KR20050076856A - 프로브 유닛의 취부구조 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 프로브 유닛의 교체가 용이하도록 상기 프로브 유닛의 검사팁과 연결되는 접속단자가 프로브 유닛의 외측으로 형성된 프로브 유닛의 취부구조에 관한 것으로서, 상기 프로브 유닛의 전면패널이 프로브 장치에 닫힌 상태에서 상기 프로브 유닛의 수리 또는 교체가 가능한 프로브 유닛의 취부구조를 제공하는 것을 그 목적으로 한다. 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 프로브 유닛의 취부구조는 프로브 장치의 본체 일측에 설치되고 피검사소자의 검사단자에 일단이 접촉되어 피검사소자의 상태를 검사하기 위한 검사팁이 마련된 프로브 유닛에 있어서, 상기 프로브 장치의 본체에 체결되는 프로브 유닛 설치판과, 상기 프로브 유닛 설치판에 장착된 몸체부와, 상기 몸체부의 일단에 상하방향으로 이동가능하게 장착되고 전면에 검사팁이 구비된 프로브 블록이 장착된 검사부와, 상기 몸체부를 감싸안은 형상으로 상기 검사부의 검사팁과 상기 프로브 유닛 설치판의 외부신호 접속단자를 연결하는 가요성 인쇄회로기판을 포함한다.

Description

프로브 유닛의 취부구조 {PROBE UNIT COMBINING STRUCTURE}
본 발명은 피검사소자의 검사단자와 접촉되어 피검사소자의 상태를 검사하기 위한 검사팁이 마련된 프로브 유닛의 취부구조에 관한 것으로서, 프로브 유닛의 교체가 용이하도록 프로브 유닛의 검사팁으로 신호를 전달하는 배선 및 주요 부품이 상기 프로브 유닛의 외측으로 형성된 프로브 유닛의 취부구조에 관한 것이다.
일반적으로, 각종 정보를 사용자에게 표시할 때에는 표시장치가 사용되고 있으며, 최근들어 전자산업의 발달과 정보량의 증가로 인해 대화면 디스플레이 소자의 연구 개발이 활발히 진행되고 있으며, 대화면의 구현이 가능한 PDP(plasma display panel), LCD(liquid crystal display) 또는 유기EL(organic electroluminescence) 등의 평면표시소자가 개발되었다. 통상의 소형 텔레비전이나 노트북과 같은 영상 표시장치로 주로 사용되는 LCD와 같은 피검사소자의 경우, 가장자리 부분에 검사신호가 인가되는 복수의 검사단자가 형성된다. 상기한 피검사소자의 검사단자에는 피검사소자의 상태를 검사할 수 있도록 피검사소자를 점등시키는 프로브 유닛이 접촉된다.
도 1은 종래 기술에 따른 프로브 장치의 일부가 절개된 측면도이고, 도 2는 종래 기술에 따른 프로브 장치의 프로브 유닛과 피검사소자의 접속관계가 도시된 사시도이며, 도 3은 종래 기술에 따른 프로브 유닛의 측면도이다.
