KR20070014710A - 디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이패널 검사 방법 - Google Patents

디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이패널 검사 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20070014710A
KR20070014710A KR1020050069571A KR20050069571A KR20070014710A KR 20070014710 A KR20070014710 A KR 20070014710A KR 1020050069571 A KR1020050069571 A KR 1020050069571A KR 20050069571 A KR20050069571 A KR 20050069571A KR 20070014710 A KR20070014710 A KR 20070014710A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
display panel
work table
inspection
display panels
display
Prior art date
Application number
KR1020050069571A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100733276B1 (ko
Inventor
천윤광
Original Assignee
주식회사 파이컴
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 파이컴 filed Critical 주식회사 파이컴
Priority to KR1020050069571A priority Critical patent/KR100733276B1/ko
Priority to JP2006197347A priority patent/JP4365391B2/ja
Priority to TW095127435A priority patent/TWI328121B/zh
Priority to CNB2006101039644A priority patent/CN100529713C/zh
Publication of KR20070014710A publication Critical patent/KR20070014710A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100733276B1 publication Critical patent/KR100733276B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Abstract

본 발명은 소형 디스플레이 패널의 점등 검사를 연속적으로 실시할 수 있는 디스플레이 패널  검사 장비에 관한 것이다. 본 발명의 디스플레이 패널 검사 장비는 프레임 일측에 고정되되 디스플레이 패널이 탑재되는 제 1 워크테이블과, 프레임의 타측에 고정되되 디스플레이 패널이 탑재되는 제 2워크테이블, 제 1및 제2워크테이블 상부면에 소정거리 이격된 상태에서 이동가능하며, 상기 제1및 제2워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 순차적으로 검사하는 이동식 프로브 유닛을 포함하여 이루어진다.
워크 테이블, 프로브 유닛

