KR20050020049A - 회로기판 시험용 지그 - Google Patents

Abstract

개시된 회로기판 시험용 지그는, 회로기판 측에 배치되는 제1플레이트와, 회로기판으로부터 신호를 받을 시험장치 측에 배치되는 제2플레이트와, 회로기판의 접점 및 시험장치의 단자를 연결하도록 제1,2플레이트 사이에 설치되는 검사핀 및, 제1,2플레이트의 간격을 유지해주며 그 간격이 탄력적으로 유동되지 않게 지탱해주는 강체로 된 기둥형 스페이서를 포함하여 구성된다. 이와 같은 구성에 의하면, 지그에 압력이 가해지더라도 검사핀의 변위가 억제되므로, 시험 도중 검사핀의 단부가 정확한 접속 위치에 끼워지지 못하고 휘어지는 등의 손상을 방지할 수 있다.

Description

회로기판 시험용 지그{A jig for testing of circuit board}

본 발명은 회로기판의 쇼트 여부를 측정하여 제품의 양부를 판별하기 위한 시험용 지그에 관한 것이다.

일반적으로 회로기판은 에폭시계의 기판 위에 동박으로 다수의 도선을 새기고 IC 등의 부품이 부착될 접점을 만들어 제조되며, 제조 후에는 각 도선 간의 쇼트 여부를 측정하는 테스트를 거치게 된다. 도 1은 이러한 테스트를 위해 시험장치에서 사용되던 종래의 시험용 지그를 나타낸 것이다. 도시된 바와 같이 종래의 회로기판 시험용 지그(10)는, 테스트할 회로기판(1;도 2 참조)이 놓이게 되는 제1플레이트(11)와, 스페이서(14)(15)를 사이에 두고 제1플레이트(11)와 나란하게 배치되는 제2플레이트(12)와, 상기 제1,2플레이트(11)(12) 사이에 설치되어 일단은 상기 제1플레이트(11)에 마련된 관통홀(11a)을 통해 돌출되어 회로기판(1)의 접점에 접속되고 타단은 상기 제2플레이트(12)의 관통홀(12a)을 통해 돌출되어 상기 시험장치(100;도 2 참조)의 신호단자(미도시)에 접속되는 복수의 검사핀(16)을 포함하여 구성된다. 참조부호 13은 상기 제1,2플레이트(11)(12) 사이에 설치되어 검사핀(16)들이 서로 닿지 않도록 각 검사핀(16)들의 몸체 중간부를 서로 이격시켜 지지해주는 지지홀(13a)을 구비한 보조플레이트들을 나타내며, 이 보조플레이트(13)들과 상기 제1,2플레이트(11)(12)는 아크릴 재질로 이루어져 있다.

그리고, 이와 같은 지그(10)는, 도 2에 도시된 바와 같이 시험장치(100)의 고정대(110) 뿐 아니라, 회로기판(1)의 검사위치 상방에 마련된 승강대(120)에도 대칭되게 각각 설치되어 있어서, 회로기판(1)의 양면에 새겨진 도선의 상태를 동시에 시험할 수 있게 되어 있다. 즉, 상기 고정대(110)에 위치한 지그(10)의 제1플레이트(11) 위에 검사할 회로기판(1)을 올려서 검사핀(16)과 회로기판(1)의 하면 쪽 접점을 맞춰놓고 상기 승강대(120)를 하강시키면, 그 승강대(120)에 설치된 지그(10)의 검사핀(16)이 회로기판(1)의 상면 쪽 접점이 접속되어 양면의 쇼트 상태를 측정할 수 있게 된다.

한편, 이와 같은 종래의 지그(10)에 있어서, 상기 제1,2플레이트(11)(12) 간의 간격을 유지해주는 스페이서(14)(15)는 도면과 같이 탄력적으로 변형이 가능한 탄성부재들로 이루어져 있다. 즉, 외곽 측에 설치된 링형 스페이서(14)는 도 3과 같이 탄력적으로 변형될 수 있고, 안쪽에 설치된 스프링형 스페이서(15)도 도 4와 같이 탄성변형이 되면서 제1,2플레이트(11)(12) 간의 간격을 유동적으로 지탱해주게 된다.

