KR20060049086A - A correcting apparatus for fine-pitch pattern - Google Patents
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Abstract
본 발명의 목적은 관찰 위치로부터 도포 위치까지의 거리가 작은 미세 패턴 수정 장치를 제공하기 위한 것으로서, 상기 목적을 달성하기 위한 해결 수단에 있어서, 상기 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구(4)는, 수정액을 결함에 도포하기 위한 도포침(11)과, 수정액 탱크(15) 등을 지지하는 도포 팔레트(14)와, 도포침(11)을 XY평면 내에서 이동시킴과 함께 Z방향으로 이동시키고, 관찰 광학계(2)의 시야 내의 도포 대기 위치와 도포 팔레트(14) 부근의 준비 위치중 어느 하나의 위치에 도포침(11)을 위치시키는 직동 액추에이터(12)를 포함한다. 따라서 관찰 광학계(2)에 의해 도포 위치를 특정하는 상태부터, 도포를 행하는 위치로 X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)를 이동시키는 거리가, 종래에 비하여 현저하게 작아진다.An object of the present invention is to provide a fine pattern correction apparatus having a small distance from an observation position to an application position, and in a solution for achieving the above object, a correction liquid application mechanism 4 included in the fine pattern correction apparatus. The coating needle 11 for applying the correction liquid to the defect, the application palette 14 supporting the correction liquid tank 15 and the like, and the application needle 11 are moved in the Z direction while moving the application needle 11 in the XY plane. And a linear actuator 12 for positioning the coating needle 11 at any one of a coating standby position in the visual field of the observation optical system 2 and a preparation position near the coating palette 14. Therefore, the distance which moves the X stage 7 and the Y stage 8 from the state which specifies the application | coating position by the observation optical system 2 to the application | coating position becomes remarkably small compared with the past.
미세 패턴 수정 Fine pattern correction
Description
도 1은 본 발명의 실시의 형태 1에 의한 미세 패턴 수정 장치의 전체 구성을 도시한 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The figure which shows the whole structure of the micro pattern correction apparatus by
도 2는 도 1에 도시한 수정액 도포 기구의 구성 및 동작을 도시한 도면.FIG. 2 is a view showing the configuration and operation of the correction liquid application mechanism shown in FIG. 1. FIG.
도 3은 실시의 형태 1의 변경예를 도시한 도면.3 is a diagram showing a modification of
도 4는 실시의 형태 1의 다른 변경예를 도시한 도면.4 is a diagram showing another modified example of the first embodiment;
도 5는 본 발명의 실시의 형태 2에 의한 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구의 구성 및 동작을 도시한 도면.FIG. 5 is a diagram showing the configuration and operation of the correction liquid application mechanism included in the fine pattern correction apparatus according to
도 6은 본 발명의 실시의 형태 3에 의한 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구의 구성 및 동작을 도시한 도면.FIG. 6 is a diagram showing the configuration and operation of the correction liquid application mechanism included in the fine pattern correction apparatus according to
도 7은 종래의 수정액 도포 기구의 구성을 도시한 도면.7 is a diagram showing the configuration of a conventional correction liquid application mechanism.
(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명)(Explanation of symbols for the main parts of the drawing)
1 : 피수정 대상 기판 2 : 관찰 광학계DESCRIPTION OF
3 : 레이저 장치 4 : 수정액 도포 기구3: laser device 4: correction liquid application mechanism
5 : 경화 광원 6 : Z스테이지5: curing light source 6: Z stage
7 : X스테이지 8 : Y스테이지7: X stage 8: Y stage
9 : 제어부 10 : 조작부9
11, 21, 25, 71 : 도포침 12, 27, 30, 31, 72 : 액추에이터11, 21, 25, 71:
13, 33 : 리니어 가이드 14, 73 : 도포 팔레트13, 33:
15, 75 : 수정액 탱크 16, 76 : 세척 유닛15, 75: correction
17, 77 : 건조 유닛 18, 78 : 노치부17, 77:
19, 74 : 모터 20 : 대물 렌즈19, 74: motor 20: objective lens
26 : 부착부 32 : 실린더26: attachment portion 32: cylinder
34 : 도포침 베이스 35 : 후크34: coating base 35: hook
36 : 핀36: pin
기술분야Technical Field
본 발명은 미세 패턴 수정 장치에 관한 것으로서, 특히, 기판상에 형성된 미세 패턴의 결함을 수정하는 미세 패턴 수정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a fine pattern correction apparatus, and more particularly, to a fine pattern correction apparatus for correcting a defect of a fine pattern formed on a substrate.