종래의 프로브 유닛의 취부구조에 있어서, 프로브 장치(10)는, 도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 프레임으로 이루어져 각종 장비들이 장착되는 베이스 유닛(12)의 내측에는 피검사소자(P)를 안착시켜 작업면으로 이동시키는 작업 스테이지(24)가 설치된다. 또한, 상기 베이스 유닛(12)의 일측에는 전방으로 개폐가능토록 전면패널(20)이 설치되고, 상기 전면패널(20)의 저면에는 프로브 유닛 설치판(22)이 고정볼트(B)로서 체결된다. 또한, 상기 프로브 유닛 설치판(22)의 일측에는 피검사소자(P)의 검사단자와 접속되는 하나 이상의 검사팁을 갖춘 프로브 유닛(30)이 설치된다. 상기 프로브 유닛(30)은 상기 프로브 유닛 설치판(22)의 단부에 장착되는 몸체부(34)와, 상기 몸체부(34)의 일측에 활주가능하게 장착된 검사부(36)를 포함한다. 상기 검사부(36)는 가동부(37)와 고정부(38)를 포함한다. 상기 몸체부(34)와 상기 가동부(37) 사이에는 리니어 가이드(35)가 설치되어 이동이 안내되고, 상기 고정부(38)의 하단에는 피검사소자(P)의 검사단자와 접촉하는 검사팁(32)이 형성된 프로브 블록(39)이 탈착가능하게 장착된다. 또한, 상기 고정부(38)에는 상기 프로브 블록(39)의 검사팁(32)으로 검사신호가 공급될 수 있도록 가요성 인쇄회로기판(42)이 연결된다. 상기 가요성 인쇄회로기판(42)에는 상기 검사팁(32)으로 공급되는 검사신호를 제어하기 위한 집적회로(IC)가 실장된 탭 아이씨 블록(TAP IC BLOCK)(40)이 형성된다. 상기 몸체부(34)와 가동부(37) 사이에는 이들을 완충시키는 스프링(37a)을 포함하는 탄성부재가 포함된다. 전술된 프로브 유닛(30)은 상기 피검사소자(P)의 검사단자가 상기 프로브 유닛(30)의 검사팁(32)에 접촉될 경우에 상기 가동부(37)가 상기 리니어 가이드(35)에 안내되어 상기 몸체부(34) 측으로 활주되고, 동시에 상기 스프링(37a)에 의해 상기 가동부(37)의 활주시 발생되는 충격이 완충된다.
전술된 종래의 프로브 장치(10)의 수리 또는 교체작업을 설명하면 다음과 같다. 종래의 프로브 장치(10)는 상기 프로브 유닛(30)을 교체하기 위해 전면패널(20)을 연다. 다음으로 상기 프로브 장치(10)로부터 연결되어 상기 프로브 유닛(30)의 일측에 연결된 가요성 인쇄회로기판(42)으로 이루어진 배선을 분리하고, 상기 고정볼트(B)를 풀러 상기 프로브 유닛 설치판(22)을 탈착한다. 전술된 바와 같이 프로브 유닛(30)이 분리되면 양품의 프로브 유닛(30)을 장착한다. 먼저, 상기 프로브 유닛(30)을 상기 프로브 유닛 설치판(22)에 고정시킨다. 다음으로 상기 프로브 유닛 설치판(22)을 상기 전면패널(20)에 고정볼트(B)로서 결합시킨 후 상기 프로브 유닛(30)의 교체를 위해 개방되었던 상기 전면패널(20)을 닫는다. 한편, 상기 프로브 유닛(30)의 탭 아이씨 블록(40)이 손상되거나 가요성 인쇄회로기판(42) 에 꼬임, 단선, 단락이 발생될 경우, 상기 전면패널(20)을 개방하여 상기 프로브 유닛(30)의 저면이 보이도록 한 후, 상기 가요성 인쇄회로기판(42) 또는 탭 아이씨 블록(40)을 조정 또는 교체한 후, 전면패널(20)을 닫는다.
전술된 프로브 장치(10)는 각종 장치가 내부에 구성되어 부품의 수리 또는 교체시 상기 전면패널(20)을 열어야 하는 불편함이 있었다. 최근에는 소비자의 구매력이 향상됨에 따라 대용량 LCD 패널과 같은 피검사소자(P)가 검사되고 있다. 이와 같이 피검사소자(P)의 크기 및 무게가 증가됨에 따라 프로브 장치(10)의 크기 또한 증가되고 있다. 이로 인해 종래의 프로브 장치(10)는 전면패널(20)의 크기 및 증가됨에 따라 상기 전면패널(20)을 개방하여 상기 프로브 장치(10)의 부품을 수리 또는 교체하는 작업이 힘들었다. 따라서, 상기 전면패널(20)이 자동으로 개폐되도록 구동기를 설치하는 방안이 제시되었으나, 이로 인해 구성이 복잡해지고 사용이 불편한 문제점이 있다. 또한, 이를 위한 추가적인 부품이 소요되어 생산비가 증가된다.
