KR101307545B1 - Liquid Crystal Display - Google Patents

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KR101307545B1 KR1020060115136A KR20060115136A KR101307545B1 KR 101307545 B1 KR101307545 B1 KR 101307545B1 KR 1020060115136 A KR1020060115136 A KR 1020060115136A KR 20060115136 A KR20060115136 A KR 20060115136A KR 101307545 B1 KR101307545 B1 KR 101307545B1
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Abstract

본 발명은 박막 트랜지스터의 출력 파형을 검사하는 테스트 포인트가 액정패널의 하부기판에 형성되어 있는 액정표시장치에 관한 것으로서, 본 발명의 목적은 액정패널의 성능 테스트를 위한 테스트 포인트의 금속전극이 액정패널에 형성된 픽셀의 박막트랜지스터와 전기적으로 차단되어 있는 액정표시장치를 제공하는 것이다. 이를 위해 본 발명에 따른 액정표시장치는, 박막 트랜지스터를 포함하는 픽셀이 데이터 라인과 게이트 라인의 교차부마다 형성되어져 있는 하부기판이 액정층을 사이에 두고 상부기판과 결합되어 있는 액정패널; 및 상기 액정패널을 구동하기 위한 데이터 드라이브 IC와 게이트 드라이브 IC를 구비하는 구동회로를 포함하며, 상기 하부기판의 영역들 중 상기 픽셀들이 형성되어 있지 않은 비화소 영역에는, 상기 박막 트랜지스터와 절연막을 통해 전기적으로 격리되어 있는 테스트 포인트가 형성되어져 있는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a liquid crystal display device in which a test point for inspecting an output waveform of a thin film transistor is formed on a lower substrate of a liquid crystal panel. An object of the present invention is to provide a liquid crystal panel with a metal electrode of a test point for performance test of a liquid crystal panel. The present invention provides a liquid crystal display device that is electrically blocked from a thin film transistor of a pixel formed in the semiconductor device. To this end, a liquid crystal display according to the present invention includes a liquid crystal panel in which a lower substrate having pixels including thin film transistors formed at each intersection of a data line and a gate line is coupled to an upper substrate with a liquid crystal layer interposed therebetween; And a driving circuit including a data drive IC and a gate drive IC for driving the liquid crystal panel, wherein the non-pixel region in which the pixels are not formed among the regions of the lower substrate is formed through the thin film transistor and the insulating layer. An electrically isolated test point is formed.

Description

액정표시장치{Liquid Crystal Display}[0001] Liquid crystal display [0002]

도 1은 일반적인 칩 온 글래스 방식을 이용한 액정표시장치의 액정패널의 일부분을 나타낸 평면도.1 is a plan view showing a portion of a liquid crystal panel of a liquid crystal display device using a typical chip on glass method.

도 2는 도 1의 A부분을 확대한 확대도.2 is an enlarged view illustrating an enlarged portion A of FIG. 1;

도 3은 종래의 테스트 포인트를 포함하는 액정패널의 하부기판의 단면도.3 is a cross-sectional view of a lower substrate of a liquid crystal panel including a conventional test point.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치에 적용되는 액정패널의 일부분을 나타낸 평면도.4 is a plan view showing a portion of a liquid crystal panel applied to the liquid crystal display device according to the present invention.

도 5는 도 4의 B부분을 확대한 확대도.5 is an enlarged view illustrating an enlarged portion B of FIG. 4.

도 6은 본 발명에 따른 액정표시장치에 적용되는 액정패널의 일실시예 단면도.6 is a cross-sectional view of an embodiment of a liquid crystal panel applied to a liquid crystal display according to the present invention.

도 7은 본 발명에 따른 액정표시장치에 적용되는 액정패널에 테스트 포인트가 형성된 상태를 나타낸 단면도.7 is a cross-sectional view showing a state in which a test point is formed on a liquid crystal panel applied to a liquid crystal display according to the present invention.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >Description of the Related Art

501 : 소스 전극 512 : 드레인 전극501: source electrode 512: drain electrode

514 : 화소전극 521 : 활성층514: pixel electrode 521: active layer

526 : 박막 트랜지스터 529 : 보호막526 thin film transistor 529 protective film

450 : 테스트 포인트450: test point

본 발명은 칩 온 글래스(COG) 방식의 액정표시장치에 관한 것으로서, 특히, 박막 트랜지스터의 출력 파형을 검사하는 테스트 포인트가 액정패널의 하부기판에 형성되어 있는 액정표시장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip on glass (COG) type liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device in which a test point for inspecting an output waveform of a thin film transistor is formed on a lower substrate of a liquid crystal panel.

액정표시장치(Liquid Crystal Display)는 영상신호에 대응하도록 광빔의 투과량을 조절함에 의해 화상을 표시하는 대표적인 평판 표시장치이다. 특히, 액정표시장치는 경량화, 박형화, 저소비 전력구동 등의 특징으로 인해 그 응용범위가 점차 넓어지고 있는 추세에 있으며, 이러한 추세에 따라 액정표시장치는 사무자동화(Office Automation) 장치 및 노트북 컴퓨터의 표시장치로 이용되고 있다. Liquid crystal displays are typical flat panel displays that display an image by adjusting the amount of light beams transmitted to correspond to an image signal. In particular, liquid crystal display devices tend to be increasingly wider due to light weight, thinness, and low power consumption, and according to such trends, liquid crystal display devices are used to display office automation devices and notebook computers. It is used as a device.

액정표시장치는 액정패널 및 백라이트 유닛 등이 서포트 메인 등에 의해 체결된 형태로 구성된다.The liquid crystal display device is configured such that a liquid crystal panel, a backlight unit, and the like are fastened by a support main.

