KR20060074077A - 3축 굽힘 실험용 지그 - Google Patents

3축 굽힘 실험용 지그 Download PDF

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KR20060074077A
KR20060074077A KR1020040112701A KR20040112701A KR20060074077A KR 20060074077 A KR20060074077 A KR 20060074077A KR 1020040112701 A KR1020040112701 A KR 1020040112701A KR 20040112701 A KR20040112701 A KR 20040112701A KR 20060074077 A KR20060074077 A KR 20060074077A
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Abstract

본 발명에 의한 3축 굽힘 실험용 지그는, 판상 소재의 양측을 떠받치는 제 1 및 제 2 지지축이 소재의 크기에 따른 간격 조절을 위하여 이동 가능하게 병설된 다이; 다이의 상부에 업/다운 가능하게 설치되어 소재의 중앙부분을 누르는 것으로써, 지지부재 및 이 지지부재에 핀으로 틸트 조정 가능하게 연결된 누름부재를 갖춘 펀치; 제 1 및 제 2 지지축에 대한 펀치의 중심위치 및 평행도를 맞추기 위하여 다이의 중앙부에 펀치를 수용하도록 마련되는 펀치수용홈으로 구성되는 펀치셋팅부; 및 제 1 및 제 2 지지축 위에 올려지는 소재의 크기별 안착 위치를 가이드해 주기 위한 소재위치가이드유닛;을 포함한다.
3축, 굽힘, 실험, 지그, 액정, LCD, 강도, 펀치, 다이, 마이크로미터

Description

3축 굽힘 실험용 지그{THREE-AXIS BENDING LOAD TESTING JIG}
도 1a 및 1b는 일반적인 3축 굽힘 실험용 지그 및 이를 이용한 액정패널의 강도 측정방법을 설명하기 위한 도면,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 3축 굽힘 실험용 지그의 정면도,
도 3은 도 2의 측면도,
도 4는 도 2에 나타낸 3축 굽힘 실험용 지그의 다이를 발췌하여 나타낸 평면도,
도 5a 내지 5d는 본 발명에 의한 3축 굽힘 실험용 지그에서 펀치와 다이의 중심을 일치시키는 방법을 설명하기 위한 도면들,
도 6a 및 6b는 본 발명에 의한 3축 굽힘 실험용 지그에서 다이의 지지축간 간격을 조절하는 방법을 설명하기 위한 도면,
도 7a 및 7b는 본 발명에 의한 3축 굽힘 실험용 지그에서 액정패널의 크기별 안착을 가이드하는 예를 보인 도면, 그리고,
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 의한 3축 굽힘 실험용 지그의 구조 및 펀치와 다이의 중심을 일치시키는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
10;다이 11,13;제 1 및 제 2 지지축
15;제 1 눈금자 17,19;제 1 및 제 2 마이크로미터
20;펀치 21;지지부재
22;핀 23;누름부재
30;펀치셋팅부 40;소재위치가이드유닛
41,43;제 1 및 제 2 가이드부재
42,44;제 3 및 제 4 마이크로미터
45;제 2 눈금자 100;액정패널
330;펀치셋팅부재 331,332;지지홈
333;펀치수용홈
본 발명은 판상 소재의 강도 측정을 위한 3축 굽힘 실험에 사용되는 지그에 관한 것이며, 보다 구체적으로는 휴대폰용 소형 액정패널(LCD)과 같은 다양한 크기를 가지는 소재에 특히 적합한 3축 굽힘 실험용 지그에 관한 것이다.
판상 소재의 강도 측정을 위한 3축 굽힘 실험은 일정간격으로 이격된 2개의 지지축을 구비하는 다이 위에 소재를 올려 놓고 소재의 중앙부에서 펀치로 눌러 소재가 파단되는 시점의 하중을 표준 시편의 강도와 비교하는 방법으로 소재의 강도를 측정한다.
