KR20060134008A - 서로 떨어져 배치된 수 개의 대상물들을 관측하는 카메라디바이스를 구비한 광학시스템 - Google Patents

서로 떨어져 배치된 수 개의 대상물들을 관측하는 카메라디바이스를 구비한 광학시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR20060134008A
KR20060134008A KR1020067012683A KR20067012683A KR20060134008A KR 20060134008 A KR20060134008 A KR 20060134008A KR 1020067012683 A KR1020067012683 A KR 1020067012683A KR 20067012683 A KR20067012683 A KR 20067012683A KR 20060134008 A KR20060134008 A KR 20060134008A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
prism
optical axis
optical
illumination
unit
Prior art date
Application number
KR1020067012683A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101116467B1 (ko
Inventor
엘케 자켈
가셈 아즈다쉬트
Original Assignee
파크 테크-파카징 테크놀로지이스 게엠베하
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 파크 테크-파카징 테크놀로지이스 게엠베하 filed Critical 파크 테크-파카징 테크놀로지이스 게엠베하
Publication of KR20060134008A publication Critical patent/KR20060134008A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101116467B1 publication Critical patent/KR101116467B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/106Beam splitting or combining systems for splitting or combining a plurality of identical beams or images, e.g. image replication
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/14Beam splitting or combining systems operating by reflection only
    • G02B27/143Beam splitting or combining systems operating by reflection only using macroscopically faceted or segmented reflective surfaces
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B17/00Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
    • G02B17/02Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system
    • G02B17/04Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using prisms only
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/14Beam splitting or combining systems operating by reflection only
    • G02B27/144Beam splitting or combining systems operating by reflection only using partially transparent surfaces without spectral selectivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Instruments For Viewing The Inside Of Hollow Bodies (AREA)

Abstract

본 발명은, 2개의 부분 빔 경로(48, 49)를 생성시키기 위하여 광학 축선(41) 상의 그리고 카메라 디바이스의 빔 경로(47)의 제 1 프리즘 디바이스(43), 및 각각 부분 빔 경로에 배치되는 2개의 대상물 프리즘 디바이스(51, 52)를 포함하는 카메라 디바이스(42)에 의하여, 서로 떨어져 배치되는 다수의 대상물들(61, 63)을 관측하기 위한 광학 시스템(40)에 관한 것이다.

