KR20040053375A - Device for appearance inspection - Google Patents

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KR20040053375A
KR20040053375A KR10-2004-7008035A KR20047008035A KR20040053375A KR 20040053375 A KR20040053375 A KR 20040053375A KR 20047008035 A KR20047008035 A KR 20047008035A KR 20040053375 A KR20040053375 A KR 20040053375A
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KR
South Korea
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illumination light
light source
reflecting
optical system
reflection
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Application number
KR10-2004-7008035A
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Korean (ko)
Inventor
노부아키 이마이
마코토 니시자와
Original Assignee
올림푸스 가부시키가이샤
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

Abstract

본 발명은 액정유리기판 등의 대형기판의 외관검사에 이용되는 외관검사용 투광장치에 관한 것으로서, 조명광원과, 이 조명광원으로부터의 빛을 피검사부재를 향하여 반사시키는 반사광학계와, 이 반사광학계의 반사광로에 배치되는 집광광학계를 구비하고, 상기 집광광학계는 적어도 2분할되며, 이들 분할된 각 집광광학계로부터의 조명광속에 의해 상기 피검사부재의 전체면을 조사 가능하게 한 것을 특징으로 한다.BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention [0001] The present invention relates to a light transmitting apparatus for external inspection used for external inspection of a large substrate such as a liquid crystal glass substrate, comprising: an illumination light source, a reflection optical system for reflecting light from the illumination light source toward an inspection object, and the reflection optical system And a condensing optical system arranged in a reflected optical path of light, wherein the condensing optical system is divided into at least two parts, and the entire surface of the member under test can be irradiated by the luminous flux from each of the divided condensing optical systems.

Description

외관검사장치{DEVICE FOR APPEARANCE INSPECTION}Appearance Inspection Device {DEVICE FOR APPEARANCE INSPECTION}

본 발명은 액정유리기판 등의 대형기판의 외관검사에 이용되는 외관검사용 투광장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a light emitting device for external inspection used for external inspection of large substrates such as liquid crystal glass substrates.

종래 액정디스플레이의 유리기판의 품질을 안정된 상태로 유지하기 위해 기판상의 레지스트 등의 막두께의 얼룩이나 ITO막상의 핀홀 등의 외관검사를 비롯하여 기판상에 인쇄된 패턴의 난류나 얼룩, 또는 기판표면에 부착한 먼지나 흠 등의 외관검사가 매우 중요해지고 있다. 이와 같은 기판의 외관검사에는 일본국 특허 공개공보93-232040호, 일본국 특허 공개공보93-232032호, 일본국 특허 공개공보97-273996호, 일본국 특허 공개공보2000-97864호에 개시된 외관검사용 투광장치가 이용되고 있다.In order to maintain the quality of the glass substrate of a conventional liquid crystal display, the surface inspection of the pattern printed on the substrate or the turbulence or stain of the pattern printed on the substrate, as well as the appearance inspection of the film thickness of the resist or the like on the substrate or the pinhole on the ITO film, etc. Visual inspection of adhered dust and scratches is becoming very important. The appearance inspection of such a substrate includes the appearance inspection disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 93-232040, Japanese Patent Application Laid-Open No. 93-232032, Japanese Patent Application Laid-Open No. 97-273996, and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-97864. A flood projector is used.

도 7은 일본국 특허 공개공보93-232032호에 개시된 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 도면이다. 도 7에 나타내는 외관검사용 투광장치에서는 유리기판상의 레지스트 등의 막두께의 얼룩이나 ITO막상의 핀홀 등의 외관검사가 실시된다.Fig. 7 is a view showing a schematic configuration of a light emitting device for visual inspection disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 93-232032. In the external light inspection apparatus shown in Fig. 7, the external appearance inspection such as unevenness of the film thickness of a resist on a glass substrate and pinholes on an ITO film is performed.

광원(101)의 뒤쪽에는 타원회전미러(102)가 배치되어 있다. 광원(101)으로부터의 조명광은 타원회전미러(102)로 반사되고, 열선흡수필터(103)를 통하여 게이트(104)에 모인다. 또한 조명광은 필터(105)를 통하여 집광용 프레넬렌즈(106)에 입사되고, 평행광속으로 규제된다. 이 집광용 프레넬렌즈(106)에 의해 규제되는 평행광속 속에 피검사부재인 유리기판(107)이 광축에 대하여 소정의 각도를 갖고 배치되어 있다.An elliptical rotating mirror 102 is disposed behind the light source 101. The illumination light from the light source 101 is reflected by the elliptic rotation mirror 102 and is collected at the gate 104 through the heat ray absorption filter 103. In addition, the illumination light is incident on the condensing Fresnel lens 106 through the filter 105, and is regulated by the parallel light flux. The glass substrate 107, which is the member to be inspected, is arranged at a predetermined angle with respect to the optical axis in the parallel light beam regulated by the light collecting Fresnel lens 106.

이와 같은 구성을 이루는 외관검사용 투광장치에서는 유리기판(107)의 표면이 얼룩 없이 조명되고, 관찰자(108)는 유리기판(107)의 표면으로부터 발생하는 미소한 산란광을 육안에 의해 관찰할 수 있다. 이에 따라 유리기판(107)상의 레지스트 등의 막두께의 얼룩이나 ITO막상의 핀홀 등의 결함부(109)가 검출된다.In the external light inspection apparatus having such a configuration, the surface of the glass substrate 107 is illuminated without spots, and the observer 108 can observe the minute scattered light generated from the surface of the glass substrate 107 with the naked eye. . As a result, unevenness of the film thickness of the resist or the like on the glass substrate 107 or defective portions 109 such as the pinhole on the ITO film are detected.

도 8은 일본국 특허 공개공보93-232032호에 개시된 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 도면이다. 도 8에 있어서 도 7과 동일한 부분에는 동일부호를 붙이고 있다. 도 8에 나타내는 외관검사용 투광장치에서는 유리기판상에 인쇄된 패턴의 난류나 얼룩, 또는 기판표면에 부착한 먼지나 흠 등의 외관검사가 실시된다.Fig. 8 is a diagram showing a schematic configuration of a light emitting device for visual inspection disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 93-232032. In FIG. 8, the same code | symbol is attached | subjected to the same part as FIG. In the external inspection light transmitting device shown in Fig. 8, the external inspection such as turbulence or stain of the pattern printed on the glass substrate, dust or scratches attached to the surface of the substrate is performed.

도 8에서는 도 7의 구성에 덧붙여서 집광용 프레넬렌즈(106)에 의해 규제되는 평행광속 속에 추가로 투광용 프레넬렌즈(110)가 배치되어 있다. 이 투광용 프레넬렌즈(110)에 의한 광속의 수렴위치(A) 바로 앞의 광로 속에 피검사부재인 유리기판(107)이 광축에 대하여 소정의 각도를 갖고 배치되어 있다.In FIG. 8, in addition to the configuration of FIG. 7, the light transmitting Fresnel lens 110 is further disposed in the parallel light beam regulated by the light collecting Fresnel lens 106. A glass substrate 107, which is a member to be inspected, is disposed at a predetermined angle with respect to the optical axis in the optical path just in front of the convergence position A of the light beams by the light-transmitting Fresnel lens 110.

이와 같은 구성을 이루는 외관검사용 투광장치에서는 유리기판(107)의 표면이 얼룩없이 조명되고, 관찰자(108)는 유리기판(107)으로부터의 반사광의 수렴위치(S) 근처에서 유리기판(107)의 표면으로부터 발생하는 미소한 산란광을 육안에 의해 관찰할 수 있다. 이에 따라 유리기판(107)상에 인쇄된 패턴의 난류나 얼룩, 또는 유리기판(107)표면에 부착한 먼지나 흠 등의 결함부(111)가 검출된다.In the external inspection light transmitting device having such a configuration, the surface of the glass substrate 107 is illuminated without spots, and the observer 108 has the glass substrate 107 near the convergence position S of the reflected light from the glass substrate 107. The fine scattered light generated from the surface of can be observed by the naked eye. Thereby, the defect part 111, such as turbulence or a stain of the pattern printed on the glass substrate 107, or the dust or a dent attached to the surface of the glass substrate 107, is detected.

