KR20030053186A - Liquid Crystal Display Device - Google Patents

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KR20030053186A
KR20030053186A KR1020010083244A KR20010083244A KR20030053186A KR 20030053186 A KR20030053186 A KR 20030053186A KR 1020010083244 A KR1020010083244 A KR 1020010083244A KR 20010083244 A KR20010083244 A KR 20010083244A KR 20030053186 A KR20030053186 A KR 20030053186A
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Abstract

PURPOSE: A liquid crystal display is provided to easily check whether or not a COG type liquid crystal panel operates and reduce the checking time. CONSTITUTION: A chip on glass type liquid crystal display includes a plurality of odd-numbered gate pads respectively connected to odd-numbered gate lines, a plurality of even-numbered gate pads respectively connected to even-numbered gate lines and formed at a position different from the position of the odd-numbered gate pads, and data pads(38) respectively connected to data lines. The gate pads and data pads are electrically connected to a conductive rubber pad(40) in order to inspect the gate lines and data lines.

Description

액정표시장치{Liquid Crystal Display Device}Liquid Crystal Display Device

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 칩 온 글래스(Chip On Glass)형 액정패널의 불량검사에 적합하도록 한 액정표시장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device suitable for defect inspection of a chip on glass liquid crystal panel.

최근 들어, 휴대폰과 PCS(Personal Communication System) 등의 모빌폰 등의 이동통신 단말기의 보급이 급격히 확대되고 있으며, 이러한 이동통신 단말기에 비하여 보다 많은 기능을 가지는 개인 휴대형 정보기(Portable Digital Apparatus : PDA)가 애용되고 있다. 이러한 휴대 정보 단말기는 개인이 휴대하기 편리하도록 소형화되는 추세에 있으며, 이 소형화 추세에 따라 휴대 정보 단말기는 화상을 표시하기 위한 수단으로 사용되는 액정표시장치(Liquid Crystal Display)도 소형화되는 추세에 있다.In recent years, the spread of mobile communication terminals such as mobile phones and mobile phones such as PCS (Personal Communication System) has been rapidly expanding. Is a favorite. Such portable information terminals tend to be miniaturized to be easily carried by individuals, and according to the trend of miniaturization, portable information terminals tend to be miniaturized in liquid crystal displays, which are used as means for displaying images.

액정표시장치는 비디오신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절함으로써 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정패널에 화상을 표시하게 된다. 이를 위해, 액정표시장치는 데이터라인들과 게이트라인들에 접속되어 각각 데이터신호와 스캔신호를 데이터라인들과 게이트라인들에 공급하기 위한 다수의 집적회로들(Integrated Circuit : 이하 "IC"라 함)이 필요하게 된다. 이와 같은 IC들은 인쇄회로기판(Printed Circuit Board : 이하 "PCB"라 함)과 액정패널 사이에 설치되어 PCB로부터 공급되는 신호를 액정패널의 데이터라인들과 게이트라인들에 공급하게 된다. IC들의 실장방법으로는 테이프 오토메이티드 본딩(Tape Automated Bonding : 이하 "TAB"라 함)과 칩 온 글래스(Chip On Glass : 이하 "COG"라 함) 등이 있다.The liquid crystal display device displays an image on a liquid crystal panel in which liquid crystal cells are arranged in a matrix by adjusting light transmittance of liquid crystal cells according to a video signal. To this end, a liquid crystal display device is connected to data lines and gate lines, and a plurality of integrated circuits for supplying data signals and scan signals to data lines and gate lines, respectively. ) Is required. Such ICs are installed between a printed circuit board (hereinafter, referred to as a “PCB”) and a liquid crystal panel to supply signals supplied from the PCB to data lines and gate lines of the liquid crystal panel. IC mounting methods include tape automated bonding ("TAB") and chip on glass ("COG").