도 4는 종래 기술의 다른 실시예에 따른 프로브 유닛의 취부구조가 도시된 측면도로서, 종래의 다른 실시예에 의한 프로브 장치는 상기 전면패널(20)을 개방하지 않고도 프로브 유닛(30)을 수리 또는 교체할 수 있도록 구성된다. 이를 위해 프로브 유닛(30)은 프로브 유닛 설치판(52)의 전면에 고정볼트(B)를 이용하여 프로브 유닛(30)을 체결할 수 있는 프로브 장치(10)가 제안되었다. 이를 위해 프로브 장치(10)는 상기 프로브 유닛 설치판(52)의 일측에 상기 프로브 유닛(30)의 배열방향으로 긴 홈(54)을 형성하고, 상기 프로브 유닛(30)의 검사팁(32)으로 신호를 전달하는 가요성 인쇄회로기판(62)이 상기 홈을 통해 상기 전면패널(20)의 전면에 체결되도록 하였다.
전술된 바와 같이 구성된 다른 실시예에 의한 프로브 유닛의 취부구조는 프로브 유닛(30)을 수리 또는 교체할 경우 프로브 유닛 설치판(52)의 전면에 고정된 고정볼트(B)를 풀러 상기 프로브 유닛(30)을 분리하였다. 한편, 이러한 프로브 장치에 있어서, 상기 프로브 유닛(30)에 신호를 전달하는 가요성 인쇄회로기판(62)을 교체하기 위해서는 먼저, 상기 프로브 유닛(30)의 일측에 연결된 가요성 인쇄회로기판(62)의 일단을 분리한다. 다음으로, 상기 전면패널(20)을 개방한 후 다음으로 상기 프로브 유닛(60)의 저면에 연결된 가요성 인쇄회로기판(62)의 타단을 분리하는 복잡한 과정을 거쳤다. 또한, 상기 프로브 유닛(30)을 전면에 결합시키기 위해 상기 프로브 유닛 설치판(52)에 형성된 홈(54)으로 인해 내구성이 저하되고, 상기 프로브 유닛(30)에 진동이 발생되어 검사의 정확도가 떨어졌다.
본 발명의 목적은 전술된 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 프로브 유닛의 검사팁으로 신호를 전달하는 배선 및 주요 부품이 상기 프로브 유닛의 외측에 위치되도록 하여 상기 프로브 유닛의 전면패널이 프로브 장치에 닫힌 상태에서 상기 프로브 유닛의 수리 또는 교체가 가능하고, 신속하고 용이하게 수리 또는 교체할 수 있는 프로브 유닛의 취부구조를 제공하는 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 프로브 유닛의 취부구조는 프로브 장치의 본체 일측에 설치되고 피검사소자의 검사단자에 일단이 접촉되어 피검사소자의 상태를 검사하기 위한 검사팁이 마련된 프로브 유닛에 있어서, 상기 프로브 장치의 본체에 체결되는 프로브 유닛 설치판과, 상기 프로브 유닛 설치판에 장착된 몸체부와, 상기 몸체부의 일단에 상하방향으로 이동가능하게 장착되고 전면에 검사팁이 구비된 프로브 블록이 장착된 검사부와, 상기 몸체부를 감싸안은 형상으로 상기 검사부의 검사팁과 상기 프로브 유닛 설치판의 외부신호 접속단자를 연결하는 가요성 인쇄회로기판을 포함한다.
여기서, 상기 검사부는 상기 몸체부의 전면에 가이드 수단에 의해 상하로 이동가능하게 설치된 가동부와, 상기 가동부의 전면에 고정되어 검사팁이 구비된 상기 프로브 블록을 고정하기 위한 고정부를 포함할 수 있다. 또한, 상기 가요성 회로기판의 일단은 고정홀이 형성된 탭 아이씨 블록을 포함하고, 상기 고정부의 전면에는 상기 탭 아이씨 블록이 고정되도록 상기 고정홀이 결합되는 고정핀이 형성되며, 상기 프로브 블록은 상기 검사팁이 상기 가요성 인쇄회로기판에 형성되어 상기 검사팁이 접속되는 접속단자의 전면을 압착하도록 상기 고정부의 전면에 체결될 수 있다. 나아가, 상기 프로브 블록은 전면을 향해 소정각도 경사진 경사면을 포함할 수 있고, 상기 프로브 블록의 경사면에는 상기 검사팁이 고정될 수 있다.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 도 5는 본 발명 따른 프로브 장치의 일부가 절개된 측면도이고, 도 6은 본 발명에 따른 프로브 장치의 프로브 유닛과 피검사소자의 접속관계가 도시된 사시도이며, 도 7은 본 발명에 따른 프로브 유닛의 측면도이고, 도 8은 본 발명에 따른 프로브 유닛의 일부가 분해된 측면도이다.