이러한 굽힘 실험은 휴대폰용 소형 액정패널의 강도를 측정하는데도 많이 사 용되며, 도 1a 및 2b는 일반적인 3축 굽힘 실험용 지그를 이용하여 액정패널의 강도를 측정하는 방법을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 1a 및 1b에 도시된 바와 같이, 액정패널(1)은 다이(도시되지 않음)에 일정간격으로 병설된 2개의 지지축(2)(3) 위에 올려져 있으며, 펀치(4)는 상기 액정패널(1)의 상부 중앙부에 업/다운 가능하게 설치되어 있다.
상기 펀치(4)에 의한 소정 하중이 액정패널(1)에 가해지면 액정패널(1)은 변형하게 되고 결국에는 액정패널(1)이 파단되는데 이 파단 시점의 하중을 가지고 액정패널(1)의 강도 등을 측정한다.
이러한 3축 굽힘 실험용 지그를 이용한 소재의 강도 측정시 액정패널(1)의 위치 및 펀치(4)의 위치 등에 따라 측정 강도가 달리 나타난다. 따라서, 액정패널(1)을 다이의 지지축(2)(3)에 정확히 위치시킴과 아울러 펀치(4)를 2개 지지축(2)(3) 사이의 정중앙에 지지축과 평행하도록, 그리고, 틸트 등이 발생되지 않도록 셋팅할 필요가 있다.
그러나, 상기와 같은 일반적인 3축 굽힘 실험용 지그는 다이의 2개 지지축(2)(3)간 간격이 일정하기 때문에, 다양한 크기를 가지는 액정패널의 특성을 반영하기 어려우며, 따라서 정밀한 측정 결과를 얻을 수 없다는 문제가 있다.
또한, 일반적인 3축 굽힘 실험용 지그는 다이의 지지축(2)(3)에 올려지는 액정패널(1)의 위치를 가이드하는 장치가 없어 액정패널(1)의 위치를 셋팅하는데 많은 시간이 소요되고, 또, 펀치(4)의 중심 위치 및 지지축과의 평행도를 셋팅하는데도 많은 시간이 소요되는 등 작업 시간이 길어지는 문제도 있다.
본 발명은 상기와 같은 점을 감안하여 안출한 것으로, 다양한 크기를 가지는 소재, 즉 액정패널의 강도 측정을 위한 3축 굽힘 실험에 효과적으로 이용될 수 있는 3축 굽힘 실험용 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은, 정밀한 측정이 가능하며, 또 지그 셋팅 시간 및 측정 시간을 단축시킬 수 있는 3축 굽힘 실험용 지그를 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 액정패널 굽힘 실험용 지그는, 판상 소재의 양측을 떠받치는 제 1 및 제 2 지지축이 병설된 다이; 상기 다이의 상부에 업/다운 가능하게 설치되어 상기 소재의 중앙부분을 누르는 펀치; 및 상기 제 1 및 제 2 지지축에 대한 상기 펀치의 중심위치 및 평행도를 맞추기 위하여 상기 다이의 중앙부에 마련된 펀치셋팅부;를 포함한다.
상기 펀치셋팅부는 상기 다이의 중앙부에 상기 펀치가 수용되도록 상기 지지축과 평행하게 형성된 펀치수용홈을 포함한다.
상기 제 1 및 제 2 지지축은 소재의 크기에 따른 간격 조절을 위하여 이동 가능하며, 상기 제 1 및 제 2 지지축의 이동을 정밀하게 조정하기 위한 마이크로미터를 구비한다.
또한, 본 발명은 제 1 및 제 2 지지축의 조정 위치를 확인하기 위하여 다이에 마련되는 제 1 눈금자를 구비하며, 상기 마이크로미터는 제 1 및 제 2 지지축의 이동을 각각 별개로 조정할 수 있도록 2개 마련되는 것이 좋다.
또한, 본 발명의 3축 굽힘 실험용 지그는, 상기 제 1 및 제 2 지지축 위에 올려지는 소재의 크기별 안착 위치를 가이드해 주기 위한 소재위치가이드유닛을 구비하는 것이 좋다.
상기 소재위치가이드유닛은 상기 소재의 일측 모서리와 접촉하도록 X 및 Y방향으로 각각 이동 가능한 제 1 및 제 2 가이드부재를 포함하는 것이 좋다.