그런데 최근 액정디스플레이는 더욱 대형화의 경향에 있다. 이에 동반하여 액정디스플레이에 이용되는 유리기판은 대형화되고, 1,000mm×1,200mm의 크기의 것도 있다.Recently, however, liquid crystal displays have tended to be larger in size. Accompanying this, the glass substrate used for the liquid crystal display is enlarged, and there is also a size of 1,000 mm × 1,200 mm.

그런데 상기한 구성을 이루는 어느 쪽의 외관검사용 투광장치에서도 유리기판이 대형화되면, 그 유리기판의 크기와 동등 이상의 집광용 프레넬렌즈(106)나 투광용 프레넬렌즈(110)가 필요하게 된다. 이 때문에 이들 집광용 프레넬렌즈(106)나 투광용 프레넬렌즈(110)는 더욱 대형화하는 경향에 있다.However, in any of the external light inspection apparatuses having the above-described configuration, if the glass substrate is enlarged, the light collecting fresnel lens 106 or the light transmitting fresnel lens 110 equal to or larger than the size of the glass substrate is required. . For this reason, these light collecting fresnel lenses 106 and light transmitting fresnel lenses 110 tend to be larger in size.

현재의 기술로는 렌즈직경을 필요 이상으로 크게 하는 것은 렌즈성능을 일정하게 유지하는 데에서 제작상 곤란하며, 이에 따라 유리기판(107)상을 얼룩 없이 조명하는 것도 어려워진다. 이 때문에 대형기판의 외관검사의 신뢰성이 저하한다는 문제가 있다. 또 대형의 집광용 프레넬렌즈(106)나 투광용 프레넬렌즈(110)를 사용하면 자중에 의한 렌즈의 휨이 발생하지 않도록 장치에 부착하는 것이 곤란해지는 동시에, 장치의 대형화도 피할 수 없다는 문제가 발생한다.In the current technology, it is difficult to make the lens diameter larger than necessary to keep the lens performance constant, thus making it difficult to illuminate the glass substrate 107 without spots. For this reason, there exists a problem that the reliability of the external inspection of a large board | substrate falls. In addition, when the large light collecting fresnel lens 106 or the light emitting fresnel lens 110 is used, it is difficult to attach the device to the lens so that the lens does not bend due to its own weight, and the size of the device cannot be avoided. Occurs.

본 발명의 목적은 광원으로부터의 빛을 되꺾는 것으로 장치의 높이를 억제하여 소형화를 꾀할 수 있는 외관검사장치를 제공하는 것에 있다. 또 본 발명의 목적은 집광광학계를 복수로 분할하여 조명계의 초점거리를 짧게 하는 것으로 장치의 높이를 억제하여 소형화를 꾀할 수 있는 외관검사장치를 제공하는 것에 있다.An object of the present invention is to provide an appearance inspection apparatus which can reduce the height of the device by minimizing the light from the light source. Another object of the present invention is to provide a visual inspection apparatus capable of miniaturizing the height of the device by reducing the focal length of the illumination system by dividing the condensing optical system into a plurality.

(1) 본 발명의 외관검사용 투광장치는 조명광원과, 이 조명광원으로부터의 빛을 피검사부재를 향하여 반사시키는 반사광학계와, 이 반사광학계의 반사광로에 배치되는 집광광학계를 구비하고, 상기 집광광학계는 적어도 2분할되며, 이들 분할된 각 집광광학계로부터의 조명광속에 의해 상기 피검사부재의 전체면을 조사 가능하게 했다.(1) An external light inspection apparatus according to the present invention includes an illumination light source, a reflection optical system for reflecting light from the illumination light source toward an inspected member, and a condensing optical system disposed in the reflection optical path of the reflection optical system. The condensing optical system is divided into at least two parts, and the entire surface of the member under test can be irradiated by the luminous flux from each of the divided condensing optical systems.

(2) 본 발명의 외관검사용 투광장치는 상기 (1)에 기재한 장치이며, 또한 상기 각 집광광학계로부터의 조명광속은 각각 상기 피검사부재의 부분영역을 조사한다.(2) The light transmitting apparatus for visual inspection of the present invention is the apparatus described in the above (1), and the illumination light beams from the respective condensing optical systems respectively irradiate partial regions of the inspected member.

(3) 본 발명의 외관검사용 투광장치는 상기 (1)에 기재한 장치이며, 또한 상기 조명광원 및 상기 반사광학계는 상기 각 집광광학계마다 설치된다.(3) The light transmitting apparatus for inspecting the appearance of the present invention is the apparatus described in the above (1), and the illumination light source and the reflection optical system are provided for each condensing optical system.

(4) 본 발명의 외관검사용 투광장치는 상기 (1)에 기재한 장치이며, 또한 상기 각 집광광학계의 광축을 초점 근처에서 교차 또는 집중시킨다.(4) The light transmitting device for visual inspection of the present invention is the device described in (1) above, and further crosses or concentrates the optical axes of the respective light condensing optical systems near the focal point.

(5) 본 발명의 외관검사용 투광장치는 상기 (1)에 기재한 장치이며, 또한 상기 조명광원은 복수쌍의 상기 집광광학계마다 공통으로 설치된다.(5) The light transmitting device for inspecting the appearance of the present invention is the device described in (1) above, and the illumination light source is provided in common for a plurality of pairs of the condensing optical systems.

(6) 본 발명의 외관검사용 투광장치는 상기 (1)에 기재한 장치이며, 또한 상기 반사광학계는 제 1 반사부재와 제 2 반사부재로 이루어지고, 상기 제 1 반사부재는 상기 조명광원으로부터의 빛을 상기 제 2 반사부재를 향하여 반사시키고, 상기 제 2 반사부재는 상기 제 1 반사부재로부터의 빛을 상기 피검사부재를 향하여 반사시킨다.(6) The light transmitting apparatus for inspecting the appearance of the present invention is the apparatus described in the above (1), wherein the reflecting optical system consists of a first reflecting member and a second reflecting member, and the first reflecting member is separated from the illumination light source. Is reflected toward the second reflecting member, and the second reflecting member reflects the light from the first reflecting member toward the inspected member.

(7) 본 발명의 외관검사용 투광장치는 상기 (6)에 기재한 장치이며, 또한 상기 제 2 반사부재는 요동 가능하다.(7) The light transmitting apparatus for inspecting the appearance of the present invention is the apparatus according to the above (6), and the second reflecting member is swingable.

(8) 본 발명의 외관검사용 투광장치는 상기 (7)에 기재한 장치이며, 또한 상기 조명광원과 상기 제 1 반사부재가 연동하는 것으로 상기 피검사부재의 조사영역을 변경 가능하게 했다.(8) The light emitting device for external inspection of the present invention is the device described in (7) above, and the irradiation area of the member under test can be changed by interlocking the illumination light source and the first reflecting member.

(9) 본 발명의 외관검사용 투광장치는 상기 (1) 내지 (8)의 어느 쪽인가에 기재한 장치이며, 또한 상기 조명광원과 상기 집광광학계를 광축방향으로 상대적으로 이동 가능하게 했다.(9) The light-emitting device for visual inspection of the present invention is the device according to any one of (1) to (8), and further enables the illumination light source and the condensing optical system to be moved relatively in the optical axis direction.

도 1은 본 발명의 제 1 실시형태에 관련되는 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 측면도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The side view which shows schematic structure of the light transmission device for visual inspection which concerns on 1st Embodiment of this invention.

도 2는 본 발명의 제 1 실시형태에 관련되는 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 정면도.Fig. 2 is a front view showing a schematic configuration of a light emitting device for inspecting appearance according to the first embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 제 2 실시형태에 관련되는 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 측면도.Fig. 3 is a side view showing the schematic configuration of a light transmitting device for visual inspection according to a second embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 제 2 실시형태에 관련되는 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 정면도.4 is a front view showing a schematic configuration of a light transmitting apparatus for visual inspection according to a second embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 제 3 실시형태에 관련되는 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 측면도.Fig. 5 is a side view showing a schematic configuration of a light transmitting device for visual inspection according to a third embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 제 3 실시형태에 관련되는 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 하면도.Fig. 6 is a bottom view showing a schematic configuration of a light transmitting apparatus for visual inspection according to a third embodiment of the present invention.

도 7은 종래예에 관련되는 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 도면.7 is a view showing a schematic configuration of a light emitting device for inspecting appearance according to a conventional example.

도 8은 종래예에 관련되는 다른 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 도면이다.8 is a view showing a schematic configuration of another light-emitting device for visual inspection according to a conventional example.