본 발명에 따른 프로브 유닛의 취부구조에 있어서, 프로브 장치(110)는, 도 5 내지 도 8에 도시된 바와 같이, 베이스 유닛(112)과, 상기 베이스 유닛(112)에 설치되어 피검사소자(P)가 장착되는 작업 스테이지(124)를 포함한다. 상기 베이스 유닛(112)은 프레임으로 이루어져 상기 프로브 장치(110)의 외관을 이루고, 내부에는 각종 장비들이 장착된다. 또한, 상기 베이스 유닛(112)에는 일측을 축으로 전방으로 개폐되는 전면패널(120)이 설치된다. 여기서, 상기 전면패널(120)의 전면에는 프로브 유닛(130)의 고정을 위한 프로브 유닛 설치판(122)이 고정볼트(B)로서 체결된다. 상기 프로브 유닛(130)은 피검사소자(P)의 검사단자와 접속되는 하나 이상의 검사팁(132)이 형성된 것으로서, 상기 프로브 장치(110)로부터 전달된 검사신호를 피검사소자(P)의 검사단자로 전달한다.
상기 프로브 유닛(130)은 상기 프로브 유닛 설치판(122)의 단부에 장착되는 몸체부(134)와, 상기 몸체부(134)의 장착되어 피검사소자(P)의 검사를 위한 각종 부품이 설치된 검사부(136)를 포함한다. 상기 몸체부(134)는 상기 프로브 유닛 설치판(122)에 몸체 고정 볼트(134a)로 고정된다. 상기 검사부(136)는 상기 몸체부(134)의 전면 일측에 활주가능하게 장착된다. 이를 위해 상기 검사부(136)와 몸체부(134) 사이에는 활주가 용이하도록 리니어 가이드(135)가 설치된다. 상기 검사부(136)는 상기 리니어 가이드(135)가 고정되어 활주되는 가동부(137)와, 상기 가동부(137)의 일측에 고정되어 각종 부품이 고정되는 고정부(138)를 포함한다. 또한, 상기 몸체부(134)와 가동부(137) 사이에는 이들을 완충시키는 스프링(137a)을 포함하는 탄성부재가 포함된다. 상기 스프링(137a)은 상기 몸체부(134)의 일측을 관통하여 상기 가동부(137)의 상단에 체결된 가이드 볼트(137b)에 의해 이동이 안내된다.
또한, 상기 고정부(138)에는 상기 피검사소자(P)의 검사단자와 접촉하기 위한 검사팁(132)이 구비된 프로브 블록(139)이 프로브 블록 체결볼트(139a)에 의해 탈착가능하게 장착된다.
상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 일단에는 고정홀(140a)이 형성된 탭 아이씨 블록(140)을 포함하고, 상기 고정부(138)의 전면에는 전방을 향해 고정핀(138a)이 돌출 형성된다. 상기 고정핀(138a)은 상기 탭 아이씨 블록(140)을 고정시키기 위한 것으로서, 상기 탭 아이씨 블록(140)의 고정홀(140a)이 상기 고정핀(138a)에 끼워지며 고정된다. 또한, 상기 탭 아이씨 블록(140)의 전면에 위치된 인쇄회로기판(142)의 전면 일측부에는 상기 검사팁(132)의 타단이 연결되기 위한 접속단자(144)가 형성된다. 여기서, 상기 접속단자(144)는 상기 프로브 장치(110)의 외측 방향인 상기 인쇄회로기판(142)의 전면에 형성되는 것이 바람직하다. 이때, 상기 고정부(138)의 전면에 장착되는 프로브 블록(139)의 검사팁(132)이 상기 인쇄회로기판(142)의 접속단자(144)와 접속되는 동시에 상기 고정부(138)의 상기 고정핀(138a)에 고정홀(140a)이 끼워지며 고정된 상기 탭 아이씨 블록(140)이 이탈되지 않도록 상기 인쇄회로기판(142)의 접속단자(144)를 압착한다.
