KR20060049086A - A correcting apparatus for fine-pitch pattern - Google Patents

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KR20060049086A
KR20060049086A KR1020050099091A KR20050099091A KR20060049086A KR 20060049086 A KR20060049086 A KR 20060049086A KR 1020050099091 A KR1020050099091 A KR 1020050099091A KR 20050099091 A KR20050099091 A KR 20050099091A KR 20060049086 A KR20060049086 A KR 20060049086A
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needle
correction
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Application number
KR1020050099091A
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아키히로 야마나카
시게오 시미즈
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에누티에누 가부시기가이샤
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Abstract

본 발명의 목적은 관찰 위치로부터 도포 위치까지의 거리가 작은 미세 패턴 수정 장치를 제공하기 위한 것으로서, 상기 목적을 달성하기 위한 해결 수단에 있어서, 상기 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구(4)는, 수정액을 결함에 도포하기 위한 도포침(11)과, 수정액 탱크(15) 등을 지지하는 도포 팔레트(14)와, 도포침(11)을 XY평면 내에서 이동시킴과 함께 Z방향으로 이동시키고, 관찰 광학계(2)의 시야 내의 도포 대기 위치와 도포 팔레트(14) 부근의 준비 위치중 어느 하나의 위치에 도포침(11)을 위치시키는 직동 액추에이터(12)를 포함한다. 따라서 관찰 광학계(2)에 의해 도포 위치를 특정하는 상태부터, 도포를 행하는 위치로 X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)를 이동시키는 거리가, 종래에 비하여 현저하게 작아진다.An object of the present invention is to provide a fine pattern correction apparatus having a small distance from an observation position to an application position, and in a solution for achieving the above object, a correction liquid application mechanism 4 included in the fine pattern correction apparatus. The coating needle 11 for applying the correction liquid to the defect, the application palette 14 supporting the correction liquid tank 15 and the like, and the application needle 11 are moved in the Z direction while moving the application needle 11 in the XY plane. And a linear actuator 12 for positioning the coating needle 11 at any one of a coating standby position in the visual field of the observation optical system 2 and a preparation position near the coating palette 14. Therefore, the distance which moves the X stage 7 and the Y stage 8 from the state which specifies the application | coating position by the observation optical system 2 to the application | coating position becomes remarkably small compared with the past.

미세 패턴 수정 Fine pattern correction

Description

미세 패턴 수정 장치{A Correcting Apparatus for Fine-Pitch Pattern}A Correcting Apparatus for Fine-Pitch Pattern

도 1은 본 발명의 실시의 형태 1에 의한 미세 패턴 수정 장치의 전체 구성을 도시한 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The figure which shows the whole structure of the micro pattern correction apparatus by Embodiment 1 of this invention.

도 2는 도 1에 도시한 수정액 도포 기구의 구성 및 동작을 도시한 도면.FIG. 2 is a view showing the configuration and operation of the correction liquid application mechanism shown in FIG. 1. FIG.

도 3은 실시의 형태 1의 변경예를 도시한 도면.3 is a diagram showing a modification of Embodiment 1;

도 4는 실시의 형태 1의 다른 변경예를 도시한 도면.4 is a diagram showing another modified example of the first embodiment;

도 5는 본 발명의 실시의 형태 2에 의한 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구의 구성 및 동작을 도시한 도면.FIG. 5 is a diagram showing the configuration and operation of the correction liquid application mechanism included in the fine pattern correction apparatus according to Embodiment 2 of the present invention. FIG.

도 6은 본 발명의 실시의 형태 3에 의한 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구의 구성 및 동작을 도시한 도면.FIG. 6 is a diagram showing the configuration and operation of the correction liquid application mechanism included in the fine pattern correction apparatus according to Embodiment 3 of the present invention. FIG.

도 7은 종래의 수정액 도포 기구의 구성을 도시한 도면.7 is a diagram showing the configuration of a conventional correction liquid application mechanism.

(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명)(Explanation of symbols for the main parts of the drawing)

1 : 피수정 대상 기판 2 : 관찰 광학계DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate to be edited 2: Observation optical system

3 : 레이저 장치 4 : 수정액 도포 기구3: laser device 4: correction liquid application mechanism

5 : 경화 광원 6 : Z스테이지5: curing light source 6: Z stage

7 : X스테이지 8 : Y스테이지7: X stage 8: Y stage

9 : 제어부 10 : 조작부9 control unit 10 control panel

11, 21, 25, 71 : 도포침 12, 27, 30, 31, 72 : 액추에이터11, 21, 25, 71: coating needles 12, 27, 30, 31, 72: actuator

13, 33 : 리니어 가이드 14, 73 : 도포 팔레트13, 33: linear guide 14, 73: application palette

15, 75 : 수정액 탱크 16, 76 : 세척 유닛15, 75: correction liquid tank 16, 76: cleaning unit

17, 77 : 건조 유닛 18, 78 : 노치부17, 77: drying unit 18, 78: notch portion

19, 74 : 모터 20 : 대물 렌즈19, 74: motor 20: objective lens

26 : 부착부 32 : 실린더26: attachment portion 32: cylinder

34 : 도포침 베이스 35 : 후크34: coating base 35: hook

36 : 핀36: pin

기술분야Technical Field

본 발명은 미세 패턴 수정 장치에 관한 것으로서, 특히, 기판상에 형성된 미세 패턴의 결함을 수정하는 미세 패턴 수정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a fine pattern correction apparatus, and more particularly, to a fine pattern correction apparatus for correcting a defect of a fine pattern formed on a substrate.

종래기술Prior art

종래부터, 액정 표시 장치(LCD)의 전극이 결여된 전극 결함(오픈 결함)이나, 액정의 컬러 필터의 색 빠짐 부분에 바늘에 의해 수정액을 도포하여 수정하는 미세 패턴 수정 장치가 공지되어 있다. 이 미세 패턴 수정 장치에서는, 관찰 광학계 및 수정액 도포 기구를 포함하는 수정 헤드와 기판을 XYZ방향으로 상대적으로 이동시키면서 기판 표면을 관찰하여 결함의 위치를 특정하고, 특정한 결함의 위치에 바늘 이 오도록 수정 헤드를 이동시키고, 바늘 선단이 기판에 접촉할 때까지 바늘을 수직으로 강하시켜서, 바늘 선단에 부착시킨 수정액을 결함에 도포한다.Background Art Conventionally, fine pattern correction apparatuses are known in which an electrode defect (open defect) lacking an electrode of a liquid crystal display device (LCD) or a correction liquid is applied by a needle to a color dropout portion of a color filter of a liquid crystal. In this fine pattern correction apparatus, the crystal head including the observation optical system and the correction liquid application mechanism and the substrate are observed while observing the surface of the substrate while relatively moving in the XYZ direction, and the crystal head is positioned so that the needle is located at the specific defect position. Is moved, the needle is lowered vertically until the needle tip contacts the substrate, and the correction liquid attached to the needle tip is applied to the defect.

도 7은, 그러한 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구(70)를 도시한 도면이다. 도 7에 있어서, 이 수정액 도포 기구(70)에서는, 도포침(71)이 액추에이터(72)에 의해 수직 방향으로 이동 가능하게 마련됨과 함께, 도포 팔레트(73)가 모터(74)에 의해 수평면 내에서 회전 가능하게 마련되어 있다. 도포 팔레트(73)상에는, 서로 다른 종류의 수정액이 주입된 복수의 수정액 탱크(75)와, 세척 유닛(76)과, 건조 유닛(77)이 마련되어 있다. 원형의 도포 팔레트(73)의 일부에는, 도포침(71)을 통과시키기 위한 노치부(78)가 마련되어 있다.FIG. 7: is a figure which shows the correction liquid application | coating mechanism 70 contained in such a fine pattern correction apparatus. In FIG. 7, in the correction liquid application mechanism 70, the application needle 71 is provided to be movable in the vertical direction by the actuator 72, and the application pallet 73 is in the horizontal plane by the motor 74. It is rotatably provided in. On the application | coating pallet 73, the some correction liquid tank 75, the washing unit 76, and the drying unit 77 in which the different types of correction liquid were injected are provided. A part of the circular application palette 73 is provided with a cutout 78 for allowing the application needle 71 to pass therethrough.

결함을 수정할 때는, 도포 팔레트(73)가 회전되어 소망하는 수정액 탱크(75)가 도포침(71)의 아래로 이동되고, 액추에이터(72)에 의해 도포침(71)이 상하 이동되어, 도포침(71)의 선단에 소망하는 수정액이 부착된다. 다음에, 도포 팔레트(73)가 회전되어 도포 팔레트(73)의 노치부(78)가 도포침(71)의 아래로 이동되고, 액추에이터(72)에 의해 도포침(71)이 상하 이동되고, 도포침(71)의 선단이 기판(도시 생략)의 결함부에 접촉되고, 수정액이 결함부에 도포된다.When correcting a defect, the application palette 73 is rotated so that the desired correction liquid tank 75 is moved below the application needle 71, and the application needle 71 is moved up and down by the actuator 72, thereby applying the application needle. A desired correction liquid is attached to the tip of (71). Next, the application palette 73 is rotated so that the notch portion 78 of the application palette 73 is moved below the application needle 71, and the application needle 71 is moved up and down by the actuator 72. The tip of the coating needle 71 contacts the defect portion of the substrate (not shown), and the correction liquid is applied to the defect portion.

수정액의 도포 후는, 세척 유닛(76)이 도포침(71)의 아래로 이동되어 도포침(71)이 세척 유닛(76) 내로 삽입되고, 세척액에 의해 도포침(71)으로부터 불필요한 수정액이 제거된다. 그 후, 건조 유닛(77)이 도포침(71)의 아래로 이동되고, 도포침(71)이 건조 유닛(77) 내로 삽입되어 건조된다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).After application of the correction liquid, the washing unit 76 is moved below the coating needle 71 so that the coating needle 71 is inserted into the cleaning unit 76, and the unnecessary correction liquid is removed from the coating needle 71 by the washing liquid. do. Thereafter, the drying unit 77 is moved below the coating needle 71, and the coating needle 71 is inserted into the drying unit 77 and dried (see Patent Document 1, for example).

또한, 직사각형의 도포 팔레트상에 수정액 탱크 등을 일렬로 배치하고, 액추 에이터에 의해 도포 팔레트를 도포침의 아래로 왕복이동시키는 것도 있다(예를 들면, 특허 문헌 2 참조).Moreover, some correction liquid tanks etc. are arrange | positioned in a row on a rectangular application | coating pallet, and an actuator may reciprocate the application | coating pallet below a coating needle (for example, refer patent document 2).

[특허 문헌 1] 특개2002-333725호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-333725

[특허 문헌 2] 특개2000-55615호 공보[Patent Document 2] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-55615

그러나, 종래의 미세 패턴 수정 장치에서는, 관찰 광학계의 광축과 도포침(71)의 선단과의 거리는, 각각의 기하학적 형상의 제약을 받는다. 특히 관찰 광학계가 대물 렌즈를 교환하기 위한 리볼버를 포함하는 경우에는, 리볼버에 부착한 대물 렌즈 경통(鏡筒)의 회전 범위의 외측에 도포침(71)을 배치할 필요가 있기 때문에, 관찰 광학계의 광축과 도포침(71)의 선단과의 거리가 길어진다.However, in the conventional fine pattern correction apparatus, the distance between the optical axis of the observation optical system and the tip of the coating needle 71 is limited by the respective geometric shapes. In particular, when the observation optical system includes a revolver for exchanging the objective lens, the application needle 71 needs to be disposed outside the rotation range of the objective lens barrel attached to the revolver, so that the observation optical system The distance between the optical axis and the tip of the coating needle 71 becomes long.

결함을 관찰 광학계에 의해 관찰하고, 그 관찰 결과에 의해 도포 위치를 특정한 후, 도포 동작시에는, 도포침(71)의 선단 위치를 특정된 도포 위치에 일치시키기 위해 수정 헤드를 관찰 위치로부터 도포 위치로 이동시킨다. 이때, 중량이 있는 수정 헤드 전체를 긴 거리에 걸쳐서 이동시킬 필요가 있고, 시간이 걸린다.After observing a defect with an observation optical system and specifying the application position by the observation result, in the application | coating operation, a correction head is applied from an observation position in order to match the tip position of the application | coating needle 71 to the application | coated position specified. Move to. At this time, it is necessary to move the entire weighted quartz head over a long distance, which takes time.

또한, 기판 사이즈의 확대에 수반하여 XYZ스테이지가 대형화하였기 때문에, 수정 헤드의 이동에 수반하는 중심 위치의 변화나 온도 변화에 의한 스테이지의 변형량이 커지고, 기판상의 결함의 위치에 따라 위치 결정 오차가 크게 흐트러진다. 이 때문에, 관찰 광학계에서 지정한 위치에 대한 실제의 도포 위치의 오차가 커진다.In addition, since the size of the XYZ stage increases with the expansion of the substrate size, the amount of deformation of the stage due to the change in the center position or the temperature change accompanying the movement of the crystal head increases, and the positioning error is large depending on the position of the defect on the substrate. Distract For this reason, the error of the actual application | coating position with respect to the position designated by the observation optical system becomes large.

그래서, 본 발명의 주된 목적은, 관찰 위치로부터 도포 위치까지의 거리가 작은 미세 패턴 수정 장치를 제공하는 것이다.Therefore, the main object of the present invention is to provide a fine pattern correction apparatus having a small distance from the observation position to the application position.

본 발명에 관한 미세 패턴 수정 장치는, 기판상에 형성된 미세 패턴의 결함을 수정하는 미세 패턴 수정 장치로서, 결함을 관찰하는 관찰 광학계와, 수정액을 결함에 도포하는 수정액 도포 기구를 포함하는 수정 헤드, 기판에 평행한 XY평면 내에서 수정 헤드와 기판을 상대적으로 위치 결정하는 XY스테이지와, 기판에 수직인 Z방향에서 수정 헤드와 기판을 상대적으로 위치 결정하는 Z스테이지를 구비한 것이다. 여기서, 수정액 도포 기구는, 그 선단에 부착한 수정액을 결함에 부착시키기 위한 도포침과, 관찰 광학계의 시야 외의 소정 위치에 마련되고, 수정액을 보존하는 도포 팔레트와, 도포침을 XY평면 내에서 이동시킴과 함께 Z방향으로 이동시키고, 관찰 광학계의 시야 내 또는 그 부근의 도포 대기 위치와 도포 팔레트 부근의 준비 위치중 어느 하나의 위치에 도포침을 위치시키는 액추에이터를 포함하는 것을 특징으로 한다. The fine pattern correction apparatus which concerns on this invention is a fine pattern correction apparatus which correct | amends the defect of the micropattern formed on the board | substrate, The correction head which contains the observation optical system which observes a defect, and the correction liquid application | coating mechanism which apply | coats a correction liquid to a defect, An XY stage for relatively positioning the crystal head and the substrate in an XY plane parallel to the substrate, and a Z stage for relatively positioning the crystal head and the substrate in the Z direction perpendicular to the substrate. Here, the correction liquid applying mechanism is provided at a predetermined position outside the field of view of the observation optical system, the coating needle for attaching the correction liquid attached to the tip thereof to a defect, and the coating palette for storing the correction liquid, and the application needle within the XY plane. And an actuator which moves in the Z direction with the application and positions the coating needle at any one of an application standby position in or near the field of view of the observation optical system and a preparation position near the application palette.

바람직하게는, 액추에이터는, Z방향에 대해 소정의 각도만큼 경사시켜서 마련된 직동(直動) 액추에이터이다.Preferably, the actuator is a linear actuator provided by tilting the Z-direction by a predetermined angle.

또한 바람직하게는, 액추에이터는, 도포침의 Z방향의 직동 위치 결정과, XY평면 내에서의 회전 위치 결정을 행하는 직동-회전 액추에이터이다. Also preferably, the actuator is a linear-rotating actuator that performs linear positioning in the Z-direction of the coating needle and rotational positioning in the XY plane.

또한 바람직하게는, 액추에이터는, 도포침의 Z방향의 직동 위치 결정과, XY평면 내에서의 소정 방향에서의 직동 위치 결정을 행하는 2자유도의 직동 액추에이터이다. Also preferably, the actuator is a two degree of freedom linear actuator that performs linear positioning in the Z direction of the coating needle and linear positioning in a predetermined direction within the XY plane.

또한 바람직하게는, 도포침은, 적어도 선단 부분은 기판에 대해 거의 수직으 로 마련되고, 수정액 도포 기구는, 또한 도포침과 액추에이터의 사이에 마련되고, 도포침을 Z방향으로 이동 자유롭게 지지하는 리니어 가이드를 포함한다.Also preferably, at least the tip portion of the applicator is provided substantially perpendicular to the substrate, and the correction liquid application mechanism is further provided between the applicator and the actuator and linearly supports the applicator freely in the Z direction. Includes a guide.

본 발명에 관한 미세 패턴 수정 장치에서는, 액추에이터에 의해 도포침을 기판과 수직 방향 및 수평 방향으로 이동시킴에 의해, 도포침의 바늘 끝을 관찰 광학계의 시야 내 또는 그 부근에 위치시킬 수 있다. 따라서 관찰 광학계에 의해 도포 위치를 특정하는 상태로부터, 도포를 행하는 위치로 XY스테이지를 이동시키는 거리가, 종래에 비하여 현저하게 작아진다. 따라서, 대형 기판에 대응할 수 있는 대형 XY스테이지를 구비한 경우에도, 도포 위치의 오차를 작게 할 수 있다. 또한, 도포침을 이동시키는 액추에이터는, XY스테이지보다도 고속으로 구동할 수 있기 때문에, 도포에 요하는 시간을 단축할 수 있다.In the fine pattern correction apparatus according to the present invention, the needle tip of the coating needle can be positioned in or near the field of view of the observation optical system by moving the coating needle in the vertical and horizontal directions with the substrate by the actuator. Therefore, the distance which moves an XY stage from the state which specifies the application | coating position with an observation optical system to the application | coating position becomes remarkably small compared with the past. Therefore, even when the large XY stage which can respond to a large substrate is provided, the error of an application | coating position can be made small. In addition, the actuator for moving the coating needle can be driven at a higher speed than the XY stage, so that the time required for coating can be shortened.

[실시의 형태 1] Embodiment 1

도 1은, 본 발명의 실시 형태 1에 의한 미세 패턴 수정 장치의 전체 구성을 도시한 외관이다. 도 1에서, 이 미세 패턴 수정 장치는, 피수정 대상 기판(1)의 표면에 형성된 미세 패턴의 결함부를 관찰하기 위한 관찰 광학계(2)와, 미세 패턴의 이물(異物) 결함을 제거하는 레이저 장치(3)와, 결함부에 수정액을 도포하기 위한 수정액 도포 기구(4)와, 도포한 수정액을 광경화 또는 열경화시키기 위한 경화 광원(5)을 구비한다.FIG. 1: is an external appearance which shows the whole structure of the fine pattern correction apparatus by Embodiment 1 of this invention. In FIG. 1, the fine pattern correction apparatus includes an observation optical system 2 for observing a defective portion of a fine pattern formed on the surface of the substrate to be etched 1, and a laser device for removing foreign matter defects of the fine pattern. (3), a correction liquid application mechanism 4 for applying the correction liquid to the defect portion, and a curing light source 5 for photocuring or thermosetting the applied correction liquid.

관찰 광학계(2)는, 복수의 대물 렌즈와 그들중 어느 하나를 선택하는 리볼버를 포함하는 현미경과, CCD 카메라로 이루어진다. 관찰 광학계(2)는, 레이저 장치 (3)의 광학계를 겸한다. 관찰 광학계(2), 레이저 장치(3), 수정액 도포 기구(4) 및 경화 광원(5)은 수정 헤드를 구성한다.The observation optical system 2 comprises a microscope including a plurality of objective lenses and a revolver for selecting any of them, and a CCD camera. The observation optical system 2 also serves as the optical system of the laser device 3. The observation optical system 2, the laser apparatus 3, the correction liquid application | coating mechanism 4, and the hardening light source 5 comprise a crystal head.

또한, 이 미세 패턴 수정 장치는, 상기 수정 헤드를 탑재하고 Z방향으로 이동 가능한 Z스테이지(6)와, 이 Z스테이지(6)를 탑재하고 X방향으로 이동 가능한 X스테이지(7)와, 피수정 대상 기판(1)을 탑재하고 Y방향으로 이동 가능한 Y스테이지(8)와, 미세 패턴 수정 장치 전체를 제어하는 제어부(9)와, 유저 인터페이스로 이루어지는 조작부(10)를 구비한다.In addition, the fine pattern correction apparatus includes a Z stage (6) mounted with the correction head and movable in the Z direction, an X stage (7) mounted with the Z stage (6) and movable in the X direction; The Y stage 8 which mounts the target board | substrate 1, and is movable to a Y direction, the control part 9 which controls the whole fine pattern correction apparatus, and the operation part 10 which consists of a user interface are provided.

Z스테이지(6)는, 피수정 대상 기판(1)에 수직인 Z방향에서 기판(1)과 수정 헤드의 상대 위치 결정을 행함에 의해, 관찰 광학계(2)의 초점 조정을 행하거나, 도포 위치에 위치 결정된 도포침을 강하시키고, 그 선단을 기판(1)에 접촉시키기 위해 사용된다. X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)는, 피수정 대상 기판(1)에 평행한 XY평면 내에서, 기판(1)과 수정 헤드의 상대 위치 결정을 행하기 위해 사용된다. 제어부(9)는, 조작부(10)로부터의 지령 신호에 의거하여, 미세 패턴 수정 장치 전체에 제어 신호를 보낸다. 조작부(10)는, CCD 카메라로 촬영된 화상의 표시 장치, 좌표 입력 장치, 각종 동작의 지시 장치 등으로 이루어진다.The Z stage 6 performs the relative adjustment of the observation optical system 2 or the application position by performing relative positioning of the substrate 1 and the quartz head in the Z direction perpendicular to the substrate to be modified 1. It is used to lower the coating needle positioned at and to contact the tip with the substrate 1. The X stage 7 and the Y stage 8 are used to perform relative positioning of the substrate 1 and the quartz head in an XY plane parallel to the substrate to be modified 1. The control part 9 sends a control signal to the whole fine pattern correction apparatus based on the command signal from the operation part 10. The operation unit 10 includes a display device for an image photographed by a CCD camera, a coordinate input device, an instruction device for various operations, and the like.

도 2(a) (b)는, 이 미세 패턴 수정 장치의 특징이 되는 수정액 도포 기구(4)의 구성 및 동작을 도시한 도면이다. 도 2(a) (b)에 있어서, 수정액 도포 기구(4)는, 도포침(11)과, 직동 액추에이터(12)와, 리니어 가이드(13)와, 수정액 탱크(15) 등이 탑재된 도포 팔레트(14)를 포함한다.FIG.2 (a) (b) is a figure which shows the structure and operation | movement of the correction liquid application | coating mechanism 4 which is the characteristic of this fine pattern correction apparatus. In FIG.2 (a) (b), the correction liquid application | coating mechanism 4 is application | coating in which the coating needle 11, the linear actuator 12, the linear guide 13, the correction liquid tank 15, etc. were mounted. A pallet 14.

도포침(11)은, 그 선단에 수정액을 부착시키고, 결함부에 전사하여 도포하는 것이다. 도포침(11)의 선단부는, 선단을 향하여 가늘어지는 테이퍼부와, 테이퍼부의 선단에 마련한 중심축에 수직인 평탄면으로 이루어진다. 도포침(11)은, 그 선단부의 중심축이 피수정 대상 기판(1)에 수직이 되도록 절곡되고, 그 기단부는 리니어 가이드(13)를 통하여 액추에이터(12)의 구동축의 선단에 지지된다. 도포침(11)은, 리니어 가이드(13)에 의해, 기판(1)에 수직 방향으로 소정 거리만큼 이동 자유롭게 지지된다.The coating needle 11 adhere | attaches a correction liquid to the front-end | tip, transfers a defect part, and apply | coats. The distal end of the coating needle 11 is composed of a tapered portion tapering toward the distal end and a flat surface perpendicular to the central axis provided at the distal end of the tapered portion. The coating needle 11 is bent so that the center axis of the distal end portion thereof may be perpendicular to the substrate to be modified 1, and the proximal end thereof is supported at the distal end of the drive shaft of the actuator 12 via the linear guide 13. The coating needle 11 is freely supported by the linear guide 13 by a predetermined distance in the direction perpendicular to the substrate 1.

직동 액추에이터(12)는, 기판(1)에 대해 경사의 방향 즉 기판(1)에 대해 수직 방향 및 평행한 방향으로 도포침(11)을 이동시키고, 도 2(a)로 도시된 도포 대기 위치와, 도 2(b)로 도시된 준비 위치의 2개소에서 정지시킨다. 도포 대기 위치는, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)의 시야의 부근 또는 시야 내의 거의 중앙에서, 도포침(11)의 선단이 기판(1)의 약간 상방에서, 기판(1)에 접촉하지 않는 위치로 한다. 또한, 준비 위치는, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)의 시야 외에서, 도포 팔레트(14)상의 수정액 탱크(15) 등의 각각에 도포침(11)을 삽입 가능한 위치로 한다.The linear actuator 12 moves the coating needle 11 in a direction inclined with respect to the substrate 1, that is, in a direction perpendicular to and parallel to the substrate 1, and the coating standby position shown in Fig. 2A. And it stops in two places of the preparation position shown by FIG.2 (b). The application | coating waiting position contacts the board | substrate 1 with the front-end | tip of the coating needle 11 slightly upward of the board | substrate 1 in the vicinity of the visual field of the objective lens 20 of the observation optical system 2, or near the center of the visual field. We do not take position. In addition, the preparation position is made into the position which can insert the coating needle 11 in each of correction liquid tanks 15 etc. on the application | coating palette 14 outside the visual field of the objective lens 20 of the observation optical system 2.

다음에, 이 미세 패턴 수정 장치의 동작에 관해 설명한다. 초기 상태에서는, 직동 액추에이터(12)의 구동축을 줄여서 도포침(11)을 도포 준비 위치에 유지한다. 이때, 도포침(11) 등은 관찰 광학계(2)로부터 충분히 떨어진 위치에 있고, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)의 교환등(리볼버의 회전)의 동작을 지장없이 행할 수 있다. Next, the operation of this fine pattern correction apparatus will be described. In the initial state, the drive shaft of the linear actuator 12 is reduced to hold the coating needle 11 at the coating preparation position. At this time, the coating needle 11 and the like are positioned at a sufficient distance from the observation optical system 2, and the operation of replacing the objective lens 20 of the observation optical system 2 (rotation of the revolver) can be performed without interruption.

계속해서, X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)에 의해 수정 헤드와 기판(1)의 상 대 위치를 이동하고, 미세 패턴의 결함부를 관찰 광학계(2)의 시야의 거의 중앙에 위치시켜, 도포 위치를 특정한다. 도포 위치의 특정은, 예를 들면 CCD 카메라로 파악한 결함부의 화상을 표시 장치의 화면에 표시하고, 마우스 등의 좌표 입력 장치를 이용하여 화면상에서 도포 위치를 지정함에 의해 행할 수 있다.Subsequently, the relative positions of the crystal head and the substrate 1 are moved by the X stage 7 and the Y stage 8, and the defect portion of the fine pattern is positioned almost at the center of the field of view of the observation optical system 2, The application position is specified. The application position can be specified by, for example, displaying an image of the defect portion captured by the CCD camera on the screen of the display device, and designating the application position on the screen using a coordinate input device such as a mouse.

다음에, 직동 액추에이터(12)의 구동축을 늘리고, 도포침(11)을 도포 대기 위치로 이동하여 그 위치에 유지한다. 이어서, 미리 제어부(9)에 기억시킨, 관찰 광학계(2)의 시야의 좌표 원점과 도포 대기 위치에서의 바늘 끝의 위치 관계와, 특정된 도포 위치의 좌표에 의거하여, 도포 대기 위치에서의 바늘 끝과 특정된 도포 위치가 일치하도록, X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)를 이동시킨다.Next, the drive shaft of the linear actuator 12 is extended, and the coating needle 11 is moved to the coating standby position and held there. Subsequently, the needle at the coating standby position based on the coordinate relationship origin of the field of view of the observation optical system 2 and the position of the needle tip at the coating standby position and the coordinates of the specified coating position, which were previously stored in the control unit 9. The X stage 7 and the Y stage 8 are moved so that the tip and the specified application position coincide.

이때, 도포침(11)은 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)의 시야 내에 위치하고 있기 때문에, 관찰 광학계(2)에 의한 도포 위치의 특정으로부터 도포 동작으로 이전할 때의 X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)의 이동 거리는, 현미경 시야의 범위에 그친다. 이 때문에, 종래에 비하여 X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)의 이동 거리는 매우 작아도 되고, 도포 동작에 요하는 시간을 단축할 수 있고, 또한, 실제로 수정액이 도포되는 위치의 정밀도를 향상시킬 수 있다.At this time, since the coating needle 11 is located within the field of view of the objective lens 20 of the observation optical system 2, the X stage 7 when transferring from the specification of the application position by the observation optical system 2 to the application operation. And the movement distance of the Y stage 8 is only the range of a microscope visual field. For this reason, compared with the prior art, the movement distance of the X stage 7 and the Y stage 8 may be very small, the time required for an application | coating operation can be shortened, and the precision of the position where a correction liquid is apply | coated actually can be improved. have.

다음에, Z스테이지(6)를, 미리 제어부(9)에 기억시킨 도포시 Z 이동량만큼, 기판(1)에 접근하는 방향으로 이동시킴에 의해, 도포침(11)의 선단의 평탄면을 도포 위치에 접촉시키고, 평탄면에 부착한 수정액을 도포 위치에 전사한다.Next, the flat surface at the tip of the coating needle 11 is applied by moving the Z stage 6 in the direction of approaching the substrate 1 by the amount of the Z movement amount which is previously stored in the control unit 9. It is brought into contact with the position, and the correction liquid attached to the flat surface is transferred to the application position.

이때, 도포침(11)의 선단부가 기판(1)에 대해 거의 수직(도포침(11)의 선단의 평탄면이 기판(1)에 대해 거의 평행)이 되도록 도포침(11)을 고정하고 있기 때 문에, 평탄면의 거의 전면(全面)이 기판(1)과 접촉한다. 또한, 도포침(11)은 리니어 가이드(13)에 의해 기판(1)에 대해 수직 방향으로 이동 자유롭게 지지되어 있기 때문에, 도포침(11)의 선단이 기판(1)에 접촉한 상태에서 다시 Z스테이지(6)가 기판(1)에 접근하는 방향으로 이동하여도, 바늘 끝에 가해지는 하중은 일정한다. 또한, 도포침(11)의 선단을 기판(1)의 도포 위치에 접촉시키는 동작을 고정밀도의 Z스테이지(6)에 의해 행하기 때문에, 도포침(11)이 기판(1)에 접촉할 때의 자세나 속도를 재현성 좋게 제어할 수 있다. 이와 같이 하여, 안정된 도포가 가능하다.At this time, the tip of the coating needle 11 is fixed so that the tip of the coating needle 11 is substantially perpendicular to the substrate 1 (the flat surface of the tip of the coating needle 11 is almost parallel to the substrate 1). For this reason, almost the entire surface of the flat surface is in contact with the substrate 1. In addition, since the coating needle 11 is freely supported by the linear guide 13 in the vertical direction with respect to the board | substrate 1, Z in the state which the front-end | tip of the coating needle 11 contacted the board | substrate 1 again is carried out. Even if the stage 6 moves in the direction approaching the substrate 1, the load applied to the needle tip is constant. Moreover, since the operation | movement which makes the tip of the coating needle 11 contact the application | coating position of the board | substrate 1 is performed by the Z stage 6 of high precision, when the coating needle 11 contacts the board | substrate 1, It is possible to control the posture and speed of reproducibly well. In this way, stable application is possible.

도포 종료 후는, Z스테이지(6)는 원래의 위치로 상승하고, 도포침(11)은 액추에이터(12)의 동작에 의해, 준비 위치로 되돌아온다. 준비 위치에서, 다시 액추에이터(12)와 도포 팔레트(14)를 동작시킴에 의해, 바늘 끝의 세척, 건조를 행할 수 있다. 또한, 준비 위치에서 대기하는 동안은, 바늘 끝을 수정액 탱크(15) 내의 수정액에 담근 상태라도 좋다. 이 경우, 도포침(11)의 선단에 건조한 수정액이 고착되는 것을 막을 수 있다.After the application is completed, the Z stage 6 is raised to the original position, and the coating needle 11 is returned to the ready position by the operation of the actuator 12. In the preparation position, the needle tip can be washed and dried by operating the actuator 12 and the application palette 14 again. In addition, while waiting in the preparation position, the needle tip may be soaked in the correction liquid in the correction liquid tank 15. In this case, it is possible to prevent the fixed correction liquid from sticking to the tip of the coating needle 11.

이와 같이, 대물 렌즈(20)와 기판(1)의 간격이 작은 경우는, 도포침(11)의 선단부를 절곡한 형상으로 함에 의해, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)의 시야 내에 도포침(1)의 선단을 위치 결정할 수 있다. 한편, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20)와 기판(1)의 간격이 넓은 경우는, 도 3(a) (b)에 도시한 바와 같이, 곧은 도포침(21)을 기판(1)에 대해 수직 방향으로 리니어 가이드(13)에 부착할 수 있다.In this way, when the distance between the objective lens 20 and the substrate 1 is small, the tip portion of the coating needle 11 is bent to apply the coating within the field of view of the objective lens 20 of the observation optical system 2. The tip of the needle 1 can be positioned. On the other hand, when the distance between the objective lens 20 and the board | substrate 1 of the observation optical system 2 is large, as shown in FIG.3 (a) (b), the straight coating needle 21 is attached to the board | substrate 1 It can be attached to the linear guide 13 in a direction perpendicular to the.

또한, 도포 팔레트(14)상에는, 복수의 수정액 탱크(15)와, 세척 유닛(16)과, 건조 유닛(17)이 마련되고, 도포 팔레트(14)에는 직동 액추에이터(12)를 통과시키 기 위한 노치부(18)가 형성되어 있다. 도포 팔레트(14)는 모터(19)에 의해 회전된다. 도포 팔레트(14)에 노치부(18)를 마련하였기 때문에, 도포침(21)을 도포 팔레트(14)의 상측의 준비 위치로부터 도포 팔레트(14)의 하측의 도포 대기 위치로 이동시킬 수 있다. 도 3(a)는 도포 대기 위치의 상태를 도시하고, 도 3(b)는 준비 위치의 상태를 도시한다.In addition, a plurality of correction liquid tanks 15, a washing unit 16, and a drying unit 17 are provided on the application palette 14, and the application palette 14 allows the linear actuator 12 to pass therethrough. The notch part 18 is formed. The application palette 14 is rotated by the motor 19. Since the notch part 18 was provided in the application | coating pallet 14, the application | coating needle 21 can be moved from the preparation position of the upper side of the application | coating pallet 14 to the application | coating waiting position below the application | coating pallet 14. Fig. 3 (a) shows the state of the coating standby position, and Fig. 3 (b) shows the state of the preparation position.

준비 위치에서는, 도포침(21)이 도포 팔레트(14)상의 수정액 탱크(15), 세척 유닛(16), 건조 유닛(17)과 간섭하지 않는 위치까지 도포침(21)을 상승시키고, 도포 팔레트(14)를 모터(19)에 의해 소정의 위치로 회전시켜 정지하고, 다음에 도포침(21)을 소정의 거리만큼 강하시킴에 의해, 도포침(21)의 선단을 수정액 탱크(15)에 삽입하여 수정액을 부착시킬 수 있다. 마찬가지로 하여 세척 유닛(16)이나 건조 유닛(17)에 의해 도포침(21)의 선단부의 세척, 건조의 작업을 행할 수 있다.At the preparation position, the application needle 21 is raised to the position where the application needle 21 does not interfere with the correction liquid tank 15, the cleaning unit 16, and the drying unit 17 on the application palette 14, and the application palette. The tip of the coating needle 21 is fixed to the correction liquid tank 15 by rotating 14 to a predetermined position by the motor 19 and stopping, and then lowering the coating needle 21 by a predetermined distance. The correction liquid can be attached by inserting. In the same manner, the washing unit 16 and the drying unit 17 can wash and dry the tip end portion of the coating needle 21.

또한, 대물 렌즈(20)의 초점 거리가 짧고, 도포침(21)의 도포 대기 위치를 대물 렌즈(20)의 하측에 설정할 수 없는 경우는, 도 4에 도시한 바와 같이, 도포침(21)의 도포 대기 위치를 대물 렌즈(20)의 측면의 부근에 설정하여도 좋다. 이 경우에도, 도포침(21)을 기판(1)과 수평 방향으로 이동시킴에 의해, 도포침(21)의 도포 대기 위치를 리볼버의 회전 범위 내에 설정한 것이 가능해지고, 관찰 및 도포 위치의 특정부터 도포 동작으로 옮길 때의 X스테이지(7) 및 Y스테이지(8)의 이동 거리를 종래에 비하여 대폭적으로 감소시킬 수 있고, 도포 시간의 단축화, 도포 위치 정밀도 향상을 도모할 수 있다.In addition, when the focal length of the objective lens 20 is short and the application | coating waiting position of the application needle 21 cannot be set under the objective lens 20, as shown in FIG. 4, the application needle 21 is shown. May be set in the vicinity of the side surface of the objective lens 20. Also in this case, by moving the coating needle 21 in the horizontal direction with the substrate 1, it becomes possible to set the coating standby position of the coating needle 21 within the rotation range of the revolver, and to specify the observation and application position. The movement distance of the X stage 7 and the Y stage 8 at the time of transferring to the application | coating operation | movement can be reduced significantly compared with the former, and shortening of an application time and improving the application position precision can be aimed at.

[실시의 형태 2] [Embodiment 2]

도 5(a) (b)는, 본 발명의 실시의 형태 2에 의한 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구의 구성 및 동작을 도시한 도면으로서, 도 2(a) (b)와 대비되는 도면이다. 도 5(a) (b)에서, 이 수정액 도포 기구는, 도포침(25)과, 부착 부재(26)와, 직동-회전 액추에이터(27)와, 리니어 가이드(13)와, 수정액 탱크(15) 등이 탑재된 도포 팔레트(14)를 포함한다.5 (a) and 5 (b) are diagrams showing the configuration and operation of the correction liquid application mechanism included in the micropattern correction apparatus according to the second embodiment of the present invention, as compared with FIG. 2 (a) and (b). Drawing. In (a) and (b) of FIG. 5, the correction liquid application mechanism includes the application needle 25, the attachment member 26, the linear-rotating actuator 27, the linear guide 13, and the correction liquid tank 15. ) And a coating pallet 14 mounted thereon.

도포침(25)은, 그 선단에 수정액을 부착시키고, 결함부에 전사하여 도포하는 것이다. 도포침(25)의 선단부는, 선단을 향하여 가늘어지는 테이퍼부와, 테이퍼부의 선단에 마련한 중심축에 수직인 평탄면으로 이루어진다. 도포침(25)은, 그 중심축이 피수정 대상 기판(1)에 수직이 되도록, 부착 부재(26) 및 리니어 가이드(13)를 통하여 액추에이터(27)의 구동축의 선단부 측면에 유지된다. 도 2의 수정액 도포 기구(4)에서는 절곡된 형상의 도포침(11)을 사용하였지만, 도 5의 수정액 도포 기구에서는 곧은 형상의 도포침(25)을 사용한다. 이로써, 도포침(25)의 재료로서 초경합금 등 내마모성에 우수하지만 절곡 가공이 곤란한 재료를 사용하는 것이 가능해지고, 내구성에 우수한 도포침(25)을 얻을 수 있다. 도포침(25)은, 리니어 가이드(13)에 의해, 기판(1)에 수직 방향으로 소정 거리만큼 이동 자유롭게 지지된다.The coating needle 25 adheres a correction liquid to the tip, transfers to a defect part, and apply | coats. The distal end of the coating needle 25 is composed of a tapered portion tapering toward the distal end and a flat surface perpendicular to the central axis provided at the distal end of the tapered portion. The coating needle 25 is held at the tip end side of the drive shaft of the actuator 27 via the attachment member 26 and the linear guide 13 so that the central axis thereof is perpendicular to the substrate to be modified. In the correction liquid application mechanism 4 of FIG. 2, a bent shape application needle 11 is used. In the correction liquid application mechanism of FIG. 5, a straight application needle 25 is used. Thereby, it is possible to use the material which is excellent in abrasion resistance, such as cemented carbide, but difficult to bend as a material of the coating needle 25, and the coating needle 25 excellent in durability can be obtained. The coating needle 25 is freely supported by the linear guide 13 by a predetermined distance in the direction perpendicular to the substrate 1.

직동-회전 액추에이터(27)는, 피수정 대상 기판(1)에 대해 개략 수직 방향의 직동 위치 결정과, 피수정 대상 기판(1)에 대해 평행한 면 내에서의 회전 방향의 위치 결정을 행할 수 있다. 직동-회전 액추에이터(27)는, 기판(1)에 대해 수직 방향 및 평행한 방향으로 도포침(25)을 이동시키고, 도 5(a)에 도시된 도포 대기 위 치와, 도 5(b)로 도시된 준비 위치의 2개소에서 정지시킨다. 도포 대기 위치는, 관찰 광학계(2)의 대물 렌즈(20) 시야의 부근 또는 시야 내의 거의 중앙이고, 도포침(25)의 선단이 기판(1)의 약간 상방이고, 기판(1)에 접촉하지 않는 위치로 한다. 또한, 준비 위치는, 도포 팔레트(14)상의 수정액 탱크(15) 등의 각각에 도포침(25)을 삽입 가능한 위치로 한다. 다른 구성 및 동작은, 실시의 형태 1과 같기 때문에, 그 설명은 반복하지 않는다.The linear motion-rotating actuator 27 can perform linear positioning in a substantially vertical direction with respect to the substrate to be modified 1, and positioning in a rotational direction within a plane parallel to the substrate to be edited 1. have. The linear-rotating actuator 27 moves the applicator 25 in the vertical direction and the parallel direction with respect to the substrate 1, and the application standby position shown in Fig. 5 (a) and Fig. 5 (b). It stops at two places of the preparation position shown by the mark. The application | coating waiting position is the vicinity of the visual field of the objective lens 20 of the observation optical system 2, or the center of the visual field, and the tip of the coating needle 25 is slightly above the board | substrate 1, and does not contact the board | substrate 1 Do not position. In addition, the preparation position is made into the position which can insert the coating needle 25 in each of correction liquid tank 15 on the application | coating pallet 14, etc. Since other configurations and operations are the same as those in the first embodiment, the description is not repeated.

이 실시의 형태 2에서도, 실시의 형태 1과 같은 효과를 얻을 수 있다.Also in the second embodiment, the same effect as in the first embodiment can be obtained.

[실시의 형태 3][Embodiment 3]

도 6(a) (b)는, 본 발명의 실시의 형태 3에 의한 미세 패턴 수정 장치에 포함되는 수정액 도포 기구의 구성 및 동작을 도시한 도면으로서, 도 2(a) (b)와 대비되는 도면이다. 도 6(a) (b)에서, 이 수정액 도포 기구는, 도포침(25)과, 2개의 직동 액추에이터(30, 31)와, 수정액 탱크(15) 등이 탑재된 도포 팔레트(14)를 포함한다. 6 (a) and 6 (b) are diagrams showing the configuration and operation of the correction liquid application mechanism included in the fine pattern correction apparatus according to Embodiment 3 of the present invention, as compared with FIG. 2 (a) and (b). Drawing. In Fig. 6 (a) and (b), the correction liquid application mechanism includes a coating needle 25, two linear actuators 30 and 31, and an application palette 14 on which the correction liquid tank 15 and the like are mounted. do.

직동 액추에이터(30)의 구동축은, 피수정 대상 기판(1)과 평행한 방향으로 동작한다. 직동 액추에이터(31)는, 직동 액추에이터(30)의 구동축의 선단에 마련되고, 에어 실린더(32), 리니너 가이드(33) 및 도포침 베이스(34)를 포함한다. 에어 실린더(32)에 의해, 도포침 베이스(34)는 피수정 대상 기판(1)과 수직 방향으로 동작한다. 도포침(25)은 피수정 대상 기판(1)에 대해 개략 수직이 되도록, 도포침 베이스(34)에 부착된다. 또한, 도포침(25)은 리니어 가이드(33)에 의해 기판(1)에 수직 방향으로 소정 거리만큼 이동 자유롭게 지지된다.The drive shaft of the linear actuator 30 operates in a direction parallel to the substrate to be modified 1. The linear actuator 31 is provided at the tip of the drive shaft of the linear actuator 30 and includes an air cylinder 32, a liner guide 33, and a coating needle base 34. By the air cylinder 32, the coating needle base 34 operates in a direction perpendicular to the substrate to be modified 1. The applicator 25 is attached to the applicator base 34 so as to be approximately perpendicular to the substrate to be edited. In addition, the coating needle 25 is freely supported by the linear guide 33 by a predetermined distance in the direction perpendicular to the substrate 1.

에어 실린더(32)는, 상승단(上昇端)과 하강단의 2점에서 정지할 수 있다. 도 6(a)에 도시한 도포 대기 위치에서는, 에어 실린더(32)는 하강단에서 정지하고, 에어 실린더(32)의 로드 선단에 마련한 후크(35)가 도포침 베이스(34)에 일체로 마련한 핀(36)에 접촉하여, 도포침(25)이 그 이상 하강하지 않도록 지지하고 있다. Z스테이지(6)가 기판(1)측으로 강하하여 도포침(25)의 선단이 기판(1)에 접촉하면, 그 이상 Z스테이지(6)가 강하한 경우에는 후크(35)가 핀(36)으로부터 떨어지고, 도포침(25)의 선단에는 도포침(25) 및 도포침 베이스(34)의 자중만이 가하여진다.The air cylinder 32 can stop at two points, a rising end and a falling end. In the application | coating waiting position shown to FIG. 6 (a), the air cylinder 32 stops at a lower end and the hook 35 provided in the rod tip of the air cylinder 32 was integrally provided in the coating needle base 34. As shown in FIG. In contact with the pin 36, the coating needle 25 is supported so that it may not fall further. When the Z stage 6 drops to the substrate 1 side and the tip of the coating needle 25 contacts the substrate 1, the hook 35 is the pin 36 when the Z stage 6 drops further. Apart from this, only the own weight of the coating needle 25 and the coating needle base 34 is applied to the tip of the coating needle 25.

도포 대기 위치로부터, 에어 실린더(32)를 상승단으로 이동시키고, 직동 액추에이터(30)에 의해 도포침(25)을 도면의 우측으로 이동시킴에 의해, 도 6(b)에 도시한 준비 위치에의 이동이 행하여진다. 이 위치에서 도포 팔레트(14)가 이동한 경우에, 도포침(25)의 선단이 도포 팔레트(14)상의 수정액 탱크(15) 등에 간섭하지 않도록, 에어 실린더(32)의 상승단의 위치가 설정된다. 또한, 직동 액추에이터(30)의 구동축의 정지 위치는, 도포 팔레트(14)를 회전시킴에 의해, 도포침(25)의 선단을 수정액 탱크(15) 등에 삽입할 수 있는 위치로 한다. 예를 들면 도포침(25)의 선단에 수정액을 부착시키는 경우에는, 도포 팔레트(14)를 이동시켜 수정액 탱크(15)를 도포침(25)의 아래쪽에 위치 결정하고, 에어 실린더(32)를 하강단으로 동작시킴에 의해, 도포침(25)이 수정액 탱크(15)의 안에 삽입된다. 다른 구성 및 동작은 실시의 형태 1과 같기 때문에, 그 설명은 반복하지 않는다.From the application standby position, the air cylinder 32 is moved to the rising end, and the application needle 25 is moved to the right side of the drawing by the linear actuator 30 to the ready position shown in Fig. 6B. Is moved. In the case where the application palette 14 is moved at this position, the position of the rising end of the air cylinder 32 is set so that the tip of the application needle 25 does not interfere with the correction liquid tank 15 or the like on the application palette 14. do. In addition, the stop position of the drive shaft of the linear actuator 30 is a position where the tip of the coating needle 25 can be inserted into the correction liquid tank 15 or the like by rotating the coating palette 14. For example, when the correction liquid is affixed to the tip of the coating needle 25, the application palette 14 is moved to position the correction liquid tank 15 under the coating needle 25, and the air cylinder 32 is moved. By operating in the lower end, the applicator 25 is inserted into the correction liquid tank 15. Since other configurations and operations are the same as those in the first embodiment, the description is not repeated.

실시의 형태 3에서도, 실시의 형태 1과 같은 효과를 얻을 수 있다.Also in Embodiment 3, the same effect as Embodiment 1 can be obtained.

또한, 실시의 형태 1과 같이, 비스듬하게 마련한 단일의 직동 액추에이터 (12)에 의해, 기판(1)에 대해 수평 방향 및 수직 방향의 이동을 시키는 경우에는, 액추에이터의 구성 및 제어가 간단하게 된다는 장점이 있다. 한편, 실시의 형태 2, 3과 같이 준비 위치로부터 도포 대기 위치까지 도포침(25)을 이동시키는 액추에이터를, 기판(1)에 대해 수직 방향과, 평행한 방향의 동작을 개별적으로 제어할 수 있도록 구성한 경우, 대물 렌즈(20)의 작동 거리가 길고 기판(1)과 대물 렌즈(20)의 거리를 충분히 취할 수 있는 경우는 대물 렌즈(20)의 하측의 관찰 시야 내에 도포 대기 위치를 설정하고, 대물 렌즈(20)의 작동 거리가 짧고 도포침(25)을 렌즈(20)의 하측에 넣을 수 없는 경우에는, 대물 렌즈(20)의 경통 부근에 도포 대기 위치를 설정한다는 식으로, 상황에 따라 최적의 도포 대기 위치를 설정할 수 있다는 장점이 있다.In addition, as in the first embodiment, when the single linear actuator 12 provided at an angle makes the horizontal and vertical directions move with respect to the substrate 1, the configuration and control of the actuator are simplified. There is this. On the other hand, as in the second and third embodiments, the actuator for moving the coating needle 25 from the ready position to the coating standby position can be individually controlled in the vertical direction and the parallel direction with respect to the substrate 1. In the case of the configuration, when the working distance of the objective lens 20 is long and the distance between the substrate 1 and the objective lens 20 can be sufficiently taken, the application standby position is set within the observation field under the objective lens 20. If the working distance of the objective lens 20 is short and the application needle 25 cannot be placed under the lens 20, the application standby position is set near the barrel of the objective lens 20 depending on the situation. There is an advantage that an optimal application waiting position can be set.

금회 개시된 실시의 형태는 모든 점에서 예시이고 제한적인 것이 아니라고 생각하여야 한다. 본 발명의 범위는 상기한 설명이 아니라 특허청구의 범위에 의해 나타나며, 특허청구의 범위와 균등한 의미 및 범위 내에서의 모든 변경이 포함되는 것이 의도된다.It should be thought that embodiment disclosed this time is an illustration and restrictive at no points. The scope of the present invention is shown by above-described not description but Claim, and it is intended that the meaning of a claim and equality and all the changes within a range are included.

본 발명에 관한 미세 패턴 수정 장치에서는, 액추에이터에 의해 도포침을 기판과 수직 방향 및 수평 방향으로 이동시킴에 의해, 도포침의 바늘 끝을 관찰 광학계의 시야 내 또는 그 부근에 위치시킬 수 있다. 따라서 관찰 광학계에 의해 도포 위치를 특정하는 상태로부터, 도포를 행하는 위치로 XY스테이지를 이동시키는 거리가, 종래에 비하여 현저하게 작아진다. 따라서, 대형 기판에 대응할 수 있는 대형 XY스테이지를 구비한 경우에도, 도포 위치의 오차를 작게 할 수 있다. 또한, 도포침을 이동시키는 액추에이터는, XY스테이지보다도 고속으로 구동할 수 있기 때문에, 도포에 요하는 시간을 단축할 수 있다.In the fine pattern correction apparatus according to the present invention, the needle tip of the coating needle can be positioned in or near the field of view of the observation optical system by moving the coating needle in the vertical and horizontal directions with the substrate by the actuator. Therefore, the distance which moves an XY stage from the state which specifies the application | coating position with an observation optical system to the application | coating position becomes remarkably small compared with the past. Therefore, even when the large XY stage which can respond to a large substrate is provided, the error of an application | coating position can be made small. In addition, the actuator for moving the coating needle can be driven at a higher speed than the XY stage, so that the time required for coating can be shortened.

Claims (5)

기판(1)상에 형성된 미세 패턴의 결함을 수정하는 미세 패턴 수정 장치로서, A fine pattern correction apparatus for correcting a defect of a fine pattern formed on the substrate 1, 상기 결함을 관찰하는 관찰 광학계(2)와, 수정액을 상기 결함에 도포하는 수정액 도포 기구(4)를 포함하는 수정 헤드(2 내지 5), Correction heads 2 to 5 including an observation optical system 2 for observing the defect and a correction liquid application mechanism 4 for applying the correction liquid to the defect, 상기 기판(1)에 평행한 XY평면 내에서 상기 수정 헤드(2 내지 5)와 상기 기판(1)을 상대적으로 위치 결정하는 XY스테이지(7, 8), 및 XY stages 7 and 8 for relatively positioning the quartz heads 2 to 5 and the substrate 1 in an XY plane parallel to the substrate 1, and 상기 기판(1)에 수직인 Z방향에서 상기 수정 헤드(2 내지 5)와 상기 기판(1)을 상대적으로 위치 결정하는 Z스테이지(6)를 구비하고, And a Z stage 6 for relatively positioning the quartz heads 2 to 5 and the substrate 1 in the Z direction perpendicular to the substrate 1, 상기 수정액 도포 기구(4)는, The correction liquid application mechanism 4, 그 선단에 부착한 상기 수정액을 상기 결함에 부착시키기 위한 도포침(11, 21, 또는 25), An applicator 11, 21, or 25 for attaching the correction liquid attached to the tip to the defect, 상기 관찰 광학계(2)의 시야 외의 소정 위치에 마련되고, 상기 수정액을 보존하는 도포 팔레트(14), 및 An application palette 14 provided at a predetermined position outside the field of view of the observation optical system 2, and storing the correction liquid, and 상기 도포침(11, 21, 또는 25)을 상기 XY평면 내에서 이동시킴과 함께 상기 Z방향으로 이동시키고, 상기 관찰 광학계(2)의 시야 내 또는 그 부근의 도포 대기 위치와 상기 도포 팔레트(14) 부근의 준비 위치중 어느 하나의 위치에 상기 도포침(11, 21, 또는 25)을 위치시키는 액추에이터(12; 27; 또는 30, 31)를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 패턴 수정 장치. The coating needles 11, 21, or 25 are moved in the Z direction while moving in the XY plane, and the coating standby position and the coating palette 14 in or near the field of view of the observation optical system 2. And an actuator (12; 27; or 30, 31) for positioning the applicator (11, 21, or 25) at any one of the ready positions in the vicinity of the < RTI ID = 0.0 > 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액추에이터(12)는, 상기 Z방향에 대해 소정의 각도만큼 경사시켜서 마련된 직동 액추에이터(12)인 것을 특징으로 하는 미세 패턴 수정 장치. The said actuator (12) is a fine pattern correction apparatus characterized by the above-mentioned linear actuator provided inclined by the predetermined angle with respect to the said Z direction. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액추에이터(27)는, 상기 도포침(25)의 상기 Z방향의 직동 위치 결정과, 상기 XY평면 내에서의 회전 위치 결정을 행하는 직동-회전 액추에이터(27)인 것을 특징으로 하는 미세 패턴 수정 장치. The actuator 27 is a linear pattern correcting device, which is a linear-rotating actuator 27 which performs linear positioning in the Z direction of the coating needle 25 and rotational positioning in the XY plane. . 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 액추에이터(30, 31)는, 상기 도포침(25)의 상기 Z방향의 직동 위치 결정과, 상기 XY평면 내에서의 소정의 방향에서의 직동 위치 결정을 행하는 2자유도의 직동 액추에이터(30, 31)인 것을 특징으로 하는 미세 패턴 수정 장치. The actuators 30 and 31 are two degree of freedom linear actuators 30 and 31 which perform linear positioning in the Z direction of the coating needle 25 and linear positioning in a predetermined direction in the XY plane. Fine pattern correction device, characterized in that). 제 1항 내지 제 4항중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 4, 상기 도포침(11, 21, 또는 25)은, 적어도 선단 부분은 상기 기판(1)에 대해 거의 수직으로 마련되고,The coating needles 11, 21, or 25, at least the tip portion thereof is provided substantially perpendicular to the substrate 1, 상기 수정액 도포 기구(14)는, 또한 상기 도포침(11, 21, 또는 25)과 상기 액추에이터(12; 27; 또는 30, 31)의 사이에 마련되고, 상기 도포침(11, 21, 또는 25)을 상기 Z방향으로 이동 자유롭게 지지하는 리니어 가이드(13, 33)를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 패턴 수정 장치.The correction liquid application mechanism 14 is further provided between the application needles 11, 21, or 25 and the actuators 12; 27; or 30, 31, and the application needles 11, 21, or 25. ) Is a fine pattern correction device, characterized in that it comprises a linear guide (13, 33) to move freely in the Z direction.
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