그런데, 이와 같이 스페이서(14)(15)가 탄력적으로 유동이 되면, 상기 고정대(110) 측과 승강대(120) 측의 지그가 서로 밀착될 때 약간의 완충 효과를 기대할 수는 있지만, 자칫 검사핀(16)들이 손상될 위험이 매우 크다. 즉, 상하의 지그가 서로 닿는 순간 스페이서(14)(15)가 변형되면, 회로기판(1)의 접점에 정확히 꽂혀야 하는 검사핀(16)의 단부 위치도 약간 바뀌게 된다. 이 상태에서 상하 지그가 밀착되면 검사핀(16)이 휘어지거나 심할 경우 부러져서 시험용 지그로서의 수명이 끝나 버릴 수가 있다.

따라서, 이러한 문제점을 해결할 수 있는 새로운 구조의 시험용 지그가 요구되고 있다.

본 발명은 상기의 필요성을 감안하여 창출된 것으로서, 검사핀의 단부 위치를 견고하고 안정적으로 유지하여 시험 도중 검사핀의 손상을 방지할 수 있도록 개선된 회로기판 시험용 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 회로기판 측에 배치되는 제1플레이트와, 상기 회로기판으로부터 신호를 받을 시험장치 측에 배치되는 제2플레이트와, 상기 회로기판의 접점 및 상기 시험장치의 단자를 연결하도록 상기 제1,2플레이트 사이에 설치되는 검사핀 및, 상기 제1,2플레이트의 간격을 유지해주는 스페이서를 포함하는 회로기판 시험용 지그에 있어서, 상기 스페이서가 상기 제1,2플레이트 간의 간격을 탄력적으로 유동시키지 않는 강체로 이루어진 것을 특징으로 한다.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.

도 5는 본 발명에 따른 회로기판 시험용 지그를 나타낸 것이다.

도시된 바와 같이 본 발명의 회로기판 시험용 지그(20)는, 회로기판(1) 측에 배치되는 제1플레이트(21)와, 시험장치(100;도 2 참조) 쪽에 배치되는 제2플레이트(22), 상기 회로기판(1)의 접점과 시험장치(100)의 단자를 회로적으로 연결하여 쇼트 여부를 측정하기 위한 검사핀(26), 그리고, 상기 제1,2플레이트(21)(22)의 간격을 유지해주는 스페이서(24)(25)를 포함하여 구성된다. 이 지그(20)를 이용한 회로기판(1)의 쇼트 여부 시험방법은 전술한 종래의 지그를 이용한 경우와 같으므로, 여기서는 본 발명에 따른 지그(20)의 특징부를 위주로 설명하기로 한다.

먼저, 본 발명의 주 특징은 상기 스페이서(24)(25)의 구성에 있다. 즉, 본 발명에서는 스페이서(24)(25)가 실질적으로 탄성변형이 일어나지 않는 아세탈(acetal)수지 재질의 기둥형 스페이서로 구성되어 있다. 이중에서 외곽측에 배치되는 스페이서(24)는 그 양단이 스크류에 의해 제1,2플레이트(21)(22)에 체결되어 있으며, 안쪽에 배치되는 스페이서(25)는 보조플레이트(23)의 스페이서지지홀(23b)에 끼워진 상태로 그 양단이 제1,2플레이트(21)(22)의 안쪽 면에 밀착되어 있다. 따라서, 이러한 기둥형 강체 스페이서(24)(25)에 의해 제1,2플레이트(11)(12) 간의 간격이 견고하게 고정되기 때문에, 각각의 관통홀(21a)(22a)에 끼워져 있는 검사핀(26)의 양단부 위치도 항상 고정된 상태를 유지할 수 있게 된다. 이렇게 되면 회로기판(1)의 하면 측과 상면 측을 검사하는 두 개의 지그가 닿을 때 검사핀(26)의 단부 위치가 이동하여 밀착 과정 중 손상을 입는 현상은 사실상 없어지게 된다. 물론, 이 경우 지그 자체의 완충 기능은 상실할 수 있으나, 통상적으로 시험장치(100)의 승강대(110;도 2 참조)와 고정대(120;도 2 참조) 중 적어도 어느 한 쪽에 밀착 시의 충격을 완화시키기 위한 완충 기능이 구비되어 있기 때문에, 굳이 지그(20)에까지 똑같은 완충 기능을 더 부여하지 않아도 무난하게 시험 과정을 진행할 수가 있다.

