KR20070063026A - X선 ct 장치 및 x선 ct 방법 - Google Patents
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Abstract
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- 상호 대향 배치된 X선 원과 X선 검출기의 사이에 피사체를 유지해서 X선 광축에 직교하는 회전축을 중심으로 하여 회전하는 회전 스테이지가 배치되어 있음과 동시에 그 회전 스테이지를 회전시키면서 소정의 각도마다 입수한 상기 피사체의 X선 투과 데이터를 이용하여 상기 회전축에 직교하는 평면을 따른 상기 피사체의 단층상을 재구성하는 재구성 연산부를 구비한 X선 CT 장치에 있어서,상기 회전 스테이지 상의 상기 피사체를 상기 회전 스테이지의 회전축상 또는 그 근방 위치로부터 촬영하는 광학 카메라;그 광학 카메라에 의해 촬영된 상기 피사체의 외관상(external image)으로부터 상기 피사체의 형상, 크기 및 상기 회전 축에 대한 위치에 관한 정보를 구하는 화상 처리부; 및상기 화상 처리부에 의해 얻어진 정보를 이용하여 상기 회전 스테이지의 회전시에 피사체와 상기 X선 원과의 간섭을 감시하는 간섭 감시부를 구비하는 X선 CT 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 간섭 감시부는 상기 X선 원과 상기 회전 스테이지의 위치 및 상기 화상처리부에 의해 얻어진 정보에 기초해서 상기 회전 스테이지의 회전시에 상기 피사체와 상기 X선 원이 간섭하는지 여부를 판별하고, 간섭할 경우에는 그 취지의 경보 를 발하는 X선 CT 장치.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 간섭 감시부는 상기 X선 원과 상기 회전 스테이지의 위치 및 상기 화상처리부에 의해 얻어진 정보에 기초해서 상기 회전 스테이지의 회전 시에 상기 피사체와 상기 X선이 간섭하는지 여부를 판별하고, 간섭하는 경우에는 상기 회전 스테이지의 회전을 금지하는 X선 CT 장치.
- 제 1항, 제 2 항, 또는 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,하프 스캔의 선택시에 상기 간섭 감시부는 상기 회전 스테이지의 회전 방향을 상기 피사체가 상기 X선 원에 간섭하지 않고, 상기 X선 원에 대해서 상기 회전 스테이지를 보다 접근시키는 방향으로 제한해서 간섭 감시를 행하는 X선 CT 장치.
- 제 1 항에 있어서,청구항 제1항에 청구된 상기 간섭 감시부를 대신하여 상기 화상 처리부에 의해 얻어진 정보를 이용하여 상기 회전 스테이지의 회전 축이 상기 X선 원에 가장 근접하고 또한 상기 회전 스테이지의 회전시에 상기 피사체가 상기 X선 원에 간섭하지 않는 상기 회전 스테이지의 위치를 설정하는 회전 스테이지 위치 설정부를 더 구비하는 X선 CT 장치.
- 제 5 항에 있어서,하프 스캔의 선택시에 상기 회전 스테이지 위치설정부는 상기 회전스테이지의 회전방향을 상기 피사체가 상기 X선 원에 간섭하지 않고 해당 X선 원에 대해서 상기 회전 스테이지를 보다 근접시킬 수 있는 방향으로 제한하여 상기 회전 스테이지의 위치를 설정하는 X선 CT 장치.
- 제 1 항, 제 2 항, 제 3 항, 제 4 항, 제 5 항, 또는 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 X선 원과 상기 X선 검출기 및 상기 회전 스테이지의 X선 광축 방향으로의 위치관계 및 상기 X선 검출기의 수광면의 크기에 관한 정보를 이용하여 상기 회전축을 중심으로 하는 CT 촬영가능한 영역을 산출하는 CT 촬영영역 연산부; 및상기 CT 촬영영역 연산부에 의해 산출된 영역을 상기 광학 카메라에 의해 촬영된 피사체상에 중첩해서 표시기에 표시하는 표시부를 더 구비하는 X선 CT 장치.
