KR20050092842A - Method for fabricating tape wiring substrate - Google Patents

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Abstract

생산공정을 간략화하여 생산비용을 절감할 수 있는 테이프 배선 기판의 제조방법이 제공된다. 이 테이프 배선 기판의 제조방법은, 베이스 필름을 준비하는 단계와, 베이스 필름 상에 금속층을 형성하는 단계와, 레이저를 이용하여 금속층을 배선패턴으로 가공하는 단계를 포함한다. 또한, 이러한 레이저에 의해 부분적으로 금속층을 식각하고, 후속하는 습식식각을 이용하여 배선패턴을 형성할 수 있다.Provided is a method of manufacturing a tape wiring board that can simplify the production process and reduce the production cost. This tape wiring board manufacturing method includes preparing a base film, forming a metal layer on the base film, and processing the metal layer into a wiring pattern using a laser. In addition, the metal layer may be partially etched by such a laser, and a wiring pattern may be formed using a subsequent wet etching.

Description

테이프 배선 기판의 제조방법{Method for fabricating tape wiring substrate}Method for fabricating tape wiring substrate

본 발명은 테이프 배선 기판의 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 레이저를 이용하여 배선패턴을 형성하는 테이프 배선 기판의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing a tape wiring board, and more particularly, to a method for manufacturing a tape wiring board for forming a wiring pattern using a laser.

최근 반도체 장치의 박형화, 소형화, 고집적화, 고속화 및 다핀화 추세에 따라서 반도체 칩 실장 기술 분야에서는 테이프 배선 기판의 사용이 늘어나고 있다. 테이프 배선 기판은 폴리이미드 수지 등의 절연 재료로 구성된 얇은 베이스 필름에 배선패턴층이 형성된 구조로서, 배선패턴층과 연결된 리드와 반도체 칩 상에 미리 형성된 범프를 일괄적으로 접합시키는 탭(TAB; Tape Automated Bonding) 기술의 적용이 가능하다. 이러한 특성으로 인하여 테이프 배선 기판은 탭 테이프(TAB tape)라 불리기도 한다.Recently, with the trend of thinning, miniaturization, high integration, high speed, and pinning of semiconductor devices, the use of tape wiring boards is increasing in the field of semiconductor chip mounting technology. The tape wiring board has a structure in which a wiring pattern layer is formed on a thin base film made of an insulating material such as polyimide resin, and includes a tab (TAB) for collectively joining the leads connected to the wiring pattern layer and the bumps formed on the semiconductor chip. Automated Bonding) technology can be applied. Due to these characteristics, the tape wiring board is also called a tab tape.

도 1a 또는 도 1d는 종래기술에 의한 테이프 배선 기판의 제조방법을 순차적으로 나타낸 단면도들이다.1A or 1D are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a tape wiring board according to the prior art.

도 1a에 도시된 바와 같이, 폴리 이미드 수지와 같은 절연성 베이스 필름(110) 상에 라미네이팅(laminating) 또는 전해도금방식을 이용하여 동박(120)을 형성한다. As shown in FIG. 1A, the copper foil 120 is formed on the insulating base film 110 such as polyimide resin by laminating or electroplating.

도 1b에 도시된 바와 같이, 동박(120)의 상에 포토 레지스트(Photo resist, 이하 PR)(130)을 도포한다. 이어서, 수백 ㎛ 의 파장을 가지는 광원(132)을 사용하여 노광공정을 수행한다. As shown in FIG. 1B, a photo resist 130 (PR) 130 is coated on the copper foil 120. Subsequently, an exposure process is performed using a light source 132 having a wavelength of several hundred μm.

도 1c에 도시된 바와 같이, 노광공정이 끝난 PR(130)을 현상하여, PR(130)을 패터닝한다. As shown in FIG. 1C, the PR 130 after the exposure process is developed to pattern the PR 130.

도 1d에 도시된 바와 같이, 패터닝된 PR(135)을 식각마스크로 사용하여, 동박(120)을 식각한다. 이 때, 동박(120)의 식각은 주로 습식식각(Wet etching)이 이용된다. 그리고, 남아있는 PR(135)을 제거하면 배선패턴(125)이 형성된다.As shown in FIG. 1D, the copper foil 120 is etched using the patterned PR 135 as an etching mask. At this time, the etching of the copper foil 120 is mainly wet etching (Wet etching) is used. When the remaining PR 135 is removed, the wiring pattern 125 is formed.

이와 같이, 종래 기술에 의한 테이프 배선 기판의 제조공정을 살펴보면, 베이스 필름(110)을 제조한 후, 이 베이스 필름(110)에 동박(120)을 형성하고, 사진/식각 (Photo/Etching)공정을 이용하여 동박(120)을 배선패턴(125)으로 가공한다. 이러한 사진/식각 공정은 PR 도포공정, 노광공정, PR 현상공정, 동박 식각공정 등으로 많은 단계로 이루어져 있다. As described above, referring to the manufacturing process of the tape wiring board according to the prior art, after manufacturing the base film 110, the copper foil 120 is formed on the base film 110, and a photo / etching process. The copper foil 120 is processed into a wiring pattern 125 by using a. The photo / etching process includes many steps such as a PR coating process, an exposure process, a PR developing process, and a copper foil etching process.

이러한 많은 단계로 이루어진 사진/식각 공정으로 인하여 생산라인이 늘어나고, 고정적으로 소비되는 물질(예를 들어, PR, PR현상액 또는 동박 식각액 등)이 많으므로 생산비용이 증가하는 문제점이 발생한다.Due to the photo / etching process consisting of many steps, the production line is increased, and a lot of fixed consumption materials (for example, PR, PR developer or copper foil etchant) causes a problem of increasing production cost.