※도면의 주요부분에 대한 부호의 설명※ Explanation of symbols for main parts of drawing

1: 장치본체 2: 홀더1: device body 2: holder

3: 유리기판 4, 8, 10, 21: 조명광원3: glass substrate 4, 8, 10, 21: illumination light source

5, 22, 51: 반사미러 6: 집광광학계5, 22, 51: Reflective mirror 6: Condensing optical system

7: 조명광속 20: 조명광학계7: illumination light 20: illumination optical system

31: 전측절반의 영역 32: 후측절반의 영역31: area of the forearm half 32: area of the fore half

52: 지지부 61: 제 1 프레넬렌즈52: support 61: first Fresnel lens

62: 제 2 프레넬렌즈62: second Fresnel lens

이하 본 발명의 실시형태를 도면을 참조해서 설명한다.Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

도 1은 본 발명의 제 1 실시형태에 관련되는 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 측면도이다. 도 1에 있어서, 장치본체(1)의 내부에는 홀더(2)가 배치되어 있다. 이 홀더(2)는 피검사부재로서, 예를 들면 LCD 등의 플랫디스플레이에 이용되는 대형의 유리기판(3)을 홀딩한다. 홀더(2)는 그 중심부가 회전 자유롭게 지지되고, 그 지지부를 중심으로 소정 각도의 범위에서 전후방향으로 일어나고쓰러짐(요동) 또는 반전이 가능하다. 또한 홀더(2)를 좌우방향으로, 또는 전후와 좌우방향으로 요동시킬 수도 있다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a side view which shows schematic structure of the light transmission device for visual inspection which concerns on 1st Embodiment of this invention. 1, the holder 2 is arrange | positioned inside the apparatus main body 1. As shown in FIG. This holder 2 holds a large glass substrate 3 used for a flat display such as an LCD, for example. The center of the holder 2 is rotatably supported, and the holder 2 is capable of rising and falling (swinging) or reversing in the front-rear direction in a range of a predetermined angle about the supporting portion. It is also possible to swing the holder 2 in the left and right directions or in the front and rear and left and right directions.

장치본체(1) 내부의 위쪽에는 복수개의 제 1 조명광원(4)이 설치되어 있다. 조명광원(4)은 예를 들면 메탈할로겐램프로 이루어진다. 조명광원(4)은 장치본체(1)의 정면측을 향하여 전후좌우방향으로 합계 4개 배치되어 있다. 도 1에서는 편의상 좌우전후의 2개의 조명광원(4, 4)만을 도시하고 있다.A plurality of first illumination light sources 4 are provided above the inside of the apparatus body 1. The illumination light source 4 consists of a metal halogen lamp, for example. The illumination light source 4 is arrange | positioned 4 in total in the front-back, left-right direction toward the front side of the apparatus main body 1. As shown in FIG. In FIG. 1, only the two illumination light sources 4 and 4 are shown for the sake of convenience.

또 장치본체(1) 내부의 위쪽에는 반사광학계인 복수개의 반사미러(5)가 각각 각 조명광원(4)에 개별로 대응하여 설치되어 있다. 반사미러(5)는 정면측을 향하여 전후좌우방향으로 합계 4개 배치되어 있다. 각 반사미러(5)는 수평방향에 대하여 소정의 각도 기울여서 배치되어 있다. 전측의 2개의 반사미러(5)는 각각 전측의 각 조명광원(4)으로부터의 빛을 후술하는 유리기판방향으로 반사하도록 표면이 전측아래쪽을 향해져 있다. 후측의 2개의 반사미러(5)는 각각 후측의 각 조명광원(4)으로부터의 빛을 후술하는 유리기판방향으로 반사하도록 표면이 후측아래쪽을 향해져 있다.In addition, a plurality of reflecting mirrors 5, which are reflecting optical systems, are respectively provided on the upper side of the apparatus main body 1 in correspondence with the respective illumination light sources 4. Four reflecting mirrors 5 are arranged in front, rear, left and right directions toward the front side. Each reflecting mirror 5 is arranged at a predetermined angle with respect to the horizontal direction. The two reflective mirrors 5 on the front side face the front side downward so as to reflect the light from each illumination light source 4 on the front side in the glass substrate direction described later. The rear two reflecting mirrors 5 face the rear side downwards so as to reflect the light from the respective illumination light sources 4 on the rear side in the glass substrate direction described later.

이들 반사미러(5)의 각 반사광로에는 4분할된 집광광학계(6)가 배치되어 있다. 각 집광광학계(6)는 직사각형상으로 형성된 제 1 프레넬렌즈(61)와 제 2 프레넬렌즈(62)를 갖고 있다. 제 1 프레넬렌즈(61)는 반사미러(5)로부터 조명광을 입사하여 평행광속을 출사한다. 제 2 프레넬렌즈(62)는 제 1 프레넬렌즈(61)로부터 입사되는 평행광속을 수렴시켜서 조명광속(7)으로서 유리기판(3)상에 조사한다.The light converging optical system 6 divided into four reflection optical paths of these reflection mirrors 5 is arranged. Each condensing optical system 6 has a first Fresnel lens 61 and a second Fresnel lens 62 formed in a rectangular shape. The first Fresnel lens 61 enters illumination light from the reflecting mirror 5 and emits parallel light beams. The second Fresnel lens 62 converges the parallel light beam incident from the first Fresnel lens 61 and irradiates the glass substrate 3 as the illumination light beam 7.

이들 4개의 집광광학계(6)(6FL, 6FR, 6RL, 6RR)는 장치본체(1)의 전후방향과좌우방향으로 2개씩 나란히 배치되어 있다. 도 1에서는 편의상 좌측전후의 2개의 집광광학계(6)(6FL, 6RL)만을 도시하고 있다. 장치본체(1)의 전측에 좌우대칭으로 위치된 2개의 집광광학계(6)(6FL, 6FR)는 후측에 좌우대칭으로 위치된 2개의 집광광학계(6)(6RL, 6RR)에 대하여 폭치수(좌우치수)가 같으며, 안길이치수(전후치수)가 약간 짧게 형성되어 있다. 장치본체(1)의 후측에 좌우대칭으로 위치된 2개의 집광광학계(6)(6RL, 6RR)는 전측의 2개의 집광광학계(6)(6FL, 6FR)에 대하여 폭치수가 같으며, 안길이치수가 약간 길게 형성되어 있다.These four condensing optical systems 6 (6FL, 6FR, 6RL, 6RR) are arranged side by side in the front and rear and left and right directions of the apparatus main body 1, respectively. In FIG. 1, for convenience, only two condensing optical systems 6 (6FL, 6RL) are shown. The two condensing optical systems 6 (6FL, 6FR) positioned bilaterally symmetrically on the front side of the apparatus main body 1 have width dimensions for the two condensing optical systems 6 (6RL, 6RR) symmetrically positioned on the rear side. The right and left dimensions are the same, and the depth dimension (front and rear dimensions) is slightly short. The two condensing optical systems 6 (6RL, 6RR) positioned symmetrically on the rear side of the apparatus main body 1 have the same width dimension with respect to the two condensing optical systems 6 (6FL, 6FR) on the front side. The dimension is formed slightly longer.

또 장치본체(1) 내부의 위쪽에는 복수개의 제 2 조명광원(8)이 설치되어 있다. 조명광원(8)은 예를 들면 나트륨램프로 이루어진다. 조명광원(8)은 장치본체(1)의 정면측을 향하여 전후좌우방향으로 합계 4개 배치되어 있다. 이들 조명광원(8)은 조명광원(4)의 메탈할로겐램프와 다른 파장의 빛을, 각각 대응하는 반사미러(5), 집광광학계(6)를 통하여 유리기판(3)상에 조사한다.In addition, a plurality of second illumination light sources 8 are provided above the inside of the apparatus body 1. The illumination light source 8 consists of sodium lamps, for example. The illumination light source 8 is arrange | positioned four in total in the front-back, left-right direction toward the front side of the apparatus main body 1. As shown in FIG. These illumination light sources 8 irradiate the glass substrate 3 with the light of the wavelength different from the metal halogen lamp of the illumination light source 4 through the reflection mirror 5 and the condensing optical system 6, respectively.