종래기술Prior art
종래부터, 액정 표시 장치(LCD)의 전극이 결여된 전극 결함(오픈 결함)이나, 액정의 컬러 필터의 색 빠짐 부분에 바늘에 의해 수정액을 도포하여 수정하는 미세 패턴 수정 장치가 공지되어 있다. 이 미세 패턴 수정 장치에서는, 관찰 광학계 및 수정액 도포 기구를 포함하는 수정 헤드와 기판을 XYZ방향으로 상대적으로 이동시키면서 기판 표면을 관찰하여 결함의 위치를 특정하고, 특정한 결함의 위치에 바늘 이 오도록 수정 헤드를 이동시키고, 바늘 선단이 기판에 접촉할 때까지 바늘을 수직으로 강하시켜서, 바늘 선단에 부착시킨 수정액을 결함에 도포한다.Background Art Conventionally, fine pattern correction apparatuses are known in which an electrode defect (open defect) lacking an electrode of a liquid crystal display device (LCD) or a correction liquid is applied by a needle to a color dropout portion of a color filter of a liquid crystal. In this fine pattern correction apparatus, the crystal head including the observation optical system and the correction liquid application mechanism and the substrate are observed while observing the surface of the substrate while relatively moving in the XYZ direction, and the crystal head is positioned so that the needle is located at the specific defect position. Is moved, the needle is lowered vertically until the needle tip contacts the substrate, and the correction liquid attached to the needle tip is applied to the defect.
도 7은, 그러한 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구(70)를 도시한 도면이다. 도 7에 있어서, 이 수정액 도포 기구(70)에서는, 도포침(71)이 액추에이터(72)에 의해 수직 방향으로 이동 가능하게 마련됨과 함께, 도포 팔레트(73)가 모터(74)에 의해 수평면 내에서 회전 가능하게 마련되어 있다. 도포 팔레트(73)상에는, 서로 다른 종류의 수정액이 주입된 복수의 수정액 탱크(75)와, 세척 유닛(76)과, 건조 유닛(77)이 마련되어 있다. 원형의 도포 팔레트(73)의 일부에는, 도포침(71)을 통과시키기 위한 노치부(78)가 마련되어 있다.FIG. 7: is a figure which shows the correction liquid application |
결함을 수정할 때는, 도포 팔레트(73)가 회전되어 소망하는 수정액 탱크(75)가 도포침(71)의 아래로 이동되고, 액추에이터(72)에 의해 도포침(71)이 상하 이동되어, 도포침(71)의 선단에 소망하는 수정액이 부착된다. 다음에, 도포 팔레트(73)가 회전되어 도포 팔레트(73)의 노치부(78)가 도포침(71)의 아래로 이동되고, 액추에이터(72)에 의해 도포침(71)이 상하 이동되고, 도포침(71)의 선단이 기판(도시 생략)의 결함부에 접촉되고, 수정액이 결함부에 도포된다.When correcting a defect, the
수정액의 도포 후는, 세척 유닛(76)이 도포침(71)의 아래로 이동되어 도포침(71)이 세척 유닛(76) 내로 삽입되고, 세척액에 의해 도포침(71)으로부터 불필요한 수정액이 제거된다. 그 후, 건조 유닛(77)이 도포침(71)의 아래로 이동되고, 도포침(71)이 건조 유닛(77) 내로 삽입되어 건조된다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).After application of the correction liquid, the
또한, 직사각형의 도포 팔레트상에 수정액 탱크 등을 일렬로 배치하고, 액추 에이터에 의해 도포 팔레트를 도포침의 아래로 왕복이동시키는 것도 있다(예를 들면, 특허 문헌 2 참조).Moreover, some correction liquid tanks etc. are arrange | positioned in a row on a rectangular application | coating pallet, and an actuator may reciprocate the application | coating pallet below a coating needle (for example, refer patent document 2).
[특허 문헌 1] 특개2002-333725호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-333725
[특허 문헌 2] 특개2000-55615호 공보[Patent Document 2] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-55615
그러나, 종래의 미세 패턴 수정 장치에서는, 관찰 광학계의 광축과 도포침(71)의 선단과의 거리는, 각각의 기하학적 형상의 제약을 받는다. 특히 관찰 광학계가 대물 렌즈를 교환하기 위한 리볼버를 포함하는 경우에는, 리볼버에 부착한 대물 렌즈 경통(鏡筒)의 회전 범위의 외측에 도포침(71)을 배치할 필요가 있기 때문에, 관찰 광학계의 광축과 도포침(71)의 선단과의 거리가 길어진다.However, in the conventional fine pattern correction apparatus, the distance between the optical axis of the observation optical system and the tip of the
결함을 관찰 광학계에 의해 관찰하고, 그 관찰 결과에 의해 도포 위치를 특정한 후, 도포 동작시에는, 도포침(71)의 선단 위치를 특정된 도포 위치에 일치시키기 위해 수정 헤드를 관찰 위치로부터 도포 위치로 이동시킨다. 이때, 중량이 있는 수정 헤드 전체를 긴 거리에 걸쳐서 이동시킬 필요가 있고, 시간이 걸린다.After observing a defect with an observation optical system and specifying the application position by the observation result, in the application | coating operation, a correction head is applied from an observation position in order to match the tip position of the application |
또한, 기판 사이즈의 확대에 수반하여 XYZ스테이지가 대형화하였기 때문에, 수정 헤드의 이동에 수반하는 중심 위치의 변화나 온도 변화에 의한 스테이지의 변형량이 커지고, 기판상의 결함의 위치에 따라 위치 결정 오차가 크게 흐트러진다. 이 때문에, 관찰 광학계에서 지정한 위치에 대한 실제의 도포 위치의 오차가 커진다.In addition, since the size of the XYZ stage increases with the expansion of the substrate size, the amount of deformation of the stage due to the change in the center position or the temperature change accompanying the movement of the crystal head increases, and the positioning error is large depending on the position of the defect on the substrate. Distract For this reason, the error of the actual application | coating position with respect to the position designated by the observation optical system becomes large.