또한, 종래 기술에 의한 사진/식각 공정에서는 수백 ㎛ 의 파장을 가지는 광원(132)을 사용하므로, 동박(120)에 미세 피치(Fine pitch)를 가지는 미세 배선패턴(125)을 형성하기 어려운 문제점이 있다.In addition, since the light source 132 having the wavelength of several hundred μm is used in the photo / etching process according to the prior art, it is difficult to form the fine wiring pattern 125 having the fine pitch on the copper foil 120. have.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 생산공정을 간략화하여 생산비용을 절감할 수 있고, 미세 피치를 가지는 미세패턴을 형성할 수 있는 테이프 배선 기판의 제조방법을 제공하고자 하는 것이다.The technical problem to be achieved by the present invention is to provide a method for manufacturing a tape wiring board which can reduce the production cost by simplifying the production process and can form a fine pattern having a fine pitch.

본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해되어질 수 있을 것이다. The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects, and other objects that are not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 테이프 배선 기판의 제조방법은, 베이스 필름을 준비하는 단계와, 상기 베이스 필름 상에 금속층을 형성하는 단계와, 레이저를 이용하여 상기 금속층을 배선패턴으로 가공하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a tape wiring board, the method including preparing a base film, forming a metal layer on the base film, and using a laser to form the metal layer. And processing the wiring pattern.

또한, 상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시예에 따른 테이프 배선 기판의 제조방법은, 베이스 필름을 준비하는 단계와, 상기 베이스 필름 상에 금속층을 형성하는 단계와, 레이저를 이용하여 상기 금속층 중 배선패턴 이외영역을 부분적으로 제거하는 단계와, 남아있는 상기 배선패턴 이외영역을 식각하여 배선패턴을 형성하는 단계를 포함한다.In addition, the manufacturing method of the tape wiring board according to another embodiment of the present invention for achieving the technical problem, preparing a base film, forming a metal layer on the base film, and using the laser Partially removing a region other than the wiring pattern of the metal layer, and forming a wiring pattern by etching the remaining region other than the wiring pattern.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and the drawings.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various forms. It is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the present invention is defined only by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout.

본원에서 사용되는 테이프 배선 기판으로는 테이프 캐리어 패키지(Tape Carrier Package, 이하 TCP) 또는 칩 온 필름(Chip On Film, 이하 COF) 등과 같이 베이스 필름 상에 배선패턴이 형성된 플렉스블 인쇄회로기판(Flexible Printed Circuit Board, 이하 FPC)이 사용될 수 있다. 본원에서 사용되는 테이프 배선 기판은 폴리이미드 수지 등의 절연 재료로 구성된 얇은 필름에 배선패턴 및 그와 연결된 내부리드(inner lead)가 형성된 구조로서, 반도체 칩 상에 미리 형성된 범프와 테이프 배선 기판의 내부리드를 일괄적으로 접합시키는 탭(TAB, Tape Automated Bonding) 기술이 적용되는 배선기판을 포함한다. 위에서 언급한 테이프 배선 기판은 예시적인 것에 불과하다. The tape wiring board used herein includes a flexible printed circuit board having a wiring pattern formed on a base film such as a tape carrier package (TCP) or a chip on film (COF). Circuit Board, hereinafter FPC) can be used. The tape wiring board used herein is a structure in which a wiring pattern and an inner lead connected thereto are formed on a thin film made of an insulating material such as polyimide resin, and the bumps and tape wiring boards previously formed on a semiconductor chip are formed. And a wiring board to which a tape automated bonding (TAB) technology for bonding leads is collectively applied. The tape wiring board mentioned above is merely illustrative.

이하, 본 발명의 제1 실시예를 도 2 내지 도 4에 근거하여 설명한다.Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to Figs.

도 2는 본 발명의 제1 실시예에 의한 테이프 배선 기판의 제조공정의 순서도이다. 그리고, 도 3a 내지 도 3c는 도 2의 테이프 배선 기판의 제조공정을 순차적으로 나타낸 단면도들이다. 그리고, 도 4는 본 발명의 제1 실시예에 사용되는 노광장치의 구조를 나타내는 개략도이다. 2 is a flowchart of a manufacturing process of the tape wiring board according to the first embodiment of the present invention. 3A to 3C are cross-sectional views sequentially illustrating a manufacturing process of the tape wiring board of FIG. 2. 4 is a schematic view showing the structure of the exposure apparatus used in the first embodiment of the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 우선 베이스 필름을 준비한다(S210). 도 3a를 참조하면, 여기서 베이스 필름(310)은 두께 20∼100㎛의 절연성 재질로 이루어져 있다. 이러한 절연성 베이스 필름(310)은 폴리이미드 수지, 폴리에스테르 수지 등의 절연 재료가 주재료로서 이용될 수 있다. 그리고, 이러한 베이스 필름(310) 중 폴리이미드 박막은 전구체인 폴리아믹산(Polyamic acid, PAA) 용액을 일정한 용기 내에 도포시킨 후 얻어진 막에서 용매를 제거하고, 그 후 열경화에 의해 얻을 수 있다.As shown in Figure 2, first to prepare a base film (S210). Referring to FIG. 3A, the base film 310 is made of an insulating material having a thickness of 20 to 100 μm. As the insulating base film 310, an insulating material such as polyimide resin or polyester resin may be used as the main material. The polyimide thin film in the base film 310 may be obtained by applying a polyamic acid (PAA) solution as a precursor in a predetermined container to remove the solvent from the obtained film, and then by thermosetting.

그리고, 도 2에 도시된 바와 같이, 베이스 필름 상에 금속층을 형성한다(S220). 도 3a를 참조하면, 베이스 필름(310) 상에 형성된 금속층(320)은 5㎛ ∼ 20㎛ 정도의 두께로 형성되어 있고, 일반적으로 동박(Cu) 등의 금속 재료가 이용되고 있다. And, as shown in Figure 2, to form a metal layer on the base film (S220). Referring to FIG. 3A, the metal layer 320 formed on the base film 310 is formed to a thickness of about 5 μm to 20 μm, and a metal material such as copper foil (Cu) is generally used.

