패널을 전기적으로 검사하는 디스플레이패널 검사수단; 터치패널의 구동IC가 부착되는 제2패드에 접촉하고 전기신호를 인가하는 터치신호 인가수단; 및 상기 터치패널의 각 위치좌표와 연결된 테스트패드에 접촉하여 상기 제2패드를 통해 인가된 전기신호를 검출하는 터치신호 검출수단;을 포함한다. In order to solve the above technical problem, the touch screen inspection apparatus according to the present invention comprises: a display panel inspection means for electrically inspecting the display panel by contacting a first pad to which a driving IC of the display panel is attached and applying an electrical signal; Touch signal applying means for contacting the second pad to which the driving IC of the touch panel is attached and applying an electric signal; And touch signal detecting means for contacting a test pad connected to each position coordinate of the touch panel to detect an electrical signal applied through the second pad.

또한 상기 디스플레이패널 검사수단은 상기 제1패드에 직접 접촉하여 전기신호를 인가하는 구동IC를 포함하는 것이 바람직하다. In addition, the display panel inspection means preferably includes a driving IC for applying an electrical signal in direct contact with the first pad.

또한 상기 디스플레이패널 검사수단은, 전기신호를 인가하는 구동IC와, 상기 구동IC와 상기 제1패드를 전기적으로 연결하는 블레이드를 포함하는 것이 바람직하다. In addition, the display panel inspection means preferably comprises a drive IC for applying an electrical signal, and a blade for electrically connecting the drive IC and the first pad.

또한 상기 터치신호 인가수단은 상기 제2패드에 직접 접촉하여 전기신호를 인가하는 구동IC를 포함하는 것이 바람직하다. In addition, the touch signal applying means preferably includes a driving IC for directly contacting the second pad to apply an electrical signal.

또한 상기 터치신호 인가수단은, 전기신호를 인가하는 구동IC와, 상기 구동IC와 상기 제2패드를 전기적으로 연결하는 블레이드를 포함하는 것이 바람직하다. In addition, the touch signal applying means preferably comprises a drive IC for applying an electrical signal, and a blade for electrically connecting the drive IC and the second pad.

또한 상기 터치신호 검출수단은 상기 테스트패드에 접촉하여 저항을 측정하는 것이 바람직하다. In addition, the touch signal detection means is preferably in contact with the test pad to measure the resistance.

또한 상기 터치신호 검출수단은 상기 테스트패드에 탄성적으로 접촉하는 것이 바람직하다.In addition, the touch signal detection means is preferably in elastic contact with the test pad.

본 발명에 따르면, 터치스크린을 이송하지 않고 하나의 장비에서 디스플레이패널과 터치패널의 검사를 수행할 수 있는 효과가 있다. According to the present invention, the display panel and the touch panel can be inspected in one device without transferring the touch screen.

따라서 터치스크린을 검사하기 위한 설비가 단순해지고, 검사시간도 단축되는 효과가 있다. Therefore, the facility for inspecting the touch screen is simplified, and the inspection time is also shortened.

도 1은 일반적인 터치스크린을 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명에 의한 터치스크린 검사장치를 나타낸 것이다.
도 3 내지 도 9는 도 2에 도시된 검사장치의 요부를 나타낸 것이다.
1 illustrates a general touch screen.
2 shows a touch screen inspection apparatus according to the present invention.
3 to 9 illustrate main parts of the inspection apparatus illustrated in FIG. 2.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 의한 실시예의 구성 및 작용을 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described the configuration and operation of the embodiment according to the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명에 의한 실시예(1)는 스테이지에 안착된 터치스크린(L,TP)의 상부에 메인 베이스(10)가 구비된다. Referring to FIG. 2, in the embodiment 1 of the present invention, the main base 10 is provided on the touch screens L and TP mounted on the stage.

상기 메인 베이스(10)의 일측에는 디스플레이패널 검사수단(30)이 장착된다. 상기 디스플레이패널 검사수단(30)은 디스플레이패널 구동용 구동IC가 부착되는 제1패드(도 1의 P1)에 접촉하여 전기신호를 인가하여 디스플레이패널(L)의 점등검사 또는 비쥬얼검사 등을 한다. One side of the main base 10, the display panel inspection means 30 is mounted. The display panel inspecting means 30 contacts the first pad (P1 of FIG. 1) to which the display panel driving IC is attached and applies an electric signal to perform lighting inspection or visual inspection of the display panel L. FIG.