이 중 COG 방식은 도 1에 도시된 바와 같이 액정패널(10)의 하부기판(12)에 데이터 드라이버 IC(14) 및 게이트 드라이버 IC(16)가 직접 실장되는 방식이다.The COG method is a method in which the data driver IC 14 and the gate driver IC 16 are directly mounted on the lower substrate 12 of the liquid crystal panel 10 as shown in FIG. 1.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 종래의 액정표시장치는 액정을 사이에 두고 합착된 액정패널(10)과, 액정패널(10)의 하부기판(12) 상에 패터닝되어 데이터라인들(DL)을 구동하기 위한 데이터 드라이브 IC(14)와, 하부기판(12) 상의 게이트라인들(GL)을 순차적으로 스캐닝하기 위한 게이트 드라이브 IC(16)와, 데이터라인들(DL) 및 게이트라인들(GL)과 연결되는 데이터 및 게이트 패드부(18, 20)와, 패드부(18, 20)와 IC(14, 16)를 전기적으로 접속시키는 범퍼(22)를 구비한다.1 to 3, a conventional liquid crystal display device is patterned on a liquid crystal panel 10 bonded with liquid crystals interposed therebetween and a lower substrate 12 of the liquid crystal panel 10 to be connected to data lines DL. A data drive IC 14 for driving the gate, a gate drive IC 16 for sequentially scanning the gate lines GL on the lower substrate 12, data lines DL, and gate lines GL. ) And a bumper 22 for electrically connecting the data and gate pad portions 18 and 20 and the pad portions 18 and 20 to the ICs 14 and 16.

액정패널(10)에는 게이트라인들(GL)과 데이터라인들(DL) 교차부에 액정셀들이 매트릭스 형태로 배치된다. 액정패널(10)은 도시되지 않은 컬러필터, 공통전극 및 배향막이 순차적으로 형성된 상부기판과, 박막트랜지스터(Thin Film Transister : 이하 "TFT"라 함), 화소전극 및 배향막이 순차적으로 형성된 하부기판(12)과, 상부기판과 하부기판(12) 사이에 주입된 도시되지 않은 액정으로 구성된다.In the liquid crystal panel 10, liquid crystal cells are arranged in a matrix at intersections of the gate lines GL and the data lines DL. The liquid crystal panel 10 includes an upper substrate on which a color filter, a common electrode, and an alignment layer (not shown) are sequentially formed, a lower substrate on which a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT), a pixel electrode, and an alignment layer are sequentially formed ( 12) and a liquid crystal (not shown) injected between the upper substrate and the lower substrate 12.

액정패널(10)의 하단 가장자리에 데이터 패드부(18)와 게이트 패드부(20)가 나란하게 형성된다. 데이터 패드부(18)는 데이터링크부(DK)에 의해 데이터라인들(DL)과 연결된다. 마찬가지로, 게이트 패드부(20)는 게이트링크부(GK)를 경유하여 게이트라인들(GL)과 연결된다.The data pad part 18 and the gate pad part 20 are formed side by side at the lower edge of the liquid crystal panel 10. The data pad unit 18 is connected to the data lines DL by the data link unit DK. Similarly, the gate pad part 20 is connected to the gate lines GL via the gate link part GK.

이 데이터 및 게이트 패드부(18, 20)는 범퍼(22)에 의해 데이터 및 게이트 드라이버 IC(14, 16)와 접속된다.The data and gate pad portions 18 and 20 are connected to the data and gate driver ICs 14 and 16 by a bumper 22.

이러한 COG 방식의 액정표시장치는 액정패널(10)의 하부기판(12) 상에 드라이버 IC(14, 16)가 실장되기 전에 액정패널(10)의 작동여부를 검사한다. 드라이버 IC(14, 16)는 도시되지 않은 일측에 형성된 입력패드부를 통해 공급된 구동신호를 타측의 패드부(18, 20) 및 액정패널(10)에 공급한다. 그런데, 액정패널(10)의 작동여부를 검사하기 위한 테스트 공정은 드라이버 IC(14, 16)를 실장하기 전에 이루어지므로 드라이버 IC(14, 16)의 입력패드부와 액정패널(10)에 연결된 패드부(18, 20)가 개방되는 COG 방식의 액정표시장치는 액정패널(10)을 테스트할 수 없게 된다.The COG type liquid crystal display device checks the operation of the liquid crystal panel 10 before the driver ICs 14 and 16 are mounted on the lower substrate 12 of the liquid crystal panel 10. The driver ICs 14 and 16 supply driving signals supplied through an input pad unit formed on one side, not shown, to the pad units 18 and 20 and the liquid crystal panel 10 on the other side. However, the test process for checking the operation of the liquid crystal panel 10 is performed before the driver ICs 14 and 16 are mounted. The COG type liquid crystal display device in which the portions 18 and 20 are opened cannot test the liquid crystal panel 10.