여기서, 상기 제 1 및 제 2 가이드부재는 상기 제 1 및 제 2 지지축 중 어느 하나에 설치되며, 상기 가이드부재가 설치된 지지축에는 상기 제 1 및 제 2 가이드부재의 이동 위치를 확인하기 위한 제 2 눈금자가 마련되는 것이 좋다. 상기 제 1 및 제 2 가이드부재는 마이크로미터에 의해 그 이동이 정밀하게 조정되도록 구성된다.
또한, 상기 펀치는, 지지부재; 및 이 지지부재에 핀으로 틸트 조정 가능하게 연결된 누름부재;를 포함하는 것이 바람직하다. 이러한 펀치에 의하면, 소재에 하중을 가할 때 틸트가 발생되지 않아 보다 정밀한 측정이 가능하다.
본 발명의 바람직한 실시예에 의하면, 3축 굽힘 실험용 지그는 판상 소재의 양측을 떠받치는 제 1 및 제 2 지지축이 소재의 크기에 따른 간격 조절을 위하여 이동 가능하게 병설된 다이; 상기 다이의 상부에 업/다운 가능하게 설치되어 상기 소재의 중앙부분을 누르는 것으로써, 지지부재 및 이 지지부재에 핀으로 틸트 조정 가능하게 연결된 누름부재를 갖춘 펀치; 상기 제 1 및 제 2 지지축에 대한 상기 펀치의 중심위치 및 평행도를 맞추기 위하여 상기 다이의 중앙부에 상기 펀치를 수용하도록 마련되는 펀치수용홈을 포함하는 펀치셋팅부; 및 상기 제 1 및 제 2 지지축 위에 올려지는 소재의 크기별 안착 위치를 가이드해 주기 위한 소재위치가이드유닛;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 바람직한 다른 실시예에 의하면, 3축 굽힘 실험용 지그는 판상 소재의 양측을 떠받치는 제 1 및 제 2 지지축이 병설된 다이; 상기 다이의 상부에 업/다운 가능하게 설치되어 상기 소재의 중앙부분을 누르는 펀치; 및 상기 제 1 및 제 2 지지축에 대한 상기 펀치의 중심위치 및 평행도를 맞추기 위하여 제 1 및 제 2 지지축에 탑재되는 것으로써, 하부에는 상기 제 1 및 제 2 지지축이 삽입되는 한 쌍의 지지홈이 마련되고, 상부 중앙에는 상기 펀치가 수용되는 펀치수용홈이 상기 지지축과 평행하게 마련된 펀치셋팅부재;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 1 및 제 2 지지축은 소재의 크기에 따른 간격 조절을 위하여 이동 가능하며, 상기 제 1 및 제 2 지지축의 이동을 정밀하게 조정하기 위한 마이크로미터를 구비하는 것이 좋다.
또한, 본 발명은 제 1 및 제 2 지지축의 조정 위치를 확인하기 위하여 상기 다이에 마련되는 제 1 눈금자를 구비하며, 상기 마이크로미터는 제 1 및 제 2 지지축의 이동을 각각 별개로 조정할 수 있도록 2개 마련되는 것이 좋다.
또한, 본 발명은 상기 제 1 및 제 2 지지축 위에 올려지는 소재의 크기별 안착 위치를 가이드해 주기 위한 소재위치가이드유닛을 구비할 수 있으며, 이 소재위치가이드유닛은 소재의 일측 모서리와 접촉하도록 X 및 Y방향으로 각각 이동 가능한 제 1 및 제 2 가이드부재를 포함하는 것이 좋다.
상기 제 1 및 제 2 가이드부재는 상기 제 1 및 제 2 지지축 중 어느 하나에 설치되며, 상기 가이드부재가 설치된 지지축에는 상기 제 1 및 제 2 가이드부재의 이동 위치를 확인하기 위한 제 2 눈금자가 마련되는 것이 좋다. 또한, 상기 제 1 및 제 2 가이드부재는 마이크로미터에 의해 그 이동이 정밀하게 조정되도록 구성되는 것이 좋다.