베이스 필름(310) 위에 금속층(320)의 일 예인 동박을 형성하는 방법은 캐스팅(casting), 라미네이팅(laminating), 전기도금(electroplating) 등이 있다. A method of forming copper foil, which is an example of the metal layer 320 on the base film 310, may include casting, laminating, electroplating, and the like.

캐스팅은 압연 동박 위에 액상 베이스 필름(310)을 뿌려서 열경화를 시키는 방법이다. Casting is a method of spraying the liquid base film 310 on the rolled copper foil to perform thermal curing.

라미네이팅은 베이스 필름(310) 상에 압연 동박을 놓고 열압착하는 방법이다. Laminating is a method of placing a rolled copper foil on the base film 310 and thermocompression bonding.

전기도금은 베이스 필름(310) 상에 시드층(seed layer)(미도시)를 증착하고 구리가 녹아있는 전해질 속에 베이스 필름(310)을 넣고 전기를 흘려서 동박을 형성하는 방법이다. 여기서, 시드층을 베이스 필름(310) 상에 스퍼터링(Sputtering)에 의하여 형성할 수 있다. 이러한 시드층(미도시)은 Cr, Ti 및 Ni 중에서 선택된 물질 또는 이들의 조합으로 이루어진 물질인 것이 바람직하다.Electroplating is a method of depositing a seed layer (not shown) on the base film 310 and inserting the base film 310 in an electrolyte in which copper is melted to flow electricity to form a copper foil. Here, the seed layer may be formed on the base film 310 by sputtering. The seed layer (not shown) is preferably a material made of a material selected from Cr, Ti, and Ni, or a combination thereof.

그리고, 도 2에 도시된 바와 같이, 레이저를 이용하여 배선패턴을 형성한다(S230). 도 3a 및 도 3b를 참조하면, 레이저(330)를 이용하여 베이스 필름(310) 상에 형성된 금속층(320)을 선택적으로 식각하여 소정의 회로를 구성하는 배선패턴(325)을 형성한다.And, as shown in Figure 2, to form a wiring pattern using a laser (S230). 3A and 3B, the metal layer 320 formed on the base film 310 is selectively etched using the laser 330 to form a wiring pattern 325 constituting a predetermined circuit.

그리고, 도 2에 도시된 바와 같이, 솔더 레지스트를 도포한다(S240). 도 3c을 참조하면, 베이스 필름(310) 상에 형성된 배선패턴(325)에서 외부단자와 전기적으로 접속하는 소정의 부분을 제외하고 외부환경으로부터 배선패턴(325)을 보호하기 위해 솔더 레지스트(Solder Resist, SR)(340)를 도포한다. 이러한 솔더레지스트(340)는 스크린 인쇄법(Screen printing)에 의해 도포될 수 있다.Then, as shown in Figure 2, a solder resist is applied (S240). Referring to FIG. 3C, a solder resist is used to protect the wiring pattern 325 from an external environment except for a portion of the wiring pattern 325 formed on the base film 310 to be electrically connected to an external terminal. SR) 340 is applied. The solder resist 340 may be applied by screen printing.

바람직하게는, 이러한 배선패턴(325)의 전기적 특성을 향상시키기 위해 배선패턴(325)의 표면에 주석, 금, 니켈 또는 땜납의 도금을 실시한다. 이렇게 배선패턴(325)에 솔더레지스트(340)를 도포한 후 도금을 실시하는 것을 후도금방식이라 한다. 물론, 본 발명의 다른 실시예에서는 배선패턴(325)에 도금을 실시한 후 솔더레지스트(340)를 도포하는 선도금방식을 취할 수 있다.Preferably, in order to improve the electrical characteristics of the wiring pattern 325, the surface of the wiring pattern 325 is plated with tin, gold, nickel or solder. The plating is performed after the solder resist 340 is applied to the wiring pattern 325, which is called a post plating method. Of course, in another embodiment of the present invention, after the plating of the wiring pattern 325, the lead metal method of applying the solder resist 340 may be adopted.

이하, 도 4를 참조하여, 레이저를 이용하여 배선패턴을 형성하는 방법을 상세히 설명한다.Hereinafter, a method of forming a wiring pattern using a laser will be described in detail with reference to FIG. 4.

도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 레이저 발생 노광장치(400)는 광원(410), 렌즈어레이로 이루어진 파리눈 렌즈(Fly′s eye lens)(420), 소정 형상을 갖는 구경(430), 콘덴서 렌즈(Condenser lens)(440) 및 프로젝션 렌즈(Projection lens)(460)를 포함한다. Referring to FIG. 4, the laser generating exposure apparatus 400 according to an exemplary embodiment of the present invention includes a light source 410, a fly's eye lens 420 formed of a lens array, and an aperture having a predetermined shape. 430, a condenser lens 440, and a projection lens 460.

여기서, 광원(410)은 미세 피치(Fine pitch)를 가지는 배선패턴(325)을 구현하기 위해 550㎛ 이하의 파장을 가지는 레이저를 사용할 수 있다. 따라서, 광원(410)은 ArF, KrF, XeCl, F2, Nd-YAG(Neodymium-Yttrium Aluminum Garnet) 및 CO2로 이루어진 그룹에서 선택된 어느 하나의 소스 기체를 사용할 수 있다. 또한, 이 광원(410)은 레이저 다이오드에서 발생하는 레이저를 사용할 수 있다.Here, the light source 410 may use a laser having a wavelength of 550 μm or less to implement the wiring pattern 325 having a fine pitch. Accordingly, the light source 410 may use any one source gas selected from the group consisting of ArF, KrF, XeCl, F 2 , Neodymium-Yttrium Aluminum Garnet (Nd-YAG), and CO 2 . In addition, the light source 410 may use a laser generated from a laser diode.