- 제 1 항, 제 2 항, 제 3 항, 제 4 항, 제 5 항, 또는 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 X선 원과 상기 X선 검출기 및 상기 회전 스테이지의 X선 광축 방향의 위치관계 및 상기 X선 검출기의 수광면의 검출기의 크기에 관한 정보를 이용하여 상기 회전축을 중심으로 하는 촬영가능한 영역을 산출하는 CT 촬영 영역 연산부;상기 CT 촬영 연산부에 의해 산출된 영역을 상기 광학 카메라에 의해 촬영된 피사체 상에 중첩해서 표시기에 표시하는 표시부; 및상기 표시부에 표시된 상기 영역의 크기를 변경한 경우에 연동해서 상기 X선 검출기 또는 상기 피사체를 X선 광축 방향에 이동시키는 제어부를 구비하는 X선 CT 장치.
- 상호 대향 배치된 X선 원과 X선 검출기의 사이에 피사체를 유지해서 X선 광축에 직교하는 회전축을 중심으로 하여 회전하는 회전 스테이지가 배치되어 있음과 동시에 상기 회전 스테이지를 회전시키면서 소정의 각도마다 입수한 상기 피사체의 X선 투과 데이터를 이용하여 상기 회전 축에 직교하는 평면에 따른 상기 피사체의 단면상을 재구성하는 재구성 연산부를 구비한 X선 CT 장치에 있어서,상기 회전 스테이지상의 상기 피사체를 해당 회전 스테이지의 회전축 상에 또는 그 근방 위치로부터 촬영하는 광학 카메라;상기 광학 카메라에 의해 촬영된 상기 피사체의 외관상으로부터 상기 피사체의 형상, 크기 및 상기 회전축에 대한 위치에 관한 정보를 구하는 화상처리부; 및상기 화상 처리부에 의해 얻어진 정보를 이용하여 X선의 에어(air) 교정시에 피사체를 X선 검출기의 시야 외로 이동시키는 피사체 퇴피부를 구비하는 X선 CT 장치.
- 상호 대향 배치된 X선 원과 X선 검출기를 포함하고, 상기 X선 원과 X선 검출기의 사이에 피사체를 유지해서 X선 광축에 직교하는 회전축을 중심으로 하여 회전 시키도록 배치된 회전 스테이지를 구비하는 X선 CT 장치의 X선 CT 방법에 있어서,상기 회전 스테이지의 회전축을 따른 한 위치 또는 상기 회전축에 가까운 한 위치에 배치된 광학 카메라에 의해 촬영된 피사체의 외관상으로부터 피사체의 회전축에 대해 형상, 크기 및 위치에 관한 정보를 얻는 단계;상기 정보를 이용하여 상기 회전 스테이지의 회전시 상기 피사체와 상기 X선 원 사이의 간섭을 감시하는 단계; 및상기 회전 스테이지의 회전시 소정의 각도마다 얻어진 상기 피사체의 X선 투시 데이터를 이용하여 상기 회전축에 직교하는 평면을 따라 상기 피사체의 단층상을 재구성하는 단계를 포함하는 X선 CT 장치의 X선 CT 방법
- 제 10 항에 있어서,상기 정보를 이용하여 X선의 조정 수행시 상기 피사체를 X선 검출기의 시야 외로 이동시키는 단계를 더 포함하는 X선 CT 장치의 X선 CT 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004328401 | 2004-11-12 | ||
JPJP-P-2004-00328401 | 2004-11-12 | ||
PCT/JP2005/019691 WO2006051690A1 (ja) | 2004-11-12 | 2005-10-26 | X線ct装置およびx線ct方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070063026A true KR20070063026A (ko) | 2007-06-18 |
KR100888530B1 KR100888530B1 (ko) | 2009-03-11 |
Family
ID=36336373
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020077010057A KR100888530B1 (ko) | 2004-11-12 | 2005-10-26 | X선 ct 장치 및 x선 ct 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4577312B2 (ko) |
KR (1) | KR100888530B1 (ko) |
CN (1) | CN101057135B (ko) |
WO (1) | WO2006051690A1 (ko) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4561981B2 (ja) * | 2005-01-06 | 2010-10-13 | 株式会社島津製作所 | X線ct装置 |
JP5011859B2 (ja) * | 2006-07-13 | 2012-08-29 | 株式会社島津製作所 | 放射線断層撮像装置 |
JP5292791B2 (ja) * | 2007-12-11 | 2013-09-18 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
KR101048291B1 (ko) * | 2009-02-19 | 2011-07-13 | 한국전기연구원 | 위상대조 기반 x선 듀얼 영상수집 장치 및 그 방법 |
WO2012071682A1 (zh) * | 2010-11-30 | 2012-06-07 | 中国科学院自动化研究所 | 基于特异性的多模态三维光学断层成像系统和方法 |
CN102207372A (zh) * | 2011-03-22 | 2011-10-05 | 武汉大学 | 一种步枪弹丸几何形状测量系统 |
JP5510387B2 (ja) * | 2011-05-10 | 2014-06-04 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