도 2는 상기 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 정면도이다. 도 2에 있어서 도 1과 동일한 부분에는 동일부호를 붙이고 있다. 도 2에 나타내는 바와 같이 장치본체(1) 전측의 2개의 집광광학계(6)(6FL, 6FR)의 각 일측가장자리는 장치본체(1)의 폭방향의 중심 부근에서 서로 접해 있다. 그리고 전측에 배열된 각 집광광학계(6)(6FL, 6FR)는 접하는 각 측가장자리를 중심으로 아래쪽으로 소정의 각도(θ1) 경사해 있다. 이 때 각 집광광학계(6)(6FL, 6FR)로부터의 조명광속(7, 7)이 유리기판(3)상에서 일부가 서로 겹치도록 각 집광광학계(6)의 광축을 초점 근처에서 교차 또는 집중시킨다. 이에 따라 유리기판(3)상의 전측절반의 영역(31)이부분조명된다.Fig. 2 is a front view showing the schematic configuration of the light emitting device for visual inspection. In FIG. 2, the same code | symbol is attached | subjected to the same part as FIG. As shown in FIG. 2, each one side edge of the two condensing optical systems 6 (6FL, 6FR) on the front side of the apparatus main body 1 is in contact with each other near the center of the width direction of the apparatus main body 1. Each condensing optical system 6 (6FL, 6FR) arranged on the front side is inclined downward by a predetermined angle θ1 around each side edge that is in contact. At this time, the luminous fluxes 7 and 7 from each condensing optical system 6 (6FL, 6FR) intersect or concentrate the optical axes of each condensing optical system 6 near the focal point so that a part of them overlaps on the glass substrate 3. . As a result, the area 31 of the front half of the glass substrate 3 is partially illuminated.

또 장치본체(1) 후측의 2개의 집광광학계(6)(6RL, 6RR)의 각 일측가장자리는 상기한 것과 마찬가지로 장치본체(1)의 폭방향의 중심 부근에서 서로 접해 있다. 그리고 후측에 배열된 각 집광광학계(6)(6RL, 6RR)는 접하는 각 측가장자리를 중심으로 아래쪽으로 소정의 각도(θ1) 경사해 있다. 이 때 각 집광광학계(6)(6RL, 6RR)로부터의 조명광속(7, 7)이 유리기판(3)상에서 일부가 서로 겹치도록 각 집광광학계(6)의 광축을 초점 부근에서 교차 또는 집중시킨다. 이에 따라 유리기판(3)상의 후측절반의 영역(32)이 부분조명된다.Moreover, one side edge of the two condensing optical systems 6 (6RL, 6RR) behind the apparatus main body 1 is in contact with each other near the center in the width direction of the apparatus main body 1 as described above. And each condensing optical system 6 (6RL, 6RR) arrange | positioned at the rear side is inclined downward by the predetermined angle (theta) 1 about each side edge which contact | connects. At this time, the luminous fluxes 7 and 7 from each condensing optical system 6 (6RL, 6RR) intersect or concentrate the optical axes of each condensing optical system 6 near the focal point so that a part of them overlap each other on the glass substrate 3. . Thereby, the region 32 of the rear half on the glass substrate 3 is partially illuminated.

또한 장치본체(1) 후측에 위치하는 2개의 집광광학계(6)(6RL, 6RR)는 장치본체(1) 전측에 위치하는 2개의 집광광학계(6)(6FL, 6FR)에 대해서도 아래쪽으로 소정의 각도만큼 경사져 있다. 이에 따라 전후에 배열된 각 집광광학계(6FR과 6FL 또는 6RR과 6RL)의 각 수렴광은 초점 근처에서 각각 다른 위치(A, A’, B, B’)로 수렴한다.In addition, the two condensing optical systems 6 (6RL, 6RR) located on the rear side of the apparatus main body 1 are also prescribed downwards with respect to the two condensing optical systems 6 (6FL, 6FR) located on the front side of the apparatus main body 1. Inclined by angle Accordingly, each converging light of each condensing optical system 6FR and 6FL or 6RR and 6RL arranged before and after converges to different positions A, A ', B, and B' near the focal point.

이에 따라 전후좌우에 배열된 4개의 집광광학계(6)(6FL, 6FR, 6RL, 6RR)의 수렴광은 유리기판(3)상에서 전체의 수렴광의 일부가 겹친다.Accordingly, the converged light of the four condensing optical systems 6 (6FL, 6FR, 6RL, 6RR) arranged on the front, rear, left, and right sides partially overlaps the entire converged light on the glass substrate 3.

또한 이들 집광광학계(6)의 전후와 좌우의 경사각도는 홀더(2)와 함께 유리기판(3)을 회전시켰을 때에도 각 집광광학계(6)를 투과한 조명광속(7)에 의해 유리기판(3) 전체면을 균일하게 조명할 수 있도록 임의의 각도로 설정된다. 또 장치본체(1) 전측에 위치하는 2개의 집광광학계(6)(6FL, 6FR)와 장치본체(1) 후측에 위치하는 2개의 집광광학계(6)(6RL, 6RR)는 각 초점거리가 대략 동등한 것을 이용하고있다. 그러나 예를 들면 장치본체(1) 전측에 위치하는 2개의 집광광학계(6)(6FL, 6FR)의 초점거리를 짧게 설정하고, 장치본체(1) 후측에 위치하는 2개의 집광광학계(6)(6RL, 6RR)의 초점거리를 길게 설정해도 좋다.Incidentally, the inclination angles of the front, rear, left, and right of the condensing optical system 6 are determined by the light beams 7 transmitted through the condensing optical system 6 even when the glass substrate 3 is rotated together with the holder 2. It is set at an arbitrary angle so that the entire surface can be uniformly illuminated. In addition, two condensing optical systems 6 (6FL, 6FR) located at the front of the apparatus main body 1 and two condensing optical systems 6 (6RL, 6RR) located at the rear of the apparatus main body 1 have approximately focal lengths. I'm using the equivalent However, for example, the focal lengths of the two condensing optical systems 6 (6FL, 6FR) located at the front side of the apparatus main body 1 are set short, and the two condensing optical systems 6 (located at the rear of the apparatus main body 1 ( 6RL, 6RR) may be set longer.

다음으로 이상과 같이 구성된 외관검사용 투광장치의 동작을 설명한다. 우선 관찰자는 피검사부재인 유리기판(3)을 홀더(2)상에 재치하여 홀딩시킨다. 다음으로 관찰자는 도 1에 나타내는 바와 같이 홀더(2)를 시선의 높이에 대응시켜서 일으켜 세우고, 소정 각도로 경사시킨다.Next, the operation of the external light inspection apparatus configured as described above will be described. First, the observer places the glass substrate 3, which is the member to be inspected, on the holder 2 and holds it. Next, the observer raises the holder 2 corresponding to the height of the gaze as shown in FIG. 1 and inclines it at a predetermined angle.

이 상태에서 각 조명광원(4)으로부터의 빛은 각각 각 반사미러(5)로 반사되고, 4개의 각 집광광학계(6)에 입사된다. 그러면 이들 집광광학계(6)에서는 각각 제 1 프레넬렌즈(61)로부터 평행광속을 출사하고, 제 2 프레넬렌즈(62)로부터 조명광속(7)을 출사하며, 홀더(2)상의 유리기판(3)의 부분영역을 균일하게 조사한다. 이에 따라 관찰자는 각 조명광속(7)으로 조명된 유리기판(3) 전체면에 대하여 육안에 의해 흠이나 더러움 등의 매크로검사를 실시할 수 있다.In this state, the light from each illumination light source 4 is reflected by each reflection mirror 5, and is incident on each of four condensing optical systems 6. Then, the condensing optical system 6 emits parallel light beams from the first Fresnel lens 61, emits light beams 7 from the second Fresnel lens 62, and the glass substrate on the holder 2. Irradiate the partial region of 3) uniformly. As a result, the observer can visually inspect the entire surface of the glass substrate 3 illuminated by the illumination light beams 7, such as scratches and dirts.