또한, 본 발명의 지그(20)에서는 상기 제1,2플레이트(21)(22)와 그 사이에 설치되어 검사핀(26)들 간의 접촉을 막아주는 보조플레이트(23)들이 종래와 같은 아크릴이 아닌 베이클라이트(bakelite) 재질로 구성되어 있다. 이 베이클라이트는 아크릴에 비해 강도가 강하여 재질의 수축이나 변형이 적기 때문에, 지그(20)를 더 오랫동안 보존할 수 있게 해주는 장점이 있으며, 또한, 관통홀(21a)과 지지홀(23a)(23b) 등을 가공한 후에도 홀의 단면이 깨끗하여 깔끔한 미관을 얻을 수 있다.

따라서, 본 발명에 따른 시험용 지그는 시험 과정에서 발생할 수 있는 검사핀의 손상을 방지해주고 보존성을 향상시키는 장점을 구비하고 있어서 전체적인 수명의 향상을 기대할 수 있는 것이다.

상술한 바와 같은 본 발명의 회로기판 시험용 지그는 다음과 같은 효과를 제공한다.

첫째, 회로기판 측의 플레이트와 시험장치 측 플레이트 간의 간격을 유지하는 스페이서를 실질적으로 탄성변형이 없는 강체로 구성함으로써 시험 도중 검사핀의 변위를 억제하여 휨이나 부러짐 같은 치명적인 손상을 방지할 수 있다.

둘째, 스페이서의 구조가 종래와 같은 링형 스페이서와 스프링형 스페이서에 비해 간단하고 부품수도 적기 때문에, 지그의 조립이 수월해진다.

셋째, 검사핀의 손상과 같은 작업오류의 발생 가능성이 줄어들기 때문에, 전체적인 제품의 생산성이 향상된다.

넷째, 지그를 구성하는 각 플레이트를 재질 수축이나 변형이 적은 베이클라이트로 구성함으로써 지그의 보존성을 향상시킬 수 있다.

다섯째, 베이클라이트의 채택에 따라 검사핀 등이 끼워지는 홀의 가공 후 단면을 깨끗하게 만들 수 있다.

본 발명은 상기에 설명되고 도면에 예시된 것에 의해 한정되는 것은 아니며 다음에 기재되는 청구의 범위 내에서 더 많은 변형 및 변용예가 가능한 것임은 물론이다.

도 1은 종래의 회로기판 시험용 지그를 도시한 도면,

도 2는 도 1에 도시된 지그를 이용하여 시험장치에서 테스트를 수행하는 과정을 보인 도면,

도 3 및 도 4는 도 1에 도시된 지그에 있어서 스페이서의 탄성변형에 의해 지그의 변위가 발생되는 상황을 보인 도면,

도 5는 본 발명에 따른 회로기판 시험용 지그를 도시한 도면.

< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 >

1...회로기판 100...시험 장치

20...지그 21,22...제1,2플레이트

23...보조플레이트 24,25...스페이서

26...검사핀

Claims (1)

1. 회로기판 측에 배치되는 제1플레이트와, 상기 회로기판으로부터 신호를 받을 시험장치 측에 배치되는 제2플레이트와, 상기 회로기판의 접점 및 상기 시험장치의 단자를 연결하도록 상기 제1,2플레이트 사이에 설치되는 검사핀 및, 상기 제1,2플레이트의 간격을 유지해주는 스페이서를 포함하는 회로기판 시험용 지그에 있어서,

   상기 스페이서는 상기 제1,2플레이트 간의 간격을 탄력적으로 유동시키지 않는 강체로 이루어진 것을 특징으로 하는 회로기판 시험용 지그.