액정패널은 구동신호를 입력받는 박막트랜지스터 기판(TFT 기판)(이하, 간단히 '하부기판'이라 함), 칼라필터층을 포함한 칼라필터기판(C/F 기판)(이하, 간단히 '상부기판'이라 함) 및 하부기판과 상부기판 사이에 개재된 액정층으로 구성된다. The liquid crystal panel is referred to as a thin film transistor substrate (TFT substrate) (hereinafter referred to simply as a lower substrate) that receives a driving signal, and a color filter substrate (C / F substrate) including a color filter layer (hereinafter, simply referred to as an 'upper substrate'). ) And a liquid crystal layer interposed between the lower substrate and the upper substrate.

액정패널을 구동하기 위한 구동회로는, 액정패널에 액정 셀(cell)을 구동할 수 있는 신호를 입력해주는 다수의 드라이브 IC(driver IC)를 포함하며, 이를 제어하는 전기신호를 생성하고 컴퓨터 등으로부터 입력된 화상정보를 제어하는 타이밍 컨트롤러(timing controller)와 액정 셀에 각 그레이 스케일(gray-scale) 별로 서로 다른 액정전압을 발생시키는 회로부품 등이 인쇄회로기판(Printed Circuit Board; PCB)상에 장착된 형태로 구성되어 있다.The driving circuit for driving the liquid crystal panel includes a plurality of driver ICs for inputting a signal capable of driving a liquid crystal cell to the liquid crystal panel, and generates an electric signal for controlling the same and from a computer or the like. A timing controller for controlling the input image information and a circuit component for generating different liquid crystal voltages for each gray-scale in the liquid crystal cell are mounted on a printed circuit board (PCB). In the form of

하부기판의 주변부에 인출된 게이트(gate)와 데이터(data) 신호배선을 통하여 다 출력드라이브 IC의 구동신호를 효과적으로 인가하기 위해 각 신호배선은 수백 개의 패드(pad)로 그룹(group)화되어 있다.Each signal line is grouped into hundreds of pads to effectively apply the drive signals of the multi-output drive IC through the gate and data signal lines drawn out to the periphery of the lower substrate. .

패드에 드라이브 IC를 연결하는 방법으로는, 드라이브 IC칩이 패드에 직접 연결되는 COG(chip-on-glass) 실장방식과, TAB(tape-automated bonding) 기술을 이용한 TCP(tape carrier package) 실장방식이 이용된다.As a method of connecting a drive IC to a pad, a chip-on-glass (COG) mounting method in which the drive IC chip is directly connected to the pad, and a tape carrier package (TCP) mounting method using tape-automated bonding (TAB) technology This is used.

종래에는 접속성이 좋고 개량하기 쉬운 TAB 방식이 많이 사용되었으나, 미세실장기술이 발전함에 따라 소형화가 쉽고 제조단가가 낮은 COG 방식으로 옮겨가는 추세이다.Conventionally, the TAB method which has good connectivity and easy to improve has been used, but as the micro-mounting technology is developed, it is a trend to move to the COG method which is easy to miniaturize and has low manufacturing cost.

도 1은 일반적인 칩 온 글래스 방식을 이용한 액정표시장치의 액정패널의 일부분을 나타낸 평면도이다.1 is a plan view illustrating a part of a liquid crystal panel of a liquid crystal display device using a general chip on glass method.

일반적인 COG 방식의 액정패널은 도 1에 도시된 바와 같이 투명기판으로 형성된 상부기판(110)과 하부기판(100)으로 구성되어 있다.The liquid crystal panel of the general COG type is composed of an upper substrate 110 and a lower substrate 100 formed of a transparent substrate as shown in FIG.

상기 하부기판(100)은 상기 상부기판(110)에 대응하는 제1 영역(105)과 상판 에 대응하지 않는 제 2 영역(115)으로 구분 지을 수 있다. 상기 제1 영역(105)에는 데이터 배선(120)과 게이트 배선(130)이 서로 직교하여 형성되어 있다. 그리고, 상기 제2 영역(115)에는 상기 게이트 배선(130)에 연결된 게이트 드라이브 IC(140)와 상기 데이터 배선(120)에 연결된 데이터 드라이브 IC(150)가 부착되어 있다.The lower substrate 100 may be divided into a first region 105 corresponding to the upper substrate 110 and a second region 115 not corresponding to the upper substrate. The data line 120 and the gate line 130 are orthogonal to each other in the first region 105. In addition, a gate drive IC 140 connected to the gate line 130 and a data drive IC 150 connected to the data line 120 are attached to the second region 115.

상기 액정패널의 하부기판(100)의 외부에 따로 설치된 인쇄회로기판(Printed Circuit Board)(160)은 데이터전송선(170)을 통해 가요성 인쇄회로(Flexible Printed Circuit)(이하, FPC라 함)(180)와 접속되어 있다. 상기 FPC(180)에는 데이터 드라이브 IC(150)의 입력단자에 연결되는 입력배선이 형성되어 있다. 그러나, 액정패널이 상기와 같은 방법으로만 구성되는 것은 아니며, 라인 온 글래스(LOG) 방식의 경우에는 상기 인쇄회로기판(160) 없이, 데이터 드라이브 IC(150)와 게이트 드라이브 IC(140)가 하부기판(100) 상에 형성된 라인을 따라 연결될 수도 있다.A printed circuit board 160 installed separately from the lower substrate 100 of the liquid crystal panel is a flexible printed circuit (hereinafter referred to as an FPC) through a data transmission line 170 ( 180). The FPC 180 has an input wiring connected to an input terminal of the data drive IC 150. However, the liquid crystal panel is not configured only by the above method, and in the case of the line on glass (LOG) method, the data drive IC 150 and the gate drive IC 140 are lowered without the printed circuit board 160. It may be connected along a line formed on the substrate 100.