본 발명의 상기와 같은 목적, 특징 및 다른 장점들은 첨부도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명함으로써 더욱 명백해질 것이다.
도 2 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 의한 3축 굽힘 실험용 지그는, 다이(10), 펀치(20) 및 펀치셋팅부(30)를 포함한다. 도면에서 참조부호 100은 피실험체, 즉 판상 소재의 한 예인 액정패널이다.
상기 다이(10)는 액정패널(100)의 양측을 떠받치는 한 쌍의 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)을 구비한다. 상기 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)은 평행하다. 또한, 상기 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)은 액정패널(100)의 크기에 따라 간격을 조절할 수 있도록 이동 가능하게 상기 다이(10)에 설치된다.
상기 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)은 2개가 서로 상반된 방향으로 동시에 이동하도록 구성될 수도 있고, 2개가 각각 별도로 이동하도록 구성될 수도 있다. 전자의 경우는 구성이 까다로운 단점은 있으나, 2개의 지지축(11)(13)이 대칭으로 같이 움직이므로 간격 조정이 정확하고 편리한 장점이 있다. 한편, 후자의 경우 전자에 비하여 조정의 정확성이나 편리성은 좀 떨어지지만 구성이 용이한 장점이 있다.
또한, 상기 다이(10)는 상기 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)의 조정 위치를 작업자가 쉽게 확인할 수 있도록 하기 위한 제 1 눈금자(15)를 구비한다. 상기 눈금 자(15)는 도 3에 도시된 바와 같이, 다이(10)의 측면에 마련되는데 다이에 눈금을 직접 새겨 넣어 구성할 수도 있고, 통상의 줄자 등을 다이에 부착하여 구성할 수도 있는 등 여러 변형예가 가능하다.
또한, 상기 다이(10)는 상기 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)의 이동을 정밀하게 조정하기 위한 제 1 및 제 2 마이크로미터(17)(19)(도 6a 및 6b 참조)를 구비한다. 하나의 마이크로미터(17)로 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)의 이동을 동시에 조정하도록 구성할 수 있음은 상술한 바와 같다.
상기 펀치(20)는 상기 다이(10)의 상부에 업/다운 가능하게 설치되어 실험시 제 1 및 제 2 지지축(11)(13) 위에 올려진 액정패널(100)의 중앙부분을 누른다. 이에 의해 액정패널(100)에는 소정의 하중이 가해지며, 액정패널(100)은 변형되고 결국 파단된다.
이러한 펀치(20)는 상기 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)의 길이와 같은 길이로 형성되는바, 이에 따라 그 길이방향으로 틸트가 발생될 수 있다. 이러한 펀치(20)의 틸트는 액정패널(100)에 가해지는 하중의 불균일을 불러 일으키므로 정밀한 측정을 방해한다.
본 발명의 펀치(20)는 상기와 같은 틸트를 방지하기 위하여, 지지부재(21)와 이 지지부재(21)에 핀(22)으로 움직임 가능하게 연결된 누름부재(23)로 구성하였다. 따라서, 누름부재(23)는 액정패널(100)에 접촉되기 전에 어떠한 상태에 있더라도 액정패널(100)에 접촉하는 순간에 지지부재(21)의 핀(22)을 중심으로 움직이면서 액정패널(100)의 해당하는 부분에 접촉하여 균일한 하중을 가한다. 따라서, 보 다 정밀한 측정이 가능하다.
상기 펀치셋팅부(30)는 실험전 펀치(20)의 정확한 위치, 즉 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)에 대한 중심위치 및 평행도를 셋팅하기 위한 것으로, 상기 다이(10)의 중앙부에 상기 지지축(11)(13)과 평행하도록 형성된 펀치수용홈을 포함한다. 이와 같은 펀치셋팅부(30)에 의하면, 펀치(20)의 위치를 쉽고 빠르면서도 정확하게 셋팅할 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 의한 3축 굽힘 실험용 지그는 상기 제 1 및 제 2 지지축(11)(13) 위에 올려지는 액정패널(100)의 크기별 안착 위치를 가이드해 주기 위한 소재위치가이드유닛(40)을 구비한다.