또한, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 타단에는 상기 가요성 인쇄회로기판(142)을 상기 프로브 유닛 설치판(122)에 고정시키며 상기 프로브 검사장치(110)로부터 검사신호를 입력받기 위한 포고핀(147)이 마련된 포고핀 블록(146)이 설치된다.
한편, 상기 프로브 유닛 설치판(122)의 상부면 일측에는 상기 포고핀 블록(146)이 고정되기 위한 외부신호 접속블록(126)이 설치된다. 여기서, 상기 외부신호 접속블록(126)에는 상기 프로브 장치(110)의 제어부와 (도시되지 않은) 배선을 통해 연결된 외부신호 접속단자(127)가 형성되고, 상기 외부신호 접속단자(127)는 상기 포고핀 블록(146)의 포고핀(147)과 접지되며 검사신호를 전달하도록 이루어진다.
이를 위해, 상기 포고핀 블록(146)의 저면에는 포고핀 블록 고정돌기(146a)가 형성되고, 상기 외부신호 접속블록(126)에는 상기 포고핀 블록 고정돌기(146a)가 삽취되기 위한 고정돌기 삽입홀(126a)이 형성된다.
전술된 바와 같이, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)은 상기 프로브 유닛(130)의 전면을 거쳐 상기 몸체부(134)를 감싸안은 형상으로 일단에 연결된 상기 탭 아이씨 블록(140)이 상기 고정부(138)에 고정되고, 타단에 연결된 포고핀 블록(146)이 상기 외부신호 접속블록(126)에 고정되며 상기 포고핀(147)이 상기 외부신호 접속단자(127)와 연결된다.
상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 접속단자(144)에는 상기 프로브 장치(110)로부터 전달된 검사신호를 통하여 피검사소자(P)를 검사할 수 있도록 상기 검사팁(132)이 연결된다. 즉, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)은 일단이 접속단자(144)에 의해 상기 검사팁(132)과 연결되고, 상기 프로브 유닛(130)의 외측을 둘러싸며 상기 포고핀 블록(146)을 통해 상기 외부신호 접속단자(127)에 연결됨으로서, 상기 피검사소자(P)를 검사하기 위한 검사신호가 상기 검사팁(132)을 통해 피검사소자(P)의 검사단자로 공급된다.
전술된 바와 같이 구성된 프로브 유닛의 취부구조는 상기 프로브 유닛(130)을 수리 또는 교체할 경우 프로브 유닛 설치판(122)의 전면에 고정된 고정볼트(B)를 풀어 상기 프로브 유닛(130)을 분리하거나, 상기 프로브 유닛(130)의 몸체부(134)를 감싸안는 가요성 인쇄회로기판(142)을 분리함으로서 용이하게 작업을 할 수 있다. 이를 위해, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)은 상기 프로브 유닛(130)의 상부를 둘러싸며 연결되는 것이 바람직하다. 물론, 본 발명의 프로브 유닛의 취부구조에 있어서, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 일측을 접은 후 상기 프로브 유닛(130)의 측부를 둘러싸며 연결되도록 변형할 수 있다.
상기와 같이 구성된 본 발명에 의한 프로브 유닛의 취부구조의 작용을 살펴보면 다음과 같다. 본 발명에 있어서, 프로브 장치는 소형 텔레비전이나 노트북과 같은 영상 표시장치로 주로 사용되는 LCD와 같은 피검사소자(P)를 검사하기 위해 사용된다. 이러한 피검사소자(P)는 작동신호의 입력이나 제작시 검사신호를 입력받을 수 있도록 가장자리 부분에 검사신호가 인가되는 복수의 검사단자가 형성된다. 상기한 피검사소자(P)의 검사단자에는 상기 피검사소자(P)의 상태를 검사할 수 있도록 피검사소자(P)를 점등시키는 프로브 유닛(130)이 접촉된다.