도 4에 도시된 바와 같이, 파리의 눈처럼 육각형 혹은 여러 형태의 작은 렌즈들로 배열된 파리눈 렌즈(420)를 광원(410)으로부터 레이저가 지나가는 곳에 배치한다. 파리눈 렌즈(420)와 같은 빔 균일화 장치는 광원(410)으로부터 출력되는 레이저를 마스크(450)에 조사할 때 균일한 세기와 분포를 가질 수 있도록 한다.As shown in FIG. 4, the fly's eye lens 420 arranged as a hexagonal or various small lenses like the fly's eye is disposed where the laser passes from the light source 410. A beam equalizer such as the fly's eye lens 420 may have a uniform intensity and distribution when irradiating the mask 450 with a laser output from the light source 410.

그리고, 배선패턴의 크기가 작아지면서 조사되는 레이저의 해상도를 높이기 위해 광이 지나가는 부분에 구경(430)을 배치할 수 있다. 이러한 구경(430)은 양극형(Dipole), 사극형(Quadrupole), 고리형(Annular) 등으로 형성할 수 있다.In addition, the aperture 430 may be disposed at a portion through which light passes in order to increase the resolution of the irradiated laser while the size of the wiring pattern is reduced. The aperture 430 may be formed in a dipole, quadrupole, annular, or the like.

따라서, 광원(410)에서 생성된 레이저는 파리눈 렌즈(420)에 의해 평행광으로 전환되고, 구경(430)에 의해 부분적으로 제한된다. Thus, the laser generated at the light source 410 is converted to parallel light by the fly's eye lens 420 and partially limited by the aperture 430.

그리고, 구경(430)을 통과한 레이저는 콘덴서 렌즈(440)를 통과하여 마스크(450)에 조사된다. 이러한 콘덴서 렌즈(440)는 광원(410)으로부터 발생한 레이저를 원하는 방향으로 집중시키는 렌즈로서, 상(Image)을 만드는 데에 직접적인 관여를 하지는 않지만 마스크(450)를 조사할 때 레이저의 균일도를 높여준다.Then, the laser beam passing through the aperture 430 passes through the condenser lens 440 and is irradiated to the mask 450. The condenser lens 440 is a lens that concentrates the laser generated from the light source 410 in a desired direction, and does not directly participate in making an image, but improves the uniformity of the laser when irradiating the mask 450. .

그리고, 마스크(450)에 도달한 레이저는 회절되고, 프로젝션 렌즈(460)를 통과하여 베이스 필름(310) 상에 형성된 금속층(320)을 노광한다. 여기서, 일반적으로 프로젝션 렌즈(460)는 마스크(450)을 투과하여 상기 마스크 패턴의 형상을 갖는 레이저를 금속층(320) 상에 축소 투영시킨다.Then, the laser that reaches the mask 450 is diffracted, and passes through the projection lens 460 to expose the metal layer 320 formed on the base film 310. In general, the projection lens 460 penetrates the mask 450 to reduce and project the laser having the shape of the mask pattern onto the metal layer 320.

그리고, 스테이지(Stage)(470)는 금속층(320)이 형성된 베이스 필름(310)을 지지한다.In addition, the stage 470 supports the base film 310 on which the metal layer 320 is formed.

이와 같은 광원(410)으로부터 발생한 레이저를 베이스 필름(310) 상의 금속층(320)에 조사하는 방법으로는, 마스크(450)와 스테이지(470)가 정지된 시간동안 레이저를 조사하는 스테퍼(Stepper)를 이용한 스텝앤드리피트(Step-and-Repeat)와, 마스크(450)와 스테이지(470)를 서로 일정한 속도 차이를 가지고 반대 방향으로 이동하면서 노광하는 스캐너(Scanner)를 이용한 스텝앤드스캔(Step-and-Scan) 등을 사용할 수 있다.As a method of irradiating the laser layer generated from the light source 410 to the metal layer 320 on the base film 310, a stepper for irradiating the laser during the time when the mask 450 and the stage 470 are stopped is provided. Step-and-Repeat using Step-and-Repeat, and Step-and-Scan using a scanner that exposes the mask 450 and the stage 470 while moving in opposite directions with a constant speed difference. Scan) etc. can be used.

여기에서, 금속층(320)을 배선패턴(325)으로 가공하기 위해 레이저로 배선패턴(325) 이외의 금속층(320)만을 정확하게 식각하고, 레이저로부터 발생하는 열에너지(Thermal energy)에 의해 금속층(320) 하부에 위치하는 베이스 필름(310)이 손상되는 것을 최소화하기 위해 펄스 타입(Pulse type)의 레이저를 사용하는 것이 바람직하다.In order to process the metal layer 320 into the wiring pattern 325, only the metal layer 320 other than the wiring pattern 325 is accurately etched with a laser, and the metal layer 320 is formed by thermal energy generated from the laser. In order to minimize damage to the base film 310 positioned below, it is preferable to use a pulse type laser.

본 발명의 제1 실시예에 의한 레이저의 출력 방법에 대하여 펄스 에너지가 200mJ인 ArF 엑시머 레이저(Excimer laser, 193nm)를 예를 들어 설명한다. 물론 레이저의 출력 방법은 설비 및 공정조건에 따라서 다를 수 있다. 여기서, 금속층(320)을 구리로, 베이스 필름(310)을 폴리이미드로 설명하지만, 본 발명이 이하의 구체적인 실시예에 한정되는 것은 아니다.A laser output method according to the first embodiment of the present invention will be described using an ArF excimer laser (193 nm) having a pulse energy of 200 mJ as an example. Of course, the laser output method may vary depending on the equipment and process conditions. Here, the metal layer 320 is described as copper and the base film 310 is described as polyimide, but the present invention is not limited to the following specific examples.

본 발명의 제1 실시예에 의한 ArF 엑시머 레이저의 구리에 대한 식각속도(Etching rate)가 약 160mJ/㎛이고, 폴리이미드에 대한 식각속도가 약 16mJ/㎛인 경우, 8㎛ 두께를 가지는 금속층(320)을 식각하여 배선패턴(325)으로 가공하는 공정을 살펴본다.When the etching rate for copper of the ArF excimer laser according to the first embodiment of the present invention is about 160mJ / μm and the etching rate for polyimide is about 16mJ / μm, a metal layer having a thickness of 8 μm ( The process of etching the wiring 320 to the wiring pattern 325 will be described.