Description

서로 떨어져 배치된 수 개의 대상물들을 관측하는 카메라 디바이스를 구비한 광학시스템{OPTICAL SYSTEM WITH A CAMERAS DEVICE FOR VIEWING SEVERAL OBJECTS ARRANGED REMOTELY FROM EACH OTHER}
본 발명은, 광학 축선 상에 및/또는 2개의 부분 빔 경로를 생성하기 위하여 카메라 유닛의 빔 경로에 위치한 제 1 프리즘 유닛 및 각각 부분 빔 경로에 위치되고 대상물에 대해 할당되는(assign) 2개의 프리즘 유닛을 포함하는 카메라 유닛을 갖는, 서로 떨어져 위치되는 다수의 대상물들을 관측하기 위한 광학시스템에 관한 것이다.
마이크로전자 구성요소들의 생산과 특히 그들의 핸들링에 있어서, 카메라 유닛을 통한 위치 및/또는 품질 정보를 기록하는 이미지 처리 시스템들이 흔히 사용되며, 이들은 추가 시퀀스들을 제어하기 위한 설비 기술의 자동화 정도에 따라 채용된다. 또한, 칩과 같은 마이크로전자 구성요소들의 작은 크기로 인하여, 그에 대응되는 크기설정의 가이드라인들이, 핸들링 또는 제조 프로세스와 관련한 영향을 방해하지 않고 대응되는 설비 기술에 통합될 수 있도록 이루어진 광학 시스템에 대해 적용된다.
특히 이것은, 칩의 상승된 콘택트 금속피복(metallization)들과 같은 상이한 표면 포인트들의 상이한 관측이 단 하나의 카메라 유닛을 사용하여 수행되어야 하거나, 또는 다수의 마이크로전자 구성요소들을 콘택팅하는데 필요한, 서로에 대해 마이크로 구성요소들의 콘택트 포인트들의 상대적인 방위가 체킹되어야 하는 경우 그러하다.
따라서, 본 발명은 칩과 같은 마이크로전자 구성요소들의 상이한 표면 포인트들의 구분된 관측을 가능하게는 하는 광학 시스템을 제공하는 동시에, 광학 시스템에 대해 가능한 가장 작은 공간 요건을 갖도록 하는 목적을 기반으로 한다.
상기 목적은 청구항 1항의 특징들을 갖는 광학 시스템에 의하여 달성된다.
카메라 유닛을 사용하여 서로 떨어져 위치한 다수의 대상물들을 관측하기 위한 본 발명에 따른 광학 시스템은, 광학 축선 상에 및/또는 2개의 부분 빔 경로를 생성하기 위하여 카메라 유닛의 빔 경로에 위치되는 제 1 프리즘 유닛, 및 각각 부분 빔 경로에 위치되고 대상물에 할당되는 2개의 대상물 프리즘 유닛을 포함한다.
카메라 유닛으로부터 상류에 연결되는 광학 시스템으로 인하여, 본 목적에 필요한 서로 병행하여(in parallel) 핸들링될 다수의 카메라 유닛 없이, 또는 단 하나의 카메라 유닛이 사용되는 경우 다수의 표면 포인트들을 관측하기 위하여 상기 유닛이 피봇될 필요 없이, 단 하나의 카메라 유닛을 사용하여 서로 떨어져 위치된 칩과 같은 마이크로전자 구성요소의 다수의 표면 포인트들을 관측하는 것이 가능하다. 그 대신, 대상물 프리즘 유닛들 사이에서 적정한 거리를 세팅하여, 정지된 정적 광학 시스템 및 단 하나의 카메라 유닛을 사용하여 작동될 수 있으므로, 그에 대응하여 보다 작은 공간 요건이 요구된다. 또한, 대상물 프리즘 유닛들의 사용은 대상물 프리즘 유닛들의 서로로부터의 상대적인 거리의 간단한 변경을 통해 표면 기하학적 구조의 변경에 대한 신속한 최적화를 수행할 수 있는 장점을 열어놓고 있다. 나아가, 대상물 프리즘 유닛들의 사용은, 대상물들의 거리에 대한 최적화가 진행되는 동안 매우 작은 매스들만 이동되면 되기 때문에, 그에 대응하여 적합한 장치 조정 유닛이 섬세하고(filigree) 공간-절약적으로 구현될 수 있다는 장점을 제공한다.