따라서, 본 발명의 목적은 칩 온 글래스(Chip On Glass)형 액정패널의 불량검사에 적합하도록 한 액정표시장치를 제공하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device suitable for defect inspection of a chip on glass liquid crystal panel.

도 1은 종래의 액정표시장치를 나타내는 평면도.1 is a plan view showing a conventional liquid crystal display device.

도 2는 도 1에 도시된 액정표시장치를 나타내는 단면도.FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating the liquid crystal display shown in FIG. 1.

도 3은 도 1에 도시된 액정표시장치의 패드부를 나타내는 도면.FIG. 3 is a diagram illustrating a pad part of the liquid crystal display shown in FIG. 1.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치를 나타내는 평면도.4 is a plan view illustrating a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5a 및 도 5b는 도 4에 도시된 데이터 패드부를 나타내는 도면.5A and 5B are views showing the data pad portion shown in FIG. 4;

도 6a 및 도 6b는 도 4에 도시된 게이트 패드부를 나타내는 도면.6A and 6B show the gate pad portion shown in FIG. 4;

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

10, 30 : 액정패널 12, 32 : 하부기판10, 30: liquid crystal panel 12, 32: lower substrate

14 : 데이터 드라이브 IC 16 : 게이트 드라이브 IC14: data drive IC 16: gate drive IC

18, 20, 38, 42 : 패드부22 : 범퍼18, 20, 38, 42: pad portion 22: bumper

40, 50, 52 : 도전성 고무 패드부40, 50, 52: conductive rubber pad portion

상기 목적들을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정표시장치는 칩 온 글래스(Chip On Glass)형 액정표시장치에 있어서, 기수번째 게이트라인에 각각 연결된 다수의 기수번째 게이트 패드부와, 우수번째 게이트라인에 각각 연결되고 상기 게이트 패드부의 위치와 다른 위치에 형성되는 다수의 우수번째 게이트 패드부와, 데이터라인들 각각에 연결된 데이터 패드부를 구비하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above objects, the liquid crystal display device according to the present invention is a chip on glass type liquid crystal display device, comprising: a plurality of odd gate pad portions connected to the odd gate lines and even gate lines And a plurality of even-numbered gate pad portions respectively connected to the gate pad portions and formed at positions different from the position of the gate pad portion, and a data pad portion connected to each of the data lines.

상기 목적들 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부한 도면들을 참조한 실시 예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and features of the present invention in addition to the above objects will be apparent from the description of the embodiments with reference to the accompanying drawings.

이하, 도 4 내지 도 6을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 4 to 6.

도 4 내지 도 6을 참조하면, 본 발명에 따른 액정표시장치는 패드의 길이가 신장된 데이터 패드부(38)와, 홀수번째 게이트 패드(GP2n-1)와 짝수번째 게이트 패드(GP2n)가 지그재그 형태로 번갈아 분리되는 게이트 패드(42)를 구비한다.4 to 6, in the liquid crystal display according to the present invention, the data pad portion 38 in which the pad length is extended, the odd-numbered gate pad GP2n-1 and the even-numbered gate pad GP2n are zigzag. It has a gate pad 42 alternately separated in the form.

본 발명에 따른 액정표시장치는 액정패널(30)과, 액정패널(30)의 하부기판(32) 상의 데이터라인들(DL)을 구동하기 위한 데이터 드라이브 IC(34)와, 하부기판(32) 상의 게이트라인들(GL)을 순차적으로 스캐닝하기 위한 게이트 드라이브 IC(36)와, 패드부(38)와 IC(34, 36)를 전기적으로 접속시키는 범퍼()를 추가로 구비한다.The liquid crystal display according to the present invention includes a liquid crystal panel 30, a data drive IC 34 for driving data lines DL on the lower substrate 32 of the liquid crystal panel 30, and a lower substrate 32. And a gate drive IC 36 for sequentially scanning the gate lines GL on the upper surface, and a bumper electrically connecting the pad 38 and the ICs 34 and 36 to each other.