본 제 1 실시형태에 따르면, 각 조명광원(4)으로부터의 빛을 각각 반사미러(5)로 유리기판(3)측에 반사시키는 동시에, 그 반사광로에 집광광학계(6)가 배치되어 있다. 이와 같은 집광광학계(6)를 4개 설치하고, 이들 집광광학계(6)로부터의 조명광속(7)을 유리기판(3)의 부분영역에 조사하는 것으로 유리기판(3) 전체면이 조명된다. 이 때문에 유리기판(3)이 대형이 되어도 기판 전체면을 얼룩 없이 조명할 수 있으며, 흠이나 더러움 등을 검사하는 매크로관찰을 정밀도 좋게 실시할 수 있다.According to the first embodiment, the light from each illumination light source 4 is reflected on the glass substrate 3 side with the reflecting mirror 5, respectively, and the condensing optical system 6 is disposed in the reflecting light path. Four condensing optical systems 6 are provided, and the entire surface of the glass substrate 3 is illuminated by irradiating the light beams 7 from these condensing optical systems 6 to the partial region of the glass substrate 3. For this reason, even if the glass substrate 3 becomes large, the whole surface of a board | substrate can be illuminated without spots, and macro observation which inspects a flaw and a dirt etc. can be performed with high precision.

도 3은 본 발명의 제 2 실시형태에 관련되는 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 측면도이다. 도 3에 있어서 도 1과 동일한 부분에는 동일부호를 붙이고 있다.Fig. 3 is a side view showing a schematic configuration of a light transmitting apparatus for visual inspection according to a second embodiment of the present invention. In FIG. 3, the same code | symbol is attached | subjected to the same part as FIG.

도 3에서는 장치본체(1)의 전후방향으로 2개씩 나란히 배치되는 4개의 집광광학계(6)의 위쪽에 2개의 조명광원(10)이 설치되어 있다. 조명광원(10)은 예를 들면 메탈할로겐램프로 이루어진다. 조명광원(10)은 장치본체(1)의 정면측을 향하여 좌우방향으로 나란히 배치되어 있다. 또한 각 집광광학계(6)(6FL, 6FR, 6RL, 6RR)는 제 1 실시형태와 마찬가지로 유리기판(3)의 중심을 향하여 경사해 있으며, 각 수렴광은 수렴점 근처에서 각각 다른 위치(A, A’, B, B’)로 수렴하고, 전체의 수렴광의 일부가 유리기판(3)상에서 겹친다.In FIG. 3, two illumination light sources 10 are provided above the four condensing optical systems 6 arranged side by side in the front and rear directions of the apparatus body 1. The illumination light source 10 consists of a metal halogen lamp, for example. The illumination light sources 10 are arranged side by side in the left and right direction toward the front side of the apparatus body 1. Further, each condensing optical system 6 (6FL, 6FR, 6RL, 6RR) is inclined toward the center of the glass substrate 3 as in the first embodiment, and each converging light has a different position (A, near the convergence point). A ', B, B'), and part of the whole converged light overlaps on the glass substrate 3.

도 3에서는 편의상 좌측의 1개의 조명광원(10)만을 도시하고 있다. 이들 조명광원(10)은 도시하지 않는 구동기구에 의해 연직방향에 대하여 도면 중 화살표방향으로 180°의 범위에서 회전운동 가능하다.In FIG. 3, only one illumination light source 10 on the left side is shown for convenience. These illumination light sources 10 are rotatable in a range of 180 ° in the direction of the arrow in the drawing with respect to the vertical direction by a drive mechanism (not shown).

도 4는 상기 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 정면도이다. 도 4에 있어서 도 3과 동일한 부분에는 동일부호를 붙이고 있다. 이 구성에서는 각 조명광원(10)을 같은 일방향으로 180° 회전운동시키고, 각각 장치본체(1) 전측의 각 반사미러(5)를 향한 상태에서 각 조명광원(10)으로부터의 빛이 각각 각 반사미러(5) 및 각 집광광학계(6)를 통하여 유리기판(3)상의 전측절반의 영역(31)에 조사된다.4 is a front view showing a schematic configuration of the light emitting device for visual inspection. In FIG. 4, the same code | symbol is attached | subjected to the same part as FIG. In this configuration, each illumination light source 10 is rotated 180 ° in the same direction, and the light from each illumination light source 10 is reflected in the state toward the respective reflection mirror 5 on the front side of the apparatus body 1, respectively. It is irradiated to the area | region 31 of the front half on the glass substrate 3 via the mirror 5 and each condensing optical system 6.

또 각 조명광원(10)을 같은 타방향으로 180° 회전운동시키고, 각각 장치본체(1) 후측의 각 반사미러(5)를 향한 상태에서 각 조명광원(10)으로부터의 빛이 각각 각 반사미러(5) 및 각 집광광학계(6)를 통하여 유리기판(3)상의 후측절반의 영역(32)에 조사된다.In addition, each light source 10 is rotated 180 degrees in the other direction, and the light from each light source 10 is reflected in each of the reflection mirrors 5 at the rear of the apparatus body 1, respectively. (5) and each condensing optical system 6 are irradiated to the area 32 of the rear half on the glass substrate 3.

즉 각 조명광원(10)을 180° 회전운동함으로써 조사방향을 전환하는 것으로 유리기판(3)의 전측절반과 후측절반의 각 영역을 번갈아 조명할 수 있다. 이에 따라 유리기판(3)의 흠이나 더러움 등을 검사하는 매크로관찰을 정밀도 좋게 실시할 수 있다.That is, by changing the irradiation direction by rotating the illumination light source 10 180 °, it is possible to alternately illuminate each area of the front half and rear half of the glass substrate (3). Thereby, the macro observation which inspects the flaw, the dirt, etc. of the glass substrate 3 can be performed with high precision.

본 제 2 실시형태에 따르면, 2개의 조명광원(10)으로 구성할 수 있기 때문에 제 1 실시형태에 비하여 부품수가 적어져서 장치를 소형화할 수 있는 동시에, 가격적으로도 저가로 제작할 수 있다.According to the second embodiment, since the two illumination light sources 10 can be configured, the number of parts is smaller than that of the first embodiment, so that the device can be miniaturized and manufactured at low cost.

도 5는 본 발명의 제 3 실시형태에 관련되는 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 측면도이다. 도 5에 있어서 도 1과 동일한 부분에는 동일부호를 붙이고 있다. 도 5에서는 장치본체(1) 내부의 위쪽에 조명광원(21)과 반사미러(22)로 이루어지는 구동식의 조명광학계(20)가 복수쌍(도시예에서는 2쌍) 설치되어 있다. 조명광원(21)은 예를 들면 메탈할로겐램프로 이루어진다. 조명광학계(20)는 장치본체(1)의 정면측을 향하여 후측의 좌우방향으로 합계 2쌍 배치되어 있다. 도 5에서는 편의상 좌측의 조명광학계(20)(20L))만을 도시하고 있다.Fig. 5 is a side view showing a schematic configuration of a light emitting device for visual inspection according to a third embodiment of the present invention. In FIG. 5, the same code | symbol is attached | subjected to the same part as FIG. In FIG. 5, a plurality of pairs (two pairs in the illustrated example) of a drive type illumination optical system 20 including an illumination light source 21 and a reflection mirror 22 are provided above the inside of the apparatus main body 1. The illumination light source 21 consists of a metal halogen lamp, for example. The illumination optical system 20 is arrange | positioned 2 pairs in the left-right direction toward the front side of the apparatus main body 1 in total. 5 shows only the illumination optical system 20 (20L) on the left side for convenience.

또 장치본체(1) 내부의 위쪽에는 반사광학계인 복수개의 반사미러(51)가 각각 각 조명광학계(20)(20L, 20R)에 개별로 대응하여 설치되어 있다. 반사미러(51)는 정면측을 향하여 후측의 좌우방향으로 합계 2개 배치되어 있다. 각반사미러(51)는 지지부(52)를 중심으로 소정 각도의 범위에서 전후방향으로 요동 가능하며, 각 조명광학계(20)(20L, 20R)로부터의 빛을 후술하는 유리기판방향으로 반사한다.In addition, a plurality of reflecting mirrors 51, which are reflecting optical systems, are respectively provided above the inside of the apparatus main body 1 in correspondence with the respective illumination optical systems 20 (20L, 20R). Two reflecting mirrors 51 are disposed in the rear left and right directions toward the front side. The angular reflection mirror 51 can swing in the front-rear direction in the range of a predetermined angle about the support part 52, and reflects the light from each illumination optical system 20 (20L, 20R) in the glass substrate direction mentioned later.