Description

디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법{apparatus for inspecting panel display and method for inspecting panel display using the same}
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 정면도;
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 평면도;
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 측면도;
도 4는 도 1에서 제2검사위치로 이동된 이동식 프로브유닛을 보여주는 도면;
도 5 내지 도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 점등신호 제어기의 구성을 보여주는 구성도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *
110 : 프레임
120a : 제1워크 테이블
120b : 제2워크 테이블
122 : 팔레트
130 : 이동식 프로브 유닛
본 발명은 디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 소형 디스플레이 패널의 점등 검사를 연속적으로 실시할 수 있는 디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치(TFT-LCD)와 같은 평판 디스플레이(flat panel display)는 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화가 급속도로 진전되어 노트북 컴퓨터(computer)용 뿐만 아니라 대형 모니터(monitor) 응용 제품으로도 개발되어 기존의 CRT(cathode ray tube) 제품을 점진적으로 대체하고 있어 디스플레이 산업에서의 그 비중이 점차 증대되고 있다.
이와 같은 평판 디스플레이(flat panel display) 장치는 제조라인 최종 단계에서 점등 검사를 수행하게 된다. 점등 검사는 프로브 유닛을 이용해 평판 디스플레이(이하 디스플레이 패널이라고 함)의 데이터라인과 게이트라인 각각의 단선 검사와 색상 검사 그리고 육안 검사 등을 실시하게 된다.
최근에는 휴대용 전화기에 사용되는 LCD 패널과 같이 소형의 디스플레이 패널의 수요가 급증하고 있으며, 이러한 소형의 디스플레이 패널을 검사할 때마다 공급, 정렬, 접속, 검사 및 추출이 매번 반복적으로 이루어지므로, 작업 및 검사시간이 증가되고 생산성이 저하되는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 장비의 크기를 최소화할 수 있는 새로운 형태의 디스플레이 패널 검사 장비 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법을 제공하는데 있다. 본 발명의 다른 목적은 한번에 복수의 디스플레이 패널들을 검사할 수 있는 새로운 형태의 디스플레이 패널 검사 장비 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법을 제공하는데 있다. 본 발명의 다른 목적은 여러장의 단위 디스플레이 패널이 서로 연결된 스틱 타입의 검사대상물을 검사할 수 있는 새로운 형태의 디스플레이 패널 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법을 제공하는데 있다. 
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 디스플레이 패널 검사 장비는 프레임 일측에 고정되되 디스플레이 패널이 탑재되는 제 1 워크테이블과, 프레임의 타측에 고정되되 디스플레이 패널이 탑재되는 제 2워크테이블, 제 1및 제2워크테이블 상부면에 소정거리 이격된 상태에서 이동가능하며, 상기 제1및 제2워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 순차적으로 검사하는 이동식 프로브 유닛을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 이동식 프로브는 상기 제 1 및 제 2워크테이블 중 어느 한 워크테이블로 이동하도록 상기 프레임의 일면에 설치되는 이동 플레이트; 상기 이동 플레이트에 설치되고, 상기 제1워크 테이블에 탑재된 디스플레이 패널들 또는 상기 2 워크 테이블에 탑재된 디스플레이 패널들과 전기적으로 접속되는 검사팁들을 갖는 프로브 블록들; 및 상기 이동 플레이트를 상기 제 1 워 크테이블 또는 제 2워크테이블로 이동시키는 구동부를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 디스플레이 패널 검사 장비는 상기 워크 테이블 후면에는 상기 베이스 플레이트의 전면에 설치된 디스플레이 패널들을 조명하는 백라이트 유닛을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 디스플레이 패널 검사 장비는 디스플레이 패널들에 점등신호를 입력하는 점등신호제어기를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 점등신호제어기는 디스플레이 패널이 발광하도록 점등신호를 발생시키는 점등발생기와, 상기 점등발생기로부터 발생된 점등신호를 디스플레이 패널들과 전기적으로 접속되는 프로브 블록들로 분배시키는 신호분배기를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 