상기 소재위치가이드유닛(40)은 상기 액정패널(100)의 일측 모서리와 접촉하도록 X,Y방향으로 각각 이동 가능한 제 1 및 제 2 가이드부재(41)(43)를 포함한다.
상기 제 1 및 제 2 가이드부재(41)(43)는 상기 제 1 및 제 2 지지축(11)(13) 중 어느 하나에 설치되며, 상기 가이드부재가 설치된 지지축에는 상기 제 1 및 제 2 가이드부재(41)(43)의 이동 위치를 확인하기 위한 제 2 눈금자(45)가 마련된다. 이 눈금자(45) 또한 앞서 언급한 바와 같이, 지지축에 눈금을 직접 새겨 넣어 구성하거나 통상의 줄자 등을 지지축에 부착하여 구성할 수 있다.
또한, 상기 소재위치가이드유닛(40)은 상기 제 1 및 제 2 가이드부재(41)(43)의 이동을 정밀하게 조정하기 위한 제 3 및 제 4 마이크로미터(42)(44)(도 7a 참조)를 구비한다. 따라서, 다양한 크기를 가지는 액정패널(100)의 특성을 반영하여 정밀한 측정이 가능하다.
이하, 본 발명의 특징적인 기능 및 작용에 대하여 도 5 내지 도 7를 참조하여 자세히 설명한다.
도 5a 내지 5d는 본 발명의 3축 굽힘 실험용 지그에서 펀치(20)와 다이(10)의 중심축을 일치시키는 기능 및 작용을 설명하기 위하여 도시한 것이다.
먼저, 도 5a와 같이, 다이(10)에 소재, 즉 액정패널을 올려 놓기 전에 펀치(20)를 다운시켜서 도 5b에 나타낸 바와 같이, 펀치(20)가 다이(10)에 구성된 펀치셋팅부(30)의 홈으로 삽입되도록 한다. 이 때, 상기 펀치셋팅부(30)의 홈은 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)과 평행하게 되어 있고, 또한, 다이(10)의 정중앙에 형성되어 있기 때문에, 펀치(20)의 위치는 매우 정확히 될 수 있다.
이와 같은 상태에서 도 5c에 나타낸 바와 같이, 다이(10)에 시험기 하부지그 고정플레이트(200)를 고정하고, 펀치(20)에 시험기 상부지그 고정축(300)을 연결한 후, 상기 시험기 상부지그 고정축(300)을 실험 위치로 올려 대기한다.
도 6a 및 6b는 액정패널(100)의 크기에 따른 정확한 실험 조건을 만족시키기 위하여 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)의 간격을 조절하는 예를 보인 것이다.
제 1 및 제 2 지지축(11)(13)의 간격을 도 6a의 상태에서 6b의 상태로 좁히고자 하는 경우, 또는 그 반대의 경우, 제 1 및 제 2 마이크로미터(17)(19)를 정,역방향으로 회전시킨다. 그러면, 상기 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)이 마이크로미터(17)(19)의 회전 방향에 따라 전후진 하면서 간격이 넓어지거나 좁아지는데, 눈금자(15)를 보면서 정밀하게 조정할 수 있다.
도 7a 및 7b는 액정패널(100)의 크기에 따른 지지축(11)(13)에서의 액정패널 (100)의 안착 위치를 가이드하는 예를 나타낸 것으로, 제 1 및 제 2 가이드부재(41)(43)가 어떠한 크기의 액정패널(100)의 경우에도 액정패널(100)의 일측 모서리를 "ㄱ"자 형태로 지지한다. 따라서, 액정패널(100)의 안착 위치를 정확하게 셋팅할 수 있다. 여기서, 액정패널(100)의 크기에 따른 상기 제 1 및 제 2 가이드부재(41)(43)의 이동은 마이크로미터(42)(44) 및 눈금자(45)를 이용하여 정밀하게 조정할 수 있다.