그래서, 본 발명의 주된 목적은, 관찰 위치로부터 도포 위치까지의 거리가 작은 미세 패턴 수정 장치를 제공하는 것이다.Therefore, the main object of the present invention is to provide a fine pattern correction apparatus having a small distance from the observation position to the application position.
본 발명에 관한 미세 패턴 수정 장치는, 기판상에 형성된 미세 패턴의 결함을 수정하는 미세 패턴 수정 장치로서, 결함을 관찰하는 관찰 광학계와, 수정액을 결함에 도포하는 수정액 도포 기구를 포함하는 수정 헤드, 기판에 평행한 XY평면 내에서 수정 헤드와 기판을 상대적으로 위치 결정하는 XY스테이지와, 기판에 수직인 Z방향에서 수정 헤드와 기판을 상대적으로 위치 결정하는 Z스테이지를 구비한 것이다. 여기서, 수정액 도포 기구는, 그 선단에 부착한 수정액을 결함에 부착시키기 위한 도포침과, 관찰 광학계의 시야 외의 소정 위치에 마련되고, 수정액을 보존하는 도포 팔레트와, 도포침을 XY평면 내에서 이동시킴과 함께 Z방향으로 이동시키고, 관찰 광학계의 시야 내 또는 그 부근의 도포 대기 위치와 도포 팔레트 부근의 준비 위치중 어느 하나의 위치에 도포침을 위치시키는 액추에이터를 포함하는 것을 특징으로 한다. The fine pattern correction apparatus which concerns on this invention is a fine pattern correction apparatus which correct | amends the defect of the micropattern formed on the board | substrate, The correction head which contains the observation optical system which observes a defect, and the correction liquid application | coating mechanism which apply | coats a correction liquid to a defect, An XY stage for relatively positioning the crystal head and the substrate in an XY plane parallel to the substrate, and a Z stage for relatively positioning the crystal head and the substrate in the Z direction perpendicular to the substrate. Here, the correction liquid applying mechanism is provided at a predetermined position outside the field of view of the observation optical system, the coating needle for attaching the correction liquid attached to the tip thereof to a defect, and the coating palette for storing the correction liquid, and the application needle within the XY plane. And an actuator which moves in the Z direction with the application and positions the coating needle at any one of an application standby position in or near the field of view of the observation optical system and a preparation position near the application palette.
바람직하게는, 액추에이터는, Z방향에 대해 소정의 각도만큼 경사시켜서 마련된 직동(直動) 액추에이터이다.Preferably, the actuator is a linear actuator provided by tilting the Z-direction by a predetermined angle.
또한 바람직하게는, 액추에이터는, 도포침의 Z방향의 직동 위치 결정과, XY평면 내에서의 회전 위치 결정을 행하는 직동-회전 액추에이터이다. Also preferably, the actuator is a linear-rotating actuator that performs linear positioning in the Z-direction of the coating needle and rotational positioning in the XY plane.
또한 바람직하게는, 액추에이터는, 도포침의 Z방향의 직동 위치 결정과, XY평면 내에서의 소정 방향에서의 직동 위치 결정을 행하는 2자유도의 직동 액추에이터이다. Also preferably, the actuator is a two degree of freedom linear actuator that performs linear positioning in the Z direction of the coating needle and linear positioning in a predetermined direction within the XY plane.
또한 바람직하게는, 도포침은, 적어도 선단 부분은 기판에 대해 거의 수직으 로 마련되고, 수정액 도포 기구는, 또한 도포침과 액추에이터의 사이에 마련되고, 도포침을 Z방향으로 이동 자유롭게 지지하는 리니어 가이드를 포함한다.Also preferably, at least the tip portion of the applicator is provided substantially perpendicular to the substrate, and the correction liquid application mechanism is further provided between the applicator and the actuator and linearly supports the applicator freely in the Z direction. Includes a guide.