유리한 실시예에서, 관측될 표면 포인트들 및/또는 대상물들의 적정한 조명은 대상물 프리즘 유닛에 의해 안내되는(conducted) 조명 빔 경로를 통한 환경과는 독립적으로 이루어지도록 한다.
조명 유닛들은, 그들이 발광 반도체 구성요소, 즉 예를 들어 발광 다이오드로서 구성된다면 특히 공간-절약적으로 구현될 수 있다.
LED 다이오드와 같은 상대적으로 길게 늘여진(oblong) 마이크로전자 구성요소들의 서로 떨어져 놓여 있는 표면 포인트들의 구분된 관측에 특히 적합한 광학 시스템의 실시예는, 대상물 프리즘 유닛들의 출력 빔 경로들이 카메라 유닛의 광학 축선에 대해 횡방향으로 그리고 상기 광학 축선과 동일한 방향으로 나아가는 구조를 갖는다. 이러한 광학 시스템을 사용하면, 해당 토포그래피(topography)의 평면 아래 또는 위 그리고 기본적으로 상기 평면과 평행하게 배향되는 광학 시스템을 사용하여 관측을 수행하는 것이 가능하다.
대상물 프리즘 유닛들과 조명 유닛들 사이에서 구현되는 조명 빔 경로들은 카메라 유닛의 광학 축선에 대해 횡방향으로 나아가는 방식으로 조명 유닛을 위치시키는 것이 유리하다. 이러한 방식으로, 광학 시스템은 가능한 한 가장 낮은 깊이를 갖도록 광학 시스템의 장치를 구현하는 것이 가능하다.
여하한의 경우에, 프리즘 유닛이, 서로에 대해 수직하게 위치되고 각각 카메라 유닛의 광학 축선에 대해 45°의 각을 이루는 2개의 광학 경계면을 갖는 경우 광학 시스템의 구조에 대해 유리한 것으로 나타나 있다.
주어진 토포그래피에 대해 특히 용이한 최적화는 대상물 프리즘 유닛들이 그들의 변화된 거리를 가질 수 있는 경우 가능하다.
대상물 프리즘 유닛들간의 특정 거리 및/또는 상기 거리의 변화와는 독립적인 대상물들의 균일한 조명을 가능하게 하기 위하여, 조명 유닛들은 대상물 프리즘 유닛들과 함께 변하는 그들의 거리를 가질 수 있다면 유리한 것으로 나타나 있다.
특히, 다수의 마이크로전자 구성요소들간의 콘택팅 절차들에서 광학 시스템이 콘택트 금속피복들의 상대적인 배향을 위해 사용되는 경우와 관련하여, 대상물 프리즘의 출력 빔 경로들이 카메라 유닛의 광학 축선과 횡방향으로 그리고 상기 광학 축선과 대향되는 방향으로 나아가는 실시예가 유리하다.
대상물 프리즘 유닛들과 조명 유닛들 사이에서 구현되는 조명 빔 경로들이 카메라 유닛의 광학 축선의 평면과 평행하게 나아가는 방식으로, 조명 유닛들이 추가적으로 위치된다면, 광학 시스템의 가능한 한 가장 평탄한 전체 구현물이 만들어질 수 있다.
프리즘 유닛이, 카메라 유닛의 광학 축선 상에 위치되고, 제 1 부분 빔 경로를 반사시키며, 제 2 부분 빔 경로에 대해 투명한, 45°의 각을 이루는 제 1 광학 경계면과, 상기 제 1 광학 경계면을 향하여 제 2 부분 빔 경로를 반사시키고 제 2 부분 빔 경로를 제 2 대상물의 방향으로 반사시키기 위하여 상기 제 1 부분 경계면으로부터 하류에 위치되는 광학 축선에 대해 수직하게 위치되는 제 2 광학 경계면을 갖는다면, 심지어 서로 콘택팅될 2개의 마이크로전자 구성요소들의 콘택트 금속피복들간의 극히 작은 거리에서도 광학 시스템의 사용이 가능하다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예들이 도면을 기초로 하여 보다 상세히 설명된다.