이들 반사미러(51)의 각 반사광로에는 2분할된 집광광학계(6)가 배치되어 있다. 이들 2개의 집광광학계(6)(6L, 6R)는 아래쪽으로 소정의 각도 경사하여 장치본체(1)의 좌우방향으로 나란히 배치되어 있다. 이 때 각 집광광학계(6L, 6R)의 각 수렴광은 수렴점 근처에서 각각 다른 위치(A, A’)로 수렴하고, 전체의 수렴광의 일부가 유리기판(3)상에서 겹친다. 도 5에서는 편의상 좌측의 1개의 집광광학계(6)(6L)만을 도시하고 있다.The condensing optical system 6 divided | segmented into each reflection optical path of these reflection mirrors 51 is arrange | positioned. These two light converging optical systems 6 (6L, 6R) are inclined downward by a predetermined angle and are arranged side by side in the left and right directions of the apparatus main body 1. At this time, each converging light of each condensing optical system 6L, 6R converges to different positions A, A 'near the convergence point, and a part of the whole converging light overlaps on the glass substrate 3. 5 shows only one condensing optical system 6 (6L) on the left side for convenience.

도 6은 상기 외관검사용 투광장치의 개략구성을 나타내는 하면도이다. 도 6에 있어서 도 5와 동일한 부분에는 동일부호를 붙이고 있다. 각 조명광학계(20)(20L, 20R)에서는 조명광원(21)과 반사미러(22)가 연동하여 좌우방향으로 구동되는 동시에, 반사미러(22)가 도시하지 않는 캠기구에 의해 회전운동된다. 조명광학계(20)(20L, 20R)의 각 조명광원(21)은 각각 좌방향, 우방향으로 빛을 조사한다. 각 조명광원(21)의 광로에는 각각 반사미러(22)가 배치되어 있다. 각 반사미러(22)는 각 조명광원(21)으로부터의 빛을 각각 반사미러(51)를 향하여 경사위방향으로 반사한다.Fig. 6 is a bottom view showing the schematic configuration of the light emitting device for visual inspection. In FIG. 6, the same code | symbol is attached | subjected to the same part as FIG. In each of the illumination optical systems 20 (20L, 20R), the illumination light source 21 and the reflection mirror 22 are driven in the left and right directions, and the reflection mirror 22 is rotated by a cam mechanism not shown. Each illumination light source 21 of the illumination optical system 20 (20L, 20R) irradiates light to a left direction and a right direction, respectively. The reflection mirror 22 is arrange | positioned at the optical path of each illumination light source 21, respectively. Each reflecting mirror 22 reflects the light from each illumination light source 21 toward the reflecting mirror 51 in the inclined direction.

각 조명광학계(20)(20L, 20R)가 A의 상태에서 B의 상태로 구동된 경우 각 조명광원(21)이 각각 장치본체(1)의 외측방향(좌방향, 우방향)으로 이동한다. 각 조명광원(21)에 연동하여 각 반사미러(22)는 해당 외측방향으로 이동하는 동시에, 상기 캠기구에 의해 약간 외측방향으로 회전운동한다. 각 조명광원(21)으로부터의 빛은 각각 반사미러(22)에 의해 경사위방향으로 조사된다. 이에 따라 각 조명광학계(20)(20L, 20R)로부터의 빛이 각각 각 반사미러(51) 및 각 집광광학계(6)를 통하여 유리기판(3)상의 외측(좌측, 우측)의 영역에 조사된다. 각 조명광학계(20L, 20R)는 독립하여 구동하거나, 또는 동일방향으로 연동시켜서 구동할 수도 있다.When each of the illumination optical systems 20 (20L, 20R) is driven from the state of A to the state of B, each illumination light source 21 moves in the outer direction (left direction, right direction) of the apparatus body 1, respectively. In response to each illumination light source 21, each reflecting mirror 22 moves in the outward direction and rotates slightly outward by the cam mechanism. Light from each illumination light source 21 is irradiated in the inclined direction by the reflection mirror 22, respectively. As a result, the light from each of the illumination optical systems 20 (20L and 20R) is irradiated to the outside (left and right) regions on the glass substrate 3 through the respective reflection mirrors 51 and the condensing optical systems 6, respectively. . Each of the illumination optical systems 20L and 20R may be driven independently or may be driven in the same direction.

또 각 조명광학계(20)(20L, 20R)가 B의 상태에서 A의 상태로 구동된 경우 각 조명광원(21)이 각각 장치본체(1)의 내측방향(좌방향, 우방향)으로 이동한다. 각 조명광원(21)에 연동하여 각 반사미러(22)는 해당 내측방향으로 이동하는 동시에, 상기 캠기구에 의해 약간 내측방향으로 회전운동한다. 각 조명광원(21)으로부터의 빛은 각각 반사미러(22)에 의해 경사위방향으로 조사된다. 이에 따라 각 조명광학계(20)(20L, 20R)로부터의 빛이 각각 각 반사미러(51) 및 각 집광광학계(6)를 통하여 유리기판(3)상의 내측(우측, 좌측)의 영역에 조사된다.In addition, when each illumination optical system 20 (20L, 20R) is driven from the state of B to the state of A, each illumination light source 21 moves inwardly (left direction, right direction) of the apparatus main body 1, respectively. . In response to each of the illumination light sources 21, each of the reflection mirrors 22 moves in the corresponding inward direction and rotates slightly inward by the cam mechanism. Light from each illumination light source 21 is irradiated in the inclined direction by the reflection mirror 22, respectively. As a result, light from each of the illumination optical systems 20 (20L and 20R) is irradiated to the inside (right and left) regions on the glass substrate 3 through the respective reflection mirrors 51 and the light condensing optical system 6, respectively. .

즉 조명광원(21)과 반사미러(22)로 이루어져서 좌우대칭으로 배치된 각 조명광학계(20)(20L, 20R)를 좌우방향으로 이동 가능하게 하고, 또한 각 반사미러(51)를 전후방향으로 회전운동 가능하게 함으로써 조사광을 전후좌우로 주사하여 유리기판(3)상의 각 영역을 임의로 조명할 수 있다. 이에 따라 각 반사미러(22와 51)에 의해 유리기판(3)의 전체면에 대하여 조명광을 주사할 수 있으며, 유리기판(3)의 흠이나 더러움 등을 검사하는 매크로관찰을 정밀도 좋게 실시할 수 있다.That is, the illumination optical system 20 (20L, 20R), which is composed of the illumination light source 21 and the reflection mirror 22 and is arranged symmetrically, can be moved in the left and right directions, and the respective reflection mirrors 51 are moved forward and backward. By enabling the rotational movement, the irradiated light can be scanned front, back, left, and right to illuminate each region on the glass substrate 3 arbitrarily. As a result, illumination light can be scanned on the entire surface of the glass substrate 3 by the reflection mirrors 22 and 51, and macro observation for inspecting the scratches and dirts of the glass substrate 3 can be performed with high accuracy. have.

본 제 3 실시형태에 따르면, 2개의 조명광원(21)과 2개의 반사미러(51)로 구성할 수 있기 때문에 제 1, 제 2 실시형태에 비하여 부품수가 적어져서 장치를 소형화할 수 있는 동시에, 가격적으로도 저가로 제작할 수 있다.According to the third embodiment, since it can be composed of two illumination light sources 21 and two reflection mirrors 51, the number of parts is smaller than that of the first and second embodiments, and the device can be downsized. It can be produced at low cost.

상기한 제 1∼제 3 실시형태에서는 집광광학계(6)를 4개 또는 2개 이용하여 유리기판(3)상의 전체면을 균일하게 조명하고 있다. 이에 한정되지 않고 집광광학계(6)를 3개 이상 이용하여 유리기판(3)상에서의 부분조명의 영역을 다시 세분화해도 좋다. 또 조명영역의 세분화에 의해 집광광학계(6)의 광속직경을 작게 할 수 있으면 집광광학계(6)를 프레넬렌즈에 대신하여 볼록렌즈로 구성하는 것도 가능하다.In the first to third embodiments described above, the entire surface on the glass substrate 3 is uniformly illuminated by using four or two condensing optical systems 6. Not only this but the area | region of partial illumination on the glass substrate 3 may be subdivided again using three or more condensing optical systems 6. If the light beam diameter of the condensing optical system 6 can be reduced by subdividing the illumination region, the condensing lens can also be configured instead of the Fresnel lens.

