KR20070022905A - 샘플링 주파수 오프셋 추정방법 및 이 방법이 적용되는ofdm 시스템 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (9)
- 최대 근사 추정(maximum likelihood estimation)을 이용하여 샘플링 주파수 오프셋을 추정하는 OFDM 시스템에 있어서,반송 주파수와 샘플링 주파수를 생성하는 발진기;생성된 상기 샘플링 주파수로 수신신호를 샘플링하는 변환부;미리 설정되는 기준 파일롯 부반송파를 이용하여 반송 주파수 오프셋을 추정하는 주파수 오프셋 추정부;샘플링한 상기 수신신호를 주파수 영역으로 변환하는 FFT부; 및추정한 상기 반송 주파수 오프셋의 크기, 상기 시스템의 최대 샘플링 주파수 오프셋, 및 상기 최대 근사 추정의 해상도를 기초로, 상기 OFDM 심볼 별로 상기 검색 영역의 크기 및 상기 검색 영역의 범위를 계산하고, 상기 OFDM 심볼 별로 계산한 상기 검색 영역의 범위내에서 상기 최대 근사 추정을 수행하여 상기 샘플링 주파수 오프셋을 추정하는 오차 추정부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 OFDM 시스템.
- 제1항에 있어서,상기 오차 추정부는,상기 추정한 반송 주파수 오프셋의 크기에 따라 상기 최대 근사 추정 검색 방향으로 결정하는 결정부;상기 시스템의 최대 샘플링 주파수 오프셋과 상기 최대 근사 추정의 해상도를 이용하여 상기 최대 근사 추정 검색 영역의 크기를 계산하고, 계산한 상기 크기를 기초로 상기 OFDM 심볼 별로 상기 검색 영역을 계산하는 계산부; 및상기 OFDM 심볼 별로 계산된 상기 검색 영역 내에서 상기 수신신호의 파일롯 부반송파와 상기 기준 파일롯 부반송파의 최대 상관도를 계산하여, 상기 샘플링 주파수 오프셋을 검출하는 검출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 OFDM 시스템.
- 제2항에 있어서,상기 OFDM 심볼별 검색 영역의 범위는 이전 OFDM 심볼의 검색 영역의 종료점을 시작점으로 하고, 상기 시작점에 계산된 상기 검색 영역의 크기를 더한 값을 종료점으로 하여 결정되는 것을 특징으로 하는 OFDM 시스템.
- 제1항에 있어서,추정한 상기 샘플링 주파수 오프셋에 의해 변화한 위상을 보상하는 위상 보상부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 OFDM 시스템.
- 제1항에 있어서,추정한 상기 샘플링 주파수 오프셋을 기초로 검출한 1-샘플 시프트한 위치에서 1-샘플을 추가 또는 삭제하는 삭제/추가부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 OFDM 시스템.
- 최대 근사 추정(maximum likelihood estimation)을 이용하여 샘플링 주파수 오프셋을 추정하는 OFDM 시스템에 있어서,수신신호의 파일롯 부반송파를 이용하여 추정되는 반송 주파수 오프셋을 이용하여 상기 최대 근사 추정 검색 방향을 결정하는 단계;상기 시스템의 최대 샘플링 주파수 오프셋과 상기 최대 근사 추정의 해상도를 이용하여 상기 최대 근사 추정 검색 영역의 크기를 계산하는 단계;계산한 검색 영역의 크기를 기초로 상기 OFDM 심볼 별 상기 최대 근사 추정 검색 영역 범위를 계산하는 단계;상기 OFDM 심볼 별로 계산한 상기 검색 영역 범위 내에서 상기 수신신호의 파일롯 부반송파와 미리 설정된 파일롯 부반송파 간의 최대 상관도를 계산하여, 상기 샘플링 주파수 오프셋을 추정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플링 주파수 오프셋 추정방법.
- 제7항에 있어서,상기 OFDM 심볼별 검색 영역의 범위는 이전 OFDM 심볼의 검색 영역의 종료점을 시작점으로 하고, 상기 시작점에 계산된 상기 검색 영역의 크기를 더한 값을 종료점으로 하여 결정되는 것을 특징으로 하는 샘플링 주파수 오프셋 추정방법.
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