도 1은 서로 떨어져 위치되는 표면의 2개의 표면 포인트들을 관측하기 위한 제 1 광학 시스템을 나타낸 도;
도 2는 도 1에 나타낸 광학 시스템의 추가적인 도;
도 3은 하나가 다른 하나 위에 위치되는, 기판들의 2개의 표면 포인트들을 관측하기 위한 제 2 광학 시스템의 도이다.
도 1 및 2에는 카메라 유닛(11)과 조합하여 사용되는 광학 시스템으로서 구현되는 관측 디바이스(10)가 도시되어 있다. 이러한 목적을 위하여, 서로 수직하게 위치되고 각각 광학 축선(12)에 대해 45°의 각도를 이루는 입력 프리즘(13)의 2개의 외부 경계면(16, 17)에서, 카메라 유닛(11)의 관측 유닛(14)으로부터 나오는 빔 경로(15)를 제 1 및 제 2 부분 빔 경로(18, 19)로 나누는 입력 프리즘(13)이 카메 라 유닛(11)의 광학 축선(12) 상에 위치된다.
상기 부분 빔 경로들(18, 19)은 카메라 유닛(11)의 관측 유닛(14)으로부터 나오는 빔 경로(15)에 대해 횡방향으로 그리고 서로에 대해 반대방향으로 배향되고, 각각 관측 디바이스(10)의 출력 프리즘(20, 21) 상에 입사된다. 출력 프리즘(20, 21)은 부분 빔 경로들(18, 19) 각각을 도면의 평면으로부터 수직 윗방향으로 나오는 대상물 빔 경로들(22, 23)로 편향시키는데 사용된다. 이러한 목적을 위하여, 출력 프리즘(20, 21) 각각은, 광학 축선(12)과 평행하게 나아가는 프리즘 축선(26, 27) 주위의 광학 평면(28)(도 2)에 대해 45°의 각을 이루는 광학 경계면(24, 25)을 갖는다.
본 명세서에서 LED(29, 30)로서 구현된 조명 유닛들 각각은, 조명 빔 경로(31, 32)의 방향으로 광학적으로 투명한 출력 프리즘(20, 21)의 각각의 경계면(24, 25)을 관통하는 조명 빔 경로(31, 32)를 방출하고, 도 2에 나타낸 바와 같이 특정 대상물 빔 경로(22, 23)와 함께 칩과 같은 마이크로전자 기판(35)의 각각의 터미널 표면(33, 34)에 의하여 형성되는 대상물 표면의 조명을 가능하게 하는, 광학 축선(12)에 대해 수직한 출력 프리즘(20, 21)에 대해 떨어져 위치된다.
도 1 및 2에서 양방향(double) 화살표로 나타낸 바와 같이, 출력 프리즘(20, 21) 및 할당된 LED(31, 32) 각각은 작동 유닛(actuating unit:37, 38)에 조립될 수도 있고, 기판의 터미널 표면(33, 34)의 거리의 함수로서 변하는 광학 축선(12)에 대한 그들의 거리를 갖는다. 부분 빔 경로(18 및/또는 19)에서 개재된(interposed) 포커싱 광학기가 분배되도록, 작동 유닛들(37, 38)은 동일한 조정 양들을 사용하여 및/또는 심지어는 동시에 광학 축선(12)과 관련하여 조정되는 것이 바람직하다.