액정패널(30)에는 게이트라인들(GL)과 데이터라인들(DL) 교차부에 액정셀들이 매트릭스 형태로 배치된다. 액정패널(30)은 도시되지 않은 컬러필터, 공통전극 및 배향막이 순차적으로 형성된 상부기판과, 박막트랜지스터(Thin Film Transister), 화소전극 및 배향막이 순차적으로 형성된 하부기판(32)과, 상부기판과 하부기판(32) 사이에 주입된 도시되지 않은 액정으로 구성된다.In the liquid crystal panel 30, liquid crystal cells are arranged in a matrix at intersections of the gate lines GL and the data lines DL. The liquid crystal panel 30 includes an upper substrate on which a color filter, a common electrode, and an alignment layer (not shown) are sequentially formed, a lower substrate 32 on which a thin film transistor, a pixel electrode and an alignment layer are sequentially formed, and an upper substrate. It is composed of an unillustrated liquid crystal injected between the lower substrate 32.

액정패널(30)의 하단 가장자리에 데이터 패드부(38)와 게이트 패드부(42)가 나란하게 형성된다. 데이터 패드부(38)는 데이터링크부(DK)에 의해 데이터라인들(DL)과 연결되며 게이트 패드부(42)는 게이트링크부(GK)를 경유하여 게이트라인들(GL)과 연결된다. 이 데이터 및 게이트 패드부(38, 42)는 일측에 형성된 범퍼에 의해 데이터 및 게이트 드라이버 IC(34, 36)와 접속된다.The data pad part 38 and the gate pad part 42 are formed side by side at the lower edge of the liquid crystal panel 30. The data pad part 38 is connected to the data lines DL by the data link part DK, and the gate pad part 42 is connected to the gate lines GL via the gate link part GK. The data and gate pad portions 38 and 42 are connected to the data and gate driver ICs 34 and 36 by bumpers formed on one side.

액정패널(30)의 온/오프(On/Off) 검사는 이 데이터 및 게이트 드라이버 IC(34, 36)가 실장되기 전, 도전성 고무패드(40, 50)에 의해 데이터 패드부(38) 및 게이트 패드부(42)에 전압이 공급되어 게이트라인들(GL) 및 데이터라인들(DL)의 검사가 이루어진다.On / off inspection of the liquid crystal panel 30 is performed by the conductive rubber pads 40 and 50 before the data and gate driver ICs 34 and 36 are mounted. The voltage is supplied to the pad part 42 to inspect the gate lines GL and the data lines DL.

데이터 패드부(38)는 도 5a에 도시된 바와 같이 종래의 데이터 패드부(18)에 비하여 길이가 길어지도록 형성된다. 데이터 패드부(38)의 길이가 신장됨에 따라 데이터 패드부(38)의 면적이 증가하게 됨과 아울러 데이터 패드부(38)의 노출되는 영역이 커지게 된다. 이에 따라, 도 5b에 도시된 바와 같이 도시되지 않은 테스트장비에 장착된 도전성 고무패드(40)와의 접촉면적이 증가하게 된다. 이러한 도전성 고무패드(40)와 데이터 패드부(38)를 접속시킨 후, 직류(DC) 전압을 공급함으로써 데이터라인들(DL)이 잘 작동되는지 검사한다.The data pad portion 38 is formed to be longer in length than the conventional data pad portion 18 as shown in FIG. 5A. As the length of the data pad portion 38 is extended, the area of the data pad portion 38 is increased and the exposed area of the data pad portion 38 is increased. Accordingly, the contact area with the conductive rubber pad 40 mounted on the test equipment (not shown) as shown in FIG. 5B is increased. After the conductive rubber pad 40 and the data pad unit 38 are connected, the data lines DL are inspected by supplying a direct current (DC) voltage.

데이터링크부(DK)는 데이터 패드부(38)에 비해 상대적으로 작은 선폭을 가지도록 형성되며, 전기전도도가 좋은 금속, 예를 들면 구리(Cu)와 같은 금속물질로 형성된다. 데이터링크부(DK)는 데이터 패드부(38)와 데이터라인들(DL)을 연결하도록 패터닝된다.The data link unit DK is formed to have a relatively smaller line width than the data pad unit 38, and is formed of a metal having good electrical conductivity, for example, a metal material such as copper (Cu). The data link unit DK is patterned to connect the data pad unit 38 and the data lines DL.