8㎛ 두께의 금속층(320)을 식각하기 위해서는 1280mJ (=160mJ/㎛ × 8㎛)의 에너지가 필요하다. ArF 엑시머 레이저의 펄스 에너지가 200mJ이므로, 8㎛ 두께의 금속층(320)을 식각하기 위해서 6.4 펄스(=1280mJ / 200mJ)가 필요하다. 따라서, 7 펄스의 ArF 엑시머 레이저를 금속층(320)에 조사하는 경우, 배선패턴(325)이 형성되는 부분 이외의 금속층(320)은 모두 식각되고, 0.6 펄스만큼의 120mJ 에너지(= 200㎛ × 0.6)가 베이스 필름(310)에 조사된다. 따라서, 베이스 필름(310)은 추가로 약 7.5㎛ (= 120mJ / 16mJ/㎛) 만큼 식각된다.In order to etch the metal layer 320 having a thickness of 8 μm, energy of 1280 mJ (= 160 mJ / μm × 8 μm) is required. Since the pulse energy of the ArF excimer laser is 200 mJ, 6.4 pulses (= 1280 mJ / 200 mJ) are required to etch the metal layer 320 having a thickness of 8 μm. Therefore, when irradiating the ArF excimer laser of 7 pulses to the metal layer 320, all of the metal layers 320 except the portion where the wiring pattern 325 is formed are etched, and 120 mJ energy (= 200 μm × 0.6 as much as 0.6 pulses) is etched. ) Is irradiated to the base film 310. Thus, the base film 310 is additionally etched by about 7.5 μm (= 120 mJ / 16 mJ / μm).

베이스 필름(310)인 폴리이미드의 두께가 약 40㎛ 일 때, 위와 같은 정도의 손상은 실험적으로 필름의 물성에 영향을 주지 않는다.When the thickness of the polyimide that is the base film 310 is about 40 μm, the above damage does not affect the physical properties of the film experimentally.

이와같은 펄스 방식의 레이저로 금속층(320)을 식각하는 경우, 레이저의 펄스에너지는 레이저의 주파수(보통 50~300Hz) 및 출력 에너지(5~100W)를 조절하여 변경할 수 있다. 따라서, 펄스 에너지를 적절하게 조절하는 경우 금속층(320) 하부에 위치하는 폴리이미드와 같은 베이스 필름(310)의 식각량을 최소화할 수 있다. 본 발명은 이상의 실시예에서 언급한 수치에 한정되는 것은 아니며, 금속층(320)의 재질과 두께에 따라 레이저의 주파수와 출력 에너지를 조절하여 베이스 필름(310)의 식각량을 최소화하면서 금속층(320)을 식각하는 것을 말한다.When the metal layer 320 is etched by the pulse type laser, the pulse energy of the laser may be changed by adjusting the frequency (usually 50 to 300 Hz) and the output energy (5 to 100 W) of the laser. Therefore, when the pulse energy is properly adjusted, the amount of etching of the base film 310 such as polyimide disposed under the metal layer 320 may be minimized. The present invention is not limited to the numerical values mentioned in the above embodiments, and the metal layer 320 is minimized by minimizing the etching amount of the base film 310 by adjusting the frequency and output energy of the laser according to the material and thickness of the metal layer 320. To etch.

또한, 레이저를 이용하여 배선패턴(325)을 형성하는 동안 금속층(320)과 레이저(330)가 닿는 부분 이외에 이와 인접한 금속층(320) 또는 베이스 필름(310)에 열에너지가 전달될 수 있다. 이러한 열에너지에 의해 주변의 금속층(320)이 식각되거나, 하부의 베이스 필름(310)이 변형될 수 있으므로, 레이저에 의해 배선패턴(325)을 형성하는 동안 금속층(320)과 레이저(330)가 닿는 부분 주위에 냉매를 공급하여 이러한 열에너지가 주변으로 전달되는 것을 막는 것이 바람직하다.In addition, the heat energy may be transferred to the metal layer 320 or the base film 310 adjacent to the metal layer 320 and the laser 330 while the wiring pattern 325 is formed while the laser pattern is formed. Since the surrounding metal layer 320 may be etched or the lower base film 310 may be deformed by the thermal energy, the metal layer 320 and the laser 330 come into contact with each other while the wiring pattern 325 is formed by the laser. It is desirable to supply a refrigerant around the portion to prevent this thermal energy from being transferred to the environment.

이와 같은 냉매로는 메틸 에테르, 염화 에틸, 메틸 포메이트, 이소부탄, 디클로로에틸렌, 염화 메틸렌, 에틸 에테르, 암모니아, 이산화탄소, 아황산가스, 염화메틸 및 CFC계 냉매(프레온) 등을 사용할 수 있다.As such refrigerants, methyl ether, ethyl chloride, methyl formate, isobutane, dichloroethylene, methylene chloride, ethyl ether, ammonia, carbon dioxide, sulfurous acid gas, methyl chloride and CFC refrigerants (freons) and the like can be used.

이하, 본 발명의 제2 실시예를 도 5 내지 도 6d에 근거하여 설명한다.Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described with reference to Figs. 5 to 6D.

도 5는 본 발명의 제2 실시예에 의한 테이프 배선 기판의 제조공정의 순서도이다. 그리고, 도 6a 내지 도 6d는 도 5의 테이프 배선 기판의 제조공정을 순차적으로 나타낸 단면도들이다. 설명의 편의상, 상기 제1 실시예의 도면에 나타낸 각 부재와 동일 기능을 갖는 부재는 동일 부호로 나타내고, 따라서 그 설명은 생략한다. 5 is a flowchart of a manufacturing process of the tape wiring board according to the second embodiment of the present invention. 6A through 6D are cross-sectional views sequentially illustrating a manufacturing process of the tape wiring board of FIG. 5. For convenience of description, members having the same functions as the members shown in the drawings of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and therefore description thereof is omitted.

