KR20070035783A - 인쇄회로기판 자동 검사장비 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 다수 개의 롤러를 이용해 인쇄회로기판을 이송하는 이송수단과;상기 인쇄회로기판의 결함을 검출하도록 빛을 조사하는 조명장치와, 상기 인쇄회로기판의 영상을 촬영하는 카메라를 각각 구비한 불량검출수단을 포함하는 인쇄회로기판 자동 검사장비에 있어서,상기 불량검출수단의 전방에 위치하며, 상기 이송수단의 양 측부에 각각 설치되어, 상호 간격이 좁혀졌다가 넓어지도록 각각 거동되는 정렬 안내부재를 포함하고;상기 불량검출수단은 상기 인쇄회로기판과 상기 카메라 사이에서 일정 각도로 경사지게 설치되어, 상기 조명장치의 빛을 상기 인쇄회로기판에 수직되게 입사시키며, 빛이 일정량 투과되는 하프미러를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 자동 검사장비.
- 청구항 1에 있어서, 상기 조명장치는 상기 인쇄회로기판과 수평되게 빛이 조사되도록 상기 이송수단의 측부에 설치되며, 상기 하프미러는 상기 인쇄회로기판과 상기 카메라 사이의 수직선상과 45도 경사지게 설치되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 자동 검사장비.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 이송수단은 다수 개의 롤러 중 일부 가 점착성을 갖는 이물질 제거용 롤러로서, 상하부에 각각 위치하는 상기 이물질 제거용 롤러 사이로 상기 인쇄회로기판이 통과되게 구성되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 자동 검사장비.
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Cited By (3)
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---|---|---|---|---|
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KR101102940B1 (ko) * | 2011-09-16 | 2012-01-10 | 주식회사 코엠에스 | 분별 수취가 가능한 전기검사기용 반도체 인쇄회로기판 투입수취기 |
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