도 2는 도 1의 A부분을 확대한 확대도로서, 상기 데이터 드라이브 IC(150)가 하부기판(100)에 실장된 모습을 나타내고 있다. FIG. 2 is an enlarged view of a portion A of FIG. 1 and shows a state in which the data drive IC 150 is mounted on the lower substrate 100.

데이터 드라이브 IC(150)의 입력단자(240)는 상기 FPC(180)와 연결되고, 데이터 드라이브 IC(150)의 출력단자(220)는 액정패널의 상부기판(110)과 연결된다. 상기 데이터 드라이브IC(150)는 상기한 바와 같이 제2 영역에 실장된다.The input terminal 240 of the data drive IC 150 is connected to the FPC 180, and the output terminal 220 of the data drive IC 150 is connected to the upper substrate 110 of the liquid crystal panel. The data drive IC 150 is mounted in the second area as described above.

액정패널이 제작되면 액정패널에 대한 검사공정이 수행되는데, 상기와 같은 검사에 있어서, 박막트랜지스터 어레이의 임의의 데이터배선 또는 게이트배선이 단선되어 신호가 전달되지 않는 경우에는 화면에 점 결함 또는 선 결함 등이 발생되나, 단선되지 않은 경우에는 화면에 이러한 결함이 발생되지 않으며, 이와 같은 결 함여부를 통해 액정패널의 각 배선의 이상 유무를 검사할 수 있다.When the liquid crystal panel is manufactured, an inspection process is performed on the liquid crystal panel. In the inspection as described above, when any data or gate wiring of the thin film transistor array is disconnected and no signal is transmitted, a point defect or a line defect is displayed on the screen. Or the like, but if the wire is not disconnected, such a defect does not occur on the screen, and the defect can be inspected for abnormality of each wiring of the liquid crystal panel.

상기와 같은 검사 진행 중에, 전기적 신호에 의한 화면의 화질 저하가 발생할 경우, 데이터 드라이브 IC(150)의 출력파형을 검사함으로써 화질 저하의 원인을 검사하게 되는데, 상기 데이터 드라이브 IC(150)의 출력파형을 검사하기 위해 테스트 포인트(250)가 하부기판의 제2 영역(115)에 형성된다.When the image quality degradation of the screen due to the electrical signal occurs during the above-described inspection, the cause of the image quality degradation is examined by examining the output waveform of the data drive IC 150, which is the output waveform of the data drive IC 150. The test point 250 is formed in the second region 115 of the lower substrate to inspect.

상기 테스트 포인트(250)는 각 데이터 드라이브 IC마다 형성되며 데이터 드라이브 IC의 최외곽 출력 단자로부터 각각 인출되어 형성된다. 화질저하의 문제가 발생할 경우, 상기 테스트 포인트(250)에 테스트 장비를 접속시켜 드라이브 IC의 출력파형을 검사하게 된다.The test point 250 is formed for each data drive IC and is drawn out from the outermost output terminal of the data drive IC. When a problem of deterioration in image quality occurs, the test equipment is connected to the test point 250 to examine the output waveform of the drive IC.

도 3은 종래의 테스트 포인트를 포함하는 액정패널의 하부기판의 단면도이다.3 is a cross-sectional view of a lower substrate of a liquid crystal panel including a conventional test point.

종래의 테스트 포인트를 포함하는 액정패널의 하부기판(100)은 도 1 및 도 3에 도시된 바와 같이, 유리기판 위에 게이트 절연막(GI)(127)을 사이에 두고 교차하게 형성된 게이트 라인(130) 및 데이터 라인(120)과, 그 교차부마다 형성된 박막 트랜지스터(126)와, 그 교차 구조로 마련된 화소 영역에 형성된 화소 전극(114)과, 게이트 라인(130)과 화소 전극(114)의 중첩부에 형성된 스토리지 캐패시터(미도시)를 구비한다.As shown in FIGS. 1 and 3, the lower substrate 100 of the liquid crystal panel including the conventional test point has the gate line 130 formed to intersect with the gate insulating layer (GI) 127 therebetween on the glass substrate. And an overlapping portion of the data line 120, the thin film transistor 126 formed at each intersection thereof, the pixel electrode 114 formed in the pixel region provided in the intersection structure, and the gate line 130 and the pixel electrode 114. It has a storage capacitor (not shown) formed in.

게이트 신호를 공급하는 게이트 라인(130)과 데이터 신호를 공급하는 데이터 라인(120)은 교차 구조로 형성되어 화소 영역을 정의한다.The gate line 130 for supplying the gate signal and the data line 120 for supplying the data signal are formed to have a cross structure to define a pixel area.

박막 트랜지스터(126)는 게이트 라인(130)의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(120)의 화소 신호가 화소 전극(114)에 충전되어 유지되게 한다. 이를 위하여, 박막 트랜지스터(126)는 게이트 라인(130)에 접속된 게이트 전극(108)과, 데이터 라인(120)에 접속된 소스 전극(101)과, 화소 전극(114)에 접속된 드레인 전극(112)을 구비한다. 또한, 박막 트랜지스터(126)는 게이트 전극(108)과 게이트 절연막(127)을 사이에 두고 중첩되면서, 소스 전극(101)과 드레인 전극(112) 사이에 채널(111)을 형성하는 활성층(Mo)(121)을 더 구비한다. 이러한 활성층(121) 위에는 데이터 라인(120), 소스 전극(101), 드레인 전극(112)과 오믹 접촉을 위한 오믹 접촉층(123)이 더 형성된다.The thin film transistor 126 keeps the pixel signal of the data line 120 charged and maintained in the pixel electrode 114 in response to the gate signal of the gate line 130. To this end, the thin film transistor 126 may include a gate electrode 108 connected to the gate line 130, a source electrode 101 connected to the data line 120, and a drain electrode connected to the pixel electrode 114. 112). In addition, the thin film transistor 126 is overlapped with the gate electrode 108 and the gate insulating layer 127 interposed therebetween, and an active layer Mo forming a channel 111 between the source electrode 101 and the drain electrode 112. (121) is further provided. An ohmic contact layer 123 for ohmic contact with the data line 120, the source electrode 101, and the drain electrode 112 is further formed on the active layer 121.