또 상기 제 2 실시형태에서는 조명광원(10)만을 회전운동시키도록 했는데, 1개의 조명광원(10)과 1개의 반사미러(5)를 연동하여 구동 가능하게 해서 유리기판(3)상의 전측절반과 후측절반의 각 영역을 번갈아 조명해도 좋다. 이와 같이 구성하면 더욱 부품수가 적어져서 장치를 소형화할 수 있는 동시에, 가격적으로도 저가로 제작할 수 있다.In the second embodiment, only the illumination light source 10 is rotated, but one illumination light source 10 and one reflection mirror 5 can be driven in conjunction with each other so that the front half on the glass substrate 3 Each area of the posterior half may be illuminated alternately. In this way, the number of parts is further reduced, so that the device can be miniaturized and manufactured at low cost.

또 상기 제 1∼제 3 실시형태에 있어서의 조명광원(4, 10, 21)을 도시하지 않는 구동기구에 의해 각각 반사미러(5, 5, 22)(광축방향)에 대하여 이동 가능하게 해도 좋다. 이 경우 조명광원(4, 10, 21)을 반사미러(5, 5, 22)에 가깝게 함에 따라서 반사미러(5, 5, 22)로부터 반사되는 광속이 넓어지기 때문에 유리기판(3)상의 조사범위가 커진다. 또 조명광원(4, 10, 21)을 반사미러(5, 5, 22)로부터 멀어지게 함에 따라서 반사미러(5, 5, 22)로부터 반사되는 광속이 좁아지기 때문에 유리기판(3)상의 조사범위가 작아진다.Moreover, you may make it moveable with respect to the reflection mirror 5, 5, 22 (optical axis direction) by the drive mechanism which does not show the illumination light source 4, 10, 21 in the said 1st-3rd embodiment, respectively. . In this case, the light beam reflected from the reflecting mirrors 5, 5, 22 becomes wider as the illumination light sources 4, 10, 21 are closer to the reflecting mirrors 5, 5, 22, so that the irradiation range on the glass substrate 3 Becomes large. Also, as the illumination light sources 4, 10 and 21 move away from the reflecting mirrors 5, 5 and 22, the light beam reflected from the reflecting mirrors 5, 5 and 22 narrows, so that the irradiation range on the glass substrate 3 is reduced. Becomes smaller.

마찬가지로 집광광학계(6)를 도시하지 않는 구동기구에 의해 반사미러(5, 5,51)(광축방향)에 대하여 이동 가능하게 해도 좋다. 이 경우 집광광학계(6)를 반사미러(5, 5, 51)에 가깝게 함에 따라서 반사미러(5, 5, 51)로부터 반사되는 광속이 넓어지기 때문에 유리기판(3)상의 조사범위가 커진다. 또 집광광학계(6)를 반사미러(5, 5, 51)로부터 멀어지게 함에 따라서 반사미러(5, 5, 51)로부터 반사되는 광속이 좁아지기 때문에 유리기판(3)상의 조사범위가 작아진다. 또한 각 조명광원과 각 집광광학계를 각각 개별로 이동 가능하게 하고, 또한 각 집광광학계의 경사각도를 개별로 조정 가능하게 할 수도 있다.Similarly, the light converging optical system 6 may be movable with respect to the reflective mirrors 5, 5, 51 (optical axis direction) by a drive mechanism not shown. In this case, as the light converging optical system 6 is brought closer to the reflecting mirrors 5, 5, 51, the light beam reflected from the reflecting mirrors 5, 5, 51 becomes wider, so that the irradiation range on the glass substrate 3 becomes larger. Further, as the light converging optical system 6 is moved away from the reflecting mirrors 5, 5 and 51, the light beam reflected from the reflecting mirrors 5, 5 and 51 becomes narrower, so that the irradiation range on the glass substrate 3 becomes smaller. In addition, each illumination light source and each condensing optical system can be individually moved, and the inclination angle of each condensing optical system can be adjusted individually.

이와 같이 조명광원과 집광광학계를 상대적으로 이동시키고, 집광광학계의 초점위치에 대하여 조명광원의 위치를 광축방향으로 어긋나게 하는 것으로 유리기판(3)의 사이즈에 맞춘 조사범위의 조정이 가능해진다.Thus, the irradiation range can be adjusted to the size of the glass substrate 3 by moving the illumination light source and the condensing optical system relatively and shifting the position of the illumination light source in the optical axis direction with respect to the focal position of the condensing optical system.

또 집광광학계로부터 도광된 수렴광속에 소정의 광학적 특성을 줄 목적으로 불투명 또는 투명하게 전환 가능한 액정산란판(투과형 액정판)을 설치할 수도 있다. 이 액정산란판을 이용한 셔커스조명에 의해 대형기판의 전체면을 얼룩 없이 조명할 수 있으며, 막두께의 얼룩이나 투명도전막상의 핀홀 등의 결함을 양호하게 검출할 수 있다.Further, a liquid crystal scattering plate (transmissive liquid crystal plate) that can be opaque or transparent can be provided for the purpose of giving a predetermined optical characteristic to the converged light beam guided from the condensing optical system. With the lighter illuminator using this liquid crystal scattering plate, the entire surface of the large substrate can be illuminated without spots, and defects such as spots of the film thickness and pinholes on the transparent conductive film can be detected well.

이상과 같이 본 발명에 따르면, 대형의 피검사부재의 전체면을 얼룩 없이 조명할 수 있어서 흠이나 더러움 등의 매크로검사를 정밀도 좋게 실시할 수 있다. 또 조명계로부터의 빛을 미러로 되꺾고, 또한 집광광학계를 복수로 분할하여 조명계의 초점거리를 짧게 해서 장치의 높이를 억제함으로써 장치의 소형화를 꾀할 수 있다.According to the present invention as described above, the entire surface of the large inspected member can be illuminated without spots, and macro inspection such as scratches and dirts can be performed with high accuracy. In addition, the device can be miniaturized by returning light from the illumination system to the mirror, dividing the condensing optical system into a plurality, and reducing the height of the apparatus by shortening the focal length of the illumination system.

본 발명은 상기 각 실시형태만에 한정되지 않고 요지를 변경하지 않는 범위에서 적시 변형하여 실시할 수 있다.This invention is not limited only to each said embodiment, It can implement by deforming timely in the range which does not change a summary.

본 발명에 따르면, 대형의 피검사부재에 대하여 전체를 얼룩 없이 조명할 수 있는 소형의 외관검사용 투광장치를 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide a compact external inspection light emitting device capable of illuminating the entire large inspection object without spots.

Claims (12)