점등신호제어기는 상기 신호분배기로부터 각각의 프로브블록들로 연결되는 선로를 선택적으로 단락시키는 제어스위치를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 디스플레이 패널 검사 방법에 따르면, 프레임상에 고정되는 제1워크테이블에 디스플레이 패널을 로딩시키는 제1단계와, 상기 제1워크테이블로 이동식 프로브 유닛을 이동시키는 제2단계와, 상기 디스플레이 패널에 전기적으로 접촉되는 상기 이동식 프로브 유닛에 의하여 상기 제1워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 검사함과 동시에 제 2워크테이블에 디스플레이 패널을 로딩시키는 제3단계와, 상기 제2워크테이블로 상기 이동식 프로브 유닛을 이동시키는 제4단계와, 상기 제 2워크테이블로 로딩된 디스플레이 패널을 검사함과 동시에 제 1워크테이블상 에서 검사가 완료된 디스플레이 패널을 언로딩하는 제5단계와, 상기 제 1 내지 제5단계들의 검사단계를 순차적으로 반복 시행하는 단계를 포함할 수 있다.
예컨대, 본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예로 인해 한정되는 것으로 해석되어져서는 안 된다.  본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되어지는 것이다.  따라서, 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면 도 1 내지 도 6에 의거하여 상세히 설명한다.  또, 상기 도면들에서 동일한 기능을 수행하는 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 병기한다.
도 1 내지 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 정면도, 평면도 그리고 측면도이다.
이하, 설명을 간략하게 하고 용이하게 이해할 수 있도록 하기 위해, 검사 장비에 디스플레이 패널과 평행한 면내에서의 좌우방향을 X방향이라고 하고, 그 액정표시패널에 수직인 방향을 Z방향이라고 한다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 디스플레이 패널 검사 장비(100)는 프로브 유닛(130)을 이용해 소형의 단위 디스플레이 패널(10a) 3개가 서로 연결된 스틱 타입의 검사대상물(이하, 디스플레이 패널;10)의 데이터라인과 게이트라인 각각의 단선 검사와 색상검사 등을 이용한 육안검사를 실시하는 장비이다.  여기서, 검사대상물은 여러 장의 단위 디스플레이 패널(10a)이 서로 연결된 스틱 타입의 디 스플레이 패널(10)들 이외에 하나의 단품 디스플레이 패널로도 구성될 수 있다. 
본  발명의 기본적인 의도는 소형 디스플레이 패널(10)들의 연속 검사가 가능하게 하여 생산량 증가를 도모하기 위한 것으로, 이를 달성하기 위하여 본 발명의 검사 장비(100)는 제1검사위치(A;도 2에 도시됨)와 제2검사위치(B;도 2에 도시됨)에 워크 테이블(120a,120b)을 각각 배치하고, 프로브 유닛을 제1검사위치(A)와 제2검사위치(B)를 옮겨가면서 연속적인 검사를 수행할 수 있도록 하는 구조를 갖는데 그 특징이 있다.
본 발명의 디스플레이 패널 검사 장비(100)는 크게 프레임(110)과 제1,2워크 테이블(120a,120b) 그리고 이동식 프로브 유닛(130)을 포함한다.
프레임(110)은 전방에 대략 60도 각도로 기울어진 경사면부(112)를 갖는다. 이 경사면부(112)에는 제1워크 테이블(120a)과 제2워크 테이블(120b)이 좌우 양측에 대칭되게 설치된다.  제1워크 테이블(120a)과 제2워크 테이블(120b) 각각에는 점등 검사를 위한 디스플레이 패널(10)이 놓여지는 12개의 팔레트(pallet;122)가 설치되어 있으며, 도시하지는 않았지만, 팔레트(122)에는 디스플레이 패널(10)을 안정적으로 고정하기 위한 진공 흡착부와 디스플레이 패널이 놓여지는 위치를 안내하는 가이드 부재 등이 설치될 수 있다. 예컨대, 본 발명에서 제1워크 테이블(120a)과 제2워크 테이블(120b)에 설치되는 팔레트(122)의 개수는 본 실시예에만 한정되는 것은 아니며, 검사 대상물인 디스플레이 패널(10)의 크기에 따라 그 이상 또는 그 이하의 팔레트(122)가 배치될 수 있는 것이다.  한편, 제1워크 테이블(120a)과 제2워크 테이블(120b) 후방에는 제1,2워크 테이블(120a,120b) 각각에 놓 여진 디스플레이 패널(10) 후방에서 조명하도록 점등되는 공지의 백라이트 유닛(미도시됨)이 설치될 수 있으며, 이 백라이트 유닛은 도면 편의상 생략되었습니다.
도 1 및 도 4에 도시된 바와 같이, 이동식 프로브 유닛(130)은 제1워크 테이블(120a)에 탑재된 디스플레이 패널(10)들과 전기적으로 접촉되는 제1검사위치(A;도 2 참조)와, 제2워크 테이블(120b)에 탑재된 디스플레이 패널(10)들과 전기적으로 접촉되는 제2검사위치(B;도 2참조)를 번갈아(교대로) 이동하면서 제1워크 테이블(120a) 또는 제2워크 테이블(120b)에 탑재된 디스플레이 패널(10)들을 연속적으로 검사하게 된다.