JP5863547B2 (ja) * | 2012-04-20 | 2016-02-16 | ヤマハ発動機株式会社 | プリント基板の検査装置 |
US10172574B2 (en) * | 2013-11-27 | 2019-01-08 | Koninklijke Philips N.V. | Interventional X-ray system with automatic iso-centering |
EP3287772B1 (en) * | 2015-04-24 | 2023-04-12 | Nikon Corporation | X-ray inspection device, x-ray inspection method, and method for manufacturing structure |
JP2019128163A (ja) * | 2018-01-19 | 2019-08-01 | 株式会社ミツトヨ | 計測用x線ct装置、及び、その校正方法 |
JP7082492B2 (ja) * | 2018-01-19 | 2022-06-08 | 株式会社ミツトヨ | 計測用x線ct装置、及び、その干渉防止方法 |
JP7143567B2 (ja) * | 2018-09-14 | 2022-09-29 | 株式会社島津テクノリサーチ | 材料試験機および放射線ct装置 |
JP7127608B2 (ja) * | 2019-05-15 | 2022-08-30 | 株式会社島津製作所 | X線ct装置およびx線ct撮影方法 |
JP7412952B2 (ja) * | 2019-10-16 | 2024-01-15 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 医用画像診断装置 |
JP7460426B2 (ja) * | 2020-03-31 | 2024-04-02 | 住友重機械工業株式会社 | X線ct装置 |
US11879854B2 (en) | 2020-09-23 | 2024-01-23 | Baker Hughes Oilfield Operations Llc | Positioning of x-ray imaging system using an optical camera |
CN112798627A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-05-14 | 南京灵雀智能制造有限公司 | 一种螺母立体成像检测装置及检测方法 |
JP2022134573A (ja) | 2021-03-03 | 2022-09-15 | 株式会社島津製作所 | X線分析装置およびx線分析方法 |
CN113945174B (zh) * | 2021-10-21 | 2023-10-17 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种x射线投影测量图像尺寸校准方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0220501B1 (de) * | 1985-10-09 | 1989-05-31 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendiagnostikanlage mit durch eine Steuervorrichtung verstellbaren Anlagenkomponenten |
JPH04158208A (ja) * | 1990-10-22 | 1992-06-01 | Toshiba Corp | X線検査装置 |
JP2955165B2 (ja) * | 1993-11-05 | 1999-10-04 | 東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社 | 断層撮影装置 |
JP3916385B2 (ja) * | 2000-08-24 | 2007-05-16 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | コンピュータ断層撮影装置 |
JP4118535B2 (ja) * | 2001-07-03 | 2008-07-16 | 株式会社日立メディコ | X線検査装置 |
JP3993483B2 (ja) * | 2002-07-11 | 2007-10-17 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | コンピュータ断層撮影装置 |
-
2005
- 2005-10-26 JP JP2006544828A patent/JP4577312B2/ja active Active
- 2005-10-26 KR KR1020077010057A patent/KR100888530B1/ko active IP Right Grant
- 2005-10-26 CN CN2005800389112A patent/CN101057135B/zh active Active
- 2005-10-26 WO PCT/JP2005/019691 patent/WO2006051690A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101057135A (zh) | 2007-10-17 |
JPWO2006051690A1 (ja) | 2008-05-29 |
KR100888530B1 (ko) | 2009-03-11 |
WO2006051690A1 (ja) | 2006-05-18 |
JP4577312B2 (ja) | 2010-11-10 |
CN101057135B (zh) | 2011-01-12 |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170221 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
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