도 3은 카메라 유닛(42) 및 광학 축선(41) 상에 위치되는 입력 프리즘(43)을 갖는 광학 시스템으로서 구현되는 관측 디바이스(40)를 나타내고 있다. 입력 프리즘(43)은 광학 축선(41)에 대해 45°의 각을 이루며, 본 예시에서 도면에 대응되는 광학 평면(44)에 대해 수직하게 위치되는 내부 광학 경계면(45)을 갖는다. 카메라 유닛(42)의 관측 유닛(46)으로부터 기인한 빔 경로(47)는 경계면(45)의 제 1 부분 빔 경로에서 반사되고 상향하여 편향된다. 제 2 부분 빔 경로(49)는 경계면(45)을 관통하고, 입력 프리즘(43)의 미러링된(mirrored) 외부 경계면(50) 상에서 경계면(45)을 향하여 후방으로 반사되는데, 이는 이러한 방향에서 전체적인 반사 작용을 가지며, 그 위에서 하향하여 편향된다.
각각 광학 경계면(53, 54)을 갖는 출력 프리즘(51, 52)은 부분 빔 경로(48, 49)의 방향에서 입력 프리즘(43) 다음의 각 측 상에 위치된다. 출력 프리즘(51)의 경계면(53)은 광학 축선(41)과 평행하게 나아가는 프리즘 축선(55)과 관련하여 45°의 각을 이루며, 광학 평면(44)과 관련하여 수직하게 위치된다. 출력 프리즘(52)의 경계면(54)은 광학 축선(41)과 평행한 프리즘 축선(56)과 관련하여 45°의 각을 이루며, 광학 평면(44)과 관련하여 수직하게 위치된다.
또한, 도 3이 나타내고 있는 바와 같이, 각각 LED(57 또는 58)로서 구현되는 조명 유닛은 출력 프리즘(51) 및 출력 프리즘(52) 둘 모두에 대해 할당되고, 그들 각각은 조명 빔 경로(59, 60)를 방출한다.
출력 프리즘(52)의 경계면(54)은 경계면(54)에서 대상물 빔 경로가 되는 부 분 빔 경로(48)에 대해 투명하게 구현된다. 할당된 LED(58)의 조명 빔 경로(60)는 경계면(54)에서 부분 빔 경로(48)에 대해 축선-평행하게(axis-parallel) 반사되고, 출력 프리즘(52) 위에 위치되는 제 1 기판(62)의 제 1 대상물 면(61) 상의 부분 빔 경로(48)와 함께 입사된다.
출력 프리즘(51)의 경계면(53)은 경계면(53)에서 대상물 빔 경로가 되는 입력 프리즘(43)에서 하향 반사되는 부분 빔 경로(49)에 대해 투명하게 구현된다. 부분 빔 경로(49) 및 조명 빔 경로(59)가, 본 명세서에서 출력 프리즘(51) 아래에 위치되는 추가 터미널 표면(63)에 의하여 형성되는 제 2 기판(54)의 대상물 면 상에 입사되도록, 할당된 LED(57)의 조명 빔 경로(59)는 경계면(53)에서 부분 빔 경로(49)에 대해 축선-평행하게 하향하여 반사된다.
2개의 기판(62, 63)의 콘택트 갭(65)내로 삽입되는 관측 디바이스(40)는, 서로 콘택팅될 2개의 터미널 표면(61, 63)의 정확한 배향이 체킹될 수 있도록 하고 및/또는 공지된 위치적 편향의 함수로서 야기될 터미널 표면(61, 63)의 배향이 부분 빔 경로(49, 48)의 축선에 대응되는 콘택트 축선 상에서의 위치설정을 달성하도록 한다는 것을 도 3에 예시된 시스템을 통해 명백히 알 수 있다.
도 3에 나타낸 바와 같이, 스캐터링된 광이 나가는 것을 방지하기 위하여, 출력 프리즘(51, 51)에는 그들의 후방 외부 경계면(67, 68) 상에 흡수 코팅(69)을 제공할 가능성이 존재한다.