이동식 프로브 유닛(130)을 자세히 살펴보면, 이동 플레이트(132)에는 디스플레이 패널(10)들과 전기적으로 접속되는 검사팁들을 갖는 프로브 블록(134)들이 설치된다.  이 이동 플레이트(132)는 제1검사 위치(A) 또는 제2검사 위치(B)로 이동하도록 프레임(110)의 경사면부(112)에 설치된다. 이 이동 플레이트(132)는 경사면부(112)의 상단과 하단에 X 방향으로 설치된 가이드 레일(114)을 따라 구동부(136)에 의해 X축 방향으로 슬라이드 이동된다. 본 실시예에서는 도면 편의상 구동부(136)를 프레임(110) 하단에 설치된 것으로 도시하였으나, 구동부(136)는 외부로 노출되지 않도록 이동 플레이트(132)의 후면에 설치될 수 도 있다.  예컨대, 본 실시예에서는 이동 플레이트(132)의 이동을 위한 구동부(136)로 에어 실린더를 예를 들어 설명하고 도시하였으나, 이는 하나의 예에 불과하며 정밀도에 따라 볼 스크류나 리니어 모터 등의 다양한 구동장치가 사용될 수 있다. 
한편, 이동식 프로브 유닛(130)은 프로브 블록(134)들의 검사팁들이 디스플 레이 패널(10)과 전기적으로 접촉되는 위치로 이동된 상태에서 디스플레이 패널(10)과 수직한 z축 방향으로 업다운 이동되며, 이 이동에 의해 디스플레이 패널(10)과 전기적으로 접촉 또는 비접촉된다.
이러한 이동식 프로브 유닛(130)을 갖는 검사 장비에서의 연속적인 검사 과정을 간략하게 살펴보면, 도1에 도시된 바와 같이 이동식 프로브 유닛(130)이 제1검사위치(A)에서 점등 검사 등을 실시하는 동안, 제2검사위치(B)의 제2워크 테이블(120b)에서는 작업자에 의해 디스플레이 패널(10)들의 교체 작업이 이루어지게 된다. 제1검사위치(A)에서 검사를 마친 이동식 프로브 유닛(130)이 디스플레이 패널(10)들의 교체가 완료된 제2검사위치(B)로 이동하여 제2워크 테이블(120b)에 놓여진 디스플레이 패널(10)들의 점등 검사를 실시하는 동안, 제1검사위치(A)의 제1워크테이블(120a)에서는 작업자에 의한 디스플레이 패널(10)들의 교체 작업이 진행되게 된다. 즉, 제 1및 제 2워크테이블에 장착된 디스플레이 패널들은 이동식 프로브 유닛에 의하여 순차적인 검사를 하게 된다. 보다 자세하게 설명하자면, 제 1및 제2워크테이블 중 어느 한 워크테이블상에 탑재된 디스플레이 패널의 검사를 종료한 후, 나머지 다른 하나의 워크테이블로 프로브유닛이 이동하여 디스플레이 패널을 검사하게 된다( 도 4 참조).
이처럼, 본 발명의 검사 장비(100)는 디스플레이 패널(10)들과 전기적으로 접속되는 검사팁들을 갖는 프로브 블록(134)들이 설치된 이동식 프로브 유닛(130)이 직접 제1검사위치(A)와 제2검사위치를(B) 옮겨 다니면서 점등 검사를 실시하기 때문에, 워크 테이블들(120a,120b)을 이동하는 방식에 비해서 그 점유 공간을 현저 하게 줄일 수 있는 각별한 효과를 갖는다 할 것이다.
도 5 내지 도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 점등신호 제어기에 의한 구성도이다.
전술된 디스플레이 패널 검사 장비(100)는 3개의 단위 디스플레이(10a) 패널이 서로 연결된 스틱 타입의 디스플레이 패널(10) 12개(총 36개의 단위 디스플레이 패널)를 동시에 검사할 수 있는 장비이다. 이를 위하여, 본 발명의 검사 장비(100)는 도 5에 도시된 바와 같이 각각의 디스플레이 패널(10)들에 점등 신호를 입력하는 점등신호제어기(140)를 포함한다.  이 점등신호제어기(140)는 백라이트(미도시됨)에 의해 발광된 광원이 디스플레이 패널(10)들에 투과될 때, 디스플레이 패널(10)들에 화상이 이루어지도록 화상에 대응되는 점등신호를 발생시키는 점등신호발생기(142)와, 점등신호발생기(142)에서 발생된 점등신호를 다수의 선로들을 통해 각각의 프로브 블록(134)들로 분배시키는 신호분배기(144)를 포함한다.  여기서, 점등신호발생기(142)는 프로브 블록(134)들의 검사팁들과 접속되는 디스플레이 패널(10)의 데이터 단자에 동시다발적으로 점등신호를 발생시킬 수 있으며, 또는 대용량의 점등신호에 의한 과도한 부하를 예방하기 위해 점등신호발생기(142)는 디스플레이 패널(10)들을 순차적으로 점등시키는 방식이 사용될 수 있다.  한편, 점등신호제어기(140)는 점등신호발생기(142)에서 발생된 점등신호를 선택적으로 디스플레이 패널(10)들에 공급시키는 제어스위치(146)를 포함할 수 있다.  점등신호발생기(142)에서는 발생된 점등신호는 신호분배기(144)를 통해 각각의 프로브 블록(134)들로 제공되며, 이 점등신호는 제어스위치(146)의 단락에 의해 선택적으로 3 개씩(또는 하나씩) 점등시킬 수 있다. 즉, 본 발명에 의한 검사 장비(100)는 제어스위치(146)를 통해 점등신호발생기(142)의 출력을 조절할 수 있고, 소용량의 점등신호 발생기(142)의 사용이 가능하며, 점등신호 발생기(142)의 과도한 출력으로 인한 부하를 감소시킬 수 있다. 
한편, 본 발명은 상기의 구성으로 이루어진 디스플레이 패널 검사 장비에 있어 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있다. 하지만, 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 디스플레이 패널 검사 장비는 복수개의 단위 디스플레이 패널이 조합되어 이루어진 스틱 타입의 검사대상물을 12개씩 연속적으로 검사할 수 있어 처리량을 현저하게 향상시킬 수 있는 각별한 효과를 갖는다.
또한, 본 발명은 이동식 프로브 유닛을 사용함으로써 장비의 크기를 줄일 수 있는 각별한 효과를 갖는다.
또한, 본 발명은 점등신호발생기의 출력을 조절할 수 있고, 소용량의 점등신호 발생기의 사용이 가능하며, 점등신호 발생기의 과도한 출력으로 인한 부하를 감소시킬 수 있는 각별한 효과를 갖는다.