화소 전극(114)은 보호막(PAS)(129)을 관통하는 접촉홀(113)을 통해 박막 트랜지스터(126)의 드레인 전극(112)과 접속된다. The pixel electrode 114 is connected to the drain electrode 112 of the thin film transistor 126 through the contact hole 113 passing through the passivation layer PAS 129.

이에 따라, 박막 트랜지스터(126)를 통해 화소 신호가 공급된 화소 전극(114)과 기준 전압이 공급된 공통 전극(도시하지 않음) 사이에는 전계가 형성된다. 이러한 전계에 의해 하부기판(100)과 상부기판(110) 사이의 액정 분자들이 유전 이방성에 의해 회전하게 된다. 그리고, 액정 분자들의 회전 정도에 따라 화소 영역을 투과하는 광 투과율이 달라지게 됨으로써 계조를 구현하게 된다.Accordingly, an electric field is formed between the pixel electrode 114 supplied with the pixel signal through the thin film transistor 126 and the common electrode (not shown) supplied with the reference voltage. The liquid crystal molecules between the lower substrate 100 and the upper substrate 110 are rotated by the dielectric anisotropy by this electric field. The transmittance of light passing through the pixel region is changed according to the degree of rotation of the liquid crystal molecules, thereby realizing the gradation.

한편, 상기한 바와 같은 테스트 포인트(250)는 도 3에 도시된 바와 같이, 보호막(PAS)을 관통하여 소스전극(Mo)(101)과 연결되어 있어서, 테스트 핀(251)을 이용하여 소스전극(101)의 변화에 따른 상기 데이터 드라이브 IC(150)의 출력파형을 검사하므로써, 박막 트랜지스터(126)의 동작 상태를 테스트할 수 있다. Meanwhile, as illustrated in FIG. 3, the test point 250 as described above is connected to the source electrode Mo 101 through the passivation layer PAS, so that the source electrode is formed using the test pin 251. By checking the output waveform of the data drive IC 150 according to the change of 101, the operating state of the thin film transistor 126 can be tested.

즉, 데이터 드라이브 IC(150) 등의 출력단자에는 시그널 소스(Signal Source)에 대한 액정패널의 박막트랜지스터의 기능을 외부에서 테스트(Probing)할 수 있도록 테스트 포인트(250)가 형성되어 있으나, 종래의 테스트 포인트는 상기한 바와 같이 외부에 바로 노출되어 있어, 정전기 등에 취약하므로 액정패널의 불량발생원인이 되고 있다. That is, a test point 250 is formed at an output terminal of the data drive IC 150 to externally test the function of the thin film transistor of the liquid crystal panel with respect to a signal source. As described above, the test point is directly exposed to the outside, and thus is vulnerable to static electricity, which causes a failure of the liquid crystal panel.

부연설명하면, 테스트 포인트(250)는 액정패널의 설계 및 양산시 불량의 발생 여부를 검증할 목적으로 반드시 구비되어야 할 요소이나, 액정패널이 서포트 메인 등에 의해 체결되어 완제품으로 완성된 후에는, 상기 테스트 포인트(300)가 액정패널 내부로의 정전기 유입통로가 됨으로써, 액정패널의 불량발생 원인으로 작용하게 된다는 문제점이 있다. In detail, the test point 250 is an element that must be provided for the purpose of verifying whether a defect occurs in the design and mass production of the liquid crystal panel, but after the liquid crystal panel is fastened by a support main and finished as a finished product, the test Since the point 300 becomes an electrostatic inflow path into the liquid crystal panel, there is a problem that the point 300 acts as a cause of the failure of the liquid crystal panel.

따라서, 테스트 포인트(250)가 없는 액정표시장치의 설계가 요구되고 있으나, 상기한 바와 같은 테스트의 목적상 완전히 삭제될 수 없는 상태이다. 더욱이, 테스트가 요구되는 액정패널에는 테스트 포인트(250)가 형성되어 있고, 양산용으로 판매되는 액정패널에는 테스트 포인트(250)가 삭제된 형태로 액정패널을 생산하는 방법은, 테스트 포인트(250) 제작을 위한 마스크가 두 종류로 만들어져야 하므로, 공정 및 비용면에서 불합리한 문제점이 있다.Therefore, although the design of the liquid crystal display device without the test point 250 is required, it cannot be completely deleted for the purpose of the test as described above. In addition, a test point 250 is formed in the liquid crystal panel to be tested, and a method of producing the liquid crystal panel in a form in which the test point 250 is removed from the liquid crystal panel sold for mass production is the test point 250. Since masks for fabrication must be made in two kinds, there is an unreasonable problem in terms of process and cost.

따라서, 본 발명의 목적은 액정패널의 성능 테스트를 위한 테스트 포인트의 금속전극이 액정패널에 형성된 픽셀의 박막트랜지스터와 전기적으로 격리되어 있는 액정표시장치를 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device in which a metal electrode of a test point for performance test of a liquid crystal panel is electrically isolated from a thin film transistor of a pixel formed in the liquid crystal panel.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정표시장치는, 박막 트랜지스터를 포함하는 픽셀이 데이터 라인과 게이트 라인의 교차부마다 형성되어져 있는 하부기판이 액정층을 사이에 두고 상부기판과 결합되어 있는 액정패널; 및 상기 액정패널을 구동하기 위한 데이터 드라이브 IC와 게이트 드라이브 IC를 구비하는 구동회로를 포함하며, 상기 하부기판의 영역들 중 상기 픽셀들이 형성되어 있지 않은 비화소 영역에는, 상기 박막 트랜지스터와 절연막을 통해 전기적으로 격리되어 있는 테스트 포인트가 형성되어져 있는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, in the liquid crystal display according to the present invention, a lower substrate in which a pixel including a thin film transistor is formed at each intersection of a data line and a gate line is coupled to an upper substrate with a liquid crystal layer interposed therebetween. A liquid crystal panel; And a driving circuit including a data drive IC and a gate drive IC for driving the liquid crystal panel, wherein the non-pixel region in which the pixels are not formed among the regions of the lower substrate is formed through the thin film transistor and the insulating layer. An electrically isolated test point is formed.

