KR20070038199A - Auto probe appratus and using the inspecting method for lcd panel using the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정패널을 오토 프루브(auto probe)로 검사하는 방법에 관한 것으로, 특히 오토 프로브의 접촉핀의 길이를 차등화시켜 접촉순서를 정할 수 있는 오토 프로브 및 이를 이용한 액정패널 검사방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting a liquid crystal panel with an auto probe, and more particularly, to an auto probe capable of determining a contact order by differentiating a length of a contact pin of an auto probe and a method for inspecting a liquid crystal panel using the same.

본 발명에 따른 오토 프로브는 본체와; 상기 본체에 연결되어 피접촉체와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀을 포함하는 것을 특징하며, 접촉핀의 길이를 차등화하여 접촉되는 접촉단자의 순위를 정함으로써 액정패널과 접촉핀이 접촉하여 발생되는 정전기 방전에 의한 화소불량을 최소화시키는 효과가 있다.Auto probe according to the present invention and the main body; And a plurality of contact pins connected to the main body to be in contact with the body to be contacted, and having different lengths. There is an effect to minimize the pixel defects caused by the electrostatic discharge generated by.

본 발명에 따른 액정패널 검사방법은 화소를 구비하는 표시영역과 다수의 접촉패드를 구비한 비표시영역이 마련된 액정패널을 마련하는 단계와; 상기 접촉패드와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀이 형성된 오토 프루브를 마련하는 단계와; 상기 접촉핀을 상기 접촉패드에 접촉하여 액정패널을 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하며, 본 발명에 따른 검사방법으로 불량 유출을 감소시켜 제조 수율을 향상시킬 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a liquid crystal panel, comprising: providing a liquid crystal panel having a display area including pixels and a non-display area including a plurality of contact pads; Providing an autoprobe in contact with the contact pad and having a plurality of contact pins having different lengths; It characterized in that it comprises a step of inspecting the liquid crystal panel by contacting the contact pin to the contact pad, it can improve the manufacturing yield by reducing the outflow of defects by the inspection method according to the present invention.

Description

오토 프루브 및 이를 이용한 액정패널 검사방법{auto probe appratus and using the inspecting method for LCD panel using the same}Auto probe appratus and using the inspecting method for LCD panel using the same}

도 1은 종래의 액정표시장치의 제조공정을 도시한 순서도.1 is a flow chart showing a manufacturing process of a conventional liquid crystal display device.

도 2는 종래의 액정패널을 검사하는 검사장치를 개략적으로 도시한 도면.2 is a schematic view showing an inspection apparatus for inspecting a conventional liquid crystal panel.

도 3은 본 발명에 따른 오토 프루브를 도시한 사시도.Figure 3 is a perspective view of the auto probe according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 액정패널을 검사하는 오토 프루브를 도시한 사시도.4 is a perspective view showing an auto probe for inspecting a liquid crystal panel according to the present invention;

도 5a 내지 5c는 본 발명에 따른 오토 프루브를 이용하여 액정패널 불량검사하는 방법을 도시한 도면.5a to 5c is a view showing a method for inspecting a liquid crystal panel failure by using the auto probe according to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호 설명><Description of Signs of Major Parts of Drawings>

1 : 액정패널 10 : 화소영역   1: liquid crystal panel 10: pixel area

20 : 어레이기판 30 : 컬러필터기판  20: array substrate 30: color filter substrate

50 : 패드영역 60 : 접촉패드  50: pad area 60: contact pad

70 : 링크선 80 : 출력단자   70: link line 80: output terminal

85 : 입력단자 90 : 패드부  85: input terminal 90: pad portion

101 : 오토 프루브 110 : 본체 101: auto probe 110: main body

150 : 접촉핀  150: contact pin

본 발명은 액정패널 검사방법에 관한 것으로, 특히 오토 프루브의 접촉핀의 길이를 차등화시켜 정전기를 방지할 수 있는 오토 프루브 및 이를 이용한 액정패널 검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for inspecting a liquid crystal panel, and more particularly, to an auto probe and a method for inspecting a liquid crystal panel using the same, which are capable of preventing static electricity by differentiating a length of a contact pin of an auto probe.

최근 정보화사회로 시대가 급발전함에 따라 디스플레이소자 기술은 인간과 기계 혹은 인간과 인간과의 대화의 매체로서 정보화 사회의 발전과 함께 그 중요성이 더욱 부각되고 있다.  With the recent rapid development of the information society, the display device technology has become more important with the development of the information society as a medium of human-machine or machine-to-human dialogue.

특히 최근 컴퓨터 및 미디어 산업의 급격한 진보로 인하여 경량, 박형의 평판표시장치에 대한 수요가 증가하고 있으며 이중 액정표시장치는 저전압, 저전력 구동, 해상도, 컬러 표시, 화질 등이 우수하여 노트북이나 데스크탑 모니터에 활발하게 적용되고 있다.In particular, due to the recent rapid advances in the computer and media industries, the demand for light weight and thin flat panel displays is increasing. Dual LCD displays have low voltage, low power drive, resolution, color display, image quality, and so on. It is actively applied.