Claims (7)

  1. 디스플레이 패널 검사 장비에 있어서:
    프레임의 일측에 고정되되 디스플레이 패널이 탑재되는 제 1 워크테이블;
    상기 프레임의 타측에 고정되되 디스플레이 패널이 탑재되는 제 2워크테이블과;
    상기 제 1및 제2워크테이블 상부면에 소정거리 이격되어 이동가능하며, 상기 제1및 제2워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 순차적으로 검사하는 이동식 프로브 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 이동식 프로브 유닛은
    상기 제 1 및 제 2워크테이블 중 어느 한 워크테이블로 이동하도록 상기 프레임의 일면에 설치되는 이동 플레이트;
    상기 이동 플레이트에 설치되고, 상기 제1워크 테이블에 탑재된 디스플레이 패널들 또는 상기 2 워크 테이블에 탑재된 디스플레이 패널들과 전기적으로 접속되는 검사팁들을 갖는 프로브 블록들; 및
    상기 이동 플레이트를 상기 제 1 워크테이블 또는 제 2워크테이블로 이동시키는 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널 검사 장비는
    상기 제1, 2 워크 테이블 후면에는 상기 베이스 플레이트의 전면에 설치된 디스플레이 패널들을 조명하는 백라이트 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널 검사 장비는
    디스플레이 패널들에 점등신호를 입력하는 점등신호제어기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 점등신호제어기는
    디스플레이 패널이 발광하도록 점등신호를 발생시키는 점등발생기와, 상기 점등발생기로부터 발생된 점등신호를 디스플레이 패널들과 전기적으로 접속되는 프로브 블록들로 분배시키는 신호분배기를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 점등신호제어기는
    상기 신호분배기로부터 각각의 프로브블록들로 연결되는 선로를 선택적으로 단락시키는 제어스위치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비.
  7. 프레임상에 고정되는 제1워크테이블에 디스플레이 패널을 로딩시키는 제1단계와,
    상기 제1워크테이블로 이동식 프로브 유닛을 이동시키는 제2단계와,
    상기 디스플레이 패널에 전기적으로 접촉되는 상기 이동식 프로브 유닛에 의하여 제1워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 검사함과 동시에 제 2워크테이블에 디스플레이 패널을 로딩시키는 제3단계와,
    상기 제2워크테이블로 상기 이동식 프로브 유닛을 이동시키는 제4단계와,
    상기 제 2워크테이블로 로딩된 디스플레이 패널을 검사함과 동시에 상기 제 1워크테이블상에서 검사가 완료된 디스플레이 패널을 언로딩하는 제5단계와,
    상기 제 1 내지 제5단계들의 검사단계를 순차적으로 반복 시행하는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 방법.
KR1020050069571A 2005-07-29 2005-07-29 디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이패널 검사 방법 KR100733276B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050069571A KR100733276B1 (ko) 2005-07-29 2005-07-29 디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이패널 검사 방법
JP2006197347A JP4365391B2 (ja) 2005-07-29 2006-07-19 ディスプレイパネルの検査装置とこれを利用したディスプレイパネル検査方法
TW095127435A TWI328121B (en) 2005-07-29 2006-07-27 Apparatus for inspecting display panel and method for inspecting display panel using the same
CNB2006101039644A CN100529713C (zh) 2005-07-29 2006-07-28 用于检测显示板的装置及其使用方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050069571A KR100733276B1 (ko) 2005-07-29 2005-07-29 디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이패널 검사 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070014710A true KR20070014710A (ko) 2007-02-01
KR100733276B1 KR100733276B1 (ko) 2007-06-28

Family

ID=37673881

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050069571A KR100733276B1 (ko) 2005-07-29 2005-07-29 디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이패널 검사 방법

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP4365391B2 (ko)
KR (1) KR100733276B1 (ko)
CN (1) CN100529713C (ko)
TW (1) TWI328121B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102068560B1 (ko) * 2019-11-20 2020-01-21 금교필 디스플레이 패널 검사장치용 백라이트 유닛

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5156970B2 (ja) * 2008-11-10 2013-03-06 株式会社日本マイクロニクス 電気的検査のためのプローブユニット、電気的検査装置および点灯検査装置
CN102591044A (zh) * 2012-01-12 2012-07-18 北京凌云光视数字图像技术有限公司 Tft液晶屏的质量检测方法
CN106124538B (zh) * 2016-08-31 2019-02-12 天津三英精密仪器股份有限公司 一种双工位多任务x射线三维成像检测系统
CN106842641B (zh) * 2016-12-23 2019-11-01 武汉精立电子技术有限公司 显示模组的移动检测图像采集装置
CN108318753A (zh) * 2017-01-16 2018-07-24 研华股份有限公司 检测系统
CN108415095A (zh) * 2018-05-09 2018-08-17 清华大学 车辆检查系统