상기 프로브 유닛(130)은 상기 프로브 장치(110)와 가요성 인쇄회로기판(142)을 통하여 전송된 검사신호를 상기 피검사소자(P)의 검사단자에 접속시켜 상기 피검사소자(P)의 점등검사를 실시하게 된다. 이때, 상기 검사팁(132)은 상기 프로브 장치(110)의 제어부로부터 전달된 검사신호가 상기 외부신호 접속블록(126)의 외부신호 접속단자(127)를 통해 상기 포고핀 블록(146)의 포고핀(147)으로 전달되고, 상기 포고핀(147)을 통해 전달된 검사신호는 상기 가요성 인쇄회로기판(142)을 거쳐 상기 접속단자(144)를 통해 상기 검사팁(132)으로 전달된 후, 피검사소자(P)의 검사단자와 접속되며 검사를 수행한다.
한편, 전술된 프로브 유닛(130)은 상기 프로브 장치(110)와 연결된 가요성 인쇄회로기판(142)에 꼬임, 단선 또는 단락이 발생될 경우, 상기 피검사소자(P)의 검사단자에 정확한 검사신호를 전달하지 못하므로 이를 수리 또는 교체한다.
일예로서, 작업자가 사용 중 고장이 발생된 프로브 유닛(130)을 수리 또는 교체할 경우, 먼저, 프로브 유닛 설치판(122)의 전면에 연결되어 프로브 장치(110)로부터 검사신호를 공급하는 가요성 회로기판(142)을 분리한다. 이를 위해 먼저, 상기 프로브 유닛(130)의 고정부(138)와 프로브 블록(139)을 고정시키는 프로브 블록 체결볼트(139a)를 풀러 상기 프로브 블록(139)을 분리한다. 이와 같이 상기 프로브 블록(139)이 분리되면, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 접속단자(144)를 가압하던 검사팁(132)의 압력이 제거되어 상기 가요성 인쇄회로기판(142)의 일단이 연결된 탭 아이씨 블록(140)을 분리할 수 있다. 다음으로 상기 가요성 회로기판(142)의 일단에 연결된 포고핀 블록(146)을 분리하는데, 상기 포고핀 블록(146)을 당겨 상기 포고핀 블록(146)의 배면에 형성되어 포고핀 블록 고정돌기(146a)가 고정돌기 삽입홀(126a)로부터 빠지게 하여 프로브 검사장치(110)의 제어부와 연결된 외부신호 접속단자(127)와 상기 가요성 인쇄회로기판(142)과 연결된 포고핀(147)이 단락되도록 분리한다. 전술된 바와 같이, 상기 가요성 회로기판(142)이 상기 프로브 유닛(130)으로부터 분리되면, 분리된 가요성 회로기판(142)의 꼬임을 풀거나, 단선 또는 단락된 부분을 수리한 후, 양품의 제품으로 수리 또는 교체된 가요성 회로기판(142)을 분리의 역순으로 재조립한다. 여기서, 본 발명의 구성부품은 분리 및 조립되는 순서를 상황에 맞추어 변경할 수 있음은 당연하다.
한편, 상기 가요성 인쇄회로기판(142)이 심하게 파손, 손상된 경우 상기 가요성 인쇄회로기판(142)과 상기 프로브 유닛(130)을 상기 프로브 유닛 설치판(122)으로부터 분리하여 정밀검사를 수행한다. 이를 위해 상기 프로브 장치(110)의 전면패널(120)과 프로브 유닛 설치판(122)을 체결하는 고정볼트(B)를 풀러 프로브 유닛(130)을 분리한다. 상기와 같이 상기 프로브 유닛 설치판(122)으로부터 분리된 프로브 유닛(130)은 이상 부위를 수리하거나 양품의 프로브 유닛(130)으로 교체된 후 상기 프로브 유닛(130)을 분리한 역순으로 재조립한다.