또한 상기 메인 베이스(10)의 일측에는 터치신호 인가수단(20)이 장착된다. 상기 터치신호 인가수단(20)은 터치패널 구동용 구동IC가 부착되는 제2패드(도 1의 P2)에 접촉하고 전기신호를 인가한다. In addition, the touch signal applying means 20 is mounted on one side of the main base 10. The touch signal applying means 20 contacts the second pad (P2 of FIG. 1) to which the touch panel driving IC is attached and applies an electric signal.

또한 상기 메인 베이스(10)의 타측에는 터치패널 검사수단(40)이 장착된다. 상기 터치패널 검사수단(40)은 터치패널(TP)의 각 위치좌표와 연결된 테스트패드(도 1의 P3)에 접촉하여 상기 제2패드(도 1의 P2)를 통해 인가된 전기신호를 검출한다. In addition, the touch panel inspection means 40 is mounted on the other side of the main base 10. The touch panel inspecting means 40 detects an electrical signal applied through the second pad (P2 of FIG. 1) by contacting a test pad (P3 of FIG. 1) connected to each position coordinate of the touch panel TP. .

도 3 및 도 4는 디스플레이패널 검사수단(30)의 일예를 나타낸 것이다. 도 3을 참조하면, 상기 메인 베이스에 장착되는 매니퓰레이터(31)와, 상기 매니퓰레이터의 저면에 장착되는 바디블록(32)과, 상기 바디블록(32)의 저면에 구비되는 구동IC(35)와, 상기 구동IC(35)에 전기적으로 연결되는 FPC(36)를 포함한다. 3 and 4 show an example of the display panel inspection means 30. Referring to FIG. 3, a manipulator 31 mounted on the main base, a body block 32 mounted on a bottom of the manipulator, a driving IC 35 provided on a bottom surface of the body block 32, And an FPC 36 electrically connected to the drive IC 35.

도 4를 참조하면, 상기 구동IC(25)의 선단에 형성된 배선부를 제1패드(도1의 P1)에 전기적으로 연결한 상태에서 전기신호를 인가하여 디스플레이패널을 전기적으로 검사하는 것이다. 또한 상기 바디블록(32)에는 상기 구동IC(35)의 배선부를 제1패드(도 1의 P1)에 가압하기 위하여 가압부재(33)가 구비되며, 상기 가압부재(33)를 상기 바디블록(32)에 고정하기 위한 고정부재(34)가 구비된다.Referring to FIG. 4, the display panel is electrically inspected by applying an electric signal in a state in which the wiring part formed at the tip of the driving IC 25 is electrically connected to the first pad (P1 of FIG. 1). In addition, the body block 32 is provided with a pressing member 33 to press the wiring portion of the drive IC 35 to the first pad (P1 of FIG. 1), the pressing member 33 is the body block ( A fixing member 34 for fixing to 32 is provided.

도 5 및 도 6은 디스플레이패널 검사수단의 다른 예(30')를 나타낸 것이다. 도 5를 참조하면, 상기 메인 베이스에 장착되는 매니퓰레이터(31')와, 상기 매니퓰레이터의 저면에 장착되는 바디블록(32')과, 상기 바디블록의 저면에 구비되는 블레이드(33')와, 상기 블레이드의 일단과 연결되는 구동IC(34')와, 상기 구동IC에 전기적으로 연결되는 FPC(35')를 포함한다. 5 and 6 show another example 30 'of the display panel inspection means. Referring to FIG. 5, a manipulator 31 ′ mounted on the main base, a body block 32 ′ mounted on a bottom surface of the manipulator, a blade 33 ′ provided on a bottom surface of the body block, and A drive IC 34 'connected to one end of the blade, and an FPC 35' electrically connected to the drive IC.

도 6을 참조하면, 상기 블레이드(33')의 타단을 제1패드에 전기적으로 연결한 상태에서 전기신호를 인가하여 디스플레이패널을 전기적으로 검사하는 것이다. Referring to FIG. 6, the display panel is electrically inspected by applying an electrical signal while the other end of the blade 33 ′ is electrically connected to the first pad.

도 3 및 도 4에 도시된 것은 블레이드와 같은 중간매개체없이 구동IC를 직접 제1패드에 전기적으로 연결한다는 의미에서 필름타입 프로브유닛이라고도 하고, 도 5 및 도 6에 도시된 것은 블레이드를 중간매개체로 사용한다는 의미에서 블레이드타입 프로브유닛이라고 한다. 3 and 4 are also referred to as film type probe units in the sense of electrically connecting the drive IC directly to the first pad without an intermediate medium such as a blade, and shown in FIGS. 5 and 6 to the blade as an intermediate medium. It is called blade type probe unit in the sense of using.