Claims (12)

  1. 서로 떨어져 위치된 다수의 대상물들(33, 34; 61, 63)을 관측하기 위한 광학 시스템(10, 40)에 있어서,
    2개의 부분 빔 경로(18, 19; 48, 49)를 생성하기 위하여 광학 축선(12, 41) 상에 및/또는 카메라 유닛의 빔 경로(15, 47)에 위치되는 제 1 프리즘 유닛(13, 43), 및 각각 부분 빔 경로에 위치되고 대상물에 할당되는 2개의 대상물 프리즘 유닛(20, 21; 51, 52)을 포함하는 카메라 유닛(11, 42)을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    조명 유닛(29, 30; 57, 58)이 각각의 대상물 프리즘 유닛(20, 21; 51, 52)에 할당되는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 조명 유닛(29, 30; 57, 58)은 발광 반도체 구성요소들로서 구현되는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 조명 유닛은 발광 다이오드로서 구현되는 것을 특징으로 하는 광학 시 스템.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 대상물 프리즘 유닛(20, 21)의 출력 빔 경로(22, 23)는 상기 카메라 유닛(11)의 광학 축선(12)에 대해 횡방향으로 그리고 상기 광학 축선과 동일한 방향으로 나아가는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 대상물 프리즘 유닛(20, 21)과 상기 조명 유닛(29, 30) 사이에서 구현되는 조명 빔 경로(31, 32)는 상기 카메라 유닛(11)의 광학 축선(12)에 대해 횡방향으로 나아가는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 프리즘 유닛(13)은 서로에 대해 수직하게 위치되고 각각 상기 카메라 유닛(11)의 광학 축선(12)에 대해 45°의 각을 이루는 2개의 광학 경계면(16, 17)을 갖는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
  8. 제 5 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 대상물 프리즘 유닛(20, 21)은 변화되는 그들의 거리를 갖는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
  9. 제 5 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 조명 유닛(29, 30)은 상기 대상물 프리즘 유닛(20, 21)과 함께 변하는 그들의 거리를 갖는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
  10. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 대상물 프리즘 유닛(51, 52)의 출력 빔 경로(48, 49)는 상기 카메라 유닛(42)의 광학 축선(41)에 대해 횡방향으로 그리고 상기 광학 축선과 대향되는 방향으로 나아가는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
  11. 제 11 항에 있어서,
    상기 대상물 프리즘 유닛(51, 52)과 상기 조명 유닛(57, 58) 사이에서 구현되는 조명 빔 경로(59, 60)는 상기 카메라 유닛(42)의 광학 축선(41)과 평행하게 나아가는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 프리즘 유닛(43)은, 상기 카메라 유닛(42)의 광학 축선(41) 상에서 상기 제 1 대상물(61)의 방향으로 제 1 부분 빔 경로(48)를 반사하고, 제 2 빔 경로(49)에 대해 투명하며 상기 광학 축선에 대해 45°의 각을 이루는 제 1 광학 경계면(45)과, 상기 제 1 광학 경계면을 향하여 상기 제 2 부분 빔 경로를 반사시키고 상기 제 2 대상물(63)의 방향으로 상기 제 2 부분 빔 경로를 반사시키기 위하여 상기 제 1 광학 경계면으로부터 하류에 위치되는 광학 축선에 대해 수직하게 위치되는 제 2 광학 경계면(50)을 갖는 것을 특징으로 하는 광학 시스템.
KR1020067012683A 2003-12-23 2004-12-22 서로 떨어져 배치된 수 개의 대상물들을 관측하는 카메라디바이스를 구비한 광학시스템 KR101116467B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10361522A DE10361522A1 (de) 2003-12-23 2003-12-23 Optisches System
DE10361522.9 2003-12-23
PCT/DE2004/002826 WO2005062103A1 (de) 2003-12-23 2004-12-22 Optisches system mit einer kameraeinrichtung zur betrachtung mehrerer entfernt voneinander angeordneter gegenstände