대형기판의 표면을 조사하여 기판면에 대해서 매크로검사를 실시하는 외관검사장치에 있어서,In the appearance inspection apparatus that examines the surface of a large substrate and performs a macro inspection on the surface of the substrate, 장치본체내부에서 전후방향으로 일어나고 기울어지도록 회전운동 가능하게 설치되어 상기 대형기판을 홀딩하는 홀더와,A holder for holding the large substrate, the holder being rotatably installed so as to rise and tilt in the front and rear directions within the apparatus body; 상기 장치본체내부의 위쪽에 배치되어 상기 대형기판의 표면을 조명하기 위한 조명광원과,An illumination light source disposed above the inside of the apparatus body to illuminate a surface of the large substrate; 상기 조명광원의 출사광축상에 배치되어 상기 조명광원으로부터 출사되는 조명광을 경사위쪽으로 반사하는 제 1 반사미러와,A first reflection mirror disposed on an emission light axis of the illumination light source and reflecting the illumination light emitted from the illumination light source upwardly inclined; 상기 홀더의 위쪽에 배치되어 상기 제 1 반사미러에 의해 반사된 조명광을 상기 홀더에 홀딩된 상기 대형기판의 기판면을 향하여 반사하는 제 2 반사미러와,A second reflection mirror disposed above the holder and reflecting the illumination light reflected by the first reflection mirror toward the substrate surface of the large substrate held by the holder; 상기 제 2 반사미러와 상기 홀더의 사이에 배치되어 상기 제 2 반사미러로 반사된 조명광을 수렴시켜서 상기 대형기판의 표면을 조사하는 집광광학계를 구비한 것을 특징으로 하는 외관검사장치.And a condensing optical system disposed between the second reflecting mirror and the holder to converge the illumination light reflected by the second reflecting mirror to irradiate the surface of the large substrate. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 조명광원을 출사광축이 대략 수평으로 되도록 배치하고, 상기 제 1 반사미러를 상기 조명광원의 출사광축상으로 이동 가능하게 설치하며, 상기 제 1 반사미러를 이동시킴으로써 조명광을 상기 제 2 반사미러를 통하여 상기 대형기판의표면에 대해서 주사하는 것을 특징으로 하는 외관검사장치.The illumination light source is arranged so that the emission light axis is substantially horizontal, the first reflection mirror is installed to be movable on the emission light axis of the illumination light source, and the illumination light is moved to the second reflection mirror by moving the first reflection mirror. Appearance inspection apparatus, characterized in that scanning through the surface of the large substrate through. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 조명광원을 출사광축이 대략 수평으로 되도록 배치하고, 또한 상기 조명광원을 상기 출사광축을 따라서 이동 가능하게 설치하며, 상기 제 1 반사미러를 상기 조명광원에 연동하여 상기 출사광축을 따라서 이동 가능하게 설치하고, 상기 제 2 반사미러를 상기 제 1 반사미러의 이동방향과 교차하는 방향으로 회전운동 가능하게 설치하며, 상기 조명광원 및 상기 제 1 반사미러의 이동과 상기 제 2 반사미러의 회전운동에 의해 상기 제 1 및 제 2 반사미러로 반사된 조명광을 상기 대형기판상에서 주사하는 것을 특징으로 하는 외관검사장치.The illumination light source is disposed so that the emission light axis is substantially horizontal, and the illumination light source is installed to be movable along the emission light axis, and the first reflection mirror is connected to the illumination light source to be movable along the emission light axis. And the second reflection mirror is installed to be rotatable in a direction crossing the moving direction of the first reflection mirror, and the movement of the illumination light source and the first reflection mirror and the rotation movement of the second reflection mirror. And scanning the illumination light reflected by the first and second reflection mirrors on the large substrate. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 조명광원을 출사광축이 대략 수평으로 되도록 배치하고, 또한 상기 조명광원을 상기 출사광축을 따라서 상기 장치본체의 정면을 향하여 좌우방향으로 이동 가능하게 설치하며, 상기 제 1 반사미러를 상기 조명광원에 연동하여 상기 출사광축을 따라서 상기 좌우방향으로 이동 가능하게 설치하고, 또한 상기 제 2 반사미러를 상기 좌우방향에 대하여 전후방향으로 회전운동 가능하게 설치하며, 상기 조명광원 및 상기 제 1 반사미러를 상기 좌우방향으로 이동시키는 동시에, 상기 제 2 반사미러를 상기 전후방향으로 회전운동시킴으로써 상기 제 1 및 제 2 반사미러로 반사된 조명광을 상기 대형기판상에서 전후좌우방향으로 주사하는 것을 특징으로하는 외관검사장치.The illumination light source is disposed so that the emission light axis is approximately horizontal, and the illumination light source is installed to be movable in the horizontal direction along the emission light axis toward the front of the apparatus main body, and the first reflection mirror is mounted on the illumination light source. Cooperating with the exiting optical axis so as to be movable in the left and right directions, and installing the second reflecting mirror so as to be rotatable in the front and rear directions with respect to the left and right directions, and installing the illumination light source and the first reflecting mirror. Appearance inspection apparatus characterized by scanning the illumination light reflected by the first and second reflection mirror in the front and rear, left and right directions on the large substrate by moving in the left and right direction and rotating the second reflection mirror in the front and rear directions. . 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 집광광학계는 상기 제 2 반사미러와 상기 대형기판의 사이의 반사광로 속에 적어도 2분할되어 배치되고, 분할된 각 집광광학계를 해당 각 집광광학계로부터의 수렴광의 일부가 상기 대형기판상에서 서로 겹치도록 경사시키는 것을 특징으로 하는 외관검사장치.The condensing optical system is arranged in at least two divided light reflection paths between the second reflecting mirror and the large substrate, and inclines each divided condensing optical system so that a part of the converged light from each condensing optical system overlaps each other on the large substrate. Appearance inspection apparatus, characterized in that. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 조명광원 및 상기 제 1 반사미러를 상기 장치본체의 정면에 대하여 좌우방향으로 2쌍 배치하고, 상기 제 2 반사미러를 상기 각 제 1 반사미러의 각 반사광로에 대응시켜서 좌우방향으로 2개 배치하며, 상기 집광광학계를 상기 각 제 2 반사미러의 반사광로에 대응시켜서 좌우방향으로 2분할로 하여 배치한 것을 특징으로 하는 외관검사장치.The illumination light source and the first reflection mirror are disposed in two pairs in the left and right directions with respect to the front of the apparatus main body, and the second reflection mirrors are arranged in two in the left and right directions corresponding to the respective reflection light paths of the first reflection mirrors. And the condensing optical system is divided into two parts in the left and right directions so as to correspond to the reflection light paths of the second reflection mirrors. 제 5 항 또는 제 6 항에 있어서,The method according to claim 5 or 6, 상기 집광광학계는 상기 각 제 2 반사미러에 대응하여 복수로 분할된 프레넬렌즈로 이루어지고, 상기 각 제 2 반사미러로 반사된 상기 조명광을 수렴시켜서 상기 대형기판의 표면을 조명하는 것을 특징으로 하는 외관검사장치.The condensing optical system includes a Fresnel lens divided into a plurality of second reflecting mirrors, and condenses the illumination light reflected by the second reflecting mirrors to illuminate a surface of the large substrate. Visual inspection device. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 집광광학계는 상기 제 2 반사미러에 대응시켜서 복수로 분할된 프레넬렌즈로 이루어지고, 이 프레넬렌즈에 의해 수렴된 광속에 대하여 산란특성을 주는 투과형 액정판을 구비한 것을 특징으로 하는 외관검사장치.The condensing optical system is composed of a plurality of Fresnel lenses corresponding to the second reflecting mirror, and includes a transmissive liquid crystal plate that provides scattering characteristics with respect to the luminous flux converged by the Fresnel lens. Device. 제 2 항에서 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 2 to 4, wherein 상기 제 1 반사미러는 상기 조명광원에 연동하여 상기 출사광축을 따라서 이동하는 동시에, 상기 제 1 반사미러의 반사면이 캠기구에 의해 상기 제 2 반사미러를 향하도록 회전운동하는 것을 특징으로 하는 외관검사장치.The first reflecting mirror moves along the emission light axis in conjunction with the illumination light source, and rotates so that the reflecting surface of the first reflecting mirror faces the second reflecting mirror by a cam mechanism. Inspection device. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 조명광원 및 제 1 반사미러는 상기 장치본체의 위쪽에 대칭으로 2쌍 배치되고, 상기 각 조명광원 및 상기 각 제 1 반사미러를 상기 각 조명광원의 출사광축을 따라서 이동 가능하게 설치하는 동시에, 상기 각 제 1 반사미러에 대응하는 상기 각 제 2 반사미러를 상기 각 제 1 반사미러의 이동방향과 교차하는 방향으로 회전운동 가능하게 설치하고, 상기 각 제 1 및 제 2 반사미러를 독립적으로 이동 및 회전운동시킴으로써 상기 집광광학계를 통하여 상기 대형기판의 전체면을 2차원적으로 주사하는 것을 특징으로 하는 외관검사장치.The illumination light source and the first reflecting mirror are two pairs of symmetrically disposed above the apparatus body, and each of the illumination light source and each of the first reflection mirror is installed to be movable along the output light axis of the respective illumination light source, The second reflecting mirrors corresponding to the first reflecting mirrors may be rotatably installed in a direction crossing the moving direction of the first reflecting mirrors, and the first reflecting mirrors and the second reflecting mirrors are independently moved. And two-dimensionally scanning the entire surface of the large substrate through the condensing optical system by rotating. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 반사미러와 대응하는 상기 조명광원과의 간격을 바꾸고, 상기 제 1 및 제 2 반사미러를 통하여 상기 대형기판면에 조사되는 조명광의 조사범위를 조정하는 것을 특징으로 하는 외관검사장치.And changing an interval between the first reflecting mirror and the illumination light source corresponding to the first reflecting mirror and adjusting an irradiation range of the illumination light irradiated onto the large substrate surface through the first and second reflecting mirrors. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 집광광학계와 대응하는 상기 제 2 반사미러와의 간격을 바꾸고, 상기 제 1 및 제 2 반사미러를 통하여 상기 대형기판면에 조사되는 조명광의 조사범위를 조정하는 것을 특징으로 하는 외관검사장치.And changing an interval between the condensing optical system and the second reflecting mirror and adjusting an irradiation range of the illumination light irradiated onto the large substrate surface through the first and second reflecting mirrors.
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