본 발명에 관한 미세 패턴 수정 장치에서는, 액추에이터에 의해 도포침을 기판과 수직 방향 및 수평 방향으로 이동시킴에 의해, 도포침의 바늘 끝을 관찰 광학계의 시야 내 또는 그 부근에 위치시킬 수 있다. 따라서 관찰 광학계에 의해 도포 위치를 특정하는 상태로부터, 도포를 행하는 위치로 XY스테이지를 이동시키는 거리가, 종래에 비하여 현저하게 작아진다. 따라서, 대형 기판에 대응할 수 있는 대형 XY스테이지를 구비한 경우에도, 도포 위치의 오차를 작게 할 수 있다. 또한, 도포침을 이동시키는 액추에이터는, XY스테이지보다도 고속으로 구동할 수 있기 때문에, 도포에 요하는 시간을 단축할 수 있다.In the fine pattern correction apparatus according to the present invention, the needle tip of the coating needle can be positioned in or near the field of view of the observation optical system by moving the coating needle in the vertical and horizontal directions with the substrate by the actuator. Therefore, the distance which moves an XY stage from the state which specifies the application | coating position with an observation optical system to the application | coating position becomes remarkably small compared with the past. Therefore, even when the large XY stage which can respond to a large substrate is provided, the error of an application | coating position can be made small. In addition, the actuator for moving the coating needle can be driven at a higher speed than the XY stage, so that the time required for coating can be shortened.
[실시의 형태 1]
도 1은, 본 발명의 실시 형태 1에 의한 미세 패턴 수정 장치의 전체 구성을 도시한 외관이다. 도 1에서, 이 미세 패턴 수정 장치는, 피수정 대상 기판(1)의 표면에 형성된 미세 패턴의 결함부를 관찰하기 위한 관찰 광학계(2)와, 미세 패턴의 이물(異物) 결함을 제거하는 레이저 장치(3)와, 결함부에 수정액을 도포하기 위한 수정액 도포 기구(4)와, 도포한 수정액을 광경화 또는 열경화시키기 위한 경화 광원(5)을 구비한다.FIG. 1: is an external appearance which shows the whole structure of the fine pattern correction apparatus by
관찰 광학계(2)는, 복수의 대물 렌즈와 그들중 어느 하나를 선택하는 리볼버를 포함하는 현미경과, CCD 카메라로 이루어진다. 관찰 광학계(2)는, 레이저 장치 (3)의 광학계를 겸한다. 관찰 광학계(2), 레이저 장치(3), 수정액 도포 기구(4) 및 경화 광원(5)은 수정 헤드를 구성한다.The observation
또한, 이 미세 패턴 수정 장치는, 상기 수정 헤드를 탑재하고 Z방향으로 이동 가능한 Z스테이지(6)와, 이 Z스테이지(6)를 탑재하고 X방향으로 이동 가능한 X스테이지(7)와, 피수정 대상 기판(1)을 탑재하고 Y방향으로 이동 가능한 Y스테이지(8)와, 미세 패턴 수정 장치 전체를 제어하는 제어부(9)와, 유저 인터페이스로 이루어지는 조작부(10)를 구비한다.In addition, the fine pattern correction apparatus includes a Z stage (6) mounted with the correction head and movable in the Z direction, an X stage (7) mounted with the Z stage (6) and movable in the X direction; The
Z스테이지(6)는, 피수정 대상 기판(1)에 수직인 Z방향에서 기판(1)과 수정 헤드의 상대 위치 결정을 행함에 의해, 관찰 광학계(2)의 초점 조정을 행하거나, 도포 위치에 위치 결정된 도포침을 강하시키고, 그 선단을 기판(1)에 접촉시키기 위해 사용된다. X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)는, 피수정 대상 기판(1)에 평행한 XY평면 내에서, 기판(1)과 수정 헤드의 상대 위치 결정을 행하기 위해 사용된다. 제어부(9)는, 조작부(10)로부터의 지령 신호에 의거하여, 미세 패턴 수정 장치 전체에 제어 신호를 보낸다. 조작부(10)는, CCD 카메라로 촬영된 화상의 표시 장치, 좌표 입력 장치, 각종 동작의 지시 장치 등으로 이루어진다.The