상기 절연막은, 상기 박막 트랜지스터를 형성하는 소스 전극 및 드레인 전극을 보호하기 위하여, 상기 소스 전극 및 드레인 전극의 상단에 도포되어 있는 것을 특징으로 한다.The insulating film is coated on top of the source electrode and the drain electrode in order to protect the source electrode and the drain electrode forming the thin film transistor.

상기 테스트 포인트는, 상기 하부기판에 형성되어 있는 상기 데이터 드라이브 IC 또는 게이트 드라이브 IC와 연결되어 있는 것을 특징으로 한다. The test point may be connected to the data drive IC or the gate drive IC formed on the lower substrate.

상기 절연막의 하부에는, 상기 박막 트랜지스터를 형성하는 소스 전극이 상기 테스트 포인트의 수직 방향 아래의 위치까지 연장되어 있는 것을 특징으로 한다.Under the insulating film, a source electrode forming the thin film transistor extends to a position below the vertical direction of the test point.

상기 테스트 포인트는, 상기 박막 트랜지스터에 대한 테스트 공정 수행시, 레이져 가공에 의해 상기 절연막을 관통하여, 상기 박막 트랜지스터를 형성하는 소스 전극과 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 한다.When the test point is performed on the thin film transistor, the test point penetrates through the insulating layer by laser processing, and is electrically connected to a source electrode forming the thin film transistor.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 이점들은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 바람직한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and advantages of the present invention in addition to the above object will become apparent from the description of the preferred embodiment of the present invention with reference to the accompanying drawings.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. 이하의 설명에서, 도 1 내지 도 3에 도시된 구성요소와 동일한 구성요소에 대한 상세한 설명은 생략된다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following description, detailed descriptions of the same components as those shown in FIGS. 1 to 3 will be omitted.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치에 적용되는 액정패널의 일부분을 나타낸 평면도로서, 칩 온 글래스 방식의 액정표시장치를 나타내고 있다.4 is a plan view showing a portion of a liquid crystal panel applied to the liquid crystal display device according to the present invention, and shows a chip on glass type liquid crystal display device.

본 발명에 따른 액정표시장치는 액정패널 및 백라이트 유닛 등이 서포트 메인 등의 체결부에 의해 체결된 형태로 구성된다.In the liquid crystal display according to the present invention, a liquid crystal panel, a backlight unit, and the like are fastened by a fastening part such as a support main.

본 발명에 따른 액정표시장치에 적용되는 상기 액정패널은 도 4에 도시된 바와 같이 투명기판으로 형성된 상부기판(310)과 하부기판(300)으로 구성되어 있다.The liquid crystal panel applied to the liquid crystal display according to the present invention includes an upper substrate 310 and a lower substrate 300 formed of a transparent substrate as shown in FIG. 4.

상기 하부기판(300)은 상기 상부기판(310)에 대응하는 제1 영역(305)과 상판에 대응하지 않는 제 2 영역(315)으로 구분 지을 수 있다. 상기 제1 영역(305)에는 데이터 배선(320)과 게이트 배선(330)이 서로 직교하여 형성되어 있다. 그리고, 상기 제2 영역(315)에는 상기 게이트 배선(330)에 연결된 게이트 드라이브 IC(340)와 상기 데이터 배선(320)에 연결된 데이터 드라이브 IC(350)가 부착되어 있다.The lower substrate 300 may be divided into a first region 305 corresponding to the upper substrate 310 and a second region 315 not corresponding to the upper substrate. The data line 320 and the gate line 330 are orthogonal to each other in the first region 305. In addition, a gate drive IC 340 connected to the gate line 330 and a data drive IC 350 connected to the data line 320 are attached to the second region 315.

상기 액정패널의 하부기판(300)에 형성된 상기 데이터 드라이브 IC(350) 및 게이트 드라이브 IC(340)는, 상기 IC들을 구동하기 위한 인쇄회로기판(Printed Circuit Board)(미도시)과, 가요성 인쇄회로(Flexible Printed Circuit)(이하, FPC라 함)(380)에 의해 연결되어 있다. 그러나, 본 발명에 적용되는 액정패널이 상기 와 같은 방법으로만 구성되는 것은 아니며, 상기 종래 기술에서 언급된 방법을 포함하는 다양한 형태로 제작될 수 있다.The data drive IC 350 and the gate drive IC 340 formed on the lower substrate 300 of the liquid crystal panel may include a printed circuit board (not shown) for driving the ICs, and flexible printing. It is connected by a flexible printed circuit (hereinafter referred to as FPC) 380. However, the liquid crystal panel to be applied to the present invention is not constituted only by the above method, but may be manufactured in various forms including the method mentioned in the related art.

상기 FPC(380)에는 데이터 드라이브 IC(350)의 입력단자에 연결되는 입력배선이 형성되어 있다. The FPC 380 has an input wiring connected to an input terminal of the data drive IC 350.

도 5는 도 4의 B부분을 확대한 확대도로서, 상기 데이터 드라이브 IC(350)가 하부기판(300)에 실장된 모습을 나타내고 있다. FIG. 5 is an enlarged view illustrating part B of FIG. 4 and shows the data drive IC 350 mounted on the lower substrate 300.