도 5 및 도 6a에 도시된 바와 같이, 우선 베이스 필름(310)을 준비한다(S510). 그리고, 베이스 필름(310) 상에 금속층(320)을 형성한다(S520). 여기서, 금속층(320)은 제1 실시예와 동일하다.5 and 6A, first, the base film 310 is prepared (S510). Then, the metal layer 320 is formed on the base film 310 (S520). Here, the metal layer 320 is the same as the first embodiment.

도 5, 도 6a 및 도 6b를 참조하면, 레이저(330)를 이용하여 베이스 필름(310) 상에 형성된 금속층(320)을 선택적으로 식각하여 소정의 회로를 구성하는 배선패턴(625)을 형성한다(S530). 여기서 금속층(330)은 전기적 신호를 전달하는 배선패턴(625)과 이러한 배선패턴(625)을 형성하기 위해 제거되어야 하는 배서패턴 이외영역(622)으로 구성된다. 도 6b에 도시된 바와 같이, 배선패턴 이외영역(622)을 레이저(330)로 부분적으로 제거하여 소정의 두께만큼 남겨둔다. 본 발명의 일 실시예에 있어서, 8㎛ 두께의 동박을 금속층(320)으로 사용하는 경우 레이저(330)로 약 7.5㎛ 두께의 동박을 식각하고 약 0.5㎛ 두께의 동박을 남겨둔다. 본 발명은 이상의 실시예에서 언급한 수치에 한정되는 것은 아니며, 레이저 식각 이후 배선패턴 이외영역(622)을 다시 식각하는 조건 및 전체 공정의 편의성에 의해 레이저 식각 이후 남겨진 배선패턴 이외영역(622)의 두께는 변할 수 있다.5, 6A, and 6B, the metal layer 320 formed on the base film 310 is selectively etched using the laser 330 to form a wiring pattern 625 constituting a predetermined circuit. (S530). The metal layer 330 is composed of a wiring pattern 625 for transmitting an electrical signal and an area 622 other than the endorse pattern to be removed to form the wiring pattern 625. As shown in FIG. 6B, the region other than the wiring pattern 622 is partially removed by the laser 330 to leave the predetermined thickness. In one embodiment of the present invention, when using a copper foil of 8㎛ thickness as the metal layer 320, the laser foil etched about 7.5㎛ thick copper foil and leaves about 0.5㎛ thick copper foil. The present invention is not limited to the numerical values mentioned in the above embodiments, and the condition of re-etching the non-wiring pattern region 622 after laser etching and the convenience of the entire process and the convenience of the overall process, The thickness can vary.

도 6c에 도시된 바와 같이, 배선패턴 이외영역(622)을 습식식각으로 제거한다(S540). 이러한 습식식각에 의해 배선패턴 이외영역(622)의 하부에 배치된 베이스 필름(310)이 금속층(320)으로부터 노출되도록 한다. 이와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예로서 배선패턴 이외영역(622)을 제거하기 위해 습식식각을 이용할 수 있다. 하지만, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 플라즈마를 이용한 건식식각을 사용하여 배선패턴 이외영역(622)을 제거할 수도 있다.As illustrated in FIG. 6C, the non-wiring pattern region 622 is removed by wet etching (S540). By the wet etching, the base film 310 disposed under the wiring pattern region 622 is exposed from the metal layer 320. As such, wet etching may be used to remove the region 622 other than the wiring pattern as a preferred embodiment of the present invention. However, the present invention is not limited thereto, and the non-wiring pattern region 622 may be removed using dry etching using plasma.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 동박의 금속층(320)을 사용하는 경우 FeCl3, FeCl 및 HCl을 포함하는 수용액을 식각액으로 사용하여 습식식각을 수행할 수 있다. 또한, 이 경우 CuCl2, CuCl 및 HCl을 포함하는 수용액을 식각액으로 사용하여 습식식각을 수행할 수 있다.In one embodiment of the present invention, when using the metal layer 320 of copper foil, it is possible to perform wet etching using an aqueous solution containing FeCl 3 , FeCl and HCl as an etchant. In this case, wet etching may be performed using an aqueous solution containing CuCl 2 , CuCl, and HCl as an etchant.

그리고, 도 6d에 도시된 바와 같이, 베이스 필름(310) 상에 형성된 배선패턴(625)에서 외부단자와 전기적으로 접속하는 소정의 부분을 제외하고 외부환경으로부터 배선패턴(625)을 보호하기 위해 솔더레지스트(340)를 도포한다(S550).And, as shown in Figure 6d, except for a predetermined portion electrically connected to the external terminal in the wiring pattern 625 formed on the base film 310 to protect the wiring pattern 625 from the external environment The resist 340 is applied (S550).

본 발명의 제2 실시예에 의한 레이저의 출력 방법에 대하여 펄스 에너지가 200mJ인 ArF 엑시머 레이저(Excimer laser, 193nm)를 예를 들어 설명한다. 물론 레이저의 출력 방법은 설비 및 공정조건에 따라서 다를 수 있다. 여기서, 금속층(320)을 구리로, 베이스 필름(310)을 폴리이미드로 설명하지만, 본 발명이 이하의 구체적인 실시예에 한정되는 것은 아니다.A laser output method according to a second embodiment of the present invention will be described with an ArF excimer laser (193 nm) having a pulse energy of 200 mJ as an example. Of course, the laser output method may vary depending on the equipment and process conditions. Here, the metal layer 320 is described as copper and the base film 310 is described as polyimide, but the present invention is not limited to the following specific examples.