게이트 패드부(42)는 도 6a에 도시된 바와 같이 기수번째 게이트 패드(GP2n-1)와 우수번째 게이트 패드(GP2n)의 위치가 서로 교번되게끔 형성된다. 이때, 기수번째 게이트 패드(GP2n-1)와 우수번째 게이트 패드(GP2n) 각각은 일렬로 정렬된다. 이렇게 기수번째 게이트 패드(GP2n-1)와 우수번째 게이트 패드(GP2n)로 분리되는 게이트 패드부(42)는 게이트링크부(GK)를 통해 게이트라인들(GL)과 전기적으로 접속된다. 게이트링크부(GK)는 게이트 패드부(42)보다 상대적으로 작은 선폭을 가지게끔 형성된다. 게이트링크부(GK)는 전기전도도가 좋은 금속물질, 예를 들면 구리(Cu)와 같은 물질로 형성된다.As shown in FIG. 6A, the gate pad part 42 is formed such that positions of the odd-numbered gate pad GP2n-1 and the even-numbered gate pad GP2n are alternated with each other. At this time, each of the odd-numbered gate pads GP2n-1 and the even-numbered gate pad GP2n is aligned in a row. The gate pad part 42 divided into the odd-numbered gate pad GP2n-1 and the even-numbered gate pad GP2n is electrically connected to the gate lines GL through the gate link part GK. The gate link part GK is formed to have a line width relatively smaller than that of the gate pad part 42. The gate link part GK is formed of a metal material having good electrical conductivity, for example, copper (Cu).

이러한 게이트 패드부(42)의 구조를 가지는 COG형 액정표시장치는 게이트 패드부(42)가 기수번째 게이트 패드(GP2n-1)와 우수번째 게이트 패드(GP2n)로 나뉘어지게 됨에 따라, 액정패널(30)의 작동여부를 검사하기 위한 스캔신호를 게이트라인들(GL)에 공급하고자 할 때, 테스트 검사장치의 제1 및 제2 도전성 고무패드(50, 52) 각각을 기수번째 게이트 패드(GP2n-1) 및 우수번째 게이트 패드(GP2n)와 접촉시킨다. 이에 따라, 도 6b에 도시된 바와 같이 기수번째 게이트라인들(GL2n-1)과 우수번째 게이트라인들(GL2n)이 분리되어 제1 및 제2 도전성 고무패드(50, 52)와 접촉된다.In the COG type liquid crystal display device having the structure of the gate pad part 42, the gate pad part 42 is divided into the odd-numbered gate pad GP2n-1 and the even-numbered gate pad GP2n. When supplying a scan signal to check the operation of the operation 30 to the gate lines GL, each of the first and second conductive rubber pads 50 and 52 of the test inspection apparatus is connected to the odd gate pad GP2n−. 1) and even-numbered gate pad GP2n. Accordingly, as shown in FIG. 6B, the odd-numbered gate lines GL2n−1 and the even-numbered gate lines GL2n are separated to contact the first and second conductive rubber pads 50 and 52.

COG 방식의 액정패널(30)은 드라이버 IC(34, 36)가 실장되기 전에 액정패널(30)의 온/오프(On/Off) 여부를 검사할 수 있다. 제1 및 제2 도전성 고무패드(50, 52)에 전압을 인가하면 도전성 고무에 첨가되어 있는 도전성 입자들에 전압이 인가되고 도전성 입자들과 접촉되어 있는 각각의 데이터 패드부(38)와 게이트 패드부(42)는 이 도전성 입자들에 의해 전압이 공급된다. 이때, 노멀리 화이트(normally white) 상태의 액정패널(30)인 경우 전압의 인가에 따라 블랙 상태를 유지해야 하는데 게이트라인(GL) 또는 데이터라인(DL) 중 어느 한 라인이 불량이면 그 라인에만 전압이 인가되지 않아 화이트 상태를 유지하게 된다. 이로써 액정패널의 불량의 유뮤를 확인할 수 있다. 또는 액정셀이 불량인 경우 점결함(point defect)가 발생됨도 확인가능하다.The COG type liquid crystal panel 30 may inspect whether the liquid crystal panel 30 is on or off before the driver ICs 34 and 36 are mounted. When voltage is applied to the first and second conductive rubber pads 50 and 52, a voltage is applied to the conductive particles added to the conductive rubber and the respective data pad portion 38 and the gate pad are in contact with the conductive particles. The part 42 is supplied with voltage by these electroconductive particles. At this time, in the case of the normally white liquid crystal panel 30, the black state should be maintained according to the application of voltage. If any one of the gate line GL or the data line DL is defective, only the line is defective. No voltage is applied to maintain the white state. Thereby, the existence or absence of the defect of a liquid crystal panel can be confirmed. Alternatively, if the liquid crystal cell is defective, it may be confirmed that a point defect occurs.