이와 같이, 작업자는 상기 전면패널(120)을 열지 않고도 상기 프로브 유닛(130)을 교체하거나 상기 가요성 인쇄회로기판(142), 상기 프로브 블록(139) 또는 프로브 유닛(130)을 수리 또는 교체한다.
이상과 같이 본 발명에 따른 프로브 유닛의 취부구조를 예시된 도면을 참조하여 설명하였으나, 본 발명은 이상에서 설명된 실시예와 도면에 의해 한정되지 않으며, 특허청구범위 내에서 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자들에 의해 다양한 수정 및 변형될 수 있음은 물론이다.
전술된 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 프로브 유닛의 취부구조는 피검사소자와 접촉되는 검사팁 및 프로브 장치로부터 전달된 신호를 상기 검사팁으로 연결하는 가요성 인쇄회로기판이 상기 프로브 유닛의 외측으로 연결되어, 상기 프로브 장치의 전면패널을 열지 않고도 프로브 유닛 또는 가요성 인쇄회로기판을 용이하게 수리 또는 교환할 수 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 프로브 장치의 일부가 절개된 측면도.
도 2는 종래 기술에 따른 프로브 장치의 프로브 유닛과 피검사소자의 접속관계가 도시된 사시도.
도 3은 종래 기술에 따른 프로브 유닛의 측면도.
도 4는 종래 기술의 다른 실시예에 따른 프로브 유닛의 취부구조가 도시된 측면도.
도 5는 본 발명 따른 프로브 장치의 일부가 절개된 측면도.
도 6은 본 발명에 따른 프로브 장치의 프로브 유닛과 피검사소자의 접속관계가 도시된 사시도.
도 7은 본 발명에 따른 프로브 유닛의 측면도.
도 8은 본 발명에 따른 프로브 유닛의 일부가 분해된 측면도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
110 : 프로브 장치 112 : 베이스 유닛
120 : 전면패널 122 : 프로브 유닛 설치판
124 : 작업 스테이지 126 : 외부신호 접속블록
126a : 고정돌기 삽입홀 127 : 외부신호 접속단자
130 : 프로브 유닛 132 : 검사팁
134 : 몸체부 134a : 몸체 고정 볼트
135 : 리니어 가이드 136 : 검사부
137 : 가동부 137a : 스프링
138 : 고정부 138a : 고정핀
139 : 프로브 블록 139a : 프로브 블록 체결볼트
140 : 탭 아이씨 블록 140a : 고정홀
142 : 가요성 인쇄회로기판 144 : 접속단자
146 : 포고핀 블록 146a : 포고핀 블록 고정돌기
147 : 포고핀

Claims (4)

  1. 프로브 장치의 본체에 체결되는 프로브 유닛 설치판과,
    상기 프로브 유닛 설치판에 장착된 몸체부와,
    상기 몸체부의 일단에 상하방향으로 이동가능하게 장착되고 전면에 검사팁이 구비된 프로브 블록이 장착된 검사부와,
    상기 몸체부를 감싸안은 형상으로 상기 검사부의 검사팁과 상기 프로브 유닛 설치판의 외부신호 접속단자를 연결하는 가요성 인쇄회로기판을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛의 취부구조.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 검사부는 상기 몸체부의 전면에 가이드 수단에 의해 상하로 이동가능하게 설치된 가동부와, 상기 가동부의 전면에 고정되어 검사팁이 구비된 상기 프로브 블록을 고정하기 위한 고정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛의 취부구조.
  3. 청구항 2에 있어서, 상기 가요성 회로기판의 일단은 고정홀이 형성된 탭 아이씨 블록을 포함하고, 상기 고정부의 전면에는 상기 탭 아이씨 블록이 고정되도록 상기 고정홀이 결합되는 고정핀이 형성되며, 상기 프로브 블록은 상기 검사팁이 상기 가요성 인쇄회로기판에 형성되어 상기 검사팁이 접속되는 접속단자의 전면을 압착하도록 상기 고정부의 전면에 체결되는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛의 취부구조.
  4. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서, 상기 프로브 블록은 전면을 향해 소정각도 경사진 경사면을 포함하고, 상기 프로브 블록의 경사면에는 상기 검사팁이 고정되는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛의 취부구조.
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