본 발명의 제2 실시예에 의한 ArF 엑시머 레이저의 구리에 대한 식각속도(Etching rate)가 약 160mJ/㎛이고, 폴리이미드에 대한 식각속도가 약 16mJ/㎛인 경우, 8㎛ 두께를 가지는 금속층(320)을 식각하여 배선패턴(625)으로 가공하는 공정을 살펴본다.When the etching rate with respect to copper of the ArF excimer laser according to the second embodiment of the present invention is about 160mJ / μm and the etching rate with respect to polyimide is about 16mJ / μm, the metal layer having a thickness of 8 μm ( The process of etching 320 to process the wiring pattern 625 will be described.

8㎛ 두께의 금속층(320)을 식각하기 위해서는 1280mJ (=160mJ/㎛ × 8㎛)의 에너지가 필요하다. ArF 엑시머 레이저의 펄스 에너지가 200mJ이므로, 8㎛ 두께의 금속층(320)을 식각하기 위해서 6.4 펄스(=1280mJ / 200mJ)가 필요하다. 따라서, 6 펄스의 ArF 엑시머 레이저를 금속층(320)에 조사하는 경우, 배선패턴 이외영역(622)은 약 7.5㎛ (= 1200mJ / 160mJ/㎛) 두께만큼 식각되고 약 0.5㎛ 두께만큼 남는다. 그리고, 남은 0.5㎛ 두께의 배선패턴 이외영역 (622)은 습식식각에 의해 제거할 수 있다. 물론 이 경우 남은 배선패턴 이외영역(622)을 플라즈마를 이용한 건식식각에 의해 제거할 수도 있다.In order to etch the metal layer 320 having a thickness of 8 μm, energy of 1280 mJ (= 160 mJ / μm × 8 μm) is required. Since the pulse energy of the ArF excimer laser is 200 mJ, 6.4 pulses (= 1280 mJ / 200 mJ) are required to etch the metal layer 320 having a thickness of 8 μm. Thus, when irradiating the ArF excimer laser of 6 pulses to the metal layer 320, the non-wiring pattern region 622 is etched by about 7.5 [mu] m (= 1200 mJ / 160 mJ / [mu] m) thickness and remains by about 0.5 [mu] m thickness. The remaining area of the wiring pattern 622 having a thickness of 0.5 μm can be removed by wet etching. In this case, the remaining wiring pattern region 622 may be removed by dry etching using plasma.

이와 같이, 레이저에 의한 1차 식각과 습식식각(또는 건식식각)에 의한 2차 식각을 병행하는 경우, 베이스 필름(310)이 손상되지 않도록 레이저(330)에 의해 배선패턴(625)을 가공할 수 있다.As described above, when the primary etching by the laser and the secondary etching by the wet etching (or dry etching) are performed in parallel, the wiring pattern 625 may be processed by the laser 330 so as not to damage the base film 310. Can be.

이상, 본 발명의 실시예들에 의하는 경우, 종래 기술에 비하여 PR을 사용하지 않고 직접적으로 금속층을 배선패턴으로 가공할 수 있으므로 공정이 줄어들고, 이에 따라 테이프 배선 기판의 생산비용을 감소시킬 수 있다.As described above, according to embodiments of the present invention, since the metal layer may be directly processed into a wiring pattern without using PR, compared to the prior art, the process may be reduced, and thus the production cost of the tape wiring board may be reduced. .

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.Although embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, those skilled in the art to which the present invention pertains may implement the present invention in other specific forms without changing the technical spirit or essential features thereof. I can understand that. Therefore, it should be understood that the embodiments described above are exemplary in all respects and not restrictive.

상술한 바와 같이 본 발명에 따른 테이프 배선 기판의 제조방법에 의하면, 생산공정이 간략화되어 생산비용이 절감되고 미세 피치를 가지는 미세패턴을 형성할 수 있는 테이프 배선 기판의 제조방법을 제공할 수 있다.As described above, according to the manufacturing method of the tape wiring board according to the present invention, the production process can be simplified to provide a manufacturing method of the tape wiring board which can reduce the production cost and form a fine pattern having a fine pitch.

도 1a 또는 도 1d는 종래기술에 의한 테이프 배선 기판의 제조방법을 순차적으로 나타낸 단면도들이다.1A or 1D are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a tape wiring board according to the prior art.

도 2는 본 발명의 제1 실시예에 의한 테이프 배선 기판의 제조공정의 순서도이다.2 is a flowchart of a manufacturing process of the tape wiring board according to the first embodiment of the present invention.

도 3a 내지 도 3c는 도 2의 테이프 배선 기판의 제조공정을 순차적으로 나타낸 단면도들이다.3A to 3C are cross-sectional views sequentially illustrating a manufacturing process of the tape wiring board of FIG. 2.

도 4는 본 발명의 제1 실시예에 사용되는 노광장치의 구조를 나타내는 개략도이다.4 is a schematic view showing the structure of an exposure apparatus used in the first embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 제2 실시예에 의한 테이프 배선 기판의 제조공정의 순서도이다.5 is a flowchart of a manufacturing process of the tape wiring board according to the second embodiment of the present invention.

도 6a 내지 도 6d는 도 5의 테이프 배선 기판의 제조공정을 순차적으로 나타낸 단면도들이다.6A through 6D are cross-sectional views sequentially illustrating a manufacturing process of the tape wiring board of FIG. 5.