이러한 도전성 고무패드를 이용하여 소형의 액정패널을 검사하는 경우에 있어서, 온/오프(On/Off) 검사 대신 자동검사장비(Auto Probe)를 이용하여 액정패널(30)을 검사할 수도 있다. 자동 검사 과정에서는 완성된 액정패널의 화면에 테스트(Test) 패턴을 띄우고 불량화소의 유무를 탐지하여 불량화소가 발견되었을 때 이에 대한 리페어 작업을 행하게 된다.In the case of inspecting the small liquid crystal panel using the conductive rubber pad, the liquid crystal panel 30 may be inspected using an automatic probe (Auto Probe) instead of the on / off inspection. In the automatic inspection process, a test pattern is displayed on the screen of the completed liquid crystal panel and the presence or absence of defective pixels is detected and repaired when a defective pixel is found.

이와 같이, 데이터 패드부(38)의 면적을 크게 함과 아울러 게이트 패드부(42)를 분리함으로써 액정패널(30)의 불량 유무 검사시 도전성 고무패드가 패드부(38, 42)에 오접속되는 것을 방지할 수 있음과 아울러 액정패널(30) 검사시간을 단축할 수 있다.In this way, the area of the data pad 38 is enlarged and the gate pad 42 is separated so that the conductive rubber pads are incorrectly connected to the pads 38 and 42 when the liquid crystal panel 30 is inspected for defects. In addition to this, the inspection time of the liquid crystal panel 30 can be shortened.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치는 데이터 패드부의 길이를 연장함과 아울러 게이트 패드부를 기수번째와 우수번째로 분리하여 형성시킨다. 이에 따라, COG형 액정패널의 작동여부 검사를 손쉽게 할 수 있음과 아울러 검사시간을 단축시킬 수 있다.As described above, the liquid crystal display according to the present invention extends the length of the data pad portion and separates the gate pad portion into odd and even numbers. Accordingly, the operation of the COG type liquid crystal panel can be easily inspected and the inspection time can be shortened.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

Claims (3)

칩 온 글래스(Chip On Glass)형 액정표시장치에 있어서,In a chip on glass liquid crystal display device, 기수번째 게이트라인에 각각 연결된 다수의 기수번째 게이트 패드부와,A plurality of odd gate pad portions respectively connected to the odd gate lines, 우수번째 게이트라인에 각각 연결되고 상기 게이트 패드부의 위치와 다른 위치에 형성되는 다수의 우수번째 게이트 패드부와,A plurality of even-numbered gate pad parts connected to the even-numbered gate lines and formed at positions different from the position of the gate pad part, 데이터라인들 각각에 연결된 데이터 패드부를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And a data pad part connected to each of the data lines. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 게이트라인들과 데이터라인들을 검사하기 위하여 게이트 패드부 및 데이터 패드부는 도전성 고무패드와 전기적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And a gate pad portion and a data pad portion electrically connected to a conductive rubber pad to inspect the gate lines and the data lines. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 기수번째 게이트 패드부끼리 제1 도전성 고무패드와 접촉함과 아울러 상기 우수번째 게이트 패드부끼리 제2 도전성 고무패드와 전기적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And the odd-numbered gate pad portions are in contact with the first conductive rubber pad, and the even-numbered gate pad portions are electrically connected to the second conductive rubber pad.
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