상기와 같은 방법으로 펀치(20)와 다이(10)의 중심축을 정확히 일치시키고, 액정패널(100)의 크기에 따라 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)의 간격을 조정함과 아울러 액정패널(100)의 안착 위치를 셋팅한, 펀치(20)를 다운시켜서 액정패널(100)에 소정의 하중을 가한다. 계속해서 액정패널(100)이 파단되는 시점의 하중을 체크하여 기준값과 비교함으로써 현재 생산 및 조립되고 있는 액정패널의 강도가 기준에 속하는지 벗어나는지를 판단하여 생산라인에 피드백 한다.
이 때, 본 발명에 의하면, 펀치의 위치, 소재의 위치 등이 소재의 크기에 따라 최적의 상태로 쉽고 빠르면서도 정확하게 셋팅되기 때문에, 종래 일반적인 3축 굽힘 실험용 지그를 이용하는 경우에 비하여 정확한 측정 결과를 얻을 수 있다.
한편, 첨부한 도 8은 본 발명의 다른 실시예에 의한 3축 굽힘 실험용 지그를 개략적으로 나타낸 도면이다. 도시된 바와 같이, 본 실시예에 의한 3축 굽힘 실험용 지그는 앞서 설명한 일 실시예의 홈으로 이루어지는 펀치셋팅부(30) 대신에 필요시, 즉 펀치(20)의 중심 위치 셋팅시 다이(10)에 탑재되는 별도의 펀치셋팅부재(330)를 구비한다고 하는 특징이 있다. 그외 다른 구성은 일 실시예와 동일하다.
상기 펀치셋팅부재(330)는 그 하부에 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)이 삽입되는 한 쌍의 지지홈(331)(332)이 형성되어 있고, 상부의 중앙부에 펀치(20)가 수용되는 펀치수용홈(333)이 형성되어 있다.
상기와 같은 펀치셋팅부재(330)를 다이(10)의 제 1 및 제 2 지지축(11)(13)에 탑재하여 설치한 후 펀치(20)를 하강시켜서 펀치(20)가 상기 펀치셋팅부재(330)의 펀치수용홈(333)에 수용되도록 하여 펀치(20)와 다이(10)의 중심위치 및 평행도를 셋팅하는 작용은 앞서 설명한 경우와 같다. 따라서, 동일한 부재 및 구성에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 상세한 설명은 생략한다.
본 발명은 예시적인 방법으로 설명되었다. 여기서 사용된 용어들은 설명을 위한 것이며 한정의 의미로 이해되어서는 안될 것이다. 상기 내용에 따라 본 발명의 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 따라서, 따로 부가 언급하지 않는 한 본 발명은 청구항의 범주 내에서 자유로이 실행될 수 있을 것이다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 발명에 의하면, 측정하고자 하는 소재의 크기, 즉 액정패널의 크기에 따라 최적의 실험 조건으로 아주 빠르면서도 정확하게 셋팅할 수 있으므로, 측정 오차를 줄일 수 있을 뿐만 아니라 측정 시간 등을 단축시킬 수 있다.