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3673022B2 (ja) * 1996-06-24 2005-07-20 株式会社日本マイクロニクス 液晶表示パネルの検査装置
JPH1010153A (ja) * 1996-06-26 1998-01-16 Nippon Maikuronikusu:Kk プローブユニットの保管庫およびそれを用いる検査システム
JP3999863B2 (ja) * 1997-12-22 2007-10-31 株式会社日本マイクロニクス 被測定基板の検査装置
KR100492638B1 (ko) * 1998-01-12 2005-09-02 이억기 점등검사를 위한 액정패널 장전방법 및 그 장전장치
JP3553460B2 (ja) * 1999-04-23 2004-08-11 ディーイー、エンド、ティー 株式会社 Lcdテスト装置
JP3480925B2 (ja) * 2000-09-12 2003-12-22 株式会社双晶テック ディスプレイパネル又はプローブブロックの支持枠体
KR100354105B1 (ko) * 2001-02-05 2002-09-28 메카텍스 (주) 액정디스플레이패널 검사장치의 현미경이송장치
KR100358707B1 (ko) * 2001-02-05 2002-10-31 메카텍스 (주) 액정디스플레이패널 검사장치의 패널수직반송장치
JP2002357626A (ja) * 2001-05-31 2002-12-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示素子の検査方法
JP2004170249A (ja) * 2002-11-20 2004-06-17 Gallant Precision Machining Co Ltd 循環式検査システム
TWI231964B (en) * 2003-03-10 2005-05-01 Phicom Corp LCD panel auto gripping apparatus and method for use in a panel carrier for an automatic probe unit
JP3745750B2 (ja) * 2003-06-27 2006-02-15 東芝テリー株式会社 表示パネルの検査装置および検査方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102068560B1 (ko) * 2019-11-20 2020-01-21 금교필 디스플레이 패널 검사장치용 백라이트 유닛

Also Published As

Publication number Publication date
CN1904576A (zh) 2007-01-31
JP4365391B2 (ja) 2009-11-18
JP2007041587A (ja) 2007-02-15
KR100733276B1 (ko) 2007-06-28
TWI328121B (en) 2010-08-01
TW200706885A (en) 2007-02-16
CN100529713C (zh) 2009-08-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100733276B1 (ko) 디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이패널 검사 방법
KR100732344B1 (ko) 디스플레이 패널의 회전식 검사 장비
KR100958204B1 (ko) 평판디스플레이 패널 검사 장비 및 방법
KR101234088B1 (ko) 어레이 테스트 장치
KR101115874B1 (ko) 어레이 테스트 장치
KR101129195B1 (ko) 어레이 테스트 장치
KR20120077289A (ko) 어레이 테스트 장치
KR100489522B1 (ko) 평면디스플레이 검사장치
KR100776177B1 (ko) 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블
CN1790033A (zh) 平面显示板检测器
KR101593505B1 (ko) 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치
KR100731308B1 (ko) 엘씨디 검사장치용 워크테이블의 다규격 패널 지지장치
KR100756438B1 (ko) 엘씨디 셀 검사용 프로빙장치
KR102121887B1 (ko) 유기발광 다이오드(oled) 패널 테스트용 가변 프로브 유닛
CN210198327U (zh) 2d及3d量测装置
KR101607089B1 (ko) 액정표시패널 검사장치의 셀 장착장치
KR100522752B1 (ko) 에이.오.아이 기능을 구비한 엘시디 리페어 장비 및 리페어방법
CN101995672A (zh) 光电一体式测试系统和光电测试方法
KR100599994B1 (ko) 스틱형태의 엘씨디 패널 검사장치
KR100657768B1 (ko) 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치
KR100622635B1 (ko) 액정 셀 검사방법
KR102023926B1 (ko) 평판 표시 장치의 검사 방법 및 검사 장치
KR20190097768A (ko) 평판디스플레이 패널 검사 방법 및 장비
WO2004109632A2 (en) Working stage system for flat panel display and flat panel display working method using same
KR200311510Y1 (ko) 평면디스플레이 리페어장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
G170 Publication of correction
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120611

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee