KR20050097927A - 재기록형 광학 기록 매체 - Google Patents

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KR20050097927A
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thickness
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KR1020057012391A
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러드 블루터스
빌헬무스 알. 콥페르스
피에르 에이치. 보에를레
쉬엔델 마르크 반
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코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
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Abstract

다수의 층으로 이루어진 제1 기록 스택을 갖는 기판을 구비하며, 상기 제1 기록 스택은 제1 유전체층과, 상변화 기록 재료를 포함하는 기록층과, 제2 유전체층과, 주 성분으로서 알루미늄을 포함하는 혼합물 또는 주 성분으로서 은을 포함하는 혼합물로 구성된 미러층을 상기 순서로 또는 역순으로 포함하는, 재기록형 광학 기록 매체에 있어서, 상기 제1 유전체층은 100nm 내지 200nm 범위의 두께 d1을 가지며, 상기 제2 유전체층은 하기의 관계 중 하나에 따른 두께 d2를 갖는 것을 특징으로 하는 재기록형 광학 기록 매체. 상기 미러층이 알루미늄을 포함하는 경우, 0.0225*d2 2-2.6572*d2+173.3(nm) < d1 < 0.0225*d2 2-2.6572*d2+213.3(nm), 상기 미러층이 은을 포함하는 경우, 0.0191*d2 2-2.0482*d2+149.6(nm) < d1 < 0.0191*d2 2-2.0482*d2+189.6(nm).

Description

재기록형 광학 기록 매체{REWRITABLE OPTICAL RECORD CARRIER}
본 발명은 다수 층의 기록 스택(IPIM)을 갖는 기판을 구비하는 재기록형 광학 기록 매체에 관한 것으로, 상기 기록 스택은 제1 유전체층(I1), 상변화 기록 재료(PC)를 갖는 기록층(P), 제2 유전체층(I2) 및 주 성분으로서 알루미늄을 포함하는 혼합물로 구성되거나 주 성분으로서 은을 포함하는 혼합물로 구성된 미러층(M)을 순차적으로 구비한다. 본 발명은 또한 상기 층을 역순으로 포함하는 기록 스택(MIPI)을 갖는 재기록형 광학 기록 매체에 관한 것이다.
CD-RW, DVD-RAM, DVD-RW 및 블루 레이 디스크(BD)와 같은 공지된 모든 기록형 광학 기록 매체에서, 상변화(PC) 기록층을 포함하는 기록 스택이 적용된다. PC층은 en개의 유전체 ZnS-SiO2 층 사이의 스택에 개재되는 것이 일반적이다. 소거 가능한 상변화 기록을 위한 선택 매체는 내구성이 있는 다결정 구조를 갖는 합금, 예를 들면 In, Ge, 및/또는 Ag로 구성된 합금 이외에 Sb 및 Te로 구성된 합금이다. 이러한 기록 스택의 한 면에는 미러층이 증착되며, 상기 미러층은 통상적으로 금, 알루미늄 또는 은과 같은 금속으로 제조되는 것이 일반적이다. 기록 스택은 폴리카보네이트 기판과 같은 기판 상에 증착된다. 기판으로부터 기록 매체에 들어가는 기록 신호에 의해 변조되는 기록 레이저빔은 기록 스택에 포커스된다. 디스크가 포커스된 레이저빔에 대하여 이동하는 동안, 레이저빔은 기록층에 의하여 주로 흡수된다. 그러므로, 합금은 국부적으로 가열된다. 온도가 용융점(약 500℃ 내지 700℃)을 초과하면, 상변화 재료는 비정질 상태로 변화한다. 인접 유전체층을 통한 급속 열 소산에 의하여 합금이 급속하게 냉각되며, 그에 의하여 비정질상을 안정화시키다. 따라서, 기록된 마크는 트랙을 따라 남아있게 된다. 낮은 출력으로 레이저빔을 인가하면 기록된 마크가 소거된다. 따라서, 기록층은 결정질상으로의 위상 변화를 유도하는 대략 200℃의 온도로 가열된다(어닐링). 원자는 경정화하기에 충분히 오랫동안 상승된 온도로 유지되어야 하기 때문에, 결정은 PC 매체에서의 비정질화가 매우 신속할 수 있음에도 불구하고 오히려 느린 공정이다.
스택은 결정질상(기저상태)에서 고반사율을 갖지만, 비정질상(기록 상태)에서 낮은 반사율을 갖는다. 그러므로, 기록 스택에 초점을 맞춘 판독 빔은 그 빔이 기록 마크(피트)에 조사하는가 또는 비기록 영역(랜드)에 조사하는가에 따라 상이한 광도로 기록층에 의하여 반사된다. 따라서, 유전체층과 반사층은 다수의 임무, 즉 기록층을 보호하고, 반사율 및/또는 흡슈율을 최적화한 광학적으로 조정된 구조를 생성하며, 급속 냉각을 위해 디스크의 열 특성을 맞출 수 있는 기능을 수행한다.
일반적인 기록 매체 뿐만 아니라 기록형 광학 기록 매체는 예를 들면 멀티미디어 적용에 제공되는 데이터 양의 폭발적 증가에 기인하여 데이터 용량에서 진화론적 증가를 보여주고 있다. 기록형 광학 기록 매체의 데이터 용량은 650MB(CD, NA=0.45,λ=780nm)에서 4.7GB(DVD, NA=0.65, λ=670nm)로, 최종적으로 25GB(블루 레이 디스크(BD), NA=0.85, λ=405nm)로 증가되었다. 데이터 용량은 디스크 당 기록 스택의 개수 증가만큼 더욱 배가될 수 있다. 소위 이중 기록층 스택 구조가 DVD-ROM으로 공지되어 있다. 두 개의 기록층은 동일한 기판 상에서 두 기록층 사이에 스페이서를 갖는 스택으로 배열된다. 이러한 종류의 디스크에서 기록층은 동일한 것으로부터 억세스될 수 있다.
그러나, 재기록형 기록 매체에서 레이저광의 충분한 흡수로 인하여, 이러한 매체 내에서 이중 기록층 스택 상에 정보를 기록하거나 판독하는 것이 더욱 곤란하게 된다. 레이저빔은 입사 레이저빔의 진행 방향에 대하여 가장 근접한 제1 기록 스택(L0)에 의하여 출력의 상당량이 흡수된 이후에, 입사 레이저빔의 전진 방향에 대하여 가장 먼 제2 기록 스택(L1) 상에 기록하는데 있어서 충분히 강력하여야 한다. 그러므로, 이러한 다중층 스택은 지금까지 재기록형 광학 기록 매체에 대하여 규정되어 있지 않다.
데이터 용량에 대한 요구 증가와 동시에, 상변화 광학 기록에서의 높은 데이터율에 대한 요구가 증가하고 있다. 높은 데이터율은 높은 결정화율, 즉 짧은 결정 시간을 갖는 기록층을 필요로 한다. 직접 겹쳐쓰기(DOW) 동안 이전에 기록된 마크가 재결정될 수 있는 것을 보장하기 위하여, 예를 들면, 전술한 바와 같이, 기록층은 레이저빔에 대하여 회전하는 기록 매체의 선속도에 일치하기에 적정한 결정 시간을 가져야 한다. 결정 속도가 선속도에 일치하기에 충분히 빠르지 않으면, 이전 기록보다 오래된 데이터는 완전히 소거될 수 없다. 나머지 오래된 데이터 단편은 높은 노이즈 레벨을 야기한다.
최근, 미국 특허 출원 제2001-0036527호, 제2001-00365278호 및 제01/13370호 공보에서, 높은 선속도에서 조차도 지터, 광학 콘트라스트 및 변조와 같이 DVD-표준에 의하여 예정된 광학 범위를 만족시키기 위한 충분한 기록 특성을 갖는 재기록형 광학 기록 매체가 제안되어 있다. 그러나, 이러한 기록 매체는 40% 내지 60%의 투과율을 갖는 L0 기록 스택을 구비한다. L1에 도달하는 레이저 출력이 L1 만큼 감소하기 때문에, 기록 스택은 특히 높은 선속도에서 매우 민감하여야 한다. 반면, 제2 기록 스택 L1에서 반사된 판독 레이저빔의 광이 L0 스택을 통해 검출기까지의 도중에 한번 더 감쇠하기 때문에, L1 스택은 매우 높은 감광도를 가져야 한다.
그러므로, 본 발명의 목적은 감광도와 반사율에 대하여 양호한 광학 특성을 제공하는 스택 구조를 갖는 재기록형 광학 기록 매체를 제공하는 것이다.
본 발명에 따르면, 층을 정순(IPIM)으로 구비하는 기록 스택을 갖는 도입부에 기술된 바와 같은 재기록형 광학 기록 매체에 있어서, 제1 유전체층은 100nm 내지 200nm 범위의 두께 d1을 가지며, 상기 제2 유전체층은 하기의 관계 중 하나에 따른 두께 d2를 갖는 것을 특징으로 하는 재기록형 광학 기록 매체에 의해 달성된다.
상기 미러층이 알루미늄을 포함하는 경우,
0.0225*d2 2-2.6572*d2+173.3(nm) < d1 < 0.0225*d2 2-2.6572*d2+213.3(nm) (1)
상기 미러층이 은을 포함하는 경우,
0.0191*d2 2-2.0482*d2+149.6(nm) < d1 < 0.0191*d2 2-2.0482*d2+189.6(nm) (2).
본 발명의 제2 태양에 따르면, 층을 역순(MIPI)으로 구비하는 기록 스택을 갖는 도입부에 기술된 바와 같은 재기록형 광학 기록 매체에 있어서, 제1 유전체층I1은 100nm 내지 200nm 범위의 두께 d1을 가지며, 상기 제2 유전체층 I2는 상기 미러층이 알루미늄을 포함하는 경우에 수식 (가)에 따라 그리고 상기 미러층이 은을포함하는 경우에 수식 (나)에 따른 두께 d2를 갖는 것을 특징으로 하는 재기록형 광학 기록 매체에 의해 달성된다.
본 발명의 제 1 태양 또는 제2 태양의 부가적인 개선을 구성하는 본 발명의 제3 태양에 따르면, 상기 제2 유전체층은 20nm 내지 50nm 범위의 두께를 갖는다.
본 발명의 제1 태양 또는 제2 태양의 부가적인 개선을 구성하는 본 발명의 제4 태양에 따르면, 상기 제1 유전체층은 110nm 내지 150nm 범위의 두께를 가지며, 상기 제2 유전체층은 25nm 내지 40nm 범위의 두께를 갖는다.
종래 재기록형 광학 기록 매체에 사용하기 위하여 제안된 기록 스택의 개발은 높은 광학 콘트라스트에 초점을 맞춘 반면, 본 발명에 따른 재기록형 광학 기록 매체는 최대 반사 R*M(=Rc-Ra, 결정질 반사 Rc - 비정질 반사 Ra)에 대하여 최적화된 기록 스택을 포함한다. 하기의 실시예로부터 알 수 있는 바와 같이, 이것은 상당히 높은 반사율을 야기한다. 게다가, 마크를 기록하는데 요구되는 레이저 출력인 감광도가 증가될 수 있다.
상기 및 기타 본 발명의 목적, 특징 및 장점은 첨부도면과 관련한 바람직한 실시예의 설명으로부터 자명하게 될 것이다.
도 1은 통상의 재기록형 광학 기록 매체의 단면도를 도시한다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 재기록형 광학 기록 매체의 단면도를 도시한다.
도 3은 최대 Rc-Ra를 생성하는 알루미늄 미러층을 구비하는 본 발명에 따른 기록 스택의 I1층 두께와 I2층 두께의 조합을 도시한다.
도 4는 최대 Rc-Ra를 생성하는 은 미러층을 구비하는 본 발명에 따른 기록 스택의 I1층 두께와 I2층 두께의 조합을 도시한다.
도 5는 I2 두께의 함수로서 반사 신호 Rc, Ra, 차이 Rc-Ra, 및 반사된 판독 빔의 광학 콘트라스트 도시한다.
도 6은 I1 두께의 함수로서 반사 신호 Rc, Ra, 차이 Rc-Ra, 및 반사된 판독 빔의 광학 콘트라스트 도시한다.
도 7은 기록 출력에 의존하여 단일 기록 스택을 구비하는 본 발명에 따른 재기록형 광학 기록 매체의 변조 및 지터를 도시하는 도면이다.
도 8은 기록 출력에 의존하여 두 개의 기록 스택을 구비하는 본 발명에 따른 재기록형 광학 기록 매체의 변조 및 지터를 도시하는 도면이다.
도 1에 도시된 통상의 재기록형 광학 매체(10)는 소위 더미 스택(dummy stack) 또는 더미 기판(102) 상에 고정 배치된 단일 기록 스택(101)을 구비한다. 여기서, 층의 위치 및/또는 방향 및 그 배열에 대한 모든 선언은 화살표 110으로 지시된 입사 레이저빔의 방향에 관한 것이다. 또한 L0 간주된 상부 단일 기록 스택(101)은 레이저빔의 유입면에 가장 근접한 스택이다. 전술한 바와 같이, 반사율과 감광도에 관한 공지된 기록 스택은 하부 스택 L1에서 사용하기에 적합하지 않다. 상부층(101)을 투과하는 광량이 작기 때문에, 이것은 정보를 기록하기에 충분한 감광도를 갖지 않으며 정보를 제2 레벨로 판독하기에 너무 낮은 반사율을 갖는다. 그러므로, 더미 스택(102)은 단순하게 폴리카보네이트로 제조된다. 더미 스택(102) 및 기록 스택(101)은 접착층과 스페이서층(비도시)에 의하여 고정되는 것이 일반적이다. 기록 스택(101)은 폴리카보네이트 기판(103)을 구비하며, 그 상부에는 제1 유전체층(104)이 적층된다. 상기 층(103)은 ZnS 및 SiO2의 혼합물, 예를 들면 (ZnS)80(SiO2)20으로 제조되며, 60nm 내지 85nm 범위의 두께를 갖는다. 다음의 인접한 층은 두께가 12nm 내지 18nm 범위인 예를 들면 GeInSbTe로 제조된 기록층(105)이다. 상기 제1 유전체층(104)의 대향 측면 상의 기록층(105)에는, 두께가 12nm 내지 20nm인 ZnS 및 SiO2의 혼합물로 제조된 제2 유전체층(106)이 부착된다. L0 스택에 속하는 최하부층은 주로 은이나 금으로 제조된 금속성 미러층(107)이다. 기록 스택(101)의 모든 층은 전술한 순서로 스퍼터링에 의하여 적층되어, IPIM 스택을 형성한다.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 재기록형 캐리어(20)는 화살표 210으로 지시된 바와 같이 입사 광 빔의 방향에 대하여 제2 스택 L1로서 기록 스택(201)을 구비한다. L1 스택의 상부에, 제1 투명 기록 스택 L0(202)는 스택(201, 202) 사이에서 스페이서층(비도시)과 함께 증착될 수 있다. 이러한 투명 기록 스택은 40% 내지 60%의 투과율을 갖는 것이 일반적이다. 아래에서 알 수 있는 바와 같이, 높은 반사율과 감광도에 기인한 공지된 기록 스택 이외의 본 발명에 따른 L1 기록 스택(201)은 상기 조건 하에서 기록에 완벽하게 적응된다.
L1 기록 스택(201)은 위에서 아래로 100 내지 200nm, 바람직하게는 120nm 내지 160nm인 I1로 언급되는 제1 (ZnS)80(SiO2)20 유전체층(203), 예를 들면 12±1.5nm 범위의 두께를 갖는 GeInSbTe로 제조된 기록층(204)을 구비한다. 제1 유전체층(203)에 대향하는 기록층(204)에 인접하여, 20 내지 50nm, 바람직하게는 25nm 내지 40nm인 I2로 언급되는 제2 유전체 (ZnS)80(SiO2)20 층(205)이 존재한다. 그 하부에는 미러층(206)이 배열된다. 이것은 금속 또는 금속 합금, 바람직하게는 알루미늄, 소정 %의 Ti를 갖는 Al 혼합물, 또는 금으로 제조된다. 상기 미러층은 통상 두께가 약 50nm이다. 마지막으로, L1 기록 스택(201)의 하부층은 예를 들면 폴리카보네이트로 제조된 기판(207)이다. 전술한 층 배열, 즉 제1 유전체층(203), 기록층(204), 제2 유전체층(205) 및 미러층(2060의 배열은 수 표현과 반대 순서로 기판(207) 상에 적층되어, MIPI 스택을 형성한다.
광학 기록 매체에 공통으로 사용되는 기록 스택은 최대 반사에 대하여, 특히 반사차 R*M(=Rc-Ra, 결정질 반사 Rc - 비정질 반사 Ra)에 대하여 최적화되지 않는다. 이것은 도 3 및 도 4에 도시되어 있으며, 실선 301 및 401은 도 3의 알루미늄층과, 도 4의 은 미러층을 각각 포함하는 기록 스택에 대한 최대 반사율차를 나타낸다. 본 발명에 따른 기록 스택의 I1층 두께와 I2층 두께의 조합은 하기의 수식으로 기록될 수 있는 이러한 최대 Rc-Ra 선(301, 401)을 따라 선택되어야 한다(여기서 d1은 I1층 두께를 나타내며 d2는 I2층 두께를 나타낸다).
a) 알루미늄 미러층을 포함하는 반사 스택의 경우
0.0225*d2 2-2.6572*d2+173.3(nm) < d1 < 0.0225*d2 2-2.6572*d2+213.3(nm)
b) 은 미러층을 포함하는 반사 스택의 경우
0.0191*d2 2-2.0482*d2+149.6(nm) < d1 < 0.0191*d2 2-2.0482*d2+189.6(nm)
통상의 DVD에서 I1층 두께가 60nm 내지 85nm 범위이기 때문에, R*M은 최적값에서 상당히 멀다. 특히, R*M은 보다 높은 I1 두께가 필요한 경우에 상기 디스크 유형에 대하여 요구되는 제2 유전체층 두께가 12nm 내지 20nm 범위에 속하기 때문에 작다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 높은 반사율과 감광도에 대한 I2층 두께는 알루미늄 미러층을 포함하는 기록 스택의 경우에 약 28nm로 그리고 은 미러층을 포함하는 기록 스택의 경우에 25nm로 선택된다. 높은 R*M 값에 대한 대응하는 I1층 두께는 약 135nm 및 130nm로 각각 선택된다. 그러나, I1층 두께는 감광도, 변조 또는 광학 콘트라스트와 같은 다른 파라미터를 고려하여 상이하게 선택될 수도 있지만, ±20nm의 범위 내로 유지되어야 하며, 상기 범위는 각각 도 3 및 도 4에서 파선 302 및 402와 점선 303 및 403으로 지시되어 있다.
게다가, 유전체층 I2 (205)는 통상의 유전체 I2층과 비교하여 두껍기 때문에 높은 열저항을 갖는다(도 1 및 도 2 참조). 따라서, 상변화층(204)으로부터 미러층(206)까지 열 수송은 감소된다. 미러층이 히트싱크로 작용하기 때문에, 상변화 재료를 그 융점 온도까지 가열하는데 보다 작은 출력이 요구된다. 상기 방식으로 본 발명에 다른 기록 스택의 높은 감광도를 얻는다.
바람직한 실시예에 따른 기록 매체 내에서의 제2 기록 스택 L1의 RTM 측정 결과가 도 5 및 도 6에 도시되어 있다. 상기 실시예에 따르면, PC 층은 12nm의 두께를 갖는다. 그러나, 이것은 ±1.5nm의 범위에서 선택될 수 있으며, 여기서 Rc 및 Ra값은 거의 변화하지 않는다. 반면, 기록 PC 재료의 결정질 및 비정질 (구조) 상태 사이의 광 위상에서의 차이는 상기 범위 내에서 극적으로 변화한다. 상기 특성을 사용하여 푸쉬-풀 편차에 대하여 최적화할 수 있다. 1.5% Ti가 첨가된 Al; 혼합물로 구성된 본 실시예에 사용된 미러층은 50nm로 두껍다. 도 5에서, 포커스된 반사 신호 Rc, Ra, Rc-Ra의 차 및 광학 콘트라스트가 I2 층의 두께 함수로 도시되어 있다. 그러므로, I1 층의 두께는 최대 R*M 값을 고려하여 적용된다(도 3 참조). 도 6에서, 대응하는 결과가 I1 층의 두께 함수로 도시되어 있으며, I2 층의 두께는 28nm에 고정되어 있다.
비정질 상 Ra(사각형 기호)의 반사율 뿐만 아니라 결정질 상 Rc(다이아몬드 기호)의 반사는 I2가 증가함에 따라 감소하며(도 5 참조), 따라서 두꺼운 I1 층을 선택할 때 증가한다(도 6 참조). 도 6으로부터 알 수 있는 바와 같이, 135nm의 I1 층 두께는 최대 R*M, 즉 최대 Rc-Ra(삼각 기호)를 발생시킨다. 도 3에 따르면, 상기 값은 약 28nm의 I2 값에 상응한다. 이에 의하면, R*M은 33% 이상으로 증가할 수 있는 반면, 통상적으로 제조된 디스크는 25%를 갖는다. 급격히 증가하는 결정질 상 반사 Rc에 기인하여, 표준화된 반사값, 즉 결정질 상 반사 Rc에 의하여 분할된 Rc-Ra인 콘트라스트(십자 기호)는 상기 영역에서 80%의 값까지 감소한다.
단일 기록 MIPI 스택 L1을 갖는 또 다른 실시예에 따른 광디스크에서 레이저빔의 기록 출력에 대한 변조 및 지터의 종속성이 도 7에 도시되어 있으며, 이에 의하면, 레이저빔은 L0 스택으로서 폴리카보네이트 더미층을 통해 L1 기록 스택 상에 포커스된다. 본 발명에 의하여 제안된 바와 같은 이중 기록 스택 디스크에서 기록 출력에 대한 동일한 종속성이 도 8에 도시되어 있으며, 이에 의하면, 레이저빔은 약 45%의 투과율을 갖는 IPIM 기록 스택 L0 를 통해 MIPI 기록 스택 L1 상에 포커스된다. 두 기록 매체에서 L1 스택의 구조는 다음과 같다.
- 제1 유전체층: ZnS-SiO2, 130nm
- PC 기록층: GeInSbTe, 12nm
- 제2 유전체층: ZnS-SiO2, 32nm
- 미러층: AlTi, 50nm
복층 구조에서 뿐만 아니라 L1 스택에 대한 두 기록 실험으로부터, 정확한 광감도를 얻기 위하여 I2 두께는 20nm 내지 40nm의 범위에 속하여야 한다. 한편, 상기 범위 이하에서, 기록에 필요한 기록 출력은 높게 된다. 상기 범위 이상에서, 반복 판독 문제가 발생한다.
도 7은 디스크가 상부에 투명 더미층만을 갖는 단일 L1 기록 스택을 포함하는 경우에, 약 12mW의 낮은 기록 출력으로도 기록에 충분하며, 따라서 45%의 변조와 10% 미만의 최소 지터를 얻는 것을 알 수 있다. 제안된 스택이 그정도로 감광성이 있으면, L1 스택으로서 이중층 디스크에도 사용될 수 있다(도 8 참조). 30mW 미만의 합리적인 기록 출력에 의하면, 이러한 이중 기록 스택 구조에서 낮은 지터와 양호한 변조가 얻어진다.
본 발명은 전술한 실시예에 제한받지 않는 것에 주목하여야 한다. 다른 기록층 재료, 유전체층 재료, 기판 재료 및/또는 반사층 재료를 이용할 수도 있다. 게다가, 본 발명은 전술한 바와 같은 이중 기록 스택 구조를 갖는 광학 기록 매체에 제한받지 않는다. 전술한 바와 같이 동일한 광학 특성 및 층 두께를 갖지만 더미층 상에 L0 층으로서 증착된 도 2에 따른 단일 기록 스택을 갖는 IPIM형의 보다 호환성 있는 단일층 광학 기록 매체를 제공할 수도 있다. 또한, 본 발명에 따른 광학 특성을 갖는 두 개 이상의 기록층을 구비하는 다중 기록 스택 구조가 제공될 수도 있다.

Claims (7)

  1. 다수의 층으로 이루어진 제1 기록 스택을 갖는 기판을 구비하며,
    상기 제1 기록 스택은
    제1 유전체층과,
    상변화 기록 재료를 포함하는 기록층과,
    제2 유전체층과,
    주 성분으로서 알루미늄을 포함하는 혼합물 또는 주 성분으로서 은을 포함하는 혼합물로 구성된 미러층을 상기 순서로 또는 역순으로 포함하는, 재기록형 광학 기록 매체에 있어서,
    상기 제1 유전체층은 100nm 내지 200nm 범위의 두께 d1을 가지며, 상기 제2 유전체층은 하기의 관계 중 하나에 따른 두께 d2를 갖는 것을 특징으로 하는 재기록형 광학 기록 매체.
    a) 상기 미러층이 알루미늄을 포함하는 경우,
    0.0225*d2 2-2.6572*d2+173.3(nm) < d1 < 0.0225*d2 2-2.6572*d2+213.3(nm);
    b) 상기 미러층이 은을 포함하는 경우,
    0.0191*d2 2-2.0482*d2+149.6(nm) < d1 < 0.0191*d2 2-2.0482*d2+189.6(nm).
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제2 유전체층은 20nm 내지 50nm 범위의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 재기록형 광학 기록 매체.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 유전체층은 110nm 내지 150nm 범위의 두께를 가지며, 상기 제2 유전체층은 25nm 내지 40nm 범위의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 재기록형 광학 기록 매체.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 유전체층 및 제2 유전체층은 ZnS 및 SiO2 혼합물을 포함하는 것을 특징으로 하는 재기록형 광학 기록 매체.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 상변화 기록 재료는 Ge, In, Sb, 및 Te의 혼합물을 포함하며, 상기 기록층은 12±1.5nm 범위의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 재기록형 광학 기록 매체.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제1 유전체층에 부착된 스페이서층과,
    상기 스페이서층 상에 증착된 제2 기록 스택을 부가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 재기록형 광학 기록 매체.
  7. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제1 유전체층 상에 증착된 더미 기판을 부가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 재기록형 광학 기록 매체.
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