(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명) (Explanation of symbols for the main parts of the drawing)

310: 베이스 필름 320: 금속층310: base film 320: metal layer

325: 배선패턴 330: 레이저325: wiring pattern 330: laser

340: 솔더레지스트 400: 노광장치340: solder resist 400: exposure apparatus

410: 광원 420: 파리눈 렌즈410: light source 420: fly's eye lens

430: 구경 440: 콘덴서 렌즈430: aperture 440: condenser lens

450: 마스크 460: 프로젝션 렌즈450: mask 460: projection lens

470: 스테이지 622: 배선패턴 이외영역470: stage 622: a region outside the wiring pattern

625: 배선패턴625: wiring pattern

Claims (22)

베이스 필름을 준비하는 단계;Preparing a base film; 상기 베이스 필름 상에 금속층을 형성하는 단계; 및Forming a metal layer on the base film; And 레이저를 이용하여 상기 금속층을 배선패턴으로 가공하는 단계를 포함하는 테이프 배선 기판의 제조방법.The method of manufacturing a tape wiring board comprising the step of processing the metal layer into a wiring pattern using a laser. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 레이저는 ArF, KrF, XeCl, F2, Nd-YAG 및 CO2로 이루어진 그룹에서 선택된 어느 하나의 소스 기체로부터 발생하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.And the laser is generated from any one source gas selected from the group consisting of ArF, KrF, XeCl, F 2 , Nd-YAG and CO 2 . 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 레이저는 펄스타입인 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.And said laser is a pulse type. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 레이저는 빔 균일화 장치를 통과한 레이저인 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.And said laser is a laser beam that has passed through a beam homogenizer. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 배선패턴을 가공하는 동안 상기 금속층에 냉매를 공급하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법. And a coolant is supplied to the metal layer while the wiring pattern is processed. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 냉매는 메틸 에테르, 염화 에틸, 메틸 포메이트, 이소부탄, 디클로로에틸렌, 염화 메틸렌, 에틸 에테르, 암모니아, 이산화탄소, 아황산가스, 염화메틸 및 CFC계 냉매(프레온)로 이루어진 그룹에서 선택된 어느 하나의 냉매인 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.The refrigerant is any one selected from the group consisting of methyl ether, ethyl chloride, methyl formate, isobutane, dichloroethylene, methylene chloride, ethyl ether, ammonia, carbon dioxide, sulfurous acid gas, methyl chloride and CFC refrigerant (freon) The manufacturing method of the tape wiring board characterized by the above-mentioned. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 금속층은 구리를 포함하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.The metal layer comprises a copper wiring board manufacturing method, characterized in that. 베이스 필름을 준비하는 단계;Preparing a base film; 상기 베이스 필름 상에 금속층을 형성하는 단계;Forming a metal layer on the base film; 레이저를 이용하여 상기 금속층 중 배선패턴 이외영역을 부분적으로 제거하는 단계; 및Partially removing a region other than the wiring pattern of the metal layer using a laser; And 남아있는 상기 배선패턴 이외영역을 식각하여 배선패턴을 형성하는 단계를 포함하는 테이프 배선 기판의 제조방법.Forming a wiring pattern by etching the remaining region other than the wiring pattern. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 레이저는 ArF, KrF, XeCl, F2, Nd-YAG 및 CO2로 이루어진 그룹에서 선택된 어느 하나의 소스 기체로부터 발생하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.And the laser is generated from any one source gas selected from the group consisting of ArF, KrF, XeCl, F 2 , Nd-YAG and CO 2 . 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 레이저는 펄스타입인 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.And said laser is a pulse type. 제 10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 레이저는 빔 균일화 장치를 통과한 레이저인 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.And said laser is a laser beam that has passed through a beam homogenizer. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 레이저를 이용하여 상기 배선패턴 이외영역을 부분적으로 제거하는 동안, 냉매를 공급하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법. And a coolant is supplied while partially removing the region other than the wiring pattern by using the laser. 제 12항에 있어서,The method of claim 12, 상기 냉매는 메틸 에테르, 염화 에틸, 메틸 포메이트, 이소부탄, 디클로로에틸렌, 염화 메틸렌, 에틸 에테르, 암모니아, 이산화탄소, 아황산가스, 염화메틸 및 CFC계 냉매(프레온)로 이루어진 그룹에서 선택된 어느 하나의 냉매인 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.The refrigerant is any one selected from the group consisting of methyl ether, ethyl chloride, methyl formate, isobutane, dichloroethylene, methylene chloride, ethyl ether, ammonia, carbon dioxide, sulfurous acid gas, methyl chloride and CFC refrigerant (freon) The manufacturing method of the tape wiring board characterized by the above-mentioned. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 식각은 습식식각인 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.The etching is a method of manufacturing a tape wiring board, characterized in that the wet etching. 제 14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 습식식각에 의해 상기 배선패턴 이외의 부분의 하부에 배치된 상기 베이스 필름이 노출되는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.And the base film disposed under the portion other than the wiring pattern by the wet etching. 제 15항에 있어서,The method of claim 15, 상기 금속층은 구리를 포함하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.The metal layer comprises a copper wiring board manufacturing method, characterized in that. 제 15항에 있어서,The method of claim 15, 상기 습식식각은 FeCl3, FeCl 및 HCl을 포함하는 수용액을 식각액으로 사용하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.The wet etching method of manufacturing a tape wiring board, characterized in that using an aqueous solution containing FeCl 3 , FeCl and HCl as an etchant. 제 15항에 있어서,The method of claim 15, 상기 습식식각은 CuCl2, CuCl 및 HCl을 포함하는 수용액을 식각액으로 사용하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.The wet etching method of manufacturing a tape wiring board, characterized in that using an aqueous solution containing CuCl 2 , CuCl and HCl as an etchant. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 금속층을 형성하는 단계는 라미네이트 방법에 의하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.Forming the metal layer is a method of manufacturing a tape wiring board, characterized in that by the lamination method. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 금속층을 형성하는 단계는 전해도금에 의하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.Forming the metal layer is a method of manufacturing a tape wiring board, characterized in that by electroplating. 제 20항에 있어서, 상기 금속층을 형성하기 전에, The method of claim 20, wherein before forming the metal layer, 상기 베이스 필름 상에 스퍼터링에 의하여 시드층을 형성하는 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.And a seed layer is formed on the base film by sputtering. 제 21항에 있어서,The method of claim 21, 상기 시드층은 Cr, Ti 및 Ni 중에서 선택된 물질 또는 이들의 조합으로 이루어진 물질인 것을 특징으로 하는 테이프 배선 기판의 제조방법.The seed layer is a method of manufacturing a tape wiring board, characterized in that the material consisting of a material selected from Cr, Ti and Ni or a combination thereof.
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