도 2(a) (b)는, 이 미세 패턴 수정 장치의 특징이 되는 수정액 도포 기구(4)의 구성 및 동작을 도시한 도면이다. 도 2(a) (b)에 있어서, 수정액 도포 기구(4)는, 도포침(11)과, 직동 액추에이터(12)와, 리니어 가이드(13)와, 수정액 탱크(15) 등이 탑재된 도포 팔레트(14)를 포함한다.FIG.2 (a) (b) is a figure which shows the structure and operation | movement of the correction liquid application |
도포침(11)은, 그 선단에 수정액을 부착시키고, 결함부에 전사하여 도포하는 것이다. 도포침(11)의 선단부는, 선단을 향하여 가늘어지는 테이퍼부와, 테이퍼부의 선단에 마련한 중심축에 수직인 평탄면으로 이루어진다. 도포침(11)은, 그 선단부의 중심축이 피수정 대상 기판(1)에 수직이 되도록 절곡되고, 그 기단부는 리니어 가이드(13)를 통하여 액추에이터(12)의 구동축의 선단에 지지된다. 도포침(11)은, 리니어 가이드(13)에 의해, 기판(1)에 수직 방향으로 소정 거리만큼 이동 자유롭게 지지된다.The
직동 액추에이터(12)는, 기판(1)에 대해 경사의 방향 즉 기판(1)에 대해 수직 방향 및 평행한 방향으로 도포침(11)을 이동시키고, 도 2(a)로 도시된 도포 대기 위치와, 도 2(b)로 도시된 준비 위치의 2개소에서 정지시킨다. 도포 대기 위치는, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)의 시야의 부근 또는 시야 내의 거의 중앙에서, 도포침(11)의 선단이 기판(1)의 약간 상방에서, 기판(1)에 접촉하지 않는 위치로 한다. 또한, 준비 위치는, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)의 시야 외에서, 도포 팔레트(14)상의 수정액 탱크(15) 등의 각각에 도포침(11)을 삽입 가능한 위치로 한다.The
다음에, 이 미세 패턴 수정 장치의 동작에 관해 설명한다. 초기 상태에서는, 직동 액추에이터(12)의 구동축을 줄여서 도포침(11)을 도포 준비 위치에 유지한다. 이때, 도포침(11) 등은 관찰 광학계(2)로부터 충분히 떨어진 위치에 있고, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)의 교환등(리볼버의 회전)의 동작을 지장없이 행할 수 있다. Next, the operation of this fine pattern correction apparatus will be described. In the initial state, the drive shaft of the
계속해서, X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)에 의해 수정 헤드와 기판(1)의 상 대 위치를 이동하고, 미세 패턴의 결함부를 관찰 광학계(2)의 시야의 거의 중앙에 위치시켜, 도포 위치를 특정한다. 도포 위치의 특정은, 예를 들면 CCD 카메라로 파악한 결함부의 화상을 표시 장치의 화면에 표시하고, 마우스 등의 좌표 입력 장치를 이용하여 화면상에서 도포 위치를 지정함에 의해 행할 수 있다.Subsequently, the relative positions of the crystal head and the
다음에, 직동 액추에이터(12)의 구동축을 늘리고, 도포침(11)을 도포 대기 위치로 이동하여 그 위치에 유지한다. 이어서, 미리 제어부(9)에 기억시킨, 관찰 광학계(2)의 시야의 좌표 원점과 도포 대기 위치에서의 바늘 끝의 위치 관계와, 특정된 도포 위치의 좌표에 의거하여, 도포 대기 위치에서의 바늘 끝과 특정된 도포 위치가 일치하도록, X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)를 이동시킨다.Next, the drive shaft of the
이때, 도포침(11)은 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)의 시야 내에 위치하고 있기 때문에, 관찰 광학계(2)에 의한 도포 위치의 특정으로부터 도포 동작으로 이전할 때의 X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)의 이동 거리는, 현미경 시야의 범위에 그친다. 이 때문에, 종래에 비하여 X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)의 이동 거리는 매우 작아도 되고, 도포 동작에 요하는 시간을 단축할 수 있고, 또한, 실제로 수정액이 도포되는 위치의 정밀도를 향상시킬 수 있다.At this time, since the
다음에, Z스테이지(6)를, 미리 제어부(9)에 기억시킨 도포시 Z 이동량만큼, 기판(1)에 접근하는 방향으로 이동시킴에 의해, 도포침(11)의 선단의 평탄면을 도포 위치에 접촉시키고, 평탄면에 부착한 수정액을 도포 위치에 전사한다.Next, the flat surface at the tip of the