Claims (20)

  1. 판상 소재의 양측을 떠받치는 제 1 및 제 2 지지축이 병설된 다이;
    상기 다이의 상부에 업/다운 가능하게 설치되어 상기 소재의 중앙부분을 누르는 펀치; 및
    상기 제 1 및 제 2 지지축에 대한 상기 펀치의 중심위치 및 평행도를 맞추기 위하여 상기 다이의 중앙부에 마련된 펀치셋팅부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 펀치셋팅부는 상기 다이의 중앙부에 상기 펀치가 수용되도록 상기 지지축과 평행하게 형성된 펀치수용홈을 포함하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 지지축은 소재의 크기에 따른 간격 조절을 위하여 이동 가능하며, 상기 제 1 및 제 2 지지축의 이동을 정밀하게 조정하기 위한 마이크로미터를 구비하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 지지축의 조정 위치를 확인할 수 있도록 상기 다이에 마련되는 제 1 눈금자를 구비하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 지지축의 이동을 각각 별개로 조정하기 위한 제 1 및 제 2 마이크로미터를 구비하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 지지축 위에 올려지는 소재의 크기별 안착 위치를 가이드해 주기 위한 소재위치가이드유닛을 구비하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 소재위치가이드유닛은 상기 소재의 일측 모서리와 접촉하도록 X 및 Y방향으로 각각 이동 가능한 제 1 및 제 2 가이드부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 가이드부재는 상기 제 1 및 제 2 지지축 중 어느 하나에 설치되며, 상기 가이드부재가 설치된 지지축에는 상기 제 1 및 제 2 가이드부재의 이동 위치를 확인하기 위한 제 2 눈금자가 마련된 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 가이드부재의 이동을 정밀하게 조정하기 위한 제 3 및 제 4 마이크로미터를 구비하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  10. 제 1 항에 있어서, 상기 펀치는,
    지지부재; 및 이 지지부재에 핀으로 틸트 조정 가능하게 연결된 누름부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  11. 판상 소재의 양측을 떠받치는 제 1 및 제 2 지지축이 소재의 크기에 따른 간격 조절이 가능하도록 이동 가능하게 병설된 다이;
    상기 다이의 상부에 업/다운 가능하게 설치되어 상기 소재의 중앙부분을 누르는 것으로써, 지지부재 및 이 지지부재에 핀으로 틸트 조정 가능하게 연결된 누름부재를 갖춘 펀치;
    상기 제 1 및 제 2 지지축에 대한 상기 펀치의 중심위치 및 평행도를 맞추기 위하여 상기 다이의 중앙부에 상기 펀치를 수용하도록 마련되는 펀치수용홈을 포함하는 펀치셋팅부; 및
    상기 제 1 및 제 2 지지축 위에 올려지는 소재의 크기별 안착 위치를 가이드해 주기 위한 소재위치가이드유닛;을 포함하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  12. 판상 소재의 양측을 떠받치는 제 1 및 제 2 지지축이 병설된 다이;
    상기 다이의 상부에 업/다운 가능하게 설치되어 상기 소재의 중앙부분을 누르는 펀치; 및
    상기 제 1 및 제 2 지지축에 대한 상기 펀치의 중심위치 및 평행도를 맞추기 위하여 제 1 및 제 2 지지축에 탑재되는 것으로써, 하부에는 상기 제 1 및 제 2 지지축이 삽입되는 한 쌍의 지지홈이 마련되고, 상부 중앙에는 상기 펀치가 수용되는 펀치수용홈이 상기 지지축과 평행하게 마련된 펀치셋팅부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 지지축은 소재의 크기에 따른 간격 조절을 위하여 이동 가능하며, 상기 제 1 및 제 2 지지축의 이동을 정밀하게 조정하기 위한 마이크로미터를 구비하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 지지축의 조정 위치를 확인할 수 있도록 상기 다이에 마련되는 제 1 눈금자를 구비하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 지지축의 이동을 각각 별개로 조정하기 위한 제 1 및 제 2 마이크로미터를 구비하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  16. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 지지축 위에 올려지는 소재의 크기별 안착 위치를 가이드해 주기 위한 소재위치가이드유닛을 구비하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  17. 제 16 항에 있어서,
    상기 소재위치가이드유닛은 상기 소재의 일측 모서리와 접촉하도록 X 및 Y방향으로 각각 이동 가능한 제 1 및 제 2 가이드부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 가이드부재는 상기 제 1 및 제 2 지지축 중 어느 하나에 설치되며, 상기 가이드부재가 설치된 지지축에는 상기 제 1 및 제 2 가이드부재의 이동 위치를 확인하기 위한 제 2 눈금자가 마련된 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  19. 제 18 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 가이드부재의 이동을 정밀하게 조정하기 위한 제 3 및 제 4 마이크로미터를 구비하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
  20. 제 12 항에 있어서, 상기 펀치는,
    지지부재; 및 이 지지부재에 핀으로 틸트 조정 가능하게 연결된 누름부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 3축 굽힘 실험용 지그.
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