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060134008A true KR20060134008A (ko) 2006-12-27
KR101116467B1 KR101116467B1 (ko) 2012-03-06

Family

ID=34706655

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020067012683A KR101116467B1 (ko) 2003-12-23 2004-12-22 서로 떨어져 배치된 수 개의 대상물들을 관측하는 카메라디바이스를 구비한 광학시스템

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20080260370A1 (ko)
EP (1) EP1706771A1 (ko)
JP (1) JP4791973B2 (ko)
KR (1) KR101116467B1 (ko)
DE (1) DE10361522A1 (ko)
WO (1) WO2005062103A1 (ko)

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4415396Y1 (ko) * 1965-02-05 1969-07-03
JPS6044601B2 (ja) * 1974-03-29 1985-10-04 キヤノン株式会社 位置合わせ方法
JPS5280039A (en) * 1975-12-26 1977-07-05 Kokusai Electric Co Ltd Split field microscope
JPS5359443A (en) * 1976-11-09 1978-05-29 Kazuo Yomoda Microscope with two fields
JPS5662218A (en) * 1979-10-26 1981-05-28 Olympus Optical Co Ltd Photographing apparatus
DE3116634A1 (de) * 1981-04-27 1982-11-11 Karl Süss KG, Präzisionsgeräte für Wissenschaft und Industrie - GmbH & Co, 8046 Garching Vorrichtung zum automatischen justieren von ebenen gegenstaenden mit zwei bezugspunkten, insbesondere bei der herstellung von halbleiterbauelementen
JPS6017417A (ja) * 1983-07-11 1985-01-29 Tokyo Optical Co Ltd 光学装置
DD222432A1 (de) * 1984-03-01 1985-05-15 Zeiss Jena Veb Carl Anordnung zur strahlenteilung eines laserstrahles
DE3577355D1 (de) * 1984-06-25 1990-05-31 Olympus Optical Co Mikroskop.
JPS63276015A (ja) * 1987-05-08 1988-11-14 Toyo Kogaku Kogyo Kk 二視野顕微鏡
US5060063A (en) * 1990-07-30 1991-10-22 Mpm Corporation Viewing and illuminating video probe with viewing means for simultaneously viewing object and device images along viewing axis and translating them along optical axis
GB9323978D0 (en) * 1993-11-22 1994-01-12 Dek Printing Machines Ltd Alignment systems
DE19505048A1 (de) * 1995-02-15 1996-08-22 Gemicon Gmbh Beobachtungs- und Justierstation für ein Montagegerät
US5943089A (en) * 1996-08-23 1999-08-24 Speedline Technologies, Inc. Method and apparatus for viewing an object and for viewing a device that acts upon the object
US6101048A (en) * 1998-05-19 2000-08-08 Raytheon Company Split field wide angle viewing system for vehicles
JP4510952B2 (ja) * 1999-05-21 2010-07-28 オリンパス株式会社 実体顕微鏡
DE10012043A1 (de) * 2000-03-14 2001-10-04 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur Ausrichtung von Referenzmarken tragenden Objekten zueinander
JP2003066336A (ja) * 2001-08-23 2003-03-05 Olympus Optical Co Ltd 手術用顕微鏡
JP2003168309A (ja) * 2001-12-04 2003-06-13 Kyoto Denkiki Kk ライトガイド用光源装置
JP3927878B2 (ja) * 2002-04-16 2007-06-13 シーシーエス株式会社 検査等に用いる照明装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE10361522A1 (de) 2005-07-28
JP4791973B2 (ja) 2011-10-12
US20080260370A1 (en) 2008-10-23
JP2007521516A (ja) 2007-08-02
WO2005062103A1 (de) 2005-07-07
EP1706771A1 (de) 2006-10-04
KR101116467B1 (ko) 2012-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7787159B2 (en) Achieving convergent light rays emitted by planar array of light sources
US7564544B2 (en) Method and system for inspecting surfaces with improved light efficiency
TWI428636B (zh) 光學元件、聚光總成、照明單元及總成、用以對一物體進行光學檢驗之系統、及用以製造一光學元件之方法
JP5911865B2 (ja) 照明システム
CN209841688U (zh) 结构照明成像系统
CN107649875B (zh) 光学模组组装设备及方法
CN209979487U (zh) 结构照明成像系统
KR20070118023A (ko) 레이저 방사선의 균일한 각 분포를 발생시키기 위한 장치
JP2005537681A (ja) 複数の光学素子を1つの単一基板上へ同時精密ダイ接着を行うためのシステムおよび方法
CN115799146B (zh) 一种光学对位系统
JP6785361B2 (ja) 基板アライメント用マシンビジョンシステム及びアライメント装置
CN101603926A (zh) 多表面检测系统及方法
KR20090133097A (ko) 반도체 패키지의 검사를 위한 시스템 및 방법
EP3605754A1 (en) Optical module
CN101576594B (zh) 自动光学检查设备及其光源模块
KR101116467B1 (ko) 서로 떨어져 배치된 수 개의 대상물들을 관측하는 카메라디바이스를 구비한 광학시스템
US9817238B2 (en) Optical device
KR20080091048A (ko) 다중 표면 검사 시스템 및 방법
US8089614B2 (en) Device for changing pitch between light beam axes, and substrate exposure apparatus
JP2013145123A (ja) 広角反射同軸照明付光学系
KR102011417B1 (ko) 3중 배율형 머신 비전 검사모듈
US7508522B2 (en) Reflected light measuring apparatus and reflected light measuring method
CN101910882A (zh) 成像反光镜、其制造方法及其在激光成像系统中的使用
KR20150049791A (ko) 모듈형 광학 장치
JP2004029575A (ja) 実体顕微鏡用同軸落射照明装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150203

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170203

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180129

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190129

Year of fee payment: 8