일반적으로 액정표시장치는 전계 생성 전극이 각각 형성되어 있는 두 기판을 두 전극이 형성되어 있는 면이 마주하도록 배치하고 두 기판 사이에 액정물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정분자를 움직이게 함으로써, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율을 조절하여 화상을 표현하는 장치이다.In general, a liquid crystal display device arranges two substrates on which electric field generating electrodes are formed so that the surfaces on which the two electrodes are formed face each other, injects a liquid crystal material between the two substrates, and then applies a voltage to the two electrodes. By moving the liquid crystal molecules by adjusting the transmittance of the light is thereby changed to represent the image.

도 1은 종래의 액정표시장치의 제조공정을 도시한 순서도이다.1 is a flowchart illustrating a manufacturing process of a conventional liquid crystal display.

도시한 바와 같이, 액정표시장치는 상, 하부 기판의 다수의 소자를 형성하는 단계(S100)와, 상기 상/하부기판을 합착하여 액정을 채워 넣고 액정패널을 형성하 는액정셀 공정(S110)과, 상기 액정패널 검사를 하는 오토 프루브(auto probe) 검사(S120)와, 그리고 모듈(module) 공정(S130)을 거쳐 액정표시장치를 제작하게 된다.As shown, the liquid crystal display device includes forming a plurality of elements of the upper and lower substrates (S100), and combining the upper and lower substrates to fill a liquid crystal to form a liquid crystal panel (S110). The liquid crystal display device is manufactured through an auto probe inspection (S120) for performing the liquid crystal panel inspection, and a module process (S130).

상기 액정패널의 검사에서는 액정패널 라인의 단선 검사와 점결함(point defect) 등의 존재 여부 검사를 위하여 오토 프루브(Auto probe) 장치를 이용하여 점등검사를 하게 된다.In the inspection of the liquid crystal panel, a lighting inspection is performed by using an auto probe device in order to inspect the disconnection of the liquid crystal panel line and the presence of point defects.

도 2는 종래의 액정패널을 검사하는 검사장치를 개략적으로 도시한 도면이다.2 is a view schematically showing a conventional inspection apparatus for inspecting a liquid crystal panel.

도 2에 도시한 바와 같이, 종래의 액정패널의 검사장치(601)에서는 피검사물인 액정패널(501)에 소정의 신호를 인가하여 액정패널(501)의 정상 구동 및 불량 유무를 판별한다.As shown in FIG. 2, the inspection apparatus 601 of the conventional liquid crystal panel applies a predetermined signal to the liquid crystal panel 501 as an inspection object to determine whether the liquid crystal panel 501 is normally driven or defective.

여기서 액정패널(501)에는 화면을 표시하는 표시영역(510)과 비표시영역(550)을 구비하고 있다. The liquid crystal panel 501 includes a display area 510 and a non-display area 550 for displaying a screen.

표시영역(510)에는 다수의 배선이 교차하여 구획되는 다수의 단위화소를 구비하고 있다. 그리고 비표시영역(550)에는 상기 배선에서 연장되어 마련되는 다수의 패드부(590)에 연결되는 다수의 출력단자(580)가 마련되어 있다. The display area 510 includes a plurality of unit pixels in which a plurality of wires cross each other. In the non-display area 550, a plurality of output terminals 580 connected to a plurality of pad parts 590 extending from the wiring are provided.

상기 출력단자(580)는 다수의 게이트단자(550b), 소스단자(550c) 및 공통전극단자(550a)로 구성되어 있다. The output terminal 580 includes a plurality of gate terminals 550b, a source terminal 550c, and a common electrode terminal 550a.

그리고 상기 패드부(590)는 상기 출력단자(580)에 대응하는 입력단자(585)를 구비하고 있다. 여기서 상기 입력단자(585)에 연결되는 접촉패드(560)가 패드부(590)의 밖에 마련된다. The pad unit 590 includes an input terminal 585 corresponding to the output terminal 580. Herein, a contact pad 560 connected to the input terminal 585 is provided outside the pad part 590.

한편, 상기 액정패널(501)의 불량검사(defect)등 액정패널 특성검사를 위하여 검사장치인 오토 프루브(601)를 마련한다. On the other hand, the auto-probe 601, which is an inspection apparatus, is provided for the liquid crystal panel characteristic inspection such as defect inspection of the liquid crystal panel 501.

상기 오토 프루브(601)에는 상기 액정패널(501)을 불량검사를 위하여 게이트접촉패드(560b), 소스접촉패드(560c) 및 공통전극접촉패드(560a)에 신호를 인가하도록 하는 오토 프루브(601)의 본체(610)가 마련되어 있다. The auto probe 601 is configured to apply a signal to the gate contact pad 560b, the source contact pad 560c, and the common electrode contact pad 560a to inspect the liquid crystal panel 501 for defect inspection. The main body 610 is provided.

그리고 상기 본체(610)에는 상기 게이트 접촉패드(560b), 소스 접촉패드(560c) 및 공통전극 접촉패드(560a)에 직접 접촉하는 다수의 니들(needle, 620)을 구비하고 있다. The body 610 includes a plurality of needles 620 that directly contact the gate contact pad 560b, the source contact pad 560c, and the common electrode contact pad 560a.

그런데, 액정패널(501)을 검사하기 위해 상기 다수의 접촉패드(560)와 다수의 니들(620)을 접촉시키는 순간에 두 물체의 전위차에 의해 접촉되는 영역에서 정전기 방전(ESD; Electro Static Discharge) 현상이 발생하게 된다. However, in order to inspect the liquid crystal panel 501, an electrostatic discharge (ESD) is provided in an area that is contacted by a potential difference between two objects at the time of contacting the plurality of contact pads 560 and the plurality of needles 620. The phenomenon occurs.

특히 정전기에 취약한 소스접촉패드(560c)나 게이트접촉패드(560b)에 가장 먼저 접촉하게 되면 접촉패드(560) 및 배선에 스파크성 서지(Surge) 전압이 발생하게 된다. 상기 스파크성 서지 전압은 액정패널(501)의 다수의 배선에 정전기를 유도시키고, 상기 소스/게이트접촉단자(560b, 560c)에 연결되어 있는 소스/게이드배선을 손상시켜 액정패널(501) 불량을 발생시키게 된다. In particular, when the first contact with the source contact pad 560c or the gate contact pad 560b, which is vulnerable to static electricity, a spark surge voltage is generated in the contact pad 560 and the wiring. The spark surge voltage induces static electricity in a plurality of wires of the liquid crystal panel 501, and damages the source / gauge wiring connected to the source / gate contact terminals 560b and 560c to prevent defective liquid crystal panel 501. Will be generated.

오토 프루브(601)는 다수개의 니들(620)이 동일한 길이로 구성이 되어 있기 때문에 상기 접촉패드(560)와 접촉할 때 상기 니들(620)이 최초로 접촉하는 소스접촉패드(560c), 게이트접촉패드(560b), 공통전극접촉패드(560a)의 순서를 정할 수 없는 구조로 되어 있다. Since the auto probe 601 has a plurality of needles 620 having the same length, the source contact pad 560c and the gate contact pad that the needle 620 first contacts when contacting the contact pad 560. 560b and the common electrode contact pad 560a cannot be determined.

그런데 액정패널(501)에는 정전기에 대해 완충되는 그라운드 역할을 할 수 있는 정전방지회로(미도시)가 구비되어 있음에도 불구하고, 오토 프루브(601)의 니들(620)과 최초로 접촉되는 배선에 정전기가 발생하게 된다. By the way, although the LCD panel 501 is provided with an antistatic circuit (not shown) that can serve as a ground to prevent static electricity, static electricity is applied to the wires first contacting the needle 620 of the auto probe 601. Will occur.

즉, 상기 액정패널(501)의 불량을 검사하면서 오토 프루브의 니들(620)과 상기 접촉패드(550)가 접촉되는 순간에 정전기 방전에 취약한 접촉패드(560)와 최초로 접촉하게 되면 서지 전압에 의해 액정패널(501)에 불량이 발생되는 문제점이 있다.That is, the first contact with the contact pad 560 vulnerable to electrostatic discharge at the moment when the needle 620 of the auto probe and the contact pad 550 are in contact while inspecting the defect of the liquid crystal panel 501 is caused by the surge voltage. There is a problem that a defect occurs in the liquid crystal panel 501.

본 발명은 액정패널 검사를 위해 접촉패드에 콘택되는 니들 구조를 변경함으로써 정전기에 의한 배선불량을 방지하여 액정패널 불량을 최소화할 수 있는 오토 프루브 및 이를 이용한 검사방법을 제공하는데 목적이 있다. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an autoprobe and an inspection method using the same, which can minimize a liquid crystal panel defect by preventing a wiring defect caused by static electricity by changing a needle structure contacting a contact pad for inspecting a liquid crystal panel.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 오토 프루브는 본체와; 상기 본체에 연결되어 피접촉체와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀을 포함하는 것을 특징으로 한다. The auto probe of the present invention for achieving the above object and the main body; It is connected to the main body and in contact with the contact body, characterized in that it comprises a plurality of contact pins with different lengths.

여기서 상기 접촉핀은 동일한 길이로 복수의 접촉핀이 1군을 이루어 다수의 군으로 형성되며, 상기 각 군의 접촉핀 길이는 서로 다른 것을 특징으로 한다. In this case, the contact pins are formed of a plurality of groups having a plurality of contact pins having the same length as one group, and the contact pin length of each group is different from each other.

그리고, 상기 1군의 접촉핀은 길이가 차등화된 제1군 접촉핀, 제B군 접촉핀, 제C군 접촉핀을 포함하는 것을 특징으로 한다.The first group of contact pins may include a first group contact pin, a group B contact pin, and a group C contact pin having different lengths.

한편, 상기 피접촉체는 다수의 접촉패드를 구비한 액정패널인 것을 특징으로 한다.On the other hand, the contact body is characterized in that the liquid crystal panel having a plurality of contact pads.

여기서 상기 접촉패드는 공통전극접촉패드, 게이트접촉패드, 소스접촉패드를 구비하는 것을 특징으로 한다.The contact pads may include a common electrode contact pad, a gate contact pad, and a source contact pad.

그리고, 상기 제A군 접촉핀은 상기 공통전극접촉패드와 접촉하고, 상기 제B군 접촉핀은 상기 게이트접촉패드와 접촉하며, 상기 제C군 접촉핀은 상기 소스접촉패드와 접촉하는 특징으로 한다.The group A contact pin contacts the common electrode contact pad, the group B contact pin contacts the gate contact pad, and the group C contact pin contacts the source contact pad. .

상기한 목적을 달성하기 위하여 수단으로 본 발명에 따른 액정패널 검사방법은 화소를 구비하는 표시영역와 다수의 접촉패드를 구비한 비표시영역이 마련된 액정패널을 마련하는 단계와; 상기 접촉패드와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀이 형성된 오토프루브를 마련하는 단계와; 상기 접촉핀을 상기 접촉패드에 접촉하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. In order to achieve the above object, a liquid crystal panel inspection method according to the present invention comprises the steps of: providing a liquid crystal panel having a display area having pixels and a non-display area having a plurality of contact pads; Providing an autoprobe in contact with the contact pad and having a plurality of contact pins having different lengths; And contacting the contact pin with the contact pad.

이하, 첨부한 도면을 참조로 하여 본 발명에 따른 오토 프루브 검사 장치의 구체적인 실시예에 대해서 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a specific embodiment of the auto probe inspection apparatus according to the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 오토 프루브를 도시한 사시도이다. 3 is a perspective view illustrating an autoprobe according to the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 오토 프루브(101)는 본체(110)와 다수의 접촉핀(150)을 구비하고 있다. As shown in FIG. 3, the autoprobe 101 according to the present invention includes a main body 110 and a plurality of contact pins 150.

상기 접촉핀(150)은 다수 개의 핀으로 마련되며, 상기 접촉핀(150)은 길이가 가장 길게 형성되어 있는 제A군의 접촉핀(150a)과 길이가 가장 짧게 형성된 제C군 의 접촉핀(150c), 제A군의 접촉핀(150a)과 제C군의 접촉핀(150c)의 길이에 중간 길이의 제B군의 접촉핀(150b)을 구비하고 있다. The contact pin 150 is provided with a plurality of pins, the contact pin 150 is the contact pin 150a of the A group is formed the longest length and the contact pin of the C group formed the shortest ( 150c), the contact pin 150a of the group A group and the contact pin 150b of the group B of intermediate length are provided in the length of the contact pin 150a of the group A group.

제A군의 접촉핀(150a)은 피접촉체와 접촉하면서 발생되는 정전기 방전이 발생하여도 상기 정전기 방전을 흡수할 수 있는 접촉패드와 접촉하도록 길이가 가장 길게 형성되어 있다. The contact pin 150a of the group A is formed to have the longest length in contact with the contact pad that can absorb the electrostatic discharge even when the electrostatic discharge generated while contacting the contact body is generated.

제A군의 접촉핀(150a)이 접촉을 하면서 검사영역에서 발생되는 정전기를 흡수하여 그라운드 역할을 하게 된다. 이에 따라 이어서 접촉되는 접촉핀(150)과 피접촉체 간에는 전위차가 감소하여 접촉으로 인하여 발생되는 서지성 전압에 의한 배선불량을 최소화시킬 수 있게 된다.The contact pin 150a of the group A absorbs the static electricity generated in the inspection area while making contact and serves as a ground. Accordingly, the potential difference is reduced between the contact pin 150 and the contacted body to be subsequently contacted, thereby minimizing the wiring defect due to the surge voltage generated due to the contact.

제C군의 접촉핀(150c)은 접촉에 의해 정전기에 영향을 크게 받는 접촉패드에 접촉하도록 길이를 짧게하여 후순위 접촉을 하게됨에 따라 정전기에 대한 손상을 최소화되도록 한다. The contact pin 150c of the C group is shortened to contact the contact pad which is greatly affected by the static electricity by the contact, thereby minimizing damage to the static electricity due to the subsequent contact.

그리고 제B군의 접촉핀(150b)은 제A군 접촉핀(150a)과 제C군의 접촉핀(150c)에 중간 길이이며, 제 3군 접촉핀(150c)보다 정전기에 견딜 수 있는 용량의 접촉패드에 접촉하도록 한다.The contact pin 150b of the group B has an intermediate length between the contact pin 150a of the group A and the contact pin 150c of the group C, and has a capacity to withstand static electricity than the contact pin 150c of the third group. Make contact with the contact pad.

한편, 상기 본체(110)는 상기 접촉핀(150)과 상기 접촉패드가 연결되면 본체(110)에서 검사신호를 인가하게 되고, 상기 인가된 검사신호는 상기 접촉패드를 경유하여 마련된 다수의 배선을 따라 신호가 인가되어 화소불량 등의 특성을 검사하게 된다. Meanwhile, when the contact pin 150 and the contact pad are connected, the main body 110 applies a test signal from the main body 110, and the applied test signal uses a plurality of wires provided through the contact pad. Accordingly, a signal is applied to check characteristics such as pixel defects.

상기와 같이 구비되는 오토 프루브(101)를 이용하여 액정패널의 검사한다. The liquid crystal panel is inspected using the auto probe 101 provided as described above.

도 4는 본 발명에 따른 액정패널을 검사하는 오토 프루브를 도시한 사시도이다. 4 is a perspective view illustrating an auto probe for inspecting a liquid crystal panel according to the present invention.

상기 액정패널(1)은 어레이(array) 공정, 컬러필터(color filter)공정, 액정 셀(Cell) 공정 및 모듈(module) 공정을 거쳐 제조된다.The liquid crystal panel 1 is manufactured through an array process, a color filter process, a liquid crystal cell process, and a module process.

도 4에 도시된 바와 같이, 다수의 배선을 구비한 액정패널(1)을 마련한다. 그리고 액정패널(1)은 표시영역(10)과 비표시영역(50)을 구비하고 있다. As shown in FIG. 4, a liquid crystal panel 1 having a plurality of wirings is provided. The liquid crystal panel 1 includes a display area 10 and a non-display area 50.

상기 액정패널(1)은 서로 마주 보도록 결합되어 있는 어레이 기판(20) 및 컬러필터기판(30)과, 그 사이에 형성된 액정(미도시)을 구비하고 있다.The liquid crystal panel 1 includes an array substrate 20 and a color filter substrate 30 which are coupled to face each other, and a liquid crystal (not shown) formed therebetween.

여기서, 상기 컬러필터기판(30)은 상기 표시영역을 제외한 부분의 빛을 차단하기 위한 블랙 매트릭스(black matrix)와 컬러필터가 형성되어 있다.Here, the color filter substrate 30 is formed with a black matrix and a color filter for blocking light in portions other than the display area.

또한, 상기 어레이기판(20)은 일정 간격을 갖고 일 방향으로 배열된 복수 개의 게이트배선과 상기 각 게이트배선에 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 배열되는 복수개의 데이터배선과 상기 게이트배선 및 데이터배선에 의해 정의된 매트릭스(matrix) 표시영역(10)에 각각 형성되는 복수 개의 스위칭소자 및 화소전극들이 형성되어 있다. 여기서 화소전극이 형성되어 있는 영역을 표시영역(10)으로 정의한다. In addition, the array substrate 20 may include a plurality of gate lines arranged in one direction at regular intervals and a plurality of data lines arranged at regular intervals in a direction perpendicular to the gate lines, and the gate lines and data lines. A plurality of switching elements and pixel electrodes respectively formed in the matrix display area 10 defined by the pixel are formed. The area where the pixel electrode is formed is defined as the display area 10.

한편, 여기서 상기 어레이기판(20) 및/또는 컬러필터기판(30)에 ITO(indium tin oxide)을 포함하는 투명전도성 재료로 공통전극(미도시)을 형성한다. Meanwhile, a common electrode (not shown) is formed on the array substrate 20 and / or the color filter substrate 30 using a transparent conductive material including indium tin oxide (ITO).

그리고 액정패널(1)에는 표시영역(10)의 일측에 비표시영역(50)이 마련된다. 상기 비표시영역(50)에는 패드부(90)가 마련되어 있고, 상기 어레이기판(20)에 형 성되어 있는 다수의 배선이 연장된 링크선(70)의 단부에는 입력단자(60)가 마련되어, 패드부(90)와 연결되어 있다. The liquid crystal panel 1 is provided with a non-display area 50 on one side of the display area 10. A pad portion 90 is provided in the non-display area 50, and an input terminal 60 is provided at an end portion of the link line 70 in which a plurality of wires formed on the array substrate 20 extend. It is connected to the pad unit 90.

그런데 상기 액정패널(1)의 품질을 향상시키고 불량품을 가려내어 완성된 생산품이 불량 액정패널인 것을 방지해야 하기 때문에 가요성 인쇄회로(FPC)를 통해 인쇄회로기판(PCB)을 연결하기 전에 액정패널(1)의 불량을 검사하게 된다. However, since the quality of the liquid crystal panel 1 must be improved and the defective product must be screened out to prevent the finished product from being a bad liquid crystal panel, the liquid crystal panel before connecting the printed circuit board (PCB) through the flexible printed circuit (FPC). The defect of (1) is examined.

그래서 상기 패드부(90)에는 입력단자(60)에 대응하는 출력단자(80)가 형성되어 있고, 상기 출력단자(80)에 연결되어 패드부(90) 밖에 다수의 접촉패드(60)를 형성한다. 액정패널(1)의 불량검사를 하기 위해서는 상기 접촉패드(60)에 접촉할 수 있는 접촉핀을 구비한 액정패널 검사장치를 필요로 한다. Thus, an output terminal 80 corresponding to the input terminal 60 is formed in the pad unit 90, and is connected to the output terminal 80 to form a plurality of contact pads 60 outside the pad unit 90. do. In order to perform a defect inspection of the liquid crystal panel 1, a liquid crystal panel inspection apparatus having contact pins capable of contacting the contact pad 60 is required.

그래서 상기 액정패널(1)을 형성하고, 상기 액정패널(1)의 결함 등의 존재 여부를 검사하기 위하여 본 발명에 따른 오토프루브(101)를 이용하여 불량검사를 하게 된다.Thus, the liquid crystal panel 1 is formed and a defect inspection is performed by using the autoprobe 101 according to the present invention in order to inspect the presence of a defect or the like of the liquid crystal panel 1.

상기 접촉핀(150)은 상기 액정패널(1)을 구동하기 위하여 상기 본체(110)에서 보내진 검사신호가 상기 패드부(90)를 통해 액정패널(1)로 전달되도록 한다. 그리고 접촉핀(150)과 본체(110)는 스프링을 포함하는 탄성을 이용한 장비로 연결되어 길이가 차등화된 접촉핀(150)을 액정패널(1)에 접촉될 수 있게 한다.The contact pin 150 allows the test signal sent from the main body 110 to be transmitted to the liquid crystal panel 1 through the pad unit 90 to drive the liquid crystal panel 1. In addition, the contact pin 150 and the main body 110 may be connected to a device using elasticity including a spring to allow the contact pin 150 having a differential length to contact the liquid crystal panel 1.

즉, 상기 접촉핀(150)은 상기 액정패널(1)의 접촉패드(60)와 전기적으로 연결시키는 역할을 한다.That is, the contact pin 150 serves to electrically connect with the contact pad 60 of the liquid crystal panel 1.

한편, 접촉핀(150)은 제A군의 접촉핀(150a)을 구비한다. 제A군의 접촉핀(150a)은 길이가 가장 길게 형성되어 접촉패드(60)와 접촉할 때 1순위로 접촉하게 된다. On the other hand, the contact pin 150 is provided with a contact pin 150a of the A group. The contact pin 150a of Group A is formed to have the longest length so that the contact pin 150a comes in contact with the first position when contacting the contact pad 60.

그래서 제A군의 접촉핀(150)은 공통전극접촉패드(60a)에 접촉하게 된다. 공통전극단자(60a)는 공통전극에 연장되어 비표시영역(50)에 형성되어 있으며, 상기 공통전극은 액정패널(1)에 있어 넓은 면적에 형성되어 있고 접촉에 의해서 발생되는 정전기 방전에 스파크성 서지 전압을 흡수할 수 있다. Thus, the contact pin 150 of group A is in contact with the common electrode contact pad 60a. The common electrode terminal 60a extends to the common electrode and is formed in the non-display area 50. The common electrode is formed in a large area in the liquid crystal panel 1 and is spark-resistant to electrostatic discharge generated by contact. It can absorb surge voltage.

제A군 접촉핀(150a)이 접촉을 하면서 정전기 방전을 흡수하여 그라운드 역할을 하게됨에 따라 이어서 접촉되는 접촉핀(150)과 피접촉체 간에는 전위차가 감소하여 접촉으로 인하여 발생되는 서지성 전압을 최소화시킬 수 있게 된다.As the group A contact pin 150a contacts and absorbs electrostatic discharge to serve as a ground, the potential difference decreases between the contact pin 150 and the contacted body subsequently contacted to minimize the surge voltage generated by the contact. You can do it.

제B군 접촉핀(150b)은 게이트접촉패드(60b)와 접촉하게 된다. 게이트접촉패드(60b)는 게이트배선에 연장되며 비표시영역(50)에 게이트단자(60b)가 형성되어 있다.The group B contact pin 150b is in contact with the gate contact pad 60b. The gate contact pad 60b extends to the gate wiring and has a gate terminal 60b formed in the non-display area 50.

게이트배선은 높은 전압에 견딜 수 있게 형성되어 있기 때문에 제B군 접촉핀(150b)이 접촉하여도 공통전극접촉패드(60a)에 의해 접촉핀(150)과 전위차가 최소화된 상태이기 때문에 서지 전압의 영향을 최소화하여 받게 된다.Since the gate wiring is formed to withstand a high voltage, the potential difference between the contact pin 150 and the contact pin 150 is minimized by the common electrode contact pad 60a even when the group B contact pin 150b contacts. The impact is minimal.

제C군 접촉핀(150b)은 소스접촉패드(60c)에 접촉하게 된다. 상기 소스배선은 정전기 방전에 취약하기 때문에 서로 다른 전위에 의해서 유도되는 정전기 방전에 불량이 발생할 수 있게 된다. The group C contact pin 150b is in contact with the source contact pad 60c. Since the source wiring is vulnerable to electrostatic discharge, a defect may occur in electrostatic discharge induced by different potentials.

따라서 상기 유도되는 정전기 방전에 의한 불량을 최소화시키기 위해 공통전극접촉패드(60a)와 게이트접촉패드(60b)가 접촉한 후에 접촉을 하여 상기 정전기 방전에 의한 피해를 최소화할 수 있다. Therefore, in order to minimize the defect caused by the electrostatic discharge, the common electrode contact pad 60a and the gate contact pad 60b may be contacted to minimize the damage caused by the electrostatic discharge.

따라서 오토 프루브(101)의 접촉핀(150)의 길이를 차등화하여 접촉되는 접촉패드(60)의 순위를 정할 수 있게 됨으로써 액정패널(1)과 접촉핀(150)이 접촉하여 발생되는 정전기 방전에 의한 손상을 최소화시킬 수 있다.Therefore, the contact pins 60 of the auto probe 101 may be differentiated in order to rank the contact pads 60 in contact with each other, thereby preventing the electrostatic discharge generated by the contact between the liquid crystal panel 1 and the contact pins 150. Damage caused by this can be minimized.

상기와 같이 구비되는 오토 프루브(101)를 이용하여 액정패널의 검사하는 방법을 설명한다.A method of inspecting the liquid crystal panel using the auto probe 101 provided as above will be described.

도 5a 내지 5c는 본 발명에 따른 오토 프루브를 이용하여 액정패널 검사하는 방법을 도시한 도면이다. 5A to 5C illustrate a method of inspecting a liquid crystal panel using an autoprobe according to the present invention.

도 5a에 도시된 바와 같이, 상기 오토 프루브(101)는 액정패널(1)의 가장 자리에 형성되어 있는 비표시영역(50)의 접촉패드(60)에 다수의 접촉핀(150)을 전기적으로 접촉한다. As shown in FIG. 5A, the auto probe 101 electrically connects the plurality of contact pins 150 to the contact pads 60 of the non-display area 50 formed at the edge of the liquid crystal panel 1. Contact.

상기 접촉핀(150)은 상기 액정패널(1)을 구동하기 위하여 상기 본체(110)에서 보내진 검사신호가 상기 접촉패드(90)를 통해 액정패널(1)로 전달되도록 한다. The contact pin 150 allows the test signal sent from the main body 110 to be transmitted to the liquid crystal panel 1 through the contact pad 90 to drive the liquid crystal panel 1.

한편, 접촉핀(150)은 제A군의 접촉핀(150a)을 구비한다. 제A군의 접촉핀(150a)은 길이가 가장 길게 형성되어 접촉패드(60)와 접촉할 때 1순위로 접촉하게 된다. On the other hand, the contact pin 150 is provided with a contact pin 150a of the A group. The contact pin 150a of Group A is formed to have the longest length so that the contact pin 150a comes in contact with the first position when contacting the contact pad 60.

그래서 제A군의 접촉핀(150)은 공통전극접촉패드(60a)에 접촉하게 된다. 공통전극단자(60a)는 공통전극에 연장되어 비표시영역(50)에 형성되어 있으며, 상기 공통전극은 액정패널(1)에 있어 넓은 면적에 형성되어 있고 접촉에 의해서 발생되는 정전기 방전에 스파크성 서지 전압을 흡수할 수 있다. Thus, the contact pin 150 of group A is in contact with the common electrode contact pad 60a. The common electrode terminal 60a extends to the common electrode and is formed in the non-display area 50. The common electrode is formed in a large area in the liquid crystal panel 1 and is spark-resistant to electrostatic discharge generated by contact. It can absorb surge voltage.

제A군 접촉핀(150a)이 접촉을 하면서 정전기 방전을 흡수하여 그라운드 역할 을 하게됨에 따라 이어서 접촉되는 접촉핀(150)과 피접촉체 간에는 전위차가 감소하여 접촉으로 인하여 발생되는 서지성 전압을 최소화시킬 수 있게 된다.As the group A contact pin 150a contacts and absorbs electrostatic discharge to serve as a ground, the potential difference is reduced between the contact pin 150 and the contacted body subsequently contacted to minimize the surge voltage generated by the contact. You can do it.

도 5b에 도시된 바와 같이, 제B군 접촉핀(150b)은 게이트접촉패드(60b)와 접촉하게 된다. 게이트접촉패드(60b)는 게이트배선에 연장되며 비표시영역(50)에 게이트단자(60b)가 형성되어 있다.As shown in FIG. 5B, the group B contact pin 150b is in contact with the gate contact pad 60b. The gate contact pad 60b extends to the gate wiring and has a gate terminal 60b formed in the non-display area 50.

게이트배선은 높은 전압에 견딜 수 있게 형성되어 있기 때문에 제B군 접촉핀(150b)이 접촉하여도 공통전극접촉패드(60a)에 의해 접촉핀(150)과 전위차가 최소화된 상태이기 때문에 서지 전압의 영향을 최소화하여 받게 된다.Since the gate wiring is formed to withstand a high voltage, the potential difference between the contact pin 150 and the contact pin 150 is minimized by the common electrode contact pad 60a even when the group B contact pin 150b contacts. The impact is minimal.

여기서 제A군 접촉핀(150a)과 제B군 접촉핀(150b)의 길이가 차등화되어 있지만 본체(110)와 접촉핀(150)이 스프링을 포함하는 탄성을 이용하는 장치로 연결되어 있어 상기 접촉패드(150)와 연결할 수 있게 된다. Here, although the lengths of the group A contact pins 150a and the group B contact pins 150b are differentiated, the main body 110 and the contact pins 150 are connected to a device using elasticity including a spring, and thus the contact pads. 150 can be connected.

도 5c에 도시된 바와 같이, 제C군 접촉핀(150b)은 소스접촉패드(60c)에 접촉하게 된다. 상기 소스배선은 정전기 방전에 취약하기 때문에 서로 다른 전위에 의해서 유도되는 정전기 방전에 불량이 발생할 수 있게 된다. As shown in FIG. 5C, the group C contact pin 150b is in contact with the source contact pad 60c. Since the source wiring is vulnerable to electrostatic discharge, a defect may occur in electrostatic discharge induced by different potentials.

따라서 상기 유도되는 정전기 방전에 의한 불량을 최소화시키기 위해 공통전극접촉패드(60a)와 게이트접촉패드(60b)가 접촉한 후에 접촉을 하여 상기 정전기 방전에 의한 피해를 최소화할 수 있다. Therefore, in order to minimize the defect caused by the electrostatic discharge, the common electrode contact pad 60a and the gate contact pad 60b may be contacted to minimize the damage caused by the electrostatic discharge.

이와 같이 액정패널(1)의 정상 구동 및 불량 유무를 검사한다.In this way, the normal operation and failure of the liquid crystal panel 1 are inspected.

따라서 오토 프루브(101)의 접촉핀(150)의 길이를 차등화하여 접촉되는 접촉패드(60)의 순위를 정할 수 있게 됨으로써 액정패널(1)과 접촉핀(150)이 접촉하여 발생되는 정전기 방전에 의한 손상을 최소화시킬 수 있다.Therefore, the contact pins 60 of the auto probe 101 may be differentiated in order to rank the contact pads 60 in contact with each other, thereby preventing the electrostatic discharge generated by the contact between the liquid crystal panel 1 and the contact pins 150. Damage caused by this can be minimized.

또한, 본 발명에 따른 검사방법으로 불량 유출을 감소시켜 제조 수율을 향상시킬 수 있다. In addition, the inspection method according to the present invention can reduce the outflow of the defective to improve the production yield.

이상, 본 발명은 도면에 도시된 실시 예를 참고로 하여 액정 패널의 오토 프루브 검사 장치 및 검사 방법이 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.In the above, the present invention has been described with reference to the embodiment shown in the drawings, the auto-probe inspection apparatus and the inspection method of the liquid crystal panel, but this is merely exemplary, those skilled in the art will be various It will be understood that other variations and equivalent embodiments are possible. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.

본 발명에 따른 오토 프루브의 접촉핀의 길이를 차등화하여 접촉되는 패드의 순위를 정할 수 있게 됨으로써 액정패널과 접촉핀이 접촉하여 발생되는 정전기 방전에 의한 배선손상을 최소화시켜는 효과가 있다.As the length of the contact pins of the auto probe according to the present invention can be differentiated, the pads to be contacted can be ranked, thereby minimizing wiring damage due to electrostatic discharge generated by contact between the liquid crystal panel and the contact pins.

또한, 본 발명에 따른 검사방법으로 불량 유출을 감소시켜 제조 수율을 향상시키는 효과가 있다. In addition, the inspection method according to the present invention has the effect of reducing the outflow of the defect to improve the production yield.

Claims (12)

본체와;A main body; 상기 본체에 연결되어 피접촉체와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 오토 프루브. And a plurality of contact pins connected to the main body to be in contact with the contacted body and having a differential length. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 접촉핀은 동일한 길이로 복수의 접촉핀이 1군을 이루어 다수의 군으로 형성되며, 상기 각 군의 접촉핀 길이는 서로 다른 것을 특징으로 하는 오토 프루브. The contact pin is a plurality of contact pins are formed in a group of a plurality of contact pins with the same length, the length of the contact pins of each group, characterized in that the auto probe. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 1군의 접촉핀은 길이가 차등화된 제A군 접촉핀, 제B군 접촉핀, 제C군 접촉핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 오토 프루브.The first group of contact pins auto-probe characterized in that it comprises a Group A contact pins, Group B contact pins, Group C contact pins are differential in length. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 피접촉체는 다수의 접촉패드를 구비한 액정패널인 것을 특징으로 하는 오토 프루브.And said contact body is a liquid crystal panel having a plurality of contact pads. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 접촉패드는 공통전극접촉패드, 게이트접촉패드, 소스접촉패드를 구비하는 것을 특징으로 하는 오토 프루브.The contact pad may include a common electrode contact pad, a gate contact pad, and a source contact pad. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제A군 접촉핀은 상기 공통전극접촉패드와 접촉하고, 상기 제B군 접촉핀은 상기 게이트접촉패드와 접촉하며, 상기 제C군 접촉핀은 상기 소스접촉패드와 접촉하는 특징으로 하는 오토 프루브.The group A contact pins contact the common electrode contact pads, the group B contact pins contact the gate contact pads, and the group C contact pins contact the source contact pads. . 화소를 구비하는 표시영역와 다수의 접촉패드를 구비한 비표시영역이 마련된 액정패널을 마련하는 단계와; Providing a liquid crystal panel having a display area including pixels and a non-display area including a plurality of contact pads; 상기 접촉패드와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀이 형성된 오토프루브를 마련하는 단계와;Providing an autoprobe in contact with the contact pad and having a plurality of contact pins having different lengths; 상기 접촉핀을 상기 접촉패드에 접촉하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.And contacting the contact pins with the contact pads. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 접촉핀은 동일한 길이로 복수의 접촉핀이 1군을 이루어 다수의 군으로 형성되며, 상기 각 군의 접촉핀 길이는 서로 다른 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법. The contact pin is a liquid crystal panel inspection method, characterized in that a plurality of contact pins are formed in a group of a plurality of contact pins having the same length, the contact pin length of each group is different. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 1군의 접촉핀은 길이가 차등화된 제A군 접촉핀, 제B군 접촉핀, 제C군 접촉핀을 포함하며, 순차적으로 접촉하는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법. The first group of contact pins include a group A contact pin, a group B contact pin, and a group C contact pin having different lengths, and the liquid crystal panel inspection method of sequentially contacting the contact pins. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 피접촉체는 다수의 접촉패드를 구비한 액정패널인 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.The contact body is a liquid crystal panel inspection method, characterized in that the liquid crystal panel having a plurality of contact pads. 제 10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 접촉패드는 공통전극접촉패드, 게이트접촉패드, 소스접촉패드를 구비하 는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.The touch pad includes a common electrode contact pad, a gate contact pad, and a source contact pad. 제 10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 제A군 접촉핀은 상기 공통전극접촉패드와 접촉하고, 상기 제B군 접촉핀은 상기 게이트접촉패드와 접촉하며, 상기 제C군 접촉핀은 상기 소스접촉패드와 접촉하는 특징으로 하는 액정패널 검사방법.The group A contact pins contact the common electrode contact pads, the group B contact pins contact the gate contact pads, and the group C contact pins contact the source contact pads. method of inspection.
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