데이터 드라이브 IC(350)의 입력단자(440)는 상기 FPC(380)와 연결되고, 데이터 드라이브 IC(350)의 출력단자(420)는 액정패널의 상부기판(310)과 연결된다. 상기 데이터 드라이브IC(350)는 상기한 바와 같이 제2 영역(315)에 실장된다.The input terminal 440 of the data drive IC 350 is connected to the FPC 380, and the output terminal 420 of the data drive IC 350 is connected to the upper substrate 310 of the liquid crystal panel. The data drive IC 350 is mounted in the second region 315 as described above.

액정패널이 제작되면 액정패널에 대한 검사공정이 수행되는데, 상기와 같은 검사에 있어서, 박막트랜지스터 어레이의 임의의 데이터배선 또는 게이트배선이 단선되어 신호가 전달되지 않는 경우에는 화면에 점 결함 또는 선 결함 등이 발생되나, 단선되지 않은 경우에는 화면에 이러한 결함이 발생되지 않으며, 이와 같은 결함여부를 통해 액정패널의 각 배선의 이상 유무를 검사할 수 있다.When the liquid crystal panel is manufactured, an inspection process is performed on the liquid crystal panel. In the inspection as described above, when any data or gate wiring of the thin film transistor array is disconnected and no signal is transmitted, a point defect or a line defect is displayed on the screen. Or the like, but if the wire is not disconnected, such a defect does not occur on the screen, and it is possible to inspect the abnormality of each wiring of the liquid crystal panel through the defect.

상기와 같은 검사 진행 중에, 전기적 신호에 의한 화면의 화질 저하가 발생할 경우, 데이터 드라이브 IC(350)의 출력파형을 검사함으로써 화질 저하의 원인을 검사하게 되는데, 상기 데이터 드라이브 IC(350)의 출력파형을 검사하기 위해 테스트 포인트(350)가 하부기판의 제2 영역(315)에 형성된다.When the image quality degradation of the screen due to the electrical signal occurs during the above-described inspection, the cause of the image quality degradation is examined by inspecting the output waveform of the data drive IC 350, and the output waveform of the data drive IC 350 is examined. The test point 350 is formed in the second region 315 of the lower substrate to inspect.

본 발명에 적용되는 상기 테스트 포인트(450)는 각 데이터 드라이브 IC마다 형성되며 데이터 드라이브 IC의 최외곽 출력 단자로부터 각각 인출되어 형성된다. 화질저하의 문제가 발생할 경우, 상기 테스트 포인트(450)에 테스트 장비를 접속시켜 드라이브 IC의 출력파형을 검사하게 된다.The test point 450 applied to the present invention is formed for each data drive IC, and is drawn out from the outermost output terminal of the data drive IC. When a problem of deterioration in image quality occurs, the test equipment is connected to the test point 450 to examine the output waveform of the drive IC.

도 6은 본 발명에 따른 액정표시장치에 적용되는 액정패널의 일실시예 단면도로서, 도 5에 도시된 액정패널의 단면을 나타낸 것이다. 6 is a cross-sectional view of an embodiment of a liquid crystal panel applied to the liquid crystal display device according to the present invention, showing a cross section of the liquid crystal panel shown in FIG.

본 발명에 따른 액정패널은 테스트 포인트(450)가 박막트랜지스터와 연결되어 있지 않은 구조로 형성된다. The liquid crystal panel according to the present invention has a structure in which the test point 450 is not connected to the thin film transistor.

박막 트랜지스터(526)는 게이트 라인의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인의 화소 신호가 화소 전극(514)에 충전되어 유지되게 한다. 이를 위하여, 박막 트랜지스터(526)는 게이트 라인(330)에 접속된 게이트 전극(508)과, 데이터 라인(320)에 접속된 소스 전극(501)과, 화소 전극(514)에 접속된 드레인 전극(512)을 구비한다. 박막 트랜지스터(526)는 게이트 전극(508)과 게이트 절연막(527)을 사이에 두고 중첩되면서, 소스 전극(501)과 드레인 전극(512) 사이에 채널을 형성하는 활성층(521)을 더 구비한다. 이러한 활성층(521) 위에는 데이터 라인, 소스 전극(501), 드레인 전극(512)과 오믹 접촉을 위한 오믹 접촉층(523)이 더 형성된다.The thin film transistor 526 keeps the pixel signal of the data line charged in the pixel electrode 514 in response to the gate signal of the gate line. To this end, the thin film transistor 526 may include a gate electrode 508 connected to the gate line 330, a source electrode 501 connected to the data line 320, and a drain electrode connected to the pixel electrode 514. 512). The thin film transistor 526 further includes an active layer 521 that overlaps the gate electrode 508 and the gate insulating layer 527, and forms a channel between the source electrode 501 and the drain electrode 512. An ohmic contact layer 523 for ohmic contact with the data line, the source electrode 501, and the drain electrode 512 is further formed on the active layer 521.

화소 전극(514)은 보호막(PAS)(529)을 관통하는 접촉홀(513)을 통해 박막 트랜지스터(526)의 드레인 전극(512)과 접속된다. The pixel electrode 514 is connected to the drain electrode 512 of the thin film transistor 526 through a contact hole 513 that passes through the passivation layer PAS 529.

이에 따라, 박막 트랜지스터(526)를 통해 화소 신호가 공급된 화소 전극(514)과 기준 전압이 공급된 공통 전극(도시하지 않음) 사이에는 전계가 형성된다. 이러한 전계에 의해 하부기판(300)과 상부기판(310) 사이의 액정 분자들이 유전 이방성에 의해 회전하게 된다. 그리고, 액정 분자들의 회전 정도에 따라 화소 영역을 투과하는 광 투과율이 달라지게 됨으로써 계조를 구현하게 된다.Accordingly, an electric field is formed between the pixel electrode 514 supplied with the pixel signal through the thin film transistor 526 and the common electrode (not shown) supplied with the reference voltage. The liquid crystal molecules between the lower substrate 300 and the upper substrate 310 are rotated by dielectric anisotropy by this electric field. In addition, light transmittance through the pixel region is changed according to the degree of rotation of the liquid crystal molecules, thereby realizing grayscale.