한편, 상술한 터치신호 인가수단(20)도 디스플레이패널 검사수단과 동일한 구성을 한다. 다만, 액정패널 구동용 구동IC 대신 터치패널 구동용 구동IC를 장착한다는 점에서 차이가 있을 뿐이다. 즉, 도 3에 도시된 필름타입이나 도 5에 도시된 블레이드타입으로 동일하게 구성할 수 있다. On the other hand, the above-described touch signal applying means 20 also has the same configuration as the display panel inspection means. However, there is only a difference in that a touch panel driver IC is installed instead of the liquid crystal panel driver IC. That is, the film type shown in FIG. 3 or the blade type shown in FIG. 5 may be configured in the same manner.

도 7은 본 실시예의 터치신호 검출수단(40)을 나타낸 것이다. 터치신호 검출수단(40)은 상기 메인베이스의 타측에 장착되는 포고베이스(41)와, 상기 포고베이스(41)에 복수개 설치되는 포고핀(42)으로 구성된다. 7 shows the touch signal detecting means 40 of this embodiment. The touch signal detecting means 40 includes a pogo base 41 mounted on the other side of the main base, and a plurality of pogo pins 42 provided on the pogo base 41.

도 8을 참조하면, 상기 포고핀(42)은 선단부에 제2패드에 접촉하는 팁(42a)이 형성되며, 특히 상기 팁(42a)은 스프링(42b)에 의해 탄성적으로 지지되어 제2패드에 탄성적으로 접촉할 수 있다. Referring to FIG. 8, the pogo pin 42 has a tip 42a formed at a distal end thereof in contact with the second pad, and in particular, the tip 42a is elastically supported by the spring 42b so that the pogo pin 42 has a second pad. Contact elastically.

도 9를 참조하면, 상기 포고베이스에는 제2패드와 동일한 수의 포고핀(42)이 수직으로 설치되고 각 팁이 제2패드와 일대일 접촉한다. 이 상태에서 각 제2패드의 저항값을 측정하여 터치감지 기능을 검사하는 것이다. Referring to FIG. 9, the same number of pogo pins 42 as the second pad is vertically installed in the pogo base, and each tip is in one-to-one contact with the second pad. In this state, the touch sensing function is examined by measuring the resistance value of each second pad.

1: 터치스크린 검사장치 10: 메인 베이스
20: 터치신호 인가수단 30: 디스플레이패널 검사수단
40: 터치신호 검출수단 41: 포고베이스
42: 포고핀
1: touch screen inspection device 10: main base
20: touch signal applying means 30: display panel inspection means
40: touch signal detection means 41: pogo base
42: pogo pin

Claims (7)

디스플레이패널의 구동IC가 부착되는 제1패드에 접촉하고, 전기신호를 인가하는 디스플레이패널 구동용 구동IC를 포함하여 상기 디스플레이패널을 전기적으로 검사하는 디스플레이패널 검사수단;
터치패널의 구동IC가 부착되는 제2패드에 접촉하고, 전기신호를 인가하는 터치패널 구동용 구동IC를 포함하는 터치신호 인가수단; 및
상기 터치패널의 각 위치좌표와 연결된 테스트패드에 접촉하여 저항을 측정하는 터치신호 검출수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 검사장치.
Display panel inspection means for electrically inspecting the display panel, including a display panel driving IC for contacting a first pad to which the driving IC of the display panel is attached and applying an electric signal;
Touch signal applying means including a touch panel driving IC for contacting the second pad to which the driving IC of the touch panel is attached and applying an electric signal; And
And a touch signal detecting means for measuring resistance by contacting a test pad connected to each position coordinate of the touch panel.
제1항에 있어서,
상기 디스플레이패널 검사수단은 상기 제1패드에 상기 디스플레이패널 구동용 구동IC가 직접 접촉하여 전기신호를 인가하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 검사장치.
The method of claim 1,
The display panel inspecting means is a touch screen inspection apparatus, characterized in that for applying the electric signal by the drive IC for driving the display panel directly to the first pad.
제1항에 있어서,
상기 디스플레이패널 검사수단은 상기 디스플레이패널 구동용 구동IC와 상기 제1패드를 전기적으로 연결하는 블레이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 검사장치.
The method of claim 1,
The display panel inspecting means comprises a blade for electrically connecting the drive IC for driving the display panel and the first pad.
제1항에 있어서,
상기 터치신호 인가수단은 상기 제2패드에 상기 터치패널 구동용 구동IC가 직접 접촉하여 전기신호를 인가하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 검사장치.
The method of claim 1,
The touch signal applying means is a touch screen inspection apparatus, characterized in that for applying the electrical signal by the drive IC for driving the touch panel directly to the second pad.
제1항에 있어서,
상기 터치신호 인가수단은 상기 터치패널 구동용 구동IC와 상기 제2패드를 전기적으로 연결하는 블레이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 검사장치.