이때, 도포침(11)의 선단부가 기판(1)에 대해 거의 수직(도포침(11)의 선단의 평탄면이 기판(1)에 대해 거의 평행)이 되도록 도포침(11)을 고정하고 있기 때 문에, 평탄면의 거의 전면(全面)이 기판(1)과 접촉한다. 또한, 도포침(11)은 리니어 가이드(13)에 의해 기판(1)에 대해 수직 방향으로 이동 자유롭게 지지되어 있기 때문에, 도포침(11)의 선단이 기판(1)에 접촉한 상태에서 다시 Z스테이지(6)가 기판(1)에 접근하는 방향으로 이동하여도, 바늘 끝에 가해지는 하중은 일정한다. 또한, 도포침(11)의 선단을 기판(1)의 도포 위치에 접촉시키는 동작을 고정밀도의 Z스테이지(6)에 의해 행하기 때문에, 도포침(11)이 기판(1)에 접촉할 때의 자세나 속도를 재현성 좋게 제어할 수 있다. 이와 같이 하여, 안정된 도포가 가능하다.At this time, the tip of the
도포 종료 후는, Z스테이지(6)는 원래의 위치로 상승하고, 도포침(11)은 액추에이터(12)의 동작에 의해, 준비 위치로 되돌아온다. 준비 위치에서, 다시 액추에이터(12)와 도포 팔레트(14)를 동작시킴에 의해, 바늘 끝의 세척, 건조를 행할 수 있다. 또한, 준비 위치에서 대기하는 동안은, 바늘 끝을 수정액 탱크(15) 내의 수정액에 담근 상태라도 좋다. 이 경우, 도포침(11)의 선단에 건조한 수정액이 고착되는 것을 막을 수 있다.After the application is completed, the
이와 같이, 대물 렌즈(20)와 기판(1)의 간격이 작은 경우는, 도포침(11)의 선단부를 절곡한 형상으로 함에 의해, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)의 시야 내에 도포침(1)의 선단을 위치 결정할 수 있다. 한편, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)와 기판(1)의 간격이 넓은 경우는, 도 3(a) (b)에 도시한 바와 같이, 곧은 도포침(21)을 기판(1)에 대해 수직 방향으로 리니어 가이드(13)에 부착할 수 있다.In this way, when the distance between the
또한, 도포 팔레트(14)상에는, 복수의 수정액 탱크(15)와, 세척 유닛(16)과, 건조 유닛(17)이 마련되고, 도포 팔레트(14)에는 직동 액추에이터(12)를 통과시키 기 위한 노치부(18)가 형성되어 있다. 도포 팔레트(14)는 모터(19)에 의해 회전된다. 도포 팔레트(14)에 노치부(18)를 마련하였기 때문에, 도포침(21)을 도포 팔레트(14)의 상측의 준비 위치로부터 도포 팔레트(14)의 하측의 도포 대기 위치로 이동시킬 수 있다. 도 3(a)는 도포 대기 위치의 상태를 도시하고, 도 3(b)는 준비 위치의 상태를 도시한다.In addition, a plurality of correction
준비 위치에서는, 도포침(21)이 도포 팔레트(14)상의 수정액 탱크(15), 세척 유닛(16), 건조 유닛(17)과 간섭하지 않는 위치까지 도포침(21)을 상승시키고, 도포 팔레트(14)를 모터(19)에 의해 소정의 위치로 회전시켜 정지하고, 다음에 도포침(21)을 소정의 거리만큼 강하시킴에 의해, 도포침(21)의 선단을 수정액 탱크(15)에 삽입하여 수정액을 부착시킬 수 있다. 마찬가지로 하여 세척 유닛(16)이나 건조 유닛(17)에 의해 도포침(21)의 선단부의 세척, 건조의 작업을 행할 수 있다.At the preparation position, the
또한, 대물 렌즈(20)의 초점 거리가 짧고, 도포침(21)의 도포 대기 위치를 대물 렌즈(20)의 하측에 설정할 수 없는 경우는, 도 4에 도시한 바와 같이, 도포침(21)의 도포 대기 위치를 대물 렌즈(20)의 측면의 부근에 설정하여도 좋다. 이 경우에도, 도포침(21)을 기판(1)과 수평 방향으로 이동시킴에 의해, 도포침(21)의 도포 대기 위치를 리볼버의 회전 범위 내에 설정한 것이 가능해지고, 관찰 및 도포 위치의 특정부터 도포 동작으로 옮길 때의 X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)의 이동 거리를 종래에 비하여 대폭적으로 감소시킬 수 있고, 도포 시간의 단축화, 도포 위치 정밀도 향상을 도모할 수 있다.In addition, when the focal length of the
[실시의 형태 2] [Embodiment 2]
도 5(a) (b)는, 본 발명의 실시의 형태 2에 의한 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구의 구성 및 동작을 도시한 도면으로서, 도 2(a) (b)와 대비되는 도면이다. 도 5(a) (b)에서, 이 수정액 도포 기구는, 도포침(25)과, 부착 부재(26)와, 직동-회전 액추에이터(27)와, 리니어 가이드(13)와, 수정액 탱크(15) 등이 탑재된 도포 팔레트(14)를 포함한다.5 (a) and 5 (b) are diagrams showing the configuration and operation of the correction liquid application mechanism included in the micropattern correction apparatus according to the second embodiment of the present invention, as compared with FIG. 2 (a) and (b). Drawing. In (a) and (b) of FIG. 5, the correction liquid application mechanism includes the
도포침(25)은, 그 선단에 수정액을 부착시키고, 결함부에 전사하여 도포하는 것이다. 도포침(25)의 선단부는, 선단을 향하여 가늘어지는 테이퍼부와, 테이퍼부의 선단에 마련한 중심축에 수직인 평탄면으로 이루어진다. 도포침(25)은, 그 중심축이 피수정 대상 기판(1)에 수직이 되도록, 부착 부재(26) 및 리니어 가이드(13)를 통하여 액추에이터(27)의 구동축의 선단부 측면에 유지된다. 도 2의 수정액 도포 기구(4)에서는 절곡된 형상의 도포침(11)을 사용하였지만, 도 5의 수정액 도포 기구에서는 곧은 형상의 도포침(25)을 사용한다. 이로써, 도포침(25)의 재료로서 초경합금 등 내마모성에 우수하지만 절곡 가공이 곤란한 재료를 사용하는 것이 가능해지고, 내구성에 우수한 도포침(25)을 얻을 수 있다. 도포침(25)은, 리니어 가이드(13)에 의해, 기판(1)에 수직 방향으로 소정 거리만큼 이동 자유롭게 지지된다.The
직동-회전 액추에이터(27)는, 피수정 대상 기판(1)에 대해 개략 수직 방향의 직동 위치 결정과, 피수정 대상 기판(1)에 대해 평행한 면 내에서의 회전 방향의 위치 결정을 행할 수 있다. 직동-회전 액추에이터(27)는, 기판(1)에 대해 수직 방향 및 평행한 방향으로 도포침(25)을 이동시키고, 도 5(a)에 도시된 도포 대기 위 치와, 도 5(b)로 도시된 준비 위치의 2개소에서 정지시킨다. 도포 대기 위치는, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20) 시야의 부근 또는 시야 내의 거의 중앙이고, 도포침(25)의 선단이 기판(1)의 약간 상방이고, 기판(1)에 접촉하지 않는 위치로 한다. 또한, 준비 위치는, 도포 팔레트(14)상의 수정액 탱크(15) 등의 각각에 도포침(25)을 삽입 가능한 위치로 한다. 다른 구성 및 동작은, 실시의 형태 1과 같기 때문에, 그 설명은 반복하지 않는다.The linear motion-rotating
이 실시의 형태 2에서도, 실시의 형태 1과 같은 효과를 얻을 수 있다.Also in the second embodiment, the same effect as in the first embodiment can be obtained.
[실시의 형태 3][Embodiment 3]
도 6(a) (b)는, 본 발명의 실시의 형태 3에 의한 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구의 구성 및 동작을 도시한 도면으로서, 도 2(a) (b)와 대비되는 도면이다. 도 6(a) (b)에서, 이 수정액 도포 기구는, 도포침(25)과, 2개의 직동 액추에이터(30, 31)와, 수정액 탱크(15) 등이 탑재된 도포 팔레트(14)를 포함한다. 6 (a) and 6 (b) are diagrams showing the configuration and operation of the correction liquid application mechanism included in the fine pattern correction apparatus according to
직동 액추에이터(30)의 구동축은, 피수정 대상 기판(1)과 평행한 방향으로 동작한다. 직동 액추에이터(31)는, 직동 액추에이터(30)의 구동축의 선단에 마련되고, 에어 실린더(32), 리니너 가이드(33) 및 도포침 베이스(34)를 포함한다. 에어 실린더(32)에 의해, 도포침 베이스(34)는 피수정 대상 기판(1)과 수직 방향으로 동작한다. 도포침(25)은 피수정 대상 기판(1)에 대해 개략 수직이 되도록, 도포침 베이스(34)에 부착된다. 또한, 도포침(25)은 리니어 가이드(33)에 의해 기판(1)에 수직 방향으로 소정 거리만큼 이동 자유롭게 지지된다.The drive shaft of the
에어 실린더(32)는, 상승단(上昇端)과 하강단의 2점에서 정지할 수 있다. 도 6(a)에 도시한 도포 대기 위치에서는, 에어 실린더(32)는 하강단에서 정지하고, 에어 실린더(32)의 로드 선단에 마련한 후크(35)가 도포침 베이스(34)에 일체로 마련한 핀(36)에 접촉하여, 도포침(25)이 그 이상 하강하지 않도록 지지하고 있다. Z스테이지(6)가 기판(1)측으로 강하하여 도포침(25)의 선단이 기판(1)에 접촉하면, 그 이상 Z스테이지(6)가 강하한 경우에는 후크(35)가 핀(36)으로부터 떨어지고, 도포침(25)의 선단에는 도포침(25) 및 도포침 베이스(34)의 자중만이 가하여진다.The
도포 대기 위치로부터, 에어 실린더(32)를 상승단으로 이동시키고, 직동 액추에이터(30)에 의해 도포침(25)을 도면의 우측으로 이동시킴에 의해, 도 6(b)에 도시한 준비 위치에의 이동이 행하여진다. 이 위치에서 도포 팔레트(14)가 이동한 경우에, 도포침(25)의 선단이 도포 팔레트(14)상의 수정액 탱크(15) 등에 간섭하지 않도록, 에어 실린더(32)의 상승단의 위치가 설정된다. 또한, 직동 액추에이터(30)의 구동축의 정지 위치는, 도포 팔레트(14)를 회전시킴에 의해, 도포침(25)의 선단을 수정액 탱크(15) 등에 삽입할 수 있는 위치로 한다. 예를 들면 도포침(25)의 선단에 수정액을 부착시키는 경우에는, 도포 팔레트(14)를 이동시켜 수정액 탱크(15)를 도포침(25)의 아래쪽에 위치 결정하고, 에어 실린더(32)를 하강단으로 동작시킴에 의해, 도포침(25)이 수정액 탱크(15)의 안에 삽입된다. 다른 구성 및 동작은 실시의 형태 1과 같기 때문에, 그 설명은 반복하지 않는다.From the application standby position, the
실시의 형태 3에서도, 실시의 형태 1과 같은 효과를 얻을 수 있다.Also in
또한, 실시의 형태 1과 같이, 비스듬하게 마련한 단일의 직동 액추에이터 (12)에 의해, 기판(1)에 대해 수평 방향 및 수직 방향의 이동을 시키는 경우에는, 액추에이터의 구성 및 제어가 간단하게 된다는 장점이 있다. 한편, 실시의 형태 2, 3과 같이 준비 위치로부터 도포 대기 위치까지 도포침(25)을 이동시키는 액추에이터를, 기판(1)에 대해 수직 방향과, 평행한 방향의 동작을 개별적으로 제어할 수 있도록 구성한 경우, 대물 렌즈(20)의 작동 거리가 길고 기판(1)과 대물 렌즈(20)의 거리를 충분히 취할 수 있는 경우는 대물 렌즈(20)의 하측의 관찰 시야 내에 도포 대기 위치를 설정하고, 대물 렌즈(20)의 작동 거리가 짧고 도포침(25)을 렌즈(20)의 하측에 넣을 수 없는 경우에는, 대물 렌즈(20)의 경통 부근에 도포 대기 위치를 설정한다는 식으로, 상황에 따라 최적의 도포 대기 위치를 설정할 수 있다는 장점이 있다.In addition, as in the first embodiment, when the single
금회 개시된 실시의 형태는 모든 점에서 예시이고 제한적인 것이 아니라고 생각하여야 한다. 본 발명의 범위는 상기한 설명이 아니라 특허청구의 범위에 의해 나타나며, 특허청구의 범위와 균등한 의미 및 범위 내에서의 모든 변경이 포함되는 것이 의도된다.It should be thought that embodiment disclosed this time is an illustration and restrictive at no points. The scope of the present invention is shown by above-described not description but Claim, and it is intended that the meaning of a claim and equality and all the changes within a range are included.
본 발명에 관한 미세 패턴 수정 장치에서는, 액추에이터에 의해 도포침을 기판과 수직 방향 및 수평 방향으로 이동시킴에 의해, 도포침의 바늘 끝을 관찰 광학계의 시야 내 또는 그 부근에 위치시킬 수 있다. 따라서 관찰 광학계에 의해 도포 위치를 특정하는 상태로부터, 도포를 행하는 위치로 XY스테이지를 이동시키는 거리가, 종래에 비하여 현저하게 작아진다. 따라서, 대형 기판에 대응할 수 있는 대형 XY스테이지를 구비한 경우에도, 도포 위치의 오차를 작게 할 수 있다. 또한, 도포침을 이동시키는 액추에이터는, XY스테이지보다도 고속으로 구동할 수 있기 때문에, 도포에 요하는 시간을 단축할 수 있다.In the fine pattern correction apparatus according to the present invention, the needle tip of the coating needle can be positioned in or near the field of view of the observation optical system by moving the coating needle in the vertical and horizontal directions with the substrate by the actuator. Therefore, the distance which moves an XY stage from the state which specifies the application | coating position with an observation optical system to the application | coating position becomes remarkably small compared with the past. Therefore, even when the large XY stage which can respond to a large substrate is provided, the error of an application | coating position can be made small. In addition, the actuator for moving the coating needle can be driven at a higher speed than the XY stage, so that the time required for coating can be shortened.
Claims (5)
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