한편, 본 발명에 적용되는 테스트 포인트(450)는 액정패널의 제조공정 단계에서 도 6에 도시된 바와 같이, 금속전극(450)이 보호막(PAS)(529) 위에 적층된 형태로 구성된다. Meanwhile, the test point 450 applied to the present invention has a shape in which a metal electrode 450 is stacked on the passivation layer (PAS) 529 as shown in FIG. 6 in the manufacturing process step of the liquid crystal panel.

즉, 본 발명에 적용되는 액정패널은, 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 테스트 포인트(450)를 형성하는 금속전극(450)이 하부기판(300)의 비화소영역인 제2 영역(315)에 형성된 구조로 제작되며, 백라이트 및 서포트 메인 등과 결합되어 액정표시장치로 조립된다. That is, in the liquid crystal panel according to the present invention, as illustrated in FIGS. 5 and 6, the metal electrode 450 forming the test point 450 is a second region (ie, a non-pixel region of the lower substrate 300). 315 is fabricated in a structure formed in the structure of the liquid crystal display.

상기와 같이 제작되어 출하되는 액정표시장치는, 상기 테스트 포인트(450)가 박막 트랜지스터(526)와 전기적으로 연결되어 있지 않기 때문에, 정전기가 상기 테스트 포인트(450)를 통해 액정패널 내부의 박막 트랜지스터(450)로 침투될 수 없다는 특징을 가지고 있다. 이와 같은 원인으로 인해, 본 발명에 따른 액정표시장치가 판매되어 이용되는 경우에도, 액정패널 내부로 정전기 등이 침투되어 액정표시장치의 기능이 훼손되는 문제점은 발생되지 않게 된다.In the liquid crystal display device manufactured and shipped as described above, since the test point 450 is not electrically connected to the thin film transistor 526, the static electricity is transferred to the thin film transistor inside the liquid crystal panel through the test point 450. 450) can not be penetrated. Due to such a cause, even when the liquid crystal display device according to the present invention is sold and used, a problem in which static electricity or the like penetrates into the liquid crystal panel and impairs the function of the liquid crystal display device is not generated.

도 7은 본 발명에 따른 액정표시장치에 적용되는 액정패널에 테스트 포인트가 형성된 상태를 나타낸 단면도로서, 도 6에 도시된 액정패널의 테스트 포인트(450)가 레이져(Raser)에 의해 가공된 상태를 나타낸 단면도이다. FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a state in which a test point is formed in a liquid crystal panel applied to a liquid crystal display according to the present invention. FIG. 6 illustrates a state in which a test point 450 of the liquid crystal panel shown in FIG. 6 is processed by a laser. It is sectional drawing shown.

상기에서 도 6을 참조하여 설명된 바와 같이, 보호막(PAS)(529)을 통해 박막트랜지스터의 소스전극(501)과 격리되어 있는 테스트 포인트(450)의 금속전극이 형성된 액정패널은, 별도의 테스트 공정없이 액정표시장치로 조립되어 출하되므로써, 외부의 정전기 등이 상기 테스트 포인트(450)를 통해 액정패널 내부의 소스전극(501)으로 침투될 수 없다. 따라서, 외부 정전기 등에 의해 액정패널이 손상되는 문제점이 해결될 수 있다.As described with reference to FIG. 6, the liquid crystal panel in which the metal electrode of the test point 450 is isolated from the source electrode 501 of the thin film transistor through the passivation layer (PAS) 529 is tested separately. Since the LCD is assembled and shipped without a process, external static electricity or the like cannot penetrate into the source electrode 501 inside the liquid crystal panel through the test point 450. Therefore, the problem that the liquid crystal panel is damaged by external static electricity or the like can be solved.

한편, 테스트 공정을 요하는 액정패널에 대하여는, 도 7에 도시된 바와 같이 테스트 포인트(450)의 금속전극이 레이져(600)에 의해 가공된다. 테스트 포인트(450)를 형성하는 금속전극 및 상기 금속전극 하부의 보호막(PAS)(529)은 레이져 가공에 의해 함몰되며, 결국, 테스트 포인트(450)의 금속전극은 보호막(529) 아래에 형성되어 있는 소스전극(501)과 접촉하게 된다. 상기와 같은 공정에서 사용되는 레이져(600)는 액정패널에 대한 리페어(Repair) 공정에 사용되는 다양한 형태의 레이져들이 이용될 수 있다.On the other hand, for a liquid crystal panel requiring a test process, as shown in FIG. 7, the metal electrode of the test point 450 is processed by the laser 600. The metal electrode forming the test point 450 and the passivation layer (PAS) 529 below the metal electrode are recessed by laser processing. As a result, the metal electrode of the test point 450 is formed under the passivation layer 529. Contact with the source electrode 501. The laser 600 used in the above process may use various types of lasers used in the repair process for the liquid crystal panel.

상기 공정에 의해 테스트 포인트(450)의 금속전극이 소스전극(501)에 접촉되면, 테스트 핀을 이용하여 소스전극(501)의 변화에 따른 상기 데이터 드라이브 IC의 출력파형을 검사하므로써, 박막 트랜지스터(526)의 동작 상태를 테스트할 수 있다. When the metal electrode of the test point 450 is in contact with the source electrode 501 by the above process, by using the test pin to examine the output waveform of the data drive IC according to the change of the source electrode 501, the thin film transistor ( The operating state of 526 may be tested.

즉, 본 발명에 따른 액정패널의 데이터 드라이브 IC(350)의 출력단자에는 시그널 소스(Signal Source)에 대한 액정패널의 박막 트랜지스터의 기능을 외부에서 테스트(Probing)할 수 있도록 테스트 포인트(450)가 형성되어 있다. 그러나, 상기 테스트 포인트(450)의 초기 구조는 도 6에 도시된 바와 같이 보호막(529)을 통해 소스전극(501)과 격리되어 있는 상태로 제작된다. That is, a test point 450 is provided at an output terminal of the data drive IC 350 of the liquid crystal panel according to the present invention to externally test the function of the thin film transistor of the liquid crystal panel with respect to a signal source. Formed. However, the initial structure of the test point 450 is manufactured in a state in which it is isolated from the source electrode 501 through the protective film 529 as shown in FIG.

따라서, 테스트가 요구되지 않는 액정패널의 경우에는 테스트 포인트(450)와 소스전극(501)이 격리된 채로 출하되므로, 외부 정전기가 액정패널 내부로 침투될 수 없으며, 테스트가 요구되는 액정패널의 경우에는 도 7에 도시된 바와 같이, 테스트 포인트(450)에 대한 레이져 가공에 의해 테스트 포인트(450)와 소스전극(501)이 접촉되므로써, 데이터 드라이브 IC(350)를 이용한 액정패널의 출력 테스트가 용이하게 수행될 수 있다.Therefore, in the case of the liquid crystal panel in which the test is not required, since the test point 450 and the source electrode 501 are shipped in isolation, external static electricity cannot penetrate into the liquid crystal panel, and in the case of the liquid crystal panel in which the test is required. As shown in FIG. 7, the test point 450 and the source electrode 501 are contacted by laser processing of the test point 450, so that the output test of the liquid crystal panel using the data drive IC 350 is easy. Can be performed.

한편, 상기에서는 데이터 드라이브 IC(350)와 연결되어 있는 테스트 포인트에 대하여 설명되었으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 따라서, 상기한 바와 같은 구조를 갖는 테스트 포인트는 게이트 드라이브 IC(340)와 연결되어 형성될 수도 있다.Meanwhile, although the test point connected to the data drive IC 350 has been described above, the present invention is not limited thereto. Therefore, the test point having the structure as described above may be formed in connection with the gate drive IC (340).

상술한 바와 같이, 본 발명은, 테스트 포인트 형성을 위한 별도의 공정이 요구되지 않으므로 제작 공정이 단순화된다는 우수한 효과를 가지고 있다.As described above, the present invention has an excellent effect that the manufacturing process is simplified since no separate process for forming test points is required.

또한, 본 발명은 테스트가 요구되지 않는 액정패널의 경우에는 외부의 정전기가 액정패널 내부로 침투될 수 없으므로, 액정패널의 불량 발생률을 감소시킬 수 있다는 우수한 효과가 있다.In addition, in the case of the liquid crystal panel in which the test is not required, since the external static electricity cannot penetrate into the liquid crystal panel, there is an excellent effect of reducing the defective occurrence rate of the liquid crystal panel.

또한, 본 발명은 레이져 가공을 이용한 간단한 방법으로 테스트 포인트와 소스전극을 연결시켜 액정패널에 대한 테스트 공정을 수행할 수 있다는 우수한 효과가 있다.In addition, the present invention has an excellent effect that the test process for the liquid crystal panel can be performed by connecting the test point and the source electrode by a simple method using laser processing.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하 는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.

Claims (5)

박막 트랜지스터를 포함하는 픽셀이 데이터 라인과 게이트 라인의 교차부마다 형성되어져 있는 하부기판이 액정층을 사이에 두고 상부기판과 결합되어 있는 액정패널; 및A liquid crystal panel in which a lower substrate having pixels including thin film transistors formed at intersections of a data line and a gate line is coupled to an upper substrate with a liquid crystal layer interposed therebetween; And 상기 액정패널을 구동하기 위한 데이터 드라이브 IC와 게이트 드라이브 IC를 구비하는 구동회로를 포함하며,A driving circuit including a data drive IC and a gate drive IC for driving the liquid crystal panel, 상기 하부기판의 영역들 중 상기 픽셀들이 형성되어 있지 않은 비화소 영역에는,In the non-pixel region in which the pixels are not formed among the regions of the lower substrate, 상기 박막 트랜지스터와 절연막을 통해 전기적으로 격리되어 있는 테스트 포인트가 형성되어져 있고, 상기 절연막의 하부에는,A test point electrically isolated from the thin film transistor and the insulating film is formed, and the lower portion of the insulating film, 상기 박막 트랜지스터를 형성하는 소스 전극이 상기 테스트 포인트의 수직 방향 아래의 위치까지 연장되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And a source electrode forming the thin film transistor extends to a position below a vertical direction of the test point. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 절연막은,The insulating film, 상기 박막 트랜지스터를 형성하는 소스 전극 및 드레인 전극을 보호하기 위하여, 상기 소스 전극 및 드레인 전극의 상단에 도포되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And an upper surface of the source electrode and the drain electrode in order to protect the source electrode and the drain electrode forming the thin film transistor. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 테스트 포인트는,The test point, 상기 하부기판에 형성되어 있는 상기 데이터 드라이브 IC 또는 게이트 드라이브 IC와 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And a data drive IC or a gate drive IC formed on the lower substrate. 삭제delete 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,4. The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 테스트 포인트는,The test point, 상기 박막 트랜지스터에 대한 테스트 공정 수행시, 레이져 가공에 의해 상기 절연막을 관통하여, 상기 박막 트랜지스터를 형성하는 소스 전극과 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And performing a test process on the thin film transistor, wherein the liquid crystal display penetrates through the insulating layer and is electrically connected to a source electrode forming the thin film transistor.
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JP2005115129A (en) * 2003-10-09 2005-04-28 Advanced Display Inc Liquid crystal display and its inspection method

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