The method of claim 1,
The touch signal applying means may include a blade for electrically connecting the driving IC for driving the touch panel and the second pad.


삭제delete 제1항에 있어서,
상기 터치신호 검출수단은 상기 테스트패드에 탄성적으로 접촉하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 검사장치.
The method of claim 1,
And the touch signal detecting means elastically contacts the test pad.
KR1020100099904A 2010-10-13 2010-10-13 Inspection apparatus of touch screen KR101177509B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100099904A KR101177509B1 (en) 2010-10-13 2010-10-13 Inspection apparatus of touch screen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100099904A KR101177509B1 (en) 2010-10-13 2010-10-13 Inspection apparatus of touch screen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120038253A KR20120038253A (en) 2012-04-23
KR101177509B1 true KR101177509B1 (en) 2012-08-27

Family

ID=46139101

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100099904A KR101177509B1 (en) 2010-10-13 2010-10-13 Inspection apparatus of touch screen

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101177509B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101575055B1 (en) * 2014-07-31 2015-12-07 최재원 Inspecting apparatus for flexible display

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140100087A (en) 2013-02-05 2014-08-14 삼성디스플레이 주식회사 Touch Input Device
KR101702300B1 (en) * 2015-06-19 2017-02-03 (주)제이디 test system for touch sensing display panel
KR102362283B1 (en) * 2017-12-27 2022-02-14 주식회사 경동원 Electronic device having display and inspection method of the same

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008185570A (en) * 2007-01-31 2008-08-14 Micronics Japan Co Ltd Probe unit and inspection device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008185570A (en) * 2007-01-31 2008-08-14 Micronics Japan Co Ltd Probe unit and inspection device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101575055B1 (en) * 2014-07-31 2015-12-07 최재원 Inspecting apparatus for flexible display

Also Published As

Publication number Publication date
KR20120038253A (en) 2012-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9013197B2 (en) Chip on glass substrate and method for measuring connection resistance of the same
CN104034964B (en) Check the electric resistance measuring apparatus of compression quality and the measurement method using the device
KR101177509B1 (en) Inspection apparatus of touch screen
CN209624721U (en) Substrate detection apparatus
KR101416882B1 (en) Probe pin contact check system of probe test apparatus
KR20120072703A (en) Unit for probing flat panel display
CN106154095B (en) Detection method of contact LTPS and bonding pad structure used for detection method
KR20060109194A (en) Testing method of liquid crystal display panel
KR101160911B1 (en) Apparatus of testing pad
KR100737384B1 (en) Testing apparatus of display panel for mobile and method using the same
JP5364240B2 (en) Probe unit and inspection device
KR20160084963A (en) Liquid crystal dispaly
KR102016076B1 (en) Testing apparatus and method for flat display device
KR20080027569A (en) Apparatus and method of testing display panel
CN109073695A (en) The inspection method and inspection system of the wiring path of substrate
KR20190097761A (en) Testing apparatus of display panel for mobile and method using the same
KR101465589B1 (en) Probe card pin examination system and apparatus and method
JP4487519B2 (en) Electronic device functional inspection device
KR20090068602A (en) Apparatus for electrical die sorting, method for measuring planarity of needle
KR100671342B1 (en) Apparatus and method for inspecting electricity-driven device
KR101288049B1 (en) Block structure using apparatus for testing electronic device and apparatus for testing semiconductor device including the same
KR100507269B1 (en) Fault test method of liquid crystal display device
KR20070027095A (en) Apparatus for inspecting disconnectionn of lines in a non-contact manner and inspecting method thereof
KR101966895B1 (en) Touch sensor inspecting apparatus and method
JP2673241B2 (en) Contact inspection method and probing method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150629

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160808

Year of fee payment: 5